JP3213651B2 - Optical pickup - Google Patents

Optical pickup

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JP3213651B2
JP3213651B2 JP09438593A JP9438593A JP3213651B2 JP 3213651 B2 JP3213651 B2 JP 3213651B2 JP 09438593 A JP09438593 A JP 09438593A JP 9438593 A JP9438593 A JP 9438593A JP 3213651 B2 JP3213651 B2 JP 3213651B2
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】この発明は、光ディスク等の光学
式記録媒体に対して情報の記録および/または再生を行
う記録/再生装置に用いる光ピックアップに関するもの
である。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an optical pickup used in a recording / reproducing apparatus for recording and / or reproducing information on an optical recording medium such as an optical disk.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来の光ピックアップとして、例えば図
8および図9に示すようなものが提案されている。この
光ピックアップにおいては、半導体レーザ61からの発
散ビームを、コリメータレンズ64で平行光とした後、
偏光ビームスプリッタ71を透過させて対物レンズ65
により光磁気記録媒体66に収束している。また、光磁
気記録媒体66で反射される戻り光は、対物レンズ65
を経て偏光ビームスプリッタ71で反射させた後、1/
2波長板76で偏光方向を45°回転させて、集光レン
ズ72を経て偏光分離機能を有する台形型プリズム73
に入射させ、この台形型プリズム73の偏光分離面73
aで反射されるS偏光成分を基板74上の3分割光検出
器75bで受光し、偏光分離面73aを透過するP偏光
成分を基板74上の3分割光検出器75aで受光するよ
うにしている。このようにして、光検出器75a,75
bの出力に基づいて、それらの差から光磁気信号を検出
し、またビームサイズ法によりフォーカスエラー信号を
得るようにしている。
2. Description of the Related Art As conventional optical pickups, for example, those shown in FIGS. 8 and 9 have been proposed. In this optical pickup, the divergent beam from the semiconductor laser 61 is collimated by a collimator lens 64,
The objective lens 65 is transmitted through the polarization beam splitter 71.
Converges on the magneto-optical recording medium 66. The return light reflected by the magneto-optical recording medium 66 is reflected by the objective lens 65.
After being reflected by the polarization beam splitter 71 through
The polarization direction is rotated by 45 degrees by the two-wavelength plate 76, and the trapezoidal prism 73 having a polarization separation function is passed through the condenser lens 72.
And the polarization separation surface 73 of the trapezoidal prism 73
The S-polarized light component reflected by a is received by the three-segment photodetector 75b on the substrate 74, and the P-polarized component transmitted through the polarization splitting surface 73a is received by the three-segment photodetector 75a on the substrate 74. I have. Thus, the photodetectors 75a, 75
Based on the output of b, a magneto-optical signal is detected from the difference between them, and a focus error signal is obtained by a beam size method.

【0003】また、光ピックアップとして、本願人も、
例えば特願平4−110022号において、図10〜図
13に示すようなものを提案している。この光ピックア
ップは、半導体レーザ、光検出器およびホログラムをユ
ニット化し、このユニット81からの出射光を絞り82
および対物レンズ83を経て記録媒体84に照射し、記
録媒体84で反射される戻り光を逆の経路をたどってユ
ニット81に入射させるようにしたものである。
As an optical pickup, the present applicant also
For example, Japanese Patent Application No. Hei 4-110022 proposes the one shown in FIGS. In this optical pickup, a semiconductor laser, a photodetector, and a hologram are unitized, and light emitted from this unit
In addition, the recording medium 84 is irradiated through the objective lens 83, and the return light reflected by the recording medium 84 follows the reverse path and enters the unit 81.

【0004】ユニット81は、図11に断面図を示すよ
うに、基板85に半導体基板86を設けると共に、スペ
ーサ87を介してホログラム光学素子88を設けて構成
している。また、半導体基板86には、図12に平面図
を示すように、半導体レーザ89をマウントすると共
に、この半導体レーザ89のx方向両側にy方向に並ん
で、それぞれ3個の光検出器91,92,93および9
4,95,96を形成しており、中央の光検出器92お
よび95は、それぞれy方向に3分割した受光領域92
a,92b,92cおよび95a,95b,95cをも
って構成している。また、半導体レーザ89は、図13
に部分断面図を示すように、半導体基板86にエッチン
グにより形成された凹部86aにマウントし、その凹部
86aのエッチングによる斜面86bをミラー面とし
て、半導体レーザ89から半導体基板86の平面と平行
な方向に出射される光束を、ミラー面86bで半導体基
板86のほぼ法線方向に反射させるようにしている。
As shown in a sectional view of FIG. 11, a unit 81 is provided with a semiconductor substrate 86 provided on a substrate 85 and a hologram optical element 88 provided with a spacer 87 interposed therebetween. As shown in the plan view of FIG. 12, a semiconductor laser 89 is mounted on the semiconductor substrate 86, and three photodetectors 91, 3 are arranged on both sides of the semiconductor laser 89 in the x direction in the y direction. 92, 93 and 9
4, 95, 96 are formed, and the light detectors 92 and 95 at the center are respectively divided into three light receiving areas 92 in the y direction.
a, 92b, 92c and 95a, 95b, 95c. Further, the semiconductor laser 89 is provided as shown in FIG.
As shown in the partial cross-sectional view, the semiconductor laser 86 is mounted on a concave portion 86a formed by etching the semiconductor substrate 86, and the inclined surface 86b formed by etching the concave portion 86a is used as a mirror surface in a direction parallel to the plane of the semiconductor substrate 86. Are reflected by the mirror surface 86b in a direction substantially normal to the semiconductor substrate 86.

【0005】さらに、ホログラム光学素子88には、図
11に示すように、半導体基板86側の表面に半導体レ
ーザ89からの光束を0次光および±1次回折光の3本
の光束に分離するグレーティング88aを形成し、反対
側の表面には記録媒体84からの戻り光を回折すると共
に、その±1次回折光に互いに逆方向のフォーカルパワ
ーを与えるホログラムパターン88bを形成している。
Further, as shown in FIG. 11, the hologram optical element 88 has a grating on its surface on the side of the semiconductor substrate 86 for separating the light beam from the semiconductor laser 89 into three light beams of 0-order light and ± 1st-order diffracted light. A hologram pattern 88b is formed on the opposite surface to diffract the return light from the recording medium 84 and to give the ± 1st order diffracted lights focal powers in opposite directions.

【0006】このようにして、半導体レーザ89からの
出射光を、ミラー面86bで反射した後、グレーティン
グ88aで1本のメインビームと2本のサブビームとの
3本のビームに分離して、それぞれ絞り82および対物
レンズ83を経て記録媒体84に照射している。また、
記録媒体84に照射された3本の光束の戻り光は、逆の
経路をたどってホログラムパターン88bでそれぞれ回
折させ、そのメインビームの±1次回折光を、中央の光
検出器92および95でそれぞれ受光し、一方のサブビ
ームの±1次回折光を、例えば光検出器91および94
で、他方のサブビームの±1次回折光を、光検出器93
および96でそれぞれ受光して、光検出器92,95の
出力に基づいてビームサイズ法によりフォーカスエラー
信号を得、また光検出器91,93,94,96の出力
に基づいて3ビーム法によりトラッキングエラー信号を
得るようにしている。
[0006] In this manner, the light emitted from the semiconductor laser 89 is reflected by the mirror surface 86b, and then separated by the grating 88a into three beams, one main beam and two sub beams. The light is radiated on a recording medium 84 via a stop 82 and an objective lens 83. Also,
The return lights of the three light beams applied to the recording medium 84 are respectively diffracted by the hologram pattern 88b along the reverse paths, and the ± 1st-order diffracted lights of the main beam are respectively detected by the central photodetectors 92 and 95. Received, and the ± 1st-order diffracted light of one of the sub-beams is detected, for example, by photodetectors 91 and 94.
Then, the ± 1st-order diffracted light of the other sub-beam is
And 96, respectively, to obtain a focus error signal by the beam size method based on the outputs of the photodetectors 92 and 95, and to track by the three beam method based on the outputs of the photodetectors 91, 93, 94 and 96. An error signal is obtained.

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、図8お
よび図9に示した光ピックアップにおいては、戻り光を
偏光ビームスプリッタ71でほぼ90°反射させて光検
出器75a,75bで受光するようにしているため、半
導体レーザ61から対物レンズ65への光路に対し垂直
方向に光路が突出し、装置の小型化が困難になるという
問題がある。また、半導体レーザ61と光検出器75
a,75bとが別体になっているため、経時変化、温度
変化に伴う相対的な位置ずれが生じやすく、これがため
高い信頼性が得にくいという問題もある。
However, in the optical pickup shown in FIGS. 8 and 9, the return light is reflected by the polarizing beam splitter 71 substantially 90 ° and received by the photodetectors 75a and 75b. Therefore, there is a problem that the optical path protrudes in a direction perpendicular to the optical path from the semiconductor laser 61 to the objective lens 65, and it is difficult to reduce the size of the device. Further, the semiconductor laser 61 and the photodetector 75
Since a and 75b are separate from each other, there is a problem in that relative displacement due to a change with time and a change in temperature is likely to occur, which makes it difficult to obtain high reliability.

【0008】さらに、図10〜図13に示した本願人が
先に提案した光ピックアップにおいては、半導体レーザ
89、光検出器91,92,93,94,95,96、
およびホログラム光学素子88を一体としてユニット化
しているので、装置を小型化できると共に、高い信頼性
を得ることができるという利点があるが、光磁気信号を
得る場合の具体的構成については、言及されていない。
Further, in the optical pickup previously proposed by the present applicant shown in FIGS. 10 to 13, a semiconductor laser 89, photodetectors 91, 92, 93, 94, 95, 96,
Since the hologram optical element 88 is integrated as a unit, the apparatus can be downsized and high reliability can be obtained.However, a specific configuration for obtaining a magneto-optical signal is mentioned. Not.

【0009】この発明は、上述した種々の問題点に着目
してなされたもので、小型で高い信頼性を得ることがで
き、光磁気信号を安定して検出できるよう適切に構成し
た光ピックアップを提供することを目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the various problems described above. An optical pickup which is small in size, has high reliability, and is appropriately configured to stably detect a magneto-optical signal. The purpose is to provide.

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段および作用】上記目的を達
成するため、この発明の光ピックアップにおいては、半
導体レーザおよび複数の光検出器を有する半導体基板
と、前記半導体レーザからの光を光磁気記録媒体に収束
させる対物レンズと、前記半導体基板と一体化したユニ
ットとして配置され、前記光磁気記録媒体で反射されて
前記対物レンズを経て入射する戻り光を回折させるホロ
グラム、およびこのホログラムの瞳を分割するように、
該ホログラムの0次光の光軸とほぼ平行に設けた偏光分
離面を有する光学ブロックとを具え、前記ホログラムで
回折され、前記偏光分離面で分離される戻り光を前記複
数の光検出器で受光して光磁気信号を検出するよう構成
する。
In order to achieve the above object, in an optical pickup according to the present invention, a semiconductor substrate having a semiconductor laser and a plurality of photodetectors is provided, and light from the semiconductor laser is magneto-optically recorded. An objective lens that converges on a medium, a hologram that is arranged as a unit integrated with the semiconductor substrate, diffracts return light that is reflected by the magneto-optical recording medium and enters through the objective lens, and divides a pupil of the hologram. As
An optical block having a polarization splitting surface provided substantially parallel to the optical axis of the 0th-order light of the hologram, wherein return light diffracted by the hologram and separated by the polarization splitting surface is reflected by the plurality of photodetectors. It is configured to receive light and detect a magneto-optical signal.

【0011】[0011]

【実施例】以下、図面に基づいて、この発明の一実施例
について説明する。図1〜図7は、この発明の一実施例
を示すものである。この光ピックアップは、半導体レー
ザ、光検出器、ホログラム、偏光分離面を有するユニッ
ト1と対物レンズ2とを有し、ユニット1から直線偏光
のビームを出射させて、対物レンズ2により光磁気記録
媒体3に収束し、その光磁気記録媒体3で反射される戻
り光を、対物レンズ2を経てユニット1に入射させるよ
うにしたものである。なお、この実施例では、光磁気記
録媒体3の情報トラックと平行な方向をy方向、それと
直交するトラッキング方向をx方向とすると共に、ユニ
ット1から出射させるビームの直線偏光の方向をx方向
と平行とする。
An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. 1 to 7 show an embodiment of the present invention. This optical pickup includes a unit 1 having a semiconductor laser, a photodetector, a hologram, and a polarization splitting surface, and an objective lens 2. The unit 1 emits a linearly polarized beam, and the objective lens 2 uses the magneto-optical recording medium. 3, the return light reflected by the magneto-optical recording medium 3 is made to enter the unit 1 via the objective lens 2. In this embodiment, the direction parallel to the information track of the magneto-optical recording medium 3 is the y direction, the tracking direction orthogonal thereto is the x direction, and the direction of the linearly polarized light emitted from the unit 1 is the x direction. Be parallel.

【0012】ユニット1は、図2に示すように、基板4
に半導体基板5を設けると共に、スペーサ6を介して光
学ブロック7を設けて構成する。光学ブロック7は、三
角柱状の2つのブロック7a,7bを接合し、その接合
面7cに誘電体多層膜をコーティングしてなる偏光分離
面を形成すると共に、ブロック7a,7bの対物レンズ
2側の表面には、図3に図2のA矢視図をも示すよう
に、偏光分離面7cで瞳を分割するように、光磁気記録
媒体3からの戻り光をそれぞれ回折して、その±1次回
折光に互いに逆方向のフォーカルパワーを与えるレンズ
作用を有するホログラム8a,8bをエッチング法や2
P法等により形成する。なお、偏光分離面7cは、ホロ
グラム8a,8bの0次光の光軸とほぼ平行で、ユニッ
ト1から出射するビームの偏光方向(x方向)に対して
ほぼ45°傾けて形成し、ホログラム8bは、その回折
角をホログラム8aの回折角よりも大きく形成する。
The unit 1 is, as shown in FIG.
In addition, a semiconductor substrate 5 is provided, and an optical block 7 is provided via a spacer 6. The optical block 7 joins two triangular prism-shaped blocks 7a and 7b, forms a polarization separation surface formed by coating a dielectric multilayer film on the joint surface 7c, and forms the polarization separation surface on the objective lens 2 side of the blocks 7a and 7b. The return light from the magneto-optical recording medium 3 is diffracted on the surface so that the pupil is divided by the polarization splitting surface 7c as shown in FIG. Holograms 8a and 8b having a lens function of giving focal powers in the opposite directions to the next-order diffracted light are formed by etching or
It is formed by a P method or the like. Note that the polarization separation surface 7c is formed substantially parallel to the optical axis of the zero-order light of the holograms 8a and 8b and inclined at approximately 45 ° with respect to the polarization direction (x direction) of the beam emitted from the unit 1. Form the diffraction angle larger than the diffraction angle of the hologram 8a.

【0013】一方、半導体基板5には、図4に平面図を
示すように、エッチング等により凹部を形成して、この
凹部に半導体レーザ11をマウントし、この半導体レー
ザ11から半導体基板5の平面と平行な方向に出射され
る光束を、凹部のエッチング等による斜面を立ち上げミ
ラー12として半導体基板5のほぼ法線方向に反射させ
るようにする。また、この半導体基板5には、ホログラ
ム8a,8bによる±1次回折光を受光する受光部1
3,14,15および16を設ける。受光部13および
14は、それぞれ6分割した受光領域13a,13b,
13c,13d,13e,13fおよび14a,14
b,14c,14d,14e,14fをもって構成し、
受光部15,16は、それぞれ1つの受光領域をもって
構成する。
On the other hand, as shown in the plan view of FIG. 4, a concave portion is formed in the semiconductor substrate 5 by etching or the like, and a semiconductor laser 11 is mounted in the concave portion. The light flux emitted in the direction parallel to the vertical direction is reflected by the mirror 12 in a direction substantially normal to the semiconductor substrate 5 by raising the slope by etching the concave portion or the like. The semiconductor substrate 5 has a light receiving unit 1 for receiving ± first-order diffracted lights by the holograms 8a and 8b.
3, 14, 15 and 16 are provided. The light receiving sections 13 and 14 are divided into six light receiving areas 13a, 13b,
13c, 13d, 13e, 13f and 14a, 14
b, 14c, 14d, 14e, 14f,
Each of the light receiving units 15 and 16 has one light receiving area.

【0014】以下、この実施例の動作を、図5,6に示
す図3のB−B断面図および図7に示す図3のC−C断
面図をも参照して説明する。この実施例では、半導体基
板5にマウントした半導体レーザ11からの出射光を、
立ち上げミラー12で半導体基板5と垂直な方向に反射
させた後、ホログラム8a,8bを透過させて対物レン
ズ2により光磁気記録媒体3に収束させ、該光磁気記録
媒体3で反射される戻り光を、対物レンズ2を経てホロ
グラム8a,8bに入射させる。
The operation of this embodiment will now be described with reference to the cross-sectional views taken along line BB of FIG. 3 shown in FIGS. 5 and 6 and the cross-sectional view taken along line CC of FIG. 3 shown in FIG. In this embodiment, light emitted from the semiconductor laser 11 mounted on the semiconductor substrate 5 is
After the light is reflected by the rising mirror 12 in a direction perpendicular to the semiconductor substrate 5, the light is transmitted through the holograms 8 a and 8 b, converged by the objective lens 2 on the magneto-optical recording medium 3, and returned by the magneto-optical recording medium 3. Light enters the holograms 8a and 8b via the objective lens 2.

【0015】ホログラム8aに入射した戻り光は、該ホ
ログラム8aで回折して、図4,5,7に示すように、
その+1次回折光を受光領域13d,13e,13fに
入射させ、−1次回折光は偏光分離面7cに入射させ
て、該偏光分離面7cを透過する戻り光を受光領域14
d,14e,14fに、偏光分離面7cで反射される戻
り光を受光部15にそれぞれ入射させる。また、ホログ
ラム8bに入射した戻り光は、該ホログラム8bで回折
して、図4,6,7に示すように、その−1次回折光を
受光領域14a,14b,14cに入射させ、+1次回
折光は偏光分離面7cに入射させて、該偏光分離面7c
を透過する戻り光を受光領域13a,13b,13c
に、偏光分離面7cで反射される戻り光を受光部16に
それぞれ入射させる。
The return light incident on the hologram 8a is diffracted by the hologram 8a, and as shown in FIGS.
The + 1st-order diffracted light is made incident on the light receiving areas 13d, 13e, and 13f, and the -1st-order diffracted light is made incident on the polarization splitting surface 7c.
The return light reflected by the polarization splitting surface 7c is incident on the light receiving unit 15 at d, 14e, and 14f, respectively. The return light incident on the hologram 8b is diffracted by the hologram 8b, and as shown in FIGS. 4, 6, and 7, the -1st-order diffracted light is incident on the light receiving regions 14a, 14b, and 14c, and the + 1st-order diffracted light Is incident on the polarization separation surface 7c, and the polarization separation surface 7c
Return light passing through the light receiving regions 13a, 13b, 13c
Then, the return light reflected by the polarization splitting surface 7c is incident on the light receiving unit 16 respectively.

【0016】ここで、ホログラム8bの回折角は、ホロ
グラム8aの回折角よりも大きく設定されているので、
これらホログラム8a,8bでの回折光の受光部13,
14上のスポット位置は、ホログラム8bの回折光の方
が半導体レーザ11より遠い側となる。また、ホログラ
ム8a,8bは、±1次回折光に互いに逆方向のフォー
カルパワーを与えるようなパターンとなっているので、
受光領域13a,13b,13c,13d,13e,1
3fおよび14a,14b,14c,14d,14e,
14f上のスポットとの大きさは、光磁気記録媒体3の
記録面に焦点が合っている場合には等しくなり、焦点が
前後にずれた場合には互いに逆方向に変化する。したが
って、受光領域13a,13b,13c,13d,13
e,13fおよび14a,14b,14c,14d,1
4e,14fの出力を、A1,A2,A3,A4,A
5,A6およびA7,A8,A9,A10,A11,A
12とすると、フォーカスエラー信号FESは、ビーム
サイズ法により、
Here, the diffraction angle of the hologram 8b is set larger than the diffraction angle of the hologram 8a.
The light receiving portions 13 of the holograms 8a and 8b for diffracted light,
The spot position on 14 is such that the diffracted light of the hologram 8 b is farther from the semiconductor laser 11. Also, since the holograms 8a and 8b have a pattern that gives the ± 1st-order diffracted lights focal powers in directions opposite to each other,
Light receiving areas 13a, 13b, 13c, 13d, 13e, 1
3f and 14a, 14b, 14c, 14d, 14e,
The size of the spot on 14f is equal when the recording surface of the magneto-optical recording medium 3 is in focus, and changes in opposite directions when the focus is shifted back and forth. Therefore, the light receiving areas 13a, 13b, 13c, 13d, 13
e, 13f and 14a, 14b, 14c, 14d, 1
4e and 14f are output to A1, A2, A3, A4, A
5, A6 and A7, A8, A9, A10, A11, A
When the focus error signal FES is 12, the focus error signal FES is

【数1】 FES=(A1+A4+A8+A9+A11+A12) −(A2+A3+A5+A6+A7+A10) から得ることができる。FES = (A1 + A4 + A8 + A9 + A11 + A12) − (A2 + A3 + A5 + A6 + A7 + A10)

【0017】また、図1において、トラック方向は、紙
面に垂直な方向となっているので、オフトラック状態に
なると、x方向の光量分布が非対称となる。したがっ
て、瞳を分割しているホログラム8a,8bの回折光の
強度差をとることによりプッシュプル信号を得ることが
できるので、受光部15,16の出力をB1,B2とす
ると、トラッキングエラー信号TESは、
In FIG. 1, since the track direction is perpendicular to the plane of the drawing, the light quantity distribution in the x-direction becomes asymmetric in the off-track state. Therefore, a push-pull signal can be obtained by taking the difference in the intensity of the diffracted light of the holograms 8a and 8b that divide the pupil. If the outputs of the light receiving units 15 and 16 are B1 and B2, the tracking error signal TES Is

【数2】TES=B1−B2 TES=(A4+A5+A6)−(A7+A8+A9) 等から得ることができる。TES = B1-B2 TES = (A4 + A5 + A6)-(A7 + A8 + A9)

【0018】一方、図1において、半導体レーザ11か
らの出射光は、x方向に平行な直線偏光となっており、
また偏光分離面7cはこの出射光の偏光方向に対してほ
ぼ45°傾いているので、上述したように、ホログラム
8aでの−1次回折光およびホログラム8bでの+1次
回折光は、偏光分離面7cで透過光および反射光に分離
される。したがって、光磁気信号MOSは、偏光分離面
7cでの透過光と反射光との差をとることにより、
On the other hand, in FIG. 1, the light emitted from the semiconductor laser 11 is linearly polarized light parallel to the x direction.
Further, since the polarization separation surface 7c is inclined by approximately 45 ° with respect to the polarization direction of the emitted light, as described above, the -1st-order diffraction light on the hologram 8a and the + 1st-order diffraction light on the hologram 8b are Is separated into transmitted light and reflected light. Therefore, the magneto-optical signal MOS calculates the difference between the transmitted light and the reflected light at the polarization separation surface 7c,

【数3】 MOS=(A1+A2+A3+A10+A11+A12)−(B1+B2) から得ることができる。MOS = (A1 + A2 + A3 + A10 + A11 + A12)-(B1 + B2)

【0019】なお、この発明は、上述した実施例にのみ
限定さるものではなく、幾多の変形または変更が可能で
ある。例えば、(A4+A8+A9),(A5+A6+
A7)と、(A1+A11+A12),(A2+A3+
A10)とが合焦状態で等しくなるように定数Gを設定
して、フォーカスエラー信号FESを、
It should be noted that the present invention is not limited to the above-described embodiment, and that various modifications and changes are possible. For example, (A4 + A8 + A9), (A5 + A6 +
A7), (A1 + A11 + A12), (A2 + A3 +
A10) is set to a constant G so that the focus error signal FES is equal to the focus error signal FES.

【数4】 FES=(A4+A8+A9)+G×(A1+A11+A12) −(A5+A6+A7)+G×(A2+A3+A10) から得ることもできる。このようにすれば、偏光分離面
7cを透過して受光領域13a,13b,13c,14
d,14e,14fに入射する光と、偏光分離面7cを
透過することなく受光領域13d,13e,13f,1
4a,14b,14cに入射する光との光量差を調整す
ることができ、より安定したフォーカスエラー信号FE
Sを得ることができる。
FES = (A4 + A8 + A9) + G × (A1 + A11 + A12) − (A5 + A6 + A7) + G × (A2 + A3 + A10) In this case, the light passes through the polarization separation surface 7c and is received by the light receiving regions 13a, 13b, 13c, and 14
d, 14e, and 14f and the light receiving regions 13d, 13e, 13f, and 1 without passing through the polarization separation surface 7c.
4a, 14b, and 14c, the light amount difference between the light and the incident light can be adjusted, and the focus error signal FE is more stable.
S can be obtained.

【0020】また、この発明は、上述した有限光学系に
限らず、例えばユニット1と対物レンズ2との間にコリ
メータレンズを配置して無限光学系とすることもでき
る。
The present invention is not limited to the finite optical system described above, but may be an infinite optical system, for example, by disposing a collimator lens between the unit 1 and the objective lens 2.

【0021】[0021]

【発明の効果】以上のように、この発明によれば、半導
体レーザおよび複数の光検出器を有する半導体基板と、
ホログラムおよび偏光分離面を形成した光学ブロックと
を一体化したユニットとして光磁気信号を得るようにし
たので、小型で高い信頼性を実現できると共に、光磁気
信号を安定して検出することができる。
As described above, according to the present invention, a semiconductor substrate having a semiconductor laser and a plurality of photodetectors,
Since the magneto-optical signal is obtained as a unit in which the hologram and the optical block on which the polarization separation surface is formed are integrated, it is possible to realize a small and high reliability and to stably detect the magneto-optical signal.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】この発明の一実施例を示す図である。FIG. 1 is a diagram showing one embodiment of the present invention.

【図2】図1のユニットを示す斜視図である。FIG. 2 is a perspective view showing the unit of FIG.

【図3】図2のA矢視図である。FIG. 3 is a view taken in the direction of arrow A in FIG. 2;

【図4】図3に示す半導体基板の平面図である。FIG. 4 is a plan view of the semiconductor substrate shown in FIG. 3;

【図5】図1に示す実施例の作用を説明する図3のB−
B断面図である。
FIG. 5 is a diagram for explaining the operation of the embodiment shown in FIG. 1;
It is B sectional drawing.

【図6】同じく、図3のB−B断面図である。FIG. 6 is a sectional view taken along line BB of FIG. 3;

【図7】同じく、図3のC−C断面図である。FIG. 7 is a sectional view taken along the line CC of FIG. 3;

【図8】従来の光ピックアップの一例を示す図である。FIG. 8 is a diagram illustrating an example of a conventional optical pickup.

【図9】図8に示す基板の平面図である。FIG. 9 is a plan view of the substrate shown in FIG. 8;

【図10】本願人が先に提案した光ピックアップを示す
図である。
FIG. 10 is a view showing an optical pickup proposed earlier by the present applicant.

【図11】図10に示すユニットの断面図である。FIG. 11 is a sectional view of the unit shown in FIG. 10;

【図12】図11に示す半導体基板の平面図である。FIG. 12 is a plan view of the semiconductor substrate shown in FIG. 11;

【図13】同じく部分断面図である。FIG. 13 is a partial sectional view of the same.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 ユニット 2 対物レンズ 3 光磁気記録媒体 4 基板 5 半導体基板 6 スペーサ 7 光学ブロック 7a,7b ブロック 7c 偏光分離面 8a,8b ホログラム 11 半導体レーザ 12 立ち上げミラー 13,14,15,16 受光部 13a,13b,13c,13d,13e,13fおよ
び14a,14b,14c,14d,14e,14f
受光領域
Reference Signs List 1 unit 2 objective lens 3 magneto-optical recording medium 4 substrate 5 semiconductor substrate 6 spacer 7 optical block 7a, 7b block 7c polarization separation surface 8a, 8b hologram 11 semiconductor laser 12 rising mirror 13, 14, 15, 16 light receiving unit 13a, 13b, 13c, 13d, 13e, 13f and 14a, 14b, 14c, 14d, 14e, 14f
Light receiving area

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平5−28569(JP,A) 特開 平5−28570(JP,A) 特開 平4−372750(JP,A) 特開 平4−295648(JP,A) 特開 平4−255924(JP,A) 特開 平3−178064(JP,A) 特開 平3−150744(JP,A) 特開 平6−309722(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G11B 11/00 - 13/08 ────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (56) References JP 5-28569 (JP, A) JP 5-28570 (JP, A) JP 4-372750 (JP, A) JP 4-A 295648 (JP, A) JP-A-4-255924 (JP, A) JP-A-3-178064 (JP, A) JP-A-3-150744 (JP, A) JP-A-6-309722 (JP, A) (58) Field surveyed (Int. Cl. 7 , DB name) G11B 11/00-13/08

Claims (2)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 半導体レーザおよび複数の光検出器を有
する半導体基板と、 前記半導体レーザからの光を光磁気記録媒体に収束させ
る対物レンズと、 前記半導体基板と一体化したユニットとして配置され、
前記光磁気記録媒体で反射されて前記対物レンズを経て
入射する戻り光を回折させるホログラム、およびこのホ
ログラムの瞳を分割するように、該ホログラムの0次光
の光軸とほぼ平行に設けた偏光分離面を有する光学ブロ
ックとを具え、 前記ホログラムで回折され、前記偏光分離面で分離され
る戻り光を前記複数の光検出器で受光して光磁気信号を
検出するよう構成したことを特徴とする光ピックアッ
プ。
A semiconductor substrate having a semiconductor laser and a plurality of photodetectors, an objective lens for converging light from the semiconductor laser on a magneto-optical recording medium, and a unit integrated with the semiconductor substrate;
A hologram for diffracting return light reflected by the magneto-optical recording medium and entering through the objective lens, and polarized light provided substantially parallel to the optical axis of the zero-order light of the hologram so as to divide the pupil of the hologram. An optical block having a separation surface, wherein the return light diffracted by the hologram and separated by the polarization separation surface is received by the plurality of photodetectors to detect a magneto-optical signal. Optical pickup.
【請求項2】 前記ホログラムは、前記偏光分離面を境
界として異なるパターンから成ることを特徴とする請求
項1記載の光ピックアップ。
2. The optical pickup according to claim 1, wherein the hologram has a different pattern with the polarization splitting surface as a boundary.
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