JP3241340B2 - Method for manufacturing display panel and image forming apparatus - Google Patents

Method for manufacturing display panel and image forming apparatus

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JP3241340B2
JP3241340B2 JP6741099A JP6741099A JP3241340B2 JP 3241340 B2 JP3241340 B2 JP 3241340B2 JP 6741099 A JP6741099 A JP 6741099A JP 6741099 A JP6741099 A JP 6741099A JP 3241340 B2 JP3241340 B2 JP 3241340B2
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、電子放出素子とそ
の素子を用いた電子源基板、電子源、表示パネルおよび
画像形成装置、ならびにそれらの製造方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an electron-emitting device, an electron source substrate, an electron source, a display panel, and an image forming apparatus using the device, and a method of manufacturing the same.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、電子放出素子として熱電子源と冷
陰極電子源の2種類が知られている。冷陰極電子源には
電界放出型(以下、FE型と称する)、金属/絶縁層/
金属型(以下、MIM型と称する)や、表面伝導型電子
放出素子等がある。
2. Description of the Related Art Conventionally, two types of electron emitting devices, a thermionic electron source and a cold cathode electron source, are known. Field emission type (hereinafter referred to as FE type) cold metal electron sources, metal / insulating layer /
There are a metal type (hereinafter, referred to as an MIM type) and a surface conduction electron-emitting device.

【0003】FE型の例としては、Dykeらの報告(W.
P. Dyke and W. W. Dolan, "Field emission", Advance
in Electron Physics, 8, 89(1956))に記載のもの、S
pindtの報告(C. A. Spindt, "Physical Properties of
thin-film field emission cathodes with molybdeniu
m cones", J. Appl. Phys., 47, 5248(1976))に記載の
もの等が知られている。
As an example of the FE type, a report by Dyke et al.
P. Dyke and WW Dolan, "Field emission", Advance
in Electron Physics, 8, 89 (1956)), S
pindt report (CA Spindt, "Physical Properties of
thin-film field emission cathodes with molybdeniu
m cones ", J. Appl. Phys., 47, 5248 (1976)).

【0004】MIM型の例としては、Meadの報告(C.
A. Mead, J. Appl. Phys., 32, 646(1961))に記載のも
の等が知られている。
As an example of the MIM type, a report by Mead (C.
A. Mead, J. Appl. Phys., 32, 646 (1961)) are known.

【0005】表面伝導型電子放出素子の例としては、エ
リンソンの報告(M. I. Elinson, Radio Eng. Electron
Phys., 10(1965))に記載のもの等がある。
As an example of a surface conduction electron-emitting device, a report by Elinson (MI Elinson, Radio Eng. Electron
Phys., 10 (1965)).

【0006】表面伝導型電子放出素子は、基板上に形成
された小面積の薄膜に、膜面に平行に電流を流すことに
より、電子放出が生ずる現象を利用するものである。こ
の表面伝導型電子放出素子としては、前記のエリンソン
の報告に記載のSnO2薄膜を用いたもの、Au薄膜に
よるもの(G. Dittmer, Thin Solid Films, 9, 317(197
2))、In23/SnO2薄膜によるもの(M. Hartwell
and C. G. Fonstad,IEEE Trans. ED Conf., 519(197
5))、カーボン薄膜によるもの(荒木ら,真空,第26
巻,第1号,22頁(1983))などが報告されてい
る。
[0006] The surface conduction electron-emitting device utilizes the phenomenon that electron emission occurs when a current flows through a small-area thin film formed on a substrate in parallel with the film surface. Examples of the surface conduction electron-emitting device include a device using an SnO 2 thin film described in the report of Elinson, and a device using an Au thin film (G. Dittmer, Thin Solid Films, 9, 317 (197)
2)), using an In 2 O 3 / SnO 2 thin film (M. Hartwell
and CG Fonstad, IEEE Trans.ED Conf., 519 (197
5)), using carbon thin film (Araki et al., Vacuum, 26th edition)
Vol. 1, No. 22, p. 22 (1983)).

【0007】これらの表面伝導型電子放出素子の典型的
な素子構成として前述のハートウェル(Hartwell)の素
子の構成を図39に示す。同図において、1は基板であ
る。4は導電性薄膜で、H型形状のパターンに、スパッ
タで形成された金属酸化物薄膜等からなり、後述の通電
フォーミングと呼ばれる通電処理により電子放出部5が
形成される。なお、図中の素子電極間隔Lは0.5〜1
mm、W’は0.1mmで設定されている。なお、電子
放出部5の位置および形状については不明であるので、
模式図として表した。
FIG. 39 shows a configuration of the Hartwell device described above as a typical device configuration of these surface conduction electron-emitting devices. In FIG. 1, reference numeral 1 denotes a substrate. Reference numeral 4 denotes a conductive thin film, which is formed of a metal oxide thin film or the like formed by sputtering in an H-shaped pattern, and the electron emitting portion 5 is formed by an energization process called energization forming described later. Note that the element electrode interval L in the figure is 0.5 to 1
mm and W ′ are set to 0.1 mm. Since the position and the shape of the electron emitting portion 5 are unknown,
This is shown as a schematic diagram.

【0008】従来、これらの表面伝導型電子放出素子に
おいては、電子放出を行なう前に導電性薄膜4を予め通
電フォーミングと呼ばれる通電処理によって電子放出部
5を形成するのが一般的であった。すなわち、通電フォ
ーミングとは前記の導電性薄膜4の両端に直流電圧ある
いは非常にゆっくりした昇電圧例えば1V/分程度を印
加通電し、導電性薄膜を局所的に破壊、変形もしくは変
質せしめ、電気的に高抵抗な状態にした電子放出部5を
形成することである。なお、電子放出部5は導電性薄膜
4の一部に亀裂が発生し、その亀裂付近から電子放出が
行なわれる。前記通電フォーミング処理を行なった表面
伝導型電子放出素子は、導電性薄膜4に電圧を印加し、
素子に電流を流すことによって、上述の電子放出部5よ
り電子を放出せしめるものである。
Heretofore, in these surface conduction electron-emitting devices, it has been general that the electron-emitting portion 5 is formed beforehand by performing an energization process called energization forming on the conductive thin film 4 before electron emission. That is, the energization forming is to apply a DC voltage or a very slowly increasing voltage, for example, about 1 V / min, to both ends of the conductive thin film 4 and to energize the conductive thin film 4 to locally destroy, deform or alter the conductive thin film, To form the electron-emitting portion 5 in a high resistance state. In the electron emitting portion 5, a crack is generated in a part of the conductive thin film 4, and electrons are emitted from the vicinity of the crack. The surface conduction electron-emitting device that has been subjected to the energization forming process applies a voltage to the conductive thin film 4,
By passing a current through the element, electrons are emitted from the above-described electron emitting portion 5.

【0009】上述の表面伝導型電子放出素子は、構造が
単純で製造も容易であることから、大面積で多数の素子
を配列形成できる利点がある。そこで、その特徴を生か
せるような色々な応用が研究されている。例としては、
荷電ビーム源、画像表示装置等の表示装置が挙げられ
る。
The above-mentioned surface conduction electron-emitting device has an advantage that a large number of devices can be arranged and formed in a large area because the structure is simple and the production is easy. Therefore, various applications that make use of the characteristics are being studied. For example,
Display devices such as a charged beam source and an image display device are exemplified.

【0010】本出願人は、表面伝導型電子放出素子に着
目しており、特開平2−56822号公報において、新
規な電子放出素子の製造方法を提案した。図38に当該
公報に開示された素子を示す。同図において、1は基
板、2および3は素子電極、4は導電性薄膜、5は電子
放出部である。この電子放出素子の製造方法は、例えば
基板1に一般的な真空蒸着技術、フォトリソグラフィ技
術により素子電極2および3を形成する。次いで、導電
性薄膜4は、分散塗布法などによって導電性材料を基板
上に塗布した後、パターニングにより形成する。その
後、素子電極2および3に電圧を印加し通電処理を施す
ことによって、電子放出部5を形成する。
The present applicant has paid attention to a surface conduction electron-emitting device, and has proposed a novel method for manufacturing an electron-emitting device in Japanese Patent Application Laid-Open No. 2-56822. FIG. 38 shows an element disclosed in the publication. In the figure, 1 is a substrate, 2 and 3 are device electrodes, 4 is a conductive thin film, and 5 is an electron emitting portion. In the method of manufacturing the electron-emitting device, for example, the device electrodes 2 and 3 are formed on the substrate 1 by a general vacuum deposition technique and a photolithography technique. Next, the conductive thin film 4 is formed by applying a conductive material on the substrate by a dispersion coating method or the like and then patterning. Thereafter, a voltage is applied to the device electrodes 2 and 3 to perform an energization process, thereby forming the electron-emitting portions 5.

【0011】[0011]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来例による製造方法では、半導体プロセスを主とする方
法で製造するものであるために、現行の技術では大面積
にわたって多数の電子放出素子を形成することは困難で
あり、しかも特殊で高価な製造装置を必要とする。さら
に、パターニングに伴う複数の工程が必要とされること
から、これらの工程の簡略化が望まれているところであ
る。すなわち、現在のところ、基板上に大面積にわたっ
て多数の電子放出素子を形成する場合、生産コストが高
くなってしまうというのが実状である。
However, in the manufacturing method according to the above-mentioned conventional example, since the manufacturing is performed mainly by a semiconductor process, the current technology forms a large number of electron-emitting devices over a large area. This is difficult and requires special and expensive manufacturing equipment. Further, since a plurality of steps required for patterning are required, simplification of these steps is desired. That is, at present, when a large number of electron-emitting devices are formed over a large area on a substrate, the production cost is actually increased.

【0012】本発明は上述したような技術的課題に鑑み
てなされたものである。本発明は、低コストで基板上に
多数の電子放出素子を形成し得る表示パネルを提供する
ことを目的とする。
The present invention has been made in view of the technical problems described above. An object of the present invention is to provide a display panel in which a large number of electron-emitting devices can be formed on a substrate at low cost.

【0013】[0013]

【課題を解決するための手段】本発明は、一対の素子電
極と、該一対の素子電極間に電子放出部を含む導電性薄
膜とを有する電子放出素子の複数が配置されたリアプレ
ートと、該電子放出素子と対向して配置された蛍光膜を
有するフェースプレートとを備える表示パネルの製造方
法であって、前記複数の電子放出素子が、前記一対の素
子電極の形成の後に金属元素を含有する液をインクジェ
ット方式により液滴として基板上に付与し導電性薄膜を
複数形成する工程を経て形成されることを特徴とする表
示パネルの製造方法に関する。さらに本発明は、一対の
素子電極と、該一対の素子電極間に電子放出部を含む導
電性薄膜とを有する電子放出素子の複数が配置されたリ
アプレートと、該電子放出素子と対向して配置された蛍
光膜を有するフェースプレートとを備える表示パネル、
および、表示を行うための駆動回路を備える画像形成装
置の製造方法であって、該表示パネルの製造を上記の方
法によって行うことを特徴とする画像形成装置の製造方
法に関する。
According to the present invention, there is provided a rear plate on which a plurality of electron-emitting devices each having a pair of device electrodes and a conductive thin film including an electron-emitting portion are provided between the pair of device electrodes. A method for manufacturing a display panel, comprising: a face plate having a fluorescent film disposed to face the electron-emitting device, wherein the plurality of electron-emitting devices contain a metal element after forming the pair of device electrodes. The present invention relates to a method for manufacturing a display panel, comprising forming a plurality of conductive thin films by applying a liquid to be applied as droplets onto a substrate by an inkjet method. Further, the present invention provides a rear plate in which a plurality of electron-emitting devices each having a pair of device electrodes and a conductive thin film including an electron-emitting portion are provided between the pair of device electrodes, and a rear plate facing the electron-emitting devices. A display panel comprising: a face plate having a fluorescent film disposed thereon;
Also, the present invention relates to a method of manufacturing an image forming apparatus including a drive circuit for performing display, wherein the manufacturing of the display panel is performed by the above method.

【0014】[0014]

【0015】[0015]

【0016】[0016]

【0017】[0017]

【0018】[0018]

【0019】本発明により製造される表示パネルでは、
電子放出素子を構成する薄膜部材が、薄膜部材を構成す
る構成成分を含む液体を液滴の形態で付与して形成され
ることから、欠陥の極めて少ない均一な薄膜であり、こ
れにより、素子特性均一性が飛躍的に向上している。表
示パネルが大面積化しても歩留りの低下がない。
In the display panel manufactured according to the present invention,
Since the thin-film member constituting the electron-emitting device is formed by applying a liquid containing the components constituting the thin-film member in the form of droplets, the thin-film member is a uniform thin film with extremely few defects. The uniformity is dramatically improved. Even if the display panel has a large area, the yield does not decrease.

【0020】さらに本発明の製造方法では、所定の位置
に所望の量を付与されるので、電子放出素子の製造工程
を大幅に低減することができる。
Further, according to the manufacturing method of the present invention, since a desired amount is given to a predetermined position, the manufacturing process of the electron-emitting device can be greatly reduced.

【0021】[0021]

【発明の実施の形態】以下、図面を用いて本発明を詳細
に説明する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The present invention will be described below in detail with reference to the drawings.

【0022】図1は本発明の表示パネルに用いられる電
子放出素子の製造方法の1例を示す模式図、図2および
図3は本発明によって作製される表面伝導型電子放出素
子の1例を示す図である。
FIG. 1 is a schematic view showing one example of a method of manufacturing an electron-emitting device used for a display panel of the present invention, and FIGS. 2 and 3 show one example of a surface conduction electron-emitting device manufactured by the present invention. FIG.

【0023】図1、2および3において、1は基板、2
および3は素子電極、4は導電性薄膜、5は電子放出
部、7は液滴付与装置、24は液滴である。
1, 2 and 3, reference numeral 1 denotes a substrate, 2
Reference numerals 3 and 3 denote device electrodes, 4 denotes a conductive thin film, 5 denotes an electron-emitting portion, 7 denotes a droplet applying device, and 24 denotes a droplet.

【0024】本例においてはまず、基板1上に素子電極
2および3をL1の距離を隔てて形成する(図1
(a))。次いで、金属元素を含有する溶液よりなる液
滴24を液滴付与装置(インクジェット記録装置)7よ
り吐出させ(図1(b))、導電性薄膜4を素子電極
2、3に接するように形成する(図1(c))。次に、
例えば後述するフォーミング処理により、導電性薄膜中
に亀裂を生ぜしめ、電子放出部5を形成する。
In this embodiment, first, device electrodes 2 and 3 are formed on a substrate 1 at a distance of L1 (FIG. 1).
(A)). Next, droplets 24 made of a solution containing a metal element are discharged from a droplet applying device (inkjet recording device) 7 (FIG. 1B), and the conductive thin film 4 is formed so as to be in contact with the device electrodes 2 and 3. (FIG. 1C). next,
For example, a crack is generated in the conductive thin film by a forming process described later, and the electron-emitting portion 5 is formed.

【0025】このような液滴付与法を用いることによ
り、含有溶液の微小な液滴を所望の位置のみに選択的に
形成することができるため、素子部を構成する材料を無
駄にすることがない。また高価な装置を必要とする真空
プロセス、多数の工程を含むフォトリソグラフィーによ
るパターニングが不要であり、生産コストを大幅に下げ
ることができるのである。
By using such a droplet applying method, minute droplets of the contained solution can be selectively formed only at desired positions, so that the material constituting the element portion is wasted. Absent. In addition, a vacuum process that requires an expensive apparatus and patterning by photolithography including a large number of steps are not required, so that the production cost can be significantly reduced.

【0026】液滴付与装置7の具体例を挙げるならば、
任意の液滴を形成できる装置であればどのような装置を
用いても構わないが、特に、十数ngから数十ng程度
の範囲で制御が可能でかつ10ng程度から数十ngの
微小量の液滴が容易に形成できるインクジェット方式の
装置がよい。
To give a specific example of the droplet applying device 7,
Any device may be used as long as it can form an arbitrary droplet, but in particular, it can be controlled in the range of about ten to several ng to about several tens of ng and has a very small amount of about 10 to several tens of ng. It is preferable to use an ink-jet type apparatus which can easily form droplets of the ink.

【0027】インクジェット方式の装置としては、圧電
素子等を用いたインクジェット噴射装置、熱エネルギー
によって液体内に気泡を形成させてその液体を液滴とし
て吐出させる方式(以下、バブルジェット方式と称す
る)によるインクジェット噴射装置などが挙げられる。
[0027] The ink-jet apparatus is an ink-jet injection apparatus using a piezoelectric element or the like, or a method in which bubbles are formed in a liquid by thermal energy and the liquid is discharged as droplets (hereinafter, referred to as a bubble jet method). An ink jet injection device and the like can be mentioned.

【0028】導電性薄膜4は良好な電子放出特性を得る
ために微粒子で構成された微粒子膜が特に好ましく、そ
の膜厚は、素子電極2および3へのステップカバレー
ジ、素子電極2・3間の抵抗値および後述する通電フォ
ーミング条件等によって適宜設定されるが、好ましくは
数Å〜数千Åで、特に好ましくは10Å〜500Åであ
る。そのシート抵抗値は、103〜107Ω/□である。
The conductive thin film 4 is particularly preferably a fine particle film composed of fine particles in order to obtain good electron emission characteristics. The film thickness depends on the step coverage of the device electrodes 2 and 3 and the gap between the device electrodes 2 and 3. It is appropriately set depending on the resistance value, the energizing forming conditions described later, and the like, but is preferably several to several thousand, and particularly preferably 10 to 500. The sheet resistance is 10 3 to 10 7 Ω / □.

【0029】導電性薄膜4を構成する材料は、Pd、P
t、Ru、Ag、Au、Ti、In、Cu、Cr、F
e、Zn、Sn、Ta、W、Pb等の金属、PdO、S
nO2、In23、PbO、Sb23等の酸化物、Hf
2、ZrB2、LaB6、CeB6、YB4、GdB4等の
硼化物、TiC、ZrC、HfC、TaC、SiC、W
C等の炭化物、TiN、ZrN、HfN等の窒化物、S
i、Ge等の半導体、カーボン等が挙げられる。
The material constituting the conductive thin film 4 is Pd, P
t, Ru, Ag, Au, Ti, In, Cu, Cr, F
e, metal such as Zn, Sn, Ta, W, Pb, PdO, S
oxides such as nO 2 , In 2 O 3 , PbO, Sb 2 O 3 , Hf
Borides such as B 2 , ZrB 2 , LaB 6 , CeB 6 , YB 4 , GdB 4 , TiC, ZrC, HfC, TaC, SiC, W
Carbides such as C, nitrides such as TiN, ZrN, HfN, S
semiconductors such as i, Ge, etc., and carbon.

【0030】なお、ここで述べる微粒子膜とは、複数の
微粒子が集合した膜であり、その微細構造として、微粒
子が個々に分散配置した状態のみならず、微粒子が互い
に隣接あるいは重なり合った状態(島状も含む)の膜を
指しており、微粒子の粒径は、数Å〜数千Å、好ましく
は10Å〜200Åである。
The fine particle film described here is a film in which a plurality of fine particles are gathered, and has a fine structure not only in a state where the fine particles are individually dispersed and arranged, but also in a state where the fine particles are adjacent to each other or overlap each other (an island). The particle diameter of the fine particles is several to several thousand, preferably 10 to 200.

【0031】液滴24の基になる溶液は、上述した導電
性薄膜の構成材料を水や溶剤等に溶かしたものや有機金
属溶液等が挙げられるが、液滴を生じさせる粘度のもの
であることが必要である。
The solution on which the droplets 24 are based may be a solution in which the above-mentioned constituent material of the conductive thin film is dissolved in water, a solvent, or the like, or an organic metal solution. It is necessary.

【0032】また、素子電極間に付与する液の量は、下
記(数式)で示されるように基板と1対の素子電極によ
って形成される凹部の容積を超えないようにすることが
好ましい。
It is preferable that the amount of the liquid applied between the device electrodes does not exceed the volume of the concave portion formed by the substrate and the pair of device electrodes as shown by the following (formula).

【0033】 凹部の容積=素子電極の長さ×素子電極の幅(W1)×素子電極間隔(L1)・ ・・ (数式) 基板1としては石英ガラス、Na等の不純物含有量の少
ないガラス、青板ガラス、SiO2を表面に形成したガ
ラス基板およびアルミナ等のセラミックス基板が用いら
れる。
The volume of the concave portion = the length of the device electrode × the width of the device electrode (W 1) × the space between the device electrodes (L 1) (Formula) As the substrate 1, quartz glass, glass containing a small amount of impurities such as Na, etc. Blue plate glass, a glass substrate having SiO 2 formed on its surface, and a ceramic substrate such as alumina are used.

【0034】素子電極2および3の材料としては、一般
的な導電性体が用いられ、例えば、Ni、Cr、Au、
Mo、W、Pt、Ti、Al、Cu、Pd等の金属また
は合金、ならびにPd、Ag、Au、RuO2、Pd−
Ag等の金属または金属酸化物とガラス等から構成され
る印刷導体、In23−SnO2等の透明導電体および
ポリシリコン等の半導体材料等から適宜選択される。
As a material of the device electrodes 2 and 3, a general conductive material is used, for example, Ni, Cr, Au,
Mo, W, Pt, Ti, Al, Cu, metal or alloy such as Pd, and Pd, Ag, Au, RuO 2, Pd-
It is appropriately selected from a printed conductor composed of a metal such as Ag or a metal oxide and glass, a transparent conductor such as In 2 O 3 —SnO 2 , and a semiconductor material such as polysilicon.

【0035】素子電極間隔Lは、好ましくは数百Å〜数
百μmである。また、素子電極間に印加する電圧は低い
方が望ましく、再現よく作製することが要求されるた
め、好ましい素子電極間隔は、数μm〜数十μmであ
る。
The element electrode interval L is preferably several hundreds of μm to several hundred μm. Further, it is desirable that the voltage applied between the device electrodes is low, and it is required to manufacture the device with good reproducibility. Therefore, the preferable device electrode interval is several μm to several tens μm.

【0036】素子電極長さW’は、電極の抵抗値および
電子放出特性の観点から、数μm〜〜数百μmであり、
また素子電極2および3の膜厚dは、数百Å〜数μmが
好ましい。
The device electrode length W ′ is several μm to several hundred μm from the viewpoint of the resistance value of the electrode and the electron emission characteristics.
Further, the thickness d of the device electrodes 2 and 3 is preferably several hundreds to several μm.

【0037】電子放出部5は導電性薄膜4の一部に形成
された高抵抗の亀裂であり、通電フォーミング等により
形成される。また、亀裂内には数Å〜数百Åの粒径の導
電性微粒子を有することもある。この導電性微粒子は導
電性薄膜4を構成する物質の少なくとも一部の元素を含
んでいる。また、電子放出部5およびその近傍の導電性
薄膜4は、炭素および炭素化合物を有することもある。
The electron-emitting portion 5 is a high-resistance crack formed in a part of the conductive thin film 4 and is formed by energization forming or the like. In addition, the crack may have conductive fine particles having a particle size of several to several hundreds of mm. The conductive fine particles contain at least some of the elements constituting the conductive thin film 4. Further, the electron emitting portion 5 and the conductive thin film 4 in the vicinity thereof may include carbon and a carbon compound.

【0038】また、電子放出部5は、導電性薄膜4なら
びに素子電極2および3が形成されてなる素子の通電フ
ォーミングと呼ばれる通電処理を行うことによって形成
される。通電フォーミングは、素子電極2・3間に不図
示の電源より通電を行い、導電性薄膜4を局所的に破
壊、変形もしくは変質せしめ、構造を変化させた部位を
形成させるものである。この局所的に構造変化させた部
位を電子放出部5と呼ぶ。通電フォーミングの電圧波形
の例を図4に示す。
The electron emitting portion 5 is formed by performing an energization process called energization forming of an element formed with the conductive thin film 4 and the element electrodes 2 and 3. The energization forming is to energize a power supply (not shown) between the element electrodes 2 and 3 to locally destroy, deform, or alter the conductive thin film 4 to form a portion having a changed structure. The site where the structure is locally changed is referred to as an electron emitting portion 5. FIG. 4 shows an example of the voltage waveform of the energization forming.

【0039】電圧波形は特にパルス形状が好ましく、パ
ルス波高値が一定の電圧パルスを連続的に印加する場合
(図4(a))と、パルス波高値を増加させながら電圧
パルスを印加する場合(図4(b))とがある。まず、
パルス波高値が一定電圧とした場合(図4(a))につ
いて説明する。
The voltage waveform is particularly preferably in a pulse shape. When a voltage pulse having a constant pulse peak value is continuously applied (FIG. 4A), when a voltage pulse is applied while increasing the pulse peak value ( FIG. 4B). First,
The case where the pulse crest value is a constant voltage (FIG. 4A) will be described.

【0040】図4におけるT1およびT2は電圧波形のパ
ルス幅とパルス間隔であり、T1を1μ秒〜10ミリ
秒、T2を10μ秒〜100ミリ秒とし、三角波の波高
値(通電フォーミング時のピーク電圧)は表面伝導型電
子放出素子の形態に応じて適宜選択し、適当な真空度、
例えば1×10-5Torr程度の真空雰囲気下で、数秒
から数十分印加する。なお、素子の電極間に印加する波
形は三角波に限定する必要はなく、矩形波など所望の波
形を用いてもよい。
In FIG. 4, T1 and T2 are the pulse width and pulse interval of the voltage waveform, T1 is 1 to 10 milliseconds, T2 is 10 to 100 milliseconds, and the peak value of the triangular wave (peak during energization forming). Voltage) is appropriately selected according to the form of the surface conduction electron-emitting device, and a suitable degree of vacuum,
For example, under a vacuum atmosphere of about 1 × 10 −5 Torr, application is performed for several seconds to several tens of minutes. Note that the waveform applied between the electrodes of the element need not be limited to a triangular wave, and a desired waveform such as a rectangular wave may be used.

【0041】図4(b)におけるT1およびT2は、図4
(a)の場合と同様であり、三角波の波高値(通電フォ
ーミング時のピーク電圧)は、例えば0.1Vステップ
程度ずつ増加させ適当な真空雰囲気下で印加する。
T1 and T2 in FIG.
As in the case of (a), the peak value of the triangular wave (peak voltage at the time of energization forming) is increased, for example, by about 0.1 V step and applied under an appropriate vacuum atmosphere.

【0042】なお、この場合の通電フォーミング処理
は、パルス間隔T2中に、導電性薄膜4を局所的に破壊
・変形しない程度の電圧、例えば0.1V程度の電圧
で、素子電流を測定し、抵抗値を求め、例えば1MΩ以
上の抵抗を示した時に通電フォーミング終了とする。
In the energization forming process in this case, the element current is measured during the pulse interval T2 at a voltage that does not locally destroy or deform the conductive thin film 4, for example, a voltage of about 0.1 V. The resistance value is obtained, and when the resistance is, for example, 1 MΩ or more, the energization forming is completed.

【0043】次に通電フォーミングが終了した素子に活
性化工程と呼ぶ処理を施すことが望ましい。
Next, it is desirable to perform a process called an activation process on the device after the energization forming.

【0044】活性化工程とは、例えば、10-4〜10-5
Torr程度の真空度で、通電フォーミング同様、パル
ス波高値が一定の電圧パルスを繰返し印加する処理のこ
とであり、真空中に存在する有機物質に起因する炭素お
よび炭素化合物を導電薄膜上に堆積させ素子電流If、
放出電流Ieを著しく変化させる処理である。活性化工
程は素子電流Ifと放出電流Ieを測定しながら、例え
ば、放出電流Ieが飽和した時点で終了する。また、印
加する電圧パルスは動作駆動電圧で行うことが好まし
い。
The activation step is, for example, 10 -4 to 10 -5
A process of repeatedly applying a voltage pulse having a constant pulse peak value at a degree of vacuum of about Torr, similar to energization forming, and depositing carbon and carbon compounds resulting from organic substances present in a vacuum on a conductive thin film. Element current If,
This is a process for significantly changing the emission current Ie. The activation process ends while measuring the device current If and the emission current Ie, for example, when the emission current Ie is saturated. Further, it is preferable that the voltage pulse to be applied is performed by an operation drive voltage.

【0045】なお、ここで炭素および炭素化合物とは、
グラファイト(単結晶および多結晶の両方を指す。)非
晶質カーボン(非晶質カーボンおよび多結晶グラファイ
トの混合物を指す)であり、その膜厚は500Å以下が
好ましく、より好ましくは300Å以下である。
Here, the carbon and the carbon compound are:
Graphite (refers to both monocrystalline and polycrystalline) amorphous carbon (refers to a mixture of amorphous carbon and polycrystalline graphite) having a film thickness of preferably 500 ° or less, more preferably 300 ° or less .

【0046】こうして作製した電子放出素子は、通電フ
ォーミング工程、活性化工程における真空度よりも高い
真空度の雰囲気下に置いて動作駆動させるのがよい。ま
た、さらに高い真空度の雰囲気下で、80℃〜150℃
の加熱後に動作駆動させることが望ましい。
The electron-emitting device manufactured in this manner is preferably operated and driven in an atmosphere having a degree of vacuum higher than the degree of vacuum in the energization forming step and the activation step. Further, under an atmosphere of a higher degree of vacuum, 80 ° C. to 150 ° C.
It is desirable to drive the operation after heating.

【0047】なお、通電フォーミング工程、活性化処理
した真空度より高い真空度とは、例えば約10-6Tor
r以上の真空度であり、より好ましくは超高真空系であ
り、新たに炭素および炭素化合物が導電薄膜上にほとん
ど堆積しない真空度である。こうすることによって、素
子電流If、放出電流Ieを安定化させることが可能とな
る。
The degree of vacuum higher than the degree of vacuum in the energization forming step and the activation treatment is, for example, about 10 −6 Torr.
r or higher, more preferably an ultra-high vacuum system, in which carbon and carbon compounds are hardly newly deposited on the conductive thin film. This makes it possible to stabilize the element current If and the emission current Ie.

【0048】本発明で用いる電子放出素子は、単純な構
成で製法が容易な表面伝導型電子放出素子が好適であ
る。
As the electron-emitting device used in the present invention, a surface-conduction electron-emitting device which has a simple structure and is easy to manufacture is preferable.

【0049】本発明によって製造することができる表面
伝導型電子放出素子としては、基本的に平面型表面伝導
型電子放出素子である。
The surface conduction electron-emitting device that can be manufactured according to the present invention is basically a flat surface conduction electron-emitting device.

【0050】本発明の電子放出素子の製造方法の最も特
徴的なことは、金属元素を含有する溶液を基板上に液滴
として付与し、導電性薄膜を形成することである。この
要件を満足する態様には、種々のものがある。
The most characteristic feature of the method for manufacturing an electron-emitting device of the present invention is that a solution containing a metal element is applied as droplets on a substrate to form a conductive thin film. There are various modes that satisfy this requirement.

【0051】I.本発明は、基板上に付与された液滴の
付与状態を検出し、付与状態に関して得られた情報に基
づいて液滴の付与を再度行うものをも包含する。以下、
その態様について説明する。
I. The present invention also includes a method of detecting the applied state of the droplet applied on the substrate and performing the application of the droplet again based on information obtained on the applied state. Less than,
The mode will be described.

【0052】図14、図16および図17は、本例で使
用可能な電子放出素子の製造装置の各種実施態様を示す
概略構成図であり、図15は本例の電子放出素子の製造
方法の1実施態様の工程を示すフローチャートである。
FIGS. 14, 16 and 17 are schematic diagrams showing various embodiments of an apparatus for manufacturing an electron-emitting device which can be used in this embodiment. FIG. 15 shows a method for manufacturing an electron-emitting device of this embodiment. 4 is a flowchart illustrating a process according to one embodiment.

【0053】図14、図16および図17において、7
はインクジェット噴射装置(液滴付与装置)、8は発光
手段、9は受光手段、10はステージ、11はコントロ
ーラ、12は制御手段を示す。なお、ここで言う発光手
段および受光手段においては、発生・受容する対象は光
に限定されるものではなく、信号として認識できるもの
であればどのようなものを用いてもよく、例としては発
光ダイオード、赤外線レーザーなどがある。また、受光
手段は、発光手段に合わせて信号を受けることができる
ものであればよい。さらに、これらの発光手段および受
光手段は、絶縁性基体を透過または反射する信号を発生
または受信する構成のものであればよい。
In FIG. 14, FIG. 16 and FIG.
Denotes an inkjet ejecting device (droplet applying device), 8 denotes a light emitting unit, 9 denotes a light receiving unit, 10 denotes a stage, 11 denotes a controller, and 12 denotes a control unit. In the light emitting means and the light receiving means referred to herein, the object to be generated and received is not limited to light, and any object can be used as long as it can be recognized as a signal. There are diodes and infrared lasers. The light receiving means may be any one that can receive a signal in accordance with the light emitting means. Further, the light emitting means and the light receiving means may have a configuration for generating or receiving a signal transmitted or reflected by the insulating substrate.

【0054】本例の電子放出素子の製造方法および製造
装置において検出される液滴の状態に関する項目は、1
対の素子電極間の凹部であるギャップ内に付与された液
滴量、その液滴の位置、液滴自体の有無などである。そ
のような項目に関する取得情報に基づいて、吐出回数や
吐出位置、さらに圧電素子を用いたインクジェット噴射
装置では駆動条件も含めたインクジェット噴射装置の吐
出パラメータを、制御手段によって制御する。
The items relating to the state of droplets detected in the method and apparatus for manufacturing an electron-emitting device of this embodiment are as follows.
The information includes the amount of liquid droplets provided in the gap, which is a concave portion between the pair of element electrodes, the position of the liquid droplets, and the presence or absence of the liquid droplets. Based on the acquired information on such items, the control unit controls the ejection parameters of the inkjet ejection device including the number of ejections, the ejection position, and the driving conditions in the inkjet ejection device using the piezoelectric element.

【0055】さらに、上記の検出を行う手段としては、
インクジェット法によってノズルから吐出された液滴の
電極間ギャップにおける有無およびその量を検出する液
滴情報検出手段と液滴が着弾した位置を検出する着弾位
置検出手段とを備えることが好ましい。
Further, means for performing the above detection include:
It is preferable to include a droplet information detecting unit for detecting the presence and amount of a droplet discharged from a nozzle in a gap between electrodes by an inkjet method, and a landing position detecting unit for detecting a position where the droplet lands.

【0056】その場合、着弾位置検出手段としては、吐
出前に電極パターンまたは専用に設けたアライメントマ
ークを光学的に検出するか、吐出後液滴による透過率の
変調を光学的に検知することによって着弾後の液滴の位
置を検出するものである。なお液滴の位置検出は、ギャ
ップ内およびギャップ近傍の領域で複数ポイントの透過
率を検出し、それらの相関を取ることによって行われ
る。
In this case, the landing position detecting means may be realized by optically detecting an electrode pattern or a dedicated alignment mark before ejection, or by optically detecting the modulation of the transmittance by the droplet after ejection. This is to detect the position of the droplet after landing. The position detection of the droplet is performed by detecting the transmittance at a plurality of points in the gap and in the region near the gap, and taking a correlation between them.

【0057】さらに、本例の製造装置では、位置検出専
用の光学系を設ける必要がないように、前述の液滴情報
検出と着弾位置検出とは同一の光学検出系によって行わ
れるようにすることが好ましい。さらに望ましくは、液
滴情報検出と位置検出とを同一の光学系によって連続的
または同時に行う。
Further, in the manufacturing apparatus of this embodiment, the above-described detection of the droplet information and the detection of the landing position are performed by the same optical detection system so that there is no need to provide an optical system dedicated to position detection. Is preferred. More preferably, the droplet information detection and the position detection are performed continuously or simultaneously by the same optical system.

【0058】図15に示したように、本例の製造方法で
は、電極間隔を利用して発光手段と受光手段により電極
間を通過する光または反射する光を検出することで液的
付与位置を検出し、電極間に液滴を付与できる位置にイ
ンクジェット噴射装置のヘッドを移動させる(位置合わ
せ工程)。次に、インクジェット噴射装置によって液滴
を電極間に付与し(液滴付与工程)、位置合わせ工程と
同様に電極間を通過または反射する信号によって、例え
ば液滴が電極間に付与されているか否か(上述の液滴自
体の有無に関する情報)を検出する(液滴検出工程)。
そして、液滴検出工程で所望の位置の所望の領域に液滴
が付与されていれば次の電極間の位置合わせ工程へと進
み、液滴が付与されていなければ再度液滴を付与する。
As shown in FIG. 15, in the manufacturing method of this example, the light-applying position is detected by detecting the light passing or reflected between the electrodes by the light emitting means and the light receiving means using the electrode interval. The head of the ink jet apparatus is detected and moved to a position where a droplet can be applied between the electrodes (positioning step). Next, droplets are applied between the electrodes by an inkjet ejecting apparatus (droplet applying step). For example, whether or not the droplets are applied between the electrodes is determined by a signal passing or reflecting between the electrodes as in the alignment step. (Information on the presence or absence of the above-mentioned droplet itself) is detected (droplet detecting step).
Then, if a droplet is applied to a desired region at a desired position in the droplet detection step, the process proceeds to the next electrode alignment step, and if no droplet is applied, the droplet is applied again.

【0059】また、インクジェット噴射装置とステージ
の移動・搬送においては、ステージのみ、もしくはイン
クジェット噴射装置のみ、もしくはその両方など、どの
ような組み合せで、X、Y、θの移動・搬送を行っても
よい。
In the movement / transportation of the inkjet ejecting apparatus and the stage, the X / Y / θ movement / transportation can be performed in any combination of the stage alone, the inkjet ejecting apparatus alone, or both. Good.

【0060】また、液滴付与工程中、インクジェット噴
射装置またはステージは、移動、搬送または停止のどち
らの状態であっても構わないが、移動、搬送の状態で液
滴を付与する場合、液滴の着弾位置がずれない程度の移
動・搬送が好ましい。
During the droplet applying step, the ink jet ejecting apparatus or the stage may be moved, transported, or stopped. It is preferable to move and convey such that the landing position does not shift.

【0061】本例の製造装置における光学的な検出手段
には、様々なバリエーションがあり得る。図18にはそ
のうち、検出光学系の焦点において光学系の光軸と吐出
ノズルの吐出方向軸とが交わるように双方の相対位置が
配置されるタイプを示す。このタイプでは、吐出ノズル
301、検出光学系302、素子基板(絶縁性基体)1
の相対位置を固定したままで溶液の吐出および付与され
た液滴に関する情報の検出を交互に連続的に繰り返すこ
とが可能である。図18(a)は出射系と検出系のコン
パクトな一体化が可能な垂直反射型、図18(b)は出
射系と検出系とが吐出ノズルを挟んで配置される斜方反
射型、図18(c)は出射系と検出系とが素子基板を挟
んで配置される垂直透過型である。
The optical detection means in the manufacturing apparatus of this embodiment can have various variations. FIG. 18 shows a type in which the relative positions of the optical axis of the optical system and the ejection direction axis of the ejection nozzle intersect at the focal point of the detection optical system. In this type, a discharge nozzle 301, a detection optical system 302, an element substrate (insulating base) 1
It is possible to continuously and alternately repeat the ejection of the solution and the detection of the information on the applied droplets while keeping the relative position of. 18A is a vertical reflection type in which the emission system and the detection system can be compactly integrated, and FIG. 18B is an oblique reflection type in which the emission system and the detection system are arranged with the discharge nozzle interposed therebetween. 18 (c) is a vertical transmission type in which an emission system and a detection system are arranged with an element substrate interposed therebetween.

【0062】また、図19および図20は、検出光学系
の光軸と吐出方向軸とが交点を持たないタイプであり、
図19が反射型、図20が透過型である。このタイプで
液滴の吐出、情報検出を繰り返す場合、図に示すように
変位制御機構403または503を矢印の方向に駆動し
てそれぞれの軸がギャップ中央の位置に合うように交互
に移動する必要がある。
FIGS. 19 and 20 show a type in which the optical axis of the detection optical system does not have an intersection with the ejection direction axis.
19 shows a reflection type, and FIG. 20 shows a transmission type. When the ejection of droplets and the detection of information are repeated in this type, it is necessary to drive the displacement control mechanism 403 or 503 in the direction of the arrow as shown in the figure to alternately move each axis so as to match the center of the gap. There is.

【0063】吐出条件の制御方法としては、液滴情報の
検出信号差分成分を補正信号として、検出値が最適値に
保持されるように駆動パルス高、パルス幅、パルスタイ
ミング、パルス数等のパラメータのうちの少なくとも1
つを実時間で帰還制御する方法や、検出値の最適値から
のずれの量に応じて予め決められたアルゴリズムに従っ
てパラメータのうちの少なくとも1つを補正する方法等
がある。
As a method of controlling the ejection condition, parameters such as a driving pulse height, a pulse width, a pulse timing, and a pulse number are used so that a detection signal difference component of the droplet information is used as a correction signal so that the detection value is maintained at an optimum value. At least one of
One method is to perform feedback control in real time, and the other is to correct at least one of the parameters according to a predetermined algorithm according to the amount of deviation of the detected value from the optimum value.

【0064】また、これらの図においては、情報検出の
対象となる液滴が素子電極間のギャップに形成される場
合について示されているが、本発明の方法および装置に
おいては、情報検出のためのダミー液滴を素子電極間以
外の箇所に予備吐出し、その検出結果に基づいて吐出条
件を適正なものに設定してから素子電極間への液滴吐出
を行うという形態であってもよい。
In these figures, the case where a droplet to be subjected to information detection is formed in a gap between element electrodes is shown. May be preliminarily ejected to a place other than between the element electrodes, the ejection conditions may be set to appropriate ones based on the detection result, and then the droplet may be ejected between the element electrodes. .

【0065】さらに本例の別の態様として、付与された
液滴の少なくとも一部を除去するための液滴除去手段を
設けて、液滴情報検出の結果、ギャップ内の液滴量が最
適値より多いと判断される場合に、液滴の一部を除去し
て最適値に戻すかあるいは液滴を全量除去した後に再吐
出を行うこともできる。
As another aspect of the present embodiment, a droplet removing means for removing at least a part of the applied droplet is provided, and as a result of detecting the droplet information, the amount of the droplet in the gap is set to an optimum value. When it is determined that the number of the droplets is larger, it is possible to remove a part of the droplets to return to the optimum value, or to perform the re-discharge after removing all the droplets.

【0066】そのような液滴除去手段としては、窒素な
どのガスを噴射して液滴をギャップ内から飛散させる機
能を有する除去専用ノズルを備えたものなどがある。除
去専用ノズルは専用の位置制御機構を設ける必要がない
ように、吐出ノズル近傍に配置するのが望ましい。例え
ば吐出ノズルがマルチアレイ配列になっている場合に
は、アレイ内に除去専用ノズルを周期的に設けるように
してもよい。吐出による溶液の付与のみでなく除去もで
きる手段を備えることによって、液的量のより厳密な制
御が実現される。
As such a droplet removing means, there is one provided with a nozzle dedicated to removal having a function of injecting a gas such as nitrogen to scatter droplets from within the gap. It is desirable that the nozzle dedicated to removal be disposed near the discharge nozzle so that it is not necessary to provide a dedicated position control mechanism. For example, when the ejection nozzles are arranged in a multi-array, a nozzle dedicated for removal may be periodically provided in the array. By providing a means that can not only apply but also remove the solution by ejection, more strict control of the liquid volume is realized.

【0067】本例の製造装置においては、液滴が着弾す
る位置に関する情報を光学的に検出する手段と、検出さ
れる位置情報に基づいて吐出位置合わせ、位置微調整等
の位置制御を行う手段を備える。
In the manufacturing apparatus of this embodiment, means for optically detecting information on the position where the liquid droplet lands, and means for performing position control such as ejection position adjustment and position fine adjustment based on the detected position information. Is provided.

【0068】位置検出手段は、吐出前に電極パターンま
たは専用に設けたアライメントマークを光学的に検出す
るか、吐出後液滴による透過率の変調を光学的に検知す
ることによって着弾後の液滴の位置を検出する。その場
合、液滴の位置検出は、ギャップ内およびギャップ近傍
の領域で複数ポイントの透過率を検出し、それらの相関
をとることによって行われる。
The position detecting means detects the electrode pattern before ejection by optically detecting an electrode pattern or a dedicated alignment mark, or optically detects the modulation of the transmittance by the droplet after ejection to thereby detect the droplet after landing. Detect the position of. In this case, the position detection of the droplet is performed by detecting the transmittance at a plurality of points in the gap and in the region near the gap, and correlating them.

【0069】本例においては、位置検出専用の光学系を
設ける必要がないように、前述の液滴に関する情報の検
出と液滴の着弾位置検出とが同一の光学検出系によって
行うことが好ましい。さらに好ましくは、情報検出と位
置検出とを同一の光学系によって連続的にまたは同時に
行うようにする。
In this embodiment, it is preferable that the detection of the information on the droplet and the detection of the landing position of the droplet are performed by the same optical detection system so that there is no need to provide an optical system dedicated to position detection. More preferably, the information detection and the position detection are performed continuously or simultaneously by the same optical system.

【0070】II.次に、液滴のドット径と、付与する
位置に工夫を凝らした態様について説明する。
II. Next, a description will be given of a mode in which the dot diameter of the droplet and the position where the droplet is applied are devised.

【0071】図32は本例の製造方法により作製される
表面伝導型電子放出素子のマルチパターン(パッド)を
示す図である。図32において、(a)は、隣接するド
ット間の距離およびドット径を示す図であり、(b)は
上記のパッドの1例の図である。なお、ここで、隣接す
るドットという表現は、例えば図32(a)において上
下・左右で隣り合うドットを表し、斜め方向に隣り合う
ドット同士には適用されないものとする。
FIG. 32 is a view showing a multi-pattern (pad) of a surface conduction electron-emitting device manufactured by the manufacturing method of this embodiment. 32A is a diagram showing a distance between adjacent dots and a dot diameter, and FIG. 32B is a diagram of an example of the pad. Here, the expression “adjacent dots” means, for example, dots vertically and horizontally adjacent to each other in FIG. 32A, and is not applied to dots which are obliquely adjacent to each other.

【0072】図32において、1は基板、2および3は
素子電極、4は導電性薄膜、5は電子放出部、28は液
滴を基板に付与した後形成される液状または固体状の円
形の膜(ドット)である。
In FIG. 32, 1 is a substrate, 2 and 3 are device electrodes, 4 is a conductive thin film, 5 is an electron emitting portion, 28 is a liquid or solid circular shape formed after applying a droplet to the substrate. It is a film (dot).

【0073】まず予め、前述の材料によって形成される
ドットの直径φを求める。すなわち、有機溶剤等で充分
洗浄し乾燥させた絶縁基板上に、液滴付与装置を用いて
ドットを形成し、その直径φを測定する。
First, the diameter φ of a dot formed of the above-described material is determined in advance. That is, dots are formed using a droplet applying device on an insulating substrate which has been sufficiently washed with an organic solvent or the like and dried, and the diameter φ thereof is measured.

【0074】次に、基板洗浄後、真空蒸着技術およびフ
ォトリソグラフィ技術を用いて素子電極の形成された基
板に、図32(b)に示すような複数のドットを付与し
てマルチパターン(パッド)を形成する。ここで、個々
のドットの中心間距離P1およびP2は、1ドットの直径
φ以下とし、隣接するドットが重なるように付与する。
そうすることによって、液滴が基板上で広がって幅W2
がほぼ一定になったパッドが得られる。なおパッドの大
きさは、幅W2が素子電極幅W1以下で、パッドの長さT
はギャップ間隔L1以上であることが好ましく、さらに
は求める抵抗値、素子電極の幅、ギャップ幅およびアラ
イメント精度によって決定される。
Next, after washing the substrate, a plurality of dots as shown in FIG. 32B are applied to the substrate on which the element electrodes are formed by using a vacuum deposition technique and a photolithography technique to form a multi-pattern (pad). To form Here, the center-to-center distances P 1 and P 2 of each dot are set to be equal to or less than the diameter φ of one dot, and are provided so that adjacent dots overlap.
By doing so, the droplet spreads over the substrate to a width W 2
Can be obtained. The size of the pad is such that the width W 2 is equal to or less than the element electrode width W 1 and the pad length T
Preferably is the gap distance L 1 or more, still more resistance to determine the width of the device electrodes is determined by the gap width and alignment accuracy.

【0075】以上の方法で薄膜を付与した後、300〜
600℃の温度で加熱処理し、溶媒を蒸発させて導電性
薄膜を形成する。これに続くフォーミング等は、前述し
たものと同様に行う。
After applying the thin film by the above method,
A heat treatment is performed at a temperature of 600 ° C. to evaporate the solvent to form a conductive thin film. Subsequent forming and the like are performed in the same manner as described above.

【0076】III.本発明は、液滴を付与する基板の
表面状態に工夫を凝らしたものをも包含する。本発明
は、液滴を付与する基板表面に疎水化処理を行うものを
包含する。
III. The present invention also includes those in which the surface state of the substrate to which the droplet is applied is devised. The present invention includes a method in which a hydrophobic treatment is performed on the surface of a substrate to which a droplet is applied.

【0077】本例では、液滴を、素子電極を備えた基板
上に付与する際には、基板の表面状態が疎水性であるよ
うに基板の表面処理を行う。具体的には、HMDS(ヘ
キサメチルジシラザン)、PHAMS、GMS、MA
P、PES等のシランカップリング剤による疎水化処理
を行う。
In this example, when applying the droplet onto the substrate provided with the device electrodes, the surface treatment of the substrate is performed so that the surface state of the substrate is hydrophobic. Specifically, HMDS (hexamethyldisilazane), PHAMS, GMS, MA
A hydrophobizing treatment with a silane coupling agent such as P or PES is performed.

【0078】疎水化処理の方法は、例えば、スピナー等
で上記のシランカップリング剤を塗布し、次いでオブー
ンで100℃〜300℃、例えば200℃に加熱し、数
十分〜数時間、例えば15分間ベークを行う。
For the method of hydrophobizing treatment, for example, the above-mentioned silane coupling agent is applied using a spinner or the like, and then heated to 100 ° C. to 300 ° C., for example, 200 ° C. with an oven, for several tens minutes to several hours, for example, 15 minutes. Bake for a minute.

【0079】上述の表面処理を行うことによって、液滴
付与装置により基板上に液滴を付与した際、基板上での
液滴の形状安定性が向上する。そのため、液滴が基板上
で不規則な形状に広がることがなく、液滴の量と形状に
よって、導電性薄膜の形状を容易に制御することが可能
となり、導電性薄膜の寸法・厚さの再現性や均一性が向
上する。その結果、大面積にわたって多数の電子放出素
子を形成する場合でも、電子放出特性の均一性が良好な
電子放出素子を得ることができる。
By performing the above-described surface treatment, the shape stability of the droplet on the substrate is improved when the droplet is applied to the substrate by the droplet applying device. As a result, the droplet does not spread in an irregular shape on the substrate, and the shape and shape of the conductive thin film can be easily controlled by the amount and shape of the droplet. Reproducibility and uniformity are improved. As a result, even when a large number of electron-emitting devices are formed over a large area, an electron-emitting device having good uniformity of electron-emitting characteristics can be obtained.

【0080】次に、本発明の画像形成装置について説明
する。
Next, the image forming apparatus of the present invention will be described.

【0081】画像形成装置に用いられる電子源基板は複
数の表面伝導型電子放出素子を基板上に配列することに
より形成される。
The electron source substrate used in the image forming apparatus is formed by arranging a plurality of surface conduction electron-emitting devices on the substrate.

【0082】表面伝導型電子放出素子の配列の方式に
は、表面伝導型電子放出素子を並列に配置し、個々の素
子の両端を配線で接続するはしご型配置(以下、はしご
型配置電子源基板と称する)や、表面伝導型電子放出素
子の一対の素子電極のそれぞれX方向配線、Y方向配線
を接続した単純マトリクス配置(以下、マトリクス型配
置電子源基板と称する)が挙げられる。なお、はしご型
配置電子源基板を有する画像形成装置には、電子放出素
子からの電子の飛翔を制御する電極である制御電極(グ
リッド電極)を必要とする。
The arrangement of the surface-conduction electron-emitting devices is based on a ladder-type arrangement in which the surface-conduction electron-emitting devices are arranged in parallel, and both ends of each element are connected by wiring (hereinafter referred to as a ladder-type arrangement electron source substrate). ), And a simple matrix arrangement (hereinafter, referred to as a matrix-type arrangement electron source substrate) in which a pair of element electrodes of a surface conduction electron-emitting device are connected to an X-direction wiring and a Y-direction wiring, respectively. Note that an image forming apparatus having a ladder-type arranged electron source substrate requires a control electrode (grid electrode) which is an electrode for controlling the flight of electrons from the electron-emitting devices.

【0083】以下、この原理に基づいて作製した電子源
の構成について、図6を用いて説明する。図中、91は
電子源基板、92はX方向配線、93はY方向配線、9
4は表面伝導型電子放出素子、95は結線である。な
お、表面伝導型電子放出素子94は前述した平面型ある
いは垂直型のどちらであってもよい。
Hereinafter, the configuration of an electron source manufactured based on this principle will be described with reference to FIG. In the figure, 91 is an electron source substrate, 92 is an X-direction wiring, 93 is a Y-direction wiring, 9
4 is a surface conduction electron-emitting device, and 95 is a connection. The surface conduction electron-emitting device 94 may be of the above-mentioned flat type or vertical type.

【0084】同図において、電子源基板91に用いる基
板は前述したガラス基板等であり、用途に応じて形状が
適宜設定される。
In the figure, the substrate used as the electron source substrate 91 is the above-mentioned glass substrate or the like, and the shape is appropriately set according to the application.

【0085】m本のX方向配線92は、Dx1、Dx2、
・・・Dxmからなり、Y方向配線93はDy1、Dy
2、・・・Dynのn本の配線よりなる。
The m X-directional wirings 92 include Dx1, Dx2,
... Dxm, and the Y-direction wiring 93 is Dy1, Dy
2,..., Dyn.

【0086】また多数の表面伝導型電子放出素子にほぼ
均等な電圧が供給されるように、材料、膜厚、配線幅は
適宜設定される。これらm本のX方向配線92とn本の
Y方向配線93間は不図示の層間絶縁層により電気的に
分離されてマトリクス配線を形成する(m、nはともに
正の整数)。
The material, film thickness, and wiring width are appropriately set so that a substantially uniform voltage is supplied to many surface conduction electron-emitting devices. A matrix wiring is formed by electrically separating the m X-directional wirings 92 and the n Y-directional wirings 93 by an interlayer insulating layer (not shown) (m and n are both positive integers).

【0087】不図示の層間絶縁層は、X方向配線92を
形成した電子源基板91の全面あるいは一部の所望の領
域に形成される。X方向配線92とY方向配線93はそ
れぞれ外部端子として引き出される。
The interlayer insulating layer (not shown) is formed on the entire surface of the electron source substrate 91 on which the X-directional wiring 92 is formed or on a desired region of a part thereof. The X-direction wiring 92 and the Y-direction wiring 93 are respectively drawn as external terminals.

【0088】さらに表面伝導型電子放出素子94の素子
電極(不図示)がm本のX方向配線92とn本のY方向
配線93と結線95によって電気的に接続されている。
Further, the device electrodes (not shown) of the surface conduction electron-emitting device 94 are electrically connected to the m X-direction wires 92 and the n Y-direction wires 93 by connection 95.

【0089】また表面伝導型電子放出素子は基板あるい
は不図示の層間絶縁層上のどちらに形成してもよい。
The surface conduction electron-emitting device may be formed on either the substrate or an interlayer insulating layer (not shown).

【0090】また詳しくは後述するが、前記X方向配線
92にはX方向に配列する表面伝導型電子放出素子94
の行を入力信号に応じて走査するための走査信号を印加
するための不図示の走査信号発生手段と電気的に接続さ
れている。
As will be described later in detail, the surface conduction electron-emitting devices 94 arranged in the X direction
Are electrically connected to a scanning signal generating means (not shown) for applying a scanning signal for scanning the corresponding row according to an input signal.

【0091】一方、Y方向配線93には、Y方向に配列
する表面伝導型電子放出素子94の列の各列を入力信号
に応じて変調するための変調信号を印加するための不図
示の変調信号発生手段と電気的に接続されている。
On the other hand, a not-shown modulation for applying a modulation signal for modulating each of the rows of the surface conduction electron-emitting devices 94 arranged in the Y direction according to an input signal is applied to the Y-direction wiring 93. It is electrically connected to the signal generating means.

【0092】さらに、表面伝導型電子放出素子の各素子
に印加される駆動電圧はその素子に印加される走査信号
と変調信号の差電圧として供給されるものである。
The driving voltage applied to each element of the surface conduction electron-emitting device is supplied as a difference voltage between the scanning signal and the modulation signal applied to the element.

【0093】上記構成において、単純なマトリクス配線
だけで個別の素子を選択して独立に駆動可能になる。
In the above configuration, individual elements can be selected and driven independently only by simple matrix wiring.

【0094】次に、以上のようにして作製した単純マト
リクス配線の電子源を用いた画像形成装置について、図
7、図8および図9を用いて説明する。図7は画像形成
装置の基本構成を示す図であり、図8は蛍光膜、図9は
NTSC方式のテレビ信号に応じて表示をするための駆
動回路のブロック図であり、その駆動回路を含む画像形
成装置を表す。
Next, an image forming apparatus using the electron source of the simple matrix wiring manufactured as described above will be described with reference to FIGS. 7, 8 and 9. 7 is a diagram showing a basic configuration of the image forming apparatus, FIG. 8 is a block diagram of a fluorescent film, and FIG. 9 is a block diagram of a driving circuit for displaying according to an NTSC television signal, including the driving circuit. Represents an image forming apparatus.

【0095】図7において、91は電子放出素子を基板
上に作製した電子源基板、1081は電子源基板91を
固定したリアプレート、1086はガラス基板1083
の内面に蛍光膜1084とメタルバック1085等が形
成されたフェースプレート、1082は支持枠であり、
これらの部材によって外囲器1088が構成される。9
4は電子放出素子であり、92および93は表面伝導型
電子放出素子の一対の素子電極と接続されたX方向配線
およびY方向配線である。
In FIG. 7, reference numeral 91 denotes an electron source substrate on which electron-emitting devices are formed, 1081 denotes a rear plate on which the electron source substrate 91 is fixed, and 1086 denotes a glass substrate 1083.
A face plate in which a fluorescent film 1084 and a metal back 1085 are formed on the inner surface; and 1082, a support frame;
An envelope 1088 is configured by these members. 9
Reference numeral 4 denotes an electron-emitting device, and reference numerals 92 and 93 denote an X-direction wiring and a Y-direction wiring connected to a pair of device electrodes of the surface conduction electron-emitting device.

【0096】外囲器1088は、上述のごとくフェース
プレート1086、支持枠1082、リアプレート10
81で構成されているが、リアプレート1081は主に
電子源基板91の強度を補強する目的で設けられるた
め、電子源基板91自体で十分な強度を持つ場合は、別
体のリアプレート1081は不要であり、電子源基板9
1に直接支持枠1082を接合し、フェースプレート1
086、支持枠1082および電子源基板91にて外囲
器1088を構成してもよい。
The envelope 1088 includes the face plate 1086, the support frame 1082, and the rear plate 10 as described above.
However, since the rear plate 1081 is provided mainly for the purpose of reinforcing the strength of the electron source substrate 91, if the electron source substrate 91 itself has sufficient strength, the separate rear plate 1081 No need, electron source substrate 9
1, the support frame 1082 is directly joined to the face plate 1
086, the support frame 1082, and the electron source substrate 91 may constitute an envelope 1088.

【0097】図8中、1092は蛍光体である。蛍光体
1092はモノクロームの場合は蛍光体のみからなる
が、カラーの蛍光膜の場合は蛍光体の配列によりブラッ
クストライプあるいはブラックマトリクスなどと呼ばれ
る黒色導電材1091と蛍光体1092とで構成され
る。ブラックストライプ(ブラックマトリクス)が設け
られる目的は、カラー表示の場合、必要となる三原色蛍
光体の各蛍光体1092間の塗り分け部を黒くすること
で混色等を目立たなくすることと、蛍光膜1084にお
ける外光反射によるコントラストの低下を抑制すること
である。ブラックストライプの材料としては、通常良く
使用される黒鉛を主成分とする材料だけでなく、導電性
があり、光の透過および反射が少ない材料であれば使用
可能である。ガラス基板1093に蛍光体を塗布する方
法としては、モノクロームであるかカラーであるかによ
らず、沈殿法や印刷法が用いられる。
In FIG. 8, reference numeral 1092 denotes a phosphor. The phosphor 1092 is made of only a phosphor in the case of monochrome, but a color phosphor film is composed of a black conductive material 1091 called a black stripe or a black matrix depending on the arrangement of the phosphors and the phosphor 1092. The purpose of providing the black stripes (black matrix) is to make the color separation between the respective phosphors 1092 of the necessary three primary color phosphors black in the case of color display so that mixed colors and the like are inconspicuous, and that the phosphor film 1084 is provided. Is to suppress a decrease in contrast due to reflection of external light in the above. As a material for the black stripe, not only a material mainly containing graphite, which is often used, but also a material having conductivity and low transmission and reflection of light can be used. As a method of applying the fluorescent substance to the glass substrate 1093, a precipitation method or a printing method is used regardless of whether it is monochrome or color.

【0098】また、蛍光膜1084(図7)の内面側に
は通常メタルバック1085(図7)が設けられる。メ
タルバックの目的は、蛍光体の発光のうち内面側への光
をフェースプレート1086側へ鏡面反射することによ
り輝度を向上させること、電子ビーム加速電圧を印加す
るための電極として作用すること、外囲器内で発生した
負イオンの衝突によるダメージからの蛍光体の保護等で
ある。メタルバックは蛍光膜作製後、蛍光膜の内面側表
面の平滑化処理(通常フィルミングと呼ばれる)を行
い、その後Alを真空蒸着等で堆積することで作製でき
る。
A metal back 1085 (FIG. 7) is usually provided on the inner side of the fluorescent film 1084 (FIG. 7). The purpose of the metal back is to improve the brightness by mirror-reflecting light toward the inner surface side of the phosphor emission toward the face plate 1086 side, to act as an electrode for applying an electron beam acceleration voltage, This is to protect the phosphor from damage due to collision of negative ions generated in the enclosure. The metal back can be produced by performing a smoothing process (usually called filming) on the inner surface of the phosphor film after producing the phosphor film, and then depositing Al by vacuum deposition or the like.

【0099】フェースプレート1086にはさらに、蛍
光膜1084の導電性を高めるため、蛍光膜1084の
外面側に透明電極(不図示)を設けてもよい。
The face plate 1086 may further be provided with a transparent electrode (not shown) on the outer surface side of the fluorescent film 1084 in order to increase the conductivity of the fluorescent film 1084.

【0100】前述の封着を行う際、カラーの場合は各色
蛍光体と電子放出素子とを対向させなくてはならず、十
分な位置合わせを行う必要がある。
When performing the above-mentioned sealing, in the case of color, the phosphors of each color and the electron-emitting devices must be opposed to each other, and it is necessary to perform sufficient alignment.

【0101】外囲器1088は不図示の排気管を通じ1
-7Torr程度の真空度にされ、封止が行われる。ま
た、外囲器1088の封止後の真空度を維持するために
ゲッター処理を行う場合もある。これは、外囲器108
8の封止を行う直前あるいは封止後の所定の位置(不図
示)に配置されたゲッターを加熱し、蒸着膜を形成する
処理である。ゲッターは通常Ba等が主成分であり、そ
の蒸着膜の吸着作用により、例えば1×10-5Torr
〜1×10-7Torrの真空度を維持するものである。
なお、表面伝導型電子放出素子の通電フォーミング以降
の工程は適宜設定される。
The envelope 1088 is connected to an exhaust pipe (not shown) through
The degree of vacuum is set to about 0 -7 Torr, and sealing is performed. Further, a getter process may be performed in order to maintain the degree of vacuum of the envelope 1088 after sealing. This is the envelope 108
This is a process of heating a getter disposed at a predetermined position (not shown) immediately before or after the sealing of No. 8 to form a vapor deposition film. A getter typically contains Ba as a principal component, by the adsorption action of the evaporated film, for example, 1 × 10 -5 Torr
It maintains a degree of vacuum of about 1 × 10 −7 Torr.
Steps after the energization forming of the surface conduction electron-emitting device are appropriately set.

【0102】図5は、電子放出特性を評価するための測
定装置の概略構成図である。図5において、81は素子
に素子電圧Vfを印加するための電源、80は素子電極
2・3間の導電性薄膜4を流れる素子電流Ifを測定す
るための電流計、84は素子の電子放出部より放出され
る放出電流Ieを測定するためのアノード電極、83は
アノード電極84に電圧を印加するための高圧電源、8
2は素子の電子放出部より放出される放出電流Ieを測
定するための電流計、85は真空装置、86は排気ポン
プである。
FIG. 5 is a schematic configuration diagram of a measuring device for evaluating electron emission characteristics. In FIG. 5, reference numeral 81 denotes a power supply for applying a device voltage Vf to the device, 80 denotes an ammeter for measuring a device current If flowing through the conductive thin film 4 between the device electrodes 2 and 3, and 84 denotes electron emission of the device. An anode electrode for measuring an emission current Ie emitted from the unit; 83, a high-voltage power supply for applying a voltage to the anode electrode 84;
Reference numeral 2 denotes an ammeter for measuring an emission current Ie emitted from the electron emission portion of the device, 85 denotes a vacuum device, and 86 denotes an exhaust pump.

【0103】次に、単純マトリクス配置型基板を有する
電子源を用いて構成した画像形成装置について、NTS
C方式のテレビ信号に基づきテレビジョン表示を行うた
めの駆動回路概略構成を図9のブロック図を用いて説明
する。1101は前記表示パネルであり、また1102
は走査回路、1103は制御回路、1104はシフトレ
ジスタ、1105はラインメモリ、1106は同期信号
分離回路、1107は変調信号発生器、VxおよびVaは
直流電圧源である。
Next, regarding an image forming apparatus constituted by using an electron source having a simple matrix arrangement type substrate, NTS
A schematic configuration of a driving circuit for performing television display based on a C-system television signal will be described with reference to a block diagram of FIG. Reference numeral 1101 denotes the display panel.
Is a scanning circuit, 1103 is a control circuit, 1104 is a shift register, 1105 is a line memory, 1106 is a synchronization signal separation circuit, 1107 is a modulation signal generator, and Vx and Va are DC voltage sources.

【0104】以下、各部の機能を説明する。The function of each section will be described below.

【0105】まず表示パネル1101は端子Dox1〜D
oxm、端子Doy1〜Doynおよび高圧端子Hvを介して
外部の電気回路と接続している。このうち、端子Dox1
〜Doxmには、前記表示パネル内に設けられている電子
源、すなわちm行n列の行列状にマトリクス配線された
表面伝導型電子放出素子群を一行(n個の素子)ずつ順
次駆動していくための走査信号が印加される。
First, the display panel 1101 is connected to the terminals Dox1 to Dox
oxm, terminals Doy1 to Doyn and a high voltage terminal Hv are connected to an external electric circuit. Of these, the terminal Dox1
To Doxm, the electron sources provided in the display panel, that is, the surface conduction electron-emitting device groups arranged in a matrix of m rows and n columns are sequentially driven by one row (n elements). A scanning signal is applied to the scan.

【0106】一方、端子Dy1〜Dynには前記走査信号
により選択された一行の表面伝導型電子放出素子の各素
子の出力電子ビームを制御するための変調信号が印加さ
れる。また、高圧端子Hvには直流電圧源Vaより、例え
ば10kVの直流電圧が供給されるが、これは表面伝導
型電子放出素子より出力される電子ビームに蛍光体を励
起するのに十分なエネルギーを付与するための加速電圧
である。
On the other hand, to the terminals Dy1 to Dyn, a modulation signal for controlling an output electron beam of each element of one row of surface conduction electron-emitting devices selected by the scanning signal is applied. Further, a DC voltage of, for example, 10 kV is supplied to the high voltage terminal Hv from the DC voltage source Va, which supplies sufficient energy to excite the phosphor to the electron beam output from the surface conduction electron-emitting device. An accelerating voltage to be applied.

【0107】次に、走査回路1102について説明す
る。同回路は内部にm個のスイッチング素子を備えるも
ので(図中、S1〜Smで示されている)、各スイッチン
グ素子は直流電圧源Vxの出力電圧もしくは0(V)
(グランドレベル)のいずれか一方を選択し、表示パネ
ル1101の端子Dx1ないしDxmと電気的に接続する
ものである。S1〜Smの各スイッチング素子は制御回路
1103が出力する制御信号Tscanに基づいて動作する
ものであるが、実際には例えばFETのようなスイッチ
ング素子を組み合せることにより構成することが可能で
ある。
Next, the scanning circuit 1102 will be described. This circuit has m switching elements inside (indicated by S1 to Sm in the figure), and each switching element is an output voltage of a DC voltage source Vx or 0 (V).
(Ground level) is selected and electrically connected to the terminals Dx1 to Dxm of the display panel 1101. Each of the switching elements S1 to Sm operates based on the control signal Tscan output from the control circuit 1103, but can be actually configured by combining switching elements such as FETs.

【0108】なお、前記直流電圧源Vxは前記表面伝導
型電子放出素子の特性(電子放出閾値電圧)に基づき走
査されていない素子に印加される駆動電圧が電子放出閾
値以下となるような一定電圧を出力するよう設定されて
いる。
Note that the DC voltage source Vx is controlled at a constant voltage such that the drive voltage applied to the unscanned element is equal to or less than the electron emission threshold based on the characteristics (electron emission threshold voltage) of the surface conduction electron emission element. Is set to output.

【0109】また、制御回路1103は外部より入力す
る画像信号に基づいて適切な表示が行われるように各部
の動作を整合させる働きを持つものである。次に説明す
る同期信号分離回路1106より送られる同期信号Tsy
ncに基づいて各部に対してTscan、TsftおよびTmryの
各制御信号を発生する。
The control circuit 1103 has a function of matching the operations of the respective units so that an appropriate display is performed based on an image signal input from the outside. The synchronization signal Tsy sent from the synchronization signal separation circuit 1106 described below
Based on nc, Tscan, Tsft, and Tmry control signals are generated for each unit.

【0110】同期信号分離回路1106は外部から入力
されるNTSC方式のテレビ信号から同期信号成分と輝
度信号成分とを分離するための回路で周波数分離(フィ
ルター)回路を用いれば構成できるものである。同期信
号分離回路1106により分離された同期信号は、良く
知られるように、垂直同期信号と水平同期信号より成る
が、ここでは説明の便宜上、Tsync信号として図示し
た。一方、前記テレビ信号から分離された画像の輝度信
号成分を便宜上DATA信号と表すが、同信号はシフト
レジスタ1104に入力される。
The synchronizing signal separating circuit 1106 is a circuit for separating a synchronizing signal component and a luminance signal component from an NTSC television signal input from the outside, and can be formed by using a frequency separating (filter) circuit. As is well known, the synchronization signal separated by the synchronization signal separation circuit 1106 is composed of a vertical synchronization signal and a horizontal synchronization signal, but is shown here as a Tsync signal for convenience of explanation. On the other hand, a luminance signal component of an image separated from the television signal is referred to as a DATA signal for convenience, and this signal is input to a shift register 1104.

【0111】シフトレジスタ1104は時系列的にシリ
アルに入力される前記DATA信号を画像の1ラインご
とにシリアル/パラレル変換するためのもので、前記制
御回路1103より送られる制御信号Tsftに基づいて
動作する(すなわち、制御信号Tsftは、シフトレジス
タ1104のシフトクロックであると言い換えてもよ
い)。
A shift register 1104 is for serially / parallel-converting the DATA signal input serially in time series for each line of an image, and operates based on a control signal Tsft sent from the control circuit 1103. (Ie, the control signal Tsft may be rephrased as the shift clock of the shift register 1104).

【0112】シリアル/パラレル変換された画像1ライ
ン分(電子放出素子n素子分の駆動データに相当するも
の)のデータは、Id1〜Idnのn個の並列信号として
前記シフトレジスタ1104より出力される。
The data for one line of the image which has been subjected to the serial / parallel conversion (corresponding to drive data for n electron-emitting devices) is outputted from the shift register 1104 as n parallel signals Id1 to Idn. .

【0113】ラインメモリ1105は、画像1ライン分
のデータを必要時間の間だけ記憶するための記憶装置で
あり、制御回路1103より送られる制御信号Tmryに
従って適宜Id1〜Idnの内容を記憶する。記憶された
内容はId1〜Idnとして出力され、変調信号発生器1
107に入力される。
The line memory 1105 is a storage device for storing data of one line of an image for a necessary time only, and stores the contents of Id1 to Idn as appropriate according to a control signal Tmry sent from the control circuit 1103. The stored contents are output as Id1 to Idn, and the modulated signal generator 1
107 is input.

【0114】変調信号発生器1107は、前記画像デー
タId1〜Idnの各々に応じて表面伝導型電子放出素子
の各々を適切に駆動変調するための信号源で、その出力
信号は端子Doy1〜Doynを通じて表示パネル1101
内の表面伝導型電子放出素子に印加される。
A modulation signal generator 1107 is a signal source for appropriately driving and modulating each of the surface conduction electron-emitting devices in accordance with each of the image data Id1 to Idn. The output signal is output through terminals Doy1 to Doyn. Display panel 1101
Is applied to the surface conduction type electron-emitting device in the inside.

【0115】前述したように、本発明に関わる電子放出
素子は、放出電流Ieに対して以下の基本特性を有して
いる。すなわち、前述したように電子放出には明確な閾
値電圧Vthがあり、Vth以上の電圧を印加された時のみ
電子放出が生じる。
As described above, the electron-emitting device according to the present invention has the following basic characteristics with respect to the emission current Ie. That is, as described above, electron emission has a clear threshold voltage Vth, and electron emission occurs only when a voltage higher than Vth is applied.

【0116】また、電子放出閾値以上の電圧に対しては
素子への印加電圧の変化に応じて放出電流も変化してい
く。なお、電子放出素子の材料や構成、製造方法を変え
ることによって、電子放出閾値電圧Vthの値や印加電圧
に対する放出電流の変化の度合が変わる場合もあるが、
いずれにしても以下のようなことが言える。
For a voltage equal to or higher than the electron emission threshold, the emission current changes in accordance with the change in the voltage applied to the element. By changing the material, configuration, and manufacturing method of the electron-emitting device, the value of the electron emission threshold voltage Vth and the degree of change in the emission current with respect to the applied voltage may be changed.
In any case, the following can be said.

【0117】すなわち、本素子パルス状電圧を印加する
場合、例えば電子放出閾値以下の電圧を印加しても電子
放出は生じないが、電子放出閾値以上の電圧を印加する
場合には電子ビームが出力される。その際、第一にはパ
ルスの波高値Vmを変化させることにより、出力電子ビ
ームの強度を制御することが可能である。第二には、パ
ルスの幅Pwを変化させることにより出力される電子ビ
ームの電荷の総量を制御することが可能である。
That is, when a pulse voltage of the present element is applied, for example, when a voltage lower than the electron emission threshold is applied, no electron emission occurs, but when a voltage higher than the electron emission threshold is applied, the electron beam is output. Is done. At that time, first, it is possible to control the intensity of the output electron beam by changing the peak value Vm of the pulse. Second, it is possible to control the total amount of charges of the output electron beam by changing the pulse width Pw.

【0118】従って、入力信号に応じて電子放出素子を
変調する方式としては、電圧変調方式、パルス幅変調方
式等が挙げられ、電圧変調方式を実施するには変調信号
発生器1107としては一定の長さの電圧パルスを発生
するが入力されるデータに応じて適宜パルスの波高値を
変調するような電圧変調方式の回路を用いる。
Therefore, as a method of modulating the electron-emitting device in accordance with the input signal, a voltage modulation method, a pulse width modulation method, or the like can be cited. A voltage modulation type circuit that generates a voltage pulse having a length but appropriately modulates the peak value of the pulse according to input data is used.

【0119】またパルス幅変調方式を実施するには、変
調信号発生器1107としては、一定波高値の電圧パル
スを発生するが入力されるデータに応じて適宜電圧パル
スの幅を変調するようなパルス幅変調方式の回路を用い
るものである。
In order to implement the pulse width modulation method, the modulation signal generator 1107 generates a voltage pulse having a constant peak value, but modulates the width of the voltage pulse appropriately according to input data. A circuit using a width modulation method is used.

【0120】以上に説明した一連の動作により、本発明
の画像表示装置は表示パネル1101を用いてテレビジ
ョンの表示を行える。なお、上記説明中特に記載してな
かったが、シフトレジスタ1104やラインメモリ11
05はデジタル信号式のものでもアナログ信号式のもの
でもいずれでも差し支えなく、要は画像信号のシリアル
/パラレル変換や記録が所定の速度で行われればよい。
Through the series of operations described above, the image display device of the present invention can display a television using the display panel 1101. Although not particularly described in the above description, the shift register 1104 and the line memory 11
Numeral 05 may be a digital signal type or an analog signal type. In short, serial / parallel conversion and recording of an image signal may be performed at a predetermined speed.

【0121】デジタル信号式を用いる場合には、同期信
号分離回路1106の出力信号DATAをデジタル信号
化する必要があるが、これは1106の出力部にA/D
変換器を備えれば可能である。また、これと関連してラ
インメモリ1105の出力信号がデジタル信号かアナロ
グ信号かにより、変調信号発生器1107に用いられる
回路が若干異なったものとなる。
When the digital signal type is used, the output signal DATA of the synchronizing signal separation circuit 1106 needs to be converted into a digital signal.
This is possible if a converter is provided. In connection with this, the circuit used for the modulation signal generator 1107 is slightly different depending on whether the output signal of the line memory 1105 is a digital signal or an analog signal.

【0122】まず、デジタル信号の場合について述べ
る。電圧変調方式においては変調信号発生器1107に
は、例えば良く知られるD/A変換回路を用い、必要に
応じて増幅回路などを付け加えればよい。
First, the case of a digital signal will be described. In the voltage modulation method, for example, a well-known D / A conversion circuit may be used as the modulation signal generator 1107, and an amplification circuit or the like may be added as necessary.

【0123】また、パルス幅変調方式の場合、変調信号
発生器1107は、例えば高速の発振器および発振器の
出力する波数を計数する計数器(カウンタ)および計数
器の出力値と前記メモリの出力値を比較する比較器(コ
ンパレータ)を組み合せた回路を用いることにより構成
できる。必要に応じて比較器の出力するパルス幅変調さ
れた変調信号を表面伝導型電子放出素子の駆動電圧にま
で電圧増幅するための増幅器を付け加えてもよい。
In the case of the pulse width modulation method, the modulation signal generator 1107 includes, for example, a high-speed oscillator, a counter (counter) for counting the number of waves output from the oscillator, an output value of the counter, and an output value of the memory. It can be configured by using a circuit in which a comparator for comparison is combined. If necessary, an amplifier for amplifying the voltage of the pulse width modulated signal output from the comparator to the drive voltage of the surface conduction electron-emitting device may be added.

【0124】次に、アナログ信号の場合について述べ
る。電圧変調方式においては、変調信号発生器1107
には、例えば良く知られるオペアンプなどを用いた増幅
回路を用いればよく、必要に応じてレベルシフト回路な
どを付け加えてもよい。またパルス幅変調方式の場合に
は、例えば良く知られた電圧制御型発振回路(VCO)
を用いればよく、必要に応じて表面伝導型電子放出素子
の駆動電圧にまで電圧増幅するための増幅器を付け加え
てもよい。
Next, the case of an analog signal will be described. In the voltage modulation method, a modulation signal generator 1107
For example, a well-known amplifier circuit using an operational amplifier may be used, and a level shift circuit or the like may be added as necessary. In the case of the pulse width modulation method, for example, a well-known voltage controlled oscillator (VCO)
And an amplifier for amplifying the voltage up to the drive voltage of the surface conduction electron-emitting device may be added as necessary.

【0125】以上のように完成した画像表示装置におい
て、こうして各電子放出素子には、容器外端子Dox1〜
DoxmおよびDoy1〜Doynを通じ、電圧を印加するこ
とにより、電子放出させ、高圧端子Hvを通じ、メタル
バック1085、あるいは透明電極(不図示)に高圧を
印加し、電子ビームを加速し、蛍光膜に衝突させ、励起
・発光させることで画像を表示することができる。
In the image display device completed as described above, each of the electron-emitting devices thus has external terminals Dox1 to Dox1.
Electrons are emitted by applying a voltage through Doxm and Doy1 to Doyn, and a high voltage is applied to a metal back 1085 or a transparent electrode (not shown) through a high voltage terminal Hv to accelerate an electron beam and collide with a fluorescent film. Then, an image can be displayed by exciting and emitting light.

【0126】以上述べた構成は、表示等に用いられる好
適な画像形成装置を作製する上で必要な概略構成であ
り、例えば各部材の材料等、詳細な部分は上述の内容に
限られるものではなく、画像形成装置の用途に適するよ
う適宜選択する。また、入力信号例として、NTSC方
式を挙げたが、これに限定するものではなく、PAL、
SECAM方式などの諸方式でもよく、また、これより
も多数の走査線から成るTV信号(例えばMUSE方式
をはじめとする高品位TV)方式でもよい。
The configuration described above is a schematic configuration necessary for manufacturing a suitable image forming apparatus used for display or the like. For example, detailed portions such as materials of each member are not limited to those described above. Instead, it is appropriately selected so as to be suitable for the use of the image forming apparatus. Also, the NTSC system has been described as an example of the input signal, but the present invention is not limited to this, and PAL,
Various systems such as the SECAM system may be used, and a TV signal (for example, a high-definition TV including the MUSE system) including a larger number of scanning lines may be used.

【0127】次に、前述のはしご型配置電子源基板およ
びそれを用いた画像表示装置について図10および図1
1を用いて説明する。
Next, the above-described ladder-type arrangement electron source substrate and an image display device using the same will be described with reference to FIGS.
1 will be described.

【0128】図10において、1110は電子源基板、
1111は電子放出素子、1112のDx1〜Dx10は
前記電子放出素子に接続する共通配線である。電子放出
素子1111は、基板1110上に、X方向に並列に複
数個配置される(これを素子行と呼ぶ)。この素子行を
複数個基板上に配置し、はしご型電子源基板となる。各
素子行の共通配線間に適宜駆動電圧を印加することで、
各素子行を独立に駆動することが可能になる。すなわ
ち、電子ビームを放出させる素子行には、電子放出閾値
以上の電圧の電子ビームを、放出させない素子行には電
子放出閾値以下の電圧を印加すればよい。また、各素子
行間の共通配線Dx2〜Dx9を、例えばDx2、Dx3を
同一配線とするようにしてもよい。
In FIG. 10, reference numeral 1110 denotes an electron source substrate;
Reference numeral 1111 denotes an electron-emitting device; 1112, Dx1 to Dx10 are common wirings connected to the electron-emitting device. A plurality of electron-emitting devices 1111 are arranged on the substrate 1110 in parallel in the X direction (this is called an element row). A plurality of such element rows are arranged on a substrate to form a ladder-type electron source substrate. By appropriately applying a drive voltage between the common lines of each element row,
Each element row can be driven independently. That is, an electron beam having a voltage equal to or higher than the electron emission threshold may be applied to an element row that emits an electron beam, and a voltage equal to or lower than the electron emission threshold may be applied to an element row that does not emit an electron beam. Further, the common wirings Dx2 to Dx9 between the element rows, for example, Dx2 and Dx3 may be the same wiring.

【0129】図11は、はしご型配置の電子源を備えた
画像形成装置の構造を示す図である。1120はグリッ
ド電極、1121は電子が通過するための空孔、112
2はDox1、Dox2・・・Doxよりなる容器外端子、1
123はグリッド電極1120と接続されたG1、G2
・・・Gnからなる容器外端子、1124は前述のよう
に各素子行間の共通配線を同一配線とした電子源基板で
ある。なお、図7、図10と同一の符号は同一の部材を
示す。前述の単純マトリクス配置の画像形成装置(図
7)との違いは、電子源基板1110とフェースプレー
ト1086の間にグリッド電極1120を備えているこ
とである。
FIG. 11 is a diagram showing the structure of an image forming apparatus provided with a ladder-type electron source. 1120 is a grid electrode, 1211 is a hole through which electrons pass, 112
2 is a terminal outside the container made of Dox1, Dox2,.
123, G1 and G2 connected to the grid electrode 1120
.., The outer terminal 1124 made of Gn is an electron source substrate in which the common wiring between the element rows is the same as described above. 7 and 10 indicate the same members. The difference from the above-described image forming apparatus having the simple matrix arrangement (FIG. 7) is that a grid electrode 1120 is provided between the electron source substrate 1110 and the face plate 1086.

【0130】基板1110とフェースプレート1086
の中間には、グリッド電極1120が設けられている。
グリッド電極1120は、表面伝導型電子放出素子から
放出された電子ビームを変調することができるもので、
はしご型配置の素子行と直交して設けられたストライプ
状の電極に電子ビームを通過させるため、各素子に対応
して1個ずつ円形の開口1121が設けられている。グ
リッドの形状や設置位置は必ずしも図11のようなもの
でなくともよく、開口としてメッシュ状に多数の通過口
を設けることもあり、また例えば表面伝導型電子放出素
子の周囲や近傍に設けてもよい。
The substrate 1110 and the face plate 1086
A grid electrode 1120 is provided in the middle of.
The grid electrode 1120 can modulate an electron beam emitted from the surface conduction electron-emitting device.
In order to allow an electron beam to pass through stripe-shaped electrodes provided orthogonally to the ladder-shaped element rows, one circular opening 1121 is provided for each element. The shape and installation position of the grid are not necessarily those shown in FIG. 11, and a large number of passage openings may be provided in a mesh shape as openings, and may be provided around or near a surface conduction electron-emitting device, for example. Good.

【0131】容器外端子1122およびグリッド容器外
端子1123は、不図示の制御回路と電気的に接続され
ている。
The outer container terminal 1122 and grid outer terminal 1123 are electrically connected to a control circuit (not shown).

【0132】本画像形成装置では、素子行を1列ずつ順
次駆動(走査)していくのと同期してグリッド電極列に
画像1ライン分の変調信号を同時に印加することによ
り、各電子ビームの蛍光体への照射を制御し、画像を1
ラインずつ表示することができる。
In the present image forming apparatus, a modulation signal for one line of an image is simultaneously applied to the grid electrode rows in synchronization with the sequential driving (scanning) of the element rows one by one, so that each electron beam is emitted. By controlling the irradiation of the phosphor, one image
Can be displayed line by line.

【0133】また、本発明によればテレビジョン放送の
表示装置のみならずテレビ会議システム、コンピュータ
等の表示装置に適した画像形成装置を提供することがで
きる。さらには感光性ドラム等で構成された光プリンタ
ーとしての画像形成装置として用いることもできる。
Further, according to the present invention, it is possible to provide an image forming apparatus suitable not only for a display device for television broadcasting but also for a display device such as a video conference system and a computer. Further, it can be used as an image forming apparatus as an optical printer including a photosensitive drum or the like.

【0134】[0134]

【実施例】以下、実施例によって本発明をより詳細に説
明する。
The present invention will be described in more detail with reference to the following examples.

【0135】(実施例1)以下に記載のフォトリソグラ
フィーで、図12に示したような素子電極がマトリクス
状に形成された(X配線72とY配線73)基板を用
い、電子放出部形成領域1201に電子放出部を形成し
て複数の表面伝導型電子放出素子が配列された電子源基
板を作製した。なお、X配線とY配線は、交差部におい
て、不図示の絶縁部材により電気的に絶縁されている。
図1はその表面伝導型電子放出素子の製造手順を示す図
である。さらに図2は、本実施例によって作製した表面
伝導型電子放出素子の平面図および断面図である。
(Example 1) By using the substrate (X wiring 72 and Y wiring 73) on which the device electrodes as shown in FIG. An electron emission portion was formed in 1201 to manufacture an electron source substrate on which a plurality of surface conduction electron-emitting devices were arranged. Note that the X wiring and the Y wiring are electrically insulated by an insulating member (not shown) at the intersection.
FIG. 1 is a view showing a manufacturing procedure of the surface conduction electron-emitting device. FIG. 2 is a plan view and a cross-sectional view of the surface conduction electron-emitting device manufactured according to this embodiment.

【0136】フォトリソグラフィーによる基板上への素
子電極形成を以下の手順で行った。 (1)絶縁性基板1として、石英基板を用い、これを有
機溶剤によって十分に洗浄した後、その基板1上に一般
的な真空成膜技術、フォトリソグラフィー技術により、
Niからなる電極2および3を形成した(図1
(a))。この時、素子電極の間隔L1は2μm、電極
の幅W1は600μm、その厚さは1000Åとした。
The device electrodes were formed on the substrate by photolithography in the following procedure. (1) A quartz substrate is used as the insulating substrate 1, and after sufficiently washing the substrate with an organic solvent, a general vacuum film forming technique and a photolithography technique are used on the substrate 1.
Electrodes 2 and 3 made of Ni were formed (FIG. 1).
(A)). At this time, the interval L1 between the device electrodes was 2 μm, the width W1 of the electrode was 600 μm, and the thickness was 1000 °.

【0137】(2)次に、有機パラジウム含有溶液(奥
野製薬(株)製、ccp−4230)を、液滴付与装置
7として圧電素子を用いたインクジェット噴射装置を用
いて、薄膜4の幅W2が300μmになるように、電極
2・3間に体積60μm3の液滴24を1つ(1ドッ
ト)付与した(図1(b))。なお、本実施例における
絶縁性基板1と電極2・3との凹部の容積は120μm
3である。
(2) Next, an organic palladium-containing solution (ccp-4230, manufactured by Okuno Pharmaceutical Co., Ltd.) was applied to the liquid drop applying device 7 using an ink jet ejecting apparatus using a piezoelectric element, and the width W 2 of the thin film 4 was measured. One droplet 24 (1 dot) having a volume of 60 μm 3 was applied between the electrodes 2 and 3 so that the droplet diameter became 300 μm (FIG. 1B). The volume of the concave portion between the insulating substrate 1 and the electrodes 2 and 3 in this embodiment is 120 μm.
3

【0138】(3)次に、300℃で10分間の加熱処
理を行って、酸化パラジウム(PdO)微粒子からなる
微粒子膜を形成し、薄膜4とした(図1(c))。な
お、ここで述べる微粒子膜とは、前述のように、複数の
微粒子が集合した膜であり、その微細構造として、微粒
子が個々に分散配置した状態のみならず、微粒子が互い
に隣接あるいは重なり合った状態(島状も含む)の膜を
指す。
(3) Next, a heat treatment was performed at 300 ° C. for 10 minutes to form a fine particle film composed of fine particles of palladium oxide (PdO), thereby forming a thin film 4 (FIG. 1C). Note that the fine particle film described here is a film in which a plurality of fine particles are aggregated as described above, and has a fine structure not only in a state where the fine particles are individually dispersed and arranged, but also in a state where the fine particles are adjacent to each other or overlap each other. (Including islands).

【0139】(4)次に、電極2、3の間に電圧を印加
し、薄膜4を通電処理(通電フォーミング処理)するこ
とにより、電子放出部5を形成した(図1(d))。
(4) Next, a voltage was applied between the electrodes 2 and 3, and the thin film 4 was subjected to an energization process (an energization forming process), thereby forming an electron-emitting portion 5 (FIG. 1D).

【0140】こうして作製された電子源基板を用いて、
前述したようにフェースプレート1086、支持枠10
82、リアプレート1081とで外囲器1088を形成
し、封止を行って表示パネル、さらには図9に示すよう
なNTSC方式のテレビ信号に基づきテレビジョン表示
を行うための駆動回路を有する画像形成装置を作製し
た。
Using the electron source substrate thus manufactured,
As described above, the face plate 1086, the support frame 10
82, an envelope 1088 is formed with the rear plate 1081, sealed, a display panel, and an image having a drive circuit for performing television display based on an NTSC television signal as shown in FIG. A forming apparatus was manufactured.

【0141】その結果、上記の本実施例の製造方法によ
り作製した電子放出素子ならびにそれを用いて作製した
電子源基板、表示パネルおよび画像形成装置は、何ら問
題のない良好な性能を示した。さらに、上記のように、
本発明による表面伝導型電子放出素子の製造方法では、
液滴を付与して薄膜4を形成することにより、薄膜4の
パターン形成を省略することができた。また、1つ(1
ドット)の液滴のみで形成できることから、溶液の無駄
を省くことができた。
As a result, the electron-emitting device manufactured by the above-described manufacturing method of the present example and the electron source substrate, the display panel, and the image forming apparatus manufactured by using the electron-emitting device exhibited good performance without any problem. Further, as described above,
In the method of manufacturing a surface conduction electron-emitting device according to the present invention,
By applying the droplets to form the thin film 4, the pattern formation of the thin film 4 could be omitted. Also, one (1
Since it can be formed only by droplets of (dots), waste of the solution can be eliminated.

【0142】(実施例2)素子電極幅(W1)を600
μm、素子電極間隔(L1)を2μm、素子電極の厚さ
を1000Åに形成したはしご状に配線された素子電極
を有する基板(図13)を用い、実施例1と同様な方法
で表面伝導型電子放出素子を作製した。図13中、13
01は基板、1302は配線である。
(Example 2) The device electrode width (W1) was set to 600.
μm, a device electrode interval (L1) of 2 μm, and a substrate having a device electrode (thickness of 1000 °) having element electrodes wired in a ladder shape (FIG. 13). An electron-emitting device was manufactured. In FIG. 13, 13
01 is a substrate, 1302 is wiring.

【0143】得られた電子源基板を用いて、実施例1と
同様な方法でフェースプレート1086、支持枠108
2、リアプレート1081とで外囲器1088を形成
し、封止を行って、表示パネル、さらには図9に示すよ
うなNTSC方式のテレビ信号に基づき、テレビジョン
表示を行うための駆動回路を有する画像形成装置を作製
した。その結果、実施例1と同様な効果を得ることがで
きた。
Using the obtained electron source substrate, the face plate 1086 and the support frame 108 were formed in the same manner as in the first embodiment.
2. An enclosure 1088 is formed by the rear plate 1081, sealing is performed, a display panel, and a driving circuit for performing television display based on NTSC television signals as shown in FIG. An image forming apparatus having the same was manufactured. As a result, the same effect as in Example 1 was obtained.

【0144】(実施例3)マトリクス状に配線された素
子電極を前述したような方法で形成した基板(図12)
を用い、前述のバブルジェット方式のインクジェット噴
射装置を用い、実施例1と同様に表面伝導型電子放出素
子を作製した。
(Example 3) A substrate on which device electrodes wired in a matrix were formed by the method described above (FIG. 12).
And a surface conduction electron-emitting device was manufactured in the same manner as in Example 1 by using the above-described bubble jet type inkjet ejecting apparatus.

【0145】得られた電子源基板を用いて、実施例1と
同様な方法でフェースプレート1086、支持枠108
2、リアプレート1081とで外囲器1088を形成
し、封止を行って、表示パネル、さらには図9に示すよ
うなNTSC方式のテレビ信号に基づき、テレビジョン
表示を行うための駆動回路を有する画像形成装置を作製
した。その結果、実施例1と同様な効果を得ることがで
きた。
Using the obtained electron source substrate, the face plate 1086 and the support frame 108 are formed in the same manner as in the first embodiment.
2. An enclosure 1088 is formed by the rear plate 1081, sealing is performed, a display panel, and a driving circuit for performing television display based on NTSC television signals as shown in FIG. An image forming apparatus having the same was manufactured. As a result, the same effect as in Example 1 was obtained.

【0146】(実施例4)はしご状に配線された素子電
極を前述したような方法で形成した基板(図13)を用
い、バブルジェット方式のインクジェット噴射装置を用
い、実施例1と同様に表面伝導型電子放出素子を作製し
た。
(Example 4) Using a substrate (FIG. 13) in which element electrodes wired in a ladder shape were formed by the above-described method, and using a bubble jet type ink jet ejecting apparatus, the surface was changed in the same manner as in Example 1. A conduction electron-emitting device was manufactured.

【0147】得られた電子源基板を用いて、実施例1と
同様な方法でフェースプレート1086、支持枠108
2、リアプレート1081とで外囲器1088を形成
し、封止を行って、表示パネル、さらには図9に示すよ
うなNTSC方式のテレビ信号に基づき、テレビジョン
表示を行うための駆動回路を有する画像形成装置を作製
した。その結果、実施例1と同様な効果を得ることがで
きた。
Using the obtained electron source substrate, a face plate 1086 and a support frame 108 are formed in the same manner as in the first embodiment.
2. An enclosure 1088 is formed by the rear plate 1081, sealing is performed, a display panel, and a driving circuit for performing television display based on NTSC television signals as shown in FIG. An image forming apparatus having the same was manufactured. As a result, the same effect as in Example 1 was obtained.

【0148】(実施例5)薄膜4を形成する溶液に酢酸
Pdの0.05wt%水溶液を用いる以外は、実施例1
と同様にして表面伝導型電子放出素子を形成した。その
結果、使用した溶液が異なるにもかかわらず、実施例1
と同様の良好な素子を形成することができた。
Example 5 Example 1 was repeated except that a 0.05 wt% aqueous solution of Pd acetate was used as the solution for forming the thin film 4.
A surface conduction electron-emitting device was formed in the same manner as described above. As a result, despite the fact that the solutions used were different, Example 1
A good device similar to that described above could be formed.

【0149】得られた電子源基板を用いて、実施例1と
同様な方法でフェースプレート1086、支持枠108
2、リアプレート1081とで外囲器1088を形成
し、封止を行って、表示パネル、さらには図9に示すよ
うなNTSC方式のテレビ信号に基づき、テレビジョン
表示を行うための駆動回路を有する画像形成装置を作製
した。その結果、実施例1と同様な効果を得ることがで
きた。
Using the obtained electron source substrate, the face plate 1086 and the support frame 108 were formed in the same manner as in the first embodiment.
2. An enclosure 1088 is formed by the rear plate 1081, sealing is performed, a display panel, and a driving circuit for performing television display based on NTSC television signals as shown in FIG. An image forming apparatus having the same was manufactured. As a result, the same effect as in Example 1 was obtained.

【0150】(実施例6)液滴量を30μm3とし、液
滴を2つ(2ドット)付与した以外は、実施例1と同様
にして表面伝導型電子放出素子を作製した。その結果、
実施例1と同様の良好な素子を形成することができたこ
とから、所定の液量を付与すれば、所望の薄膜を形成す
ることができることが明らかになった。
Example 6 A surface conduction electron-emitting device was manufactured in the same manner as in Example 1, except that the amount of the droplet was 30 μm 3 and two droplets (2 dots) were applied. as a result,
Since a good device similar to that of Example 1 could be formed, it became clear that a desired thin film could be formed by applying a predetermined amount of liquid.

【0151】得られた電子源基板を用いて、実施例1と
同様な方法でフェースプレート1086、支持枠108
2、リアプレート1081とで外囲器1088を形成
し、封止を行って、表示パネル、さらには図9に示すよ
うなNTSC方式のテレビ信号に基づき、テレビジョン
表示を行うための駆動回路を有する画像形成装置を作製
した。その結果、実施例1と同様な効果を得ることがで
きた。
Using the obtained electron source substrate, the face plate 1086 and the support frame 108 were formed in the same manner as in the first embodiment.
2. An enclosure 1088 is formed by the rear plate 1081, sealing is performed, a display panel, and a driving circuit for performing television display based on NTSC television signals as shown in FIG. An image forming apparatus having the same was manufactured. As a result, the same effect as in Example 1 was obtained.

【0152】(実施例7)液滴量を200μm3とした
以外は、実施例1と同様に表面伝導型電子放出素子を作
製した。
Example 7 A surface conduction electron-emitting device was manufactured in the same manner as in Example 1 except that the amount of liquid droplets was changed to 200 μm 3 .

【0153】その結果、図3に示したように、電極2・
3間の幅より薄膜4の幅が広がったが、電子放出特性に
は問題のない電子放出素子を得ることができた。
As a result, as shown in FIG.
Although the width of the thin film 4 was wider than the width between the three, an electron-emitting device having no problem in electron emission characteristics was obtained.

【0154】このようにして得られた電子源基板を用い
て、実施例1と同様な方法でフェースプレート108
6、支持枠1082、リアプレート1081とで外囲器
1088を形成し、封止を行って、表示パネル、さらに
は図9に示すようなNTSC方式のテレビ信号に基づ
き、テレビジョン表示を行うための駆動回路を有する画
像形成装置を作製した。その結果、実施例1と同様な効
果を得ることができた。
Using the electron source substrate thus obtained, the face plate 108 is formed in the same manner as in the first embodiment.
6, the envelope 1088 is formed by the support frame 1082 and the rear plate 1081, sealed, and a television is displayed on the display panel based on an NTSC television signal as shown in FIG. An image forming apparatus having the above driving circuit was manufactured. As a result, the same effect as in Example 1 was obtained.

【0155】しかしながら、電子放出部5の長さが素子
電極の長さを上回った分だけ放出部形成にバラツキを生
じたためか、画質としては実施例1〜6のものの方が本
実施例のものより優れていた。
However, the image quality of the first to sixth embodiments is higher than that of the first embodiment because of the variation in the formation of the electron emitter due to the length of the electron emitter 5 exceeding the length of the device electrode. Was better.

【0156】(実施例8)図14に示した装置を用いて
電子放出素子を作製した。液滴付与の工程は図15のフ
ローチャートに従った。これらの図を参照しながら説明
する。
Example 8 An electron-emitting device was manufactured by using the apparatus shown in FIG. The droplet applying process followed the flowchart of FIG. Description will be made with reference to these figures.

【0157】これらの図において、1は絶縁性基板、2
および3は電極、24は液滴、7はインクジェット噴射
装置、8は発光手段、9は受光手段、10はステージ、
11はコントローラを示す。
In these figures, 1 is an insulating substrate, 2
And 3 are electrodes, 24 is a droplet, 7 is an inkjet ejecting device, 8 is a light emitting means, 9 is a light receiving means, 10 is a stage,
Reference numeral 11 denotes a controller.

【0158】本例における製造工程は以下の通りであ
る。
The manufacturing steps in this example are as follows.

【0159】(1)電極形成工程 絶縁性基板1として青板ガラスを用い、有機溶剤により
十分に洗浄した後、真空成膜技術、フォトリソグラフィ
ー技術を用いて、Niからなる素子電極2、3を形成し
た。この時、素子電極の間隔は3μmとし、素子電極の
幅は500μm、その厚さは1000Åとした。
(1) Electrode forming step Using blue plate glass as the insulating substrate 1 and sufficiently washing it with an organic solvent, the element electrodes 2 and 3 made of Ni are formed by vacuum film forming technology and photolithography technology. did. At this time, the interval between the device electrodes was 3 μm, the width of the device electrodes was 500 μm, and the thickness was 1000 °.

【0160】(2)位置合わせ工程 インクジェット噴射装置7として、気泡により液体を吐
出させるインクジェット噴射記録ヘッドを用い、受光手
段9に光を電気信号として検出する光センサを併設し
た。素子電極2および3が設けられた絶縁性基板1をス
テージ10に固定し、絶縁性基板1の裏面より、発光手
段8に発光ダイオードを用いて光を照射した。次いで、
ステージ10をコントローラ11により搬送し、素子電
極2・3間より通過して来る光を受光手段9により受光
し、素子電極2・3間とインクジェットとの位置合わせ
を行った。
(2) Positioning Step As the ink jet ejecting apparatus 7, an ink jet ejecting recording head for ejecting liquid by air bubbles was used, and an optical sensor for detecting light as an electric signal was provided on the light receiving means 9. The insulating substrate 1 provided with the device electrodes 2 and 3 was fixed on the stage 10, and light was emitted from the back surface of the insulating substrate 1 to the light emitting means 8 using a light emitting diode. Then
The stage 10 was conveyed by the controller 11, and the light passing from between the element electrodes 2 and 3 was received by the light receiving means 9, and the position between the element electrodes 2 and 3 was aligned with the ink jet.

【0161】(3)液滴付与工程 薄膜(微粒子膜)4の材料となる有機パラジウム(奥野
製薬(株)製、ccp−4230)を含有する溶液を用
い、インクジェット7によって素子電極2・3間に液滴
24を付与した。
(3) Droplet applying step A solution containing organic palladium (ccp-4230, manufactured by Okuno Pharmaceutical Co., Ltd.) as a material of the thin film (fine particle film) 4 was used. Was applied with droplets 24.

【0162】(4)液滴検出工程 位置合わせ工程と同様の方法で、液滴24が付与されて
いるか否かを検出した。
(4) Droplet Detection Step Whether or not the droplet 24 was applied was detected in the same manner as in the positioning step.

【0163】本例では、所定の位置に液滴24が形成さ
れていたが、液滴24が素子電極2・3間に付与されて
いない場合は、再度液滴付与工程を行い、液滴検出工程
によって液滴24が付与されたことを検出・確認するま
で繰返し行うことで、薄膜4の塗布形成時の欠陥を減少
させることができる。
In this example, the droplet 24 is formed at a predetermined position. However, if the droplet 24 is not applied between the element electrodes 2 and 3, the droplet applying step is performed again to detect the droplet. By repeating the process until it is detected and confirmed that the droplet 24 has been applied in the process, it is possible to reduce defects at the time of applying and forming the thin film 4.

【0164】(5)加熱処理工程 液滴24が形成された絶縁性基板1に300℃で10分
間の加熱処理を行って、酸化パラジウム(PdO)微粒
子(平均粒径70Å)からなる微粒子膜を形成し、薄膜
4とした。その薄膜の径は150μmで、素子電極2お
よび3のほぼ中央部に形成した。また、膜厚は100
Å、シート抵抗値は5×104Ω/□であった。
(5) Heating Step The insulating substrate 1 on which the droplets 24 are formed is subjected to a heating treatment at 300 ° C. for 10 minutes to form a fine particle film made of palladium oxide (PdO) fine particles (average particle diameter: 70 °). The thin film 4 was formed. The thin film had a diameter of 150 μm and was formed almost at the center of the device electrodes 2 and 3. The film thickness is 100
Å, the sheet resistance was 5 × 10 4 Ω / □.

【0165】なお、ここで述べる微粒子膜とは、前述の
ように、複数の微粒子が集合した膜であり、その微細構
造として、微粒子が個々に分散配置した状態のみなら
ず、微粒子が互いに隣接あるいは重なり合った状態(島
状も含む)の膜を指し、その粒径とは、前記状態で粒子
形状が認識可能な状態についての径を指す。
The fine particle film described here is a film in which a plurality of fine particles are aggregated, as described above, and has a fine structure not only in a state where the fine particles are individually dispersed and arranged, but also in a state where the fine particles are adjacent to each other. It refers to a film in an overlapping state (including an island shape), and the particle size refers to a diameter in a state where the particle shape can be recognized in the above state.

【0166】このようにして作製した表面伝導型電子放
出素子を通電処理したところ、良好な素子特性を持った
素子が得られた。
When the surface conduction electron-emitting device thus manufactured was subjected to an electric current treatment, a device having good device characteristics was obtained.

【0167】(実施例9)図16に、本例に用いた製造
装置による液滴付与工程を示す。
(Embodiment 9) FIG. 16 shows a droplet applying step by the manufacturing apparatus used in this embodiment.

【0168】本例においては、実施例8と同様にして電
極を形成した。次に、併設されたインクジェット7と受
光手段9を移動させる制御手段12を設け、ステージ1
0に固定され絶縁性基板1を移動・搬送せずにインクジ
ェット7および受光手段9を移動・搬送する以外は、実
施例8と同様にして位置合わせを行った。そして、それ
以降の液滴付与工程、液滴検出工程、加熱処理工程は実
施例8と同様にして、表面伝導型電子放出素子を得た。
本例における発光手段8には、受光手段9と同期して移
動する機構(不図示)が設けられている。
In this example, an electrode was formed in the same manner as in Example 8. Next, a control means 12 for moving the ink jet 7 and the light receiving means 9 provided together is provided.
The alignment was performed in the same manner as in Example 8, except that the ink jet 7 and the light receiving means 9 were moved and transported without moving and transporting the insulating substrate 1 fixed to 0. Then, the subsequent droplet application step, droplet detection step, and heat treatment step were performed in the same manner as in Example 8 to obtain a surface conduction electron-emitting device.
The light emitting means 8 in this example is provided with a mechanism (not shown) which moves in synchronization with the light receiving means 9.

【0169】このようにして作製した表面伝導型電子放
出素子も、実施例8同様の良好な素子特性を示した。
The surface conduction electron-emitting device manufactured in this manner also showed the same good device characteristics as in Example 8.

【0170】(実施例10)図17に、本例に用いた製
造装置による液滴付与工程を示す。
(Embodiment 10) FIG. 17 shows a droplet applying step by the manufacturing apparatus used in this embodiment.

【0171】本例においては、実施例8と同様にして電
極を形成した。次に、発光手段をインクジェット7と受
光手段9とに併設し、発光手段8から照射された光の反
射光により素子電極2・3間を検出する以外は実施例8
と同様にして位置合わせを行った。そして、それ以降の
液滴付与工程、液滴検出工程、加熱処理工程は実施例8
と同様にして、表面伝導型電子放出素子を得た。
In this example, an electrode was formed in the same manner as in Example 8. Eighth Embodiment Next, a light emitting means is provided in the ink jet 7 and the light receiving means 9 in parallel with each other, and between the element electrodes 2 and 3 is detected by reflected light of light emitted from the light emitting means 8.
Alignment was performed in the same manner as described above. The subsequent droplet application step, droplet detection step, and heat treatment step are performed in Example 8.
In the same manner as in the above, a surface conduction electron-emitting device was obtained.

【0172】このようにして作製した表面伝導型電子放
出素子も、実施例8同様の良好な素子特性を示した。
The surface conduction electron-emitting device manufactured in this manner also showed the same good device characteristics as in Example 8.

【0173】(実施例11)本例では、図21に示す電
子源基板を用いた電子線発生装置を作製した。
Embodiment 11 In this embodiment, an electron beam generator using the electron source substrate shown in FIG. 21 was manufactured.

【0174】まず、実施例8と同様の製造方法で、複数
の電子放出素子を絶縁性基板1の上に形成した。次い
で、絶縁性基板1の上方に電子通過孔14を有するグリ
ッド(変調電極)13を素子電極2・3と直交する方向
に配置し、電子線発生装置とした。
First, a plurality of electron-emitting devices were formed on the insulating substrate 1 by the same manufacturing method as in the eighth embodiment. Next, a grid (modulation electrode) 13 having an electron passage hole 14 above the insulating substrate 1 was arranged in a direction orthogonal to the element electrodes 2 and 3 to obtain an electron beam generator.

【0175】以上のように作製した電子源を動作させた
ところ、グリッド13の情報信号に応じて電子放出素子
から放出された電子線のオン−オフ制御、電子線の電子
量を連続的に変化させ得たばかりか、各々の電子放出素
子から放出された電子線の電子量のバラツキの極めて小
さい電子線発生装置を得ることができた。
When the electron source manufactured as described above was operated, on-off control of the electron beam emitted from the electron-emitting device in accordance with the information signal of the grid 13 and continuous change of the electron amount of the electron beam were performed. Not only was it possible to obtain an electron beam generator with a very small variation in the amount of electrons of the electron beam emitted from each electron-emitting device.

【0176】(実施例12)実施例11と同様の方法で
複数の電子放出素子を作製した基板を用いて、図11に
示したグリッドを有する画像形成装置を形成した。その
結果、何ら問題のない良好な性能を示す画像形成装置が
得られた。
Example 12 An image forming apparatus having a grid shown in FIG. 11 was formed using a substrate on which a plurality of electron-emitting devices were manufactured in the same manner as in Example 11. As a result, an image forming apparatus showing good performance without any problem was obtained.

【0177】(実施例13)実施例11と同様の方法で
複数の電子放出素子を作製した基板を用いて、図7に示
した画像形成装置を形成した。その結果、何ら問題のな
い良好な性能を示す画像形成装置が得られた。
(Example 13) An image forming apparatus shown in FIG. 7 was formed using a substrate on which a plurality of electron-emitting devices were manufactured in the same manner as in Example 11. As a result, an image forming apparatus showing good performance without any problem was obtained.

【0178】(実施例14)次に、図22に示すよう
に、本発明のインクジェット法による表面伝導型電子放
出素子を10×10マトリクス配線電極基板上に形成し
た。図22において、140は表面伝導型電子放出素
子、141および142は配線である。各ユニットセル
の拡大図を図31(a)に示す。各ユニットセルは、直
交する配線電極241、242と各配線電極より引き出
される相対向する素子電極2・3によって構成されてい
る。配線電極241、242は印刷法によって形成さ
れ、交差部において不図示の絶縁部材により電気的に絶
縁されている。相対向する素子電極2・3は蒸着膜であ
り、フォトリソグラフィー技術によってパターニングさ
れる。素子電極間ギャップの幅は、約10μm、ギャッ
プ長は500μm、膜厚は30nmである。本発明によ
るインクジェット法によって電極間ギャップ中央に有機
パラジウム含有溶液(Pd濃度0.5wt%)インクを
複数回吐出し、液滴7を形成した後、乾燥、焼成(35
0℃、30分)を経てPdO微粒子によって構成される
膜厚20nm、径300μmの円形の導電性薄膜が形成
される。
Example 14 Next, as shown in FIG. 22, a surface conduction electron-emitting device according to the present invention was formed on a 10 × 10 matrix wiring electrode substrate by an ink-jet method. In FIG. 22, 140 is a surface conduction electron-emitting device, and 141 and 142 are wirings. FIG. 31A is an enlarged view of each unit cell. Each unit cell is composed of orthogonal wiring electrodes 241 and 242 and opposing element electrodes 2 and 3 drawn from each wiring electrode. The wiring electrodes 241 and 242 are formed by a printing method, and are electrically insulated at the intersections by an insulating member (not shown). The opposing device electrodes 2 and 3 are vapor-deposited films and are patterned by photolithography. The width of the gap between the device electrodes is about 10 μm, the gap length is 500 μm, and the film thickness is 30 nm. The organic palladium-containing solution (Pd concentration: 0.5 wt%) ink is ejected a plurality of times at the center of the gap between the electrodes by the inkjet method according to the present invention to form droplets 7, and then dried and fired (35).
(0 ° C., 30 minutes), a circular conductive thin film having a thickness of 20 nm and a diameter of 300 μm constituted by PdO fine particles is formed.

【0179】図23は、インクジェット法による薄膜形
成における吐出制御システムの概略ブロック図である。
1は各ユニットセルにおける基板、2および3は相対向
する素子電極である。1501はインクジェット噴射装
置の吐出ノズル、1502は液滴の情報検出光学系であ
る。1503は吐出ノズル、インクタンク、供給系によ
って構成されるインクジェットカートリッジと検出光学
系を搭載する変位制御機構であり、マトリクス配線電極
基板上のユニットセル間の搬送を行う粗動機構と、ユニ
ットセル内の水平位置微調整および基板と吐出ノズル間
距離の調整を行う微動機構によって構成される。本実施
例では、インクジェット噴射装置として圧電素子による
ピエゾジェット方式の装置を用い、検出光学系としては
前述の垂直反射型のものを用いた。
FIG. 23 is a schematic block diagram of a discharge control system for forming a thin film by the ink jet method.
1 is a substrate in each unit cell, and 2 and 3 are device electrodes facing each other. Reference numeral 1501 denotes a discharge nozzle of the inkjet ejecting apparatus, and 1502 denotes an optical system for detecting information of a droplet. Reference numeral 1503 denotes a displacement control mechanism that mounts an inkjet cartridge including a discharge nozzle, an ink tank, and a supply system, and a detection optical system, and includes a coarse movement mechanism that transports between unit cells on a matrix wiring electrode substrate, , And a fine movement mechanism for adjusting the distance between the substrate and the discharge nozzle. In this embodiment, a piezo-jet type device using a piezoelectric element was used as the ink jet ejecting device, and the above-described vertical reflection type was used as the detection optical system.

【0180】以下、本例における液滴情報の検出および
検出情報に基づく吐出制御の方法について詳細に説明す
る。
Hereinafter, a method of detecting droplet information and controlling ejection based on the detected information in this example will be described in detail.

【0181】本例においては、液滴量の制御を吐出回数
によって行い、1回当たりの吐出量は一定量に固定され
る場合について説明する。ピエゾ式インクジェット装置
では、インクを押し出すピエゾ素子に給電される電圧パ
ルスのパルス高、パルス幅によって1回当たりの吐出量
が決定される。本例では、吐出ノズルの1回当たりの吐
出量が10ngとなるように駆動条件を選択し、100
ngの液滴を10回の吐出によって形成することを標準
吐出条件に設定している。
In this example, a case will be described in which the amount of droplets is controlled by the number of ejections, and the amount of ejection per ejection is fixed at a constant amount. In a piezo-type inkjet apparatus, the discharge amount per discharge is determined by the pulse height and pulse width of a voltage pulse supplied to a piezo element that pushes ink. In this example, the driving conditions are selected such that the discharge amount per discharge nozzle is 10 ng, and 100
The formation of ng droplets by 10 ejections is set as a standard ejection condition.

【0182】変位制御機構を予め設定された座標情報に
従って駆動し、吐出ノズル先端をユニット内の素子電極
ギャップ中心上5mmの位置にセットする。予め決めら
れた駆動条件に従って吐出を開始すると同時に、検出光
学系によって素子電極間ギャップ中央における液滴情報
の検出が開始される。
The displacement control mechanism is driven according to preset coordinate information, and the tip of the discharge nozzle is set at a position 5 mm above the center of the element electrode gap in the unit. At the same time as the ejection is started in accordance with the predetermined driving conditions, the detection optical system starts detecting the droplet information at the center of the gap between the element electrodes.

【0183】図24に垂直反射型検出光学系の詳細図を
示す。半導体レーザー161より出射する直線偏光は、
ミラー162で反射されビームスプリッター163、1
/4λ板174、集光レンズ165を透過して液滴に垂
直に入射する。液滴を透過した光線は、基板表面におい
て一部反射されて戻り光となり、再び液滴を透過して1
/4λ164に再入射する。戻り光は、1/4λ板16
4を2回通過するために、入射光線に対して90°回転
した直線偏光となり、ビームスプリッター163におい
て90°進路を曲げられてフォトダイオード等の光検出
器166に入射する。戻り光の強度は液滴内を2回透過
する過程で起こる吸収、散乱によって変調を受けるた
め、反射光強度を検出することによって液滴の厚みを検
知できる。フォトダイオード出力は、光学情報検出回路
1504において増幅され基準信号比回路1505に送
られる。基準信号比回路1505では基準値との差分信
号が形成される。基準値は焼成後の膜厚が20nmとな
るような液滴の厚みに相当する反射光強度が予め実験的
に求められ、設定されている。反射光強度は液滴厚みが
大きくなるに連れて減少するため、(検出信号−基準信
号)で定義される差分出力は、液滴厚みが適正値に近づ
くに連れて最適値でゼロとなり、最適値を超えるとマイ
ナス極性に転じる。基準信号比較回路1505から出力
された差分出力は吐出条件補正回路1506に送られ
る。吐出条件補正回路1506では差分出力がプラス極
性の場合HIレベル信号が、マイナス極性の場合LOW
レベル信号が出力され、吐出条件制御回路1507に送
られる。吐出条件制御回路1507では、吐出信号補正
回路1506からのレベル信号がHIの間、固定条件の
吐出を一定間隔で継続して行い、レベル信号LOWにな
った時点で吐出を終了する。
FIG. 24 is a detailed view of the vertical reflection type detection optical system. The linearly polarized light emitted from the semiconductor laser 161 is
Reflected by the mirror 162, the beam splitters 163, 1
The light is transmitted through the / 4λ plate 174 and the condenser lens 165 and is vertically incident on the droplet. The light beam that has passed through the droplet is partially reflected on the substrate surface to become return light, and then passes through the droplet again and
/ 4λ164. The return light is a λλ plate 16
4, the light becomes a linearly polarized light rotated by 90 ° with respect to the incident light beam, and is incident on a photodetector 166 such as a photodiode after being deflected by 90 ° in a beam splitter 163. Since the intensity of the returned light is modulated by absorption and scattering that occur in the process of transmitting through the droplet twice, the thickness of the droplet can be detected by detecting the intensity of the reflected light. The photodiode output is amplified in the optical information detection circuit 1504 and sent to the reference signal ratio circuit 1505. In the reference signal ratio circuit 1505, a difference signal from the reference value is formed. As the reference value, the reflected light intensity corresponding to the thickness of the droplet so that the film thickness after firing becomes 20 nm is previously determined experimentally and set. Since the reflected light intensity decreases as the droplet thickness increases, the differential output defined by (detection signal-reference signal) becomes an optimal value of zero as the droplet thickness approaches an appropriate value, and is optimized. If the value is exceeded, the polarity will change to negative. The difference output output from the reference signal comparison circuit 1505 is sent to the ejection condition correction circuit 1506. The ejection condition correction circuit 1506 outputs a HI level signal when the differential output has a positive polarity, and a LOW level signal when the differential output has a negative polarity.
A level signal is output and sent to the ejection condition control circuit 1507. In the ejection condition control circuit 1507, while the level signal from the ejection signal correction circuit 1506 is HI, the ejection under the fixed condition is continuously performed at a constant interval, and the ejection ends when the level signal becomes LOW.

【0184】液滴形成後、10×10マトリクス配線電
極基板を350℃、30分の条件で焼成したところ、液
滴はPdO微粒子よりなる薄膜となった。素子電極間の
抵抗を測定したところ、異常な吐出回数を示したセルに
おいても3kΩ程度の正常な抵抗値を示した。次に、素
子電極間に順次電圧を印加し、薄膜を通電処理(フォー
ミング処理)することにより、各セルの素子電極ギャッ
プ中央部に電子放出部を形成した。
After the formation of the droplet, the 10 × 10 matrix wiring electrode substrate was fired at 350 ° C. for 30 minutes. As a result, the droplet became a thin film composed of PdO fine particles. When the resistance between the device electrodes was measured, a normal resistance value of about 3 kΩ was shown even in the cell showing the abnormal discharge count. Next, an electron emission portion was formed at the center of the device electrode gap of each cell by sequentially applying a voltage between the device electrodes and applying a current to the thin film (forming process).

【0185】こうして形成された電子源基板を、前述し
た図5の電子放出特性評価装置に取付け、電子放出させ
たところ、100個の全素子の電子放出特性は均一であ
った。
The electron source substrate thus formed was mounted on the above-described electron emission characteristic evaluation apparatus shown in FIG. 5 and emitted electrons. As a result, the electron emission characteristics of all 100 elements were uniform.

【0186】さらに、素子数を増やした大面積基板(例
えば、図12)を用いて、10×10基板と同様に図2
3の吐出制御システム、ピエゾジェット式のインクジェ
ット噴射装置、垂直反射型の検出光学系等により、各セ
ルにわたって液滴を塗布した。これを350℃、30分
の条件で焼成し、PdOの微粒子薄膜を全セルに形成で
きた。素子電極間の抵抗を測定したところ、異常な吐出
回数を示したセルにおいても、3kΩ程度の正常な抵抗
値を示した。次に、素子電極間に順次電圧を印加し、薄
膜を通電処理(フォーミング処理)することにより、各
セルの素子電極ギャップ中央部に電子放出部を形成し
た。
Further, using a large-area substrate (for example, FIG. 12) having an increased number of elements, as in the case of a 10 × 10 substrate, FIG.
The droplets were applied over each cell by the ejection control system 3, the piezo jet type ink jet device, the vertical reflection type detection optical system, and the like. This was baked at 350 ° C. for 30 minutes to form PdO fine particle thin films on all cells. When the resistance between the device electrodes was measured, a normal resistance value of about 3 kΩ was shown even in a cell showing an abnormal number of ejections. Next, an electron emission portion was formed at the center of the device electrode gap of each cell by sequentially applying a voltage between the device electrodes and applying a current to the thin film (forming process).

【0187】こうして形成された電子源基板を用いて、
図7を用いて前述したようにフェースプレート108
6、支持枠1082、リアプレート1081とで外囲器
1088を形成し、封止を行なって、表示パネル、さら
には図9に示すようなNTSC方式のテレビ信号に基づ
きテレビジョン表示を行なうための駆動回路を有する画
像形成装置を作成した。そうしたところ、異常な吐出回
数を示したセルを含め全ての素子が電子放出し、特性は
均一であった。これにより、輝度バラツキのない良好な
TV画像を形成することができた。
Using the electron source substrate thus formed,
As described above with reference to FIG.
6. An envelope 1088 is formed by the support frame 1082 and the rear plate 1081, sealed, and used to perform television display based on a display panel and further an NTSC television signal as shown in FIG. An image forming apparatus having a drive circuit was created. As a result, all the elements, including the cell showing the abnormal number of ejections, emitted electrons, and the characteristics were uniform. As a result, a good TV image without luminance variation could be formed.

【0188】以上述ベてきたように、吐出ノズルの異
常、基板濡れ性の異常、着弾位置異常などの原因によっ
て異常な吐出回数を示したセルにおいても素子電極ギャ
ップ内では均一な組成、モホロジー、膜厚を有する薄膜
が形成されていることが確認され、本発明による吐出制
御法の有効性が示された。
As described above, even in a cell showing an abnormal number of ejections due to an abnormality of an ejection nozzle, an abnormality of substrate wettability, an abnormal landing position, etc., a uniform composition, morphology, It was confirmed that a thin film having a film thickness was formed, and the effectiveness of the ejection control method according to the present invention was shown.

【0189】(実施例15)実施例14では、制御対象
となる吐出パラメーターが吐出回数の場合について述ベ
たが、本実施例ではその他の吐出パラメーターとして吐
出駆動パルス高またはパルス幅を制御対象とする場合に
ついて示す。前述のようにピエゾ式インクジェット装置
では、インクを押し出すピエゾ素子に給電される電圧パ
ルスのパルス高、パルス幅によって1回当たりの吐出量
が決定されるため、液滴情報に基づいてパルス高、パル
ス幅のうちの少なくとも一つを制御することによって液
滴量を補正することが可能である。本実施例では吐出回
数を2回に固定し、吐出ノズルの1回あたりの標準吐出
量が50ngとなるような駆動条件で吐出を2回行な
い、100ngの液滴を形成することを標準吐出条件に
設定している。
(Embodiment 15) In Embodiment 14, the case where the ejection parameter to be controlled is the number of ejections has been described. In this embodiment, the ejection drive pulse height or pulse width is set as another ejection parameter. The following shows the case where As described above, in the piezo-type inkjet apparatus, since the discharge amount per discharge is determined by the pulse height and the pulse width of the voltage pulse supplied to the piezo element for pushing out the ink, the pulse height and the pulse are determined based on the droplet information. By controlling at least one of the widths, the droplet volume can be corrected. In the present embodiment, the number of ejections is fixed to two, and ejection is performed twice under driving conditions such that the standard ejection amount per ejection nozzle is 50 ng, thereby forming 100 ng droplets. Is set to

【0190】以下、本例における液滴情報の検出及び検
出情報に基づく吐出制御の方法について述べる。制御方
法以外の実施形態は実施例14と同様である。検出光学
系としては実施例14と同様な垂直反射型を用いる。変
位制御機構を予め設定された座標情報に従って駆動し、
吐出ノズルの先端をユニット内の素子電極間ギャップ中
心上5mmの位置にセットする。予め決められた50n
g液滴相当の駆動条件に従って1回目の吐出を行なった
後、検出光学系によって素子電極間ギャップ中央におけ
る液滴情報の検出が行なわれる。
Hereinafter, a method of detecting droplet information and controlling ejection based on the detected information in this embodiment will be described. Embodiments other than the control method are the same as those in the fourteenth embodiment. As the detection optical system, a vertical reflection type similar to that in the fourteenth embodiment is used. Driving the displacement control mechanism according to preset coordinate information,
The tip of the discharge nozzle is set at a position 5 mm above the center of the gap between the element electrodes in the unit. 50n predetermined
After the first ejection is performed in accordance with the driving conditions corresponding to the g droplet, the detection optical system detects the droplet information at the center of the gap between the element electrodes.

【0191】1回目の吐出による液滴情報のフォトダイ
オード出力は光学情報検出回路において増幅され基準信
号比較回路に送られる。基準信号比較回路で基準値との
差分信号が形成される。基準値は2回の吐出による液滴
の焼成後の膜厚が20nmになる条件における1回目吐
出後の液滴の厚みに相当する反射光強度が予め実験的に
求められ設定されている。反射光強度は液滴厚みが大き
くなるにつれて減少するため、(検出信号−基準信号)
で定義される差分出力は液滴厚みの適正値からのズレ量
と1対1の相関を持っている。基準信号比較回路から出
力された差分出力は吐出条件補正回路に送られる。吐出
条件補正回路には差分出力とズレ量との相関関係に基づ
く補正信号データが予め実験的に求められ記憶されてお
り、このデータに従って差分出力に相当する補正信号が
出力され、吐出条件制御回路に送られる。吐出条件制御
回路では吐出信号補正回路からの補正信号に基づいて駆
動条件のパルス高またはパルス幅の補正を行ない2回目
の吐出を行なう。
The photodiode output of the droplet information by the first ejection is amplified by the optical information detection circuit and sent to the reference signal comparison circuit. A reference signal comparison circuit forms a difference signal from the reference value. The reference value is set by experimentally obtaining the reflected light intensity corresponding to the thickness of the droplet after the first discharge under the condition that the film thickness after firing of the droplet by the two discharges becomes 20 nm. Since the reflected light intensity decreases as the droplet thickness increases, (detection signal-reference signal)
Has a one-to-one correlation with the amount of deviation of the droplet thickness from an appropriate value. The difference output output from the reference signal comparison circuit is sent to the ejection condition correction circuit. In the ejection condition correction circuit, correction signal data based on the correlation between the difference output and the deviation amount is experimentally obtained and stored in advance, and a correction signal corresponding to the difference output is output in accordance with the data, and the ejection condition control circuit Sent to The discharge condition control circuit corrects the pulse height or pulse width of the drive condition based on the correction signal from the discharge signal correction circuit, and performs the second discharge.

【0192】液滴形成後10×10マトリクス配線電極
基板を350℃、20分の条件で焼成したところ液滴は
PdO微粒子よりなる薄膜となった。素子電極間の抵抗
を測定したところ1回目の吐出で異常を示したセルにお
いても3kΩ程度の正常な抵抗値を示した。次に素子電
極間に順次電圧を印加し、薄膜を通電処理(フォーミン
グ処理)することにより各セルの素子電極ギャップ中央
部に電子放出部が形成された。
After the formation of the droplets, the 10 × 10 matrix wiring electrode substrate was baked at 350 ° C. for 20 minutes, and the droplets became thin films of PdO fine particles. When the resistance between the device electrodes was measured, a normal resistance value of about 3 kΩ was shown even in the cell showing an abnormality in the first ejection. Next, a voltage was sequentially applied between the device electrodes, and the thin film was subjected to an energization process (forming process) to form an electron emission portion at the center of the device electrode gap of each cell.

【0193】こうして形成された電子源基板を、前述し
た図5の電子放出特性評価装置に取付け、電子放出させ
たところ、100個の全素子の電子放出特性は均一であ
った。
The electron source substrate thus formed was mounted on the above-described electron emission characteristic evaluation apparatus shown in FIG. 5 and emitted electrons. As a result, the electron emission characteristics of all 100 elements were uniform.

【0194】さらに、素子数を増やした大面積基板(例
えば、図12)を用いて、10×10基板と同様に図4
0の吐出制御方法で、ピエゾジェット式のインクジェッ
ト噴射装置等により、各セルにわたって液滴を塗布し
た。これを350℃、30分の条件で焼成し、PdOの
微粒子薄膜を全セルに形成できた。素子電極間の抵抗を
測定したところ、1回目の吐出で異常を示したセルにお
いても、3kΩ程度の正常な抵抗値を示した。次に、素
子電極間に順次電圧を印加し、薄膜を通電処理(フォー
ミング処理)することにより、各セルの素子電極ギャッ
プ中央部に電子放出部を形成した。
Further, by using a large-area substrate (for example, FIG. 12) having an increased number of elements, as shown in FIG.
With a discharge control method of 0, droplets were applied over each cell by a piezo-jet type ink-jet injection device or the like. This was baked at 350 ° C. for 30 minutes to form PdO fine particle thin films on all cells. When the resistance between the element electrodes was measured, a normal resistance value of about 3 kΩ was shown even in the cell showing an abnormality in the first ejection. Next, an electron emission portion was formed at the center of the device electrode gap of each cell by sequentially applying a voltage between the device electrodes and applying a current to the thin film (forming process).

【0195】こうして形成された電子源基板を用いて、
図7を用いて前述したようにフェースプレート108
6、支持枠1082、リアプレート1081とで外囲器
1088を形成し、封止を行ない表示パネル、さらには
図9に示すようなNTSC方式のテレビ信号に基づきテ
レビジョン表示を行なうための駆動回路を有する画像形
成装置を作成した。そうしたところ、異常な吐出回数を
示したセルを含め全ての素子が電子放出し、特性は均一
であった。これにより、輝度バラツキのない良好なTV
画像を形成することができた。
Using the electron source substrate thus formed,
As described above with reference to FIG.
6. An enclosure 1088 is formed by the support frame 1082 and the rear plate 1081, and the display panel is sealed and a driving circuit for performing television display based on an NTSC television signal as shown in FIG. Was formed. As a result, all the elements, including the cell showing the abnormal number of ejections, emitted electrons, and the characteristics were uniform. As a result, a good TV with no luminance variation
An image could be formed.

【0196】以上述ベたように、吐出ノズルの異常、基
板濡れ性の異常、着弾位置異常などの原因によって1回
目の吐出で異常を示したセルにおいても素子電極ギャツ
プ内では均一な組成、モホロジー、膜厚を有する薄膜が
形成されていることが確認された。
As described above, even in a cell showing an abnormality in the first ejection due to an abnormality of the ejection nozzle, an abnormality of the substrate wettability, an abnormal landing position, etc., the uniform composition and morphology in the element electrode gap. It was confirmed that a thin film having a thickness was formed.

【0197】(実施例16)実施例14および15では
液滴情報の検出手段として光学的検出系を用いたが、本
実施例では電気的検出系を用いる場合について述ベる。
検出方法以外の実施形態は実施例7と同様である。
(Embodiment 16) In Embodiments 14 and 15, an optical detection system is used as a means for detecting droplet information. In this embodiment, a case where an electrical detection system is used will be described.
Embodiments other than the detection method are the same as those in the seventh embodiment.

【0198】図25によって本発明のインクジェット法
による薄膜形成法について更に詳しく説明する。図中、
1は各ユニットセルにおける基板、2および3は相対向
する素子電極である。1801はインクジェット噴射装
置の吐出ノズル、1808は液滴の電気物性測定系であ
る。l803は吐出ノズル、インクタンク、供給系によ
って構成されるインクジェットカートリッジを搭載する
変位制御機構であり、マトリックス配線電極基板上のユ
ニットセル間の搬送を行なう粗動機構と、ユニットセル
内の水平位置微調整および基板と吐出ノズル間距離の調
整を行なう微動機構によって構成される。本実施例で
は、インクジェット噴射装置としてバプルジェット方式
の装置を用いる。
The method of forming a thin film by the ink jet method of the present invention will be described in more detail with reference to FIG. In the figure,
1 is a substrate in each unit cell, and 2 and 3 are device electrodes facing each other. Reference numeral 1801 denotes a discharge nozzle of the ink jet ejecting apparatus, and 1808 denotes a system for measuring electrical properties of liquid droplets. Reference numeral 1803 denotes a displacement control mechanism that mounts an ink jet cartridge including a discharge nozzle, an ink tank, and a supply system. It is constituted by a fine movement mechanism for adjusting and adjusting the distance between the substrate and the discharge nozzle. In the present embodiment, an apparatus of a bubble jet system is used as an inkjet ejecting apparatus.

【0199】以下本発明による液滴情報の検出および検
出情報に基づく吐出制御の方法について述べる。本実施
例においては、実施例14と同様、液滴量の制御を吐出
回数によって行ない、1回あたりの吐出量は一定量に固
定される場合について説明する。本実施例では、100
ngの液滴を10回の吐出によって形成することを標準
吐出条件に設定している。
Hereinafter, a method of detecting droplet information and controlling discharge based on the detected information according to the present invention will be described. In the present embodiment, as in the fourteenth embodiment, a case will be described in which the droplet amount is controlled by the number of ejections and the ejection amount per ejection is fixed at a constant amount. In this embodiment, 100
The formation of ng droplets by 10 ejections is set as a standard ejection condition.

【0200】変位制御機構1803を予め設定された座
標情報に従って駆動し、吐出ノズル先端をユニット内の
素子電極2・3間ギャップ中心上5mmの位置にセット
する。予め決められた駆動条件に従って吐出を開始する
と同時に、電気物性測定系1808によって素子電極間
ギャップ内の液滴情報の検出が開始される。
The displacement control mechanism 1803 is driven in accordance with preset coordinate information, and the tip of the discharge nozzle is set at a position 5 mm above the center of the gap between the element electrodes 2 and 3 in the unit. At the same time as the ejection is started in accordance with the predetermined driving conditions, the detection of the droplet information in the gap between the element electrodes is started by the electrical property measurement system 1808.

【0201】電気物性測定系1808では素子電極2・
3間に一定の検出電圧を印加し、その応答電流を測定す
ることによって液滴の電気的な物性を検知する。検出さ
れる電気物性としては液滴の抵抗、液滴の容量等があ
り、これらの物性値と液滴量との相関に基づいて素子電
極間ギャップ内の液適量を推測することができる。検出
電圧はDC電圧でもよいが、溶液内のガス発生等の化学
反応を抑制するためには、。100Hz〜100kHz
の比較的高い周波数、10mV〜500mV程度の比較
的微小な振幅のAC電圧が好適である。AC電圧を位相
検波し印加電圧と同位相の電流成分と90゜位相の遅れ
た電流成分を検出することによって、液滴の抵抗および
電気容量を同時に検知することができる。本実施例では
液滴抵抗のみを検知する場合について示す。インクは溶
液抵抗の測定が可能であればとくに限定されないが、本
実施例ではイオン導電性に優れる水溶液系の有機パラジ
ウム含有水溶液(Pd濃度0.5wt%)を用いる。
In the electrical physical property measuring system 1808, the device electrode 2
A constant detection voltage is applied between the three, and the electrical current of the droplet is detected by measuring the response current. The detected electrical properties include the resistance of the droplet, the volume of the droplet, and the like. Based on the correlation between these physical properties and the amount of the droplet, an appropriate amount of the liquid in the gap between the device electrodes can be estimated. The detection voltage may be a DC voltage, but in order to suppress a chemical reaction such as gas generation in the solution. 100Hz-100kHz
A relatively high frequency, an AC voltage having a relatively small amplitude of about 10 mV to 500 mV is preferable. By detecting the AC voltage in phase and detecting a current component having the same phase as the applied voltage and a current component delayed by 90 °, the resistance and the capacitance of the droplet can be simultaneously detected. In this embodiment, a case where only the droplet resistance is detected will be described. The ink is not particularly limited as long as the solution resistance can be measured. In this embodiment, an aqueous organic palladium-containing aqueous solution (Pd concentration: 0.5 wt%) having excellent ionic conductivity is used.

【0202】電気物性測定系1808の応答電流出力は
電気情報検出回路1809において電流電圧変換、増
幅、ロックインアンプによる位相検波、演算というプロ
セスを経て抵抗値が出力され、基準信号比較回路181
0に送られる。基準信号比較回路1810では基準値と
の差分信号が形成される。基準値は焼成後の膜厚が20
nmになるような液滴の厚みに相当する抵抗値が予め実
験的に求められ設定されている。有機パラジウム含有水
溶液(Pd濃度0.5wt%)による液滴の基準値は7
0kΩである。抵抗値はギャップ内の液滴量が多くなる
につれて減少するため、(検出信号一基準信号)で定義
される差分出力は液滴厚みが適正値に近づくにつれて減
少し最適値で0となり、最適値を超えるとマイナス極性
に転じる。基準信号比較回路1810から出力された差
分出力は吐出条件補正回路1811に送られる。吐出条
件補正回路1811では差分出力がプラス極性の場合H
Iレベル信号が、マイナス極性の場合にLOWレベル信
号が出力され、吐出条件制御回路1807に送られる。
吐出条件制御回路1807では吐出信号補正回路181
1からのレベル信号がHIの間、固定条件の吐出を一定
間隔で継続して行ない、レベル信号がLOWになった時
点で吐出を終了する。
The resistance value is output from the response current output of the electrical property measurement system 1808 through a process of current-voltage conversion, amplification, phase detection by a lock-in amplifier and calculation in an electrical information detection circuit 1809, and a reference signal comparison circuit 181 is output.
Sent to 0. The reference signal comparison circuit 1810 forms a difference signal from the reference value. The standard value is 20 after firing.
A resistance value corresponding to the thickness of the liquid droplet having a thickness of nm is obtained and set experimentally in advance. The standard value of the droplet by the aqueous solution containing organic palladium (Pd concentration 0.5 wt%) is 7
0 kΩ. Since the resistance value decreases as the amount of liquid droplets in the gap increases, the differential output defined by (detection signal-reference signal) decreases as the liquid droplet thickness approaches an appropriate value and becomes 0 at the optimal value. If it exceeds, it turns to negative polarity. The difference output output from the reference signal comparison circuit 1810 is sent to the ejection condition correction circuit 1811. In the ejection condition correction circuit 1811, if the difference output has a positive polarity, H
When the I level signal has a negative polarity, a LOW level signal is output and sent to the ejection condition control circuit 1807.
The ejection condition control circuit 1807 includes an ejection signal correction circuit 181
While the level signal from 1 is HI, the ejection under the fixed condition is continuously performed at a constant interval, and the ejection ends when the level signal becomes LOW.

【0203】こうして形成された電子源基板を、前述し
た図5の電子放出特性評価装置に取付け、電子放出させ
たところ、100個の全素子の電子放出特性は均一であ
った。
The electron source substrate thus formed was attached to the above-described electron emission characteristic evaluation apparatus shown in FIG. 5 and emitted electrons. As a result, the electron emission characteristics of all 100 elements were uniform.

【0204】さらに、素子数を増やした大面積基板(例
えば、図12)を用いて、10×10基板と同様に図2
3の吐出制御システム、ピエゾジェット式のインクジェ
ット噴射装置、垂直反射型の検出光学系等により、各セ
ルにわたって液滴を塗布した。これを350℃、30分
の条件で焼成し、PdOの微粒子薄膜を全セルに形成で
きた。素子電極間の抵抗を測定したところ、異常な吐出
回数を示したセルにおいても、3kΩ程度の正常な抵抗
値を示した。次に、素子電極間に順次電圧を印加し、薄
膜を通電処理(フォーミング処理)することにより、各
セルの素子電極ギャップ中央部に電子放出部を形成し
た。
Further, by using a large-area substrate (for example, FIG. 12) having an increased number of elements, FIG.
The droplets were applied over each cell by the ejection control system 3, the piezo jet type ink jet device, the vertical reflection type detection optical system, and the like. This was baked at 350 ° C. for 30 minutes to form PdO fine particle thin films on all cells. When the resistance between the device electrodes was measured, a normal resistance value of about 3 kΩ was shown even in a cell showing an abnormal number of ejections. Next, an electron emission portion was formed at the center of the device electrode gap of each cell by sequentially applying a voltage between the device electrodes and applying a current to the thin film (forming process).

【0205】以上述ベてきたように、吐出ノズルの異
常、基板濡れ性の異常、着弾位置異常などの原因によっ
て異常な吐出回数を示したセルにおいても素子電極ギャ
ップ内では均一な組成、モホロジー、膜厚を有する薄膜
が形成されていることが確認され、本発明による吐出制
御法の有効性が示された。
As described above, even in a cell showing an abnormal number of ejections due to an abnormality of an ejection nozzle, an abnormality of substrate wettability, an abnormal landing position, etc., a uniform composition, morphology, It was confirmed that a thin film having a film thickness was formed, and the effectiveness of the ejection control method according to the present invention was shown.

【0206】(実施例17)図26は電気的検出と光学
的検出の2系統液滴情報検出系による吐出条件制御のブ
ロック図である。詳しい説明は省略するが、2系統情報
の相関に基づいて誤差補完するようなアルゴリズムによ
って、より精度の高いハイプリッド情報による吐出制御
が可能となる。
(Embodiment 17) FIG. 26 is a block diagram of discharge condition control by a two-system droplet information detection system of electrical detection and optical detection. Although a detailed description will be omitted, an algorithm that complements the error based on the correlation between the two systems of information makes it possible to perform ejection control with more accurate hybrid information.

【0207】(実施例18)本実施例では除去ノズルを
備える液滴量補正システムについて説明する。除去ノズ
ルを備える液滴量補正は以下の2つの方式に大別され
る。液滴情報検出の結果ギャップ内の液滴量が最適値よ
りも多いと判断される場合に、液滴の一部を除去して最
適値に戻す方式および液滴を全て除去した後に再吐出を
行なう方式である。除去方式としては液滴を吸引するか
または窒素等ガスを噴射し液滴をギャップ内から飛散さ
せる方式とがある。本実施例では吸引式除去ノズルを備
え、液滴を全て除去する方式について説明する。
(Embodiment 18) In this embodiment, a droplet amount correction system including a removal nozzle will be described. Drop amount correction provided with a removal nozzle is roughly classified into the following two methods. If it is determined that the amount of droplets in the gap is greater than the optimal value as a result of droplet information detection, a method of removing some of the droplets to return to the optimal value and re-ejecting after removing all the droplets It is a method that performs. As a removal method, there is a method of sucking a droplet or injecting a gas such as nitrogen to scatter the droplet from the gap. In the present embodiment, a method of providing a suction type removal nozzle and removing all droplets will be described.

【0208】以下図27によって、本発明による液滴情
報の検出および検出情報に基づく吐出制御の方法につい
て述ベる。除去ノズル以外の実施形態は実施例14と同
様である。除去専用ノズル2012は専用の位置制御機
構を設ける必要のないように吐出ノズル、検出光学系と
同一の位置制御機構2003に搭載されている。本実施
例では吐出ノズル2001の1回あたりの標準吐出量が
100ngとなるような駆動条件で吐出を行ない、10
0ngの液滴を1回の吐出で形成することを標準吐出条
件に設定している。
Referring to FIG. 27, a method of detecting droplet information and controlling ejection based on the detected information according to the present invention will be described below. Embodiments other than the removal nozzle are the same as those in the fourteenth embodiment. The removal-dedicated nozzle 2012 is mounted on the same position control mechanism 2003 as the ejection nozzle and the detection optical system so that a dedicated position control mechanism need not be provided. In this embodiment, the ejection is performed under the driving condition such that the standard ejection amount per ejection nozzle 2001 is 100 ng.
Forming 0 ng droplets in one ejection is set as a standard ejection condition.

【0209】変位制御機構2103を予め設定された座
標情報に従って駆動し、吐出ノズル2001の先端をユ
ニット内の素子電極2・3間ギャップ中心上5mmの位
置にセットする。予め決められた駆動条件に従って吐出
を行なった後、検出光学系2002によって素子電極間
ギャップ中央における液滴情報の検出が行なわれる。フ
ォトダイオード出力は光学情報検出回路2004におい
て増幅され、基準信号比較回路2005に送られる。基
準信号比較回路2005では基準値との差分信号が形成
される。基準値は液滴の焼成後の膜厚が20nmになる
液滴の厚みに相当する反射光強度が予め実験的に求めら
れ設定されている。反射光強度は液滴厚みが大きくなる
につれて減少するため、(検出信号一基準信号)で定義
される差分出力は液滴厚みの適正値からのズレ量と1対
1の相関を持っており、液滴厚みが適正値に近づくにつ
れて減少し最適値で0となり、最適値を超えるとマイナ
ス極性に転じる。基準信号比較回路2005から出力さ
れた差分出力は吐出条件補正回路2006に送られる。
吐出条件補正回路2006では差分出力がプラス極性の
場合LOWレベル信号が、マイナス極性の場合にHIレ
ベル信号が出力され除去ノズル制御回路2013に送ら
れる。同時に吐出条件補正回路2006では、差分出力
とズレ量との相関関係に基づく補正信号データに従い差
分出力に相当する補正信号が出力され、吐出条件制御回
路2007に送られる。HIレベル信号の場合には除去
ノズル制御回路2013は作動せず、吐出条件制御回路
2007において補正信号に基づいて駆助条件のパルス
高またはパルス幅が決められ補正吐出が行なわれる。L
OWレベル信号の場合には、まず除去ノズル制御回路2
013が作動し除去ノズル2012によって液滴が全て
吸引除去された後に、吐出条件制御回路2013におい
て補正吐出が行なわれる。
The displacement control mechanism 2103 is driven according to preset coordinate information, and the tip of the discharge nozzle 2001 is set at a position 5 mm above the center of the gap between the element electrodes 2 and 3 in the unit. After the ejection is performed in accordance with a predetermined driving condition, the detection optical system 2002 detects the droplet information at the center of the gap between the element electrodes. The photodiode output is amplified in the optical information detection circuit 2004 and sent to the reference signal comparison circuit 2005. In the reference signal comparison circuit 2005, a difference signal from the reference value is formed. The reference value is set by experimentally obtaining the reflected light intensity corresponding to the thickness of the droplet at which the film thickness of the droplet after firing becomes 20 nm. Since the reflected light intensity decreases as the droplet thickness increases, the differential output defined by (detection signal-reference signal) has a one-to-one correlation with the amount of deviation from the proper value of the droplet thickness, As the droplet thickness approaches an appropriate value, it decreases and reaches an optimal value of 0. When the thickness exceeds the optimal value, the polarity changes to a negative polarity. The difference output output from the reference signal comparison circuit 2005 is sent to the ejection condition correction circuit 2006.
The ejection condition correction circuit 2006 outputs a LOW level signal when the difference output has a positive polarity, and outputs an HI level signal when the difference output has a negative polarity, and sends it to the removal nozzle control circuit 2013. At the same time, the ejection condition correction circuit 2006 outputs a correction signal corresponding to the difference output in accordance with the correction signal data based on the correlation between the difference output and the deviation amount, and sends it to the ejection condition control circuit 2007. In the case of the HI level signal, the removal nozzle control circuit 2013 does not operate, and the discharge condition control circuit 2007 determines the pulse height or pulse width of the assist condition based on the correction signal, and performs the corrected discharge. L
In the case of the OW level signal, first, the removal nozzle control circuit 2
After 013 is operated and all of the liquid droplets are suctioned and removed by the removal nozzle 2012, the correction discharge is performed in the discharge condition control circuit 2013.

【0210】以上のようにして10×10マトリクス配
線電極基板上の100ユニットセルについて液滴形成を
行なったところ、殆どのセルで1回の吐出後に液滴厚み
は適正値を示したが、数%のセルでは適正値を越える液
滴厚みを示した。図28(a)は吐出異常により1回の
吐出量が異常に多くなり液滴厚みが適正値を越えた場合
であり、除去ノズルによって液滴を全て吸引した後、補
正された条件で再吐出が行われた結果適正な厚みの液滴
が得られた例である。図28(b)は基板の濡れ性が異
常に低いセルで、吐出量は適正であったが液滴厚が異常
に大きくなった場合であり、図28(a)と同様の手続
きによりギャップ中央での液滴厚みは正常値を示した。
When droplet formation was performed on 100 unit cells on the 10 × 10 matrix wiring electrode substrate as described above, the droplet thickness of most cells showed an appropriate value after one discharge, % Cells showed a droplet thickness exceeding the appropriate value. FIG. 28 (a) shows a case where the amount of one ejection becomes abnormally large due to the ejection abnormality and the thickness of the droplet exceeds an appropriate value. After all the droplets are sucked by the removal nozzle, re-ejection is performed under the corrected condition. This is an example in which a droplet having an appropriate thickness is obtained as a result of performing the above. FIG. 28 (b) shows a cell in which the substrate wettability is abnormally low, and the ejection amount was appropriate but the droplet thickness became abnormally large. The same procedure as in FIG. Showed a normal value for the droplet thickness.

【0211】液滴形成後10×10マトリクス配線電極
基板を350℃、30分の条件で焼成したところ液滴は
PdO微粒子よりなる薄膜となった。素子電極間の抵抗
を測定したところ1回目の吐出で異常を示したセルにお
いても3kΩ程度の正常な抵抗値を示した。次に素子電
極間に順次電圧を印加し、薄膜を通電処理(フォーミン
グ処理)することにより各セルの素子電極ギャップ中央
部に電子放出部が形成された。
When the 10 × 10 matrix wiring electrode substrate was fired at 350 ° C. for 30 minutes after the formation of the droplet, the droplet became a thin film composed of PdO fine particles. When the resistance between the device electrodes was measured, a normal resistance value of about 3 kΩ was shown even in the cell showing an abnormality in the first ejection. Next, a voltage was sequentially applied between the device electrodes, and the thin film was subjected to an energization process (forming process) to form an electron emission portion at the center of the device electrode gap of each cell.

【0212】こうして形成された電子源基板を、前述し
た図5の電子放出特性評価装置に取付け、電子放出させ
たところ、100個の全素子の電子放出特性は均一であ
った。
The electron source substrate thus formed was mounted on the above-described electron emission characteristic evaluation apparatus shown in FIG. 5 and emitted electrons. As a result, the electron emission characteristics of all 100 elements were uniform.

【0213】さらに、素子数を増やした大面積基板(例
えば、図12)を用いて、10×10基板と同様に図2
7の除去ノズルを備えた吐出制御システム、ピエゾジェ
ット式のインクジェット噴射装置等により、各セルにわ
たって液滴を塗布した。これを350℃、30分の条件
で焼成し、PdOの微粒子薄膜を全セルに形成できた。
素子電極間の抵抗を測定したところ、異常な吐出回数を
示したセルにおいても、3kΩ程度の正常な抵抗値を示
した。次に、素子電極間に順次電圧を印加し、薄膜を通
電処理(フォーミング処理)することにより、各セルの
素子電極ギャップ中央部に電子放出部を形成した。
Further, using a large-area substrate (for example, FIG. 12) having an increased number of elements, as in the case of a 10 × 10 substrate, FIG.
The droplets were applied over each cell by a discharge control system having a removing nozzle of No. 7, a piezo jet type ink jet device, or the like. This was baked at 350 ° C. for 30 minutes to form PdO fine particle thin films on all cells.
When the resistance between the device electrodes was measured, a normal resistance value of about 3 kΩ was shown even in a cell showing an abnormal number of ejections. Next, an electron emission portion was formed at the center of the device electrode gap of each cell by sequentially applying a voltage between the device electrodes and applying a current to the thin film (forming process).

【0214】こうして形成された電子源基板を用いて、
図7を用いて前述したようにフェースプレート108
6、支持枠1082、リアプレート1081とで外囲器
1088を形成し、封止を行ない表示パネル、さらには
図9に示すようなNTSC方式のテレビ信号に基づきテ
レビジョン表示を行なうための駆動回路を有する画像形
成装置を作成した。そうしたところ、異常な吐出回数を
示したセルを含め全ての素子が電子放出し、特性は均一
であった。これにより、輝度バラツキのない良好なTV
画像を形成することができた。
Using the electron source substrate thus formed,
As described above with reference to FIG.
6. An enclosure 1088 is formed by the support frame 1082 and the rear plate 1081, and the display panel is sealed and a driving circuit for performing television display based on an NTSC television signal as shown in FIG. Was formed. As a result, all the elements, including the cell showing the abnormal number of ejections, emitted electrons, and the characteristics were uniform. As a result, a good TV with no luminance variation
An image could be formed.

【0215】以上述ベたように、吐出ノズルの異常、基
板濡れ性の異常、着弾位置異常などの原因によって1回
目の吐出で異常を示したセルにおいても素子電極ギャッ
プ内では均一な組成、モホロジー、膜厚を有する薄膜が
形成されていることが確認された。
As described above, even in a cell showing an abnormality in the first ejection due to an abnormality in the ejection nozzle, an abnormality in the wettability of the substrate, an abnormality in the landing position, etc., the uniform composition and morphology in the element electrode gap. It was confirmed that a thin film having a thickness was formed.

【0216】(実施例19)本実施例では、液滴情報の
検出情報に基づく吐出条件制御に加えて、液滴の着弾位
置情報を光学的に検出する手段と、検出される位置情報
に基づいて吐出位置合わせ、位置微調整等の位置制御を
行う手段とを備えるシステムについて説明する。
(Embodiment 19) In this embodiment, in addition to the ejection condition control based on the detection information of the droplet information, a means for optically detecting the landing position information of the droplet, and a method based on the detected position information The following describes a system including means for performing position control such as ejection position adjustment and position fine adjustment.

【0217】図29は本発明による液滴情報の検出およ
び検出情報に基づく位置制御および吐出制御システムの
プロック図である。光学検出系以外の実施形態は実施例
14と同様である。吐出制御に関しては他の実施例で詳
しく述ベているため本実施例では特に位置制御について
のみ説明する。
FIG. 29 is a block diagram of the detection of droplet information and the position control and ejection control system based on the detection information according to the present invention. Embodiments other than the optical detection system are the same as in Embodiment 14. Since the ejection control has been described in detail in other embodiments, in this embodiment, only the position control will be particularly described.

【0218】本実施例で用いられる検出光学系2202
は実施例14と同様な垂直反射型だが、液滴情報検出用
ビームの他に位置検出用サブビームを備えたマルチビー
ム方式であり、コンパクトディスクのトラッキング用検
出光学系と共通の方式である。半導体レーザーより出射
するビームは回折格子によって一列の3ビームに分けら
れ異なる3つの位置で反射、変調された後、分割センサ
ーにおいて各々の反射光強度の相関が検出されることに
よって位置情報を得ることができる特徴がある。
The detection optical system 2202 used in this embodiment
Is a vertical reflection type similar to that of the fourteenth embodiment, but is a multi-beam system including a position detection sub-beam in addition to a droplet information detection beam, and is a system common to a tracking detection optical system of a compact disc. The beam emitted from the semiconductor laser is divided into three beams in a row by a diffraction grating, reflected and modulated at three different positions, and the split sensor detects the correlation of each reflected light intensity to obtain position information. There is a feature that can be.

【0219】位置の検出および制御は、吐出前に電極パ
ターンまたは専用に設けたアライメントマークに対して
行なわれてもよいし、吐出後の液滴に対して行なわれて
もよい。液滴の着弾位置検出法に関しては、吐出後の3
ビーム間の反射光強度を比較してもよいし、吐出前後で
の強度変化を比較してもよい。位置検出と吐出のタイミ
ングについては、まず予備吐出を行ない吐出位置の補正
をした後に本吐出を行うようにしてもよいし、吐出の度
に位置検出、補正を行ってもよい。
The detection and control of the position may be performed on the electrode pattern or the alignment mark provided exclusively before the discharge, or may be performed on the droplet after the discharge. Regarding the method for detecting the landing position of a droplet,
The reflected light intensity between the beams may be compared, or the intensity change before and after ejection may be compared. Regarding the timing of the position detection and the ejection, the main ejection may be performed after the preliminary ejection is performed and the ejection position is corrected, or the position may be detected and corrected each time the ejection is performed.

【0220】図30は液滴に対する位置制御、吐出制御
の様子を示している。1回目の吐出後素子電極2、3間
ギャップに直交する方向に配置された3ビーム列の反射
光強度が分割センサーによって検出・比較され、液滴着
弾位置の素子電極ギャップ中央からのズレ量が検出され
る。ズレ量を補正信号として変位制御機構2203(図
29)による位置の補正が行われ、2回目以降の吐出が
適正位置に行われギャップ中央に適正な厚みの液滴が形
成された。
FIG. 30 shows the state of position control and ejection control for droplets. After the first ejection, the reflected light intensities of the three beam trains arranged in a direction orthogonal to the gap between the element electrodes 2 and 3 are detected and compared by the split sensor, and the deviation amount of the droplet landing position from the center of the element electrode gap is calculated. Is detected. The displacement was corrected by the displacement control mechanism 2203 (FIG. 29) using the displacement amount as a correction signal, and the second and subsequent ejections were performed at appropriate positions, and droplets of appropriate thickness were formed at the center of the gap.

【0221】(実施例20)以上述ベてきた実施例14
〜19では吐出位置は固定され、1つの液滴によって電
子放出部薄膜を形成する素子構成であるが、何らこの素
子形成に限定されるものではなく様々なバリエーション
が考えられる。図31に他の素子構成の例をいくつか示
す。図31(a)は実施例14〜19の実施例における
素子構成、(b)は吐出位置を変化させ素子電極ギャッ
プ内にインクジェット法による液滴列を構成する場合、
(c)は電子放出部薄膜のみでなく素子電極の一部もイ
ンクジェット法による液滴配列によって構成する場合を
示す。いずれの場合も各液滴に対して実施例14〜19
と同様の吐出制御、位置制御を行うことが可能である。
また実施例14〜19の実施例においては配線電極とし
てマトリクス配線型構成について述ベたが、本発明は何
らこれに限定されるものでなく、例えばはしご配線型
等、様々な配線構成に適用可能なことは前述の通りであ
る。
(Embodiment 20) The embodiment 14 described above.
19 to 19, the ejection position is fixed, and the element structure in which the electron emission portion thin film is formed by one droplet is not limited to this element formation, and various variations can be considered. FIG. 31 shows some examples of other element configurations. FIG. 31 (a) shows a device configuration in Examples 14 to 19, and FIG. 31 (b) shows a case where a droplet row is formed by an ink jet method in a device electrode gap by changing a discharge position.
(C) shows a case where not only the electron-emitting portion thin film but also a part of the device electrode is formed by a droplet arrangement by an ink-jet method. In each case, Examples 14 to 19 were applied to each droplet.
It is possible to perform the same discharge control and position control as described above.
In the embodiments 14 to 19, the matrix wiring type configuration is described as the wiring electrode. However, the present invention is not limited to this, and can be applied to various wiring configurations such as a ladder wiring type. The details are as described above.

【0222】(実施例21)マトリクス状に配線され、
素子電極を前述したように形成した基板を用い、表面伝
導型電子放出素子を作製した。その手順を以下に説明す
る。
(Embodiment 21) Wiring is performed in a matrix,
Using the substrate on which the device electrodes were formed as described above, a surface conduction electron-emitting device was manufactured. The procedure will be described below.

【0223】図33(a)は本実施例によって作製した
表面伝導型電子放出素子の平面図である。図32および
図33を参照して説明する。 (1)絶縁基板として石英基板を用い、これを有機溶剤
等により充分に洗浄後、120℃で乾燥させた。 (2)前述の洗浄工程を施した基板上に、有機パラジウ
ム含有溶液(奥野製薬(株)ccp−4230)を、液
滴付与装置として圧電素子を用いたインクジェット噴射
装置を用いて、液滴付与を行い、液滴の直径を求めたと
ころ(図32(a))、1ドットあたりの直径φは50
μmであった。 (3)その基板1上に一般的な真空成膜技術およびフォ
トリソグラフィ技術を用いてNiからなる素子電極2お
よび3を形成した、そのとき素子電極のギャップ間隔L
1は200μm、電極の幅W1は600μm、その厚さd
は1000Åとした。 (4)次に前述の有機パラジウム含有溶液(奥野製薬
(株)ccp−4230)を、液滴付与装置として圧電
素子を用いたインクジェット噴射装置を用い、ドット径
が50μmになるように調整して、素子電極2および3
の間に図33(a)のように液滴付与を行った。200
μmのギャップに対し、前記の(2)で説明した直径
(φ)50μmのドットを、隣り合うドット同士の中心
間距離P1をφ/2すなわち25μmとすることで1つ
のドットがその左右のドットと25μmずつ重なるよう
にしながら、11個付与した。液滴付与後、重なり合っ
た部分は広がって、長さ方向のエッジは直線状になっ
た。つまり、幅W2=50μm、長さT=300μmの
1列のドット列(パッド)を形成した。 (5)次に300℃で10分間の加熱処理を行って、酸
化パラジウム(PdO)微粒子からなる微粒子膜を形成
し、薄膜4とした。 (6)次に電極2・3間に電圧を印加し、薄膜4を通電
処理(フォーミング処理)することにより、電子放出部
5を形成した。
FIG. 33A is a plan view of a surface conduction electron-emitting device manufactured according to this embodiment. This will be described with reference to FIGS. 32 and 33. (1) A quartz substrate was used as an insulating substrate, which was sufficiently washed with an organic solvent or the like, and then dried at 120 ° C. (2) Dropping an organic palladium-containing solution (Okuno Pharmaceutical Co., Ltd. ccp-4230) onto the substrate that has been subjected to the above-described cleaning step, using an ink jet ejecting apparatus using a piezoelectric element as a liquid drop applying apparatus. Was performed to determine the diameter of the droplet (FIG. 32 (a)).
μm. (3) The device electrodes 2 and 3 made of Ni are formed on the substrate 1 by using a general vacuum film forming technique and a photolithography technique.
1 is 200 μm, the electrode width W 1 is 600 μm, and its thickness d
Was set to 1000 °. (4) Next, the above-mentioned organic palladium-containing solution (Okuno Pharmaceutical Co., Ltd. ccp-4230) was adjusted so that the dot diameter became 50 μm using an ink jet ejecting device using a piezoelectric element as a droplet applying device. , Device electrodes 2 and 3
During this time, droplet application was performed as shown in FIG. 200
For a gap of μm, a dot having a diameter (φ) of 50 μm described in the above (2) is set to φ / 2, that is, a center distance P1 between adjacent dots is set to φ / 2, that is, 25 μm. And 11 were provided while overlapping with each other by 25 μm. After the application of the droplets, the overlapped portion became wide and the edge in the length direction became linear. That is, one dot row (pad) having a width W2 = 50 μm and a length T = 300 μm was formed. (5) Next, a heat treatment was performed at 300 ° C. for 10 minutes to form a fine particle film composed of palladium oxide (PdO) fine particles, thereby forming a thin film 4. (6) Next, a voltage was applied between the electrodes 2 and 3, and the thin film 4 was subjected to an energizing process (forming process) to form the electron-emitting portion 5.

【0224】以上のような方法で作成した電子源基板で
は、1つのパッドの中で、ドットを重ねて付与すること
により、パッドの幅W2が一定となり、長さ方向のずれ
による幅W2のばらつきはなかった。さらに、塗布むら
が小さく、膜厚分布が狭かったことから、抵抗のばらつ
きも小さかった。
In the electron source substrate prepared by the above-described method, the width W2 of the pad becomes constant by applying dots in a single pad, and the variation in the width W2 due to the displacement in the length direction. There was no. Furthermore, since the coating unevenness was small and the film thickness distribution was narrow, the variation in resistance was also small.

【0225】また、PdOからなる微粒子膜のパッド
が、素子電極のギャップに対して垂直方向および水平方
向のいずれにおいても数十μmの余裕があるため、アラ
イメントが容易になり、位置ずれによる欠陥が減少し
た。
Further, since the pad of the fine particle film made of PdO has a margin of several tens of μm in both the vertical direction and the horizontal direction with respect to the gap of the device electrode, alignment becomes easy, and defects due to misalignment are reduced. Diminished.

【0226】なお、液滴付与の順序は、端から順に付与
する場合に限らず、1ドットおきに付与してから、その
1つおきに形成されたドット間に次の液滴を付与してい
く等の方法も可能であって、特に順序に制限があるわけ
ではない。
The order of applying the droplets is not limited to the case where the droplets are applied in order from the end, and is applied every other dot, and the next droplet is applied between the dots formed every other dot. Any number of methods are possible, and there is no particular restriction on the order.

【0227】さらに1ドット当たりの液滴数を2とした
ところ、膜厚が約2倍となり、抵抗が約半分となった。
すなわち、1ドット当たりの液滴数を変えることによ
り、所望の導電性薄膜抵抗を得ることができることがわ
かった。
When the number of droplets per dot was set to 2, the film thickness was approximately doubled and the resistance was reduced to approximately half.
That is, it was found that a desired conductive thin film resistor could be obtained by changing the number of droplets per dot.

【0228】また1ドット当たりの液滴量を2倍にした
ところ、前述の液滴数を2にした場合と同様の結果が得
られ、1ドット当たりの液滴量を変えることにより、所
望の導電性薄膜抵抗を得ることができることがわかっ
た。
When the amount of droplets per dot is doubled, the same result as in the case where the number of droplets is 2 is obtained. By changing the amount of droplets per dot, a desired value can be obtained. It was found that a conductive thin film resistor could be obtained.

【0229】以上のように、本発明の方法によって、複
数個素子を形成した場合の素子間のばらつきを小さくす
ることができて、製造歩留まりが向上した。また薄膜4
のパターニングが省略できることから、コストを抑える
ことができた。
As described above, according to the method of the present invention, when a plurality of elements are formed, variations among the elements can be reduced, and the production yield is improved. Also thin film 4
Since the patterning can be omitted, the cost can be reduced.

【0230】こうして作製されたマトリクス配線の電子
源基板を用いて、前述のフェースプレート、支持枠、リ
アプレートとで外囲器を形成し、封止を行い、表示パネ
ル(図7)とさらにはテレビジョン表示を行うための駆
動回路を有する画像形成装置(図9)を作製したとこ
ろ、輝度むらや欠陥が少なかった。
Using the matrix wiring electron source substrate manufactured in this manner, an envelope is formed by the above-described face plate, support frame, and rear plate, sealed, and further sealed with the display panel (FIG. 7). When an image forming apparatus having a drive circuit for performing television display (FIG. 9) was manufactured, luminance unevenness and defects were small.

【0231】(実施例22)素子電極幅W1を600μ
m、素子電極ギャップ間隔L1を200μm、素子電極
の厚さdを1000Åで形成された素子電極がはしご型
に配線された基板を用い、実施例21と同様の方法で表
面伝導型電子放出素子を作製した。得られた電子源基板
を用いて、実施例21と同様な方法でフェースプレー
ト、支持枠、リアプレートとで外囲器を形成し、封止を
行い画像形成装置を作製した。その結果、実施例21と
同様な効果が得られた。
Example 22 The device electrode width W1 was set to 600 μm.
m, a device electrode gap interval L1 was 200 μm, and a device electrode formed with a device electrode thickness d of 1000 ° was ladder-shaped, and a surface conduction electron-emitting device was fabricated in the same manner as in Example 21. Produced. Using the obtained electron source substrate, an envelope was formed with a face plate, a support frame, and a rear plate in the same manner as in Example 21, and sealing was performed to produce an image forming apparatus. As a result, an effect similar to that of the example 21 was obtained.

【0232】(実施例23)実施例21と同様に、ギャ
ップ間隔L1を200μm、電極の幅W1を600μm、
その厚さdを1000Åの素子電極を形成した基板に、
同様のインクジェット噴射装置を用いて有機パラジウム
含有溶液を付与した。但し、パッドの形状を図33
(b)のように付与した。200μmギャップに対し、
実施例21の(2)に説明したようなより直径(φ)5
0μmのドットを、隣接ドットの中心間距離P1および
P2をいずれも25μm(φ/2)として左右・上下の
ドット同士が25μmずつ重なるように1列11個づ
つ、2列付与した。つまり幅W2=75μm、長さT=
300μmの長方形状のパッドを形成した。パッドの形
状以外は実施例21と同様に電子放出素子を作製したと
ころ、実施例21と同様な素子間のばらつきの小さい良
好な素子が得られた。また、上下方向のドット裂列を2
列にすることにより、抵抗が半分になった。すなわち、
ドット列数を変えることにより、所望の抵抗を得ること
ができる。このことから、パッドの幅W2は、素子電極
幅W1以下で、求める抵抗値、素子電極の幅およびギャ
ップ幅、アライメント精度により決定することができ
る。
Example 23 As in Example 21, the gap interval L1 was 200 μm, the electrode width W1 was 600 μm,
The thickness d is set on a substrate on which a device electrode of 1000 ° is formed.
An organic palladium-containing solution was applied using the same inkjet ejector. However, the shape of the pad is shown in FIG.
(B). For a 200 μm gap,
The diameter (φ) 5 as described in (2) of Example 21
Two 0-μm dots were provided, each with 11 rows and 11 dots so that the left and right and top and bottom dots overlap each other by 25 μm, with the center-to-center distances P1 and P2 of adjacent dots both set to 25 μm (φ / 2). That is, width W2 = 75 μm, length T =
A rectangular pad of 300 μm was formed. An electron-emitting device was manufactured in the same manner as in Example 21 except for the shape of the pad. As a result, a good device having the same small variation between devices as in Example 21 was obtained. In addition, the vertical dot crack row is 2
By queuing, the resistance was halved. That is,
By changing the number of dot rows, a desired resistance can be obtained. Accordingly, the pad width W2 can be determined to be equal to or less than the element electrode width W1, and to be determined by the required resistance value, element electrode width and gap width, and alignment accuracy.

【0233】(実施例24)素子電極のギャップ間隔を
20μmとした以外は、実施例21と同様の基板に図3
(c)のようなパッド形状に液滴付与を行ったところ、
実施例21と同様な素子間のばらつきの小さい良好な素
子が得られた。さらに素子電極のギャップ間隔が短いた
め、実施例21、22および23の場合よりギャップに
垂直な方向のアライメントが容易であった。また図33
(d)のようなパッドでも、同様な効果が得られた。
Example 24 A substrate similar to that of Example 21 was used except that the gap between the device electrodes was set to 20 μm.
When droplet application was performed in a pad shape as shown in (c),
A good device having a small variation between devices similar to that of Example 21 was obtained. Further, since the gap interval between the device electrodes was short, alignment in the direction perpendicular to the gap was easier than in the case of Examples 21, 22 and 23. FIG.
Similar effects were obtained with the pad shown in FIG.

【0234】(実施例25)実施例21〜24で用いた
圧電素子を用いるインクジェット噴射装置に替えて、バ
ブルジェット方式の液滴付与装置を用いたところ、それ
ら実施例21〜24の場合と同様の良好な素子および画
像形成装置が得られた。
(Example 25) A bubble jet type droplet applying device was used in place of the ink jet ejecting device using the piezoelectric element used in Examples 21 to 24, and it was the same as in Examples 21 to 24. , And an image forming apparatus were obtained.

【0235】(実施例26)フォトリソグラフィーによ
りマトリクス状に配線された素子電極を備えた基板を用
い、表面伝導型電子放出素子を形成し、電子源基板を作
製した。図2には、本実施例で作製した表面伝導型電子
放出素子の平面図(a)および断面図(b)を示す。以
下、表面伝導型電子放出素子について、図2を参照しな
がら製造工程1〜4に従って説明する。
Example 26 A surface conduction electron-emitting device was formed using a substrate provided with device electrodes wired in a matrix by photolithography, and an electron source substrate was manufactured. FIG. 2 shows a plan view (a) and a sectional view (b) of the surface conduction electron-emitting device manufactured in this example. Hereinafter, the surface conduction electron-emitting device will be described according to manufacturing steps 1 to 4 with reference to FIG.

【0236】製造工程1:絶縁性の基板(1)として石
英基板を用い、これを有機溶剤により十分に洗浄した。
この基板上に真空成膜技術およびフォトリソグラフィー
技術により、Niからなる素子電極(2,3)を形成し
た。このとき、素子電極の間隔(L)を2μm、素子電
極の幅(W1)を400μm、素子電極の厚さを100
0Åとした。
Manufacturing process 1: A quartz substrate was used as the insulating substrate (1), and this was sufficiently washed with an organic solvent.
Device electrodes (2, 3) made of Ni were formed on the substrate by a vacuum film forming technique and a photolithography technique. At this time, the interval (L) between the device electrodes was 2 μm, the width (W1) of the device electrode was 400 μm, and the thickness of the device electrode was 100 μm.
0 °.

【0237】製造工程2:素子電極(2,3)が形成さ
れた基板を純水によって超音波洗浄し、その後、温純水
による引き上げ乾燥を行った。次いで、HMDSを用い
て疎水化処理を行い(スピナーでHMDSを塗布し、オ
ーブンで200℃、15分間ベークを行い)、基板表面
を疎水性とした。この疎水化された基板上の素子電極
(2,3)の間をねらって、圧電素子を備えたインクジ
ェット噴射装置を用い、液滴付与装置から酢酸パラジウ
ムの0.05wt%水溶液を1滴(1ドット)付与し
た。このとき、基板上での液滴の形状は、着弾後でも広
がることもなく、安定性・再現性ともに良好であった。
Manufacturing process 2: The substrate on which the element electrodes (2, 3) were formed was ultrasonically cleaned with pure water, and then pulled up and dried with warm pure water. Next, a hydrophobic treatment was performed using HMDS (HMDS was applied by a spinner and baked in an oven at 200 ° C. for 15 minutes) to make the substrate surface hydrophobic. A droplet of a 0.05 wt% aqueous solution of palladium acetate (1%) was applied from a droplet applying device to an area between the device electrodes (2, 3) on the hydrophobized substrate using an ink jet ejecting device equipped with a piezoelectric element. Dot). At this time, the shape of the droplet on the substrate did not spread even after landing, and both stability and reproducibility were good.

【0238】製造工程3:液滴の付与後、300℃で1
0分間加熱処理をして、酸化パラジウム(PdO)の微
粒子からなる微粒子膜(導電性薄膜4)を形成した。な
お、ここで説明する微粒子膜とは、複数の微粒子が集合
した膜であり、その微粒子膜の構造は、微粒子が個々に
分散配置した状態のみならず、微粒子が互いに隣接ある
いは重なり合った状態(島状も含む。)の膜を指す。こ
のときの薄膜の幅(W2)は、基板上での液滴の形状か
ら1対1で決まるため、前述の液滴の形状の安定性・再
現性が良好であったため、薄膜の幅(W2)も一定の値
でそろっていた。本発明の製造方法によって、導電性薄
膜4のパターン形成の工程を省略できる。
Manufacturing step 3: After applying the droplets, at 300 ° C., 1
Heat treatment was performed for 0 minutes to form a fine particle film (conductive thin film 4) composed of fine particles of palladium oxide (PdO). Note that the fine particle film described here is a film in which a plurality of fine particles are aggregated. The structure of the fine particle film is not only a state in which the fine particles are individually dispersed and arranged, but also a state in which the fine particles are adjacent to each other or overlap each other (an island). Shape). At this time, the width (W2) of the thin film is determined on a one-to-one basis from the shape of the droplet on the substrate, and the stability and reproducibility of the shape of the droplet described above were good. ) Also had a fixed value. According to the manufacturing method of the present invention, the step of forming the pattern of the conductive thin film 4 can be omitted.

【0239】製造工程4:素子電極(2,3)の間に電
圧を印加し、導電性薄膜4を通電処理(フォーミング処
理)することにより電子放出部5を形成した。
Manufacturing Step 4: Electron emission portions 5 were formed by applying a voltage between the device electrodes (2, 3) and conducting (forming) the conductive thin film 4.

【0240】以上のようにして作製した表面伝導型電子
放出素子を備えたマトリクス配線による電子源基板を用
いて、前述の図7のフェースプレート1086と支持枠
1082とリアプレート1081とで外囲器1088を
形成し、封止を行って表示パネルを作製し、さらにNT
SC方式のテレビ信号に基づいてテレビジョン表示を行
うための図9に示すような駆動回路を有する画像形成装
置を作製した。
By using the electron source substrate formed by the matrix wiring provided with the surface conduction electron-emitting devices manufactured as described above, an envelope is formed by the face plate 1086, the support frame 1082, and the rear plate 1081 of FIG. 1088 is formed, sealed, and a display panel is manufactured.
An image forming apparatus having a drive circuit as shown in FIG. 9 for performing television display based on the SC television signal was manufactured.

【0241】本発明の画像形成装置から得られた画像
は、大画面の全領域にわたって均一で良好であった。
The image obtained from the image forming apparatus of the present invention was uniform and good over the entire area of the large screen.

【0242】(実施例27)素子電極(2,3)の幅
(W1)を600μm、素子電極の間隔(L)を2μ
m、素子電極の厚さを1000オングストロームとして
形成し、はしご状に配線した素子電極を備えた基板(図
13)を用い、実施例21と同様な方法で表面伝導型電
子放出素子を作製し、電子源基板を形成した。得られた
電子源基板を用いて、前述の図11のフェースプレート
1086とグリッド電極1120、支持枠1082、リ
アプレート1124とで外囲器を形成し、封止を行って
表示パネルを作製し、さらにNTSC方式のテレビ信号
に基づいてテレビジョン表示を行うための図9に示すよ
うな駆動回路を有する画像形成装置を作製した。
(Example 27) The width (W1) of the device electrodes (2, 3) was 600 μm, and the distance (L) between the device electrodes was 2 μm.
m, the thickness of the device electrode was formed to be 1000 Å, and a surface conduction electron-emitting device was manufactured in the same manner as in Example 21 by using a substrate (FIG. 13) provided with device electrodes wired in a ladder shape. An electron source substrate was formed. Using the obtained electron source substrate, an envelope is formed by the face plate 1086, the grid electrode 1120, the support frame 1082, and the rear plate 1124 in FIG. 11 described above, and sealing is performed to produce a display panel. Further, an image forming apparatus having a drive circuit as shown in FIG. 9 for performing television display based on NTSC television signals was manufactured.

【0243】そうしたところ、実施例26と同様な効果
が得られた。
As a result, the same effect as in the twenty-sixth embodiment was obtained.

【0244】(実施例28)フォトリソグラフィーによ
りマトリクス状に配線された素子電極を備えた基板(図
13)を用い、バブルジェット方式のインクジェット装
置を使用し、実施例26と同様にして表面伝導型電子放
出素子を形成し、電子源基板を作製した。得られた電子
源基板を用いて、実施例26と同様な方法でフェースプ
レート1086と支持枠1082とリアプレート108
1とで外囲器1088を形成し、封止を行って表示パネ
ルを作製し、さらにNTSC方式のテレビ信号に基づい
てテレビジョン表示を行うための図9に示すような駆動
回路を有する画像形成装置を作製した。
Example 28 Using a substrate (FIG. 13) provided with element electrodes wired in a matrix by photolithography and using a bubble jet type ink jet apparatus, a surface conduction type An electron emission element was formed, and an electron source substrate was manufactured. Using the obtained electron source substrate, the face plate 1086, the support frame 1082, and the rear plate 108 are formed in the same manner as in the twenty-sixth embodiment.
1 to form an enclosure 1088, seal the display panel, and further form a display panel as shown in FIG. 9 for performing television display based on an NTSC television signal. The device was made.

【0245】そうしたところ、実施例26と同様な効果
が得られた。
As a result, the same effect as in the twenty-sixth embodiment was obtained.

【0246】(実施例29)フォトリソグラフィーによ
りはしご状に配線された素子電極を備えた基板(図1
3)を用い、バブルジェット方式のインクジェット装置
を使用し、実施例26と同様にして表面伝導型電子放出
素子を形成し、電子源基板を作製した。得られた電子源
基板を用いて、前述したようにして表示パネルを作製
し、さらにNTSC方式のテレビ信号に基づいてテレビ
ジョン表示を行うための図9に示すような駆動回路を有
する画像形成装置を作製した。
Example 29 A substrate provided with device electrodes wired in a ladder shape by photolithography (FIG. 1)
Using 3), a surface conduction electron-emitting device was formed in the same manner as in Example 26 using an ink-jet apparatus of a bubble jet system, and an electron source substrate was manufactured. An image forming apparatus having a drive circuit as shown in FIG. 9 for producing a display panel as described above using the obtained electron source substrate and further performing television display based on an NTSC television signal. Was prepared.

【0247】そうしたところ、実施例26と同様な効果
が得られた。
As a result, the same effect as in the twenty-sixth embodiment was obtained.

【0248】(実施例30)フォトリソグラフィーによ
りマトリクス状に配線された素子電極を備えた基板(図
12)を用い、表面伝導型電子放出素子を形成し、電子
源基板を作製した。図34には、本実施例で作製した表
面伝導型電子放出素子の平面図を示す。以下に、表面伝
導型電子放出素子について、製造工程1〜4に従って説
明する。
Example 30 A surface conduction electron-emitting device was formed using a substrate (FIG. 12) provided with device electrodes wired in a matrix by photolithography, and an electron source substrate was manufactured. FIG. 34 is a plan view of the surface conduction electron-emitting device manufactured in this example. Hereinafter, the surface conduction electron-emitting device will be described in accordance with manufacturing steps 1 to 4.

【0249】製造工程1:絶縁性の基板(1)として石
英基板を用い、これを有機溶剤により十分に洗浄した。
この基板上に真空成膜技術およびフォトリソグラフィー
技術により、Niからなる素子電極(2,3)を形成し
た。このとき、素子電極の間隔(L)を2μm、素子電
極の幅(W1)を600μm、素子電極の厚さを100
0オングストロームとした。
Manufacturing process 1: A quartz substrate was used as the insulating substrate (1), and this was sufficiently washed with an organic solvent.
Device electrodes (2, 3) made of Ni were formed on the substrate by a vacuum film forming technique and a photolithography technique. At this time, the interval (L) between the device electrodes is 2 μm, the width (W1) of the device electrode is 600 μm, and the thickness of the device electrode is 100 μm.
0 angstrom.

【0250】製造工程2:素子電極(2,3)が形成さ
れた基板を純水によって超音波洗浄し、その後、温純水
による引き上げ乾燥を行った。次いで、HMDSを用い
て疎水化処理を行い(スピナーでHMDSを塗布し、オ
ーブンで200℃、15分間ベークを行い)、基板表面
を疎水性とした。この疎水化された基板上の素子電極
(2,3)の間をねらって、圧電素子を備えたインクジ
ェット噴射装置を用い、液滴付与装置から酢酸パラジウ
ムの0.05wt%水溶液を2滴(2ドット)並べて付
与した。このとき、基板上での液滴の形状は、着弾後で
も広がることもなく、安定性・再現性ともに良好であっ
た。
Manufacturing process 2: The substrate on which the element electrodes (2, 3) were formed was ultrasonically cleaned with pure water, and then pulled up and dried with warm pure water. Next, a hydrophobic treatment was performed using HMDS (HMDS was applied by a spinner and baked in an oven at 200 ° C. for 15 minutes) to make the substrate surface hydrophobic. Aiming at between the device electrodes (2, 3) on the hydrophobized substrate, two droplets (2%) of a 0.05 wt% aqueous solution of palladium acetate (2 (Dots). At this time, the shape of the droplet on the substrate did not spread even after landing, and both stability and reproducibility were good.

【0251】製造工程3:液滴の付与後、300℃で1
0分間加熱処理をして、酸化パラジウム(PdO)の微
粒子からなる微粒子膜(導電性薄膜4)を形成した。な
お、ここで説明する微粒子膜とは、複数の微粒子が集合
した膜であり、その微粒子膜の構造は、微粒子が個々に
分散配置した状態のみならず、微粒子が互いに隣接ある
いは重なり合った状態(島状も含む。)の膜を指す。こ
のときの薄膜の幅(W2)は、基板上での液滴の形状か
ら1対1で決まるため、前述の液滴の形状の安定性・再
現性が良好であったため、薄膜の幅(W2)も一定の値
でそろっていた。本発明の製造方法によって、導電性薄
膜4のパターン形成の工程を省略できる。
Manufacturing process 3: After applying the droplets, at 300 ° C., 1
Heat treatment was performed for 0 minutes to form a fine particle film (conductive thin film 4) composed of fine particles of palladium oxide (PdO). Note that the fine particle film described here is a film in which a plurality of fine particles are aggregated. The structure of the fine particle film is not only a state in which the fine particles are individually dispersed and arranged, but also a state in which the fine particles are adjacent to each other or overlap each other (an island). Shape). At this time, the width (W2) of the thin film is determined on a one-to-one basis from the shape of the droplet on the substrate, and the stability and reproducibility of the shape of the droplet described above were good. ) Also had a fixed value. According to the manufacturing method of the present invention, the step of forming the pattern of the conductive thin film 4 can be omitted.

【0252】製造工程4:素子電極(2,3)の間に電
圧を印加し、導電性薄膜(4)を通電処理(フォーミン
グ処理)することにより電子放出部(5)を形成した。
Manufacturing Process 4: A voltage was applied between the device electrodes (2, 3), and the conductive thin film (4) was subjected to an energizing process (forming process) to form an electron-emitting portion (5).

【0253】以上のようにして作製した表面伝導型電子
放出素子を備えた電子源基板を用いて、前述の図7のよ
うにフェースプレート1086と支持枠1082とリア
プレート1081とで外囲器1088を形成し、封止を
行って表示パネルを作製し、さらにNTSC方式のテレ
ビ信号に基づいてテレビジョン表示を行うための図9に
示すような駆動回路を有する画像形成装置を作製した。
Using the electron source substrate provided with the surface conduction electron-emitting device manufactured as described above, the envelope 1088 is formed by the face plate 1086, the support frame 1082, and the rear plate 1081 as shown in FIG. Was formed, sealing was performed to produce a display panel, and an image forming apparatus having a drive circuit as shown in FIG. 9 for performing television display based on an NTSC television signal was produced.

【0254】そうしたところ、実施例26と同様な効果
が得られた。
As a result, the same effects as in the twenty-sixth embodiment were obtained.

【0255】(実施例31)フォトリソグラフィーによ
りマトリクス状に配線された素子電極を備えた基板(図
12)を用い、素子電極間に付与する液滴数を1つの導
電性薄膜の形成に対して2つとした以外は、実施例26
と同様にして表面伝導型電子放出素子を形成し、電子源
基板を作製した。液滴の付与工程において、液滴付与装
置および液滴付与時の諸条件は実施例26と同様とし、
さらに液滴の1滴(1ドット)あたりの溶液量も実施例
26の場合と同一とした。このとき形成された導電性薄
膜の厚さは、実施例26の場合の2倍であった。このよ
うに付与する液滴の溶液量や液滴数によって形成する導
電性薄膜の膜厚が制御できる。
Example 31 Using a substrate (FIG. 12) provided with device electrodes wired in a matrix by photolithography, the number of droplets to be applied between the device electrodes was determined for forming one conductive thin film. Example 26 except for two
A surface conduction electron-emitting device was formed in the same manner as described above, and an electron source substrate was manufactured. In the droplet applying step, the droplet applying device and the conditions at the time of applying the droplet are the same as those in Example 26.
Further, the solution amount per one droplet (one dot) was the same as that in Example 26. The thickness of the conductive thin film formed at this time was twice that in Example 26. As described above, the thickness of the conductive thin film to be formed can be controlled by the amount of the applied droplets and the number of droplets.

【0256】以上のようにして作製した表面伝導型電子
放出素子を備えた電子源基板を用いて、実施例26と同
様な方法でパネルおよび画像形成装置を作製した。
A panel and an image forming apparatus were manufactured in the same manner as in Example 26, using the electron source substrate provided with the surface conduction electron-emitting device manufactured as described above.

【0257】そうしたところ、実施例26と同様な効果
が得られた。
As a result, the same effects as in the twenty-sixth embodiment were obtained.

【0258】(実施例32:参考例) 以上、これまで述べてきた全ての電子放出素子の製造手
順は、基板上に素子電極(あるいは素子電極および配線
電極の両者)を作製した後に液滴を付与し、それを焼成
して導電性薄膜を形成するという順序であったが、まず
最初に液滴を付与・焼成し導電性薄膜を形成した後に、
素子電極(あるいは素子電極および配線電極の両者)を
形成しても一向に構わない。この素子電極の形成に先だ
って、液滴を付与・焼成により導電性薄膜を形成する手
法においては、液滴の素子電極への吸い込みを防止する
ことができるため、制御性良く導電性薄膜を形成するこ
とができる。この製造手順による実施例を以下に説明す
る。
(Example 32 : Reference Example ) As described above, the manufacturing procedure of all the electron-emitting devices described above is based on a method in which a droplet is formed after a device electrode (or both a device electrode and a wiring electrode) is formed on a substrate. It was in the order of applying and firing it to form a conductive thin film, but first applying and firing droplets to form a conductive thin film,
Even if an element electrode (or both an element electrode and a wiring electrode) is formed, it does not matter. In the method of forming a conductive thin film by applying and firing a droplet before forming the device electrode, it is possible to prevent the droplet from being sucked into the device electrode, and thus to form the conductive thin film with good controllability. be able to. An example according to this manufacturing procedure will be described below.

【0259】図35は、単素子の製造方法を示す図であ
る。
FIG. 35 is a diagram showing a method for manufacturing a single element.

【0260】この絶縁性の基板としての石英基板1を用
い、これを有機溶剤により十分に洗浄した。この基板上
ほぼ中央に圧電素子によるインクジェット噴射装置7よ
り酢酸パラジウムの0.05wt%水溶液24を1滴付
与した(図35(a1)、(a2))(この場合、1滴で
あるが、所望の膜が得られるよう複数滴でもよい)。
The quartz substrate 1 as the insulating substrate was used, and was thoroughly washed with an organic solvent. One drop of 0.05 wt% aqueous solution 24 of palladium acetate was applied from the inkjet ejecting apparatus 7 using a piezoelectric element to almost the center of the substrate (FIGS. 35 (a1) and (a2)). Or a plurality of drops so as to obtain a film).

【0261】液滴付与後、300℃で10分間加熱焼成
して、酸化パラジウム(PdO)微粒子のドット状導電
性薄膜4を形成した(図35(b1)、(b2))。
After the application of the droplets, the substrate was heated and baked at 300 ° C. for 10 minutes to form a dot-shaped conductive thin film 4 of palladium oxide (PdO) fine particles (FIGS. 35 (b1) and (b2)).

【0262】上記のようにドット状の導電性薄膜が形成
された基板に真空成膜およびフォトリソグラフィー技術
により、Niからなる素子電極2、3を形成した(図3
5(c1)、(c2))。このとき、素子電極間隔L1を
10μm、素子電極の幅W1を400μm、素子電極の
膜厚を1000Åとし、また、素子電極間隔の中心とド
ット状の導電性薄膜の中心とはほぼ一致するようにし
た。
The device electrodes 2 and 3 made of Ni were formed on the substrate on which the dot-shaped conductive thin film was formed as described above by vacuum film formation and photolithography (FIG. 3).
5 (c1), (c2)). At this time, the element electrode interval L1 was set to 10 μm, the element electrode width W1 was set to 400 μm, the element electrode film thickness was set to 1000 °, and the center of the element electrode interval was almost coincident with the center of the dot-shaped conductive thin film. did.

【0263】素子電極2、3の間に電圧を印加し、導電
性薄膜4を通電処理(フォーミング処理)することによ
り、電子放出部5を形成した(図35(c1)、(c
2))。以上の方法は、単素子の作製法であるが、同様
にして表面伝導型電子放出素子を複数個備えたマトリク
ス配線による電子源基板を作製することもできる。作製
した電子源基板を図36に示す。ここで、マトリクス状
配線の素子電極は、真空成膜・フォトリソグラフィー法
で作製したもので、X配線とY配線とは交差部において
不図示の絶縁部材により電気的に絶縁されている。さら
に前述の図7のようにフェースプレート1086と支持
枠1082とリアプレート1081とで外囲器1088
を形成し、封止を行って表示パネルを作製した。さら
に、NTSC方式のテレビ信号に基づいてテレビジョン
表示を行うための図9に示すような駆動回路を有する画
像形成装置を作製した。なお、電子源基板としては、図
37に示したものをも使用することができる。
By applying a voltage between the device electrodes 2 and 3 and conducting (forming) the conductive thin film 4, an electron-emitting portion 5 was formed (FIGS. 35 (c1), (c)).
2)). Although the above method is a method for manufacturing a single element, it is also possible to similarly manufacture an electron source substrate using matrix wiring provided with a plurality of surface conduction electron-emitting devices. FIG. 36 shows the manufactured electron source substrate. Here, the element electrodes of the matrix wiring are manufactured by vacuum film formation / photolithography, and the X wiring and the Y wiring are electrically insulated by an insulating member (not shown) at the intersection. Further, as shown in FIG. 7, the envelope 1088 is formed by the face plate 1086, the support frame 1082, and the rear plate 1081.
Was formed and sealing was performed to produce a display panel. Further, an image forming apparatus having a drive circuit as shown in FIG. 9 for performing television display based on NTSC television signals was manufactured. Note that the electron source substrate shown in FIG. 37 can also be used.

【0264】本例の画像形成装置の画像もこれまでの場
合と同様、大画面の全領域にわたって均一で良好であっ
た。
The image formed by the image forming apparatus of this example was uniform and excellent over the entire area of the large screen, as in the case up to now.

【0265】(実施例33:参考例) ドット状導電性薄膜を実施例32と全く同様の方法で複
数個形成後、素子電極2、3の幅W1を600μm、素
子電極間隔を10μm、素子電極の厚さを1000Åと
したはしご状配線付きの複数個の素子電極がドット状導
電性薄膜上に来るよう真空成膜・フォトリソグラフィー
法により、図37のような電子源基板を形成した。さら
に、前述の図11のようにフェースプレート1086と
支持枠1082とリアプレート1124とで外囲器を形
成し、封止を行って表示パネルを作製した。さらに、N
TSC方式のテレビ信号に基づいてテレビジョン表示を
行うための図9に示すような駆動回路を有する画像形成
装置を作製した。
(Example 33 : Reference example ) After forming a plurality of dot-like conductive thin films in exactly the same manner as in Example 32, the width W1 of the device electrodes 2 and 3 was 600 µm, the distance between the device electrodes was 10 µm, and the device electrodes were formed. An electron source substrate as shown in FIG. 37 was formed by vacuum film formation and photolithography so that a plurality of device electrodes with ladder-like wiring having a thickness of 1000 mm were placed on the dot-shaped conductive thin film. Further, as shown in FIG. 11 described above, an envelope was formed by the face plate 1086, the support frame 1082, and the rear plate 1124, and sealing was performed to produce a display panel. Furthermore, N
An image forming apparatus having a driving circuit as shown in FIG. 9 for performing television display based on a TSC system television signal was manufactured.

【0266】本例の画像形成装置も、実施例32と同様
に優れた画像を安定して表示できた。
The image forming apparatus of the present example was also able to stably display excellent images in the same manner as in Example 32.

【0267】(実施例34:参考例) 上記実施例32および33では、インクジェット噴射装
置に圧電素子を用いるタイプを用いたが、熱により気泡
を発生させるバブルジェット式のインクジェット装置を
用いることもできる。その方法によって、マトリクス配
線による電子源基板を用いた画像形成装置、ならびに、
はしご型配線を用いた画像形成装置を作製したところ、
実施例32、33と同様のものを作製できた。
(Embodiment 34 : Reference Example ) In the above embodiments 32 and 33, a type using a piezoelectric element as the ink jet ejecting apparatus was used, but a bubble jet type ink jet apparatus which generates bubbles by heat may be used. . By the method, an image forming apparatus using an electron source substrate by matrix wiring, and
When an image forming apparatus using ladder-type wiring was manufactured,
The same products as in Examples 32 and 33 could be produced.

【0268】[0268]

【発明の効果】以上説明した通り、本発明の表示パネル
では、電子放出部を構成する導電性薄膜を金属元素を含
有する溶液を液滴の形態で付与して形成されることか
ら、所定の位置に所望の量が付与されており、電子放出
素子の製造工程が大幅に低減されている。
As described above, in the display panel of the present invention, the conductive thin film constituting the electron-emitting portion is formed by applying the solution containing the metal element in the form of droplets. A desired amount is provided at the position, and the manufacturing process of the electron-emitting device is greatly reduced.

【0269】さらに、本発明の表示パネルでは、製造過
程で、液滴の情報を検出し液滴に基づいて吐出条件およ
び吐出位置の補正、液滴の再付与を行うことにより形成
されることにより、欠陥の極めて少ない均一な薄膜が形
成されている。これにより、素子特性均一性の飛躍的な
向上が実現でき、大面積化に伴う歩留り低下の問題を解
決できる。
Further, the display panel of the present invention is formed by detecting the information of the droplets in the manufacturing process, correcting the ejection condition and the ejection position based on the droplets, and re-applying the droplets. Thus, a uniform thin film with extremely few defects is formed. As a result, a drastic improvement in the uniformity of the element characteristics can be realized, and the problem of a decrease in the yield due to the increase in the area can be solved.

【0270】さらに、本発明の表示パネルでは、製造過
程で、電子放出部を構成する金属材料を、分散または溶
解した含有溶液を液滴の形態で複数個付与する工程にお
いて、個々のドットの中心間の距離を1ドットの直径よ
り短い距離で付与してマルチパターン(パッド)が形成
されることにより、電子放出部を構成する導電性膜が極
めて高い精度で形成されている。
Further, in the display panel of the present invention, in the step of applying a plurality of solutions containing the metal material constituting the electron-emitting portion in the form of droplets in the manufacturing process, the center of each dot is formed. By forming a multi-pattern (pad) with the distance between the dots being shorter than the diameter of one dot, a conductive film constituting the electron-emitting portion is formed with extremely high precision.

【0271】さらに、本発明の表示パネルでは、その製
造過程で、付与する液滴の溶液を親水性とし、その溶液
を素子電極を有する基板上に付与する際に、基板の表面
上が疎水性になるように基板の表面処理を行うことによ
って、導電性薄膜が再現性よく形成でき、均質な表面伝
導型電子放出素子を作製できるため、大面積にわたって
多数の表面伝導型電子放出素子を作製した場合でも、均
一な電子放出特性が得られる。
Further, in the display panel of the present invention, during the manufacturing process, the solution of the droplet to be applied is made hydrophilic, and when the solution is applied onto the substrate having the device electrodes, the surface of the substrate becomes hydrophobic. By conducting the surface treatment of the substrate so that a conductive thin film can be formed with good reproducibility and a uniform surface conduction electron-emitting device can be produced, a large number of surface conduction electron-emitting devices were produced over a large area. Even in this case, uniform electron emission characteristics can be obtained.

【0272】また、本発明の表示パネルは、電子放出素
子を構成する導電性薄膜が的確な位置に均一に配される
ことから、優れた特性を安定して発揮できる。
Further, the display panel of the present invention can stably exhibit excellent characteristics because the conductive thin film constituting the electron-emitting device is uniformly arranged at a proper position.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】電子放出素子の製造手順の1例を示す工程図で
ある。
FIG. 1 is a process chart showing an example of a manufacturing procedure of an electron-emitting device.

【図2】電子放出素子の1例を示す模式図である。FIG. 2 is a schematic diagram showing one example of an electron-emitting device.

【図3】電子放出素子の別の1例の模式的平面図であ
る。
FIG. 3 is a schematic plan view of another example of the electron-emitting device.

【図4】電子放出素子製造時の通電フォーミングにおけ
る電圧波形を示すグラフであり、(a)はパルス波高値
が一定の場合、(b)はパルス波高値が増加する場合で
ある。
FIGS. 4A and 4B are graphs showing voltage waveforms during energization forming at the time of manufacturing an electron-emitting device. FIG. 4A shows a case where the pulse peak value is constant, and FIG. 4B shows a case where the pulse peak value increases.

【図5】電子放出特性を測定するための測定評価装置の
概略構成図である。
FIG. 5 is a schematic configuration diagram of a measurement evaluation device for measuring electron emission characteristics.

【図6】単純マトリクス配置の電子源の1例を示す模式
的部分平面図である。
FIG. 6 is a schematic partial plan view showing an example of an electron source having a simple matrix arrangement.

【図7】画像形成装置の1例の概略構成図である。FIG. 7 is a schematic configuration diagram of an example of an image forming apparatus.

【図8】蛍光膜の構成を示す模式的部分図であり、
(a)はブラックストライプの設けられたもの、(b)
はブラックマトリクスの設けられたものの図である。
FIG. 8 is a schematic partial view showing a configuration of a fluorescent film,
(A) is provided with a black stripe, (b)
FIG. 3 is a diagram of a device provided with a black matrix.

【図9】画像形成装置の1例における駆動回路であっ
て、NTSC方式のテレビ信号に応じて表示を行うため
の駆動回路のブロック図である。
FIG. 9 is a block diagram of a drive circuit in one example of the image forming apparatus, which performs display according to an NTSC television signal.

【図10】はしご配置の電子源の模式図である。FIG. 10 is a schematic diagram of an electron source in a ladder arrangement.

【図11】画像表示装置の1例を示す、一部を破断した
概観斜視図である。
FIG. 11 is a partially cutaway perspective view showing an example of an image display device.

【図12】素子電極がマトリクス状に形成された基板の
模式図である。
FIG. 12 is a schematic view of a substrate on which element electrodes are formed in a matrix.

【図13】はしご状に配線された素子電極を有する基板
の模式図である。
FIG. 13 is a schematic view of a substrate having element electrodes wired in a ladder shape.

【図14】本発明の表示パネルの製造における液滴付与
工程の1例を示す概略図である。
FIG. 14 is a schematic view showing one example of a droplet applying step in the production of the display panel of the present invention.

【図15】本発明の表示パネルの製造方法の1例につい
ての流れを示すフローチャートである。
FIG. 15 is a flowchart showing a flow of an example of a method for manufacturing a display panel of the present invention.

【図16】本発明の表示パネルの製造方法における液滴
付与工程の他の1例を示す概略図である。
FIG. 16 is a schematic view showing another example of the droplet applying step in the display panel manufacturing method of the present invention.

【図17】本発明の表示パネルの製造方法における液滴
付与工程の別の1例を示す概略図である。
FIG. 17 is a schematic view showing another example of the droplet applying step in the display panel manufacturing method of the present invention.

【図18】本発明の表示パネルの製造に用いられる製造
装置における検出光学系/吐出ノズルの構成を示す概略
図であり、(a)は垂直反射型、(b)は斜方反射型お
よび(c)は垂直透過型のものである。
FIGS. 18A and 18B are schematic diagrams showing a configuration of a detection optical system / discharge nozzle in a manufacturing apparatus used for manufacturing a display panel of the present invention, wherein FIG. 18A is a vertical reflection type, FIG. c) is of the vertical transmission type.

【図19】本発明の表示パネルの製造に用いられる製造
装置における垂直反射型検出光学系/吐出ノズルの動作
を示す概略図であり、(a)は液滴情報検出時、(b)
は吐出時を示す図である。
FIGS. 19A and 19B are schematic diagrams showing the operation of a vertical reflection type detection optical system / ejection nozzle in a manufacturing apparatus used for manufacturing a display panel of the present invention, wherein FIG.
FIG. 7 is a diagram showing a state at the time of ejection.

【図20】本発明の表示パネルの製造に用いられる製造
装置における垂直透過型検出光学系/吐出ノズルの動作
を示す概略図であり、(a)は液滴情報検出時、(b)
は吐出時の図である。
20A and 20B are schematic diagrams illustrating the operation of a vertical transmission type detection optical system / ejection nozzle in a manufacturing apparatus used for manufacturing a display panel according to the present invention. FIG.
Is a diagram at the time of ejection.

【図21】電子線発生装置の1例の概略を示す斜視図で
ある。
FIG. 21 is a perspective view schematically showing an example of an electron beam generator.

【図22】10×10単純マトリクス配線基板上にイン
クジェット法によって電子放出素子が形成された本発明
の電子源基板の1例を示す模式図である。
FIG. 22 is a schematic diagram showing one example of an electron source substrate of the present invention in which electron-emitting devices are formed on a 10 × 10 simple matrix wiring substrate by an ink-jet method.

【図23】本発明の製造装置における吐出制御系の1例
についてのブロック図である。
FIG. 23 is a block diagram of one example of an ejection control system in the manufacturing apparatus of the present invention.

【図24】本発明の製造装置における垂直反射型光学検
出系の1例についての構成図である。
FIG. 24 is a configuration diagram of an example of a vertical reflection type optical detection system in the manufacturing apparatus of the present invention.

【図25】本発明の表示パネル製造に用いられる製造装
置における吐出制御系の1例についてのブロック図であ
る。
FIG. 25 is a block diagram illustrating an example of an ejection control system in a manufacturing apparatus used for manufacturing a display panel according to the present invention.

【図26】本発明の表示パネル製造に用いられる製造装
置における吐出制御系の1例についてのブロック図であ
る。
FIG. 26 is a block diagram illustrating an example of an ejection control system in a manufacturing apparatus used for manufacturing a display panel according to the present invention.

【図27】本発明の表示パネル製造に用いられる製造装
置における吐出制御系の1例についてのブロック図であ
る。
FIG. 27 is a block diagram illustrating an example of an ejection control system in a manufacturing apparatus used for manufacturing a display panel according to the present invention.

【図28】本発明の表示パネル製造に用いられる製造装
置における除去ノズルによる異常セル補正の概略図であ
る。
FIG. 28 is a schematic diagram of abnormal cell correction by a removal nozzle in a manufacturing apparatus used for manufacturing a display panel of the present invention.

【図29】本発明の表示パネル製造に用いられる製造装
置における吐出制御系の1例についてのブロック図であ
る。
FIG. 29 is a block diagram illustrating an example of an ejection control system in a manufacturing apparatus used for manufacturing a display panel according to the present invention.

【図30】変位補正複合型吐出制御系による異常セル補
正の概略図である。
FIG. 30 is a schematic diagram of abnormal cell correction by the displacement correction combined discharge control system.

【図31】表面伝導型電子放出素子のインクジェット法
による素子構成のバリエーションを示す模式図である。
FIG. 31 is a schematic view showing a variation of a device configuration of a surface conduction electron-emitting device by an inkjet method.

【図32】本出願で示した製造方法におけるドットおよ
びパッド形成の基本パターンを示す模式的図であり、
(a)は隣り合うドット間の距離を示す図、(b)は素
子電極間に形成されるパッドの図である。
FIG. 32 is a schematic diagram showing a basic pattern for forming dots and pads in the manufacturing method shown in the present application;
(A) is a diagram showing a distance between adjacent dots, and (b) is a diagram of a pad formed between element electrodes.

【図33】本出願で示した製造方法におけるパッド形成
のパターンの例を示す模式図である。
FIG. 33 is a schematic view illustrating an example of a pad formation pattern in the manufacturing method described in the present application.

【図34】表面伝導型電子放出素子の1例を示した平面
図である。
FIG. 34 is a plan view showing one example of a surface conduction electron-emitting device.

【図35】表面伝導型電子放出素子の製造方法の1例を
示す工程図である。
FIG. 35 is a process drawing showing one example of a method for manufacturing a surface conduction electron-emitting device.

【図36】マトリクス型配線の電子源基板の1例を示す
模式図である。
FIG. 36 is a schematic view showing an example of an electron source substrate having matrix wiring.

【図37】はしご型配線の電子源基板の1例を示す模式
図である。
FIG. 37 is a schematic diagram showing an example of an electron source substrate of ladder-type wiring.

【図38】従来の表面伝導型電子放出素子の1例の模式
図である。
FIG. 38 is a schematic view of an example of a conventional surface conduction electron-emitting device.

【図39】従来の表面伝導型電子放出素子の1例の模式
図である。
FIG. 39 is a schematic view of an example of a conventional surface conduction electron-emitting device.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 基板 2、3 素子電極 4 導電性薄膜 5 電子放出部 7 液滴付与装置(インクジェット噴射装置) 8 発光手段 9 受光手段 10 ステージ 11 コントローラ 12 制御手段 24 液滴 72 X配線 73 Y配線 80 電流計 81 電源 82 電流計 83 高圧電源 84 アノード電極 85 真空装置 86 排気ポンプ 91 電子源基板 92 X方向配線 93 Y方向配線 94 表面伝導型電子放出素子 95 結線 1081 リアプレート 1082 支持枠 1083 ガラス基板 1084 蛍光膜 1085 メタルバック 1086 フェースプレート 1087 高圧端子 1088 外囲器 1091 黒色導電材 1092 蛍光体 1093 ガラス基板 1101 表示パネル 1102 走査回路 1103 制御回路 1104 シフトレジスタ 1105 ラインメモリ 1106 同期信号分離回路 1107 変調信号発生器 1110 電子源基板 1111 電子放出素子 1112 共通配線 1120 グリッド電極 1121 空孔 1122 容器外端子 1123 容器外端子 1124 電子源基板 1201 電子放出部形成領域 1301 基板 1302 配線 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Substrate 2, 3 Element electrode 4 Conductive thin film 5 Electron emission part 7 Droplet provision device (ink jet ejection device) 8 Light emitting means 9 Light receiving means 10 Stage 11 Controller 12 Control means 24 Droplet 72 X wiring 73 Y wiring 80 Ammeter Reference Signs List 81 power supply 82 ammeter 83 high-voltage power supply 84 anode electrode 85 vacuum device 86 exhaust pump 91 electron source substrate 92 X-direction wiring 93 Y-direction wiring 94 surface conduction electron-emitting device 95 connection 1081 rear plate 1082 support frame 1083 glass substrate 1084 fluorescent film 1085 Metal back 1086 Face plate 1087 High voltage terminal 1088 Enclosure 1091 Black conductive material 1092 Phosphor 1093 Glass substrate 1101 Display panel 1102 Scanning circuit 1103 Control circuit 1104 Shift register 1105 Line memory 1106 Synchronization signal separation circuit 1107 Modulation signal generator 1110 Electron source substrate 1111 Electron emitting element 1112 Common wiring 1120 Grid electrode 1121 Vacancy 1122 Out-of-container terminal 1123 Out-of-container terminal 1124 Electron source substrate 1201 Electron emission part forming area 1301 Substrate 1302 Wiring

フロントページの続き (31)優先権主張番号 特願平7−156321 (32)優先日 平成7年6月22日(1995.6.22) (33)優先権主張国 日本(JP) (72)発明者 長谷川 光利 東京都大田区下丸子3丁目30番2号 キ ヤノン株式会社内 (72)発明者 貴志 悦朗 東京都大田区下丸子3丁目30番2号 キ ヤノン株式会社内 (72)発明者 宮本 雅彦 東京都大田区下丸子3丁目30番2号 キ ヤノン株式会社内 (56)参考文献 特開 昭64−5095(JP,A) 特開 昭62−181490(JP,A) 特開 昭63−200041(JP,A) 特開 昭64−64290(JP,A) 特開 平1−296532(JP,A) 特開 平11−317160(JP,A) 特開 平4−121702(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H01J 9/02 H05K 3/10 - 3/12 H01B 13/00 Continued on front page (31) Priority claim number Japanese Patent Application No. Hei 7-156321 (32) Priority date June 22, 1995 (June 22, 1995) (33) Priority claim country Japan (JP) (72) Inventor Mitsutoshi Hasegawa 3-30-2 Shimomaruko, Ota-ku, Tokyo Inside Canon Inc. (72) Inventor Etsuro Kishi 3-30-2, Shimomaruko 3-chome, Ota-ku, Tokyo Inside Canon Inc. Masahiko 3-30-2 Shimomaruko, Ota-ku, Tokyo Inside Canon Inc. (56) References JP-A-64-5095 (JP, A) JP-A-62-181490 (JP, A) JP-A-63-200041 (JP, A) JP-A-64-64290 (JP, A) JP-A-1-296532 (JP, A) JP-A-11-317160 (JP, A) JP-A-4-121702 (JP, A) ( 58) Fields investigated (Int.Cl. 7 , DB name) H01J 9/02 H05K 3/10-3/12 H01B 13/00

Claims (15)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 一対の素子電極と、該一対の素子電極間
に電子放出部を含む導電性薄膜とを有する電子放出素子
の複数が配置されたリアプレートと、該電子放出素子と
対向して配置された蛍光膜を有するフェースプレートと
を備える表示パネルの製造方法であって、前記複数の電
子放出素子が、前記一対の素子電極の形成の後に金属元
素を含有する液をインクジェット方式により液滴として
基板上に付与し導電性薄膜を複数形成する工程を経て形
成されることを特徴とする表示パネルの製造方法。
1. A rear plate on which a plurality of electron-emitting devices each having a pair of device electrodes and a conductive thin film including an electron-emitting portion between the pair of device electrodes are arranged. A method of manufacturing a display panel, comprising: a face plate having a phosphor film disposed thereon, wherein the plurality of electron-emitting devices form a droplet containing a liquid containing a metal element by an inkjet method after forming the pair of device electrodes. Forming a plurality of conductive thin films on a substrate.
【請求項2】 前記インクジェット方式が、圧電素子を
用いて該液を液滴として吐出させる方式である請求項1
記載の表示パネルの製造方法。
2. The ink jet method according to claim 1, wherein the liquid is ejected as droplets using a piezoelectric element.
The manufacturing method of the display panel described in the above.
【請求項3】 前記インクジェット方式が、熱エネルギ
ーによって液内に気泡を形成させて該液を液滴として吐
出させる方式である請求項1記載の表示パネルの製造方
法。
3. The method of manufacturing a display panel according to claim 1, wherein the ink jet method is a method in which bubbles are formed in the liquid by thermal energy and the liquid is discharged as droplets.
【請求項4】 一対の電極間に付与する液滴量を、前記
基板と前記電極対によって形成される凹部の容積以下と
する請求項1記載の表示パネルの製造方法。
4. The method of manufacturing a display panel according to claim 1, wherein the amount of liquid droplets applied between the pair of electrodes is equal to or less than the volume of a concave portion formed by the substrate and the electrode pair.
【請求項5】 前記の金属元素を含有する液が、金属材
料の分散液である請求項1記載の表示パネルの製造方
法。
5. The method for manufacturing a display panel according to claim 1, wherein the liquid containing the metal element is a dispersion of a metal material.
【請求項6】 前記の金属元素を含有する液が、金属材
料が溶解した溶液である請求項1記載の表示パネルの製
造方法。
6. The method according to claim 1, wherein the liquid containing the metal element is a solution in which a metal material is dissolved.
【請求項7】 前記液滴により形成されるドットと隣接
するドットとの中心間距離が前記ドットの直径以下とな
るように前記液滴を複数個付与し、前記導電性薄膜を形
成する請求項1記載の表示パネルの製造方法。
7. The conductive thin film is formed by applying a plurality of the droplets such that a center-to-center distance between a dot formed by the droplet and an adjacent dot is equal to or less than a diameter of the dot. 2. The method for manufacturing the display panel according to 1.
【請求項8】 前記導電性薄膜の膜厚を、付与する液滴
の量および数によって制御する請求項7記載の表示パネ
ルの製造方法。
8. The method for manufacturing a display panel according to claim 7, wherein the thickness of the conductive thin film is controlled by an amount and a number of droplets to be applied.
【請求項9】 前記電子放出部の形成は、前記導電性薄
膜に通電を施す工程を有する請求項1〜8のいずれかに
記載の表示パネルの製造方法。
9. The method of manufacturing a display panel according to claim 1, wherein forming the electron-emitting portion includes applying a current to the conductive thin film.
【請求項10】 該製造方法が、前記基板上での液滴の
形状安定性を向上させるために基板の表面処理を施す工
程を有することを特徴とする請求項1記載の表示パネル
の製造方法。
10. The method of manufacturing a display panel according to claim 1, wherein the method includes a step of performing a surface treatment on the substrate to improve the shape stability of the droplet on the substrate. .
【請求項11】 前記液滴は、有機金属化合物を含有し
た溶液よりなる液滴である請求項10記載の表示パネル
の製造方法。
11. The method for manufacturing a display panel according to claim 10, wherein the droplet is a droplet made of a solution containing an organometallic compound.
【請求項12】 前記表面処理を施す工程は、疎水化処
理である請求項10記載の表示パネルの製造方法。
12. The display panel manufacturing method according to claim 10, wherein the step of performing the surface treatment is a hydrophobic treatment.
【請求項13】 前記疎水化処理は、シランカップリン
グ剤を用いた工程を有する請求項12記載の表示パネル
の製造方法。
13. The method for manufacturing a display panel according to claim 12, wherein the hydrophobic treatment includes a step using a silane coupling agent.
【請求項14】 前記表面処理を施す工程は、一対の素
子電極を設けた基板に対して施す処理である請求項10
記載の表示パネルの製造方法。
14. The process of performing the surface treatment is a process performed on a substrate provided with a pair of element electrodes.
The manufacturing method of the display panel described in the above.
【請求項15】 一対の素子電極と、該一対の素子電極
間に電子放出部を含む導電性薄膜とを有する電子放出素
子の複数が配置されたリアプレートと、該電子放出素子
と対向して配置された蛍光膜を有するフェースプレート
とを備える表示パネル、および、表示を行うための駆動
回路を備える画像形成装置の製造方法であって、該表示
パネルの製造を請求項1〜14のいずれかに記載の方法
によって行うことを特徴とする画像形成装置の製造方
法。
15. A rear plate on which a plurality of electron-emitting devices each having a pair of device electrodes and a conductive thin film including an electron-emitting portion between the pair of device electrodes are arranged. 15. A method for manufacturing a display panel including a face plate having a fluorescent film disposed thereon, and an image forming apparatus including a drive circuit for performing display, wherein the display panel is manufactured. 9. A method for manufacturing an image forming apparatus, the method comprising:
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