JP2957255B2 - Variable temperature test tank - Google Patents

Variable temperature test tank

Info

Publication number
JP2957255B2
JP2957255B2 JP26578990A JP26578990A JP2957255B2 JP 2957255 B2 JP2957255 B2 JP 2957255B2 JP 26578990 A JP26578990 A JP 26578990A JP 26578990 A JP26578990 A JP 26578990A JP 2957255 B2 JP2957255 B2 JP 2957255B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
rod guide
test
cooling jacket
temperature
coupler
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP26578990A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPH04142443A (en
Inventor
實 木崎
一郎 後藤
晴夫 永山
良八 柵山
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NIPPON GENSHIRYOKU KENKYUSHO
Tokyo Koki Seizosho KK
Original Assignee
NIPPON GENSHIRYOKU KENKYUSHO
Tokyo Koki Seizosho KK
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NIPPON GENSHIRYOKU KENKYUSHO, Tokyo Koki Seizosho KK filed Critical NIPPON GENSHIRYOKU KENKYUSHO
Priority to JP26578990A priority Critical patent/JP2957255B2/en
Publication of JPH04142443A publication Critical patent/JPH04142443A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP2957255B2 publication Critical patent/JP2957255B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Investigating Strength Of Materials By Application Of Mechanical Stress (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は温度可変試験槽に係り、特に原子炉等で放射
化された試料の材料試験を低温から高温までの特殊雰囲
気下で行えるようにした温度可変試験槽に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Industrial Application Field] The present invention relates to a variable temperature test tank, and more particularly to a material test of a sample activated in a nuclear reactor or the like under a special atmosphere from a low temperature to a high temperature. To a variable temperature test chamber.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

一般に原子力施設等において放射能の影響を受けるよ
うな装置等で使用される材料については照射による材料
の変化を把握しなければならない。このため使用材料と
同じ材質の試験片を原子炉等で照射し、その照射材料に
対して各種の材料試験が行われている。
Generally, for materials used in equipment that is affected by radioactivity in nuclear facilities, etc., changes in the materials due to irradiation must be understood. For this reason, a test piece of the same material as the used material is irradiated with a nuclear reactor or the like, and various material tests are performed on the irradiated material.

また、材料試験後の試験片を透過型電子顕微鏡で検査
することにより、材料組成の変化についてさらに詳細に
把握することができる。このため材料試験の試験片をそ
のまま透過型電子顕微鏡の試料として使用できるように
微小寸法に成形された試験片を使用できる超小型の材料
試験機が開発されている。
Further, by inspecting the test piece after the material test with a transmission electron microscope, it is possible to grasp the change in the material composition in more detail. For this reason, an ultra-small material testing machine has been developed which can use a test piece molded to a small size so that a test piece for a material test can be used as it is as a sample for a transmission electron microscope.

たとえば、スモールパンチ(SP)試験機は直径3mmの
微小な薄板状のTEM試料を試験片として使用できる押抜
き試験機である。
For example, a small punch (SP) testing machine is a punching testing machine that can use a small thin TEM sample having a diameter of 3 mm as a test piece.

したがって、上記TEM試料は中性子等による照射の影
響を把握するためにホットラボにおいてSP試験機等によ
り試験される。
Therefore, the TEM sample is tested in a hot laboratory using an SP tester or the like in order to understand the effects of irradiation by neutrons or the like.

この試料は材料の強度特性が環境温度に依存すること
から広範囲の温度環境下で行われる必要がある。例え
ば、鉄鋼材料等の脆性破壊試験は−150〜200℃程度の範
囲で行われ、炉材料の高温強度特性を把握するには室温
状態から900℃程度の温度環境下での試験が行われてい
る。このため、従来はそれぞれの温度を設定できる2つ
の温度設備を用意し、試験目的に応じてチャンバーを交
換する等の方法をとっていた。
This sample needs to be performed in a wide temperature environment because the strength characteristics of the material depend on the environmental temperature. For example, brittle fracture tests of steel materials etc. are carried out in the range of about -150 to 200 ° C, and tests to determine the high-temperature strength characteristics of furnace materials are carried out in a temperature environment from room temperature to about 900 ° C. I have. For this reason, conventionally, two temperature equipments capable of setting respective temperatures were prepared, and a method of replacing a chamber according to a test purpose was adopted.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problems to be solved by the invention]

しかしながら、上述の試験の試料が放射化された原子
炉材料等の場合には各試験は放射能防護のためにホット
セル内で行う必要がある。このホットセルはセル外部へ
のγ線の漏洩や汚染粉末の飛散を防止するための放射能
防護対策が施されており、相当高価な設備である。この
ため、上記ホットセル内に設置される試験機は多機能を
有することが要求されている。
However, when the test sample described above is a nuclear reactor material or the like, each test must be performed in a hot cell to protect radioactivity. This hot cell has radioactive protection measures to prevent leakage of γ-rays to the outside of the cell and scattering of contaminated powder, and is a considerably expensive facility. For this reason, a test machine installed in the hot cell is required to have multiple functions.

しかしながら、従来の温調方式では試験目的に応じて
試験者が直接チャンバーの交換を行わなければならない
上、放射能防護の面からも試験者の作業負担が大きくな
るという問題がある。
However, the conventional temperature control method requires a tester to directly replace the chamber according to the purpose of the test, and also has a problem that the work load of the tester is increased in terms of protection of radioactivity.

さらに、従来の試験機の構造に起因して次のような問
題も挙げられる。
Further, the following problems are also caused by the structure of the conventional testing machine.

すなわち、極低温環境を実現するには低温窒素ガスを
試料に直接噴射させる方法が採られているが、大気中で
試料や試験機を冷却すると空気中の水分が氷結して試験
データに誤差が生じやすく、また試験装置に腐食等が発
生して機器の劣化が早まるという問題がある。
In other words, a method of directly injecting low-temperature nitrogen gas onto the sample is used to achieve a very low-temperature environment, but when the sample or test machine is cooled in the atmosphere, moisture in the air freezes and errors occur in the test data. It is liable to occur, and there is a problem that corrosion or the like occurs in the test apparatus and the deterioration of the apparatus is accelerated.

一方、ヒータ等により大気中で試料を加熱すると試料
の酸化劣化が急速に進行し、正確な試験結果が得られな
いという問題がある。
On the other hand, when the sample is heated in the air by a heater or the like, there is a problem that the sample is rapidly oxidized and deteriorated, and an accurate test result cannot be obtained.

そこで、本発明の目的は、上述した従来の技術が有す
る問題点を解消し、真空下において外部と断熱状態にあ
る試験機と試料とを温度測定しながら、熱伝導により直
接冷却できる一方、温度調整可能なヒータにより加熱で
きるような温度可変試験槽を提供することにある。
Therefore, an object of the present invention is to solve the above-mentioned problems of the conventional technology, and to directly cool by heat conduction while measuring the temperature of a tester and a sample that are insulated from the outside under vacuum, An object of the present invention is to provide a variable temperature test tank that can be heated by an adjustable heater.

〔課題を解決するための手段〕[Means for solving the problem]

上記目的を達成するために、本発明はパンチを押圧す
る昇降ロッドを内部に嵌装し、長手方向の一部を断熱カ
ップラで連結した円管状のロッド案内部と、このロッド
案内部の下部に形成された環状フランジの外周に円筒を
嵌着し、この円筒に液体窒素導入管と気化窒素排出管と
を接続して内部に貯留した液体窒素で上記ロッド案内部
下端を冷却する冷却ジャケットと、温度検出部を備え、
ダイスとしわ押えとで挟持された試験片を上記パンチで
下方に絞るようにした押抜き試験部と、上記しわ押えの
上面が上記冷却ジャケットの下面と当接するように上記
押抜き試験部を支持し、長手方向の一部を断熱カップラ
で連結した円管状の固定台と、上記押抜き試験部を包囲
するように配置した円環状のヒータと、上記冷却ジャケ
ットと押抜き試験部とヒータとを収容するとともに、ロ
ッド案内部の断熱カップラと固定台の断熱カップラとが
容器内部に位置するようにロッド案内部と固定台とが嵌
挿されるような真空容器とを備えたことを特徴とするも
のである。
In order to achieve the above object, the present invention has a cylindrical rod guide section in which a lifting rod for pressing a punch is fitted inside, and a part in the longitudinal direction is connected by an insulated coupler, and a lower part of the rod guide section. A cooling jacket that fits a cylinder around the outer periphery of the formed annular flange, connects a liquid nitrogen introduction pipe and a vaporized nitrogen discharge pipe to the cylinder, and cools the lower end of the rod guide portion with liquid nitrogen stored therein, Equipped with a temperature detector,
A punching test part in which the test piece sandwiched between the die and the wrinkle retainer is squeezed downward by the punch, and the punching test part is supported so that the upper surface of the wrinkle retainer contacts the lower surface of the cooling jacket. And, a tubular fixed base partly connected in a longitudinal direction by an adiabatic coupler, an annular heater arranged to surround the punching test section, the cooling jacket, the punching test section and the heater A vacuum container for accommodating the rod guide portion and the fixing base so that the heat insulating coupler of the rod guide portion and the heat insulating coupler of the fixing base are located inside the container. It is.

〔作 用〕(Operation)

本発明によれば、パンチを押圧するための昇降ロッド
を内部に嵌装した長手方向の一部を断熱カップラで連結
した円管状のロッド案内部を真空容器内に嵌挿するとと
もに、このロッド案内部の下部に形成された環状フラン
ジの外周に円筒を嵌着して冷却ジャケットを形成し、こ
の円筒に液体窒素導入管と気化窒素排出管とを接続して
内部に液体窒素を導入してロッド案内部下端を冷却し、
ダイスとしわ押えとで挟持された試験片を上記パンチで
下方に絞るようにした押抜き試験部を設けるとともに、
この押抜き試験部に温度検出部を備え、長手方向の一部
を断熱カップラで連結した円管状の固定台で上記しわ押
えの上面と上記冷却ジャケットの下面とが当接するよう
に上記押抜き試験部を支持し、上記押抜き試験部を円環
状のヒータで包囲し、上記冷却ジャケットと押抜き試験
部とヒータとを収容するとともに、固定台の断熱カップ
ラが容器内部に位置するように固定台を真空容器内に嵌
挿したので、真空下において外部と断熱状態にある試験
機と試験片とを温度測定しながら、熱伝導により直接冷
却して低温状態を設定でき一方、温度調整可能なヒータ
により材料の酸化を防ぎながら加熱することができる。
According to the present invention, a cylindrical rod guide portion in which a vertically extending rod for pressing a punch is fitted inside, and a part in the longitudinal direction is connected by an adiabatic coupler, is inserted into the vacuum vessel, and the rod guide is inserted. A cylinder is fitted on the outer periphery of the annular flange formed at the lower part of the part to form a cooling jacket, and a liquid nitrogen introduction pipe and a vaporized nitrogen discharge pipe are connected to this cylinder to introduce liquid nitrogen into the rod. Cool the lower end of the guide,
In addition to providing a punching test section that squeezes the test piece sandwiched between the die and the wrinkle retainer downward with the punch,
The punching test section is provided with a temperature detecting section, and the punching test is performed so that the upper surface of the wrinkle retainer and the lower surface of the cooling jacket come into contact with each other with a tubular fixing base having a part in the longitudinal direction connected by an adiabatic coupler. Part, the punch-out test section is surrounded by an annular heater, the cooling jacket, the punch-out test section, and the heater are accommodated, and the fixing stand such that the heat-insulating coupler of the fixing stand is located inside the container. Is inserted into the vacuum vessel, so that the temperature can be set directly by heat conduction while measuring the temperature of the test machine and the test piece that are insulated from the outside under vacuum, and the temperature can be adjusted by the heater. The material can be heated while preventing oxidation of the material.

〔実施例〕〔Example〕

以下本発明による温度可変試験槽の一実施例を図面を
参照して説明する。
Hereinafter, an embodiment of a variable temperature test tank according to the present invention will be described with reference to the drawings.

図面において、符号1は真空チャンバーを示してお
り、図示しない固定部に支持されるとともに、接続され
た真空ポンプにより所定の真空度まで真空びきすること
ができる。また、上下面の対向する位置には開口2、3
が設けられており、このうち上面開口2内には上方の図
示しない支持部から吊持されたロッド案内管4が挿入さ
れている。このロッド案内管4は肉厚のステンレス管
で、上記開口のほぼ中央に位置するようにフランジプレ
ート5に摺動可能に嵌挿されている。また、上記開口2
の下側では下端部との連結のためにセラミックス等から
なる断熱カップラ6が上記ロッド案内管4に螺着されて
いる。
In the drawings, reference numeral 1 denotes a vacuum chamber, which is supported by a fixed part (not shown) and can be vacuumed to a predetermined degree of vacuum by a connected vacuum pump. Openings 2 and 3 are provided at opposing positions on the upper and lower surfaces.
And a rod guide tube 4 suspended from an upper support (not shown) is inserted into the upper surface opening 2. The rod guide tube 4 is a thick stainless steel tube, and is slidably fitted to the flange plate 5 so as to be located substantially at the center of the opening. In addition, the opening 2
On the lower side, a heat insulating coupler 6 made of ceramics or the like is screwed to the rod guide tube 4 for connection with the lower end.

さらにこのロッド案内管4の内部には昇降ロッド7が
挿入されている。この昇降ロッド7は図示しない上方の
加圧装置により作用した加圧力が計器等により測定でき
る状態で支持されている。
Further, a lifting rod 7 is inserted into the rod guide tube 4. The lifting rod 7 is supported in such a manner that the pressure applied by an upper pressing device (not shown) can be measured by a gauge or the like.

一方、上記断熱カップラ6で連結されたロッド案内管
4の下端部には冷却ジャケット8が形成されている。こ
の冷却ジャケット8は上記ロッド案内管4の下端に突設
された2本の環状フランジ9、9にステンレス製の円筒
10を外嵌させ、端部を溶接接合した環状の容器部で上記
円筒10の側面上部には細径の液体窒素導入管11とジャケ
ット内に気化充満した気化窒素を外部に排出するための
気化窒素排出管12とが接続されている。この液体窒素導
入管11と気化窒素排出管12とは銅管、ステンレス管等の
熱伝導性の高い材料で製造されており、液体窒素導入管
11は図示しない液体窒素供給源から所定量の液体窒素を
導入できるようになっている。一方、気化窒素排出管12
は真空チャンバー1の側方のドレン口13に接続されてい
る。
On the other hand, a cooling jacket 8 is formed at the lower end of the rod guide tube 4 connected by the heat insulating coupler 6. The cooling jacket 8 is provided on two annular flanges 9, 9 protruding from the lower end of the rod guide tube 4.
10 is externally fitted, and an annular container part whose end is welded and joined is a small-diameter liquid nitrogen introduction pipe 11 on the upper side of the cylinder 10 and a vaporizer for discharging vaporized and filled vaporized nitrogen inside the jacket to the outside. A nitrogen discharge pipe 12 is connected. The liquid nitrogen introduction pipe 11 and the vaporized nitrogen discharge pipe 12 are made of a material having high thermal conductivity such as a copper pipe or a stainless steel pipe.
Reference numeral 11 allows a predetermined amount of liquid nitrogen to be introduced from a liquid nitrogen supply source (not shown). On the other hand, the nitrogen gas discharge pipe 12
Is connected to a drain port 13 on the side of the vacuum chamber 1.

また、上記冷却ジャケット8の下面8aには押抜き試験
部14の上面14aが当接している。この押抜き試験部14は
ダイス15としわ押え16とパンチ17とから構成されてお
り、ダイス15は上記下面開口3から上方に向けて延出し
ている昇降可能な固定台18の頂部に支持され、上面の中
央部の凹所15aにはTEM試料等の試験片19が収容できるよ
うになっている。そしてこの凹所内15aの試験片19をし
わ押え16とで挟持するようになっている。また、このし
わ押え16のほぼ中央位置にはガイド孔20が形成されてい
る。このガイド孔20は細径のパンチ17を上記試験片19面
に案内するためのもので、このガイド孔20に沿ってパン
チ17を上記昇降ロッド7により所定の押圧力で下方に押
圧し、試験片19を下方に絞るようになっている。このと
き、上記ダイス15と固定台18にはそれぞれ円孔21、22が
形成されており、その内部に細径のプローブ等が装着さ
れた変位計等を挿入することができるようになってい
る。
The lower surface 8a of the cooling jacket 8 is in contact with the upper surface 14a of the punching test section 14. The punching test section 14 is composed of a die 15, a wrinkle holder 16 and a punch 17, and the die 15 is supported on the top of a vertically movable fixed base 18 extending upward from the lower surface opening 3. The test piece 19 such as a TEM sample can be accommodated in the recess 15a at the center of the upper surface. The test piece 19 in the recess 15a is sandwiched between the wrinkle presser 16 and the test piece 19. A guide hole 20 is formed at a substantially central position of the wrinkle retainer 16. The guide hole 20 is for guiding the small-diameter punch 17 to the surface of the test piece 19, and the punch 17 is pressed downward by the lifting rod 7 along the guide hole 20 with a predetermined pressing force. The piece 19 is squeezed downward. At this time, circular holes 21 and 22 are formed in the die 15 and the fixing base 18, respectively, so that a displacement meter or the like in which a small-diameter probe or the like is mounted can be inserted therein. .

また、上記冷却ジャケット8の下端側面には温度検出
片23がねじ24により固着されている。この温度検出片23
は略L字形をなし、下端がダイス15の上面に接触するよ
うになっている。さらにこの温度検出片23は図示しない
熱電対に接続されているチャンバー1の外部でダイスの
温度を測定することができるようになっている。これに
よりダイス15内に収容されている試験片19の温度を逐
次、把握することができる。
A temperature detecting piece 23 is fixed to the lower side surface of the cooling jacket 8 by a screw 24. This temperature detecting piece 23
Has a substantially L-shape, and its lower end is in contact with the upper surface of the die 15. The temperature detecting piece 23 can measure the temperature of the dice outside the chamber 1 connected to a thermocouple (not shown). Thereby, the temperature of the test piece 19 accommodated in the die 15 can be sequentially grasped.

なお、ダイス15の構造を明瞭にするために本実施例で
は上記TEM試料用の試験片に代えて10×10mmの角形試験
片を収容するダイスを示しているが、このようにダイス
としわ押えのアタッチメントを交換することで種々の微
小試験片の試験を行うことができる。
In addition, in order to clarify the structure of the die 15, in this embodiment, a die accommodating a square test piece of 10 × 10 mm is shown in place of the test piece for the TEM sample. By exchanging the attachments, various kinds of micro test pieces can be tested.

また、上記冷却ジャケット8の下部と押抜き試験部14
とを包囲するようにコイル状のヒータ25が配置されてい
る。このヒータ25は抵抗加熱型ヒータであるが、真空状
態で加熱されるため試験片19等の酸化を防止することが
できる。
The lower part of the cooling jacket 8 and the punching test part 14
A coil-shaped heater 25 is arranged so as to surround the above. Although this heater 25 is a resistance heater, it is heated in a vacuum state, so that oxidation of the test piece 19 and the like can be prevented.

次に上記試験片の温度設定について説明する。 Next, the temperature setting of the test piece will be described.

試験を低温状態で行う場合には冷却ジャケット8によ
る直接冷却を行う。すなわち、上述のように冷却ジャケ
ット8は内部に液体窒素が貯留されているので、およそ
−195℃まで冷却することができる。また、この冷却ジ
ャケット8の下面にはしわ押え16が当接しており、冷却
ジャケット8からの低温層は順次熱伝導により試験片1
9、ダイス15へと広がる。
When the test is performed at a low temperature, direct cooling by the cooling jacket 8 is performed. That is, since the cooling jacket 8 stores liquid nitrogen therein as described above, it can be cooled to approximately -195 ° C. Further, a wrinkle retainer 16 is in contact with the lower surface of the cooling jacket 8, and the low-temperature layer from the cooling jacket 8 is successively heated by heat conduction.
9, spread to 15 dice.

なお、この冷却温度は上記冷却ジャケット8内に流入
する液体窒素の量を真空チャンバー外のON−OFF弁で調
整することにより中間温度に設定することができる。
The cooling temperature can be set to an intermediate temperature by adjusting the amount of liquid nitrogen flowing into the cooling jacket 8 with an ON-OFF valve outside the vacuum chamber.

一方、試験を高温状態で行う場合にはヒータ25により
押抜き試験部14全体を加熱すれば良い。このとき、上記
ヒータ25は上記温度検出部から得られる温度データによ
り設定温度を細かく調整することができる。
On the other hand, when the test is performed in a high temperature state, the entire punching test section 14 may be heated by the heater 25. At this time, the heater 25 can finely adjust the set temperature based on the temperature data obtained from the temperature detector.

なお、上記ロッド案内部4と固定台18に連結されてい
る断熱カップラ6、6により上記押抜き試験部14への外
部からの熱伝導を遮断することができる。
In addition, heat conduction from the outside to the push-out test section 14 can be cut off by the heat-insulating couplers 6 connected to the rod guide section 4 and the fixed base 18.

〔発明の効果〕〔The invention's effect〕

以上の説明から明らかなように、本発明によれば昇降
ロッドを内部に嵌装した一部を断熱カップラで連結した
円管状のロッド案内部を真空容器内に嵌挿し、ロッド案
内部の下部に冷却ジャケットを形成してロッド案内部下
端を冷却し、試験片を上記パンチで下方に絞るようにし
た押抜き試験部を設けるとともに、この押抜き試験部に
温度検出部を備え、一部を断熱カップラで連結した円管
状の固定台でしわ押えの上面と上記冷却ジャケットの下
面とが当接するように周囲がヒータで包囲された押抜き
試験部を支持し、上記各構成を真空容器内に収容したの
で、真空下において低温状態から高温状態まで幅広い雰
囲気での材料試験を行えるという効果を奏する。
As is apparent from the above description, according to the present invention, a tubular rod guide part in which a lifting rod is fitted inside is connected by an insulated coupler into a vacuum vessel, and the lower part of the rod guide part is inserted. A cooling jacket is formed to cool the lower end of the rod guide section, and a punching test section is provided so that the test piece is squeezed downward by the punch. A temperature detecting section is provided in the punching test section, and a part is insulated. A cylindrical fixing base connected by a coupler supports a punching test section surrounded by a heater so that the upper surface of the wrinkle retainer and the lower surface of the cooling jacket are in contact with each other, and the above-described components are housed in a vacuum vessel. Therefore, there is an effect that a material test can be performed in a wide atmosphere from a low temperature state to a high temperature state under vacuum.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

図面は本発明による温度可変試験槽の一実施例を示した
横断面図である。 1……真空チャンバー、4……ロッド案内管、6……断
熱カップラ、7……昇降ロッド、8……冷却ジャケッ
ト、9……環状フランジ、11……液体窒素導入管、12…
…気化窒素排出管、14……押抜き試験部、15……ダイ
ス、16……しわ押え、17……パンチ、18……固定台、19
……試験片、23……温度検出片、25……ヒータ。
The drawing is a cross-sectional view showing one embodiment of the variable temperature test tank according to the present invention. 1 ... Vacuum chamber, 4 ... Rod guide tube, 6 ... Insulated coupler, 7 ... Elevating rod, 8 ... Cooling jacket, 9 ... Circular flange, 11 ... Liquid nitrogen introduction tube, 12 ...
… Vacuum nitrogen discharge pipe, 14… Punching test part, 15… Die, 16… Wrinkle holder, 17 …… Punch, 18 …… Fixed base, 19
… Test piece, 23… Temperature detection piece, 25… heater.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 永山 晴夫 東京都千代田区岩本町2丁目6番10号 株式会社東衡テスタック内 (72)発明者 柵山 良八 東京都千代田区岩本町2丁目6番10号 株式会社東衡テスタック内 (56)参考文献 実開 平2−103251(JP,U) (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) G01N 3/00 - 3/62 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continuing on the front page (72) Inventor Haruo Nagayama 2-6-10 Iwamotocho, Chiyoda-ku, Tokyo Inside Tekko Testack Co., Ltd. (72) Inventor Ryohachi 2-6 Iwamotocho, Chiyoda-ku, Tokyo No. 10 Tohoku TeStack Co., Ltd. (56) References JP2, 103251 (JP, U) (58) Field surveyed (Int.Cl. 6 , DB name) G01N 3/00-3/62

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】パンチを押圧する昇降ロッドを内部に嵌装
し、長手方向の一部を断熱カップラで連結した円管状の
ロッド案内部と、このロッド案内部の下部に形成された
環状フランジの外周に円筒を嵌着し、この円筒に液体窒
素導入管と気化窒素排出管とを接続して内部に貯留した
液体窒素で上記ロッド案内部下端を冷却する冷却ジャケ
ットと、温度検出部を備え、ダイスとしわ押えとで挟持
された試験片を上記パンチで下方に絞るようにした押抜
き試験部と、上記しわ押えの上面が上記冷却ジャケット
の下面と当接するように上記押抜き試験部を支持し、長
手方向の一部を断熱カップラで連結した円管状の固定台
と、上記押抜き試験部を包囲するように配置した円環状
のヒータと、上記冷却ジャケットと押抜き試験部とヒー
タとを収容するとともに、ロッド案内部の断熱カップラ
と固定台の断熱カップラとが容器内部に位置するように
ロッド案内部と固定台とが嵌挿されるような真空容器と
を備えたことを特徴とする温度可変試験槽。
An up-and-down rod for pressing a punch is fitted inside, and a cylindrical rod guide portion having a part in the longitudinal direction connected by an insulated coupler, and an annular flange formed at a lower portion of the rod guide portion. A cooling jacket that cools the lower end of the rod guide with liquid nitrogen stored inside by connecting a liquid nitrogen introduction pipe and a vaporized nitrogen discharge pipe to the cylinder, and a temperature detection unit, A punching test part in which the test piece sandwiched between the die and the wrinkle retainer is squeezed downward by the punch, and the punching test part is supported so that the upper surface of the wrinkle retainer contacts the lower surface of the cooling jacket. And, a tubular fixed base partly connected in a longitudinal direction by an adiabatic coupler, an annular heater arranged to surround the punching test section, the cooling jacket, the punching test section and the heater Contain In addition, there is provided a vacuum container in which the rod guide and the fixing base are inserted so that the heat insulating coupler of the rod guide and the heat insulating coupler of the fixing base are located inside the container. Test tank.
JP26578990A 1990-10-03 1990-10-03 Variable temperature test tank Expired - Fee Related JP2957255B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP26578990A JP2957255B2 (en) 1990-10-03 1990-10-03 Variable temperature test tank

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP26578990A JP2957255B2 (en) 1990-10-03 1990-10-03 Variable temperature test tank

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH04142443A JPH04142443A (en) 1992-05-15
JP2957255B2 true JP2957255B2 (en) 1999-10-04

Family

ID=17422067

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP26578990A Expired - Fee Related JP2957255B2 (en) 1990-10-03 1990-10-03 Variable temperature test tank

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2957255B2 (en)

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102331374A (en) * 2011-06-09 2012-01-25 振石集团东方特钢股份有限公司 Low-temperature tensile test device for metal material
CN102798573B (en) * 2012-08-16 2014-10-29 浙江大学 Cryogenic environment material mechanical performance detection test device
CN112082879B (en) * 2020-09-02 2024-01-26 天津大学 Non-contact full-field measurement system and method for preventing sample from frosting at low temperature
CN112763531B (en) * 2020-12-28 2022-09-27 中国科学院上海应用物理研究所 Test device for thermal fatigue test of liquid nitrogen cooling multilayer film
CN113155496B (en) * 2021-03-12 2022-12-27 中国科学院宁波材料技术与工程研究所 Multi-card effect testing device

Also Published As

Publication number Publication date
JPH04142443A (en) 1992-05-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Calvet et al. Recent progress in microcalorimetry
CN101520402A (en) Experimental facility for testing electrochemical signals of various materials in high-temperature high-pressure environment
CN105588854A (en) Quick temperature scanning screening calorimeter
JP2957255B2 (en) Variable temperature test tank
CN110927212A (en) Testing device for thermal conductivity and contact thermal resistance of gas diffusion layer in compression state
Naito et al. Study on a dynamic adiabatic calorimeter. II. Adiabatic scanning calorimeter and some applications
CN101021502A (en) Low-temperature resistance temperature coefficient tester
US3748892A (en) High precision dilatometer
US11067615B2 (en) Portable thermoelectric potential detector
Jin et al. A simple method for Charpy impact testing below 6K
US3242716A (en) Apparatus for measuring thermal conductivity
US5084229A (en) Critical heat flux test apparatus
CN114323991A (en) Creep fatigue test device for high-temperature lead bismuth environment
CN112730507B (en) Liquid specific heat capacity measurement system and measurement method
JP3315368B2 (en) Thermal conductivity measuring device and measuring method
US3234778A (en) Dilatometer for heated specimens under external stress
JP2007024614A (en) Specimen holder
Novotny et al. Calorimetry of small samples with low thermal diffusivity
US3507144A (en) Gas content analysis with a metal levitation system
CN113777127B (en) Instrument and method for measuring high-temperature thermal expansion of concrete
US6062727A (en) Measuring instrument for the thermal and/or reactive properties of one or several material samples
CN108872303B (en) Spontaneous combustion curve detecting system of self-heating substance
CN220154314U (en) Ultrahigh temperature and ultralow temperature high pressure in-situ reaction tank test device
SU1182363A2 (en) Apparatus for measuring heat conduction of solid specimen in area of low temperatures
Fong et al. Non-contact Measurement of Strains Using Two Orthogonal Sets of Twin “Blue” Lasers

Legal Events

Date Code Title Description
R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313115

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080723

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080723

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Year of fee payment: 10

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090723

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090723

Year of fee payment: 10

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

S533 Written request for registration of change of name

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090723

Year of fee payment: 10

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090723

Year of fee payment: 10

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100723

Year of fee payment: 11

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees