JP2979190B2 - Split metering device - Google Patents

Split metering device

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JP2979190B2
JP2979190B2 JP1284131A JP28413189A JP2979190B2 JP 2979190 B2 JP2979190 B2 JP 2979190B2 JP 1284131 A JP1284131 A JP 1284131A JP 28413189 A JP28413189 A JP 28413189A JP 2979190 B2 JP2979190 B2 JP 2979190B2
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photometric
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Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は撮影すべき視野を複数の領域に分割し、その
分割された各領域の平均輝度に種々の評価を加えて全体
の露出量を決定する分割測光装置に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION (Industrial application field) The present invention divides a field of view to be photographed into a plurality of regions, and variously evaluates the average luminance of each of the divided regions to determine the overall exposure amount. The present invention relates to a divided photometric device to be determined.

(従来の技術) 複数の分割された測光素子の出力を遂次比較方式によ
りA/D変換して評価測光演算を行う測光方法が知られて
いる。
(Prior Art) A photometric method is known in which outputs of a plurality of divided photometric elements are A / D-converted by a successive comparison method to perform an evaluation photometric operation.

特開昭62−75323号公報に示されている発明はこのよ
うな分割測光装置で、AC光源で照明された被写体のフリ
ツカの周期を一演算周期として測光素子の出力のA/D変
換順序を交互に換えながら繰り返しA/D変換を行い、各
素子のA/D変換値の一周期内の加算値または平均値を求
め、それを各素子の出力として取り出す方法を示してい
る。この方法によれば、照明用AC光源のフリツカの周期
に全ての分割測光素子のA/D変換値を各素子について数
回以上取る必要がある。
The invention disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 62-75323 is such a split photometric device in which the A / D conversion order of the output of the photometric element is determined by using the period of flicker of the object illuminated by the AC light source as one operation period. A method is shown in which A / D conversion is repeatedly performed alternately, an added value or an average value of A / D converted values of each element in one cycle is obtained, and the obtained value is taken out as an output of each element. According to this method, it is necessary to take the A / D conversion values of all the divided photometric elements several times or more for each element in the flicker cycle of the AC light source for illumination.

分割数が多くなつた場合など、素子の切り換え応答の
時間も必要であり、実際的でない。
For example, when the number of divisions increases, a time for switching response of the elements is required, which is not practical.

(発明が解決しようとする課題) 前述した方式で分割測光素子の各部の出力値を得て評
価測光演算を行う場合は、通常は昼光屋外での撮影の場
合が多い。
(Problems to be Solved by the Invention) When the output value of each section of the divided photometric element is obtained and the evaluation photometric calculation is performed by the above-described method, the photographing is usually performed outdoors in daylight.

照明用AC光源のフリツカを考慮する必要があるような
場合は、評価測光(個々の測光要素のデータを個別に得
て、それに基づいて露出量を決める)そのものをする必
要のない場合が多い。
When it is necessary to consider flicker of the AC light source for illumination, it is often not necessary to perform the evaluative photometry (obtaining data of individual photometric elements individually and determining an exposure amount based on the data).

ここで以上のような考えから、最初に全体部分を選択
し、照明用AC光源のフリツカを考慮して、フリツカの一
周期に複数回測光のA/D変換値を得てそのバラツキを判
別することにより、照明用AC光源の有無を認識して、評
価測光のための分割された各素子の出力の要、不要を判
別する。
From the above idea, the whole part is selected first, and in consideration of flicker of the AC light source for lighting, the A / D conversion value of photometry is obtained a plurality of times in one cycle of flicker to determine the variation. Thus, the presence or absence of the illumination AC light source is recognized, and it is determined whether or not the output of each divided element for evaluation photometry is required.

そしてその判断にしたがつて、その後の処理をする方
が良い。
Then, it is better to perform the subsequent processing according to the judgment.

これにより、比較的短時間で測光素子切り換えの応答
時間も考慮して、分割素子の測光値のA/D変換器値を得
ることができる。
As a result, the A / D converter value of the photometric value of the split element can be obtained in a relatively short time in consideration of the response time of the photometric element switching.

なお、分割された各素子に各々アンプを形成し切り換
え応答を考慮する必要のない回路も考えられるが、分割
素子の数だけアンプを構成すると回路も大きくなる。
It is to be noted that a circuit may be considered in which it is not necessary to form an amplifier for each of the divided elements and to consider the switching response.

本発明の目的は、評価測光の必要性の判断をまず行
い、必要性があるときにのみその処理を行うようにする
ことにより回路を簡単にし、かつ処理時間の短縮を図る
ことができる分割測光装置を提供することにある。
An object of the present invention is to first determine the necessity of evaluation photometry, and to perform the process only when it is necessary, thereby simplifying the circuit and shortening the processing time. It is to provide a device.

(課題を解決するための手段) 前記目的を達成するために、本発明による分割測光装
置は、多分割測光素子からなる測光素子,増幅器,前記
多分割測光素子を個別に前記増幅器に接続するスイツ
チ,前記スイツチを駆動するデコーダ,前記増幅器の出
力をA/D変換し評価するとともに前記デコーダを駆動す
る信号を発生する中央処理装置からなり、前記中央処理
装置は当初前記デコーダを動作させ前記測光素子の全体
を選択し、予想される光源のフリッカの周波数よりも十
分に狭いサンプリング間隔で前記測光素子の全体の出力
を複数回サンプリングおよびA/D変換させ、それらの出
力が一定以上のバラツキがある場合は前記測光素子の全
体を選択して求めたデータにより測光演算し、一定以上
のバラツキがない場合は前記多分割測光素子の個別のデ
ータにより測光演算するように構成されている。
(Means for Solving the Problems) In order to achieve the above object, a split photometric device according to the present invention comprises a photometric element comprising a multi-split photometric element, an amplifier, and a switch for individually connecting the multi-split photometric element to the amplifier. , A decoder for driving the switch, and a central processing unit for A / D-converting and evaluating the output of the amplifier and generating a signal for driving the decoder. The central processing unit initially operates the decoder to operate the photometric element. Is selected, and the entire output of the photometric element is sampled and A / D-converted a plurality of times at sampling intervals sufficiently narrower than the expected flicker frequency of the light source, and their outputs have a certain or more variation. In this case, photometric operation is performed using data obtained by selecting the entire photometric element, and when there is no variation exceeding a certain value, individual measurement of the multi-segment photometric element is performed. It is configured to perform a photometric calculation based on the above data.

(実施例) 以下図面等を参照して本発明をさらに詳しく説明す
る。
(Example) Hereinafter, the present invention will be described in more detail with reference to the drawings and the like.

第1図は、本発明による分割測光装置の実施例を示す
ブロツク図である。
FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of a split photometric device according to the present invention.

測光素子2は4個のホトダイオードA,B,C,Dから構成
されている。
The photometric element 2 is composed of four photodiodes A, B, C and D.

前記測光素子2は第2図に示されているように、同一
の基板上に分割配列されている。
The photometric elements 2 are divided and arranged on the same substrate as shown in FIG.

被写体の各部からの反射光は光学系により、測光素子
2のA,B,C,Dの分割領域に入射させられる。
The reflected light from each part of the subject is made incident on the divided areas of A, B, C, and D of the photometric element 2 by the optical system.

測光素子2の4個のホトダイオードA,B,C,Dの各カソ
ードは、演算増幅器5の反転入力端子に接続されてい
る。
Each cathode of the four photodiodes A, B, C, and D of the photometric element 2 is connected to the inverting input terminal of the operational amplifier 5.

また、前記演算増幅器5の非反転入力端子には基準電
圧発生器1の出力が接続されている。測光素子2の4個
のホトダイオードA,B,C,Dの各アノードは素子選択デコ
ーダ3の出力により駆動されるスイツチにより、同時に
または選択的に前記演算増幅器5の非反転入力端子に接
続される。演算増幅器5の出力は増幅器4でさらに増幅
され、中央処理装置(CPU)6に入力される。
The output of the reference voltage generator 1 is connected to the non-inverting input terminal of the operational amplifier 5. The anodes of the four photodiodes A, B, C and D of the photometric element 2 are simultaneously or selectively connected to the non-inverting input terminal of the operational amplifier 5 by a switch driven by the output of the element selecting decoder 3. . The output of the operational amplifier 5 is further amplified by the amplifier 4 and input to the central processing unit (CPU) 6.

中央処理装置(CPU)6は遂次比較形A/D変換器を内蔵
したワンチツプマイコンである。
The central processing unit (CPU) 6 is a one-chip microcomputer incorporating a successive comparison A / D converter.

中央処理装置(CPU)6はそのポート3本により、前
記デコーダ3を動作させ、ホトダイオードの選択をし、
増幅器4の出力を入力部に取込みA/D変換値を得る。
The central processing unit (CPU) 6 operates the decoder 3 through the three ports to select a photodiode,
The output of the amplifier 4 is taken into the input section to obtain an A / D conversion value.

第3図は、照明用光源(50Hz)で照明された被写体の
フリツカの様子と、A/D変換のタイミング,,,
,を示すグラフである。
Fig. 3 shows the flicker of the subject illuminated by the illumination light source (50Hz) and the timing of A / D conversion,
, Is a graph showing.

5回の測光は、どのタイミングからでも1.8msec毎に
行う構成となつている。
The photometry is performed five times every 1.8 msec from any timing.

第4図は本発明による分割測光装置の中央処理装置
(CPU)6の動作を説明するための流れ図である。
FIG. 4 is a flowchart for explaining the operation of the central processing unit (CPU) 6 of the split photometric device according to the present invention.

(ステツプ101)動作電源を投入する。(Step 101) The operating power is turned on.

(ステツプ102)全体測光(ホトダイオードA〜Dを同
時に回路接続)を選択する。
(Step 102) Select the entire photometry (photodiodes A to D are simultaneously connected to the circuit).

照明用光源のACフリツカを考慮して1.8msec毎に5回
測光してA/D変換値を得る。
The A / D conversion value is obtained by performing photometry five times every 1.8 msec in consideration of the AC flicker of the illumination light source.

(ステツプ103)先に得た5回の測光値のA/D変換値のバ
ラツキを判定する。最大値と最小値の差が0.5EV以上あ
るかどうか判別する。差が0.5EV以上あつた場合は照明
用光源がACでフリツカがあるものとしてステツプ104へ
進む。
(Step 103) The dispersion of the A / D conversion values of the five photometric values obtained earlier is determined. It is determined whether the difference between the maximum value and the minimum value is 0.5 EV or more. If the difference is 0.5 EV or more, the process proceeds to step 104 on the assumption that the illumination light source is AC and there is flicker.

(ステツプ105)ステツプ103で5回の最大値と最小値の
差が0.5EV以下の場合で、照明用光源はフリツカ成分の
ない光源として、測光素子の切り換えは一回ずつとし、
1.8msec毎にA,B,C,D各素子の測光値を得て(第3図参
照)そのまま各素子の測光値とする。
(Step 105) When the difference between the maximum value and the minimum value in Step 103 is 0.5 EV or less, the light source for illumination is a light source having no flicker component, and the photometric element is switched once.
The photometric value of each of the A, B, C, and D elements is obtained every 1.8 msec (see FIG. 3), and is directly used as the photometric value of each element.

(ステツプ104)ステツプ103で5回のバラツキが大き
く、照明用光源が螢光灯のような場合であるため評価測
光による測光演算をする必要がないものとして、先に得
た5回の平均値を用いて測光演算を行う。
(Step 104) Since there is a large variation of five times in Step 103 and the light source for illumination is like a fluorescent lamp, it is not necessary to perform the photometric calculation by the evaluation photometry. Is used to perform photometric calculation.

(ステツプ109)ステツプ105,104,の各場合を経て得ら
れた測光値により測光演算をする。
(Step 109) A photometric operation is performed using the photometric value obtained through each of the steps 105 and 104.

(発明の効果) 以上詳しく説明したように、本発明による装置の前記
中央処理装置は当初前記デコーダを動作させ前記測光素
子の全体を選択し、予想される光源のフリッカの周波数
よりも十分に狭いサンプリング間隔で前記測光素子の全
体の出力を複数回サンプリングおよびA/D変換させ、そ
れらの出力が一定以上のバラツキがある場合は前記測光
素子の全体を選択して求めたデータにより測光演算し、
一定以上のバラツキがない場合は前記多分割測光素子の
個別のデータにより測光演算するように構成されてい
る。
As described in detail above, the central processing unit of the apparatus according to the present invention initially operates the decoder to select the entire photometric element and is sufficiently narrower than the expected flicker frequency of the light source. The entire output of the photometric element is sampled and A / D converted a plurality of times at a sampling interval, and if the output of the output has a certain or more variation, a photometric operation is performed by using the data obtained by selecting the entire photometric element,
When there is no variation exceeding a certain value, a photometric operation is performed based on individual data of the multi-segment photometric element.

したがつて、照明用AC光源のフリツカの影響を考慮し
て必要な場合に限り、多分割測光素子から評価測光に必
要なA/D変換値を得る。
Therefore, only when necessary in consideration of the influence of flicker of the AC light source for illumination, an A / D conversion value necessary for evaluation photometry is obtained from the multi-segment photometry element.

一つの測光用アンプで測光素子を選択して用いる回路
において、測光素子の切り換え応答の時間を考慮しなが
らA/D変換値を得る場合、測光素子の分割数が増えても
その数と切り換え応答時間だけを入れて比較的短時間に
測光値が得られる。照明用AC光源のフリツカにより、評
価測光が不要となる場合を判定することで測光時間を短
縮することができる。
When the A / D conversion value is obtained while taking into account the switching response time of the photometric element in a circuit that uses the photometric element selected by one photometric amplifier, even if the number of divisions of the photometric element increases, the number and the switching response A photometric value can be obtained in a relatively short time with only time taken. The photometric time can be reduced by judging the case where the evaluation photometry becomes unnecessary due to flicker of the illumination AC light source.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

第1図は、本発明による分割測光装置の実施例を示すブ
ロツク図である。 第2図は、前記測光装置の測光素子の分割形態を示す平
面図である。 第3図は、フリツカをもつ照明用の光源(電源周波数50
Hz)で照明された被写体の輝度の変化と、測光装置のA/
D変換のタイミングを示すグラフである。 第4図は本発明による分割測光装置の中央処理装置(CP
U)の動作を説明するための流れ図である。 1……基準電圧発生器、2……測光素子 3……デコーダ、4……増幅器 5……演算増幅器 6……中央処理装置(CPU)
FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of a split photometric device according to the present invention. FIG. 2 is a plan view showing a divided form of a photometric element of the photometric device. FIG. 3 shows a light source for lighting with flicker (power frequency 50
Hz) and the brightness of the photometric device
9 is a graph showing the timing of D conversion. FIG. 4 shows a central processing unit (CP) of the split photometric device according to the present invention.
6 is a flowchart for explaining the operation of U). DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Reference voltage generator, 2 ... Photometric element 3 ... Decoder, 4 ... Amplifier 5 ... Operational amplifier 6 ... Central processing unit (CPU)

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) G01J 1/44 G03B 7/099 G03B 7/28 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on front page (58) Field surveyed (Int.Cl. 6 , DB name) G01J 1/44 G03B 7/099 G03B 7/28

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】多分割測光素子からなる測光素子,増幅
器,前記多分割測光素子を個別に前記増幅器に接続する
スイッチ,前記スイッチを駆動するデコーダ,前記増幅
器の出力をA/D変換し評価するとともに前記デコーダを
駆動する信号を発生する中央処理装置からなり、 前記中央処理装置は当初前記デコーダを動作させ前記測
光素子の全体を選択し、予想される光源のフリッカの周
波数よりも十分に狭いサンプリング間隔で前記測光素子
の全体の出力を複数回サンプリングおよびA/D変換さ
せ、 それらの出力が一定以上のバラツキがある場合は前記測
光素子の全体を選択して求めたデータにより測光演算
し、一定以上のバラツキがない場合は前記多分割測光素
子の個別のデータにより測光演算するように構成したこ
とを特徴とする分割測光装置。
1. An A / D converter for evaluating a photometric element comprising a multi-segment photometric element, an amplifier, a switch for individually connecting the multi-segment photometric element to the amplifier, a decoder for driving the switch, and the amplifier. And a central processing unit for generating a signal for driving the decoder, the central processing unit initially operating the decoder to select the entire photometric element, and sampling sufficiently narrower than the expected flicker frequency of the light source. The entire output of the photometric element is sampled and A / D-converted a plurality of times at intervals, and if the output of the entire photometric element has a variation exceeding a certain value, a photometric operation is performed by using data obtained by selecting the entire photometric device, and a constant value is obtained. Wherein the photometric operation is performed by using individual data of the multi-segment photometric element when there is no variation as described above.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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