JP2960777B2 - Method and apparatus for photoelectrically detecting edges of a sewn product - Google Patents

Method and apparatus for photoelectrically detecting edges of a sewn product

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JP2960777B2
JP2960777B2 JP2514737A JP51473790A JP2960777B2 JP 2960777 B2 JP2960777 B2 JP 2960777B2 JP 2514737 A JP2514737 A JP 2514737A JP 51473790 A JP51473790 A JP 51473790A JP 2960777 B2 JP2960777 B2 JP 2960777B2
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Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、請求項1または請求項6の前提概念に記載
の、ミシンに設けられる光電センサによって縫製物のエ
ッジを検知する方法及び装置に関するものである。
The present invention relates to a method and an apparatus for detecting an edge of a sewn product by a photoelectric sensor provided in a sewing machine according to the preamble of claim 1 or 6.

縫製物の搬送時に、ミシンのステッチ形成位置の直前
で縫製物のエッジを検知するために光電的に作動するエ
ッジセンサは知られている。その一般的な作用原理は、
上部縫製物の光学的性質と下部縫製物の光学的性質とが
異なっており、従って縫製過程において上部縫製物のエ
ッジが検知位置に現われると検知位置での光学特性が飛
躍的に変化するという事実を活用することである。縫製
物のエッジを自動的に検知するため、ステッチ形成位置
の直前の領域が照明され、この検知位置に指向される受
光器の出力が監視されることにより、縫製物のエッジの
出現を示す飛躍的な変化が検出される。この検出は種々
の方法で行なわれ、少なくともなんらかの参照値との比
較が行なわれる。この参照値は、特別の調整段階におい
て前もって固定的に設定されるか(ドイツ特許公開第36
06208号公報)、以前の出力信号を平均化することによ
って得られるか(ドイツ特許公開第3224314号公報)、
検知位置直前の位置に指向される第2の受光器の出力に
基づくか(ドイツ特許第3323214号公報)のいずれかで
ある。
2. Description of the Related Art There is known an edge sensor which is photoelectrically activated to detect an edge of a sewing product just before a stitch forming position of a sewing machine when the sewing product is transported. Its general working principle is:
The fact that the optical properties of the upper sewn product are different from the optical properties of the lower sewn product, and thus the optical characteristics at the detection position change dramatically when the edge of the upper sewn product appears at the detection position in the sewing process. It is to utilize. In order to automatically detect the edge of the sewn object, the area immediately before the stitch forming position is illuminated, and the output of the light receiver directed to this detection position is monitored, so that a jump indicating the appearance of the edge of the sewn object is performed. Change is detected. This detection is performed in various ways, at least in comparison with some reference value. This reference value is fixedly set in advance during a special adjustment phase (DE-A 36).
06208) or can be obtained by averaging previous output signals (DE 32 24 314),
Either based on the output of the second light receiver directed to the position immediately before the detection position (DE 3323214).

エッジが検知されるべき縫製物は、光を受光器に非常
にわずかしか到達させないか、或いはほとんど到達させ
ないような性質を持っていることができる。このように
“暗い”材料の場合には、照明強度と測定増幅値を最大
に設定したときでも、エッジを確実に検知するためには
受光器の出力信号が弱すぎることがある。特に搬送され
る縫製物が革のように非透光性の材料から成っている場
合には、上記公報に記載されたエッジ検知器は無力であ
る。この場合受光器は、エッジ検知のための参照値を導
出するための出力信号をエッジが出現する前に発生させ
ない。また、受光器の出力信号を、エッジ検知に最適な
測定レンジにもたらすこともできない。同様の問題は、
縫製物が単層または複層で、層の少なくとも一つが例え
ば革またはフェルトから成っている場合に生じる。この
ような縫製物が他の縫製物を上に縫い付けるための下敷
きの働きをしている場合には、この他の縫製物の前稜も
後稜も検知することができない。なぜならこのような縫
製物のエッジでは、受光器に光の変化が生じないからで
ある。
The sewing material whose edges are to be detected can have properties such that very little or little light reaches the light receiver. In the case of such a "dark" material, the output signal of the light receiver may be too weak to reliably detect an edge even when the illumination intensity and the measured amplification value are set to the maximum. The edge detector described in the above publication is useless especially when the conveyed sewing material is made of a non-translucent material such as leather. In this case, the light receiver does not generate an output signal for deriving a reference value for edge detection before an edge appears. Also, the output signal of the light receiver cannot be brought to a measurement range optimal for edge detection. A similar problem is
Occurs when the sewn article is a single layer or multiple layers and at least one of the layers is made of, for example, leather or felt. When such a sewn article acts as an underlay for sewing another sewn article thereon, neither the leading edge nor the trailing edge of the other sewn article can be detected. This is because there is no light change in the light receiver at the edge of such a sewing product.

本発明の課題は、縫製物のエッジを光電的に検知する
ための方法及び装置において、従来のこの種の方法及び
装置に比べて、検知位置での縫製物の性質による正確な
検知の確実性にたいする阻害が少ないような前記方法及
び装置を提供することである。この課題は、本発明によ
れば、請求項1または請求項6の特徴部分によって解決
される。
It is an object of the present invention to provide a method and an apparatus for photoelectrically detecting the edge of a sewn object, which are more reliable than the conventional methods and apparatuses of this kind due to the nature of the sewn object at the detection position. An object of the present invention is to provide a method and an apparatus as described above, wherein the method and apparatus have less inhibition. This object is achieved according to the invention by the features of claim 1 or claim 6.

本発明では、縫製物の種類が異なれば光学的な性質も
異なるという事実が活用される。さらに、これらの性質
の一方の極値は必ずしも他方の性質の極値と同時に現わ
れる必要がないという認識、及び一つの光学的な性質が
似ている種類の違う縫製物は他の光学的性質の点で非常
に異なっていることがあるという認識が活用される。本
発明にしたがって反射光測定(落射測定)の結果と透過
光測定の結果を選択または切り換えることにより、二つ
の光学的な性質のうち、より好適な判別基準を与えるよ
うな性質をエッジ検知のために援用することができる。
二つの光学的性質とは、光反射能及び光透過性である。
The invention takes advantage of the fact that different types of sewing products have different optical properties. In addition, the realization that one extreme of these properties does not necessarily have to appear simultaneously with the extreme of the other, and that different types of sewn materials with similar optical properties may have different optical properties. The realization that they can be very different in that respect is exploited. According to the present invention, by selecting or switching between the result of the reflected light measurement (epi-light measurement) and the result of the transmitted light measurement, a property that gives a more suitable discrimination criterion among the two optical properties for edge detection. Can be referred to.
Two optical properties are light reflectivity and light transmission.

ドイツ特許公開第3514459号公報からは、対象エッジ
を検知するために、落射照明と透過照明とを行なうこと
が知られている。この公知の例の場合、透過照明像と落
射照明像とが光学系を用いて重畳されて、組み合わされ
た像において強度分布が得られる。この強度分布はエッ
ジ位置に関して対称である。このような強度分布を導出
させるのは、高コントラストのエッジを結像させる場合
に、エッジの像をオリジナルのエッジにたいして明るい
像の方向へ常に移動させることによって生じる誤差を補
正するためである。しかしその前提は、落射照明像にお
ける強度分布が透過照明像における強度分布にたいして
正確に補完的であるという点にある。しかしこのことは
対象物に反射性の性質があり、下敷きに透過性の性質が
ある場合に限られている。よってこのエッジ検知方法は
数少ない特殊なケースに限られている。
It is known from DE 3514459 to perform epi-illumination and transmitted illumination in order to detect a target edge. In the case of this known example, the transmitted illumination image and the epi-illumination image are superimposed using an optical system, and an intensity distribution is obtained in the combined image. This intensity distribution is symmetric with respect to the edge position. The reason why such an intensity distribution is derived is to correct an error caused by constantly moving the edge image in the direction of a brighter image with respect to the original edge when forming a high-contrast edge. However, the premise is that the intensity distribution in the epi-illumination image is exactly complementary to the intensity distribution in the transmitted illumination image. However, this is only the case when the object has a reflective property and the underlay has a transmissive property. Therefore, this edge detection method is limited to a few special cases.

上記公報から知られている方法と本発明とが異なって
いる点は、本発明では強度測定値が飛躍的に変化したと
きにエッジ検知信号を発生させ、最後に挙げた公開公報
の場合のように、対称な強度分布の位置で発生させない
ことである。また本発明では、透過光と反射光は別個に
測定され、エッジ検知信号を発生させるためにこれらの
測定の一つだけが評価されるにすぎず、一方公知の方法
の場合には、透過光の反射光の重畳光の全強度が評価さ
れることである。
The difference between the method known from the above publication and the present invention is that, in the present invention, an edge detection signal is generated when the intensity measurement value changes drastically, as in the case of the last published publication. Another problem is that it is not generated at a position of a symmetrical intensity distribution. Also, in the present invention, transmitted light and reflected light are measured separately, and only one of these measurements is evaluated to generate an edge detection signal, whereas in known methods, the transmitted light is reflected. Is to evaluate the total intensity of the superimposed light of the reflected light.

本発明による方法では、透過光測定を使用するか反射
光測定を使用するかの決定は、検出されるべき縫製物の
エッジが検知位置に現われたときにどちらの測定値がよ
り好適に判別可能な跳躍をさせるかに依存している。た
いていの場合この決定は難なく行なうことができる。有
利な選択は、縫製物のエッジがまだ現われないときに測
定値がより大きな振幅を示すような測定方式を選択する
ことである。これによって検知方法を自動化するこがで
き、より厳密には既に事前調整の過程で自動化させるこ
とができる。ここで事前調整とは、測定レンジ設定のた
めに照明強度または測定信号増幅値を低い値から増大さ
せて測定信号が所望の測定レンジに達するようにする調
整である。この調整、従って選択されるべき測定方式に
関する決定は、次の縫製物のエッジの確実な検知を行な
うための最適な条件を提供するため、縫製物のエッジを
検知した後新たに行なうことができる。
In the method according to the invention, the decision whether to use the transmitted light measurement or the reflected light measurement is made so that which measurement value can be better discriminated when the edge of the sewing object to be detected appears at the detection position. It depends on what makes you leap. In most cases, this decision can be made without difficulty. An advantageous choice is to select a measurement scheme in which the measured values show a greater amplitude when the edges of the sewing product have not yet appeared. As a result, the detection method can be automated, and more precisely, can be already automated during the pre-adjustment process. Here, the pre-adjustment is an adjustment for increasing the illumination intensity or the amplification value of the measurement signal from a low value for setting the measurement range so that the measurement signal reaches a desired measurement range. This adjustment, and thus the determination of the measuring method to be selected, can be made anew after the edge of the sewing is detected in order to provide optimal conditions for the reliable detection of the edge of the next sewing. .

本発明による方法または装置の上述した構成及び他の
有利な構成は、従属項に記載されている。
The above-described and other advantageous configurations of the method or device according to the invention are described in the dependent claims.

次に、本発明の実施例を添付の図面を用いて説明す
る。
Next, embodiments of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.

第1図は 縫製物走査装置を備えたミシンの正面図、 第2図は 透過光フォトインターラプターと反射光イ
ンターラプターとを組み合わせたインターラプターの基
本的構成をも示すミシンの側面図、 第3図は 本発明による装置の回路の構成図、 である。
FIG. 1 is a front view of a sewing machine provided with a sewing product scanning device, FIG. 2 is a side view of the sewing machine also showing the basic configuration of an interrupter combining a transmitted light photo interrupter and a reflected light interrupter, The figure is a block diagram of the circuit of the device according to the present invention.

第1図は、スタンドと、上アームと、ヘッドと、布担
持板1aとを有しているミシン1を示している。布担持板
1aは、ミシン台2のテーブル板2aの一部分に固定されて
おり、テーブル板2aの下方に固定されている縫製モータ
3によりVベルト4を介して駆動される。
FIG. 1 shows a sewing machine 1 having a stand, an upper arm, a head, and a cloth supporting plate 1a. Cloth carrying plate
1a is fixed to a part of the table plate 2a of the sewing machine base 2, and is driven via a V-belt 4 by a sewing motor 3 fixed below the table plate 2a.

ミシン1のヘッドは通常の布押え棒5(第2図)を有
している。布押え棒5は布押え足6を担持している。布
押え足6は、縫製されるべき縫製物の上に載置され、縫
製モータ3によって駆動される針棒7の後方に配置され
ている。針棒7は針8を担持している。針8は、布担持
板1a内に配置される針板9の穿刺穴9aを貫通して、公知
の態様で針棒7に同期して駆動される図示していない糸
捕捉体と協働する。
The head of the sewing machine 1 has a usual presser bar 5 (FIG. 2). The presser foot 5 carries a presser foot 6. The cloth presser foot 6 is placed on a sewing object to be sewn, and is arranged behind a needle bar 7 driven by the sewing motor 3. The needle bar 7 carries a needle 8. The needle 8 penetrates the puncture hole 9a of the needle plate 9 arranged in the cloth holding plate 1a and cooperates with a thread catcher (not shown) driven in synchronization with the needle bar 7 in a known manner. .

第2図に示すように、ミシン1の前面には、針棒7の
作業範囲前方にフォトインターラプターが配置されてい
る。フォトインターラプターは、発光ダイオード13とし
て構成された光源と、フォトダイオード14として構成さ
れた第1の光センサと、フォトトランジスタ14aとして
構成された第2の光センサとを有している。発光ダイオ
ード13とフォトトランジスタ14aとは、ステッチ形成位
置の前方においてミシン1のヘッドに固定されている反
射スキャナー10内に設けられている。この場合発光ダイ
オード13とフォトトランジスタ14aとは密接して針板9
に指向されており、しかし直接に光が入射しないように
互いに遮蔽されている。反射スキャナーの代わりにガラ
スファイバー光学装置または反射カップラーを使用する
こともできる。反射スキャナー10と針板9の間隔は、両
縫製物N1とN2の通過が良好に行なわれるような間隔、例
えばほぼ5mmに選定されている。
As shown in FIG. 2, a photo interrupter is disposed on the front surface of the sewing machine 1 in front of the working range of the needle bar 7. The photointerrupter has a light source configured as a light emitting diode 13, a first optical sensor configured as a photodiode 14, and a second optical sensor configured as a phototransistor 14a. The light emitting diode 13 and the phototransistor 14a are provided in the reflection scanner 10 fixed to the head of the sewing machine 1 in front of the stitch forming position. In this case, the light emitting diode 13 and the phototransistor 14a are in close contact
, But are shielded from each other to prevent direct light incidence. Glass fiber optics or reflective couplers can be used instead of a reflective scanner. The interval between the reflection scanner 10 and the needle plate 9 is selected to be an interval at which the sewing products N1 and N2 can pass well, for example, approximately 5 mm.

一方フォトダイオード14は、針板9の一部分9bに収納
されている。
On the other hand, the photodiode 14 is housed in a part 9 b of the needle plate 9.

エッジを走査される縫製物は、縫製過程時に発光ダイ
オード13とフォトダイオード14の間を通過する。縫製物
は、図示した実施例の場合二つの縫製物、即ち互いに縫
合されるべき上部縫製物N1と下部縫製物N2から成ってい
る。
The sewing object whose edge is scanned passes between the light emitting diode 13 and the photodiode 14 during the sewing process. The sewn product in the illustrated embodiment consists of two sewn products, an upper sew product N1 and a lower sew product N2 to be sewn together.

フォトダイオード14は、発光ダイオード13から発せら
れた光のうち、縫製物N1とN2を貫通した光を捕捉し、測
定増幅器15の出力に対応する電圧を生じさせる。発光ダ
イオード13は、駆動増幅切12を介して、所定の周波数を
持った発振器11により変調され、測定増幅器15の出力信
号は、上記周波数に同調している帯域フィルタ16を介し
て、発振器11の周波数に同期している同期整流器17に与
えられる。発振器11と同期整流器17の間に設けられてい
る遅延素子18は、同期信号が正確な位相で同期整流器17
に生じるように作動時間の補正に用いる。光の変調とこ
れに続く同期整流は外乱を押さえるために行ない、余分
な光学系を設ける必要がなくなる。この後に設けられる
低域フィルタ19は整流された測定電圧を滑らかにする。
滑らかにされた測定電圧は、切り換えスイッチ20(その
機能については後述する)を介してアナログ/デジタル
変換器21に送られて、連続するデジタル走査値としての
測定信号Uが形成される。
The photodiode 14 captures, among the light emitted from the light emitting diode 13, the light that has passed through the sewn items N1 and N2, and generates a voltage corresponding to the output of the measurement amplifier 15. The light emitting diode 13 is modulated by the oscillator 11 having a predetermined frequency via the drive amplifier 12 and the output signal of the measuring amplifier 15 is passed through the bandpass filter 16 which is tuned to the above frequency. It is provided to a synchronous rectifier 17 which is synchronized with the frequency. The delay element 18 provided between the oscillator 11 and the synchronous rectifier 17 provides a synchronous rectifier
It is used to correct the operating time so that The light modulation and the subsequent synchronous rectification are performed in order to suppress disturbance, and it is not necessary to provide an extra optical system. A low-pass filter 19 provided after this smoothes the rectified measured voltage.
The smoothed measurement voltage is sent to an analog / digital converter 21 via a changeover switch 20 (the function of which will be described later) to form a measurement signal U as a continuous digital scan value.

デジタル化された測定信号Uは処理装置40の入力に送
られる。処理装置40は例えばマイクロコントローラとし
て構成することができる。この処理装置40は測定信号U
の時間的な変化を監視し、縫製物のエッジWの出現を示
唆するような測定信号Uの急激な変化があった場合に
は、出力側からエッジ検知信号Kを出力する。このため
に使用される処理方法は任意であり、従ってここでは詳
細に説明しない。従来の技術の一例は既に述べたとおり
であるが、縫製物のエッジWが出現したときに測定信号
Uの跳躍を十分きわだつようにすれば、他の測定信号の
変動から区別することができるので有利である。
The digitized measurement signal U is sent to the input of the processing device 40. The processing device 40 can be configured as, for example, a microcontroller. This processing device 40 provides the measurement signal U
Is monitored, and when there is a sudden change in the measurement signal U indicating the appearance of the edge W of the sewing product, the edge detection signal K is output from the output side. The processing method used for this is arbitrary and therefore will not be described in detail here. An example of the prior art is as described above. However, if the jump of the measurement signal U is made sufficiently noticeable when the edge W of the sewn article appears, it can be distinguished from the fluctuation of other measurement signals. It is advantageous.

フォトインターラプターのフォトトランジスタ14a
は、光源13から発せられた光の、上部縫製物N1によって
反射した成分を受光するように配置されている。このフ
ォトトランジスタ14aの後方にも同様に測定増幅器15a
と、帯域フィルタ16aと、同期整流器17aと、低域フィル
タ19aとが設けられている。これらの素子の機能は、フ
ォトダイオード14の出力の後方の素子15,16,17,19の機
能と同一である。縫製物N2が光を透過させない材料、例
えば革から成り、従ってフォトダイオード14が縫製物の
エッジWの前方でも後方でも光を受光しない場合には、
低域フィルタ19aから送られてきて上部縫製物N1で反射
した光に対応している信号のほうが、低域フィルタ19か
ら送られてきた“透過光信号”よりも、縫製物N1のエッ
ジWを検知するうえで好ましい場合がある。縫製物N2の
光透過性が少ない場合、またはまったく透過しない場合
にも、少なくともエッジを検知する場合には光透過測定
方式によるエッジ検出には問題がある。従ってこのよう
な場合には反射光測定方式に切り換える必要がある。
Phototransistor Phototransistor 14a
Are arranged to receive a component of light emitted from the light source 13 and reflected by the upper sewn product N1. Similarly, the measurement amplifier 15a is located behind the phototransistor 14a.
, A band-pass filter 16a, a synchronous rectifier 17a, and a low-pass filter 19a. The functions of these elements are the same as those of the elements 15, 16, 17, and 19 behind the output of the photodiode. If the sewing N2 is made of a light-impermeable material, for example leather, so that the photodiode 14 does not receive light either before or after the edge W of the sewing,
The signal corresponding to the light transmitted from the low-pass filter 19a and reflected by the upper sewn product N1 has a greater edge W of the sewn product N1 than the "transmitted light signal" sent from the low-pass filter 19. It may be preferable for detection. Even when the light transmittance of the sewn product N2 is low or does not transmit at all, there is a problem in edge detection by the light transmission measurement method at least when detecting edges. Therefore, in such a case, it is necessary to switch to the reflected light measurement method.

切り換えの判断基準は、透過光信号と反射光信号の振
幅を比較することによって行なう。このために用いられ
る振幅比較器30は両低域フィルタ19と19aの出力信号を
受信し、縫製物のエッジWが出現する前に作動して、振
幅がより大きな測定信号を送る出力側にその都度切り換
えスイッチ20を設定する。どちらの測定信号がより強い
かの指示を操作者が受ける場合、または処理されるべき
縫製物の性質を考慮してどちらの測定方式が優先される
べきかの判断をできるほどの経験を操作者が持っている
場合には、もちろん切り換えを手動で行なうこともでき
る。
The criterion for switching is determined by comparing the amplitudes of the transmitted light signal and the reflected light signal. The amplitude comparator 30 used for this receives the output signals of the two low-pass filters 19 and 19a and is activated before the appearance of the edge W of the sewn product, and its output is sent to the output side which sends the measurement signal with a larger amplitude. Set the changeover switch 20 each time. When the operator is instructed which measurement signal is stronger, or has enough experience to determine which measurement method should be given priority in consideration of the nature of the sewing product to be processed. , It is of course possible to switch manually.

測定方式(透過光測定方式または反射光測定方式)の
選択は、測定レンジの設定と関連して行なうこともでき
る。測定レンジの設定では、測定信号が最も好ましい測
定レンジに生じるように、検知位置での照射強度及び/
または準備調整過程における測定信号の増幅が調整され
る。このためには、駆動増幅器12及び/又は測定増幅器
15,15aの増幅ファクタを調整可能にするのが有利であ
る。このことを第3図において上記増幅器の制御入力ST
とSMによって示唆した。上記増幅器のための制御信号ST
とSMは、測定信号Uを実際値として受信し、所望の測定
レンジにある値を目標値として受信する調節装置から送
られる。有利なのは、処理装置40の特別のソフトウェア
を用いて対応する調節機構を実現することである。制御
信号STとSMは、デジタル形式で、駆動増幅器12または測
定増幅器15,15a内の対応するデジタル調整装置に送るこ
とができる。
The selection of the measurement method (transmitted light measurement method or reflected light measurement method) can also be performed in connection with the setting of the measurement range. In setting the measurement range, the irradiation intensity at the detection position and / or
Alternatively, the amplification of the measurement signal in the preparation adjustment process is adjusted. For this purpose, the drive amplifier 12 and / or the measurement amplifier
Advantageously, the amplification factor of 15,15a is adjustable. This is shown in FIG. 3 by the control input S T of the amplifier.
And it was suggested by S M. Control signal S T for the above amplifier
And SM are sent from an adjustment device that receives the measurement signal U as an actual value and receives a value in the desired measurement range as a target value. Advantageously, the corresponding adjustment mechanism is realized using special software of the processing device 40. Control signal S T and S M is in digital form, it can be sent to the corresponding digital regulator of the driving amplifier 12 or the measuring amplifier 15, 15a.

測定レンジを設定するために、まず切り換えスイッチ
20を両測定経路14−19及び14a−19aのいずれか任意の方
へ設定することができる。例えば透過光測定経路14−19
に設定することができる(切り換えスイッチ20の図示し
た位置)。駆動増幅器12と測定増幅器15は当初最小増幅
値に設定され、その後測定信号Uが所望の測定レンジに
なるまで駆動増幅器12を高く調節する。駆動増幅器12の
増幅値が最大に調整されてもこの所望の測定レンジに達
しない場合には、測定増幅器15の増幅値を高く調節して
所望の測定レンジに到達させる。これはすべて処理装置
40を用いて自動的に行なうことができる。
To set the measurement range, first select the switch
20 can be set to any one of the two measurement paths 14-19 and 14a-19a. For example, transmitted light measurement path 14-19
(The illustrated position of the changeover switch 20). The drive amplifier 12 and the measurement amplifier 15 are initially set to the minimum amplification value and then adjust the drive amplifier 12 high until the measurement signal U is in the desired measurement range. If the desired measurement range is not reached even when the amplification value of the drive amplifier 12 is adjusted to the maximum, the amplification value of the measurement amplifier 15 is adjusted to a higher value to reach the desired measurement range. This is all processing equipment
This can be done automatically using 40.

例えば透過光測定経路によって所望の測定レンジに達
しないことが明らかな場合には、切り換えスイッチ20を
切り換えて同様の手続きをもう一方の測定経路を用いて
行なうことができる。この切り換えも自動的に行なうこ
とができる。所望の測定レンジにより早く(即ちより小
さな増幅値で)到達するような測定経路を選択するため
に、両測定経路を互いに独立にテストすることもでき
る。振幅比較器30を使用するとこのテストが自動的に行
なわれ、この場合振幅比較器30は切り換えスイッチ20を
常に、より強い出力信号を発する測定経路へ設定する。
For example, if it is clear that the desired measurement range is not reached by the transmitted light measurement path, the same procedure can be performed using the other measurement path by switching the changeover switch 20. This switching can also be performed automatically. Both measurement paths can also be tested independently of each other in order to select a measurement path that reaches the desired measurement range earlier (ie with a smaller amplification value). The use of the amplitude comparator 30 performs this test automatically, in which case the amplitude comparator 30 always sets the changeover switch 20 to a measurement path that produces a stronger output signal.

上記の実施例のほかにももちろん様々な変形例が可能
である。例えば光センサ14または14aの後方に二つの別
個の測定チャンネル15−19及び15a−19aを設ける代わり
に、共通の一つの測定チャンネルを使用することができ
る。この共通の測定チャンネルの入力は、両光センサ14
と14aの間で切り換え可能である。この場合、第3図に
図示した測定経路の一方ばかりでなく、振幅比較器30及
び切り換えスイッチ20も設けなくてよい。それにもかか
わらず両測定方式の振幅比較を可能にするため、処理装
置40内に測定値メモリを設けることができ、場合によっ
てはこれに表示装置を付設することができる。両測定方
式は時間的に連続してテストされ、或いは時間多重方式
によりほぼ並行にテストされる。
Various modifications are of course possible in addition to the above-described embodiment. For example, instead of providing two separate measurement channels 15-19 and 15a-19a behind the optical sensor 14 or 14a, a common measurement channel can be used. The input of this common measurement channel is
And 14a. In this case, not only one of the measurement paths shown in FIG. 3 but also the amplitude comparator 30 and the changeover switch 20 need not be provided. Nevertheless, in order to enable a comparison of the amplitudes of the two measuring methods, a measuring value memory can be provided in the processing device 40, possibly with a display device. Both measurement schemes are tested sequentially in time or almost in parallel by a time multiplex scheme.

透過光インターラプターと反射光インターラプターを
組み合わせる代わりに、それぞれ固有の光源を備えた二
つの別個のフォトインターラプターを使用することがで
きる。これらのインターラプターは対象物の相対運動方
向にたいして横に並べて配置するのが有利であり、所望
の場合には異なる変調光周波数で作動させることができ
る。原理的には、二つの送光器を対象物の対向する側に
設け、共通の一つの受光器を設けることもできる。受光
器は、一方の光源から発せられ透過してきた光を受光
し、且つ他方の光源から発せられ反射した光を受光す
る。この場合透過光と反射光を別個に測定するため、二
つの送光器の一方をオンにし、他方の送光器をオフにす
る。
Instead of combining transmitted and reflected light interrupters, two separate photo interrupters, each with its own light source, can be used. These interrupters are advantageously arranged side-by-side with respect to the direction of the relative movement of the object and can be operated at different modulated light frequencies if desired. In principle, two light transmitters can be provided on opposite sides of the object, and a common light receiver can be provided. The light receiver receives light transmitted from one light source and transmitted, and receives light reflected and emitted from the other light source. In this case, to separately measure the transmitted light and the reflected light, one of the two light transmitters is turned on and the other light transmitter is turned off.

フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭61−109596(JP,A) 特開 昭61−165679(JP,A) 特開 昭61−199896(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) D05B 69/00 D05B 35/10 Continuation of front page (56) References JP-A-61-109596 (JP, A) JP-A-61-165679 (JP, A) JP-A-61-199896 (JP, A) (58) Fields investigated (Int) .Cl. 6 , DB name) D05B 69/00 D05B 35/10

Claims (16)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】ミシンのステッチ形成位置の直前に位置す
るようにミシンに設けられ光源を介して縫製物を照明す
る光電センサによって、少なくとも一つの縫製物のエッ
ジを検知する方法であって、縫製物から出た光の強度を
測定し、強度測定値が飛躍的に変化したときに縫製物の
エッジを検知するための信号を発生させるようにした前
記方法において、 縫製物の照明位置で反射した光成分の強度を測定する第
1の測定過程と、縫製物を透過した光成分の強度を測定
する第2の測定過程とを別個に行うこと、 検知されるべき縫製物のエッジが照明位置に現われたと
きに前記第1の測定過程と第2の測定過程のうち、測定
値がより大きな飛躍を示すほうの測定過程を、縫製物の
エッジ検出信号を発生させるために選定することを特徴
とする方法。
1. A method for detecting at least one edge of a sewing product by a photoelectric sensor provided on the sewing machine so as to be located immediately before a stitch forming position of the sewing machine, the illumination sensor illuminating the sewing product via a light source. In the above method, the intensity of light emitted from an object is measured, and a signal for detecting an edge of the object is generated when the intensity measurement value changes drastically. Separately performing a first measurement step of measuring the intensity of the light component and a second measurement step of measuring the intensity of the light component transmitted through the sewn object; When appearing, of the first measurement process and the second measurement process, a measurement process whose measured value shows a larger leap is selected to generate an edge detection signal of a sewing product. how to
【請求項2】縫製物のエッジが現われないときに、測定
値がより大きな振幅を示すほうの測定過程を、縫製物の
エッジ検出信号を発生させるために選定することを特徴
とする、請求項1に記載の方法。
2. The method according to claim 1, further comprising the step of selecting a measuring process whose measured value has a larger amplitude when an edge of the sewn object does not appear in order to generate an edge detection signal of the sewn object. 2. The method according to 1.
【請求項3】二つの測定過程の少なくとも一方の測定過
程における測定値が所定の測定レンジ内に達するまで照
明強度及び測定増幅値の少なくとも一方を低い値から増
大させるような準備調整を行なうこと、照明強度または
測定増幅値が最も低いときに測定値が前記測定レンジ内
に達するような測定過程を選定して、縫製物のエッジ検
出信号を発生させることを特徴とする、請求項1に記載
の方法。
3. A preparatory adjustment is made to increase at least one of the illumination intensity and the measured amplification value from a low value until a measured value in at least one of the two measuring processes reaches within a predetermined measuring range; 2. The sewing process according to claim 1, wherein a measurement process is selected such that the measured value reaches the measurement range when the illumination intensity or the measured amplification value is the lowest, and an edge detection signal of the sewing product is generated. Method.
【請求項4】準備調整過程において、照明強度が最大で
あるときに測定値が所定の測定レンジ内に達しない場合
に、測定信号が測定レンジ内に達するまで測定増幅値を
増大させることを特徴とする、請求項3に記載の方法。
4. A pre-adjustment process in which, when the measured value does not reach a predetermined measurement range when the illumination intensity is at a maximum, the measurement amplification value is increased until the measurement signal reaches the measurement range. The method according to claim 3, wherein
【請求項5】縫製物のエッジを検知するための信号を発
生させた後、準備調整を新たに実施することを特徴とす
る、請求項3または4に記載の方法。
5. The method according to claim 3, wherein a new preparation adjustment is performed after the generation of the signal for detecting the edge of the sewing product.
【請求項6】センサがフォトインターラプターを有し、
該フォトインターラプターが、ステッチ形成位置の前方
で縫製物を照明するための照明装置と、照明位置から出
た光の強度を測定してこの強度の関数としての測定信号
を生じさせる光測定装置とを有し、測定信号を受信し、
該測定信号が飛躍的に変化したときに縫製物のエッジを
検知するための信号を発生させる処理装置が設けられて
いる、請求項1から5までのいずれか一つに記載の方法
を実施するための装置を備えたミシンにおいて、 光測定装置が、照明位置で反射した光成分と照明位置で
透過した光成分とを別個に測定し、対応する測定信号を
別個に生じさせるための装置(14a−19aと14−19)を有
していること、 縫製物のエッジを検知するための信号を発生させるため
の処理に用いる両測定信号のうち、より大きな飛躍を示
すほうの測定信号を選択するための選択装置(20,30)
が設けられていることを特徴とするミシン。
6. The sensor has a photointerrupter,
An illumination device for illuminating the sewn object in front of the stitch forming position, the photointerrupter measuring an intensity of light emitted from the illumination position and generating a measurement signal as a function of the intensity; Receiving the measurement signal,
6. The method according to claim 1, further comprising a processing device for generating a signal for detecting an edge of the sewing product when the measurement signal changes drastically. Device for measuring separately the light component reflected at the illuminating position and the light component transmitted at the illuminating position and separately generating a corresponding measuring signal (14a −19a and 14−19), and select the measurement signal that shows a larger leap among the two measurement signals used for processing to generate a signal for detecting the edge of the sewing product. Selection device for (20,30)
A sewing machine characterized in that a sewing machine is provided.
【請求項7】光測定装置(14a−19aと14−19)が、両測
定信号の振幅を表する表示装置を有していること、選択
装置(20,30)が、両測定信号の一方を選択するため
の、手動で操作可能な切り換えスイッチ(20)を有して
いることを特徴とする、請求項6に記載のミシン。
7. The light measuring device (14a-19a and 14-19) has a display device for displaying the amplitude of both measurement signals, and the selecting device (20, 30) is adapted to select one of the two measurement signals. The sewing machine according to claim 6, further comprising a manually operable changeover switch (20) for selecting a sewing machine.
【請求項8】選択装置(20,30)が振幅比較器(30)を
有し、該振幅比較器(30)は、両測定信号を互いに比較
してその都度強いほうの測定信号をその後の処理のため
に選択することを特徴とする、請求項6に記載のミシ
ン。
8. The selection device (20, 30) has an amplitude comparator (30), which compares the two measurement signals with each other and outputs the stronger measurement signal in each case. 7. The sewing machine according to claim 6, wherein the sewing machine is selected for processing.
【請求項9】光測定装置(14a−19a,14−19)が二つの
受光器を有し、第1の受光器(14a−19a)が、照明位置
で反射した光成分だけを主に受光し、第2の受光器(14
−19)が、照明位置を透過した光成分だけを主に受光す
ること、両受光器のそれぞれが、受光した光の強度に対
応する測定信号を発することを特徴とする、請求項6か
ら8までのいずれか1つに記載のミシン。
9. The light measuring device (14a-19a, 14-19) has two light receivers, and the first light receiver (14a-19a) mainly receives only light components reflected at the illumination position. And the second light receiver (14
-19), mainly receiving only the light component transmitted through the illumination position, and each of the two light receivers emits a measurement signal corresponding to the intensity of the received light. The sewing machine according to any one of the above.
【請求項10】照明装置(11−13)がただ一つの光源
(13)を備えた送光器を有していること、両受光器(14
a−19a,14−19)が、前記光源から出る光エネルギーの
成分に応答することを特徴とする、請求項9に記載のミ
シン。
10. The illumination device (11-13) having a light transmitter with only one light source (13);
10. The sewing machine according to claim 9, wherein a-19a, 14-19) are responsive to a component of light energy emitted from the light source.
【請求項11】送光器(11−13)が所定周波数の変調光
を送ること、両受光器(14a−19a,14−19)が、変調光
の周波数に同調した帯域フィルタ(16a,16)と、これに
接続され低域フィルタ(19a,19)を備えた同期整流器
(17a,17)とを有していることを特徴とする、請求項10
に記載のミシン。
11. A light transmitter (11-13) sends modulated light of a predetermined frequency, and both light receivers (14a-19a, 14-19) transmit band-pass filters (16a, 16) tuned to the frequency of the modulated light. ) And a synchronous rectifier (17a, 17) connected thereto and having a low-pass filter (19a, 19).
The sewing machine described in 1. above.
【請求項12】光測定装置の測定レンジを調整するため
の少なくとも一つの調整素子(12,15a,15)が設けられ
ていることを特徴とする、請求項10または11に記載のミ
シン。
12. The sewing machine according to claim 10, wherein at least one adjusting element (12, 15a, 15) for adjusting the measuring range of the light measuring device is provided.
【請求項13】調整素子として、調節可能な増幅器(1
2)が送光器(11−13)の駆動回路内に設けられている
ことを特徴とする、請求項12に記載のミシン。
13. An adjustable amplifier (1) as an adjusting element.
13. The sewing machine according to claim 12, wherein 2) is provided in a drive circuit of the light transmitter (11-13).
【請求項14】調整素子として、調節可能な増幅器(15
a,15)が受光器(14a−19a,14−19)内に設けられてい
ることを特徴とする、請求項12または13に記載のミシ
ン。
14. An adjustable amplifier (15) as an adjusting element.
14. The sewing machine according to claim 12, wherein (a, 15) is provided in the light receiver (14a-19a, 14-19).
【請求項15】各調整素子(12,14a,15)が、選択的に
切り換え可能で調節回路として構成された処理装置(4
0)の構成要素であり、処理装置(40)は、その都度の
測定信号を調節量として受信し、且つ測定レンジ内にあ
る値を目標値として受信することを特徴とする、請求項
12から14までのいずれか1つに記載のミシン。
15. A processing device (4) in which each of the adjusting elements (12, 14a, 15) is selectively switchable and configured as an adjusting circuit.
0), wherein the processing device (40) receives the respective measurement signal as an adjustment amount and receives a value within the measurement range as a target value.
A sewing machine according to any one of 12 to 14.
【請求項16】光源(13)と第1の受光器(14a−19a)
の光センサ(14a)が反射スキャナー(10)の構成要素
であること、第2の受光器(14−19)の光センサー(1
4)が、反射スキャナー(10)の光源(13)から出た光
の、照明位置にて透過した成分を受光するために設けら
れていることを特徴とする、請求項10に記載のミシン。
16. A light source (13) and a first light receiver (14a-19a).
That the optical sensor (14a) of the second optical receiver (14-19) is a component of the reflection scanner (10).
The sewing machine according to claim 10, characterized in that 4) is provided for receiving a component of light emitted from the light source (13) of the reflection scanner (10), which is transmitted at the illumination position.
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