JP3187594B2 - Optical information recording / reproducing device - Google Patents

Optical information recording / reproducing device

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JP3187594B2
JP3187594B2 JP05307993A JP5307993A JP3187594B2 JP 3187594 B2 JP3187594 B2 JP 3187594B2 JP 05307993 A JP05307993 A JP 05307993A JP 5307993 A JP5307993 A JP 5307993A JP 3187594 B2 JP3187594 B2 JP 3187594B2
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】この発明は、光ディスクや光カー
ド等を用いる光学的情報記録再生装置で使用するのに好
適な半導体レーザ(レーザダイオード)等の光源の駆動
制御回路に係り、特に、記録条件のテスト時に、低出力
のライトパワーで記録したテストエリアにおいても、デ
ータのリードに必要な同期情報だけは、同期パターンが
完全に抽出できるような通常の発光パワーでライトする
ことによって、テストの信頼性を向上させた光情報記録
再生装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a drive control circuit for a light source such as a semiconductor laser (laser diode) suitable for use in an optical information recording / reproducing apparatus using an optical disk, an optical card or the like. During the test of the conditions, even in the test area recorded with low output write power, only the synchronization information necessary for data reading is written with normal emission power so that the synchronization pattern can be completely extracted. The present invention relates to an optical information recording / reproducing apparatus with improved reliability.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年、半導体レーザ等の光源から出射さ
れる光を使用して、光学的に情報の記録/再生を行う光
ディスク装置が実用化され、大容量の情報記録装置とし
て広く利用されている。この光ディスク装置は、装置内
部に設けられた半導体レーザ等の光源からの出射光を光
ディスク上に集光し、集光点の光学的特性を変化させる
ことによって情報の記録を行い、また、その光学的特性
の変化状態を検出することによって、情報の再生を実現
している。
2. Description of the Related Art In recent years, optical disk devices for optically recording / reproducing information by using light emitted from a light source such as a semiconductor laser have been put to practical use and widely used as large-capacity information recording devices. I have. This optical disk device records information by condensing outgoing light from a light source such as a semiconductor laser provided inside the device onto an optical disk, and changing the optical characteristics of a converging point. Reproduction of information is realized by detecting a change state of the dynamic characteristic.

【0003】ところで、この光ディスク装置において
は、ディスク毎に、あるいはディスクの記録位置によっ
て異なる記録感度のバラツキや、半導体レーザ等の光源
を構成する素子自体のビーム強度の変動、さらに、環境
温度による記録感度の変化などにより、記録条件が変動
する、という問題がある。そのため、記録ピットのピッ
ト長やC/N、あるいはジッタなどがバラつくので、再
生信号の信頼性を安定に確保できない、という不都合が
あった。
In this optical disk apparatus, recording sensitivity varies from disk to disk, or from recording position to disk, fluctuations in beam intensity of elements constituting a light source such as a semiconductor laser, and recording due to environmental temperature. There is a problem that recording conditions fluctuate due to a change in sensitivity or the like. As a result, the pit length, C / N, jitter, etc. of the recording pits vary, so that the reliability of the reproduced signal cannot be stably ensured.

【0004】このような記録条件の変動の影響を取り除
くために、例えば、最適ライトパワーをテストによって
求める方式が提案されている(特開平4−21251号
公報の「光ディスク記録再生装置」)。この方式では、
実際の情報の記録動作に先き立ち、レーザ光のビーム強
度(ライトパワー)を順次可変してテストパルスを記録
しておき、次に、記録された領域部分を再生して再生信
号のパルス幅(すなわち、ピット長)を検出し、最適な
ピット長となるライトパワーを求めるようにしている。
[0004] In order to remove the influence of such fluctuations in recording conditions, for example, a method has been proposed in which an optimum write power is obtained by a test ("Optical disk recording / reproducing apparatus" in Japanese Patent Application Laid-Open No. Hei 4-2151). In this scheme,
Prior to the actual information recording operation, the test pulse is recorded by sequentially varying the beam intensity (write power) of the laser light, and then the recorded area is reproduced to reproduce the pulse width of the reproduced signal. (That is, the pit length) is detected, and the write power that provides the optimum pit length is determined.

【0005】このように、実際の情報の記録に先き立っ
て、テストパルスの記録と、その再生とのテストを行え
ば、最適なライトパワーを求めることができるので、記
録条件の変動に伴う影響を回避することが可能である。
詳しい説明は省略するが、このように、実際の記録動作
に先き立って、ライトパワーを変えながら、最適な記録
条件(したがって、最適な再生条件となる)を求め、以
降は、このテストによって求められた条件に従って、最
適ライトパワーで情報の記録を行うテスト方法は、その
他にも種々の方法が提案されている。
[0005] As described above, if a test of recording a test pulse and a test of reproducing the test pulse are performed prior to actual recording of information, an optimum write power can be obtained. It is possible to avoid the effects.
Although the detailed description is omitted, prior to the actual recording operation, the optimum recording conditions (therefore, the optimum reproduction conditions) are obtained while changing the write power. Various other test methods have been proposed as a test method for recording information at an optimum write power in accordance with the obtained conditions.

【0006】すなわち、この最適な記録条件を求めるテ
スト方法は、それ自体すでに公知であり、記録条件の変
動を除去するために、近年、一般的に実施されている。
次に、このような記録条件テスト機能を備えた光ディス
ク装置について、図面で説明する。
That is, a test method for obtaining the optimum recording condition is already known per se, and is generally used in recent years in order to eliminate fluctuations in the recording condition.
Next, an optical disk device having such a recording condition test function will be described with reference to the drawings.

【0007】図5は、従来の記録条件テスト機能を備え
た光ディスク装置について、その要部構成の一例を示す
機能ブロック図である。図において、1は光学ヘッド、
LDはその半導体レーザ、1aは対物レンズ、1bはフ
ォトディテクタ、2は初段アンプ、3は2値化回路、4
は同期抽出回路、5はエラー訂正器、6はデータバッフ
ァ、7はセクタ検出器、8はライトタイミング制御回
路、9は半導体レーザドライブ回路(LDドライブ回
路)、10はD/Aコンバータ、11はCPU、12は
ディスクを示し、S1は受光出力検出信号、S2はアナ
ログ再生信号、S3はデジタル再生信号、S4はMOリ
ードデータ、S5は訂正済みリードデータ、S6はライ
トデータ、S7はRFリードデータ、S8はRF/MO
切換え信号、S9はID検出信号、S10はライトパル
ス、S11はライトパワーデータ、S12はライトゲー
ト信号、S13はライトパワー制御信号、S14はLD
ドライブ電流を示す。
FIG. 5 is a functional block diagram showing an example of the configuration of the main part of an optical disk device having a conventional recording condition test function. In the figure, 1 is an optical head,
LD is a semiconductor laser, 1a is an objective lens, 1b is a photodetector, 2 is a first stage amplifier, 3 is a binarization circuit,
Is a synchronous extraction circuit, 5 is an error corrector, 6 is a data buffer, 7 is a sector detector, 8 is a write timing control circuit, 9 is a semiconductor laser drive circuit (LD drive circuit), 10 is a D / A converter, 11 is CPU, 12 indicates a disk, S1 is a light-receiving output detection signal, S2 is an analog reproduction signal, S3 is a digital reproduction signal, S4 is MO read data, S5 is corrected read data, S6 is write data, and S7 is RF read data. , S8 is RF / MO
A switching signal, S9 is an ID detection signal, S10 is a write pulse, S11 is write power data, S12 is a write gate signal, S13 is a write power control signal, and S14 is LD
Indicates drive current.

【0008】最初に、従来の光ディスク装置の構成と、
基本的な動作を説明し、その後に、最適記録条件を求め
るためのテスト動作について述べる。この図5の光ディ
スク装置において、光学ヘッド1内に設けられた半導体
レーザLD(レーザダイオード)からの出射光は、ディ
スク12上に集光され、その反射光が、フォトディテク
タ1bによって検出される。
First, a configuration of a conventional optical disk device,
A basic operation will be described, and then a test operation for obtaining an optimum recording condition will be described. In the optical disk device of FIG. 5, light emitted from a semiconductor laser LD (laser diode) provided in the optical head 1 is condensed on the disk 12, and the reflected light is detected by the photo detector 1b.

【0009】そのため、フォトディテクタ1bからは、
反射光に比例した検出信号が、受光出力検出信号S1と
して出力される。この受光出力検出信号S1は、初段ア
ンプ2によって増幅されて、アナログ再生信号S2とな
り、次の2値化回路3へ入力され、再生方式が選択され
る。
Therefore, from the photodetector 1b,
A detection signal proportional to the reflected light is output as a light reception output detection signal S1. This light reception output detection signal S1 is amplified by the first-stage amplifier 2 to become an analog reproduction signal S2, which is input to the next binarization circuit 3 to select a reproduction method.

【0010】すなわち、この2値化回路3は、プリフォ
ーマットされた領域のRF信号を再生するか、あるいは
データ領域のMO信号を再生するか、を択一的に指示す
るRF/MO切換え信号S8により、再生方式が選択さ
れて、2値化されたデジタル再生信号S3が、同期抽出
回路4へ出力される。この同期抽出回路4では、入力さ
れたデジタル再生信号S3を同期化して、そのRFリー
ドデータS7をセクタ検出器7へ、また、MOリードデ
ータS4をエラー訂正器5へ、それぞれ出力する。
That is, the binarizing circuit 3 selectively outputs the RF signal in the pre-formatted area or the MO signal in the data area. Thus, the reproduction method is selected, and the binarized digital reproduction signal S3 is output to the synchronization extraction circuit 4. The synchronization extraction circuit 4 synchronizes the input digital reproduction signal S3, and outputs the RF read data S7 to the sector detector 7 and the MO read data S4 to the error corrector 5, respectively.

【0011】セクタ検出器7は、このRFリードデータ
S7に基いて、レーザの集光点がセクタのどの位置を走
査しているかを検知する機能を有しており、リアルタイ
ムなタイミング検出信号として、RF/MO切換え信号
S8と、ID検出信号S9とを出力する。他方、エラー
訂正器5によって、エラーを訂正された訂正済みリード
データS5が、データバッファ6へ送出される。
The sector detector 7 has a function of detecting at which position in the sector the laser focus point is scanning based on the RF read data S7. An RF / MO switching signal S8 and an ID detection signal S9 are output. On the other hand, the corrected read data S5 whose error has been corrected by the error corrector 5 is sent to the data buffer 6.

【0012】このデータバッファ6は、図示されない外
部インターフェースを介して、装置外部との間で、記録
/再生データの授受を行う。さて、データライト時にお
いては、ライトデータS6が、データバッファ6からラ
イトタイミング制御回路8へ送られる。
The data buffer 6 exchanges recording / reproduction data with the outside of the apparatus via an external interface (not shown). By the way, at the time of data writing, the write data S6 is sent from the data buffer 6 to the write timing control circuit 8.

【0013】このライトタイミング制御回路8では、与
えられたライトデータS6を、先のID検出信号S9の
タイミングに従って処理し、ライトパルスS10を生成
して半導体レーザドライブ回路9へ出力する。この場合
に、データをライトするときの発光パワー、すなわち、
光学ヘッド1内の半導体レーザLDのライトパワーは、
CPU11によって設定することができる。
The write timing control circuit 8 processes the applied write data S6 in accordance with the timing of the ID detection signal S9, generates a write pulse S10, and outputs it to the semiconductor laser drive circuit 9. In this case, the light emission power for writing data, that is,
The write power of the semiconductor laser LD in the optical head 1 is:
It can be set by the CPU 11.

【0014】具体的にいえば、CPU11からD/Aコ
ンバータ10に与えられるライトパワーデータS11に
より、D/Aコンバータ10からライトパワーデータS
11に比例したライトパワー制御信号S13が生成され
て、半導体レーザドライブ回路9へ出力される。同時
に、ライトタイミング制御回路8からのライトパルスS
10が、CPU11からのライトゲート信号S12によ
って論理積処理されて、半導体レーザドライブ回路9へ
与えられる。
More specifically, the write power data S11 supplied from the CPU 11 to the D / A converter 10 causes the write power data S
A write power control signal S13 proportional to 11 is generated and output to the semiconductor laser drive circuit 9. At the same time, the write pulse S from the write timing control circuit 8
10 is subjected to logical product processing by the write gate signal S12 from the CPU 11 and supplied to the semiconductor laser drive circuit 9.

【0015】したがって、この半導体レーザドライブ回
路9からは、先のライトゲート信号S12により論理積
をとったパルス状のLDドライブ電流S14が出力され
て、光学ヘッド1内の半導体レーザLDが駆動される。
以上が従来の光ディスク装置の構成と、基本的な動作で
ある。
Therefore, the semiconductor laser drive circuit 9 outputs a pulsed LD drive current S14 obtained by AND operation according to the write gate signal S12 to drive the semiconductor laser LD in the optical head 1. .
The above is the configuration of the conventional optical disk device and the basic operation.

【0016】この光ディスク装置では、最適なライトパ
ワーを求めるために、先に述べたようなテストに際し
て、CPU11が、ライトパワーデータS11を変化さ
せてライト動作を行い、再生状態をチェックして実行し
ている。ここで、図5に示した従来の半導体レーザドラ
イブ回路9について、その詳細な構成を説明する。
In this optical disk device, in order to obtain the optimum write power, the CPU 11 performs the write operation by changing the write power data S11 during the test as described above, and checks and executes the reproduction state. ing. Here, a detailed configuration of the conventional semiconductor laser drive circuit 9 shown in FIG. 5 will be described.

【0017】図6は、従来の半導体レーザドライブ回路
9について、その詳細な回路構成の一例を示すブロック
図である。図において、LDは半導体レーザ、TR1と
TR2はトランジスタ、U11はアンドゲート回路、U
21はインバータ、WPSはライトパワー定電流源、R
PSはリードパワー定電流源、R1は抵抗器を示し、i
Wはライト電流、iRはリード電流を示す。なお、入力
される信号は、図5と同様で、S10はライトパルス、
S12はライトゲート信号、S13はライトパワー制御
信号を示す。
FIG. 6 is a block diagram showing an example of a detailed circuit configuration of the conventional semiconductor laser drive circuit 9. As shown in FIG. In the figure, LD is a semiconductor laser, TR1 and TR2 are transistors, U11 is an AND gate circuit,
21 is an inverter, WPS is a write power constant current source, R
PS is a read power constant current source, R1 is a resistor, i
W indicates a write current, and iR indicates a read current. The input signal is the same as in FIG. 5, S10 is a write pulse,
S12 indicates a write gate signal, and S13 indicates a write power control signal.

【0018】この図6に示すドライブ回路9において、
ライトパルスS10とライトゲート信号S12は、アン
ドゲート回路U11へ入力されて論理積処理され、その
結果が“1”のとき、トランジスタTR1が駆動され
る。また、先の図5のD/Aコンバータ10を介して、
ライトパワー制御信号S13(CPU11が設定したラ
イトパワー制御電圧)が供給され、ライトパワー定電流
源WPSからライト電流iWが出力される。
In the drive circuit 9 shown in FIG.
The write pulse S10 and the write gate signal S12 are input to the AND gate circuit U11 and subjected to logical product processing. When the result is "1", the transistor TR1 is driven. Also, via the D / A converter 10 of FIG.
The write power control signal S13 (write power control voltage set by the CPU 11) is supplied, and the write power iW is output from the write power constant current source WPS.

【0019】このライト電流iWが、トランジスタTR
1を通して、半導体レーザLDへ供給される。この半導
体レーザLDには、常時、リードパワー定電流源RPS
からのリード電流iRが供給されているので、ライト動
作時には、これらの両電流が加算されて、電流(iW+
iR)で駆動されることになる。
The write current iW is applied to the transistor TR
1 to the semiconductor laser LD. This semiconductor laser LD always has a read power constant current source RPS.
Since the read current iR is supplied from the memory cell, during a write operation, these two currents are added and the current (iW +
iR).

【0020】他方、アンドゲート回路U11による論理
積の結果が“0”のときは、トランジスタTR2が駆動
され、ライト電流iWはダミー抵抗器R1へ流れるの
で、半導体レーザLDには、リード電流iRだけが流れ
る。従来のライトパワーテスト機能を備えた光ディスク
装置、および半導体レーザドライブ回路におけるライト
パワーとリードパワーの制御動作は、以上のとおりであ
る。
On the other hand, when the result of the logical product by the AND gate circuit U11 is "0", the transistor TR2 is driven and the write current iW flows to the dummy resistor R1, so that only the read current iR is supplied to the semiconductor laser LD. Flows. The control operations of the write power and the read power in the conventional optical disk device having the write power test function and the semiconductor laser drive circuit are as described above.

【0021】ところが、従来の光ディスク装置では、最
適なライトパワーを求めるために、先に述べた記録条件
のテストを実行する場合、以下のような問題があった。
このようなテストに際しては、半導体レーザLDのライ
トパワーを変化させながら、テスト用のデータを記録す
る。
However, the conventional optical disk device has the following problems when the above-described test of the recording conditions is executed in order to obtain the optimum write power.
In such a test, test data is recorded while changing the write power of the semiconductor laser LD.

【0022】そして、再生時に、このライトデータ部を
リードするが、データ部には、再生信号の同期情報を得
るための各種同期パターンが挿入されている。すなわ
ち、光磁気ディスク等の光情報記録媒体については、そ
のセクタフォーマットが、ISO標準や日本工業規格等
で定められている。
Then, at the time of reproduction, the write data portion is read. In the data portion, various synchronization patterns for obtaining synchronization information of a reproduction signal are inserted. That is, the sector format of an optical information recording medium such as a magneto-optical disk is determined by the ISO standard, the Japanese Industrial Standard, and the like.

【0023】例えば、“ID”はアドレス、“GAP”
はデータがないギャップ、“VFO3”はPLLロック
用の連続データパターン、“SB”(SYNC BYT
E)はデータ部の同期信号、“DATA”はユーザデー
タ領域、“RS”(RESYNC)は同期用の特殊コー
ド、等が定められている。このように、各セクタには、
“DATA”や“ECC”の他に、“VFO3”パター
ンや、“SB”パターン、“RS”パターン等が挿入さ
れている(後出の図3、参照)。
For example, “ID” is an address, “GAP”
Is a gap with no data, “VFO3” is a continuous data pattern for PLL lock, and “SB” (SYNC BYT
E) defines a synchronization signal of a data portion, “DATA” defines a user data area, “RS” (RESYNC) defines a special code for synchronization, and the like. Thus, in each sector:
In addition to “DATA” and “ECC”, a “VFO3” pattern, an “SB” pattern, an “RS” pattern, and the like are inserted (see FIG. 3 described later).

【0024】そして、データリード時には、これらの
“VFO3”,“SB”,“RS”の各同期パターンか
らの同期情報を抽出することによって、リードデータの
同期化を実現している。この場合に、もし、これらの同
期情報が欠落してしまうと、同期情報が得られないの
で、データリードを実行することは、実事上不可能にな
る。
At the time of data reading, synchronization of read data is realized by extracting synchronization information from each of the synchronization patterns of "VFO3", "SB", and "RS". In this case, if the synchronization information is lost, the synchronization information cannot be obtained, so that it is practically impossible to execute the data read.

【0025】例えば、先の最適記録条件のテストに際し
て、ライトパワーを低出力にして記録したテストエリア
においては、“VFO3”,“SB”,“RS”の同期
パターンも、必然的に低出力で記録される。その結果、
このテストエリアでは、同期パターンの抽出が不完全と
なり、満足なデータリードが行えない。
For example, in the test area in which the write power was set to a low output in the test of the optimum recording condition, the synchronization pattern of "VFO3", "SB", and "RS" necessarily has a low output. Be recorded. as a result,
In this test area, the extraction of the synchronization pattern is incomplete and satisfactory data reading cannot be performed.

【0026】以上のように、このようなテストエリアに
おけるデータのライトと、そのリードによる記録条件の
テストでは、低出力のライトパワーで記録されたデータ
の場合、同期パターンの抽出に問題がある。したがっ
て、従来の記録条件のテストでは、その結果に対する信
頼性に疑問が生じ、テストそれ自体の意味が失なわれか
ねない、という不都合があった。
As described above, in the writing of data in such a test area and the test of the recording condition by reading the data, in the case of data recorded with a low output write power, there is a problem in extracting a synchronization pattern. Therefore, in the conventional test under the recording condition, there is a problem that the reliability of the result is questioned, and the meaning of the test itself may be lost.

【0027】[0027]

【発明が解決しようとする課題】この発明では、従来の
光学的情報記録再生装置で、最適記録条件のテスト時に
生じるこのような不都合を解決し、低出力のライトパワ
ーで記録されたデータのテストエリアにおいても、デー
タのリードに必要な同期情報だけは、通常のライトパワ
ーで記録できるようにして、同期パターンの完全な抽出
を可能にすることにより、テスト結果の信頼性を向上さ
せることを目的とする。
According to the present invention, a conventional optical information recording / reproducing apparatus solves such inconveniences that occur when testing optimum recording conditions, and tests data recorded with low output write power. Even in the area, the purpose is to improve the reliability of test results by enabling complete synchronization pattern extraction by enabling recording of only the synchronization information necessary for data reading with normal write power. And

【0028】[0028]

【課題を解決するための手段】この発明では、第1に、
半導体レーザ等の光源のライトパワーを変化させながら
データをライトし、そのデータをリードして再生状態を
測定する記録条件のテスト機能を有する光情報記録再生
装置において、データライト時に各セクタのデータ部に
おける同期パターン部と、同期パターン以外の部分と
で、ライトパワーを切り換える手段を備え、記録条件の
テストの実行に際して、データライト時に、各セクタの
データ部における同期パターン部ではセクタによらず所
定レベルのライトパワーでデータをライトし、同期パタ
ーン以外の部分ではライトパワーを可変しながらデータ
をライトするように構成している。
According to the present invention, firstly,
In an optical information recording / reproducing apparatus having a recording condition test function of writing data while changing the write power of a light source such as a semiconductor laser and reading the data and measuring a reproduction state, a data portion of each sector is written at the time of data writing. Means for switching the write power between the synchronization pattern portion and the portion other than the synchronization pattern. In performing the test of the recording condition, at the time of data writing, the synchronization pattern portion in the data portion of each sector does not depend on the sector.
Data is written at a constant level of write power, and data is written while changing the write power in portions other than the synchronization pattern.

【0029】第2に、半導体レーザ等の光源のライトパ
ワーを変化させながらデータをライトし、そのデータを
リードして、再生状態を測定するテスト機能を有する光
情報記録再生装置において、セクタのデータ部における
同期パターン部において、通常ライトパワー指示信号を
出力するライトタイミング制御回路と、半導体レーザ等
の光源へすべてのセクタで所定レベルのライト電流を供
給する第一のライト電流供給手段と、半導体レーザ等の
光源へ可変するライト電流を供給する第二のライト電流
供給手段と、前記通常ライトパワー指示信号を出力する
場合には前記第一のライト電流供給手段を使用し、出力
しない場合には前記第二のライト電流供給手段を使用す
る切換手段、とを備えた構成である。
Second, in an optical information recording / reproducing apparatus having a test function of writing data while changing the write power of a light source such as a semiconductor laser, reading the data, and measuring a reproduction state, data of a sector is read. A write timing control circuit for outputting a normal write power instruction signal, a first write current supply means for supplying a predetermined level of write current to a light source such as a semiconductor laser in every sector, and a semiconductor laser. Etc.
A second light current that supplies a variable light current to the light source
Supply means, and outputs the normal write power signal
In the case where the first write current supply means is used,
If not, use the second write current supply means.
And a switching means.

【0030】[0030]

【0031】[0031]

【作用】この発明では、テストの信頼性を確保するため
に、ライトパワーを低出力の状態にして記録したテスト
エリアにおいても、データリードに必要な同期情報だけ
は、通常のレーザ発光量でライトできるように制御する
ことによって、同期パターンの完全な抽出を可能にして
いる。すなわち、従来の装置では、ライト動作時には、
リード電流iRとライト電流iWとの両電流が加算され
て供給され、リード動作時には、半導体レーザLDへリ
ード電流iRのみが供給されるが、ライト電流iWが低
出力の場合には、全てのテストデータが低出力で記録さ
れる結果、リード時に検出される同期情報も小さくな
る。
According to the present invention, in order to ensure the reliability of the test, even in the test area where the write power is set to the low output state, only the synchronization information necessary for data reading is written with the normal laser emission amount. By performing control as possible, it is possible to completely extract the synchronization pattern. That is, in the conventional device, at the time of the write operation,
The read current iR and the write current iW are both added and supplied. During the read operation, only the read current iR is supplied to the semiconductor laser LD. However, when the write current iW has a low output, all the tests are performed. As a result of recording data at a low output, the synchronization information detected at the time of reading is also reduced.

【0032】この発明では、ライト電流iWのレベルと
直接関係なく、データリードに必要な同期情報だけは、
所定レベルのライト電流で記録できるように、テスト時
に各セクタのデータ部における同期パターン部を検出
し、そのタイミングで、通常のライト電流が出力される
ように制御する。
According to the present invention, regardless of the level of the write current iW, only the synchronization information necessary for data reading is
As can be recorded at a predetermined level of write current, it detects the synchronization pattern portion in the data portion of each sector during the test, at that timing, that control as the normal write current is output.

【0033】[0033]

【実施例1】次に、この発明の光情報記録再生装置につ
いて、図面を参照しながら、その実施例を詳細に説明す
Embodiment 1 Next, an optical information recording / reproducing apparatus according to the present invention will be described in detail with reference to the drawings .

【0034】図1は、この発明の光情報記録再生装置に
ついて、その要部構成の一実施例を示す機能ブロック図
である。図における符号は図5と同様であり、また、S
15は通常ライトパワー指示信号を示す。
FIG. 1 is a functional block diagram showing an embodiment of a main part of the optical information recording / reproducing apparatus of the present invention. The reference numerals in the figure are the same as those in FIG.
Reference numeral 15 denotes a normal write power instruction signal.

【0035】この図1では、この発明の特徴点が理解し
易いように、先の図5について、変更された部分のみを
示している。この図1に示すように、ライトタイミング
制御回路8において、先の図5のライトパルスS10と
共に、通常ライトパワー指示信号S15を新たに発生さ
せ、半導体レーザドライブ回路9へ出力させるように構
成している。
FIG. 1 shows only the changed parts of FIG. 5 so that the features of the present invention can be easily understood. As shown in FIG. 1, the write timing control circuit 8 is configured to newly generate a normal write power instruction signal S15 together with the write pulse S10 of FIG. 5 and output it to the semiconductor laser drive circuit 9. I have.

【0036】この場合に、ライトタイミング制御回路8
においては、セクタ検出器7からのID検出信号S9、
すなわち、半導体レーザLDの集光点が、セクタのどこ
を走査しているかを示すリアルタイミング情報が入力さ
れているので、このID検出信号S9に基いて、セクタ
の現在位置を検知することができる。このライトタイミ
ング制御回路8は、基本的には、従来例として説明した
先の図5と同じ機能を有している。
In this case, the write timing control circuit 8
, The ID detection signal S9 from the sector detector 7,
That is, since the real timing information indicating where the focusing point of the semiconductor laser LD is scanning in the sector is input, the current position of the sector can be detected based on the ID detection signal S9. . This write timing control circuit 8 basically has the same function as that of FIG. 5 described above as a conventional example.

【0037】この発明では、このライトタイミング制御
回路8に、セクタ検出器7からのID検出信号S9と同
期して、通常ライトパワー指示信号S15を生成する機
能を付加している。すなわち、ライトタイミング制御回
路8内の制御動作により、データ部のセクタについて、
“VFO3”,“SB”,“RS”の同期パターンが記
録される位置のタイミングにおいてのみ、通常ライトパ
ワー指示信号S15を出力する。
In the present invention, a function of generating a normal write power instruction signal S15 in synchronization with the ID detection signal S9 from the sector detector 7 is added to the write timing control circuit 8. That is, by the control operation in the write timing control circuit 8, the sector of the data portion is
The normal write power instruction signal S15 is output only at the timing of the position where the synchronization pattern of “VFO3”, “SB”, “RS” is recorded.

【0038】以上のように、この発明の光情報記録再生
装置では、通常ライトパワー指示信号S15を使用し
て、半導体レーザLDのライトパワーを制御し、同期パ
ターン部のデータをライトする場合には、従来のライト
電流(iR+iW)の代りに、データリードに必要な同
期情報だけは、所定レベルのライト電流(iR+iN)
で記録する点に特徴を有している。その他の構成と動作
は、基本的には、従来例として示した先の図5と同様て
ある。
As described above, in the optical information recording / reproducing apparatus of the present invention, when the write power of the semiconductor laser LD is controlled using the normal write power instruction signal S15 to write the data of the synchronous pattern portion, Instead of the conventional write current (iR + iW), only the synchronization information necessary for data reading is a predetermined level of write current (iR + iN).
It is characterized in that it is recorded with. Other configurations and operations are basically the same as those in FIG. 5 shown as a conventional example.

【0039】先の図1では、この発明の光情報記録再生
装置について、要点を説明した。次に、具体的な半導体
レーザドライブ回路の構成について述べる。ここでは、
従来例を示した図6と対応させて説明する。
In FIG. 1, the main points of the optical information recording / reproducing apparatus of the present invention have been described. Next, a specific configuration of the semiconductor laser drive circuit will be described. here,
This will be described in association with FIG. 6 showing a conventional example.

【0040】図2は、この発明の光情報記録再生装置に
おける半導体レーザドライブ回路について、その詳細な
回路構成の一実施例を示すブロック図である。図におけ
る符号は図6および図1と同様であり、また、TR3と
TR4はトランジスタ、U12とU13はアンドゲート
回路、U22とU23はインバータ、NWPSは通常ラ
イトパワー定電流源、R2は抵抗器、iNは通常ライト
電流を示す。
FIG. 2 is a block diagram showing one embodiment of a detailed circuit configuration of the semiconductor laser drive circuit in the optical information recording / reproducing apparatus of the present invention. 6 and FIG. 1, TR3 and TR4 are transistors, U12 and U13 are AND gate circuits, U22 and U23 are inverters, NWPS is a normal write power constant current source, R2 is a resistor, iN usually indicates a write current.

【0041】この図2の半導体レーザドライブ回路と、
先の図6に示した従来のドライブ回路とを比較すれば明
らかなように、この図2に示す回路では、通常ライトパ
ワー定電流源NWPSが設けられており、通常ライト電
流iNが供給される点が、明確に相違している。この図
2の回路では、最適ライトパワーを求めるテスト時にお
けるライト動作で、ライトタイミング制御回路8から通
常ライトパワー指示信号S15が与えられたとき、リー
ド電流iRと共に、通常ライト電流iNが出力されて、
半導体レーザLDへ両電流が加算されて供給される。
The semiconductor laser drive circuit shown in FIG.
As is clear from comparison with the conventional drive circuit shown in FIG. 6, the circuit shown in FIG. 2 is provided with a normal write power constant current source NWPS, and is supplied with a normal write current iN. The points are clearly different. In the circuit shown in FIG. 2, when the normal write power instruction signal S15 is given from the write timing control circuit 8 in the write operation at the time of the test for obtaining the optimum write power, the normal write current iN is output together with the read current iR. ,
Both currents are added and supplied to the semiconductor laser LD.

【0042】図3は、図1と図2に示した半導体レーザ
ドライブ回路について、データライト時の動作を説明す
るためのタイムチャートである。各波形に付けられた符
号は図1と図2の符号位置に対応しており、セクタフオ
ーマットは日本工業規格の一例である。
FIG. 3 is a time chart for explaining the data write operation of the semiconductor laser drive circuit shown in FIGS. The symbols attached to each waveform correspond to the code positions in FIGS. 1 and 2, and the sector format is an example of Japanese Industrial Standard.

【0043】この図3のタイムチャートでは、2セクタ
のデータをライトする場合を示している。このライト動
作時には、ライトゲート信号S12は“H”で出力され
ており、図5のセクタ検出器7によってID検出信号S
9が“H”で出力されると、先の図1に示したライトタ
イミング制御回路8から、通常ライトパワー指示信号S
15が生成されて、“H”になる。
The time chart of FIG. 3 shows a case where data of two sectors is written. During this write operation, the write gate signal S12 is output at "H", and the ID detection signal S12 is output by the sector detector 7 in FIG.
9 is output at "H", the write timing control circuit 8 shown in FIG.
15 is generated and becomes “H”.

【0044】このライトタイミング制御回路8からは、
従来と同様のライトパルスS10が出力される。したが
って、図2の半導体レーザドライブ回路には、ライトパ
ルスS10と、通常ライトパワー指示信号S15とが、
ライトタイミング制御回路8から入力され、また、CP
U11からD/Aコンバータ10を介して、ライトパワ
ー制御信号S13が、さらに、CPU11からライトゲ
ート信号S12が入力される。
From the write timing control circuit 8,
The same write pulse S10 as that of the related art is output. Therefore, the write pulse S10 and the normal write power instruction signal S15 are applied to the semiconductor laser drive circuit of FIG.
Input from the write timing control circuit 8 and
A write power control signal S13 is input from U11 via the D / A converter 10, and a write gate signal S12 is input from the CPU 11.

【0045】この図2において、ライトパワー制御信号
S13は、図5で説明したように、CPU11からD/
Aコンバータ10を介して設定され、ライトパワー定電
流源WPSからのライト電流iWを制御する。一方、新
たに設けられた通常ライトパワー指示信号S15は、デ
ータライトを実行する各セクタにおいて、データ部の
“VFO3”,“SB”,“RS”の同期パターン部の
みで出力される信号である。
In FIG. 2, the write power control signal S13 is supplied from the CPU 11 to D / D as described with reference to FIG.
It is set via the A converter 10 and controls the write current iW from the write power constant current source WPS. On the other hand, the newly provided normal write power instruction signal S15 is a signal that is output only in the synchronous pattern portion of “VFO3”, “SB”, and “RS” of the data portion in each sector where data write is performed. .

【0046】また、ライトゲート信号S12は、同じく
図5のCPU11から出力される信号であるが、このラ
イトゲート信号S12は、データライト動作を大まかに
指示する信号であって、半導体レーザLDを発光させる
ためのパルス信号を、ライトタイミング制御回路8から
出力させるように制御する。この図2において、リード
パワー定電流源RPSからのリード電流iRは、常時半
導体レーザLDに供給されている。
The write gate signal S12 is also a signal output from the CPU 11 shown in FIG. 5. The write gate signal S12 is a signal for roughly instructing a data write operation, and emits light from the semiconductor laser LD. The write timing control circuit 8 controls a pulse signal to be output from the write timing control circuit 8. In FIG. 2, the read current iR from the read power constant current source RPS is always supplied to the semiconductor laser LD.

【0047】そして、テスト時には、CPU11からの
指示によって可変制御され、ライト動作を行うためのラ
イト電流iWが、ライトパワー定電流源WPSから供給
される。この場合に、図2では、アンドゲート回路U1
1〜U13と、インバータU21〜U23から構成され
た論理回路によって、次のような動作が行われる。
At the time of a test, the write current iW for performing a write operation is variably controlled by an instruction from the CPU 11, and is supplied from the write power constant current source WPS. In this case, in FIG. 2, the AND gate circuit U1
The following operation is performed by the logic circuit composed of 1 to U13 and inverters U21 to U23.

【0048】まず、通常ライトパワー指示信号S15が
出力されていないとき、すなわち、半導体レーザLDか
らの出射光が、データ部のユーザエリアやECCエリア
部等の位置にあって、かつ、ライトパルスS10が出力
されているときは、従来と同様に、半導体レーザLDに
は、トランジスタTR1を介してライト電流iWが供給
される。したがって、この状態では、半導体レーザLD
に、リード電流iRとライト電流iWとが流れ、「iR
+iW」の電流で駆動されて発光する。
First, when the normal write power instruction signal S15 is not output, that is, when the emitted light from the semiconductor laser LD is in a position such as the user area or the ECC area of the data section and the write pulse S10 Is output, the write current iW is supplied to the semiconductor laser LD via the transistor TR1 as in the conventional case. Therefore, in this state, the semiconductor laser LD
, A read current iR and a write current iW flow, and “iR
+ IW ”to emit light when driven.

【0049】また、ライトパルスS10が出力されてい
ないときは、ライト電流iWは、トランジスタTR2か
らダミー抵抗器R1へ流れるので、半導体レーザLDに
は、リード電流iRだけが流れる。これに対して、通常
ライトパワー指示信号S15が出力されると、次のよう
な動作が行われる。
When the write pulse S10 is not output, the write current iW flows from the transistor TR2 to the dummy resistor R1, so that only the read current iR flows through the semiconductor laser LD. On the other hand, when the normal write power instruction signal S15 is output, the following operation is performed.

【0050】まず、ライトパルスS10が出力されてい
るときは、通常ライトパワー定電流源NWPSから供給
される通常ライト電流iNが、トランジスタTR3から
半導体レーザLDへ流れるので、半導体レーザLDに、
リード電流iRと通常ライト電流iNとが流れ、「iR
+iN」の電流で駆動されて発光する。他方、ライトパ
ルスS10が出力されていないときは、この通常ライト
電流iNは、トランジスタTR4からダミー抵抗器R2
へ流れるので、半導体レーザLDには、リード電流iR
だけが流れる。
First, when the write pulse S10 is output, the normal write current iN supplied from the normal write power constant current source NWPS flows from the transistor TR3 to the semiconductor laser LD.
A read current iR and a normal write current iN flow, and “iR
+ IN ”to emit light. On the other hand, when the write pulse S10 is not output, the normal write current iN is supplied from the transistor TR4 to the dummy resistor R2.
Flows through the semiconductor laser LD, the read current iR
Only flows.

【0051】以上のように、最適記録条件のテストにお
けるデータライト時に、データ部の各セクタにおいて、
同期パターン部では、通常ライトパワー指示信号S15
により、半導体レーザLDへ、リード電流iRと通常ラ
イト電流iNとが流れ、その他のデータ部のユーザデー
タエリアDATAやECCエリア部では、リード電流i
Rとライト電流iWとが流れるので、データのリード時
に、必要な同期パターンを確実に検出することができ
る。したがって、最適記録条件のテストの信頼性を向上
させることができる。
As described above, at the time of data writing in the test under the optimum recording condition, in each sector of the data portion,
In the synchronization pattern portion, the normal write power instruction signal S15
As a result, the read current iR and the normal write current iN flow to the semiconductor laser LD, and the read current i in the user data area DATA and the ECC area in other data sections.
Since R and the write current iW flow, a necessary synchronization pattern can be reliably detected at the time of reading data. Therefore, the reliability of the test under the optimum recording condition can be improved.

【0052】[0052]

【実施例2】次に、この発明について、第2の実施例を
説明する
Embodiment 2 Next, a second embodiment of the present invention will be described .

【0053】先の第1の実施例では、図2で説明したよ
うに、テストライト時に、2種類のライト電流iWとi
Nとを切り換えて、データライトを行ったが、ライトゲ
ート信号S12が出力されていないときは、トランジス
タTR1〜TR4へ電流を供給する必要はない。そこ
で、この第2の実施例では、このような無駄をなくし
て、消費電力を節減する点に特徴を有している。
In the first embodiment, as described with reference to FIG. 2, two types of write currents iW and i
When the data write is performed by switching between N and N, but when the write gate signal S12 is not output, it is not necessary to supply a current to the transistors TR1 to TR4. Thus, the second embodiment is characterized in that such waste is eliminated and power consumption is reduced.

【0054】図4は、この発明の光情報記録再生装置に
おける半導体レーザドライブ回路について、その詳細な
回路構成の第2の実施例を示すブロック図である。図に
おける符号は図2と同様であり、また、U14〜U17
はアンドゲート回路、U24とU25はインバータを示
す。
FIG. 4 is a block diagram showing a second embodiment of the detailed circuit configuration of the semiconductor laser drive circuit in the optical information recording / reproducing apparatus of the present invention. The reference numerals in the figure are the same as those in FIG.
Represents an AND gate circuit, and U24 and U25 represent inverters.

【0055】この図4に示す第2の実施例でも、各信号
の動作タイミングは、先の図3と同様であるから、詳細
な説明は省略する。図4の回路では、全てのトランジス
タTR1〜TR4が、ライトゲート信号S12によって
ゲートされているので、ダミー抵抗器R1,R2へ駆動
電流(ライト電流iWや通常ライト電流iN)が流れ込
むのは、ライトゲート信号S12が出力されているとき
だけである。
In the second embodiment shown in FIG. 4, the operation timing of each signal is the same as that in FIG. 3, so that detailed description is omitted. In the circuit of FIG. 4, since all the transistors TR1 to TR4 are gated by the write gate signal S12, the drive current (the write current iW or the normal write current iN) flows into the dummy resistors R1 and R2 only in the write operation. Only when the gate signal S12 is being output.

【0056】そして、ライトゲート信号S12が出力さ
れていないとき、すなわち、データライトを行わないと
きには、半導体レーザLDと、ダミー抵抗器R1,R2
のどちらにも電流は供給されない。したがって、非ライ
ト状態において、無駄な電流が生じることが防止され、
第1の実施例と同様の効果に加えて、消費電流の節約が
可能になる、という固有の効果が得られる。
When the write gate signal S12 is not output, that is, when the data write is not performed, the semiconductor laser LD and the dummy resistors R1 and R2
No current is supplied to either of them. Therefore, in the non-write state, unnecessary current is prevented from being generated, and
In addition to the same effects as in the first embodiment, an inherent effect that power consumption can be saved is obtained.

【0057】以上のように、この発明の光情報記録再生
装置では、最適なライトパワーを検知するために、ライ
トパワーを変化させながら、データのライト動作を行
い、そのデータをリードして再生状態をチェックする記
録条件のテストに際して、低出力のライトパワーでライ
トしたテストエリアにおいても、同期パターン部の“V
FO3”,“SB”,“RS”等の同期パターンのみ
は、通常のライトパワーでライトされるようにしてい
る。したがって、このテストエリアのリード時には、同
期パターンの安定な検出が可能になり、同期状態を保持
しながらデータのリードを行うことができる。
As described above, in the optical information recording / reproducing apparatus according to the present invention, in order to detect the optimum write power, the data write operation is performed while changing the write power, and the data is read to reproduce the data. In the test of the recording condition for checking the “V”, even in the test area written with the low output write power, “V
Only the sync pattern such as FO3 "," SB "," RS ", etc. is written with normal write power, so that when the test area is read, the sync pattern can be detected stably. Data can be read while maintaining the synchronization state.

【0058】その結果、半導体レーザLDの最適ライト
パワーを求めるテストの信頼性を維持することができ
る。なお、以上の実施例では、主として、光ディスク装
置の場合について説明したが、光磁気ディスク装置や、
追記型の光ディスク装置、光カード等についても、同様
に実施することが可能であることは明らかであって、実
施例の場合に限定されるものではない。
As a result, the reliability of the test for finding the optimum write power of the semiconductor laser LD can be maintained. In the above embodiment, the case of the optical disk device has been mainly described.
It is clear that the same can be applied to a write-once optical disk device, an optical card, and the like, and the present invention is not limited to the embodiment.

【0059】[0059]

【発明の効果】請求項1の光情報記録再生装置では、最
適ライトパワーを求めるために、記録条件のテスト、す
なわち、ライトパワーを可変しながらデータをライト/
リードしてテストする際に、ライトパワーが低出力の状
態において記録したテストエリアにおいても、“VFO
3”,“SB”,“RS”等の同期パターンだけは、通
常のライトパワーでライト(記録)するようにしてい
る。したがって、このようなテストエリアをリード(再
生)する場合に、安定した同期状態でのデータリードが
可能となり、テストの信頼性が維持される。
According to the optical information recording / reproducing apparatus of the first aspect, in order to determine the optimum write power, a test of recording conditions, that is, data writing / reading while changing the write power, is performed.
At the time of reading and testing, even in the test area where the write power was recorded at a low output state, "VFO
Only synchronous patterns such as "3", "SB", "RS", etc. are written (recorded) with normal write power. Data can be read in a synchronized state, and test reliability is maintained.

【0060】請求項2の光情報記録再生装置では、請求
項1の光情報記録再生装置によるテストの信頼性を維持
するために、ライトタイミング制御回路からの通常ライ
トパワー指示信号によって、ライトパルス出力時に半導
体レーザ等の光源へ供給するライト電流を、同期パター
ン部とユーザデータ、ECC部とで切り換えるように制
御している。したがって、請求項1の光情報記録再生装
置と同様の効果が得られる。
According to the optical information recording / reproducing apparatus of the second aspect, in order to maintain the reliability of the test by the optical information recording / reproducing apparatus of the first aspect, the write pulse output is performed by the normal write power instruction signal from the write timing control circuit. Sometimes, the write current supplied to the light source such as a semiconductor laser is controlled to be switched between the synchronous pattern section, the user data, and the ECC section. Therefore, the same effect as that of the optical information recording / reproducing apparatus of the first aspect can be obtained.

【0061】[0061]

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】この発明の光情報記録再生装置について、その
要部構成の一実施例を示す機能ブロック図である。
FIG. 1 is a functional block diagram showing an embodiment of a main part configuration of an optical information recording / reproducing apparatus of the present invention.

【図2】この発明の光情報記録再生装置における半導体
レーザドライブ回路について、その詳細な回路構成の一
実施例を示すブロック図である。
FIG. 2 is a block diagram showing one embodiment of a detailed circuit configuration of a semiconductor laser drive circuit in the optical information recording / reproducing apparatus of the present invention.

【図3】図1と図2に示した半導体レーザドライブ回路
について、データライト時の動作を説明するためのタイ
ムチャートである。
FIG. 3 is a time chart for explaining an operation at the time of data writing in the semiconductor laser drive circuit shown in FIGS. 1 and 2;

【図4】この発明の光情報記録再生装置における半導体
レーザドライブ回路について、その詳細な回路構成の第
2の実施例を示すブロック図である。
FIG. 4 is a block diagram showing a second embodiment of the detailed circuit configuration of the semiconductor laser drive circuit in the optical information recording / reproducing apparatus of the present invention.

【図5】従来の記録条件テスト機能を備えた光ディスク
装置について、その要部構成の一例を示す機能ブロック
図である。
FIG. 5 is a functional block diagram showing an example of a configuration of a main part of an optical disc device having a conventional recording condition test function.

【図6】従来の半導体レーザドライブ回路9について、
その詳細な回路構成の一例を示すブロック図である。
FIG. 6 shows a conventional semiconductor laser drive circuit 9;
FIG. 3 is a block diagram illustrating an example of a detailed circuit configuration.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 光学ヘッド LD 半導体レーザ 1a 対物レンズ 1b フォトディテクタ 2 初段アンプ 3 2値化回路 4 同期抽出回路 5 エラー訂正器 6 データバッファ 7 セクタ検出器 8 ライトタイミング制御回路 9 半導体レーザドライブ回路 10 D/Aコンバータ 11 CPU DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Optical head LD Semiconductor laser 1a Objective lens 1b Photodetector 2 First stage amplifier 3 Binarization circuit 4 Synchronization extraction circuit 5 Error corrector 6 Data buffer 7 Sector detector 8 Write timing control circuit 9 Semiconductor laser drive circuit 10 D / A converter 11 CPU

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G11B 7/00 - 7/013 G11B 7/125 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (58) Field surveyed (Int.Cl. 7 , DB name) G11B 7/ 00-7/013 G11B 7/125

Claims (2)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 半導体レーザ等の光源のライトパワーを
変化させながらデータをライトし、そのデータをリード
して再生状態を測定する記録条件のテスト機能を有する
光情報記録再生装置において、 データライト時に各セクタのデータ部における同期パタ
ーン部と、同期パターン以外の部分とで、ライトパワー
を切り換える手段を備え、 記録条件のテストの実行に際して、データライト時に、
各セクタのデータ部における同期パターン部ではセクタ
によらず所定レベルのライトパワーでデータをライト
し、同期パターン以外の部分ではライトパワーを可変し
ながらデータをライトすることを特徴とする光情報記録
再生装置。
1. An optical information recording / reproducing apparatus having a recording condition test function for writing data while changing the write power of a light source such as a semiconductor laser and reading the data to measure a reproduction state. A means for switching the write power between the synchronization pattern portion in the data portion of each sector and the portion other than the synchronization pattern is provided.
In the synchronous pattern portion sectors in the data section of each sector
Write data with a predetermined level of write power regardless of
The write power can be varied in areas other than the synchronization pattern.
An optical information recording / reproducing apparatus characterized by writing data while writing.
【請求項2】 半導体レーザ等の光源のライトパワーを
変化させながらデータをライトし、そのデータをリード
して、再生状態を測定するテスト機能を有する光情報記
録再生装置において、 セクタのデータ部における同期パターン部において、通
常ライトパワー指示信号を出力するライトタイミング制
御回路と、 半導体レーザ等の光源へすべてのセクタで所定レベルの
ライト電流を供給する第一のライト電流供給手段と、半導体レーザ等の光源へ可変するライト電流を供給する
第二のライト電流供給手段と、 前記通常ライトパワー指
示信号を出力する場合には前記第一のライト電流供給手
段を使用し、出力しない場合には前記第二のライト電流
供給手段を使用する切換手段、とを備えたことを特徴と
する光情報記録再生装置。
2. An optical information recording / reproducing apparatus having a test function of writing data while changing the write power of a light source such as a semiconductor laser, reading the data, and measuring a reproduction state. In the synchronous pattern section, a write timing control circuit that normally outputs a write power instruction signal, and a light source such as a semiconductor laser that has a predetermined level in all sectors.
A first write current supply unit for supplying a write current; and a variable write current supplied to a light source such as a semiconductor laser.
A second write current supply means, said first write current supply hand when outputting the normal write power signal
The second write current when using a stage and not outputting
An optical information recording / reproducing apparatus, comprising: switching means using a supply means .
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