JP3123935U - Automatic temperature shock test system - Google Patents

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龍二郎 三宅
弘 白井
光宏 吉田
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企業組合ヒーバックシステム
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  • Testing Resistance To Weather, Investigating Materials By Mechanical Methods (AREA)

Abstract

【課題】搬送動作が単純で信頼性が高く、更には長時間に渡る低温試験を行うことができる、自動温度衝撃試験システムを得る。
【解決手段】製品を搬入する搬入口及び搬出する搬出口と、搬入された製品を装置内に一定時間維持すべく製品を上下方向及び左右方向に循環移動させるエレベーターユニットと、当該装置内を所定の低温度に冷却する冷却コイルユニットとを具備した冷却試験装置と、製品を搬入する搬入口及び搬出する搬出口と、搬入された製品を装置内に一定時間維持すべく製品を上下方向及び左右方向に循環移動させるエレベーターユニットと、当該装置内を所定の高温度に過熱する加熱コイルユニットとを具備した加熱試験装置とを連続配置させてラインに組み込む。冷却コイルユニットは、冷却試験装置内において2機設置し、一方の冷却コイルユニットの運転中において他方の冷却コイルユニットの除霜を行い、前記動作を交互に繰り返す。
【選択図】図1
An automatic temperature shock test system is provided which has a simple and reliable transport operation and can perform a low temperature test for a long time.
A loading / unloading port for loading a product, a loading / unloading port for unloading, an elevator unit that circulates the product in a vertical direction and a horizontal direction in order to maintain the loaded product in the device for a certain period of time, and a predetermined amount in the device A cooling test apparatus having a cooling coil unit for cooling to a low temperature, a loading / unloading port for loading the product, a loading / unloading port for unloading the product, and maintaining the loaded product in the device for a certain period of time An elevator unit that circulates in a direction and a heating test apparatus that includes a heating coil unit that overheats the interior of the apparatus to a predetermined high temperature are continuously arranged and incorporated in the line. Two cooling coil units are installed in the cooling test apparatus, the other cooling coil unit is defrosted while one cooling coil unit is in operation, and the above operation is repeated alternately.
[Selection] Figure 1

Description

本考案は、電子機器の温度衝撃試験装置に関し、特に低温から高温までの温度試験をインライン化して自動且つ連続で行うことができる、自動温度衝撃試験システムに関するものである。  The present invention relates to a temperature shock test apparatus for an electronic apparatus, and more particularly to an automatic temperature shock test system that can automatically and continuously perform a temperature test from a low temperature to a high temperature.

電子機器の性能評価試験として温度試験が行われている。該温度試験は、従来は一般的に恒温槽と呼ばれる温度試験装置の中に製品を収納し、所定の温度(高温又は低温)にて一定時間維持した後、製品を取り出して動作検査を行うものである。該温度試験装置にあっては、試験処理を一度に複数行うバッチ方式となり、製造ラインに組み入れて連続的に温度試験を行うことができなく、動作検査時での温度にばらつきが生じてしまうという欠点があった。  A temperature test is performed as a performance evaluation test for electronic devices. In the temperature test, the product is conventionally stored in a temperature test apparatus generally called a thermostat and maintained at a predetermined temperature (high temperature or low temperature) for a certain period of time. It is. The temperature test apparatus is a batch system in which a plurality of test processes are performed at a time, and the temperature test cannot be continuously performed by being incorporated in a production line, resulting in variations in temperature during operation inspection. There were drawbacks.

また、コンベア形式の温度試験装置として、所定の温度(高温又は低温)に維持したトンネル内を、コンベアに製品を載置して通過させることにより温度試験を行うものもある。該温度試験装置にあっては、製造ラインに組み入れて連続的に温度試験を行うことができるが、製品の数量が多い場合又は試験時間を長く取る場合には装置が大型化してしまうという欠点があった。  Some conveyor-type temperature test apparatuses perform a temperature test by placing a product on a conveyor and passing it through a tunnel maintained at a predetermined temperature (high or low temperature). The temperature test apparatus can be incorporated into a production line and continuously perform a temperature test. However, there is a disadvantage that the apparatus becomes large when the number of products is large or when the test time is long. there were.

上記欠点を解決すべく、特開07−174688号公報の『恒温試験装置』では、製品を格納するための格子状の製品格納棚と、所定温度の空気を供給するための空気供給装置と、前記製品格納棚の各々に対して前記空気供給装置から供給される熱量が等しくなるように空気を分配する分配板とを設けた恒温試験装置において、製品格納棚の製品を自由に搬送移動できる搬送ロボットを内蔵させ、更にシャッターを設けた搬入搬出口を装置に開け、コンベアにて製品の搬入搬出が行えることを特徴とした温度試験装置について記載されている。  In order to solve the above-mentioned drawbacks, Japanese Patent Application Laid-Open No. 07-174688 “Constant Temperature Test Device” has a grid-shaped product storage shelf for storing products, an air supply device for supplying air at a predetermined temperature, In the constant temperature test apparatus provided with a distribution plate that distributes air so that the amount of heat supplied from the air supply device is equal to each of the product storage shelves, the transport that can freely transport and move the products in the product storage shelves A temperature test apparatus characterized in that a loading / unloading opening provided with a robot and further provided with a shutter is opened in the apparatus, and a product can be loaded / unloaded by a conveyor.

特開平07−174688  JP 07-174688

しかしながら、上記特開平07−174688号公報に記載のものは、製品を格納するための製品格納棚が格子状に固定されており、各々の製品格納棚に供給される空気の熱量を均一にするための分配板を設けても物理的な位置が異なるため、熱量を完全に均一にすることは困難であった。また、搬送移動をX−Y方向に移動する搬送ロボットで行うため、物理的に位置が異なる製品の搬送時間が各々異なり時間制御が複雑であった。更には前記搬送ロボット自体が低温又は高温の装置内で動作を行うため動作不良の危険性があるという、幾つかの問題点があった。  However, in the above-mentioned Japanese Patent Application Laid-Open No. 07-174688, product storage shelves for storing products are fixed in a lattice shape, and the amount of heat of air supplied to each product storage shelf is made uniform. Even if a distribution plate is provided, the physical position is different, and it has been difficult to make the amount of heat completely uniform. In addition, since the transfer movement is performed by a transfer robot that moves in the XY directions, the transfer times of products having different physical positions are different, and time control is complicated. Furthermore, there are some problems that the transfer robot itself operates in a low-temperature or high-temperature apparatus, and there is a risk of malfunction.

また、上記公報を始め従来の温度試験装置において低温試験を行う場合、冷却装置より発生した冷却空気を装置内に送風しているが、低温試験を長時間連続して行うと前記冷却装置に霜が付着して運転が停止してしまい、24時間連続運転等の長時間に渡る低温試験が行えないという問題点があった。  In addition, when the low temperature test is performed in the conventional temperature test apparatus including the above-mentioned publication, cooling air generated from the cooling apparatus is blown into the apparatus. As a result, the operation was stopped and the low temperature test such as continuous operation for 24 hours could not be performed.

本考案は、以上のような問題点を解決するために成されたものであり、電子機器の温度試験装置に関し、特に特に低温から高温までの温度試験をインライン化して自動且つ連続で行うことができる温度衝撃試験装置において、温度試験時及び動作検査時での温度を均一にすることができ、搬送動作も単純で信頼性が高く、更には長時間に渡る低温試験を行うことができる、自動温度衝撃試験システムを提供することを目的とする。  The present invention has been made to solve the above-described problems, and particularly relates to a temperature test apparatus for electronic equipment. In particular, a temperature test from a low temperature to a high temperature can be performed in-line and automatically and continuously. A temperature shock tester that can perform uniform temperature test and operation test, simple and reliable transport operation, and automatic low temperature test for a long time. An object is to provide a temperature shock test system.

上記課題を解決するため、本考案の自動温度衝撃試験システムは、ラインより製品を搬入する搬入口及びラインに製品を搬出する搬出口と、搬入された製品を所定温度に設定した装置内に一定時間維持すべく製品を上下方向及び左右方向に循環移動させるエレベーターユニットと、当該装置内を所定の低温度に冷却する冷却コイルユニットとを具備した冷却試験装置と、ラインより製品を搬入する搬入口及びラインに製品を搬出する搬出口と、搬入された製品を所定温度に設定した装置内に一定時間維持すべく製品を上下方向及び左右方向に循環移動させるエレベーターユニットと、当該装置内を所定の高温度に過熱する加熱コイルユニットとを具備した加熱試験装置とを連続配置させてラインに組み込む。  In order to solve the above problems, the automatic thermal shock test system according to the present invention includes a carry-in port for carrying a product from a line, a carry-out port for carrying the product into the line, and a device in which the carried product is set at a predetermined temperature. A cooling test apparatus comprising an elevator unit that circulates and moves the product in the vertical and horizontal directions to maintain time, a cooling coil unit that cools the inside of the apparatus to a predetermined low temperature, and an inlet for carrying the product from the line And a carry-out port for carrying out the product to the line, an elevator unit for circulating and moving the product in the vertical direction and the horizontal direction in order to maintain the loaded product in a device set at a predetermined temperature for a certain period of time, A heating test apparatus equipped with a heating coil unit that overheats to a high temperature is continuously arranged and incorporated in the line.

上記エレベーターユニットは、複数個の製品を一列に載置したトレーを複数段架け渡して上昇させる上昇エレベーターと、複数個の製品を一列に載置したトレーを複数段架け渡して下降させる下降エレベーターと、前記上昇エレベーターの最上部において当該位置にあるトレーを下降エレベーターの最上部に移動させる移動手段と、前記下降エレベーターの最上部に移動したトレー上の製品を当該トレー上において一個ずつ隣に移動させる移動手段と、前記下降エレベーターの最下部において当該位置にあるトレーを上昇エレベーターの最下部に移動させる移動手段とを具備して構成する。  The elevator unit includes a lift elevator that lifts a plurality of trays with a plurality of products placed in a row, and a lift elevator that lifts and lowers a tray with a plurality of products placed in a row. Moving means for moving the tray at the uppermost position of the lift elevator to the uppermost position of the lowering elevator, and moving products on the tray moved to the uppermost position of the lowering elevator one by one on the tray. A moving means and a moving means for moving the tray at the position at the lowermost part of the descending elevator to the lowermost part of the ascending elevator are provided.

上記冷却コイルユニットは、冷却試験装置内において2機設置し、一方の冷却コイルユニットの運転中において他方の冷却コイルユニットの除霜を行い、前記動作を交互に繰り返して冷却コイルユニットの運転を行う。  Two cooling coil units are installed in the cooling test apparatus, the other cooling coil unit is defrosted during operation of one cooling coil unit, and the cooling coil unit is operated by repeating the above operation alternately. .

本考案の自動温度衝撃試験システムによれば、低温から高温までの温度試験をインライン化して自動且つ連続で行うことができる温度衝撃試験装置において、温度試験時及び動作検査時での温度を均一にすることができ、搬送動作も単純で信頼性が高く、更には長時間に渡る低温試験を行うことができるという絶大なる効果を奏する。  According to the automatic temperature shock test system of the present invention, in a temperature shock test apparatus capable of performing in-line and continuous temperature tests from low temperature to high temperature, the temperature at the temperature test and the operation test is made uniform. In addition, the transport operation is simple and highly reliable, and it is possible to perform a low-temperature test for a long time.

本考案を実施するための最良の形態を図を用いて説明する。  The best mode for carrying out the present invention will be described with reference to the drawings.

図1は本考案の自動温度衝撃試験システムを構成する冷却試験装置及び加熱試験装置の平面断面模式図であり、図2は本考案の自動温度衝撃試験システムを構成する冷却試験装置の側面断面模式図である。該図に示すように、本考案の自動温度衝撃試験システムは、冷却試験装置1と加熱試験装置19を製造ラインや検査ライン等に組み込んでインライン化し、製品を一個ずつ自動且つ連続的に温度衝撃試験を行うことができるものである。  FIG. 1 is a schematic plan view of a cooling test apparatus and a heating test apparatus constituting the automatic temperature shock test system of the present invention, and FIG. 2 is a schematic side sectional view of a cooling test apparatus constituting the automatic temperature shock test system of the present invention. FIG. As shown in the figure, the automatic temperature shock test system of the present invention incorporates a cooling test device 1 and a heating test device 19 into a production line, an inspection line, etc., and inlines them to automatically and continuously temperature shock products one by one. A test can be performed.

冷却試験装置1は、断熱筐体で組まれた装置の前面において、ラインより製品36を搬入する搬入口13及びラインに製品36を搬出する搬出口16を設け、前記装置内において、搬入された製品36を所定温度に設定した装置内に一定時間維持すべく製品36を上下方向及び左右方向に循環移動させるエレベーターユニット9と、当該装置内を所定の低温度に冷却する冷却コイルユニット2,3とを具備して構成する。  The cooling test apparatus 1 is provided with a carry-in port 13 for carrying in the product 36 from the line and a carry-out port 16 for carrying out the product 36 in the line on the front surface of the apparatus assembled with the heat insulating casing. An elevator unit 9 that circulates and moves the product 36 in the vertical direction and the horizontal direction in order to maintain the product 36 in a device set at a predetermined temperature for a certain period of time, and cooling coil units 2 and 3 that cool the interior of the device to a predetermined low temperature. And comprising.

上記搬入口13の前面には装置内の設定温度を維持すべくエアシリンダー29により開閉を行う搬入口シャッター14を設け、同様に搬出口16の前面には搬出口シャッター17を設ける。更に、前記搬入口13より搬入された製品36をエレベーターユニット9まで移送する搬入移送機12及びエレベーターユニット9より製品36を搬出口16まで移送する搬出移送機15を、搬入口13及び搬出口16とエレベーターユニット9との間に設ける。  A carry-in shutter 14 that is opened and closed by an air cylinder 29 is provided on the front surface of the carry-in port 13 to maintain a set temperature in the apparatus, and similarly, a carry-out shutter 17 is provided on the front surface of the carry-out port 16. Furthermore, the carry-in transfer device 12 for transferring the product 36 carried from the carry-in port 13 to the elevator unit 9 and the carry-out transfer device 15 for transferring the product 36 from the elevator unit 9 to the carry-out port 16, the carry-in port 13 and the carry-out port 16. And the elevator unit 9.

また、上記冷却コイルユニット2,3は、各々後方ダンパー4と冷却コイル5と再熱ヒーター6と冷却ファン7及び前方ダンパー8を連接して構成する。該冷却コイルユニット2,3は、冷却試験装置1内において冷却コイルユニットA2と冷却コイルユニットB3の2機設置し、例えば一方の冷却コイルユニットA2の運転中において他方の冷却コイルユニットB3の除霜を行い、前記動作を交互に繰り返して冷却コイルユニット2,3の運転を行う。  The cooling coil units 2 and 3 are configured by connecting a rear damper 4, a cooling coil 5, a reheat heater 6, a cooling fan 7, and a front damper 8, respectively. The cooling coil units 2 and 3 are installed in the cooling test apparatus 1 as two units of the cooling coil unit A2 and the cooling coil unit B3. For example, during the operation of one cooling coil unit A2, the defrosting of the other cooling coil unit B3 is performed. The cooling coil units 2 and 3 are operated by alternately repeating the above operation.

図5は本考案の自動温度衝撃試験システムを構成する冷却試験装置内のダンパー動作説明図であり、(a)は除霜中の状態を示し(b)は冷却運転中の状態を示している。冷却コイル5に付着した霜の除霜を行う場合、(a)で示したように後方ダンパー4及び前方ダンパー8内の各ルーバー37を閉じ、冷却コイル5内の図示しないヒーターに通電することにより行える。除霜により発生した水は図示しないドレーンにより装置外に排出される。また、除霜動作が終了して冷却運転を開始する場合、(b)で示したように後方ダンパー4及び前方ダンパー8内の各ルーバー37を開け、冷却コイル5及び冷却ファン7を動作させることにより行える。  FIG. 5 is an explanatory diagram of a damper operation in the cooling test apparatus constituting the automatic temperature shock test system of the present invention, where (a) shows a state during defrosting and (b) shows a state during cooling operation. . When defrosting the frost adhered to the cooling coil 5 is performed, the louvers 37 in the rear damper 4 and the front damper 8 are closed as shown in FIG. Yes. Water generated by defrosting is discharged out of the apparatus by a drain (not shown). When the defrosting operation is finished and the cooling operation is started, the louvers 37 in the rear damper 4 and the front damper 8 are opened and the cooling coil 5 and the cooling fan 7 are operated as shown in FIG. Can be done.

なお、冷却コイルユニット2,3内の再熱ヒーター6は、装置内の温度が設定値以下に下がった際に通電して下がり過ぎた温度を上げて温度調整を行うために使用され、図示しない温度センサ及び制御装置により装置内の温度を設定した低温度に維持することができる。  Note that the reheat heater 6 in the cooling coil units 2 and 3 is used to adjust the temperature by energizing and lowering the temperature when the temperature in the apparatus falls below a set value, and is not shown. The temperature in the device can be maintained at a set low temperature by the temperature sensor and the control device.

加熱試験装置19は、断熱筐体で組まれた装置の前面において、ラインより製品36を搬入する搬入口24及びラインに製品36を搬出する搬出口26を設け、前記装置内において、搬入された製品36を所定温度に設定した装置内に一定時間維持すべく製品36を上下方向及び左右方向に循環移動させるエレベーターユニット9と、当該装置内を所定の高温度に過熱する加熱コイルユニット20とを具備して構成する。  The heating test device 19 is provided with a carry-in port 24 for carrying in the product 36 from the line and a carry-out port 26 for carrying out the product 36 in the line on the front surface of the device assembled by the heat insulating casing, and the heat test device 19 was carried in the device. An elevator unit 9 that circulates and moves the product 36 in the vertical direction and the horizontal direction in order to maintain the product 36 in a device set at a predetermined temperature for a certain period of time, and a heating coil unit 20 that overheats the device 36 to a predetermined high temperature. It comprises and comprises.

上記搬入口24の前面には装置内の設定温度を維持すべくエアシリンダー29により開閉を行う搬入口シャッター25を設け、同様に搬出口26の前面には搬出口シャッター27を設ける。  A carry-in shutter 25 that is opened and closed by an air cylinder 29 is provided in front of the carry-in port 24 to maintain a set temperature in the apparatus, and similarly, a carry-out shutter 27 is provided in front of the carry-out port 26.

また、上記加熱コイルユニット20は、加熱ファン21とヒーター22及び吹出グリル23を連接して構成する。  The heating coil unit 20 is configured by connecting a heating fan 21, a heater 22, and a blowing grill 23.

上記エレベーターユニット9は、複数個の製品36を一列に載置したトレー35を複数段架け渡して上昇させる上昇エレベーター10と、複数個の製品36を一列に載置したトレー35を複数段架け渡して下降させる下降エレベーター11と、前記上昇エレベーター10の最上部において当該位置にあるトレー35を下降エレベーター11の最上部に移動させる移動手段と、前記下降エレベーター11の最上部に移動したトレー35上の製品36を当該トレー35上において1個ずつ隣に移動させる移動手段と、前記下降エレベーター11の最下部において当該位置にあるトレー35を上昇エレベーター10の最下部に移動させる移動手段とを具備して構成する。  The elevator unit 9 includes a lift elevator 10 that raises a plurality of trays 35 on which a plurality of products 36 are placed in a row, and a plurality of trays 35 on which a plurality of products 36 are placed in a row. The lowering elevator 11 to be lowered, the moving means for moving the tray 35 at the uppermost part of the raising elevator 10 to the uppermost part of the lowering elevator 11, and the tray 35 moved to the uppermost part of the lowering elevator 11 A moving means for moving the products 36 next to each other on the tray 35 one by one, and a moving means for moving the tray 35 at the position at the lowermost part of the descending elevator 11 to the lowermost part of the ascending elevator 10 are provided. Constitute.

上記上昇エレベーター10は、エレベーターユニット9の上部に設置された上昇用モーター30にて駆動され、下降エレベーター11は、エレベーターユニット9の上部に設置された下降用モーター31にて駆動される。なお、前記上昇用モーター30及び下降用モーター31は、低温又は高温の装置内でも安定動作を行わせるべく断熱保護される。  The lift elevator 10 is driven by a lift motor 30 installed at the top of the elevator unit 9, and the lift elevator 11 is driven by a lift motor 31 installed at the top of the elevator unit 9. The ascending motor 30 and the descending motor 31 are insulated and protected so as to perform stable operation even in a low-temperature or high-temperature apparatus.

図3は冷却試験装置及び加熱試験装置に内蔵するエレベーターユニット内の上昇エレベーター動作説明図であり、上記上昇用モーター30にて回転駆動される左右のギア33のチェーン32に固定された受け金具34に、複数個の製品36を載置したトレー35を複数段架け渡した状態を示している。該図において、上昇エレベーター10が図示しない制御装置にて上昇指令を受けると、上昇用モーター30にてギア33を図中矢印方向に回転させることにより、トレー35が上方(Y方向)に一段分上昇移動する。次に、最上部にあるトレー35は図示しないエアシリンダーにて後方(Z方向)すなわち下降エレベーター11の最上部に水平移動する。  FIG. 3 is an explanatory diagram of the elevator operation in the elevator unit built in the cooling test apparatus and the heating test apparatus. The bracket 34 is fixed to the chains 32 of the left and right gears 33 that are driven to rotate by the elevator motor 30. FIG. 5 shows a state in which a plurality of trays 35 on which a plurality of products 36 are placed are laid over a plurality of stages. In this figure, when the lift elevator 10 receives a lift command from a control device (not shown), the tray 35 is moved upward (in the Y direction) by rotating the gear 33 in the direction of the arrow by the lift motor 30. Move up. Next, the tray 35 at the uppermost part moves horizontally (in the Z direction), that is, to the uppermost part of the descending elevator 11 by an air cylinder (not shown).

次に、図4は冷却試験装置及び加熱試験装置に内蔵するエレベーターユニット内における製品の移動状態説明図であり、上昇エレベーター及び下降エレベーターによるトレー35の移動状態と、前記トレー35に載置した製品36の移動状態を説明する。  Next, FIG. 4 is an explanatory diagram of the movement state of the product in the elevator unit built in the cooling test apparatus and the heating test apparatus. The movement state of the tray 35 by the ascending elevator and the descending elevator and the product placed on the tray 35. 36 movement states will be described.

まず(I)に示すように、例えば加熱試験装置19のエレベーターユニット9において、トレー35aが加熱試験装置19の搬入口24と搬出口26の前面にあるとき、ラインに設置された搬入用のエアシリンダー及びエアチャック等により試験前の製品36aが搬入口24よりトレー35aの右端部に載置される。該位置は常に製品36が無い状態となっている。また、搬出用のエアシリンダー及びエアチャック等により試験済の製品36bが搬出口26よりトレー35aの左端部より搬出される。このとき、別のトレー35bは上昇エレベーターの最上部の1つ前にあり、トレー35cは下降エレベーターの最下部の1つ前にあるとする。  First, as shown in (I), for example, in the elevator unit 9 of the heating test device 19, when the tray 35 a is in front of the carry-in port 24 and the carry-out port 26 of the heat test device 19, carry-in air installed in the line. The product 36a before the test is placed on the right end of the tray 35a from the carry-in port 24 by a cylinder, an air chuck, or the like. The position is always in a state where there is no product 36. Further, the tested product 36b is carried out from the left end portion of the tray 35a from the carry-out port 26 by a carry-out air cylinder, an air chuck or the like. At this time, it is assumed that another tray 35b is in front of the uppermost part of the lifting elevator, and the tray 35c is in front of the lowermost part of the lowering elevator.

次に(II)に示すように、上記操作後に搬入口24及び搬出口26を閉じ、上昇エレベーターを1段分上昇させると共に下降エレベーターを1段分下降させる。このとき、トレー35a,35bは1段分上昇移動し、特にトレー35bは上昇エレベーターの最上部に位置し、トレー35cは1段分下降移動して最下部に位置する。  Next, as shown in (II), after the above operation, the carry-in port 24 and the carry-out port 26 are closed, and the lift elevator is raised by one step and the drop elevator is lowered by one step. At this time, the trays 35a and 35b are moved up by one stage, in particular, the tray 35b is positioned at the top of the lift elevator, and the tray 35c is moved down by one stage and positioned at the bottom.

次に(III)に示すように、上昇エレベーターの最上部にあるトレー35bをエアシリンダー(図示せず)にて下降エレベーターの最上部に水平移動させ、下降エレベーターの最下部にあるトレー35cをエアシリンダー(図示せず)にて上昇エレベーターの最下部に水平移動させる。  Next, as shown in (III), the tray 35b at the top of the lift elevator is horizontally moved to the top of the lift by an air cylinder (not shown), and the tray 35c at the bottom of the lift is moved to the air. A cylinder (not shown) is moved horizontally to the bottom of the lift elevator.

次に(IV)に示すように、下降エレベーターの最上部に移動したトレー35bに載置された複数の商品36を当該トレー35b上において一つずつ隣に移動させる。  Next, as shown in (IV), the plurality of products 36 placed on the tray 35b moved to the top of the descending elevator are moved to the next one by one on the tray 35b.

その後(V)に示すように、下降エレベーターを一段分下降させると共に上昇エレベーターを一段分上昇させる。このとき、図示しない新たなトレー35が搬入口24と搬出口26の前面に来る。そして、上述の一連の操作が再び行われ、製品36が一個ずつ連続して試験されることになる。  Thereafter, as shown in (V), the descending elevator is lowered by one step and the rising elevator is raised by one step. At this time, a new tray 35 (not shown) comes to the front of the carry-in port 24 and the carry-out port 26. Then, the series of operations described above is performed again, and the products 36 are continuously tested one by one.

なお、図1のラインにおいては冷却試験装置1の次工程に低温試験台18が設置され、加熱試験装置19の次工程に高温試験台28が設置されている。前記低温試験台18は冷却試験装置1から搬出された低温度試験済の製品36の動作試験を行い、高温試験台28は加熱試験装置19から搬出された高温度試験済の製品36の動作試験を行うためのものである。従って、冷却試験装置1及び加熱試験装置19内にて動作試験が行えるように動作試験装置を内蔵すれば、前記低温試験台18及び高温試験台28は不要となる。  In the line of FIG. 1, a low-temperature test stage 18 is installed in the next process of the cooling test apparatus 1, and a high-temperature test stage 28 is installed in the next process of the heating test apparatus 19. The low-temperature test stand 18 performs an operation test on the low-temperature-tested product 36 carried out from the cooling test apparatus 1, and the high-temperature test stand 28 performs an operation test on the high-temperature-tested product 36 carried out from the heating test apparatus 19. Is for doing. Therefore, if the operation test apparatus is built in so that the operation test can be performed in the cooling test apparatus 1 and the heating test apparatus 19, the low temperature test table 18 and the high temperature test table 28 are not necessary.

以上のようなシステム構成によれば、予め低温度に設定した冷却試験装置1と予め高温度に設定した加熱試験装置19をインライン化し、前記装置内に製品36を搬入搬出させるだけで低温から高温までの温度変化の急峻な温度衝撃試験を自動且つ連続で行うことができる。また、動作検査も連続で行えるため、検査時の温度を均一させて行える。また、搬送動作もエレベーターユニット9及びエアシリンダーにより単純で信頼性が高く、更には2機の冷却コイルユニット2,3の交互運転により長時間に渡る低温試験を行うことができる。  According to the system configuration as described above, the cooling test apparatus 1 set at a low temperature in advance and the heating test apparatus 19 set at a high temperature in-line are inlined, and the product 36 is simply carried into and out of the apparatus from a low temperature to a high temperature. The temperature shock test with a steep temperature change can be performed automatically and continuously. In addition, since the operation inspection can be performed continuously, the temperature during the inspection can be made uniform. Further, the conveying operation is simple and highly reliable by the elevator unit 9 and the air cylinder, and furthermore, a low temperature test for a long time can be performed by alternately operating the two cooling coil units 2 and 3.

本考案の自動温度衝撃試験システムを構成する冷却試験装置及び加熱試験装置の平面断面模式図である。It is a plane cross-sectional schematic diagram of the cooling test apparatus and heating test apparatus which comprise the automatic temperature impact test system of this invention. 本考案の自動温度衝撃試験システムを構成する冷却試験装置の側面断面模式図である。It is a side cross-sectional schematic diagram of the cooling test apparatus which comprises the automatic temperature impact test system of this invention. 冷却試験装置及び加熱試験装置に内蔵するエレベーターユニット内の上昇エレベーター動作説明図である。It is a lift elevator operation explanatory drawing in the elevator unit incorporated in a cooling test device and a heating test device. 冷却試験装置及び加熱試験装置に内蔵するエレベーターユニット内における製品の移動状態説明図である。It is explanatory drawing of the movement state of the product in the elevator unit incorporated in a cooling test apparatus and a heating test apparatus. 本考案の自動温度衝撃試験システムを構成する冷却試験装置内のダンパー動作説明図である。It is damper operation explanatory drawing in the cooling test apparatus which comprises the automatic temperature shock test system of this invention.

符号の説明Explanation of symbols

1 冷却試験装置
2 冷却コイルユニットA
3 冷却コイルユニットB
4 後方ダンパー
5 冷却コイル
6 再熱ヒーター
7 冷却ファン
8 前方ダンパー
9 エレベーターユニット
10 上昇エレベーター
11 下降エレベーター
12 搬入移送機
13 搬入口
14 搬入口シャッター
15 搬出移送機
16 搬出口
17 搬出口シャッター
18 低温試験台
19 加熱試験装置
20 加熱コイルユニット
21 加熱ファン
22 ヒーター
23 吹出グリル
24 搬入口
25 搬入口シャッター
26 搬出口
27 搬出口シャッター
28 高温試験台
29 エアシリンダー
30 上昇用モーター
31 下降用モーター
32 チェーン
33 ギア
34 受け金具
35 トレー
36 製品
37 ルーバー
1 Cooling test equipment 2 Cooling coil unit A
3 Cooling coil unit B
4 Rear damper 5 Cooling coil 6 Reheat heater 7 Cooling fan 8 Front damper 9 Elevator unit 10 Lift elevator 11 Lower elevator 12 Carry-in transporter 13 Carry-in entrance 14 Carry-in entrance shutter 15 Carry-out transporter 16 Cargo-out exit 17 Cargo exit shutter 18 Low temperature test Table 19 Heating test device 20 Heating coil unit 21 Heating fan 22 Heater 23 Blowout grill 24 Carrying in port 25 Carrying in port shutter 26 Carrying out port 27 Carrying out port shutter 28 High temperature test table 29 Air cylinder 30 Lifting motor 31 Lowering motor 32 Chain 33 Gear 34 Bracket 35 Tray 36 Product 37 Louver

Claims (3)

ラインより製品を搬入する搬入口及びラインに製品を搬出する搬出口と、搬入された製品を所定温度に設定した装置内に一定時間維持すべく製品を上下方向及び左右方向に循環移動させるエレベーターユニットと、当該装置内を所定の低温度に冷却する冷却コイルユニットとを具備した低温試験装置と、ラインより製品を搬入する搬入口及びラインに製品を搬出する搬出口と、搬入された製品を所定温度に設定した装置内に一定時間維持すべく製品を上下方向及び左右方向に循環移動させるエレベーターユニットと、当該装置内を所定の高温度に過熱する加熱コイルユニットとを具備した高温試験装置とを連続配置させてラインに組み込むことを特徴とした、自動温度衝撃試験システム。  Elevator unit that circulates and moves products up and down and left and right in order to keep them for a certain period of time in an apparatus that carries products from the line and exits that carry products to the line And a low-temperature test apparatus comprising a cooling coil unit that cools the inside of the apparatus to a predetermined low temperature, a carry-in port for carrying the product from the line, a carry-out port for carrying the product out to the line, and a predetermined amount of the carried product An elevator unit that circulates and moves the product in the vertical direction and the horizontal direction in order to maintain a constant time in the apparatus set to a temperature, and a high-temperature test apparatus that includes a heating coil unit that overheats the apparatus to a predetermined high temperature. An automatic thermal shock test system characterized by being continuously arranged and incorporated into the line. 上記エレベーターユニットは、複数個の製品を一列に載置したトレーを複数段架け渡して上昇させる上昇エレベーターと、複数個の製品を一列に載置したトレーを複数段架け渡して下降させる下降エレベーターと、前記上昇エレベーターの最上部において当該位置にあるトレーを下降エレベーターの最上部に移動させる移動手段と、前記下降エレベーターの最上部に移動したトレー上の製品を当該トレー上において一個ずつ隣に移動させる移動手段と、前記下降エレベーターの最下部において当該位置にあるトレーを上昇エレベーターの最下部に移動させる移動手段とを具備して構成することを特徴とした、請求項1に記載の自動温度衝撃試験システム。  The elevator unit includes a lift elevator that lifts a plurality of trays with a plurality of products placed in a row, and a lift elevator that lifts and lowers a tray with a plurality of products placed in a row. Moving means for moving the tray at the uppermost position of the lift elevator to the uppermost position of the lowering elevator, and moving products on the tray moved to the uppermost position of the lowering elevator one by one on the tray. The automatic temperature shock test according to claim 1, further comprising moving means and moving means for moving a tray at the position at the lowest part of the descending elevator to the lowest part of the raising elevator. system. 上記冷却コイルユニットは、低温試験装置内において2機設置し、一方の冷却コイルユニットの運転中において他方の冷却コイルユニットの除霜を行い、前記動作を交互に繰り返して冷却コイルユニットの運転を行うことを特徴とした、請求項1に記載の自動温度衝撃試験システム。  Two cooling coil units are installed in the low-temperature test apparatus, the other cooling coil unit is defrosted during the operation of one cooling coil unit, and the operation is repeated by repeating the above operation alternately. The automatic temperature shock test system according to claim 1, wherein
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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CN114273268A (en) * 2021-12-29 2022-04-05 中国振华(集团)新云电子元器件有限责任公司(国营第四三二六厂) Test apparatus and method

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