JP3029663B2 - Color picture tube and method of manufacturing the same - Google Patents

Color picture tube and method of manufacturing the same

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JP3029663B2
JP3029663B2 JP02297238A JP29723890A JP3029663B2 JP 3029663 B2 JP3029663 B2 JP 3029663B2 JP 02297238 A JP02297238 A JP 02297238A JP 29723890 A JP29723890 A JP 29723890A JP 3029663 B2 JP3029663 B2 JP 3029663B2
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【発明の詳細な説明】 [発明の目的] (産業上の利用分野) 本発明は、カラー受像管に係り、特に色純度の劣化を
防止するシャドウマスクを備えたカラー受像管及びその
製造方法に関するものである。
The present invention relates to a color picture tube, and more particularly to a color picture tube provided with a shadow mask for preventing color purity from deteriorating and a method of manufacturing the same. Things.

(従来の技術) 一般にシャドウマスク型カラー受像管は、第5図に示
すように、受像管のパネル1内面に形成された各色の発
光領域を持つ蛍光スクリーン2と、多数の透孔3が穿設
され曲面状の有効面を有するシャドウマスク4と、この
シャドウマスク4を周辺で保持するマスクフレーム5
と、複数の電子ビーム6を射出する電子銃7とを備え、
シャドウマスク4は、マスクフレーム5に設けられたホ
ルダー8を介してパネル1の直立端部内壁に埋設された
スタッドピン9に係止されることにより、パネル1内面
に支持されている。カラー受像管は、電子ビーム6を前
記シャドウマスク4の有効面の透孔3を通過させて前記
蛍光スクリーン2の決められた蛍光領域上に電子ビーム
6が射突するようにしてカラー画像を表示するものであ
る。このようなカラー受像管では、その構造上電子ビー
ム6の1/3以上がシャドウマスク4の透孔3以外の領域
に衝突し、シャドウマスク4を熱膨張させるいわゆるド
ーミング現象が起こり、その結果として電子ビーム6の
発光領域へのランディング位置がずれて色純度劣化を起
こすことがある。
(Prior Art) Generally, as shown in FIG. 5, a shadow mask type color picture tube has a fluorescent screen 2 having a light emitting area of each color formed on an inner surface of a panel 1 of the picture tube, and a large number of through holes 3 formed therein. A shadow mask 4 having a curved effective surface and a mask frame 5 for holding the shadow mask 4 around the shadow mask 4
And an electron gun 7 for emitting a plurality of electron beams 6,
The shadow mask 4 is supported on the inner surface of the panel 1 by being engaged with a stud pin 9 embedded in the inner wall of the upright end of the panel 1 via a holder 8 provided on the mask frame 5. The color picture tube displays a color image by passing the electron beam 6 through the through-hole 3 on the effective surface of the shadow mask 4 and projecting the electron beam 6 on a predetermined fluorescent area of the fluorescent screen 2. Is what you do. In such a color picture tube, more than one third of the electron beam 6 collides with a region other than the through hole 3 of the shadow mask 4 due to its structure, and a so-called doming phenomenon occurs in which the shadow mask 4 thermally expands. In some cases, the landing position of the electron beam 6 on the light-emitting area is shifted to cause color purity degradation.

このようなドーミング現象によるミスランディングを
抑えるために、従来、シャドウマスクにセラミック層ま
たは電子吸収層を形成する提案が成されている。例え
ば、特開昭60−54139号公報にはシャドウマスクの電子
銃側の主面にセラミック層を形成してシャドウマスクに
残留引張り応力を内在させてシャドウマスクのドーミン
グを抑え、また、熱伝導率の低減によりシャドウマスク
そのものの温度上昇を抑制するものが記載され、また特
公昭57−18824号公報には電子ビームが射突する蛍光ス
クリーンの表面の非発光領域に対応して低い導電率の電
子吸収層を形成し、電子吸収層を負に帯電させて静電的
に電子ビームの軌道を修正するものが記載されている。
In order to suppress the mislanding due to the doming phenomenon, conventionally, a proposal has been made to form a ceramic layer or an electron absorption layer on a shadow mask. For example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 60-54139 discloses that a ceramic layer is formed on the main surface of the shadow mask on the electron gun side to suppress residual doping of the shadow mask by incorporating residual tensile stress in the shadow mask. In addition, Japanese Patent Publication No. 57-18824 discloses a low-conductivity electron corresponding to a non-light-emitting region on the surface of a fluorescent screen on which an electron beam impinges. It describes that an absorption layer is formed and the electron absorption layer is negatively charged to electrostatically correct the trajectory of the electron beam.

しかしながら、シャドウマスクの電子銃側主面にセラ
ミック層を形成するだけではミスランディングの抑制と
いう意味では未だ不十分である。一方、蛍光スクリーン
の非発光領域に電子吸収層を形成するものは第一にドー
ミング現象によるランディング後に負帯電による減速電
界が作用し始めるので時間の遅れを伴うこと、第二に電
子吸収層の負帯電部分はミスランディングを生じた部分
のみで、減速電界としては小面積で不十分であること、
第三に動作初期のドーミングによるミスランディングに
対しては有効でないこと、第四に形成方法は作業的にも
精度的にも量産に不向きという問題がある。
However, simply forming a ceramic layer on the main surface of the shadow mask on the electron gun side is still insufficient to suppress mislanding. On the other hand, in the case where the electron absorbing layer is formed in the non-light emitting region of the fluorescent screen, firstly, a deceleration electric field due to negative charging starts to act after landing due to the doming phenomenon, so that a time delay occurs, and secondly, the negative effect of the electron absorbing layer. The charged part is only the part where mislanding occurred, and the small area is insufficient for the deceleration electric field.
Third, there is a problem that it is not effective against mislanding due to doming at the beginning of the operation, and fourth, the formation method is not suitable for mass production both in terms of work and accuracy.

このようにシャドウマスクの電子銃側主面あるいは蛍
光スクリーンの非発光領域にセラミック層あるいは電子
吸収層を形成するだけでは、ドーミング現象によるミス
ランディングに即座に対応して色純度劣化を補正するこ
とができない、あるいは補正作用を及ぼす部分が小さす
ぎるなどの理由で十分にミスランディングを補正できな
いという問題がある。
By simply forming a ceramic layer or an electron absorbing layer on the electron gun side main surface of the shadow mask or on the non-light emitting area of the fluorescent screen, it is possible to immediately correct mislanding due to the doming phenomenon and correct color purity deterioration. There is a problem in that mislanding cannot be sufficiently corrected because the correction cannot be performed or a portion that exerts a correction action is too small.

そこで特開昭62−188135号公報には第6図に示すよう
に、シャドウマスク4の透孔3の壁面にも電子吸収層を
形成するものが提案されている。すなわちシャドウマス
ク4と管軸との交点をシャドウマスク中心とすると、シ
ャドウマスク4の透孔3のシャドウマスク中心側の壁面
(以下、中心側壁面10aと称する)に、または中心側壁
面10aとこの中心側壁面10aに対向する周辺側壁面10bと
の電子ビームの電子流密度に応じて帯電し電子ビームを
静電的に偏向する電子吸収層11を形成している。
Therefore, Japanese Patent Application Laid-Open No. Sho 62-188135 proposes a shadow mask 4 in which an electron absorbing layer is also formed on the wall surface of the through hole 3 as shown in FIG. That is, assuming that the intersection point between the shadow mask 4 and the tube axis is the center of the shadow mask, the center of the through-hole 3 of the shadow mask 4 on the shadow mask center side (hereinafter, referred to as the center side wall surface 10a) or the center side wall surface 10a. An electron absorption layer 11 is formed which is charged according to the electron flow density of the electron beam with the peripheral side wall surface 10b facing the central side wall surface 10a and electrostatically deflects the electron beam.

この電子吸収層は以下のようにして形成されている。 This electron absorption layer is formed as follows.

すなわち、熱膨張係数が1.2×10-5/℃と大きい鉄を主
成分とするいわゆる冷間圧延綱からなる厚さ0.1mm〜0.3
mmの薄板に通常のエッチング手段により多数の透孔を形
成し、プレスにより所定の形状に成型する。そして、パ
ネルとファンネルとが封着される前に、ニトロセルロー
ズを数%溶かした酢酸ブチルアルコール溶液で溶かされ
た結晶性鉛ほう酸塩ガラスをシャドウマスクの電子銃側
の主面と透孔の中心側壁面にスプレー塗布し、この結晶
性鉛ほう酸塩ガラスを塗布したシャドウマスクをパネル
内に装着する。その後、パネルとファンネルを所定の枠
台に載せて、最高温度が約400℃でその保持時間が35分
以上ある炉を通過させて鉛ほう酸塩ガラスを結晶化させ
ることにより、導電率が10-1Ω-1.m-1の低導電率の鉛ほ
う酸塩ガラス層を電子吸収層としてシャドウマスクの電
子銃側の主面と透孔の中心側壁面に形成する。
That is, the coefficient of thermal expansion is 1.2 × 10 −5 / ° C. A thickness of 0.1 mm to 0.3 made of a so-called cold-rolled steel having iron as a main component.
A large number of through-holes are formed in a thin plate of mm by ordinary etching means, and molded into a predetermined shape by pressing. Before the panel and the funnel are sealed, a crystalline lead borate glass melted with a butyl acetate solution in which several percent of nitrocellulose is melted is applied to the main surface of the shadow mask on the electron gun side and the center of the through hole. The shadow mask coated with the crystalline lead borate glass by spray coating on the side wall surface is mounted in the panel. Thereafter, the panel and the funnel are placed on a predetermined frame, and passed through a furnace having a maximum temperature of about 400 ° C. and a holding time of 35 minutes or more to crystallize the lead borate glass, thereby obtaining a conductivity of 10 −. A lead borate glass layer having a low conductivity of 1 Ω −1 .m −1 is formed as an electron absorbing layer on the main surface of the shadow mask on the electron gun side and the central side wall of the through hole.

上記のようにシャドウマスクの電子銃側主面と透孔の
壁面とに電子吸収層をスプレーする場合、第7図に示す
ように、シャドウマスク4の電子銃側に位置するスプレ
ー装置12aにより電子銃側主面10cの電子吸収層11を形成
し、蛍光スクリーン側のスプレー装置12bをシャドウマ
スク4の周辺側から中心側に傾けることにより透孔3の
中心側壁面10aに電子吸収層を塗布形成していた。
When the electron absorbing layer is sprayed on the electron gun side main surface of the shadow mask and the wall surface of the through hole as described above, the electron is sprayed by the spray device 12a located on the electron gun side of the shadow mask 4, as shown in FIG. The electron absorbing layer 11 on the gun-side main surface 10c is formed, and the electron absorbing layer is applied to the central side wall surface 10a of the through hole 3 by tilting the spray device 12b on the fluorescent screen side from the peripheral side of the shadow mask 4 to the central side. Was.

しかしながら、上述の特開昭62−188135号公報に示さ
れるようなカラー受像管を動作させた場合でも、ドーミ
ング現象の時間的経過に伴いランディングがずれてく
る。以下シャドウマスクのドーミングによる電子ビーム
の軌道の変化について第8図乃至第10図を用いて説明す
る。第8図において、シャドウマスク4がドーミング現
象を生じていない状態での電子ビームは蛍光スクリーン
2の所定位置にランディングするように構成されてい
る。ここで、仮にシャドウマスク2に入射する電子ビー
ムの電子流密度が増大し、シャドウマスクが加熱されド
ーミング現象を生じ第8図の破線に示す位置に移動した
場合、電子ビームの蛍光スクリーンへの本来のランディ
ング時点へランディングすべき電子ビームA,Bはドーミ
ング現象によってビームDA1,DB1へと移動し、シャドウ
マスク中心側の地点にミスランディングする。このミス
ランディング量が各色発光蛍光体群の配列によるランデ
ィング余裕度の限界を越えると色純度の劣化を生ずるこ
とになる。上記第8図に示すドーミング現象に主に動作
初期の段階で起こる。この動作初期の段階では、画面中
央部、周辺部ともにドーミングによるビームの移動方向
は同じであり、これは透孔3の中心側壁面10aに形成さ
れた電子吸収層11の働きにより補正される。すなわち、
電子吸収層11は電子流密度に応じて帯電するので、透孔
3の中心側壁面10aの表面に帯電した負電荷の働きによ
り、ドーミングによって移動した電子ビームは管軸から
遠ざかる方向に軌道を曲げられる。
However, even when a color picture tube as disclosed in the above-mentioned Japanese Patent Application Laid-Open No. 62-188135 is operated, the landing shifts with the lapse of time of the doming phenomenon. Hereinafter, changes in the trajectory of the electron beam due to doming of the shadow mask will be described with reference to FIGS. In FIG. 8, the electron beam is configured to land at a predetermined position on the fluorescent screen 2 when the shadow mask 4 does not cause the doming phenomenon. Here, if the electron current density of the electron beam incident on the shadow mask 2 increases and the shadow mask is heated and causes a doming phenomenon and moves to the position shown by the broken line in FIG. The electron beams A and B to be landed at the time of landing move to the beams DA1 and DB1 due to the doming phenomenon, and mislanding at a point on the center side of the shadow mask. If the amount of mislanding exceeds the limit of the landing margin due to the arrangement of each color light emitting phosphor group, the color purity will be degraded. The doming phenomenon shown in FIG. 8 mainly occurs at an early stage of the operation. In the initial stage of the operation, the moving direction of the beam due to doming is the same in both the central part and the peripheral part of the screen, and this is corrected by the function of the electron absorbing layer 11 formed on the central side wall surface 10a of the through hole 3. That is,
Since the electron absorbing layer 11 is charged in accordance with the electron flow density, the electron beam moved by doming bends its trajectory away from the tube axis by the action of the negative charge on the surface of the central side wall 10a of the through hole 3. Can be

その後動作時間が経つにつれてシャドウマスクの熱が
マスクフレームへと伝わり第9図に示すように、マスク
フレーム5が熱膨張を起こすようになる。このときの状
態を第9図の破線で表す。シャドウマスク4の周辺部は
マスクフレーム5の膨脹により周辺方向に引っ張られ
る。その結果、画面中央部のビームAは動作初期のドー
ミングと同じビームDA2方向へ移動し、画面周辺部のビ
ームBはビームDB2方向へと移動する。このビームの移
動は第10図に示すように電子吸収層の働きにより、中央
部のビームDA2、周辺部のビームDB2ともに同方向、つま
りA2、B2方向に移動する。しかし、動作初期と時間が経
過した後とでは画面周辺部でのドーミングによるビーム
の移動方向が逆方向であるため、時間が経過したときで
は電子吸収層の働きがミスランディングを助長する方向
となる。実際、動作初期のドーミング現象の持続時間は
短いので、上述の画面周辺でのミスランディングが主た
る問題となる。
Thereafter, as the operating time elapses, the heat of the shadow mask is transmitted to the mask frame, and the mask frame 5 undergoes thermal expansion as shown in FIG. The state at this time is represented by a broken line in FIG. The peripheral portion of the shadow mask 4 is pulled in the peripheral direction by the expansion of the mask frame 5. As a result, the beam A at the center of the screen moves in the same beam DA2 direction as the doming at the beginning of the operation, and the beam B at the periphery of the screen moves in the beam DB2 direction. As shown in FIG. 10, this movement of the beam causes both the beam DA2 in the central portion and the beam DB2 in the peripheral portion to move in the same direction, that is, in the A2 and B2 directions by the action of the electron absorbing layer. However, the movement direction of the beam due to doming in the peripheral portion of the screen is in the opposite direction between the initial operation and after the elapse of time, so that the function of the electron absorbing layer promotes mislanding after the elapse of time. . In fact, since the duration of the doming phenomenon at the beginning of the operation is short, the above-described mislanding around the screen is a major problem.

(発明が解決しようとする課題) 上述のようにシャドウマスクの透孔の中心側壁面また
は中心側壁面とこれに対向する周辺側壁面とに電子吸収
層を形成するだけではランディングのずれに対する補正
としては不十分で、画面周辺部における補正作用が動作
初期とその後の状態とで異なるという問題点があった。
(Problems to be Solved by the Invention) As described above, simply forming an electron absorbing layer on the central side wall surface or the central side wall surface of the through hole of the shadow mask and the peripheral side wall surface facing the central side wall is required to correct the landing deviation. Is insufficient, and there is a problem that the correction action in the peripheral portion of the screen is different between the initial operation and the subsequent state.

そのためホルダーにバイメタルを用いることにより品
位の向上を図る方法もあるが、 1.熱伝導による補正動作のため補正開始が遅れる 2.マスク剛性を保つため、材厚の厚いフレームが必要と
なり、その結果フレームの熱容量が増大し、上記1が助
長される 3.パネル、フレーム、マスク系の温度変化以外に環境温
度の変化にも対応するため、不必要な補正すなわち誤動
作を生じる という問題点がある。
Therefore, there is a method of improving the quality by using a bimetal for the holder. However, 1.The correction operation is delayed due to heat conduction. 2.The thicker frame is required to maintain the mask rigidity. 3. The heat capacity of the frame is increased, which promotes 1). 3. In addition to the temperature change of the panel, the frame, and the mask system, there is a problem that an unnecessary correction, that is, an erroneous operation is caused because of a change in the environmental temperature.

さらに電子吸収層を塗布形成する際には、マスクを挟
んで両側からスプレーするため、マスク面での乱流が大
きすぎ、所定の領域以外に形成されたり、均一に形成さ
れない等の問題がある。また、電子吸収層の構成材料は
高価な重金属を含むため、両側からスプレーすることは
余分なスプレー流も多くなり、コストや環境の面でも問
題がある。
Further, when the electron absorbing layer is applied and formed, since the spray is performed from both sides across the mask, there is a problem that the turbulence on the mask surface is too large, and the turbulence is formed in a region other than a predetermined region or is not formed uniformly. . In addition, since the constituent material of the electron absorption layer contains expensive heavy metals, spraying from both sides increases the amount of extra spray flow, which is problematic in terms of cost and environment.

また、蛍光スクリーンをパネル内面に形成する際に補
正レンズを用いて露光焼付けを行うが、ドーミングによ
るミスランディングの方向がシャドウマスクの中央部と
周辺部とで異なるので、電子ビーム軌道の予想が困難で
あり、所望のレンズ形状の設計が困難となっていた。
In addition, when a fluorescent screen is formed on the inner surface of the panel, exposure printing is performed using a correction lens. However, it is difficult to predict the electron beam trajectory because the mislanding direction due to doming is different between the center and the periphery of the shadow mask. This makes it difficult to design a desired lens shape.

本発明は上記問題点に鑑み、画面周辺部と中央部とで
の補正動作が共にドーミングによるビームのミスランデ
ィングを補正する方向とし、色純度劣化の少ないカラー
受像管を提供することを目的とする。さらに、上記カラ
ー受像管を容易に製造する方法を提供することを目的と
する。
SUMMARY OF THE INVENTION In view of the above problems, it is an object of the present invention to provide a color picture tube in which the correction operation at the peripheral portion and the central portion of the screen are both directed to correct the mislanding of the beam due to doming, and the color purity is less deteriorated. . Still another object of the present invention is to provide a method for easily manufacturing the color picture tube.

[発明の構成] (課題を解決するための手段) 上述の問題点を解決するため、本発明は、パネル内面
に形成された蛍光スクリーンと、この蛍光スクリーンに
近接対向して配置され多数の透孔の穿設されたシャドウ
マスクと、このシャドウマスクを介して前記蛍光スクリ
ーンの蛍光体を選択発光せしめる電子ビームを射出する
電子銃とを少なくとも備え、前記シャドウマスクの少な
くとも各透孔の壁面に電子流密度に応じて帯電し電子ビ
ームを偏向する電子吸収層を有するカラー受像管におい
て、前記透孔の壁面に形成される電子吸収層の層厚が、
シャドウマスク中央部ではシャドウマスク中心側壁面の
層厚が対向する周辺側壁面の層厚より大きく、シャドウ
マスク周辺部では前記周辺側壁面の層厚が対向する前記
中心側壁面の層厚より大きくなっていることを特徴とす
る。
[Structure of the Invention] (Means for Solving the Problems) In order to solve the above-mentioned problems, the present invention relates to a fluorescent screen formed on the inner surface of a panel, and a plurality of transparent screens arranged in close proximity to the fluorescent screen. At least a shadow mask having holes formed therein, and an electron gun for emitting an electron beam through which the phosphor of the fluorescent screen selectively emits light through the shadow mask, wherein at least a wall of each through-hole of the shadow mask has an electron. In a color picture tube having an electron absorbing layer that charges according to the flow density and deflects the electron beam, the thickness of the electron absorbing layer formed on the wall surface of the through hole is
At the shadow mask central portion, the layer thickness of the shadow mask central side wall surface is larger than the layer thickness of the opposing peripheral side wall surface, and at the shadow mask peripheral portion, the layer thickness of the peripheral side wall surface is larger than the layer thickness of the opposing central side wall surface. It is characterized by having.

また、パネル内面に形成された蛍光スクリーンと、こ
の蛍光スクリーンに近接対向して配置され多数の透孔の
穿設されたシャドウマスクと、このシャドウマスクを介
して前記蛍光スクリーンの蛍光体を選択発光せしめる電
子ビームを射出する電子銃とを少なくとも備え、前記シ
ャドウマスクの少なくとも各透孔の壁面に電子流密度に
応じて帯電し電子ビームを偏向する電子吸収層を有する
カラー受像管の製造方法において、前記電子吸収層の構
成材料を含む溶液のスプレーを前記シャドウマスクの電
子銃側で且つシャドウマスク周辺側から行い、前記スプ
レーによるスプレー流の傾角と前記透孔の壁面の傾角と
を略一致させることにより前記電子吸収層を形成するこ
とを特徴とする。
Also, a fluorescent screen formed on the inner surface of the panel, a shadow mask arranged in close proximity to the fluorescent screen and having a large number of through holes, and a phosphor of the fluorescent screen is selectively illuminated through the shadow mask. A color picture tube having at least an electron gun for injecting an electron beam, and having an electron absorbing layer that deflects the electron beam according to the electron flow density on at least the wall surface of each through hole of the shadow mask, Spraying a solution containing the constituent material of the electron absorption layer from the electron gun side of the shadow mask and from the shadow mask peripheral side, so that the inclination angle of the spray flow by the spray and the inclination angle of the wall surface of the through-hole are substantially matched. The electron absorption layer is formed by the following.

(作用) カラー受像管の動作初期におけるドーミング現象はシ
ャドウマスクの蛍光スクリーン側への熱膨張であり、そ
の結果画面中央部、周辺部ともにビームがシャドウマス
ク中心側へミスランディングするのに対して、時間があ
る程度経過したときの通常の動作状態におけるドーミン
グ現象ではマスクフレームの熱膨張も伴うためシャドウ
マスク周辺部が周辺方向へ引っ張られるため、シャドウ
マスク周辺部と中央部とではミスランディングの方向が
逆となる。
(Operation) The doming phenomenon in the early stage of the operation of the color picture tube is thermal expansion of the shadow mask toward the fluorescent screen side. As a result, the beam mislandes toward the center of the shadow mask in both the central portion and the peripheral portion of the screen. The doming phenomenon in the normal operating state after a certain period of time involves thermal expansion of the mask frame, so that the peripheral portion of the shadow mask is pulled in the peripheral direction, so that the mislanding direction is reversed between the peripheral portion of the shadow mask and the central portion. Becomes

本発明では、上記のようにミスランディングの方向が
逆となるシャドウマスクの周辺部において、シャドウマ
スクの透孔の周辺側壁面の電子吸収層の層厚を中心側壁
面より厚くすることにより、対向する壁面の電子吸収層
間で帯電量の差を生じさせ、電位差により静電的にビー
ムを偏向させる。なお、中央部においては、中央側壁面
の層の厚さを周辺側壁面の層より相対的に厚くすること
により、中央側壁面の電子吸収層の作用を大きくするこ
とによりミスランディングを補正する。
In the present invention, in the peripheral portion of the shadow mask where the mislanding direction is reversed as described above, the thickness of the electron absorption layer on the peripheral side wall surface of the through hole of the shadow mask is made larger than the central side wall surface, so A difference in the amount of charge is generated between the electron absorbing layers on the wall surface, and the beam is electrostatically deflected by the potential difference. In the central portion, mislanding is corrected by making the thickness of the layer on the central side wall relatively thicker than the layer on the peripheral side wall to increase the action of the electron absorbing layer on the central side wall.

さらに、本発明においては、電子吸収層を塗布形成す
るスプレー装置はシャドウマスクの電子銃側に位置し、
シャドウマスク周辺から中心に向かってスプレーするよ
うになっている。このスプレーによる透孔を通過する分
流は透孔の壁面に沿って流れる。すなわち、シャドウマ
スク中心を境にしてスプレー流を発生させるスプレー装
置のある側では分流の流れる壁面が中心側壁面、スプレ
ー装置のない側では周辺側壁面になるようにスプレー装
置によるスプレー流の傾角を決定する。さらに、シャド
ウマスクの中央部と周辺部とでの対向する壁面間の電子
吸収層の層厚分布も、スプレー流の流量やスプレー領域
の制御により行なう。
Further, in the present invention, the spray device for applying and forming the electron absorbing layer is located on the electron gun side of the shadow mask,
The shadow mask is sprayed from the periphery to the center. The split flow of the spray passing through the through-hole flows along the wall surface of the through-hole. In other words, the inclination of the spray flow by the spray device is set such that the side wall where the branch flows flows on the side of the central side wall surface on the side with the spray device that generates the spray flow from the center of the shadow mask, and the peripheral side wall surface on the side without the spray device. decide. Further, the thickness distribution of the electron absorbing layer between the opposing wall surfaces at the central portion and the peripheral portion of the shadow mask is also controlled by controlling the flow rate of the spray flow and the spray area.

(実施例) 以下、本発明の一実施例につき、図面を用いて詳細に
説明する。
Hereinafter, an embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.

本発明によるカラー受像管の全体構成は第5図に示す
ものと同一であり、前面部の外形が実質的に矩形上のパ
ネル1と、漏斗状のファンネル及びネックからなる真空
外囲器により構成されている。そしてパネル1の内面に
は赤、緑及び青色にそれぞれ発光するストライプ状の蛍
光体層からなる蛍光スクリーン2が被着形成されてお
り、ネックにはパネル1の水平軸に沿って一列に配列さ
れ、赤、緑、及び青に対応する3本の電子ビーム6を射
出するいわゆるインライン型電子銃7が配設されてい
る。また、蛍光スクリーン2に近接対向する位置には、
多数のスリット状の透孔3が垂直方向に配列され、この
垂直配列が水平方向に多数配列された曲面状のシャドウ
マスク4がマスクフレーム5によって支持固定されてい
る。さらにマスクフレーム5はホルダー8を介してパネ
ル1の直立端部内壁に埋め込まれたスッタドピン9で係
止されることにより、パネル内に支持されている。3本
のインライン配列の電子ビーム6は、ファンネルの外部
の偏向装置(図示してない)によって偏向され、矩形状
のパネル1に対応する矩形状の範囲を走査し、かつシャ
ドウマスク4の透孔4を通ることにより選択されてスト
ライプ状の蛍光体層にランディングし、カラー画像を再
現させるようになっている。
The overall structure of the color picture tube according to the present invention is the same as that shown in FIG. 5, and comprises a panel 1 having a substantially rectangular front surface and a vacuum envelope comprising a funnel-shaped funnel and a neck. Have been. On the inner surface of the panel 1, a phosphor screen 2 made of a striped phosphor layer that emits red, green and blue light, respectively, is formed, and the neck is arranged in a line along the horizontal axis of the panel 1. A so-called in-line type electron gun 7 for emitting three electron beams 6 corresponding to red, green, and blue is provided. Also, at a position facing and opposing the fluorescent screen 2,
A large number of slit-shaped through holes 3 are arranged in the vertical direction, and a curved shadow mask 4 in which the vertical arrangement is arranged in a large number in the horizontal direction is supported and fixed by a mask frame 5. Further, the mask frame 5 is supported by the stud pin 9 embedded in the inner wall of the upright end of the panel 1 via the holder 8 so as to be supported in the panel. The three in-line arranged electron beams 6 are deflected by a deflecting device (not shown) outside the funnel, scan a rectangular area corresponding to the rectangular panel 1, and pass through holes of the shadow mask 4. 4 and land on the stripe-shaped phosphor layer to reproduce a color image.

蛍光スクリーンに近接対向して配設されるシャドウマ
スクは、熱膨張係数が1.2×10-5/℃と大きい鉄を主成分
とするいわゆる冷間圧延綱からなる厚さ0.1mm〜0.3mmの
薄板から形成され、第1図に示すように、電子銃側主面
10c、少なくとも各透孔3のシャドウマスク4の中心側
壁面10a及び中心側壁面10aに対向する周辺側壁面10bと
には例えば酸化鉛(PbO)を約70重量%含む低導電性の
結晶性鉛ほう酸塩ガラスからなる電子吸収層11が高温加
熱処理によって封着接合されている。
The shadow mask, which is disposed in close proximity to the fluorescent screen, has a coefficient of thermal expansion of 1.2 × 10 -5 / ° C. And the main surface on the electron gun side as shown in FIG.
10c, at least the central side wall surface 10a of the shadow mask 4 of each through hole 3 and the peripheral side wall surface 10b facing the central side wall surface 10a are made of low conductive crystalline lead containing, for example, about 70% by weight of lead oxide (PbO). Electron absorption layer 11 made of borate glass is sealed and joined by high-temperature heat treatment.

この電子吸収層11の透孔3の壁面における層厚分布は
第2図に示すようになっている。すなわち、シャドウマ
スク中央部では中心側壁面10aの層が周辺側壁面10bの層
より相対的に厚く、シャドウマスク周辺部では周辺側壁
面10bの層が中心側壁面10aも層より相対的に厚くなって
いる。ここでシャドウマスクの中央部及び周辺部とは、
通常の動作状態でのドーミングによる電子ビームの移動
方向が動作初期のドーミングによる移動と同じ方向とな
る領域が中央部、逆方向になる領域が周辺部である。ま
た、透孔の壁面における中心側壁面と周辺側壁面とはス
リット透孔の場合、シャドウマスクの有効面の短軸に近
い方の壁を中心側、遠い方を周辺側とし、ドット状の透
孔の場合、有効面の中心点に近い方の壁を中心側、遠い
方を周辺側という。
The thickness distribution of the electron absorbing layer 11 on the wall surface of the through hole 3 is as shown in FIG. That is, in the central portion of the shadow mask, the layer of the central side wall surface 10a is relatively thicker than the layer of the peripheral side wall surface 10b, and in the peripheral portion of the shadow mask, the layer of the peripheral side wall surface 10b is also relatively thicker than the layer of the central side wall surface 10a. ing. Here, the central part and the peripheral part of the shadow mask
The central portion is a region where the moving direction of the electron beam due to the doming in the normal operation state is the same as the movement direction due to the doming at the beginning of the operation, and the peripheral portion is a region where the moving direction is the opposite direction. Also, in the case of a slit through hole, the central side wall surface and the peripheral side wall surface of the wall surface of the through hole are slit-type holes, and the wall closer to the short axis of the effective surface of the shadow mask is defined as the center side, and the far side is defined as the peripheral side. In the case of a hole, the wall closer to the center point of the effective surface is called the center side, and the one farther away is called the peripheral side.

このようなカラー受像管を動作させた場合のシャドウ
マスクのドーミングによる電子ビームの軌道の変化及び
その補正作用について第9図、第1図及び第2図を用い
て説明する。第9図において、シャドウマスク4がドー
ミング現象を生じていない状態での電子ビームA,Bは蛍
光スクリーン2の所定位置にランディングするように構
成されている。ここで、実質的なカラー受像管の動作状
態で、シャドウマスク4に入射する電子流密度が増大
し、シャドウマスク4が加熱されドーミング現象を生じ
た場合、電子ビームによるシャドウマスク4の熱膨張だ
けでなく、マスクフレーム5の熱膨張も起こり、シャド
ウマスク4は第9図の破線で示す状態となる。この結
果、電子ビームA,BはDA2,DB2へと移動し、シャドウマス
ク4の中央部と周辺部とで逆方向へミスランディングす
る。このミスランディング量が各色発光蛍光体群の配列
によるランディング余裕度の限界を越えると色純度の劣
化を生ずることになる。
The change in the trajectory of the electron beam due to the doming of the shadow mask when such a color picture tube is operated and the correcting action thereof will be described with reference to FIGS. 9, 1 and 2. FIG. In FIG. 9, the electron beams A and B are configured to land at a predetermined position on the fluorescent screen 2 when the shadow mask 4 does not cause the doming phenomenon. Here, in a substantial operation state of the color picture tube, when the electron flow density incident on the shadow mask 4 increases and the shadow mask 4 is heated to cause a doming phenomenon, only the thermal expansion of the shadow mask 4 due to the electron beam is performed. However, thermal expansion of the mask frame 5 also occurs, and the shadow mask 4 is in the state shown by the broken line in FIG. As a result, the electron beams A and B move to DA2 and DB2, and mislanding occurs in the opposite direction between the central portion and the peripheral portion of the shadow mask 4. If the amount of mislanding exceeds the limit of the landing margin due to the arrangement of each color light emitting phosphor group, the color purity will be degraded.

ここで本発明の場合第1図に示すように、シャドウマ
スク4の透孔3の壁面10a,10bに電子吸収層11が形成さ
れ、その一部がシャドウマスク4の電子ビームが射突す
る電子銃側主面10cにあるので、電子ビームを偏向走査
した場合、電子流密度に応じて負に帯電することにな
る。このことは、この電子吸収層11が電子の侵入する平
均深さ程度またはそれ以上の厚さ、本実施例では約10μ
mを有すると共に、一次電子エネルギー、通常は10keV
乃至30keVに対し二次電子放出係数を有していることを
意味する。第2図に示すようにシャドウマスク中央部で
は中心側壁面10aの方が周辺側壁面10bより厚く生成され
ているため、シャドウマスク中央部では中心側壁面10a
に帯電する負電荷の方が多くなる。この負に帯電、特に
透孔の中心側壁面10aの表面に帯電した負帯電は、第1
図の破線で示すドーミングによって移動した電子ビーム
をシャドウマスク中心より遠ざける方向に軌道を曲げて
実線A0の如く偏向させる。従って、ドーミング現象によ
り所定のランディング地点よりシャドウマスク中心方向
に移動しようとする電子ビームのランディング地点を再
び元のランディング地点に戻すように相殺的に作用する
こととなり、ドーミング現象が生じても電子ビームのミ
スランディングを抑制減少させることができる。またシ
ャドウマスク周辺部では周辺側壁面10bの方が中心側壁
面10aより厚く形成されているため、シャドウマスク周
辺部では周辺側壁面10bに帯電する負電荷の方が多くな
る。よって、同様の作用によりドーミングによって移動
したビームをシャドウマスク中心方向に曲げて実線B0の
如く偏向させる。この偏向方向は第10図に示すドーミン
グによるビームの移動方向と逆であり、ミスランディン
グを抑制減少することができる。
Here, in the case of the present invention, as shown in FIG. 1, an electron absorbing layer 11 is formed on the wall surfaces 10a, 10b of the through holes 3 of the shadow mask 4, and a part of the electron absorbing layer 11 is irradiated with the electron beam of the shadow mask 4. Since the electron beam is located on the gun-side main surface 10c, when the electron beam is deflected and scanned, the electron beam is negatively charged according to the electron flow density. This means that the electron absorbing layer 11 has a thickness of about the average depth at which electrons penetrate or more, about 10 μm in this embodiment.
m and the primary electron energy, usually 10 keV
It means that it has a secondary electron emission coefficient for up to 30 keV. As shown in FIG. 2, the central side wall surface 10a is formed to be thicker at the central portion of the shadow mask than at the peripheral side wall surface 10b.
More negative charges. This negative charge, especially the negative charge on the surface of the central side wall surface 10a of the through-hole, is the first charge.
The trajectory of the electron beam moved by doming indicated by the dashed line in the drawing is bent in a direction away from the center of the shadow mask and deflected as indicated by the solid line A0. Therefore, the landing point of the electron beam, which tends to move from the predetermined landing point toward the center of the shadow mask due to the doming phenomenon, acts so as to cancel each other back to the original landing point. Can be suppressed and reduced. Further, in the peripheral portion of the shadow mask, the peripheral side wall surface 10b is formed thicker than the central side wall surface 10a. Therefore, in the peripheral portion of the shadow mask, more negative charges are charged on the peripheral side wall surface 10b. Therefore, the beam moved by doming by the same action is bent toward the center of the shadow mask and deflected as shown by the solid line B0. The direction of this deflection is opposite to the direction of movement of the beam due to doming shown in FIG. 10, and mislanding can be suppressed and reduced.

このように、電子吸収層がシャドウマスクの透孔の壁
面に形成され、シャドウマスクの中央部と周辺部とで対
向する壁面間で相対的な層の厚さを変えているので、通
常の動作時におけるフレームの熱膨張による画面周辺部
の色純度劣化に対しても、電子流密度に対応して負に帯
電し、電子吸収層の、低熱伝導性を利用したドーミング
抑制作用と協調してより有効に作用する。
As described above, the electron absorption layer is formed on the wall surface of the through hole of the shadow mask, and the relative thickness of the layer is changed between the opposing wall surfaces in the central portion and the peripheral portion of the shadow mask. In the case of color purity deterioration at the periphery of the screen due to thermal expansion of the frame at the time, it is negatively charged according to the electron flow density, and in cooperation with the doping suppression effect of the electron absorption layer using low thermal conductivity. Works effectively.

また、電子吸収層には受像管が動作している限り常に
電子ビーム及びスクリーン面等からの二次電子が射突し
ているので、従来の例えば特公昭57−18824号公報に示
されているようなスクリーンの非発光領域に電子吸収層
を形成したものに比べてその作用面積は非常に大きく、
また抑制作用の生ずる時間的遅れはほとんどない。
Further, since the electron absorbing layer is always irradiated with an electron beam and secondary electrons from a screen surface or the like as long as the picture tube is operated, a conventional example is disclosed in Japanese Patent Publication No. 57-18824. The working area is much larger than that of an electron absorbing layer formed in the non-light emitting area of such a screen,
Also, there is almost no time delay at which the suppression effect occurs.

上述のようにシャドウマスクの透孔の壁面に形成され
る電子吸収層の層厚を制御することにより、負の帯電に
よる電子ビームの軌道変化の制御が可能となる。よっ
て、露光レンズの設計も容易にすることができる。
As described above, by controlling the thickness of the electron absorbing layer formed on the wall surface of the through hole of the shadow mask, it is possible to control the change in the trajectory of the electron beam due to negative charging. Therefore, the design of the exposure lens can be facilitated.

上述の電子吸収層は、以下のようにして形成される。
パネルとファンネルとが封着される前に、ニトロセルロ
ーズを数%溶かした酢酸ブチルアルコール溶液で溶かさ
れた結晶性鉛ほう酸塩ガラスをシャドウマスクの中心側
壁面に塗布し、この結晶性鉛ほう酸塩ガラスを塗布した
シャドウマスクをパネル内に装着する。その後、パネル
とファンネルを所定の枠台に載せて、最高温度が約400
℃でその保持時間が35分以上ある炉を通過させて鉛ほう
酸塩ガラスを結晶化させることにより、導電率が10-1Ω
-1・m-1の低導電率の鉛ほう酸塩ガラス層をシャドウマ
スクの透孔の中心側壁面と周辺側壁面とに形成する。
The above-mentioned electron absorption layer is formed as follows.
Before the panel and the funnel are sealed, a crystalline lead borate glass melted with a butyl alcohol solution containing several percent of nitrocellulose is applied to the central side wall of the shadow mask. A glass-coated shadow mask is mounted in the panel. After that, place the panel and funnel on the designated frame,
By passing through a furnace with a holding time of 35 minutes or more at ℃ to crystallize the lead borate glass, the conductivity is 10 -1 Ω
A lead borate glass layer having a low conductivity of −1 · m −1 is formed on the central side wall surface and the peripheral side wall surface of the through hole of the shadow mask.

この電子吸収層の塗布方法としては、例えば通常のエ
ッチング手段により多数の透孔を形成し、プレス成形し
た後、スプレー塗布により形成することができる。
As a method of applying the electron absorbing layer, for example, a large number of through holes are formed by a usual etching means, press-molded, and then spray-coated.

以下、スプレー方法について第3図及び第4図を用い
て詳細に説明する。第3図に示すように、電子吸収層の
構成材料を含む溶液をスプレーするスプレー装置30a,30
bはシャドウマスク4の電子銃側に位置し、シャドウマ
スク4の周辺側から中心側に向かってスプレーするよう
になっている。このスプレー装置30aによるスプレー流3
1は、シャドウマスク4の電子銃側主面10cに衝突する分
流32と透孔3の壁面10a,10bに沿って流れる分流33とに
分かれる。分流33の流れる壁面はシャドウマスク中心を
境にしてスプレー装置30aに近い半分の領域と遠い半分
の領域とで異なる。スプレー装置30aに近い半分の領域
では、分流33は中心側壁面10aに沿って流れ、スプレー
装置30aに遠い半分の領域では、周辺側壁面10bに沿って
流れる。換言すれば、この様にシャドウマスク中心を境
にして分流33の流れる壁面が中心側壁面10aと周辺側壁
面10bとになるようにスプレー装置30aによるスプレー流
31の傾角を決定すれば良い。さらに、電子吸収層の層厚
分布の制御もスプレー装置30aのノズル形状を変えてス
プレー流31,32,33を調整したり遮蔽板等で部分的にスプ
レー領域を制限したりすることによりできる。尚、第3
図にはスプレー装置30bによるスプレー流を図示してい
ないが、スプレー装置30aと同様である。
Hereinafter, the spraying method will be described in detail with reference to FIG. 3 and FIG. As shown in FIG. 3, spray devices 30a and 30 for spraying a solution containing the constituent material of the electron absorption layer.
b is located on the electron gun side of the shadow mask 4 and sprays from the peripheral side of the shadow mask 4 toward the center side. Spray flow 3 by this spray device 30a
1 is divided into a shunt 32 that collides with the electron gun side main surface 10c of the shadow mask 4 and a shunt 33 that flows along the wall surfaces 10a and 10b of the through hole 3. The wall surface where the branch flow 33 flows differs between a half area near the spray device 30a and a half area far from the center of the shadow mask. In the half region near the spray device 30a, the diverted flow 33 flows along the central side wall surface 10a, and in the half region far from the spray device 30a, flows along the peripheral side wall surface 10b. In other words, the spray flow by the spray device 30a is performed such that the wall surface of the branch flow 33 at the center of the shadow mask becomes the central side wall surface 10a and the peripheral side wall surface 10b.
What is necessary is just to determine the inclination of 31. Further, the layer thickness distribution of the electron absorbing layer can be controlled by changing the nozzle shape of the spray device 30a to adjust the spray flows 31, 32, and 33, or to partially limit the spray area with a shielding plate or the like. The third
Although the drawing does not show the spray flow by the spray device 30b, it is the same as the spray device 30a.

本実施例では、シャドウマスク4周辺に30a,30bと2
つのスプレー装置を備え、それぞれのスプレー装置に対
して上述のような制御を行うことにより、第4図(a)
及び(b)に示すように、マスクの中央部と周辺部と
で、対向する壁面間の層厚を変えている。尚、第4図
(a)及び(b)において、実線はスプレー装置30aに
より形成される電子吸収層の層厚分布を表し、破線はス
プレー装置30bにより形成される電子吸収層の層厚分布
を表している。
In the present embodiment, 30a, 30b and 2
FIG. 4 (a) is provided by providing two spray devices and performing the above-described control for each spray device.
And (b), the thickness of the layer between the opposing wall surfaces is changed between the central portion and the peripheral portion of the mask. 4 (a) and 4 (b), the solid line indicates the layer thickness distribution of the electron absorbing layer formed by the spray device 30a, and the broken line indicates the layer thickness distribution of the electron absorbing layer formed by the spray device 30b. Represents.

上述のように本発明によると、電子銃側からのスプレ
ーだけで電子吸収層を形成することができるので、スプ
レー流の乱流を小さくして品位の向上を図ることができ
る。また、スプレー流を効率よく使用しているので、高
価な材料を無駄にすること無くコスト及び環境面での改
善を図ることもできる。
As described above, according to the present invention, the electron absorption layer can be formed only by spraying from the electron gun side, so that the turbulence of the spray flow can be reduced and the quality can be improved. In addition, since the spray flow is used efficiently, cost and environmental improvements can be achieved without wasting expensive materials.

尚、本実施例では電子吸収層を塗布形成する際、スプ
レー装置によるスプレー流を調整することにより対向す
る壁面間における層厚の制御を行っているが、本発明を
応用することにより、中心側壁面だけに電子吸収層を形
成することも可能である。
In this embodiment, when the electron absorbing layer is formed by coating, the thickness of the layer between the opposing wall surfaces is controlled by adjusting the spray flow by the spray device. It is also possible to form the electron absorption layer only on the wall surface.

また、電子吸収層は本実施例に限定されないし、セラ
ミック層の塗布形成にも応用できる。
In addition, the electron absorption layer is not limited to this embodiment, and can be applied to the formation of a ceramic layer.

さらに、本実施例は、スリット状の透孔について説明
しているが、ドット状の透孔にも実施できることは言う
までもない。
Furthermore, although the present embodiment describes a slit-shaped through-hole, it goes without saying that the present invention can also be applied to a dot-shaped through-hole.

[発明の効果] 本発明によると、電子吸収層がシャドウマスクの透孔
の壁面に形成され、シャドウマスクの中央部と周辺部と
で対向する壁面間の層厚を変えているので、画面全域で
電子吸収層の負の帯電によるビームの偏向作用が有効に
働き、色純度の劣化を抑制することができる。さらに本
発明は、電子銃側からのスプレーだけで電子吸収層を形
成することができるので、スプレー流の乱流を小さくし
て品位の向上を図ることができる。また、スプレー流を
効率よく使用しているので、高価な材料を無駄にするこ
と無くコスト及び環境面での改善を図ることもできる。
[Effect of the Invention] According to the present invention, the electron absorption layer is formed on the wall surface of the through hole of the shadow mask, and the layer thickness between the opposing wall surfaces at the central portion and the peripheral portion of the shadow mask is changed. As a result, the beam deflecting action due to the negative charging of the electron absorbing layer works effectively, and the deterioration of color purity can be suppressed. Further, according to the present invention, since the electron absorbing layer can be formed only by spraying from the electron gun side, the turbulence of the spray flow can be reduced and the quality can be improved. In addition, since the spray flow is used efficiently, cost and environmental improvements can be achieved without wasting expensive materials.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

第1図は本発明によるカラー受像管のシャドウマスクの
一実施例を示す拡大簡略図、第2図は第1図における透
孔の壁面での電子吸収層の層厚分布を示す図、第3図は
本発明による電子吸収層の形成方法を示す模式図、第4
図は第3図におけるスプレー装置と電子吸収層の層厚の
関係を示す図、第5図はカラー受像管の全体構成を示す
模式断面図、第6図は従来のカラー受像管におけるシャ
ドウマスクを示す拡大簡略図、第7図は第6図に示す電
子吸収層の形成方法を示す模式図、第8図は動作初期の
ドーミングによるビームの移動を説明するための模式
図、第9図は通常動作状態のドーミングによるビームの
移動を説明するための模式図、第10図は第6図に示すシ
ャドウマスクの作用を説明するための模式図である。 3……透孔 4……シャドウマスク 10a……中心側壁面 10b……周辺側壁面 10c……電子銃側主面 11……電子吸収層 30a,30b……スプレー装置 31,32,33……スプレー流
FIG. 1 is an enlarged simplified view showing an embodiment of a shadow mask of a color picture tube according to the present invention, FIG. 2 is a view showing a layer thickness distribution of an electron absorbing layer on a wall surface of a through hole in FIG. FIG. 4 is a schematic view showing a method for forming an electron absorbing layer according to the present invention, and FIG.
FIG. 3 is a diagram showing the relationship between the spray device and the layer thickness of the electron absorption layer in FIG. 3, FIG. 5 is a schematic cross-sectional view showing the overall structure of a color picture tube, and FIG. FIG. 7 is a schematic view showing a method of forming the electron absorbing layer shown in FIG. 6, FIG. 8 is a schematic view for explaining beam movement by doming at the beginning of operation, and FIG. 9 is a normal view. FIG. 10 is a schematic diagram for explaining movement of a beam due to doming in an operating state, and FIG. 10 is a schematic diagram for explaining the operation of the shadow mask shown in FIG. 3 ... Through-hole 4 ... Shadow mask 10a ... Central side wall surface 10b ... Peripheral side wall surface 10c ... Electron gun side main surface 11 ... Electron absorption layer 30a, 30b ... Spray device 31, 32, 33 ... Spray flow

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 正田 彰 埼玉県深谷市幡羅町1丁目9番地2号 株式会社東芝深谷ブラウン管工場内 (72)発明者 菅原 広 埼玉県深谷市幡羅町1丁目9番地2号 株式会社東芝深谷ブラウン管工場内 (72)発明者 西澤 公良 埼玉県深谷市幡羅町1丁目9番地2号 株式会社東芝深谷ブラウン管工場内 (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H01J 29/07 H01J 9/14 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continuing on the front page (72) Akira Masada, Inventor 1-9-9, Harara-cho, Fukaya-shi, Saitama Pref. Inside the Toshiba Fukaya Braun Tube Factory (72) Inventor Hiroshi Sugawara 1-9-9, Harara-cho, Fukaya-shi, Saitama No. 2 Toshiba Fukaya CRT factory (72) Inventor Kimiyoshi Nishizawa No. 1-9-9 Harara-cho, Fukaya-shi, Saitama Prefecture No. 2 Toshiba Fukaya CRT factory (58) Field surveyed (Int. Cl. 7 , DB name) ) H01J 29/07 H01J 9/14

Claims (2)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】パネル内面に形成された蛍光スクリーン
と、この蛍光スクリーンに近接対向して配置され多数の
透孔の穿設されたシャドウマスクと、このシャドウマス
クを介して前記蛍光スクリーンの蛍光体を選択発光せし
める電子ビームを射出する電子銃とを少なくとも備え、
前記シャドウマスクの少なくとも各透孔の壁面に電子流
密度に応じて帯電し電子ビームを偏向する電子吸収層を
有するカラー受像管において、 前記透孔の壁面に形成される電子吸収層の層厚が、シャ
ドウマスク中央部ではシャドウマスク中心側壁面の層厚
が対向する周辺側壁面の層厚より大きく、シャドウマス
ク周辺部では前記周辺側壁面の層厚が対向する前記中心
側壁面の層厚より大きくなっていることを特徴とするカ
ラー受像管。
1. A fluorescent screen formed on an inner surface of a panel, a shadow mask disposed in close proximity to the fluorescent screen and having a large number of through holes, and a phosphor of the fluorescent screen via the shadow mask. At least an electron gun that emits an electron beam that selectively emits light.
In a color picture tube having an electron absorbing layer that is charged according to the electron flow density and deflects an electron beam on at least the wall surface of each through hole of the shadow mask, the thickness of the electron absorbing layer formed on the wall surface of the through hole is In the central part of the shadow mask, the layer thickness of the central side wall of the shadow mask is larger than the layer thickness of the opposing peripheral side wall, and in the peripheral part of the shadow mask, the layer thickness of the peripheral side wall is larger than the layer thickness of the opposing central side wall. A color picture tube, characterized in that:
【請求項2】パネル内面に形成された蛍光スクリーン
と、この蛍光スクリーンに近接対向して配置され多数の
透孔の穿設されたシャドウマスクと、このシャドウマス
クを介して前記蛍光スクリーンの蛍光体を選択発光せし
める電子ビームを射出する電子銃とを少なくとも備え、
前記シャドウマスクの少なくとも各透孔の壁面に電子流
密度に応じて帯電し電子ビームを偏向する電子吸収層を
有するカラー受像管の製造方法において、 前記電子吸収層の構成材料を含む溶液のスプレーを前記
シャドウマスクの電子銃側で且つシャドウマスク周辺側
から行い、前記スプレーによるスプレー流の傾角と前記
透孔の壁面の傾向とを略一致させることにより前記電子
吸収層を形成することを特徴とするカラー受像管の製造
方法。
2. A fluorescent screen formed on an inner surface of a panel, a shadow mask disposed in close proximity to the fluorescent screen and having a large number of through holes, and a phosphor of the fluorescent screen via the shadow mask. At least an electron gun that emits an electron beam that selectively emits light.
In a method for manufacturing a color picture tube having an electron absorption layer that is charged according to an electron flow density and deflects an electron beam on at least a wall surface of each through-hole of the shadow mask, a spray of a solution containing a constituent material of the electron absorption layer is applied. The electron absorbing layer is formed by making the inclination angle of the spray flow by the spray substantially equal to the tendency of the wall surface of the through hole, which is performed from the electron gun side of the shadow mask and from the shadow mask peripheral side. A method for manufacturing a color picture tube.
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