JP3063086B1 - 爪の評価装置 - Google Patents
爪の評価装置Info
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Abstract
【要約】
【課題】 爪の健常度又は疾病度を、爪の内部構造の機
械的計測に基づき、客観的に評価する爪の評価装置を得
る。 【解決手段】 爪の評価装置が、爪のＯＣＴ計測により
得られた、爪表面からの深さと信号強度とのプロファイ
ルにおいて、爪の表層領域、内部層領域及び下層領域の
少なくとも１つの領域のピーク高さ又は面積を計測し、
その計測値に基づいて、爪の健常度又は疾病度を評価す
る演算手段を有する。
械的計測に基づき、客観的に評価する爪の評価装置を得
る。 【解決手段】 爪の評価装置が、爪のＯＣＴ計測により
得られた、爪表面からの深さと信号強度とのプロファイ
ルにおいて、爪の表層領域、内部層領域及び下層領域の
少なくとも１つの領域のピーク高さ又は面積を計測し、
その計測値に基づいて、爪の健常度又は疾病度を評価す
る演算手段を有する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、低干渉光干渉計測
法により爪の健常度又は疾病度を評価する爪の評価装置
に関する。
法により爪の健常度又は疾病度を評価する爪の評価装置
に関する。
【０００２】
【従来の技術】爪の黄変、艶の損失、縦筋、横溝等が爪
の表面の疾病であるのに対し、二枚爪や折れ爪は、爪の
内部構造の疾病である。従来、これら爪の内部構造の疾
病の有無の観察は目視によってのみなされており、疾病
の有無を機械的に評価する装置は存在しない。
の表面の疾病であるのに対し、二枚爪や折れ爪は、爪の
内部構造の疾病である。従来、これら爪の内部構造の疾
病の有無の観察は目視によってのみなされており、疾病
の有無を機械的に評価する装置は存在しない。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、爪の健常度
又は疾病度を、爪の内部構造の機械的計測に基づいて客
観的に評価する装置を提供することを目的とする。
又は疾病度を、爪の内部構造の機械的計測に基づいて客
観的に評価する装置を提供することを目的とする。
【０００４】
【課題を解決するための手段】本発明者らは、種々の爪
を低干渉光干渉計測法により計測し、爪表面からの深さ
と信号強度とのプロファイルを求め、そのプロファイル
と爪の健常度あるいは二枚爪、折れ爪といった疾病との
関係を調べた結果、プロファイルの表層領域、内部層領
域又は下層領域のパターンが、爪の健常度あるいは疾病
度に応じて変化することを見出し、本発明を完成させ
た。
を低干渉光干渉計測法により計測し、爪表面からの深さ
と信号強度とのプロファイルを求め、そのプロファイル
と爪の健常度あるいは二枚爪、折れ爪といった疾病との
関係を調べた結果、プロファイルの表層領域、内部層領
域又は下層領域のパターンが、爪の健常度あるいは疾病
度に応じて変化することを見出し、本発明を完成させ
た。
【０００５】即ち、本発明は、低コヒーレント光を爪と
参照鏡にそれぞれ入射させ、爪からの反射光又は散乱光
と、参照鏡からの反射光との干渉信号を計測する低干渉
光干渉計測手段により得られた、爪表面からの深さと信
号強度とのプロファイルにおいて、爪の表層領域、内部
層領域及び下層領域の少なくとも１つの領域のピーク高
さ又は面積を計測し、その計測値に基づいて、爪の健常
度又は疾病度を評価する演算手段を有することを特徴と
する爪の評価装置を提供する。
参照鏡にそれぞれ入射させ、爪からの反射光又は散乱光
と、参照鏡からの反射光との干渉信号を計測する低干渉
光干渉計測手段により得られた、爪表面からの深さと信
号強度とのプロファイルにおいて、爪の表層領域、内部
層領域及び下層領域の少なくとも１つの領域のピーク高
さ又は面積を計測し、その計測値に基づいて、爪の健常
度又は疾病度を評価する演算手段を有することを特徴と
する爪の評価装置を提供する。
【０００６】低干渉光干渉計測法は、可視又は近赤外領
域の低コヒーレント光を使用し、試料からの反射光や散
乱光の干渉計測を行い、試料の内部構造を解析する手法
であり、ＯＣＭ（optical coherence microscopy ）又
はＯＣＴ（optical coherencetomography) と称されて
いる（Applied Optics, Vol.34, No.25, 5699(1995）,A
pplied Optics, Vol.32, No.30, 6032(1993）, 光学 ,V
ol.25, No.3, 156(1996）等参照)。
域の低コヒーレント光を使用し、試料からの反射光や散
乱光の干渉計測を行い、試料の内部構造を解析する手法
であり、ＯＣＭ（optical coherence microscopy ）又
はＯＣＴ（optical coherencetomography) と称されて
いる（Applied Optics, Vol.34, No.25, 5699(1995）,A
pplied Optics, Vol.32, No.30, 6032(1993）, 光学 ,V
ol.25, No.3, 156(1996）等参照)。
【０００７】本発明の装置では、低干渉光干渉計測手段
（以下、ＯＣＴ計測手段と称する）による爪の計測プロ
ファイルを使用するので、爪内部の層状構造を無侵襲で
計測することができる。
（以下、ＯＣＴ計測手段と称する）による爪の計測プロ
ファイルを使用するので、爪内部の層状構造を無侵襲で
計測することができる。
【０００８】また、本発明の装置では、演算手段が、Ｏ
ＣＴ計測により得られた爪表面からの深さと信号強度と
のプロファイルを、表層領域、内部層領域及び下層領域
に区分し、それぞれの領域でのピーク高さ又は面積を計
測する。この表層領域、内部層領域及び下層領域の３つ
の領域は、医学的な区分である、毛髪ケラチンからなる
表層と、皮膚ケラチンからなる内部層と、内部層の下の
皮膚との境界領域にある下層の３層に対応する。従っ
て、演算手段による３つのプロファイルの領域のピーク
高さ又は面積の計測値は、それぞれ爪の各層の状態を反
映したものとなる。
ＣＴ計測により得られた爪表面からの深さと信号強度と
のプロファイルを、表層領域、内部層領域及び下層領域
に区分し、それぞれの領域でのピーク高さ又は面積を計
測する。この表層領域、内部層領域及び下層領域の３つ
の領域は、医学的な区分である、毛髪ケラチンからなる
表層と、皮膚ケラチンからなる内部層と、内部層の下の
皮膚との境界領域にある下層の３層に対応する。従っ
て、演算手段による３つのプロファイルの領域のピーク
高さ又は面積の計測値は、それぞれ爪の各層の状態を反
映したものとなる。
【０００９】本発明の装置によれば、演算手段がこの計
測値に基づいて、爪の健常度又は疾病度を客観的に評価
することができる。さらに、この評価結果は任意の表示
手段により表示することができる。
測値に基づいて、爪の健常度又は疾病度を客観的に評価
することができる。さらに、この評価結果は任意の表示
手段により表示することができる。
【００１０】
【発明の実施の形態】以下、本発明を図面に基づいて詳
細に説明する。なお、各図中、同一符号は同一又は同等
の構成要素を表している。
細に説明する。なお、各図中、同一符号は同一又は同等
の構成要素を表している。
【００１１】本発明の評価装置は、少なくとも、ＯＣＴ
計測手段による計測結果に基づいて爪の健常度又は疾病
度を評価する演算手段を有し、更に、爪の計測を行うＯ
ＣＴ計測手段と、爪のＯＣＴ計測のプロファイル又は演
算手段により得られた評価結果を表示する表示手段を有
するのが好ましい。
計測手段による計測結果に基づいて爪の健常度又は疾病
度を評価する演算手段を有し、更に、爪の計測を行うＯ
ＣＴ計測手段と、爪のＯＣＴ計測のプロファイル又は演
算手段により得られた評価結果を表示する表示手段を有
するのが好ましい。
【００１２】ここでＯＣＴ計測手段としては、低コヒー
レント光を爪と参照鏡にそれぞれ入射させ、爪からの反
射光又は散乱光と、参照鏡からの反射光との干渉信号を
計測することができる限り、公知のＯＣＴ計測装置を利
用することができる。
レント光を爪と参照鏡にそれぞれ入射させ、爪からの反
射光又は散乱光と、参照鏡からの反射光との干渉信号を
計測することができる限り、公知のＯＣＴ計測装置を利
用することができる。
【００１３】ＯＣＴ計測手段により爪を計測する場合の
具体的な計測形態としては、図５に示したように、低コ
ヒーレント光を入射させ、反射光又は散乱光を検出する
プローブ１を爪Ｓの爪甲部Ｓ1（爪と皮膚がついている
部分）又は遊離部Ｓ2（爪甲部の先端で、爪と皮膚が遊
離している部分）に接触させればよい。また、切り爪を
計測する場合には、爪を任意の固定台に固定した後、プ
ローブ１を爪に接触させればよい。
具体的な計測形態としては、図５に示したように、低コ
ヒーレント光を入射させ、反射光又は散乱光を検出する
プローブ１を爪Ｓの爪甲部Ｓ1（爪と皮膚がついている
部分）又は遊離部Ｓ2（爪甲部の先端で、爪と皮膚が遊
離している部分）に接触させればよい。また、切り爪を
計測する場合には、爪を任意の固定台に固定した後、プ
ローブ１を爪に接触させればよい。
【００１４】ＯＣＴ計測手段による爪のＯＣＴ計測の結
果として、例えば、目視観察でほぼ健常と認められる爪
の遊離部をＯＣＴ計測した場合（ＯＣＴ計測装置：ヒュ
ーレットパッカード社製、ＨＰ−８５０４Ａ又はＨＰ−
８５０４Ｂ）、図１に示すような、爪表面からの深さと
信号強度とのプロファイルを得ることができる。図中、
縦軸の散乱光強度は、低コヒーレント光の爪からの反射
光と参照鏡からの反射光との干渉信号の強度である。ま
た、横軸のｎ*は空気の屈折率、Ｚは干渉信号が観測さ
れたときの参照鏡の移動距離（μｍ）であり、ｎ*Ｚ
は、干渉信号に対応する爪内の光学深さを表す。
果として、例えば、目視観察でほぼ健常と認められる爪
の遊離部をＯＣＴ計測した場合（ＯＣＴ計測装置：ヒュ
ーレットパッカード社製、ＨＰ−８５０４Ａ又はＨＰ−
８５０４Ｂ）、図１に示すような、爪表面からの深さと
信号強度とのプロファイルを得ることができる。図中、
縦軸の散乱光強度は、低コヒーレント光の爪からの反射
光と参照鏡からの反射光との干渉信号の強度である。ま
た、横軸のｎ*は空気の屈折率、Ｚは干渉信号が観測さ
れたときの参照鏡の移動距離（μｍ）であり、ｎ*Ｚ
は、干渉信号に対応する爪内の光学深さを表す。
【００１５】一方、演算手段は、こうして得られたプロ
ファイルにおいて、爪の表層領域、内部層領域及び下層
領域の少なくとも１つの領域のピーク高さ又は面積を計
測し、その計測値に基づいて、爪の健常度又は疾病度を
評価する。この演算手段としては、例えば、画像処理能
を有するコンピュータを使用することができる。
ファイルにおいて、爪の表層領域、内部層領域及び下層
領域の少なくとも１つの領域のピーク高さ又は面積を計
測し、その計測値に基づいて、爪の健常度又は疾病度を
評価する。この演算手段としては、例えば、画像処理能
を有するコンピュータを使用することができる。
【００１６】演算手段によるプロファイルのピーク高さ
又は面積の計測に際しては、１回の測定によるプロファ
イルを用いてもよいが、数回（例えば８回）の測定の積
算によるプロファイルを用いるのが好ましい。あるいは
フーリエ変換等によりノイズを低減させたプロファイル
を用いることもできる。次いでそのプロファイルを爪の
表層領域、内部層領域又は下層領域に区分する。
又は面積の計測に際しては、１回の測定によるプロファ
イルを用いてもよいが、数回（例えば８回）の測定の積
算によるプロファイルを用いるのが好ましい。あるいは
フーリエ変換等によりノイズを低減させたプロファイル
を用いることもできる。次いでそのプロファイルを爪の
表層領域、内部層領域又は下層領域に区分する。
【００１７】例えば、図１のプロファイルは、光学深さ
が０である爪の表面にピークＡ1を有し、光学深さ１５
０μｍ付近に、ピークＡ1後最初に現れる極小点（第１
の極小点）Ｂ1を有し、この第１の極小点Ｂ1に次いで現
れる極小点（第２の極小点）Ｂ2を光学深さ４００μｍ
付近に有しているので、演算手段は、爪の表面から第１
の極小点までを表層領域とし、第１の極小点と第２の極
小点との間を内部層領域とし、この内部層領域よりも深
部を下層領域と区分する。
が０である爪の表面にピークＡ1を有し、光学深さ１５
０μｍ付近に、ピークＡ1後最初に現れる極小点（第１
の極小点）Ｂ1を有し、この第１の極小点Ｂ1に次いで現
れる極小点（第２の極小点）Ｂ2を光学深さ４００μｍ
付近に有しているので、演算手段は、爪の表面から第１
の極小点までを表層領域とし、第１の極小点と第２の極
小点との間を内部層領域とし、この内部層領域よりも深
部を下層領域と区分する。
【００１８】なお、図１のプロファイルにおいて、ピー
クＡ1は、爪の表層の外表面からの反射光によるもので
あり、第１の極小点Ｂ1と第２の極小点Ｂ2との間のピー
クＡ2は、表層と内部層との界面からの反射によるもの
であり、第２の極小点Ｂ2の直前のピークＡ3は、内部層
と下層との界面からの反射によるものであり、光学深さ
５５０μｍ付近のピークＡ4は下層と空気層との界面か
らの反射によるものである。
クＡ1は、爪の表層の外表面からの反射光によるもので
あり、第１の極小点Ｂ1と第２の極小点Ｂ2との間のピー
クＡ2は、表層と内部層との界面からの反射によるもの
であり、第２の極小点Ｂ2の直前のピークＡ3は、内部層
と下層との界面からの反射によるものであり、光学深さ
５５０μｍ付近のピークＡ4は下層と空気層との界面か
らの反射によるものである。
【００１９】図２は、目視観察上、爪甲部が透明で極め
て健常であると認められる爪の爪甲部を、図１の場合と
同様の計測条件で計測した場合の爪表面からの深さと信
号強度とのプロファイルである。このプロファイルは、
爪の表面のピークＡ1は有するが、光学深さ１５０μｍ
付近に極小点はなく、代わりに変曲点Ｃ1が見られ、変
曲点Ｃ1よりも深部にピークがなく、極小点あるいは変
曲点も見られない。このようなプロファイルに対し、演
算手段は、爪の表面から変曲点Ｃ1までを表層領域とす
る。あるいは、爪の健常部と見られる部位について同様
の測定を複数回繰り返すことにより、平均的な第１の極
小点あるいは第１の変曲点を求めておき、その値に基づ
いて当該爪の計測部位の表層領域を定める。
て健常であると認められる爪の爪甲部を、図１の場合と
同様の計測条件で計測した場合の爪表面からの深さと信
号強度とのプロファイルである。このプロファイルは、
爪の表面のピークＡ1は有するが、光学深さ１５０μｍ
付近に極小点はなく、代わりに変曲点Ｃ1が見られ、変
曲点Ｃ1よりも深部にピークがなく、極小点あるいは変
曲点も見られない。このようなプロファイルに対し、演
算手段は、爪の表面から変曲点Ｃ1までを表層領域とす
る。あるいは、爪の健常部と見られる部位について同様
の測定を複数回繰り返すことにより、平均的な第１の極
小点あるいは第１の変曲点を求めておき、その値に基づ
いて当該爪の計測部位の表層領域を定める。
【００２０】図３は、目視観察上、折れ爪と認められる
爪の爪甲部を、図１の場合と同様の計測条件で計測した
場合の爪表面からの深さと信号強度とのプロファイルで
ある。このプロファイルは、爪の表面のピークＡ1を有
し、光学深さ１５０μｍ付近に変曲点Ｃ1を有し、それ
よりも深部には極小点や変曲点が見られない点では図２
のプロファイルと同様であるが、図２のプロファイルに
比してピークＡ1の高さが高く、また、表層領域の面積
（図３中、ドットで塗りつぶした部分）が大きい。そこ
で、演算手段では、健常爪に対して、評価対象とする爪
の表層領域のピークＡ1の高さ又は面積が或境界値より
も大きい場合に、その爪を折れ爪と評価する。
爪の爪甲部を、図１の場合と同様の計測条件で計測した
場合の爪表面からの深さと信号強度とのプロファイルで
ある。このプロファイルは、爪の表面のピークＡ1を有
し、光学深さ１５０μｍ付近に変曲点Ｃ1を有し、それ
よりも深部には極小点や変曲点が見られない点では図２
のプロファイルと同様であるが、図２のプロファイルに
比してピークＡ1の高さが高く、また、表層領域の面積
（図３中、ドットで塗りつぶした部分）が大きい。そこ
で、演算手段では、健常爪に対して、評価対象とする爪
の表層領域のピークＡ1の高さ又は面積が或境界値より
も大きい場合に、その爪を折れ爪と評価する。
【００２１】なお、ここでピークの高さや各領域の面積
は、プロファイル中の散乱光強度において最小値を通る
水平線をベースラインとし、そのベースラインからのピ
ークの高さ、あるいはベースラインと表層領域のプロフ
ァイルとで挟まれる部分の面積として計測することがで
きる。
は、プロファイル中の散乱光強度において最小値を通る
水平線をベースラインとし、そのベースラインからのピ
ークの高さ、あるいはベースラインと表層領域のプロフ
ァイルとで挟まれる部分の面積として計測することがで
きる。
【００２２】図４は、目視観察上、二枚爪と認められる
爪の爪甲部を、図１の場合と同様の計測条件で計測した
場合の爪表面からの深さと信号強度とのプロファイルで
ある。このプロファイルは、前述の図１のプロファイル
と同様に、爪の表面のピークＡ1、光学深さ１６０μｍ
付近の第１の極小点Ｂ1、内部層領域のピークＡ2を有
し、光学深さ３２０μｍ付近に変曲点Ｃ2（第２の極小
点Ｂ2）を有するが、表層領域に二峰性のピークが認め
られる点で異なっている。そこで、演算手段では、健常
爪に対して、評価対象とする爪の表層領域に二峰性のピ
ークが認められた場合にその爪を二枚爪と評価する。
爪の爪甲部を、図１の場合と同様の計測条件で計測した
場合の爪表面からの深さと信号強度とのプロファイルで
ある。このプロファイルは、前述の図１のプロファイル
と同様に、爪の表面のピークＡ1、光学深さ１６０μｍ
付近の第１の極小点Ｂ1、内部層領域のピークＡ2を有
し、光学深さ３２０μｍ付近に変曲点Ｃ2（第２の極小
点Ｂ2）を有するが、表層領域に二峰性のピークが認め
られる点で異なっている。そこで、演算手段では、健常
爪に対して、評価対象とする爪の表層領域に二峰性のピ
ークが認められた場合にその爪を二枚爪と評価する。
【００２３】以上、演算手段においてなされる、爪の健
常度あるいは疾病度の評価方法について説明したが、爪
のプロファイルは、季節、爪全体の厚さ、ＯＣＴ計測手
段の感度、疾病の有無等により若干異なる。また、第１
のピークＡ1の高さ、表層領域の面積、あるいは表層領
域の面積に対する内部層領域の面積の比について、評価
対象とする爪のプロファイルを健常爪のプロファイルと
対比し、ある境界値を以て、折れ爪、二枚爪等の疾病度
あるいは健常度を評価する場合に、基準とする健常爪の
ピークプロファイルの選定や境界値の設定により、評価
結果も若干変化する。
常度あるいは疾病度の評価方法について説明したが、爪
のプロファイルは、季節、爪全体の厚さ、ＯＣＴ計測手
段の感度、疾病の有無等により若干異なる。また、第１
のピークＡ1の高さ、表層領域の面積、あるいは表層領
域の面積に対する内部層領域の面積の比について、評価
対象とする爪のプロファイルを健常爪のプロファイルと
対比し、ある境界値を以て、折れ爪、二枚爪等の疾病度
あるいは健常度を評価する場合に、基準とする健常爪の
ピークプロファイルの選定や境界値の設定により、評価
結果も若干変化する。
【００２４】そこで、任意の爪に対し、任意の計測条件
において、できる限り適切な評価が得られるようにする
ため、演算手段では、基準とする健常爪のプロファイル
として、季節ごとに、目視観察上健常であると認められ
る多数の爪を計測し、その平均として得られるプロファ
イルを使用するか、また、評価対象とする当該爪の健常
とみられる部位内で複数点を測定し、その平均として得
られるプロファイルを使用することが好ましい。また、
健常爪、折れ爪及び二枚爪の層構造を有する標準板を用
意し、この標準板のプロファイルにより個々の計測条件
での健常度と疾病度の評価基準を定めてもよい。
において、できる限り適切な評価が得られるようにする
ため、演算手段では、基準とする健常爪のプロファイル
として、季節ごとに、目視観察上健常であると認められ
る多数の爪を計測し、その平均として得られるプロファ
イルを使用するか、また、評価対象とする当該爪の健常
とみられる部位内で複数点を測定し、その平均として得
られるプロファイルを使用することが好ましい。また、
健常爪、折れ爪及び二枚爪の層構造を有する標準板を用
意し、この標準板のプロファイルにより個々の計測条件
での健常度と疾病度の評価基準を定めてもよい。
【００２５】一方、計測の要求精度によっては、特定の
ＯＣＴ計測手段を一定の感度で使用する場合、予め多数
の爪の計測に基づいて求めた、表層領域、内部層領域及
び下層領域の各領域の境界を固定値として使用し、さら
に、第１のピークＡ1の高さ、表層領域の面積、あるい
は表層領域の面積に対する内部層領域の面積の比につい
ても健常爪と疾病爪との評価の境界値を固定値として求
めておき、使用してもよい。例えば、ＯＣＴ計測手段と
してヒューレットパッカード社製のＨＰ−８５０４Ａ又
はＨＰ−８５０４Ｂを使用し、その計測条件を健常爪に
対応させる場合、表層領域と内部層領域との境界を、爪
表面からの光学深さとして１５０μｍ、内部層領域と下
層領域との境界を爪表面からの光学深さとして３５０μ
ｍという固定値に設定することができる。
ＯＣＴ計測手段を一定の感度で使用する場合、予め多数
の爪の計測に基づいて求めた、表層領域、内部層領域及
び下層領域の各領域の境界を固定値として使用し、さら
に、第１のピークＡ1の高さ、表層領域の面積、あるい
は表層領域の面積に対する内部層領域の面積の比につい
ても健常爪と疾病爪との評価の境界値を固定値として求
めておき、使用してもよい。例えば、ＯＣＴ計測手段と
してヒューレットパッカード社製のＨＰ−８５０４Ａ又
はＨＰ−８５０４Ｂを使用し、その計測条件を健常爪に
対応させる場合、表層領域と内部層領域との境界を、爪
表面からの光学深さとして１５０μｍ、内部層領域と下
層領域との境界を爪表面からの光学深さとして３５０μ
ｍという固定値に設定することができる。
【００２６】本発明の装置において、表示手段として
は、ＯＣＴ計測のプロファイルや、演算手段の評価結果
を表示できればよく、例えばＣＲＴモニターやプリンタ
等を使用することができる。
は、ＯＣＴ計測のプロファイルや、演算手段の評価結果
を表示できればよく、例えばＣＲＴモニターやプリンタ
等を使用することができる。
【００２７】
【発明の効果】本発明の装置によれば、爪の健常度ある
いは疾病度を、爪の内部構造の機械的計測に基づき、客
観的に評価することができる。
いは疾病度を、爪の内部構造の機械的計測に基づき、客
観的に評価することができる。
【図１】 ほぼ健常な爪の遊離部のＯＣＴ計測のプロフ
ァイルである。
ァイルである。
【図２】 健常爪の爪甲部のＯＣＴ計測のプロファイル
である。
である。
【図３】 折れ爪の爪甲部のＯＣＴ計測のプロファイル
である。
である。
【図４】 二枚爪の爪甲部のＯＣＴ計測のプロファイル
である。
である。
【図５】 爪のＯＣＴ計測方法を説明する斜視図であ
る。
る。
１ プローブ Ｓ 爪 Ｓ1 爪甲部 Ｓ2 遊離部
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 菅原 享 東京都墨田区文花２−１−３ 花王株式 会社研究所内 (72)発明者 赤崎 秀一 東京都墨田区文花２−１−３ 花王株式 会社研究所内 (56)参考文献 特開 平11−326183（ＪＰ，Ａ) 特開 平９−173301（ＪＰ，Ａ) 特開 平11−326182（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) A61B 5/00 A61B 10/00 G01N 21/47 ＪＩＣＳＴファイル（ＪＯＩＳ)
Claims (2)
- 【請求項１】 低コヒーレント光を爪と参照鏡にそれぞ
れ入射させ、爪からの反射光又は散乱光と、参照鏡から
の反射光との干渉信号を計測する低干渉光干渉計測手段
により得られた、爪表面からの深さと信号強度とのプロ
ファイルにおいて、爪の表層領域、内部層領域及び下層
領域の少なくとも１つの領域のピーク高さ又は面積を計
測し、その計測値に基づいて、爪の健常度又は疾病度を
評価する演算手段を有することを特徴とする爪の評価装
置。 - 【請求項２】 演算手段が、爪表面からの深さと信号強
度とのプロファイルにおいて、爪表面からの深さ方向に
最初に現れる極小点又は変曲点（以下、第１の極小点と
称する）までを表層領域とし、該第１の極小点と、該第
１の極小点の次に現れる極小点又は変曲点との間を内部
層領域とし、該内部層領域よりも深部を下層領域とする
請求項１記載の爪の評価装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11000184A JP3063086B1 (ja) | 1999-01-04 | 1999-01-04 | 爪の評価装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
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