JP3091279B2 - Multi-beam autofocus controller - Google Patents
Multi-beam autofocus controllerInfo
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Description
【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】本発明はマルチビームオートフォ
ーカス制御装置、特にカメラにおいて複数のビームを用
いて測距処理を行うオートフォーカス制御の内容に関す
る。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a multi-beam auto-focus control apparatus, and more particularly to the contents of auto-focus control for performing a distance measurement process using a plurality of beams in a camera.
【0002】[0002]
【従来の技術】カメラでは、オートフォーカス制御が行
われており、このオートフォーカス制御では、例えば投
光部からマルチビームを被写体に投光し、この被写体か
ら反射するビームを受光部によって受光することにより
行われる。すなわち、図9に示されるように、カメラ本
体1の前面部にはファインダ2、レンズ3を保持した鏡
胴4が配置されており、この鏡胴4の上部に赤外光を発
光する投光部(赤外光発光ダイオード)5及び受光部6
が横方向に並んで配置される。この投光部5及び受光部
6では、図10に示されるように被写体距離の測定(測
距)及びオートフォーカス(AF)段数の出力が行われ
る。2. Description of the Related Art In a camera, auto focus control is performed. In this auto focus control, for example, a multi-beam is projected from a light projecting section to a subject, and a beam reflected from the subject is received by a light receiving section. It is performed by That is, as shown in FIG. 9, a lens barrel 4 holding a finder 2 and a lens 3 is arranged on the front surface of the camera body 1. Section (infrared light emitting diode) 5 and light receiving section 6
Are arranged side by side in the horizontal direction. The light projecting unit 5 and the light receiving unit 6 measure the subject distance (ranging) and output the number of auto focus (AF) stages as shown in FIG.
【0003】図10(a)において、投光部5から異な
る距離P1 ,P2 の被写体にビームを投光すると、被写
体からの反射ビームは受光部6において受光レンズ6a
を介して受光素子6bで受光される。このとき、上記受
光素子6bでは投光部5と受光部6を結ぶ基線長方向に
おいて、距離P1 の被写体からの反射ビームが位置p1
に、距離P2 の被写体からの反射ビームが位置p2 に受
光されるので、この受光ビームの位置によって被写体距
離が測定される。この受光素子6bには、図10(b)
に示されるように、被写体距離に対応したオートフォー
カス制御のためのAF段数が割り当てられるが、まず受
光されたビーム(点線)100はその重心位置200が
検出され、この検出値が測距情報として受光素子6bか
ら出力されると、この測距情報に基づいてAF段数が決
定される。この場合、上記投光部5からは、図11に示
されるように測距を確実にするために、投光位置の異な
る三つのビームが被写体7へ向けて順次出力され、この
三つのビームに基づいて上記AF段数が出力されてお
り、このAF段数情報によりレンズが駆動されることに
よって被写体7に焦点が合うことになる。In FIG. 10 (a), when a beam is projected on an object at different distances P1 and P2 from the light projecting unit 5, a reflected beam from the object is received by a light receiving lens 6a in a light receiving unit 6.
Through the light receiving element 6b. At this time, in the light receiving element 6b, the reflected beam from the subject at the distance P1 is positioned at the position p1 in the base line length direction connecting the light projecting unit 5 and the light receiving unit 6.
Since the reflected beam from the subject at the distance P2 is received at the position p2, the subject distance is measured based on the position of the received beam. This light receiving element 6b has a structure shown in FIG.
As shown in the figure, the number of AF stages for autofocus control corresponding to the subject distance is assigned. First, the center of gravity 200 of the received beam (dotted line) 100 is detected, and this detected value is used as distance measurement information. When output from the light receiving element 6b, the number of AF stages is determined based on the distance measurement information. In this case, from the light projecting unit 5, three beams having different light projecting positions are sequentially output toward the subject 7 in order to secure the distance measurement as shown in FIG. The number of AF stages is output based on the AF stage number information. By driving the lens based on the AF stage number information, the subject 7 is focused.
【0004】[0004]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
マルチビームによるオートフォーカス制御では、図11
(a)に示されるように、投光されたビームが被写体7
に完全に当らず、上記投光部5と受光部6とを結ぶ基線
長方向でビーム欠けして戻る場合には、ビームの上記重
心位置が変化して誤測距を起こしてしまうという問題が
あった。すなわち、図10(b)に示されるように、真
円のビーム100(鎖線)であるときは、その重心位置
が200の位置になるのに対して、半円のビーム101
(実線)であるときは、重心位置が201の位置へずれ
てしまう。従って、本来出力されるAF段数はnでなけ
ればならないが、実際にはn−1のAF段数が出力さ
れ、オートフォーカス制御が不正確になる。However, in the conventional multi-beam autofocus control, FIG.
As shown in FIG.
In the case where the beam does not completely hit and the beam returns in the direction of the base line connecting the light projecting unit 5 and the light receiving unit 6, there is a problem that the position of the center of gravity of the beam changes and erroneous distance measurement occurs. there were. That is, as shown in FIG. 10 (b), when the beam 100 is a perfect circle (dashed line), the center of gravity is at the position 200, whereas the beam 101 is a semicircle.
In the case of (solid line), the position of the center of gravity is shifted to the position of 201. Accordingly, although the number of AF stages to be output must be n, the number of AF stages of n-1 is actually output, and autofocus control becomes inaccurate.
【0005】図12には、一つのビームを投光してカメ
ラを所定角度振った場合のAF段数の出力状態が示さ
れ、図13には、三つのビームを投光した場合のAF段
数の出力状態が示されている。上記図において、図示の
部分Aはビーム欠けがない状態であり、AF段数が小さ
く(距離は短く)なる部分Bは、図10(b)のビーム
101の場合に相当し、ビームの左側が欠けた場合(投
光円は投光レンズによって左右が逆になる)であり、A
F段数が大きく(距離は遠く)なる部分Cはビームの右
側が欠けた場合である。従って、ビームが欠ける図示の
B,C部分は、ピントがずれるNG領域となる。上記の
ことは、図11(b)に示されるように、被写体7に一
つビームしか投光できない遠い距離のときでは問題とな
らないが、図11(a)のように一つ以上のビームが被
写体7に当るような近い距離にあるときに問題となる。
すなわち、2個以上のビーム出力が存在する場合は、従
来では出力されたAF段数の小さい方が選択されること
になり、特に左側のビーム欠けが生じるときには図13
のBで示されるNG領域のAF段数でフォーカス制御さ
れることになる。FIG. 12 shows the output state of the number of AF stages when one beam is projected and the camera is swung by a predetermined angle. FIG. 13 shows the number of AF stages when three beams are projected. The output state is shown. In the above figure, the portion A shown in the drawing is in a state where there is no beam chipping, and the portion B where the number of AF stages is small (the distance is short) corresponds to the case of the beam 101 in FIG. A (light projection circle is turned left and right by the light projection lens).
Portion C where the number of F stages is large (the distance is long) is a case where the right side of the beam is missing. Therefore, the illustrated B and C portions where the beam is missing are NG regions where the focus is out of focus. The above is not a problem at a distant distance where only one beam can be projected on the subject 7 as shown in FIG. 11B. However, as shown in FIG. This is a problem when the subject 7 is at a short distance so as to hit the subject 7.
That is, when there are two or more beam outputs, the smaller number of AF stages that have been output is conventionally selected, and especially when the left beam is missing, FIG.
The focus is controlled by the number of AF stages in the NG area shown by B in FIG.
【0006】本発明は上記問題点に鑑みてなされたもの
であり、その目的は、ビーム欠けによる誤測距をなくし
正確なフォーカス制御ができるマルチビームオートフォ
ーカス制御装置を提供することにある。SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in consideration of the above problems, and an object of the present invention is to provide a multi-beam auto-focus control device capable of eliminating erroneous distance measurement due to lack of a beam and performing accurate focus control.
【0007】[0007]
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに、請求項1に係る発明は、マルチビームの全てを測
距毎に被写体に投光する投光部と、この被写体からの反
射ビームを受光しこの受光位置によって測距情報を出力
する受光部と、を有するカメラのマルチビームオートフ
ォーカス制御装置において、上記受光部で受光された各
ビームにビーム欠けが生じているか否かを全てのマルチ
ビームについて判別するビーム欠け判別手段を設け、こ
のビーム欠け判別手段の出力に基づいて上記投光部と受
光部を結ぶ基線長方向でビーム欠けのない又は最も少な
いビームを選択し、この選択ビームの測距情報によりオ
ートフォーカス制御を行うことを特徴とする。上記にお
いて、フォーカス制御のために選択されるビーム欠けの
最も少ないビームとは、例えば受光された二つのビーム
が両者とも欠ける場合があり、そのときの欠け量が最も
小さいビームを意味する。To achieve the above object, the invention according to claim 1 measures all of the multi-beams.
A light projecting portion for projecting the object into距毎, in the multibeam autofocus control device for a camera having a light receiving portion, a for receiving the reflected beam from the object to output the distance measurement information by the light receiving position, the light receiving Check whether all beams received by the unit are missing or not.
A beam missing determining means for determining a beam is provided, and based on the output of the beam missing determining means, a beam having no or few beams in a base line length direction connecting the light projecting unit and the light receiving unit is selected. It is characterized in that auto focus control is performed based on distance measurement information. In the above description, the beam with the least beam missing selected for the focus control means that, for example, both of the received two beams may be missing, and means the beam with the smallest missing amount at that time.
【0008】[0008]
【作用】上記の構成によれば、上記ビーム欠け判別手段
において、受光された各ビームにビーム欠けがあるか否
かは、各ビームの光量により判定されており、このビー
ム光量は、所定光量になるまでの時間(発光回数)又は
所定時間当りの光量値等で測定される。この場合、ビー
ム欠けがあるビームは反射光量が小さいので、例えばビ
ーム光量を測定する場合は、所定光量になるまでの時間
がかかる。従って、マルチビーム中の最も短い時間で所
定光量となったビームがビーム欠けのない(又は少な
い)ビームとして特定選択される。そして、このビーム
欠けのないビームの測距情報、例えば測距値に対応した
AF段数が出力されることになり、このAF段数によっ
てオートフォーカスのためのレンズ駆動が行われる。According to the above arrangement, the beam missing determining means determines whether or not each of the received beams has a beam missing based on the light quantity of each beam. It is measured by the time (number of times of light emission) or the light amount value per predetermined time. In this case, since the reflected light amount is small for a beam having a missing beam, for example, when measuring the beam light amount, it takes time to reach the predetermined light amount. Therefore, a beam having a predetermined light amount in the shortest time in the multi-beam is specifically selected as a beam having no (or little) beam missing. Then, the distance measurement information of the beam having no beam missing, for example, the number of AF stages corresponding to the distance measurement value is output, and the lens drive for autofocus is performed based on the number of AF stages.
【0009】[0009]
【実施例】図1には、実施例に係るカメラのマルチビー
ムオートフォーカス制御装置の構成が示されており、図
において、投光部10には赤外光を発光する発光ダイオ
ード10a,10b,10cが設けられる。これら発光
ダイオード10a〜10cには、駆動回路11を介して
CPU(中央処理部)12が接続されており、このCP
U12から出力される中央及び左右の発光ダイオード1
0a〜10cの発光回数指令が駆動回路11に出力され
ると、この駆動回路11によって発光ダイオード10a
〜10cが順次駆動されてパルス状の赤外光ビームが所
定の順に出力される。FIG. 1 shows a configuration of a multi-beam autofocus control device for a camera according to an embodiment. In the figure, a light emitting unit 10 has light emitting diodes 10a, 10b, 10c is provided. A CPU (Central Processing Unit) 12 is connected to these light emitting diodes 10a to 10c via a drive circuit 11, and this CP
Central and left and right light emitting diodes 1 output from U12
When the light emission number commands 0a to 10c are output to the driving circuit 11, the driving circuit 11
To 10c are sequentially driven to output pulsed infrared light beams in a predetermined order.
【0010】一方、受光部14には参照受光素子14a
及びくさび受光素子14bが設けられ、この参照受光素
子14aは受光された各ビームの光量を特定することに
なり、くさび受光素子14bはくさび状のマスクが形成
されたもので、受光された各ビームの基線長(投光部1
0と受光部14とを結ぶ線)方向の位置によって測距を
行い、かつAF段数を特定するために[図10(b)に
相当する]設けられる。上記参照受光素子14の後段に
は、不必要な外光を除去して赤外光について電流/電圧
変換を行う電流/電圧変換アンプ15a、利得アンプ1
6a、そして赤外光はパルス状に出力されているので、
これを積分する積分アンプ17aが接続される。他方の
くさび受光素子14bの後段にも、同様に電流/電圧変
換アンプ15b、利得アンプ16b及び積分アンプ17
bが接続される。On the other hand, the light receiving section 14 has a reference light receiving element 14a.
And a wedge light-receiving element 14b. The reference light-receiving element 14a specifies the amount of light of each of the received beams. Baseline length (light-emitting part 1
It is provided [corresponding to FIG. 10B] to measure the distance based on the position in the direction of the line (the line connecting 0 and the light receiving unit 14) and to specify the number of AF steps. A current / voltage conversion amplifier 15a for performing a current / voltage conversion on infrared light by removing unnecessary external light and a gain amplifier 1 are provided downstream of the reference light receiving element 14.
6a, and the infrared light is output in pulse form,
An integration amplifier 17a that integrates this is connected. Similarly, the current / voltage conversion amplifier 15b, the gain amplifier 16b, and the integration amplifier 17 are provided downstream of the other wedge light receiving element 14b.
b is connected.
【0011】また、上記参照受光素子14aについて
は、積分アンプ17aの後段にコンパレータ18が設け
られ、このコンパレータ18では基準電圧と上記積分ア
ンプ17aの出力電圧とを比較し、参照受光素子14a
の受光量が所定光量になったことを検出する。そして、
上記積分アンプ17a,17b及びコンパレータ18の
出力は、CPU12へ供給されており、このCPU12
ではまず参照受光素子14a側の積分アンプ17aの出
力と、くさび受光素子14b側の積分アンプ17bの出
力とを比較することによって、受光ビームの測距、すな
わち各ビームの受光位置(重心位置)による測距が行わ
れる。また、この測距値によってAF段数が検出出力さ
れる。更に、上述したコンパレータ18の出力により、
受光した各ビームが所定光量に達したことが検出される
が、CPU12はこの時点の各ビームの発光回数を検出
出力する。そして、受光したマルチビームにおいて発光
回数が最も少ない、すなわち短時間に所定の光量に達し
たビームがビーム欠けのない(又は最も少ない)ビーム
と判別されることになり、このビームの上記AF段数が
最終的に選択出力される。なお、上記CPU12は撮影
レンズ20を駆動しており、上記の最終的なAF段数に
基づいて撮影レンズ20が駆動されることになる。The reference light receiving element 14a is provided with a comparator 18 after the integrating amplifier 17a. The comparator 18 compares a reference voltage with the output voltage of the integrating amplifier 17a.
It is detected that the received light amount has reached a predetermined light amount. And
The outputs of the integrating amplifiers 17a and 17b and the comparator 18 are supplied to the CPU 12, and the CPU 12
First, the output of the integrating amplifier 17a on the side of the reference light receiving element 14a and the output of the integrating amplifier 17b on the side of the wedge light receiving element 14b are compared to determine the distance of the received light beam, that is, the light receiving position (centroid position) of each beam. Distance measurement is performed. The number of AF stages is detected and output based on the distance measurement value. Further, by the output of the comparator 18 described above,
When it is detected that each of the received beams has reached the predetermined light amount, the CPU 12 detects and outputs the number of light emission of each beam at this time. Then, among the received multi-beams, the beam that has emitted the least number of times of light emission, that is, the beam that has reached a predetermined light amount in a short time is determined to be a beam with no beam missing (or the least). Finally, it is selectively output. The CPU 12 drives the photographing lens 20, and the photographing lens 20 is driven based on the final number of AF steps.
【0012】次に、上記の回路によって検出されるAF
段数を図2〜図6により説明する。ここでは、図2に示
されるように、カメラを中心(±0)から±4度程度振
った場合を考えると、被写体7への投光ビームの投光状
態は図示のようになり、この状態で検出されたAF段数
の変化が図3に示されている。すなわち、図4には上記
くさび受光素子14bに受光されたビーム形状が示され
ているが、図(a)の右欠け状態の場合は、図2
(b),(f),(g)の左欠けビームに相当し(受光
時に反転する)、重心が距離d1 だけ左側へシフトす
る。一方、図(b)の左欠け状態の場合は、図2
(c),(d),(e)の右欠けビームに相当し、この
場合は重心が距離d2 だけ右側へシフトする。従って、
図3では中央及び左右の投光ビームにおいて左欠けが生
じた場合には図示Bに示されるように、距離が近いと誤
判定されてAF段数も小さい方向へずれ、また投光ビー
ムに左欠けが生じた場合には図示のCに示されるよう
に、距離が遠いと誤判定されてAF段数も大きい方向へ
ずれてしまう。Next, AF detected by the above circuit
The number of stages will be described with reference to FIGS. Here, as shown in FIG. 2, when the camera is shaken about ± 4 degrees from the center (± 0), the projection state of the projection beam to the subject 7 is as shown in FIG. FIG. 3 shows the change in the number of AF stages detected in step (a). That is, FIG. 4 shows the shape of the beam received by the wedge light receiving element 14b. In the case of the right chipping state in FIG.
(B), (f), and (g) correspond to the left missing beams (reversed when light is received), and the center of gravity is shifted to the left by the distance d1. On the other hand, in the case of the left chipping state in FIG.
(C), (d) and (e) correspond to the missing beam, in which case the center of gravity is shifted to the right by the distance d2. Therefore,
In FIG. 3, when the left and right projection beams are left missing, as shown in FIG. B, it is erroneously determined that the distance is short, and the number of AF stages shifts to a smaller direction. Occurs, it is erroneously determined that the distance is long as shown by C in the figure, and the number of AF stages shifts in a direction to increase.
【0013】しかし、上述したように、実施例ではコン
パレータ18及びCPU12が所定光量に達する発光回
数を検出することによって、ビーム欠けの状態を判別
し、ビーム欠けのないビームに基づいて上記AF段数を
決定している。すなわち、図5には、カメラを上記の場
合と同様に±4度程度振った場合の測距時間(増幅回路
利得でもよい)の変化が示されており、この図におい
て、最短の測距時間となるビームが選択されることにな
る。従って、上記図3の測定値に対して図5を考慮する
と、図6に示されるAF段数の測定状態を得ることがで
きる。この図6において、各ビームの切換え点で多少の
アップダウンが生じるが、この変動はピントの許容範囲
に入っており、何ら問題はない。また、実施例では被写
体7に対し三つの投光ビームのうち一つが常に投光され
る限界状態を示しており、これよりも更に近距離にある
場合には、上記のアップダウンは小さくなる。However, as described above, in the embodiment, the comparator 18 and the CPU 12 detect the number of times of light emission reaching a predetermined light amount, thereby judging the state of beam missing, and based on the beam without beam missing, the number of AF stages is determined. I have decided. That is, FIG. 5 shows a change in the distance measurement time (or the gain of the amplifier circuit) when the camera is shaken by about ± 4 degrees as in the above case. Is selected. Therefore, considering FIG. 5 with respect to the measured values of FIG. 3, the measurement state of the number of AF stages shown in FIG. 6 can be obtained. In FIG. 6, although a slight up-down occurs at the switching point of each beam, this fluctuation is within the allowable range of focus, and there is no problem at all. Further, the embodiment shows a limit state in which one of the three projected beams is always projected on the subject 7, and when the distance is further shorter than this, the up-down described above becomes smaller.
【0014】実施例は以上の構成からなり、以下に図7
及び図8に基づいてその動作を説明する。まず、図7の
ステップ401で撮影ボタンでの第1段スイッチSがオ
ンされると、ステップ402からステップ407にて中
央ビームについての処理が行われることになり、ステッ
プ402では中央ビームについての発光ダイオード10
bによる投光及び受光素子14a,14bによる受光か
ら積分までの受光処理が行われる。次のステップ403
に移行すると、コンパレータ18の出力が基準電圧より
も大きくなるHighの状態になったか否かが検出され、”
N”の時はステップ404へ移行する。このステップ4
04では、発光回数が例えば1000回になったか否か
を検出し、”N”の時はステップ402へ移行し、”
Y”の時はステップ405へ移行しており、この処理は
被写体7が所定距離よりも遠い場合にコンパレータ18
での比較動作を停止するために行われる。The embodiment has the above configuration.
The operation will be described with reference to FIG. First, when the first-stage switch S by the photographing button is turned on in step 401 of FIG. 7, processing for the center beam is performed in steps 402 to 407, and in step 402, light emission for the center beam is performed. Diode 10
b, light receiving processing from light receiving by the light receiving elements 14a and 14b to integration is performed. Next step 403
Is detected, it is detected whether or not the output of the comparator 18 is in a High state in which the output is higher than the reference voltage.
If N ", the process proceeds to step 404. This step 4
In step 04, it is detected whether or not the number of times of light emission has reached, for example, 1000 times.
If Y ", the process proceeds to step 405. This processing is performed when the object 7 is farther than the predetermined distance.
This is performed to stop the comparison operation in.
【0015】上記ステップ403にて、”Y”の時はス
テップ405へ移行し、ここでCPU12によって参照
受光素子14aについての積分レベルとくさび受光素子
14bについての積分レベルとを比較して測距が行わ
れ、かつ図3に示されるAF段数が検出される。そし
て、ステップ406にて上記ステップ403でHighレベ
ルが出力された時点の中央ビームの発光回数が出力され
ると共に、ステップ407にて上記ステップ405で検
出された中央ビームのAF段数が出力される。If "Y" in step 403, the process proceeds to step 405, where the CPU 12 compares the integral level of the reference light receiving element 14a with the integral level of the wedge light receiving element 14b to measure the distance. This is performed, and the number of AF stages shown in FIG. 3 is detected. Then, in step 406, the number of times of emission of the center beam at the time when the High level is output in step 403 is output, and in step 407, the number of AF stages of the center beam detected in step 405 is output.
【0016】次に、ステップ408からステップ413
にて右ビームについての処理が行われ、上述の中央ビー
ムと同様の動作を繰返しており、ステップ412にて右
ビームでの所定光量に達するまでの発光回数が出力さ
れ、ステップ413にて右ビームでのAF段数が出力さ
れる。なお、ステップ410では発光回数が例えば50
0回になった時点で、コンパレータ18の出力を停止し
ているが、これは左右のビームは被写体7から外れてし
まうことが多いことを考慮したものである。Next, from step 408 to step 413
The processing for the right beam is performed at step, and the same operation as the above-described center beam is repeated. At step 412, the number of times of light emission until reaching the predetermined light amount at the right beam is output. Is output. In step 410, the number of times of light emission is, for example, 50.
The output of the comparator 18 is stopped when the number of times reaches 0, taking into account that the left and right beams often deviate from the subject 7.
【0017】最後に、図8のステップ414からステッ
プ419にて左ビームについての処理が行われ、上述と
同様の動作により、ステップ418にて左ビームでの所
定光量に達するまでの発光回数が出力され、ステップ4
19にて左ビームでのAF段数が出力される。そうし
て、次のステップ420では、上記三つのビームで検出
されたAF段数が比較され、実施例はこれらのAF段数
の平均値がm以下であるか否かを検出することによって
被写体7が所定の距離以内にある状態であるか否かが判
別される。そして、AF段数がm以上である時は、被写
体7が遠い距離にある場合であるので、ビーム欠け状態
を判別せずにステップ423へ移行し、AF段数がm以
下である時は次のステップ421へ移行する。このステ
ップ421では、三つのビーム中の発光回数の一番少な
いビームが選択され、この後段のステップ422では、
上記選択されたビームでのAF段数が最終的なAF段数
値として出力される。Finally, the process for the left beam is performed in steps 414 to 419 in FIG. 8, and the same operation as described above outputs the number of times of light emission until the predetermined amount of light in the left beam is reached in step 418. And step 4
At 19, the number of AF stages for the left beam is output. Then, in the next step 420, the number of AF steps detected by the three beams is compared, and in the embodiment, the object 7 is detected by detecting whether or not the average value of these AF steps is equal to or less than m. It is determined whether the state is within a predetermined distance. When the number of AF steps is equal to or greater than m, the subject 7 is at a long distance. Therefore, the process proceeds to step 423 without discriminating the beam missing state, and when the number of AF steps is equal to or less than m, the next step is performed. 421. In this step 421, the beam with the smallest number of times of light emission among the three beams is selected, and in the subsequent step 422,
The number of AF stages in the selected beam is output as a final AF stage numerical value.
【0018】例えば、図2(b)に示された、カメラを
+0.8度に振った場合を考えると、従来では図3に示
されるように左ビームのB部分が選択されるので、AF
段数はn−3となるが、実施例では図5に示されるよう
に、発光回数が少ないのは中央ビームであるから、図6
に示されるように、中央ビームのAF段数であるnが最
終的に選択されることになる。このように、ステップ4
22のAF段数の出力が終了すると、ステップ423へ
移行し、撮影ボタンの第2段スイッチSが動作し、次の
ステップ424にて最終的な上記AF段数によって撮影
レンズが所定の位置まで駆動され、正確なオートフォー
カス制御の下で撮影を完了することができることにな
る。For example, considering the case where the camera is swung at +0.8 degrees as shown in FIG. 2B, the B portion of the left beam is conventionally selected as shown in FIG.
Although the number of stages is n-3, in the embodiment, as shown in FIG.
As shown in (1), n, which is the number of AF stages of the center beam, is finally selected. Thus, step 4
When the output of the 22 AF steps is completed, the process proceeds to step 423, where the second switch S of the photographing button is operated, and in the next step 424, the photographing lens is driven to a predetermined position by the final number of AF steps. Thus, shooting can be completed under accurate autofocus control.
【0019】上記実施例では、参照受光素子14aで受
光した各ビームのビーム欠けを、所定光量に達する発光
回数(時間)で判別するようにしたが、このビーム欠け
は、増幅回路の利得でも判別でき、受光ビームの光量の
強度を測定することにより判別できる。また、受光した
全てのビームが欠ける場合には、すなわち基線長方向で
欠ける場合に限らず上下部が欠ける場合もあり、この場
合にはビーム欠けが一番少ないビームがビーム欠けがな
いビームとして取り扱われることになる。In the above-described embodiment, the beam loss of each beam received by the reference light receiving element 14a is determined based on the number of times of light emission (time) when a predetermined amount of light is reached. However, the beam loss is also determined by the gain of the amplifier circuit. It can be determined by measuring the intensity of the light intensity of the received light beam. Also, when all the received beams are missing, that is, not only in the case of missing in the base line length direction but also in the upper and lower parts, the beam with the least beam missing is treated as a beam without beam missing. Will be.
【0020】更に、上記実施例ではカメラの横方向に投
光部10と受光部14が並んだ状態で基線長方向のビー
ム欠けを判別する場合を説明したが、カメラの縦方向に
投光部10と受光部14が並んだ場合では縦方向の基線
長方向に重心がずれることになるので、この場合には縦
方向のビーム欠けが生じるときに本発明を適用すること
が可能である。Further, in the above-described embodiment, the case where the beam missing in the base line length direction is determined in a state where the light projecting unit 10 and the light receiving unit 14 are arranged in the horizontal direction of the camera has been described. Since the center of gravity is shifted in the longitudinal direction of the base line when the light receiving unit 10 and the light receiving unit 14 are arranged side by side, in this case, the present invention can be applied to the case where the longitudinal beam is chipped.
【0021】[0021]
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
1回の測距毎に、受光部での受光された各ビームにビー
ム欠けが生じているか否かを、全てのマルチビームにつ
いて判別するビーム欠け判別手段を設け、このビーム欠
け判別手段の出力に基づいて上記投光部と受光部を結ぶ
基線長方向でビーム欠けのない又は最も少ないビームを
選択し、この選択ビームの測距情報によりオートフォー
カス制御を行うようにしたので、基線長方向でビーム欠
けが生じて重心の移動があった場合でも、他のビーム欠
けのないビームの測距情報に基づいて正確なオートフォ
ーカス制御をすることが可能となる。As described above, according to the present invention,
For each distance measurement, it is determined whether or not each beam received by the light receiving unit has a missing beam for all multi-beams.
The beam chipping discriminating means discriminated have provided, this beam chipping select no or lowest beam of the beam missing in the base length direction connecting the light receiving portion the light projecting unit on the basis of the output of the discriminating means, measuring the selected beam Since auto focus control is performed based on distance information, even if a beam break occurs in the base line length direction and the center of gravity moves, accurate auto focus control is performed based on distance measurement information of other beams without beam breaks It becomes possible to do.
【図1】本発明の実施例に係るマルチビームオートフォ
ーカス制御装置の構成を示すブロック図である。FIG. 1 is a block diagram illustrating a configuration of a multi-beam autofocus control device according to an embodiment of the present invention.
【図2】被写体に対してカメラを振った場合の各ビーム
の投光状態を示す説明図である。FIG. 2 is an explanatory diagram illustrating a projection state of each beam when a camera is shaken with respect to a subject.
【図3】図2の条件下で得られるAF段数の変化を示す
グラフ図である。FIG. 3 is a graph showing a change in the number of AF stages obtained under the conditions of FIG. 2;
【図4】ビーム欠けした場合の重心の移動状態を示す説
明図である。FIG. 4 is an explanatory diagram showing a moving state of a center of gravity when a beam is missing.
【図5】図2の条件の下で測距動作した際の各ビームの
測距時間を示すグラフ図である。FIG. 5 is a graph showing a distance measuring time of each beam when a distance measuring operation is performed under the conditions of FIG. 2;
【図6】実施例で最終的に得られるAF段数の変化を示
すグラフ図である。FIG. 6 is a graph showing a change in the number of AF stages finally obtained in the embodiment.
【図7】実施例の動作を示すフローチャートである。FIG. 7 is a flowchart showing the operation of the embodiment.
【図8】実施例の動作を示す図7の続きのフローチャー
トである。FIG. 8 is a continuation of the flowchart of FIG. 7 showing the operation of the embodiment.
【図9】カメラ前面部の構成を示す図である。FIG. 9 is a diagram showing a configuration of a camera front part.
【図10】従来の測距状態を示す説明図であり、図
(a)は赤外光の投光及び受光状態を示す図、図(b)
は受光素子での受光状態を示す図である。10A and 10B are explanatory diagrams showing a conventional distance measuring state, and FIG. 10A is a diagram showing a light emitting and receiving state of infrared light, and FIG.
FIG. 3 is a diagram showing a light receiving state of the light receiving element.
【図11】マルチビームが被写体へ投光された状態を示
す説明図である。FIG. 11 is an explanatory diagram showing a state where a multi-beam is projected on a subject.
【図12】従来において一つのビームを用い、カメラを
所定角度振った場合に検出されるAF段数の変化を示す
グラフ図である。FIG. 12 is a graph showing a change in the number of AF stages detected when a camera is swung by a predetermined angle using one beam in the related art.
【図13】従来において三つのビームを用い、カメラを
所定角度振った場合に検出されるAF段数の変化を示す
グラフ図である。FIG. 13 is a graph showing a change in the number of AF stages detected when a camera is swung by a predetermined angle using three beams in the related art.
5,10 … 投光部、 6,14 … 受光部、 7 … 被写体、 10a,10b,10c … 発光ダイオード、 12 … CPU、 14a … 参照受光素子、14b … くさび受光素
子、 17a,17b … 積分アンプ、 18 … コンパレータ。5, 10: light-emitting unit, 6, 14: light-receiving unit, 7: subject, 10a, 10b, 10c: light-emitting diode, 12: CPU, 14a: reference light-receiving element, 14b: wedge light-receiving element, 17a, 17b: integrating amplifier , 18 ... Comparator.
Claims (1)
投光する投光部と、この被写体からの反射ビームを受光
しこの受光位置によって測距情報を出力する受光部と、
を有するカメラのマルチビームオートフォーカス制御装
置において、 上記受光部で受光された各ビームにビーム欠けが生じて
いるか否かを全てのマルチビームについて判別するビー
ム欠け判別手段を設け、このビーム欠け判別手段の出力
に基づいて上記投光部と受光部を結ぶ基線長方向でビー
ム欠けのない又は最も少ないビームを選択し、この選択
ビームの測距情報によりオートフォーカス制御を行うこ
とを特徴とするマルチビームオートフォーカス制御装
置。A light-emitting unit for projecting all of the multi-beams to a subject for each distance measurement, a light-receiving unit for receiving a reflected beam from the subject and outputting distance-measuring information based on the light-receiving position;
A multi-beam autofocus control device for a camera, comprising: a plurality of multi-beams. A beam having no or a minimum beam in the base line length direction connecting the light projecting unit and the light receiving unit based on the output of the multi-beam, and performing autofocus control based on distance measurement information of the selected beam. Auto focus control device.
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP28421791A JP3091279B2 (en) | 1991-10-04 | 1991-10-04 | Multi-beam autofocus controller |
US07/953,127 US5321460A (en) | 1991-10-04 | 1992-09-29 | Autofocusing controlling apparatus for camera |
US08/197,339 US5500707A (en) | 1991-10-04 | 1994-02-16 | Autofocusing controlling apparatus for camera |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP28421791A JP3091279B2 (en) | 1991-10-04 | 1991-10-04 | Multi-beam autofocus controller |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH05100151A JPH05100151A (en) | 1993-04-23 |
JP3091279B2 true JP3091279B2 (en) | 2000-09-25 |
Family
ID=17675687
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP28421791A Expired - Fee Related JP3091279B2 (en) | 1991-10-04 | 1991-10-04 | Multi-beam autofocus controller |
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---|---|
JP (1) | JP3091279B2 (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0735243U (en) * | 1993-12-16 | 1995-06-27 | 桐生 信夫 | Cargo collapse prevention device |
-
1991
- 1991-10-04 JP JP28421791A patent/JP3091279B2/en not_active Expired - Fee Related
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0735243U (en) * | 1993-12-16 | 1995-06-27 | 桐生 信夫 | Cargo collapse prevention device |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH05100151A (en) | 1993-04-23 |
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