JP3192541U - Gas chromatograph - Google Patents

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Abstract

【課題】基準電圧の特性が分析結果に与える影響を安価な構成で抑制することができるガスクロマトグラフを提供する。【解決手段】検出器基板２は、ＴＣＤ（熱伝導度検出器）１からの検出信号を増幅する増幅回路２１と、増幅回路２１に基準電圧を印加する基準電圧印加部（第１電圧印加部）２２とを有する。制御基板３は、増幅回路２１からの検出信号をデジタル信号に変換するＡＤＣ（Ａ／Ｄコンバータ）３２と、ＡＤＣ３２に基準電圧を印加する基準電圧印加部（第２電圧印加部）３３とを有する。ＡＤＣ３２には、基準電圧印加部２２により増幅回路２１に印加される基準電圧が電圧信号として入力され、当該電圧信号と増幅回路２１からの検出信号との差動信号に基づいて、増幅回路２１からの検出信号がデジタル信号に変換される。【選択図】 図１PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a gas chromatograph capable of suppressing an influence of a reference voltage characteristic on an analysis result with an inexpensive configuration. SOLUTION: A detector substrate 2 has an amplifier circuit 21 for amplifying a detection signal from a TCD (thermal conductivity detector) 1 and a reference voltage application unit (first voltage application unit) for applying a reference voltage to the amplifier circuit 21. ) 22 and. The control board 3 has an ADC (A / D converter) 32 that converts a detection signal from the amplifier circuit 21 into a digital signal, and a reference voltage application unit (second voltage application unit) 33 that applies a reference voltage to the ADC 32. .. The reference voltage applied to the amplification circuit 21 by the reference voltage application unit 22 is input to the ADC 32 as a voltage signal, and the amplification circuit 21 receives the differential signal between the voltage signal and the detection signal from the amplification circuit 21. The detection signal of is converted into a digital signal. [Selection diagram] Fig. 1

Description

本考案は、熱伝導度検出器を備えたガスクロマトグラフに関するものである。   The present invention relates to a gas chromatograph equipped with a thermal conductivity detector.

ガスクロマトグラフの中には、検出器の一例として熱伝導度検出器（ＴＣＤ：Thermal Conductivity Detector）を備えたものがある。この種のガスクロマトグラフでは、熱伝導度が低いヘリウムなどをキャリアガスとして、当該キャリアガスに混合された試料の熱伝導度に基づいて試料の成分を分析することができる（例えば、下記特許文献１参照）。   Some gas chromatographs include a thermal conductivity detector (TCD) as an example of a detector. In this type of gas chromatograph, helium having a low thermal conductivity can be used as a carrier gas, and the components of the sample can be analyzed based on the thermal conductivity of the sample mixed in the carrier gas (for example, Patent Document 1 below). reference).

図２は、ＴＣＤ１０１を備えたガスクロマトグラフの従来例を示すブロック図である。このガスクロマトグラフには、ＴＣＤ１０１の他に、検出器基板１０２及び制御基板１０３が備えられている。検出器基板１０２には、増幅回路１２１、ＡＤＣ（Ａ／Ｄコンバータ）１２２及び基準電圧印加部１２３が備えられている。また、制御基板１０３には、ＣＰＵ（Central Processing Unit）１３１が備えられている。   FIG. 2 is a block diagram showing a conventional example of a gas chromatograph provided with a TCD 101. This gas chromatograph includes a detector substrate 102 and a control substrate 103 in addition to the TCD 101. The detector substrate 102 includes an amplifier circuit 121, an ADC (A / D converter) 122, and a reference voltage application unit 123. The control board 103 includes a CPU (Central Processing Unit) 131.

ＴＣＤ１０１からの検出信号（アナログ信号）は、検出器基板１０２の増幅回路１２１に入力され、当該増幅回路１２１で増幅された後、ＡＤＣ１２２に入力される。基準電圧印加部１２３は、増幅回路１２１及びＡＤＣ１２２に基準電圧を印加する。ＡＤＣ１２２は、基準電圧印加部１２３により印加される基準電圧を基準として、増幅回路１２１からの検出信号とグラウンド電圧との電位差を求めることにより、検出信号をデジタル信号に変換する。このようにしてデジタル信号に変換された検出信号は、制御基板１０３のＣＰＵ１３１に入力される。   A detection signal (analog signal) from the TCD 101 is input to the amplifier circuit 121 of the detector substrate 102, amplified by the amplifier circuit 121, and then input to the ADC 122. The reference voltage application unit 123 applies a reference voltage to the amplifier circuit 121 and the ADC 122. The ADC 122 converts the detection signal into a digital signal by obtaining a potential difference between the detection signal from the amplifier circuit 121 and the ground voltage using the reference voltage applied by the reference voltage application unit 123 as a reference. The detection signal thus converted into a digital signal is input to the CPU 131 of the control board 103.

特開平９−２３６５６３号公報JP-A-9-236563

図２に示すような従来例では、検出器基板１０２にＡＤＣ１２２が備えられている。したがって、例えば水素炎イオン化検出器（ＦＩＤ：Flame Ionization Detector）や炎光光度検出器（ＦＰＤ：Flame Photometric Detector）などの他の検出器を接続するために複数の検出器基板１０２を設けた場合には、各検出器基板１０２にＡＤＣ１２２を設ける必要があるため、製造コストが高くなるという問題がある。   In the conventional example as shown in FIG. 2, the ADC 122 is provided on the detector substrate 102. Therefore, for example, when a plurality of detector substrates 102 are provided to connect other detectors such as a flame ionization detector (FID) and a flame photometric detector (FPD). However, since it is necessary to provide the ADC 122 on each detector substrate 102, there is a problem that the manufacturing cost increases.

そこで、本願発明者は、ＡＤＣを検出器基板１０２ではなく制御基板１０３に設けることを考えるに至った。図３は、ＴＣＤ１０１を備えたガスクロマトグラフの他の例を示すブロック図である。このガスクロマトグラフには、図２の場合と同様にＴＣＤ１０１、検出器基板１０２及び制御基板１０３が備えられているが、検出器基板１０２及び制御基板１０３の構成が異なっている。   Accordingly, the inventors of the present application have come to consider providing the ADC on the control board 103 instead of the detector board 102. FIG. 3 is a block diagram illustrating another example of a gas chromatograph including the TCD 101. As illustrated in FIG. This gas chromatograph is provided with a TCD 101, a detector substrate 102, and a control substrate 103 as in the case of FIG. 2, but the configurations of the detector substrate 102 and the control substrate 103 are different.

具体的には、検出器基板１０２ではなく制御基板１０３にＡＤＣ１３２が備えられている。また、増幅回路１２１に基準電圧を印加する基準電圧印加部１２３と、ＡＤＣ１３２に基準電圧を印加する基準電圧印加部１３３とが、それぞれ別々の基板（検出器基板１０２及び制御基板１０３）に設けられている。   Specifically, the ADC 132 is provided not on the detector substrate 102 but on the control substrate 103. In addition, a reference voltage application unit 123 that applies a reference voltage to the amplifier circuit 121 and a reference voltage application unit 133 that applies a reference voltage to the ADC 132 are provided on separate substrates (the detector substrate 102 and the control substrate 103), respectively. ing.

この場合、ＴＣＤ１０１からの検出信号は、検出器基板１０２の増幅回路１２１に入力され、当該増幅回路１２１で増幅された後、アナログ信号のまま制御基板１０３に入力される。制御基板１０３のＡＤＣ１３２は、基準電圧印加部１３３により印加される基準電圧を基準として、増幅回路１２１からの検出信号とグラウンド電圧との電位差を求めることにより、検出信号をデジタル信号に変換する。このようにしてデジタル信号に変換された検出信号は、制御基板１０３内でＣＰＵ１３１に入力される。   In this case, the detection signal from the TCD 101 is input to the amplifier circuit 121 of the detector substrate 102, amplified by the amplifier circuit 121, and then input to the control substrate 103 as an analog signal. The ADC 132 of the control board 103 converts the detection signal into a digital signal by obtaining a potential difference between the detection signal from the amplifier circuit 121 and the ground voltage with reference to the reference voltage applied by the reference voltage application unit 133. The detection signal thus converted into a digital signal is input to the CPU 131 within the control board 103.

この図３に示すような例では、検出器基板１０２ではなく制御基板１０３にＡＤＣ１３２が備えられているため、複数の検出器基板１０２を設けた場合であっても、各検出器基板１０２にＡＤＣ１２２を設ける必要がない。しかしながら、増幅回路１２１に基準電圧を印加する基準電圧印加部１２３と、ＡＤＣ１３２に基準電圧を印加する基準電圧印加部１３３とが、それぞれ別々の基板１０２，１０３に設けられるため、各基準電圧印加部１２３，１３３により印加される基準電圧が同一にならない。   In the example shown in FIG. 3, the ADC 132 is provided on the control board 103 instead of the detector board 102, so that even when a plurality of detector boards 102 are provided, the ADC 122 is provided on each detector board 102. There is no need to provide. However, since the reference voltage applying unit 123 that applies the reference voltage to the amplifier circuit 121 and the reference voltage applying unit 133 that applies the reference voltage to the ADC 132 are provided on separate substrates 102 and 103, respectively, each reference voltage applying unit The reference voltages applied by 123 and 133 are not the same.

すなわち、周囲の温度環境の変化に基づいて基準電圧が変動する現象（いわゆるドリフト）や、基準電圧に生じるノイズなどの影響により、各基準電圧印加部１２３，１３３から印加される基準電圧が異なる特性を有することとなる。そのため、各基準電圧印加部１２３，１３３から印加される基準電圧の特性が、検出信号に対して重畳的に影響を及ぼすこととなり、図２のように同一の基準電圧印加部１２３から増幅回路１２１及びＡＤＣ１２２に基準電圧を印加するような構成と同様の性能を確保することができない。特に、ＴＣＤ１０１からの検出信号はノイズの影響を受けやすいため、微小なノイズであっても分析結果に与える影響が大きくなる。   That is, the reference voltage applied from each of the reference voltage application units 123 and 133 is different due to a phenomenon (so-called drift) in which the reference voltage fluctuates based on a change in the ambient temperature environment, noise caused by the reference voltage, and the like. It will have. Therefore, the characteristics of the reference voltage applied from each of the reference voltage application units 123 and 133 affect the detection signal in a superimposed manner, and the amplification circuit 121 is supplied from the same reference voltage application unit 123 as shown in FIG. In addition, the same performance as that of the configuration in which the reference voltage is applied to the ADC 122 cannot be ensured. In particular, since the detection signal from the TCD 101 is easily affected by noise, even a minute noise has a great influence on the analysis result.

本考案は、上記実情に鑑みてなされたものであり、基準電圧の特性が分析結果に与える影響を安価な構成で抑制することができるガスクロマトグラフを提供することを目的とする。   The present invention has been made in view of the above circumstances, and an object thereof is to provide a gas chromatograph capable of suppressing the influence of the characteristics of the reference voltage on the analysis result with an inexpensive configuration.

本考案に係るガスクロマトグラフは、熱伝導度検出器と、前記熱伝導度検出器が接続された検出器基板と、前記検出器基板を介して前記熱伝導度検出器からの検出信号が入力される制御基板とを備える。前記検出器基板は、前記熱伝導度検出器からの検出信号を増幅する増幅回路と、前記増幅回路に基準電圧を印加する第１電圧印加部とを有する。前記制御基板は、前記増幅回路からの検出信号をデジタル信号に変換するＡ／Ｄコンバータと、前記Ａ／Ｄコンバータに基準電圧を印加する第２電圧印加部とを有する。前記Ａ／Ｄコンバータには、前記第１電圧印加部により前記増幅回路に印加される基準電圧が電圧信号として入力され、当該電圧信号と前記増幅回路からの検出信号との差動信号に基づいて、前記増幅回路からの検出信号がデジタル信号に変換される。   The gas chromatograph according to the present invention includes a thermal conductivity detector, a detector substrate to which the thermal conductivity detector is connected, and a detection signal from the thermal conductivity detector via the detector substrate. And a control board. The detector substrate includes an amplifier circuit that amplifies a detection signal from the thermal conductivity detector, and a first voltage application unit that applies a reference voltage to the amplifier circuit. The control board includes an A / D converter that converts a detection signal from the amplifier circuit into a digital signal, and a second voltage application unit that applies a reference voltage to the A / D converter. A reference voltage applied to the amplifier circuit by the first voltage application unit is input to the A / D converter as a voltage signal, and based on a differential signal between the voltage signal and a detection signal from the amplifier circuit. The detection signal from the amplifier circuit is converted into a digital signal.

このような構成によれば、Ａ／Ｄコンバータが制御基板に備えられているため、複数の検出器基板を設けた場合であっても、各検出器基板にＡ／Ｄコンバータを設ける必要がない。また、制御基板に備えられたＡ／Ｄコンバータは、増幅回路に印加される基準電圧の電圧信号と、増幅回路からの検出信号との差動信号に基づいて、増幅回路からの検出信号をデジタル信号に変換するため、増幅回路に印加される基準電圧の特性が検出信号に与える影響を打ち消すことができる。したがって、基準電圧の特性が分析結果に与える影響を安価な構成で抑制することができる。   According to such a configuration, since the A / D converter is provided on the control board, it is not necessary to provide an A / D converter on each detector board even when a plurality of detector boards are provided. . The A / D converter provided on the control board digitally converts the detection signal from the amplifier circuit based on a differential signal between the voltage signal of the reference voltage applied to the amplifier circuit and the detection signal from the amplifier circuit. Since it is converted into a signal, it is possible to cancel the influence of the characteristic of the reference voltage applied to the amplifier circuit on the detection signal. Therefore, the influence of the reference voltage characteristic on the analysis result can be suppressed with an inexpensive configuration.

本考案によれば、複数の検出器基板を設けた場合であっても、各検出器基板にＡ／Ｄコンバータを設ける必要がなく、かつ、増幅回路に印加される基準電圧の特性が検出信号に与える影響を打ち消すことができるため、基準電圧の特性が分析結果に与える影響を安価な構成で抑制することができる。   According to the present invention, even when a plurality of detector boards are provided, it is not necessary to provide an A / D converter on each detector board, and the characteristics of the reference voltage applied to the amplifier circuit are detected signals. Therefore, the influence of the reference voltage characteristics on the analysis result can be suppressed with an inexpensive configuration.

本考案の一実施形態に係るガスクロマトグラフの構成例を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the structural example of the gas chromatograph which concerns on one Embodiment of this invention. ＴＣＤを備えたガスクロマトグラフの従来例を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the prior art example of the gas chromatograph provided with TCD. ＴＣＤを備えたガスクロマトグラフの他の例を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the other example of the gas chromatograph provided with TCD.

図１は、本考案の一実施形態に係るガスクロマトグラフの構成例を示すブロック図である。本実施形態に係るガスクロマトグラフには、ＴＣＤ（熱伝導度検出器）１、検出器基板２及び制御基板３が備えられている。検出器基板２には、増幅回路２１及び基準電圧印加部２２が備えられている。また、制御基板３には、ＣＰＵ３１、ＡＤＣ（Ａ／Ｄコンバータ）３２及び基準電圧印加部３３が備えられている。   FIG. 1 is a block diagram illustrating a configuration example of a gas chromatograph according to an embodiment of the present invention. The gas chromatograph according to the present embodiment includes a TCD (thermal conductivity detector) 1, a detector substrate 2, and a control substrate 3. The detector substrate 2 includes an amplifier circuit 21 and a reference voltage application unit 22. Further, the control board 3 includes a CPU 31, an ADC (A / D converter) 32, and a reference voltage application unit 33.

ＴＣＤ１では、例えばブリッジ回路を構成するフィラメントが収容されたセル内に、熱伝導度が低いヘリウムなどのキャリアガスが導入される。キャリアガスに試料が混合された場合には、試料の成分に応じて熱伝導度が変化し、加熱されたフィラメントから拡散される熱量が変化するため、フィラメントの電気抵抗が変化することとなる。したがって、フィラメントにおける電圧又は電流に基づいて熱伝導度を検出し、当該熱伝導度に基づいて試料の成分を分析することができる。   In TCD1, for example, a carrier gas such as helium having low thermal conductivity is introduced into a cell in which a filament constituting a bridge circuit is accommodated. When the sample is mixed with the carrier gas, the thermal conductivity changes according to the component of the sample, and the amount of heat diffused from the heated filament changes, so that the electrical resistance of the filament changes. Therefore, the thermal conductivity can be detected based on the voltage or current in the filament, and the components of the sample can be analyzed based on the thermal conductivity.

ＴＣＤ１からの検出信号は、当該ＴＣＤ１が接続された検出器基板２の増幅回路２１にアナログ信号として入力される。増幅回路２１には、基準電圧印加部２２により基準電圧が印加される。増幅回路２１は、基準電圧印加部２２から印加される安定した一定の基準電圧を基準として動作することにより、ＴＣＤ１からの検出信号を増幅させる。ＴＣＤ１からの検出信号は、検出器基板２の増幅回路２１を介してアナログ信号のまま制御基板３に入力される。   The detection signal from the TCD 1 is input as an analog signal to the amplifier circuit 21 of the detector substrate 2 to which the TCD 1 is connected. A reference voltage is applied to the amplifier circuit 21 by a reference voltage application unit 22. The amplification circuit 21 amplifies the detection signal from the TCD 1 by operating with the stable and constant reference voltage applied from the reference voltage application unit 22 as a reference. The detection signal from the TCD 1 is input to the control board 3 as an analog signal via the amplifier circuit 21 of the detector board 2.

増幅回路２１で増幅されたＴＣＤ１からの検出信号は、制御基板３のＡＤＣ３２に入力される。ＡＤＣ３２には、基準電圧印加部３３により基準電圧が印加される。ＡＤＣ３２は、基準電圧印加部３３から印加される安定した一定の基準電圧を基準として動作することにより、増幅回路２１からの検出信号をデジタル信号に変換する。デジタル信号に変換された検出信号は、制御基板３内でＣＰＵ３１に入力され、当該ＣＰＵ３１の処理によりガスクロマトグラムが得られる。   The detection signal from the TCD 1 amplified by the amplifier circuit 21 is input to the ADC 32 of the control board 3. A reference voltage is applied to the ADC 32 by a reference voltage application unit 33. The ADC 32 operates on the basis of a stable and constant reference voltage applied from the reference voltage application unit 33, thereby converting the detection signal from the amplifier circuit 21 into a digital signal. The detection signal converted into the digital signal is input to the CPU 31 in the control board 3, and a gas chromatogram is obtained by the processing of the CPU 31.

第１電圧印加部としての基準電圧印加部２２、及び、第２電圧印加部としての基準電圧印加部３３は、それぞれ別々の基準電圧回路により構成されている。基準電圧印加部２２は検出器基板２に設けられ、基準電圧印加部３３は制御基板３に設けられているため、周囲の温度環境の変化に基づいて基準電圧が変動する現象（いわゆるドリフト）や、基準電圧に生じるノイズなどの影響により、各基準電圧印加部２２，３３から印加される基準電圧は異なる特性を有することとなる。   The reference voltage application unit 22 as the first voltage application unit and the reference voltage application unit 33 as the second voltage application unit are configured by separate reference voltage circuits. Since the reference voltage application unit 22 is provided on the detector substrate 2 and the reference voltage application unit 33 is provided on the control substrate 3, a phenomenon in which the reference voltage fluctuates based on a change in ambient temperature environment (so-called drift) The reference voltages applied from the reference voltage application units 22 and 33 have different characteristics due to the influence of noise or the like generated in the reference voltage.

ＡＤＣ３２は、＋側（ポジティブ）の入力信号と、−側（ネガディブ）の入力信号との電位差を求めることにより、増幅回路２１からの検出信号をデジタル信号に変換する。本実施形態では、＋側の入力信号として、増幅回路２１からの検出信号がＡＤＣ３２に入力される。また、−側の入力信号として、基準電圧印加部２２により増幅回路２１に印加される基準電圧がＡＤＣ３２に入力される。これにより、ＡＤＣ３２は、増幅回路２１からの検出信号と、増幅回路２１に印加される基準電圧の電圧信号との差動信号に基づいて、増幅回路２１からの検出信号をデジタル信号に変換することができる。   The ADC 32 converts the detection signal from the amplifier circuit 21 into a digital signal by obtaining a potential difference between the positive (positive) input signal and the negative (negative) input signal. In the present embodiment, the detection signal from the amplifier circuit 21 is input to the ADC 32 as the + side input signal. A reference voltage applied to the amplifier circuit 21 by the reference voltage application unit 22 is input to the ADC 32 as a negative input signal. Thus, the ADC 32 converts the detection signal from the amplification circuit 21 into a digital signal based on a differential signal between the detection signal from the amplification circuit 21 and the voltage signal of the reference voltage applied to the amplification circuit 21. Can do.

ＡＤＣ３２には、複数（例えば４つ）の検出器基板２を接続することができるようになっている。すなわち、ＡＤＣ３２には、＋側及び−側からなる１組の入力端子が複数組備えられており、各組の入力端子に各検出器基板２からの信号を入力することができるようになっている。この場合、各検出器基板２には、例えばＦＩＤ（水素炎イオン化検出器）やＦＰＤ（炎光光度検出器）などのＴＣＤ１以外の検出器を接続することができる。   A plurality of (for example, four) detector boards 2 can be connected to the ADC 32. That is, the ADC 32 is provided with a plurality of sets of input terminals including the + side and the − side, and signals from each detector board 2 can be input to the input terminals of each set. Yes. In this case, each detector substrate 2 can be connected to a detector other than TCD 1 such as FID (hydrogen flame ionization detector) or FPD (flame photometric detector).

本実施形態では、ＡＤＣ３２が制御基板３に備えられているため、複数の検出器基板２を設けた場合であっても、各検出器基板２にＡＤＣを設ける必要がない。また、制御基板３に備えられたＡＤＣ３２は、増幅回路２１からの検出信号と、増幅回路２１に印加される基準電圧の電圧信号との差動信号に基づいて、増幅回路２１からの検出信号をデジタル信号に変換するため、増幅回路２１に印加される基準電圧の特性が検出信号に与える影響を打ち消す（キャンセルする）ことができる。したがって、基準電圧の特性が分析結果に与える影響を安価な構成で抑制することができる。   In the present embodiment, since the ADC 32 is provided on the control board 3, it is not necessary to provide an ADC on each detector board 2 even when a plurality of detector boards 2 are provided. The ADC 32 provided on the control board 3 outputs the detection signal from the amplification circuit 21 based on the differential signal between the detection signal from the amplification circuit 21 and the voltage signal of the reference voltage applied to the amplification circuit 21. Since it is converted into a digital signal, the influence of the characteristics of the reference voltage applied to the amplifier circuit 21 on the detection signal can be canceled (cancelled). Therefore, the influence of the reference voltage characteristic on the analysis result can be suppressed with an inexpensive configuration.

１ ＴＣＤ
２ 検出器基板
３ 制御基板
２１ 増幅回路
２２ 基準電圧印加部
３１ ＣＰＵ
３２ ＡＤＣ
３３ 基準電圧印加部
１０１ ＴＣＤ
１０２ 検出器基板
１０３ 制御基板
１２１ 増幅回路
１２２ ＡＤＣ
１２３ 基準電圧印加部
１３１ ＣＰＵ
１３２ ＡＤＣ
１３３ 基準電圧印加部 1 TCD
2 detector board 3 control board 21 amplifying circuit 22 reference voltage application unit 31 CPU
32 ADC
33 Reference voltage application unit 101 TCD
102 detector board 103 control board 121 amplifier circuit 122 ADC
123 Reference voltage application unit 131 CPU
132 ADC
133 Reference voltage application section

Claims (1)

熱伝導度検出器と、前記熱伝導度検出器が接続された検出器基板と、前記検出器基板を介して前記熱伝導度検出器からの検出信号が入力される制御基板とを備え、
前記検出器基板は、前記熱伝導度検出器からの検出信号を増幅する増幅回路と、前記増幅回路に基準電圧を印加する第１電圧印加部とを有し、
前記制御基板は、前記増幅回路からの検出信号をデジタル信号に変換するＡ／Ｄコンバータと、前記Ａ／Ｄコンバータに基準電圧を印加する第２電圧印加部とを有し、
前記Ａ／Ｄコンバータには、前記第１電圧印加部により前記増幅回路に印加される基準電圧が電圧信号として入力され、当該電圧信号と前記増幅回路からの検出信号との差動信号に基づいて、前記増幅回路からの検出信号がデジタル信号に変換されることを特徴とするガスクロマトグラフ。 A thermal conductivity detector, a detector board to which the thermal conductivity detector is connected, and a control board to which a detection signal from the thermal conductivity detector is input via the detector board;
The detector substrate has an amplification circuit that amplifies a detection signal from the thermal conductivity detector, and a first voltage application unit that applies a reference voltage to the amplification circuit,
The control board includes an A / D converter that converts a detection signal from the amplifier circuit into a digital signal, and a second voltage application unit that applies a reference voltage to the A / D converter,
A reference voltage applied to the amplifier circuit by the first voltage application unit is input to the A / D converter as a voltage signal, and based on a differential signal between the voltage signal and a detection signal from the amplifier circuit. A gas chromatograph, wherein a detection signal from the amplifier circuit is converted into a digital signal.
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