JP3048301U - Automatic start line setting device for image inspection equipment - Google Patents

Automatic start line setting device for image inspection equipment

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JP3048301U
JP3048301U JP1997010531U JP1053197U JP3048301U JP 3048301 U JP3048301 U JP 3048301U JP 1997010531 U JP1997010531 U JP 1997010531U JP 1053197 U JP1053197 U JP 1053197U JP 3048301 U JP3048301 U JP 3048301U
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JP
Japan
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inspection
address
memory
start line
vertical
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Application number
JP1997010531U
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Japanese (ja)
Inventor
章治 西垣内
Original Assignee
高嶋技研株式会社
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 パターンマッチング検査に於て、見本と検査
物のスタートラインを自動で合わせる事を目的とする。 【構成】 垂直アドレスの色変化の大きい水平点を決
め、縦方向垂直ラインの数だけインクルメントし、検査
画像の開始点をずらせた物と見本画像と500点のライ
ンデータの差の少ないスタートアドレスを決める照合開
始ライン自動設定装置。
(57) [Summary] [Purpose] The purpose of pattern matching inspection is to automatically match the start line of the sample with the inspection object. [Structure] A horizontal address having a large color change in a vertical address is determined, incremented by the number of vertical lines in the vertical direction, and a start address in which the starting point of the inspection image is shifted, a sample image, and a small difference between 500 points of line data. Automatic setting device for collation start line to determine

Description

【考案の詳細な説明】[Detailed description of the invention]

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】[Industrial applications]

本考案は、パターンマッチング方式の工業製品、印刷物、等の検査装置に必要 なものであり、特に外形と内容位置がずれている場合に絶対必要なものである。 The present invention is necessary for a pattern matching type inspection apparatus for industrial products, printed matter, etc., and is absolutely necessary especially when the outer shape and the content position are shifted.

【0002】[0002]

【従来の技術】[Prior art]

従来の画像処理は、外形と検査内容の位置関係が合致しているものとして、外 形エッジを照合開始線としていた。 この為、総合位置ずれの為、検査精度上げられなかった。しかし精度が必要な場 合は、パターンマッチングの開始点をずらせて何回も実施し、最もずれ量の少な い照合回をベースとして検査しているが、照合途中に本当の不良画素、言い換え れば、検出しなければならない画素があると照合不能という結果になっていた。 又、特長のある色か、文字を基準にして行っていたが、基準差が大きくて不安定 であった。 In conventional image processing, it is assumed that the positional relationship between the outer shape and the inspection content matches, and the outer shape edge is used as the matching start line. For this reason, the inspection accuracy could not be improved due to the total displacement. However, if accuracy is required, the starting point of pattern matching is shifted many times, and inspection is performed based on the matching times with the least amount of deviation. For example, if there is a pixel that needs to be detected, the result cannot be matched. In addition, the color was determined based on characteristic colors or characters, but the standard difference was large and unstable.

【0003】[0003]

【考案が解決しようとする課題】[Problems to be solved by the invention]

従来の技術で述べたように、パターンマッチングの開始線を外形に関係なく、 自動設定しようとするものである。 As described in the background art, the starting line of the pattern matching is automatically set regardless of the outer shape.

【0004】[0004]

【課題を解決する為の手段】[Means for solving the problem]

第1図見本メモリーに於て色変化の多い、例えば800の水平アドレスを選 定する。 検査開始して検査物メモリーに画像が入る。 第2図に於て共、水平800番地のみを縦0番地のデータを取り出し、(イ )及び(ロ)で2値化し、(a)の比較差検出ユニットの計数器に入る。結果は (d1)で記録する。次に検査メモリーのみをインクルメントし、の如く1 番地のデータと読み出しの0とを比較する。 (但し、説明用に記号を分けたのみでは同じ検査メモリーである。従って 、(ロ)(ハ)(ニ)も同じ検査画像2値化ユニットであり、(b)(c)も比 較差検出ユニットである。) そして、差データを(d1)に記録する。 以下1本づつずらし、の500本目のデータで開始点チェックは終了する。 終了したら(d2)でデータの最小値を選択して、その時の垂直方向のアドレス を(e)に出力し、検査メモリーの垂直方向スタートアドレスを決定する信号を (e)に出す。 FIG. 1 Selects, for example, 800 horizontal addresses in the sample memory where color changes are large. The inspection starts and the image enters the inspection object memory. In FIG. 2, only the data at the horizontal address 800 is taken out of the vertical address 0, binarized by (a) and (b), and the binary data is inputted to the counter of the comparison difference detection unit (a). The result is recorded in (d1). Next, only the inspection memory is incremented, and the data at address 1 is compared with the read 0 as shown in FIG. (However, the inspection memory is the same if only the symbols are separated for explanation. Therefore, (b), (c), and (d) are the same inspection image binarization unit, and (b) and (c) are the comparison detection data. The difference data is recorded in (d1). Hereinafter, the start point check ends with the 500th data shifted one by one. When the processing is completed, the minimum value of the data is selected in (d2), the vertical address at that time is output to (e), and the signal for determining the vertical start address of the inspection memory is output to (e).

【0005】 検査スタートアドレスが決定したので、の検査メモリーはその決定した垂直 アドレスから照合を開始する。勿論、見本メモリーは0番地から全画面照合を開 始出来るわけである。Since the test start address is determined, the test memory starts collation from the determined vertical address. Of course, the sample memory can start full-screen collation from address 0.

【0006】[0006]

【作用】[Action]

この作業を第3図BCのボードコンピューターでプログラマブルに動作させ、 開始ラインの自動設定をおこなうものである。 This work is programmatically operated by the board computer shown in FIG. 3BC to automatically set the start line.

【0007】[0007]

【実施例】【Example】

第3図に於て、デジタル画像が(S0)に入る。 順序1は、見本画像取込みであるから(S0)は黒丸に倒れ、の見本メモリー に画像が入る。この切り換え手順はBCのボードコンピューターが行う。 尚、取込読出しは(S1)(S2)共、黒丸側でドライブする。 In FIG. 3, the digital image enters (S0). In order 1, the sample image is fetched, (S0) falls into a black circle, and the image enters the sample memory. This switching procedure is performed by a BC board computer. In addition, in the read-in operation, both (S1) and (S2) are driven on the black circle side.

【0008】 順序2は、検査開始である(S0)が白丸側に切り換わり、の検査メモリー に画像が入る。In order 2, the start of the inspection (S0) is switched to the white circle side, and the image is stored in the inspection memory.

【0009】 順序3は、(S1)(S2)が白丸側に切り換わり、STDRIVで任意の水 平アドレスを縦方向にインクルメントする様ドライブする。各垂直アドレス毎に の見本データとの検査データとを差検出し、(d1)に記憶する0〜500 ケのデータが揃った所で、(d2)で差の最も少ない垂直アドレス(e)をST DRIVに送り、検査メモリーの読み出しスタートアドレスを(S3)黒丸でシ フトする。In order 3, drive is performed so that (S1) and (S2) are switched to the white circle side, and an arbitrary horizontal address is incremented in the vertical direction by STDRIV. The difference between the sample data and the inspection data for each vertical address is detected, and when 0 to 500 pieces of data to be stored in (d1) are obtained, the vertical address (e) having the smallest difference in (d2) is determined. The data is sent to ST DRIV, and the read start address of the inspection memory is shifted by a black circle (S3).

【0010】[0010]

【考案の効果】[Effect of the invention]

順序4は、(S1)(S2)が黒丸側に倒れ、検査用ドライブINSDRIV から信号が出る。その結果、見本メモリーは水平垂直共0番地から、検査メモ リーは水平0番地、垂直は手順3で決まったアドレスからスタートする。これ で開始ラインが設定された事になる。 In order 4, (S1) and (S2) fall to the black circle side, and a signal is output from the inspection drive INSDRIV. As a result, the sample memory starts at address 0 for both horizontal and vertical, the inspection memory starts at address 0 for horizontal, and the vertical starts from the address determined in step 3. The start line is now set.

【0011】 順序5は、INSのパターン照合検査機に於て、ととのデータを照合しな がら全画面検査するものであるStep 5 is a full-screen inspection performed by the INS pattern collation inspection machine while collating data with the INS.

【0012】[0012]

【考案の効果】[Effect of the invention]

本案は、次に記載する効果がある。 The present invention has the following effects.

【0013】 実際の検査物毎にスタート開始線を合わせるので、総合検査精度が上がる。[0013] Since the start start line is adjusted for each actual inspection object, the overall inspection accuracy is improved.

【0014】 外形と内容位置のスタートが普通の工業製品又は、印刷物では合わない。その 為検査出来なかった種類も検査出来る。[0014] The start of the outer shape and the content position do not match with ordinary industrial products or printed matter. Therefore, the types that could not be inspected can be inspected.

【0015】 全画面読み出しクロックより高速に500ケのデータを読みスタートラインを 決めるので、設定時間は無視出来る程短い。The set time is negligibly short because 500 data are read faster than the full-screen read clock and the start line is determined.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【第1図】メモリー画面の水平垂直アドレスと任意の水
平アドレス800を表示した図である。
FIG. 1 is a diagram showing a horizontal and vertical address of a memory screen and an arbitrary horizontal address 800.

【第2図】見本メモリーと検査メモリーの垂直アドレス
をインクルメントし、検査メモリーをどこから読み出し
たら同一画像を読み出せるか、の照合開始線検出図であ
る。
FIG. 2 is a diagram illustrating a collation start line detection diagram in which the vertical addresses of a sample memory and an inspection memory are incremented, and where to read the inspection memory to read the same image;

【第3図】本案の実施例である。FIG. 3 is an embodiment of the present invention.

【符号の説明】 見本メモリー 検査メモリー の垂直アドレスを1ラインずらせ
た例 の垂直アドレスを500ラインず
らせた例 0 アドレス0番地 1000 水平アドレス最終1000番地 500 垂直アドレス最終500番地 800 任意の縦線の水平アドレス (イ) 見本データ2値化ユニット (ロ)(ハ)(ニ)検査データ2値化ユニット (a)(b)(c)比較差検出ユニット (d1) 500ライン分のデータメモリー (d2) 最少値検出ユニット (e) 最少値の垂直アドレス信号 IN デジタル画像入力 (S0) 見本メモリー検出メモリー入力切り換えス
イッチ (S1) 見本メモリードライブ切り換えスイッチ (S2) 検査メモリードライブ切り換えスイッチ (S3) 検査メモリードライブ垂直アドレスシフト
スイッチ INS パターン照合検査機 INSDRIV 画像取り込み時、検査時、のメモ
リーアドレスクロックドライバー STDRIV 水平アドレスを設定し、検査メモ
リーのみ高速に垂直アドレスをインクルメントして、5
00本のアドレスをカウントドライブする開始線検出用
のドライバー BC ボードコンピューター
[Explanation of Reference Codes] Sample memory Inspection memory Example in which the vertical address is shifted by one line Example in which the vertical address is shifted by 500 lines 0 Address 0 1000 Horizontal address final 1000 500 Vertical address final 500 800 Any horizontal horizontal line Address (a) Sample data binarization unit (b) (c) (d) Inspection data binarization unit (a) (b) (c) Comparative difference detection unit (d1) Data memory for 500 lines (d2) Minimum value detection unit (e) Minimum value vertical address signal IN Digital image input (S0) Sample memory detection memory input selector switch (S1) Sample memory drive selector switch (S2) Inspection memory drive selector switch (S3) Inspection memory drive vertical Address shift switch IN During pattern matching inspection machine INSDRIV image capture, it sets the memory address clock driver STDRIV horizontal address during a test, and then Inclusive Instruments vertical address only high-speed inspection memory 5
Start line detection driver that counts and drives 00 addresses BC board computer

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】[Utility model registration claims] 【請求項1】 内筒形の印刷物又は、帯状の同じ絵柄の
繰り返しを照合するパターンマッチング方式の画像検査
装置に於て、見本メモリー部と検査メモリー部に、任意
の縦一本線を読み出す読出部を設け、検査メモリーの読
み出し画素を1画素づつ遅らせて、両者の差の最も小さ
い位相を設定する機能を持つ比較検出設定部を付加した
画像検査装置に於ける照合開始線自動設定装置。
In a pattern matching type image inspection apparatus for collating repetition of an inner cylindrical printed matter or a strip of the same picture, a reading section for reading an arbitrary vertical single line into a sample memory section and an inspection memory section. And a comparison start setting unit having a function of delaying the pixels read out from the inspection memory by one pixel and setting a phase having the smallest difference between the two, in an image inspection apparatus.
JP1997010531U 1997-10-22 1997-10-22 Automatic start line setting device for image inspection equipment Expired - Lifetime JP3048301U (en)

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