JP3217960B2 - Nickel complex for forming electron-emitting device or hydrate thereof and solution thereof, and method for manufacturing electron-emitting device and image forming apparatus - Google Patents

Nickel complex for forming electron-emitting device or hydrate thereof and solution thereof, and method for manufacturing electron-emitting device and image forming apparatus

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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は電子放出素子形成用
有機ニッケル錯体またはその水和物およびそれらの溶
液、並びに、電子放出素子および画像形成装置の製造方
法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an organic nickel complex for forming an electron-emitting device or a hydrate thereof, a solution thereof, and a method for manufacturing an electron-emitting device and an image forming apparatus.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来より、電子放出素子としては大別し
て熱電子源と冷陰極電子放出素子を用いた2種類のもの
が知られている。冷陰極電子源には電界放出型(以下、
「FE型」と略す)、金属/絶縁層/金属型(以下、
「MIM型」と略す)や表面伝導型電子放出素子等があ
る。FE型の例としてはW.P.Dyke&W.W.D
olan、“Field emission”、Adv
ance in Electron Physics、
8 89(1956)あるいはC.A.Spindt、
“PHYSICAL Properties of t
hin−filmfield emission ca
thodes with molybdenium c
ones”、J.Appl.Phys.、47 524
8(1976)等がに開示されたものが知られている。
2. Description of the Related Art Conventionally, two types of electron-emitting devices using a thermionic electron source and a cold cathode electron-emitting device have been known. Field emission type (hereinafter, referred to as cold cathode electron sources)
"FE type"), metal / insulating layer / metal type (hereinafter, referred to as "FE type")
"MIM type"), surface conduction electron-emitting devices, and the like. As an example of the FE type, W. P. Dyke & W. W. D
olan, "Field emission", Adv
ance in Electron Physics,
889 (1956) or C.I. A. Spindt,
“PHYSICAL Properties of
hin-filmfield emission ca
things with mollybdenium c
ones ", J. Appl. Phys., 47 524.
8 (1976) and the like are known.

【0003】MIM型の例としてはC.A.Mead、
“Operation of Tunnel−Emis
sion Devices”、J.Appl.Phy
s.、32 646(1961)等に開示されたものが
知られている。
As an example of the MIM type, C.I. A. Mead,
“Operation of Tunnel-Emis
Sion Devices, ”J. Appl. Phys.
s. , 32 646 (1961).

【0004】表面伝導型電子放出素子型の例としては、
M.I.Elinson、Radio Eng.Ele
ctron Phys.、10 1290(1965)
等に開示されたものがある。表面伝導型電子放出素子
(以下「SCE」ともいう)は、基板上に形成された小
面積の薄膜に、膜面に平行に電流を流すことにより、電
子放出が生ずる現象を利用するものである。このSCE
素子としては、前記Elinson等によるSnO2
膜を用いたもの、Au薄膜によるもの[G.Dittm
er:“Thin Solid Films”、9 3
17(1972)]、In23 /SnO2 薄膜による
もの[M.Hartwell and C.G.Fon
stad:“IEEE Trans.ED Con
f.”、519(1975)]、カーボン薄膜によるも
の[荒木久他:“真空”、第26巻、第1号、22頁
(1983)]等が報告されている。
Examples of the surface conduction electron-emitting device type include:
M. I. Elinson, Radio Eng. Ele
ctron Phys. , 10 1290 (1965)
And the like. 2. Description of the Related Art A surface conduction electron-emitting device (hereinafter, also referred to as "SCE") utilizes a phenomenon in which electron emission occurs when a current flows through a small-area thin film formed on a substrate in parallel with the film surface. . This SCE
The device using a SnO 2 thin film by Elinson et al., The device using an Au thin film [G. Dittm
er: "Thin Solid Films", 93
17 (1972)], based on an In 2 O 3 / SnO 2 thin film [M. Hartwell and C.M. G. FIG. Fon
stad: "IEEE Trans. ED Con
f. 519 (1975)], and those using a carbon thin film [Hisashi Araki et al .: “Vacuum”, Vol. 26, No. 1, p. 22 (1983)] and the like.

【0005】また本出願人も、上記の素子に様々な改良
を加えたSCE素子を例えば特開平7−235255号
等において開示している。その素子構成の一例を図2に
より説明する。同図において、1は絶縁性基板、5,6
は一対の素子電極、4は電子放出部を含む薄膜で、後述
の通電フォーミングと呼ばれる処理により電子放出部3
を形成したものである。
The present applicant also discloses an SCE device obtained by adding various improvements to the above device, for example, in Japanese Patent Application Laid-Open No. Hei 7-235255. An example of the element configuration will be described with reference to FIG. In the figure, reference numeral 1 denotes an insulating substrate;
Denotes a pair of device electrodes, and 4 denotes a thin film including an electron emitting portion. The electron emitting portion 3 is formed by a process called energization forming described later.
Is formed.

【0006】従来、これらのSCE素子においては、電
子放出を行なう前に電子放出部形成用薄膜を予めフォー
ミングと呼ばれる通電処理を施して電子放出部3を形成
するのが一般的であった。即ち、フォーミングとは前記
電子放出部形成用薄膜の両端に電極5,6を用いて電圧
を印加通電し、電子放出部形成用薄膜を局所的に破壊、
変形もしくは変質させることにより、電気的に高抵抗な
状態にした電子放出部3を形成することである。なお、
フォーミングにより電子放出部形成用薄膜の一部に亀裂
が発生しその亀裂付近から電子放出が行なわれ、電子放
出部となる場合もある。前記フォーミング処理をしたS
CE素子は、上述の電子放出部を含む薄膜4に電圧を印
加して素子に表面に電流を流すことにより、上述の電子
放出部3より電子を放出せしめるものである。
Heretofore, in these SCE elements, it has been general to form an electron emitting portion 3 by subjecting a thin film for forming an electron emitting portion to an energization process called forming beforehand before emitting electrons. That is, forming means applying and applying a voltage to both ends of the electron emitting portion forming thin film using the electrodes 5 and 6, and locally destroying the electron emitting portion forming thin film.
The purpose is to form the electron-emitting portion 3 in an electrically high-resistance state by deforming or altering. In addition,
In some cases, a crack is generated in a part of the thin film for forming an electron emission portion by the forming, and electrons are emitted from the vicinity of the crack to form an electron emission portion. S after the forming process
In the CE device, a voltage is applied to the thin film 4 including the above-described electron-emitting portion, and a current is caused to flow through the surface of the device, whereby electrons are emitted from the above-described electron-emitting portion 3.

【0007】電子放出部を含む薄膜は絶縁基板上に導電
性材料が堆積された導電性薄膜からなるものであって、
絶縁性基板上に導電性材料を蒸着、スパッタリング等の
堆積技術で直接形成することが知られている。また、別
に有機金属組成物の溶液を塗布乾燥し加熱焼成により有
機成分を熱分解除去して金属もしくは金属酸化物として
形成することができる。後者の方法は素子の形成に真空
装置を必要としないため、大面積の基板上に素子を形成
する場合などに有利な工程である。
[0007] The thin film including the electron emitting portion is a conductive thin film in which a conductive material is deposited on an insulating substrate.
It is known that a conductive material is directly formed on an insulating substrate by a deposition technique such as evaporation or sputtering. Alternatively, a solution of an organometallic composition can be separately applied and dried, and the organic component can be thermally decomposed and removed by heating and baking to form a metal or metal oxide. Since the latter method does not require a vacuum device for forming an element, it is an advantageous step for forming an element on a large-area substrate.

【0008】[0008]

【発明が解決しようとする課題】上述したように電子放
出部形成用薄膜は、有機金属化合物を有機溶媒に溶解し
た溶液を基板に塗布乾燥後、加熱焼成により有機成分を
熱分解除去して金属もしくは金属酸化物としていた。電
子放出部形成用薄膜の有機溶媒を用いることは低コスト
化、環境保護などの点から望ましくなく、水に容易に溶
解する有機金属錯体が望まれていた。また、使用される
有機金属錯体の中心金属がコストに大きく影響してい
る。したがって、この中心金属は安価な金属であること
が望ましい。さらに、電子放出素子の作成工程上、加熱
焼成により有機成分を熱分解除去して金属もしくは金属
酸化物とするので、より低い温度で電子放出部形成用薄
膜が形成できる有機金属錯体が望ましい。
As described above, the thin film for forming the electron-emitting portion is formed by applying a solution obtained by dissolving an organometallic compound in an organic solvent to a substrate, drying it, and then thermally baking to remove organic components by thermal decomposition. Or it was a metal oxide. It is not desirable to use an organic solvent for the thin film for forming the electron-emitting portion in terms of cost reduction and environmental protection, and an organometallic complex that easily dissolves in water has been desired. Further, the central metal of the organometallic complex used has a great influence on the cost. Therefore, it is desirable that this central metal be an inexpensive metal. Further, in the step of producing an electron-emitting device, an organic metal complex is preferably used, which can form a thin film for forming an electron-emitting portion at a lower temperature because an organic component is thermally decomposed and removed by heating and baking into a metal or a metal oxide.

【0009】そこで、本発明の目的は、安価な金属を中
心金属とし、水に容易に溶解し、低い温度で電子放出部
形成用薄膜が形成できる有機金属錯体、その水和物およ
びそれらの溶液、並びに、この溶液を用いた電子放出素
子作製方法および該電子放出素子を用いた画像形成装置
の製造方法を提供することにある。
Accordingly, an object of the present invention is to provide an organometallic complex having an inexpensive metal as a central metal, easily dissolving in water, and forming a thin film for forming an electron emitting portion at a low temperature, a hydrate thereof, and a solution thereof. Another object of the present invention is to provide a method for manufacturing an electron-emitting device using the solution and a method for manufacturing an image forming apparatus using the electron-emitting device.

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段および作用】本発明は、上
記課題を達成するために鋭意検討を行った結果、対向す
る電極間に有機金属化合物を付与し、これを加熱焼成す
る過程を経て電子放出部が設けられる表面伝導型電子放
出素子に用いられる前記有機金属化合物であって、化3
式で表される有機ニッケル錯体またはその水和物を電子
放出素子作製用材料として用いることにより、本発明を
完成するに至った。
According to the present invention, as a result of diligent studies to achieve the above object, an organometallic compound is provided between opposing electrodes and heated and calcined. The organometallic compound used for a surface conduction electron-emitting device provided with an emission portion,
The present invention has been completed by using an organic nickel complex represented by the formula or a hydrate thereof as a material for producing an electron-emitting device.

【0011】[0011]

【化3】 Embedded image

【0012】この電子放出素子作製用有機ニッケル錯体
およびその水和物は、中心金属であるニッケルに極性の
高いアルコールアミンを配位しているので、水溶液とし
て用いることができる。また、錯体の中心金属としては
電圧印加により電子を放出しやすいもの、すなわち仕事
関数の比較的低いもので且つ安定なもの、例えば、P
t,Pd,Ni等の白金族、Au,Ag,Cu,Cr,
Ta,Fe,W,Pb,Zn,Sn等の金属を挙げるこ
とができるが、本発明は、このなかでも比較的安価なニ
ッケルを用いるためコスト的にみても好ましく、かつ低
温での分解を可能にした。さらに、中心金属としてニッ
ケルを用いているため、電子放出素子の形成時に結晶構
造の成長が抑制され、シート抵抗値のばらつきを5%以
内に抑えることができる。
The organic nickel complex for producing an electron-emitting device and its hydrate can be used as an aqueous solution because a highly polar alcoholamine is coordinated to nickel as a central metal. Further, as the central metal of the complex, one which easily emits electrons by applying a voltage, that is, one having a relatively low work function and being stable, for example, P
platinum group such as t, Pd, Ni, Au, Ag, Cu, Cr,
Metals such as Ta, Fe, W, Pb, Zn, and Sn can be cited, but the present invention uses nickel, which is relatively inexpensive, and thus is preferable in terms of cost, and can be decomposed at low temperatures. I made it. Furthermore, since nickel is used as the central metal, the growth of the crystal structure during the formation of the electron-emitting device is suppressed, and the variation in sheet resistance can be suppressed to within 5%.

【0013】本発明はまた、前記ニッケル錯体またはそ
の水和物を含有する液滴を、対向する電極間に付与し、
これを加熱焼成し、金属無機酸化物または金属無機窒化
物などの金属無機化合物の薄膜とし、これを前記電子放
出部を形成するための材料とする電子放出素子の製造方
法に関する。
[0013] The present invention also provides a droplet containing the nickel complex or a hydrate thereof between opposed electrodes,
The present invention relates to a method for manufacturing an electron-emitting device in which a thin film of a metal-inorganic compound such as a metal-inorganic oxide or a metal-inorganic nitride is fired and fired, and this is used as a material for forming the electron-emitting portion.

【0014】本発明の画像形成装置の製造方法の発明
は、絶縁基板上に複数の電子放出素子を配列し、この電
子放出素子間の配線および素子への電圧印加用端子を形
成した電子源基板と、この素子から放出される電子を受
けて発光する発光体と、外部信号に基づいてこの素子へ
印加する電圧を制御する駆動回路とを具備する画像形成
装置の製造方法であり、該電子放出素子は上述の方法で
作製される。
An invention of a method of manufacturing an image forming apparatus according to the present invention is directed to an electron source substrate in which a plurality of electron-emitting devices are arranged on an insulating substrate, and wiring between the electron-emitting devices and terminals for applying voltage to the devices are formed. A light emitting body that receives and emits electrons emitted from the element, and a driving circuit that controls a voltage applied to the element based on an external signal. The device is manufactured by the method described above.

【0015】以下に、本発明をさらに詳細に説明する。Hereinafter, the present invention will be described in more detail.

【0016】電子放出部形成用薄膜の主成分として有機
金属化合物を使用するのは、これらを加熱焼成して金属
あるいは金属酸化物などの金属無機化合物を得る工程に
おいて、有機成分を含まないハロゲン化物や無機酸塩で
は融点、沸点、昇華温度および分解温度が約1000℃
であり、電子放出素子の基板として一般に用いられるガ
ラスやシリコンウエハおよび電極材料などの耐熱温度よ
りはるかに高く、電子放出部形成用薄膜を容易には得る
ことができないからである。その点有機ニッケル化合
物、例えば酢酸ニッケル−ビス(3−アミノプロパノー
ル)では、分解終了温度は393℃であり、基板および
電極材料などの耐熱温度以下である。
The reason why an organic metal compound is used as a main component of a thin film for forming an electron-emitting portion is that a halogen-free compound containing no organic component is used in a step of heating and firing these to obtain a metal-inorganic compound such as a metal or a metal oxide. Melting point, boiling point, sublimation temperature and decomposition temperature are about 1000 ℃
This is because the temperature is much higher than the heat resistance temperature of glass, silicon wafers, electrode materials, and the like generally used as a substrate of an electron-emitting device, and a thin film for forming an electron-emitting portion cannot be easily obtained. In this regard, in the case of an organic nickel compound, for example, nickel acetate-bis (3-aminopropanol), the decomposition end temperature is 393 ° C., which is lower than the heat resistant temperature of the substrate and the electrode material.

【0017】また有機金属化合物は一般に絶縁性であ
り、このままでは以下に述べるフォーミングと呼ばれる
電気的処理を行えない。よって加熱焼成して金属もしく
は金属無機化合物とするのであるが、加熱焼成時に有機
物が90%以上分解する温度および時間、並びに、必要
に応じて酸素や窒素などのガスを与え、有機金属化合物
の90%以上を無機金属あるいは無機金属酸化物や無機
金属窒化物などの金属無機化合物とすることが必要であ
る。90%以上を無機金属や金属無機化合物とする理由
はこの範囲内であれば電気抵抗が低くなり、フォーミン
グ処理を行えるからである。また残りの部分(10%以
下の成分)は有機物もしくはH2 O、CO、NOX など
であるが、金属によってはこれらを吸着、吸蔵、配位し
て完全に除去することは不可能な場合がある。これらの
残渣は存在しないほうが好ましいが、フォーミング処理
が可能な電気抵抗にすることが目的なので存在してもか
まわない。その際、作成工程上から、より低い温度で電
子放出部形成用薄膜が形成できる有機金属錯体が望まし
い。例えば、酢酸ニッケル−ビス(N−メチルエタノー
ルアミン)では、大気中300℃で30分の加熱で、有
機成分は1%以下にまで減少する。
Further, the organometallic compound is generally insulative, and as it is, it is not possible to perform an electrical treatment called forming described below. Therefore, it is heated and baked to obtain a metal or a metal-inorganic compound. The temperature and time at which the organic substance decomposes by 90% or more during the heating and calcination, and if necessary, a gas such as oxygen or nitrogen are given, and the 90 % Or more must be an inorganic metal or a metal-inorganic compound such as an inorganic metal oxide or an inorganic metal nitride. The reason that 90% or more is made of an inorganic metal or a metal-inorganic compound is that if the content is within this range, the electrical resistance becomes low and the forming process can be performed. The remaining portion (10% or less components) organic or H 2 O, CO, although such NO X, the metal adsorbing them, occlusion, when coordinated to completely remove it is impossible to have There is. It is preferable that these residues do not exist, but they may exist because the purpose is to make the electrical resistance capable of forming. At that time, an organometallic complex capable of forming a thin film for forming an electron-emitting portion at a lower temperature is desirable from the viewpoint of the production process. For example, in nickel acetate-bis (N-methylethanolamine), the organic component is reduced to 1% or less by heating at 300 ° C. in the air for 30 minutes.

【0018】また加熱焼成により得られる金属もしくは
金属無機化合物は後述するように微粒子分散体からなる
薄膜であることが多い。
The metal or metal-inorganic compound obtained by heating and firing is often a thin film composed of a fine particle dispersion as described later.

【0019】また、式3で表わされる有機ニッケル錯体
は水溶性である。そのニッケル金属の含有量としては
0.01重量%以上10重量%以下の範囲が好ましく、
特に好ましくは、0.1重量%以上2重量%以下の範囲
である。ニッケル金属の含有量が低すぎる場合、基板に
必要な量のニッケルを付与するために多量の液滴の付与
が必要になり、その結果液滴付与に要する時間が長くな
るばかりでなく、基板上に大きな液溜りを生じてしまい
必要な位置のみにニッケルを付与する目的が達成できな
い。逆に前記溶液のニッケル金属の含有量が高すぎる
と、基板に付与された液滴が後の工程で乾燥あるいは焼
成される際に著しく不均一化し、その結果として電子放
出部の導電膜が不均一になり電子放出素子の特性を悪化
させる。
The organic nickel complex represented by the formula (3) is water-soluble. The content of the nickel metal is preferably in a range of 0.01% by weight or more and 10% by weight or less,
Particularly preferably, it is in the range of 0.1% by weight to 2% by weight. If the content of nickel metal is too low, it is necessary to apply a large amount of droplets in order to apply the necessary amount of nickel to the substrate. Therefore, the purpose of applying nickel only to a necessary position cannot be achieved. Conversely, if the content of the nickel metal in the solution is too high, the droplets applied to the substrate become significantly non-uniform when dried or fired in a later step, and as a result, the conductive film in the electron emitting portion becomes inconsistent. It becomes uniform and deteriorates the characteristics of the electron-emitting device.

【0020】以上のように、式3で表わされる有機ニッ
ケル錯体を主成分とする水溶液を絶縁性基板上に塗布し
て塗膜とした後、乾燥加熱焼成することにより有機成分
が分散消失して導電性薄膜が基板上に形成される。
As described above, an aqueous solution containing an organic nickel complex represented by the formula 3 as a main component is applied on an insulating substrate to form a coating film, and then dried and heated and fired to disperse and eliminate the organic components. A conductive thin film is formed on a substrate.

【0021】通常、電子放出素子を作成する目的におい
て前記の導電性薄膜は基板上の所定の位置に所定の形状
として形成する必要がある。そのような導電性薄膜の部
分的形成の方法としては、前記のニッケル水溶液塗膜を
基板上に塗布し、加熱焼成して導電性薄膜をいったん基
板上に形成した後に不要部分を除去することにより所定
位置にのみ導電性薄膜を残す方法、前記のニッケル水溶
液塗膜をいったん基板上に塗布した後に不要な塗膜部分
を除去してから加熱焼成して所定位置にのみ導電性薄膜
を形成する方法あるいは、基板上の所定の位置のみに前
記のニッケル水溶液を塗布して加熱焼成することにより
所定位置にのみ導電性薄膜を形成する方法を用いること
ができる。
Usually, for the purpose of manufacturing an electron-emitting device, the conductive thin film needs to be formed at a predetermined position on a substrate in a predetermined shape. As a method of partially forming such a conductive thin film, the nickel aqueous solution coating is applied on a substrate, and the unnecessary portion is removed after the conductive thin film is once formed on the substrate by heating and baking. A method of leaving a conductive thin film only at a predetermined position, a method of forming an electroconductive thin film only at a predetermined position by heating and baking after removing an unnecessary coating portion after once applying the nickel aqueous coating film on a substrate. Alternatively, a method of forming a conductive thin film only at a predetermined position by applying the nickel aqueous solution only at a predetermined position on the substrate and heating and baking the nickel aqueous solution can be used.

【0022】前記の基板上の所定位置のみにニッケル水
溶液を塗布する工程は、マスクを介してディッピング、
スピン塗布、スプレー塗布等の従来公知の液体塗布手段
を用いて行う工程であってもよいが、マスクを用いるこ
となく基板上の所定の位置にのみ前記ニッケル水溶液の
液滴を付与する工程であってもよい。
The step of applying the nickel aqueous solution only to a predetermined position on the substrate includes dipping,
The step may be performed using a conventionally known liquid coating means such as spin coating or spray coating, but is a step of applying the nickel aqueous solution droplet only to a predetermined position on the substrate without using a mask. You may.

【0023】この、液滴を付与する手段は、液滴を形成
し付与することが可能ならば任意の方法でよいが、特に
微小な液滴を効率良く適度な精度で発生付与でき制御性
も良好なインクジェット方式が便利である。インクジェ
ット方式にはピエゾ素子等のメカニカルな衝撃により液
滴を発生付与するものや、微小ヒータ等で液を加熱し突
沸により液滴を発生付与するバブルジェット方式などが
あるが、いずれの方式でも十ng程度から数十μg程度
までの微小液滴を再現性良く発生し基板に付与すること
ができる。
The means for applying the droplets may be any method as long as it is possible to form and apply the droplets. In particular, fine droplets can be efficiently generated and provided with appropriate accuracy, and the controllability can be improved. A good inkjet system is convenient. Ink jet systems include those that generate and apply droplets by a mechanical impact such as a piezo element, and bubble jet systems that generate and apply droplets by heating a liquid with a minute heater or the like, and bumping. Fine droplets of about ng to about several tens μg can be generated with good reproducibility and applied to the substrate.

【0024】前記液滴付与工程においては基板上の同一
位置に液滴を必ずしも一回付与するのみに限る必要はな
く、液滴を複数回付与して所望量のニッケル水溶液を基
板上に与えてもよい。液滴を基板上に独立した状態に付
与するならば一般には基板上に円形かそれに近い形状の
小塗膜となる。しかし基板上の付与位置を前記の円形の
直径より小さい距離だけ離れた位置にずらして複数の液
滴を連続的に付与することにより、線状または面状と
し、連続した任意の形状の大きな塗膜を形成することが
可能である。
In the droplet applying step, it is not always necessary to apply the droplet to the same position on the substrate only once, but the droplet is applied a plurality of times to give a desired amount of the nickel aqueous solution onto the substrate. Is also good. When the droplets are applied independently on the substrate, a small coating film having a circular shape or a shape close thereto is generally formed on the substrate. However, by continuously dispensing a plurality of droplets by shifting the dispensing position on the substrate to a position separated by a distance smaller than the diameter of the circle, the droplet is formed into a linear or planar shape, and a continuous large coating is formed. It is possible to form a film.

【0025】上述の手段で基板に付与されたニッケル水
溶液は乾燥、焼成工程を経て導電性無機微粒子膜とする
ことにより、基板上に電子放出のための無機微粒子膜を
形成する。なおここで述べる微粒子膜とは複数の微粒子
が集合した膜であり、微視的に微粒子が個々に分散配置
した状態のみならず、微粒子が互いに隣接あるいは重な
り合った状態(島状も含む)の膜をさす。また微粒子膜
の粒径とは、前記状態で粒子形状が認識可能な微粒子に
ついての径を意味する。
The aqueous nickel solution applied to the substrate by the above means is dried and fired to form a conductive inorganic fine particle film, thereby forming an inorganic fine particle film for emitting electrons on the substrate. Note that the fine particle film described here is a film in which a plurality of fine particles are aggregated, and not only in a state where the fine particles are individually dispersed and arranged microscopically, but also in a state where the fine particles are adjacent to each other or overlap each other (including an island shape). Point out. The particle diameter of the fine particle film means the diameter of the fine particles whose particle shape can be recognized in the above state.

【0026】乾燥工程は通常用いられる自然乾燥、送風
乾燥、熱乾燥等を用いればよい。前記の液体付与された
基板を例えば70℃ないし130℃の電気乾燥器に30
秒ないし2分程度入れることにより乾燥することができ
る。焼成工程は通常用いられる加熱手段を用いればよ
い。焼成の温度は有機金属化合物が分解して無機微粒子
が生成するに充分な温度とすべきであるが、通常は15
0℃以上、500℃以下とする。焼成は還元性気体雰囲
気、酸化性気体雰囲気、不活性気体雰囲気あるいは真空
のいずれも利用し得る。還元性あるいは真空の条件下で
は有機金属化合物の熱分解により金属微粒子が生成する
ことが多い。一方、酸化性の条件下では金属酸化物の微
粒子が生成することが多い。しかし焼成雰囲気と生成微
粒子の酸化状態は単純に前記のように定まるものでな
い。例えば酸化性気体雰囲気下での焼成工程であっても
有機金属化合物が分解して最初に生成するものは金属微
粒子であって、さらに焼成を続けることにより前記の金
属が酸化されて金属酸化物の微粒子が生成するという場
合もある。生成したものが金属であれ、金属酸化物であ
れ、導電性を有する微粒子膜を形成しているならば本発
明の電子放出素子に利用することができる。焼成装置の
簡略化や製造コストの低減の観点からは空気雰囲気下で
行う焼成工程が優れている。最適な焼成時間は用いる有
機金属化合物の種類、焼成雰囲気や焼成温度により変わ
るものであるが、通常は2分ないし40分程度である。
焼成温度は一定でもよいが、所定のプログラムにしたが
って変化させてもよい。また、前記の乾燥工程と焼成工
程とは必ずしも区別された別工程として行う必要はな
く、連続して同時に行ってもかまわない。
In the drying step, natural drying, blast drying, heat drying and the like may be used. The liquid-coated substrate is placed in an electric dryer at 70 ° C. to 130 ° C. for 30 minutes, for example.
It can be dried by putting it for about 2 to 2 minutes. The baking step may use a heating means that is usually used. The firing temperature should be a temperature sufficient to decompose the organometallic compound to form inorganic fine particles.
0 ° C or more and 500 ° C or less. For firing, any of a reducing gas atmosphere, an oxidizing gas atmosphere, an inert gas atmosphere, and a vacuum can be used. Under reducing or vacuum conditions, metal fine particles are often generated by thermal decomposition of the organometallic compound. On the other hand, under oxidizing conditions, metal oxide fine particles are often generated. However, the firing atmosphere and the oxidation state of the produced fine particles are not simply determined as described above. For example, even in the firing step under an oxidizing gas atmosphere, the first thing generated by the decomposition of the organometallic compound is metal fine particles, and the metal is oxidized by continuing the firing and the metal oxide is formed. In some cases, fine particles are generated. Regardless of what is produced, whether it is a metal or a metal oxide, it can be used for the electron-emitting device of the present invention as long as it forms a conductive fine particle film. From the viewpoint of simplification of the firing apparatus and reduction of the manufacturing cost, the firing step performed in an air atmosphere is excellent. The optimum firing time varies depending on the type of the organometallic compound used, the firing atmosphere and the firing temperature, but is usually about 2 to 40 minutes.
The firing temperature may be constant, but may be changed according to a predetermined program. Further, the drying step and the firing step do not necessarily have to be performed as separate and distinct steps, and may be performed continuously and simultaneously.

【0027】(製造方法の説明)本発明に従う表面伝導
型電子放出素子および画像形成装置の製造方法について
説明する。なお、ここでは平面構造の電子放出素子につ
いて述べるが、本発明の製造方法はこの平面型電子放出
素子の製造に限られるものではない。
(Description of Manufacturing Method) A method of manufacturing the surface conduction electron-emitting device and the image forming apparatus according to the present invention will be described. Here, an electron-emitting device having a planar structure will be described, but the manufacturing method of the present invention is not limited to the manufacture of the flat-type electron-emitting device.

【0028】図1(a)〜(d)は、表面伝導型電子放
出素子の製造方法を示す模式断面図であり、図2
(a),(b)は、それぞれ、本発明に好適な基本的な
表面伝導型電子放出素子の構成を示す模式的平面図およ
び断面図である。なお、図1および図2において、1は
基板、2は電子放出部形成用薄膜、3は電子放出部、4
は導電性薄膜、5と6は素子電極であり、7は液滴付与
手段、8は液滴、9は液滴8を付与してできた液溜りで
ある。
FIGS. 1A to 1D are schematic sectional views showing a method of manufacturing a surface conduction electron-emitting device.
1A and 1B are a schematic plan view and a cross-sectional view, respectively, showing the configuration of a basic surface conduction electron-emitting device suitable for the present invention. 1 and 2, 1 is a substrate, 2 is a thin film for forming an electron-emitting portion, 3 is an electron-emitting portion,
Denotes a conductive thin film, 5 and 6 denote element electrodes, 7 denotes a liquid drop applying means, 8 denotes a liquid drop, and 9 denotes a liquid pool formed by applying the liquid drop 8.

【0029】まず図2を用いて、本発明に好適な電子放
出素子の基本的な構成を説明する。基板1としては、石
英ガラス、Na等の不純物含有量を減少したガラス、青
板ガラス、青板ガラスにスパッタ法等により形成したS
iO2 を積層したガラス基板等およびアルミナ等のセラ
ミックス等が、用いられる。
First, the basic structure of an electron-emitting device suitable for the present invention will be described with reference to FIG. As the substrate 1, quartz glass, glass having a reduced content of impurities such as Na, blue sheet glass, and S
A glass substrate laminated with iO 2 and ceramics such as alumina are used.

【0030】対向する素子電極5,6の材料としては、
一般的導体材料が用いられる、例えば、Ni,Cr,A
u,Mo,W,Pt,Ti,Al,Cu,Pd等の金属
あるいは合金およびPd,Ag,Au,RuO2 ,Pd
−Ag等の金属あるいは金属酸化物とガラス等から構成
される印刷導体、In23 −SnO2 等の透明導電体
およびポリシリコン等の半導体導体材料等から適宜選択
される。
The materials of the opposing device electrodes 5 and 6 are as follows.
Common conductor materials are used, for example, Ni, Cr, A
Metals or alloys such as u, Mo, W, Pt, Ti, Al, Cu, Pd and Pd, Ag, Au, RuO 2 , Pd
Metal or metal oxide and printed conductor composed of glass or the like, such as -ag, is appropriately selected from a semiconductor conductive materials such as transparent conductors and polysilicon or the like In 2 O 3 -SnO 2.

【0031】素子電極間隔L1、素子電極長さW1、導
電性薄膜4の形状等は、応用される形態等によって設計
される。素子電極間隔L1は、好ましくは数百Å〜数百
μmであり、より好ましくは、素子電極間に印加する電
圧等により、数μm〜数十μmである。素子電極長さW
1は、好ましくは電極の抵抗値や電子放出特性により、
数μm〜数百μmであり、また素子電極5,6の膜厚d
は、数百Å〜数μmである。なお、図2の構成だけでな
く、基板1上に、導電性薄膜4、対向する素子電極5,
6の電極順に積層構成してもよい。
The element electrode interval L1, the element electrode length W1, the shape of the conductive thin film 4, and the like are designed according to the applied form and the like. The element electrode interval L1 is preferably several hundreds of μm to several hundred μm, and more preferably several μm to several tens μm, depending on the voltage applied between the element electrodes. Element electrode length W
1 is preferably determined by the resistance value and the electron emission characteristic of the electrode.
Several μm to several hundred μm, and the film thickness d of the device electrodes 5 and 6
Is several hundreds of μm to several μm. In addition to the configuration shown in FIG. 2, the conductive thin film 4
The electrodes may be laminated in the order of 6 electrodes.

【0032】導電性薄膜4は、良好な電子放出特性を得
るためには微粒子で構成された微粒子膜が特に好まし
く、その膜厚は、素子電極5,6へのステップカバレー
ジ、素子電極5,6間の抵抗値および後述する通電フォ
ーミング条件等によって適宜設定され、好ましくは数Å
〜数千Åで、特に好ましくは10Å〜500Åであり、
その抵抗値は103 〜107 Ω/□のシート抵抗値を示
す。
The conductive thin film 4 is particularly preferably a fine particle film composed of fine particles in order to obtain good electron emission characteristics. The film thickness is determined by the step coverage of the device electrodes 5 and 6 and the device electrodes 5 and 6. It is appropriately set according to the resistance value between the electrodes and the energization forming conditions described later, and is preferably several millimeters.
To several thousand degrees, particularly preferably 10 to 500 degrees,
The resistance value indicates a sheet resistance value of 10 3 to 10 7 Ω / □.

【0033】なお、ここで述べる微粒子膜とは、複数の
微粒子が集合した膜であり、その微細構造として、微粒
子が個々に分散配置した状態のみならず、微粒子が互い
に隣接、あるいは重なり合った状態(島状も含む)の膜
をさしており、微粒子の粒径は、数Å〜数千Å、好まし
くは10Å〜200Åである。
The fine particle film described here is a film in which a plurality of fine particles are gathered, and has a fine structure not only in a state in which the fine particles are individually dispersed and arranged, but also in a state in which the fine particles are adjacent to each other or overlap each other ( (Including an island shape), and the particle size of the fine particles is several to several thousand degrees, preferably 10 to 200 degrees.

【0034】電子放出部3は、導電性薄膜4の一部に形
成された高抵抗の亀裂であり、導電性薄膜4の膜厚、膜
質、材料および後述する通電フォーミング等の製法に依
存して形成される。前記の亀裂部は数Å〜数百Åの粒径
の導電性微粒子を有することもある。この導電性微粒子
は、導電性薄膜4を構成する材料の元素の一部、あるい
は全てと同様のものである。また、電子放出部3および
その近傍の導電性薄膜4には、炭素あるいは炭素化合物
を有することもある。上述の表面伝導型電子放出素子の
製造方法としては、様々な方法が考えられるが、以下に
その一例を図1および図2に基づいて説明する。
The electron-emitting portion 3 is a high-resistance crack formed in a part of the conductive thin film 4 and depends on the film thickness, film quality and material of the conductive thin film 4 and a manufacturing method such as energization forming which will be described later. It is formed. The crack may include conductive fine particles having a particle size of several to several hundreds of mm. The conductive fine particles are similar to some or all of the elements of the material constituting the conductive thin film 4. Further, the electron emitting portion 3 and the conductive thin film 4 in the vicinity thereof may contain carbon or a carbon compound. Various methods are conceivable as a method of manufacturing the above-mentioned surface conduction electron-emitting device. One example will be described below with reference to FIGS.

【0035】1) 基板1を洗剤、純水および有機溶剤
により十分に洗浄後、真空蒸着法、スパッタ法等により
素子電極材料を堆積後、フォトリソグラフィー技術によ
り該基板1上に素子電極5,6を形成する(図1
(a))。
1) After sufficiently washing the substrate 1 with a detergent, pure water and an organic solvent, depositing element electrode materials by vacuum evaporation, sputtering, or the like, and depositing the element electrodes 5 and 6 on the substrate 1 by photolithography. (Fig. 1
(A)).

【0036】2) 素子電極5,6を設けた基板1上
に、前記の本発明の電子放出素子製造用ニッケル水溶液
を塗布して塗膜を形成する。塗布の手段としてはスピン
塗布、ディッピング、スプレー塗布等の通常の液体塗布
手段を用いることができる。また別の塗布手段としてピ
エゾ方式や加熱発泡(バブルジェット)方式等のインク
ジェットに代表される、液滴付与手段7を用いることも
できる(図1(b))。この後、前記の塗膜を加熱焼成
して有機成分を分散させて電子放出部形成用薄膜2を得
る(図1(c))。導電性薄膜4を所望の平面形状とす
るためには前記の塗膜の加熱焼成前あるいは後にリフト
オフ、エッチング、レーザートリミング等のパターニン
グ処理を行い不要部分を除去すればよい。適当な液滴付
与手段を用いた場合には所望の導電性薄膜のパターン形
状の塗膜を形成可能であり、この場合には前記のパター
ニング処理を省略することができる。
2) On the substrate 1 on which the device electrodes 5 and 6 are provided, the above-mentioned nickel aqueous solution for manufacturing an electron-emitting device of the present invention is applied to form a coating film. As a means for coating, a usual liquid coating means such as spin coating, dipping, spray coating or the like can be used. Further, as another application means, a droplet applying means 7 typified by an inkjet method such as a piezo method or a thermal foaming (bubble jet) method can be used (FIG. 1B). Thereafter, the above-mentioned coating film is heated and fired to disperse the organic components, thereby obtaining a thin film 2 for forming an electron emission portion (FIG. 1 (c)). In order to form the conductive thin film 4 into a desired planar shape, unnecessary portions may be removed by performing a patterning process such as lift-off, etching, laser trimming or the like before or after the above-mentioned heating and baking of the coating film. When an appropriate droplet applying means is used, a coating film having a desired conductive thin film pattern can be formed, and in this case, the patterning process can be omitted.

【0037】前記の液滴付与手段とは、液体を1000
μm以下1μm以上の大きさの小滴とし、これを一滴も
しくは複数滴用いて被塗布面に塗布を行う手段である。
またインクジェットとは、前記の液体小滴を形成したう
えで被塗布面に向けて射出して主に液体小滴の慣性によ
り前記液体小滴を被塗布面に移行させる液滴付与手段で
ある。前記インクジェットは、通常被塗布面上の所望の
位置に液体小滴を移行させる目的で液滴射出部と被塗布
面との相対位置を変化させる手段や、前記の慣性により
移行中の液体小滴に対して静電気等の非接触による外力
を作用させて液体小滴の飛行方向を調整する手段を併用
する場合が多い。
The above-mentioned droplet applying means means that the liquid is
This is a means for applying to the surface to be coated by using one or a plurality of small droplets having a size of 1 μm or more and μm or less.
Ink-jet is a droplet applying means for forming the above-mentioned liquid droplets, ejecting them toward the surface to be coated, and transferring the liquid droplets to the surface to be coated mainly by inertia of the liquid droplets. The ink jet is a means for changing a relative position between a droplet ejecting unit and a surface to be coated, usually for the purpose of moving a liquid droplet to a desired position on a surface to be coated, or a liquid droplet being transferred due to the inertia. In many cases, a means for adjusting the flight direction of a liquid droplet by applying an external force due to non-contact such as static electricity is used.

【0038】前記ピエゾ方式とはインクジェットの一方
式であって、液体小滴の形成と射出に、圧電体に電圧を
印加した際の変形力を利用する方式である。また前記バ
ブルジェット方式とはインクジェットの一方式であっ
て、液体小滴の形成と射出に、液体を小空間で加熱した
際の突沸の力を利用する方式である。
The piezo method is an ink-jet method in which a deformation force generated when a voltage is applied to a piezoelectric body is used for forming and ejecting liquid droplets. The bubble jet method is an ink jet method in which bumping force generated when a liquid is heated in a small space is used to form and eject liquid droplets.

【0039】上記のように塗布を行った有機ニッケル薄
膜を加熱焼成すると、通常有機成分は1000度以下、
ほとんどの場合300度前後で分解してニッケル酸化物
などの無機化合物、あるいはそれらの表面に炭素数の小
さな簡単な有機物が吸着した組成物に変化する。
When the organic nickel thin film coated as described above is heated and baked, the organic component is usually 1000 ° C. or less.
In most cases, it decomposes at around 300 degrees to change to an inorganic compound such as nickel oxide or a composition in which a simple organic substance having a small number of carbon atoms is adsorbed on the surface thereof.

【0040】通常前記のようにして形成された導電性薄
膜は、微視的にはニッケル水溶液に含まれていたニッケ
ル原子が数個から数千個凝集した微粒子が多数集合した
形態を有する。
Usually, the conductive thin film formed as described above microscopically has a form in which a large number of fine particles in which several to thousands of nickel atoms contained in an aqueous nickel solution are aggregated.

【0041】3) つづいて、通電フォーミングと呼ば
れる通電処理を行う。素子電極5,6間に、不図示の電
源より通電すると、導電性薄膜4の部位に、構造の変化
した電子放出部3が形成される(図1(d))。この通
電フォーミングにより導電性薄膜4を局所的に破壊、変
形もしくは変質せしめ、構造の変化した部位を電子放出
部3とよぶ。
3) Subsequently, an energization process called energization forming is performed. When electricity is supplied from a power supply (not shown) between the device electrodes 5 and 6, an electron-emitting portion 3 having a changed structure is formed at the portion of the conductive thin film 4 (FIG. 1D). The conductive thin film 4 is locally destroyed, deformed or deteriorated by the energization forming, and a portion having a changed structure is called an electron emission portion 3.

【0042】通電フォーミングの電圧波形の例を図3に
示す。電圧波形は、特にパルス波形が好ましく、パルス
波高値を定電圧としたパルスを連続的に印加する場合
(図3(a))とパルス波高値を増加させながら、電圧
パルスを印加する場合(図3(b))がある。まず、パ
ルス波高値を定電圧とした場合(図3(a))について
説明する。
FIG. 3 shows an example of the voltage waveform of the energization forming. The voltage waveform is particularly preferably a pulse waveform. When a pulse with a constant pulse peak value is applied continuously (FIG. 3A), or when a voltage pulse is applied while increasing the pulse peak value (FIG. 3A). 3 (b)). First, a case where the pulse peak value is a constant voltage (FIG. 3A) will be described.

【0043】図3(a)におけるT1およびT2は電圧
波形のパルス幅とパルス間隔であり、T1を1μ秒〜1
0m秒、T2を10μ秒〜100m秒とし、三角波の波
高値(通電フォーミング時のピーク電圧)は、表面伝導
型電子放出素子の応用される形態に応じて適宜選択し、
適当な真空度で数秒から数十分印加する。なお、素子の
電極間に印加する波形は三角波に限定することはなく、
矩形波など所望の波形を用いても良い。
T1 and T2 in FIG. 3A are the pulse width and pulse interval of the voltage waveform, and T1 is 1 μsec to 1 μs.
0 ms, T2 is set to 10 μs to 100 ms, and the peak value of the triangular wave (peak voltage at the time of energization forming) is appropriately selected according to the applied form of the surface conduction electron-emitting device.
Apply for several seconds to tens of minutes at an appropriate degree of vacuum. The waveform applied between the electrodes of the element is not limited to a triangular wave,
A desired waveform such as a rectangular wave may be used.

【0044】図3(b)におけるT1およびT2は、図
3(a)と同様であり、三角波の波高値(通電フォーミ
ング時のピーク電圧)は、例えば0.1Vステップ程度
づつ、増加させ、適当な真空雰囲気下で印加する。
T1 and T2 in FIG. 3 (b) are the same as those in FIG. 3 (a), and the peak value of the triangular wave (peak voltage during energization forming) is increased by, for example, about 0.1 V steps. It is applied under a suitable vacuum atmosphere.

【0045】なお、この場合の通電フォーミング処理の
終了は、パルス間隔T2中に、導電性薄膜4を局所的に
破壊、変形しない程度の電圧、例えば0.1V程度の電
圧で素子電流を測定して抵抗値を求め、例えば1MΩ以
上の抵抗値を示した時、通電フォーミングを終了とす
る。
In this case, the energization forming process is completed by measuring the element current at a voltage that does not locally destroy or deform the conductive thin film 4 during the pulse interval T2, for example, a voltage of about 0.1 V. Then, when the resistance value is, for example, 1 MΩ or more, the energization forming is terminated.

【0046】4) 好ましくは、通電フォーミングが終
了した後に、表面伝導型電子放出素子に活性化工程と呼
ぶ処理を施す。
4) Preferably, after the energization forming, the surface conduction electron-emitting device is subjected to a process called an activation process.

【0047】活性化工程とは、例えば、10-4〜10-5
torr程度の真空度で、通電フォーミング同様、パル
ス波高値を低電圧としてパルス印加を繰り返す処理のこ
とを言い、真空中に存在する有機物質から、炭素あるい
は炭素化合物を堆積することで素子電流(If)、放出
電流(Ie)が著しく変化する処理である。素子電流
(If)と放出電流(Ie)を測定しながら、例えば、
放出電流が飽和した時点で上記活性化工程を終了する。
また、パルス波高値は、好ましくは、動作電圧である。
The activation step is, for example, 10 -4 to 10 -5
Similar to energization forming, it refers to a process of repeating pulse application with a pulse peak value being a low voltage at a degree of vacuum of about torr, and depositing carbon or a carbon compound from an organic substance existing in a vacuum to produce an element current (If). ), Where the emission current (Ie) changes significantly. While measuring the device current (If) and the emission current (Ie), for example,
The activation step is completed when the emission current is saturated.
Further, the pulse peak value is preferably an operating voltage.

【0048】なお、ここで炭素および炭素化合物とは、
グラファイト(単結晶、多結晶双方を指す)、非晶質カ
ーボン(非晶質カーボンおよび多結晶グラファイトとの
混合物を指す)であり、その膜厚は好ましくは、500
Å以下、より好ましくは、300Å以下である。
Here, carbon and carbon compound are:
Graphite (indicating both single crystal and polycrystalline) and amorphous carbon (indicating a mixture of amorphous carbon and polycrystalline graphite).
{}, More preferably 300 ° or less.

【0049】5) こうして作成した表面伝導型電子放
出素子を、活性化工程での真空度より高い真空度の真空
雰囲気にし、好ましく動作駆動する。また、より好まし
くは、このより高い真空度の真空雰囲気下で80℃〜1
50℃に加熱後、動作駆動する。
5) The surface-conduction electron-emitting device thus produced is put into a vacuum atmosphere having a degree of vacuum higher than the degree of vacuum in the activation step, and is preferably operated and driven. More preferably, the temperature is 80 ° C. to 1 ° C. in a vacuum atmosphere of a higher degree of vacuum.
After heating to 50 ° C., the operation is driven.

【0050】なお、活性化工程の真空度より高い真空度
の真空雰囲気とは、例えば、約10-6torr以下の真
空雰囲気であり、より好ましくは、超高真空系であり、
炭素および炭素化合物が新たには、ほとんど堆積しない
真空度である。したがって、これ以上の炭素および炭素
化合物の堆積を抑制することが可能となり、素子電流I
f、放出電流Ieが安定する。
The vacuum atmosphere having a degree of vacuum higher than the degree of vacuum in the activation step is, for example, a vacuum atmosphere of about 10 −6 torr or less, more preferably an ultra-high vacuum system.
A vacuum at which carbon and carbon compounds are hardly newly deposited. Therefore, it is possible to suppress further deposition of carbon and carbon compounds, and the device current I
f, the emission current Ie is stabilized.

【0051】上述のような素子構成と製造方法によって
作成された本発明に好適な電子放出素子の基本特性につ
いて図4、図5を用いて説明する。
The basic characteristics of the electron-emitting device suitable for the present invention prepared by the above-described device structure and manufacturing method will be described with reference to FIGS.

【0052】図4は、図1で示した構成を有する素子の
電子放出特性を測定するための測定評価装置の概略構成
図である。図4において、図1または図2と同様の符号
は、同一のものを示す。また、40は素子電極5〜6間
の導電性薄膜4を流れる素子電流Ifを測定するための
電流計、41は電子放出素子に素子電圧Vfを印加する
ための電源、42は素子の電子放出部3より放出される
放出電流Ieを測定するための電流計、43はアノード
電極44に電圧を印加するための高圧電源、44は素子
の電子放出部より放出される放出電流Ieを捕捉するた
めのアノード電極、45は真空装置である。
FIG. 4 is a schematic configuration diagram of a measurement evaluation apparatus for measuring the electron emission characteristics of the device having the configuration shown in FIG. 4, the same reference numerals as those in FIG. 1 or FIG. 2 indicate the same components. Reference numeral 40 denotes an ammeter for measuring a device current If flowing through the conductive thin film 4 between the device electrodes 5 and 6; 41, a power supply for applying a device voltage Vf to the electron-emitting device; An ammeter for measuring the emission current Ie emitted from the unit 3; 43, a high-voltage power supply for applying a voltage to the anode electrode 44; 44, a capture for the emission current Ie emitted from the electron emission portion of the device. An anode electrode 45 is a vacuum device.

【0053】また、電子放出素子およびアノード電極4
4等は真空装置45内に設置され、その真空装置には、
不図示の真空計等の真空装置に必要な機器が具備されて
おり、所望の真空下で本素子の測定評価を行えるように
なっている。したがって、本測定装置では、前述の通電
フォーミング以降の工程も行うことができる。
The electron-emitting device and the anode 4
4 and the like are installed in a vacuum device 45, and the vacuum device includes:
Necessary equipment for a vacuum device such as a vacuum gauge (not shown) is provided so that measurement and evaluation of the present element can be performed under a desired vacuum. Therefore, the present measuring apparatus can also perform the steps after the energization forming described above.

【0054】なお、アノード電極の電圧は1kV〜10
kV、アノード電極と電子放出素子との距離Hは2mm
〜8mmの範囲で測定した。
The voltage of the anode electrode ranges from 1 kV to 10 kV.
kV, the distance H between the anode electrode and the electron-emitting device is 2 mm
It was measured in a range of 88 mm.

【0055】図4に示した測定評価装置により測定され
た放出電流Ieおよび素子電流Ifと素子電圧Vfの関
係の典型的な例を図5に示す。なお、図5は放出電流I
eは素子電流Ifに比べて著しく小さいので、任意単位
で示されている。
FIG. 5 shows a typical example of the relationship between the emission current Ie, the device current If, and the device voltage Vf measured by the measurement / evaluation apparatus shown in FIG. FIG. 5 shows the emission current I
Since e is much smaller than the element current If, it is shown in arbitrary units.

【0056】図5からも明らかなように、本発明に好適
な表面伝導型電子放出素子は、放出電流Ieに対する三
つの特徴的特性を有する。
As is apparent from FIG. 5, the surface conduction electron-emitting device suitable for the present invention has three characteristic characteristics with respect to the emission current Ie.

【0057】まず第一に、本素子はある電圧(しきい値
電圧と呼ぶ、図5中のVth)以上の素子電圧を印加す
ると急激に放出電流Ieが増加し、一方しきい値電圧V
th以下では放出電流Ieがほとんど検出されない。す
なわち、放出電流Ieに対する明確なしきい値電圧Vt
hを持った非線形素子である。
First, when an element voltage higher than a certain voltage (called a threshold voltage, Vth in FIG. 5) is applied to the present element, the emission current Ie sharply increases, while the threshold voltage Ve is increased.
Below th, the emission current Ie is hardly detected. That is, a clear threshold voltage Vt for the emission current Ie
h is a non-linear element.

【0058】第二に、放出電流Ieが素子電圧Vfに単
調増加依存するため、放出電流Ieは素子電圧Vfで制
御できる。
Second, since the emission current Ie depends monotonically on the device voltage Vf, the emission current Ie can be controlled by the device voltage Vf.

【0059】第三に、アノード電極44に捕捉される放
出電荷は、素子電圧Vfを印加する時間に依存する。そ
のため、アノード電極44に捕捉される電荷量は、素子
電圧Vfを印加する時間により制御できる。
Third, the amount of the charges captured by the anode electrode 44 depends on the time during which the device voltage Vf is applied. Therefore, the amount of charge captured by the anode electrode 44 can be controlled by the time during which the device voltage Vf is applied.

【0060】以上のような本発明に好適な表面伝導型電
子放出素子の特徴的特性のため、入力信号に応じて、電
子放出特性が、複数の電子放出素子を配置した電子源、
画像形成装置等でも容易に制御できることとなり、多方
面への応用ができる。
Because of the characteristic characteristics of the surface conduction electron-emitting device suitable for the present invention as described above, the electron emission characteristics of the electron source in which a plurality of electron-emitting devices are arranged in accordance with an input signal;
The image forming apparatus can be easily controlled, and can be applied to various fields.

【0061】次に本発明に好適な電子源および画像形成
装置について、述べる。本発明に好適な表面伝導型電子
放出素子を複数個、基板上に配列し、電子源あるいは画
像形成装置が構成できる。
Next, an electron source and an image forming apparatus suitable for the present invention will be described. By arranging a plurality of surface conduction electron-emitting devices suitable for the present invention on a substrate, an electron source or an image forming apparatus can be constructed.

【0062】基板上の配列の方式には、例えば、従来例
で述べた多数の表面伝導型電子放出素子を並列に配置
し、個々の素子の両端を配線で接続し、電子放出素子の
行を多数配列し(行方向と呼ぶ)、この配線と直交する
方向に(列方向と呼ぶ)、該電子源の上方の空間に設置
された制御電極(グリッドとも呼ぶ)により、電子放出
素子からの電子を制御駆動するはしご状配置や、複数本
のX方向配線の上に複数本のY方向配線を層間絶縁層を
介して設置し、表面伝導型電子放出素子の一対の素子電
極にそれぞれX方向配線、Y方向配線を接続した単純マ
トリクス配置があげられる。
In the method of arrangement on the substrate, for example, a large number of surface conduction electron-emitting devices described in the conventional example are arranged in parallel, both ends of each device are connected by wiring, and the rows of the electron-emitting devices are arranged. Electrons from the electron-emitting device are arranged in a large number (referred to as a row direction) in a direction perpendicular to the wiring (referred to as a column direction) and provided by a control electrode (also referred to as a grid) provided in a space above the electron source. A ladder-like arrangement for controlling and driving, a plurality of Y-direction wirings are provided on a plurality of X-direction wirings via an interlayer insulating layer, and the X-direction wirings are respectively provided on a pair of device electrodes of the surface conduction electron-emitting device. , A simple matrix arrangement in which Y-direction wirings are connected.

【0063】以下、本発明の電子源の構成について、図
6を用いて説明する。61は電子源基板、62はX方向
配線、63はY方向配線、64は表面伝導型電子放出素
子、65は結線である。
Hereinafter, the configuration of the electron source of the present invention will be described with reference to FIG. 61 is an electron source substrate, 62 is an X-direction wiring, 63 is a Y-direction wiring, 64 is a surface conduction electron-emitting device, and 65 is a connection.

【0064】同図において電子源基板61に用いる基板
は前述したガラス基板等であり、用途に応じて形状が適
宜設定される。m本のX方向配線62は、Dx1,Dx
2,・・・・・・,Dxmからなり、Y方向配線63はDy
1,Dy2,・・・・・・,Dynのn本の配線よりなる。ま
た多数の表面伝導型素子にほぼ均等な電圧が供給される
ように材料、膜厚、配線幅が適宜設定される。これらm
本のX方向配線62とn本のY方向配線63間は不図示
の層間絶縁層により電気的に分離されてマトリックス配
線を構成する(m,nは共に正の整数)。
In the figure, the substrate used for the electron source substrate 61 is the above-mentioned glass substrate or the like, and the shape is appropriately set according to the application. The m X-directional wires 62 are Dx1 and Dx
,..., Dxm, and the Y-direction wiring 63 is Dy
, Dyn2,..., Dyn. The material, the film thickness, and the wiring width are appropriately set so that a substantially uniform voltage is supplied to a large number of surface conduction elements. These m
The matrix wirings are formed by electrically separating the X-direction wirings 62 and the n Y-direction wirings 63 by an interlayer insulating layer (not shown) (m and n are both positive integers).

【0065】不図示の層間絶縁層は真空蒸着法、印刷
法、スパッタ法等で形成したSiO2等であり、X方向
配線62を形成した基板61の全面あるいは一部の所望
の形状で形成される。特に、X方向配線62とn本のY
方向配線63の交差部の電位差に耐え得るように膜厚、
材料、製法が適宜設定される。X方向配線62とY方向
配線63はそれぞれ外部端子として引き出される。
The interlayer insulating layer (not shown) is made of SiO 2 or the like formed by a vacuum evaporation method, a printing method, a sputtering method, or the like, and is formed in a desired shape on the entire surface or a part of the substrate 61 on which the X-directional wiring 62 is formed. You. In particular, the X-direction wiring 62 and n Y
The film thickness is set so as to withstand the potential difference at the intersection of the direction wiring 63.
The material and the production method are appropriately set. The X-direction wiring 62 and the Y-direction wiring 63 are led out as external terminals.

【0066】さらに表面伝導型放出素子64の対向する
素子電極(不図示)が、m本のX方向配線62とn本の
Y方向配線63と、真空蒸着法、印刷法、スパッタ法等
で形成された導電性金属等からなる結線65によって電
気的に接続されている。
Further, device electrodes (not shown) opposed to the surface conduction electron-emitting device 64 are formed by m X-directional wirings 62 and n Y-directional wirings 63 by vacuum deposition, printing, sputtering, or the like. Are electrically connected by a connection 65 made of a conductive metal or the like.

【0067】ここで、m本のX方向配線62、n本のY
方向配線63、結線65および対向する素子電極の各々
の導電性金属は、その構成元素の一部あるいは全部が同
一であっても異なっていてもよく、前述の素子電極の材
料等から適宜選択される。なお、これら素子電極への配
線は、素子電極と配線材料が同一である場合は素子電極
と総称する場合もある。また、表面伝導型電子放出素子
は基板61あるいは不図示の層間絶縁層上のどちらに形
成してもよい。
Here, m X-directional wires 62 and n Y wires
The conductive metal of each of the directional wiring 63, the connection 65, and the opposing element electrode may have some or all of the constituent elements thereof the same or different, and are appropriately selected from the above-described element electrode materials and the like. You. Note that the wiring to these device electrodes may be collectively referred to as a device electrode when the material of the device electrode and the wiring material are the same. The surface conduction electron-emitting device may be formed on either the substrate 61 or an interlayer insulating layer (not shown).

【0068】また、詳しくは後述するが、前記X方向配
線62にはX方向に配列する表面伝導型放出素子64の
行を、入力信号に応じて走査するための走査信号を印加
するための不図示の走査信号発生手段と電気的に接続さ
れている。
As will be described in detail later, the X-direction wiring 62 is not provided with a scanning signal for applying a scanning signal for scanning a row of the surface conduction type emission elements 64 arranged in the X direction in accordance with an input signal. It is electrically connected to the illustrated scanning signal generating means.

【0069】一方、Y方向配線63にはY方向に配列す
る表面伝導型電子放出素子64の列の各列を入力信号に
応じて、変調するための変調信号を印加するための不図
示の変調信号発生手段と電気的に接続されている。
On the other hand, the Y-direction wiring 63 is provided with a modulation (not shown) for applying a modulation signal for modulating each of the rows of the surface conduction electron-emitting devices 64 arranged in the Y-direction in accordance with an input signal. It is electrically connected to the signal generating means.

【0070】さらに表面伝導型電子放出素子の各素子に
印加される駆動電圧は、当該素子に印加される走査信号
と変調信号の差電圧として供給されるものである。
Further, the driving voltage applied to each element of the surface conduction electron-emitting device is supplied as a difference voltage between the scanning signal and the modulation signal applied to the element.

【0071】上記構成において、単純なマトリクス配線
だけで個別の素子を選択して独立に駆動可能になる。
In the above configuration, individual elements can be selected and driven independently only by simple matrix wiring.

【0072】つぎに以上のようにして作成した単純マト
リクス配置の電子源を用いた画像形成装置について、図
7、図8および図9を用いて説明する。図7は画像形成
装置を構成する表示パネルの基本構成図であり、図8は
蛍光膜を示す。図9はNTSC方式のテレビ信号に応じ
て表示するための駆動回路のブロック図を示し、その駆
動回路を含む画像形成装置を表わす。
Next, an image forming apparatus using the electron sources having the simple matrix arrangement prepared as described above will be described with reference to FIGS. 7, 8 and 9. FIG. FIG. 7 is a basic configuration diagram of a display panel constituting the image forming apparatus, and FIG. 8 shows a fluorescent film. FIG. 9 is a block diagram of a drive circuit for displaying in accordance with an NTSC television signal, and shows an image forming apparatus including the drive circuit.

【0073】図7において61は電子放出素子を基板上
に作製した電子源基板、71は電子源基板61を固定し
たリアプレート、76はガラス基板73の内面に蛍光膜
74とメタルバック75等が形成されたフェースプレー
ト、72は支持枠であり、リアプレート71、支持枠7
2およびフェースプレート76をフリットガラス等を塗
布し、大気中あるいは窒素中で400〜500度で10
分以上焼成することで封着して外囲器78を構成する。
In FIG. 7, reference numeral 61 denotes an electron source substrate on which electron-emitting devices are formed, 71 is a rear plate on which the electron source substrate 61 is fixed, 76 is a glass substrate 73 on which an inner surface of a fluorescent film 74 and a metal back 75 are provided. The formed face plate 72 is a support frame, and the rear plate 71 and the support frame 7
2 and the face plate 76 are coated with frit glass or the like, and 10 to 400 degrees to 500 degrees in air or nitrogen.
The envelope 78 is formed by baking for more than a minute to seal.

【0074】図7において3は図1における電子放出部
に相当する。62,63は表面伝導型電子放出素子の一
対の素子電極に接続されたX方向配線およびY方向配線
である。
In FIG. 7, reference numeral 3 corresponds to the electron-emitting portion in FIG. 62 and 63 are X-direction wiring and Y-direction wiring connected to a pair of device electrodes of the surface conduction electron-emitting device.

【0075】外囲器78は、上述の如くフェースプレー
ト76、支持枠72、リアプレート71で構成したが、
リアプレート71は主に電子源基板61の強度を補強す
る目的で設けられるため、電子源基板61自体で十分な
強度を持つ場合は別体のリアプレート71は不要であ
り、電子源基板61に直接支持枠72を封着し、フェー
スプレート76、支持枠72、電子源基板61にて外囲
器78を構成しても良い。またさらにはフェースプレー
ト76、リアプレート71間に、スペーサーとよばれる
耐大気圧支持部材を設置することで大気圧に対して十分
な強度をもつ外囲器78にすることもできる。
The envelope 78 is composed of the face plate 76, the support frame 72, and the rear plate 71 as described above.
Since the rear plate 71 is provided mainly for the purpose of reinforcing the strength of the electron source substrate 61, if the electron source substrate 61 itself has sufficient strength, the separate rear plate 71 is unnecessary, and The support frame 72 may be directly sealed, and the envelope 78 may be constituted by the face plate 76, the support frame 72, and the electron source substrate 61. Further, by providing an anti-atmospheric pressure support member called a spacer between the face plate 76 and the rear plate 71, the envelope 78 having sufficient strength against atmospheric pressure can be obtained.

【0076】図8中、82は蛍光体である。螢光膜74
(図7)は、モノクロームの場合は蛍光体82のみから
なるが、カラーの蛍光膜の場合は蛍光体82の配列によ
ってはブラックストライプあるいはブラックマトリクス
などと呼ばれる黒色導電材81と蛍光体82とで構成さ
れる。ブラックストライプ、ブラックマトリクスが設け
られる目的はカラー表示の場合、必要となる三原色蛍光
体の各蛍光体82間の塗り分け部を黒くすることで混色
等を目立たなくすることと、蛍光膜74における外光反
射によるコントラストの低下を抑制することである。ブ
ラックストライプの材料としては、通常良く用いられて
いる黒鉛を主成分とする材料だけでなく、導電性がある
が、光の透過および反射が少ない材料であればこれに限
るものではない。ガラス基板73に蛍光体を塗布する方
法はモノクローム、カラーによらず沈澱法や印刷法が用
いられる。
In FIG. 8, reference numeral 82 denotes a phosphor. Fluorescent film 74
(FIG. 7) includes only the phosphor 82 in the case of monochrome, but in the case of a color phosphor film, depending on the arrangement of the phosphor 82, a black conductive material 81 called a black stripe or a black matrix and the phosphor 82 are used. Be composed. The purpose of providing the black stripes and the black matrix is to provide a color display, in order to make the mixed colors less noticeable by making the painted portions between the phosphors 82 of the necessary three primary color phosphors black, The purpose is to suppress a decrease in contrast due to light reflection. The material of the black stripe is not limited to a commonly used material containing graphite as a main component, as long as the material has conductivity but has little light transmission and reflection. As a method of applying the phosphor on the glass substrate 73, a precipitation method or a printing method is used regardless of monochrome or color.

【0077】また蛍光膜74(図7)の内面側には通常
メタルバック75(図7)が設けられる。メタルバック
の目的は蛍光体の発光のうち内面側への光をフェースプ
レート76側へ鏡面反射することにより輝度を向上する
こと、電子ビーム加速電圧を印加するための電極として
作用すること、外囲器内で発生した負イオンの衝突によ
るダメージからの蛍光体の保護等である。メタルバック
は蛍光膜作製後、蛍光膜の内面側表面の平滑化処理(通
常フィルミングと呼ばれる)を行ない、その後A1を真
空蒸着等で堆積することで作製できる。フェースプレー
ト76には、さらに蛍光膜74の導電性を高めるため蛍
光膜74の外面側に透明電極(不図示)を設けてもよ
い。前述の封着を行なう際、カラーの場合は各色蛍光体
と電子放出素子とを対応させなくてはならず十分な位置
合わせを行なう必要がある。
A metal back 75 (FIG. 7) is usually provided on the inner surface side of the fluorescent film 74 (FIG. 7). The purpose of the metal back is to improve the brightness by mirror-reflecting the light toward the inner surface side of the phosphor emission toward the face plate 76, to act as an electrode for applying an electron beam acceleration voltage, This is to protect the phosphor from damage caused by collision of negative ions generated in the vessel. The metal back can be manufactured by performing a smoothing process (usually called filming) on the inner surface of the fluorescent film after manufacturing the fluorescent film, and then depositing A1 by vacuum evaporation or the like. The face plate 76 may be provided with a transparent electrode (not shown) on the outer surface side of the fluorescent film 74 to further increase the conductivity of the fluorescent film 74. When performing the above-mentioned sealing, in the case of color, the phosphors of each color and the electron-emitting devices must be corresponded, and it is necessary to perform sufficient alignment.

【0078】外囲器78は不図示の排気管を通じ、10
-7torr程度の真空度にされ、封止が行なわれる。
The envelope 78 passes through an exhaust pipe (not shown) and
The degree of vacuum is set to about -7 torr, and sealing is performed.

【0079】また外囲器78の封止後の真空度を維持す
るためにゲッター処理を行なう場合もある。これは外囲
器78の封止を行なう直前あるいは封止後に抵抗加熱あ
るいは高周波加熱等の加熱法により、外囲器78内の所
定の位置(不図示)に配置されたゲッターを加熱し、蒸
着膜を形成する処理である。ゲッターは通常Ba等が主
成分であり、該蒸着膜の吸着作用により、例えば1×1
-5torrないし1×10-7torrの真空度を維持
するものである。なお、表面伝導型電子放出素子のフォ
ーミング以降の工程は適宜設定される。
In some cases, a getter process is performed to maintain the degree of vacuum after the envelope 78 is sealed. This is done by heating a getter disposed at a predetermined position (not shown) in the envelope 78 by a heating method such as resistance heating or high-frequency heating immediately before or after sealing of the envelope 78, and performing vapor deposition. This is a process for forming a film. The getter is usually composed mainly of Ba or the like.
0 -5 torr to is to maintain the degree of vacuum 1 × 10 -7 torr. Steps after forming the surface conduction electron-emitting device are appropriately set.

【0080】次に、単純マトリクス配置型基板を有する
電子源を用いて構成した画像形成装置に、NTSC方式
のテレビ信号に基づきテレビジョン表示を行なうための
駆動回路の概略構成を図9のブロック図を用いて説明す
る。91は表示パネルであり、92は走査回路、93は
制御回路、94はシフトレジスタ、95はラインメモ
リ、96は同期信号分離回路、97は変調信号発生器、
VxおよびVaは直流電圧源である。
Next, a schematic configuration of a driving circuit for performing a television display based on an NTSC television signal in an image forming apparatus using an electron source having a simple matrix arrangement type substrate is shown in a block diagram of FIG. This will be described with reference to FIG. 91 is a display panel, 92 is a scanning circuit, 93 is a control circuit, 94 is a shift register, 95 is a line memory, 96 is a synchronizing signal separation circuit, 97 is a modulation signal generator,
Vx and Va are DC voltage sources.

【0081】以下、各部の機能を説明する。まず表示パ
ネル91は、端子Dox1ないしDoxmおよび端子D
oy1ないしDoynおよび高圧端子Hvを介して外部
の電気回路と接続している。このうち端子Dox1ない
しDoxmには前記表示パネル内に設けられている電子
源、すなわちm行n列の行列状にマトリクス配線された
表面伝導型電子放出素子群を一行(n素子)ずつ順次駆
動してゆくための走査信号が印加される。
The function of each section will be described below. First, the display panel 91 includes terminals Dox1 to Doxm and a terminal D.
It is connected to an external electric circuit via oy1 to Doyn and the high voltage terminal Hv. Of these terminals, the terminals Dox1 to Doxm sequentially drive electron sources provided in the display panel, that is, a group of surface conduction electron-emitting devices arranged in a matrix of m rows and n columns, one row at a time (n elements). A scanning signal for moving is applied.

【0082】一方、端子Doy1ないしDoynには前
記走査信号により選択された一行の表面伝導型電子放出
素子の各素子の出力電子ビームを制御するための変調信
号が印加される。また高圧端子Hvには直流電圧源Va
より、例えば10KVの直流電圧が供給されるが、これ
は表面伝導型電子放出素子より出力される電子ビームに
蛍光体を励起するのに十分なエネルギーを付与するため
の加速電圧である。
On the other hand, to the terminals Doy1 to Doyn, a modulation signal for controlling the output electron beam of each of the surface conduction electron-emitting devices in one row selected by the scanning signal is applied. A DC voltage source Va is connected to the high-voltage terminal Hv.
Thus, for example, a DC voltage of 10 KV is supplied, which is an accelerating voltage for applying sufficient energy to the electron beam output from the surface conduction electron-emitting device to excite the phosphor.

【0083】次に走査回路92について説明する。同回
路は内部にm個のスイッチング素子を備えるもので(図
中、S1ないしSmで模式的に示している)、各スイッ
チング素子は直流電圧源Vxの出力電圧もしくは0V
(グランドレベル)のいずれか一方を選択し、それを表
示パネル91の端子Dox1ないしDoxmと電気的に
接続するものである。S1ないしSmの各スイッチング
素子は制御回路93が出力する制御信号Tscanに基
づいて動作するものであり、実際には例えばFETのよ
うなスイッチング素子を組み合わせることにより構成す
ることが可能である。
Next, the scanning circuit 92 will be described. The circuit has m switching elements inside (in the figure, S1 to Sm are schematically shown), and each switching element is an output voltage of a DC voltage source Vx or 0V.
(Ground level) and electrically connect it to the terminals Dox1 to Doxm of the display panel 91. Each of the switching elements S1 to Sm operates based on the control signal Tscan output from the control circuit 93, and can be actually configured by combining switching elements such as FETs.

【0084】なお、前記直流電圧源Vxは前記表面伝導
型電子放出素子の特性(電子放出しきい値電圧)に基づ
き走査されていない素子に印加される駆動電圧が電子放
出しきい値電圧以下となるような一定電圧を出力するよ
う設定されている。
The DC voltage source Vx determines that the drive voltage applied to an unscanned device is equal to or lower than the electron emission threshold voltage based on the characteristics (electron emission threshold voltage) of the surface conduction electron-emitting device. It is set to output such a constant voltage.

【0085】制御回路93は外部より入力する画像信号
に基づいて適切な表示が行なわれるように各部の動作を
整合させる働きをもつものである。次に説明する同期信
号分離回路96より送られる同期信号Tsyncに基づ
いて各部に対してTscan、TsftおよびTmry
の各制御信号を発生する。
The control circuit 93 has a function of coordinating the operation of each part so that appropriate display is performed based on an externally input image signal. Based on a synchronization signal Tsync sent from a synchronization signal separation circuit 96 described below, Tscan, Tsft, and Tmry are applied to each unit.
Are generated.

【0086】同期信号分離回路96は外部から入力され
るNTSC方式のテレビ信号から同期信号成分と輝度信
号成分とを分離するための回路で周波数分離(フィルタ
ー)回路を用いれば構成できるものである。同期信号分
離回路96により分離された同期信号は良く知られるよ
うに垂直同期信号と水平同期信号よりなるが、ここでは
説明の便宜上Tsync信号として図示した。一方、前
記テレビ信号から分離された画像の輝度信号成分を便宜
上DATA信号と表わすが同信号はシフトレジスタ94
に入力される。
The synchronizing signal separating circuit 96 is a circuit for separating a synchronizing signal component and a luminance signal component from an NTSC television signal input from the outside, and can be formed by using a frequency separating (filter) circuit. As is well known, the synchronization signal separated by the synchronization signal separation circuit 96 is composed of a vertical synchronization signal and a horizontal synchronization signal, but is shown here as a Tsync signal for convenience of explanation. On the other hand, the luminance signal component of the image separated from the television signal is expressed as a DATA signal for convenience, but the signal is a shift register 94.
Is input to

【0087】シフトレジスタ94は時系列的にシリアル
に入力される前記DATA信号を画像の1ライン毎にシ
リアル/パラレル変換するためのもので前記制御回路9
3より送られる制御信号Tsftに基づいて動作する
(すなわち制御信号Tsftは、シフトレジスタ94の
シフトクロックであると言い換えても良い)。シリアル
/パラレル変換された画像1ライン分(電子放出素子n
素子分の駆動データに相当する)のデータはId1ない
しIdnのn個の並列信号として前記シフトレジスタ9
4より出力される。
The shift register 94 is for serially / parallel converting the DATA signal input serially in time series for each line of an image.
3 operates based on the control signal Tsft sent from the control signal 3 (that is, the control signal Tsft may be a shift clock of the shift register 94). One line of serial / parallel converted image (electron emitting element n
(Corresponding to the drive data for the elements) are stored in the shift register 9 as n parallel signals Id1 to Idn.
4 is output.

【0088】ラインメモリ95は画像1ライン分のデー
タを必要時間の間だけ記憶するための記憶装置であり、
制御回路93より送られる制御信号Tmryにしたがっ
て適宜Id1ないしIdnの内容を記憶する。ラインメ
モリ95に記憶された内容はId’1ないしId’nと
して出力され変調信号発生器97に入力される。
The line memory 95 is a storage device for storing data for one line of an image for a required time only.
The contents of Id1 to Idn are stored as appropriate according to the control signal Tmry sent from the control circuit 93. The contents stored in the line memory 95 are output as Id′1 to Id′n and input to the modulation signal generator 97.

【0089】変調信号発生器97は前記画像データI
d’1ないしId’nの各々に応じて表面伝導型電子放
出素子の各々を適切に駆動変調するための信号源で、そ
の出力信号は端子Doy1ないしDoynを通じて表示
パネル91内の表面伝導型電子放出素子に印加される。
The modulation signal generator 97 outputs the image data I
A signal source for appropriately driving and modulating each of the surface conduction electron-emitting devices in accordance with each of d'1 to Id'n, and an output signal thereof is supplied to the surface conduction electron-emitting device in the display panel 91 through terminals Doy1 to Doyn. Applied to the emitting element.

【0090】前述したように本発明に関わる電子放出素
子は放出電流Ieに対して以下の基本特性を有してい
る。すなわち前述したように電子放出には明確なしきい
値電圧Vthがあり、Vth以上の電圧を印加された時
のみ電子放出が生じる。
As described above, the electron-emitting device according to the present invention has the following basic characteristics with respect to the emission current Ie. That is, as described above, electron emission has a clear threshold voltage Vth, and electron emission occurs only when a voltage higher than Vth is applied.

【0091】また電子放出しきい値以上の電圧に対して
は素子への印加電圧の変化に応じて放出電流も変化して
ゆく。なお、電子放出素子の材料や構成、製造方法を変
えることにより電子放出しきい値電圧Vthの値や印加
電圧に対する放出電流の変化の度合が変わる場合もある
が、いずれにしても以下のようなことがいえる。
For a voltage higher than the electron emission threshold, the emission current also changes in accordance with the change in the voltage applied to the device. In some cases, the value of the electron emission threshold voltage Vth or the degree of change of the emission current with respect to the applied voltage may be changed by changing the material, configuration, or manufacturing method of the electron emission element. I can say that.

【0092】すなわち、本素子にパルス状の電圧を印加
する場合、例えば電子放出閾値以下の電圧を印加しても
電子放出は生じないが電子放出閾値以上の電圧を印加す
る場合には電子ビームが出力される。その際、第一には
パルスの波高値Vmを変化させることにより出力電子ビ
ームの強度を制御することが可能である。第二には、パ
ルスの幅Pwを変化させることにより出力される電子ビ
ームの電荷の総量を制御することが可能である。したが
って、入力信号に応じて電子放出素子を変調する方式と
しては、電圧変調方式よびパルス幅変調方式等があげら
れ、電圧変調方式を実施するには変調信号発生器97と
して一定の長さの電圧パルスを発生するが入力されるデ
ータに応じて適宜パルスの波高値を変調するような電圧
変調方式の回路を用いる。またパルス幅変調方式を実施
するには変調信号発生器97として、一定の波高値の電
圧パルスを発生するが入力されるデータに応じて適宜電
圧パルスの幅を変調するようなパルス幅変調方式の回路
を用いるものである。
That is, when a pulse-like voltage is applied to the device, for example, when a voltage lower than the electron emission threshold is applied, electron emission does not occur, but when a voltage higher than the electron emission threshold is applied, the electron beam is irradiated. Is output. At that time, first, the intensity of the output electron beam can be controlled by changing the peak value Vm of the pulse. Second, it is possible to control the total amount of charges of the output electron beam by changing the pulse width Pw. Therefore, as a method of modulating the electron-emitting device in accordance with the input signal, a voltage modulation method, a pulse width modulation method, or the like can be mentioned. A voltage modulation type circuit that generates a pulse and modulates the peak value of the pulse appropriately according to input data is used. In order to implement the pulse width modulation method, the modulation signal generator 97 generates a voltage pulse having a constant peak value, but modulates the width of the voltage pulse appropriately according to input data. A circuit is used.

【0093】以上に説明した一連の動作により本発明の
画像表示装置は表示パネル91を用いてテレビジョンの
表示を行なうことができる。なお、上記説明中特に記載
しなかったがシフトレジスタ94やラインメモリ95は
デジタル信号式のものでもアナログ信号式のものでも差
し支えなく、要は画像信号のシリアル/パラレル変換や
記憶が所定の速度で行なわれればよい。
By the series of operations described above, the image display device of the present invention can display a television using the display panel 91. Although not particularly described in the above description, the shift register 94 and the line memory 95 may be of a digital signal type or an analog signal type. In short, serial / parallel conversion and storage of image signals can be performed at a predetermined speed. It should be done.

【0094】デジタル信号式を用いる場合には同期信号
分離回路96の出力信号DATAをデジタル信号化する
必要があるが、これは96の出力部にA/D変換器を備
えれば可能である。また、これと関連してラインメモリ
95の出力信号がデジタル信号かアナログ信号かによ
り、変調信号発生器97に用いられる回路が若干異なっ
たものとなる。
When the digital signal system is used, it is necessary to convert the output signal DATA of the synchronizing signal separation circuit 96 into a digital signal. This can be achieved by providing an A / D converter at the output of the 96. In connection with this, the circuit used for the modulation signal generator 97 differs slightly depending on whether the output signal of the line memory 95 is a digital signal or an analog signal.

【0095】まずデジタル信号の場合について述べる。
電圧変調方式においては変調信号発生器97には、例え
ばよく知られるD/A変換回路を用い、必要に応じて増
幅回路などを付け加えればよい。またパルス幅変調方式
の場合、変調信号発生器97は、例えば高速の発振器お
よび発振器の出力する波数を計数する計数器(カウン
タ)および計数器の出力値と前記メモリの出力値を比較
する比較器(コンパレータ)を組み合せた回路を用いる
ことにより構成できる。必要に応じて比較器の出力する
パルス幅変調された変調信号を表面伝導型電子放出素子
の駆動電圧にまで電圧増幅するための増幅器を付け加え
てもよい。
First, the case of a digital signal will be described.
In the voltage modulation method, for example, a well-known D / A conversion circuit may be used as the modulation signal generator 97, and an amplification circuit or the like may be added as necessary. In the case of the pulse width modulation method, the modulation signal generator 97 includes, for example, a high-speed oscillator, a counter that counts the number of waves output from the oscillator, and a comparator that compares the output value of the counter with the output value of the memory. It can be configured by using a circuit in which a (comparator) is combined. If necessary, an amplifier for amplifying the voltage of the pulse width modulated signal output from the comparator to the drive voltage of the surface conduction electron-emitting device may be added.

【0096】次にアナログ信号の場合について述べる。
電圧変調方式においては変調信号発生器97には、例え
ばよく知られるオペアンプなどを用いた増幅回路を用い
ればよく、必要に応じてレベルシフト回路などを付け加
えてもよい。またパルス幅変調方式の場合には例えばよ
く知られた電圧制御型発振回路(VCO)を用いればよ
く、必要に応じて表面伝導型電子放出素子の駆動電圧に
まで電圧増幅するための増幅器を付け加えてもよい。
Next, the case of an analog signal will be described.
In the voltage modulation method, for example, an amplification circuit using a well-known operational amplifier or the like may be used as the modulation signal generator 97, and a level shift circuit or the like may be added as necessary. In the case of the pulse width modulation method, for example, a well-known voltage-controlled oscillation circuit (VCO) may be used, and an amplifier for amplifying the voltage up to the driving voltage of the surface conduction electron-emitting device may be added as necessary. You may.

【0097】以上のように完成した画像表示装置におい
て、各電子放出素子に、容器外端子Dox1ないしDo
xm,Doy1ないしDoynを通じて、電圧を印加す
ることにより電子放出させ、高圧端子Hvを通じて、メ
タルバック75(図7)あるいは透明電極(不図示)に
高圧を印加し、電子ビームを加速し、蛍光膜74(図
7)に衝突させ、励起・発光させることで画像を表示す
ることができる。
In the image display device completed as described above, external terminals Dox1 to Dox are connected to each electron-emitting device.
xm, Doy1 to Doyn to emit electrons by applying a voltage, apply a high voltage to a metal back 75 (FIG. 7) or a transparent electrode (not shown) through a high voltage terminal Hv, accelerate an electron beam, and accelerate the fluorescent film. 74 (FIG. 7), and an image can be displayed by exciting and emitting light.

【0098】以上述べた構成は、表示等に用いられる好
適な画像形成装置を作製する上で必要な概略構成であ
り、例えば各部材の材料等、詳細な部分は上述内容に限
られるものではなく、画像形成装置の用途に適するよう
適宜選択する。また、入力信号例として、NTSC方式
をあげたが、これに限るものでなく、PAL、SECA
M方式などの諸方式でもよく、また、これよりも、多数
の走査線からなるTV信号(例えば、MUSE方式をは
じめとする高品位TV)方式でもよい。
The configuration described above is a schematic configuration necessary for manufacturing a suitable image forming apparatus used for display and the like. For example, detailed portions such as materials of each member are not limited to those described above. Is appropriately selected so as to be suitable for the use of the image forming apparatus. Also, the NTSC system has been described as an example of the input signal, but the present invention is not limited to this, and PAL, SECA
Various systems such as the M system may be used, and a TV signal composed of a larger number of scanning lines (for example, a high-definition TV including the MUSE system) may be used.

【0099】次に、前述のはしご型配置電子源基板およ
びそれを用いた画像表示装置について図10および図1
1により説明する。
Next, the above-mentioned ladder-type arrangement electron source substrate and an image display device using the same will be described with reference to FIGS.
1 will be described.

【0100】図10において、100は電子源基板、1
01は電子放出素子、102のDx1〜Dx10は前記
電子放出素子に接続する共通配線である。電子放出素子
101は、基板100上にX方向に並列に複数個配置さ
れている(これを素子行と呼ぶ)。この素子行を複数個
基板上に配置したものが、はしご型電子源基板である。
各素子行の共通配線間に適宜駆動電圧を印加すること
で、各素子行を独立に駆動することが可能になる。すな
わち、電子ビームを放出させる素子行には、電子放出し
きい値以上の電圧を、電子ビームを放出させない素子行
には電子放出しきい値以下の電圧を印加すればよい。ま
た、各素子行間の共通配線Dx2〜Dx9を、例えばD
x2とDx3、Dx4とDx5、Dx6とDx7、Dx
8とDx9のように互いに隣接する配線同士を一本に接
続して、同一配線とするようにしても良い。
In FIG. 10, 100 is an electron source substrate, 1
Reference numeral 01 denotes an electron-emitting device, and 102 denotes common wirings connected to the electron-emitting devices. A plurality of electron-emitting devices 101 are arranged on the substrate 100 in parallel in the X direction (this is called an element row). A ladder-type electron source substrate has a plurality of such element rows arranged on a substrate.
By appropriately applying a drive voltage between the common wires of each element row, each element row can be driven independently. That is, a voltage equal to or higher than the electron emission threshold may be applied to the element rows that emit the electron beam, and a voltage equal to or lower than the electron emission threshold may be applied to the element rows that do not emit the electron beam. Further, the common wirings Dx2 to Dx9 between the element rows are
x2 and Dx3, Dx4 and Dx5, Dx6 and Dx7, Dx
Wirings adjacent to each other, such as 8 and Dx9, may be connected together to form the same wiring.

【0101】図11は、はしご型配置の電子源を備えた
画像形成装置の構造を示すための図である。110はグ
リッド電極、111は電子が通過するための空孔、11
2はDox1,Dox2・・・・・・Doxmよりなる容器外
端子、113はグリッド電極110と接続されたG1,
G2,・・・・・・Gnからなる容器外端子、100は前述の
ように各素子行間の共通配線を同一配線とした電子源基
板である。なお、図7,10と同一の符号は同一のもの
を示す。前述の単純マトリクス配置の画像形成装置(図
7)との違いは、電子源基板100とフェースプレート
76の間にグリッド電極110を備えていることであ
る。
FIG. 11 is a diagram showing the structure of an image forming apparatus provided with a ladder-shaped electron source. 110 is a grid electrode, 111 is a hole for passing electrons, 11 is
2 is Dox1, Dox2,..., An outer terminal made of Doxm, 113 is G1, which is connected to the grid electrode 110.
.., Gn, the outer terminal 100 is an electron source substrate in which the common wiring between the element rows is the same as described above. 7 and 10 indicate the same components. The difference from the above-described image forming apparatus having the simple matrix arrangement (FIG. 7) is that a grid electrode 110 is provided between the electron source substrate 100 and the face plate 76.

【0102】グリッド電極110は、表面伝導型放出素
子から放出された電子ビームを変調するためのものであ
り、はしご型配置の素子行と直行して設けられたストラ
イプ状の電極に電子ビームを通過させるため、各素子に
対応して1個ずつ円形の開口111が設けられている。
但し、グリッドの形状や設置位置は図11に示したもの
に限定されるものではない。例えば、開口としてメッシ
ュ状に多数の通過口を設けることもでき、グリッドを表
面伝導型放出素子の周囲や近傍に設けることもできる。
容器外端子112およびグリッド容器外端子113は、
不図示の制御回路と電気的に接続されている。
The grid electrode 110 is for modulating the electron beam emitted from the surface conduction electron-emitting device, and passes the electron beam to a stripe-shaped electrode provided perpendicular to the ladder-shaped device row. For this purpose, one circular opening 111 is provided for each element.
However, the shape and installation position of the grid are not limited to those shown in FIG. For example, a large number of passage openings may be provided in a mesh shape as openings, and a grid may be provided around or near the surface conduction electron-emitting device.
The terminal 112 outside the container and the terminal 113 outside the grid container
It is electrically connected to a control circuit (not shown).

【0103】本例の画像形成装置では、素子行を1列ず
つ順次駆動(走査)していくのと同期してグリッド電極
列に画像1ライン分の変調信号を同時に印加する。これ
により、各電子ビームの蛍光体への照射を制御し、画像
を1ラインずつ表示することができる。
In the image forming apparatus of this embodiment, a modulation signal for one line of an image is simultaneously applied to the grid electrode rows in synchronization with sequentially driving (scanning) the element rows one by one. This makes it possible to control the irradiation of each electron beam to the phosphor and display an image one line at a time.

【0104】また本発明の思想によれば、テレビジョン
放送の表示装置のみならず、テレビ会議システム、コン
ピューター等の表示装置として、好適な画像形成装置が
提供される。さらには、感光性ドラム等とで構成された
光プリンターとしての画像形成装置としても用いること
ができる。
According to the concept of the present invention, an image forming apparatus suitable as a display device for a television conference system or a computer as well as a display device for a television broadcast is provided. Further, it can be used as an image forming apparatus as an optical printer including a photosensitive drum and the like.

【0105】以下、具体的な実施例を挙げて本発明を詳
しく説明するが、本発明はこれら実施例に限定されるも
のではなく、本発明の目的が達成される範囲内での各要
素の置換や設計変更がなされたものも包含する。
Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to specific examples. However, the present invention is not limited to these examples, and each element within a range in which the object of the present invention is achieved. Also includes replacements and design changes.

【0106】[0106]

【実施例】実施例1 電子放出素子形成用錯体、蟻酸ニッケル−トリス(エタ
ノールアミン)−2水和物(以下「NFME」と略す)
を以下のようにして合成した。
EXAMPLE 1 Nickel formate-tris (ethanolamine) dihydrate (hereinafter abbreviated as "NFME"), a complex for forming an electron-emitting device
Was synthesized as follows.

【0107】エタノールアミン9.92gに蟻酸ニッケ
ル2水和物10gを加え、不溶物がなくなりブルーの透
明溶液になるまで室温で充分に撹拌し、NFMEを得
た。空気中でのTG測定の結果、NFMEの分解終了温
度は403℃であった。
To 9.92 g of ethanolamine, 10 g of nickel formate dihydrate was added, and the mixture was sufficiently stirred at room temperature until a blue transparent solution disappeared to obtain NFME. As a result of TG measurement in air, the decomposition end temperature of NFME was 403 ° C.

【0108】実施例2 電子放出素子形成用錯体、酢酸ニッケル−ビス(3−ア
ミノプロパノール)(以下「NAMP」と略す)を以下
のようにして合成した。酢酸ニッケル4水和物1.0g
および3−アミノプロパノール1.21gをイソプロパ
ノール(以下「IPA」と略す)20mlに加え、室温
で5時間撹拌した。反応後、反応混合物を濾過し濾液を
減圧下に留去した。残渣にアセトン/ヘキサンを加えて
撹拌したところ粘性の高い液体がフラスコ壁に析出して
きたのでアセトン/ヘキサンをデカンテイションで除
き、更にアセトンを加えて撹拌すると結晶化した。この
結晶を濾取してアセトンを加えよく撹拌し再び濾取し
た。この操作を繰り返し、結晶をアセトンで充分あら
い、NAMPを得た。空気中でのTG測定の結果、NA
MPの分解終了温度は393℃であった。
Example 2 A complex for forming an electron-emitting device, nickel acetate-bis (3-aminopropanol) (hereinafter abbreviated as “NAMP”), was synthesized as follows. Nickel acetate tetrahydrate 1.0g
And 1.21 g of 3-aminopropanol were added to 20 ml of isopropanol (hereinafter abbreviated as “IPA”), followed by stirring at room temperature for 5 hours. After the reaction, the reaction mixture was filtered, and the filtrate was distilled off under reduced pressure. Acetone / hexane was added to the residue and the mixture was stirred. A highly viscous liquid was deposited on the flask wall. The acetone / hexane was removed by decantation, and acetone was added to the residue for crystallization. The crystals were collected by filtration, added with acetone, stirred well, and collected again by filtration. This operation was repeated, and the crystals were sufficiently exposed with acetone to obtain NAMP. As a result of TG measurement in air, NA
The decomposition completion temperature of MP was 393 ° C.

【0109】実施例3 電子放出素子形成用錯体、酢酸ニッケル−ビス(1−ア
ミノ−2−プロパノール)(以下、「NAMiP」と略
す)を以下のようにして合成した。酢酸ニッケル4水和
物1.0gおよび1−アミノ−2−プロパノール0.9
1gをIPA20mlに加え、室温で5時間撹拌した。
反応後、実施例2と同様の後処理をし、アセトンで充分
あらい、NAMiPを得た。空気中でのTG測定の結
果、NAMiPの分解温度は406℃であった。
Example 3 A complex for forming an electron-emitting device, nickel acetate-bis (1-amino-2-propanol) (hereinafter abbreviated as “NAMiP”), was synthesized as follows. 1.0 g of nickel acetate tetrahydrate and 0.9 of 1-amino-2-propanol
1 g was added to 20 ml of IPA, and the mixture was stirred at room temperature for 5 hours.
After the reaction, the same post-treatment as in Example 2 was performed, and the mixture was sufficiently treated with acetone to obtain NAMiP. As a result of TG measurement in air, the decomposition temperature of NAMiP was 406 ° C.

【0110】実施例4 電子放出素子形成用錯体、酢酸ニッケル−ビス(N−メ
チルエタノールアミン)(以下、「NANME」と略
す)を以下のようにして合成した。酢酸ニッケル4水和
物1.0gおよびN−メチルエタノールアミン1.21
gにIPA20mlを加え、室温で5時間撹拌した。反
応後、反応混合物を濾過し濾液を減圧下に留去した。残
渣をジエチルエーテルであらい結晶を濾取した。この結
晶にジエチルエーテルを加えよく撹拌し再び濾取した。
この操作を繰り返し、結晶をジエチル−エーテルで充分
にあらい、NANMEを得た。空気中でのTG測定の結
果、NANMEの分解温度は379℃であった。
Example 4 A complex for forming an electron-emitting device, nickel acetate-bis (N-methylethanolamine) (hereinafter abbreviated as “NANME”) was synthesized as follows. 1.0 g of nickel acetate tetrahydrate and 1.21 of N-methylethanolamine
20 g of IPA was added to g, and the mixture was stirred at room temperature for 5 hours. After the reaction, the reaction mixture was filtered, and the filtrate was distilled off under reduced pressure. The residue was washed with diethyl ether and the crystals were collected by filtration. Diethyl ether was added to the crystals, stirred well, and collected by filtration again.
This operation was repeated, and the crystals were sufficiently exposed to diethyl ether to obtain NANME. As a result of TG measurement in air, the decomposition temperature of NANME was 379 ° C.

【0111】実施例5 電子放出素子形成用錯体、酢酸ニッケル−ビス(N−ブ
チルエタノールアミン)(以下、「NABE」と略す)
を以下のようにして合成した。酢酸ニッケル4水和物
1.0gおよびN−ブチルエタノールアミン1.89g
にIPA20mlを加え、室温で5時間撹拌した。反応
後、実施例4と同様の後処理をし、ジエチルエーテルで
充分あらい、NABEを得た。空気中でのTG測定の結
果、NABEの分解温度は395℃であった。
Example 5 Electron-emitting device forming complex, nickel acetate-bis (N-butylethanolamine) (hereinafter abbreviated as “NABE”)
Was synthesized as follows. 1.0 g of nickel acetate tetrahydrate and 1.89 g of N-butylethanolamine
Was added and stirred at room temperature for 5 hours. After the reaction, the same post-treatment as in Example 4 was carried out, and the mixture was sufficiently treated with diethyl ether to obtain NABE. As a result of TG measurement in air, the decomposition temperature of NABE was 395 ° C.

【0112】実施例6 本実施例の電子放出素子として図2(a)、(b)に示
すタイプの電子放出素子を作製した。図2(a)は平面
図を、(b)は断面図を示している。また、図2
(a),(b)中の1は絶縁基板、5,6は素子に電圧
を印加するための素子電極、4は電子放出部を含む薄
膜、3は電子放出部を示す。なお、図2(a)中のL1
は素子電極5と素子電極6の素子電極間隔、W1は素子
電極5,6の幅、dは素子電極5,6の厚さ、W2は電
子放出部を含む薄膜4の幅を表している。
Example 6 An electron-emitting device of the type shown in FIGS. 2A and 2B was manufactured as the electron-emitting device of this example. 2A is a plan view, and FIG. 2B is a cross-sectional view. FIG.
1 (a) and 1 (b), 1 is an insulating substrate, 5 and 6 are device electrodes for applying a voltage to the device, 4 is a thin film including an electron emitting portion, and 3 is an electron emitting portion. Note that L1 in FIG.
Represents the element electrode spacing between the element electrodes 5 and 6, W1 represents the width of the element electrodes 5 and 6, d represents the thickness of the element electrodes 5 and 6, and W2 represents the width of the thin film 4 including the electron-emitting portion.

【0113】図1を用いて本実施例の電子放出素子の作
成方法を述べる。絶縁性基板1として石英基板を用い、
これを有機溶剤により充分に洗浄後、該基板1面上に、
白金からなる素子電極5,6を形成した(図1
(a))。この時、素子電極間隔L1は10μmとし、
素子電極の幅W1を500μm、その厚さdを1000
Åとした。
A method for manufacturing the electron-emitting device of this embodiment will be described with reference to FIG. Using a quartz substrate as the insulating substrate 1,
After sufficiently washing this with an organic solvent, on the substrate 1 surface,
Element electrodes 5 and 6 made of platinum were formed (FIG. 1).
(A)). At this time, the element electrode interval L1 is set to 10 μm,
The width W1 of the device electrode is 500 μm, and the thickness d is 1000
Å

【0114】次に前記の素子電極5,6の対向ギャップ
部分を中心とする幅W2が320μm、長さ160μm
の矩形の外側にCr膜を厚さ1000Å形成した。NF
ME2.83g、86%鹸化ポリビニルアルコール(平
均重合度500)を0.05g、イソプロピルアルコー
ル25g、エチレングリコール1gをとり、水を加えて
全量を100gとし、ニッケル化合物水溶液とした。
Next, the width W2 of the element electrodes 5 and 6 around the opposing gap is 320 μm and the length is 160 μm.
A Cr film having a thickness of 1000 mm was formed outside the rectangle. NF
2.83 g of ME, 0.05 g of 86% saponified polyvinyl alcohol (average degree of polymerization 500), 25 g of isopropyl alcohol, and 1 g of ethylene glycol were taken, and water was added to make a total amount of 100 g to obtain a nickel compound aqueous solution.

【0115】このニッケル化合物溶液を1000rp
m、60秒の条件でスピン塗布して前記素子電極5,6
を形成した絶縁性基板1上に製膜した。これを大気雰囲
気350℃のオーブン中で15分加熱して前記金属化合
物を基板上で分解堆積させたところ、酸化ニッケル微粒
子からなる微粒子膜が生成した。次に前記のCr膜上に
生成した酸化ニッケル微粒子膜Cr膜とともに酸エッチ
ャントにより除去し、矩形に残った酸化ニッケル微粒子
を2%水素気流中、400℃で1時間還元し電子放出部
形成用薄膜2とした(図1(c))。
The nickel compound solution was subjected to 1000 rpm
m, spin coating under the conditions of 60 seconds
Was formed on the insulating substrate 1 on which was formed. This was heated in an air atmosphere oven at 350 ° C. for 15 minutes to decompose and deposit the metal compound on the substrate. As a result, a fine particle film composed of nickel oxide fine particles was formed. Next, the nickel oxide fine particle film formed on the Cr film is removed together with the Cr film by an acid etchant, and the nickel oxide fine particles remaining in a rectangle are reduced in a 2% hydrogen stream at 400 ° C. for 1 hour to form a thin film for forming an electron emission portion. 2 (FIG. 1 (c)).

【0116】次に、図1(d)に示すように、電子放出
部3を素子電極5および6の間に電圧を印加し電子放出
部形成用薄膜2を通電処理(フォーミング処理)するこ
とにより作成した。フォーミング処理の電圧波形を図3
の(a)に示す。
Next, as shown in FIG. 1D, a voltage is applied to the electron-emitting portion 3 between the device electrodes 5 and 6, and the thin film 2 for forming the electron-emitting portion is subjected to an energizing process (forming process). Created. Fig. 3 shows the voltage waveform of the forming process.
(A) of FIG.

【0117】図3の(a)中、T1およびT2は電圧波
形のパルス幅とパルス間隔であり、本実施例ではT1を
1ミリ秒、T2を10ミリ秒とし、三角形の波高値(フ
ォーミング時のピーク電圧)は5Vとし、フォーミング
処理は約1×10-6torrの真空雰囲気下で60秒間
行った。このようにして作成された素子について、図4
に示される測定評価装置を用いて電子放出特性の測定を
行った。
In FIG. 3A, T1 and T2 are the pulse width and the pulse interval of the voltage waveform. In this embodiment, T1 is 1 millisecond, T2 is 10 milliseconds, and the peak value of the triangle (at the time of forming). Was formed at 5 V, and the forming process was performed in a vacuum atmosphere of about 1 × 10 −6 torr for 60 seconds. FIG. 4 shows the device thus fabricated.
The electron emission characteristics were measured using the measurement and evaluation device shown in FIG.

【0118】なお本実施例では、アノード電極44と電
子放出素子間の距離を4mm、アノード電極44の電位
を1kV、電子放出特性測定時の真空装置内の真空度を
1×10-6torrとした。
In this embodiment, the distance between the anode electrode 44 and the electron-emitting device is 4 mm, the potential of the anode electrode 44 is 1 kV, and the degree of vacuum in the vacuum apparatus at the time of measuring the electron emission characteristics is 1 × 10 -6 torr. did.

【0119】以上のような測定評価装置を用いて、本電
子放出素子の電極5,6間に素子電圧を印加し、その時
に流れる素子電圧Ifおよび放出電流Ieを測定したと
ころ、図5に示したような電流−電圧特性が得られた。
本素子では、素子電圧8V程度から急激に放出電流Ie
が増加し、素子電圧16Vでは素子電流が2.6mA、
放出電流Ieが1.0μAとなり、電子放出効率η=I
e/If(%)は0.038%であった。
The device voltage was applied between the electrodes 5 and 6 of the electron-emitting device using the measurement and evaluation apparatus described above, and the device voltage If and emission current Ie flowing at that time were measured. Such a current-voltage characteristic was obtained.
In this device, the emission current Ie suddenly starts from a device voltage of about 8V.
Increases, and at a device voltage of 16 V, the device current becomes 2.6 mA,
The emission current Ie becomes 1.0 μA, and the electron emission efficiency η = I
e / If (%) was 0.038%.

【0120】アノード電極44の替わりに、前述した蛍
光膜とメタルバックを有するフェースプレートを真空装
置内に配置した。こうして電子源からの電子放出を試み
たところ蛍光膜の一部が発光し、素子電流Ieに応じて
発光の強さが変化した。こうして本素子が発光表示素子
として機能することがわかった。
Instead of the anode electrode 44, a face plate having the above-described fluorescent film and metal back was arranged in a vacuum device. When electron emission from the electron source was attempted in this way, a part of the phosphor film emitted light, and the intensity of light emission changed according to the device current Ie. Thus, it was found that this element functions as a light-emitting display element.

【0121】以上説明した実施例中、電子放出部を形成
する際に素子電極間に三角波パルスを印加してフォーミ
ング処理を行っているが、素子の電極間に印加する波形
は三角波に限定することはなく、矩形波など所望の波形
を用いても良い。また、その波高値およびパルス幅、パ
ルス間隔等についても上述の値に限ることなく、電子放
出部が良好に形成されれば所望の値を選択することがで
きる。
In the above-described embodiments, the forming process is performed by applying a triangular wave pulse between the device electrodes when forming the electron emission portion. However, the waveform applied between the device electrodes is limited to the triangular wave. However, a desired waveform such as a rectangular wave may be used. Further, the peak value, pulse width, pulse interval and the like are not limited to the above-mentioned values, and desired values can be selected as long as the electron-emitting portion is formed well.

【0122】実施例7〜27 以下の表のような濃度のカルボン酸ニッケル錯体水溶液
を調製し、実施例6のニッケル錯体水溶液のかわりに用
いて、実施例6と同様の処理を行い電子放出素子を作成
した。いずれの溶液も基板面に容易に塗布することがで
きた。素子の作成後、素子電圧を14ないし18Vとし
た時に電子放出現象が確認された。
Examples 7 to 27 An aqueous solution of a nickel carboxylate complex having a concentration as shown in the following table was prepared, and the same treatment as in Example 6 was carried out except that the aqueous solution of nickel complex of Example 6 was used. It was created. All the solutions could be easily applied to the substrate surface. After the device was fabricated, an electron emission phenomenon was observed when the device voltage was set to 14 to 18 V.

【0123】[0123]

【表1】 [Table 1]

【0124】実施例28 絶縁基板1として石英基板を用い、これを有機溶剤によ
り充分に洗浄後、該基板1面上に、Ptからなる素子電
極5,6を形成した。素子電極間隔L1は20μmと
し、素子電極の幅W1を500μm、その厚さdを10
00Åとした。
Example 28 A quartz substrate was used as the insulating substrate 1. After sufficiently washing the substrate with an organic solvent, device electrodes 5 and 6 made of Pt were formed on the surface of the substrate 1. The element electrode interval L1 is 20 μm, the width W1 of the element electrode is 500 μm, and the thickness d is 10 μm.
00 °.

【0125】NANME3.86g、86%鹸化ポリビ
ニルアルコール(平均重合度500)を0.05g、イ
ソプロピルアルコール25g、エチレングリコール1g
をとり、水を加えて全量を100gとし、ニッケル化合
物水溶液とした。
3.86 g of NANME, 0.05 g of 86% saponified polyvinyl alcohol (average degree of polymerization: 500), 25 g of isopropyl alcohol, 1 g of ethylene glycol
And water was added thereto to make the total amount 100 g, to obtain a nickel compound aqueous solution.

【0126】このNi錯体水溶液をメンブランフィルタ
ーで濾過し、バブルジェットヘッド(商品名:BC−0
1、キャノン(株)製)に充填し、所定のヘッド内ヒー
ターに外部より20Vの直流電圧を7μ秒印加して、前
記の石英基板の素子電極5,6のギャップ部分に前記濾
過したニッケル錯体水溶液を吐出した。ヘッドと基板の
位置を保持したままさらに5回吐出を繰り返した。液滴
はほぼ円形でその直径は約110μmとなった(図1
(b))。
The aqueous solution of the Ni complex was filtered through a membrane filter, and a bubble jet head (trade name: BC-0) was used.
1, manufactured by Canon Inc.), and a DC voltage of 20 V was externally applied to a predetermined heater in the head for 7 μsec, and the filtered nickel complex was applied to the gap between the device electrodes 5 and 6 of the quartz substrate. The aqueous solution was discharged. The ejection was repeated five more times while maintaining the position of the head and the substrate. The droplet was approximately circular and had a diameter of about 110 μm (FIG. 1).
(B)).

【0127】この基板を350℃で15分間加熱し、前
記ニッケル錯体水溶液を熱分解したところ、酸化ニッケ
ルが生成した。さらに2%水素気流中、400℃で1時
間還元し、電子放出部形成用薄膜とした。
This substrate was heated at 350 ° C. for 15 minutes to thermally decompose the nickel complex aqueous solution, whereby nickel oxide was formed. The film was further reduced in a 2% hydrogen stream at 400 ° C. for 1 hour to obtain a thin film for forming an electron-emitting portion.

【0128】さらに実施例6と同様にして所定の通電フ
ォーミング、活性化処理を行い、電子放出素子としての
評価を行った。素子電圧16Vでは電子放出効率0.0
39%であった。
Further, predetermined energization forming and activation treatments were performed in the same manner as in Example 6, and evaluation as an electron-emitting device was performed. At a device voltage of 16 V, the electron emission efficiency is 0.0
39%.

【0129】実施例29〜42 以下の表のような濃度のカルボン酸ニッケル錯体水溶液
を調製し、実施例28のニッケル錯体水溶液のかわりに
用いて、実施例28と同様の処理を行い電子放出素子を
作成した。いずれの素子も素子電圧16Vにおいて電子
放出現象が確認できた。
Examples 29 to 42 An aqueous solution of a nickel carboxylate having a concentration as shown in the following table was prepared, and the same treatment as in Example 28 was carried out except that the aqueous solution of nickel complex of Example 28 was used. It was created. In all the devices, an electron emission phenomenon was confirmed at a device voltage of 16V.

【0130】[0130]

【表2】 [Table 2]

【0131】[0131]

【発明の効果】本発明の有機ニッケル錯体またはその水
和物およびその溶液を用いて作製された電子放出素子
は、金属としてニッケルを用いているのでコストが低
く、電子放出素子の形成時に結晶構造の成長が抑制さ
れ、電子放出部膜のシート抵抗値のばらつきを5%以内
に抑えることができ、さらには、フォーミング時および
電子放出時の電子放出素子間のばらつきも小さくするこ
とができた。さらに本発明の製造方法で画像形成装置を
作製した場合には、輝度むらや電子放出部の欠陥による
不良品を少なくすることができた。
The electron-emitting device manufactured using the organic nickel complex or its hydrate and its solution according to the present invention is low in cost because nickel is used as a metal, and has a crystal structure at the time of forming the electron-emitting device. Was suppressed, the variation of the sheet resistance value of the electron-emitting portion film could be suppressed to within 5%, and the variation between the electron-emitting devices during forming and during electron emission could be reduced. Further, when the image forming apparatus was manufactured by the manufacturing method of the present invention, defective products due to uneven brightness and defects in the electron emission portion could be reduced.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】 本発明の表面伝導型電子放出素子の製造方法
を示す模式的断面図である。
FIG. 1 is a schematic sectional view showing a method for manufacturing a surface conduction electron-emitting device according to the present invention.

【図2】 本発明の表面伝導型電子放出素子の基本的な
構成を示す模式的平面図および断面図である。
FIG. 2 is a schematic plan view and a cross-sectional view illustrating a basic configuration of a surface conduction electron-emitting device of the present invention.

【図3】 本発明に好適な通電フォーミングの電圧波形
を表わすグラフである。
FIG. 3 is a graph showing a voltage waveform of energization forming suitable for the present invention.

【図4】 電子放出特性を測定するための測定評価機能
を備えた真空処理装置の模式図である。
FIG. 4 is a schematic diagram of a vacuum processing apparatus having a measurement evaluation function for measuring electron emission characteristics.

【図5】 本発明により作製される表面伝導型電子放出
素子の放出電流Ieおよび素子電流Ifと素子電圧Vf
の関係の典型的な例を示すグラフである。
FIG. 5 shows emission current Ie, device current If, and device voltage Vf of a surface conduction electron-emitting device manufactured according to the present invention.
5 is a graph showing a typical example of the relationship.

【図6】 単純マトリクス配置の電子源を表わす模式図
である。
FIG. 6 is a schematic diagram showing an electron source having a simple matrix arrangement.

【図7】 単純マトリクス配置の電子源を用いた画像形
成装置の概略構成図である。
FIG. 7 is a schematic configuration diagram of an image forming apparatus using an electron source having a simple matrix arrangement.

【図8】 蛍光膜のパターン図である。FIG. 8 is a pattern diagram of a fluorescent film.

【図9】 NTSC方式のテレビ信号に応じて表示を行
なうための駆動回路のブロック図である。
FIG. 9 is a block diagram of a drive circuit for performing display according to an NTSC television signal.

【図10】 梯子型配置の電子源基板を表わす模式図で
ある。
FIG. 10 is a schematic diagram illustrating a ladder-type arrangement of electron source substrates.

【図11】 梯子型配置の電子源基板を用いた画像形成
装置の概略構成図である。
FIG. 11 is a schematic configuration diagram of an image forming apparatus using a ladder-type arrangement of electron source substrates.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1:絶縁性基板、2:電子放出部形成用薄膜、3:電子
放出部、4:導電性薄膜、5,6:素子電極、7:液滴
付与手段、8:液滴、9:液溜り、40:素子電極5,
6間の導電性薄膜4を流れる素子電流Ifを測定するた
めの電流計、41:電子放出素子に素子電圧Vfを印加
するための電源、42:素子の電子放出部より放出され
る放出電流Ieを測定するための電流計、43:アノー
ド電極44に電圧を印加するための高圧電源、44:素
子の電子放出部より放出される放出電流Ieを捕捉する
ためのアノード電極、46:真空装置、61:電子源基
板、62:X方向配線、63:Y方向配線、64:表面
伝導型電子放出素子、65:結線、71:リアプレー
ト、72:支持枠、73:ガラス基板、74:蛍光膜、
75:メタルバック、76:フェースプレート、77:
高圧端子、78:外囲器、81:黒色導電材、82:蛍
光体、91:表示パネル、92:走査回路、93:制御
回路、94:シフトレジスタ、95:ラインメモリ、9
6:同期信号分離回路、97:変調信号発生器、Vx,
Va:直流電圧源、100:電子源基板、101:電子
放出素子、102(Dx1〜Dx10):電子放出素子
を配線するための共通配線、110:グリッド電極、1
11:電子が通過するための空孔、112(Dox1,
Dox2,・・・・・・,Doxm):容器外端子、113
(G1,G2,・・・・・・,Gn):グリッド電極110と
接続された容器外端子。
1: an insulating substrate, 2: a thin film for forming an electron emitting portion, 3: an electron emitting portion, 4: a conductive thin film, 5, 6: a device electrode, 7: a droplet applying means, 8: a droplet, and 9: a liquid pool. , 40: device electrode 5,
An ammeter for measuring a device current If flowing through the conductive thin film 4 between 6; 41: a power supply for applying a device voltage Vf to the electron-emitting device; 42: an emission current Ie emitted from an electron-emitting portion of the device 43: a high-voltage power supply for applying a voltage to the anode electrode 44; 44: an anode electrode for capturing the emission current Ie emitted from the electron emission portion of the device; 46: a vacuum device; 61: electron source substrate, 62: X direction wiring, 63: Y direction wiring, 64: surface conduction electron-emitting device, 65: connection, 71: rear plate, 72: support frame, 73: glass substrate, 74: fluorescent film ,
75: metal back, 76: face plate, 77:
High voltage terminal, 78: envelope, 81: black conductive material, 82: phosphor, 91: display panel, 92: scanning circuit, 93: control circuit, 94: shift register, 95: line memory, 9
6: synchronization signal separation circuit, 97: modulation signal generator, Vx,
Va: DC voltage source, 100: electron source substrate, 101: electron-emitting device, 102 (Dx1 to Dx10): common wiring for wiring the electron-emitting device, 110: grid electrode, 1
11: vacancy for passing electrons, 112 (Dox1,
Dox2,..., Doxm): terminal outside container, 113
(G1, G2,..., Gn): external terminals connected to the grid electrode 110.

Claims (8)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 対向する電極間に有機金属化合物を付与
し、これを加熱焼成する過程を経て電子放出部が設けら
れる表面伝導型電子放出素子に用いられる前記有機金属
化合物であって、化1式で表されることを特徴とするニ
ッケル錯体またはその水和物。 【化1】
1. The organometallic compound used in a surface conduction electron-emitting device provided with an electron-emitting portion through a process in which an organometallic compound is provided between opposed electrodes and heated and baked. A nickel complex represented by the formula: or a hydrate thereof. Embedded image
【請求項2】 請求項1に記載のニッケル錯体またはそ
の水和物を主成分とする溶液であって、前記ニッケル錯
体またはその水和物を付与するために用いられることを
特徴とする溶液。
2. A solution mainly comprising the nickel complex or hydrate thereof according to claim 1 , wherein the solution is used for providing the nickel complex or hydrate thereof.
【請求項3】 対向する電極間に有機金属化合物を付与
し、これを加熱焼成する過程を経て電子放出部を形成す
る表面伝導型電子放出素子の製造方法において、前記有
機金属化合物が化2式で表されるニッケル錯体またはそ
の水和物であり、これを含有する液滴を基板上の前記対
向電極間に付与し、このニッケル錯体を加熱焼成して金
属無機酸化物、金属無機窒化物などの金属無機化合物と
し、これを前記電子放出部を形成するための材料とする
ことを特徴とする電子放出素子の製造方法。 【化2】
3. A method of manufacturing a surface conduction electron-emitting device in which an organometallic compound is provided between opposed electrodes and heated and baked to form an electron-emitting portion, wherein the organometallic compound is represented by Formula 2 And a droplet containing the same is applied between the counter electrodes on the substrate, and the nickel complex is heated and fired to form a metal inorganic oxide, a metal inorganic nitride, or the like. A method for manufacturing an electron-emitting device, wherein the metal-inorganic compound is used as a material for forming the electron-emitting portion. Embedded image
【請求項4】 前記液滴の付与方法がインクジェット方
式であることを特徴とする、請求項3記載の電子放出素
子製造方法。
4. The method according to claim 3, wherein the method of applying the droplet is an ink-jet method.
【請求項5】 前記液滴の付与方法がピエゾ方式である
ことを特徴とする、請求項4記載の電子放出素子製造方
法。
5. The method according to claim 4, wherein the method of applying the droplet is a piezo method.
【請求項6】 前記液滴の付与方法がバブルジェット方
式であることを特徴とする、請求項4記載の電子放出素
子製造方法。
6. The method according to claim 4, wherein the method of applying the droplet is a bubble jet method.
【請求項7】 前記液滴は連続的に、前記電子放出部形
成用材料の薄膜を形成する部分に線状または面状に付与
することを特徴とする請求項3〜6に記載の電子放出素
子の製造方法。
7. The electron emission device according to claim 3, wherein the droplet is continuously or linearly applied to a portion where a thin film of the material for forming the electron emission portion is formed. Device manufacturing method.
【請求項8】 電子放出部の形成を請求項3〜7いずれ
かの方法で行うことを特徴とする画像形成装置の製造方
法。
8. A method for manufacturing an image forming apparatus, wherein the formation of the electron-emitting portion is performed by the method according to claim 3.
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