JP2989459B2 - Spectrometer - Google Patents

Spectrometer

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JP2989459B2
JP2989459B2 JP6002349A JP234994A JP2989459B2 JP 2989459 B2 JP2989459 B2 JP 2989459B2 JP 6002349 A JP6002349 A JP 6002349A JP 234994 A JP234994 A JP 234994A JP 2989459 B2 JP2989459 B2 JP 2989459B2
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light
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智史 中津
良治 鈴木
進 森本
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Kubota Corp
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、測定対象のサンプルが
出退自在な測定部に測定用光線束を照射する光源と、測
定部を透過もしくは測定部より反射してくる測定用光線
束を分光する分光手段と、分光された測定用光線束を受
光するアレイ型受光素子とを備えて、サンプルの成分分
析をおこなう分光分析装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a light source for irradiating a measuring beam to which a sample to be measured can move back and forth, and a measuring light beam transmitted through or reflected from the measuring portion. The present invention relates to a spectroscopic analyzer for analyzing the components of a sample, comprising a spectroscopic means for splitting light and an array-type light receiving element for receiving the split light beam for measurement.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、この種の分光分析装置に備えられ
るアレイ型受光素子においては、その電荷蓄積時間が固
定されており、所定の電荷蓄積時間で、米、小麦、果物
等の成分分析をおこなっていた。
2. Description of the Related Art Conventionally, in an array type light receiving element provided in this type of spectroscopic analyzer, the charge accumulation time is fixed, and the component analysis of rice, wheat, fruit, etc. can be performed with a predetermined charge accumulation time. Was doing it.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】このような構成の装置
において、玄米、白米等の米を成分分析対象とする場
合、それらの含水分が比較的一定している(実質上13
〜16%の範囲内にある)ため、サンプル毎に大きな吸
光度の変化はなく、分光した場合にアレイ型受光素子の
測定レンジ内で適度に分布した光量を得ることができ、
結果的に、信頼性のある分析結果を得ることができる。
しかしながら、分析対象が、例えば小麦の場合は、水分
量がサンプルにより10〜40%まで大きく変動する。
従って、サンプルによって透過光量のバラツキが非常に
大きく(1桁以上異なる)、アレイ型受光素子に飽和も
しくは光量不足が起こる。即ち、波長とアレイ型素子の
出力値との関係を示す図5(ロ)に示すように、蓄積時
間を固定しておくと、受光量(出力電圧値)が低すぎた
り(図上Cで示す状態)、受光量(出力電圧値)が高す
ぎたり(図上Aで示す状態)して、以後の処理におい
て、信頼性ある結果を得るための適切なデータが得られ
ない。そこで、例えは、受光量過多の状態に対応するた
め、全ての小麦を測定できるように測定レンジ(最大光
量値)を広く取って全てのレンジをカバーしようとすれ
ば、分解能が悪くなる。一方、測定レンジを小さく取る
と、透過光量が多い場合に対応できない。図5において
夫々の出力曲線に括弧付数字で付記されている電圧は最
大出力値である。
In the apparatus having such a configuration, when rice such as brown rice or white rice is to be subjected to the component analysis, the moisture content thereof is relatively constant (substantially 13%).
1616%), so that there is no large change in absorbance for each sample, and it is possible to obtain a light amount appropriately distributed within the measurement range of the array-type light receiving element when spectrally separated.
As a result, a reliable analysis result can be obtained.
However, when the analysis target is, for example, wheat, the water content greatly varies from 10 to 40% depending on the sample.
Therefore, the variation in the amount of transmitted light is very large depending on the sample (differs by one digit or more), and saturation or insufficient light amount occurs in the array type light receiving element. That is, as shown in FIG. 5B showing the relationship between the wavelength and the output value of the array-type element, if the accumulation time is fixed, the amount of received light (output voltage value) is too low (in FIG. In the following processing, appropriate data for obtaining a reliable result cannot be obtained in the subsequent processing because the received light amount (output voltage value) is too high (the state indicated by A in the figure). Therefore, for example, in order to cope with a state where the amount of received light is excessive, if a wide measurement range (maximum light amount value) is set to cover all the ranges so that all the wheat can be measured, the resolution is deteriorated. On the other hand, if the measurement range is set small, it is not possible to cope with the case where the transmitted light amount is large. In FIG. 5, the voltage added in parentheses to each output curve is the maximum output value.

【0004】従って、本発明の目的は、含水量の変動に
係わらず適切な測定をおこなうことができる分光分析装
置を得ることにある。
Accordingly, it is an object of the present invention to provide a spectrometer capable of performing an appropriate measurement irrespective of a change in water content.

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段】請求項1に係わる分光分
析装置の特徴構成は、サンプルとしての小麦を分析対象
とするとともに、アレイ型受光素子の電荷蓄積時間が変
更可能に構成され、電荷蓄積時間を増減制御して、アレ
イ型受光素子からの出力を予め設定された所定出力範囲
内に収める電荷蓄積時間調節手段を備え、電荷蓄積時間
として、乾燥小麦に対する標準蓄積時間、生小麦に対す
る短側蓄積時間及び過乾燥小麦に対する長側蓄積時間が
夫々設定され、電荷蓄積時間調節手段が電荷蓄積時間を
前記3蓄積時間のいずれかに切換制御するものであるこ
とにある。 請求項2に係わる分光分析装置の特徴構成
は、サンプルとしての小麦を分析対象とするとともに、
アレイ型受光素子の電荷蓄積時間が変更可能に構成さ
れ、電荷蓄積時間を増減制御して、アレイ型受光素子か
らの出力を予め設定された所定出力範囲内に収める電荷
蓄積時間調節手段を備え、光源が、特定波長において最
大光量を有し、且つ特定波長から離間する波長で光量が
減少する光源であり、特定波長におけるアレイ型受光素
子の上限出力設定値と下限出力設定値が予め設定され、
電荷蓄積時間調節手段は、特定波長に対応する素子の素
子出力が上限出力設定値より大きい場合に電荷蓄積時間
を短く制御し、下限出力設定値より小さい場合に電荷蓄
積時間を長く制御するものであることにある。
According to a first aspect of the present invention, there is provided a spectroscopic analyzer, wherein wheat as a sample is analyzed and the charge storage time of the array type light receiving element is changeable. by increasing or decreasing control the time, with the charge accumulation time adjusting means to fall within a preset predetermined output range of the output from the array-type light receiving element, the charge storage time
As the standard accumulation time for dry wheat and for raw wheat
Short accumulation time and long accumulation time for overdried wheat
The charge accumulation time adjustment means sets the charge accumulation time
The switching control is performed to one of the three accumulation times.
And there. Characteristic configuration of the spectroscopic analyzer according to claim 2
Is to analyze wheat as a sample,
The charge accumulation time of the array-type photo detector can be changed.
Control the charge accumulation time to increase or decrease
Charge that keeps these outputs within a predetermined output range
An accumulation time adjusting means is provided so that the light source
It has a large amount of light, and the amount of light is
An array-type light receiving element at a specific wavelength
The upper limit output set value and the lower limit output set value of the
The charge accumulation time adjusting means is an element element for a specific wavelength.
Charge storage time when the slave output is greater than the upper limit output set value
Is controlled to be short, and charge
This is to control the product time longer.

【0006】[0006]

【作用】請求項1に係わる分光分析装置においては、
レイ型受光素子の電荷蓄積時間を可変に構成するととも
に、電荷蓄積時間調節手段を備えて、アレイ型受光素子
からの出力を所定出力範囲内に収めるように調節するた
め、素子が飽和したり、出力が小さすぎたりして、アレ
イ型受光素子からの出力がサンプルの吸光状態を良好に
代表できないものとなることはない。さらに具体的に説
明すると、透過光量に従ってアレイ型受光素子からの出
力分布を図5(イ)に示すような状態(波長に対する出
力値分布がピーク位置で上限出力設定値以下の近傍の値
になるとともに、測定レンジ内で一定の分布状態を示
す)に設定することが可能となる。従って、成分分析対
象として水分率が大きく変化する小麦を対象とする場合
においても、適切なデータ所得状態で、分析をおこなう
ことができ、信頼性の高い分析をおこなうことができ
る。更に、請求項1に係わる分光分析装置においては、
電荷蓄積時間として、乾燥小麦に対する標準蓄積時間、
生小麦に対する短側蓄積時間及び過乾燥小麦に対する長
側蓄積時間が夫々設定され、電荷蓄積時間調節手段が電
荷蓄積時間を前記3蓄積時間のいずれかに切換制御する
ものとしておくので、小麦の水分率に対応する代表的な
3つの蓄積時間で蓄積時間を簡単な構成で切換え操作す
ることにより、水分率の異なる小麦間での分析に良好に
対応できるとともに、例えば小麦の品種の違い、さらに
は粉状であるとかガラス状であるとかいった小麦の内部
性状に差異がある場合にも簡単に対応できる。 請求項2
に係わる分光分析装置においては、請求項1と同様に、
以下の作用を奏する。即ち、アレイ型受光素子の電荷蓄
積時間を可変に構成するとともに、電荷蓄積時間調節手
段を備えて、アレイ型受光素子からの出力を所定出力範
囲内に収めるように調節するため、素子が飽和したり、
出力が小さすぎたりして、アレイ型受光素子からの出力
がサンプルの吸光状態を良好に代表できないものとなる
ことはない。さらに具体的に説明すると、透過光量に従
ってアレイ型受光素子からの出力分布を図5(イ)に示
すような状態(波長に対する出力値分布がピーク位置で
上限出力設定値以下の近傍の値になるとともに、測定レ
ンジ内で一定の分 布状態を示す)に設定することが可能
となる。従って、成分分析対象として水分率が大きく変
化する小麦を対象とする場合においても、適切なデータ
所得状態で、分析をおこなうことができ、信頼性の高い
分析をおこなうことができる。 更に、請求項2に係わる
分光分析装置においては、光源が、特定波長において最
大光量を有し、且つ特定波長から離間する波長で光量が
減少する光源であり、特定波長におけるアレイ型受光素
子の上限出力設定値と下限出力設定値が予め設定され、
電荷蓄積時間調節手段は、特定波長に対応する素子の素
子出力が上限出力設定値より大きい場合に電荷蓄積時間
を短く制御し、下限出力設定値より小さい場合に電荷蓄
積時間を長く制御するものとしておくので、分光された
測定用光線束の光量状態を特定波長に於ける限界値間
(上限出力設定値及び下限出力設定値間)で、簡単且つ
迅速に適切な電荷蓄積時間を設定することができる。
In the spectroscopic analyzer according to the first aspect, the charge accumulation time of the array type light receiving element is variably configured, and a charge accumulation time adjusting means is provided so that the output from the array type light receiving element is within a predetermined output range. Since the element is adjusted to be within the range, the element does not saturate or the output is too small, so that the output from the array-type light receiving element does not sufficiently represent the light absorption state of the sample. More specifically, the output distribution from the array-type light receiving element is changed according to the amount of transmitted light as shown in FIG. 5A (the output value distribution with respect to wavelength becomes a value near the upper limit output set value or less at the peak position. At the same time, a constant distribution state is shown within the measurement range). Therefore, even when wheat whose moisture content varies greatly as a component analysis target is analyzed, analysis can be performed in an appropriate data income state, and highly reliable analysis can be performed. Further, in the spectroscopic analyzer according to claim 1,
Standard accumulation time for dry wheat as charge accumulation time,
Short side accumulation time for raw wheat and long for overdried wheat
Side storage times are set, and the charge storage time
The load accumulation time is switched to one of the three accumulation times.
Because it is assumed that the representative moisture corresponding to the moisture content of wheat
Switching operation of the accumulation time with a simple configuration using three accumulation times
This makes it possible to analyze between wheats with different moisture content.
We can deal with it, for example, differences in wheat varieties,
Is the inside of wheat, such as powdery or glassy
Even if there are differences in properties, it can be easily handled. Claim 2
In the spectrometer according to the first aspect, as in the first aspect,
The following operation is achieved. That is, the charge storage of the array type light receiving element
The product time can be made variable and the charge accumulation time can be adjusted.
A stage is provided to control the output from the array
To adjust so that it fits within the enclosure, the element may saturate,
The output from the array type photodetector is too small
Can not represent the absorbance state of the sample well
Never. More specifically, according to the amount of transmitted light,
Fig. 5 (a) shows the output distribution from the array type light receiving element.
(The output value distribution with respect to wavelength
When the value becomes close to or less than the upper limit output set value,
Can be set to indicate a certain the distribution state in the Nji)
Becomes Therefore, the moisture content of the target for component analysis greatly changes.
Appropriate data even when targeting wheat
Analytical, reliable, income status
An analysis can be performed. Further, according to claim 2
In a spectrometer, the light source is
It has a large amount of light, and the amount of light is
An array-type light receiving element at a specific wavelength
The upper limit output set value and the lower limit output set value of the
The charge accumulation time adjusting means is an element element for a specific wavelength.
Charge storage time when the slave output is greater than the upper limit output set value
Is controlled to be short, and charge
Since the product time is controlled for a long time,
The light intensity of the measurement light beam is between the limit values at a specific wavelength.
(Between upper limit output set value and lower limit output set value)
An appropriate charge accumulation time can be quickly set.

【0007】[0007]

【発明の効果】従って、含水量の変動に係わらず適切な
測定をおこなうことができる分光分析装置を得ることが
できた。
As described above, a spectrometer capable of performing an appropriate measurement irrespective of a change in water content can be obtained.

【0008】[0008]

【0009】[0009]

【実施例】以下に本発明における分光分析装置の一実施
例である小麦(品種チホク)をサンプルSとする分光分
析装置について説明する。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS A spectroscopic analyzer using wheat (variety Chihoku) as a sample S, which is an embodiment of the spectroscopic analyzer according to the present invention, will be described below.

【0010】分光分析装置は、図1に示すように、光源
1と、光源1からの測定用光線束を成形する第一光学系
2と、サンプル測定状態において測定用光線束が照射さ
れるサンプル保持部3と、そのサンプル保持部3で保持
されたサンプルSを透過した測定用光線束を集光する第
二光学系4と、その第二光学系4により集光された測定
用光線束を分光分析する分光分析部5とを光軸Pに沿っ
て配置して構成してある。
As shown in FIG. 1, the spectroscopic analyzer includes a light source 1, a first optical system 2 for shaping a measurement light beam from the light source 1, and a sample to which the measurement light beam is irradiated in a sample measurement state. A holding unit 3, a second optical system 4 for collecting the measurement light beam transmitted through the sample S held by the sample holding unit 3, and a measurement light beam collected by the second optical system 4. The spectroscopic analysis unit 5 for performing spectroscopic analysis is arranged along the optical axis P.

【0011】前記光源1は、タングステン−ハロゲン電
球によって構成してある。前記第一光学系2は、前記サ
ンプル保持部3に向かう光線束を平行光線束に成形する
レンズ2aを備え、さらに測定用光線束の光軸P上で光
源1と分光分析部5との間(実施例においてはサンプル
保持部3の分光分析部5側)に、この光線束を所定の状
態に切換える切換手段200を備えている。この切換手
段200は、軸芯周りに回転する回転円板20を備えて
おり、図2に示すように、測定用光線束を透過させて校
正光線束とする校正フィルタを備えた波長校正部20a
と、測定用光線束を透過させてリファレンス光線束とす
るリファレンス部20bと、測定用光線束を遮断する暗
電流測定用遮蔽部20cと測定用光線束をそのまま通過
させる切欠き部20dとを周方向に備えている。そし
て、回転円板20が回転軸21周りに回転することによ
り、それぞれの状態に透過光の状態が切換られる。さ
て、前述の校正光線束は図3に示すように、一対の特定
波長(λ1λ2)にピークを備えた光線束であり、予め特
定されている一対のピーク波長とこれらのピーク波長を
受光することとなるアレイ型受光素子7の一対の対応素
子の位置関係から、アレイ型受光素子を構成する各素子
と、それぞれの素子が受光する光の波長との間で対応を
取る(校正をおこなう)ことができる。一方、リファレ
ンス光線束はリファレンス部20bに備えられる減光フ
ィルター等により標準的な光量減少を起こされた光線束
であり、このリファレンス光線束を形成するリファレン
ス部20bは標準的な吸光度を有する構成となってい
る。
The light source 1 is constituted by a tungsten-halogen lamp. The first optical system 2 includes a lens 2a for shaping a light beam heading toward the sample holding unit 3 into a parallel light beam. Further, the first optical system 2 is provided between the light source 1 and the spectral analysis unit 5 on the optical axis P of the measurement light beam. (In the embodiment, the spectral analysis unit 5 side of the sample holding unit 3) is provided with a switching unit 200 for switching this light beam to a predetermined state. The switching means 200 includes a rotating disk 20 that rotates around an axis, and as shown in FIG. 2, a wavelength calibrating unit 20a having a calibration filter that transmits a measurement light beam and converts it into a calibration light beam.
A reference portion 20b that transmits the measurement light beam to make it a reference light beam, a dark current measurement shielding portion 20c that blocks the measurement light beam, and a cutout portion 20d that passes the measurement light beam as it is. Prepare for the direction. The state of the transmitted light is switched to each state by the rotation of the rotating disk 20 around the rotation axis 21. As shown in FIG. 3, the above-mentioned calibration light flux is a light flux having a peak at a pair of specific wavelengths (λ 1 λ 2 ). Based on the positional relationship between a pair of corresponding elements of the array-type light receiving element 7 to receive light, correspondence is established between each element constituting the array-type light receiving element and the wavelength of light received by each element (calibration is performed). Can do). On the other hand, the reference light beam is a light beam whose standard light amount has been reduced by a neutral density filter or the like provided in the reference portion 20b, and the reference portion 20b forming the reference light beam has a configuration having a standard absorbance. Has become.

【0012】前記サンプル保持部3は、石英硝子製の容
器3aによって構成してあり、その容器3a内には、サ
ンプルSとしての小麦を収容してある。この容器3aは
図示するように、測定用光線束の光軸Pが通っている測
定部30に対して、光軸Pを横切る状態と光軸Pから離
間する状態とに出退手段30aを備えて出退自在に構成
されている。前記第二光学系4は、前記サンプルSを透
過した光線束を前記分光分析部5の入射孔5a位置で集
光させる集光レンズ4aと、光路への有害光の進入を防
止する暗箱4bとで構成してある。
The sample holding unit 3 is constituted by a quartz glass container 3a, in which wheat as a sample S is stored. As shown in the figure, the container 3a has a retracting means 30a for a measuring section 30 through which the optical axis P of the measuring light beam passes, in a state crossing the optical axis P and a state separating from the optical axis P. It is configured to be able to move in and out freely. The second optical system 4 includes a condenser lens 4a for condensing the light beam transmitted through the sample S at the position of the entrance hole 5a of the spectral analyzer 5, and a dark box 4b for preventing harmful light from entering the optical path. It consists of.

【0013】前記分光分析部5は、前記第二光学系4に
隣接する暗箱5bを設け、その暗箱5b内で、入射光線
束を分光反射する分光手段としての凹面回折格子6と、
分光反射された各波長毎の光線束強度を検出するアレイ
型受光素子7とを設けて構成してある。また、前記暗箱
5b内の測定用光路における前記入射孔5aと前記凹面
回折格子6との間には、前記入射孔5aからの入射光線
束を凹面回折格子6に向けて反射させる反射鏡8を設け
てある。即ち、前記分光分析部5はポリクロメータ型の
分光計である。
The spectroscopic analysis unit 5 includes a dark box 5b adjacent to the second optical system 4, and within the dark box 5b, a concave diffraction grating 6 serving as a spectral unit for spectrally reflecting an incident light beam;
An array type light receiving element 7 for detecting the intensity of the light beam for each wavelength that has been spectrally reflected is provided. Further, between the entrance hole 5a and the concave diffraction grating 6 in the measurement optical path in the dark box 5b, a reflecting mirror 8 for reflecting the incident light beam from the entrance hole 5a toward the concave diffraction grating 6 is provided. It is provided. That is, the spectroscopic analysis unit 5 is a polychromator type spectrometer.

【0014】前記アレイ型受光素子7は、前記凹面回折
格子6による光線束の分散光路上の前記暗箱5bに設け
た受光素子固定部9に固定設置してあり、シリコン(S
i)又は硫化鉛(PbS)又はゲルマニウム(Ge)セ
ンサで構成してある。
The array type light receiving element 7 is fixedly installed on a light receiving element fixing portion 9 provided in the dark box 5b on the optical path for dispersing a light beam by the concave diffraction grating 6, and is made of silicon (S).
i) or a lead sulfide (PbS) or germanium (Ge) sensor.

【0015】このアレイ型受光素子7からの検出信号
は、処理手段70に送られ、この処理手段70により処
理され、以下の動作順序に示すように吸光度のスペクト
ル、このスペクトルの二次微分値等のスペクトル関連情
報が求められる。そして、これらのスペクトル関連情報
からサンプルSの水分値、タンパク値、アミロース値と
いった成分量が、処理手段70に格納されている検量式
に従って求められる。さらに、前述の切換手段200と
処理手段70との連係が制御手段10によって採られて
いる。
The detection signal from the array type light receiving element 7 is sent to a processing means 70, and is processed by the processing means 70. As shown in the following operation order, the spectrum of the absorbance, the second derivative of this spectrum, etc. Is required. Then, the component amounts such as the moisture value, the protein value, and the amylose value of the sample S are obtained from the spectrum related information in accordance with the calibration formula stored in the processing means 70. Further, the link between the switching means 200 and the processing means 70 is adopted by the control means 10.

【0016】さて、この分光分析装置には、サンプルS
を測定部30に配置してサンプル測定をおこなう場合
に、サンプルSの透過光量レベルを試し測定し、アレイ
型受光素子7の蓄積時間を自動的(切換え、変更)に3
段階に切り換える電荷蓄積時間調節手段71が備えられ
ている。即ち、電荷蓄積時間調節手段71には、予め電
荷蓄積時間として、乾燥小麦に対する標準蓄積時間(具
体的には400ms)、生小麦に対する短側蓄積時間
(具体的には200ms)及び過乾燥小麦に対する長側
蓄積時間(具体的には600ms)が夫々登録されてい
る。一方、図5に示すように、光源1は、特定波長(最
大光量の波長)λc において最大光量を有し、且つ特定
波長λc から離間する波長で光量が減少する特性を有す
るため、この特定波長λc におけるアレイ型受光素子の
上限出力設定値Vmaxと下限出力設定値Vminが予
め設定され、特定波長λc に対応する素子の素子出力が
上限出力設定値Vmaxより大きい場合に電荷蓄積時間
を短く制御し(具体的には、試し測定の場合に400m
sに設定されていて、前記特定波長λc に対応する素子
の出力が上限出力設定値Vmaxを越える場合は、20
0msに切り換える)、前記下限出力設定値Vminよ
り小さい場合に電荷蓄積時間を長く制御する(具体的に
は、試し測定の場合に400msに設定されていて、前
記特定波長λc に対応する素子の出力が下限出力設定値
Vminより小さい場合は、600msに切り換える)
ように構成されている。従って、この調節手段71は、
透過光量レベル(素子からの出力値)が、図5(ロ)の
Aで示す状態(出力値が素子出力の最高値となる波長域
が多くある状態)においては、その素子蓄積時間を短く
選択し、一方図5(ロ)のCで示す状態(出力値がかな
り低い波長域が多くある状態)においては、その素子蓄
積時間を長く選択するように動作する。そして、このよ
うに選択することにより、測定値レベル(出力値)の不
正適正測定波長域(素子が飽和状態にあったり、出力値
が小さすぎたりする波長域)を無くすることができると
ともに測定レンジを狭くでき、分解能の向上が可能とな
る。さらに具体的に従来のものと比較すると、従来の固
定型における電荷蓄積時間は400msであり、素子出
力として、水分率の変化に従って0〜8Vまで測定でき
るレンジが必要であったが、本願の切換え方式のものに
おいては、電荷蓄積時間が、図5(イ)に示すA状態で
200ms、B状態で400ms、C状態で600ms
の3状態に切り換えることができ、測定レンジは0〜4
Vで測定ができる。
Now, the sample S
Is placed in the measuring section 30 to measure the sample, the transmitted light amount level of the sample S is trially measured, and the accumulation time of the array type light receiving element 7 is automatically (switched, changed) by three.
A charge storage time adjusting means 71 for switching between stages is provided. That is, the charge accumulation time adjusting means 71 previously stores the standard accumulation time for dry wheat (specifically, 400 ms), the short accumulation time for raw wheat (specifically, 200 ms), and the charge accumulation time for over-dried wheat. The long accumulation time (specifically, 600 ms) is registered. On the other hand, as shown in FIG. 5, the light source 1 has a maximum light amount has, and specific wavelength lambda characteristic quantity is decreased at a wavelength away from the c in lambda c (the wavelength of maximum light amount) specific wavelength, this array-type upper output setting value Vmax and the lower limit power setting value Vmin of the light receiving element is set in advance at a particular wavelength lambda c, the charge accumulation time in the case where the element output element corresponding to a particular wavelength lambda c is larger than the upper limit power setting value Vmax Is controlled to be short (specifically, 400 m for trial measurement).
s and the output of the element corresponding to the specific wavelength λ c exceeds the upper limit output set value Vmax, 20
Switch to 0ms), the said lower output setting value for controlling a longer charge accumulation time if Vmin is smaller than (specifically, is set to 400ms if the trial measurement, the elements corresponding to the specific wavelength lambda c If the output is smaller than the lower limit output set value Vmin, switch to 600 ms)
It is configured as follows. Therefore, this adjusting means 71
In the state where the transmitted light amount level (output value from the element) is indicated by A in FIG. 5 (b) (there are many wavelength ranges where the output value is the maximum value of the element output), the element accumulation time is selected to be short. On the other hand, in the state indicated by C in FIG. 5B (the state where there are many wavelength ranges where the output value is considerably low), the operation is performed so as to select a longer element storage time. By making such a selection, it is possible to eliminate the incorrectly measured wavelength range (wavelength range where the element is in a saturated state or the output value is too small) of the measured value level (output value) and perform the measurement. The range can be narrowed, and the resolution can be improved. More specifically, the charge accumulation time of the conventional fixed type is 400 ms, and the device output needs a range capable of measuring from 0 to 8 V according to the change in the moisture content. 5A, the charge accumulation time is 200 ms in the A state, 400 ms in the B state, and 600 ms in the C state shown in FIG.
Can be switched to the three states of
V can be measured.

【0017】以下に本願の分光分析装置の動作順序を図
4に従って箇条書き形式で説明する。データの処理は前
述の切換手段200と連動した処理手段70によりおこ
なわれる。 1 測定開始(波長校正データ収拾過程) この状態は、図4(イ)に示される状態であり、測定部
30に対して容器3aは引退した状態に保持されてお
り、測定部30には何もない。一方、回転円板20はそ
の原点状態である波長校正部20aが光軸P上に位置さ
れる状態をとる。そして、測定用光線束が照射される
と、この波長校正部20aを透過した光線束は、一対の
特定波長(λ1λ2)にピークを有する校正光線束とさ
れ、この正光線束がアレイ型受光素子7によって受光さ
れ、各素子と波長との位置対応が取られる。これは、サ
ンプル測定毎におこなわれる。
The operation sequence of the spectroscopic analyzer of the present invention will be described below in a bulleted form according to FIG. The data processing is performed by the processing means 70 linked with the switching means 200 described above. 1 Start of Measurement (Process of Collecting Wavelength Calibration Data) This state is the state shown in FIG. 4A, in which the container 3a is held in a retired state with respect to the measurement unit 30. Nor. On the other hand, the rotating disk 20 assumes a state in which the wavelength calibrating unit 20a, which is the origin state, is positioned on the optical axis P. When the measurement light beam is irradiated, the light beam transmitted through the wavelength calibration unit 20a is converted into a calibration light beam having a peak at a pair of specific wavelengths (λ 1 λ 2 ). The light is received by the light receiving element 7, and the correspondence between each element and the wavelength is obtained. This is performed for each sample measurement.

【0018】2−1 リファレンス情報収拾過程 この状態は、図4(ロ)に示される状態であり、前記過
程と同様に、測定部30に対して容器3aは引退した状
態に保持されており、測定部30には何もない。一方、
回転円板20は回転してリファレンス部20bが光軸P
上に位置される状態をとる。そして、測定用光線束が照
射されると、このリファレンス部20bを透過した光線
束は、測定状態(温度)にあるリファレンス(摩りガラ
ス等)を透過することによりリファレンス光線束とさ
れ、リファレンス情報Rdが得られる。 2−2 リファレンス情報収拾時点での暗情報収拾過程 この状態は、図4(ハ)に示される状態であり、回転円
板20は回転して暗電流測定用遮蔽部20cが光軸上に
位置される。従って、この状態においては、アレイ型受
光素子7へ光は入光せず、測定状態におけるリファレン
ス暗情報Drが得られる。一方、容器3a内へのサンプ
ルの充填がおこなわれた容器3aが測定部30に移動さ
れる。ここで、リファレンス情報Rdとリファレンス情
報収拾時点での暗情報Dr収拾においては、電荷蓄積時
間としては、上述の標準蓄積時間(具体的には400m
s)でおこなわれる。このようにリファレンス関連の情
報を収拾する場合の電荷蓄積時間を第1電荷蓄積時間と
呼ぶ。
2-1 Reference Information Collection Process This state is the state shown in FIG. 4B, and the container 3a is held in a state of being retracted with respect to the measurement unit 30 as in the above-described process. There is nothing in the measurement unit 30. on the other hand,
The rotating disk 20 is rotated so that the reference portion 20b has the optical axis P.
Take the state located above. Then, when the measurement light beam is irradiated, the light beam transmitted through the reference portion 20b passes through a reference (ground glass or the like) in a measurement state (temperature) to be a reference light beam, and is referred to as reference information Rd. Is obtained. 2-2 Dark Information Collection Process at Reference Information Collection This state is the state shown in FIG. 4C, in which the rotating disk 20 rotates and the dark current measurement shield 20c is positioned on the optical axis. Is done. Therefore, in this state, no light enters the array type light receiving element 7, and reference dark information Dr in the measurement state is obtained. On the other hand, the container 3a in which the sample is filled into the container 3a is moved to the measuring unit 30. Here, in the collection of the reference information Rd and the dark information Dr at the time of collection of the reference information, the charge accumulation time is the standard accumulation time described above (specifically, 400 m
s). The charge accumulation time when collecting reference-related information in this manner is referred to as a first charge accumulation time.

【0019】3 波長校正処理過程 上記の過程を終了した後、処理手段70内において波長
校正(ソフト上の処理)をおこなう。
3. Wavelength Calibration Processing Step After the above steps are completed, wavelength calibration (processing on software) is performed in the processing means 70.

【0020】4−1 サンプルデータ収拾過程 この状態は、図4(ニ)に示される状態であり、測定部
30に容器3aは位置されており、測定光線束はサンプ
ルを透過してくることとなる。一方、回転円板20は回
転して切欠き部20dが光軸P上に位置される状態をと
る。従って、測定用光線束が照射され、サンプルを透過
してきた透過光を受光することによりサンプル情報Sd
を得ることができる。この過程において、前述の蓄積時
間調節手段71が作動し、サンプルの透過光量レベルを
試し測定するとともに、アレイ型受光素子7の蓄積時間
を、図5(イ)に示すいずれか一つの状態の出力状態に
するように自動的に3段階に切り換える。さらに具体的
に異なった水分率の小麦の場合について説明すると、水
分率が25%以上の場合はA状態(特定波長λcの素子
出力がVmax以上となる)で示す200msの蓄積時間
に、水分率が15〜25%の場合はB状態(特定波長λ
cの素子出力がVmaxとVminとの間にはいる)で示す4
00msの蓄積時間に、さらには15%以下の場合はほ
ぼC状態(特定波長λcの素子出力がVmin以下となる)
で示す600msの蓄積時間に切換られて、図5(イ)
に示すいずれか一つの様な測定状態が確保される。ここ
で、切換の判断基準は予め設定されている上限出力設定
値Vmaxと下限出力設定値Vminであり、サンプルSの水
分率、内部性状(粉状かガラス状か)、品種等によるも
のではない。このような構成を取ることにより、測定に
おける分解能の向上により測定精度も向上する(測定レ
ンジが1/2になれば分解能が2倍になる)。 4−2 サンプル情報収拾時点での暗情報収拾過程 この状態は、図4(ハ)に示される状態であり、回転円
板20は回転して暗電流測定用遮蔽部20cが光軸上に
位置される。従って、この状態においては、アレイ型受
光素子7へ光は入光せず、測定状態におけるサンプル暗
情報Dsが得られる。ここで、サンプル情報Sdとサン
プル情報収集時点での暗情報Ds収集においては、夫々
電荷蓄積時間としては、上述の試し測定で設定される電
荷蓄積時間(具体的には3種の電荷蓄積時間のいずれ
か)でおこなわれる。このようにサンプル関連の情報を
収拾する場合の電荷蓄積時間を第2電荷蓄積時間と呼
ぶ。
4-1 Sample Data Collection Process This state is the state shown in FIG. 4D, in which the container 3a is located in the measuring section 30 and the measuring light beam is transmitted through the sample. Become. On the other hand, the rotating disk 20 is rotated so that the notch 20d is positioned on the optical axis P. Therefore, the sample information Sd is irradiated by the measurement light beam and receiving the transmitted light transmitted through the sample.
Can be obtained. In this process, the above-mentioned accumulation time adjusting means 71 is operated to test-measure the transmitted light level of the sample and to set the accumulation time of the array type light receiving element 7 in one of the states shown in FIG. The state is automatically switched to three stages. Referring to further case of wheat specifically different moisture content, the 200ms storage time indicated in the case moisture content of more than 25% A state (element output of a particular wavelength lambda c is equal to or greater than V max), When the moisture content is 15 to 25%, the state B (specific wavelength λ
4 the element output c is shown by entering) between the V max and V min
The storage time of 00ms, more (the element output of a particular wavelength lambda c is less V min) approximately C state in the case of 15% or less
Is switched to the accumulation time of 600 ms shown in FIG.
The measurement state as shown in FIG. Here, the criterion of switching is the upper limit output set value V max and the lower limit power setting value V min, which is set in advance, the moisture content of the sample S, (or powdery or glassy) internal condition, due to variety etc. is not. By adopting such a configuration, the measurement accuracy is also improved by improving the resolution in the measurement (the resolution is doubled when the measurement range is halved). 4-2 Dark Information Collection Process at the Time of Sample Information Collection This state is the state shown in FIG. 4C, in which the rotating disk 20 rotates and the dark current measurement shield 20c is positioned on the optical axis. Is done. Accordingly, in this state, no light enters the array type light receiving element 7, and the sample dark information Ds in the measurement state is obtained. Here, in the collection of the sample information Sd and the dark information Ds at the time of collection of the sample information, the charge storage time is set as the charge storage time (specifically, the three types of charge storage times) set in the above-described trial measurement. Either). The charge accumulation time when collecting sample-related information in this manner is referred to as a second charge accumulation time.

【0021】5 吸光度、その他のスペクトルデータの
算出過程 上記の過程で得られている、サンプル情報Sd、リファ
レンス情報Rd、サンプル暗情報Ds、リファレンス暗
情報Drより、以下の式に従って吸光度dが得られる。 吸光度 d=log((Rd−Dr)/(Sd−D
s)) さらに、この吸光度のスペクトルより吸光度スペクトル
の波長領域における二次微分値が求められる。そして、
複数の設定波長におけるスペクトルの二次微分値を使用
して、サンプル内の各成分(水分値、タンパク値、アミ
ロ最高粘度値等)の成分値が求められる。この演算にお
いて、本願の分光分析装置においては、波長校正、リフ
ァレンス測定、暗出力測定が測定毎におこなわれるた
め、成分量の推定を正確におこなうことができる。従っ
て、測定の信頼性が向上する。
5. Absorbance and other spectral data calculation process From the sample information Sd, reference information Rd, sample dark information Ds, and reference dark information Dr obtained in the above process, an absorbance d is obtained according to the following equation. . Absorbance d = log ((Rd-Dr) / (Sd-D
s)) Further, the second derivative in the wavelength region of the absorbance spectrum is obtained from the absorbance spectrum. And
Using the second derivative of the spectrum at a plurality of set wavelengths, the component value of each component (moisture value, protein value, amylo maximum viscosity value, etc.) in the sample is determined. In this calculation, in the spectroscopic analyzer of the present application, since the wavelength calibration, the reference measurement, and the dark output measurement are performed for each measurement, the component amount can be accurately estimated. Therefore, the reliability of the measurement is improved.

【0022】〔別実施例〕 (イ) 上記の実施例においては、蓄積時間を3つ用意
しておいたが、この個数は任意に設定することが可能で
あるとともに、電荷蓄積時間調節手段の光量不足もしく
は過多の判断に従って、順次、設定単位で電荷蓄積時間
を増減させるものとして構成してもよい。 (ロ) 上記の実施例においては、光源が最大光量を示
す特定波長の受光光量(素子出力)を基準に、光量不足
もしくは過多の判断をおこなったが、全波長域における
最大出力値を基準に光量不足もしくは過多の判断をおこ
なう、さらには、全波長域において出力値の積分をおこ
なって、この積分値から判断をおこなうこともできる。 (ハ) 先の実施例では、光源1にタングステン−ハロ
ゲン電球を用いているが、これに限定するものではな
く、サンプルS及び測定目的に応じて適宜設定可能であ
り、赤外線全域で連続スペクトル放射を持つ光源1とし
ての熱放射体(黒体炉)や、その他水銀灯、Ne放電管
等の光源1や、ラマン散乱を測定するための単色光を発
光するレーザ等を用いることができ、その構成も適宜変
更可能である。 (ニ) さらに、上記の実施例においては、サンプルS
を透過してくる測定用光線束によって分析をおこなった
が、これを反射光としてもよい。
[Alternative Embodiment] (a) In the above embodiment, three accumulation times are prepared. However, the number can be set arbitrarily and the number of charge accumulation time adjusting means can be adjusted. The charge accumulation time may be sequentially increased or decreased in set units in accordance with the determination of the light quantity shortage or excess. (B) In the above embodiment, the light quantity is determined to be insufficient or excessive based on the received light quantity (element output) of the specific wavelength indicating the maximum light quantity of the light source. It is also possible to determine whether the amount of light is insufficient or excessive, or to integrate the output values over the entire wavelength range and make a determination from this integrated value. (C) In the above embodiment, a tungsten-halogen lamp is used as the light source 1. However, the present invention is not limited to this, and can be set as appropriate according to the sample S and the measurement purpose. A heat radiator (black body furnace) as a light source 1 having a light source, a light source 1 such as a mercury lamp or a Ne discharge tube, a laser emitting monochromatic light for measuring Raman scattering, or the like can be used. Can also be changed as appropriate. (D) Further, in the above embodiment, the sample S
Although the analysis was performed using the measurement light beam transmitted through the light source, this may be used as reflected light.

【0023】(ホ) 上記の実施例においては、切換手
段に回転円板を備えて、これを回転させることにより各
段階を経るようにしたが、図6に示すように、単に平板
状の部材22に各部位(波長校正部20a、リファレン
ス部20b、暗電流測定用遮蔽120c、切欠き部20
d)を備えておき、この部材22を光軸Pに対して移動
させることにより測定用光線束の状態を決定するものと
してもよい。 (ヘ) 上記の実施例においては、分析対象としてチホ
ク小麦の例を示したが、水分率が大きく変化する穀物
(特に小麦)に対しては、本願の構成は有効に働くこと
となる。
(E) In the above embodiment, the switching means is provided with a rotating disk, and each step is performed by rotating the rotating disk. However, as shown in FIG. Reference numeral 22 designates each part (wavelength calibration unit 20a, reference unit 20b, dark current measurement shield 120c, notch unit 20c).
d) may be provided, and the state of the measurement light beam may be determined by moving the member 22 with respect to the optical axis P. (F) In the above-described embodiment, the example of the wheat flour was shown as the analysis target. However, the configuration of the present application works effectively for grains (especially wheat) whose moisture content changes greatly.

【0024】尚、特許請求の範囲の項に図面との対照を
便利にするために符号を記すが、該記入により本発明は
添付図面の構成に限定されるものではない。
In the claims, reference numerals are provided for convenience of comparison with the drawings, but the present invention is not limited to the configuration shown in the attached drawings.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】分光分析装置の構成を示す図FIG. 1 is a diagram showing a configuration of a spectroscopic analyzer.

【図2】回転円板の構成を示す図FIG. 2 is a diagram showing a configuration of a rotating disk.

【図3】校正光線束の状態を示す図FIG. 3 is a diagram showing a state of a calibration light beam;

【図4】各測定状態に於ける光源、サンプル容器、回転
円板、分光分析部の位置関係を示す図。
FIG. 4 is a diagram showing a positional relationship among a light source, a sample container, a rotating disk, and a spectroscopic analyzer in each measurement state.

【図5】電荷蓄積状態を示す図FIG. 5 is a diagram showing a charge accumulation state;

【図6】切換手段の別構成例を示す図FIG. 6 is a diagram showing another configuration example of the switching means.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 光源 6 分光手段 7 アレイ型受光素子30 測定部 71 電荷蓄積時間調節手段 S サンプルDESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Light source 6 Spectroscopic means 7 Array type light receiving element 30 Measurement part 71 Charge accumulation time adjusting means S sample

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 森本 進 兵庫県尼崎市浜1丁目1番1号 株式会 社クボタ 技術開発研究所内 (72)発明者 清水 昭佳 大阪府八尾市神武町2番35号 株式会社 クボタ 久宝寺工場内 (56)参考文献 特開 昭57−128823(JP,A) 特開 昭62−188918(JP,A) 特開 昭62−137541(JP,A) 特公 平3−1616(JP,B2) (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) G01N 21/00 - 21/01 G01N 21/17 - 21/61 JICSTファイル(JOIS)────────────────────────────────────────────────── ─── Continued on the front page (72) Inventor Susumu Morimoto 1-1-1, Hama, Amagasaki City, Hyogo Prefecture Inside Kubota Technology Development Laboratory Co., Ltd. (72) Inventor Shoka Shimizu 2-35 Jinmucho, Yao City, Osaka (56) References JP-A-57-128823 (JP, A) JP-A-62-188918 (JP, A) JP-A-62-137541 (JP, A) (JP, B2) (58) Fields surveyed (Int. Cl. 6 , DB name) G01N 21/00-21/01 G01N 21/17-21/61 JICST file (JOIS)

Claims (2)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 測定対象のサンプル(S)が出退自在な
測定部(30)に測定用光線束を照射する光源(1)
と、前記測定部(30)を透過もしくは前記測定部(3
0)より反射してくる測定用光線束を分光する分光手段
(6)と、分光された前記測定用光線束を受光するアレ
イ型受光素子(7)とを備えて、前記サンプル(S)の
成分分析をおこなう分光分析装置であって、前記サンプ
ル(S)としての小麦を分析対象とするとともに、前記
アレイ型受光素子(7)の電荷蓄積時間が変更可能に構
成され、前記電荷蓄積時間を増減制御して、前記アレイ
型受光素子(7)からの出力を予め設定された所定出力
範囲内に収める電荷蓄積時間調節手段(71)を備え
前記電荷蓄積時間として、乾燥小麦に対する標準蓄積時
間、生小麦に対する短側蓄積時間及び過乾燥小麦に対す
る長側蓄積時間が夫々設定され、前記電荷蓄積時間調節
手段(71)が前記電荷蓄積時間を前記3蓄積時間のい
ずれかに切換制御するものである分光分析装置。
A light source (1) for irradiating a measurement light beam to a measurement unit (30) from which a sample (S) to be measured can come and go.
Through the measuring unit (30) or the measuring unit (3
0) a spectroscopic means (6) for dispersing the measurement light flux reflected from the sample (S), and an array-type light receiving element (7) for receiving the separated measurement light flux. A spectrometer for performing component analysis, wherein wheat as the sample (S) is to be analyzed, and the charge accumulation time of the array-type light receiving element (7) is changeable. Charge accumulation time adjusting means (71) for increasing / decreasing control to keep the output from the array type light receiving element (7) within a predetermined output range set in advance ;
As the charge accumulation time, the standard accumulation time for dry wheat
Short term accumulation time for raw wheat and for dry wheat
The long accumulation time is set respectively, and the charge accumulation time is adjusted.
The means (71) sets the charge accumulation time to the three accumulation times.
A spectroscopic analyzer that performs switching control on either side .
【請求項2】 測定対象のサンプル(S)が出退自在な
測定部(30)に測定用光線束を照射する光源(1)
と、前記測定部(30)を透過もしくは前記測定部(3
0)より反射してくる測定用光線束を分光する分光手段
(6)と、分光された前記測定用光線束を受光するアレ
イ型受光素子(7)とを備えて、前記サンプル(S)の
成分分析をおこなう分光分析装置であって、前記サンプ
ル(S)としての小麦を分析対象とするとともに、前記
アレイ型受光素子(7)の電荷蓄積時間が変更可能に構
成され、前記電荷蓄積時間を増減制御して、前記アレイ
型受光素子(7)からの出力を予め設定された所定出力
範囲内に収める電荷蓄積時間調節手段(71)を備え、
前記光源(1)が、特定波長λ c において最大光量を有
し、且つ前記特定波長λ c から離間する波長で光量が減
少する光源であり、前記特定波長λ c における前記アレ
イ型受光素子(7)の上限出力設定値V max と下限出力
設定値V min が予め設定され、前記電荷蓄積時間調節手
段(71)は、前記特定波長λ c に対応する素子の素子
出力が前記上限出力設定値V max より大きい場合に前記
電荷蓄積時間を短く制御し、前記下限出力設定値V min
より小さい場合に前記電荷蓄積時間を長く制御するもの
である分光分析装置。
2. The sample (S) to be measured can be moved out and back.
A light source (1) for irradiating a measuring light beam to a measuring unit (30)
Through the measuring unit (30) or the measuring unit (3
0) Spectral means for dispersing the measuring light beam reflected from
(6) and an array for receiving the split measurement light beam.
A light receiving element (7), and the sample (S)
A spectrometer for performing component analysis, comprising:
(S) as the object of analysis,
The charge accumulation time of the array type light receiving element (7) can be changed.
Controlling the charge accumulation time to increase or decrease
Output from the photodetector (7) is predetermined
A charge accumulation time adjusting means (71) within the range;
Said light source (1) is, have a maximum amount of light at a particular wavelength lambda c
And, and the reduced amount of light at wavelengths away from certain wavelengths lambda c
A small light source, the in the specific wavelength lambda c Ares
Upper output setting value V max and the lower limit output Lee light-receiving device (7)
The set value Vmin is set in advance, and the charge accumulation time adjustment procedure is performed.
Stage (71), elements of the element corresponding to the specific wavelength lambda c
Output said is larger than the upper limit output set value V max
The charge accumulation time is controlled to be short, and the lower limit output set value V min
If the charge accumulation time is controlled to be longer when smaller than
Is a spectroscopic analyzer.
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