JP3210517B2 - Optical vibration detection method and optical vibration detection device - Google Patents

Optical vibration detection method and optical vibration detection device

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JP3210517B2
JP3210517B2 JP01555994A JP1555994A JP3210517B2 JP 3210517 B2 JP3210517 B2 JP 3210517B2 JP 01555994 A JP01555994 A JP 01555994A JP 1555994 A JP1555994 A JP 1555994A JP 3210517 B2 JP3210517 B2 JP 3210517B2
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武 石橋
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】 この発明は、外乱として低振動
数の揺動がある状態で、振動を安定して検出するための
光学式振動検出方法およびその装置に関するものであ
る。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an optical vibration detection method and a device for stably detecting vibration in the presence of low-frequency oscillation as disturbance.

【0002】[0002]

【従来の技術】 従来、以下に述べるような光学式振動
検出方法および光学式振動検出装置が提案されている。
例えば、図6(a)に示す例では、被測定物にレーザ光
が照射され(図示しない)、その反射光R12が対物レ
ンズ100および凸レンズ101を介してビームスプリ
ッタ102に至る。そして、同ビームスプリッタ102
において反射光R12と参照光R13とがほぼ平行光線
で光干渉され、この出力光R14(以下、干渉光とす
る)を光・電変換器の検出面103において検出して、
電気信号に変換し、さらに図示しない復調器によりFM
復調し、前記被測定物の振動を計測する(以下、従来技
術1とする)。
2. Description of the Related Art Hitherto, an optical vibration detection method and an optical vibration detection device as described below have been proposed.
For example, in the example illustrated in FIG. 6A, the object to be measured is irradiated with laser light (not shown), and the reflected light R <b> 12 reaches the beam splitter 102 via the objective lens 100 and the convex lens 101. And the same beam splitter 102
, The reflected light R12 and the reference light R13 undergo optical interference with substantially parallel light rays, and this output light R14 (hereinafter, referred to as interference light) is detected on the detection surface 103 of the photoelectric converter.
The signal is converted to an electric signal, and FM
The signal is demodulated to measure the vibration of the device under test (hereinafter referred to as prior art 1).

【0003】この従来技術1においては、反射光R12
および参照光R13は、平行光線としてビームスプリッ
タ102に入射して、同一空間に重ねられて出力され
る。干渉光R14は、2光の周波数差のビート信号を含
む平行光線として光・電変換器の検出面103に入射し
て、そのビート信号を電気信号に変換し、FM復調し、
振動検出を行っていた。
In the prior art 1, the reflected light R12
The reference light R13 is incident on the beam splitter 102 as parallel rays, and is output in the same space. The interference light R14 is incident on the detection surface 103 of the photoelectric converter as a parallel light beam including a beat signal having a frequency difference between the two lights, converts the beat signal into an electric signal, and performs FM demodulation.
Vibration detection was being performed.

【0004】また、図6(b)に示す例では、従来技術
1と同様に反射光R12および参照光R13を平行光線
として干渉させた後、干渉光R14を凸レンズ114に
より集光させて検出面115に入射させていた(以下、
従来技術2とする)。
In the example shown in FIG. 6B, the reflected light R12 and the reference light R13 are made to interfere with each other as parallel rays as in the prior art 1, and then the interference light R14 is condensed by the convex lens 114 to be detected. 115 (hereinafter, referred to as
Conventional technology 2).

【0005】上記従来技術1および2において、反射光
R12および参照光R13を平行光線として光干渉させ
るのは、反射光R12および参照光R13が任意の位置
で1次元の進行波(平面波)として扱うことができ、理
論的な解析が容易な上、部品の配置の自由度が高いため
である。
In the above prior arts 1 and 2, the reflected light R12 and the reference light R13 are caused to interfere with each other as parallel rays because the reflected light R12 and the reference light R13 are treated as one-dimensional traveling waves (plane waves) at arbitrary positions. This is because theoretical analysis is easy and the degree of freedom in arranging parts is high.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】 本発明者は上記の従
来技術1および2を用いて実験を行った。被測定物とし
ての碍子を機械的に3.5mmの振幅で揺動させ(図7
(a)参照)、かつ照射ビーム径を2〜2.5mm、照
射光強度を10〜15mW,碍子までの距離を15mと
して、干渉ビートのレベル変動を計測した。なお、従来
技術1での試験条件は、対物レンズ100(口径:50
mm、焦点距離:280mm)、凸レンズ101(焦点
距離:20mm)、参照光R13(ビーム径:3mmの
平行光線)とする。
The present inventor conducted experiments using the above-mentioned prior arts 1 and 2. The insulator as the object to be measured is mechanically rocked with an amplitude of 3.5 mm (FIG. 7).
(A)), the irradiation beam diameter was 2 to 2.5 mm, the irradiation light intensity was 10 to 15 mW, and the distance to the insulator was 15 m, and the level variation of the interference beat was measured. The test conditions in the prior art 1 were such that the objective lens 100 (aperture: 50
mm, focal length: 280 mm), convex lens 101 (focal length: 20 mm), and reference light R13 (parallel ray having a beam diameter of 3 mm).

【0007】また、従来技術2での試験条件は、対物レ
ンズ110(口径:50mm、焦点距離:400m
m)、凹レンズ111(焦点距離:−30mm)、凸レ
ンズ114(焦点距離:80mm)、参照光R13(ビ
ーム径:3mmの平行光線)とする。
The test conditions in the prior art 2 are as follows: the objective lens 110 (aperture: 50 mm, focal length: 400 m)
m), a concave lens 111 (focal length: -30 mm), a convex lens 114 (focal length: 80 mm), and a reference light R13 (parallel ray having a beam diameter of 3 mm).

【0008】前記実験の結果、図7(c)および(d)
に示すように従来技術1(図7(c))、従来技術2
(図7(d))ともに、干渉ビートのレベル変動が不規
則(碍子が中央のときに必ずしもレベルが高くならな
い)かつ大きいことがわかる。このため、従来技術にお
いて、碍子が揺動状態にある場合、安定して振動検出を
行うことができなかった。
As a result of the above experiment, FIGS. 7 (c) and 7 (d)
As shown in FIG. 7, the prior art 1 (FIG. 7C) and the prior art 2
In both cases (FIG. 7D), it can be seen that the level fluctuation of the interference beat is irregular (the level does not always increase when the insulator is at the center) and large. For this reason, in the related art, when the insulator is in the swinging state, it has not been possible to stably detect the vibration.

【0009】ここで、レベル変動の原因を考察する。 被測定物が曲面である場合、同被測定物の揺動にと
もなって反射点が変化し、反射光R12の光軸がずれ、
反射光R12と参照光R13の角度が正規の状態からず
れる。これにより、干渉光R14に面的な位相差が生じ
る。
Here, the cause of the level fluctuation will be considered. When the measured object has a curved surface, the reflection point changes with the swing of the measured object, and the optical axis of the reflected light R12 shifts,
The angle between the reflected light R12 and the reference light R13 deviates from the normal state. As a result, a planar phase difference occurs in the interference light R14.

【0010】2つの光を重ね合わせたときに干渉縞の間
隔δは、波長をλ、2光の角度ずれをθとすると、δ=
λ/sinθとなる。波長λ=532nmとして、δ=
6mm(干渉光R14:ビーム径の2倍、干渉光R14
の両端に180°の位相差が生じる条件)とすると、許
容される角度ずれは、0.09mradとなる。また、
凸レンズ(対物レンズ)100と凸レンズ101によ
り、14倍にずれ角度が拡大されているので、凸レンズ
に入射する反射光R12の角度ずれは、6μradとな
る。これを15m先のずれ量に換算すると0.1mmと
なる。
When the two lights are superimposed, the interval δ between the interference fringes is given by
λ / sin θ. Assuming that the wavelength λ = 532 nm, δ =
6 mm (interference light R14: twice the beam diameter, interference light R14
Under the condition that a phase difference of 180 ° is generated at both ends of the above), the allowable angle shift is 0.09 mrad. Also,
Since the deviation angle is enlarged 14 times by the convex lens (objective lens) 100 and the convex lens 101, the angular deviation of the reflected light R12 incident on the convex lens is 6 μrad. This is 0.1 mm when converted to a displacement of 15 m ahead.

【0011】したがって、実験で行った揺れ量に対して
十分に小さい揺動により、180°の位相差が生じるこ
とがわかる。 被測定物の表面を光の波長のオーダーでみると凹凸
があり、反射光R12は明暗の模様(位相差)がある。
この模様についても、碍子の揺動にともない移動するた
め、干渉ビートのレベル変動が一層複雑になる。
Therefore, it can be seen that a phase difference of 180 ° occurs due to a swing sufficiently small with respect to the swing amount performed in the experiment. When the surface of the device under test is viewed in the order of the wavelength of light, there are irregularities, and the reflected light R12 has a bright and dark pattern (phase difference).
This pattern also moves as the insulator swings, so that the level fluctuation of the interference beat becomes more complicated.

【0012】これらの2点から、碍子の0.1mm程度
のわずかな揺動に対しても、干渉光R14に位相差が生
じ、ローカルなビート成分が光・電変換器で互いにキャ
ンセルされ、出力が極端に低下することが説明できる。
From these two points, even if the insulator is slightly swung by about 0.1 mm, a phase difference is generated in the interference light R14, local beat components are canceled by the optical-electrical converter, and the output is reduced. Is extremely reduced.

【0013】本発明は上記従来技術に存在する問題点に
着目してなされたものであって、その目的は、例えば、
被測定物としての碍子が揺動状態にある場合において
も、安定した振動検出を行うことができる光学式振動検
出方法および装置を提供することにある。
The present invention has been made in view of the problems existing in the prior art described above.
An object of the present invention is to provide an optical vibration detection method and apparatus capable of performing stable vibration detection even when an insulator as an object to be measured is in a swinging state.

【0014】[0014]

【課題を解決するための手段】 上記目的を達成するた
めに本発明では、レーザー光を被測定物に照射し、同被
測定物からの反射光と周波数の基準となる参照光とを同
一空間で重ね合わせて光干渉させ、この光干渉信号をF
M復調することにより前記被測定物の振動を計測する光
学式振動検出方法において、前記反射光および参照光を
同一の焦点位置に収束させながら重ね合わせ、かつ光干
渉信号検出面を焦点位置付近にするものである。
Means for Solving the Problems In order to achieve the above object, according to the present invention, an object to be measured is irradiated with laser light, and reflected light from the object to be measured and reference light serving as a frequency reference are placed in the same space. Superimposed on each other to cause optical interference, and this optical interference signal is
In the optical vibration detection method of measuring the vibration of the object to be measured by demodulating M, the reflected light and the reference light are overlapped while being converged on the same focal position, and the optical interference signal detection surface is positioned near the focal position. Is what you do.

【0015】また、本発明では、被測定物にレーザー光
を照射する照射光学系と、同被測定物からの反射光を受
光する受光学系とを備え、前記反射光と周波数の基準と
なる参照光とを同一空間で重ね合わせて光干渉させ、こ
の光干渉信号をFM復調することにより前記被測定物の
振動を計測する光学式振動検出装置において、前記反射
光および参照光を同一の焦点位置に収束させながら重ね
合わせ、かつ光干渉信号検出面を焦点位置付近になるよ
うに構成されている。
Further, according to the present invention, there is provided an irradiation optical system for irradiating the object to be measured with a laser beam, and an optical receiving system for receiving reflected light from the object to be measured, which serves as a reference for the reflected light and frequency. In an optical vibration detection device for measuring the vibration of the object by superimposing the reference light and the reference light in the same space to cause optical interference and FM demodulating the optical interference signal, the reflected light and the reference light have the same focus. It is configured such that the light interference signal detection surface is close to the focal point position while being overlapped while converging to the position.

【0016】さらに、本発明では、前記反射光および参
照光の光学系のFナンバー(焦点距離/口径)を同一も
しくは同一付近とするものである。
Further, in the present invention, the F number (focal length / aperture) of the optical system of the reflected light and the reference light is the same or near the same.

【0017】[0017]

【作用】 反射光および参照光は焦点位置付近で平面波
とみなせるため、焦点位置で従来技術と同様に光干渉が
生じる。ここで、本発明の方法及び構成としたメリット
は次のようになる。
The reflected light and the reference light can be regarded as plane waves in the vicinity of the focal position, so that optical interference occurs at the focal position as in the prior art. Here, the advantages of the method and configuration of the present invention are as follows.

【0018】・ビームエクスパンダを使用していないの
で従来技術のように反射光の角度ずれが拡大されること
がない。また、干渉位置でのビーム径が小さい。この2
点から、従来技術のように、反射点の変化によって干渉
光に位相差が生じることがない。
Since the beam expander is not used, the angle deviation of the reflected light is not enlarged unlike the prior art. Further, the beam diameter at the interference position is small. This 2
From the point of view, unlike the related art, the phase difference does not occur in the interference light due to the change of the reflection point.

【0019】・反射光の模様は、焦点位置において消滅
するため、反射光のパターンによる影響を受けない。以
上のことから、干渉光に位相差がほとんど生じず、過渡
的な干渉ビートのレベル低下が生じない。
Since the reflected light pattern disappears at the focal position, it is not affected by the reflected light pattern. From the above, the phase difference hardly occurs in the interference light, and the level of the transient interference beat does not decrease.

【0020】測定可能な範囲は、光の回折によるビーム
径で決まる。λ=532nm、図1の光学系において凸
レンズ16の口径を50mmとすると焦点位置でのビー
ム径が20μm程度となる。これを50m先でのずれ量
に換算すると0.4mm程度となる。したがって、測定
可能なずれ量についても従来技術と比べ狭くなることが
ない。
The measurable range is determined by the beam diameter due to light diffraction. When λ = 532 nm and the diameter of the convex lens 16 in the optical system of FIG. 1 is 50 mm, the beam diameter at the focal position is about 20 μm. When this is converted into the amount of displacement at a distance of 50 m, it is about 0.4 mm. Therefore, the measurable deviation amount does not become narrow as compared with the conventional technology.

【0021】[0021]

【第1実施例】 以下、本発明を具体化した第1実施例
を図面に基づいて詳細に説明する。まず、光学式振動検
出装置7により測定される送電線用碍子装置について説
明する。図5に示すように鉄塔1の支持アーム2には被
測定物としての懸垂碍子3を直列に多数個連結して構成
された懸垂碍子連4が吊下されている。同懸垂碍子連4
の下端部には送電線5が支持されている。そして、鉄塔
1付近の地面には音波により懸垂碍子3に振動を付与す
るためのスピーカ6が配置されている。また、地面には
前記懸垂碍子3の振動をレーザ光の干渉を利用して検出
するための光学式振動検出装置7が配置されている。
First Embodiment Hereinafter, a first embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. First, the transmission line insulator device measured by the optical vibration detection device 7 will be described. As shown in FIG. 5, a suspension insulator 4 formed by connecting a plurality of suspension insulators 3 as objects to be measured in series is suspended from a support arm 2 of the tower 1. Same suspension insulator series 4
A transmission line 5 is supported at the lower end of the power transmission line 5. A speaker 6 for applying vibration to the suspension insulator 3 by sound waves is arranged on the ground near the tower 1. On the ground, an optical vibration detecting device 7 for detecting the vibration of the suspension insulator 3 by utilizing the interference of laser light is disposed.

【0022】次に、光学式振動検出装置7について説明
する。図1に示すように、同光学式振動検出装置7の本
体ケース8内には、レーザ光発生器9が配置されてい
る。このレーザ光発生器9からは照射レーザ光R1およ
び参照レーザ光R3が出力されるようになっている。
Next, the optical vibration detecting device 7 will be described. As shown in FIG. 1, a laser light generator 9 is disposed in a main body case 8 of the optical vibration detection device 7. The laser light generator 9 outputs irradiation laser light R1 and reference laser light R3.

【0023】レーザ光発生器9の前方光軸上には照射レ
ーザ光R1から後述する参照レーザ光R3を分岐させる
ための第1偏光ビームスプリッタ10が配置されてい
る。同第1偏光ビームスプリッタ10の直進光軸上には
第1凹レンズ11が配置され、照射レーザ光R1のビー
ム径が拡げられる。同第1凹レンズ11の前方光軸上に
は照射レーザ光R1を直進させる第2偏光ビームスプリ
ッタ12が配置されている。同第2偏光ビームスプリッ
タ12の前方には光の偏波面を直線偏光から円偏光にす
るための1/4波長板13が配置されている。
On the optical axis in front of the laser light generator 9, a first polarization beam splitter 10 for splitting a reference laser light R3 to be described later from the irradiation laser light R1 is arranged. A first concave lens 11 is arranged on a straight optical axis of the first polarization beam splitter 10, and the beam diameter of the irradiation laser beam R1 is expanded. On the optical axis in front of the first concave lens 11, a second polarization beam splitter 12 for directing the irradiation laser beam R1 is disposed. A quarter-wave plate 13 for changing the plane of polarization of light from linearly polarized light to circularly polarized light is disposed in front of the second polarization beam splitter 12.

【0024】本体ケース8において同1/4波長板13
の前方には透孔14が形成され、同透孔14を囲僥する
ようにレンズ保持筒15が取着されている。同レンズ保
持筒15内において前記第2偏光ビームスプリッタ12
の直進光軸上には対物レンズ16が配置されている。同
対物レンズ16は支持枠17に保持されており、その支
持枠17は光軸に沿って移動可能である。つまり、モー
タ19はその出力軸上に直動機構18を有し、モータ1
9の正逆回転により、前記対物レンズ16が光軸上を移
動される。この直動機構18により対物レンズ16が移
動され、それにより照射レーザ光R1のフォーカスが調
整される。
In the main body case 8, the 1 / wavelength plate 13
A through-hole 14 is formed in front of the lens, and a lens holding tube 15 is attached so as to surround the through-hole 14. In the lens holding cylinder 15, the second polarization beam splitter 12
The objective lens 16 is arranged on the straight optical axis of the optical system. The objective lens 16 is held by a support frame 17, and the support frame 17 is movable along the optical axis. That is, the motor 19 has the linear motion mechanism 18 on its output shaft,
By the forward / reverse rotation of 9, the objective lens 16 is moved on the optical axis. The objective lens 16 is moved by the linear motion mechanism 18, whereby the focus of the irradiation laser light R1 is adjusted.

【0025】前記第1偏光ビームスプリッタ10の直角
反射光軸上には音響光学変調器20が配置されている。
同音響光学変調器20には、それに高周波を印加する駆
動回路(図示しない)が接続されている。同駆動回路に
より音響光学変調器20が高周波印加駆動され、参照レ
ーザ光R3は周波数がシフトされる。同音響光学変調器
20の光軸上には参照レーザ光R3を直角に反射する反
射ミラー21が配置されている。同反射ミラー21の反
射光軸上には参照レーザ光R3のビーム径を拡げるため
の第2凹レンズ22が配置されている。同第2凹レンズ
22の光軸上には参照レーザ光R3を後述する、光干渉
信号検出面としての光・電変換器25の検出面26に焦
点を合わせて集光させるための一対の第1凸レンズ群2
3が対向配置されている。同第1凸レンズ群23の直進
光軸上には参照レーザ光R3を後述する反射レーザ光R
2と同一方向に反射する第1ビームスプリッタ24が配
置されている。
An acousto-optic modulator 20 is arranged on the optical axis of the first polarization beam splitter 10 at a right angle reflection.
The acousto-optic modulator 20 is connected to a drive circuit (not shown) for applying a high frequency thereto. The acousto-optic modulator 20 is driven to apply a high frequency by the drive circuit, and the frequency of the reference laser beam R3 is shifted. On the optical axis of the acousto-optic modulator 20, a reflection mirror 21 for reflecting the reference laser beam R3 at right angles is arranged. A second concave lens 22 for expanding the beam diameter of the reference laser beam R3 is disposed on the reflection optical axis of the reflection mirror 21. On the optical axis of the second concave lens 22, a pair of first laser beams for focusing and condensing a reference laser beam R3 on a detection surface 26 of a photo-electric converter 25 as an optical interference signal detection surface, which will be described later. Convex lens group 2
3 are arranged facing each other. On the straight optical axis of the first convex lens group 23, a reference laser beam R3
A first beam splitter 24 that reflects light in the same direction as 2 is arranged.

【0026】前記対物レンズ16および第2偏光ビーム
スプリッタ12を介して第1ビームスプリッタ24に入
射された反射レーザ光R2の直進光軸上には光・電変換
器25が配置され、第1ビームスプリッタ24において
反射された参照レーザ光R3と反射レーザ光R2とが同
一空間で重ね合わされ、干渉レーザ光R4として光・電
変換器25の検出面26に入射されるそして、検出面2
6に入射された干渉レーザ光R4は光信号から電気信号
に変換される。同光・電変換器25には、電気信号を懸
垂碍子3の振動速度に比例した出力信号に変換するため
の復調器27が接続されている。同復調器27には懸垂
碍子3の振動数およびレベルの解析を行うための周波数
(振動)解析装置(FFTアナライザ)28が接続され
ている。
An optical / electrical converter 25 is disposed on the straight optical axis of the reflected laser beam R2 incident on the first beam splitter 24 via the objective lens 16 and the second polarizing beam splitter 12, and the first beam The reference laser light R3 and the reflected laser light R2 reflected by the splitter 24 are superimposed in the same space, and are incident on the detection surface 26 of the photoelectric converter 25 as interference laser light R4.
The interference laser light R4 incident on 6 is converted from an optical signal into an electric signal. The optical-electrical converter 25 is connected to a demodulator 27 for converting an electric signal into an output signal proportional to the vibration speed of the suspension 3. A frequency (vibration) analyzer (FFT analyzer) 28 for analyzing the frequency and level of the suspension 3 is connected to the demodulator 27.

【0027】次に、前記のように構成された光学式振動
検出装置7の作用を説明する。前記レーザ光発生器9か
ら出力された照射レーザ光R1は前述した照射光学系1
0、11、12、13、16を経て懸垂碍子3に照射さ
れる。懸垂碍子3に照射された照射レーザ光R1はその
懸垂碍子3で反射して、反射レーザ光R2として対物レ
ンズ16に入射される。反射レーザ光R2は同対物レン
ズ16において検出面26に焦点を合わせて入射され、
第2偏光ビームスプリッタ12で直角に反射されて第1
ビームスプリッタ24に至る。同第1ビームスプリッタ
24において、反射レーザ光R2は同反射レーザ光R2
と同じく検出面26に焦点を合わせて集光された参照レ
ーザ光R3と同一空間で重ね合わされ、干渉レーザ光R
4となる。この干渉レーザ光R4は光・電変換器25の
検出面26に導かれ、光信号から電気信号に変換され
て、さらに復調器27で振動が速度に変換される。この
測定により碍子3本体の振動が測定されて、周波数解析
装置28によって碍子3の固有振動数が解析される。
Next, the operation of the optical vibration detecting device 7 configured as described above will be described. The irradiation laser light R1 output from the laser light generator 9 is applied to the irradiation optical system 1 described above.
The porcelain insulator 3 is irradiated with light through 0, 11, 12, 13, and 16. The irradiation laser beam R1 applied to the suspension insulator 3 is reflected by the suspension insulator 3 and is incident on the objective lens 16 as a reflected laser beam R2. The reflected laser light R2 is focused on the detection surface 26 of the objective lens 16 and is incident thereon.
The first polarized beam reflected by the second polarizing beam splitter 12
The beam reaches the beam splitter 24. In the first beam splitter 24, the reflected laser light R2 is
In the same manner as described above, the reference laser beam R3 focused and focused on the detection surface
It becomes 4. The interference laser light R4 is guided to the detection surface 26 of the optical / electrical converter 25, where it is converted from an optical signal to an electric signal, and the vibration is converted into a velocity by the demodulator 27. The vibration of the insulator 3 main body is measured by this measurement, and the natural frequency of the insulator 3 is analyzed by the frequency analyzer 28.

【0028】なお、前記反射レーザ光R2が第1ビーム
スプリッタ24において参照レーザ光R3と同径となる
ように反射光学系及び参照光学系の光学部品のFナンバ
ー(焦点距離/口径)が同一になるようにしてある。
The F-numbers (focal length / diameter) of the optical components of the reflection optical system and the reference optical system are the same so that the reflected laser light R2 has the same diameter as the reference laser light R3 in the first beam splitter 24. It is made to become.

【0029】以上のように構成された振動検出装置7に
おいては、前記反射レーザ光R2および参照レーザ光R
3を干渉位置(第1ビームスプリッタ24)において同
径となり、かつ焦点を検出面26に合わせて収束させて
いる。このため、懸垂碍子3が揺動した場合の反射レー
ザ光R2の角度ずれが拡大されることがない上、干渉位
置でのビーム径が小さい。さらに、検出面26で反射レ
ーザ光R2のパターンが消滅する。これらの効果によ
り、懸垂碍子3が揺動状態にある場合においても、従来
技術と比べて安定した振動検出を行うことができる。な
お、この作用は後に述べる第2〜第4実施例においても
奏するので、第2〜第4実施例においてこの作用につい
て述べることの重複を避ける。
In the vibration detecting device 7 configured as described above, the reflected laser light R2 and the reference laser light R
3 have the same diameter at the interference position (first beam splitter 24), and are focused on the detection surface 26 to converge. Therefore, the angular deviation of the reflected laser beam R2 when the suspension insulator 3 swings is not enlarged, and the beam diameter at the interference position is small. Further, the pattern of the reflected laser light R2 disappears on the detection surface 26. Due to these effects, even when the suspension insulator 3 is in a swinging state, it is possible to perform stable vibration detection as compared with the related art. Since this operation is also achieved in the second to fourth embodiments described later, the description of this operation in the second to fourth embodiments will not be repeated.

【0030】上記した従来技術1および2と同様の実験
を同条件で本実施例についても行った。この実験に際し
て各光学素子の設定数値は、対物レンズ16(口径:5
0mm、焦点距離:800mm)、参照レーザ光R3は
第2凹レンズ22および第1凸レンズ群23によりFナ
ンバー=16で光・電変換器25の検出面26が焦点と
なるように収束させた。
Experiments similar to those of the above-mentioned prior arts 1 and 2 were performed under the same conditions in this embodiment. At the time of this experiment, the numerical values set for each optical element were set to the objective lens 16 (aperture: 5
(0 mm, focal length: 800 mm), and the reference laser beam R3 was converged by the second concave lens 22 and the first convex lens group 23 so that the detection surface 26 of the photoelectric converter 25 becomes a focal point at F number = 16.

【0031】この実験の結果、図7(b)に示すよう
に、従来技術1および2に比べ、干渉ビートのピークレ
ベルの変動が小さい(懸垂碍子3が中央位置にあるとき
は、干渉ビートのレベルがほぼピーク値になってい
る)。ここでFFT解析を行うには、一定時間、S/N
比の高い振動データを取り込む必要があり、この時間の
間、干渉ビートのレベルが高い値に保たれることが必須
である。干渉ビートが高いレベルにある頻度を比較する
と、従来技術に比べて改善されている。したがって、被
測定物としての懸垂碍子3が揺動状態にある場合、測定
可能な頻度が向上し、効率の良い振動測定が可能とな
る。
As a result of this experiment, as shown in FIG. 7 (b), the fluctuation of the peak level of the interference beat is smaller than in the prior arts 1 and 2 (when the suspension insulator 3 is at the center position, The level is almost at peak value). Here, to perform the FFT analysis, the S / N
It is necessary to capture vibration data with a high ratio, and during this time, it is essential that the level of the interference beat be kept at a high value. Comparing the frequency with which the interference beat is at a high level is an improvement over the prior art. Therefore, when the suspension insulator 3 as the object to be measured is in a swinging state, the frequency at which measurement can be performed is increased, and efficient vibration measurement can be performed.

【0032】[0032]

【第2実施例】 以下、本発明の光学式振動検出装置を
具体化した第2実施例を図面に基づいて詳細に説明す
る。なお、本第2実施例および後に詳述する第3、第4
実施例の光学式振動検出装置の測定時の配置位置や測定
対象物等(図5に示す)は前記第1実施例と同様であ
る。
Second Embodiment Hereinafter, a second embodiment of the optical vibration detecting apparatus according to the present invention will be described in detail with reference to the drawings. The second embodiment and third and fourth embodiments described later in detail
The arrangement position at the time of measurement, the object to be measured, and the like (shown in FIG. 5) of the optical vibration detection device of the embodiment are the same as those of the first embodiment.

【0033】図2に示すように、レーザ光発生器9の前
方光軸上には音響光学変調器32が配置されている。同
音響光学変調器32は高周波駆動装置(図示しない)に
より駆動されて、レーザ光発生器9から出力されたレー
ザ光の成分が0次光と周波数がシフトされた一次回折光
とに分離される。0次光は直進して照射レーザ光R1と
なり、一次回折光は光軸がずれて参照レーザ光R3とし
て使用される。
As shown in FIG. 2, an acousto-optic modulator 32 is arranged on the optical axis in front of the laser light generator 9. The acousto-optic modulator 32 is driven by a high-frequency driving device (not shown) to separate the components of the laser light output from the laser light generator 9 into zero-order light and first-order diffracted light whose frequency is shifted. . The zero-order light goes straight and becomes the irradiation laser light R1, and the first-order diffraction light is used as the reference laser light R3 with the optical axis shifted.

【0034】一次回折光は参照レーザ光R3として第1
反射ミラー42,第2反射ミラー43で反射される。同
第2反射ミラー43の反射光軸上には参照レーザ光R3
のビーム径を一度拡げてから検出面26に焦点を合わせ
て収束させるためのレンズ群44が配置されている。同
レンズ群44の前方光軸上には第1ビームスプリッタ2
4が配置され、その反射光軸上には光・電変換器25が
配置されている。
The first-order diffracted light is the first laser light R3
The light is reflected by the reflection mirror 42 and the second reflection mirror 43. On the reflection optical axis of the second reflection mirror 43, the reference laser light R3
A lens group 44 is disposed for expanding the beam diameter once and then focusing and converging on the detection surface 26. A first beam splitter 2 is provided on the front optical axis of the lens group 44.
4 are arranged, and an optical / electrical converter 25 is arranged on the reflected optical axis.

【0035】第1ビームスプリッタ24において光干渉
された参照レーザ光R3と反射レーザ光R2との干渉レ
ーザ光R4が光・電変換器25の検出面26に入射され
る。この第2実施例においては、前記レーザ光発生器9
から出力された照射レーザ光R1は前述した照射光学系
32、11、12、16、13を経て懸垂碍子3に照射
され、反射レーザ光R2として対物レンズ16に入射さ
れる。同対物レンズ16において反射レーザ光R2は検
出面26に焦点を合わせて集光されながら、第2偏光ビ
ームスプリッタ12を経て第1ビームスプリッタ24に
至り、同第1ビームスプリッタ24において、参照レー
ザ光R3と干渉される。この時同参照レーザ光R3もレ
ンズ群44により検出面26に焦点を合わせて集光され
る。
The interference laser beam R4 between the reference laser beam R3 and the reflected laser beam R2, which has been subjected to the optical interference in the first beam splitter 24, is incident on the detection surface 26 of the photoelectric converter 25. In the second embodiment, the laser light generator 9
Irradiation laser light R1 output from is irradiated on the suspension insulator 3 through the above-described irradiation optical systems 32, 11, 12, 16, and 13, and is incident on the objective lens 16 as reflected laser light R2. The reflected laser light R2 is focused on the detection surface 26 by the objective lens 16 and is condensed. Then, the reflected laser light R2 reaches the first beam splitter 24 via the second polarization beam splitter 12, and the first laser splitter 24 outputs the reference laser light. Interfered with R3. At this time, the reference laser beam R3 is also focused by the lens group 44 on the detection surface 26 and collected.

【0036】以上のように、上記第2実施例において
は、通常は捨てられる0次光を照射レーザ光R1として
使用している(第1,第3,第4実施例においては参照
レーザ光R3として音響光学変調器20により周波数が
シフトされた一次回折光を使用しており、残りの0次光
は捨てられている)。このため、偏光ビームスプリッタ
を使用してレーザ光を照射レーザ光R1と参照レーザ光
R3とに分岐する必要がなく、光学式振動検出装置を小
型化できる。
As described above, in the second embodiment, the normally discarded zero-order light is used as the irradiation laser light R1 (the reference laser light R3 in the first, third, and fourth embodiments). The first-order diffracted light whose frequency is shifted by the acousto-optic modulator 20 is used, and the remaining zero-order light is discarded.) For this reason, it is not necessary to split the laser beam into the irradiation laser beam R1 and the reference laser beam R3 using a polarizing beam splitter, and the optical vibration detecting device can be downsized.

【0037】[0037]

【第3実施例】 以下、本発明の光学式振動検出装置
を、具体化した第3実施例を図面に基づいて説明する。
図3に示すように、照射光学系においては、第1凹レン
ズ11には直動機構60が取着され、同直動機構60に
より第1凹レンズ11が光軸上を移動可能である。第1
凹レンズ11が光軸上を移動することにより照射レーザ
光R1のビーム径が拡げられ、反射確認レーザ光(図示
しない)として照射される。なお、詳述しないが、反射
確認レーザ光は照射レーザ光R1より大径のビームであ
り、それを被測定物に照射することによりその強反射点
(照射レーザ光R1を照射する理想点)を操作者が探り
当てるためのものである。
Third Embodiment An optical vibration detecting device according to a third embodiment of the present invention will now be described with reference to the drawings.
As shown in FIG. 3, in the irradiation optical system, a linear motion mechanism 60 is attached to the first concave lens 11, and the first concave lens 11 can move on the optical axis by the linear motion mechanism 60. First
When the concave lens 11 moves on the optical axis, the beam diameter of the irradiation laser beam R1 is expanded, and the irradiation laser beam R1 is irradiated as a reflection confirmation laser beam (not shown). Although not described in detail, the reflection confirming laser light is a beam having a larger diameter than the irradiation laser light R1. This is for the operator to find out.

【0038】前記第1凹レンズ11の前方には第2凸レ
ンズ61が配置され、前記第1凹レンズ11によりビー
ム径が拡げられた照射レーザ光R1が平行光線にされ
る。対物レンズ16には直動機構が設けられていない。
1/4波長板13と第2偏光ビームスプリッタ12との
間に第3凹レンズ62が配置されている。同第3凹レン
ズ62には直動機構63が取着され、それにより第3凹
レンズ62を移動させてフォーカス調整を行うものであ
る。
A second convex lens 61 is disposed in front of the first concave lens 11, and the irradiation laser beam R1 whose beam diameter has been expanded by the first concave lens 11 is converted into a parallel beam. The objective lens 16 is not provided with a linear motion mechanism.
A third concave lens 62 is arranged between the 波長 wavelength plate 13 and the second polarization beam splitter 12. A linear motion mechanism 63 is attached to the third concave lens 62, thereby moving the third concave lens 62 to perform focus adjustment.

【0039】そして、対物レンズ16に入射された反射
レーザ光R2は照射光学系と共用の第3凹レンズ62に
より平行光線にされる。同反射レーザ光R2は第2偏光
ビームスプリッタ12により直角反射される。同第2偏
光ビームスプリッタ12の直角光軸上には第3凸レンズ
64が配置され、前記第3凹レンズ62により平行光線
にされた反射レーザ光R2が光・電変換器25の検出面
26に焦点を合わせて集光される。
The reflected laser beam R2 incident on the objective lens 16 is converted into a parallel beam by the third concave lens 62 shared with the irradiation optical system. The reflected laser light R2 is reflected at right angles by the second polarization beam splitter 12. A third convex lens 64 is arranged on a right-angle optical axis of the second polarization beam splitter 12, and the reflected laser beam R 2 converted into a parallel light beam by the third concave lens 62 is focused on the detection surface 26 of the photoelectric converter 25. Are collected together.

【0040】上記構成の光学式振動検出装置において
は、反射レーザ光R2を第3凹レンズ62により一旦平
行光線にしてから第3凸レンズ64により集光させ、第
1ビームスプリッタ24において参照レーザ光R3と光
干渉させるものである。
In the optical vibration detecting device having the above-described structure, the reflected laser beam R2 is once converted into a parallel beam by the third concave lens 62 and then condensed by the third convex lens 64. It causes light interference.

【0041】本実施例の光学式振動検出装置によれば、
第3凹レンズ62を移動させてフォーカス調整を行うた
め、対物レンズ16をレンズ保持筒15内に固定でき
る。このため、対物レンズ16を大型化でき、それによ
って被測定物(懸垂碍子3)に対する距離が離れている
場合においても振動検出作業が可能になる。
According to the optical vibration detecting device of this embodiment,
Since the focus adjustment is performed by moving the third concave lens 62, the objective lens 16 can be fixed in the lens holding tube 15. Therefore, the size of the objective lens 16 can be increased, so that the vibration detection operation can be performed even when the distance to the object to be measured (the suspension 3) is large.

【0042】[0042]

【第4実施例】 以下、本発明の光学式振動検出装置
を、具体化した第4実施例を図面に基づいて詳細に説明
する。本実施例においては照射光学系と受光光学系とが
それそれ独立したフォーカス調節機能を有することが第
1〜第3実施例と異なる。
Fourth Embodiment Hereinafter, an optical vibration detecting apparatus according to a fourth embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. This embodiment differs from the first to third embodiments in that the irradiation optical system and the light receiving optical system have independent focus adjustment functions.

【0043】図4に示すように、偏光ビームスプリッタ
10の直進光軸上には第1凹レンズ11が配置され、照
射レーザ光R1のビーム径が拡げられる。同第1凹レン
ズ11はそれに接続された直動機構70により光軸上を
移動し、照射確認レーザ光(図示しない)との切り換え
や照射レーザ光R1のフォーカス調節が行われる。同第
1凹レンズ11の前方光軸上には第2凸レンズ71が配
置される。同第2凸レンズ71の前方光軸上には第3凹
レンズ72が配置され、照射レーザ光R1のビーム径が
拡げられる。
As shown in FIG. 4, a first concave lens 11 is arranged on the straight optical axis of the polarizing beam splitter 10, and the beam diameter of the irradiation laser beam R1 is expanded. The first concave lens 11 is moved on the optical axis by a translation mechanism 70 connected to the first concave lens 11, and is switched to an irradiation confirming laser light (not shown) and the focus of the irradiation laser light R1 is adjusted. A second convex lens 71 is disposed on the front optical axis of the first concave lens 11. A third concave lens 72 is arranged on the front optical axis of the second convex lens 71, and the beam diameter of the irradiation laser light R1 is expanded.

【0044】前記第2偏光ビームスプリッタ12の直角
反射光軸上には反射レーザ光R2を平行光線にする第4
凹レンズ73が配置されている。同第4凹レンズ73は
直動機構74により移動されて反射レーザ光R2のフォ
ーカスの調節が行われる。第4凹レンズ73の光軸上に
は第3凸レンズ75が配置され、反射レーザ光R2を光
・電変換器25の検出面26に焦点を合わせて集光させ
る。
The fourth polarization beam splitter 12 has a fourth reflection laser beam R2 on the right-angle reflection optical axis.
A concave lens 73 is arranged. The fourth concave lens 73 is moved by the translation mechanism 74 to adjust the focus of the reflected laser beam R2. A third convex lens 75 is arranged on the optical axis of the fourth concave lens 73, and focuses and focuses the reflected laser light R2 on the detection surface 26 of the photoelectric converter 25.

【0045】本実施例においては、それぞれにフォーカ
ス調節のための光学素子11、73およびその直動機構
70、74を設けている。上記のように構成された本実
施例においては、第1凹レンズ11の直動機構70およ
び第3凹レンズ73の直動機構74により、照射光学系
および受光光学系はそれぞれ独立してフォーカス調節可
能である。このため、照射レーザ光R1のビーム径に関
係なく振動検出を行うことができる。
In this embodiment, the optical elements 11 and 73 for adjusting the focus and the linear movement mechanisms 70 and 74 are provided respectively. In the present embodiment configured as described above, the irradiation optical system and the light receiving optical system can be independently adjusted in focus by the linear motion mechanism 70 of the first concave lens 11 and the linear motion mechanism 74 of the third concave lens 73. is there. Therefore, the vibration can be detected regardless of the beam diameter of the irradiation laser light R1.

【0046】なお、この発明は上記実施例に限定される
ものではなく、この発明の趣旨から逸脱しない範囲で以
下のような態様で実施できる。 (1)照射光学系と受光学系とを独立して設け、受光学
系および参照光学系の光学素子を、反射光および参照光
を同一の焦点位置に収束させながら重ね合わせ、かつ光
干渉信号検出面を焦点位置付近になるように配置するこ
と。 (2)懸垂碍子以外の被測定物に対して測定を行うこ
と。
It should be noted that the present invention is not limited to the above embodiment, and can be implemented in the following modes without departing from the spirit of the present invention. (1) The irradiation optical system and the receiving optical system are provided independently, and the optical elements of the receiving optical system and the reference optical system are overlapped while converging the reflected light and the reference light to the same focal position, and an optical interference signal Position the detection surface near the focal point. (2) Measurement is performed on the DUT other than the suspension insulator.

【0047】また、請求項に記載した技術的思想の外
に、前記各実施例により把握される技術的思想を述べれ
ば以下の通りである。 (1)照射レーザ光として0次光を使用する請求項1に
記載の振動検出方法。 (2)照射光学系および受光光学系のそれぞれにフォー
カス調整機構を設けた請求項2に記載の振動検出装置。
In addition to the technical ideas described in the claims, the technical ideas grasped by each of the above embodiments are as follows. (1) The vibration detection method according to claim 1, wherein zero-order light is used as the irradiation laser light. (2) The vibration detecting device according to claim 2, wherein a focus adjusting mechanism is provided in each of the irradiation optical system and the light receiving optical system.

【0048】[0048]

【発明の効果】 以上詳述したように本発明によれば、
例えば、被測定物としての碍子が揺動状態にある場合に
おいても、安定した振動検出を行うことができるという
優れた効果を奏する。
According to the present invention as described in detail above,
For example, even when the insulator as the object to be measured is in a swinging state, there is an excellent effect that stable vibration detection can be performed.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】 本発明の光学式振動検出装置を具体化した第
1実施例を示す断面図である。
FIG. 1 is a cross-sectional view showing a first embodiment of an optical vibration detection device according to the present invention.

【図2】 本発明の光学式振動検出装置を具体化した第
2実施例を示す断面図である。
FIG. 2 is a sectional view showing a second embodiment of the optical vibration detecting device according to the present invention.

【図3】 本発明の光学式振動検出装置を具体化した第
3実施例を示す断面図である。
FIG. 3 is a sectional view showing a third embodiment of the optical vibration detecting device according to the present invention;

【図4】 本発明の光学式振動検出装置を具体化した第
4実施例を示す断面図である。
FIG. 4 is a sectional view showing a fourth embodiment of the optical vibration detecting device according to the present invention.

【図5】 光学式振動検出装置の使用状態を示す正面図
である。
FIG. 5 is a front view showing a use state of the optical vibration detection device.

【図6】 本発明者が行った従来技術との比較実験に使
用した装置の概略図であって、(a)は従来技術1、
(b)は従来技術2を示す。
FIG. 6 is a schematic diagram of an apparatus used in a comparative experiment performed by the present inventor with a conventional technique.
(B) shows prior art 2.

【図7】 実験結果を示すグラフであって、(a)は碍
子の振動波形を示すグラフである。(b)は本発明の光
学式振動検出装置が検出した干渉ビートのレベル変動を
示すグラフである。(c)および(d)は従来技術の光
学式振動検出装置が検出した干渉ビートのレベル変動を
示すグラフである。
FIG. 7 is a graph showing experimental results, in which (a) is a graph showing a vibration waveform of an insulator. (B) is a graph showing the level fluctuation of the interference beat detected by the optical vibration detection device of the present invention. (C) and (d) are graphs showing the level fluctuation of the interference beat detected by the conventional optical vibration detection device.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

3…被測定物としての懸垂碍子、24…干渉位置に配置
されるビームスプリッタ、25…振動計測部を構成する
光・電変換器、26…光干渉信号検出面としての検出
面、R1…照射レーザ光、R2…反射レーザ光、R3…
参照レーザ光。
Reference numeral 3 denotes a suspension insulator as an object to be measured; 24 a beam splitter disposed at an interference position; 25 an optical-electrical converter constituting a vibration measuring unit; 26 a detection surface as an optical interference signal detection surface; Laser light, R2 ... reflected laser light, R3 ...
Reference laser light.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 秋月 優宏 名古屋市瑞穂区須田町2番56号 日本碍 子 株式会社 内 (72)発明者 鈴木 康人 名古屋市瑞穂区須田町2番56号 日本碍 子 株式会社 内 (56)参考文献 特開 平5−281019(JP,A) 特開 平5−264516(JP,A) 特開 昭57−192833(JP,A) 特開 平5−172787(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G01H 9/00 G01N 29/00 501 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continuing on the front page (72) Inventor Yukihiro Akizuki 2-56, Suda-machi, Mizuho-ku, Nagoya Japan Insulator Co., Ltd. (72) Inventor Yasuto Suzuki 2-56, Suda-cho, Mizuho-ku, Nagoya Japan Insulator Co., Ltd. (56) References JP-A-5-281019 (JP, A) JP-A-5-264516 (JP, A) JP-A-57-192833 (JP, A) JP-A-5-172787 ( JP, A) (58) Fields investigated (Int. Cl. 7 , DB name) G01H 9/00 G01N 29/00 501

Claims (3)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 レーザー光を被測定物に照射し、同被測
定物からの反射光と周波数の基準となる参照光とを同一
空間で重ね合わせて光干渉させ、この光干渉信号をFM
復調することにより前記被測定物の振動を計測する光学
式振動検出方法において、 前記反射光および参照光を同一の焦点位置に収束させな
がら重ね合わせ、かつ光干渉信号検出面を焦点位置付近
にすることを特徴とする光学式振動検出方法。
1. An object to be measured is irradiated with laser light, and reflected light from the object to be measured and reference light, which is a frequency reference, are superposed in the same space to cause optical interference.
In the optical vibration detection method of measuring the vibration of the device under test by demodulating, the reflected light and the reference light are overlapped while being converged on the same focal position, and the optical interference signal detection surface is set near the focal position. An optical vibration detection method, comprising:
【請求項2】 被測定物にレーザー光を照射する照射光
学系と、同被測定物からの反射光を受光する受光学系と
を備え、前記反射光と周波数の基準となる参照光とを同
一空間で重ね合わせて光干渉させ、この光干渉信号をF
M復調することにより前記被測定物の振動を計測する光
学式振動検出装置において、 前記反射光および参照光を同一の焦点位置に収束させな
がら重ね合わせ、かつ光干渉信号検出面を焦点位置付近
になるように構成されていることを特徴とする光学式振
動検出装置。
2. An illumination optical system for irradiating a laser beam to an object to be measured, and an optical receiving system for receiving reflected light from the object to be measured, wherein the reflected light and a reference light serving as a frequency reference are used. The optical interference is caused by superposing in the same space and causing the optical interference,
An optical vibration detection device for measuring the vibration of the device under test by performing M demodulation, wherein the reflected light and the reference light are overlapped while being converged on the same focal position, and the optical interference signal detection surface is positioned near the focal position. An optical vibration detection device characterized by being configured as follows.
【請求項3】 請求項2の光学式振動検出装置におい
て、前記反射光および参照光の光学系のFナンバー(焦
点距離/口径)を同一もしくは同一付近とすることを特
徴とする光学式振動検出装置。
3. The optical vibration detecting device according to claim 2, wherein the F number (focal length / aperture) of the optical system of the reflected light and the reference light is the same or near the same. apparatus.
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CN102175303A (en) * 2011-01-14 2011-09-07 中国科学院上海光学精密机械研究所 Three-dimensional vibration interferometry device based on spherical surface cooperation target
CN102175303B (en) * 2011-01-14 2013-02-27 中国科学院上海光学精密机械研究所 Three-dimensional vibration interferometry device based on spherical surface cooperation target

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