JP3244093B2 - Test method and apparatus for branch type optical line - Google Patents
Test method and apparatus for branch type optical lineInfo
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Description
【０００１】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は光通信装置に利用する。
特に、局内装置と複数の加入者端末とが光合分岐回路を
介して接続された分岐形光線路の試験および監視に関す
る。The present invention is applied to an optical communication device.
In particular, the present invention relates to a test and monitoring of a branched optical line in which an intra-office device and a plurality of subscriber terminals are connected via an optical coupling / branching circuit.
【０００２】[0002]
【従来の技術】局内装置と加入者端末を接続する光線路
構成として、従来は、ひとつの局内装置とひとつの加入
者端末とを１本の光ファイバで接続するシングルスター
構成が中心に検討されていた。この形態の光線路を試験
する方法として、局から光パルスを送信して反射光を測
定する方法が知られている。2. Description of the Related Art Conventionally, as an optical line configuration for connecting an intra-office device and a subscriber terminal, a single star configuration in which one intra-office device and one subscriber terminal are connected by one optical fiber has been mainly studied. I was As a method of testing the optical line of this form, a method of transmitting a light pulse from a station and measuring reflected light is known.
【０００３】一方、経済性や装置サイズの面から、ひと
つの局内装置と複数の加入者端末とを光合分岐線路を介
して接続する構成が検討されている。このような光線路
の場合の試験方法としては、従来からのシングルスター
構成用の方法が利用されている。この方法を図７に示
す。On the other hand, from the viewpoint of economy and apparatus size, a configuration for connecting one intra-office apparatus to a plurality of subscriber terminals via an optical coupling / branching line has been studied. As a test method for such an optical line, a conventional method for a single-star configuration is used. This method is shown in FIG.
【０００４】図７に示した分岐形光線路は、局内装置１
に接続される局側光ファイバ２と、複数の加入者端末５
−１〜５−５にそれぞれ接続される端末側光ファイバ４
−１〜４−５とが、光合分岐回路３により接続された構
成をもつ。試験のためには、局内装置１と局側光ファイ
バ２との間に光カプラ９を挿入し、光スイッチ８を介し
て入力される光パルス試験器４０からの試験光を端末側
に送出し、各光ファイバ内で発生した後方散乱光を光カ
プラ９および光スイッチ８を介して光パルス試験器４０
に導き、それを測定する。端末側では、加入者端末５−
１〜５−５のそれぞれ入力端に、信号光を透過して試験
光を遮断する光フィルタ６−１〜６−５が設けられる。[0004] The branch optical line shown in FIG.
Office optical fiber 2 connected to a plurality of subscriber terminals 5
Terminal side optical fiber 4 connected to -1 to 5-5 respectively
-1 to 4-5 are connected by the optical coupling / branching circuit 3. For the test, an optical coupler 9 is inserted between the intra-station device 1 and the station-side optical fiber 2, and the test light from the optical pulse tester 40 input via the optical switch 8 is transmitted to the terminal. , The backscattered light generated in each optical fiber through an optical coupler 9 and an optical switch 8 to an optical pulse tester 40.
And measure it. On the terminal side, the subscriber terminal 5-
Optical filters 6-1 to 6-5 that transmit signal light and block test light are provided at input terminals of 1 to 5-5, respectively.
【０００５】図８は光パルス試験器４０の構成例を示
す。光パルス試験器４０は、パルス変調された試験光を
発生する半導体レーザ５１と、音響光学スイッチ５２
と、受光素子５３とを備える。半導体レーザ５１から出
力されたパルス変調試験光は、音響光学スイッチ５２、
光スイッチ８および光カプラ９を経由して分岐形光線路
に入射する。この入射光の一部は、各光ファイバでの後
方散乱光あるいは光フィルタ６−１〜６−５でのフレネ
ル散乱により戻り、光カプラ９、光スイッチ８、および
音響光学スイッチ５２を経由して受光素子５３により検
出される。FIG. 8 shows a configuration example of the optical pulse tester 40. The optical pulse tester 40 includes a semiconductor laser 51 that generates test light that is pulse-modulated, and an acousto-optic switch 52.
And a light receiving element 53. The pulse modulation test light output from the semiconductor laser 51 is applied to an acousto-optic switch 52,
The light enters the branched optical line via the optical switch 8 and the optical coupler 9. A part of the incident light returns by the backscattered light in each optical fiber or the Fresnel scattering in the optical filters 6-1 to 6-5, and passes through the optical coupler 9, the optical switch 8, and the acousto-optical switch 52. The light is detected by the light receiving element 53.
【０００６】図９は検出された試験光強度の時間的変化
の一例を示す。一般に光フィルタ６−１〜６−５でのフ
レネル反射は光ファイバ中の後方散乱より大きいことか
ら、光フィルタ６−１〜６−５の位置に対応して大きな
ピークが観測される。したがって、この反射光ピークの
位置から光フィルタ６−１〜６−５のそれぞれからの反
射を確認することができ、個々の端末側光ファイバ４−
１〜４−５の識別に利用できる。反射光ピークの時間幅
は、端末側光ファイバ４−１〜４−５を識別するために
は小さいほうが望ましいが、半導体レーザ５１のパルス
幅や受光素子５３の時間応答性能に依存するため、実用
的なレベルとしてはおよそ１００ｎｓｅｃ、距離分解能
として約１０ｍ程度である。FIG. 9 shows an example of a temporal change in the detected test light intensity. Generally, since the Fresnel reflection in the optical filters 6-1 to 6-5 is larger than the backscatter in the optical fiber, a large peak is observed corresponding to the position of the optical filters 6-1 to 6-5. Therefore, the reflection from each of the optical filters 6-1 to 6-5 can be confirmed from the position of the reflected light peak, and the individual terminal-side optical fibers 4-
It can be used for identification of 1-4. It is desirable that the time width of the reflected light peak be small in order to identify the terminal-side optical fibers 4-1 to 4-5. The typical level is about 100 nsec, and the distance resolution is about 10 m.
【０００７】[0007]
【発明が解決しようとする課題】従来の方法では上述し
た距離分解能より小さい位置識別が不可能である。すな
わち、複数の光フィルタ（図７における６−１〜６−
５）の位置の違いが反射光ピークの時間幅より小さい場
合には、複数の光フィルタの位置が一つのピーク位置と
してしか観測されない。図７および図９を参照して説明
すると、光合分岐回路３から光フィルタ６−１までの線
路長と光フィルタ６−５までの線路長とがほぼ等しいと
する。このとき、二つの光フィルタ６−１、６−５によ
る反射が重なって観測される。このため、二つの端末側
光ファイバ４−１、４−５の一方が故障して光フィルタ
６−１または６−５からの反射光が消えても、残りの光
フィルタ６−５または６−１からの反射光ピークが存在
するため、故障発生を検知することができない。同様
に、後方散乱光の変化により故障発生を検知したとして
も、どの端末側光ファイバが故障したかを判断できなく
なる。In the conventional method, it is impossible to identify a position smaller than the above-mentioned distance resolution. That is, a plurality of optical filters (6-1 to 6- 6 in FIG. 7)
When the difference in the position of 5) is smaller than the time width of the reflected light peak, the positions of the plurality of optical filters are observed only as one peak position. Referring to FIGS. 7 and 9, it is assumed that the line length from the optical coupling / branching circuit 3 to the optical filter 6-1 is substantially equal to the line length from the optical filter 6-5. At this time, the reflections by the two optical filters 6-1 and 6-5 are observed overlapping. For this reason, even if one of the two terminal-side optical fibers 4-1 and 4-5 fails and the reflected light from the optical filter 6-1 or 6-5 disappears, the remaining optical filters 6-5 or 6-5. Since the reflected light peak from 1 exists, it is not possible to detect the occurrence of a failure. Similarly, even if the occurrence of a failure is detected based on a change in backscattered light, it cannot be determined which terminal-side optical fiber has failed.
【０００８】本発明は、このような課題を解決し、分解
能の高い分岐形光線路の試験方法を提供することを目的
とする。An object of the present invention is to solve such a problem and to provide a method for testing a branched optical line with high resolution.
【０００９】[0009]
【課題を解決するための手段】本発明の分岐形光線路の
試験方法は、試験光として光周波数が時間と共に変化す
る可干渉光を用い、端末側の光ファイバにそれぞれ設け
られた反射手段からの反射光の相互間の干渉によって生
じるビート信号の周波数分布から光ファイバを個々に識
別して測定を行うことを特徴とする。According to the present invention, there is provided a test method for a branched optical line, wherein coherent light whose optical frequency changes with time is used as test light, and a reflection means provided on an optical fiber on the terminal side is used. The method is characterized in that the optical fibers are individually identified from the frequency distribution of the beat signal generated by the interference between the reflected lights, and the measurement is performed.
【００１０】光合分岐回路の端末側の少なくとも一つの
ポートに試験光を反射する参照反射手段を設け、端末側
の光ファイバに設けられた反射手段からの反射光と参照
反射手段からの反射光との相互間の干渉によって生じる
ビート信号を利用して測定することもできる。Reference reflecting means for reflecting test light is provided in at least one port on the terminal side of the optical coupling / branching circuit, and reflected light from the reflecting means provided on the optical fiber on the terminal side and reflected light from the reference reflecting means are provided. It can also be measured using a beat signal generated by interference between the two.
【００１１】本発明の分岐形光線路の試験装置は上述の
方法を実施するための装置であり、局内装置が接続され
る局側光ファイバと加入者端末が接続される１以上の端
末側光ファイバとが光合分岐回路により接続された分岐
形光線路の局側光ファイバに試験光を送出する手段と、
この試験光に対して上記分岐形光線路から戻ってくる光
を測定する手段とを備えた分岐形光線路の試験装置にお
いて、試験光を送出する手段は、可干渉光源と、この可
干渉光源の出力光周波数を掃引する手段とを含み、測定
する手段は、受光素子と、この受光素子の出力に接続さ
れたスペクトルアナライザと、このスペクトルアナライ
ザにより得られるビート信号の周波数分布から上記１以
上の端末側光ファイバを個々に識別する手段とを含むこ
とを特徴とする。A test apparatus for a branch type optical line according to the present invention is an apparatus for carrying out the above-described method, and includes a station side optical fiber to which an intra-office apparatus is connected and one or more terminal side optical fibers to which a subscriber terminal is connected. Branch connected to fiber by optical coupling / branching circuit
Means for transmitting test light to the station side optical fiber of the shaped optical line;
In a test apparatus for a branched optical line having means for measuring the light returning from the branched optical line with respect to the test light, the means for transmitting the test light includes: a coherent light source; and means for sweeping the output beam frequency, means for measuring includes a light receiving element, and connected to the spectrum analyzer to the output of the light receiving element, the spectrum Ana Rye
From the frequency distribution of the beat signal obtained by the
Means for individually identifying the above terminal-side optical fibers .
【００１２】[0012]
【作用】端末側光ファイバにそれぞれ設けられた反射手
段で反射した試験光相互のビート信号をスペクトルアナ
ライザにより測定し、ビート信号の有無およびビート信
号の強度変化を測定することにより、複数の加入者端末
のうち任意の加入者端末に接続された端末側光ファイバ
の個別識別と試験とを行う。例えば、光周波数の掃引速
度を１００ｍＨｚ／ｍｓｅｃとすると、光ファイバ長差
１ｍあたり２ｋＨｚ程度のビート信号周波数が得られ、
従来困難であった１０ｍ以下の分解能で反射手段の位置
を識別できる。さらに、可干渉光としてスペクトル線幅
が１ｋＨｚ以下のものを用いると可干渉距離が１００ｋ
ｍ以上となり、その程度の光ファイバ長差を測定でき
る。A plurality of subscribers are measured by measuring the beat signal of the test light reflected by the reflection means provided on the terminal side optical fiber with a spectrum analyzer, and measuring the presence / absence of a beat signal and the intensity change of the beat signal. Individual identification and testing of the terminal side optical fiber connected to an arbitrary subscriber terminal among the terminals are performed. For example, assuming that the optical frequency sweep speed is 100 mHz / msec, a beat signal frequency of about 2 kHz can be obtained per 1 m of the optical fiber length difference.
The position of the reflection means can be identified with a resolution of 10 m or less, which has been conventionally difficult. Further, when a coherent light having a spectral line width of 1 kHz or less is used, the coherent distance becomes 100 k.
m or more, and the optical fiber length difference of that degree can be measured.
【００１３】光合分岐回路に参照反射手段を設けた場合
には、端末側光ファイバが１本でもビート信号が得ら
れ、端末側光ファイバが２本の場合には、三つのビート
信号が発生するので個々の光ファイバを識別して試験で
きる。In the case where the reference reflection means is provided in the optical multiplexing / branching circuit, a beat signal can be obtained with only one terminal-side optical fiber, and when two terminal-side optical fibers are used, three beat signals are generated. Thus, individual optical fibers can be identified and tested.
【００１４】[0014]
【実施例】図１は本発明の第一実施例を示すブロック構
成図である。FIG. 1 is a block diagram showing a first embodiment of the present invention.
【００１５】この実施例で試験を行う分岐形光線路は、
局内装置１に接続された局側光ファイバ２と、加入者端
末５−１〜５−５にそれぞれ接続された端末側光ファイ
バ４−１〜４−５と、局側光ファイバ２と端末側光ファ
イバ４−１〜４−５とを接続する光合分岐回路３とを備
える。The branch type optical line to be tested in this embodiment is:
Station-side optical fiber 2 connected to intra-station device 1, terminal-side optical fibers 4-1 to 4-5 connected to subscriber terminals 5-1 to 5-5, station-side optical fiber 2 and terminal-side, respectively. An optical multiplexing / branching circuit 3 for connecting the optical fibers 4-1 to 4-5;
【００１６】この分岐形光線路の試験のため、端末側光
ファイバ４−１〜４−５の加入者端末側には、局側から
到来する試験光を反射する反射手段として、通信用の信
号光については透過する光フィルタ６−１〜６−５をそ
れぞれ設ける。また、局側では、局側光ファイバ２に光
カプラ９を挿入し、この光カプラ９に光スイッチ８を介
して試験装置７を接続する。In order to test the branched optical line, a communication signal is provided to the subscriber terminal side of the terminal side optical fibers 4-1 to 4-5 as reflecting means for reflecting test light coming from the station side. Optical filters 6-1 to 6-5 that transmit light are provided. On the station side, an optical coupler 9 is inserted into the station side optical fiber 2, and a test device 7 is connected to the optical coupler 9 via an optical switch 8.
【００１７】試験装置７は、従来の光パルス試験器と同
様に、複数の端末側光ファイバ４−１〜４−５に光分岐
回路３を介して試験光を入力し、この試験光の入力に対
して端末側光ファイバ４−１〜４−５および光フィルタ
６−１〜６−５から戻ってくる光を測定する。このと
き、試験光として光周波数が時間と共に変化する可干渉
光を用い、光フィルタ６−１〜６−５からの反射光の相
互間の干渉によって生じるビート信号の周波数分布から
端末側光ファイバ４−１〜４−５を個々に識別して行
う。The test apparatus 7 inputs test light to a plurality of terminal-side optical fibers 4-1 to 4-5 via the optical branching circuit 3, similarly to the conventional optical pulse tester, and inputs the test light. Then, the light returning from the terminal side optical fibers 4-1 to 4-5 and the optical filters 6-1 to 6-5 is measured. At this time, the coherent light whose optical frequency changes with time is used as the test light, and the terminal side optical fiber 4 is determined from the frequency distribution of the beat signal generated by the interference between the reflected lights from the optical filters 6-1 to 6-5. -1 to 4-5 are individually identified and performed.
【００１８】図２は試験装置７の構成を示すブロック構
成図であり、図３は試験光の光周波数変化を示す。FIG. 2 is a block diagram showing the configuration of the test apparatus 7, and FIG. 3 shows a change in the optical frequency of the test light.
【００１９】試験装置７は、可干渉光源２１、光周波数
掃引部２２、光合分岐回路２３、受光素子２４およびス
ペクトルアナライザ２５を備える。具体的には、例え
ば、可干渉光源２１としては１．５μｍ帯のヘリウムネ
オンレーザを用い、光周波数掃引部２２としては音響光
学素子を用い、光合分岐回路２３としてはファイバ溶融
形の１：１分岐カプラを用い、受光素子２４としてはフ
ォトダイオードを用いる。The test apparatus 7 includes a coherent light source 21, an optical frequency sweep unit 22, an optical multiplexing / branching circuit 23, a light receiving element 24, and a spectrum analyzer 25. More specifically, for example, a 1.5 μm band helium neon laser is used as the coherent light source 21, an acousto-optic device is used as the optical frequency sweeping unit 22, and a fiber fusion type 1: 1 is used as the optical coupling / branching circuit 23. A branch coupler is used, and a photodiode is used as the light receiving element 24.
【００２０】可干渉光源２１の出力光は、光周波数掃引
部２２により光周波数が時間とともに変化する試験光と
なり、光合分岐回路２３、光スイッチ８および光カプラ
９を介して分岐形光線路に送出される。試験光の中心周
波数Ｆ(t) は、 Ｆ(t) ＝Ｆ0 ＋ａｔ （０＜ｔ＜Ｔ） と表される。ここで、Ｆ0 は光周波数最小値、ａは光周
波数変化率、ｔは時間、Ｔは掃引の周期である。The output light of the coherent light source 21 becomes test light whose optical frequency changes with time by the optical frequency sweeping unit 22 and is transmitted to the branch optical line via the optical multiplexing / branching circuit 23, the optical switch 8 and the optical coupler 9. Is done. Center frequency F of the test light (t) is expressed as F (t) = F 0 + at (0 <t <T). Here, F 0 is the optical frequency minimum value, a is the optical frequency change rate, t is time, and T is the sweep cycle.
【００２１】このような時間的に変化する試験光が分岐
形光線路に入射すると、光カプラ９から光フィルタ６−
１〜６−５のそれぞれまでの線路長が異なるため、互い
に光周波数の異なる反射光が受光素子２４で受光され
る。したがって、スペクトルアナライザ２５では、光フ
ィルタ６−１〜６−５のそれぞれからの反射光が干渉し
て生じる複数のビート信号が観測される。このビート信
号の周波数ｆは、光ファイバ長の差をΔＬとすると、 ｆ＝（２ａΔＬｎ）／ｃ と書くことができる。ここで、ｎは光ファイバの屈折
率、ｃは真空中の光速である。音響光学素子による光周
波数の掃引速度ａは約１００ＭＨｚ／ｍｓｅｃ程度であ
るから、光ファイバ長差１ｍあたりのビート信号周波数
は上式から約２ｋＨｚとなる。また、可干渉光源２１の
スペクトル線幅は通常は１ｋＨｚ以下であり、このビー
ト信号を十分に検出することができる。When such a time-varying test light is incident on the branched optical line, the optical coupler 9 sends it to the optical filter 6-.
Since the line lengths 1 to 6-5 are different, reflected lights having different optical frequencies are received by the light receiving element 24. Therefore, in the spectrum analyzer 25, a plurality of beat signals generated by interference of reflected lights from the optical filters 6-1 to 6-5 are observed. The frequency f of this beat signal can be written as f = (2aΔLn) / c, where ΔL is the difference in optical fiber length. Here, n is the refractive index of the optical fiber, and c is the speed of light in a vacuum. Since the sweep speed a of the optical frequency by the acousto-optic element is about 100 MHz / msec, the beat signal frequency per 1 m of the optical fiber length difference is about 2 kHz from the above equation. Further, the spectral line width of the coherent light source 21 is usually 1 kHz or less, and this beat signal can be sufficiently detected.
【００２２】したがって、従来は困難であった１０ｍ以
下の分解能で光フィルタの位置を識別することができ
る。さらに、上述したスペクトル線幅の可干渉光源にお
ける可干渉距離は１００ｋｍ以上であることから、ほと
んど全ての光フィルタがこの可干渉距離内に入り、ビー
ト信号が発生する。このビート信号の有無やビート信号
の強度を測定することにより、任意の端末側光ファイバ
における故障を識別したり、損失を測定することができ
る。Therefore, the position of the optical filter can be identified with a resolution of 10 m or less, which has been difficult in the past. Further, since the coherence distance of the coherent light source having the above-mentioned spectral line width is 100 km or more, almost all optical filters fall within the coherence distance, and a beat signal is generated. By measuring the presence or absence of the beat signal and the strength of the beat signal, it is possible to identify a failure in an arbitrary terminal-side optical fiber and measure the loss.
【００２３】図４および図５は得られたビート信号分布
例を示す。図４は端末側光ファイバ６−１〜６−５のい
ずれにも故障がない場合、図５は端末側光ファイバ６−
１の損失を増やして故障を模擬した場合のビート信号分
布である。これらの図では、各ビート信号について、そ
れを発生させた二つの光フィルタの符号を付記する。ま
た、図５では、消失したビート信号を破線で示す。FIGS. 4 and 5 show examples of the obtained beat signal distribution. FIG. 4 shows a case where there is no failure in any of the terminal side optical fibers 6-1 to 6-5, and FIG.
6 is a beat signal distribution in the case of simulating a failure by increasing the loss of No. 1. In these figures, for each beat signal, the signs of the two optical filters that generated it are appended. In FIG. 5, the lost beat signal is indicated by a broken line.
【００２４】これらの図からわかるように、端末側光フ
ァイバに故障があると、その光ファイバに関連するビー
ト信号が消失または減衰するので、ビート信号のパター
ンの変化からどの端末側光ファイバに故障があったのか
を識別できる。As can be seen from these figures, if there is a failure in the terminal-side optical fiber, the beat signal associated with that optical fiber is lost or attenuated. Can be identified.
【００２５】図６は本発明の第二実施例を示すブロック
構成図である。この実施例は、光合分岐回路のすべての
端末側ポートに光ファイバが接続されているわけではな
い場合の例であり、単純のため、端末側光ファイバ４、
加入者端末５および光フィルタ６を１組だけ示す。FIG. 6 is a block diagram showing a second embodiment of the present invention. This embodiment is an example in which the optical fibers are not connected to all the terminal ports of the optical coupling / branching circuit.
Only one set of the subscriber terminal 5 and the optical filter 6 is shown.
【００２６】このの場合には、光合分岐回路３０の空端
末側ポートには無反射終端３２を設け、少なくとも一つ
のポートに試験光を反射する参照反射手段として、試験
光のみを反射して信号光を透過する光フィルタ３１を設
ける。この構成により、光合分岐回路３０の端末側に１
本の光ファイバしか接続されていない場合でも、試験装
置７では、光フィルタ３１からの反射光と加入者側の光
フィルタ６からの反射光との間のビート信号を検出でき
る。すなわち、端末側に２本の光ファイバしか接続され
ていない場合に一方の光ファイバが故障しても、ビート
信号を検出してその光ファイバを識別できる。In this case, a non-reflection terminal 32 is provided at the empty terminal side port of the optical multiplexing / branching circuit 30, and at least one of the ports is used as a reference reflection means for reflecting the test light by reflecting only the test light. An optical filter 31 that transmits light is provided. With this configuration, one terminal is provided on the terminal side of the optical coupling / branching circuit 30.
Even when only the optical fibers are connected, the test apparatus 7 can detect the beat signal between the reflected light from the optical filter 31 and the reflected light from the optical filter 6 on the subscriber side. That is, when only two optical fibers are connected to the terminal and one of the optical fibers fails, the beat signal can be detected to identify the optical fiber.
【００２７】[0027]
【発明の効果】以上説明したように、本発明の分岐形光
線路の試験方法および装置は、各加入者端末近傍の反射
手段からの反射光に起因するビート信号を検出すること
により、端末側の各光ファイバを個別に故障検出あるい
は損失測定を行うことができる。本発明は、分岐形光フ
ァイバの監視試験その他の運用業務を効率化できる効果
がある。As described above, the test method and apparatus for a branch optical line according to the present invention detect the beat signal caused by the reflection light from the reflection means near each subscriber terminal, thereby making it possible to detect the beat signal. Each optical fiber can be individually subjected to failure detection or loss measurement. Advantageous Effects of Invention The present invention has an effect that the efficiency of monitoring test and other operation work of a branch optical fiber can be increased.
【図１】本発明の第一実施例を示すブロック構成図。FIG. 1 is a block diagram showing a first embodiment of the present invention.
【図２】試験装置の詳細を示すブロック構成図。FIG. 2 is a block diagram showing details of a test apparatus.
【図３】試験光の光周波数変化を示す図。FIG. 3 is a diagram showing an optical frequency change of test light.
【図４】ビート信号分布例を示す図。FIG. 4 is a diagram showing an example of a beat signal distribution.
【図５】端末側光ファイバに故障があった場合のビート
信号分布例を示す図。FIG. 5 is a diagram showing an example of a beat signal distribution when a terminal side optical fiber has a failure.
【図６】本発明の第二実施例を示すブロック構成図。FIG. 6 is a block diagram showing a second embodiment of the present invention.
【図７】従来例を示す図。FIG. 7 is a diagram showing a conventional example.
【図８】従来の光パルス試験器の構成を示す図。FIG. 8 is a diagram showing a configuration of a conventional optical pulse tester.
【図９】従来の測定例を示す図。FIG. 9 is a diagram showing a conventional measurement example.
１ 局内装置 ２ 局側光ファイバ ３、３０ 光合分岐回路 ４、４−１〜４−５ 端末側光ファイバ ５、５−１〜５−５ 加入者端末 ６、６−１〜６−５、３１ 光フィルタ ７ 試験装置 ８ 光スイッチ ９ 光カプラ ２１ 可干渉光源 ２２ 光周波数掃引部 ２３ 光合分岐回路 ２４ 受光素子 ２５ スペクトルアナライザ ３２ 無反射終端 ４０ 光パルス試験器 ５１ 半導体レーザ ５２ 音響光学スイッチ ５３ 受光素子 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 In-station apparatus 2 Station-side optical fiber 3, 30 Optical coupling / branching circuit 4, 4-1 to 4-5 Terminal-side optical fiber 5, 5-1 to 5-5 Subscriber terminal 6, 6-1 to 6-5, 31 Optical filter 7 Test apparatus 8 Optical switch 9 Optical coupler 21 Coherent light source 22 Optical frequency sweep unit 23 Optical multiplexing / branching circuit 24 Light receiving element 25 Spectrum analyzer 32 Non-reflective termination 40 Optical pulse tester 51 Semiconductor laser 52 Acousto-optical switch 53 Light receiving element
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 古川 眞一 東京都千代田区内幸町一丁目１番６号 日本電信電話株式会社内 (72)発明者 小山田 弥平 東京都千代田区内幸町一丁目１番６号 日本電信電話株式会社内 (56)参考文献 特開 平４−9730（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G01B 9/02 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continuing on the front page (72) Inventor Shinichi Furukawa 1-6-6 Uchisaiwaicho, Chiyoda-ku, Tokyo Nippon Telegraph and Telephone Corporation (72) Yahei Koyamada 1-1-6 Uchisaiwaicho, Chiyoda-ku, Tokyo Japan (56) References JP-A-4-9730 (JP, A) (58) Fields investigated (Int. Cl. 7 , DB name) G01B 9/02
Claims (3)
バに局側から到来する試験光を反射する反射手段をそれ
ぞれ設け、 この複数の光ファイバに局側から光合分岐回路を介して
試験光を入力し、 この試験光の入力に対して上記複数の光ファイバおよび
上記反射手段から戻ってくる光を測定する分岐形光線路
の試験方法において、 上記試験光として光周波数が時間と共に変化する可干渉
光を用い、 上記測定は、上記反射手段からの反射光の相互間の干渉
によって生じるビート信号の周波数分布から上記複数の
光ファイバを個々に識別して行うことを特徴とする分岐
形光線路の試験方法。1. A plurality of optical fibers to which subscriber terminals are connected are provided with reflecting means for reflecting test light arriving from a station, respectively, and the plurality of optical fibers are provided with a test light from the station via an optical multiplexing / branching circuit. And inputting the test light, and measuring the light returning from the plurality of optical fibers and the reflecting means in response to the input of the test light, wherein the optical frequency of the test light changes with time. Using an interference light, wherein the measurement is performed by individually identifying the plurality of optical fibers from a frequency distribution of a beat signal generated by interference between reflected lights from the reflection means. Test method.
イバに局側から到来する試験光を反射する反射手段をそ
れぞれ設け、 この１以上の光ファイバに局側から光合分岐回路を介し
て試験光を入力し、 この試験光の入力に対して上記１以上の光ファイバおよ
び上記反射手段から戻ってくる光を測定する分岐形光線
路の試験方法において、 上記光合分岐回路の端末側の少なくとも一つのポートに
試験光を反射する参照反射手段を設け、 上記試験光として光周波数が時間と共に変化する可干渉
光を用い、 上記測定は、上記反射手段からの反射光および上記参照
反射手段からの反射光の相互間の干渉によって生じるビ
ート信号の周波数分布から上記１以上の光ファイバを個
々に識別して行うことを特徴とする分岐形光線路の試験
方法。2. One or more optical fibers to which subscriber terminals are connected are provided with reflecting means for reflecting test light arriving from the station side, respectively, and the one or more optical fibers are transmitted from the station side via an optical multiplexing / branching circuit. A test method for a branch-type optical line for inputting test light and measuring light returned from the one or more optical fibers and the reflecting means in response to the input of the test light, comprising: One port is provided with a reference reflecting means for reflecting the test light, and the test light is a coherent light whose optical frequency changes with time, and the measurement is performed by using the reflected light from the reflecting means and the reference reflecting means. A test method for a branch-type optical line, wherein the one or more optical fibers are individually identified from a frequency distribution of a beat signal generated by interference between reflected lights.
加入者端末が接続される１以上の端末側光ファイバとが
光合分岐回路により接続された分岐形光線路の上記局側
光ファイバに試験光を送出する手段と、 この試験光に対して上記分岐形光線路から戻ってくる光
を測定する手段とを備えた分岐形光線路の試験装置にお
いて、 上記試験光を送出する手段は、可干渉光源と、この可干
渉光源の出力光周波数を掃引する手段とを含み、 上記測定する手段は、受光素子と、この受光素子の出力
に接続されたスペクトルアナライザと、このスペクトル
アナライザにより得られるビート信号の周波数分布から
上記１以上の端末側光ファイバを個々に識別する手段と
を含むことを特徴とする分岐形光線路の試験装置。To 3. A station apparatus 1 or more terminal-side optical fiber and the wavelength division circuit by the connected the station-side optical fiber of the branch type optical line subscriber terminal and connected thereto station-side optical fiber is connected In a test apparatus for a branched optical line, comprising: means for transmitting test light; and means for measuring light returning from the branched optical line with respect to the test light, wherein the means for transmitting the test light includes: a coherent light source, and means for sweeping the output beam frequency of the coherent light source, said means for measuring includes a light receiving element, and connected to the spectrum analyzer to the output of the light receiving element, the spectrum
From the frequency distribution of the beat signal obtained by the analyzer
And a means for individually identifying the one or more terminal-side optical fibers .
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP02033293A JP3244093B2 (en) | 1993-02-08 | 1993-02-08 | Test method and apparatus for branch type optical line |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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| JP02033293A JP3244093B2 (en) | 1993-02-08 | 1993-02-08 | Test method and apparatus for branch type optical line |
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| Publication Number | Publication Date |
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| JPH06229713A JPH06229713A (en) | 1994-08-19 |
| JP3244093B2 true JP3244093B2 (en) | 2002-01-07 |
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|---|---|---|---|---|
| JP4562535B2 (en) * | 2005-01-24 | 2010-10-13 | Ｎｔｔエレクトロニクス株式会社 | Optical splitter and optical splitter monitoring system |
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-
1993
- 1993-02-08 JP JP02033293A patent/JP3244093B2/en not_active Expired - Lifetime
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|---|---|
| JPH06229713A (en) | 1994-08-19 |
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