JP3121776B2 - Modulation signal generator - Google Patents
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Description
【０００１】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、自動車電話システ
ム、携帯電話システム、簡易携帯電話システム等のデジ
タル通信システムに組込まれている各種電子装置に対し
て変調試験信号を印加して試験するための変調信号発生
装置に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a test for applying a modulation test signal to various electronic devices incorporated in a digital communication system such as an automobile telephone system, a portable telephone system, and a simple portable telephone system. The present invention relates to a modulation signal generator.
【０００２】[0002]
【従来の技術】デジタル通信システムにおいて送受信さ
れる信号は一般に搬送波信号を伝送データで変調した変
調信号である。したがって、このデジタル通信システム
に組込まれている各種電子装置の性能を測定する場合に
は、図７に示すように、変調信号発生装置１で変調試験
信号ａを作成して、この変調試験信号ａを被測定装置２
へ印加し、この被測定装置２の出力信号ｂを測定装置３
へ入力する。そして、この測定装置３で被測定装置２の
各種性能を測定する。2. Description of the Related Art Generally, a signal transmitted and received in a digital communication system is a modulated signal obtained by modulating a carrier signal with transmission data. Therefore, when measuring the performance of various electronic devices incorporated in the digital communication system, as shown in FIG. 7, a modulation test signal a is created by the modulation signal generator 1 and the modulation test signal a Is the device under test 2
And the output signal b of the device under test 2 is
Enter Then, various performances of the device under test 2 are measured by the measuring device 3.
【０００３】例えば、被測定装置２が電力増幅器の場
合、測定装置３は被測定装置２の出力信号ｂをスペクト
ラム解析すると、図８に示すように、変調試験信号ａの
搬送波周波数ｆC を中心とする破線で示すスペクトル特
性Ｂが得られる。このスペクトル特性Ｂには、当然、変
調試験信号ａ自体が有するスペクトル特性Ａが含まれ
る。この変調試験信号ａのスペクトル特性Ａは変調信号
発生装置１の特性に依存する所が多い。For example, if the measured device 2 of the power amplifier, the center when the measurement device 3 to spectrum analysis the output signal b of the measuring device 2, as shown in FIG. 8, the carrier frequency f C of the modulated signal a A spectrum characteristic B indicated by a broken line is obtained. This spectrum characteristic B naturally includes the spectrum characteristic A of the modulation test signal a itself. The spectrum characteristic A of the modulation test signal a often depends on the characteristic of the modulation signal generator 1.
【０００４】このように変調試験信号ａのスペクトル特
性Ａは一様でないので、変調信号発生装置１から出力さ
れる変調試験信号ａのスペクトル特性Ａを別途測定装置
３で予め測定しておき、出力信号ｂのスペクトル特性Ｂ
から変調試験信号ａのスペクトル特性Ａを減算すること
によって、被測定装置２である電力増幅器の非線形特性
を示す電力増幅器単体のスペクトル特性が得られる。Since the spectrum characteristic A of the modulation test signal a is not uniform as described above, the spectrum characteristic A of the modulation test signal a output from the modulation signal generator 1 is separately measured by the measuring device 3 in advance, and the output is measured. Spectral characteristic B of signal b
By subtracting the spectrum characteristic A of the modulation test signal a from the above, the spectrum characteristic of the power amplifier alone showing the nonlinear characteristic of the power amplifier as the device under test 2 is obtained.
【０００５】このように、被測定装置２の測定対象特性
毎に、変調信号発生装置１から出力される変調試験信号
ａ自体が有する各種特性を予め測定しておく必要があ
る。上記デジタル通信システムに使用される各種電子装
置の性能を測定するに際して、変調試験信号ａの予め測
定しておくべき特性として、図９（ａ）に示す電力確率
密度特性がある。As described above, it is necessary to previously measure various characteristics of the modulation test signal a itself output from the modulation signal generator 1 for each measurement target characteristic of the device under test 2. In measuring the performance of various electronic devices used in the digital communication system, a characteristic to be measured in advance of the modulation test signal a is a power probability density characteristic shown in FIG.
【０００６】この電力確率密度特性においては、変調試
験信号ａの各振幅値ｘ（電力値）と、各振幅値ｘの出現
頻度を示す電力確率密度Ｐ（ｘ）との関係を示す。この
変調試験信号ａの電力確率密度Ｐ（ｘ）は、当然、被測
定装置２である電力増幅器の図９（ｂ）で示す非線形特
性に影響を及ぼす。この非線形特性は、図示するよう
に、入力信号振幅ｘと出力信号振幅ｘ0 との関係を示し
ている。したがって、この特性における線形動作領域
は、当然、変調試験信号ａの電力確率密度Ｐ（ｘ）に大
きく影響される。In this power probability density characteristic, the relationship between each amplitude value x (power value) of the modulation test signal a and the power probability density P (x) indicating the frequency of occurrence of each amplitude value x is shown. The power probability density P (x) of the modulation test signal a naturally affects the non-linear characteristic shown in FIG. This non-linear characteristic indicates the relationship between the input signal amplitude x and the output signal amplitude x 0 as shown. Therefore, the linear operation region in this characteristic is naturally greatly affected by the power probability density P (x) of the modulation test signal a.
【０００７】さらに、各種電子装置の性能を測定するに
際して、変調試験信号ａの予め測定しておくべき他の特
性として、実行値電力、変調度等が考えられる。この変
調信号発生装置１から出力される変調試験信号ａ自体が
有する各種特性を測定する変調信号解析装置は、当然、
測定装置３の測定精度以上の測定精度が要求される。す
なわち、仮に、変調信号解析装置が測定装置３より低い
測定精度を有してした場合、測定装置３で得られた特性
から変調信号解析装置で測定された特性を減算して得ら
れる被測定装置２の特性の測定精度は変調信号解析装置
の測定精度で定まるからである。Further, when measuring the performance of various electronic devices, other characteristics that should be measured in advance of the modulation test signal a include an effective value power, a modulation factor, and the like. A modulation signal analyzer that measures various characteristics of the modulation test signal a itself output from the modulation signal generator 1 is, of course,
Measurement accuracy higher than the measurement accuracy of the measurement device 3 is required. That is, if the modulation signal analyzer has a measurement accuracy lower than that of the measurement device 3, the device under test obtained by subtracting the characteristic measured by the modulation signal analysis device from the characteristic obtained by the measurement device 3 This is because the measurement accuracy of the characteristic 2 is determined by the measurement accuracy of the modulation signal analyzer.
【０００８】図１０は、変調信号発生装置１とこの変調
信号発生装置１から出力された高周波信号の変調試験信
号ａの各種特性を測定する変調信号解析装置４の概略構
成を示すブブロック図である。FIG. 10 is a block diagram showing a schematic configuration of a modulation signal generator 1 and a modulation signal analyzer 4 for measuring various characteristics of a modulation test signal a of a high-frequency signal output from the modulation signal generator 1. .
【０００９】変調信号発生装置１において、ベースバン
ド信号発生器５から出力されたデジタルのベースバンド
信号Ｉ，Ｑは次のＤ／Ａ変換器６でアナログのベースバ
ンド信号Ｉ1 ，Ｑ1 へ変換され、ＬＰＦ７で不要周波数
成分が除去されたのち、直交変調器８へ入力される。直
交変調器８は入力された不要周波数成分が除去された後
のアナログのベースバンド信号Ｉ2 ，Ｑ2 を直交変調し
て中間周波数の変調試験信号ａ1 （ＩＦ信号）として次
の信号合成器（ＭＩＸ）９へ送出する。信号合成器９は
局部発振器（ＬＯ−ＯＳＣ）１０から出力された搬送波
信号ｃを変調試験信号ａ1 で変調して、高周波の変調試
験信号ａとして外部へ出力する。In the modulation signal generator 1, the digital baseband signals I and Q output from the baseband signal generator 5 are converted into analog baseband signals I 1 and Q 1 by the following D / A converter 6. After the unnecessary frequency component is removed by the LPF 7, the signal is input to the quadrature modulator 8. The quadrature modulator 8 quadrature-modulates the analog baseband signals I 2 and Q 2 from which the unnecessary unnecessary frequency components have been removed and converts them into an intermediate frequency modulation test signal a 1 (IF signal). (MIX) 9. Signal combiner 9 to modulate a carrier signal c output from the local oscillator (LO-OSC) 10 in the modulated test signal a 1, and outputs it to the outside as a high-frequency modulated test signal a.
【００１０】変調信号発生装置１から出力された変調試
験信号ａは変調信号解析装置４へ入力される。変調信号
発生装置４へ入力された変調試験信号ａは信号合成器
（ＭＩＸ）１１で局部発振器（ＬＯ−ＯＳＣ）１２から
出力された中間周波数信号ｄで中間周波数の変調試験信
号ａ3 へ変換されて、直交復調器１３へ送出される。The modulation test signal a output from the modulation signal generator 1 is input to the modulation signal analyzer 4. The modulation test signal a input to the modulation signal generator 4 is converted into an intermediate frequency modulation test signal a 3 by an intermediate frequency signal d output from a local oscillator (LO-OSC) 12 by a signal combiner (MIX) 11. Is sent to the quadrature demodulator 13.
【００１１】直交復調器１３は入力されたアナログの変
調試験信号ａ3 をアナログのベースバンド信号Ｉ3 ，Ｑ
3 へ復調する。復調されたベースバンド信号Ｉ3 ，Ｑ3
はＬＰＦ１４で不要周波数成分が除去されて、Ａ／Ｄ変
換器１５へ入力される。Ａ／Ｄ変換器１５は入力された
ベースバンド信号Ｉ4 ，Ｑ4 をデジタルのベースバンド
信号Ｉ5 ，Ｑ5 へ変換してメモリ１６へ書込む。The quadrature demodulator 13 converts the input analog modulation test signal a 3 into analog baseband signals I 3 and Q 3 .
Demodulates to 3 . Demodulated baseband signals I 3 , Q 3
Are input to the A / D converter 15 after unnecessary frequency components are removed by the LPF 14. The A / D converter 15 converts the input baseband signals I 4 and Q 4 into digital baseband signals I 5 and Q 5 and writes them into the memory 16.
【００１２】変調精度解析器１７は、メモリに書込まれ
たベースバンド信号Ｉ5 ，Ｑ5 の各データ値を用いて変
調試験信号ａの変調精度を算出する。また、スペクトラ
ム解析器１８は、信号合成器１１から出力された中間周
波数のアナログの変調試験信号ａ3 を取込んで、例えば
図８に示す変調試験信号ａ自体のスペクトル特性Ａを求
める。The modulation accuracy analyzer 17 calculates the modulation accuracy of the modulation test signal a using the data values of the baseband signals I 5 and Q 5 written in the memory. Further, the spectrum analyzer 18, by captures and modulated test signal a 3 analog intermediate frequency output from the signal combiner 11 obtains the spectral characteristics A of the modulated signal a itself shown in FIG. 8, for example.
【００１３】電力確率密度解析器１９は、信号合成器１
１から出力された中間周波数のアナログの変調試験信号
ａ3 を取込んで、例えば図９（ａ）に示す電力確率密度
特性を求める。The power probability density analyzer 19 includes the signal synthesizer 1
It crowded preparative modulated test signal a 3 of the intermediate frequency of the analog output from 1, obtains the power probability density characteristics shown in FIG. 9 (a), for example.
【００１４】変調精度解析器１７で得られた変調精度、
スペクトラム解析器１８で得られたスペクトル特性Ａ及
び及び電力確率密度解析器１９で得られた電力確率密度
特性はそれぞれ測定結果表示器２０に表示出力される。The modulation accuracy obtained by the modulation accuracy analyzer 17;
The spectrum characteristic A obtained by the spectrum analyzer 18 and the power probability density characteristic obtained by the power probability density analyzer 19 are displayed on the measurement result display 20.
【００１５】[0015]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、図１０
に示す変調信号発生装置１から出力された変調試験信号
ａの各種特性を別途設置された変調信号解析器４で解析
する手法においても、まだ解消すべき次のような課題が
あった。However, FIG.
However, in the technique of analyzing the various characteristics of the modulation test signal a output from the modulation signal generator 1 by the separately provided modulation signal analyzer 4, the following problem still needs to be solved.
【００１６】すなわち、変調信号解析器４に組込まれた
変調精度解析器１７，スペクトラム解析器１８，電力確
率密度解析器１９は、変調信号発生装置１の純度（性
能）を評価するのに十分な性能を有する必要がある。That is, the modulation accuracy analyzer 17, the spectrum analyzer 18, and the power probability density analyzer 19 incorporated in the modulation signal analyzer 4 are sufficient for evaluating the purity (performance) of the modulation signal generator 1. Must have performance.
【００１７】しかし、変調信号解析器４の構成は、図１
０から理解できるように、ちようど変調信号発生装置１
の構成の逆処理を行うための構成であり、中間周波数の
変調試験信号ａ1 の各特性を測定するにしても、結果と
して２つの信号合成器９，１１に信号を通過させること
になる。変調信号発生装置１に組込まれる信号合成器９
は非常に線形性に優れたものが採用されており、中間周
波数の変調試験信号ａ1 （ＩＦ信号）を歪ませることな
く高周波の変調試験信号ａ（ＲＦ信号）に変換すること
が可能である。However, the configuration of the modulation signal analyzer 4 is shown in FIG.
As can be understood from FIG.
A configuration for performing an inverse process of the construction, even if the measuring each characteristic of the modulated test signal a 1 of the intermediate frequency, so that passing the resulting signal into two signals combiner 9, 11. Signal synthesizer 9 incorporated in modulated signal generator 1
Is used, which is very excellent in linearity, and can convert the intermediate frequency modulation test signal a 1 (IF signal) into a high frequency modulation test signal a (RF signal) without distortion. .
【００１８】また、局部発振器においても、変調信号発
生装置１には位相雑音などの性能が優れた局部発振器１
０が採用されている。このため、中間周波数の変調試験
信号ａ1 （ＩＦ信号）の純度（性能）は高周波の変調試
験信号ａ（ＲＦ信号）の純度（性能）とさほど変化はな
い。Also, in the local oscillator, the modulated signal generator 1 has a local oscillator 1 having excellent performance such as phase noise.
0 has been adopted. For this reason, the purity (performance) of the modulation test signal a 1 (IF signal) of the intermediate frequency is not so different from the purity (performance) of the modulation test signal a (RF signal) of the high frequency.
【００１９】このような高性能の部品が採用された変調
信号発生装置１に対して、変調信号解析装置４に組込ま
れた信号合成器１１や局部発振器１２の性能は測定に使
用する変調信号解析装置４毎に異なり、最悪の場合、変
調信号発生装置１の信号合成器９や局部発振器１０の性
能を大きく下回ることになる。In contrast to the modulation signal generator 1 employing such high-performance components, the performance of the signal synthesizer 11 and the local oscillator 12 incorporated in the modulation signal analyzer 4 is based on the modulation signal analysis used in the measurement. The performance differs from one device 4 to another, and in the worst case, the performance of the signal synthesizer 9 or the local oscillator 10 of the modulation signal generator 1 is significantly lower.
【００２０】このような事態が生じると、変調信号発生
装置１の純度（性能）、すなわち変調試験信号ａの精度
が、変調信号解析装置４の性能限界で評価されてしまう
懸念がある。When such a situation occurs, there is a concern that the purity (performance) of the modulation signal generator 1, that is, the accuracy of the modulation test signal a is evaluated at the performance limit of the modulation signal analyzer 4.
【００２１】また、被測定装置２を測定する場合に、変
調信号発生装置１と変調信号解析装置４との２台の装置
を測定現場に搬入して、両者を接続して測定操作を行う
作業が非常に煩雑であり、測定作業能率が低下する。When measuring the device under test 2, two devices, a modulation signal generator 1 and a modulation signal analyzer 4, are loaded into the measurement site and connected to perform a measurement operation. Is very complicated, and the measurement work efficiency is reduced.
【００２２】さらに、前述したように、変調信号解析装
置４内には、入力した変調試験信号ａの各特性を測定す
るために、変調信号発生装置１における信号の処理の流
れと逆方向の各処理を実施するための信号合成器１１、
直交復調器１３、Ａ／Ｄ変換器１５等が組込まれてお
り、一見、非常に無駄な処理を実施しているように思え
る。Further, as described above, in order to measure each characteristic of the inputted modulation test signal a, each of the modulation signal analyzer 4 has a signal processing device 1 in a direction opposite to the signal processing flow in the modulation signal generator 1. A signal synthesizer 11 for performing the processing,
The quadrature demodulator 13, the A / D converter 15, and the like are incorporated, and at first glance, it seems that very wasteful processing is being performed.
【００２３】また、デジタル通信システムがＣＤＭＡ通
信方式を採用している場合においては、複数チャネルの
多重波である変調試験信号ａを変調信号発生装置１で作
成する場合、任意の１チャネルを測定対象チャネルとし
てこの測定対象チャネルの電力に対するそれ以外の各チ
ャネルの電力比（すなわちＳ／Ｎ比）を評価することが
必要となる。これは図１１の受信感度特性に示すよう
に、受信感度の試験において、任意のＳ／Ｎ比において
復調誤り率（％）を評価する必要があるからである。In the case where the digital communication system adopts the CDMA communication system, when a modulation test signal a, which is a multiplex wave of a plurality of channels, is generated by the modulation signal generator 1, an arbitrary one channel is measured. As a channel, it is necessary to evaluate the power ratio (ie, S / N ratio) of each of the other channels to the power of this measurement target channel. This is because it is necessary to evaluate the demodulation error rate (%) at an arbitrary S / N ratio in the reception sensitivity test, as shown in the reception sensitivity characteristics of FIG.
【００２４】このような変調試験信号ａにおける測定対
象チャネルのＳ／Ｎ比を評価する場合は復調しようとす
る任意のチャネルの電力をまず変調信号発生装置１の高
周波出力（ＲＦ出力）段において測定し、さらにそれ以
外の妨害波となる各チャネルの電力を同じくＲＦ出力段
において測定し、Ｓ／Ｎ比を変更して受信感度の測定を
行うたびに校正する必要がある。When evaluating the S / N ratio of the channel to be measured in the modulation test signal a, the power of an arbitrary channel to be demodulated is first measured at the high frequency output (RF output) stage of the modulation signal generator 1. In addition, it is necessary to measure the power of each channel serving as other interfering waves at the RF output stage, and to calibrate every time the S / N ratio is changed and the reception sensitivity is measured.
【００２５】また、このＳ／Ｎ比を測定する測定装置と
して、変調信号発生装置１のＲＦ出力において電力を測
定するために電力計又はスペクトラム解析装置を用いる
のが一般的であった、よって、測定されたＳ／Ｎ比の精
度は、電力計の測定確度に依存することになる。As a measuring device for measuring the S / N ratio, a power meter or a spectrum analyzer is generally used to measure the power at the RF output of the modulation signal generating device 1. The accuracy of the measured S / N ratio will depend on the measurement accuracy of the wattmeter.
【００２６】また、変調信号発生装置１に対する検査、
修理が必要になったり、また、変調信号発生装置１に何
等かの異常か発生した場合は、変調信号解析装置４を用
いて、変調信号発生装置１から出力される高周波の変調
試験信号ａの変調精度、スペクトル特性、電力確率密度
等を測定し、測定結果が不良の場合は、順に中間周波数
段階の変調試験信号ａ1 、アナログのペースバンド信号
Ｉ2 ，Ｑ2 、ベースバンド発生器５のデジタルのベース
バンド信号Ｉ，Ｑの順に検査を実行していき、品質悪化
に起因する箇所を発見する。Inspection of the modulated signal generator 1
If repair is required or if there is any abnormality in the modulation signal generator 1, the modulation signal analyzer 4 is used to generate a high-frequency modulation test signal a output from the modulation signal generator 1. The modulation accuracy, spectrum characteristics, power probability density, and the like are measured. If the measurement results are bad, the modulation test signal a 1 at the intermediate frequency stage, the analog paceband signals I 2 and Q 2 , the baseband generator 5 Inspection is performed in the order of the digital baseband signals I and Q, and a portion caused by quality deterioration is found.
【００２７】この場合、要因発見のために多くの時間と
変調精度解析器やスペクトラム解析装置及び様々な検査
・修理治具を準備する必要があった。本発明はこのよう
な事情に鑑みてなされたものであり、出力される変調試
験信号を監視するための各種特性値を測定する各機能を
装置内部に組込むことによって、変調試験信号の各特性
を高い精度で測定でき、必要構成部品数を最小限に減少
でき、かつ測定作業の操作性を大幅に向上でき、さら
に、製造費を大幅に節減できる変調信号発生装置を提供
することを目的すとる。In this case, it was necessary to prepare a lot of time and modulation accuracy analyzers and spectrum analyzers and various inspection / repair jigs for finding the cause. The present invention has been made in view of such circumstances, and incorporates various functions for measuring various characteristic values for monitoring an output modulation test signal into the device, thereby enabling each characteristic of the modulation test signal to be measured. It is an object of the present invention to provide a modulation signal generator capable of measuring with high accuracy, minimizing the number of necessary components, greatly improving the operability of measurement work, and further reducing manufacturing costs. .
【００２８】[0028]
【課題を解決するための手段】本発明は、ベースバンド
信号発生器から出力されたＣＤＭＡ通信方式の各チャネ
ルのデータが組込まれたデジタルのベースバンド信号
を、Ｄ／Ａ変換器でＤ／Ａ変換したのち直交変調器で直
交変調し、さらに信号合成器で搬送波信号と信号合成し
て、高周波の変調試験信号として出力する変調信号発生
装置に適用される。SUMMARY OF THE INVENTION The present invention provides a digital baseband signal in which data of each channel of the CDMA communication system output from a baseband signal generator is incorporated into a digital / analog (D / A) converter. The signal is D / A-converted by a modulator, quadrature-modulated by a quadrature modulator, combined with a carrier signal by a signal synthesizer, and output as a high-frequency modulation test signal.
【００２９】そして、上記課題を解消するために、請求
項１においては、ベースバンド信号発生器から出力され
るデジタルのベースバンド信号を記憶するためのベース
バンド信号メモリと、このベースバンド信号メモリに記
憶されたベースバンド信号を用いてチャネルにおける信
号値／雑音値比を算出する特性算出手段と、この特性算
出手段にて算出されたチャネルにおける信号値／雑音値
比を高周波の変調試験信号の信号値／雑音値比として出
力する出力部とを備えている。In order to solve the above-mentioned problem, in the first aspect, a baseband signal memory for storing a digital baseband signal output from a baseband signal generator, and a baseband signal memory for storing the digital baseband signal. The signal in the channel is stored using the stored baseband signal.
Characteristic calculating means for calculating a signal value / noise value ratio , and a signal value / noise value in a channel calculated by the characteristic calculating means.
An output unit for outputting a ratio as a signal value / noise value ratio of a high-frequency modulation test signal.
【００３０】このように構成された変調信号発生装置に
おいては、この変調信号発生装置から出力される高周波
の変調試験信号の信号値／雑音値比は装置内に組込まれ
ているベースバンド信号発生器から出力されるデジタル
のベースバンド信号を用いて簡単に測定できる。In the modulation signal generator configured as described above, the high frequency output from the modulation signal generator is
Signal value / noise value ratio of the modulated test signal is easily measured using a digital baseband signal output from the baseband signal generator incorporated in the apparatus.
【００３１】また、請求項２の変調信号発生装置におい
ては、ベースバンド信号発生器から出力されるデジタル
のベースバンド信号を記憶するためのベースバンド信号
メモリと、ベースバンド信号発生器の選択されたチャネ
ルの出力と選択されない全てのチャネルの出力とを交互
にオン／オフ制御するチャネルオン／オフ制御手段と、
選択されたチャネルの出力期間中にベースバンド信号メ
モリに記憶されたベースバンド信号の平均値を信号値と
し、選択されない全てのチャネルの出力期間中に前記ベ
ースバンド信号メモリに記憶されたベースバンド信号の
平均値を雑音値として、選択されたチャネルのベースバ
ンド信号の信号値／雑音値比を算出するＳ／Ｎ比算出手
段と、このＳ／Ｎ比算出手段で算出された信号値／雑音
値比を高周波の変調試験信号の信号値／雑音値比として
出力する出力部とを備えている。In the modulation signal generator according to the present invention, a baseband signal memory for storing a digital baseband signal output from the baseband signal generator, and a baseband signal generator selected from the baseband signal memory and the baseband signal generator. Channel on / off control means for alternately on / off controlling the output of the channel and the output of all the non-selected channels;
The average value of the baseband signals stored in the baseband signal memory during the output period of the selected channel is used as the signal value, and the baseband signals stored in the baseband signal memory during the output periods of all unselected channels. S / N ratio calculating means for calculating the signal value / noise value ratio of the baseband signal of the selected channel using the average value of the noise values as the noise value, and the signal value / noise value calculated by the S / N ratio calculating means An output unit for outputting a ratio as a signal value / noise value ratio of a high-frequency modulation test signal.
【００３２】このように構成された変調信号発生装置に
おいては、装置から出力される高周波の変調試験信号に
おける選択されたチャネルのＳ／Ｎ比は、装置内に組込
まれているベースバンド信号発生器から出力されるデジ
タルのベースバンド信号を用いて簡単に測定できる。[0032] In thus constructed modulation signal generator in the S / N ratio of the channel selected in the high-frequency modulated test signal output from the apparatus, the baseband signal generator is incorporated in the apparatus Can be easily measured using the digital baseband signal output from the.
【００３３】すなわち、従来手法のように、変調信号発
生装置から実際に出力されている変調試験信号を電力計
やスペクトラム解析装置を用いる必要がないので、Ｓ／
Ｎ比の測定精度が向上する。That is, unlike the conventional method, there is no need to use a power meter or a spectrum analyzer for the modulation test signal actually output from the modulation signal generator.
The measurement accuracy of the N ratio is improved.
【００３４】請求項３の変調信号発生装置においては、
ベースバンド信号発生器から出力されるベースバンド信
号を記憶するためのベースバンド信号メモリと、このベ
ースバンド信号メモリの出力を受けて、ベースバンド信
号のスペクトラム特性又は電力確率密度のうちの少なく
とも一つを特性値として算出する特性算出手段と、この
特性算出手段にて算出された特性値を高周波の変調試験
信号を監視するためのデータとして出力する出力部とを
備えている。 このように構成された変調信号発生装置に
おいては、ベースバンド信号発生器から出力されるベー
スバンド信号におけるスペクトラム特性、電力確率密度
が算出される。 また、請求項４の変調信号発生装置にお
いては、直交変調器から出力された中間周波数の変調試
験信号をＡ／Ｄ変換するＡ／Ｄ変換器と、このＡ／Ｄ変
換された中間周波数の変調試験信号を記憶する変調試験
信号メモリと、この変調試験信号メモリに記憶された中
間周波数の変調試験信号の値を用いて中間周波数段階の
変調精度、スペクトラム特性又は電力確率密度のうちの
少なくとも一つを特性として算出する特性算出手段と、
この特性算出手段で算出された特性を高周波の変調試験
信号を監視するためのデータとして出力する出力部とを
備えている。 According to a third aspect of the present invention, there is provided a modulation signal generating apparatus, comprising:
Baseband signal output from baseband signal generator
Signal memory for storing the signal
The output of the baseband signal memory
Signal characteristic or power probability density
Characteristic calculating means for calculating one as a characteristic value,
The characteristic value calculated by the characteristic calculation means is subjected to a high-frequency modulation test.
An output unit for outputting as data for monitoring a signal.
Have. With the modulation signal generator configured as described above,
The baseband signal output from the baseband signal generator.
Spectrum characteristics and power probability density in band signals
Is calculated. Further, in the modulation signal generating device according to claim 4,
The modulation test of the intermediate frequency output from the quadrature modulator.
A / D converter for A / D converting a test signal, and the A / D converter
Modulation test for storing the converted intermediate frequency modulation test signal
Signal memory and the modulation test signal memory
Using the value of the modulation test signal at the intermediate frequency,
Of modulation accuracy, spectrum characteristics or power probability density
Characteristic calculating means for calculating at least one as a characteristic,
The characteristic calculated by the characteristic calculating means is subjected to a high-frequency modulation test.
An output unit for outputting as data for monitoring a signal.
Have.
【００３５】このように構成された変調信号発生装置に
おいては、高周波の変調試験信号に周波数変換される前
の直交変調器から出力された中間周波数段階の変調試験
信号を用いて変調精度、スペクトラム特性、電力確率密
度の各特性を算出している。In the modulation signal generator configured as described above, the modulation accuracy and spectrum characteristics are obtained by using the modulation test signal at the intermediate frequency stage output from the quadrature modulator before being frequency-converted into the high frequency modulation test signal. , Power probability density.
【００３６】すなわち、従来手法における信号合成器を
用いた搬送波周波数に周波数変換するアナログの信号処
理工程、及び変調信号発生装置から出力された変調試験
信号を中間周波数に周波数変換するアナログの信号処理
工程が除去されるので、上述した各特性の測定精度が向
上する。That is, an analog signal processing step of converting the frequency to a carrier frequency using a signal synthesizer in the conventional method, and an analog signal processing step of converting the frequency of a modulation test signal output from a modulation signal generator to an intermediate frequency Is removed, so that the measurement accuracy of each of the above-described characteristics is improved.
【００３７】請求項５は、請求項１の変調信号発生装置
に対して、さらに、直交変調器から出力された中間周波
数の変調試験信号又は直交変調器へ入力されるアナログ
のベースバンド信号を選択する選択手段と、この選択手
段で選択された信号をＡ／Ｄ変換するＡ／Ｄ変換器と、
このＡ／Ｄ変換された信号を記憶する入出力信号メモリ
と、選択手段が中間周波数の変調試験信号を選択した期
間中に入出力信号メモリに記憶された各データ値を用い
て算出した変調精度、スペクトラム特性又は電力確率密
度のうちの少なくとも一つからなる特性と、選択手段が
ベースバンド信号を選択した期間中に前記入出力信号メ
モリに記憶された各データ値を用いて算出したスペクト
ラム特性又は電力確率密度のうちの少なくとも一つから
なる特性と、ベースバンド信号発生器から出力されたベ
ースバンド信号の各データ値を用いて算出された信号値
／雑音値比とを基に変調信号発生装置の異常箇所を推定
する診断手段とを付加している。According to a fifth aspect of the present invention , there is provided a modulation signal generator according to the first aspect, further comprising an intermediate frequency output from a quadrature modulator.
Selecting means for selecting a number of modulation test signals or an analog baseband signal input to the quadrature modulator; an A / D converter for A / D converting the signal selected by the selecting means;
An input / output signal memory for storing the A / D-converted signal, and a modulation accuracy calculated using each data value stored in the input / output signal memory during a period when the selecting means selects the intermediate frequency modulation test signal. , Spectrum characteristics or power probability density
And a spectrum calculated using each data value stored in the input / output signal memory during a period in which the selection means selects the baseband signal.
From at least one of the ram characteristics or the power probability density
Consisting characteristics and baseband signal signal value calculated using each data value of the baseband signal output from the generator
And a diagnostic means for estimating an abnormal portion of the modulation signal generator based on the / noise value ratio .
【００３８】このように構成された変調信号発生装置に
おいては、この変調信号発生装置内における直交変調器
から出力される中間周波数の変調試験信号における変調
精度、スペクトラム特性、電力確率密度が特性として算
出される。また、直交変調器へ入力されるベースバンド
信号におけるスペクトラム特性、電力確率密度が特性と
して算出される。また、ベースバンド信号発生器から出
力されたベースバンド信号における信号値／雑音値比が
特性として算出される。 [0038] In thus constructed modulation signal generator in the modulation in the modulated test signal of an intermediate frequency output from the orthogonal modulator in the modulation signal generator device
Accuracy, spectrum characteristics, and power probability density are calculated as characteristics.
Will be issued. Also, the baseband input to the quadrature modulator
The spectrum characteristics and power probability density of the signal
Is calculated. Also, the output from the baseband signal generator
The signal value / noise ratio in the input baseband signal is
It is calculated as a characteristic.
【００３９】そして、この変調信号発生装置から出力さ
れる変調試験信号に何等かの異常が発生した場合は、こ
の装置内における変調試験信号の生成過程における各特
性値の良否を逆に辿ることによって、装置内における異
常発生箇所をある程度特定できる。If any abnormality occurs in the modulation test signal output from the modulation signal generating device, the quality of each characteristic value in the process of generating the modulation test signal in the device is checked by reversing the quality. In addition, it is possible to identify the location of the abnormality in the apparatus to some extent.
【００４０】[0040]
【発明の実施の形態】以下本発明の各実施形態を図面を
用いて説明する。 （第１実施形態）図１は本発明の第１実施形態に係わる
変調信号発生装置の概略構成を示すブロック図である。
図１０に示す変調信号発生装置１と同一部分には同一符
号が付してある。したがって、重複する部分の詳細説明
は省略する。Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. (First Embodiment) FIG. 1 is a block diagram showing a schematic configuration of a modulation signal generator according to a first embodiment of the present invention.
The same parts as those of the modulation signal generator 1 shown in FIG. 10 are denoted by the same reference numerals. Therefore, the detailed description of the overlapping part will be omitted.
【００４１】この第１実施形態におけるベースバンド信
号発生器５は、複数チャネルのデータをＣＤＭＡ（符号
分割多元接続）方式を用いて各チャネル毎に異なるＰＮ
パターン符号列でスペクトラム拡散して、そののち加算
して得られたデータをデジタルのベースバンド信号Ｉ，
Ｑとして出力する。The baseband signal generator 5 according to the first embodiment converts data of a plurality of channels into different PNs for each channel using a CDMA (code division multiple access) method.
The data obtained by spreading the spectrum with the pattern code string and then adding the resulting data is used as a digital baseband signal I,
Output as Q.
【００４２】ベースバンド信号発生器５から出力された
複数チャネルのデータが組込まれたデジタルのベースバ
ンド信号Ｉ，ＱはＤ／Ａ変換器６でアナログのベースバ
ンド信号Ｉ1 ，Ｑ1 へ変換され、ＬＰＦ７で不要周波数
成分が除去されたのち、直交変調器８へ入力される。直
交変調器８は入力された不要周波数成分が除去されたア
ナログのベースバンド信号Ｉ2 ，Ｑ2 を直交変調して中
間周波数の変調試験信号ａ1 として次の信号合成器（Ｍ
ＩＸ）９へ送出する。信号合成器９は局部発振器（ＬＯ
−ＯＳＣ）１０から出力された搬送波信号ｃと変調試験
信号ａ1 とを信号合成して、高周波の変調試験信号ａと
して外部へ出力する。The digital baseband signals I and Q into which the data of a plurality of channels output from the baseband signal generator 5 are incorporated are converted by the D / A converter 6 into analog baseband signals I 1 and Q 1 . , LPF 7 remove unnecessary frequency components, and then input to quadrature modulator 8. Quadrature modulator 8 next signal combiner as modulated test signal a 1 of orthogonally modulating the input analog unnecessary frequency component is removed baseband signals I 2, Q 2 intermediate frequency (M
IX) 9. The signal synthesizer 9 has a local oscillator (LO
- an OSC) 10 and the output carrier signal c and the modulated test signal a 1 and a signal synthesized from the outputs to the outside as a high-frequency modulated test signal a.
【００４３】この第１実施形態においては、ベースバン
ド信号発生器５から出力されるデジタルのベースバンド
信号Ｉ，Ｑの値を記憶するベースバンド信号メモリ２１
が形成されたデータメモリ２２が設けられている。この
データメモリ２２のベースバンド信号メモリ２１に記憶
されたベースバンド信号Ｉ，Ｑの値は解析部２３のＳ／
Ｎ比算出部２４で読取られる。チャネルオン／オフ制御
部２５は、解析部２３のＳ／Ｎ比算出部２４の指令に基
づいてベースバンド信号発生器５の前述したＣＤＭＡ方
式の各チャネルの出力をオン／オフ制御する。In the first embodiment, the baseband signal memory 21 stores the values of the digital baseband signals I and Q output from the baseband signal generator 5.
Is provided. The values of the baseband signals I and Q stored in the baseband signal memory 21 of the data memory 22
It is read by the N ratio calculation unit 24. The channel on / off control unit 25 controls on / off of the output of each channel of the above-described CDMA system of the baseband signal generator 5 based on a command of the S / N ratio calculation unit 24 of the analysis unit 23.
【００４４】例えば、図２に示すように、このチャネル
オン／オフ制御部２５で、チャネルＣＨ1 の一つのチャ
ネルのみをオンして、チャネルＣＨ2 からチャネルＣＨ
4 までの他の全てのチャネルをオフすると、ベースバン
ド信号発生器５から指定されたチャネルＣＨ1 のスペク
トラム拡散された情報のみが含まれるデジタルのベース
バンド信号Ｉ，Ｑが出力される。For example, as shown in FIG. 2, only one of the channels CH 1 is turned on by the channel on / off control unit 25, and the channel CH 2 is turned on.
When off all the other channels up to 4, the digital baseband signal I contained only spectrally spread information channels CH 1 designated from the baseband signal generator 5, Q is output.
【００４５】Ｓ／Ｎ比算出部２４で算出された選択され
たチャネルのＳ／Ｎ比は表示器２６へ表示出力される。
すなわち、この表示器２６には、図３に示すように、Ｓ
／Ｎ比算出部２４で算出されたチャネルのＳ／Ｎ比が、
高周波の変調試験信号ａのＳ／Ｎ比として表示される。The S / N ratio of the selected channel calculated by the S / N ratio calculator 24 is output to the display 26.
That is, as shown in FIG.
The S / N ratio of the channel calculated by the / N ratio calculation unit 24 is
It is displayed as the S / N ratio of the high frequency modulation test signal a.
【００４６】すなわち、この実施形態装置においては、
ベースバンド信号発生器５の出力におけるＳ／Ｎ比で外
部へ出力される高周波の変調試験信号ａのＳ／Ｎ比が決
定されることに着目している。なお、Ｓ／Ｎ比等の各用
語は、文献［スベクトラム拡散通信方式 ：日本技術経
済センター（株） 発行］に記載されている。That is, in this embodiment,
It is noted that the S / N ratio of the high-frequency modulation test signal a output to the outside is determined by the S / N ratio at the output of the baseband signal generator 5. The terms such as the S / N ratio are described in the literature [Spread Spectrum Communication System: Published by Japan Technology Economic Center Co., Ltd.].
【００４７】次に、Ｓ／Ｎ比算出部２４における測定対
象チャネルのＳ／Ｎ比の具体的算出処理手順を図４の流
れ図を用いて説明する。Ｓ（ステップ）１にて、チャネ
ルオン／オフ制御部２５を介してベースバンド信号発生
器５に対して、ＣＤＭＡ方式の各チャネルにおける測定
対象チャネルのみ出力し、測定対象チャネル以外の他の
チャネルの出力を停止する指令を送出する。すると、図
２の状態に示すように、ベースバンド信号発生器５から
測定対象チャネル（選択されたチャネル）のスペクトラ
ム拡散された情報のみが含まれるデジタルのベースバン
ド信号Ｉ，Ｑが出力されるので、このデジタルのベース
バンド信号Ｉ，Ｑの各データ値（以下、「信号データ列
ｘ（ｎ）」と称する）をデータメモリ２２のベースバン
ド信号メモリ２１へ書込む（Ｓ２）。この信号データ系
列ｘ（ｎ）におけるデータの時間的空間ｎ＝０〜ｎ＝Ｎ
までについて(1) 式を用いてＲＭＳ値Ｓrms を算出する
（Ｓ３）。Next, a specific calculation processing procedure of the S / N ratio of the channel to be measured in the S / N ratio calculation unit 24 will be described with reference to the flowchart of FIG. At S (step) 1, only the measurement target channel in each channel of the CDMA system is output to the baseband signal generator 5 via the channel on / off control unit 25, and the other channels other than the measurement target channel are output. Sends a command to stop output. Then, as shown in the state of FIG. 2, the baseband signal generator 5 outputs digital baseband signals I and Q including only the spread spectrum information of the measurement target channel (selected channel). Then, each data value of the digital baseband signals I and Q (hereinafter referred to as "signal data sequence x (n)") is written to the baseband signal memory 21 of the data memory 22 (S2). Temporal space n = 0 to n = N of data in this signal data series x (n)
Then, the RMS value S rms is calculated using the equation (1) (S3).
【００４８】[0048]
【数１】 (Equation 1)
【００４９】測定対象チャネルのみのＲＭＳ値Ｓrms の
算出処理が終了すると、チャネルオン／オフ制御部２５
を介してベースバンド信号発生器５に対して、ＣＤＭＡ
方式の各チャネルにおける測定対象チャネルの出力を停
止し、測定対象チャネル以外の全てのチャネルを出力す
る指令を送出する（Ｓ４）。When the process of calculating the RMS value S rms of only the channel to be measured is completed, the channel on / off control unit 25
To the baseband signal generator 5 via
The output of the measurement target channel in each channel of the system is stopped, and a command to output all channels other than the measurement target channel is transmitted (S4).
【００５０】すると、ベースバンド信号発生器５から測
定対象チャネル以外の他の全てのチャネルのスペクトラ
ム拡散された情報が含まれるデジタルのベースバンド信
号Ｉ，Ｑが出力されるので、このデジタルのベースバン
ド信号Ｉ，Ｑの各データ値をデータメモリ２２のベース
バンド信号メモリ２１へ書込む（Ｓ５）。このデータ
は、上記信号データ系列ｘ（ｎ）に対して雑音として作
用するので、雑音データ系列ｙ（ｎ）となる。この雑音
データ系列ｙ（ｎ）におけるデータの時間的空間ｎ＝０
〜ｎ＝Ｎまでについて(2) 式を用いてＲＭＳ値Ｎrms を
算出する（Ｓ６）。Then, the baseband signal generator 5 outputs digital baseband signals I and Q including the spread spectrum information of all the channels other than the channel to be measured. The data values of the signals I and Q are written to the baseband signal memory 21 of the data memory 22 (S5). Since this data acts as noise on the signal data sequence x (n), it becomes a noise data sequence y (n). Temporal space n = 0 of data in this noise data sequence y (n)
The RMS value N rms is calculated by using the equation (2) for up to n = N (S6).
【００５１】[0051]
【数２】 (Equation 2)
【００５２】(1) 式及び(2) 式で測定対象チャネルの信
号値Ｓrms 及び雑音値Ｎrms が算出されると、(3) 式を
用いてＣＤＭＡ方式における測定対象チャネルのＳ／Ｎ
比を算出する（Ｓ７）。When the signal value S rms and the noise value N rms of the channel to be measured are calculated by the equations (1) and (2), the S / N of the channel to be measured in the CDMA system is calculated by using the equation (3).
The ratio is calculated (S7).
【００５３】 Ｓ／Ｎ＝２０ log（Ｓrms ／Ｎrms ） …(3) さらに、プロセス利得を考慮した信号情報当りの電力対
雑音比Ｅb ／Ｎo を(4) 式を用いて算出する（Ｓ８）。S / N = 20 log (S rms / N rms ) (3) Further, the power-to-noise ratio per signal information E b / N o in consideration of the process gain is calculated by using equation (4). (S8).
【００５４】 Ｅb ／Ｎo ＝（Ｓ／Ｎ）＋１０ log（Ｆchip／Ｆbit ） …(4) 但し、Ｆchipはスペクトル拡散後のチップ情報レート
（Hz）であり、Ｆbit はスペクトル拡散前のチップ情報
レート（Hz）である。E b / N o = (S / N) +10 log (F chip / F bit ) (4) where F chip is a chip information rate (Hz) after spread spectrum, and F bit is spread spectrum. The previous chip information rate (Hz).
【００５５】そして、算出したＳ／Ｎ比及び電力対雑音
比Ｅb ／Ｎo を、図３に示すように、表示器２６へ表示
出力する（Ｓ９）。このように構成された変調信号発生
装置においては、この変調信号発生装置から出力される
変調試験信号ａにおける測定対象チャネルのＳ／Ｎ比
は、装置内に組込まれているベースバンド信号発生器５
から出力されるデジタルのベースバンド信号Ｉ，Ｑを用
いて簡単に算出できる。[0055] Then, the calculated S / N ratio and the power-to-noise ratio E b / N o, as shown in FIG. 3, and displays the output to the display unit 26 (S9). In the modulation signal generator configured as described above, the S / N ratio of the channel to be measured in the modulation test signal a output from the modulation signal generator is determined by the baseband signal generator 5 incorporated in the device.
Can be easily calculated using the digital baseband signals I and Q output from.
【００５６】また、ベースバンド信号系列毎に測定され
た信号値Ｓrms および雑音値Ｎrmsの精度は、ベースバ
ンド信号時系列の量子化ビット数と量子化速度（サンプ
ルレート）に依存するが、通常、変調信号発生装置に用
いてるベースバンド信号発生器５の時系列の量子化ビッ
ト数と量子化速度（サンプルレート）は非常に高いた
め、電力計等のアナログ信号処理が有する不確率性と比
較すれば、その精度は十分に高い。The accuracy of the signal value S rms and the noise value N rms measured for each baseband signal sequence depends on the number of quantization bits and the quantization rate (sample rate) of the baseband signal time sequence. Normally, the number of quantization bits and the quantization rate (sample rate) of the time series of the baseband signal generator 5 used in the modulation signal generator are very high. By comparison, its accuracy is sufficiently high.
【００５７】また、ベースバンド信号発生器５のみでＳ
／Ｎ比及び電力対雑音比Ｅb ／Ｎoなどの信号対雑音比
を測定（校正）できるために電力計等の測定器を必要と
しない。In addition, only the baseband signal generator 5
/ N ratio and measuring the signal-to-noise ratio, such as power-to-noise ratio E b / N o (calibration) does not require the instrument power meter or the like to be.
【００５８】したがって、従来手法のように、変調信号
発生装置から実際に出力されている変調試験信号を電力
計やスペクトラム解析装置を用いる必要がないので、Ｓ
／Ｎ比の測定精度が向上する。Therefore, unlike the conventional method, there is no need to use a power meter or a spectrum analyzer for the modulation test signal actually output from the modulation signal generator.
The measurement accuracy of the / N ratio is improved.
【００５９】（第２実施形態）図５は本発の第２実施形
態に係わる変調信号発生装置の概略構成を示すブロック
図である。図１に示す第１実施形態の変調信号発生装置
と同一部分には同一符号が付してある。したがって、重
複する部分の詳細説明は省略する。(Second Embodiment) FIG. 5 is a block diagram showing a schematic configuration of a modulation signal generator according to a second embodiment of the present invention. The same parts as those of the modulation signal generator of the first embodiment shown in FIG. Therefore, the detailed description of the overlapping part will be omitted.
【００６０】この第２実施形態においては、変調信号発
生装置内の直交変調器８から出力されたアナログの中間
周波数の変調試験信号ａ1 はＬＰＦ２７で不要周波数成
分が除去された後、Ａ／Ｄ変換器２８へ入力される。Ａ
／Ｄ変換器２８は入力された変調試験信号ａ1 を直接サ
ンプリングしてデジタルの変調試験信号ａ4 へ変換し
て、データメモリ２２ａ内に形成された変調試験信号メ
モリ２９へ書込む。In the second embodiment, the analog intermediate frequency modulation test signal a 1 output from the quadrature modulator 8 in the modulation signal generator is subjected to A / D conversion after unnecessary frequency components are removed by the LPF 27. Input to the converter 28. A
/ D converter 28 converts the digital modulated test signal a 4 directly sample the modulated test signal a 1 input, and writes the modulated test signal memory 29 which is formed in the data memory 22a.
【００６１】解析部２３ａ内に設けられた特性算出部３
０は、変調試験信号メモリ２９に記憶されたデジタルの
変調試験信号ａ4 の各データ値を用いて中間周波数段階
における変調試験信号ａ1 の変調精度、スペクトラム特
性、電力確率密度特性等の各種特性を算出する。算出さ
れた各特性は表示器２６へ表示出力される。The characteristic calculator 3 provided in the analyzer 23a
0, modulated test signal a 1 of the modulation accuracy at the intermediate frequency stage with each data value in the digital modulated test signal a 4 stored in the modulated test signal memory 29, a spectrum characteristic, various characteristics such as the power probability density characteristics Is calculated. The calculated characteristics are displayed on the display 26.
【００６２】なお、前述した第１実施形態と同様に、デ
ータメモリ２２ａにはベースバンド信号メモリ２１が形
成されており、このベースバンド信号メモリ２１の記憶
されたベースバンド信号Ｉ，Ｑの各データを用いて、解
析部２３ａ内に設けられたＳ／Ｎ算出部２４が測定対象
チャネルのＳ／Ｎ比及び電力対雑音比Ｅb ／Ｎo を算出
して表示器２６へ表示する。As in the first embodiment described above, a baseband signal memory 21 is formed in the data memory 22a, and each data of the baseband signals I and Q stored in the baseband signal memory 21 is stored. using, S / N calculating section 24 provided in the analysis unit 23a displays the S / N ratio and the power-to-noise ratio E b / N o indicator 26 calculates the measurement target channel.
【００６３】次に、特性算出部３０における電力確率密
度特性の具体的算出手順を説明する。まず、変調試験信
号メモリ２９内に記憶されたデジタルの変調試験信号ａ
4 の信号データ系列ｘ（ｎ）におけるデータの時間的空
間ｎ＝０〜ｎ＝Ｎまでについて(5) 式を用いてＲＭＳ値
Ｘrms を算出する。Next, a specific calculation procedure of the power probability density characteristic in the characteristic calculation section 30 will be described. First, the digital modulation test signal a stored in the modulation test signal memory 29
The RMS value X rms is calculated using the equation (5) for the temporal space n = 0 to n = N of the data in the signal data series x (n) of No. 4.
【００６４】[0064]
【数３】 (Equation 3)
【００６５】変調試験信号ａ4 におけるＲＭＳ値Ｘrms
が求まると、再度、変調試験信号メモリ２９内に記憶さ
れた信号データ系列ｘ（ｎ）に対して、その各瞬時値を
データの時間的空間ｎ＝０〜ｎ＝Ｎまでについて算出
し、その各瞬時値の［振幅値／ＲＭＳ値］を確率変数ｘ
S として、電力確率密度Ｐ（ｘ）を(6) 式で算出する。The RMS value X rms of the modulation test signal a 4
Is obtained, the instantaneous values of the signal data series x (n) stored in the modulation test signal memory 29 are calculated again for the time space n = 0 to n = N of the data. [Amplitude value / RMS value] of each instantaneous value is represented by a random variable x
As S , the power probability density P (x) is calculated by equation (6).
【００６６】 ｘS ＝［振幅値／ＲＭＳ値］＝ｘ（ｎ）／Ｘrms Ｐ（ｘ）＝２０ log（｜ｘ（ｎ）｜／Ｘrms ） …（６） よって、図９（ａ）に示すような電力確率密度特性が得
られる。X S = [amplitude value / RMS value] = x (n) / X rms P (x) = 20 log (| x (n) | / X rms ) (6) Therefore, FIG. The power probability density characteristic shown in FIG.
【００６７】さらに、特性算出部３０は変調試験信号メ
モリ２９内に記憶されたデジタルの変調試験信号ａ４
の信号データ系列ｘ（ｎ）の各データ値に対してＦＦＴ
処理手法を用いて図８に示す変調試験信号ａ自体のスペ
クトル特性Ａを算出する。Further, the characteristic calculator 30 calculates the digital modulation test signal a 4 stored in the modulation test signal memory 29.
FFT for each data value of the signal data series x (n)
The spectrum characteristic A of the modulation test signal a itself shown in FIG. 8 is calculated using the processing method.
【００６８】同様に、特性算出部３０は変調試験信号メ
モリ２９内に記憶されたデジタルの変調試験信号ａ4 の
信号データ系列ｘ（ｎ）の各データ値を用いて直交変調
器８における変調精度を算出する。Similarly, the characteristic calculator 30 uses the data values of the signal data sequence x (n) of the digital modulation test signal a 4 stored in the modulation test signal memory 29 to perform modulation accuracy in the quadrature modulator 8. Is calculated.
【００６９】このように構成された変調信号発生装置に
おいては、中間周波数段階における変調試験信号ａ1 の
特性を評価する場合において特に優れている。すなわ
ち、高周波の変調試験信号ａに周波数変換される前の直
交変調器８から出力された中間周波数段階の変調試験信
号ａ1 を用いて上述した変調精度、スペクトラム特性、
電力確率密度の各特性を算出している。The modulation signal generator configured as described above is particularly excellent when evaluating the characteristics of the modulation test signal a 1 at the intermediate frequency stage. That is, using the modulation test signal a 1 at the intermediate frequency stage output from the quadrature modulator 8 before being frequency-converted into the high-frequency modulation test signal a, the above-described modulation accuracy, spectrum characteristics,
Each characteristic of the power probability density is calculated.
【００７０】すなわち、図１０に示した変調信号解析装
置４を用いた従来手法における変調信号発生装置１内に
おける変調試験信号ａ1 を信号合成器９を用いた搬送波
周波数ｆC に周波数変換するアナログの信号処理工程、
及び変調信号発生装置１から出力された変調試験信号ａ
を変調信号解析装置４内の別の信号合成器１１を用いて
中間周波数に周波数変換して変調試験信号ａ3 を得るア
ナログの信号処理工程が除去されるので、上述した各特
性の測定精度が大幅に向上する。[0070] That is, analog to frequency conversion to the carrier frequency f C using a signal combiner 9 modulated test signal a 1 in the modulation signal generator 1 in the conventional method using a modulated signal analyzer 4 shown in FIG. 10 Signal processing process,
And the modulation test signal a output from the modulation signal generator 1
Since further signal combiner 11 analog signal processing step of obtaining a modulated test signal a 3 by frequency conversion into an intermediate frequency using a modulation signal analyzer 4 is removed, the measurement accuracy of each characteristic described above Significantly improved.
【００７１】当然、上述したデータメモリ２２ａ、解析
部２３ａ、ＬＰＦ２７、Ａ／Ｄ変換器２８、チャネルオ
ン／オフ制御部２５及び表示器２６は変調信号発生装置
内に組込まれているので、変調信号発生装置１と変調信
号解析装置４とを合計した製造費を図１０に示す従来シ
ステムに比較して大幅に節減でき、かつ測定作業性を大
幅に向上できる。Since the data memory 22a, the analyzing unit 23a, the LPF 27, the A / D converter 28, the channel on / off control unit 25, and the display 26 are incorporated in the modulation signal generator, the modulation signal The total manufacturing cost of the generator 1 and the modulation signal analyzer 4 can be greatly reduced as compared with the conventional system shown in FIG. 10, and the measurement workability can be greatly improved.
【００７２】（第３実施形態）図６は本発明の第３実施
形態に係わる変調信号発生装置の概略構成を示すブロッ
ク図である。図１に示す第１実施形態の変調信号発生装
置と同一部分には同一符号が付してある。したがって、
重複する部分の詳細説明は省略する。(Third Embodiment) FIG. 6 is a block diagram showing a schematic configuration of a modulation signal generator according to a third embodiment of the present invention. The same parts as those of the modulation signal generator of the first embodiment shown in FIG. Therefore,
The detailed description of the overlapping part will be omitted.
【００７３】この第３実施形態においては、変調信号発
生装置内の直交変調器８から出力されたアナログの中間
周波数の変調試験信号ａ1 はＬＰＦ３１で不要周波数成
分が除去された後、選択部３２の一方の入力端子へ入力
される。また、変調信号発生装置内のＬＰＦ７から出力
されて直交変調器８へ入力されるアナログのベースバン
ド信号Ｉ2 ，Ｑ2 は選択部３２の他方の入力端子へ入力
される。In the third embodiment, the analog intermediate frequency modulation test signal a 1 output from the quadrature modulator 8 in the modulation signal generator is subjected to the LPF 31 from which unnecessary frequency components are removed, and then to the selector 32. Is input to one of the input terminals. The analog baseband signals I 2 and Q 2 output from the LPF 7 in the modulation signal generator and input to the quadrature modulator 8 are input to the other input terminals of the selection unit 32.
【００７４】選択部３２は解析部２３ｂ内に設けられた
診断部３５の指示に基づいて、アナログの変調試験信号
ａ1 又はアナログのベースバンド信号Ｉ2 ，Ｑ2 を選択
して次のＡ／Ｄ変換器３３へ送出する。Ａ／Ｄ変換器３
３は選択された変調試験信号ａ1 又はベースバンド信号
Ｉ2 ，Ｑ2 を所定のサンプリングレートでサンプリング
して、デジタルの変調試験信号ａ1 又はベースバンド信
号Ｉ2 ，Ｑ2 へ変換して、データメモリ２３ｂの入出力
信号メモリ３４へ書込む。The selecting section 32 selects the analog modulation test signal a 1 or the analog baseband signals I 2 and Q 2 based on the instruction of the diagnostic section 35 provided in the analyzing section 23b, and selects the next A / A It is sent to the D converter 33. A / D converter 3
3 samples the selected modulation test signal a 1 or baseband signals I 2 , Q 2 at a predetermined sampling rate and converts them into digital modulation test signals a 1 or base band signals I 2 , Q 2 , The data is written into the input / output signal memory 34 of the data memory 23b.
【００７５】解析部２３ｂの診断部３５は、最初に選択
部３２を変調試験信号ａ1 側に設定して、入出力信号メ
モリ３４内にデジタル化した変調試験信号ａ1 の信号デ
ータ系列ｘ（ｎ）を書込む。そして特性算出部３６を起
動する。[0075] Diagnosis section 35 of the analysis section 23b, first set the selector 32 to the modulated test signal a 1 side, input and output signals digitized in a memory 34 the modulated test signal a 1 signal data sequence x ( Write n). Then, the characteristic calculation unit 36 is started.
【００７６】特性算出部３６は、入出力信号メモリ３４
内に記憶された信号データ系列ｘ（ｎ）の各データ値を
用いて、直交変調器８の出力段における変調試験信号ａ
1 の前述した変調精度、スペクトラム特性、電力確率密
度を算出して、表示器２６へ表示する。The characteristic calculator 36 is provided with an input / output signal memory 34
The modulation test signal a at the output stage of the quadrature modulator 8 is obtained by using each data value of the signal data sequence x (n) stored in the
1 of the aforementioned modulation accuracy, spectral characteristics, calculates power probability density, is displayed on the display unit 26.
【００７７】次に、解析部２３ｂの診断部３５は、選択
部３２をベースバンド信号Ｉ2 ，Ｑ2 側に設定して、入
出力信号メモリ３４内にデジタル化したベースバンド信
号Ｉ2 ，Ｑ2 の信号データ系列ｘ（ｎ）を書込む。そし
て特性算出部３６を起動する。[0077] Next, diagnostic section 35 of the analysis unit 23b sets the selector 32 to the baseband signal I 2, Q 2 side, the baseband signal I 2 digitized in input signal memory 34, Q Write the signal data sequence x (n) of No. 2. Then, the characteristic calculation unit 36 is started.
【００７８】特性算出部３６は、入出力信号メモリ３４
内に記憶された信号データ系列ｘ（ｎ）の各データ値を
用いて、直交変調器８の入力段におけるベースバンド信
号Ｉ2 ，Ｑ2 のスペクトラム特性、電力確率密度を算出
して、表示器２６へ表示する。The characteristic calculator 36 is provided with an input / output signal memory 34
Using the data values of the signal data series x (n) stored in the matrix, the spectrum characteristics and power probability density of the baseband signals I 2 and Q 2 at the input stage of the quadrature modulator 8 are calculated, and the 26.
【００７９】さらに、解析部２３ｂの診断部３５は、Ｓ
／Ｎ比算出部２４を起動する。すると、Ｓ／Ｎ比算出部
２４は、ベースバンド信号メモリ２１に記憶されたベー
スバンド信号発生器５から出力されたデジタルのベース
バンド信号Ｉ，Ｑの信号データ系列ｘ（ｎ）の各データ
値を用いて、測定対象チャネルのＳ／Ｎ比及び電力対雑
音比率Ｅb／Ｎ0を算出して表示器２６へ表示する。Further, the diagnosis unit 35 of the analysis unit 23b
The / N ratio calculation unit 24 is activated. Then, the S / N ratio calculation unit 24 calculates each data value of the signal data sequence x (n) of the digital baseband signals I and Q output from the baseband signal generator 5 stored in the baseband signal memory 21. Is used to calculate the S / N ratio and the power-to-noise ratio Eb / N0 of the channel to be measured, and display them on the display 26.
【００８０】そして、診断部３５は、変調信号発生装置
に何等かの異常が発生したり、変調信号発生装置から出
力される変調試験信号ａに何等かの異常が発生すると、
直交変調器８の出力段の変調試験信号ａ1 、直交変調器
８の入力段のベースバンド信号Ｉ2 ，Ｑ2 、ベースバン
ド信号発生器５の出力段のベースバンド信号Ｉ，Ｑにお
けるそれぞれの特性値を比較対照して、特性値が急激に
変化したり、連続性が喪失した位置等を異常発生箇所と
推定して、推定結果を表示器２６へ表示出力する。Then, when any abnormality occurs in the modulation signal generating device or any abnormality occurs in the modulation test signal a output from the modulation signal generating device,
The modulation test signal a 1 at the output stage of the quadrature modulator 8, the baseband signals I 2 and Q 2 at the input stage of the quadrature modulator 8, and the baseband signals I and Q at the output stage of the baseband signal generator 5, respectively. By comparing and comparing the characteristic values, a position where the characteristic value changes abruptly or the continuity is lost or the like is estimated as an abnormal occurrence location, and the estimation result is displayed on the display 26.
【００８１】このように、変調信号発生装置内に、各部
の動作を監視し、診断する機能を付加することによつ
て、別途、専用の測定装置を用いて異常解析を実施する
必要がないので、異常発生時の対応をより迅速に実施で
きる。また、異常発生時以外にも、変調信号発生装置の
製造、点検、修理等のおいてもこの診断機能を活用でき
る。As described above, by adding the function of monitoring and diagnosing the operation of each unit in the modulated signal generator, it is not necessary to separately perform an abnormality analysis using a dedicated measuring device. In addition, it is possible to more quickly respond to the occurrence of an abnormality. Also, besides the time of occurrence of an abnormality, the diagnostic function can be utilized in the manufacture, inspection, repair, etc. of the modulation signal generator.
【００８２】[0082]
【発明の効果】以上説明したように、本発明の変調信号
発生装置においては、出力される変調試験信号を監視す
るための各種特性値を測定する各機能を装置内部に組込
んでいる。As described above, in the modulation signal generator of the present invention, various functions for measuring various characteristic values for monitoring the output modulation test signal are incorporated in the apparatus.
【００８３】したがって、出力される変調試験信号のＳ
／Ｎ比、変調精度、スペクトラム特性、電力確率密度等
の各特性を高い精度で測定でき、必要構成部品数を最小
限に減少でき、かつ測定作業の操作性を大幅に向上で
き、さらに、製造費を大幅に節減できる。さらに、内部
に自己診断機能を組込んでいるので、変調信号発生装置
における異常発生時や点検時の対応を迅速に実施でき
る。Therefore, the output modulation test signal S
/ N ratio, modulation accuracy, spectrum characteristics, power probability density, and other characteristics can be measured with high accuracy, the number of necessary components can be reduced to a minimum, and the operability of measurement work can be greatly improved. Costs can be greatly reduced. Further, since a self-diagnosis function is incorporated in the inside, it is possible to quickly take measures when an abnormality occurs in the modulation signal generator or at the time of inspection.
【図１】 本発明の第１実施形態に係わる変調信号発生
装置の概略構成を示すブロック図FIG. 1 is a block diagram showing a schematic configuration of a modulation signal generator according to a first embodiment of the present invention.
【図２】 同変調信号発生装置におけるチャネルオン／
オフ制御部の動作を説明するための説明図FIG. 2 shows channel on / off in the modulation signal generator.
Explanatory drawing for explaining the operation of the off control unit
【図３】 同変調信号発生装置における表示器の表示内
容を示す図FIG. 3 is a diagram showing display contents of a display unit in the modulation signal generator.
【図４】 同変調信号発生装置における測定対象チャネ
ルのＳ／Ｎ比の算出手順を示す流れ図FIG. 4 is a flowchart showing a procedure for calculating an S / N ratio of a channel to be measured in the modulation signal generator.
【図５】 本発明の第２実施形態に係わる変調信号発生
装置の概略構成を示すブロック図FIG. 5 is a block diagram showing a schematic configuration of a modulation signal generator according to a second embodiment of the present invention.
【図６】 本発明の第３実施形態に係わる変調信号発生
装置の概略構成を示すブロック図FIG. 6 is a block diagram showing a schematic configuration of a modulation signal generator according to a third embodiment of the present invention.
【図７】 一般的な被測定装置の特性を測定するための
模式図FIG. 7 is a schematic diagram for measuring characteristics of a general device under test.
【図８】 変調試験信号のスペクトル特性と被測定装置
の出力信号のスペクトル特性との比較を示す図FIG. 8 is a diagram showing a comparison between the spectral characteristic of a modulation test signal and the spectral characteristic of an output signal of a device under test.
【図９】 変調試験信号の電力確率密度特性及び被測定
装置の被線形特性を示す図FIG. 9 is a diagram showing a power probability density characteristic of a modulation test signal and a linear characteristic of a device under test.
【図１０】 従来の変調信号発生装置と変調信号解析装
置の概略構成を示すブロック図FIG. 10 is a block diagram showing a schematic configuration of a conventional modulation signal generator and modulation signal analyzer.
【図１１】 変調試験信号のＳ／Ｎ比と復調誤り率との
関係を示す図FIG. 11 is a diagram showing a relationship between an S / N ratio of a modulation test signal and a demodulation error rate.
５…ベースバンド信号発生器 ６…Ｄ／Ａ変換器 ７，２７，３１…ＬＰＦ ８…直交変調器 ９…信号合成器 ２１…ペースバンド信号メモリ ２２，２２ａ，２２ｂ…データメモリ ２３，２３ａ，２３ｂ…解析部 ２４…Ｓ／Ｎ比算出部 ２５…チャネルオン／オフ制御部 ２６…表示部 ２９…変調試験信号メモリ ３０，３６…特性算出部 ３２…選択部 ３３…Ａ／Ｄ変換器 ３４…入出力信号メモリ ３５…診断部 5 Baseband signal generator 6 D / A converter 7, 27, 31 LPF 8 Quadrature modulator 9 Signal synthesizer 21 Paceband signal memory 22, 22a, 22b Data memory 23, 23a, 23b ... Analysis unit 24 ... S / N ratio calculation unit 25 ... Channel on / off control unit 26 ... Display unit 29 ... Modulation test signal memory 30, 36 ... Characteristic calculation unit 32 ... Selection unit 33 ... A / D converter 34 ... On Output signal memory 35 ... Diagnostic unit
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) H04L 27/00 G01R 29/26 H04J 13/00 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (58) Field surveyed (Int. Cl. 7 , DB name) H04L 27/00 G01R 29/26 H04J 13/00
Claims (5)
れたＣＤＭＡ通信方式の各チャネルのデータが組込まれ
たデジタルのベースバンド信号(I,Q)を、Ｄ／Ａ変換器
(6)でＤ／Ａ変換したのち直交変調器(8)で直交変調し、
さらに信号合成器(9)で搬送波信号(c)と信号合成して、
高周波の変調試験信号(a)として出力する変調信号発生
装置において、 前記ベースバンド信号発生器から出力されるデジタルの
ベースバンド信号を記憶するためのベースバンド信号メ
モリ(21)と、 このベースバンド信号メモリに記憶されたベースバンド
信号を用いてチャネルにおける信号値／雑音値比を算出
する特性算出手段(23)と、 この特性算出手段にて算出されたチャネルにおける信号
値／雑音値比を前記高周波の変調試験信号の信号値／雑
音値比として出力する出力部(26)とを備えた変調信号発
生装置。A D / A converter converts a digital baseband signal (I, Q) output from a baseband signal generator (5) into which data of each channel of the CDMA communication system is incorporated.
After D / A conversion in (6), quadrature modulation is performed in quadrature modulator (8),
Furthermore, the signal synthesizer (9) synthesizes the signal with the carrier signal (c),
A modulation signal generator that outputs a high-frequency modulation test signal (a); a baseband signal memory (21) for storing a digital baseband signal output from the baseband signal generator; Baseband stored in memory
A characteristic calculating means for calculating the signal value / noise value ratio in channel using a signal (23), the signal in the channel calculated by the characteristic calculating means
Value / noise ratio is determined by the signal value / noise of the high-frequency modulation test signal.
A modulation signal generator including an output unit (26) that outputs a sound value ratio .
れたＣＤＭＡ通信方式の各チャネルのデータが組込まれ
たデジタルのベースバンド信号(I,Q)を、Ｄ／Ａ変換器
(6)でＤ／Ａ変換したのち直交変調器(8)で直交変調し、
さらに信号合成器(9)で搬送波信号(c)と信号合成して、
高周波の変調試験信号(a)として出力する変調信号発生
装置において、 前記ベースバンド信号発生器から出力されるデジタルの
ベースバンド信号を記憶するためのベースバンド信号メ
モリ(21)と、 前記ベースバンド信号発生器の選択されたチャネルの出
力と選択されない全てのチャネルの出力とを交互にオン
／オフ制御するチャネルオン／オフ制御手段(25)と、 前記選択されたチャネルの出力期間中に前記ベースバン
ド信号メモリに記憶されたベースバンド信号の平均値を
信号値とし、前記選択されない全てのチャネルの出力期
間中に前記ベースバンド信号メモリに記憶されたベース
バンド信号の平均値を雑音値として、前記選択されたチ
ャネルのベースバンド信号の信号値／雑音値比を算出す
るＳ／Ｎ比算出手段(24)と、 このＳ／Ｎ比算出手段で算出された信号値／雑音値比を
前記高周波の変調試験信号の信号値／雑音値比として出
力する出力部(26)とを備えた変調信号発生装置。2. A digital baseband signal (I, Q) in which data of each channel of the CDMA communication system output from a baseband signal generator (5) is incorporated, is converted into a D / A converter.
After D / A conversion in (6), quadrature modulation is performed in quadrature modulator (8),
Further, the signal synthesizer (9) combines the signal with the carrier signal (c),
A modulation signal generator that outputs a high-frequency modulation test signal (a); a baseband signal memory (21) for storing a digital baseband signal output from the baseband signal generator; and the baseband signal. a channel oN / oFF control means for alternately turning on / off controls the output of all channels that are not selected as the output of the selected channel generator (25), said base band in the output period of the selected channel The average value of the baseband signals stored in the signal memory is used as the signal value, and the average value of the baseband signals stored in the baseband signal memory is used as the noise value during the output periods of all the unselected channels. S / N ratio calculating means (24) for calculating the signal value / noise value ratio of the baseband signal of the selected channel, and the S / N ratio calculating means An output section (26) for outputting the signal value / noise value ratio calculated in (2) as a signal value / noise value ratio of the high-frequency modulation test signal.
れたＣＤＭＡ通信方式のベースバンド信号(I,Q)を、Ｄ
／Ａ変換器(6)でＤ／Ａ変換したのち直交変調器(8)で直
交変調し、さらに信号合成器(9)で搬送波信号(c)と信号
合成して、高周波の変調試験信号(a)として出力する変
調信号発生装置において、 前記ベースバンド信号発生器から出力されるベースバン
ド信号を記憶するためのベースバンド信号メモリ(21)
と、 このベースバンド信号メモリの出力を受けて、ベースバ
ンド信号のスペクトラム特性又は電力確率密度のうちの
少なくとも一つを特性値として算出する特性算出手段(2
3)と、 この特性算出手段にて算出された特性値を前記高周波の
変調試験信号を監視するためのデータとして出力する出
力部(26)とを備えた変調信号発生装置。 3. An output from a baseband signal generator (5).
The baseband signals (I, Q) of the CDMA communication system
After D / A conversion by the A / A converter (6), the signal is directly converted by the quadrature modulator (8).
Intermodulates the signal, and further adds the carrier signal (c) and the signal to the signal combiner (9).
Combined and output as a high frequency modulation test signal (a)
A baseband signal output from the baseband signal generator.
Baseband signal memory (21) for storing data signals
And the output of this baseband signal memory,
Of the spectrum characteristics or power probability density of the
Characteristic calculation means (2) for calculating at least one as a characteristic value
3), and the characteristic value calculated by the characteristic
Output to output modulation test signal as data for monitoring
A modulation signal generator including a power unit (26).
れたＣＤＭＡ通信方式の各チャネルのデータが組込まれ
たデジタルのベースバンド信号(I,Q)を、Ｄ／Ａ変換器
(6)でＤ／Ａ変換したのち直交変調器(8)で直交変調し、
さらに信号合成器(9)で搬送波信号(c)と信号合成して、
高周波の変調試験信号(a)として出力する変調信号発生
装置において、 前記直交変調器から出力された中間周波数の変調試験信
号をＡ／Ｄ変換するＡ／Ｄ変換器(28)と、 このＡ／Ｄ変換された中間周波数の変調試験信号を記憶
する変調試験信号メモリ(29)と、 この変調試験信号メモリに記憶された中間周波数の変調
試験信号の値を用いて中間周波数段階の変調精度、スペ
クトラム特性又は電力確率密度のうちの少なくとも一つ
を特性として算出する特性算出手段(30)と、 この特性算出手段で算出された特性を前記高周波の変調
試験信号を監視するためのデータとして出力する出力部
(26)とを備えた変調信号発生装置。 4. An output from a baseband signal generator (5).
Data of each channel of the CDMA communication system
Digital baseband signals (I, Q) are converted to D / A converters
After D / A conversion in (6), quadrature modulation is performed in quadrature modulator (8),
Further, the signal synthesizer (9) combines the signal with the carrier signal (c),
Modulation signal generation to output as high frequency modulation test signal (a)
In the apparatus, an intermediate frequency modulation test signal output from the quadrature modulator is output.
A / D converter (28) for A / D-converting the signal, and stores the A / D-converted intermediate frequency modulation test signal.
Modulation test signal memory (29), and the modulation of the intermediate frequency stored in the modulation test signal memory.
The modulation accuracy and spectrum at the intermediate frequency stage are
At least one of the following:
The characteristic calculating means for calculating a characteristic (30), modulating the properties calculated by the characteristic calculating means of the high frequency
Output section that outputs test signals as data for monitoring
(26) A modulation signal generator comprising:
数の変調試験信号又は前記直交変調器へ入力されるアナ
ログのベースバンド信号を選択する選択手段(32)と、 この選択手段で選択された信号をＡ／Ｄ変換するＡ／Ｄ
変換器(33)と、 このＡ／Ｄ変換された信号を記憶する入出力信号メモリ
(34)と、 前記選択手段が前記中間周波数の変調試験信号を選択し
た期間中に前記入出力信号メモリに記憶された各データ
値を用いて算出した変調精度、スペクトラム特性又は電
力確率密度のうちの少なくとも一つからなる特性と、前
記選択手段が前記ベースバンド信号を選択した期間中に
前記入出力信号メモリに記憶された各データ値を用いて
算出したスペクトラム特性又は電力確率密度のうちの少
なくとも一つからなる特性と、前記ベースバンド信号発
生器から出力されたベースバンド信号の各データ値を用
いて算出された信号値／雑音値比とを基に前記変調信号
発生装置の異常箇所を推定する診断手段(35)とを備えた
請求項１記載の変調信号発生装置。5. An intermediate frequency output from the quadrature modulator
Selecting means (32) for selecting a number of modulation test signals or an analog baseband signal inputted to the quadrature modulator; and an A / D for A / D converting the signal selected by the selecting means.
A converter (33) and an input / output signal memory for storing the A / D converted signal
(34), a modulation accuracy, a spectrum characteristic or an electric power calculated using each data value stored in the input / output signal memory during a period in which the selecting means selects the modulation test signal of the intermediate frequency.
A characteristic comprising at least one of a power probability density and a spectrum characteristic or a power probability calculated using each data value stored in the input / output signal memory during a period when the selection unit selects the baseband signal. Less of the density
An abnormal part of the modulation signal generator based on at least one characteristic and a signal value / noise value ratio calculated using each data value of the baseband signal output from the baseband signal generator. 2. The modulated signal generating device according to claim 1, further comprising: a diagnosis unit for estimating a value.
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|---|---|---|---|
| JP08314877A JP3121776B2 (en) | 1996-11-26 | 1996-11-26 | Modulation signal generator |
Applications Claiming Priority (1)
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