JP3101147U - 発光パネルの光学特性測定システム - Google Patents

Abstract

【課題】長期間にわたる発光パネルの光学特性の測定、および厳しい点灯条件、環境条件および測定条件下での発光パネルの光学特性の測定をそれぞれ別個に行うことができる光学特性測定システムを提供すること。
【解決手段】発光パネル光学特性測定ブロック４１〜４ｎ毎にＥＬパネルの点灯条件、環境条件および測定条件を設定して、ＥＬパネル５の光学特性データをサンプルバッチトレイユニット３１〜３ｍ毎に行う。システムコントローラ２は、各測定データを管理し、システムサーバ１がこのデータを一元管理する。
【選択図】 図１

Description

この考案は、発光パネルの光学特性を測定するための測定システムに関する。

近年、有機ＥＬ（エレクトロ・ルミネセンス）を用いたＥＬパネルが一部実用化されているが、今後の技術として大きく注目されている。ＥＬパネルは、フラットパネルディスプレイであって、ポスト・液晶（ＬＣＤ）として期待されている。
有機ＥＬは自発光素子であるので、ＥＬパネルの輝度が高くて、画質に優れているだけでなく、薄型および軽量化の構成とすることもできる。また、ＥＬパネルは、液晶に比べて応答速度が格段に速く、動画の描写に優れている。さらに、ＥＬパネルの消費電力は現状で液晶と同程度であるが、将来的には一段と低下すると考えられている。

しかしながら、現状の問題として、ＥＬパネルの寿命が短いという問題がある。この問題を解消していくためには、ＥＬパネルを様々な点灯条件、環境条件および測定条件下で発光させて、それらの各条件毎での詳細な光学特性デ−タが必要であった。
図３は、従来のＥＬパネルの光学特性データを測定するための測定装置を示すブロック図である。

この測定装置１２には、ＥＬパネル設置部（図示せず）に設置されたＥＬパネル５１，５２，５３（以下、総称して「ＥＬパネル５０」とする。）の光学特性（輝度や色度など）を測定するための１つの受光センサ６と、受光センサ６を移動させるための受光センサ稼動部６０と、測定装置１２全体を制御するための制御部１０とが備えられている。
また、測定装置１２は、各ＥＬパネル５０に定電流や定電圧を供給するための定電圧／定電流供給回路７と、ＥＬパネル５０の周辺温度を調整するための周辺温度調整回路８と、ＥＬパネル５０近傍に配置されており、ＥＬパネル５０の周辺温度を検知するための温度センサ９とを備えている。

定電圧／定電流供給回路７は、制御部１０から与えられる制御信号に基づいて、各ＥＬパネル５０に定電圧や定電流を供給する。
周辺温度調整回路８はヒータを備えている。周辺温度調整回路８は、制御部１０から与えられる制御信号と、温度センサ９から与えられる検知温度信号とを受信する。また、周辺温度調整回路８は、この制御信号および温度情報に基づいて、ＥＬパネル５０周辺の温度が一定となるようにヒータをオンオフしている。

受光センサ６によって測定された光学特性は、制御部１０に与えられる。制御部１０は、測定装置１２の各部に制御信号を与えることによって、測定装置１２全体の動作を制御している。したがって、この測定装置１２は、環境条件（各ＥＬパネル５０に与えられる電流・電圧の電流値・電圧値）などを同一にし、この条件下におけるＥＬパネル５０の光学特性（輝度や色度など）を、所定時間間隔毎に測定することができる。

しかしながら、測定装置１２において、１つの受光センサ６で３枚のＥＬパネル５０の光学特性を測定しようとすると、１枚のＥＬパネル５０を測定する測定時間間隔の短縮に限界が生じてしまうという問題があった。
また、１つの受光センサ６を移動させて、３枚のＥＬパネル５０の光学特性を測定するために、ＥＬパネル設置部がオ−プンとなっている。このため、環境条件を変化させて（たとえば温度を変えて）、１つのＥＬパネル５０の光学特性を測定すると、ＥＬパネル設置部に設置された他のＥＬパネル５０が悪影響を受けるという問題があった。また、受光センサ稼動部６０は、受光センサ６を複雑な経路に沿って駆動させなくてはならないので、光センサ稼動部６０の構成が複雑になるという問題があった。この他、受光センサ６が故障してしまうと、３枚のＥＬパネル５０の全測定が中止になってしまうという問題もあった。

これらの問題を解決しようとすると、３枚のＥＬパネル５０の設置間隔を大きくする必要があり、ＥＬパネル５０の温度特性を測定する場合、１回の測定と１回の測定との間に時間を置く必要があった。
また、３枚のＥＬパネル５０に対して長期間にわたる光学特性試験（寿命試験）を行う場合、測定開始、測定終了時間は個々に異なるので、あるＥＬパネル５０は試験途中でも、他のＥＬパネル５０を追加で設置して試験を開始できる構成が望まれていた。

そこで本考案の目的は、上記の問題を解消し、長期間、多数にわたる発光パネルの光学特性の測定において個々の発光パネルごとに受光センサを設け、個々の発光パネルごとに点灯条件、環境条件、測定条件を設定できる発光パネルの光学特性測定システムを提供である。
また、本考案は、各発光パネル光学特性ブロック毎の測定データを一元管理することができる発光パネルの光学特性測定システムを提供することを目的とする。

さらに本考案は、発光パネルの光学特性の測定が行われている場合であっても、その測定の影響を受けることなく、他の任意の発光パネルの交換を行うことができる光学特性測定システムを提供することを目的とする。

上記目的を達成するための請求項１記載の考案は、１枚の発光パネルを設置し、個別に発光パネルの点灯条件、環境条件および測定条件を設定して、それらの条件に基づいて当該発光パネルを点灯し、点灯した発光パネルの光学特性を測定するための発光パネル光学特性測定ブロックと、前記発光パネル光学特性測定ブロックを複数（Ｍ）収容可能であって、各収容場所毎に異なるアドレスを付与しており、前記発光パネル光学特性測定ブロックが収容されると、当該発光パネル光学特性測定ブロックに電源を供給する収納ユニットと、前記収納ユニットを複数（Ｎ）接続可能であるシステムコントローラと、前記システムコントローラと接続されており、前記収納ユニットにそれぞれ収容されている前記発光パネル光学特性測定ブロックの点灯条件、環境条件および測定条件を個別に設定し、その条件下における測定開始時刻および測定終了時刻を個別に設定し、各発光パネル光学特性測定ブロックで測定された測定データを一元管理するための情報処理部と、を備えたことを特徴とする発光パネルの光学特性測定システムである。

請求項２記載の考案は、前記収納ユニットに収容された各発光パネル光学特性測定ブロックは、それぞれ異なった点灯条件、環境条件および測定条件で発光パネルを点灯させることを特徴とする。
請求項３記載の考案は、前記収納ユニットに収容された各発光パネル光学特性測定ブロックは、それぞれ独立して発光パネルの光学特性を測定することを特徴とする。

請求項４記載の考案は、前記収納ユニットに複数の発光パネル光学特性測定ブロックが収容されて、各発光パネル光学特性測定ブロックにおいて発光パネルの光学特性が測定されている場合において、ある任意の発光パネル光学特性測定ブロックで発光パネルの光学特性の測定が行われている最中であっても、他の発光パネル光学特性測定ブロックを収納ユニットから着脱することができることを特徴とする。

請求項５記載の考案は、前記発光パネル光学特性測定ブロックには、当該発光パネル光学特性測定ブロックの測定特性および識別ＩＤが記憶されており、前記情報処理部は、前記収納ユニットに付与されているアドレス、および前記発光パネル光学特性測定ブロックに記憶されている測定特性および識別ＩＤによって、どの収納ユニットのどの収納場所でどのような測定が行われているかを管理することを特徴とする。

請求項１記載の考案によると、各発光パネル光学特性測定ブロック毎において、１枚の発光パネルのために点灯条件、環境条件および測定条件を設定して、それらの条件に基づいて当該発光パネルを点灯させ、点灯した発光パネルの光学特性を測定することができる。したがって、１つの受光センサは、１枚の発光パネルの光学特性を測定すればよいので、長期間にわたる発光パネルの光学特性の測定を行うことができる。

なお、この「発光パネル」とは、ＥＬパネル、液晶パネル、プラズマディスプレー、ＬＥＤなどの発光体であれば、任意のものを採用することができる。
請求項２記載の考案によると、収納ユニットに収容された各発光パネル光学特性測定ブロックは、それぞれ異なった点灯条件、環境条件および測定条件で発光パネルを点灯させることができる。したがって、同時に複数種類の点灯条件、環境条件および測定条件で同時に発光パネルを点灯することができる。

請求項３記載の考案によると、各発光パネル光学特性測定ブロックでは、それぞれ独立して発光パネルの光学特性の測定を行うことができる。これによって、情報処理部は、複数の異なる点灯条件、環境条件および測定条件における発光パネルの光学特性の測定データを同時に一元管理することができる。
請求項４記載の考案によると、収納ユニットに複数の発光パネル光学特性測定ブロックが収容されていて、各発光パネル光学特性測定ブロックにおいて発光パネルの光学特性が測定されている場合において、ある任意の発光パネル光学特性測定ブロックで発光パネルの光学特性が測定行われている最中であっても、他の発光パネル光学特性測定ブロックを収納ユニットから着脱することができる。したがって、測定の行われている発光パネル光学特性ブロックに悪影響を与えることをなく、他の任意の発光パネル光学特性測定ブロックの発光パネルの交換を行うことができる。

請求項５記載の考案によると、各発光パネル光学特性測定ブロックは、その発光パネル光学特性測定ブロックの測定特性および識別ＩＤが記憶されており、情報処理部は収納ユニットに付与されているアドレス、および発光パネル光学特性測定ブロックに記憶されている測定特性および識別ＩＤによって、どの収納ユニットのどの収納場所でどのような測定が行われているかを管理することができる。したがって、収納ユニットから発光パネル光学特性測定ブロックが取り外されて、その発光パネル光学特性測定ブロックが他の収納ユニットに収納されたとしても、発光パネル光学特性測定ブロックの測定特性を損なうことなく、発光パネルの光学特性の続きを行うことができる。

また、発光パネル光学特性測定ブロックを任意の収納ユニットに収納できるので、光学特性測定システムのサイズを任意に調整することができる。

以下では、この考案の実施の形態を、添付図面を参照して詳細に説明する。
図１は、本考案に係る発光パネルの光学特性測定システムを説明するためのブロック図である。
発光パネルの光学特性測定システムには、情報処理部（以下、「システムサーバ」とする）１、システムコントローラ２、収納ユニット（以下、「サンプルバッチトレイユニット」とする）３１，３２，３３‥‥３Ｎ（Ｎは任意の整数）、および発光パネル光学特性測定ブロック４１，４２，４３‥‥４Ｍ（Ｍは任意の整数）が含まれている。以下、サンプルバッチトレイユニット３１〜３Ｎを総称して、「サンプルバッチトレイユニット３０」といい、発光パネル光学特性測定ブロック４１〜４Ｍを総称して、「発光パネル光学特性測定ブロック４０」という。

システムサーバ１は、システムコントローラ２を通して、Ｎ台（この実施例ではＮ＝１０）のサンプルバッチトレイユニット３０とそれぞれ接続可能であり、この実施例では、１０台のサンプルバッチトレイユニット３０とそれぞれ接続されているものとする。
各サンプルバッチトレイユニット３０は、Ｍ台（この実施例ではＭ＝１０）の発光パネル光学特性測定ブロック４０をそれぞれ収容可能であり、この実施例では、各サンプルバッチトレイユニット３０に１０台の発光パネル光学特性測定ブロック４０がそれぞれ収容されているものとする。

各発光パネル光学特性測定ブロック４０は、発光パネルの点灯条件、環境条件および測定条件を設定して、その条件下の発光パネル（以下、「ＥＬパネル」とする。）５の光学特性を測定する。また、システムコントローラ２は、各発光パネル光学特性測定ブロック４０で測定された測定データを管理し、システムサーバ１は、システムコントローラ２で管理されている測定データを一元管理し、測定データファイルを保存している。

各サンプルバッチトレイユニット３０の発光パネル光学特性測定ブロック４０の収容場所には、それぞれ異なるアドレスが付加されている。
したがって、この実施例では、システムサーバ１は、１００台の各発光パネル光学特性測定ブロック４０で並行して行われているＥＬパネル５の光学特性の測定データを一元管理している。

図２は、発光パネル光学特性測定ブロック４０の一台分の構成を示すブロック図である。発光パネル光学特性測定ブロック４０には、ＥＬパネル５に定電流や定電圧を供給するための定電圧／定電流供給回路７と、ＥＬパネル５の周辺温度を調整するための周辺温度調整回路８と、ＥＬパネル５の輝度や色度を測定するための受光センサ６とが備えられている。受光センサ６は、発光パネル光学特性測定ブロック４０ごとのセンサ特性のばらつきをキャンセルするために、Ｒ（赤）、Ｇ（緑）、Ｂ（青）の出力バランスをとるべく補正係数をかける処理が施されている。

また、発光パネル光学特性測定ブロック４０には、受光センサ６の測定タイミングの時間間隔を調整するための測定時間間隔調整部１１と、ＥＬパネル５の周辺温度を検知するための温度検知センサ９と、発光パネル光学特性測定ブロック４０全体を制御するための制御部１０とが備えられている。
したがって、各発光パネル光学特性測定ブロック４０は、それぞれ異なる点灯条件（ＥＬパネル５に与えられる電流・電圧の電流値および電圧値）、環境条件（ＥＬパネル５の周辺温度）、および測定条件（受光センサ６によって測定される測定タイミング）を一定期間同一にしてＥＬパネル５を点灯させて、この条件下におけるＥＬパネル５の光学特性（ＥＬパネル５の輝度・色度およびＥＬパネル５の周辺温度）を一定期間連続的に測定することができる。

発光パネル光学特性測定ブロック４０と図３に示した従来の測定装置１２の異なる点の一つは、発光パネル光学特性測定ブロック４０には、ＥＬパネルが１枚しか備えられていないことである。したがって、発光パネル光学特性測定ブロック４０の受光センサ６は、１枚のＥＬパネル５の光学特性だけを測定する。このため、本考案に係る発光パネルの光学特性測定システムでは、各発光パネル光学特性測定ブロック４０はそれぞれ独立してＥＬパネル５の光学特性を測定するので、各発光パネル光学特性測定ブロック４０における測定データの取得間隔を短縮できる。また、たとえば受光センサ６に異常が起きた場合、測定中止になるのは当該発光パネル光学特性測定ブロック４０だけで、その他の多数の発光パネル光学特性測定ブロック４０はその影響を受けることなくＥＬパネル５の光学特性の測定を続けることができる。

この他、サンプルバッチトレイユニット３０に複数の発光パネル光学特性測定ブロック４０が収容されていて、各発光パネル光学特性測定ブロック４０においてＥＬパネル５の光学特性が測定されている場合において、ある任意の発光パネル光学特性測定ブロック４０でＥＬパネル５の光学特性が測定行われている最中であっても、他の発光パネル光学特性測定ブロック４０をサンプルバッチトレイユニット３０から着脱することができる。したがって、測定の行われている発光パネル光学特性ブロック４０に悪影響を与えることなく、他の任意の発光パネル光学特性測定ブロック４０のＥＬパネル５の交換を行うことができる。

さらに、各発光パネル光学特性測定ブロック４０では、それぞれ独立して点灯条件、環境条件および測定条件の光学特性を設定して、その条件下におけるＥＬパネル５の光学特性の測定を行うことができる。したがって、システムサーバ１は、複数の異なる点灯条件、環境条件および測定条件下（この実施例では、最大１００パターン）の測定データを一元管理することができる。

ところで、発光パネル光学特性測定ブロック４０にはそれぞれ、その発光パネル光学特性測定ブロックパネル４０の測定特性および識別ＩＤが記憶されている。システムサーバ１は、各サンプルバッチトレイユニット３０の収納場所に付与されているアドレス、および発光パネル光学特性測定ブロック４０に記憶されている測定特性および識別ＩＤによって、どのサンプルバッチトレイユニット３０のどの収納場所でどのような測定が行われているかを管理することができる。したがって、サンプルバッチトレイユニット３０から発光パネル光学特性測定ブロック４０が取り外されて、その発光パネル光学特性測定ブロック４０が他のサンプルバッチトレイユニット３０に収納されたとしても、発光パネル光学特性測定ブロック４０の測定特性を損なうことなく、発光パネル５の光学特性の測定の続きを行うことができる。

また、発光パネル光学特性測定ブロック４０を任意のサンプルバッチトレイユニット３０に収納できるので、本考案に係る発行パネルの光学特性測定システムのサイズを任意に調整することができる。
この考案は、以上説明した実施形態に限定されるものではなく、請求項記載の範囲内において種々の変更が可能である。

たとえば、発光パネル光学特性測定ブロックは、ＥＬパネルの光学特性を測定する構成としたが、この構成に限定する必要はなく、液晶パネルやプラズマディスプレーなどの光学特性を測定する構成であってもよい。
また、各発光パネルの光学特性は、発光パネルの輝度や色度だけである必要はなく、発光パネルの出力電圧・出力電流の電圧値・電流値などが含まれていてもよい。

本考案に係る発光パネルの光学特性測定システムを説明するためのブロック図である。 発光パネル光学特性測定ブロック４０の一台分の構成を示すブロック図である。 従来のＥＬパネルの光学特性データを測定するための測定装置を示すブロック図である。

符号の説明

１ システムサ−バ
２ システムコントロ−ラ
３ サンプルバッチトレイユニット
４ 発光パネル光学特性測定ブロック
５ ＥＬパネル
６ 受光センサ
７ 定電圧/定電流供給回路
８ 周辺温度調整回路
９ 温度センサ
１０ 制御部
１１ 測定時間間隔調整部

Claims (5)

1. １枚の発光パネルを設置し、個別に発光パネルの点灯条件、環境条件および測定条件を設定して、それらの条件に基づいて当該発光パネルを点灯し、点灯した発光パネルの光学特性を測定するための発光パネル光学特性測定ブロックと、
   前記発光パネル光学特性測定ブロックを複数（Ｍ）収容可能であって、各収容場所毎に異なるアドレスを付与しており、前記発光パネル光学特性測定ブロックが収容されると、当該発光パネル光学特性測定ブロックに電源を供給する収納ユニットと、
   前記収納ユニットを複数（Ｎ）接続可能であるシステムコントローラと、
   前記システムコントローラと接続されており、前記収納ユニットにそれぞれ収容されている前記発光パネル光学特性測定ブロックの点灯条件、環境条件および測定条件を個別に設定し、その条件下における測定開始時刻および測定終了時刻を個別に設定し、各発光パネル光学特性測定ブロックで測定された測定データを一元管理するための情報処理部と、
   を備えたことを特徴とする発光パネルの光学特性測定システム。
2. 前記収納ユニットに収容された各発光パネル光学特性測定ブロックは、それぞれ異なった点灯条件、環境条件および測定条件で発光パネルを点灯させることを特徴とする請求項１記載の発光パネルの光学特性測定システム。
3. 前記収納ユニットに収容された各発光パネル光学特性測定ブロックは、それぞれ独立して発光パネルの光学特性を測定することを特徴とする請求項１または請求項２記載の発光パネルの光学特性測定システム。
4. 前記収納ユニットに複数の発光パネル光学特性測定ブロックが収容されて、各発光パネル光学特性測定ブロックにおいて発光パネルの光学特性が測定されている場合において、
   ある任意の発光パネル光学特性測定ブロックで発光パネルの光学特性の測定が行われている最中であっても、他の発光パネル光学特性測定ブロックを収納ユニットから着脱することができることを特徴とする請求項１から請求項３記載の何れかに記載の発光パネルの光学特性測定システム。
5. 前記発光パネル光学特性測定ブロックには、当該発光パネル光学特性測定ブロックの測定特性および識別ＩＤが記憶されており、
   前記情報処理部は、前記収納ユニットに付与されているアドレス、および前記発光パネル光学特性測定ブロックに記憶されている測定特性および識別ＩＤによって、どの収納ユニットのどの収納場所でどのような測定が行われているかを管理することを特徴とする、請求項１から請求項４の何れかに記載の発光パネルの光学特性測定システム。

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