JP3075322B2 - High frequency unbalanced characteristic evaluation tester - Google Patents

High frequency unbalanced characteristic evaluation tester

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JP3075322B2
JP3075322B2 JP4268493A JP4268493A JP3075322B2 JP 3075322 B2 JP3075322 B2 JP 3075322B2 JP 4268493 A JP4268493 A JP 4268493A JP 4268493 A JP4268493 A JP 4268493A JP 3075322 B2 JP3075322 B2 JP 3075322B2
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【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、電話機などの被試験機
器に接続された通信線や電力線などのラインに高周波成
分を含むコモンモードの試験信号を印加し、受話器から
雑音として聞こえるか否かの耐力限界である高周波不平
衡・平衡変換による雑音可聴イミュニティ特性すなわ
ち、高周波不平衡特性を測定・評価する高周波不平衡特
性評価試験器に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for applying a common mode test signal containing a high frequency component to a line such as a communication line or a power line connected to a device under test such as a telephone so as to determine whether noise is heard from a receiver. The present invention relates to a high-frequency unbalance characteristic evaluation tester for measuring and evaluating noise audible immunity characteristics due to high-frequency unbalance-balance conversion, which is the limit of proof stress.

【0002】[0002]

【従来の技術】ラジオ放送やCB無線等に用いられてい
る図8(a)に示すV0 のようなAM変調正弦波が通信
線や電力線に誘導されたときに、コモンモード(縦)電
流が、その通信線や電力線に接続されている電話機など
の機器内に侵入する。すると、機器回路の不平衡インピ
ーダンスや多数の半導体回路素子の使用による機器回路
全体の検波特性等によって、受話器から雑音が生ずる場
合が多い。この時の受話器端子間には、図8(b)に示
すVR のような波形が発生し、これが受話器振動板を駆
動して雑音音圧が発生されている。
When AM modulated sine wave, such as V 0 shown in FIG. 8 (a) BACKGROUND OF THE INVENTION is used in radio broadcasting and CB radio or the like is induced in communication lines and power lines, common mode (longitudinal) current Intrudes into a device such as a telephone connected to the communication line or the power line. Then, noise often occurs from the receiver due to the unbalanced impedance of the equipment circuit, the detection characteristics of the entire equipment circuit due to the use of a large number of semiconductor circuit elements, and the like. At this time, a waveform such as V R shown in FIG. 8B is generated between the receiver terminals, which drives the receiver diaphragm to generate noise sound pressure.

【0003】V0 が図8(a)のようなAM変調正弦波
の場合のVR は、例えば1992年電子情報通信学会春
季大会論文集SBー3ー2に記載されているように、V
0 波形をそのまま小さくした搬送波成分からなるVH 波
形(以下、VH を搬送波ともいう。)と、AM変調波が
電話器回路全体で検波されたVL 波形のような音声変調
波波形(以下、VL を変調波ともいう。)とが重畳され
た波形となることが知られている。
When V 0 is an AM-modulated sine wave as shown in FIG. 8A, V R is, for example, as described in the Transactions of the Institute of Electronics, Information and Communication Engineers, Spring Meeting, SB-3-2, 1992.
A VH waveform (hereinafter, also referred to as a carrier wave) composed of a carrier component obtained by reducing the 0 waveform as it is, and a voice modulation wave waveform (hereinafter, VL is referred to as a VL waveform such as a VL waveform obtained by detecting an AM modulated wave in the entire telephone circuit. (Also referred to as a modulated wave).

【0004】図9は、このようなAM変調正弦波を被試
験機器に印加して受話器からの雑音可聴の有無を評価す
る雑音可聴イミュニティ試験系の従来から用いられてい
る構成を示す構成図である。図に示すように、電話器な
どの被試験機器(EUT)51は、絶縁支持台52によ
って擬似大地面上から一定高さhに支持される。EUT
51の送受話器53の受話器は、音響カプラ55を介し
てマイクロフォン54に嵌め込まれる。マイクロフォン
54が電気信号に変換した受話口からの雑音は、マイク
ロフォン54の電気信号出力を表示するレベルメータ5
6で表示される。つまり、受話器からの可聴雑音音圧P
の大きさがレベルメータ56でわかるようになってい
る。
FIG. 9 is a block diagram showing a conventional configuration of a noise audible immunity test system for evaluating the presence or absence of noise audibility from a receiver by applying such an AM modulated sine wave to a device under test. is there. As shown in the figure, a device under test (EUT) 51 such as a telephone is supported at a constant height h from above the pseudo ground by an insulating support base 52. EUT
The receiver of the transmitter / receiver 53 of 51 is fitted into the microphone 54 via the acoustic coupler 55. The noise from the earpiece converted by the microphone 54 into an electric signal is a level meter 5 that indicates the electric signal output of the microphone 54.
6 is displayed. That is, the audible noise sound pressure P from the receiver
Can be recognized by the level meter 56.

【0005】送受話器53には、送受話器を人が手で持
った場合の対地インピーダンスと等価な擬似手回路57
が接続される。送受話器53およびマイクロフォン54
は、受話器からの可聴雑音以外の周辺騒音などがマイク
ロフォン54へ侵入するのを防止する遮音ボックスに収
納される。
The handset 53 has a pseudo hand circuit 57 equivalent to the ground impedance when a handset is held by a hand.
Is connected. Handset 53 and microphone 54
Is housed in a sound-insulating box that prevents ambient noise other than audible noise from the receiver from entering the microphone 54.

【0006】EUT51と擬似交換機などの対向通信装
置61との間の通信線には、試験用のAM変調正弦波
(試験信号)をコモンモードでEUT51に印加する試
験信号印加器60が接続される。試験信号印加器60
は、試験信号を発生する試験信号発生器(SG)59
と、印加された試験信号が対向通信装置61側へは印加
されずEUT側のみに印加されるようにするためのコモ
ンモードチョークコイル60とを有している。なお、E
UT51と試験信号印加器60との間には、回線開放用
スイッチ63が設けられている。
[0006] A communication line between the EUT 51 and an opposing communication device 61 such as a pseudo-switch is connected to a test signal applier 60 for applying a test AM modulated sine wave (test signal) to the EUT 51 in a common mode. . Test signal applicator 60
Is a test signal generator (SG) 59 for generating a test signal.
And a common mode choke coil 60 for allowing the applied test signal to be applied only to the EUT side without being applied to the opposing communication device 61 side. Note that E
A line opening switch 63 is provided between the UT 51 and the test signal applicator 60.

【0007】このような試験系において、試験信号とし
て図8(a)に示すV0 のようなAM変調正弦波がコモ
ンモードで通信線に印加されると、通信線にコモンモー
ド電流ivが流れてEUT51に侵入する。すると、その
コモンモード電流は、EUT51の回路内の不平衡イン
ピーダンスや半導体回路等によって変換・検波され、受
話器に可聴雑音を発生させる。受話器からの可聴雑音
は、マイクロフォン54に入り、そこで電気信号に変換
される。その電気信号に応じてレベルメータ56が振れ
るので、測定者は、その振れから雑音音圧Pを知ること
ができる。このように、受話器からの雑音音圧が音響結
合により取り出される。
In such a test system, when an AM modulated sine wave such as V 0 shown in FIG. 8A is applied to a communication line in a common mode as a test signal, a common mode current iv flows through the communication line. To enter the EUT 51. Then, the common mode current is converted and detected by an unbalanced impedance in the circuit of the EUT 51, a semiconductor circuit, or the like, and generates an audible noise in the receiver. Audible noise from the handset enters microphone 54 where it is converted to an electrical signal. Since the level meter 56 fluctuates according to the electric signal, the measurer can know the noise sound pressure P from the vibration. Thus, the noise sound pressure from the receiver is extracted by acoustic coupling.

【0008】EUT51の可聴イミュニティは、雑音が
聞こえ始める限界における音圧P(=P0 )が生じると
きの印加電圧をかけ、回線開放用スイッチ63を開放し
た場合の開放端コモンモード電圧として求められる。従
って、SG59からの試験信号の搬送周波数fを変化さ
せつつ開放端コモンモード電圧を測定し、測定値をプロ
ットすれば、EUT51の雑音可聴イミュニティ特性が
得られる。
The audible immunity of the EUT 51 is obtained as an open-end common mode voltage when the applied voltage when the sound pressure P (= P 0 ) occurs at the limit where noise starts to be heard and the line opening switch 63 is opened. . Therefore, if the open-end common mode voltage is measured while changing the carrier frequency f of the test signal from the SG 59 and the measured value is plotted, the noise audible immunity characteristic of the EUT 51 can be obtained.

【0009】図10は複数のEUTを含むシステムに1
つの試験信号印加器60が接続された場合を示すもので
ある。ボタン電話装置やビジネスホンなどのシステムで
は、主装置(M)70にホームバス線などの内線を介し
て子電話機S1 ,S2 ,・・・,SM が接続され、主装
置70を介して対向する通信線側に対向電話機SN71
が接続される。そして、試験信号印加器60からの試験
信号を用いて、このようなシステムの可聴イミュニティ
の評価を行う。
FIG. 10 shows one example of a system including a plurality of EUTs.
This shows a case where two test signal applicators 60 are connected. In a system such as a key telephone device or a business phone, slave phones S 1 , S 2 ,..., SM are connected to the main device (M) 70 via an extension such as a home bus line. On the opposite communication line side, the opposite telephone S N 71
Is connected. Then, using the test signal from the test signal applicator 60, the audible immunity of such a system is evaluated.

【0010】[0010]

【発明が解決しようとする課題】図9に示す特性評価試
験器を用いて種々の電話機の雑音可聴イミュニティ特性
の評価を行おうとすると、雑音音圧に適正に対応したレ
ベルメータ56の振れが必要になる。しかし、受話口の
形状は受話器によりまちまちである。形状の異なる受話
口を音響カプラ55に装着すると、受話器と音響カプラ
55との嵌合条件が変わり、音響カプラ55がマイクロ
フォン54に適正に結合できない場合がある。そのよう
な場合、特に可聴音圧限界付近ではレベルメータ56の
振れが不安定で適正な音圧レベルの検出が困難になると
いう問題があった。
To evaluate the noise audible immunity characteristics of various telephones using the characteristic evaluation tester shown in FIG. 9, it is necessary to swing the level meter 56 properly corresponding to the noise sound pressure. become. However, the shape of the earpiece varies depending on the receiver. When the earpieces having different shapes are attached to the acoustic coupler 55, the fitting condition between the receiver and the acoustic coupler 55 changes, and the acoustic coupler 55 may not be properly coupled to the microphone 54 in some cases. In such a case, there is a problem that the swing of the level meter 56 is unstable especially near the audible sound pressure limit, and it is difficult to detect an appropriate sound pressure level.

【0011】また、図10に示す構成によってシステム
全体の可聴イミュニティを評価するには、主装置70の
受話器や各EUTである子電話機S1 ,S2 ,・・・,
Mおよび対向電話機SN に対応した受話器からの雑音
音圧(P1 ,P2 ,・・・,PN )それぞれを測定し、
最も小さい可聴イミュニティに対応するものはどれか等
を知る必要がある。しかし、このような複数のEUTに
対し、図9に示す試験系を用いると各EUTに対応した
音響カプラ55や遮音BOX58等が必要となる。よっ
て、設備が膨大になるとともに、結合等の試験系配置作
業に大幅な時間を要するという問題があった。
In order to evaluate the audible immunity of the whole system by the configuration shown in FIG. 10, the receiver of the main unit 70 and the sub-telephone sets S 1 , S 2 ,.
Noise sound pressure from handset corresponding to S M and the opposite telephone S N (P 1, P 2 , ···, P N) were each measured,
It is necessary to know which corresponds to the smallest audible immunity. However, if the test system shown in FIG. 9 is used for such a plurality of EUTs, an acoustic coupler 55 and a sound insulation box 58 corresponding to each EUT are required. Therefore, there is a problem that the equipment becomes enormous, and a considerable time is required for the test system arrangement work such as coupling.

【0012】本発明は、このような音響結合法による雑
音音圧測定に代えて、受話器端子間に生じる雑音信号を
測定することにより高周波不平衡・平衡変換による雑音
可聴イミュニティ特性を評価する高周波不平衡特性評価
試験器を提供することを目的とする。
According to the present invention, instead of the noise sound pressure measurement by such an acoustic coupling method, a noise signal generated between receiver terminals is measured to evaluate a noise audible immunity characteristic by a high frequency unbalance / balance conversion. An object of the present invention is to provide a balance characteristic evaluation tester.

【0013】[0013]

【課題を解決するための手段】請求項1記載の発明に係
る高周波不平衡特性評価試験器は、EUTに試験信号を
コモンモードで印加するものであって、試験信号の出力
レベルの上昇、停止および零復帰を行う印加レベル設定
手段と、高周波コモンモードハイインピーダンス特性を
有し、EUTの受話器端子間に生じる印加周波数と同一
の非可聴高周波信号を検出する高周波検出手段と、この
高周波検出手段による高周波信号のレベルが、受話器か
らの雑音可聴音圧に対応してあらかじめ定められた高周
波信号の限界レベルを越えたときの印加信号レベルを測
定する印加信号検出手段とを備えたものである。
According to a first aspect of the present invention, there is provided a high-frequency unbalance characteristic evaluation tester for applying a test signal to an EUT in a common mode, wherein the output level of the test signal rises and stops. And an application level setting means for performing a reset to zero, a high frequency detection means for detecting a non-audible high frequency signal having a high frequency common mode high impedance characteristic and the same as an applied frequency generated between receiver terminals of the EUT, and the high frequency detection means. And an applied signal detecting means for measuring an applied signal level when the level of the high frequency signal exceeds a predetermined limit level of the high frequency signal corresponding to the noise audible sound pressure from the receiver.

【0014】また、請求項2記載の発明に係る高周波不
平衡特性評価試験器は、EUTに試験信号をコモンモー
ドで印加するものであって、試験信号の出力レベルの上
昇、停止および零復帰を行う印加レベル設定手段と、高
周波コモンモードハイインピーダンス特性を有し、EU
Tの受話器端子間に生じる印加周波数と同一の非可聴高
周波信号を検出する高周波検出手段と、EUTの印加信
号レベルを測定する印加信号検出手段と、高周波検出手
段が検出した高周波信号のレベルとEUTの印加信号レ
ベルとの比を求める特性評価手段とを備えたものであ
る。
According to a second aspect of the present invention, there is provided a high-frequency unbalance characteristic evaluation tester for applying a test signal to an EUT in a common mode, wherein the output level of the test signal is raised, stopped, and reset to zero. Means for setting an applied level, and a high frequency common mode high impedance characteristic,
High frequency detecting means for detecting the same inaudible high frequency signal as the applied frequency generated between the receiver terminals of T, applied signal detecting means for measuring the applied signal level of the EUT, and the level of the high frequency signal detected by the high frequency detecting means and the EUT And a characteristic evaluation means for obtaining a ratio with respect to the applied signal level.

【0015】[0015]

【作用】請求項1記載の発明における印加レベル設定手
段は、AM変調正弦波に代えて、一定振幅の連続正弦波
をコモンモードでEUTのラインに印加する。印加信号
検出手段は、受話器端子間において検出された高周波信
号のレベルが、雑音可聴音圧に対応してあらかじめ定め
られた高周波信号の限界レベルを越えたときの印加信号
レベルを測定し、音響結合を用いずに高周波不平衡特性
の試験を可能にする。
According to the first aspect of the present invention, the application level setting means applies a continuous sine wave having a constant amplitude to the EUT line in a common mode instead of the AM modulated sine wave. The applied signal detecting means measures the applied signal level when the level of the high frequency signal detected between the receiver terminals exceeds a predetermined limit level of the high frequency signal corresponding to the noise audible sound pressure, and performs acoustic coupling. Enables testing of high-frequency unbalance characteristics without using

【0016】また、請求項2記載の発明における特性評
価手段は、受話器端子間において検出された高周波信号
のレベルとEUTの印加信号レベルとの比によって高周
波不平衡特性を得る。
According to the second aspect of the present invention, the characteristic evaluation means obtains a high-frequency unbalance characteristic based on a ratio between a level of the high-frequency signal detected between the receiver terminals and a signal level applied to the EUT.

【0017】[0017]

【実施例】図1は本発明の一実施例による高周波不平衡
特性評価試験器の構成を示すブロック図である。ここで
は、2つのEUT(EUTA、EUTB)1A,1Bの
高周波平衡・不平衡変換による雑音可聴イミュニティ特
性(以下、この特性を高周波不平衡特性という。)を測
定する場合について示している。図に示すように、EU
TAとEUTBとは、間に擬似交換機61を介して設置
される。
FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of a high-frequency unbalance characteristic evaluation tester according to one embodiment of the present invention. Here, a case is shown in which noise audible immunity characteristics (hereinafter, these characteristics are called high-frequency unbalance characteristics) by high-frequency balance-unbalance conversion of two EUTs (EUTA, EUTB) 1A and 1B are measured. As shown in the figure, the EU
TA and EUTB are installed via a pseudo switch 61 between them.

【0018】また、EUTAとEUTBとの間に試験信
号印加器60が挿入される。双方のEUTの受話器端子
R1 ,R2 間には、差動プローブなどの受話器端子間高
周波信号検出手段(以下、高周波信号検出手段とい
う。)4A,4Bが接触する。高周波信号検出手段4
A,4Bは、端子間に生じる一定振幅で非可聴の高周波
信号VRa、VRbを検出するものである。高周波信号
Ra、VRbは、図2(b)に示すようなVR 波形のよう
なものである。高周波信号検出手段4A,4Bは、受話
器端子R1 ,R2 に接触してもこれらの端子に生じてい
る高周波のコモンモード信号がフレームグラウンド側に
流れないように、各接触端子とフレームグラウンドとの
間がハイインピーダンスを呈するようになっている。
A test signal applicator 60 is inserted between EUTA and EUTB. Between the receiver terminals R1 and R2 of both EUTs, high-frequency signal detection means (hereinafter, referred to as high-frequency signal detection means) 4A and 4B between receiver terminals such as a differential probe are in contact. High frequency signal detection means 4
A and 4B detect inaudible high-frequency signals V Ra and V Rb with a constant amplitude generated between terminals. The high-frequency signals V Ra and V Rb have a V R waveform as shown in FIG. The high-frequency signal detecting means 4A, 4B is provided between each contact terminal and the frame ground so that the high-frequency common mode signal generated at the receiver terminals R1, R2 does not flow to the frame ground side even if they contact the receiver terminals R1, R2. Have a high impedance.

【0019】高周波信号検出手段4A,4Bが検出した
各信号は、チャネル選択スイッチ5で切替選択される。
なお、チャネル選択スイッチ5は、切替数nを有する。
よって、n個のEUTについて測定可能になっている。
入力2チャンネルの比較機能をもつ高周波レベルメータ
や伝送特性測定器などの高周波信号計測器6には、チャ
ンネル選択スイッチ5の出力と、印加信号検出手段7の
出力とが入力される。印加信号検出手段7は、ハイイン
ピーダンスプローブなどで構成され、回線開放用スイッ
チ63開放後の開放端コモンモード電圧レベルV0 を検
出する。
Each signal detected by the high frequency signal detecting means 4A, 4B is switched and selected by the channel selection switch 5.
Note that the channel selection switch 5 has a switching number n.
Therefore, measurement can be performed for n EUTs.
The output of the channel selection switch 5 and the output of the applied signal detection means 7 are input to a high-frequency signal measuring device 6 such as a high-frequency level meter or a transmission characteristic measuring device having a function of comparing two input channels. The applied signal detecting means 7 is composed of a high impedance probe or the like, and detects the open-end common mode voltage level V 0 after the line opening switch 63 is opened.

【0020】掃引機能をもつトラッキングジェネレータ
などの高周波印加信号発生器(SG)8は、試験信号を
発生する。その試験信号の出力レベルは、プログラマブ
ル減衰器(ATT)9で可変設定される。ATT9の出
力は、増幅器10で増幅され、試験信号印加器60に印
加される。
A high frequency applied signal generator (SG) 8 such as a tracking generator having a sweep function generates a test signal. The output level of the test signal is variably set by a programmable attenuator (ATT) 9. The output of the ATT 9 is amplified by the amplifier 10 and applied to the test signal applicator 60.

【0021】なお、チャネル選択スイッチ5と回線開放
用スイッチ63とは、スイッチ切替部11によって切換
えられる。すなわち、スイッチ切替部11において、マ
グネットM1 、M2 の駆動によりチャネル選択スイッチ
5と回線開放用スイッチ63とが動作するようになって
いる。高周波信号計測器6の計測データの転送や、SG
8、ATT9、スイッチ切替部11の制御は、計測制御
器12によって行われる。計測制御器12には、その指
令により高周波信号計測器6の計測データをそれぞれ記
憶する記憶部13、計測データを表示する表示部14、
および周波数や印加レベルのステップ数の初期設定信号
をインプットする設定部15が接続されている。高周波
信号計測器6、SG8、ATT9、スイッチ切替部11
は、GPIBバスで計測制御器12に接続されている。
The channel selection switch 5 and the line release switch 63 are switched by the switch switching unit 11. That is, in the switch switching section 11, the channel selection switch 5 and the line opening switch 63 are operated by driving the magnets M1 and M2. Transfer of measurement data of the high-frequency signal measuring device 6, SG
8, the ATT 9, and the switch switching unit 11 are controlled by the measurement controller 12. The measurement controller 12 has a storage unit 13 that stores measurement data of the high-frequency signal measurement device 6 according to the command, a display unit 14 that displays the measurement data,
And a setting unit 15 for inputting an initial setting signal for the number of steps of frequency and applied level. High frequency signal measuring device 6, SG8, ATT9, switch switching section 11
Are connected to the measurement controller 12 via a GPIB bus.

【0022】よって、本実施例では、印加レベル設定手
段は、SG8、ATT9、および計測制御器12で構成
されている。高周波検出手段は、高周波信号検出手段4
A,4Bで構成されている。印加信号検出手段は、印加
信号検出手段7および高周波信号計測器6で構成されて
いる。そして、特性評価手段は、高周波信号計測器6ま
たは計測制御器12で構成されている。
Therefore, in this embodiment, the application level setting means comprises the SG 8, the ATT 9, and the measurement controller 12. The high frequency detecting means includes a high frequency signal detecting means 4
A, 4B. The applied signal detecting means includes an applied signal detecting means 7 and a high frequency signal measuring device 6. The characteristic evaluation means is constituted by the high-frequency signal measuring device 6 or the measurement controller 12.

【0023】図3は、図8(a)に示すV0 のようなA
M変調正弦波をEUTに印加したときに受話器端子R1
,R2 間に生じる変調波VL と搬送波VH との関係の
一例を示すものである。上記した文献に記載されている
ように、AM変調正弦波の試験信号V0 がEUT回路の
不平衡により変換されると、搬送波VH が生ずる。ま
た、搬送波VH が半導体回路で検波されて変調波VL が
生じ、この変調波VL が受話器の振動板を駆動して可聴
騒音となることがわかっている。このような可聴騒音を
生じさせる変調波VL の元になる搬送波VH は高周波印
加信号が回路の不平衡によって変換されて生ずるため、
0 からVH への変換は変調の有無には関係しない。従
って、図3に示すような関係をあらかじめ把握しておけ
ば、無変調で一定振幅の高周波信号を試験信号として印
加し、受話器端子間に生じる信号、すなわち、印加信号
と同一周波数の一定振幅高周波信号を測定して、そのレ
ベルを印加信号レベルと比較することにより高周波不平
衡特性が評価できる。
FIG. 3 is a graph showing an A value such as V 0 shown in FIG.
When an M-modulated sine wave is applied to the EUT, the receiver terminal R1
, R2 between the modulated wave VL and the carrier wave VH. As described in the above-mentioned literature, when the test signal V 0 of the AM modulated sine wave is converted due to the imbalance of the EUT circuit, the carrier wave V H is generated. It is also known that the carrier wave VH is detected by a semiconductor circuit to generate a modulated wave VL, and this modulated wave VL drives the diaphragm of the handset to become audible noise. The carrier wave VH, which is the source of the modulated wave VL that causes such audible noise, is generated by converting the high frequency applied signal due to the imbalance of the circuit.
Conversion from V 0 to VH is not related to the presence or absence of modulation. Therefore, if the relationship as shown in FIG. 3 is grasped in advance, a non-modulated high-frequency signal having a constant amplitude is applied as a test signal, and a signal generated between the receiver terminals, that is, a constant-amplitude high-frequency signal having the same frequency as the applied signal is applied. By measuring the signal and comparing the level with the applied signal level, high-frequency unbalance characteristics can be evaluated.

【0024】図1に示す構成においてSG8から図2
(a)に示すような非変調(一定振幅)の高周波正弦波
をEUTに印加した場合に、図3に示すような関係を用
いてEUTA、EUTBの高周波不平衡特性を得るため
の動作手順を以下に説明する。
In the configuration shown in FIG.
When an unmodulated (constant amplitude) high frequency sine wave as shown in FIG. 3A is applied to the EUT, the operation procedure for obtaining the high frequency unbalance characteristics of EUTA and EUTB using the relationship shown in FIG. This will be described below.

【0025】まず、計測制御器12は、スイッチ切替部
11に、回線開放用スイッチ63を短絡状態とするよう
指示を与えるとともに、いずれかのEUTに接続された
高周波信号検出手段のチャネル(例えばCH1 )にチャ
ネル選択スイッチ5を接続するよう指示を与える。設定
部15から印加周波数や印加信号レベルのステップアッ
プ幅が設定されると、計測制御器12は、その設定に応
じた指示をSG8に与える。すると、SG8から一定振
幅の高周波信号が出力され、その高周波信号はATT9
を通して試験信号印加器60に与えられる。試験信号印
加器60は、その高周波信号を試験信号としてEUTA
に印加する。
First, the measurement controller 12 gives an instruction to the switch switching section 11 to set the line opening switch 63 to the short-circuit state, and also sets the channel (for example, CH1) of the high-frequency signal detecting means connected to any EUT. ) Is instructed to connect the channel selection switch 5. When the step-up width of the applied frequency or the applied signal level is set by the setting unit 15, the measurement controller 12 gives an instruction corresponding to the setting to the SG 8. Then, a high-frequency signal having a constant amplitude is output from SG8, and the high-frequency signal is output from ATT9.
To the test signal applicator 60. The test signal applicator 60 uses the high-frequency signal as a test signal as EUTA
Is applied.

【0026】この状態で、計測制御器12は、ATT9
の出力レベルをあらかじめ定めたステップ幅で、または
連続可変で上げていくよう指示する。一方、高周波信号
検出手段4Aは、EUTAの受話器端子間に生じる高周
波信号VRa(=VH )を検出する。そして、検出した高
周波信号をチャネル選択スイッチ5を介して高周波信号
計測器6の一方の入力チャネルに送る。高周波信号計測
器6は、入力された信号のレベルを計測する。
In this state, the measurement controller 12 controls the ATT 9
Is instructed to increase the output level at a predetermined step width or continuously. On the other hand, the high-frequency signal detection means 4A detects a high-frequency signal V Ra (= V H ) generated between the receiver terminals of EUTA. Then, the detected high-frequency signal is sent to one input channel of the high-frequency signal measuring device 6 via the channel selection switch 5. The high-frequency signal measuring device 6 measures the level of the input signal.

【0027】そして、高周波信号計測器6は、計測され
たレベルが所定のスレショルドレベルVH0より大きくな
ったときに、計測データ(計測されたレベル)を計測制
御器12に転送する。ここで、VH0は、可聴限界値に相
当するレベルである。つまり、限界可聴音圧P0 に対応
するVL (すなわちVL0)に対してあらかじめ定められ
ている高周波信号レベルVH であり、例えば図3に示す
関係が用いられる。計測制御器12は、記憶部13にそ
の計測データを記憶させる。
The high-frequency signal measuring device 6 transfers the measurement data (measured level) to the measurement controller 12 when the measured level becomes higher than a predetermined threshold level VH 0 . Here, VH 0 is a level corresponding to the audible limit value. That is, a high-frequency signal level VH which is predetermined with respect to VL (i.e. VL 0) corresponding to the limit audible pressure P 0, the relationship is used as shown in FIG. 3, for example. The measurement controller 12 causes the storage unit 13 to store the measurement data.

【0028】計測制御器12は、ATT9を制御してE
UTAへの印加信号レベルをその値に保持する。また、
スイッチ切替部11のマグネットM1を駆動して回線開
放用スイッチ63を開放する。
The measurement controller 12 controls the ATT 9 to
The level of the signal applied to the UTA is held at that value. Also,
The magnet M1 of the switch switching unit 11 is driven to open the line release switch 63.

【0029】印加信号検出手段7は、このときのコモン
モード印加電圧、すなわち開放端コモンモードレベルV
0 を検出し、その検出レベルを高周波信号計測器6のも
う一つの入力チャンネルに入力する。高周波信号計測器
6は、その検出レベルを計測制御器12に送る。計測制
御器12は、表示部14に表示される周波数軸上にその
検出レベルをプロットする。ここで、計測制御器12
は、プロットするものとして、印加信号検出手段7によ
るV0 と高周波信号検出手段4AによるVRa(=VH
との比を採用してもよい。また、その比は、高周波信号
計測器6で算出される構成でもよい。
The applied signal detecting means 7 outputs the common mode applied voltage at this time, that is, the open-end common mode level V
0 is detected, and the detection level is input to another input channel of the high-frequency signal measuring device 6. The high-frequency signal measuring device 6 sends the detection level to the measurement controller 12. The measurement controller 12 plots the detection level on the frequency axis displayed on the display unit 14. Here, the measurement controller 12
Are plotted as V 0 by the applied signal detecting means 7 and V Ra (= V H ) by the high frequency signal detecting means 4A.
May be adopted. Further, the ratio may be calculated by the high-frequency signal measuring device 6.

【0030】次に、計測制御器12は、ATT9を制御
してEUTAへの印加信号レベルを一度零にする。さら
に、スイッチ切替部11のマグネットM1を再駆動して
回線開放用スイッチ63を復旧させる。同時に、SG8
に対して、印加周波数をあらかじめ定めた次のステップ
に進めるよう指示する。そして、上記動作を繰り返す。
Next, the measurement controller 12 controls the ATT 9 to once reduce the level of the signal applied to EUTA to zero. Further, the magnet M1 of the switch switching unit 11 is driven again to restore the line opening switch 63. At the same time, SG8
Is instructed to proceed to the next step in which the applied frequency is determined in advance. Then, the above operation is repeated.

【0031】あらかじめ定めた全ての周波数について上
記動作が実行された後、計測制御器12は、スイッチ切
替部11のマグネットM2を駆動してチャンネル選択ス
イッチ5をCH2に切換える。そして、上記処理と同様
の処理によって、EUTBの受話器端子間の高周波信号
Rbが計測される。
After the above operation has been performed for all predetermined frequencies, the measurement controller 12 drives the magnet M2 of the switch switching section 11 to switch the channel selection switch 5 to CH2. Then, the high-frequency signal V Rb between the receiver terminals of the EUTB is measured by the same processing as the above processing.

【0032】以上のように、高周波信号計測器6でのス
レショルドレベルであるVRO(=VH0)、ATT9によ
る印加信号レベルのステップ幅または連続可変幅、およ
びSG8における周波数のステップ幅または連続可変幅
をそれぞれあらかじめ設定した後、上記の処理を行え
ば、複数のEUTの高周波不平衡特性が自動的に得られ
る。図4は、以上のようにして求められたEUTA、E
UTBの高周波不平衡特性の例を示したものである。縦
軸は高周波信号VRaまたはVRb(=VH )のレベルが可
聴限界値であるスレショルドレベルVR0(=VH0)を越
えたときの印加信号レベルV0 、または印加信号レベル
0 と高周波信号VH との比として表される変換減衰量
(αH =20log(V0 /VH ),αL =20log
(V0 /VH ' )であり、そのいずれでもよい。図にお
いて、Vh またはαH0は雑音可聴イミュニティの評価レ
ベル値(IEC等の標準化機関等による勧告値案)であ
る。
As described above, the threshold level V RO (= VH 0 ) in the high-frequency signal measuring instrument 6, the step width or continuously variable width of the applied signal level by the ATT9, and the frequency step width or continuous variable width in SG8. If the above processing is performed after setting the width in advance, the high-frequency unbalance characteristics of a plurality of EUTs are automatically obtained. FIG. 4 shows EUTA, E obtained as described above.
9 shows an example of a high-frequency unbalance characteristic of a UTB. The vertical axis represents the applied signal level V 0 or the applied signal level V 0 when the level of the high frequency signal V Ra or V Rb (= VH) exceeds a threshold level V R0 (= VH 0 ) which is an audible limit value. Conversion attenuation (α H = 20 log (V 0 / V H), α L = 20 log) expressed as a ratio to the signal VH
(V 0 / VH ' ), and any of them may be used. In the figure, Vh or α H0 is an evaluation level value of noise audible immunity (a recommended value by a standardizing organization such as IEC).

【0033】この例の場合、評価レベル値Vh (または
雑音可聴イミュニティ評価のための変換減衰量評価値α
H0,αH0 ' )を満足するEUTA、EUTBの周波数範
囲はそれぞれf1 以下およびf2 以下であることや、同
一の印加信号レベルV0 に対してはEUTBよりEUT
Aのイミュニティレベルが小さいことなどが容易に判定
できる。
In the case of this example, the evaluation level value Vh (or the conversion attenuation amount evaluation value α for noise audible immunity evaluation)
H0, EUTA satisfying the alpha H0 '), EUT from EUTB is and that the frequency range of EUTB is below f1 and f2 less, respectively, for the same applied signal level V 0
It can be easily determined that the immunity level of A is small.

【0034】すなわち、得られた高周波不平衡特性と評
価レベル値Vh 等とから、EUTの雑音可聴イミュニテ
ィ評価が容易かつ短時間に行える。また、このように本
発明によれば、従来の音響結合法によらず受話器端子間
の電気信号を取り出して評価を行う構成がとられている
ので、音響カプラや遮音ボックスなどが不要となる。よ
って、特に図10に示した構成のようにホームバス線に
多くのEUTが接続された場合でも、雑音可聴イミュニ
ティ評価等も容易に行える。また、EUTの接続台数を
順次増加していったときに生じる内線系回路のアンバラ
ンス増加による主装置や対向通信機側の雑音可聴イミュ
ニティ評価等も容易に行える。
That is, the audible noise immunity of the EUT can be easily and quickly evaluated from the obtained high-frequency unbalance characteristics and the evaluation level value Vh. In addition, according to the present invention, an electric signal between the receiver terminals is extracted and evaluated without using the conventional acoustic coupling method, so that an acoustic coupler, a sound insulation box, and the like are not required. Therefore, even when a large number of EUTs are connected to the home bus line as in the configuration shown in FIG. 10, noise audible immunity evaluation and the like can be easily performed. In addition, it is possible to easily evaluate the audible noise immunity of the main device and the opposing communication device due to an increase in the imbalance of the extension circuit generated when the number of connected EUTs is sequentially increased.

【0035】なお、高周波信号計測器6にスぺクトラム
アナライザやメモリスコープ等の波形アナライザを用
い、V0 およびVR をそれぞれスペクトラムレベルまた
は波形レベルとしてとらえても、上記実施例の場合と同
様の高周波不平衡特性が測定できる。
It is to be noted that, even when a waveform analyzer such as a spectrum analyzer or a memory scope is used as the high-frequency signal measuring device 6 and V 0 and V R are respectively taken as the spectrum level or the waveform level, the same as in the above embodiment is obtained. High frequency unbalance characteristics can be measured.

【0036】図5は、送受器回路の等価インピーダンス
でEUTAを終端した試験系の構成を示す構成図であ
る。その等価インピーダンスは、図1におけるEUTA
の送受器負荷系に対応したものである。図5(a)にお
いて、ZT はEUTの送話器端子T1,T2 からみた送話
器等価インピーダンス、ZR は受話器端子R1,R2 から
みた受話器等価インピーダンス、Zhgは送受話器端子T
1,T2,R1,R2,と擬似大地間の等価インピーダンスであ
る。図5(b)は送受器負荷系の配置における送受器に
代えて、これらの等価インピーダンスでEUTを終端し
た構成を示している。これによって、EUTの配置を簡
易化することができる。
FIG. 5 is a configuration diagram showing a configuration of a test system in which EUTA is terminated by an equivalent impedance of a transmitter / receiver circuit. Its equivalent impedance is EUTA in FIG.
This corresponds to the transmitter / receiver load system. In FIG. 5 (a), Z T is transmitter terminals T1, T2 viewed from transmitter equivalent impedance of EUT, Z R is receiver terminals R1, R2 viewed from handset equivalent impedance, Zhg the handset terminal T
It is the equivalent impedance between 1, T2, R1, R2, and pseudo earth. FIG. 5B shows a configuration in which the EUT is terminated with these equivalent impedances instead of the handset in the handset load system arrangement. Thereby, the arrangement of the EUT can be simplified.

【0037】図6は、差動プローブによる高周波信号検
出手段4A,4Bの構成例を示す構成図である。図にお
いて、21は受話器端子R1,R2 に接触して受話器端子
間信号レベルを取り込む接触子、22は広帯域にわたり
コモンモード減衰量が大きく、かつ、ディファレンシャ
ルモード減衰量が小さいかあるいは一定であるコモンモ
ードチョークコイル、23は減衰素子、26はFETな
どの差動信号検出素子24や増幅器25などを内蔵した
金属製の差動プローブ箇体、27は差動プローブ箇体2
6が接続された同軸ケーブルの外部導体である。
FIG. 6 is a configuration diagram showing a configuration example of the high-frequency signal detection means 4A, 4B using a differential probe. In the figure, reference numeral 21 denotes a contact for contacting the receiver terminals R1 and R2 to capture the signal level between the receiver terminals. Reference numeral 22 denotes a common mode having a large common mode attenuation over a wide band and a small or constant differential mode attenuation. A choke coil, 23 is an attenuating element, 26 is a metal differential probe housing including a differential signal detecting element 24 such as an FET, an amplifier 25 and the like, and 27 is a differential probe housing 2
Reference numeral 6 denotes an outer conductor of the connected coaxial cable.

【0038】接触子21は、コモンモードの高周波正弦
波などの高周波成分を持つ試験信号の印加されたEUT
の受話器端子R1,R2 をタッチすることにより、受話器
端子間信号を検出する。その場合、コモンモードチョー
ク22や減衰素子23がないとすると、受話器端子R1,
R2 に生じているコモンモード信号の高周波分が、差動
信号検出素子24と差動プローブ箇体26との間の浮遊
容量Cg を介して同軸ケーブルの外部導体27に流れ
る。そのために、差動プローブ接触の前後で受話器端子
間信号が大きく変動する。しかし、コモンモードチョー
ク22や減衰素子23が挿入されていれば、これらによ
ってコモンモード信号の高周波分が阻止される。従っ
て、図6に示す構成によれば、差動プローブを受話器端
子R1,R2 に接触させても受話器端子間信号が変動せ
ず、適正な計測が行える。
The contact 21 is an EUT to which a test signal having a high frequency component such as a common mode high frequency sine wave is applied.
By touching the receiver terminals R1 and R2, a signal between the receiver terminals is detected. In that case, assuming that there is no common mode choke 22 or attenuation element 23, the receiver terminals R1,
The high frequency component of the common mode signal generated in R2 flows to the outer conductor 27 of the coaxial cable via the stray capacitance Cg between the differential signal detecting element 24 and the differential probe member 26. Therefore, the signal between receiver terminals fluctuates greatly before and after contact with the differential probe. However, if the common mode choke 22 and the attenuating element 23 are inserted, they prevent high frequency components of the common mode signal. Therefore, according to the configuration shown in FIG. 6, even if the differential probe is brought into contact with the receiver terminals R1 and R2, the signal between the receiver terminals does not change, and proper measurement can be performed.

【0039】図7は、高周波信号検出手段4A,4Bの
他の構成例を示す構成図である。図に示すように、高周
波信号検出手段である光電変換プローブ34は、光変調
器31、レーザなどの光源32、光信号を電気信号に変
換するO−E変換器33を含む。
FIG. 7 is a configuration diagram showing another example of the configuration of the high-frequency signal detection means 4A, 4B. As shown in the figure, a photoelectric conversion probe 34 serving as a high-frequency signal detection unit includes an optical modulator 31, a light source 32 such as a laser, and an OE converter 33 that converts an optical signal into an electric signal.

【0040】この光電変換プローブ34は、例えば特開
平2ー275370号公報などに開示されたダイポール
アンテナの2つのアンテナエレメントを接触子として用
いたものである。EUTからの端子間信号を検出する場
合に、光変調器31において、光源31からの光信号の
強度が端子間信号で変調される。そして、O−E変換器
33は、光信号を電気信号に戻す。このようなプローブ
は接触子部分のみが金属であって、検出された端子間信
号は光変調器31で光に変換されるため、受話器端子R
1,R2 にコモンモードの高周波信号が存在しても、やは
り、プローブ接触による端子間信号の変動はない。
The photoelectric conversion probe 34 uses two antenna elements of a dipole antenna disclosed in, for example, JP-A-2-275370 as contacts. When detecting an inter-terminal signal from the EUT, the intensity of the optical signal from the light source 31 is modulated by the inter-terminal signal in the optical modulator 31. Then, the OE converter 33 returns the optical signal to an electric signal. In such a probe, only the contact portion is made of metal, and the detected inter-terminal signal is converted into light by the optical modulator 31, so that the receiver terminal R
Even if a common mode high-frequency signal exists in R1 and R2, the signal between terminals does not fluctuate due to probe contact.

【0041】[0041]

【発明の効果】以上のように、本発明によれば、高周波
不平衡特性評価試験器が、受話器端子に接触しても影響
の少ない高周波信号検出手段によって、雑音音圧を生じ
させている受話器端子間信号を電気的に測定するような
構成であるから、受話口の形状に起因する音響結合時の
受話器装着の困難性や、装着不備による検出レベルの不
安定さなどの問題を解消するとともに、多くのEUTの
可聴イミュニティを同時に測定する場合に、短時間で再
現性よく測定を行えるものを提供できる効果がある。
As described above, according to the present invention, the high-frequency unbalance characteristic tester generates noise sound pressure by the high-frequency signal detecting means which is less affected even when it comes into contact with the receiver terminal. The configuration measures the signal between terminals electrically, eliminating problems such as difficulty in mounting the handset during acoustic coupling due to the shape of the earpiece and instability of the detection level due to improper mounting. When measuring audible immunity of many EUTs at the same time, there is an effect that it is possible to provide a device capable of performing measurement with high reproducibility in a short time.

【0042】また、AM変調正弦波など実際の可聴信号
のかわりに無変調のコモンモードの高周波信号をEUT
に印加し、これが回路の不平衡成分によりディファレン
シャルモードに変換された信号である非可聴の受話器端
子間高周波信号を検出して、これと印加信号との比較等
により可聴イミュニティを評価するようにしているた
め、通常用いられているトラッキングジェネレータ等を
用いて、容易に可聴イミュニティ特性の評価が可能とな
る利点がある。
In place of an actual audible signal such as an AM-modulated sine wave, an unmodulated common-mode high-frequency signal
To detect a non-audible high-frequency signal between the receiver terminals, which is a signal converted into a differential mode by an unbalanced component of the circuit, and evaluate the audible immunity by comparing this with an applied signal. Therefore, there is an advantage that the audible immunity characteristics can be easily evaluated using a commonly used tracking generator or the like.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の一実施例による高周波不平衡特性評価
試験器の構成を示すブロック図である。
FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of a high-frequency unbalance characteristic evaluation tester according to one embodiment of the present invention.

【図2】試験信号と受話器端子間の高周波信号とを示す
波形図である。
FIG. 2 is a waveform diagram showing a test signal and a high-frequency signal between receiver terminals.

【図3】受話器端子間に生ずる高周波成分と低周波成分
との一例を示す特性図である。
FIG. 3 is a characteristic diagram showing an example of a high-frequency component and a low-frequency component generated between receiver terminals.

【図4】高周波不平衡特性の一例を示す特性図である。FIG. 4 is a characteristic diagram illustrating an example of a high-frequency unbalance characteristic.

【図5】送受器回路の等価インピーダンスでEUTを終
端した試験系の構成を示す構成図である。
FIG. 5 is a configuration diagram showing a configuration of a test system in which an EUT is terminated by an equivalent impedance of a handset circuit.

【図6】高周波信号検出手段の構成例を示す構成図であ
る。
FIG. 6 is a configuration diagram illustrating a configuration example of a high-frequency signal detection unit.

【図7】高周波信号検出手段の他の構成例を示す構成図
である。
FIG. 7 is a configuration diagram showing another configuration example of the high-frequency signal detection means.

【図8】AM変調正弦波とその無変調波とを示す波形図
である。
FIG. 8 is a waveform diagram showing an AM modulated sine wave and its unmodulated wave.

【図9】従来の雑音可聴イミュニティ試験系の構成を示
す構成図である。
FIG. 9 is a configuration diagram showing a configuration of a conventional noise audible immunity test system.

【図10】複数のEUTを含むシステムに1つの試験信
号印加器が接続された構成を示す構成図である。
FIG. 10 is a configuration diagram showing a configuration in which one test signal applicator is connected to a system including a plurality of EUTs.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1A,1B EUT 4A,4B 高周波信号検出手段 5 チャンネル選択スイッチ 6 高周波信号計測器 7 印加信号検出手段 8 高周波印加信号発生器(SG) 9 プログラマブル減衰器(ATT) 10 増幅器 11 スイッチ切替部 12 計測制御器 13 記憶部 14 表示部 15 設定部 1A, 1B EUT 4A, 4B High frequency signal detecting means 5 Channel selection switch 6 High frequency signal measuring instrument 7 Applied signal detecting means 8 High frequency applied signal generator (SG) 9 Programmable attenuator (ATT) 10 Amplifier 11 Switch switching section 12 Measurement control Unit 13 Storage unit 14 Display unit 15 Setting unit

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H04M 3/22 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on front page (58) Field surveyed (Int.Cl. 7 , DB name) H04M 3/22

Claims (2)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 被試験機器のラインから高周波成分を含
む試験信号を印加して、高周波不平衡特性を評価する高
周波不平衡特性評価試験器において、 前記被試験機器に前記試験信号をコモンモードで印加す
るものであって、試験信号の出力レベルの上昇、停止お
よび零復帰を行う印加レベル設定手段と、 高周波コモンモードハイインピーダンス特性を有し、前
記被試験機器の受話器端子間に生じる印加周波数と同一
の非可聴高周波信号を検出する高周波検出手段と、 この高周波検出手段による高周波信号のレベルが受話器
からの雑音可聴音圧に対応してあらかじめ定められた限
界レベルを越えたときの印加信号レベルを測定する印加
信号検出手段とを備えたことを特徴とする高周波不平衡
特性評価試験器。
1. A high-frequency unbalance characteristic evaluation tester for evaluating a high-frequency unbalance characteristic by applying a test signal containing a high-frequency component from a line of a device under test, wherein the test signal is applied to the device under test in a common mode. An application level setting means for increasing, stopping, and returning to zero the output level of the test signal; and an application frequency having high frequency common mode high impedance characteristics, and an application frequency generated between receiver terminals of the device under test. High-frequency detection means for detecting the same non-audible high-frequency signal; and an applied signal level when the level of the high-frequency signal by the high-frequency detection means exceeds a predetermined limit level corresponding to the noise and audible sound pressure from the receiver. A high frequency unbalance characteristic evaluation tester comprising: an applied signal detecting means for measuring.
【請求項2】 被試験機器のラインから高周波成分を含
む試験信号を印加して、高周波不平衡特性を評価する高
周波不平衡特性評価試験器において、 前記被試験機器に前記試験信号をコモンモードで印加す
るものであって、試験信号の出力レベルの上昇、停止お
よび零復帰を行う印加レベル設定手段と、 高周波コモンモードハイインピーダンス特性を有し、前
記被試験機器の受話器端子間に生じる印加周波数と同一
の非可聴高周波信号を検出する高周波検出手段と、 前記印加レベル設定手段による被試験機器の印加信号の
レベルを測定する印加信号検出手段と、 前記高周波検出手段が検出した高周波信号のレベルと印
加信号のレベルとの比を求める特性評価手段とを備えた
ことを特徴とする高周波不平衡特性評価試験器。
2. A high-frequency unbalance characteristic evaluation tester for evaluating a high-frequency unbalance characteristic by applying a test signal containing a high-frequency component from a line of a device under test, wherein the test signal is applied to the device under test in a common mode. An application level setting means for increasing, stopping, and returning to zero the output level of the test signal; and an application frequency having high frequency common mode high impedance characteristics, and an application frequency generated between receiver terminals of the device under test. High-frequency detection means for detecting the same non-audible high-frequency signal; applied signal detection means for measuring the level of an applied signal of the device under test by the applied level setting means; and the level and application of the high-frequency signal detected by the high-frequency detection means A high-frequency unbalance characteristic evaluation tester, comprising: a characteristic evaluation means for obtaining a ratio to a signal level.
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