JP3230218U - Defect identification system for paintings - Google Patents

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李益成
施松村
呉守哲
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正修學校財團法人正修科技大學
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Abstract

【課題】絵画の欠陥を検知するフローチャートを簡略化し、後続の欠陥のマーキングにかかる時間を短縮できる絵画の欠陥識別システムを提供する。【解決手段】絵画に対して可変光源を提供する可変光源ユニットと、可変光源ユニットの端部に設置し、絵画の原画像及び欠陥画像を取得する画像キャプチャユニットと、画像キャプチャユニットに電気的に接続し、原画像及び欠陥画像に基づいて欠陥マーキング画像を生成する画像処理ユニットと、画像処理ユニットに電気的に接続し、システム設定値またはユーザー設定値に基づいて欠陥マーキング画像を表示する表示ユニットと、を備え、画像処理ユニットは、原画像及び欠陥画像に基づいて計算した後に位置決め座標を生成する画像位置決めモジュール、及び位置決め座標に基づいて原画像中の欠陥画像をマーキングし、欠陥マーキング画像を生成するマーキングモジュールを含む。【選択図】図1PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a defect identification system for a painting, which can simplify a flowchart for detecting a defect in a painting and shorten the time required for marking a subsequent defect. SOLUTION: A variable light source unit that provides a variable light source for a painting, an image capture unit that is installed at an end of the variable light source unit and acquires an original image and a defective image of the painting, and an image capture unit are electrically connected. An image processing unit that connects and generates a defect marking image based on the original image and the defect image, and a display unit that electrically connects to the image processing unit and displays the defect marking image based on a system setting value or a user setting value. The image processing unit has an image positioning module that generates positioning coordinates after calculation based on the original image and the defect image, and marks the defect image in the original image based on the positioning coordinates to display the defect marking image. Includes marking modules to generate. [Selection diagram] Fig. 1

Description

本考案は、絵画の欠陥識別システムに関し、更に詳しくは、可変光源を利用して絵画の欠陥を取得した後、自動的にその位置をマーキングする絵画の欠陥識別システムに関する。 The present invention relates to a defect identification system for paintings, and more particularly to a defect identification system for paintings that automatically marks the position of a defect after acquiring a defect in the painting using a variable light source.

絵画の損壊の原因は非常に複雑であり、自然的な劣化や、人為的原因等がある。所謂自然劣化による損壊とは、画家が選択した材料または画法が絵画の創作技法に適合しておらず、損壊の原因となることを指す。即ち、絵画は完成した際に、将来的に保存しやすいか否かの運命が定まっている。人的原因による損壊は複雑で、好ましくない保存環境、天災、展覧時の事故、間違った保存修復方式等、様々あり、また西洋の歴史の中ではさらに戦争や政治、宗教的な原因により破壊されることがあり、これらも全て人的な損壊原因に含まれる。このような損壊が絵画の損壊や欠陥の発生に繋がった。 The causes of damage to paintings are very complex, including natural deterioration and human causes. Damage due to so-called natural deterioration means that the material or painting method selected by the painter does not conform to the creative technique of the painting and causes damage. That is, when the painting is completed, the fate of whether or not it is easy to preserve in the future is determined. Damage caused by human causes is complicated and various, such as unfavorable preservation environment, natural disasters, accidents at the time of exhibition, wrong conservation and restoration method, etc., and it is further destroyed by war, political and religious causes in Western history. All of these are also included in the causes of human damage. Such damage led to the damage and defects of the painting.

しかしながら、現在の絵画の創作過程や保存修復過程で発生する欠陥の多くは、物理試験を行って絵画の欠陥を検知するものであり、物理試験は可視及び不可視の2種類の方法を含む。可視試験は画像の照明(断面光、ナトリウム蒸気等)、画像の拡大(拡大撮影、接写術、顕微鏡写真術等)等であり、不可視試験は紫外線放射、赤外線放射、及びX線を指し、肉眼では見えない部分の研究を可能にし、絵画の欠陥箇所を検知した後に絵画の関連する位置をマーキングして位置決めする。しかし、絵画の欠陥の検査過程で絵画の欠陥位置を確認できず、絵画上に直接マーキングできないため、このような過程では後続の処理が困難になる。 However, many of the defects that occur in the current painting creation process and conservation / restoration process are physical tests to detect defects in the painting, and the physical tests include two types of methods, visible and invisible. Visible tests include image illumination (cross-sectional light, sodium vapor, etc.), image enlargement (enlarged photography, close-up photography, micrograph photography, etc.), and invisible tests refer to ultraviolet radiation, infrared radiation, and X-rays, with the naked eye. Allows the study of invisible parts, and after detecting defective parts of the painting, marks and positions the relevant positions of the painting. However, since the position of the defect in the painting cannot be confirmed in the process of inspecting the defect in the painting and it cannot be marked directly on the painting, subsequent processing becomes difficult in such a process.

そこで、本考案者は上記の欠点が改善可能と考え、鋭意検討を重ねた結果、合理的設計で上記の課題を効果的に改善する本考案の提案に至った。 Therefore, the present inventor considered that the above-mentioned drawbacks could be improved, and as a result of diligent studies, he came up with a proposal of the present invention to effectively improve the above-mentioned problems with a rational design.

本考案は、かかる事情に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、絵画の欠陥識別システムを提供することにある。これにより、絵画の欠陥位置を確認するマーキング方式を改善し、全体画像を予め取得した後、絵画に欠陥が存在するかどうか細部を検視する。絵画に欠陥があることを発見した場合、前記欠陥画面を保存し、絵画の欠陥識別システムにより即時計算した後、予め取得した全体画像中に即時にマーキングする。こうして絵画の欠陥を検知するフローチャートを簡略化し、後続の欠陥のマーキングにかかる時間を効果的に短縮する。 The present invention has been made in view of such circumstances, and an object of the present invention is to provide a defect identification system for paintings. As a result, the marking method for confirming the defect position of the painting is improved, and after the entire image is acquired in advance, the details are inspected for the presence of defects in the painting. When a defect is found in the painting, the defect screen is saved, immediately calculated by the defect identification system of the painting, and then immediately marked in the entire image acquired in advance. In this way, the flowchart for detecting defects in the painting is simplified, and the time required for marking the subsequent defects is effectively reduced.

上記目的を達成するための主たる考案は、絵画に対して可変光源を提供する可変光源ユニットと、前記可変光源ユニットの端部に設置し、前記絵画の原画像及び欠陥画像を取得する画像キャプチャユニットと、前記画像キャプチャユニットに電気的に接続し、前記原画像及び前記欠陥画像に基づいて欠陥マーキング画像を生成する画像処理ユニットと、前記画像処理ユニットに電気的に接続し、システム設定値またはユーザー設定値に基づいて前記欠陥マーキング画像を表示する表示ユニットと、を備え、前記画像処理ユニットは、前記原画像及び前記欠陥画像に基づいて計算した後に位置決め座標を生成する画像位置決めモジュールと、前記画像位置決めモジュールに電気的に接続し、前記位置決め座標に基づいて前記原画像中の前記欠陥画像をマーキングし、前記欠陥マーキング画像を生成するマーキングモジュールと、をさらに含むことを特徴とする絵画の欠陥識別システムである。 The main device for achieving the above object is a variable light source unit that provides a variable light source for a painting, and an image capture unit that is installed at an end of the variable light source unit to acquire an original image and a defective image of the painting. And an image processing unit that is electrically connected to the image capture unit and generates a defect marking image based on the original image and the defect image, and is electrically connected to the image processing unit to be a system setting value or a user. A display unit that displays the defect marking image based on a set value, and the image processing unit includes an image positioning module that generates positioning coordinates after calculation based on the original image and the defect image, and the image. Defect identification of a painting, further comprising a marking module that is electrically connected to a positioning module, marks the defect image in the original image based on the positioning coordinates, and produces the defect marking image. It is a system.

また、本考案に係る絵画の欠陥識別システムにおいて、本考案の一実施例では、上述の絵画の欠陥識別システムは、前記原画像、前記欠陥画像、及び前記欠陥マーキング画像を保存するための保存ユニットを更に備えていることを特徴とする。 Further, in the painting defect identification system according to the present invention, in one embodiment of the present invention, the above-mentioned painting defect identification system is a storage unit for storing the original image, the defect image, and the defect marking image. It is characterized by further providing.

また、本考案に係る絵画の欠陥識別システムにおいて、上述の可変光源ユニットは紫外線光(UV)を含む異なるスペクトルの光源を提供することを特徴とする。 Further, in the defect identification system for paintings according to the present invention, the variable light source unit described above is characterized by providing a light source having a different spectrum including ultraviolet light (UV).

また、本考案に係る絵画の欠陥識別システムにおいて、上述の可変光源ユニットは複数のランプセット及び光源制御モジュールを備えていることを特徴とする。 Further, in the painting defect identification system according to the present invention, the variable light source unit described above includes a plurality of lamp sets and a light source control module.

また、本考案に係る絵画の欠陥識別システムにおいて、上述の画像キャプチャユニットは前記可変光源ユニットにより前記絵画上に可変光源を提供した後、絵画の欠陥を表示し、前記欠陥画像を取得することを特徴とする。 Further, in the painting defect identification system according to the present invention, the image capture unit described above provides a variable light source on the painting by the variable light source unit, then displays the defects in the painting and acquires the defect image. It is a feature.

また、本考案に係る絵画の欠陥識別システムにおいて、上述の画像処理ユニットは前記欠陥マーキング画像中の欠陥情報及び欠陥座標を含む欠陥比較表を更に生成することを特徴とする。 Further, in the defect identification system for paintings according to the present invention, the above-mentioned image processing unit further generates a defect comparison table including defect information and defect coordinates in the defect marking image.

また、本考案に係る絵画の欠陥識別システムにおいて、上述の画像位置決めモジュールは、ファジィアルゴリズムにより前記原画像中の前記欠陥画像が位置する座標を計算することを特徴とする。 Further, in the defect identification system for paintings according to the present invention, the above-mentioned image positioning module is characterized in that the coordinates where the defect image is located in the original image is calculated by a fuzzy algorithm.

また、本考案に係る絵画の欠陥識別システムにおいて、上述の画像位置決めモジュールは、全画像比較により前記原画像中の前記欠陥画像が位置する座標を計算することを特徴とする。 Further, in the defect identification system for paintings according to the present invention, the above-mentioned image positioning module is characterized in that the coordinates at which the defect image is located in the original image is calculated by comparing all images.

また、本考案に係る絵画の欠陥識別システムにおいて、上述の表示ユニットは前記システム設定値または前記ユーザー設定値に基づいて前記欠陥マーキング画像の全画像または一部拡大画像を表示することを特徴とする。 Further, in the defect identification system for paintings according to the present invention, the display unit described above displays all or a partially enlarged image of the defect marking image based on the system set value or the user set value. ..

また、本考案の別の態様は、絵画の欠陥識別方法である。この方法は、可変光源ユニットにより絵画に対して可変光源を提供するステップと、画像キャプチャユニットにより絵画の原画像及び欠陥画像を取得するステップと、画像処理ユニットの画像位置決めモジュールにより前記原画像及び前記欠陥画像に基づいて計算した後に位置決め座標を生成するステップと、前記画像処理ユニットのマーキングモジュールにより前記位置決め座標に基づいて前記原画像中の前記欠陥画像をマーキングし、前記欠陥マーキング画像を生成するステップと、前記画像処理ユニットに電気的に接続する表示ユニットにより、システム設定値またはユーザー設定値に基づいて前記欠陥マーキング画像処理ユニットを表示するステップと、を含む。 Another aspect of the present invention is a method for identifying defects in a painting. This method includes a step of providing a variable light source for a painting by a variable light source unit, a step of acquiring an original image and a defective image of the painting by an image capture unit, and the original image and the above by an image positioning module of an image processing unit. A step of generating positioning coordinates after calculation based on the defect image, and a step of marking the defect image in the original image based on the positioning coordinates by the marking module of the image processing unit and generating the defect marking image. And a step of displaying the defect marking image processing unit based on a system set value or a user set value by a display unit electrically connected to the image processing unit.

本考案によれば、次のような効果がある。
全体画像を予め取得した後、絵画に欠陥が存在するかどうか細部を検視する。絵画の欠陥を発見した場合、前記欠陥画面を保存し、絵画の欠陥識別システムにより即時計算した後、予め取得した全体画像中に即時にマーキングする。
このように絵画の欠陥を検知するフローチャートを簡略化し、後続のマーキングにかかる時間を効果的に短縮することができる。
According to the present invention, there are the following effects.
After obtaining the entire image in advance, the details are inspected to see if there are any defects in the painting. When a defect in the painting is found, the defect screen is saved, immediately calculated by the defect identification system of the painting, and then immediately marked in the entire image acquired in advance.
In this way, the flowchart for detecting defects in the painting can be simplified, and the time required for subsequent marking can be effectively shortened.

本明細書及び図面の記載により、少なくとも、以下の事項が明らかとなる。 The description of this specification and the drawings will clarify at least the following matters.

本考案の一実施形態に係る絵画の欠陥識別システムを模式的に示したブロック図である。It is a block diagram which shows typically the defect identification system of the painting which concerns on one Embodiment of this invention. 本考案の一実施形態に係る絵画の欠陥識別方法を示したフローチャートである。It is a flowchart which showed the defect identification method of the painting which concerns on one Embodiment of this invention. 本考案の一実施形態に係る絵画の欠陥識別システムの装置を示した概略図である。It is the schematic which showed the apparatus of the defect identification system of the painting which concerns on one Embodiment of this invention.

以下、本考案の実施の形態について、図面を参照して詳細に説明する。なお、本考案は以下の例に限定されるものではなく、本考案の要旨を逸脱しない範囲で、任意に変更可能であることは言うまでもない。 Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. It goes without saying that the present invention is not limited to the following examples, and can be arbitrarily changed without departing from the gist of the present invention.

図1は本考案の一実施形態に係る絵画の欠陥識別システムを模式的に示したブロック図である。図1に示されるように、絵画の欠陥識別システムは、絵画に対し可変光源を提供する可変光源ユニット110と、前記可変光源ユニット110の端部に設置し、前記絵画の原画像及び欠陥画像を取得する画像キャプチャユニット120と、前記画像キャプチャユニット120に電気的に接続し、前記原画像及び前記欠陥画像に基づいて欠陥マーキング画像を生成する画像処理ユニット130と、前記画像処理ユニット130に電気的に接続し、システム設定値またはユーザー設定値に基づいて前記欠陥マーキング画像を表示する表示ユニット140と、を備えている。
前記画像処理ユニット130は、前記原画像及び前記欠陥画像に基づいて計算した後に位置決め座標を生成する画像位置決めモジュール131と、前記画像位置決めモジュール131に電気的に接続し、前記位置決め座標に基づいて前記原画像中の前記欠陥画像をマーキングし、前記欠陥マーキング画像を生成するマーキングモジュール132と、をさらに含む。
FIG. 1 is a block diagram schematically showing a defect identification system for paintings according to an embodiment of the present invention. As shown in FIG. 1, a defect identification system for a painting is installed at an end of a variable light source unit 110 that provides a variable light source for the painting and the variable light source unit 110, and displays an original image and a defect image of the painting. The image capture unit 120 to be acquired, the image processing unit 130 that is electrically connected to the image capture unit 120 and generates a defect marking image based on the original image and the defect image, and the image processing unit 130 are electrically connected. The display unit 140 is connected to and displays the defect marking image based on the system setting value or the user setting value.
The image processing unit 130 is electrically connected to an image positioning module 131 that generates positioning coordinates after calculation based on the original image and the defect image, and the image positioning module 131, and is said to be based on the positioning coordinates. It further includes a marking module 132 that marks the defect image in the original image and generates the defect marking image.

本実施例では、前記絵画の欠陥識別システムは、前記原画像、前記欠陥画像、及び前記欠陥マーキング画像を保存するための保存ユニットを更に備えている。 In this embodiment, the painting defect identification system further comprises a storage unit for storing the original image, the defect image, and the defect marking image.

本実施例では、前記可変光源ユニット110は、紫外線光(UV)を含む異なるスペクトルの光源を提供する。 In this embodiment, the variable light source unit 110 provides a light source having a different spectrum including ultraviolet light (UV).

本実施例では、前記可変光源ユニット110は、複数のランプセット及び光源制御モジュールを備えている。 In this embodiment, the variable light source unit 110 includes a plurality of lamp sets and a light source control module.

本実施例では、前記画像キャプチャユニット120は、前記可変光源ユニット110により前記絵画上に可変光源を提供した後、絵画の欠陥を表示し、前記欠陥画像を取得する。 In this embodiment, the image capture unit 120 provides a variable light source on the painting by the variable light source unit 110, displays defects in the painting, and acquires the defect image.

本実施例では、前記画像処理ユニット130は前記欠陥マーキング画像中の欠陥情報及び欠陥座標を含む欠陥比較表を更に生成する。 In this embodiment, the image processing unit 130 further generates a defect comparison table including defect information and defect coordinates in the defect marking image.

本実施例では、前記画像位置決めモジュール131は、ファジィアルゴリズムにより前記原画像中の前記欠陥画像が位置する座標を計算する。 In this embodiment, the image positioning module 131 calculates the coordinates at which the defect image in the original image is located by a fuzzy algorithm.

本実施例では、前記画像位置決めモジュール131は、全画像比較により前記原画像中の前記欠陥画像が位置する座標を計算する。 In this embodiment, the image positioning module 131 calculates the coordinates at which the defect image in the original image is located by comparing all images.

本実施例では、前記表示ユニット140は前記システム設定値または前記ユーザー設定値に基づいて前記欠陥マーキング画像の全画像または一部拡大画像を表示する。 In this embodiment, the display unit 140 displays all or a partially enlarged image of the defect marking image based on the system set value or the user set value.

図2は本考案の一実施形態に係る絵画の欠陥識別方法を示したフローチャートである。ステップは以下のとおりである。 FIG. 2 is a flowchart showing a method for identifying defects in a painting according to an embodiment of the present invention. The steps are as follows:

可変光源ユニットにより絵画に対して可変光源を提供する(ステップS210)。 A variable light source is provided for the painting by the variable light source unit (step S210).

画像キャプチャユニットにより絵画の原画像及び欠陥画像を取得する(ステップS220)。 The original image and the defective image of the painting are acquired by the image capture unit (step S220).

画像処理ユニットの画像位置決めモジュールにより前記原画像及び前記欠陥画像に基づいて計算した後に位置決め座標を生成する(ステップS230)。 Positioning coordinates are generated after calculation based on the original image and the defect image by the image positioning module of the image processing unit (step S230).

前記画像処理ユニットのマーキングモジュールにより前記位置決め座標に基づいて前記原画像中の前記欠陥画像をマーキングし、前記欠陥マーキング画像を生成する(ステップS240)。 The defect image in the original image is marked by the marking module of the image processing unit based on the positioning coordinates, and the defect marking image is generated (step S240).

前記画像処理ユニットに電気的に接続する表示ユニットにより、システム設定値またはユーザー設定値に基づいて前記欠陥マーキング画像処理ユニットを表示する(ステップS250)。 The display unit electrically connected to the image processing unit displays the defect marking image processing unit based on the system set value or the user set value (step S250).

本実施例では、前記絵画の欠陥識別システムは、前記原画像、前記欠陥画像、及び前記欠陥マーキング画像を保存するための保存ユニットを更に備えている。 In this embodiment, the painting defect identification system further comprises a storage unit for storing the original image, the defect image, and the defect marking image.

本実施例では、前記可変光源ユニットは、紫外線光(UV)を含む異なるスペクトルの光源を提供する。 In this embodiment, the variable light source unit provides light sources with different spectra, including ultraviolet light (UV).

本実施例では、前記可変光源ユニットは複数のランプセット及び光源制御モジュールを備えている。 In this embodiment, the variable light source unit includes a plurality of lamp sets and a light source control module.

本実施例では、前記画像キャプチャユニットは前記可変光源ユニットにより前記絵画上に可変光源を提供した後、絵画の欠陥を表示し、前記欠陥画像を取得する。 In this embodiment, the image capture unit provides a variable light source on the painting by the variable light source unit, then displays defects in the painting and acquires the defect image.

本実施例では、前記画像処理ユニットは前記欠陥マーキング画像中の欠陥情報及び欠陥座標を含む欠陥比較表を更に生成する。 In this embodiment, the image processing unit further generates a defect comparison table including defect information and defect coordinates in the defect marking image.

本実施例では、前記画像位置決めモジュールは、ファジィアルゴリズムにより前記原画像中の前記欠陥画像が位置する座標を計算する。 In this embodiment, the image positioning module calculates the coordinates at which the defect image in the original image is located by a fuzzy algorithm.

本実施例では、前記画像位置決めモジュールは、全画像比較により前記原画像中の前記欠陥画像が位置する座標を計算する。 In this embodiment, the image positioning module calculates the coordinates at which the defect image in the original image is located by comparing all images.

本実施例では、前記表示ユニットは前記システム設定値または前記ユーザー設定値に基づいて前記欠陥マーキング画像の全画像または一部拡大画像を表示する。 In this embodiment, the display unit displays a whole image or a partially enlarged image of the defect marking image based on the system setting value or the user setting value.

図3は本考案の一実施形態に係る絵画の欠陥識別システムの装置を示した概略図である。図3に示されるように、絵画の欠陥識別システムは、絵画311に対して可変光源を提供する可変光源ユニット310と、前記可変光源ユニット310の端部に設置し、前記絵画311の原画像及び欠陥画像を取得する画像キャプチャユニット320と、前記画像キャプチャユニット320に電気的に接続し、前記原画像及び前記欠陥画像に基づいて欠陥マーキング画像を生成する画像処理ユニット330と、前記画像処理ユニット330に電気的に接続し、システム設定値またはユーザー設定値に基づいて前記欠陥マーキング画像を表示する表示ユニット340と、を備えている。 FIG. 3 is a schematic view showing an apparatus of a defect identification system for paintings according to an embodiment of the present invention. As shown in FIG. 3, the defect identification system of the painting is installed at the end of the variable light source unit 310 that provides a variable light source for the painting 311 and the variable light source unit 310, and the original image of the painting 311 and the original image of the painting 311. An image capture unit 320 that acquires a defect image, an image processing unit 330 that is electrically connected to the image capture unit 320 and generates a defect marking image based on the original image and the defect image, and the image processing unit 330. A display unit 340, which is electrically connected to the image and displays the defect marking image based on a system setting value or a user setting value.

本実施例では、前記絵画の欠陥識別システムは、前記原画像、前記欠陥画像、及び前記欠陥マーキング画像を保存するための保存ユニットを更に備えている。 In this embodiment, the painting defect identification system further comprises a storage unit for storing the original image, the defect image, and the defect marking image.

本実施例では、前記可変光源ユニットは、紫外線光(UV)を含む異なるスペクトルの光源を提供する。 In this embodiment, the variable light source unit provides light sources with different spectra, including ultraviolet light (UV).

本実施例では、前記可変光源ユニットは複数のランプセット及び光源制御モジュールを備えている。 In this embodiment, the variable light source unit includes a plurality of lamp sets and a light source control module.

本実施例では、前記画像キャプチャユニットは前記可変光源ユニットにより前記絵画上に可変光源を提供した後、絵画の欠陥を表示し、前記欠陥画像を取得する。 In this embodiment, the image capture unit provides a variable light source on the painting by the variable light source unit, then displays defects in the painting and acquires the defect image.

本実施例では、前記画像処理ユニットは前記欠陥マーキング画像中の欠陥情報及び欠陥座標を含む欠陥比較表を更に生成する。 In this embodiment, the image processing unit further generates a defect comparison table including defect information and defect coordinates in the defect marking image.

本実施例では、前記画像位置決めモジュールは、ファジィアルゴリズムにより前記原画像中の前記欠陥画像が位置する座標を計算する。 In this embodiment, the image positioning module calculates the coordinates at which the defect image in the original image is located by a fuzzy algorithm.

本実施例では、前記画像位置決めモジュールは、全画像比較により前記原画像中の前記欠陥画像が位置する座標を計算する。 In this embodiment, the image positioning module calculates the coordinates at which the defect image in the original image is located by comparing all images.

本実施例では、前記表示ユニットは前記システム設定値または前記ユーザー設定値に基づいて前記欠陥マーキング画像の全画像または一部拡大画像を表示する。 In this embodiment, the display unit displays a whole image or a partially enlarged image of the defect marking image based on the system setting value or the user setting value.

以上を総合すると、本考案は全体画像を予め取得した後、絵画に欠陥が存在するかどうか細部を検視する。絵画の欠陥を発見した場合、前記欠陥画面を保存し、絵画の欠陥識別システムにより即時計算した後、予め取得した全体画像中に即時にマーキングする。こうして絵画の欠陥を検知するフローチャートを簡略化し、後続のマーキングにかかる時間を効果的に短縮する。 Taken together, the present invention obtains the entire image in advance and then inspects the details to see if there are any defects in the painting. When a defect in the painting is found, the defect screen is saved, immediately calculated by the defect identification system of the painting, and then immediately marked in the entire image acquired in advance. In this way, the flowchart for detecting defects in the painting is simplified, and the time required for subsequent marking is effectively reduced.

上述の実施形態は本考案の技術思想及び特徴を説明するためのものにすぎず、当該技術分野を熟知する者に本考案の内容を理解させると共にこれをもって実施させることを目的とし、本考案の実用新案登録請求の範囲を限定するものではない。従って、本考案の精神を逸脱せずに行う各種の同様の効果をもつ改良又は変更は、実用新案登録請求の範囲に含まれるものとする。 The above-described embodiment is merely for explaining the technical idea and features of the present invention, and an object of the present invention is to make a person familiar with the technical field understand the contents of the present invention and to implement the present invention. It does not limit the scope of claims for utility model registration. Therefore, various improvements or changes having similar effects made without departing from the spirit of the present invention shall be included in the claims for utility model registration.

110 可変光源ユニット
120 画像キャプチャユニット
130 画像処理ユニット
131 画像位置決めモジュール
132 マーキングモジュール
140 表示ユニット
S210 ステップ
S220 ステップ
S230 ステップ
S240 ステップ
S250 ステップ
310 可変光源ユニット
311 絵画
320 画像キャプチャユニット
330 画像処理ユニット
340 表示ユニット
110 Variable light source unit 120 Image capture unit 130 Image processing unit 131 Image positioning module 132 Marking module 140 Display unit S210 Step S220 Step S230 Step S240 Step S250 Step 310 Variable light source unit 311 Painting 320 Image capture unit 330 Image processing unit 340 Display unit

Claims (9)

絵画に対して可変光源を提供する可変光源ユニットと、
前記可変光源ユニットの端部に設置し、前記絵画の原画像及び欠陥画像を取得する画像キャプチャユニットと、
前記画像キャプチャユニットに電気的に接続し、前記原画像及び前記欠陥画像に基づいて欠陥マーキング画像を生成する画像処理ユニットと、
前記画像処理ユニットに電気的に接続し、システム設定値またはユーザー設定値に基づいて前記欠陥マーキング画像を表示する表示ユニットと、を備え、
前記画像処理ユニットは、
前記原画像及び前記欠陥画像に基づいて計算した後に位置決め座標を生成する画像位置決めモジュールと、
前記画像位置決めモジュールに電気的に接続し、前記位置決め座標に基づいて前記原画像中の前記欠陥画像をマーキングし、前記欠陥マーキング画像を生成するマーキングモジュールと、をさらに含むことを特徴とする、
絵画の欠陥識別システム。
A variable light source unit that provides a variable light source for paintings,
An image capture unit installed at the end of the variable light source unit to acquire the original image and the defective image of the painting, and
An image processing unit that is electrically connected to the image capture unit and generates a defect marking image based on the original image and the defect image.
A display unit that is electrically connected to the image processing unit and displays the defect marking image based on a system setting value or a user setting value.
The image processing unit is
An image positioning module that generates positioning coordinates after calculation based on the original image and the defect image.
It is characterized by further including a marking module that is electrically connected to the image positioning module, marks the defect image in the original image based on the positioning coordinates, and generates the defect marking image.
Defect identification system for paintings.
前記絵画の欠陥識別システムは、前記原画像、前記欠陥画像、及び前記欠陥マーキング画像を保存するための保存ユニットを更に備えていることを特徴とする請求項1に記載の絵画の欠陥識別システム。 The defect identification system for a painting according to claim 1, wherein the defect identification system for a painting further includes a storage unit for storing the original image, the defect image, and the defect marking image. 前記可変光源ユニットは紫外線光(UV)を含む異なるスペクトルの光源を提供することを特徴とする請求項1に記載の絵画の欠陥識別システム。 The defect identification system for paintings according to claim 1, wherein the variable light source unit provides light sources having different spectra including ultraviolet light (UV). 前記可変光源ユニットは複数のランプセット及び光源制御モジュールを備えていることを特徴とする請求項1に記載の絵画の欠陥識別システム。 The defect identification system for paintings according to claim 1, wherein the variable light source unit includes a plurality of lamp sets and a light source control module. 前記画像キャプチャユニットは前記可変光源ユニットにより前記絵画上に可変光源を提供した後、絵画の欠陥を表示し、前記欠陥画像を取得することを特徴とする請求項1に記載の絵画の欠陥識別システム。 The defect identification system for a painting according to claim 1, wherein the image capture unit displays defects in the painting after providing a variable light source on the painting by the variable light source unit, and acquires the defect image. .. 前記画像処理ユニットは前記欠陥マーキング画像中の欠陥情報及び欠陥座標を含む欠陥比較表を更に生成することを特徴とする請求項1に記載の絵画の欠陥識別システム。 The defect identification system for paintings according to claim 1, wherein the image processing unit further generates a defect comparison table including defect information and defect coordinates in the defect marking image. 前記画像位置決めモジュールは、ファジィアルゴリズムにより前記原画像中の前記欠陥画像が位置する座標を計算することを特徴とする請求項1に記載の絵画の欠陥識別システム。 The defect identification system for paintings according to claim 1, wherein the image positioning module calculates the coordinates at which the defect image in the original image is located by a fuzzy algorithm. 前記画像位置決めモジュールは、全画像比較により前記原画像中の前記欠陥画像が位置する座標を計算することを特徴とする請求項1に記載の絵画の欠陥識別システム。 The defect identification system for paintings according to claim 1, wherein the image positioning module calculates the coordinates at which the defect image in the original image is located by comparing all images. 前記表示ユニットは前記システム設定値または前記ユーザー設定値に基づいて前記欠陥マーキング画像の全画像または一部拡大画像を表示することを特徴とする請求項1に記載の絵画の欠陥識別システム。 The defect identification system for a painting according to claim 1, wherein the display unit displays a whole image or a partially enlarged image of the defect marking image based on the system set value or the user set value.
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