JP2995716B1 - Substrate conduction inspection apparatus and its conduction inspection method - Google Patents

Substrate conduction inspection apparatus and its conduction inspection method

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JP2995716B1
JP2995716B1 JP11011165A JP1116599A JP2995716B1 JP 2995716 B1 JP2995716 B1 JP 2995716B1 JP 11011165 A JP11011165 A JP 11011165A JP 1116599 A JP1116599 A JP 1116599A JP 2995716 B1 JP2995716 B1 JP 2995716B1
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Abstract

【要約】 【課題】 基板の両面に形成されたプリント配線の導通
検査を良好に行う。 【解決手段】 プリント回路基板11はスルーホール1
3を介して裏面のプリント配線121と表面のプリント
配線122とが導通するように形成される。表面のプリ
ント配線122の端部124に第1平面電極31が対向
配置され、表面のプリント配線122における端部12
4とスルーホール13との間の部分に第2平面電極32
が対向配置されている。そして、信号印加手段50の電
圧印加手段51及び正転アンプ52により、経時的にレ
ベルが変化する電気信号がプリント配線121の端部1
23に印加され、これと同時に、この電気信号に対して
レベル変化が逆位相の電気信号が第2平面電極32に印
加され、これらの電気信号の印加時に第1平面電極31
に生じる電気信号に基づいて導通判定手段60により端
部123と端部124との間の導通状態の良否が判定さ
れる。
A continuity inspection of printed wiring formed on both surfaces of a substrate is performed satisfactorily. SOLUTION: The printed circuit board 11 has a through hole 1.
3, the printed wiring 121 on the back surface and the printed wiring 122 on the front surface are formed so as to conduct. The first planar electrode 31 is disposed so as to face the end 124 of the printed wiring 122 on the surface, and the end 12
4 and the through-hole 13, the second flat electrode 32
Are arranged facing each other. Then, an electric signal whose level changes with time is applied to the end 1 of the printed wiring 121 by the voltage application unit 51 and the non-inverting amplifier 52 of the signal application unit 50.
23, at the same time, an electric signal having a level change opposite to that of the electric signal is applied to the second plane electrode 32, and the first plane electrode 31 is applied when these electric signals are applied.
Is good or bad by the conduction determining means 60 based on the electric signal generated at the end portion 123 and the end portion 124.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、一方面のプリント
配線と他方面のプリント配線とが導通するように形成さ
れたプリント回路基板などにおいて、一方面のプリント
配線と他方面のプリント配線との導通状態の良否を検査
する基板の導通検査装置及びその導通検査方法に関する
ものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a printed circuit board or the like formed such that printed wiring on one side and printed wiring on the other side are electrically connected to each other. The present invention relates to a continuity inspection apparatus for a substrate for inspecting the continuity of a conduction state and a continuity inspection method thereof.

【0002】[0002]

【従来の技術】一般に、プリント回路基板(Printed Cir
cuit Board)にプリント配線を形成したときには、電子
部品などを基板に実装する前に、基板検査装置を用いて
導通検査や絶縁検査等を行うことによりプリント配線の
形成が正常に行われているか否かの検査が行われてい
る。従来、プリント配線の一端にプローブを接触させ、
他端の対向位置に電極を配置して、当該電極とプリント
配線間に等価的に形成される静電容量を利用して導通検
査を行う方法が提案されている(特開平10−2393
72号公報)。
2. Description of the Related Art Generally, a printed circuit board (Printed Cir
When printed wiring is formed on a cuit board), before mounting electronic components, etc. on the board, whether the printed wiring has been formed normally by conducting a continuity test or insulation test using a board inspection device Inspections have been conducted. Conventionally, the probe is brought into contact with one end of the printed wiring,
A method has been proposed in which an electrode is arranged at a position facing the other end and a continuity test is performed using an electrostatic capacitance equivalently formed between the electrode and the printed wiring (Japanese Patent Laid-Open No. 10-2393).
No. 72).

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】上記従来の特開平10
−239372号公報に記載された方法では、プリント
配線が基板の一方面及び他方面に形成された例えば両面
実装用のプリント回路基板において導通不良が発見でき
ない場合がある。
The above-mentioned conventional Japanese Patent Application Laid-Open No.
In the method described in JP-A-239372, a conduction defect may not be found on a printed circuit board for double-sided mounting in which printed wiring is formed on one side and the other side of the board, for example.

【0004】図10は従来の導通検査を説明する図で、
(a)は平面図、(b)は側面図である。同図におい
て、プリント回路基板100の一方面のプリント配線1
01と他方面のプリント配線102とは、スルーホール
103を介して導通しており、プリント配線101,1
02がプリント回路基板100の両面で対向するように
形成されている。そして、プローブ104により電気信
号を印加したときに平面電極105に生じる電気信号に
よってプリント配線101,102の良否を判定するよ
うになっている。
FIG. 10 is a view for explaining a conventional conduction test.
(A) is a plan view and (b) is a side view. In the figure, a printed wiring 1 on one side of a printed circuit board 100 is shown.
01 and the printed wiring 102 on the other side are electrically connected via the through hole 103, and the printed wirings 101 and 1
02 are formed so as to face each other on both sides of the printed circuit board 100. The quality of the printed wirings 101 and 102 is determined based on the electric signal generated on the plane electrode 105 when an electric signal is applied by the probe 104.

【0005】このとき、プリント配線102が図示のよ
うに断線している場合には、平面電極105は静電容量
1,C2の合成容量、すなわち
At this time, if the printed wiring 102 is disconnected as shown in the figure, the plane electrode 105 is a composite capacitance of the capacitances C 1 and C 2 , that is,

【0006】[0006]

【数1】C1・C2/(C1+C2) を測定することになり、プリント配線101,102が
良好に形成されている場合には、静電容量C2の両端は
短絡されているので、平面電極105は静電容量C1
みを測定することになる。
## EQU1 ## C 1 / C 2 / (C 1 + C 2 ) is to be measured. When the printed wirings 101 and 102 are well formed, both ends of the capacitance C 2 are short-circuited. because there, the planar electrode 105 will measure only the capacitance C 1.

【0007】ここで、静電容量Cは、対向する導体の面
積をS、導体間の距離をd、導体間の誘電率をεとする
と、
Here, assuming that the area of the opposed conductor is S, the distance between the conductors is d, and the dielectric constant between the conductors is ε, the capacitance C is as follows.

【0008】[0008]

【数2】C=ε・S/d で表わされるので、誘電率εが同等レベルであれば、対
向する導体の面積Sと導体間の距離dとで決定される。
## EQU2 ## Since C = ε · S / d, the dielectric constant ε is determined by the area S of the opposing conductor and the distance d between the conductors if the dielectric constant ε is the same level.

【0009】一方、図10において、平面電極105と
プリント配線102の間隔をd1とし、プリント回路基
板100の厚さ寸法をd2とすると、一般に、d2>d1
となっている。また、平面電極105とプリント配線1
02との対向する部分の面積をS1とし、プリント配線
101とプリント配線102との対向する部分の面積を
2とすると、S2>S1になっているとする。
On the other hand, in FIG. 10, if the distance between the plane electrode 105 and the printed wiring 102 is d 1 and the thickness of the printed circuit board 100 is d 2 , d 2 > d 1.
It has become. The plane electrode 105 and the printed wiring 1
The area of the opposing portion between 02 and S 1, the area of the opposing portions of the printed wiring 101 and the printed wiring 102 When S 2, and has a S 2> S 1.

【0010】そして、比率d2/d1に比べて比率S2
1が大きい場合には、静電容量C1,C2の大小関係
は、
The ratio S 2 / d 1 is compared with the ratio d 2 / d 1.
When S 1 is large, the magnitude relationship between the capacitances C 1 and C 2 is

【0011】[0011]

【数3】C2>C1 となる。## EQU3 ## C 2 > C 1 .

【0012】ここで、比率S2/S1が非常に大きい場合
には、C1≪C2となる。この場合には、上記数1は、
Here, when the ratio S 2 / S 1 is very large, C 1 ≪C 2 . In this case, the above equation 1 is

【0013】[0013]

【数4】 C1・C2/(C1+C2) =C1/(C1/C2+1) ≒C1 となる。C 1 / C 2 / (C 1 + C 2 ) = C 1 / (C 1 / C 2 +1) ≒ C 1

【0014】従って、平面電極105とプリント配線1
01,102との間に形成される静電容量が、良品の場
合と断線不良の場合とでほぼ同レベルになるため、良否
の判定を行うことが非常に困難になる。
Therefore, the plane electrode 105 and the printed wiring 1
Since the capacitance formed between the capacitors 101 and 102 is almost the same in the case of a non-defective product and in the case of a disconnection failure, it is very difficult to determine the quality.

【0015】本発明は、上記問題を解決するもので、基
板の両面に形成されたプリント配線の導通検査を良好に
行うことが可能な基板の導通検査装置及びその導通検査
方法を提供することを目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above problems, and an object of the present invention is to provide a substrate continuity inspection device and a continuity inspection method capable of performing a continuity inspection of printed wiring formed on both surfaces of the substrate. Aim.

【0016】[0016]

【課題を解決するための手段】請求項1の発明は、基板
の一方面から他方面に貫通する貫通部を介して一方面の
プリント配線と他方面のプリント配線とが導通するよう
に形成された基板の導通検査装置において、経時的にレ
ベルが変化する電気信号を上記一方面のプリント配線上
の第1領域に印加する第1信号印加手段と、上記他方面
のプリント配線上の第2領域に対向配置された第1平面
電極と、上記他方面のプリント配線における上記第2領
域と上記貫通部との間の部分に対向配置された第2平面
電極と、上記第1信号印加手段による電気信号に対して
レベル変化が逆位相の電気信号を上記第2平面電極に同
時に印加する第2信号印加手段と、上記各電気信号の印
加時に上記第1平面電極に生じる電気信号に基づいて上
記第1領域と上記第2領域との間の導通状態の良否を判
定する導通判定手段とを備えたことを特徴としている。
According to a first aspect of the present invention, a printed wiring on one surface and a printed wiring on the other surface are formed through a penetrating portion penetrating from one surface of the substrate to the other surface. Signal applying means for applying an electric signal whose level changes with time to the first region on the printed wiring on one side, and a second region on the printed wiring on the other surface. A first plane electrode disposed opposite to the first surface; a second plane electrode disposed opposite to a portion between the second region and the through portion in the printed wiring on the other surface; Second signal applying means for simultaneously applying an electric signal having a phase change opposite to that of the signal to the second plane electrode, and the second signal applying means based on the electric signal generated at the first plane electrode when each of the electric signals is applied. 1 area and above It is characterized in that a conduction judging means for judging the quality of the conduction state between the 2 areas.

【0017】この構成によれば、基板の一方面から他方
面に貫通する貫通部を介して一方面のプリント配線と他
方面のプリント配線とが導通するように形成された基板
において、他方面のプリント配線上の第2領域に第1平
面電極が対向配置され、他方面のプリント配線における
第2領域と貫通部との間の部分に第2平面電極が対向配
置されている。これによって、他方面のプリント配線上
の第2領域と第1平面電極との間に等価的に静電容量が
形成され、他方面のプリント配線における第2領域と貫
通部との間の部分と第2平面電極との間に等価的に静電
容量が形成される。
According to this structure, the printed wiring on one side is connected to the printed wiring on the other side through the penetrating portion penetrating from one side to the other side of the substrate, and the printed wiring on the other side is connected to the other side. A first planar electrode is disposed opposite to a second region on the printed wiring, and a second planar electrode is disposed opposite to a portion of the printed wiring on the other surface between the second region and the through portion. As a result, a capacitance is equivalently formed between the second region on the printed wiring on the other surface and the first plane electrode, and a capacitance between the second region and the through portion in the printed wiring on the other surface is formed. Capacitance is equivalently formed between the second plane electrode and the second plane electrode.

【0018】そして、一方面のプリント配線上の第1領
域に、第1信号印加手段によって経時的にレベルが変化
する電気信号が印加されると、同時に、第1信号印加手
段による電気信号に対してレベル変化が逆位相の電気信
号が、第2平面電極に印加される。
When an electric signal whose level changes with time is applied to the first region on the printed wiring on one side by the first signal applying means, the electric signal is simultaneously applied to the electric signal by the first signal applying means. Thus, an electric signal having a level change opposite to the phase change is applied to the second plane electrode.

【0019】このとき、一方面のプリント配線の第1領
域と他方面のプリント配線の第2領域とが導通している
場合には、他方面のプリント配線上の第2領域と第1平
面電極との間に等価的に形成された静電容量によって決
まる電気信号が第1平面電極に生じる。
At this time, when the first region of the printed wiring on one surface and the second region of the printed wiring on the other surface are electrically connected, the second region on the printed wiring on the other surface is connected to the first plane electrode. An electric signal determined by the capacitance equivalently formed between the first plane electrode and the first plane electrode.

【0020】一方、一方面のプリント配線の第1領域と
他方面のプリント配線の第2領域との間で断線が生じて
いる場合には、一方面のプリント配線と他方面のプリン
ト配線との間に等価的に静電容量が形成される。
On the other hand, when a disconnection occurs between the first area of the printed wiring on one side and the second area of the printed wiring on the other side, the connection between the printed wiring on one side and the printed wiring on the other side is made. Capacitance is equivalently formed between them.

【0021】従って、第1領域に印加された電気信号
は、一方面のプリント配線と他方面のプリント配線との
間に形成された静電容量を介して他方面のプリント配線
に印加されることになるが、他方面のプリント配線に
は、他方面のプリント配線における第2領域と貫通部と
の間の部分と第2平面電極との間に形成された静電容量
を介して、逆位相の電気信号が印加されている。
Therefore, the electric signal applied to the first region is applied to the printed wiring on the other surface via the capacitance formed between the printed wiring on one surface and the printed wiring on the other surface. However, the printed wiring on the other surface has an opposite phase through the capacitance formed between the portion between the second region and the penetrating portion in the printed wiring on the other surface and the second plane electrode. Is applied.

【0022】すなわち、他方面のプリント配線には、互
いに逆位相の電気信号が、いずれも等価的に形成された
静電容量を介して印加されることになるので、互いに打
ち消されることとなり、これによって、第1平面電極に
生じる電気信号は、第1領域と第2領域との間が導通し
ている場合と断線している場合とで確実に異なるレベル
になるので、プリント配線の良否が確実に判定されるこ
ととなる。
That is, electric signals having phases opposite to each other are applied to the printed wiring on the other surface through the equivalently formed capacitances, so that the electric signals are mutually canceled. As a result, the electric signal generated at the first plane electrode is at a different level depending on whether the first region and the second region are conducting or disconnected, so that the quality of the printed wiring is reliably determined. Is determined.

【0023】また、請求項2の発明は、請求項1記載の
基板の導通検査装置において、更に、上記第1平面電極
と上記第2平面電極との間であって上記他方面のプリン
ト配線に対向する位置に配置され、接地された第3平面
電極を備えたことを特徴としている。
According to a second aspect of the present invention, in the substrate continuity inspection apparatus according to the first aspect, the printed wiring on the other surface between the first plane electrode and the second plane electrode is further provided. It is characterized by comprising a third plane electrode arranged at a position facing the ground and grounded.

【0024】この構成によれば、第1平面電極と第2平
面電極との間であって他方面のプリント配線に対向する
位置に配置された第3平面電極が接地されているので、
第2平面電極と第1平面電極との間に静電容量が等価的
に形成されることがなく、これによって第2平面電極に
印加される逆位相の電気信号による第1平面電極への影
響が遮断される。従って、第1平面電極に生じる電気信
号のレベル変動が防止され、プリント配線の良否が一層
精度良く判定される。
According to this structure, since the third plane electrode disposed between the first plane electrode and the second plane electrode and facing the printed wiring on the other surface is grounded,
Capacitance is not equivalently formed between the second plane electrode and the first plane electrode, so that the opposite plane electric signal applied to the second plane electrode affects the first plane electrode. Is shut off. Therefore, the level fluctuation of the electric signal generated in the first plane electrode is prevented, and the quality of the printed wiring is determined with higher accuracy.

【0025】また、請求項3の発明は、請求項1記載の
基板の導通検査装置において、更に、上記第1平面電極
と上記第2平面電極との間であって上記他方面のプリン
ト配線に対向する位置に配置された第4平面電極と、上
記各電気信号の印加時に上記第1平面電極に生じる電気
信号を上記第4平面電極に印加する第3信号印加手段と
を備えたことを特徴としている。
According to a third aspect of the present invention, in the substrate continuity inspection apparatus according to the first aspect, the printed wiring on the other surface between the first plane electrode and the second plane electrode is further provided. A fourth plane electrode disposed at an opposite position; and third signal applying means for applying an electric signal generated at the first plane electrode to the fourth plane electrode when each of the electric signals is applied. And

【0026】この構成によれば、第1平面電極と第2平
面電極との間であって他方面のプリント配線に対向する
位置に配置された第4平面電極に、第1平面電極に生じ
る電気信号が印加されるので、第2平面電極に印加され
る逆位相の電気信号による第1平面電極への影響が遮断
される。従って、第1平面電極に生じる電気信号のレベ
ル変動が防止され、プリント配線の良否が一層精度良く
判定される。
According to this configuration, the electric current generated in the first plane electrode is applied to the fourth plane electrode disposed between the first plane electrode and the second plane electrode and opposed to the printed wiring on the other surface. Since the signal is applied, the influence on the first plane electrode by the opposite-phase electric signal applied to the second plane electrode is cut off. Therefore, the level fluctuation of the electric signal generated in the first plane electrode is prevented, and the quality of the printed wiring is determined with higher accuracy.

【0027】また、請求項4の発明は、請求項1〜3の
いずれかに記載の基板の導通検査装置において、上記プ
リント配線が上記第1領域と上記第2領域との間で断線
したときに上記他方面のプリント配線と上記第2平面電
極との間に形成される静電容量を介して上記第2信号印
加手段により上記他方面のプリント配線に印加される電
気信号レベルが、上記一方面のプリント配線と上記他方
面のプリント配線との間に形成される静電容量を介して
上記第1信号印加手段により上記他方面のプリント配線
に印加される電気信号レベル以上になるように設定され
ていることを特徴としている。
According to a fourth aspect of the present invention, in the apparatus for inspecting continuity of a substrate according to any one of the first to third aspects, the printed wiring is disconnected between the first area and the second area. The electric signal level applied to the printed wiring on the other surface by the second signal applying means via the capacitance formed between the printed wiring on the other surface and the second plane electrode is equal to the one level. The first signal applying means is set to be higher than the electric signal level applied to the printed wiring on the other surface via the capacitance formed between the printed wiring on the other side and the printed wiring on the other surface. It is characterized by being.

【0028】この構成によれば、プリント配線が第1領
域と第2領域との間で断線したときに、他方面のプリン
ト配線と第2平面電極との間に形成される静電容量を介
して第2信号印加手段により他方面のプリント配線に印
加される電気信号レベルが、一方面のプリント配線と他
方面のプリント配線との間に形成される静電容量を介し
て第1信号印加手段により他方面のプリント配線に印加
される電気信号レベル以上になるように設定されている
ことにより、第1信号印加手段により印加される電気信
号によって第1平面電極に生じるはずであった電気信号
が打ち消されることとなる。
According to this configuration, when the printed wiring is disconnected between the first region and the second region, the capacitance is formed via the capacitance formed between the printed wiring on the other surface and the second plane electrode. The level of the electric signal applied to the printed wiring on the other side by the second signal applying means is changed via the capacitance formed between the printed wiring on one side and the printed wiring on the other side. Is set so as to be equal to or higher than the electric signal level applied to the printed wiring on the other side, so that the electric signal applied to the first plane electrode by the electric signal applied by the first signal applying means is changed. Will be countered.

【0029】従って、一方面のプリント配線と他方面の
プリント配線との間が導通している場合と断線している
場合とで、第1平面電極に生じる電気信号のレベル差を
確保することが確実に行われることとなり、これによっ
てプリント配線の良否が確実に判定される。
Therefore, it is possible to secure a level difference of an electric signal generated in the first plane electrode between the case where the printed wiring on one side and the printed wiring on the other side are conducting and the case where the wiring is disconnected. As a result, the quality of the printed wiring is reliably determined.

【0030】また、請求項5の発明は、基板の一方面か
ら他方面に貫通する貫通部を介して一方面のプリント配
線と他方面のプリント配線とが導通するように形成され
た基板の導通検査方法において、経時的にレベルが変化
する電気信号を上記一方面のプリント配線上の第1領域
に印加するとともに、上記電気信号に対してレベル変化
が逆位相の電気信号を、上記他方面のプリント配線にお
ける第2領域と上記貫通部との間の部分に静電容量を介
して同時に印加して、上記各電気信号の印加時に上記他
方面のプリント配線上の第2領域に対向配置された平面
電極に生じる電気信号に基づいて上記第1領域と上記第
2領域との間の導通状態の良否を判定するようにしたこ
とを特徴としている。
According to a fifth aspect of the present invention, a printed circuit on one side is connected to a printed wiring on the other side through a penetrating portion penetrating from one side to the other side of the substrate. In the inspection method, an electric signal whose level changes with time is applied to the first region on the printed wiring on one side, and an electric signal whose level change is in opposite phase to the electric signal is applied to the other side. It is simultaneously applied via a capacitance to a portion between the second region and the through portion of the printed wiring via the capacitance, and is arranged to face the second region on the printed wiring on the other surface when each of the electric signals is applied. It is characterized in that the quality of the conduction between the first region and the second region is determined based on an electric signal generated at the plane electrode.

【0031】この方法によれば、基板の一方面から他方
面に貫通する貫通部を介して一方面のプリント配線と他
方面のプリント配線とが導通するように形成された基板
において、経時的にレベルが変化する電気信号が一方面
のプリント配線上の第1領域に印加されるとともに、上
記電気信号に対してレベル変化が逆位相の電気信号が他
方面のプリント配線における第2領域と貫通部との間の
部分に静電容量を介して同時に印加される。
According to this method, the printed wiring on one side and the printed wiring on the other side are electrically connected to each other through the penetrating portion penetrating from one surface of the substrate to the other surface. An electric signal having a changing level is applied to a first region on a printed wiring on one surface, and an electric signal having a level change opposite to that of the electric signal is applied to a second region and a penetrating portion in the printed wiring on the other surface. At the same time via a capacitance.

【0032】このとき、一方面のプリント配線の第1領
域と他方面のプリント配線の第2領域とが導通している
場合には、他方面のプリント配線上の第2領域と平面電
極との間に等価的に形成された静電容量によって決まる
電気信号が平面電極に生じる。
At this time, when the first region of the printed wiring on one surface and the second region of the printed wiring on the other surface are electrically connected, the second region on the printed wiring on the other surface and the plane electrode are connected. An electric signal determined by the capacitance equivalently formed between the electrodes is generated at the plane electrode.

【0033】一方、一方面のプリント配線の第1領域と
他方面のプリント配線の第2領域との間で断線が生じて
いる場合には、一方面のプリント配線と他方面のプリン
ト配線との間に等価的に静電容量が形成される。
On the other hand, when a disconnection occurs between the first area of the printed wiring on one side and the second area of the printed wiring on the other side, the connection between the printed wiring on one side and the printed wiring on the other side is made. Capacitance is equivalently formed between them.

【0034】従って、第1領域に印加された電気信号
は、一方面のプリント配線と他方面のプリント配線との
間に形成された静電容量を介して他方面のプリント配線
に印加されることになるが、他方面のプリント配線に
は、他方面のプリント配線における第2領域と貫通部と
の間の部分に静電容量を介して、逆位相の電気信号が印
加されている。
Therefore, the electric signal applied to the first region is applied to the printed wiring on the other surface via the capacitance formed between the printed wiring on one surface and the printed wiring on the other surface. However, to the printed wiring on the other surface, an electric signal of an opposite phase is applied to a portion between the second region and the penetrating portion in the printed wiring on the other surface via a capacitance.

【0035】すなわち、他方面のプリント配線には、互
いに逆位相の電気信号が、いずれも静電容量を介して印
加されることになるので、互いに打ち消されることとな
り、これによって、平面電極に生じる電気信号は、第1
領域と第2領域との間が導通している場合と断線してい
る場合とで確実に異なるレベルになるので、プリント配
線の良否が確実に判定されることとなる。
That is, electric signals having phases opposite to each other are applied to the printed wiring on the other surface via the capacitance, and are canceled each other. The electrical signal is
Since the level is definitely different between the case where the region and the second region are conducting and the case where the line is disconnected, the quality of the printed wiring is reliably determined.

【0036】[0036]

【発明の実施の形態】図1(a)は本発明に係る基板の
導通検査装置の第1実施形態の電気的構成を示すブロッ
ク図、図1(b)はセンサ部の平面電極とプリント回路
基板の位置関係を示す平面図である。図2は導通検査装
置のセンサ部の構成を示す図で、(a)は平面図、
(b)は導通検査を行うべくプリント回路基板に当接さ
せた状態を示す側面図である。また、図9は検査対象の
プリント回路基板の一例を示す図で、(a)は平面図、
(b)は側面図である。
FIG. 1A is a block diagram showing an electric configuration of a first embodiment of a substrate continuity inspection apparatus according to the present invention, and FIG. 1B is a plan view showing a planar electrode of a sensor section and a printed circuit. FIG. 3 is a plan view showing a positional relationship between substrates. 2A and 2B are diagrams showing a configuration of a sensor unit of the continuity inspection device, wherein FIG.
FIG. 2B is a side view showing a state where the printed circuit board is brought into contact with the printed circuit board to perform a continuity test. FIG. 9 is a diagram showing an example of a printed circuit board to be inspected, (a) is a plan view,
(B) is a side view.

【0037】基板の導通検査装置10は、図1に示すよ
うに、プローブ20、センサ部30及び制御手段40を
備え、制御手段40は、CPUや電子回路等からなり、
機能ブロックとして、信号印加手段50及び導通判定手
段60を備えている。そして、この基板の導通検査装置
10は、検査対象のプリント回路基板11の両面に形成
されたプリント配線の導通検査を行うものである。
As shown in FIG. 1, the substrate continuity inspection apparatus 10 includes a probe 20, a sensor unit 30, and a control unit 40. The control unit 40 includes a CPU, an electronic circuit, and the like.
As functional blocks, a signal application unit 50 and a conduction determination unit 60 are provided. The board continuity inspection device 10 performs continuity inspection of printed wiring formed on both surfaces of the printed circuit board 11 to be inspected.

【0038】図9に示すように、プリント回路基板11
上のプリント配線12は、裏面(一方面)に形成された
プリント配線121と表面(他方面)に形成されたプリ
ント配線122とが、スルーホール(貫通部)13を介
して接続されて構成されている。プリント配線121,
122は、プリント回路基板11を挾んで平行に形成さ
れ、プリント配線121の端部(第1領域)123と、
プリント配線122の端部(第2領域)124との間で
導通が検査されるようになっている。
As shown in FIG. 9, the printed circuit board 11
The upper printed wiring 12 is configured by connecting a printed wiring 121 formed on the back surface (one surface) and a printed wiring 122 formed on the front surface (other surface) via a through hole (through portion) 13. ing. Printed wiring 121,
Reference numeral 122 denotes an end (first area) 123 of the printed wiring 121 formed in parallel with the printed circuit board 11 therebetween.
The continuity between the printed wiring 122 and the end (second region) 124 is inspected.

【0039】図1に戻って、プローブ20は、プリント
回路基板11の裏面に対して接離方向に移動可能に構成
され、信号印加手段50に接続されたもので、プリント
配線121の端部123に当接して電圧を印加するため
のものである。
Returning to FIG. 1, the probe 20 is configured to be movable in the direction of contact and separation with respect to the rear surface of the printed circuit board 11 and is connected to the signal applying means 50. To apply a voltage in contact with the.

【0040】センサ部30は、図2に示すように、第1
平面電極31、第2平面電極32及び第3平面電極33
を備え、プリント回路基板11の表面に対して接離方向
に移動可能に構成されたものである。そして、センサ部
30の下面は、例えば硬質合成樹脂からなる所定厚さ寸
法d1(本実施形態では、例えばd1=0.03mm)の絶縁膜
301で被覆されており、センサ部30がプリント回路
基板11に当接した状態で、プリント配線121と各電
極31〜33との間隔が一定寸法d1 に保持されるよう
になっている。
As shown in FIG. 2, the sensor unit 30 has a first
Planar electrode 31, second planar electrode 32, and third planar electrode 33
And is configured to be movable in the direction of contact and separation with respect to the surface of the printed circuit board 11. The lower surface of the sensor unit 30 is covered with an insulating film 301 having a predetermined thickness d 1 (for example, d 1 = 0.03 mm in the present embodiment) made of, for example, a hard synthetic resin. The distance between the printed wiring 121 and each of the electrodes 31 to 33 is maintained at a constant dimension d 1 in a state of being in contact with the substrate 11.

【0041】図1に示すように、第1平面電極31は、
プリント配線122の端部124に対向するように配置
され、導通判定手段60に接続されている。第2平面電
極32は、プリント配線122の端部124とスルーホ
ール13との間の部分に対向するように配置され、信号
印加手段50に接続されている。また、第3平面電極3
3は、第1平面電極31と第2平面電極32との間であ
って、プリント配線122に対向するように配置され、
接地されている。なお、図1では、説明の便宜上、セン
サ部30の各平面電極31〜33のみを図示している。
As shown in FIG. 1, the first plane electrode 31
The printed wiring 122 is disposed so as to face the end 124, and is connected to the conduction determining means 60. The second plane electrode 32 is disposed so as to face a portion between the end 124 of the printed wiring 122 and the through hole 13, and is connected to the signal applying unit 50. Further, the third plane electrode 3
3 is disposed between the first plane electrode 31 and the second plane electrode 32 so as to face the printed wiring 122;
Grounded. In FIG. 1, only the planar electrodes 31 to 33 of the sensor unit 30 are illustrated for convenience of description.

【0042】制御手段40の信号印加手段50は、電圧
出力手段51、正転アンプ52及び反転アンプ53を備
え、正転アンプ52及び反転アンプ53の入力端子は電
圧出力手段51に接続され、正転アンプ52の出力端子
はプローブ20に接続され、反転アンプ53の出力端子
は第2平面電極32に接続されている。電圧出力手段5
1は、経時的にレベルが変化する電圧信号、例えばステ
ップ状に変化する電圧信号を出力するものである。正転
アンプ52は、入力された電圧信号を位相を変化させず
に所定の増幅率で増幅するものであり、反転アンプ53
は、入力された電圧信号の位相を反転させて、所定の増
幅率で増幅するものである。
The signal applying means 50 of the control means 40 includes a voltage output means 51, a non-inverting amplifier 52 and an inverting amplifier 53, and input terminals of the non-inverting amplifier 52 and the inverting amplifier 53 are connected to the voltage output means 51. The output terminal of the inverting amplifier 52 is connected to the probe 20, and the output terminal of the inverting amplifier 53 is connected to the second plane electrode 32. Voltage output means 5
1 outputs a voltage signal whose level changes with time, for example, a voltage signal which changes stepwise. The non-inverting amplifier 52 amplifies the input voltage signal at a predetermined amplification rate without changing the phase.
Is to invert the phase of the input voltage signal and amplify it at a predetermined amplification factor.

【0043】この構成により、正転アンプ52及び反転
アンプ53からプローブ20及び第2平面電極32に対
して、それぞれ互いに逆位相の電圧信号が同時に印加さ
れることとなる。なお、電圧出力手段51及び正転アン
プ52は、第1信号印加手段を構成し、電圧出力手段5
1及び反転アンプ53は、第2信号印加手段を構成す
る。
With this configuration, voltage signals having phases opposite to each other are simultaneously applied to the probe 20 and the second plane electrode 32 from the non-inverting amplifier 52 and the inverting amplifier 53, respectively. The voltage output means 51 and the non-inverting amplifier 52 constitute a first signal application means, and the voltage output means 5
The 1 and the inverting amplifier 53 constitute a second signal applying unit.

【0044】導通判定手段60は、増幅器61、ピーク
ホールド回路62及びレベル判定手段63を備えてい
る。増幅器61は、第1平面電極31に生じる電気信号
を増幅するもので、ピークホールド回路62は、増幅さ
れた電気信号の最大値を保持するもので、レベル判定手
段63は、例えば比較器を備え、保持された最大値を所
定の基準値と比較して導通状態の判定を行うものであ
る。
The conduction judging means 60 includes an amplifier 61, a peak hold circuit 62, and a level judging means 63. The amplifier 61 amplifies the electric signal generated at the first plane electrode 31, the peak hold circuit 62 holds the maximum value of the amplified electric signal, and the level determination unit 63 includes, for example, a comparator. The conduction state is determined by comparing the held maximum value with a predetermined reference value.

【0045】ここで、センサ部30の各平面電極31〜
33とプリント回路基板11との間に等価的に形成され
る静電容量について説明する。なお、図1に示すよう
に、第1平面電極31とプリント配線122の端部12
4との間の静電容量をC1 、プリント配線12が断線し
ている場合に裏面のプリント配線121と表面のプリン
ト配線122との間の静電容量をC2 、第2平面電極3
2と表面のプリント配線122との間の静電容量をC
3 、第3平面電極33と表面のプリント配線122との
間の静電容量をC4 とする。
Here, each of the planar electrodes 31 to 31 of the sensor section 30
The capacitance equivalently formed between the printed circuit board 33 and the printed circuit board 11 will be described. As shown in FIG. 1, the first plane electrode 31 and the end 12 of the printed wiring 122 are
The capacitance between the 4 C 1, C 2 the capacitance between the printed circuit 122 of the rear surface of the printed wiring 121 and the surface when the printed circuit 12 is disconnected, the second planar electrode 3
2 and the printed wiring 122 on the surface are represented by C
3. The capacitance between the third planar electrode 33 and the printed wiring 122 on the surface is defined as C 4 .

【0046】本実施形態では、第1平面電極31の面積
に対して第2平面電極32の面積が大きくなるように設
定して、第2平面電極32とプリント配線122との対
向面積を増大させることにより、図1に示すように、断
線部Aでプリント配線122が断線している場合に、各
静電容量が、
In the present embodiment, the area of the second plane electrode 32 is set to be larger than the area of the first plane electrode 31 to increase the facing area between the second plane electrode 32 and the printed wiring 122. Thereby, as shown in FIG. 1, when the printed wiring 122 is disconnected at the disconnected portion A, each capacitance becomes

【0047】[0047]

【数5】 C1≪C21≪C3 を満たすように設定しておく。[Formula 5] It is set so as to satisfy C 1 ≪C 2 C 1 ≪C 3 .

【0048】また、検査対象であるプリント回路基板1
1の厚さ寸法d2 が決まっているので、d1<d2の範囲
内において、
The printed circuit board 1 to be inspected is
Since the thickness dimension d 2 of 1 is determined, within the range of d 1 <d 2 ,

【0049】[0049]

【数6】C2≦C3 を満足するように、センサ部30とプリント回路基板1
1との間隔d1 を設定する。
## EQU6 ## The sensor unit 30 and the printed circuit board 1 are arranged so as to satisfy C 2 ≦ C 3.
Set the distance d1 from 1 .

【0050】次に、図1、図3、図4を用いて、このよ
うに構成にされた基板の導通検査装置10による導通検
査の動作について説明する。図3は基板の導通検査装置
10及びプリント回路基板11の等価回路図、図4はこ
の等価回路の各部の出力信号を示す図である。
Next, the operation of the continuity inspection by the continuity inspection device 10 for the substrate thus configured will be described with reference to FIGS. 1, 3 and 4. FIG. FIG. 3 is an equivalent circuit diagram of the board continuity inspection device 10 and the printed circuit board 11, and FIG. 4 is a diagram showing output signals of respective parts of the equivalent circuit.

【0051】図4に示すように、経時的に変化する電圧
信号が電圧出力手段51から出力されると、正転アンプ
52から当該電圧信号が出力されて、プローブ20を通
してプリント配線121の端部123に印加されると同
時に、この印加電圧に対して逆位相の電圧信号が反転ア
ンプ53から出力されて、第2平面電極32に印加され
る。
As shown in FIG. 4, when a voltage signal which changes with time is output from the voltage output means 51, the voltage signal is output from the non-inverting amplifier 52, and the end of the printed wiring 121 is passed through the probe 20. At the same time as being applied to 123, a voltage signal having a phase opposite to the applied voltage is output from the inverting amplifier 53 and applied to the second plane electrode 32.

【0052】このとき、図1に示すようにプリント配線
122が断線している場合には、図3に示すように、静
電容量C2,C3を介して所定の振幅で逆位相の電圧信号
がプリント配線122に印加されることになる。従っ
て、増幅器61の出力信号は、C2=C3の場合には、図
4に太実線P1で示すようにほぼゼロになり、C2<C3
の場合には、図4に細実線P2で示すように負の値にな
る。
At this time, when the printed wiring 122 is disconnected as shown in FIG. 1, as shown in FIG. 3, a voltage having a predetermined amplitude and an opposite phase is applied through the capacitances C 2 and C 3. A signal will be applied to the printed wiring 122. Therefore, when C 2 = C 3 , the output signal of the amplifier 61 becomes almost zero as shown by the thick solid line P 1 in FIG. 4, and C 2 <C 3
In this case, the value becomes a negative value as shown by the thin solid line P2 in FIG.

【0053】一方、プリント配線122が断線していな
い良品の場合には、図3において静電容量C2 が短絡さ
れていることになるので、接触しているプローブ20に
より直接印加される電圧信号に比べて、容量成分C3
介して印加される電圧信号の影響は殆どないことから、
増幅器61の出力信号は、図4に一点鎖線P3で示すよ
うに、正転アンプ52により静電容量C1 を通して印加
された電圧信号にほぼ一致するものとなる。
On the other hand, in the case of a non-defective product in which the printed wiring 122 is not broken, the capacitance C 2 is short-circuited in FIG. Since the voltage signal applied via the capacitance component C 3 has almost no effect as compared with
The output signal of the amplifier 61, as shown in FIG. 4 in dashed line P3, the one that matches substantially the voltage signal applied through the capacitance C 1 by the forward amplifier 52.

【0054】そして、図1において、ピークホールド回
路62により増幅器61の出力信号の最大値が保持さ
れ、レベル判定手段63により所定の基準値と比較され
て、プリント配線12の良否が判定される。
In FIG. 1, the maximum value of the output signal of the amplifier 61 is held by the peak hold circuit 62 and is compared with a predetermined reference value by the level determination means 63 to determine the quality of the printed wiring 12.

【0055】このように、プリント配線122に対向し
て配置された第2平面電極32を備え、この第2平面電
極32に対して、プローブ20と逆位相の電圧信号を印
加するようにしたので、プリント配線12が良好な場合
と断線している場合とで第1平面電極31に生じる信号
のレベル差を増大させることができ、これによってプリ
ント配線12の良否を確実に判定することができる。
As described above, the second plane electrode 32 is provided so as to face the printed wiring 122, and a voltage signal having a phase opposite to that of the probe 20 is applied to the second plane electrode 32. In addition, it is possible to increase the level difference of the signal generated in the first plane electrode 31 between the case where the printed wiring 12 is good and the case where the printed wiring 12 is broken.

【0056】また、第1平面電極31と第2平面電極3
2との間に第3平面電極33を配置し、この第3平面電
極33を接地しているので、第2平面電極32に印加さ
れる逆位相の電圧信号が、第1平面電極31と第2平面
電極32との間に形成される容量成分を介して第1平面
電極31に伝達されるのを防止することができる。
The first plane electrode 31 and the second plane electrode 3
Since the third plane electrode 33 is arranged between the first plane electrode 31 and the first plane electrode 31, the third plane electrode 33 is grounded. It can be prevented from being transmitted to the first plane electrode 31 via a capacitance component formed between the two plane electrodes 32.

【0057】次に、図5、図6を用いて、上記第1実施
形態の変形形態として、複数のプリント配線の導通検査
を行う形態について説明する。図5は本変形形態の電気
的構成を示すブロック図、図6は本変形形態における検
査回数ごとのスイッチ部のオンオフを説明する図であ
る。なお、図1と同一物には同一符号を付している。
Next, referring to FIGS. 5 and 6, a description will be given of a variation of the first embodiment in which a continuity test of a plurality of printed wirings is performed. FIG. 5 is a block diagram showing an electrical configuration of the present modification, and FIG. 6 is a diagram for explaining ON / OFF of a switch unit for each inspection count in the present modification. The same components as those in FIG. 1 are denoted by the same reference numerals.

【0058】本変形形態は、図5に示すように、プリン
ト配線12a,12b,12cの導通検査を行うもの
で、プローブ20a,20b,20cを裏面のプリント
配線121a,121b,121cの端部123a,1
23b,123cに当接させて電圧信号を印加する。
In this modification, as shown in FIG. 5, the continuity test of the printed wirings 12a, 12b, and 12c is performed, and the probes 20a, 20b, and 20c are connected to the end portions 123a of the printed wirings 121a, 121b, and 121c on the back surface. , 1
A voltage signal is applied in contact with 23b and 123c.

【0059】この形態は、例えばトランジスタからなる
スイッチ部70を備え、このスイッチ部70は、スイッ
チSW11,SW12,SW21,SW22,SW3
1,SW32を備えており、各スイッチのオンオフは、
制御手段40によって制御される。
This embodiment includes a switch section 70 composed of, for example, a transistor. The switch section 70 includes switches SW11, SW12, SW21, SW22, and SW3.
1, SW32, and the on / off of each switch is
It is controlled by the control means 40.

【0060】そして、プローブ20aは、スイッチSW
11を介して正転アンプ52の出力端子に接続されると
ともにスイッチSW12を介して接地され、プローブ2
0bは、スイッチSW21を介して正転アンプ52の出
力端子に接続されるとともにスイッチSW22を介して
接地され、プローブ20cは、スイッチSW31を介し
て正転アンプ52の出力端子に接続されるとともにスイ
ッチSW32を介して接地されている。
The probe 20a is connected to the switch SW
11 is connected to the output terminal of the non-inverting amplifier 52 via the switch 11 and grounded via the switch SW12.
0b is connected to the output terminal of the non-inverting amplifier 52 via the switch SW21 and grounded via the switch SW22, and the probe 20c is connected to the output terminal of the non-inverting amplifier 52 via the switch SW31 and It is grounded via SW32.

【0061】そして、図6に示すように制御手段40に
よってスイッチ部70の各スイッチのオンオフが制御さ
れ、1回目の検査ではプローブ20aから電圧信号が印
加され、2回目の検査ではプローブ20bから電圧信号
が印加され、3回目の検査ではプローブ20cから電圧
信号が印加されて、プリント配線12a,12b,12
cの導通検査が順に行われる。
As shown in FIG. 6, the on / off of each switch of the switch section 70 is controlled by the control means 40, a voltage signal is applied from the probe 20a in the first inspection, and a voltage signal is applied from the probe 20b in the second inspection. In the third inspection, a voltage signal is applied from the probe 20c, and the printed wirings 12a, 12b, 12
The continuity test of c is performed in order.

【0062】なお、信号印加手段50及び導通判定手段
60は上記第1実施形態と同様に動作する。これによっ
て、本変形形態によれば、上記第1実施形態と同様の作
用効果が得られ、導通検査を好適に行うことができる。
The signal applying means 50 and the conduction judging means 60 operate in the same manner as in the first embodiment. Thus, according to the present modification, the same operation and effect as those of the first embodiment can be obtained, and the continuity test can be suitably performed.

【0063】図7は本発明に係る基板の導通検査装置の
第2実施形態の電気的構成を示すブロック図である。な
お、図5と同一物には同一符号を付している。第2実施
形態の基板の導通検査装置10は、第1平面電極31と
第2平面電極32との間であって、プリント配線122
a,122b,122cに対向する位置に、第3平面電
極33に代えて第4平面電極34を備えている。また、
非反転バッファ(第3信号印加手段)80を備えてお
り、この非反転バッファ80の入力端子は第1平面電極
31に接続され、出力端子は第4平面電極34に接続さ
れている。
FIG. 7 is a block diagram showing an electrical configuration of a second embodiment of the substrate continuity inspection apparatus according to the present invention. The same components as those in FIG. 5 are denoted by the same reference numerals. The substrate continuity inspection device 10 according to the second embodiment includes a printed wiring 122 between the first planar electrode 31 and the second planar electrode 32.
A fourth flat electrode 34 is provided at a position facing a, 122b, 122c instead of the third flat electrode 33. Also,
A non-inverting buffer (third signal applying means) 80 is provided. The input terminal of the non-inverting buffer 80 is connected to the first plane electrode 31, and the output terminal is connected to the fourth plane electrode 34.

【0064】この構成において、信号印加手段50から
プローブ20a(20b,20c)及び第2平面電極3
2に電圧信号が印加されると、第1平面電極31に発生
する電圧信号が、第4平面電極34に印加されることと
なる。従って、第1平面電極31は、上記第1実施形態
のように接地された第3平面電極33に代えて、第1平
面電極31と同一電位の第4平面電極34によって、第
2平面電極32の逆位相の電圧信号による影響が遮断さ
れる。
In this configuration, the probe 20a (20b, 20c) and the second plane electrode 3
When a voltage signal is applied to 2, a voltage signal generated on the first plane electrode 31 is applied to the fourth plane electrode 34. Therefore, the first plane electrode 31 is replaced with the second plane electrode 32 by the fourth plane electrode 34 having the same potential as the first plane electrode 31 instead of the third plane electrode 33 grounded as in the first embodiment. The effect of the opposite phase voltage signal is blocked.

【0065】第1実施形態のように接地された第3平面
電極33を備えると、第1平面電極31との間に結合容
量を有することになるため、第1平面電極31に発生し
た電圧信号がこの結合容量により減衰してしまう。従っ
て、導通検査が可能なプリント配線12の対向面積の大
きさには上限がある。
When the third plane electrode 33 grounded as in the first embodiment has a coupling capacitance with the first plane electrode 31, the voltage signal generated on the first plane electrode 31 is generated. Is attenuated by this coupling capacity. Therefore, there is an upper limit to the size of the opposing area of the printed wiring 12 for which the continuity test can be performed.

【0066】しかし、第2実施形態によれば、接地され
た第3平面電極33に代えて、第1平面電極31と同一
電位の第4平面電極34を備えることにより、結合容量
が生じないので、導通検査が可能なプリント配線12の
対向面積の大きさの上限値を改善することができる。
However, according to the second embodiment, since the fourth plane electrode 34 having the same potential as the first plane electrode 31 is provided instead of the grounded third plane electrode 33, no coupling capacitance occurs. In addition, it is possible to improve the upper limit value of the size of the facing area of the printed wiring 12 on which the continuity test can be performed.

【0067】なお、本発明は、上記各形態に限られず、
例えば、以下に示す変形形態を採用することができる。 (1)正転アンプ52及び反転アンプ53に代えて、そ
れぞれ増幅率が1の非反転バッファ及び反転バッファを
用いてもよい。また、正転アンプ52及び反転アンプ5
3を互いに入れ替えてもよい。
The present invention is not limited to the above embodiments,
For example, the following modifications can be adopted. (1) Instead of the non-inverting amplifier 52 and the inverting amplifier 53, a non-inverting buffer and an inverting buffer each having an amplification factor of 1 may be used. In addition, the forward amplifier 52 and the inverting amplifier 5
3 may be interchanged with each other.

【0068】(2)センサ部30とプリント回路基板1
1との間隔d1 の設定により、上記数6と異なってC2
>C3になる場合には、反転アンプ53の増幅率を正転
アンプ52の増幅率に比べて大きくすればよい。例えば
3≒C2/2の場合には、反転アンプ53の増幅率を正
転アンプ52の増幅率の2倍程度に設定すればよい。
(2) Sensor part 30 and printed circuit board 1
By setting the distance d 1 from C 1 , C 2 differs from
> When made in C 3 may be larger than the amplification factor of the inverting amplifier 53 to the gain of the forward amplifier 52. For example, in the case of C 3 ≒ C 2/2 may be set the amplification factor of the inverting amplifier 53 to 2 times the gain of the forward amplifier 52.

【0069】すなわち、静電容量C3 を介してプリント
配線122に印加される電圧信号レベルが、静電容量C
2 を介してプリント配線122に印加される電圧信号レ
ベル以上になるように設定すれば、図4に示すように、
断線しているときの増幅器61の出力信号が、太実線P
1または細実線P2のようにゼロ又は負になり、プリン
ト配線の良否を確実に判定できることとなる。
That is, the level of the voltage signal applied to the printed wiring 122 via the capacitance C 3 is
If the voltage is set to be equal to or higher than the level of the voltage signal applied to the printed wiring 122 via the line 2 , as shown in FIG.
The output signal of the amplifier 61 when the wire is disconnected is indicated by a thick solid line P
It becomes zero or negative like 1 or the thin solid line P2, so that the quality of the printed wiring can be reliably determined.

【0070】(3)上記各実施形態では、図4に示すよ
うに電圧出力手段51からステップ状に変化する電圧信
号を出力しているが、これに限られず、正弦波交流信号
などのように、経時的にレベルが変化する電圧信号であ
ればよい。
(3) In the above embodiments, the voltage output means 51 outputs a stepwise changing voltage signal as shown in FIG. 4. However, the present invention is not limited to this. Any voltage signal whose level changes with time may be used.

【0071】(4)信号印加手段50は、図1に示す構
成に代えて、図8に示すように、電圧出力手段51と同
様に経時的にレベルが変化する電圧信号を出力する電圧
出力手段54と、この電圧出力手段54から出力される
電圧信号と逆位相の電圧信号を出力する電圧出力手段5
5と、これらの電圧出力手段54,55を制御して同時
に電圧信号を出力させる出力制御手段56とを備える構
成にしてもよい。
(4) The signal applying means 50 is a voltage output means for outputting a voltage signal whose level changes with time similarly to the voltage output means 51, as shown in FIG. 8, instead of the structure shown in FIG. And a voltage output means 5 for outputting a voltage signal having a phase opposite to that of the voltage signal output from the voltage output means 54
5 and an output control means 56 for controlling these voltage output means 54 and 55 to output a voltage signal at the same time.

【0072】(5)上記第2実施形態において、図7に
一点鎖線で示すように、第1平面電極31を第4平面電
極34で挾むように構成するとともに、さらに第2平面
電極32で挾むように構成してもよい。また、第1平面
電極31を第4平面電極34で囲むように構成するとと
もに、さらに第2平面電極32で囲むように構成しても
よい(図示省略)。
(5) In the second embodiment, the first plane electrode 31 is sandwiched by the fourth plane electrode 34 and further sandwiched by the second plane electrode 32, as shown by a chain line in FIG. You may comprise. Further, the first plane electrode 31 may be configured to be surrounded by the fourth plane electrode 34 and may be configured to be further surrounded by the second plane electrode 32 (not shown).

【0073】この形態によれば、第1平面電極31に対
する外来ノイズの影響を低減することができ、これによ
って導通検査を一層精度良く行うことができる。
According to this embodiment, the influence of external noise on the first plane electrode 31 can be reduced, and the continuity test can be performed with higher accuracy.

【0074】(6)検査対象のプリント回路基板は、図
9に示すものに限られず、多層のプリント配線が導通す
るように形成された多層のプリント回路基板に適用する
ことができる。
(6) The printed circuit board to be inspected is not limited to the one shown in FIG. 9, and can be applied to a multilayer printed circuit board formed so that multilayer printed wiring is conducted.

【0075】[0075]

【発明の効果】以上説明したように、請求項1の発明に
よれば、基板の一方面から他方面に貫通する貫通部を介
して一方面のプリント配線と他方面のプリント配線とが
導通するように形成された基板において、他方面のプリ
ント配線上の第2領域に第1平面電極を対向配置し、他
方面のプリント配線における第2領域と貫通部との間の
部分に第2平面電極を対向配置し、一方面のプリント配
線上の第1領域に、第1信号印加手段によって経時的に
レベルが変化する電気信号を印加すると同時に、第1信
号印加手段による電気信号に対してレベル変化が逆位相
の電気信号を第2平面電極に印加するようにしたので、
第1平面電極に生じる電気信号は、第1領域と第2領域
との間が導通している場合と断線している場合とで確実
に異なるレベルにすることができ、これによってプリン
ト配線の良否を確実に判定することができる。
As described above, according to the first aspect of the present invention, the printed wiring on one side is electrically connected to the printed wiring on the other side via the penetrating portion penetrating from one surface of the substrate to the other surface. In the substrate formed as described above, the first plane electrode is disposed opposite to the second area on the printed wiring on the other surface, and the second plane electrode is disposed on the part between the second area and the through portion in the printed wiring on the other surface. And an electric signal whose level changes with time is applied to the first region on one side of the printed wiring by the first signal applying means, and at the same time, the level is changed with respect to the electric signal by the first signal applying means. Applied an electric signal of opposite phase to the second plane electrode,
The electric signal generated at the first plane electrode can be reliably set at different levels depending on whether the first region and the second region are conducting or disconnected, and thereby the quality of the printed wiring is good or bad. Can be reliably determined.

【0076】また、請求項2の発明によれば、第1平面
電極と第2平面電極との間であって他方面のプリント配
線に対向する位置に第3平面電極を配置し、この第3平
面電極を接地することにより、第2平面電極と第1平面
電極との間に静電容量が等価的に形成されることがな
く、これによって第2平面電極に印加される逆位相の電
気信号による第1平面電極への影響を遮断することがで
きる。従って、第1平面電極に生じる電気信号のレベル
変動を防止することができ、プリント配線の良否を一層
精度良く判定することができる。
According to the second aspect of the present invention, the third plane electrode is arranged at a position between the first plane electrode and the second plane electrode and opposite to the printed wiring on the other surface. By grounding the plane electrode, an electrostatic capacitance is not equivalently formed between the second plane electrode and the first plane electrode. The effect on the first plane electrode due to this can be cut off. Therefore, it is possible to prevent the level fluctuation of the electric signal generated in the first plane electrode, and it is possible to more accurately determine the quality of the printed wiring.

【0077】また、請求項3の発明によれば、第1平面
電極と第2平面電極との間であって他方面のプリント配
線に対向する位置に第4平面電極を配置し、この第4平
面電極に第1平面電極に生じる電気信号を印加すること
により、第2平面電極に印加される逆位相の電気信号に
よる第1平面電極への影響を遮断することができ、これ
によって第1平面電極に生じる電気信号のレベル変動を
防止することができ、プリント配線の良否を一層精度良
く判定することができる。
According to the third aspect of the present invention, the fourth plane electrode is arranged between the first plane electrode and the second plane electrode at a position facing the printed wiring on the other surface. By applying an electric signal generated in the first plane electrode to the plane electrode, the influence on the first plane electrode due to the opposite-phase electric signal applied to the second plane electrode can be cut off. It is possible to prevent the level change of the electric signal generated at the electrode, and it is possible to determine the quality of the printed wiring with higher accuracy.

【0078】また、請求項4の発明によれば、プリント
配線が第1領域と第2領域との間で断線したときに、他
方面のプリント配線と第2平面電極との間に形成される
静電容量を介して第2信号印加手段により他方面のプリ
ント配線に印加される電気信号レベルが、一方面のプリ
ント配線と他方面のプリント配線との間に形成される静
電容量を介して第1信号印加手段により他方面のプリン
ト配線に印加される電気信号レベル以上になるように設
定されていることにより、第1信号印加手段により印加
される電気信号によって第1平面電極に生じるはずであ
った電気信号が打ち消されて、一方面のプリント配線と
他方面のプリント配線との間が導通している場合と断線
している場合とで、第1平面電極に生じる電気信号のレ
ベル差を確保することが確実にでき、これによってプリ
ント配線の良否を確実に判定することができる。
According to the fourth aspect of the present invention, when the printed wiring is disconnected between the first area and the second area, it is formed between the printed wiring on the other surface and the second plane electrode. The level of the electric signal applied to the printed wiring on the other side by the second signal applying means via the capacitance is changed via the capacitance formed between the printed wiring on the one side and the printed wiring on the other side. Since the level is set to be equal to or higher than the level of the electric signal applied to the printed wiring on the other surface by the first signal applying means, the electric signal applied by the first signal applying means should generate on the first plane electrode. The level difference of the electric signal generated in the first plane electrode between the case where the printed signal on one side is connected to the printed wiring on the other side and the case where the printed signal is disconnected due to the cancellation of the existing electric signal. Secure Bets can be reliably, which makes it possible to determine reliably the quality of printed wiring.

【0079】また、請求項5の発明によれば、経時的に
レベルが変化する電気信号を一方面のプリント配線上の
第1領域に印加するとともに、上記電気信号に対してレ
ベル変化が逆位相の電気信号を、他方面のプリント配線
における第2領域と貫通部との間の部分に静電容量を介
して同時に印加して、上記各電気信号の印加時に他方面
のプリント配線上の第2領域に対向配置された平面電極
に生じる電気信号に基づいて第1領域と第2領域との間
の導通状態の良否を判定するようにしたので、平面電極
に生じる電気信号は、第1領域と第2領域との間が導通
している場合と断線している場合とで確実に異なるレベ
ルにすることができ、これによってプリント配線の良否
を確実に判定することができる。
According to the fifth aspect of the present invention, an electric signal whose level changes with time is applied to the first region on the printed wiring on one side, and the level change of the electric signal is opposite to that of the electric signal. Is simultaneously applied to the portion between the second region and the penetrating portion in the printed wiring on the other surface via the capacitance, and the second electric signal on the printed wiring on the other surface is applied when each of the electric signals is applied. Since the quality of the conduction state between the first region and the second region is determined based on the electric signal generated at the plane electrode opposed to the region, the electric signal generated at the plane electrode is determined by the first region and the second region. The level can be reliably set to a different level depending on whether the connection with the second region is conducted or disconnected, and the quality of the printed wiring can be reliably determined.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】(a)は本発明に係る基板の導通検査装置の第
1実施形態の電気的構成を示すブロック図、(b)はセ
ンサ部の平面電極とプリント回路基板の位置関係を示す
平面図である。
FIG. 1A is a block diagram illustrating an electrical configuration of a first embodiment of a board continuity inspection device according to the present invention, and FIG. 1B is a plan view illustrating a positional relationship between a plane electrode of a sensor unit and a printed circuit board; FIG.

【図2】導通検査装置のセンサ部の構成を示す図で、
(a)は平面図、(b)は導通検査を行うべくプリント
回路基板に当接させた状態を示す側面図である。
FIG. 2 is a diagram showing a configuration of a sensor unit of the continuity inspection device;
FIG. 2A is a plan view, and FIG. 2B is a side view showing a state where the printed circuit board is in contact with a printed circuit board for conducting a continuity test.

【図3】基板の導通検査装置及びプリント回路基板の等
価回路図である。
FIG. 3 is an equivalent circuit diagram of a board continuity inspection device and a printed circuit board.

【図4】図3の等価回路の各部の出力信号を示す図であ
る。
FIG. 4 is a diagram illustrating output signals of respective units of the equivalent circuit of FIG. 3;

【図5】本変形形態の電気的構成を示すブロック図であ
る。
FIG. 5 is a block diagram showing an electrical configuration of the present modification.

【図6】図5の変形形態における検査回数ごとのスイッ
チ部のオンオフを説明する図である。
FIG. 6 is a diagram illustrating ON / OFF of a switch unit for each inspection count in the modification of FIG. 5;

【図7】本発明に係る基板の導通検査装置の第2実施形
態の電気的構成を示すブロック図である。
FIG. 7 is a block diagram showing an electrical configuration of a second embodiment of the substrate continuity inspection apparatus according to the present invention.

【図8】信号印加手段の変形形態を示すブロック図であ
る。
FIG. 8 is a block diagram showing a modification of the signal applying unit.

【図9】検査対象のプリント回路基板の一例を示す図
で、(a)は平面図、(b)は側面図である。
9A and 9B are diagrams illustrating an example of a printed circuit board to be inspected, wherein FIG. 9A is a plan view and FIG. 9B is a side view.

【図10】従来の導通検査を説明する図で、(a)は平
面図、(b)は側面図である。
10A and 10B are diagrams illustrating a conventional conduction test, wherein FIG. 10A is a plan view and FIG. 10B is a side view.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10 基板の導通検査装置 20 プローブ 30 センサ部 31 第1平面電極 32 第2平面電極 33 第3平面電極 34 第4平面電極 40 制御手段 50 信号印加手段 51 電圧出力手段 52 正転アンプ 53 反転アンプ 60 導通判定手段 61 増幅器 62 ピークホールド回路 63 レベル判定手段 REFERENCE SIGNS LIST 10 substrate continuity inspection device 20 probe 30 sensor unit 31 first plane electrode 32 second plane electrode 33 third plane electrode 34 fourth plane electrode 40 control means 50 signal application means 51 voltage output means 52 forward amplifier 53 inverting amplifier 60 Conduction determination means 61 Amplifier 62 Peak hold circuit 63 Level determination means

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) G01R 31/02 G01R 31/28 G01R 27/00 G01R 1/06 - 1/073 H05K 3/00 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (58) Field surveyed (Int. Cl. 6 , DB name) G01R 31/02 G01R 31/28 G01R 27/00 G01R 1/06-1/073 H05K 3/00

Claims (5)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 基板の一方面から他方面に貫通する貫通
部を介して一方面のプリント配線と他方面のプリント配
線とが導通するように形成された基板の導通検査装置に
おいて、 経時的にレベルが変化する電気信号を上記一方面のプリ
ント配線上の第1領域に印加する第1信号印加手段と、 上記他方面のプリント配線上の第2領域に対向配置され
た第1平面電極と、 上記他方面のプリント配線における上記第2領域と上記
貫通部との間の部分に対向配置された第2平面電極と、 上記第1信号印加手段による電気信号に対してレベル変
化が逆位相の電気信号を上記第2平面電極に同時に印加
する第2信号印加手段と、 上記各電気信号の印加時に上記第1平面電極に生じる電
気信号に基づいて上記第1領域と上記第2領域との間の
導通状態の良否を判定する導通判定手段とを備えたこと
を特徴とする基板の導通検査装置。
1. A continuity inspection apparatus for a substrate formed so that a printed wiring on one surface and a printed wiring on the other surface are electrically connected to each other through a penetrating portion penetrating from one surface of the substrate to the other surface. First signal applying means for applying an electric signal whose level changes to a first region on the printed wiring on one surface; a first plane electrode opposed to a second region on the printed wiring on the other surface; A second planar electrode opposed to a portion of the printed wiring on the other surface between the second region and the penetrating portion, an electric signal having a level change opposite to that of an electric signal by the first signal applying means; A second signal applying unit for simultaneously applying a signal to the second plane electrode; and a signal between the first area and the second area based on an electric signal generated at the first plane electrode when each electric signal is applied. Good conduction Continuity testing device for the substrate, characterized in that a determining continuity determining means.
【請求項2】 請求項1記載の基板の導通検査装置にお
いて、更に、上記第1平面電極と上記第2平面電極との
間であって上記他方面のプリント配線に対向する位置に
配置され、接地された第3平面電極を備えたことを特徴
とする基板の導通検査装置。
2. The continuity inspection device for a substrate according to claim 1, further comprising a position between the first plane electrode and the second plane electrode and opposed to the printed wiring on the other surface. A continuity inspection device for a substrate, comprising a grounded third planar electrode.
【請求項3】 請求項1記載の基板の導通検査装置にお
いて、更に、 上記第1平面電極と上記第2平面電極との間であって上
記他方面のプリント配線に対向する位置に配置された第
4平面電極と、 上記各電気信号の印加時に上記第1平面電極に生じる電
気信号を上記第4平面電極に印加する第3信号印加手段
とを備えたことを特徴とする基板の導通検査装置。
3. The continuity inspection device for a substrate according to claim 1, further comprising: a position between the first plane electrode and the second plane electrode and opposed to the printed wiring on the other surface. A continuity inspection apparatus for a substrate, comprising: a fourth plane electrode; and third signal applying means for applying an electric signal generated on the first plane electrode to the fourth plane electrode when each of the electric signals is applied. .
【請求項4】 請求項1〜3のいずれかに記載の基板の
導通検査装置において、上記プリント配線が上記第1領
域と上記第2領域との間で断線したときに上記他方面の
プリント配線と上記第2平面電極との間に形成される静
電容量を介して上記第2信号印加手段により上記他方面
のプリント配線に印加される電気信号レベルが、上記一
方面のプリント配線と上記他方面のプリント配線との間
に形成される静電容量を介して上記第1信号印加手段に
より上記他方面のプリント配線に印加される電気信号レ
ベル以上になるように設定されていることを特徴とする
基板の導通検査装置。
4. The printed wiring of the other surface according to claim 1, wherein the printed wiring is disconnected between the first area and the second area. An electric signal level applied to the printed wiring on the other surface by the second signal applying means via a capacitance formed between the printed wiring on the other surface and the other printed wiring via the capacitance formed between the printed wiring on the other surface and the second plane electrode. The electric signal level is set to be equal to or higher than an electric signal level applied to the printed wiring on the other side by the first signal applying means via a capacitance formed between the printed wiring on the other side. Substrate continuity inspection device.
【請求項5】 基板の一方面から他方面に貫通する貫通
部を介して一方面のプリント配線と他方面のプリント配
線とが導通するように形成された基板の導通検査方法に
おいて、 経時的にレベルが変化する電気信号を上記一方面のプリ
ント配線上の第1領域に印加するとともに、 上記電気信号に対してレベル変化が逆位相の電気信号
を、上記他方面のプリント配線における第2領域と上記
貫通部との間の部分に静電容量を介して同時に印加し
て、 上記各電気信号の印加時に上記他方面のプリント配線上
の第2領域に対向配置された平面電極に生じる電気信号
に基づいて上記第1領域と上記第2領域との間の導通状
態の良否を判定するようにしたことを特徴とする基板の
導通検査方法。
5. A method for inspecting the continuity of a substrate formed such that a printed wiring on one surface is electrically connected to a printed wiring on the other surface through a penetrating portion penetrating from one surface of the substrate to the other surface. An electric signal whose level changes is applied to the first area on the printed wiring on the one surface, and an electric signal whose level change is opposite in phase to the electric signal is transmitted to the second area on the printed wiring on the other surface. An electric signal is simultaneously applied to a portion between the penetrating portion and the through-capacitance via an electrostatic capacitor. A method for inspecting the continuity of a substrate, wherein the quality of a continuity between the first area and the second area is determined based on the first and second areas.
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Cited By (2)

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112362974A (en) * 2020-09-25 2021-02-12 国网辽宁省电力有限公司大连供电公司 Intelligent wiring module for transformer dielectric loss test
CN112362974B (en) * 2020-09-25 2024-04-19 国网辽宁省电力有限公司大连供电公司 Intelligent wiring module for dielectric loss test of transformer

Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3603850B2 (en) * 2002-01-17 2004-12-22 日本電気株式会社 Printed circuit board inspection method and printed circuit board inspection apparatus
JP4559204B2 (en) * 2004-12-10 2010-10-06 日置電機株式会社 Circuit board inspection apparatus and circuit board inspection method
KR100799161B1 (en) * 2006-07-20 2008-01-29 마이크로 인스펙션 주식회사 Non-contact type single side probe and inspection apparatus and method for open/short test of pattern electrodes used thereof
JP5122512B2 (en) * 2009-04-17 2013-01-16 オー・エイチ・ティー株式会社 Circuit pattern inspection device
JP6143049B2 (en) * 2012-09-25 2017-06-07 セイコーNpc株式会社 Semiconductor device
JP6202452B1 (en) * 2016-06-01 2017-09-27 オー・エイチ・ティー株式会社 Non-contact type substrate inspection apparatus and inspection method thereof
JP6816446B2 (en) * 2016-10-21 2021-01-20 アイシン精機株式会社 Disconnection detector
JP2020012781A (en) * 2018-07-20 2020-01-23 パイオニア株式会社 Inspection device
JP7468164B2 (en) 2020-06-04 2024-04-16 Toppanホールディングス株式会社 Wiring board and inspection method thereof

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112362974A (en) * 2020-09-25 2021-02-12 国网辽宁省电力有限公司大连供电公司 Intelligent wiring module for transformer dielectric loss test
CN112362974B (en) * 2020-09-25 2024-04-19 国网辽宁省电力有限公司大连供电公司 Intelligent wiring module for dielectric loss test of transformer

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