JP2980252B2 - X-ray diffraction device slit control device - Google Patents

X-ray diffraction device slit control device

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JP2980252B2
JP2980252B2 JP2409829A JP40982990A JP2980252B2 JP 2980252 B2 JP2980252 B2 JP 2980252B2 JP 2409829 A JP2409829 A JP 2409829A JP 40982990 A JP40982990 A JP 40982990A JP 2980252 B2 JP2980252 B2 JP 2980252B2
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、X線回折装置に用いら
れるX線幅調節用のスリットの幅を調節するためのスリ
ット制御装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a slit control device for adjusting the width of an X-ray width adjusting slit used in an X-ray diffraction apparatus.

【0002】[0002]

【従来の技術】一般にX線回折装置においては、試料へ
のX線の入射角を変化させながら回折X線の強度が測定
され、その測定結果に基づいて試料の結晶構造が解析さ
れる。また、試料へ入射するX線の線幅は、X線源と試
料との間に配置された発散スリットによって決定され
る。この場合、仮に、発散スリットによって決定される
X線線幅が一定値に決められているとすると、試料への
X線入射角度が変化した場合に、試料を照射するX線の
面積が変化してしまう。このように、試料に対するX線
の照射面積が変化すると、実質的に回折に寄与する試料
の結晶数が変化することになり、その結果、精度の高い
測定結果が得られなくなる。
2. Description of the Related Art Generally, in an X-ray diffractometer, the intensity of diffracted X-rays is measured while changing the incident angle of X-rays on a sample, and the crystal structure of the sample is analyzed based on the measurement result. Further, the line width of the X-ray incident on the sample is determined by a divergence slit arranged between the X-ray source and the sample. In this case, if the X-ray width determined by the divergence slit is determined to be a constant value, when the X-ray incident angle on the sample changes, the area of the X-ray irradiating the sample changes. Would. As described above, when the X-ray irradiation area on the sample changes, the number of crystals of the sample that substantially contributes to diffraction changes, and as a result, a highly accurate measurement result cannot be obtained.

【0003】上記の問題点を解消するため、試料へのX
線入射角が変化するのに対応させて発散スリットのスリ
ット幅を変化させ、これにより、試料におけるX線照射
面積を常に一定の面積に維持しようとする技術が、既に
いくつか提案されている。例えば、特開平1-172740号あ
るいは実開平1-102857号によれば、平行四節リンク機構
を用いてスリット片を開閉することによりスリット幅を
制御する技術が開示されている。
[0003] In order to solve the above problem, X
There have already been proposed some techniques for changing the slit width of the divergent slit in accordance with the change in the line incident angle, thereby always keeping the X-ray irradiation area of the sample at a constant area. For example, JP-A-1-127740 or JP-A-1-102857 discloses a technique for controlling a slit width by opening and closing a slit piece using a parallel four-bar link mechanism.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来の装置においては、スリットを形成しているスリット
片を動かすために比較的大きなトルクが必要とされた。
従って、平行四節リンク機構を作動させるための駆動源
として出力トルクが高く、しかも精度の高い動作が可能
なものが要求されていた。例えば、特開平1-172740号な
どに開示された駆動源について考えると、高トルクの駆
動用モータが必要であり、しかもウオームなどを強度の
高い材料で精密に作る必要があった。本発明は従来装置
における上記の問題点に鑑みてなされたものであって、
駆動源の出力トルクが小さい場合でも確実にスリット片
を開閉することができ、しかも構造が極めて簡単である
スリット制御装置を提供することを目的とする。
However, in the above-mentioned conventional apparatus, a relatively large torque was required to move the slit piece forming the slit.
Accordingly, there has been a demand for a drive source for operating the parallel four-bar linkage that has a high output torque and that can operate with high accuracy. For example, considering the driving source disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. Hei 1-172740, a high-torque driving motor is required, and a worm or the like needs to be precisely made of a high-strength material. The present invention has been made in view of the above problems in the conventional device,
It is an object of the present invention to provide a slit control device that can reliably open and close a slit piece even when the output torque of a drive source is small, and that has a very simple structure.

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
め、本発明に係るスリット制御装置においては、スリッ
ト片を駆動するための平行四節リンク機構が、固定ピン
を中心として回動可能であり互いに対向する一対の回動
リンクと、それらの回動リンクに回転自在に連結された
一対の平行移動リンクとによって構成されており、さら
にそれらの平行移動リンクは、上記回動リンクの回動に
対応して、X線経路に対して近づき、あるいは遠ざかる
方向に進退移動する。また、上記一対のスリット片は上
記の各平行移動リンクの進退方向に対して直交する方向
に延びるように、各平行移動リンクに固定されることに
よって上記のスリットが形成されており、そして少なく
とも1つの平行移動リンクをX線経路へ向けて直進移動
するように押圧する直進駆動手段と、上記少なくとも1
つの平行移動リンクを直進駆動手段へ押し付けるように
付勢する弾性手段とを有することを特徴としている。
In order to achieve the above object, in a slit control device according to the present invention, a parallel four-bar link mechanism for driving a slit piece is rotatable about a fixed pin. And a pair of rotating links opposed to each other and a pair of parallel moving links rotatably connected to the rotating links, and the parallel moving links are further rotated by the rotating links. In response to the above, the robot moves forward or backward in the direction approaching or moving away from the X-ray path. Further, the slits are formed by fixing the pair of slit pieces to the respective translation links so as to extend in a direction orthogonal to the advance / retreat direction of the respective translation links, and at least one slit piece is formed. Linear drive means for pressing the two translation links to move linearly toward the X-ray path;
Resilient means for urging the two translation links to press against the linear drive means.

【0006】[0006]

【作用】スリットを形成している一対のスリット片は、
平行移動リンクに対して直角に、従って回動リンクの長
手方向に延びている。その結果、回動リンクの回動中心
から平行移動リンクまでの長さが比較的長くなる。それ
故、スリット片を開閉するにあたって、平行移動リンク
を直進駆動させてそれらを平行移動(X線経路に対する
進退移動)させるように構成しておけば、小さなトルク
で確実にスリット片を開閉移動させることが可能とな
る。
[Operation] A pair of slit pieces forming a slit are:
It extends at right angles to the translation link and thus in the longitudinal direction of the pivot link. As a result, the length from the rotation center of the rotation link to the parallel movement link becomes relatively long. Therefore, when opening and closing the slit pieces, if the parallel movement link is driven linearly to move them in parallel (moving forward and backward with respect to the X-ray path), the slit pieces can be reliably opened and closed with a small torque. It becomes possible.

【0007】[0007]

【実施例】本発明に係るスリット制御装置について説明
するのに先立って、まず、そのスリット制御装置が用い
られるX線回折装置について簡単に説明しておくことに
する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Before describing a slit control device according to the present invention, an X-ray diffraction device using the slit control device will be briefly described.

【0008】図3は、そのX線回折装置の一例の概略を
示している。同図において、X線源1から放射されたX
線は、発散スリット2によって水平面内の発散角が制限
された後、試料3に入射する。試料3に入射したX線は
そこで回折し、さらに散乱防止スリット4および受光ス
リット5を通過してX線検出器6に入射し、そのX線検
出器6によってX線強度が測定される。上記散乱防止ス
リット4は、回折X線以外の散乱X線の通過を防止する
ものである。また、受光スリット5は、回折X線の集束
点に配置されていて、測定すべき特性X線のみを通過さ
せるためのものである。
FIG. 3 schematically shows an example of the X-ray diffraction apparatus. In the figure, X radiated from X-ray source 1
The line enters the sample 3 after the divergence angle in the horizontal plane is limited by the divergence slit 2. The X-rays incident on the sample 3 are diffracted there, further pass through the anti-scatter slit 4 and the light-receiving slit 5 and enter the X-ray detector 6, where the X-ray intensity is measured. The anti-scatter slit 4 prevents the passage of scattered X-rays other than the diffracted X-rays. Further, the light receiving slit 5 is arranged at the focal point of the diffracted X-rays and allows only the characteristic X-rays to be measured to pass.

【0009】試料3は、紙面垂直方向に延びるように配
置された円柱状の試料台7の上に装着されている。上記
のX線強度測定の間試料3は、試料3の回折面の中心に
おいて紙面垂直方向に延びる軸線ωを中心として、微少
回転速度で回転する。以下、この回転を試料のθ回転と
いう。試料台7と同軸に配設された回転台8にはカウン
タアーム9が固定されており、そのカウンタアーム9上
に上記の散乱防止スリット4、受光スリット5およびX
線検出器6が固定して配置されている。回転台8、従っ
てカウンタアーム9は、試料回転軸ωを中心として試料
3のθ回転の2倍の回転速度で試料3と同じ方向へ走査
回転する。以下、この回転をカウンタアーム9の2θ回
転という。
The sample 3 is mounted on a columnar sample stage 7 which is arranged to extend in the direction perpendicular to the plane of the drawing. During the X-ray intensity measurement, the sample 3 rotates at a very small rotation speed around an axis ω extending in the direction perpendicular to the paper surface at the center of the diffraction surface of the sample 3. Hereinafter, this rotation is referred to as θ rotation of the sample. A counter arm 9 is fixed to a rotary table 8 arranged coaxially with the sample table 7, and the anti-scatter slit 4, light receiving slit 5 and X
The line detector 6 is fixedly arranged. The turntable 8, and thus the counter arm 9, scans and rotates about the sample rotation axis ω in the same direction as the sample 3 at a rotation speed twice the θ rotation of the sample 3. Hereinafter, this rotation is referred to as 2θ rotation of the counter arm 9.

【0010】試料3がθ回転する際、発散スリット2の
スリット幅が一定不変に設定されていると、試料3を照
射するX線の照射面積がθ回転に対応して変化してしま
う。X線照射面積の変動は、測定結果に悪影響を及ぼす
ので、防止する必要がある。そのため、発散スリット2
に付設したスリット制御装置10によって発散スリット
2のスリット幅を試料3のθ回転に応じて変化させる。
If the slit width of the diverging slit 2 is set to be constant and invariant when the sample 3 rotates by θ, the irradiation area of the X-ray irradiating the sample 3 changes corresponding to the θ rotation. Variations in the X-ray irradiation area adversely affect the measurement results and need to be prevented. Therefore, the divergence slit 2
The slit width of the divergent slit 2 is changed according to the θ rotation of the sample 3 by the slit control device 10 attached to.

【0011】一方、試料3がθ回転する際、試料3で回
折した回折X線の幅も変化する。よって、精度の高い測
定結果を得るためには、散乱防止スリット4および受光
スリット5のスリット幅も、試料3のθ回転に従って変
化させる必要がある。そのため、両スリット4および5
にもスリット制御装置10が付設されている。
On the other hand, when the sample 3 rotates by θ, the width of the diffracted X-ray diffracted by the sample 3 also changes. Therefore, in order to obtain a highly accurate measurement result, the slit width of the scattering prevention slit 4 and the light receiving slit 5 also needs to be changed according to the θ rotation of the sample 3. Therefore, both slits 4 and 5
Is also provided with a slit control device 10.

【0012】以下、スリット制御装置10について詳細
に説明する。各スリット2,4,5に付設されるスリッ
ト制御装置10はいずれも同一構成であるので、ここで
は発散スリット2に付設されるものを例にあげて説明す
る。図1は、図3において矢印I方向から発散スリット
2およびスリット制御装置10を見た場合を示してい
る。発散スリット2は、互いに対向する一対のスリット
片11aおよび11bによって構成されている。これら
のスリット片によってスリットLが形成されており、X
線経路Q(図3参照)はそのスリットL内に設定され
る。
Hereinafter, the slit control device 10 will be described in detail. Since the slit control devices 10 attached to the slits 2, 4, and 5 have the same configuration, the slit control device 10 attached to the divergent slit 2 will be described here as an example. FIG. 1 shows a case where the divergent slit 2 and the slit control device 10 are viewed from the direction of arrow I in FIG. The divergent slit 2 is constituted by a pair of slit pieces 11a and 11b facing each other. A slit L is formed by these slit pieces, and X
The line path Q (see FIG. 3) is set in the slit L.

【0013】スリット制御装置10は、X線回折装置の
機枠に固定されていて位置不変なベース12と、そのベ
ース12上に設けられた2つのピン13,13と、それ
らのピン13に回転自在に取り付けられた2本の回動リ
ンク14,14と、それらの回動リンク14の両端に回
転自在に連結された2本の平行移動リンク15,15と
を有している。回動リンク14および平行移動リンク1
5は平行四節リンク機構を構成しており、2本の平行移
動リンク15のそれぞれには、発散スリット2のスリッ
ト片11aおよび11bがそれぞれ1つづつ固定されて
いる。この場合、各スリット片11a,11bは、平行
移動リンク15と直交する方向、すなわち回動リンク1
4の長手方向に延びている。
The slit control device 10 includes a base 12 fixed to the machine frame of the X-ray diffraction apparatus and whose position is invariable, two pins 13 provided on the base 12, and rotation of the pins 13. It has two rotatable links 14, 14 attached freely, and two parallel moving links 15, 15 rotatably connected to both ends of the rotatable links 14. Rotating link 14 and translation link 1
Reference numeral 5 denotes a parallel four-bar link mechanism, and one slit piece 11a and one slit piece 11b of the divergent slit 2 are fixed to each of the two translation links 15. In this case, each of the slit pieces 11a and 11b is in a direction orthogonal to the translation link 15, that is, the rotation link 1
4 in the longitudinal direction.

【0014】回動リンク14,14がピン13を中心と
して図の正時計方向へ回動すると、それらに連結された
上側平行移動リンク15aはX線経路Qへ近づく方向
へ、そして下側平行移動リンク15bはX線経路Qから
離れる方向へ平行直進移動する。これにより、スリット
Lの幅は狭められる。回動リンク14,14が図の反時
計方向へ回動すると、各平行移動リンク15a,15b
が上記の場合と逆方向に動き、スリットLの幅が広くな
る。
When the rotating links 14 and 14 rotate around the pin 13 in the counterclockwise direction in the figure, the upper translation link 15a connected thereto moves in the direction approaching the X-ray path Q and then moves downward. The link 15b moves parallel and straight away from the X-ray path Q. Thereby, the width of the slit L is reduced. When the rotation links 14, 14 rotate in the counterclockwise direction in the figure, the respective parallel movement links 15a, 15b
Move in the opposite direction to the above case, and the width of the slit L increases.

【0015】下側平行移動リンク15bの左側には、各
リンク14および15を駆動するための直進駆動装置1
6が配設されている。この直進駆動装置16は、制御装
置17から送られてくるパルス信号Sに基づいて回転移
動軸18を軸回転(φ)させるパルスモータ部26と、
回転移動軸18の軸回転(φ)を図の左右方向の直進運
動に変換する動力変換装置19とを有している。この構
成により、制御装置17から適宜の数のパルス信号Sが
送られると、回転移動軸18は、軸回転(φ)しなが
ら、それと同時に図の左右方向へ直進移動する。
On the left side of the lower translation link 15b, a linear drive unit 1 for driving the links 14 and 15 is provided.
6 are provided. The linear drive device 16 includes a pulse motor unit 26 that rotates the rotary movement shaft 18 based on a pulse signal S sent from the control device 17 (φ).
And a power converter 19 for converting the rotation (φ) of the rotary movement shaft 18 into a linear motion in the left-right direction in the figure. With this configuration, when an appropriate number of pulse signals S are sent from the control device 17, the rotary movement shaft 18 simultaneously moves straight in the left and right direction in the figure while rotating (φ).

【0016】回転移動軸18の右側先端は、下側平行移
動リンク15bの左端に当接している。また、下側平行
移動リンク15bとベース12の下端との間に張設した
引張バネ20により、下側平行移動リンク15bは常に
一定圧力下で回転移動軸18の右端に押し付けられてい
る。回転移動軸18の左端部には、移動片21が固定し
て取り付けられている。この移動片21は、図2に示す
ように、概ね細長い長方形状をしており、回転移動軸1
8の軸回転(φ)に従って矢印B−Bのように回動し、
それと同時に回転移動軸18の軸方向直進移動(図1の
左右方向)に従って図1の矢印Aのように左右方向にも
移動する。図1において、移動片21の先端、すなわち
係合端21aの両側には、互いに適宜の間隔をおいて2
つのストッパ22および23が位置固定状態で設けられ
ている。移動片係合端21aは両方のストッパ22,2
3に係合、すなわちぶつかることができるようになって
おり、両者がそのように係合した場合には、ストッパ2
2あるいは23によって移動片21の回転、従って回転
移動軸18の軸回転(φ)が阻止される。
The right end of the rotary movement shaft 18 is in contact with the left end of the lower translation link 15b. Further, the lower parallel link 15b is constantly pressed against the right end of the rotating shaft 18 under a constant pressure by a tension spring 20 stretched between the lower parallel link 15b and the lower end of the base 12. A moving piece 21 is fixedly attached to the left end of the rotary moving shaft 18. As shown in FIG. 2, the moving piece 21 has a generally elongated rectangular shape, and
8 according to the shaft rotation (φ) of 8 as shown by the arrow BB,
At the same time, it also moves in the left-right direction as shown by the arrow A in FIG. 1 according to the axial movement of the rotary movement shaft 18 (left-right direction in FIG. 1). In FIG. 1, at the tip of the moving piece 21, that is, on both sides of the engagement end 21a, two
Two stoppers 22 and 23 are provided in a fixed position. The moving piece engaging end 21a is connected to both stoppers 22,2.
3 can be engaged with, ie, hit against, the stopper 2 when they are so engaged.
The rotation of the moving piece 21 and therefore the rotation (φ) of the rotary moving shaft 18 is prevented by 2 or 23.

【0017】移動片係合端21aが左側のストッパ、す
なわちスリット閉側ストッパ22に係合して回転移動軸
18の軸回転(φ)が止まった場合には、回転移動軸1
8が最も左側の位置に来る。よって、バネ20のバネ力
により、スリット片11aおよび11bが最も近づいて
スリットLが最小幅に閉じる。他方、移動片係合端21
aが右側のストッパ、すなわちスリット開側ストッパ2
3に係合して回転移動軸18が最も右側の位置に来て停
止した場合には、スリットLが最大幅に開く。
When the moving piece engaging end 21a is engaged with the left stopper, that is, the slit closing side stopper 22, and the rotation (.phi.) Of the rotation moving shaft 18 stops, the rotation moving shaft 1 is stopped.
8 comes to the leftmost position. Therefore, due to the spring force of the spring 20, the slit pieces 11a and 11b come closest and the slit L closes to the minimum width. On the other hand, the moving piece engagement end 21
a is the right stopper, that is, the slit opening side stopper 2
3, when the rotary movement shaft 18 comes to the rightmost position and stops, the slit L opens to the maximum width.

【0018】図1において、移動片係合端21aの左側
に検知端21bが形成されている。この検知端21b
は、移動片係合端21aがスリット閉側ストッパ22に
ぶつかって移動片21の左右方向の移動が止まった時、
センサ24によって検知される。センサ24によるその
検知信号は、制御装置17へ送られる。
In FIG. 1, a detecting end 21b is formed on the left side of the moving piece engaging end 21a. This detection end 21b
When the moving piece engaging end 21a hits the slit closing side stopper 22 and the moving piece 21 stops moving in the left-right direction,
It is detected by the sensor 24. The detection signal from the sensor 24 is sent to the control device 17.

【0019】ストッパ22に移動片係合端21aをぶつ
けることによって機械的に移動片21の回転、従って回
転移動軸18の直進移動を停止させるのではなく、セン
サ24によって移動片検知端21bを検知した時に、パ
ルスモータ26を停止させて回転移動軸18の移動を止
めるようにすることもできる。
Rather than mechanically stopping the rotation of the moving piece 21 and thus the linear movement of the rotary moving shaft 18 by hitting the moving piece engaging end 21a against the stopper 22, the moving piece detecting end 21b is detected by the sensor 24. At this time, the pulse motor 26 may be stopped to stop the movement of the rotary movement shaft 18.

【0020】以下、上記構成より成るスリット制御装置
の作用について説明する。制御装置17は、まず、回転
移動軸18を軸回転(φ)させてその回転移動軸18を
図の左方向へ移動させる。回転移動軸18の軸回転
(φ)に伴って、移動片21は回転移動軸18を中心と
して回転(図2のB−B回転)しながら図1の左方向へ
移動し、その係合端21aがスリット閉側ストッパ22
に係合した時点で回転移動軸18の直進移動が止まる。
この間、バネ20のバネ力により下側平行移動リンク1
5bが図の左方へ平行移動し、一方、上側平行移動リン
ク15aが図の右方へ平行移動する。その結果、スリッ
ト片11aおよび11bの間に形成されるスリットLの
幅は最小値となる。この時、移動片検知端21bがセン
サ24によって検知され、制御装置17はその位置をス
リットLのゼロ位置と設定する。
Hereinafter, the operation of the slit control device having the above configuration will be described. The control device 17 first rotates the rotational movement shaft 18 (φ) to move the rotational movement shaft 18 to the left in the drawing. With the rotation (φ) of the rotary moving shaft 18, the moving piece 21 moves to the left in FIG. 1 while rotating about the rotary moving shaft 18 (BB rotation in FIG. 2), and its engagement end 21a is a slit closing side stopper 22
The linear movement of the rotary movement shaft 18 stops at the point of engagement.
During this time, the lower parallel link 1 is moved by the spring force of the spring 20.
5b translates to the left in the figure, while the upper translation link 15a translates to the right in the figure. As a result, the width of the slit L formed between the slit pieces 11a and 11b has a minimum value. At this time, the moving piece detecting end 21b is detected by the sensor 24, and the control device 17 sets the position as the zero position of the slit L.

【0021】図1において、X線回折測定が行われる
間、試料台7上の試料3が試料駆動装置25によってθ
回転される。この時、制御装置17は試料3のθ回転に
対応したパルス信号Sを直進駆動装置16内のパルスモ
ータ部26へ送り込む。これにより回転移動軸18が、
送られてきたパルス数に応じた角度だけ回転し、そして
その回転角度に応じた距離だけ図の右方向へ直進移動す
る。これにより、下側平行移動リンク15bがX線経路
Q方向へ、一方、上側平行移動リンク15aがそれと反
対方向へ直進平行移動し、スリットLの幅が広められ、
試料3へのX線照射面積が一定に保持される。
In FIG. 1, while the X-ray diffraction measurement is performed, the sample 3 on the sample stage 7 is moved by the sample driving device 25 to θ.
Rotated. At this time, the control device 17 sends a pulse signal S corresponding to the θ rotation of the sample 3 to the pulse motor unit 26 in the linear drive device 16. As a result, the rotational movement shaft 18
It rotates by an angle corresponding to the number of transmitted pulses, and moves straight to the right in the figure by a distance corresponding to the rotation angle. As a result, the lower parallel link 15b moves in the X-ray path Q direction, while the upper parallel link 15a moves in a straight line in the opposite direction, and the width of the slit L is widened.
The X-ray irradiation area on the sample 3 is kept constant.

【0022】移動片係合端21aがスリット開側ストッ
パ23に係合するまで回転移動軸18が右方向へ進行す
ると、係合端21aとストッパ23との係合により回転
移動軸18の回転、従って右方向への進行が阻止され
る。この時のスリットLの幅が許容最大幅である。
When the rotary moving shaft 18 advances rightward until the moving piece engaging end 21a engages with the slit opening side stopper 23, the rotation of the rotary moving shaft 18 is performed by the engagement between the engaging end 21a and the stopper 23. Therefore, the rightward movement is prevented. The width of the slit L at this time is the maximum allowable width.

【0023】図4は、本発明に係るスリット制御装置の
他の実施例を示している。この実施例が、図1に示した
第1の実施例と異なる点は、直進駆動装置16に代えて
別の直進駆動装置36を用いていることである。この直
進駆動装置36によって駆動されるリンク機構14,1
5についての構造は図1のものと全く同じであるので、
それらのリンク機構などの説明は省略する。
FIG. 4 shows another embodiment of the slit control device according to the present invention. This embodiment is different from the first embodiment shown in FIG. 1 in that another straight driving device 36 is used instead of the straight driving device 16. Link mechanisms 14, 1 driven by the linear drive device 36
5 is exactly the same as that of FIG.
The description of the link mechanism and the like will be omitted.

【0024】直進駆動装置36は、下側平行移動リンク
15bの左端に当接すると共に矢印A方向へ往復直進移
動可能な直進移動軸38と、その直進移動軸38の左端
に固定された方形平板状の被圧板31と、パルスモータ
32によって駆動されて軸33を中心として矢印C−
C′のように往復回転する回転駆動板34とを有してい
る。回転駆動板34の上面の最外周部の一つの位置に
は、回転駆動体としてのローラ35が回転自在に設けら
れており、このローラ35が被圧板31の左側に、ばね
20のばね力の下に当接している。パルスモータ32
は、図3における試料3の回転速度θと同じ角速度θで
回転板34を回転駆動するようになっている。
The rectilinear driving device 36 is in contact with the left end of the lower translation link 15b and is capable of reciprocating rectilinearly in the direction of arrow A, and a rectangular flat plate fixed to the left end of the rectilinear moving shaft 38. And a pressure plate 31 driven by a pulse motor 32 and an arrow C-
And a rotary drive plate 34 that reciprocates as C '. At one position of the outermost peripheral portion of the upper surface of the rotary drive plate 34, a roller 35 as a rotary drive is rotatably provided. It abuts below. Pulse motor 32
Rotates the rotating plate 34 at the same angular velocity θ as the rotational velocity θ of the sample 3 in FIG.

【0025】この実施例は以上のように構成されている
ので、回転駆動板34上に設けられたローラ35は、図
に実線で示すゼロ位置状態を基準として、角速度θで回
転移動する。ローラ35が角速度θで回転移動する場
合、そのローラ35によって押圧される被圧板31は、
W=sinθの速度で直進移動し、その結果、上下平行
リンク15a,15bに支持されたスリット片11aお
よび11bが、sinθの速度で間隔変化する。すなわ
ち、スリットLがsinθの速度で間隔変化する。
Since this embodiment is constructed as described above, the roller 35 provided on the rotary drive plate 34 rotates at an angular velocity θ with reference to a zero position state indicated by a solid line in FIG. When the roller 35 rotates at an angular velocity θ, the pressure-receiving plate 31 pressed by the roller 35
It moves straight at a speed of W = sin θ, and as a result, the interval between the slit pieces 11a and 11b supported by the upper and lower parallel links 15a and 15b changes at a speed of sin θ. That is, the interval of the slit L changes at a speed of sin θ.

【0026】図3で説明したように、試料3がθの角速
度で回転することを考えれば、本実施例においてスリッ
トLがsinθの速度で間隔変化するということは、試
料3へのX線入射角度が変化する場合にも、試料3に関
するX線照射面積を非常に精度良く一定に保持できると
いうことである。なお、図4に示した実施例では、回転
駆動板34を駆動する方式として、パルスモータ34に
よる、いわゆるダイレクトドライブ方式を採用したが、
これに代えてウオームとウオームホイールによる回転駆
動機構あるいはその他任意の駆動機構を採用することも
できる。
As described with reference to FIG. 3, considering that the sample 3 rotates at the angular velocity of θ, the fact that the interval of the slit L changes at the speed of sin θ in this embodiment means that the X-rays are incident on the sample 3. This means that even when the angle changes, the X-ray irradiation area for the sample 3 can be kept very accurately and constant. In the embodiment shown in FIG. 4, a so-called direct drive system using a pulse motor 34 is adopted as a system for driving the rotary drive plate 34.
Alternatively, a rotary drive mechanism using a worm and a worm wheel or any other drive mechanism may be employed.

【0027】以上、好ましい実施例をあげて本発明を説
明したが、本発明はその実施例に限定されるものではな
い。例えば、直進駆動手段は図1に示したパルス信号駆
動による駆動手段、あるいは図4に示した回転駆動板3
4を用いたsinθ送り機構に限らず、他の任意の直進
駆動機構を採用できる。
Although the present invention has been described with reference to the preferred embodiments, the present invention is not limited to the embodiments. For example, the straight driving means is a driving means based on the pulse signal driving shown in FIG. 1, or the rotary driving plate 3 shown in FIG.
The present invention is not limited to the sin?

【0028】[0028]

【発明の効果】本発明によれば、スリット片を平行移動
リンクと直交する方向に延びるように取り付け、さら
に、平行四節リンク機構を作動させるために、平行移動
リンクを直進駆動させるようにしたので、平行四節リン
ク機構の駆動源として出力トルクの小さなものを使うこ
とができて経済的である。また、バネなどの弾性手段を
用いて平行移動リンクを常に直進駆動手段へ押し付けて
いるので、スリット片の振動を低く抑えて、精度の高い
スリット開閉制御をすることもできる。また、平行移動
リンクの駆動源として出力トルクの小さいものが使用可
能であるため、請求項2に記載の装置のようにスリット
の最小幅と最大幅を規制するためのストッパ機構を容易
にその駆動源に付設することもできる。これにより、ス
リット片、リンク機構などの可動部分には一切ストッパ
機構が不要となり、より一層構造を簡単にすることがで
きるようになった。さらに、請求項3に記載の装置のよ
うに、試料へのX線入射角度の変化速度θと等しい角速
度θで回転する回転駆動体(ローラ35)によってリン
ク機構を直進駆動させるようにしておけば、より一層正
確に試料に対するX線照射面積を一定に保持できる。
According to the present invention, the slit piece is attached so as to extend in the direction perpendicular to the parallel movement link, and furthermore, the parallel movement link is driven straight to operate the parallel four-bar link mechanism. Therefore, a drive source having a small output torque can be used as a drive source of the parallel four-bar linkage, which is economical. In addition, since the translation link is always pressed against the linear drive means using an elastic means such as a spring, the vibration of the slit piece can be suppressed to a low level, and the slit opening / closing control can be performed with high accuracy. In addition, since a driving source having a small output torque can be used as a driving source of the translation link, a stopper mechanism for regulating the minimum width and the maximum width of the slit as in the device according to claim 2 can be easily driven. It can also be attached to the source. As a result, a stopper mechanism is not required at all for movable parts such as the slit piece and the link mechanism, and the structure can be further simplified. Further, as in the apparatus according to the third aspect, if the link mechanism is driven linearly by a rotary driving body (roller 35) that rotates at an angular velocity θ equal to the change velocity θ of the X-ray incident angle on the sample. Thus, the X-ray irradiation area on the sample can be maintained more accurately.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明に係るスリット制御装置の一実施例を示
す側面図である。
FIG. 1 is a side view showing one embodiment of a slit control device according to the present invention.

【図2】図1の矢印IIに従った側面図である。FIG. 2 is a side view according to arrow II of FIG.

【図3】上記スリット制御装置が用いられるX線回折装
置の一例を示す平面概略図である。
FIG. 3 is a schematic plan view showing an example of an X-ray diffraction device using the slit control device.

【図4】本発明に係るスリット制御装置の他の実施例を
示す側面図である。
FIG. 4 is a side view showing another embodiment of the slit control device according to the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

3 試料 11a,11
b スリット片 10 スリット制御装置 14 回動リ
ンク 15 平行移動リンク 13 固定ピ
ン 16 直進駆動装置 20 引張バ
ネ 18 回転移動軸 21 移動片 22,23 ストッパ 38 直進移
動軸 35 ローラ(回転駆動体) 34 回転駆
動板 32 パルスモータ Q X線経路 L スリット
3 Samples 11a, 11
b Slit piece 10 Slit control device 14 Rotating link 15 Parallel movement link 13 Fixed pin 16 Linear drive device 20 Tension spring 18 Rotational movement shaft 21 Moving piece 22, 23 Stopper 38 Linear movement movement shaft 35 Roller (rotary driving body) 34 Rotary drive Plate 32 Pulse motor Q X-ray path L Slit

フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) G21K 1/04 G01N 23/207 Continued on the front page (58) Fields surveyed (Int.Cl. 6 , DB name) G21K 1/04 G01N 23/207

Claims (3)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 試料に入射するX線の入射角度を角速度
θで変化させながら、試料で回折するX線の強度を測定
するX線回折装置に用いられるスリット制御装置であっ
て、スリットを形成する一対のスリット片を平行四節リ
ンク機構によって駆動するようにしたスリット制御装置
において、上記平行四節リンク機構は、固定ピンを中心
として回動可能であり互いに対向する一対の回動リンク
と、それらの回動リンクに回転自在に連結された一対の
平行移動リンクとによって構成されており、それらの平
行移動リンクは、上記回動リンクの回動に対応して、X
線経路に対して近づき、あるいは遠ざかる方向に進退移
動し、上記一対のスリット片は上記の各平行移動リンク
の進退方向に対して直交する方向に延びるように各平行
移動リンクに固定されることによって上記のスリットが
形成されており、少なくとも1つの平行移動リンクをX
線経路へ向けて直進移動するように押圧する直進駆動手
段と、上記少なくとも1つの平行移動リンクを直進駆動
手段へ押し付け付勢する弾性手段とを有することを特徴
とするスリット制御装置。
1. A slit control device used in an X-ray diffractometer for measuring the intensity of X-ray diffracted by a sample while changing the incident angle of the X-ray incident on the sample at an angular velocity θ, wherein the slit is formed. In a slit control device that drives a pair of slit pieces to be driven by a parallel four-bar link mechanism, the parallel four-bar link mechanism is rotatable around a fixed pin and a pair of rotary links facing each other, A pair of parallel movement links rotatably connected to the rotation links, and the parallel movement links correspond to the rotation of the rotation links, and X
By moving forward or backward in the direction approaching or moving away from the line path, the pair of slit pieces is fixed to each translation link so as to extend in a direction orthogonal to the advance / retreat direction of each translation link. The above slit is formed, and at least one translation link
A slit control device comprising: straight driving means for pressing a linear movement toward a linear path; and elastic means for pressing and biasing the at least one translation link to the straight driving means.
【請求項2】 上記直進駆動手段は、電気的パルス信号
に応じて軸回転し、しかも同時に上記少なくとも1つの
平行移動リンクを押圧するために直進移動する回転移動
軸と、その回転移動軸に固定して取り付けられる移動片
と、その移動片と係合可能であって上記回転移動軸の直
進移動方向に沿って適宜の間隔をおいて配置されたスリ
ット閉側ストッパ部材およびスリット開側ストッパ部材
とを有することを特徴とする請求項1記載のスリット制
御装置。
2. The linear drive means rotates in accordance with an electric pulse signal, and simultaneously rotates linearly to press the at least one translation link, and is fixed to the rotary movement axis. A moving piece attached thereto, and a slit closing side stopper member and a slit opening side stopper member which are engageable with the moving piece and are arranged at appropriate intervals along the direction of linear movement of the rotary moving shaft. The slit control device according to claim 1, comprising:
【請求項3】 上記直進駆動手段は、少なくとも1つの
平行移動リンクを押圧するために直進移動する直進移動
軸と、回転移動することによって直進移動軸を直進移動
させる回転駆動体とを有しており、上記回転駆動体の回
転速度は、試料へのX線の入射角度の変化速度θと等し
く設定されていることを特徴とする請求項1記載のスリ
ット制御装置。
3. The linear driving means includes a linear moving shaft that linearly moves to press at least one translation link, and a rotary driving body that linearly moves the linear moving shaft by rotating. 2. The slit control device according to claim 1, wherein the rotation speed of the rotary driving body is set to be equal to the change speed θ of the incident angle of the X-ray on the sample.
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