JP3081140B2 - Polishing device with polishing tape - Google Patents
Polishing device with polishing tapeInfo
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- Finish Polishing, Edge Sharpening, And Grinding By Specific Grinding Devices (AREA)
- Grinding And Polishing Of Tertiary Curved Surfaces And Surfaces With Complex Shapes (AREA)
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、被研磨体の端面を
研磨テープにより研磨する装置に関し、特に研磨テープ
を有効かつ効率的に使用し、研磨面に対して任意の接触
角度で接触させる研磨装置に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an apparatus for polishing an end face of an object to be polished with a polishing tape, and more particularly to a polishing apparatus for effectively and efficiently using a polishing tape and contacting the polishing surface at an arbitrary contact angle. Related to the device.
【0002】[0002]
【従来の技術】被研磨体、たとえば半導体ウェハーの端
面は、その表面、裏面の研磨と同様に、砥粒と溶剤とか
らなるスラリーをその上に塗り、研磨布などで擦って研
磨を行っていた。2. Description of the Related Art In the same manner as the polishing of the front and back surfaces of an object to be polished, for example, a semiconductor wafer, a slurry composed of abrasive grains and a solvent is applied thereon and polished with a polishing cloth or the like. Was.
【0003】[0003]
【発明が解決しようとする課題】しかし、このようなス
ラリーを用いた研磨では、研磨後スラリーが残留しない
ように、ウェハーを洗浄しなければならない。もし、残
留スラリーがあると、そのウェハー上に形成されるデバ
イスに不良が生じる。However, in polishing using such a slurry, the wafer must be cleaned so that the slurry does not remain after polishing. If there is residual slurry, devices formed on the wafer will be defective.
【0004】また、このようなスラリーはアルカリ性で
あるため、研磨後、廃液を所定の化学処理を行わなけれ
ば廃棄できないものである。[0004] Further, since such a slurry is alkaline, the waste liquid cannot be discarded unless a predetermined chemical treatment is performed after polishing.
【0005】このように、従来のスラリーを用いた研磨
は、研磨処理後に洗浄が必要となり、また廃液の処理も
必要となり、研磨時間、コストがかかる。As described above, the polishing using the conventional slurry requires cleaning after the polishing process, and also requires the treatment of the waste liquid, which requires polishing time and cost.
【0006】半導体ウェハーにはそれ自身の位置づけの
ためのノッチが設けられている。この部分も研磨しない
と、そこにあった削りくず等がデバイス形成時に浮遊し
て、歩留まりを悪くしている。[0006] The semiconductor wafer is provided with notches for positioning itself. If this part is not polished, the shavings and the like existing there float at the time of device formation, and the yield is deteriorated.
【0007】この部分の研磨も必要であるが、ノッチは
小さくスラリーを用いた研磨布による研磨では所期の目
的を達成できない。[0007] Polishing of this portion is also necessary, but the desired purpose cannot be achieved by polishing with a polishing cloth using a slurry having a small notch.
【0008】そこで、発明の目的は、スラリーを用いる
ことなく被研磨体を研磨できる研磨装置を提供すること
である。Accordingly, an object of the present invention is to provide a polishing apparatus capable of polishing an object to be polished without using a slurry.
【0009】本発明の他の目的は、被研磨体の端面の形
状にそって研磨を行うことができる研磨装置を提供する
ことである。Another object of the present invention is to provide a polishing apparatus capable of performing polishing along the shape of the end face of the object to be polished.
【0010】さらに、本発明の目的は、研磨テープを有
効且つ効率的に使用して研磨を行う研磨装置を提供する
ことである。It is a further object of the present invention to provide a polishing apparatus for performing polishing by using a polishing tape effectively and efficiently.
【0011】[0011]
【課題を解決するための手段】上記目的を達成する本発
明の研磨テープによる研磨装置は、 (a) 第1の回転手段の回転軸に、その軸線に対して垂直
に取り付けられた第1のプレートと、 (b) 第1のプレートに取り付けられた第2の回転手段
と、 (c) 第1のプレートに対して平行に対置され、かつ軸線
の方向に対して垂直方向に往復移動可能に第1のプレー
トに取り付けられた第2のプレートと、 (d) 該第2のプレートを含む面に対して平行で、一端が
第2のプレートに回動自在に連結され、他端が第2の回転
手段の回転軸に連結される連結棒であって、他端が、第
2の回転手段の回転軸の回転中心から離れた位置に回転
自在に連結される、ところの連結棒と、 (e) 第2のプレートに設けられ、研磨テープが掛けられ
る少なくとも二つのローラと、から成る。A polishing apparatus using a polishing tape according to the present invention, which achieves the above object, comprises the following steps: (a) a first rotating means attached to a rotating shaft of a first rotating means perpendicularly to its axis; and plate, (b) a second rotating means attached to the first plate, (c) are opposed in parallel for the first plate, and reciprocally movable in a direction perpendicular to the axial direction A second plate attached to the first plate, (d) parallel to a plane including the second plate, one end of which is rotatably connected to the second plate, and the other end of which is connected to the second plate. A connecting rod connected to the rotating shaft of the rotating means,
Is rotatably connected to a position away from the rotation center of the rotary shaft of the second rotary means, a connecting rod where, and (e) et al provided in the second plate are at least two rollers polishing tape is applied Consisting of
【0012】第1の回転手段が回転すると、第1および第
2のプレートが軸線を中心に回転し、第2の回転手段が回
転すると、連結棒を介して、第2のプレートが、第1のプ
レートに対して平行のまま、軸線方向に垂直な方向に往
復移動する。When the first rotating means rotates, the first and second rotating means rotate.
When the second plate rotates about the axis and the second rotating means rotates, the second plate remains parallel to the first plate via the connecting rod in a direction perpendicular to the axial direction. Reciprocate.
【0013】被研磨体がノッチを有する半導体ウェハー
であるときは、上記研磨装置は、さらに、半導体ウェハ
ーを支持し、ノッチを中心に半導体ウェハーを含む平面
内で回転する回転支持装置を有することが望ましい。回
転支持装置が駆動すると、研磨テープが、そのノッチ全
体と接して研磨を行う。When the object to be polished is a semiconductor wafer having a notch, the polishing apparatus may further include a rotation support device that supports the semiconductor wafer and rotates about the notch in a plane including the semiconductor wafer. desirable. When the rotation support device is driven, the polishing tape comes into contact with the entire notch and performs polishing.
【0014】[0014]
【発明の実施の形態】本発明の実施の形態を、図を参照
して説明する。DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Embodiments of the present invention will be described with reference to FIG.
【0015】本発明の研磨装置の概要を図1ないし3に示
す。図1は研磨装置の正面図であり、図2は研磨装置の平
面図であり、図3は図2の線3-3に沿って一部切り欠きさ
れた研磨装置の側面図を示す。The outline of the polishing apparatus of the present invention is shown in FIGS. 1 is a front view of the polishing apparatus, FIG. 2 is a plan view of the polishing apparatus, and FIG. 3 is a side view of the polishing apparatus partially cut away along line 3-3 in FIG.
【0016】図1に示すように、本発明の研磨装置1は基
本的に被研磨体支持回転機構10、該支持回転機構10を移
動させる移動機構30、研磨ヘッド40、から構成される。As shown in FIG. 1, the polishing apparatus 1 according to the present invention basically comprises a polishing-substance supporting / rotating mechanism 10, a moving mechanism 30 for moving the supporting / rotating mechanism 10, and a polishing head 40.
【0017】台プレート2に対して垂直な正面プレート3
が取り付けられ、そこに以下で説明する被研磨体支持回
転機構10がその被研磨体機構を移動させる移動機構30を
介して取り付けられる。A front plate 3 perpendicular to the base plate 2
Is mounted thereon, and a polished body support rotating mechanism 10 described below is mounted via a moving mechanism 30 for moving the polished body mechanism.
【0018】移動機構30は台プレート2に固定された2本
のレール31a、31bを有し(レール31aの一部は、内側
が見えるように切り欠きされている)、その上にレール
上を往復移動できるように水平に設置された載置台32を
有している。台プレート2の端部には(図1において左
側)、支持台33が固定され、その支持台33に回転自在に
支持されたボールネジ34がレール31a、31bの間でレー
ルに平行に伸びている。The moving mechanism 30 has two rails 31a and 31b fixed to the base plate 2 (a part of the rail 31a is cut away so that the inside can be seen), and the rail is placed on the rail 31a. It has a mounting table 32 installed horizontally so as to be able to reciprocate. A support 33 is fixed to the end of the base plate 2 (left side in FIG. 1), and a ball screw 34 rotatably supported by the support 33 extends between the rails 31a and 31b in parallel with the rails. .
【0019】ボールネジ34は、載置台32の下面に固定さ
れ、ボールネジ34のネジ部と螺合する、支持部35により
支持されている。したがって、ボールネジ34の一端に設
けられたハンドルでボールネジを回転させると、支持部
35を介して載置台32がレール上を移動できる。The ball screw 34 is fixed to the lower surface of the mounting table 32, and is supported by a supporting portion 35 which is screwed with a screw portion of the ball screw 34. Therefore, when the ball screw is rotated by the handle provided at one end of the ball screw 34, the support portion
The mounting table 32 can move on the rail via 35.
【0020】ボールネジは、載置台32の正確な移動に好
適であるが、空気式シリンダー、歯車ベルト等移動を正
確に行うことができる手段も利用できる。Although the ball screw is suitable for accurate movement of the mounting table 32, a means for accurately moving the mounting table 32, such as a pneumatic cylinder or a gear belt, can also be used.
【0021】載置台32の一方側にはモータ11が回転軸1
1’を垂直にして固定され、他方側には軸支持器12が回
転軸12’を垂直に固定されている。載置台32の下側に伸
びた回転軸11’と回転軸12’とはベルト(図1では破線
により示されている)により連結され、モータ11の回転
が回転軸12’に伝えられる。On one side of the mounting table 32, the motor 11 is
On the other side, a shaft support 12 is fixed with the rotating shaft 12 'vertically. The rotating shaft 11 'and the rotating shaft 12' extending below the mounting table 32 are connected by a belt (indicated by a broken line in FIG. 1), and the rotation of the motor 11 is transmitted to the rotating shaft 12 '.
【0022】回転軸12’の上端にはその軸線に垂直に固
定プレート13が水平に固定されその上で、かつ研磨ヘッ
ド40の下方に位置する囲い14(図1において、囲い14の
一部が切り欠きされている)が固定されている。囲い14
の底部には排水口14’が設けられている。この囲い14
は、研磨の際に生じる研磨くずや、水等の液体を使用し
て研磨する際の液体が飛び散らないようにするためのも
のである。At the upper end of the rotating shaft 12 ', a fixing plate 13 is fixed horizontally in a direction perpendicular to its axis, and an enclosure 14 located above and below the polishing head 40 (a part of the enclosure 14 in FIG. (Notched) is fixed. Enclosure 14
A drain port 14 'is provided at the bottom of the container. This enclosure 14
The purpose of this is to prevent the scattering of liquid generated during polishing and the liquid during polishing using a liquid such as water from scattering.
【0023】固定プレート13のモータ11側には、垂直に
支柱15が固定され、その先端に、被研磨体Pを載置する
ための載置プレート16が水平に固定されている。図1お
よび図2によく示されているように、載置プレート16の
研磨ヘッド40側の先端は、軸支持器12の軸線の延長線付
近まで位置している。ただし、研磨の際に研磨テープ
が、載置プレートに接触しないように、その端付近に切
り込みが設けられている(図2において、破線で示され
ている)。さらに、載置プレート16の両側には、被研磨
体Pを固定する固定具16aおよび16bが取り付けられて
いる。図に示された装置では、固定具はネジにより被研
磨体を固定するものでるが、被研磨体が脆弱なものであ
る場合は、載置プレート16に真空ポンプを連結し、吸引
により被研磨体を固定することが望ましい。A column 15 is vertically fixed to the motor 11 side of the fixed plate 13, and a mounting plate 16 for mounting the object P to be polished is horizontally fixed to the tip of the column. As shown in FIGS. 1 and 2, the tip of the mounting plate 16 on the polishing head 40 side is located near an extension of the axis of the shaft supporter 12. However, a cut is provided near the end of the polishing plate so that the polishing tape does not contact the mounting plate during polishing (indicated by a broken line in FIG. 2). Further, fixtures 16a and 16b for fixing the object to be polished P are attached to both sides of the mounting plate 16. In the apparatus shown in the figure, the fixture fixes the object to be polished with screws, but if the object to be polished is fragile, a vacuum pump is connected to the mounting plate 16 and the object is polished by suction. It is desirable to fix the body.
【0024】モータ11が一定角度往復回転すると、軸支
持器12は、その上に固定された固定プレート13を回転軸
12’を中心に往復回転させるが(図10を参照)、その回
転が円滑に行われるように、固定プレート13の下面に、
下端が載置台32の上面と接する支持部13’が設けられて
いる。この支持部13’は必ずしも必要ではないが、大き
な被研磨体を載置するために載置プレート16が大きくな
ったとき、あるいは、固定プレート13を速く回転させる
ときには、支持部は円滑な回転に有効である。When the motor 11 reciprocates by a certain angle, the shaft support 12 rotates the fixed plate 13 fixed thereon on the rotating shaft.
It is reciprocated around 12 '(see FIG. 10), but on the lower surface of the fixed plate 13, so that the rotation is performed smoothly.
A support portion 13 'having a lower end in contact with the upper surface of the mounting table 32 is provided. The support portion 13 'is not always necessary, but when the mounting plate 16 is large for mounting a large object to be polished or when the fixed plate 13 is rotated quickly, the support portion is smoothly rotated. It is valid.
【0025】上述した装置は、被研磨体を回転させるも
のであるが、被研磨体を回転させる必要がないときは、
支柱、囲いを直接載置台32に固定しても良い。The apparatus described above rotates the object to be polished. However, when it is not necessary to rotate the object to be polished,
The support and the enclosure may be directly fixed to the mounting table 32.
【0026】図4は研磨ヘッドの正面図を示し、図5は研
磨ヘッドを構成する台プレートの正面図を示し、図6は
研磨ヘッドの背面図を示し、図7は研磨ヘッドの平面図
を示し、図8は研磨ヘッドの側面図を示す。FIG. 4 shows a front view of the polishing head, FIG. 5 shows a front view of a base plate constituting the polishing head, FIG. 6 shows a rear view of the polishing head, and FIG. 7 shows a plan view of the polishing head. FIG. 8 shows a side view of the polishing head.
【0027】研磨ヘッド40はほぼ矩形の第1プレート4
1、および第1プレート41と平行に対置するほぼ矩形の第
2プレート42を有し、第1プレート41と第2プレート42と
は、4つの連結具43、44、45および46により互いに連結
されている(図5、図7、図8)。The polishing head 40 has a substantially rectangular first plate 4.
1, and a substantially rectangular first plate 41
It has two plates 42, and the first plate 41 and the second plate 42 are connected to each other by four connecting members 43, 44, 45, and 46 (FIGS. 5, 7, and 8).
【0028】連結具43(他の連結具も同様に)は第1プ
レート41に固着される連結具片43aと第2プレート42に
固着される結合具片43bとから成り、結合具片同士は一
つの方向にスライドできるように互いに連結される(図
7を参照)。したがって、第1プレート41と第2プレート4
2は平行に対置され、かつ一つの方向(図示のヘッドで
は上下方向)にスライドできる。The connecting tool 43 (as well as other connecting tools) is composed of a connecting piece 43a fixed to the first plate 41 and a connecting piece 43b fixed to the second plate 42. Are connected to each other so that they can slide in one direction.
7). Therefore, the first plate 41 and the second plate 4
2 are opposed in parallel and can slide in one direction (vertical direction in the illustrated head).
【0029】図5において、第1プレート41の正面図が実
線で示され、第2プレート42の正面図が破線で示されて
いる。図5に示されているように、第1プレート41の表面
には、前述した連結具片43a、44a、45a、46aが固着
され、上方および下方に以下で説明する第2プレート42
に取り付けられるモータ(図では破線で示す)が位置
し、且つ第2プレート42とともに上下動できるように、
矩形の第1開口47および第2開口48が第2プレートに形成
されている。In FIG. 5, a front view of the first plate 41 is shown by a solid line, and a front view of the second plate 42 is shown by a broken line. As shown in FIG. 5, the above-mentioned connecting pieces 43a, 44a, 45a, 46a are fixed to the surface of the first plate 41, and the upper and lower portions of the second plate 42, which will be described below, are fixed.
So that the motor (indicated by the broken line in the figure) attached to the
Rectangular first and second openings 47 and 48 are formed in the second plate.
【0030】第1プレート41の裏側にモータ49が取り付
けられ(図5、図6、図7、図8を参照)、その回転軸49’
が第1プレート41を貫いて表側に突き出ている。A motor 49 is mounted on the back side of the first plate 41 (see FIGS. 5, 6, 7, and 8), and its rotating shaft 49 'is provided.
Project through the first plate 41 to the front side.
【0031】第1プレート41の下端には、裏側に垂直に
突き出でるように、以下で説明するバネを支持するため
のバネ支持片50が固定されている。At the lower end of the first plate 41, a spring supporting piece 50 for supporting a spring described below is fixed so as to project vertically to the back side.
【0032】さらに、第1プレート41の裏側のほぼ中央
に、フレーム部材55が溶接されている(図6において、
フレーム部材55の一部断面が示されている)。フレーム
部材55の連結片55’は図7によく示されているように第1
プレート41とほぼ並行に伸び、正面プレート3を貫通し
て伸びる回転軸56(図2、図3)に垂直に取り付けられて
いる。Further, a frame member 55 is welded substantially at the center of the back side of the first plate 41 (in FIG. 6,
A partial cross section of the frame member 55 is shown). The connection piece 55 ′ of the frame member 55 is the first piece as shown in FIG.
It extends substantially parallel to the plate 41 and is vertically mounted on a rotating shaft 56 (FIGS. 2 and 3) extending through the front plate 3.
【0033】回転軸56の後端にはウォーム・ホイール
(図示せず)が固定され、その歯車と噛み合うウォーム
の軸57が正面プレート3と平行に伸び、そのウォームの
軸の端部のモータ58が連結されている(図2を参照)。
したがって、モータが回転すると、その回転はウォーム
の軸、ウォーム・ホイールを介して、回転軸56に伝えら
れる。そして、その回転軸56の回転により、第1プレー
ト41が回転する。前述したように、第2プレート42は、4
つの連結具43、44、45、46により第1プレート41に連結
されており、したがって、第プレート42も回転する。A worm wheel (not shown) is fixed to the rear end of the rotating shaft 56. A worm shaft 57 meshing with the gear extends parallel to the front plate 3, and a motor 58 at the end of the worm shaft. Are connected (see FIG. 2).
Therefore, when the motor rotates, the rotation is transmitted to the rotating shaft 56 via the worm shaft and the worm wheel. Then, the rotation of the rotation shaft 56 causes the first plate 41 to rotate. As described above, the second plate 42
It is connected to the first plate 41 by two connecting members 43, 44, 45, 46, so that the second plate 42 also rotates.
【0034】図示の装置は、ウォーム・ホイール、ウォ
ームを利用して、回転軸を回転させるが、直接回転軸に
モータを連結することもできる。Although the illustrated device rotates the rotating shaft using a worm wheel and a worm, a motor can be directly connected to the rotating shaft.
【0035】第2プレート42はほぼ矩形であるが、図4に
示されているように、研磨テープが被研磨体と接する側
に張り出した二つの張出し部60aおよび60bを有し、張
り出し部の先端にローラ61a、61bが回転自在に取り付
けらている。Although the second plate 42 is substantially rectangular, as shown in FIG. 4, the polishing tape has two overhanging portions 60a and 60b overhanging on the side in contact with the object to be polished. Rollers 61a and 61b are rotatably attached to the tips.
【0036】張出し部60a、60bの間には、凹所が形成
され、これにより研磨テープがローラ61aおよびローラ
61bの間に掛けられた研磨テープを被研磨体に押し付け
るとき、その押しつけが妨げられない。A recess is formed between the overhang portions 60a and 60b, so that the polishing tape can be moved between the roller 61a and the roller 61a.
When the polishing tape hung between 61b is pressed against the object to be polished, the pressing is not hindered.
【0037】第2プレート42の裏面にモータ63が固定さ
れ、そのモータの後部は第1プレート41の第1開口47を貫
通して後方に伸びている(図5、図6、図7を参照)。モ
ータ63の回転軸63’は第1プレートを貫通して表面に突
き出し、それに研磨テープを供給する供給ローラ62が取
り付けられている。モータ63は、研磨テープを供給する
回転方向とは逆の回転方向にローラ62を回転させ、テー
プにテンションをかけるためのものである。A motor 63 is fixed to the back surface of the second plate 42, and the rear portion of the motor extends rearward through the first opening 47 of the first plate 41 (see FIGS. 5, 6, and 7). ). The rotating shaft 63 'of the motor 63 penetrates through the first plate and protrudes to the surface, and a supply roller 62 for supplying a polishing tape thereto is attached. The motor 63 rotates the roller 62 in a rotation direction opposite to the rotation direction for supplying the polishing tape, and applies tension to the tape.
【0038】さらに、第2プレート42の裏面の下方に、
第2開口48を貫通して伸びる台部材64(図5、図8を参
照)が取り付けられている。その上にモータ65が載置さ
れ且つ第2プレートに取り付けられ、その回転軸65’は
第2プレート42を貫通して伸びている。研磨テープを引
き出す引出しローラ66が回転軸65’に取り付けられてい
る。Further, below the back surface of the second plate 42,
A base member 64 (see FIGS. 5 and 8) extending through the second opening 48 is attached. A motor 65 is mounted thereon and attached to the second plate, and its rotating shaft 65 ′ extends through the second plate 42. A pull-out roller 66 for pulling out the polishing tape is attached to the rotating shaft 65 '.
【0039】図6および図8によく示されているように、
台部材64とバネ支持片50との間にバネ50’が配置されて
いる。したがってバネ50’は台部材64を介して第2プレ
ート42を常に上方へと押し上げる力を作用させる。この
ように、第2プレート42に上方へと力を作用させるの
は、以下で説明するように、第2プレート42を第1プレー
ト41に対して平行に往復スライドさせるために、すなわ
ち往復移動させるめに、第2プレート42に作用する重力
に抗して第2プレート42に上方に力を作用させ、円滑な
往復移動を可能にさせるためである。As best shown in FIGS. 6 and 8,
A spring 50 ′ is arranged between the base member 64 and the spring supporting piece 50. Therefore, the spring 50 'exerts a force for constantly pushing the second plate 42 upward through the base member 64. As described below, the upward force is applied to the second plate 42 in order to slide the second plate 42 back and forth in parallel with the first plate 41, that is, to reciprocate the second plate 42. This is because a force is applied upward to the second plate 42 against the gravity acting on the second plate 42 to enable a smooth reciprocating movement.
【0040】また、第2プレート42上のローラ66の近傍
に台部材67が固着され、その台部材67に、先端にローラ
66と接触するローラ67を回転自在に支持するテープ締め
付け部材68がスライド自在に取り付けられている(図
4)。A base member 67 is fixed to the vicinity of the roller 66 on the second plate 42, and a roller is
A tape tightening member 68 that rotatably supports a roller 67 that comes into contact with 66 is slidably mounted (see FIG.
Four).
【0041】供給ローラ62からの研磨テープTはローラ
61aおよび61bの上に掛けられ、さらに中間ローラ69を
介して、ローラ66とローラ67との間を通るように配置さ
れる。モータ65が駆動すると、研磨テープは順次供給ロ
ーラから供給される。このとき、モータ63も駆動する
と、テープの供給が制限され、そのためテープは弛むこ
となく、一定のテンションも持ち続けることができる。The polishing tape T from the supply roller 62 is a roller.
It is hung on 61a and 61b, and is further arranged to pass between rollers 66 and 67 via an intermediate roller 69. When the motor 65 is driven, the polishing tape is sequentially supplied from the supply roller. At this time, when the motor 63 is also driven, the supply of the tape is restricted, so that the tape does not slack and can keep a certain tension.
【0042】この装置に示されたローラ66および67で
は、使用済みテープが垂れ下がるが、これらローラの代
わりに研磨テープ巻取りローラを回転軸65’に取り付け
ることで、使用済みテープを巻取ることができる。Although the used tape hangs down at the rollers 66 and 67 shown in this apparatus, the used tape can be wound by attaching a polishing tape winding roller to the rotating shaft 65 'instead of these rollers. it can.
【0043】図4、図5に示されているように、第2プレ
ート42の台部材67の近傍に張り出し部材70が固定されて
いる。その張り出し部材70の先端に、連結棒71の一端が
回転自在に連結され、連結棒71の他端が、モータ49の回
転軸49’にその中心からずれた所49”に回転自在に連結
されている。前述したように、第2プレート42は、連結
具43、44、45および46により第1プレート41に対して平
行で、往復スライドできることから、連結棒により回転
軸49’および第2プレート42は、いわゆるスライダー・
クランク機構を構成する。したがって、回転軸49’がモ
ータ49の駆動により回転すると、第2プレート42は往復
スライド、すなわち往復移動する。As shown in FIGS. 4 and 5, a projecting member 70 is fixed to the second plate 42 near the base member 67. One end of a connecting rod 71 is rotatably connected to the tip of the overhang member 70, and the other end of the connecting rod 71 is rotatably connected to a rotating shaft 49 'of the motor 49 at a position 49 "offset from its center. As described above, the second plate 42 is parallel to the first plate 41 by the connecting members 43, 44, 45, and 46, and can slide back and forth. Therefore, the rotating shaft 49 'and the second plate 42 is a so-called slider
Construct a crank mechanism. Therefore, when the rotating shaft 49 'rotates by the driving of the motor 49, the second plate 42 slides reciprocally, that is, reciprocates.
【0044】操作 本発明の研磨装置の操作を、半導体ウェハーのノッチを
研磨する例をもって説明する。Operation The operation of the polishing apparatus of the present invention will be described with reference to an example of polishing a notch of a semiconductor wafer.
【0045】半導体ウェハーを、そのノッチがヘッド側
にくるように載置プレート16上に置き、固定具16a、16
bにより固定する。次に、ボールネジ34を回転せて載置
台32を移動させ、半導体ウェハーをヘッド40の研磨テー
プTに押し付ける。The semiconductor wafer is placed on the mounting plate 16 so that its notch is on the head side, and the fixtures 16a, 16a
Fix with b. Next, the mounting table 32 is moved by rotating the ball screw 34, and the semiconductor wafer is pressed against the polishing tape T of the head 40.
【0046】モータ49を駆動すると、第2プレート42は
第1プレート41に対して往復移動し、研磨テープTは半
導体ウェハーと接しながら、往復摺動する。このとき、
ノッチを研磨する研磨テープの幅は3.0〜4.0mmが適し
ている。また往復移動、すなわちオシレーションは毎分
100〜800サイクルとなるように、モータ49を駆動するこ
とが望ましい。When the motor 49 is driven, the second plate 42 reciprocates with respect to the first plate 41, and the polishing tape T slides reciprocally while being in contact with the semiconductor wafer. At this time,
The width of the polishing tape for polishing the notch is preferably 3.0 to 4.0 mm. Reciprocating movement, ie, oscillation every minute
It is desirable to drive the motor 49 so as to be 100 to 800 cycles.
【0047】上記第2プレートを往復移動させながら、
モータ65および63を駆動すると、研磨テープはテンショ
ンを持ちなら、半導体ウェハーへ供給される。したがっ
て、研磨テープは第2プレートに往復移動により、半導
体ウェハーと往復摺動して、その研磨力は低下するが、
新しい研磨テープが供給されので、一定の研磨力を保つ
ことができる。かくして、研磨テープをローラにより供
給するだけでは、まだ研磨力を持つ研磨テープが無駄に
なるが、上記のように、第2プレートを往復移動させる
ことで、さらに研磨力のある研磨テープを研磨に寄与さ
せるこことができ、したがってテープを有効に利用する
ことができる。さらに、研磨テープを被研磨体に対して
往復摺動させると、研磨テープを過度に被研磨体に押し
付けることなく所望の研磨を行うことができる。While reciprocating the second plate,
When the motors 65 and 63 are driven, the polishing tape is supplied to the semiconductor wafer if it has tension. Therefore, the polishing tape reciprocates on the second plate, reciprocally slides with the semiconductor wafer, and its polishing force decreases,
Since a new polishing tape is supplied, a constant polishing force can be maintained. Thus, merely supplying the polishing tape by the roller wastes the polishing tape still having the polishing power, but by reciprocating the second plate as described above, the polishing tape having the further polishing power is used for polishing. And the tape can be used effectively. Further, when the polishing tape is reciprocally slid with respect to the object to be polished, desired polishing can be performed without excessively pressing the polishing tape against the object to be polished.
【0048】さらに、モータ58を駆動し、ウォーム・ホ
イールの軸57を所定の角度(好適には+70 〜-70 )だ
け往復回転させると、図9(a)〜(c)に示されてい
るように、ヘッド40は回転軸56を中心に一定の角度往復
回転する。これにより、ノッチの上下の縁が研磨され
る。Further, when the motor 58 is driven to reciprocate the worm wheel shaft 57 by a predetermined angle (preferably +70 to -70), as shown in FIGS. 9 (a) to 9 (c). As shown, the head 40 reciprocates at a fixed angle about the rotation axis 56. Thereby, the upper and lower edges of the notch are polished.
【0049】さらにまた、モータ11を駆動し、回転軸1
1’を所定の角度(好適には+60 〜-60 )だけ往復回
転させると、図10(a)〜(c)に示されているよう
に、軸支持器12に固定された固定プレート13が軸支持器
12の軸線を中心に回転する。載置プレート16上の半導体
ウェハーの略V字となるノッチはほぼ軸支持器12の軸線
上にあり、したがって、ノッチの形状にそって研磨が行
われる。Further, the motor 11 is driven to rotate the rotating shaft 1
When 1 'is rotated back and forth by a predetermined angle (preferably +60 to -60), as shown in FIGS. 10 (a) to 10 (c), the fixing plate 13 fixed to the shaft support 12 is rotated. Is a shaft support
Rotate around 12 axes. The substantially V-shaped notch of the semiconductor wafer on the mounting plate 16 is substantially on the axis of the shaft support 12, and therefore, polishing is performed along the shape of the notch.
【0050】上記研磨において水等の液体を使用するこ
とで生じた廃水は、囲い14に集められ、排出される。Waste water generated by using a liquid such as water in the above polishing is collected in the enclosure 14 and discharged.
【0051】モータ58、モータ11により回転軸を所定の
角度往復回転させるほか、研磨テープが被研磨体に対し
て所望の角度になったとき、モータの駆動を停止させる
と、研磨テープは被研磨体に対して所望の角度で接触さ
せることができる。When the rotating shaft is reciprocally rotated by a predetermined angle by the motor 58 and the motor 11, and the driving of the motor is stopped when the polishing tape has reached a desired angle with respect to the object to be polished, the polishing tape is polished. Contact can be made with the body at a desired angle.
【0052】[0052]
【効果】本発明の研磨装置は研磨テープを用いて被研磨
体を研磨することから、砥粒と溶剤とからなるスラリー
を用いる必要がなくなり、したがって、研磨後の残留ス
ラリーの除去のための洗浄も不要となり、また研磨後の
廃液の処理も不要となる。このことは、研磨時間、研磨
コストの大幅な削減となる。The polishing apparatus of the present invention uses a polishing tape to polish an object to be polished, so that there is no need to use a slurry composed of abrasive grains and a solvent, and therefore, cleaning for removing residual slurry after polishing. Is unnecessary, and the treatment of the waste liquid after polishing is also unnecessary. This greatly reduces the polishing time and the polishing cost.
【0053】さらに、本発明の研磨装置の研磨ヘッド
は、第2プレートを第1プレートに対して往復移動をさせ
ることができることから、新しい研磨テープが供給され
るだけでなく、被研磨体に対してテープの供給方向に往
復摺動もし、したがって、効果的に研磨を実行するとと
もに有効に研磨テープを使用できる。Further, since the polishing head of the polishing apparatus of the present invention can reciprocate the second plate with respect to the first plate, not only is a new polishing tape supplied, but also the polishing target is polished. Therefore, the polishing tape can be reciprocally slid in the feeding direction, so that the polishing can be effectively performed and the polishing tape can be effectively used.
【0054】また、本発明の研磨装置の研磨ヘッドは、
研磨テープの被研磨体に対する角度を任意に設定できる
ことから、被研磨体に対して任意の角度で接触できる。Further, the polishing head of the polishing apparatus of the present invention comprises:
Since the angle of the polishing tape with respect to the object to be polished can be set arbitrarily, the polishing tape can be brought into contact with the object to be polished at any angle.
【0055】さらにまた、本発明の研磨装置の研磨ヘッ
ドは、往復回転をさせることができることから、被研磨
体の形状、特にその縁にそって研磨することができる。Furthermore, since the polishing head of the polishing apparatus of the present invention can be reciprocated, it can be polished along the shape of the object to be polished, particularly along its edge.
【0056】さらに、本発明の研磨装置に、研磨体支持
回転機構を組み込むことにより、半導体ウェハーのノッ
チの形状にそって研磨することができる。Further, by incorporating a polishing body supporting and rotating mechanism into the polishing apparatus of the present invention, it is possible to polish the semiconductor wafer along the notch shape.
【図1】本発明の研磨装置の正面図を示す。FIG. 1 shows a front view of a polishing apparatus of the present invention.
【図2】本発明の研磨装置の一部切り欠きされた平面図
を示す。FIG. 2 is a plan view of the polishing apparatus of the present invention, with a portion cut away.
【図3】本発明の研磨装置の一部切り欠きされた側面図
を示す。FIG. 3 shows a side view of the polishing apparatus of the present invention, with a portion cut away.
【図4】本発明の研磨装置の研磨ヘッドの正面図を示
す。FIG. 4 shows a front view of a polishing head of the polishing apparatus of the present invention.
【図5】本発明の研磨装置の研磨ヘッドを構成する第1
プレートの正面図を示す。FIG. 5 shows a first example of a polishing head of the polishing apparatus of the present invention.
Figure 4 shows a front view of the plate.
【図6】本発明の研磨装置の研磨ヘッドの背面図を示
す。FIG. 6 shows a rear view of a polishing head of the polishing apparatus of the present invention.
【図7】本発明の研磨装置の研磨ヘッドの平面図を示
す。FIG. 7 shows a plan view of a polishing head of the polishing apparatus of the present invention.
【図8】本発明の研磨装置の研磨ヘッドの側面図を示
す。FIG. 8 shows a side view of a polishing head of the polishing apparatus of the present invention.
【図9】本発明の研磨装置の研磨ヘッドを所定の角度回
転させた状態を示す。FIG. 9 shows a state in which the polishing head of the polishing apparatus of the present invention is rotated by a predetermined angle.
【図10】本発明の研磨装置に組み入れられる回転支持
装置を所定の角度回転させた状態を示す。FIG. 10 shows a state in which a rotation support device incorporated in the polishing apparatus of the present invention is rotated by a predetermined angle.
40 研磨ヘッド 41 第1プレート 42 第2プレート 49’ 回転軸 62 供給ローラ 63’ 回転軸 66 ローラ 40 Polishing head 41 First plate 42 Second plate 49 'Rotary shaft 62 Supply roller 63' Rotary shaft 66 Roller
フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) B24B 9/00 B24B 21/00 Continuation of front page (58) Field surveyed (Int. Cl. 7 , DB name) B24B 9/00 B24B 21/00
Claims (6)
に取り付けられた第1のプレートと、 (b) 該第1のプレートに取り付けられた第2の回転手段
と、 (c) 前記第1のプレートに対して平行に対置され、かつ
前記軸線の方向に対して垂直方向に往復移動可能に取り
付けられた第2のプレートと、 (d) 該第2のプレートを含む面に対して平行で、一端が
前記第2のプレートに回動自在に連結され、他端が前記
第2の回転手段の回転軸に連結される連結棒であって、
前記他端が、前記第2の回転手段の回転軸の回転中心か
ら離れた位置に回転自在に連結される、ところの連結棒
と、 (e) 前記第2のプレートに設けられ、研磨テープが掛け
られる少なくとも二つのローラと、 から成り、 前記第1の回転手段が回転すると、前記第1および第2の
プレートが前記軸線を中心に回転し、これにより前記研
磨テープと前記被研磨体との接触角度が変化し, 前記第2の回転手段が回転すると、前記連結棒を介し
て、前記第2のプレートが前記垂直方向に往復移動す
る、 ことを特徴とする研磨装置。1. A polishing apparatus using a polishing tape, comprising: (a) a rotating shaft of a first rotating means, which is perpendicular to an axis of the rotating shaft;
A first plate attached to the first plate, and (b) second rotating means attached to the first plate
And (c)On the first plateParallel to, and
It is possible to reciprocate vertically in the direction of the axis.
A second plate attached thereto; (d) including the second platesurfaceParallel to one end
The other end is rotatably connected to the second plate, and the other end is
A connecting rod connected to the rotation shaft of the second rotating means,
Whether the other end is the rotation center of the rotation shaft of the second rotation means
Connecting rod that is rotatably connected to a position away from
(E) provided on the second plate, wherein a polishing tape is hung.
And at least two rollers, wherein the first rotating means rotates, the first and second rollers
The plate rotates about said axis,As a result,
The contact angle between the polishing tape and the object to be polished changes, When the second rotating means rotates, the connecting rod
The second plate reciprocates in the vertical direction.
A polishing apparatus, characterized in that:
を特徴とする研磨装置。2. The polishing apparatus according to claim 1, wherein the polishing tape is in contact with the object to be polished on the axis.
定の角度まで回転させ,または所定の角度の間往復回転
させるところのモータである,ことを特徴とする研磨装
装置。3. The polishing apparatus according to claim 2, wherein said first rotating means rotates a rotating shaft of said first rotating means to a predetermined angle, or reciprocates for a predetermined angle. A polishing apparatus, wherein the polishing apparatus is a motor to be driven.
棒を介して、前記垂直方向に往復移動して、前記研磨テ
ープが、前記被研磨体に対して接触角度を一定のまま往
復摺動する、ことを特徴とする研磨装置。4. The polishing apparatus according to claim 2, wherein the second rotating means is a motor, and the second plate is driven by the motor to move the second plate through the connecting rod in the vertical direction. Wherein the polishing tape reciprocates and slides back and forth with the contact angle being constant with respect to the object to be polished.
を特徴とする研磨装置。5. The polishing apparatus according to claim 3, wherein one of the rollers is a polishing tape supply roller.
らに、 被研磨体がノッチを有する半導体ウェハーであり、 該半導体ウェハーを支持し、前記ノッチを中心に半導体
ウェハーを含む平面内で回転する回転支持装置を有す
る、研磨装置。6. The polishing apparatus according to claim 1, wherein the object to be polished is a semiconductor wafer having a notch, and the polishing object is supported in a plane including the semiconductor wafer centered on the notch. A polishing apparatus having a rotating support device.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP26610195A JP3081140B2 (en) | 1995-09-21 | 1995-09-21 | Polishing device with polishing tape |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP26610195A JP3081140B2 (en) | 1995-09-21 | 1995-09-21 | Polishing device with polishing tape |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0985599A JPH0985599A (en) | 1997-03-31 |
JP3081140B2 true JP3081140B2 (en) | 2000-08-28 |
Family
ID=17426334
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP26610195A Expired - Lifetime JP3081140B2 (en) | 1995-09-21 | 1995-09-21 | Polishing device with polishing tape |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3081140B2 (en) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002154041A (en) * | 2000-11-17 | 2002-05-28 | I M T Kk | Polishing device |
US7976361B2 (en) | 2007-06-29 | 2011-07-12 | Ebara Corporation | Polishing apparatus and polishing method |
JP6204848B2 (en) | 2014-02-17 | 2017-09-27 | 株式会社荏原製作所 | Polishing apparatus and polishing method |
-
1995
- 1995-09-21 JP JP26610195A patent/JP3081140B2/en not_active Expired - Lifetime
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Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0985599A (en) | 1997-03-31 |
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