JP3229422B2 - Semiconductor manufacturing equipment - Google Patents

Semiconductor manufacturing equipment

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JP3229422B2
JP3229422B2 JP7567393A JP7567393A JP3229422B2 JP 3229422 B2 JP3229422 B2 JP 3229422B2 JP 7567393 A JP7567393 A JP 7567393A JP 7567393 A JP7567393 A JP 7567393A JP 3229422 B2 JP3229422 B2 JP 3229422B2
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Japan
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wafer
stopper
notch
notched
outer periphery
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和人 池田
利一 狩野
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Hitachi Kokusai Electric Inc
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、半導体製造装置に係り
特にノッチ付きウェハ搬送装置におけるウェハの位置決
め機構に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a semiconductor manufacturing apparatus and, more particularly, to a wafer positioning mechanism in a notched wafer transfer apparatus.

【0002】[0002]

【従来の技術】一般に半導体ウェハ1は、図4にその外
形が示されているように、直線部分、すなわち、いわゆ
るオリエンテーションフラット2(以下オリフラと記
す)を備えるものが多い。ウェハ1の製造工程間移動に
は、複数枚のウェハ1をまとめて搬送する作業が伴うも
のであるが、ウェハ1に対する各種の処理作業、例え
ば、成膜処理を施すために反応炉に投入するためには、
ウェハ1の向きすなわちオリフラの位置を揃えて成膜用
ボートヘ移載することが、ウェハ1の膜面のバラツキを
なくし、品質を確保するために必要である。したがっ
て、オリフラ2を有する従来のウェハ1は、図3に示す
ようにウェハカセット7内に複数枚のウェハ1を収容
し、オリフラ合わせ器8を使用して位置決めを行ない搬
送を実施している。
2. Description of the Related Art Generally, a semiconductor wafer 1 generally has a linear portion, that is, a so-called orientation flat 2 (hereinafter, referred to as an orientation flat), as shown in FIG. The movement of the wafer 1 during the manufacturing process involves an operation of transporting a plurality of wafers 1 at a time. The wafers 1 are put into a reaction furnace for performing various processing operations, for example, a film forming process. In order to
It is necessary to transfer the wafer 1 to the film-forming boat while aligning the orientation of the wafer 1, that is, the position of the orientation flat, in order to eliminate variations in the film surface of the wafer 1 and to ensure quality. Therefore, the conventional wafer 1 having the orientation flat 2 accommodates a plurality of wafers 1 in a wafer cassette 7 as shown in FIG.

【0003】複数枚のウェハ1を収容したウェハカセッ
ト7をオリフラ合わせ器8に装着すると、図4に示すよ
うにウェハ1の外周はドライブローラ3と接触して矢印
P方向に回転し、オリフラ2がドライブローラ3の位置
にくると、ウェハ1とドライブローラ3との接触が断た
れてウェハ1は停止する。これによって複数枚のウェハ
1は、すべてオリフラ2の向きを下側に揃えることがで
きる。
When a wafer cassette 7 accommodating a plurality of wafers 1 is mounted on an orientation flat aligner 8, the outer periphery of the wafer 1 contacts the drive roller 3 and rotates in the direction of arrow P as shown in FIG. Comes to the position of the drive roller 3, the contact between the wafer 1 and the drive roller 3 is cut off, and the wafer 1 stops. Thus, the orientations of the orientation flats 2 of all the plurality of wafers 1 can be aligned downward.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】上記従来技術は、オリ
フラ付きのウェハに関するものであり、最近ユーザによ
ってはノッチ付きウェハの需要があり、新規のウェハの
位置合わせ機構の創作が求められていた。本発明は機構
の簡易化による原価低減と、保守性の向上を図るに好適
なノッチ付きウェハの位置決め機構を具備する半導体製
造装置を提供することを目的としている。
The above prior art relates to a wafer with an orientation flat. Recently, there has been a demand for notched wafers by some users, and creation of a new wafer positioning mechanism has been demanded. The present invention relates to a semiconductor device provided with a notched wafer positioning mechanism suitable for reducing costs by simplifying the mechanism and improving maintainability .
It is intended to provide a manufacturing apparatus .

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段】上記の課題を解決するた
めの手段は、特許請求の範囲に記載されている。すなわ
ち、本発明の目的は、立て置きに装着したノッチ付きウ
ェハのノッチ位置を所定の方向に揃えるウェハの位置決
め機構を具備する半導体製造装置において、前記ウェハ
の外周の一点と接触する尖端を有するストッパと、前記
ウェハの外周の他点と接触すると共に水平軸を中心とし
て前記ウェハを回転駆動することが可能のように配設し
たドライブローラと、前記ストッパと前記ドライブロー
ラによる接触支持状態には前記ウェハの外周との間に間
隙を有するように配設した水平軸を有するガイドローラ
と、前記ウェハの回転に伴いこのウェハの外周に設けた
ノッチが前記ストッパと係合したとき、前記ガイドロー
ラと前記ストッパとが前記ウェハを静的に支持するよう
に構成したことを特徴とするウェハの位置決め機構を具
備する半導体製造装置によって達成される。
Means for solving the above problems are described in the claims. That is, an object of the present invention is to provide a semiconductor manufacturing apparatus having a wafer positioning mechanism for aligning a notch position of a notched wafer mounted in an upright position in a predetermined direction. A drive roller disposed so as to be capable of rotating and driving the wafer about a horizontal axis while being in contact with another point on the outer periphery of the wafer; and a contact support state by the stopper and the drive roller. A guide roller having a horizontal axis disposed so as to have a gap between the outer periphery of the wafer and a notch provided on the outer periphery of the wafer with rotation of the wafer when the stopper is engaged with the stopper; A wafer positioning mechanism , wherein the stopper is configured to statically support the wafer.
This is achieved by a semiconductor manufacturing apparatus provided.

【0006】[0006]

【作用】上記の構成により、ウェハの外周に設けたノッ
チの位置を前記ストッパの配設方向に揃えるように位置
決めすることができる。
According to the above arrangement, the notch provided on the outer periphery of the wafer can be positioned so as to be aligned with the direction in which the stopper is provided.

【0007】[0007]

【実施例】本発明の実施例を図面と共に説明する。図3
に示した従来技術のカセット7に概ね準じたカセット
(図示せず)内にノッチ付きウェハ10を収容し、図示
しない位置合わせ機構に装着する。図1に示す実施例
は、ノッチ付きウェハ10の位置合わせを原理的に説明
したものである。また図2はストッパ40とノッチ20
とが係合した状態を示す拡大図である。図1は、本発明
の実施例におけるウェハのノッチ合わせ開始からノッチ
合わせ終了までのノッチ付きウェハ10、ノッチ20、
ドライブローラ30、ストッパ40、ガイドローラ5
0、センサ60の動作または位置関係を示す図である。
上記のようにノッチ付きウェハ10を位置合わせ機構に
装着し、図1(a)に示すように、ドライブローラ3
0’を、30の位置まで移動させ、ストッパ40’も4
0の位置まで押し上げると、図1(b)に示すようにノ
ッチ付きウェハ10の外周がドライブローラ30と接触
する。これによりドライブローラ30の回転力はノッチ
付きウェハ10に伝達され、ノッチ付きウェハ10は矢
印Q方向に緩やかに回転しこれによりノッチ20も移動
する。この状態ではノッチ付きウェハ10は、ガイドロ
ーラ50との間に間隙が生ずるように相互の位置関係が
規制されている。ドライブローラ30は、ウェハ成膜時
に悪影響を与えない材質でパーティクルが発生し難い材
料、例えばテフロン材の使用が好ましい。図1(c)に
示すように、ノッチ付きウェハ10の回転に伴いノッチ
20がストッパ40の位置にくると、ノッチ20はスト
ッパ40の尖端と係合する。これによりノッチ付きウ
ハ10は、矢印Q方向への回転力によって中心位置にず
れを生じ、図2に示すように、ノッチ20の深さd=1
mmだけ、ストッパ40の方向に降下することになる。
この移動によりノッチ付きウェハ10はドライブローラ
30との接触から開放され、ドライブローラ30との間
に間隙が生じ、ドライブローラ30からの回転力はウェ
ハ10に伝達されず、ノッチ20とストッパ40が係合
した位置で静止する。すなわちウェハ10はストッパ4
0とガイドローラ50によって支持され、機構的なノッ
チ合わせが終了することになる。続いて図1(d)に示
すように、ドライブローラ30とストッパ40は、それ
ぞれ30’、40’の位置まで下降する。
An embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG.
The notched wafer 10 is accommodated in a cassette (not shown) which substantially conforms to the conventional cassette 7 shown in FIG. In the embodiment shown in FIG. 1, the positioning of the notched wafer 10 is described in principle. FIG. 2 shows the stopper 40 and the notch 20.
FIG. 4 is an enlarged view showing a state in which is engaged. FIG. 1 shows a notched wafer 10, notch 20,
Drive roller 30, stopper 40, guide roller 5
0 is a diagram showing an operation or a positional relationship of the sensor 60. FIG.
The notched wafer 10 is mounted on the alignment mechanism as described above, and as shown in FIG.
0 'is moved to the position of 30 and the stopper 40' is also moved to 4
When pushed up to the position of 0, the outer periphery of the notched wafer 10 comes into contact with the drive roller 30 as shown in FIG. As a result, the rotational force of the drive roller 30 is transmitted to the notched wafer 10, and the notched wafer 10 is gently rotated in the direction of arrow Q, whereby the notch 20 is also moved. In this state, the positional relationship between the notched wafers 10 is regulated so that a gap is formed between the notched wafers 10 and the guide rollers 50. The drive roller 30 is preferably made of a material that does not adversely affect the film formation of the wafer and hardly generates particles, for example, a Teflon material . As shown in FIG. 1C, when the notch 20 comes to the position of the stopper 40 with the rotation of the notched wafer 10, the notch 20 engages with the pointed end of the stopper 40. Thus-out notched U E <br/> wafer 10 is deviated to the center position by rotational force in the direction of arrow Q, as shown in FIG. 2, the depth d = 1 the notch 20
mm in the direction of the stopper 40.
Due to this movement, the notched wafer 10 is released from contact with the drive roller 30, a gap is formed between the notch wafer 10 and the drive roller 30, the rotational force from the drive roller 30 is not transmitted to the wafer 10, and the notch 20 and the stopper 40 Stop at the engaged position. That is, the wafer 10 is
0 and the guide roller 50, and the mechanical notch alignment is completed. Subsequently, as shown in FIG. 1D, the drive roller 30 and the stopper 40 are lowered to the positions of 30 'and 40', respectively.

【0008】図1(a)〜(d)によりノッチ付きウェ
ハ10の位置決め原理を主体に説明したが、カセット内
に並列に収容した複数のウェハの処理についても同様で
あって、図1(e)に示すように、カセット内に収納装
着した全数のノッチ付きウェハ10がノッチ20によっ
て位置決めされたことを確認することができる。すなわ
ち、60は位置合わせ確認用のセンサであって、ストッ
パ40とノッチ20が係合した時点の位置変化を検知す
る機能を有する。図1(f)に示すように、ノッチ合わ
せが確認されると、カセット内のノッチ付きウェハ10
の位置決めが終了する。実施例では、ストッパ40に付
随してセンサ60を設けているが、この位置に限定せ
ず、例えば、ノッチ付きウェハ10の位置の微小変化を
検知するように構成してもよいことは勿論である。
Although the principle of positioning the notched wafer 10 has been mainly described with reference to FIGS. 1A to 1D, the same applies to the processing of a plurality of wafers housed in a cassette in parallel. As shown in ()), it can be confirmed that all the notched wafers 10 housed and mounted in the cassette are positioned by the notches 20. That is, reference numeral 60 denotes a sensor for confirming the alignment, which has a function of detecting a change in position when the stopper 40 and the notch 20 are engaged. As shown in FIG. 1F, when the notch alignment is confirmed, the notched wafer 10 in the cassette is set.
Is completed. In the embodiment, the sensor 60 is provided along with the stopper 40. However, the sensor 60 is not limited to this position, and may be configured to detect a minute change in the position of the notched wafer 10, for example. is there.

【0009】[0009]

【発明の効果】本発明の実施により、従来技術のオリフ
ラ合わせ器と比較して次のような顕著な効果を奏する。
According to the present invention, the following remarkable effects can be obtained as compared with the conventional orientation flat aligner.

【0010】(a)ノッチ付きウェハの位置合わせが簡
易な構造によって実現することができる。
(A) Positioning of a notched wafer can be realized by a simple structure.

【0011】(b)オリフラ合わせ器と比較して構成部
品点数が減少し、保守性、経済性の優れた位置合わせ機
構を提供することができる。
(B) The number of components is reduced as compared with the orientation flat aligner, and a positioning mechanism excellent in maintainability and economy can be provided.

【0012】(c)ノッチ1個により1方向の位置合わ
せをする構成により検知と調整が極めて容易となる。
(C) Detection and adjustment are extremely easy due to the configuration in which one notch is used to perform one-way alignment.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の実施例におけるウェハの位置決め機構
の手順を示す図である。
FIG. 1 is a diagram showing a procedure of a wafer positioning mechanism in an embodiment of the present invention.

【図2】本発明の実施例におけるノッチとストッパの係
合状態を示す拡大図である。
FIG. 2 is an enlarged view showing an engagement state of a notch and a stopper in the embodiment of the present invention.

【図3】従来技術のオリフラ合わせ器を示す斜視図であ
る。
FIG. 3 is a perspective view showing a conventional orientation flat aligner.

【図4】従来のウェハの外形と位置合わせ原理を示す図
である。
FIG. 4 is a diagram showing the outline of a conventional wafer and the principle of alignment.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…ウェハ 2…オリ
フラ 7…ウェハカセット 8…オル
フラ合わせ器 10…ノッチ付きウェハ 20…ノ
ッチ 3、30…ドライブローラ 40…ス
トッパ 5、50…ガイドローラ 60…セ
ンサ
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Wafer 2 ... Orifice flat 7 ... Wafer cassette 8 ... Ortho flat aligner 10 ... Notch wafer 20 ... Notch 3,30 ... Drive roller 40 ... Stopper 5,50 ... Guide roller 60 ... Sensor

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平4−118944(JP,A) 特開 平2−181948(JP,A) 特開 平3−148154(JP,A) 実開 平1−118443(JP,U) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H01L 21/68 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continuation of the front page (56) References JP-A-4-118944 (JP, A) JP-A-2-181948 (JP, A) JP-A-3-148154 (JP, A) 118443 (JP, U) (58) Field surveyed (Int. Cl. 7 , DB name) H01L 21/68

Claims (2)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】立て置きに装着したノッチ付きウェハのノ
ッチ位置を所定の方向に揃えるウェハの位置決め機構
具備する半導体製造装置において、 前記ウェハの外周の一点と接触する尖端を有するストッ
パと、 前記ウェハの外周の他点と接触すると共に水平軸を中心
として前記ウェハを回転駆動することが可能のように配
設したドライブローラと、 前記ストッパと前記ドライブローラによる接触支持状態
おいては、前記ウェハの外周との間に間隙を有するよ
うに配設した水平軸を有するガイドローラとを備え、 前記ウェハの回転に伴いこのウェハの外周に設けたノッ
チが前記ストッパと係合したとき、前記ガイドローラと
前記ストッパとが前記ウェハを静的に支持するように構
成したことを特徴とするウェハの位置決め機構を具備す
る半導体製造装置
1. A wafer positioning mechanism for aligning a notch position of a notched wafer mounted in an upright position in a predetermined direction.
In a semiconductor manufacturing apparatus comprising: a stopper having a sharp point that contacts a point on the outer periphery of the wafer; and a stopper that contacts the other point on the outer periphery of the wafer and can rotationally drive the wafer about a horizontal axis. a drive roller which is disposed, Oite contact support state <br/> by the drive roller and the stopper, and a guide roller having a horizontal axis which is disposed so as to have a gap between the outer periphery of the wafer The guide roller and the stopper are configured to statically support the wafer when a notch provided on the outer periphery of the wafer is engaged with the stopper as the wafer rotates. It is provided with a positioning mechanism of the wafer
Semiconductor manufacturing equipment .
【請求項2】前記ノッチと前記ストッパとの係合を検知
するセンサを有することを特徴とする請求項1記載のウ
ェハの位置決め機構を具備する半導体製造装置
2. The semiconductor manufacturing apparatus according to claim 1 , further comprising a sensor for detecting engagement between said notch and said stopper.
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