JP3229756B2 - Semiconductor laser device for optical pickup - Google Patents

Semiconductor laser device for optical pickup

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JP3229756B2 JP22876094A JP22876094A JP3229756B2 JP 3229756 B2 JP3229756 B2 JP 3229756B2 JP 22876094 A JP22876094 A JP 22876094A JP 22876094 A JP22876094 A JP 22876094A JP 3229756 B2 JP3229756 B2 JP 3229756B2
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、光記録媒体にレーザー
ビームを照射して反射光を検出する光ピックアップに用
いられる半導体レーザ装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a semiconductor laser device used in an optical pickup for irradiating an optical recording medium with a laser beam and detecting reflected light.

【0002】[0002]

【従来の技術】光ピックアップは、レーザーダイオード
(半導体レーザ),各種光学部品,対物レンズ,センサ
等で構成されており、光記録媒体(光ディスク)の記録
信号を読み出したり、光ディスクに情報信号を記録する
ために、常に対物レンズをサーボ制御している。この対
物レンズのサーボ制御は、フォーカスエラー検出と、ト
ラッキングエラー検出に基づいて行われる。フォーカス
エラー検出には、非点収差法,ビームサイズ法,ナイフ
エッジ法等の方式があり、トラッキングエラー検出に
は、3ビーム法,プッシュプル法等の方式がある。
2. Description of the Related Art An optical pickup comprises a laser diode (semiconductor laser), various optical components, an objective lens, a sensor, and the like, and reads a recording signal from an optical recording medium (optical disk) and records an information signal on the optical disk. To this end, the objective lens is always servo-controlled. The servo control of the objective lens is performed based on focus error detection and tracking error detection. Focus error detection includes methods such as an astigmatism method, a beam size method, and a knife edge method. Tracking error detection includes a method such as a three-beam method and a push-pull method.

【0003】トラッキンエラー検出法では、3ビーム法
が現在最も多く用いられている。この方式は、図3に示
すように、半導体レーザ101からの出射レーザビーム
を回折格子102でメインビームと2本のサブビームに
分離し、対物レンズ103でディスクD上に3つの焦点
を結ばせ、そのうちの2本のサブビームを使用してトラ
ッキングエラー検出を行うものである。なお、メインビ
ームは、情報信号の記録/再生に用いられる。
In the tracking error detection method, the three-beam method is currently most frequently used. In this method, as shown in FIG. 3, a laser beam emitted from a semiconductor laser 101 is separated into a main beam and two sub-beams by a diffraction grating 102, and three focal points are formed on a disk D by an objective lens 103. The tracking error is detected using two of the sub-beams. The main beam is used for recording / reproducing information signals.

【0004】上記のように、単一の半導体レーザ101
を3本のビームに分離すると、個々のビームのパワーが
減少するため、大きなレーザパワーが必要な場合には半
導体レーザ101に過大な負担を与えてしまうという問
題がある。また、一般に、回折格子102のピッチd
は、 d=(L×λ×f0 )/(fC ×P) で与えられる。ここで、PはディスクD上での3ビーム
の間隔、Lは半導体レーザ101と回折格子102の距
離、f0 は対物レンズ103の焦点距離、fC はコリメ
ータレンズの焦点距離である。このため、半導体レーザ
101,光学ユニット,センサ等を微小なパッケージに
組み込んだ光ピックアップでは、上記Lが非常に小さく
なるため、回折格子102のピッチdも非常に小さくな
って作製が困難となる。同様の問題は、短波長化によっ
ても生ずる。
As described above, a single semiconductor laser 101
When the laser beam is separated into three beams, the power of each beam is reduced. Therefore, when a large laser power is required, there is a problem that an excessive load is applied to the semiconductor laser 101. In general, the pitch d of the diffraction grating 102
Is given by d = (L × λ × f 0 ) / (f C × P). Here, P is the interval between the three beams on the disk D, L is the distance between the semiconductor laser 101 and the diffraction grating 102, f 0 is the focal length of the objective lens 103, and f C is the focal length of the collimator lens. For this reason, in an optical pickup in which the semiconductor laser 101, the optical unit, the sensor, and the like are incorporated in a minute package, the above L is very small, and the pitch d of the diffraction grating 102 is also very small, making it difficult to manufacture. A similar problem is caused by shortening the wavelength.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】このため、図3の如く
回折格子を用いて3ビームを生成する方式に代えて、3
ビームレーザーダイオードアレイを用いる方式が提案さ
れている。しかし、この方式では、発熱等による半導体
レーザのパワー変動を補償するためのAPC回路が、図
2に示すようにレーザダイオードの個数と同じ個数だけ
必要になり、装置の大型化やコストアップを招くという
問題がある。即ち、図2の回路は、3個の半導体レーザ
1,1a,1bからの各出射レーザ光を各々モニタ用セ
ンサ2,2a,2bで受光し、各モニタ用センサ2,2
a,2bの出力電流を各々I−V変換器3,3a,3b
で電圧信号に変換し、各電圧信号を各々APC(Auto po
wercontroll) 回路4,4a,4bに入力して出射レー
ザパワーを目標値に近づけるための制御信号を各々生成
し、各制御信号を各々V−I変換器5,5a,5bに入
力して前記半導体レーザ1,1a,1b用の駆動電流を
各々生成するフィードバック制御回路であり、半導体レ
ーザの個数(3個)と同じ個数のAPC回路を必要とし
ている。
For this reason, instead of the method of generating three beams using a diffraction grating as shown in FIG.
A method using a beam laser diode array has been proposed. However, in this method, as many APC circuits as the number of laser diodes are required as shown in FIG. 2 for compensating power fluctuations of the semiconductor laser due to heat generation or the like, which leads to an increase in size and cost of the apparatus. There is a problem. That is, the circuit shown in FIG. 2 receives the emitted laser beams from the three semiconductor lasers 1, 1a, 1b by the monitoring sensors 2, 2a, 2b, respectively.
a, 2b are output from the IV converters 3, 3a, 3b, respectively.
Is converted to a voltage signal, and each voltage signal is converted to an APC (Auto po
wercontroll) input to the circuits 4, 4a, 4b to generate control signals for bringing the output laser power closer to the target value, and input the respective control signals to the VI converters 5, 5a, 5b, and This is a feedback control circuit that generates drive currents for the lasers 1, 1a, and 1b, respectively, and requires the same number of APC circuits as the number of semiconductor lasers (three).

【0006】本発明は、複数の半導体レーザを用いる光
ピックアップ用の装置に於いて、APC回路の個数を低
減して、小型化を容易にすることを目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION It is an object of the present invention to reduce the number of APC circuits in a device for an optical pickup using a plurality of semiconductor lasers, thereby facilitating miniaturization.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】本発明は、光記録媒体に
レーザービームを照射して反射光を検出する光ピックア
ップに用いられる半導体レーザ装置であって、第1のレ
ーザダイオードと、第1のレーザダイオードの出射レー
ザビームの強度に基づいて第1のレーザダイオードの出
射レーザビームが所定の強度となるように第1のレーザ
ダイオードの駆動電流を制御する信号を出力するAPC
回路と、APC回路の出力信号を或る所定の減衰比で減
衰する減衰手段と、減衰された信号により駆動電流を制
御される第2のレーザダイオードと、を有する光ピック
アップ用半導体レーザ装置である。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention relates to a semiconductor laser device used in an optical pickup for irradiating an optical recording medium with a laser beam and detecting reflected light, comprising a first laser diode and a first laser diode. APC that outputs a signal for controlling a drive current of the first laser diode based on the intensity of the laser beam emitted from the laser diode so that the intensity of the laser beam emitted from the first laser diode becomes a predetermined intensity.
A semiconductor laser device for an optical pickup, comprising: a circuit; an attenuating means for attenuating an output signal of an APC circuit at a predetermined attenuation ratio; and a second laser diode whose drive current is controlled by the attenuated signal. .

【0008】上記に於いて、さらに、第1のレーザダイ
オードの出射レーザビームの強度を上記減衰比で減衰し
た値と第2のレーザダイオードの出射レーザビームの強
度を比較する手段を設け、その比較結果を第2のレーザ
ダイオードの駆動電流を制御する信号にフィードバック
するように構成してもよい。また、さらに、上記減衰手
段により減衰された信号で駆動電流を制御される第3の
レーザダイオードを設けてもよい。また、さらに、第2
のレーザダイオードの出射レーザビームの強度と第3の
レーザダイオードの出射レーザビームの強度を比較する
手段を設け、その比較結果を第3のレーザダイオードの
駆動電流を制御する信号にフィードバックするように構
成してもよい。
In the above, there is further provided means for comparing a value obtained by attenuating the intensity of the laser beam emitted from the first laser diode by the above-mentioned attenuation ratio with the intensity of the laser beam emitted from the second laser diode. The result may be fed back to a signal for controlling the drive current of the second laser diode. Further, a third laser diode whose drive current is controlled by the signal attenuated by the attenuating means may be provided. In addition, the second
Means for comparing the intensity of the outgoing laser beam of the third laser diode with the intensity of the outgoing laser beam of the third laser diode, and the result of the comparison is fed back to a signal for controlling the drive current of the third laser diode. May be.

【0009】[0009]

【作用】第1のレーザダイオードの出射レーザビームの
強度をフィードバックするAPC回路の出力信号が或る
所定の減衰比で減衰され、この減衰後の信号に基づいて
第2のレーザダイオードが駆動制御される。したがっ
て、減衰比を所望の値に設定すると、第2のレーザダイ
オードの出射レーザビームの強度は、第1のレーザダイ
オードの出射レーザビームの強度に上記減衰比を乗じた
値となる。
The output signal of the APC circuit which feeds back the intensity of the laser beam emitted from the first laser diode is attenuated at a predetermined attenuation ratio, and the second laser diode is driven and controlled based on the attenuated signal. You. Therefore, when the attenuation ratio is set to a desired value, the intensity of the laser beam emitted from the second laser diode becomes a value obtained by multiplying the intensity of the laser beam emitted from the first laser diode by the attenuation ratio.

【0010】[0010]

【実施例】以下、本発明の実施例を説明する。図1は実
施例の光ピックアップ用半導体レーザ装置の制御回路の
ブロック図である。図1において、11は記録/再生信
号用のメインビームを出射するレーザダイオードであ
り、11aと11bはトラッキングエラー検出用のサブ
ビームを出射するレーザダイオードである。以下、添字
のaとbは、トラッキングエラー検出用のサブビームに
関する素子であることを示す。
Embodiments of the present invention will be described below. FIG. 1 is a block diagram of a control circuit of a semiconductor laser device for an optical pickup according to an embodiment. In FIG. 1, reference numeral 11 denotes a laser diode for emitting a main beam for recording / reproducing signals, and reference numerals 11a and 11b denote laser diodes for emitting a sub-beam for tracking error detection. Hereinafter, the subscripts “a” and “b” indicate elements relating to a sub-beam for tracking error detection.

【0011】レーザーダイオード11から出射されたレ
ーザービームは、不図示の光ディスクの記録面上に集光
され、その反射光がモニタ用センサ12で受光される。
モニタ用センサ12は受光した光量に対応する電流を出
力する。この電流はI−V変換器13で電圧信号に変換
されてAPC回路14に入力される。APC回路14
は、レーザーダイオード11から或る所定強度のレーザ
ビームを出射させる駆動電流がレーザダイオード11に
供給されるように、上記入力信号に基づく制御信号を出
力する。この制御信号はV−I変換器15に入力され、
このV−I変換器15から上記の駆動電流がレーザーダ
イオード11に供給される。このようにして、レーザダ
イオード11の強度がフィードバック制御されて、或る
所望の値に維持される。
The laser beam emitted from the laser diode 11 is focused on the recording surface of an optical disk (not shown), and the reflected light is received by the monitor sensor 12.
The monitoring sensor 12 outputs a current corresponding to the amount of received light. This current is converted into a voltage signal by the IV converter 13 and input to the APC circuit 14. APC circuit 14
Outputs a control signal based on the input signal so that a driving current for emitting a laser beam having a predetermined intensity from the laser diode 11 is supplied to the laser diode 11. This control signal is input to the VI converter 15,
The drive current is supplied from the VI converter 15 to the laser diode 11. In this way, the intensity of the laser diode 11 is feedback-controlled and maintained at a certain desired value.

【0012】3ビームトラッキングエラー検出法では、
トラッキングエラー検出用のサブビームの強度は、記録
/再生信号用のメインビームの強度よりも弱く、例え
ば、メインビームの1/10程度の強度である。このた
め、サブビーム用レーザダイオード11a,11bの駆
動に要する電流は、メインビーム用レーザダイオード1
1の駆動電流よりも小さい。さらに、レーザダイオード
の出射レーザビーム強度と駆動電流とは比例関係にあ
る。このため、所望のレーザビーム強度を得るのに必要
な駆動電流を、容易に求めることができる。このことを
利用して、本実施例では、APC回路14の出力を分圧
器21で所定のレベル(例:1/10)に減衰させ、こ
れをV−I変換器15a,15bに入力して、各々レー
ザダイオード11a,11b用の駆動電流を生成してい
る。これにより、レーザダイオード11a,11bの出
射レーザビーム強度は、各々レーザダイオード11の出
射レーザビーム強度を前記レベル(例:1/10)に減
衰させた値に等しくなる。
In the three-beam tracking error detection method,
The intensity of the sub-beam for tracking error detection is lower than the intensity of the main beam for recording / reproducing signals, and is, for example, about 1/10 of the intensity of the main beam. For this reason, the current required to drive the sub-beam laser diodes 11a and 11b is limited to the main-beam laser diode 1a.
1 drive current. Further, the intensity of the emitted laser beam from the laser diode is proportional to the drive current. Therefore, a drive current required to obtain a desired laser beam intensity can be easily obtained. Utilizing this, in the present embodiment, the output of the APC circuit 14 is attenuated to a predetermined level (eg, 1/10) by the voltage divider 21 and is input to the VI converters 15a and 15b. Drive current for the laser diodes 11a and 11b, respectively. Thereby, the output laser beam intensities of the laser diodes 11a and 11b are each equal to a value obtained by attenuating the output laser beam intensity of the laser diode 11 to the above-described level (eg, 1/10).

【0013】レーザーダイオード11aの出射レーザー
ビームは、不図示の光ディスクの記録面上に集光され、
その反射光がモニタ用センサ12aで受光される。モニ
タ用センサ12aは受光した光量に対応する電流を出力
する。この電流はI−V変換器13aで電圧信号に変換
されて、差動アンプ24に入力される。同様に、レーザ
ーダイオード11bの出射レーザービーム強度に対応す
る電圧信号が、モニタ用センサ12b,I−V変換器1
3bにより生成されて、差動アンプ24に入力される。
差動アンプ24では上記2つの電圧信号の差が比較さ
れ、その結果が前記V−I変換器15bに入力される。
これにより、レーザダイオード11bの出射レーザビー
ム強度に対するフィードバック制御が行われ、2つのレ
ーザーダイオード11a,11bの駆動電流と出射レー
ザービーム強度の比が異なる場合でも、同じ強度のレー
ザービームの出射が可能となる。
The laser beam emitted from the laser diode 11a is focused on a recording surface of an optical disk (not shown).
The reflected light is received by the monitor sensor 12a. The monitoring sensor 12a outputs a current corresponding to the amount of received light. This current is converted into a voltage signal by the IV converter 13 a and input to the differential amplifier 24. Similarly, a voltage signal corresponding to the intensity of the emitted laser beam from the laser diode 11b is output from the monitor sensor 12b and the IV converter 1
3b, and input to the differential amplifier 24.
In the differential amplifier 24, the difference between the two voltage signals is compared, and the result is input to the VI converter 15b.
As a result, feedback control is performed on the intensity of the emitted laser beam from the laser diode 11b, and even when the ratio between the drive current of the two laser diodes 11a and 11b and the intensity of the emitted laser beam is different, it is possible to emit a laser beam of the same intensity. Become.

【0014】また、前記I−V変換器13の出力を分圧
器22に入力して前記分圧器21の場合と同じレベル
(例:1/10)に減衰させた信号と、前記I−V変換
器13aの出力信号とが、差動アンプ23に入力されて
比較され、その結果が前記V−I変換器15aに入力さ
れる。これにより、レーザダイオード11aの出射レー
ザビーム強度に対するフィードバック制御が行われる。
即ち、レーザダイオード11aは、レーザダイオード1
1の出射レーザビーム強度を或るレベル(例:1/1
0)に減衰させた強度のレーザビームを出射することと
なる。
Further, a signal obtained by inputting the output of the IV converter 13 to a voltage divider 22 and attenuating it to the same level (eg, 1/10) as that of the voltage divider 21 and the IV converter The output signal of the converter 13a is input to the differential amplifier 23 and compared, and the result is input to the VI converter 15a. As a result, feedback control is performed on the intensity of the emitted laser beam from the laser diode 11a.
That is, the laser diode 11a is
1 to a certain level (eg, 1/1)
The laser beam having the intensity attenuated to 0) is emitted.

【0015】以上の構成により、レーザーダイオード1
1a,11bは、レーザーダイオード11から出射され
るレーザービームの強度を或るレベル(例:1/10)
に減衰させた強度のレーザビームを安定して出射するこ
とが可能となる。なお、上記実施例では不図示の光ディ
スクからの反射光をモニタ用センサで受光することでレ
ーザーダイオード11,11a,11bの出射レーザー
ビームの強度を検出しているが、レーザーダイオード1
1,11a,11bから上記光ディスクまでの光路中で
レーザービームの一部を取り出して、その強度を検出す
るように構成してもよい。
With the above configuration, the laser diode 1
1a and 11b indicate that the intensity of the laser beam emitted from the laser diode 11 is at a certain level (for example, 1/10).
It is possible to stably emit a laser beam having a reduced intensity. In the above embodiment, the intensity of the laser beams emitted from the laser diodes 11, 11a and 11b is detected by receiving the reflected light from the optical disk (not shown) by the monitor sensor.
A configuration may be adopted in which a part of the laser beam is taken out in the optical path from 1, 11a, 11b to the optical disk and the intensity is detected.

【0016】[0016]

【発明の効果】以上、本発明では、第1のレーザダイオ
ードの出射レーザビームの強度をフィードバック制御す
るAPC回路の出力信号を或る所定の減衰比で減衰し、
減衰後の信号に基づいて第2のレーザダイオードを駆動
制御しているため、1つのAPC回路で2個のレーザダ
イオードの制御が可能である。したがって、複数の半導
体レーザを用いる光ピックアップ用の装置に於いて、A
PC回路の個数を低減して、小型化することができる。
As described above, according to the present invention, the output signal of the APC circuit for feedback-controlling the intensity of the laser beam emitted from the first laser diode is attenuated at a predetermined attenuation ratio.
Since the driving of the second laser diode is controlled based on the signal after the attenuation, two laser diodes can be controlled by one APC circuit. Therefore, in an apparatus for an optical pickup using a plurality of semiconductor lasers, A
The number of PC circuits can be reduced and the size can be reduced.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】実施例の光ピックアップ用半導体レーザ装置の
制御回路のブロック図。
FIG. 1 is a block diagram of a control circuit of a semiconductor laser device for an optical pickup according to an embodiment.

【図2】従来の光ピックアップ用半導体レーザ装置の制
御回路のブロック図。
FIG. 2 is a block diagram of a control circuit of a conventional semiconductor laser device for an optical pickup.

【図3】回折格子による3ビーム発生の様子を示す模式
図。
FIG. 3 is a schematic diagram showing how three beams are generated by a diffraction grating.

【符号の説明】 11,11a.11b 半導体レーザ 12,12a,12b モニタ用センサ 13,13a,13b I−V変換器 14,14a,14b APC回路 15,15a,15b V−I変換器 21,22 分圧器 23,24 比較器[Description of reference numerals] 11, 11a. 11b Semiconductor laser 12,12a, 12b Monitoring sensor 13,13a, 13b IV converter 14,14a, 14b APC circuit 15,15a, 15b VI converter 21,22 Voltage divider 23,24 Comparator

フロントページの続き (56)参考文献 特開 平6−290485(JP,A) 特開 平3−3125(JP,A) 特開 昭63−127441(JP,A) 特開 平5−342615(JP,A) 特開 平6−36329(JP,A) 特開 昭64−21736(JP,A) 特開 平3−102656(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G11B 7/12 - 7/22 Continuation of the front page (56) References JP-A-6-290485 (JP, A) JP-A-3-3125 (JP, A) JP-A-63-127441 (JP, A) JP-A-5-342615 (JP) JP-A-6-36329 (JP, A) JP-A-64-21736 (JP, A) JP-A-3-102656 (JP, A) (58) Fields investigated (Int. Cl. 7 , DB Name) G11B 7/12-7/22

Claims (4)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 光記録媒体にレーザービームを照射して
反射光を検出する光ピックアップに用いられる半導体レ
ーザ装置であって、 第1のレーザダイオードと、 第1のレーザダイオードの出射レーザビームの強度に基
づいて第1のレーザダイオードの出射レーザビームが所
定の強度となるように第1のレーザダイオードの駆動電
流を制御する信号を出力するAPC回路と、 APC回路の出力信号を或る所定の減衰比で減衰する減
衰手段と、 減衰された信号により駆動電流を制御される第2のレー
ザダイオードと、 を有する光ピックアップ用半導体レーザ装置。
An optical recording medium is irradiated with a laser beam.
Semiconductor laser used for optical pickup that detects reflected light
A first laser diode and an intensity of a laser beam emitted from the first laser diode.
The laser beam emitted from the first laser diode is
The driving power of the first laser diode is
An APC circuit that outputs a signal for controlling the flow, and a reduction circuit that attenuates the output signal of the APC circuit at a predetermined attenuation ratio.
Decay means and a second laser whose drive current is controlled by the attenuated signal.
A semiconductor laser device for an optical pickup having the diode .
【請求項2】 請求項1に於いて、さらに、 前記第1のレーザダイオードの出射レーザビームの強度
を前記減衰比で減衰した値と前記第2のレーザダイオー
ドの出射レーザビームの強度を比較する手段を設け、そ
の比較結果を前記第2のレーザダイオードの駆動電流を
制御する信号にフィードバックする、 光ピックアップ用半導体レーザ装置。
2. The apparatus according to claim 1 , further comprising: an intensity of a laser beam emitted from said first laser diode.
And the value of the second laser diode
Means for comparing the intensities of the laser beams emitted from the
Is compared with the driving current of the second laser diode.
A semiconductor laser device for an optical pickup that feeds back to a control signal .
【請求項3】 請求項1に於いて、さらに、 前記減衰手段により減衰された信号で駆動電流を制御さ
れる第3のレーザダイオード、 を有する光ピックアップ用半導体レーザ装置。
3. The driving current according to claim 1, wherein the driving current is further controlled by a signal attenuated by said attenuating means.
A semiconductor laser device for an optical pickup having a third laser diode .
【請求項4】 請求項3に於いて、さらに、 前記第1のレーザダイオードの出射レーザビームの強度
を前記減衰比で減衰した値と前記第2のレーザダイオー
ドの出射レーザビームの強度を比較する手段を設け、そ
の比較結果を前記第2のレーザダイオードの駆動電流を
制御する信号にフィードバックし、 前記第2のレーザダイオードの出射レーザビームの強度
と前記第3のレーザダイオードの出射レーザビームの強
度を比較する手段を設け、その比較結果を前記第3のレ
ーザダイオードの駆動電流を制御する信号にフィードバ
ックする、 光ピックアップ用半導体レーザ装置。
4. The intensity of a laser beam emitted from the first laser diode according to claim 3, further comprising:
And the value of the second laser diode
Means for comparing the intensities of the laser beams emitted from the
Is compared with the driving current of the second laser diode.
Feedback to the control signal, the intensity of the laser beam emitted from the second laser diode
And the intensity of the laser beam emitted from the third laser diode.
Means is provided for comparing the degree of
Feedback signal to control the drive current of the laser diode.
-Clicking, the semiconductor laser device for an optical pickup.
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