JP3163875U - Wafer chip sorter - Google Patents

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光誠 陳
光誠 陳
于珊 黄
于珊 黄
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Abstract

【課題】ウエハを支持するウエハ台座、選別されたチップを受ける搭載座及びチップを選別移動ユニットの配置をコンパクトにして作業効率を向上するウェハのチップ選別装置を提供する。【解決手段】搬入モジュール1は、ウエハを搭載したウェハ台座11及び水平方向に移動させる第1のスライダ12を設け、ウエハのチップを選別移送する移動ユニット2は、アーム22およびアーム22を移動させる支柱を具え、搬出モジュール3は、アーム22が選別したチップを受ける薄膜321を備えた搭載座31を設けてスライダ33により水平方向に移動する。ウエハ台座と搭載台の移動及びアーム操作により、選別されたチップは搭載台の薄膜上に移送されるが、該薄膜下側は固定された支持器により支持される。【選択図】図1The present invention provides a wafer chip sorting apparatus that improves the working efficiency by reducing the arrangement of a wafer pedestal that supports a wafer, a mounting seat that receives sorted chips, and a chip sorting and moving unit. A loading module includes a wafer pedestal on which a wafer is mounted and a first slider that moves in a horizontal direction, and a moving unit that sorts and transfers wafer chips moves an arm and an arm. The carry-out module 3 is provided with a mounting seat 31 provided with a thin film 321 for receiving a chip selected by the arm 22 and moves horizontally by a slider 33. The selected chips are transferred onto the thin film of the mounting table by moving the wafer pedestal and the mounting table and operating the arm, but the lower side of the thin film is supported by a fixed support. [Selection] Figure 1

Description

本考案は、ウェハのチップ選別装置に関し、特に、支持器が薄膜の全ての位置を支持し、チップ配置範囲も大きくするウェハのチップ選別装置に関する。   The present invention relates to a wafer chip sorting apparatus, and more particularly to a wafer chip sorting apparatus in which a supporter supports all positions of a thin film and increases a chip arrangement range.

科学技術の進歩にともない、電子産業も著しく発展しているが、電子関連商品の大量生産により身の回りにはさまざまな電子製品が溢れている。電子製品は、様々な電子デバイスまたはICが精密に配線されて既定の効果が発揮されるようになっている。各種の電子デバイスまたはICは、ウェハが製造された後、後続の加工により成型が行なわれる。ウェハの製造技術において、電子デバイスまたはICは、ウェハの表面または内部にそれぞれ形成されるが、電子デバイスまたはICが占める部分はチップと呼ばれる。ウェハは、200〜300個または数千個ものチップを有することが普通であるため、サイズが異なることが多いのである。ウェハの完成後、ウェハ上の全てのチップに対して検査を行い、不良チップを排除し、良品チップに対してのみ後続のパッケージ工程を行なう。   The electronics industry has been remarkably developed with the advancement of science and technology, but various electronic products are overflowing around due to the mass production of electronic products. In electronic products, various electronic devices or ICs are precisely wired to achieve a predetermined effect. Various electronic devices or ICs are molded by subsequent processing after the wafer is manufactured. In the wafer manufacturing technology, an electronic device or IC is formed on the surface or inside of a wafer, respectively, and the portion occupied by the electronic device or IC is called a chip. Wafers usually have 200 to 300 or thousands of chips, so they are often different in size. After the completion of the wafer, all chips on the wafer are inspected to eliminate defective chips, and the subsequent packaging process is performed only for non-defective chips.

図7および8を参照する。図7は、従来のチップ選別装置を示す平面図である。図8は、従来のチップ選別装置を示す側面図である。図7および8に示すように、従来のチップ選別装置であるチップ選別作業台Aは、進入区A1、作業区A2および選別アームA3を備える。完成されたウェハBが進入区A1に配置され、第1のスライダA11により選別アームA3の側に移動させられると、選別アームA3がウェハBのチップB1を取り出し、作業区A2に移動させる。チップB1は、作業区A2の可動式支持器に支持された薄膜A21上に配置される。その後、第2のスライダA22によって作業区A2がチップB1を外部に移動させる。   Refer to FIGS. FIG. 7 is a plan view showing a conventional chip sorting apparatus. FIG. 8 is a side view showing a conventional chip sorting apparatus. As shown in FIGS. 7 and 8, a chip sorting work table A, which is a conventional chip sorting device, includes an entry area A1, a work area A2, and a sorting arm A3. When the completed wafer B is placed in the entry zone A1 and moved to the sorting arm A3 side by the first slider A11, the sorting arm A3 takes out the chip B1 of the wafer B and moves it to the work zone A2. The chip B1 is disposed on the thin film A21 supported by the movable supporter in the work area A2. Thereafter, the work area A2 moves the chip B1 to the outside by the second slider A22.

上記の従来技術において、進入区A1および作業区A2の高さが同一であるため、相対的に移動できる空間が制限され、選別アームA3との間の距離が固定され、調節ができないため、以下の二つの欠点があった。まず第1に、チップ選別作業台Aの進入区A1は、第1のスライダA11により搭載したウェハBが選別アームA3の側に移動させられ、選別アームA3にチップB1の選別を行なわせる。選別されたチップB1は、作業区A2の薄膜A21上に移動させられる。薄膜A21の底部が第2のスライダA22に固着された支持器により支持されているため、第2のスライダA22が作業区A2を移動させると、支持器も連動して薄膜A21を移動させる。そのため、薄膜A21の移動範囲が制限され、チップB1が配置される場所も縮小してしまう。 In the above prior art, since the height of the approach area A1 and the work area A2 is the same, the space that can move relatively is limited, the distance to the sorting arm A3 is fixed, and cannot be adjusted. There were two drawbacks. First, in the entry section A1 of the chip sorting work table A, the wafer B mounted by the first slider A11 is moved to the sorting arm A3 side, and the sorting arm A3 sorts the chip B1. The selected chip B1 is moved onto the thin film A21 in the work area A2. Since the bottom of the thin film A21 is supported by a support device fixed to the second slider A22, when the second slider A22 moves the work area A2, the support device also moves the thin film A21 in conjunction with it. Therefore, the moving range of the thin film A21 is limited, and the place where the chip B1 is disposed is also reduced.

チップ選別作業台Aの進入区A1および作業区A2は、高さが同一であるため、進入区A1および作業区A2がそれぞれ第1のスライダA11および第2のスライダA22により移動させられると、進入区A1および作業区A2が相互に接触してしまうことがあり、選別アームA3がチップB1を選別する際、選別範囲が狭くなってしまう。 Since the approach area A1 and the work area A2 of the chip sorting work table A have the same height, when the entry area A1 and the work area A2 are moved by the first slider A11 and the second slider A22, respectively, the approach The section A1 and the work section A2 may come into contact with each other, and when the sorting arm A3 sorts the chip B1, the sorting range becomes narrow.

以上のように、チップ選別作業において、作業区に設けられた可動式支持器により起こる問題を解決するのが大きな課題である。   As described above, in the chip sorting operation, it is a big problem to solve the problem caused by the movable support provided in the work area.

特開2008−172203号公報JP 2008-172203 A

本考案の第1の目的は、支持器が薄膜の全ての位置を支持し、チップ配置範囲も大きくするウェハのチップ選別装置を提供することにある。
本考案の第2の目的は、ウェハ台座と搭載座との間に落差を設け、相互に移送・操作を妨げることがないウェハのチップ選別装置を提供することにある。
A first object of the present invention is to provide a chip sorting apparatus for a wafer in which a supporter supports all positions of a thin film and increases a chip arrangement range.
A second object of the present invention is to provide a chip sorting apparatus for a wafer which has a drop between a wafer pedestal and a mounting seat and does not interfere with the transfer and operation of each other.

上述の目的を達成するため、本考案は、ウェハのチップ選別装置を提供する。本考案のウェハのチップ選別装置は、搬入モジュール、移動ユニットおよび搬出モジュールにより構成する。搬入モジュールは、あらかじめ材料を配置したウェハ台座およびウェハ台座を移動させる第1のスライダを設けている。移動ユニットは、搬入モジュールの外側に配置され、ウェハ台座から材料を選別し、他の場所に運ぶアームおよびアームを移動させる支柱を設けている。搬出モジュールは、搬入モジュールおよび移動ユニットの外側に配置され、アームが選別した材料を配置する搭載座を設けている。搭載座は、材料を配置する薄膜を有する搭載台を設けている。搭載座は、一方に搭載台および薄膜をスライド移動させるスライダを設けている。搭載台の底部には、作業台に固定された支持器を設けている。支持器は、搭載座および搭載台とともに移動しないため、薄膜の全ての位置を支持する。 To achieve the above object, the present invention provides a wafer chip sorting apparatus. The wafer chip sorting apparatus according to the present invention includes a carry-in module, a moving unit, and a carry-out module. The carry-in module is provided with a wafer pedestal on which a material is previously arranged and a first slider for moving the wafer pedestal. The moving unit is arranged outside the loading module, and is provided with an arm for sorting the material from the wafer pedestal and carrying it to another place and a column for moving the arm. The carry-out module is arranged outside the carry-in module and the moving unit, and is provided with a mounting seat on which the material selected by the arm is arranged. The mounting seat is provided with a mounting base having a thin film on which the material is disposed. The mounting seat is provided with a slider for sliding the mounting base and the thin film on one side. A supporter fixed to the work table is provided at the bottom of the mounting table. Since the supporter does not move with the mounting seat and the mounting base, it supports all positions of the thin film.

本考案のウェハのチップ選別装置は、搬入モジュールのウェハ台座と、搭載座の搭載台および薄膜とがそれぞれ第1の第1のスライダおよび第2のスライダに駆動されて水平にスライド移動を行なうが、薄膜の下方に配置された支持器が作業台に固定され、第2のスライダが搭載座を移動させても動くことがないため、薄膜が全ての位置を支持器上に移動させることができる。また、作業台に固定された支持器が搭載座の搭載台および薄膜の下方に設けられているため、搭載座とウェハ台座との間の移動が妨げられず、アームがウェハ台座上のより多くのチップを選別し、薄膜上のチップ配置範囲も大きくすることができる。 In the wafer chip sorting apparatus of the present invention, the wafer base of the loading module, the mounting base of the mounting base, and the thin film are driven by the first first slider and the second slider, respectively, to slide horizontally. Since the support device arranged below the thin film is fixed to the work table and the second slider does not move even if the mounting seat is moved, the thin film can be moved all over the support device. . In addition, since the support fixed to the work table is provided below the mounting table and the thin film of the mounting table, the movement between the mounting table and the wafer table is not hindered, and more arms are provided on the wafer table. It is possible to increase the chip arrangement range on the thin film.

本考案の一実施形態によるウェハのチップ選別装置を示す斜視図である。1 is a perspective view illustrating a wafer chip sorting apparatus according to an embodiment of the present invention; 本考案の一実施形態によるウェハのチップ選別装置を示す分解斜視図である。1 is an exploded perspective view illustrating a wafer chip sorting apparatus according to an embodiment of the present invention; 本考案の一実施形態によるウェハのチップ選別装置を示す側面図である。1 is a side view showing a wafer chip sorting apparatus according to an embodiment of the present invention; 図3の局部を拡大した側面図である。It is the side view to which the local part of FIG. 3 was expanded. 本考案の一実施形態によるウェハのチップ選別装置を示す平面図である。1 is a plan view illustrating a wafer chip sorting apparatus according to an embodiment of the present invention; 本考案の一実施形態によるウェハのチップ選別装置を示すもう一つの平面図である。FIG. 5 is another plan view showing a wafer chip sorting apparatus according to an embodiment of the present invention; 従来のチップ選別装置を示す平面図である。It is a top view which shows the conventional chip sorter. 従来のチップ選別装置を示す側面図である。It is a side view which shows the conventional chip sorter.

以下、本考案の実施形態を図面に基づいて説明する。 Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.

図1〜4を参照する。図1は、本考案の一実施形態によるウェハのチップ選別装置を示す斜視図である。図2は、本考案の一実施形態によるウェハのチップ選別装置を示す分解斜視図である。図3は、本考案の一実施形態によるウェハのチップ選別装置を示す側面図である。図4は、図3の局部を拡大した側面図である。図1〜4に示すように、本考案のウェハのチップ選別装置は、搬入モジュール1、移動ユニット2および搬出モジュール3により構成する。   Reference is made to FIGS. FIG. 1 is a perspective view illustrating a wafer chip sorting apparatus according to an embodiment of the present invention. FIG. 2 is an exploded perspective view illustrating a wafer chip sorting apparatus according to an embodiment of the present invention. FIG. 3 is a side view showing a wafer chip sorting apparatus according to an embodiment of the present invention. 4 is an enlarged side view of the local portion of FIG. As shown in FIGS. 1 to 4, the wafer chip sorting apparatus according to the present invention includes a carry-in module 1, a moving unit 2, and a carry-out module 3.

搬入モジュール1は、側底部に第1の第1のスライダ12を有するウェハ台座11を備える。ウェハ台座11は、第1のスライダ12の縦レール121および横レール122により水平方向にスライド移動する。   The carry-in module 1 includes a wafer pedestal 11 having a first first slider 12 on the side bottom. The wafer pedestal 11 is slid in the horizontal direction by the vertical rail 121 and the horizontal rail 122 of the first slider 12.

移動ユニット2は、逆L字型の頂部側面に可動式アーム22を設けている。支柱21から離れたアーム22の端部の底面に真空吸盤221が設けられている。   The moving unit 2 is provided with a movable arm 22 on an inverted L-shaped top side surface. A vacuum sucker 221 is provided on the bottom surface of the end of the arm 22 away from the support column 21.

搬出モジュール3は、搭載台32を有する搭載座31を設けている。搭載台32は、支持器322により底部が支持された薄膜321を表面に設けている。搭載座31は、縦レール331および横レール332を有する第2のスライダ33を側底部に設けて、水平方向にスライド移動する。   The carry-out module 3 is provided with a mounting seat 31 having a mounting base 32. The mounting table 32 is provided with a thin film 321 whose bottom is supported by a supporter 322 on the surface. The mounting seat 31 is provided with a second slider 33 having a vertical rail 331 and a horizontal rail 332 on the side bottom, and slides in the horizontal direction.

本考案のチップ選別装置は、搬入モジュール1のウェハ台座11の側方に移動ユニット2を配置し、搬入モジュール1および移動ユニット2の他の側に搬出モジュール3配置する。搬出モジュール3の搭載台32の薄膜321の底部に、作業台に固定された支持器322があるが、支持器322は、搭載台32と共に移動しない。搬入モジュール1のウェハ台座11および搬出モジュール3の搭載座31は、アーム22の揺動操作する範囲内にある。ウェハ台座11上には、ウェハ4(半導体ウェハ4、LEDウェハ4など)が配置され、アーム22によりウェハ4から複数のチップが選別され、搭載座31の搭載台32上に移送される。   In the chip sorting apparatus of the present invention, the moving unit 2 is arranged on the side of the wafer pedestal 11 of the loading module 1 and the unloading module 3 is arranged on the other side of the loading module 1 and the moving unit 2. There is a support device 322 fixed to the work table at the bottom of the thin film 321 of the mounting table 32 of the carry-out module 3, but the support device 322 does not move with the mounting table 32. The wafer pedestal 11 of the carry-in module 1 and the mounting base 31 of the carry-out module 3 are within the range in which the arm 22 is swung. A wafer 4 (semiconductor wafer 4, LED wafer 4, etc.) is arranged on the wafer pedestal 11, and a plurality of chips are selected from the wafer 4 by the arm 22 and transferred onto the mounting table 32 of the mounting table 31.

搬入モジュール1の第1のスライダ12、移動ユニット2のアーム22、搬出モジュール3の第2のスライダ33は、それぞれ制御ユニット(気体または液体圧)5により駆動され、第1のスライダ12の縦レール121および横レール122、第2のスライダ33の縦レール331および横レール332を縦横に水平移動させる。第1のスライダ12上のウェハ台座11、第2のスライダ33上の搭載座31は、それぞれアーム22の揺動操作範囲内の所定の位置まで移動させられる。搬入モジュール1のウェハ台座11と搬出モジュール3の搭載座31との間には、所定の間隔が設けられ、ウェハ台座11が搭載座31の下方に配置され、ウェハ台座11と搭載座31との間の移動範囲(例えば、80×80mm〜120×120mm)を調節することにより、ウェハ台座11の移動空間をさらに大きくすることができる。   The first slider 12 of the carry-in module 1, the arm 22 of the moving unit 2, and the second slider 33 of the carry-out module 3 are each driven by a control unit (gas or liquid pressure) 5, and the vertical rail of the first slider 12 121, the horizontal rail 122, and the vertical rail 331 and the horizontal rail 332 of the second slider 33 are horizontally moved vertically and horizontally. The wafer pedestal 11 on the first slider 12 and the mounting seat 31 on the second slider 33 are respectively moved to predetermined positions within the swing operation range of the arm 22. A predetermined space is provided between the wafer base 11 of the carry-in module 1 and the mounting base 31 of the carry-out module 3, and the wafer base 11 is disposed below the mounting base 31. The movement space of the wafer pedestal 11 can be further increased by adjusting the movement range (for example, 80 × 80 mm to 120 × 120 mm).

図1、5および6を参照する。図5は、本考案の一実施形態によるウェハのチップ選別装置を示す平面図である。図6は、本考案の一実施形態によるウェハのチップ選別装置を示すもう一つの平面図である。図1、5および6に示すように、本考案の搬入モジュール1は、ウェハ台座11上に異なるサイズのウェハ4が配置されている。ウェハ4は、サイズが156〜240mmである。第1のスライダ12の縦レール121および横レール122が水平方向にスライド移動を行なうことにより、ウェハ台座11をアーム22の揺動範囲内で移動させる。ウェハ台座11上のウェハ4のチップがアーム22の真空吸盤221に吸引され、搬出モジュール3の搭載台32に移動させられ、搭載台32の薄膜321上に配置される。搭載台32および薄膜321は、第2のスライダ33の縦レール331および横レール332とともにスライド移動するが、薄膜321下方の固定型支持器322は、これ等と共に移動しない。固定型支持器322により支持された薄膜321は、アーム22がウェハ4のチップを配置しても、変形または損傷することがない。作業台上に固定された支持器322の位置は、ウェハ台座11の移動を妨げることがない。ウェハ台座11上のウェハ4のサイズによりウェハ台座11と搭載座31との間の移動範囲が適度に調整され、アーム22がスムーズにウェハ台座11からチップを選別して搭載座31の搭載台32上に移動させることができる。   Reference is made to FIGS. FIG. 5 is a plan view illustrating a wafer chip sorting apparatus according to an embodiment of the present invention. FIG. 6 is another plan view illustrating a wafer chip sorting apparatus according to an embodiment of the present invention. As shown in FIGS. 1, 5, and 6, in the loading module 1 of the present invention, wafers 4 of different sizes are arranged on a wafer base 11. The wafer 4 has a size of 156 to 240 mm. The vertical rail 121 and the horizontal rail 122 of the first slider 12 slide in the horizontal direction, thereby moving the wafer base 11 within the swing range of the arm 22. The chips of the wafer 4 on the wafer pedestal 11 are sucked by the vacuum sucker 221 of the arm 22, moved to the mounting base 32 of the carry-out module 3, and placed on the thin film 321 of the mounting base 32. The mounting base 32 and the thin film 321 slide along with the vertical rail 331 and the horizontal rail 332 of the second slider 33, but the fixed support 322 below the thin film 321 does not move with them. The thin film 321 supported by the fixed supporter 322 is not deformed or damaged even if the arm 22 arranges the chip of the wafer 4. The position of the supporter 322 fixed on the work table does not hinder the movement of the wafer base 11. Depending on the size of the wafer 4 on the wafer pedestal 11, the movement range between the wafer pedestal 11 and the mounting pedestal 31 is appropriately adjusted, and the arm 22 smoothly selects chips from the wafer pedestal 11 and mounts the mounting pedestal 32 on the mounting pedestal 31. Can be moved up.

本考案では好適な実施形態を前述の通りに開示したが、これらは決して本考案を限定するものではなく、当該技術を熟知する者は誰でも、本考案の精神と領域を脱しない範囲内で各種の変更や修正を加えることができる。従って、本考案の保護の範囲は、実用新案請求の範囲で指定した内容を基準とする。   Although the present invention discloses preferred embodiments as described above, these are not intended to limit the present invention in any way, and anyone skilled in the art is within the spirit and scope of the present invention. Various changes and modifications can be made. Therefore, the scope of protection of the present invention is based on the contents specified in the claims of the utility model.

1 搬入モジュール
2 移動ユニット
3 搬出モジュール
4 ウェハ
5 制御ユニット
11 ウェハ台座
12 スライダ
21 支柱
22 アーム
31 搭載座
32 搭載台
33 スライダ
121 縦レール
122 横レール
221 真空吸盤
321 薄膜
322 支持器
331 縦レール
332 横レール
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Loading module 2 Moving unit 3 Unloading module 4 Wafer 5 Control unit 11 Wafer base 12 Slider 21 Post 22 Arm 31 Mounting base 32 Mounting base 33 Slider 121 Vertical rail 122 Horizontal rail 221 Vacuum sucker 321 Thin film 322 Support device 331 Vertical rail 332 Horizontal rail

Claims (3)

チップを加工したウエハを配置したウェハ台座および前記ウェハ台座を移動させる第1のスライダを設けた搬入モジュールと、
前記搬入モジュールの外側に配置され、前記ウェハ台座からチップを選別して移送するアームを具えた支柱を設けた移動ユニットと、
前記搬入モジュールおよび前記移動ユニットの外側に配置され、前記アームが選別したチップを移送して搭載する薄膜を有する搭載座を設け、該搭載座は一方に前記搭載台をスライド移動させるスライダを設けると共に、前記搭載台の底部に、作業台に固定された支持器を配置して前記搭載座の薄膜を支持せしめた搬出モジュールと、から構成することを特徴とするウェハのチップ選別装置。
A carry-in module provided with a wafer pedestal on which a wafer in which chips are processed is arranged and a first slider for moving the wafer pedestal;
A moving unit provided outside the carry-in module, and provided with a column having an arm for sorting and transferring chips from the wafer pedestal;
A mounting seat having a thin film that is disposed outside the loading module and the moving unit and has a thin film for transferring and mounting a chip selected by the arm is provided, and the mounting seat is provided with a slider that slides the mounting base on one side. A wafer chip sorter comprising: a carry-out module in which a supporter fixed to a workbench is disposed at the bottom of the mounting table to support the thin film of the mounting seat.
前記搬入モジュールの前記ウェハ台座上に配置されるウェハは、半導体ウェハまたはLEDウェハであることを特徴とする請求項1に記載のウェハのチップ選別装置。   2. The wafer chip sorting apparatus according to claim 1, wherein the wafer disposed on the wafer pedestal of the carry-in module is a semiconductor wafer or an LED wafer. 前記搬入モジュールの前記ウェハ台座と前記搬出モジュールの前記搭載座との間に所定の距離があり、落差を形成していることを特徴とする請求項1に記載のウェハのチップ選別装置。   2. The wafer chip sorting apparatus according to claim 1, wherein a predetermined distance is formed between the wafer base of the carry-in module and the mounting seat of the carry-out module to form a drop.
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