JP2943793B1 - Magnetic field detecting device and magnetic field distribution measuring device - Google Patents

Magnetic field detecting device and magnetic field distribution measuring device

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JP2943793B1 JP11135098A JP11135098A JP2943793B1 JP 2943793 B1 JP2943793 B1 JP 2943793B1 JP 11135098 A JP11135098 A JP 11135098A JP 11135098 A JP11135098 A JP 11135098A JP 2943793 B1 JP2943793 B1 JP 2943793B1
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Abstract

【要約】 【課題】 本発明は、小型で実装密度が高く分解能が向
上し、異なる方向に発生する磁界の方向を検出できる磁
界検出装置を提供する。 【解決手段】 磁界検出装置は、積層プリント配線基板
にX軸プローブ2、Y軸プローブ1およびZ軸プローブ
3をマトリックス状に設けてプローブマトリックス14
を構成する。X軸およびY軸プローブ2,3は、軸方向
が基板表面と略平行にプリント配線にて形成した一対の
平行アンテナ片と、ブラインドビアホール4にて形成し
た一対の垂直アンテナ片とを有する。X軸およびY軸プ
ローブ2,3は基板表面に対して略垂直な面を有しかつ
互いに面が略垂直な環状である。Z軸プローブ3は、軸
方向が基板表面と略平行で互いに直行するプリント配線
にて形成した二対の平行アンテナ片にて基板表面に対し
て略平行な面を有する環状である。小型のループプロー
ブにて3次元の磁界分布を精密に測定できる。
An object of the present invention is to provide a magnetic field detection device which is small in size, has a high mounting density, improves resolution, and can detect directions of magnetic fields generated in different directions. A magnetic field detection device is provided with an X-axis probe, a Y-axis probe, and a Z-axis probe in a matrix on a laminated printed circuit board.
Is configured. The X-axis and Y-axis probes 2 and 3 have a pair of parallel antenna pieces formed by printed wiring with the axial direction substantially parallel to the substrate surface, and a pair of vertical antenna pieces formed by the blind via hole 4. The X-axis and Y-axis probes 2 and 3 have an annular shape whose surfaces are substantially perpendicular to the substrate surface and whose surfaces are substantially perpendicular to each other. The Z-axis probe 3 is an annular shape having two pairs of parallel antenna pieces formed of printed wiring lines whose axis directions are substantially parallel to the substrate surface and are orthogonal to each other, and which are substantially parallel to the substrate surface. A three-dimensional magnetic field distribution can be accurately measured with a small loop probe.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、磁界を検出するル
ーププローブを備えた磁界検出装置およびこの磁界検出
装置を備えた磁界分布測定装置に関する。
The present invention relates to a magnetic field detecting device provided with a loop probe for detecting a magnetic field, and a magnetic field distribution measuring device provided with the magnetic field detecting device.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、磁界分布測定装置としては、例え
ば図19に示すようなワイヤにて形成されたループアン
テナを図18に示すように基板上にマトリックス状に配
設してアンテナマトリックス23を構成した磁界検出装
置を用いて、電子機器のプリント基板から発生するXY
平面上の磁界分布を1cm程度の分解能で測定して、図
20および図21に示すようにノイズ発生量の大きいI
CであるLSI21などの電子部品を特定する構成が知
られている。
2. Description of the Related Art Conventionally, as a magnetic field distribution measuring device, for example, a loop antenna formed by wires as shown in FIG. 19 is arranged in a matrix on a substrate as shown in FIG. XY generated from a printed circuit board of an electronic device using the configured magnetic field detection device
The magnetic field distribution on the plane was measured at a resolution of about 1 cm, and as shown in FIGS.
A configuration for specifying an electronic component such as the LSI 21 which is C is known.

【0003】一方、図22に示すような特開昭61−2
7648号公報に記載のように、集積回路のチップ表面
に局所的に電界または磁界を印加できかつ位置可変なプ
ローブ電極を、集積回路のチップ表面上で移動させ、集
積回路の回路電流をモニタすることにより、故障回路を
検出する構成が知られている。
On the other hand, as shown in FIG.
As described in Japanese Patent No. 7648, a probe electrode capable of locally applying an electric field or a magnetic field to a chip surface of an integrated circuit and having a variable position is moved on the chip surface of the integrated circuit to monitor a circuit current of the integrated circuit. Thus, a configuration for detecting a faulty circuit is known.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】ところで、プリント基
板におけるノイズの発生は、ノイズの発生量の大きいI
Cは高速クロックを使用するCPUやASICなどのL
SI21で、特にIC内とバイパスコンデンサを流れる
貫通電流のループによって引き起こされるグランドノイ
ズに起因することが多い。
By the way, the generation of noise on the printed circuit board is caused by a large amount of noise.
C is L such as CPU or ASIC that uses high-speed clock.
The SI 21 is often caused by ground noise caused by a loop of a through current flowing through the IC and the bypass capacitor.

【0005】しかしながら、上記図18および図19に
示すようなXY平面上の磁界分布を測定する構成、特に
ワイヤにてループプローブを形成しマトリックス状に
したアンテナマトリックス23の構成では、図20お
よび図21に示すように分解能が低いため、IC近傍の
詳細な磁界分布を測定することができないため、ICの
最適なバイパスコンデンサの選択や配置、ICの最適な
電源配線設計などに利用できない。さらに、測定位置に
おけるプローブの方向がプリント基板である回路基板2
2の平面に対して平行な1方向のみであるため、他の方
向に発生する磁界の方向を検出できない。また、図22
に示すような特開昭61−27648号公報に記載の構
成では、プローブを用いて局所的に磁界を印加すること
により故障を解析できるが、磁界の分布を測定すること
ができない問題がある。
However, a configuration for measuring the magnetic field distribution on the XY plane as shown in FIG. 18 and FIG. 19, in particular, forming a loop probe with a wire and arranging it in a matrix.
In the configuration of the antenna matrix 23 provided, since the resolution is low as shown in FIGS. 20 and 21, it is not possible to measure the detailed magnetic field distribution near the IC. Cannot be used for optimal power supply wiring design. Furthermore, the direction of the probe at the measurement position is a printed circuit board 2
Since there is only one direction parallel to the two planes, the direction of the magnetic field generated in the other direction cannot be detected. FIG.
In the configuration described in JP-A-61-27648, a failure can be analyzed by applying a magnetic field locally using a probe, but there is a problem that the distribution of the magnetic field cannot be measured.

【0006】本発明は、このような点に鑑みなされたも
ので、小型で実装密度が高く分解能が向上する、また磁
界の方向を検出可能である、さらには異なる方向に発生
する磁界の方向を検出可能な磁界検出装置および磁界分
布測定装置を提供することを目的とする。
The present invention has been made in view of the above points, and is small in size, has high mounting density, improves resolution, can detect the direction of a magnetic field, and can detect the direction of a magnetic field generated in a different direction. It is an object of the present invention to provide a magnetic field detection device and a magnetic field distribution measuring device capable of detection.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】請求項1記載の磁界検出
装置は、プリント配線が積層形成された積層プリント配
線基板と、この積層プリント配線基板に設けられ、この
積層プリント配線基板の平面に対して略平行な一対の平
行アンテナ片および前記積層プリント配線基板の平面に
対して略垂直な一対の垂直アンテナ片を有し、前記一対
の平行アンテナ片および前記一対の垂直アンテナ片がそ
れぞれ接続されて前記積層プリント配線基板の平面に対
して略垂直な面を有する環状のループプローブとを具備
したものである。
According to a first aspect of the present invention, there is provided a magnetic field detecting apparatus provided with a laminated printed wiring board on which printed wirings are laminated and provided on the laminated printed wiring board. substantially has a substantially vertical pair of vertical antenna piece to parallel pair of parallel antenna strips and the plane of the multilayer printed wiring board, said pair of parallel antenna strips and the pair of vertical antenna element is connected Te An annular loop probe having a surface substantially perpendicular to the plane of the multilayer printed wiring board.

【0008】請求項2記載の磁界検出装置は、請求項1
記載の磁界検出装置において、ループプローブは、積層
プリント配線基板にマトリックス状に設けられたもので
ある。
[0008] The magnetic field detecting device according to the second aspect is the first aspect.
In the magnetic field detection device described above, the loop probes are provided in a matrix on the laminated printed wiring board.

【0009】請求項3記載の磁界検出装置は、請求項1
または2記載の磁界検出装置において、ループプローブ
は、平行アンテナ片および垂直アンテナ片をそれぞれ複
数対有し、多重環状に形成されたものである。
According to a third aspect of the present invention, there is provided a magnetic field detecting apparatus.
In the magnetic field detection device according to the second aspect, the loop probe has a plurality of pairs of parallel antenna pieces and vertical antenna pieces, and is formed in a multiple annular shape.

【0010】請求項4記載の磁界検出装置は、請求項1
ないし3のいずれか一に記載の磁界検出装置において、
積層プリント配線基板に設けられ、この積層プリント配
線の平面に対して略平行な一対の平行アンテナ片、およ
び、前記積層プリント配線基板の平面に対して略垂直な
一対の垂直アンテナ片を有し、前記一対の平行アンテナ
片および前記一対の垂直アンテナ片がそれぞれ接続され
て前記積層プリント配線基板の平面に対して略垂直でか
前記ループプローブにて構成される面に対して略垂直
な面を有する環状第2のループプローブを具備したも
のである。
According to a fourth aspect of the present invention, there is provided a magnetic field detecting apparatus.
In the magnetic field detection device according to any one of to 3,
Provided multilayer printed circuit board, substantially parallel pair of parallel antenna strips and the plane of the multilayer printed circuit, and has a substantially vertical pair of vertical antenna piece to the plane of the multilayer printed wiring board, having substantially vertical plane relative to surface formed by said pair of parallel antenna strips and the pair of substantially vertical in and said loop probe with respect to the vertical antenna pieces connected respectively to the plane of the multilayer printed wiring board those provided with the second loop probes cyclic.

【0011】請求項5記載の磁界検出装置は、請求項4
記載の磁界検出装置において、第2のループプローブ
は、平行アンテナ片および垂直アンテナ片をそれぞれ複
数対有し、多重環状に形成されたものである。
According to a fifth aspect of the present invention, there is provided a magnetic field detecting apparatus according to the fourth aspect.
In the magnetic field detection device described above, the second loop probe has a plurality of pairs of parallel antenna pieces and vertical antenna pieces, and is formed in a multiple annular shape.

【0012】請求項6記載の磁界検出装置は、請求項1
ないし5のいずれか一に記載の磁界検出装置において、
積層検出装置は、ブラインドビアホールを有し、垂直ア
ンテナ片は、前記ブラインドビアホールに設けられたも
のである。
According to a sixth aspect of the present invention, there is provided a magnetic field detecting apparatus according to the first aspect.
6. The magnetic field detection device according to any one of claims 1 to 5,
The stacked detection device has a blind via hole, and the vertical antenna piece is provided in the blind via hole.

【0013】請求項7記載の磁界検出装置は、請求項1
ないし6のいずれか一に記載の磁界検出装置において、
積層プリント配線基板に設けられ、この積層プリント配
線基板の平面に対して略平行でかつ互いに略直行する二
対の平行アンテナ片がそれぞれ接続され前記積層プリン
ト配線基板の平面に対して略平行な面を有する環状の第
3のループプローブを具備したものである。
According to a seventh aspect of the present invention, there is provided a magnetic field detecting apparatus according to the first aspect.
6. The magnetic field detection device according to any one of to 6, wherein
Two pairs of parallel antenna pieces that are provided on the laminated printed wiring board, are substantially parallel to the plane of the laminated printed wiring board, and are substantially perpendicular to each other, are connected to each other, and are substantially parallel to the plane of the laminated printed wiring board. And a third loop probe having a circular shape.

【0014】請求項8記載の磁界検出装置は、請求項7
記載の磁界検出装置において、第3のループプローブ
は、複数対の平行アンテナ片がそれぞれ接続されて多重
環状に形成されたものである。
[0014] The magnetic field detecting device according to the eighth aspect is the seventh aspect of the present invention.
In the magnetic field detection device described above, the third loop probe is formed by connecting a plurality of pairs of parallel antenna pieces to each other to form a multiple ring.

【0015】請求項9記載の磁界検出装置は、請求項1
ないし8のいずれか一に記載の磁界検出装置において、
平行アンテナ片は、プリント配線により形成されたもの
である。
According to a ninth aspect of the present invention, there is provided a magnetic field detecting apparatus according to the first aspect.
8. The magnetic field detection device according to any one of items 1 to 8,
The parallel antenna piece is formed by printed wiring.

【0016】請求項10記載の磁界検出装置は、請求項
1ないし9のいずれか一に記載の磁界検出装置におい
て、積層プリント配線基板は、磁界を遮断するシールド
層を備えたものである。
According to a tenth aspect of the present invention, there is provided the magnetic field detecting device according to any one of the first to ninth aspects, wherein the laminated printed wiring board is provided with a shield layer for blocking a magnetic field.

【0017】請求項11記載の磁界分布測定装置は、請
求項1ないし10のいずれか一に記載の磁界検出装置
と、この磁界検出装置に接続され磁界を検出して出力す
るループプローブを選択するセレクタと、前記磁界検出
装置に接続され前記ループプローブから出力された電圧
が入力されるレシーバと、前記セレクタおよび前記レシ
ーバに接続され、前記レシーバを制御して特定の周波数
の磁界強度を測定させて所定の信号を出力させる制御部
とを具備したものである。
According to an eleventh aspect of the present invention, there is provided a magnetic field distribution measuring device for selecting a magnetic field detecting device according to any one of the first to tenth aspects and a loop probe connected to the magnetic field detecting device for detecting and outputting a magnetic field. A selector and a receiver connected to the magnetic field detection device and receiving a voltage output from the loop probe, connected to the selector and the receiver, and controlling the receiver to measure a magnetic field strength of a specific frequency. And a control unit for outputting a predetermined signal.

【0018】[0018]

【発明の実施の形態】次に、本発明の一実施の形態の磁
界分布測定装置の構成を図面を参照して説明する。
Next, the configuration of a magnetic field distribution measuring apparatus according to an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.

【0019】図1は、本発明の一実施の形態の磁界検出
装置の構成を示す斜視透視図である。図2は、同上平面
透視図である。図3は、同上のX軸プローブの構成を示
す断面図である。図4は、同上のY軸プローブの構成を
示す断面図である。図5は、同上のZ軸プローブの構成
を示す断面図である。図6は、同上のループマトリック
スを示す平面透視図である。図7は、同上磁界分布測定
装置の回路構成を示すブロック図である。図8は、同上
LSI近傍の断面図である。図9は、同上バイパスコン
デンサが適正配置された電子機器の構成を示す平面図で
ある。図10は、同上の測定結果の磁界分布を示す分布
図である。図11は、同上バイパスコンデンサが適正配
置されていない被測定物であるプリント配線基板の構成
を示す平面図である。図12は、同上の測定結果の磁界
分布を示す分布図である。図13は、同上磁界強度のベ
クトル和を説明するグラフである。図14は、同上電流
方向を示す分布図である。図15は、同上測定するプリ
ント配線基板の発生磁界を示す断面図である。図16
は、同上の垂直方向の発生磁界を示す平面図である。
FIG. 1 is a perspective perspective view showing a configuration of a magnetic field detecting device according to an embodiment of the present invention. FIG. 2 is a plan perspective view of the same. FIG. 3 is a sectional view showing the configuration of the X-axis probe according to the first embodiment. FIG. 4 is a sectional view showing the configuration of the Y-axis probe according to the first embodiment. FIG. 5 is a cross-sectional view showing the configuration of the same Z-axis probe. FIG. 6 is a perspective plan view showing a loop matrix of the above. FIG. 7 is a block diagram showing a circuit configuration of the magnetic field distribution measuring device. FIG. 8 is a sectional view showing the vicinity of the above LSI. FIG. 9 is a plan view showing the configuration of the electronic device in which the bypass capacitor is appropriately arranged. FIG. 10 is a distribution diagram showing a magnetic field distribution as a result of the measurement. FIG. 11 is a plan view showing a configuration of a printed wiring board which is a device under test in which the bypass capacitor is not properly arranged. FIG. 12 is a distribution diagram showing a magnetic field distribution as a result of the measurement. FIG. 13 is a graph illustrating the vector sum of the magnetic field strengths. FIG. 14 is a distribution diagram showing the same current direction. FIG. 15 is a cross-sectional view showing a magnetic field generated on the printed wiring board to be measured. FIG.
FIG. 2 is a plan view showing a generated magnetic field in the vertical direction in the above.

【0020】図7に示す磁界分布測定装置は、ループプ
ローブであるX軸プローブ2、第2のループプローブで
あるY軸プローブ1および第3のループプローブである
Z軸プローブ3をマトリックス状に設けてプローブマト
リックス14を構成した積層プリント配線基板を有した
磁界検出装置28を備えている。そして、この磁界検出
装置28のプローブマトリックス14には任意のX軸プ
ローブ2、Y軸プローブ1およびZ軸プローブ3を選択
するセレクタ15が接続され、選択されたが検出した磁
界を電圧として出力する。また、プローブマトリックス
14には出力された電圧を増幅するRFアンプ16が接
続され、このRFアンプ16には増幅された電圧が入力
されるRFレシーバ17が接続されている。
The magnetic field distribution measuring apparatus shown in FIG. 7 is provided with an X-axis probe 2 as a loop probe, a Y-axis probe 1 as a second loop probe, and a Z-axis probe 3 as a third loop probe in a matrix. And a magnetic field detecting device 28 having a laminated printed circuit board constituting the probe matrix 14. A selector 15 for selecting any of the X-axis probe 2, the Y-axis probe 1, and the Z-axis probe 3 is connected to the probe matrix 14 of the magnetic field detection device 28, and outputs the selected but detected magnetic field as a voltage. . An RF amplifier 16 for amplifying the output voltage is connected to the probe matrix 14, and an RF receiver 17 to which the amplified voltage is input is connected to the RF amplifier 16.

【0021】さらに、セレクタ15およびRFレシーバ
17にはコンピュータ18が接続されている。このコン
ピュータ18は、セレクタ15に所定の信号を出力して
任意のループプローブを選択させるとともに、RFレシ
ーバ17に所定の信号を出力してRFアンプ16から入
力された増幅された電圧により特定の周波数の磁界強度
を測定しデジタル信号としてコンピュータ18に転送さ
せる。
Further, a computer 18 is connected to the selector 15 and the RF receiver 17. The computer 18 outputs a predetermined signal to the selector 15 to select an arbitrary loop probe, and outputs a predetermined signal to the RF receiver 17 to output a specific signal to the RF receiver 16 at a specific frequency. Is transmitted to the computer 18 as a digital signal.

【0022】また、コンピュータ18には、このコンピ
ュータ18が検出した磁界強度をデータ処理し、このデ
ータ処理に基づいて磁界強度分布を画面にて出力表示す
る表示手段であるCRTモニタ19が接続されている。
さらに、コンピュータ18には、磁界強度分布を印字出
力するプリンタ20が接続されている。
Further, the computer 18 is connected to a CRT monitor 19 which is a display means for processing the magnetic field strength detected by the computer 18 and outputting and displaying a magnetic field strength distribution on a screen based on the data processing. I have.
Further, a printer 20 for printing out the magnetic field intensity distribution is connected to the computer 18.

【0023】次に、磁界検出装置のプローブマトリック
スの構成を図面を参照して説明する。
Next, the configuration of the probe matrix of the magnetic field detecting device will be described with reference to the drawings.

【0024】磁界検出装置28は、図3ないし図5に示
すように、8つのプリント配線層を積層して形成した積
層プリント配線基板Pを備えている。そして、第1層が
X軸プローブ2の一部を構成するプリント配線が設けら
れたX軸プローブ構成層A5、第2層がY軸プローブ1
の一部を構成するプリント配線が設けられたY軸プロー
ブ構成層A6、第3層がZ軸プローブ3を構成するプリ
ント配線が設けられたZ軸プローブ構成層7、第4層が
X軸プローブ2の一部を構成するプリント配線が設けら
れたX軸プローブ構成層B8、第5層がY軸プローブ1
の一部を構成するプリント配線が設けられたY軸プロー
ブ構成層B9、第6層が磁界を遮断するシールド層1
0、第7層および第8層がX軸プローブ2、Y軸プロー
ブ1およびZ軸プローブ3から外部へ配線するための配
線パターンが設けられた配線層11および配線層12と
なっている。また、プローブマトリックス14には、こ
のプローブマトリックス14の基板表面と略垂直なブラ
インドビアホール4が複数設けられている。
As shown in FIGS. 3 to 5, the magnetic field detecting device 28 is a product formed by laminating eight printed wiring layers.
The printed circuit board P is provided . The first layer is an X-axis probe constituting layer A5 provided with a printed wiring constituting a part of the X-axis probe 2, and the second layer is a Y-axis probe 1
, A Y-axis probe forming layer A6 provided with a printed wiring constituting a part of the above, a third layer is a Z-axis probe forming layer 7 provided with a printed wiring forming a Z-axis probe 3, and a fourth layer is an X-axis probe. X-axis probe constituting layer B8 provided with a printed wiring constituting a part of 2;
Y9 probe configuration layer B9 provided with a printed wiring constituting a part of the above, shield layer 1 for shielding a magnetic field from a sixth layer
The 0th, 7th, and 8th layers are the wiring layers 11 and 12 provided with wiring patterns for wiring from the X-axis probe 2, the Y-axis probe 1, and the Z-axis probe 3 to the outside. Further, the probe matrix 14 is provided with a plurality of blind via holes 4 which are substantially perpendicular to the substrate surface of the probe matrix 14.

【0025】そして、X軸プローブ2は、図1ないし図
3に示すように、第1層のX軸プローブ構成層A5およ
び第4層のX軸プローブ構成層B8に、軸方向がプロー
ブマトリックス14の基板表面とそれぞれ略平行にライ
ン状に設けられたプリント配線にて形成された一対の平
行アンテナ片を有している。また、X軸プローブ2は、
第1層のX軸プローブ構成層A5から第4層のX軸プロ
ーブ構成層B8に貫通するブラインドビアホール4と、
第1層のX軸プローブ構成層A5から第7層の配線層1
1に貫通するブラインドビアホール4とにそれぞれ設け
られた配線により形成された一対の垂直アンテナ片を有
している。そして、X軸プローブ2は、これら一対の平
行アンテナ片および一対の垂直アンテナ片がそれぞれ接
続され、プローブマトリックス14の基板表面に対して
略垂直な面を有する環状に形成されている。なお、この
X軸プローブ2は、被測定対象となる電子機器から発生
する磁界のプローブマトリックス14の基板表面と略平
行な方向の磁界を検出して電圧として出力する。
As shown in FIGS. 1 to 3, the X-axis probe 2 has an X-axis probe configuration layer A5 of the first layer and an X-axis probe configuration layer B8 of the fourth layer, and the probe matrix 14 has the axial direction. And a pair of parallel antenna pieces formed of printed wiring lines provided substantially in parallel with the substrate surface. Also, the X-axis probe 2
A blind via hole 4 penetrating from the first layer X-axis probe component layer A5 to the fourth layer X-axis probe component layer B8;
X-axis probe constituting layer A5 of the first layer to wiring layer 1 of the seventh layer
1 has a pair of vertical antenna pieces formed by wiring provided in a blind via hole 4 penetrating therethrough. The X-axis probe 2 is connected to the pair of parallel antenna pieces and the pair of vertical antenna pieces, respectively, and is formed in an annular shape having a surface substantially perpendicular to the substrate surface of the probe matrix 14. The X-axis probe 2 detects a magnetic field generated from an electronic device to be measured in a direction substantially parallel to the substrate surface of the probe matrix 14 and outputs the detected voltage as a voltage.

【0026】また、Y軸プローブ1は、図1、図2およ
び図4に示すように、第2層のY軸プローブ構成層A6
および第5層のY軸プローブ構成層B9に、軸方向がプ
ローブマトリックス14の基板表面とそれぞれ略平行に
ライン状に設けられたプリント配線にて形成された一対
の平行アンテナ片を有している。また、Y軸プローブ1
は、第2層のY軸プローブ構成層A6から第5層のY軸
プローブ構成層B9に貫通するブラインドビアホール4
と、第2層のY軸プローブ構成層A6から第8層の配線
層12に貫通するブラインドビアホール4とにそれぞれ
設けられた配線により形成された一対の垂直アンテナ片
を有している。そして、Y軸プローブ1は、これら一対
の平行アンテナ片および一対の垂直アンテナ片がそれぞ
れ接続され、プローブマトリックス14の基板表面に対
して略垂直な面でかつX軸プローブ2にて構成される面
に対して略垂直な面を有する環状に形成されている。な
お、このY軸プローブ1の第2層のY軸プローブ構成層
A5から第8層の配線層12に貫通するブラインドビア
ホール4とに設けられた配線により形成された垂直アン
テナ片と対をなす他方の外部へ配線される部分は、第5
層のX軸プローブ構成層B8から第7層の配線層11に
貫通するブラインドビアホール4にて形成される。そし
て、このY軸プローブ1は、被測定対象となる電子機器
から発生する磁界のプローブマトリックス14の基板表
面と略平行でかつX軸プローブ1にて検出する磁界に略
直行する方向の磁界を検出して電圧として出力する。
As shown in FIGS. 1, 2 and 4, the Y-axis probe 1 has a second Y-axis probe constituent layer A6.
In addition, the Y-axis probe constituting layer B9 of the fifth layer has a pair of parallel antenna pieces formed by printed wiring lines provided in a line substantially in parallel with the substrate surface of the probe matrix 14 in the axial direction. . Also, Y-axis probe 1
Are blind via holes 4 penetrating from the second layer Y-axis probe forming layer A6 to the fifth layer Y-axis probe forming layer B9.
And a pair of vertical antenna pieces formed by wiring provided in a blind via hole 4 penetrating from the second layer Y-axis probe constituting layer A6 to the eighth layer wiring layer 12, respectively. The Y-axis probe 1 is connected to the pair of parallel antenna pieces and the pair of vertical antenna pieces, respectively, and is a surface substantially perpendicular to the substrate surface of the probe matrix 14 and configured by the X-axis probe 2. It is formed in an annular shape having a surface substantially perpendicular to. The other paired with the vertical antenna piece formed by the wiring provided in the Y-axis probe 1 and the blind via hole 4 penetrating from the Y-layer probe constituting layer A5 of the second layer to the wiring layer 12 of the eighth layer. Is wired to the outside of the
It is formed by a blind via hole 4 penetrating from the X-axis probe constituting layer B8 of the layer to the wiring layer 11 of the seventh layer. The Y-axis probe 1 detects a magnetic field generated from an electronic device to be measured in a direction substantially parallel to the substrate surface of the probe matrix 14 and in a direction substantially perpendicular to the magnetic field detected by the X-axis probe 1. And output it as a voltage.

【0027】さらに、Z軸プローブ3は、図1、図2お
よび図5に示すように、第3層のZ軸プローブ構成層7
に、軸方向がプローブマトリックス14の基板表面とそ
れぞれ略平行でかつ互いに略直行するライン状に設けら
れたプリント配線にて形成された二対の平行アンテナ片
がそれぞれ接続され、プローブマトリックス14の基板
表面に対して略平行でX軸プローブ2およびY軸プロー
ブ1にて構成される面に対してそれぞれ略垂直な面を有
する環状に形成されている。なお、このZ軸プローブ3
の対をなす外部へ配線される部分は、第3層のZ軸プロ
ーブ構成層7から第7層の配線層11に貫通するブライ
ンドビアホール4にて形成される。そして、このZ軸プ
ローブ3は、被測定対象となる電子機器から発生する磁
界のプローブマトリックス14の基板表面と略垂直な方
向の磁界を検出して電圧として出力する。
Further, as shown in FIGS. 1, 2 and 5, the Z-axis probe 3 has a third layer 7
Are connected to two pairs of parallel antenna pieces formed by printed wiring lines each having an axial direction substantially parallel to the substrate surface of the probe matrix 14 and substantially perpendicular to each other, respectively. It is formed in an annular shape having a surface substantially parallel to the surface and substantially perpendicular to the surface formed by the X-axis probe 2 and the Y-axis probe 1. The Z-axis probe 3
Are formed in the blind via holes 4 penetrating from the Z-axis probe constituting layer 7 of the third layer to the wiring layer 11 of the seventh layer. The Z-axis probe 3 detects a magnetic field generated from an electronic device to be measured in a direction substantially perpendicular to the substrate surface of the probe matrix 14 and outputs the detected voltage as a voltage.

【0028】そしてさらに、これら対をなすX軸プロー
ブ2、Y軸プローブ1およびZ軸プローブ3は、図6に
示すように、マトリックス状に設けられてプローブマト
リックス14を構成し、磁界検出装置が形成されてい
る。
Further, as shown in FIG. 6, the X-axis probe 2, Y-axis probe 1 and Z-axis probe 3 are provided in a matrix to form a probe matrix 14. Is formed.

【0029】次に、上記磁界分布測定装置により電子機
器から発生する磁界の分布を測定する動作を図面を参照
して説明する。
Next, the operation of measuring the distribution of a magnetic field generated from an electronic device by the above-described magnetic field distribution measuring device will be described with reference to the drawings.

【0030】まず、図8に示すように、磁界検出装置2
8のプローブマトリックス14上に被測定対象となる電
子部品を搭載した電子機器であるプリント配線基板30
を載置する。そして、この状態で、プローブマトリック
ス14は、セレクタ15によって任意のX軸プローブ
2、Y軸プローブ1およびZ軸プローブ3が選択され、
検出した磁界を電圧として出力する。そして、出力され
た電圧は、RFアンプ16によって増幅され、RFレシ
ーバ17へ入力される。この後、RFレシーバ17は、
コンピュータ18によって制御され、特定の周波数の磁
界強度を測定し、デジタル信号としてコンピュータ18
に転送する。そして、コンピュータ18は、検出した磁
界強度をデータ処理し、CRTモニタ19の画面上に磁
界強度分布として画像出力、あるいは、プリンタ20に
て印字出力する。
First, as shown in FIG.
8 is a printed wiring board 30 which is an electronic device in which electronic components to be measured are mounted on the probe matrix 14 of FIG.
Is placed. In this state, the probe matrix 14 selects any X-axis probe 2, Y-axis probe 1, and Z-axis probe 3 by the selector 15,
The detected magnetic field is output as a voltage. Then, the output voltage is amplified by the RF amplifier 16 and input to the RF receiver 17. After this, the RF receiver 17
Controlled by the computer 18, the magnetic field intensity at a specific frequency is measured and converted into a digital signal by the computer 18.
Transfer to Then, the computer 18 performs data processing on the detected magnetic field strength, and outputs an image on the screen of the CRT monitor 19 as a magnetic field strength distribution, or prints out the data with the printer 20.

【0031】ここで、磁界の方向は、X軸プローブ2の
検出した磁界強度と、Y軸プローブ1の検出した磁界強
度とをベクトル和することにより測定される。すなわ
ち、図13に示すように、測定点におけるX軸方向の磁
界強度をX、Y軸方向の磁界強度をYとすると、測定点
の磁界の強度Cと方向θは、 C=(X2+Y21/2 θ=tan-1(Y/X) の式を用いて求められる。
Here, the direction of the magnetic field is measured by vector summing the magnetic field strength detected by the X-axis probe 2 and the magnetic field strength detected by the Y-axis probe 1. That is, as shown in FIG. 13, when the magnetic field strength in the X-axis direction at the measurement point is X and the magnetic field strength in the Y-axis direction is Y, the magnetic field strength C and the direction θ at the measurement point are as follows: C = (X 2 + Y 2) determined using the formula 1/2 θ = tan -1 (Y / X).

【0032】この式を用いて、電流の方向が磁界の方向
と直行した方向となることを利用して、図14に示すよ
うに、金属フレーム上にノイズ電圧29を印加したノイ
ズによる電流の方向を測定できる。
Using this equation, the direction of the current is perpendicular to the direction of the magnetic field, and as shown in FIG. 14, the direction of the current caused by the noise when the noise voltage 29 is applied to the metal frame is used. Can be measured.

【0033】ここで、LSI24のデカプリングコンデ
ンサが適正配置されている、すなわち図9に示すように
LSI24の電源ピン25とグランドピン27にバイパ
スコンデンサ26が近い場合には、図10に示すよう
に、磁界強度分布は磁界の強い領域が小さくなる。一
方、デカプリングコンデンサが適正配置されていない、
すなわち図11に示すように電源ピン25とグランドピ
ン27にバイパスコンデンサ26が遠い場合には、図1
2に示すように、磁界強度分布は磁界の強い領域が大き
くなる。このように、磁界の強い領域が多いということ
は、広い範囲に高周波電流が流れていることを示し、E
MI発生の大きな要素となり得るので、EMI発生を容
易に詳細に判断できる。
Here, when the decoupling capacitor of the LSI 24 is properly arranged, that is, when the bypass capacitor 26 is close to the power supply pin 25 and the ground pin 27 of the LSI 24 as shown in FIG. 9, as shown in FIG. In the magnetic field strength distribution, the region where the magnetic field is strong is small. On the other hand, the decoupling capacitor is not properly placed,
That is, when the bypass capacitor 26 is far from the power pin 25 and the ground pin 27 as shown in FIG.
As shown in FIG. 2, the magnetic field strength distribution is large in a region where the magnetic field is strong. As described above, the fact that there are many regions where the magnetic field is strong indicates that high-frequency current is flowing in a wide range.
Since it can be a major factor in the occurrence of MI, the occurrence of EMI can be easily determined in detail.

【0034】また、図15に示すように、電子機器のプ
リント配線基板30の近傍に発生する磁界の方向は、こ
のプリント配線基板30のエッジ部分においてプリント
配線基板30の平面と垂直な方向の磁界が強くなる傾向
がある。そこで、図16に示すように、Z軸プローブ3
により、プリント配線基板30の平面と垂直方向の磁界
を測定する。
As shown in FIG. 15, the direction of the magnetic field generated in the vicinity of the printed wiring board 30 of the electronic device is such that the magnetic field in the direction perpendicular to the plane of the printed wiring board 30 at the edge of the printed wiring board 30 Tend to be stronger. Therefore, as shown in FIG.
Thus, the magnetic field in the direction perpendicular to the plane of the printed wiring board 30 is measured.

【0035】このように、上記実施の形態では、プリン
ト配線が積層形成された積層プリント配線基板の平面に
対して軸方向が略平行な一対の平行アンテナ片と、積層
プリント配線基板の平面に対して軸方向が略垂直な一対
の垂直アンテナ片とをそれぞれ接続して積層プリント配
線基板の平面に対して略垂直な面を有する環状のX軸プ
ローブ2を構成するため、例えばプリント配線を用いて
小型のX軸プローブ2が簡単な構成で形成可能となり、
分解能を向上できる。
As described above, in the above-described embodiment, the pair of parallel antenna pieces whose axial directions are substantially parallel to the plane of the laminated printed wiring board on which the printed wiring is laminated are formed. To form a ring-shaped X-axis probe 2 having a surface substantially perpendicular to the plane of the laminated printed wiring board by connecting a pair of vertical antenna pieces whose axis directions are substantially perpendicular to each other. A small X-axis probe 2 can be formed with a simple configuration,
Resolution can be improved.

【0036】また、ループプローブを積層プリント配線
基板にマトリックス状に設けたため、磁界分布を詳細に
測定可能となり、電子部品の最適な配置や電源配線設計
などを効率よくできる。
Further, since the loop probes are provided in a matrix on the laminated printed wiring board, the magnetic field distribution can be measured in detail, and the optimal arrangement of electronic components and power supply wiring design can be efficiently performed.

【0037】さらに、プリント配線が積層形成された積
層プリント配線基板の平面に対して軸方向が略平行な一
対の平行アンテナ片と、積層プリント配線基板の平面に
対して軸方向が略垂直な一対の垂直アンテナ片とをそれ
ぞれ接続して積層プリント配線基板の平面に対して略垂
直でかつX軸プローブ2にて構成される面に対して略垂
直な面を有する環状のY軸プローブ1を構成したため、
X軸プローブ2とにて小型で詳細な磁界分布を容易に測
定できる。
Further, a pair of parallel antenna pieces whose axial directions are substantially parallel to the plane of the laminated printed wiring board on which the printed wiring is formed, and a pair of parallel antennas whose axial directions are substantially perpendicular to the plane of the laminated printed wiring board To form a circular Y-axis probe 1 having a surface substantially perpendicular to the plane of the multilayer printed wiring board and substantially perpendicular to the surface formed by the X-axis probe 2. Did
The small and detailed magnetic field distribution can be easily measured with the X-axis probe 2.

【0038】そして、垂直アンテナ片は、ブラインドビ
アホール4を用いて形成したため、プリント配線を利用
した小型のループプローブを構成できる。
Since the vertical antenna piece is formed by using the blind via hole 4, a small loop probe using printed wiring can be formed.

【0039】さらに、積層プリント配線基板の平面に対
して略平行でかつ互いに略直行する二対の平行アンテナ
片をそれぞれ接続し積層プリント配線基板の平面に対し
て略平行な面を有する環状のZ軸プローブ3を構成した
ため、X軸プローブ2およびY軸プローブ1とにて3次
元の磁界分布を測定できる。
Further, two pairs of parallel antenna pieces which are substantially parallel to the plane of the multilayer printed wiring board and substantially perpendicular to each other are connected to each other, and an annular Z having a plane substantially parallel to the plane of the multilayer printed wiring board is connected. Since the axis probe 3 is configured, a three-dimensional magnetic field distribution can be measured by the X-axis probe 2 and the Y-axis probe 1.

【0040】そして、これらX軸プローブ2、Y軸プロ
ーブ1およびZ軸プローブ3の平行アンテナ片をプリン
ト配線を利用して形成したため、簡単な構成で小型のル
ーププローブを構成できる。
Since the parallel antenna pieces of the X-axis probe 2, the Y-axis probe 1, and the Z-axis probe 3 are formed using printed wiring, a small-sized loop probe can be configured with a simple configuration.

【0041】また、積層プリント配線基板の各層でのプ
リント配線を利用してX軸プローブ2、Y軸プローブ1
およびZ軸プローブ3を構成したため、容易に小型のル
ーププローブを構成でき、容易に簡単な構成で分解能が
高い磁界検出装置28を形成できる。
Also, an X-axis probe 2 and a Y-axis probe 1 are used by utilizing printed wiring in each layer of the multilayer printed wiring board.
Since the Z-axis probe 3 is configured, a small-sized loop probe can be easily configured, and the magnetic field detecting device 28 having a high resolution can be easily formed with a simple configuration.

【0042】さらに、各X軸プローブ2、Y軸プローブ
1およびZ軸プローブ3を構成する層と、これら各X軸
プローブ2、Y軸プローブ1およびZ軸プローブ3を外
部に配線する層との間にシールド層を設けたため、配線
層11,12に流れる信号により発生する電磁界が磁界
を検出する各X軸プローブ2、Y軸プローブ1およびZ
軸プローブ3へ与える影響を防止でき、より高分解能が
得られる。
Further, a layer constituting each of the X-axis probe 2, the Y-axis probe 1 and the Z-axis probe 3 and a layer for wiring the respective X-axis probe 2, Y-axis probe 1 and Z-axis probe 3 to the outside. Since the shield layer is provided between the X-axis probe 2, the Y-axis probe 1, and the Z-axis probe 2, the electromagnetic field generated by the signal flowing through the wiring layers 11 and 12 detects the magnetic field.
The influence on the axis probe 3 can be prevented, and higher resolution can be obtained.

【0043】そして、この磁界検出装置28を用いて磁
界分布測定装置を構成したため、高分解能が容易に得ら
れ、小型の装置が得られる。
Since the magnetic field distribution measuring device is constituted by using the magnetic field detecting device 28, high resolution can be easily obtained and a small device can be obtained.

【0044】なお、上記実施の形態において、例えば図
17に示すように、複数巻き状態の多重環状に形成して
もよい。この多重環状に形成することにより、より分解
能を向上できる。
In the above-described embodiment, for example, as shown in FIG. 17, a plurality of turns may be formed in a multi-ring shape. By forming this multiple ring, the resolution can be further improved.

【0045】[0045]

【発明の効果】本発明は、プリント配線が積層形成され
た積層プリント配線基板の平面に対して軸方向が略平行
な一対の平行アンテナ片と、積層プリント配線基板の平
面に対して軸方向が略垂直な一対の垂直アンテナ片とを
それぞれ接続して積層プリント配線基板の平面に対して
略垂直な面を有する環状のループプローブを構成するた
め、例えばプリント配線を用いて小型のループプローブ
が簡単な構成で形成可能となり、分解能を向上できる。
According to the present invention, a pair of parallel antenna pieces whose axial directions are substantially parallel to the plane of a laminated printed wiring board on which printed wirings are formed are provided. Since a pair of substantially vertical antenna pieces are connected to each other to form an annular loop probe having a surface substantially perpendicular to the plane of the laminated printed wiring board, a small loop probe can be easily formed using printed wiring, for example. It can be formed with a simple configuration, and the resolution can be improved.

【0046】また、ループプローブを積層プリント配線
基板にマトリックス状に設けたため、磁界分布を詳細に
測定可能となり、電子部品の最適な配置や電源配線設計
などを効率よくできる。
Further, since the loop probes are provided in the form of a matrix on the laminated printed wiring board, the magnetic field distribution can be measured in detail, and the optimum arrangement of electronic components and power supply wiring design can be efficiently performed.

【0047】さらに、プリント配線が積層形成された積
層プリント配線基板の平面に対して軸方向が略平行な一
対の平行アンテナ片と、積層プリント配線基板の平面に
対して軸方向が略垂直な一対の垂直アンテナ片とをそれ
ぞれ接続して積層プリント配線基板の平面に対して略垂
直でかつループプローブにて構成される面に対して略垂
直な面を有する環状の第2のループプローブを構成した
ため、ループプローブとにて小型で詳細な磁界分布を容
易に測定できる。
Further, a pair of parallel antenna pieces whose axial direction is substantially parallel to the plane of the laminated printed wiring board on which the printed wiring is formed, and a pair of parallel antenna pieces whose axial direction is substantially perpendicular to the plane of the laminated printed wiring board To form a second annular loop probe having a surface substantially perpendicular to the plane of the multilayer printed wiring board and substantially perpendicular to the surface formed by the loop probe by connecting the vertical antenna pieces to the respective loop antennas. A small and detailed magnetic field distribution can be easily measured with a loop probe.

【0048】そして、垂直アンテナ片は、ブラインドビ
アホールを用いて形成したため、プリント配線を利用し
た小型のループプローブを簡単な構成でき容易に構成で
きる。
Since the vertical antenna piece is formed using a blind via hole, a small-sized loop probe using printed wiring can be simply and easily constructed.

【0049】さらに、積層プリント配線基板の平面に対
して略平行でかつ互いに略直行する二対の平行アンテナ
片をそれぞれ接続し積層プリント配線基板の平面に対し
て略平行な面を有する環状の第3のループプローブを構
成したため、小型で3次元の磁界分布を高分解能で測定
できる。
Further, two pairs of parallel antenna pieces, which are substantially parallel to the plane of the multilayer printed wiring board and are substantially perpendicular to each other, are connected to each other, and have an annular shape having a surface substantially parallel to the plane of the multilayer printed wiring board. Since three loop probes are configured, a small, three-dimensional magnetic field distribution can be measured with high resolution.

【0050】そして、ループプローブの平行アンテナ片
をプリント配線を利用して形成したため、簡単な構成で
小型のループプローブを構成できる。
Since the parallel antenna pieces of the loop probe are formed using printed wiring, a small-sized loop probe can be formed with a simple configuration.

【0051】また、積層プリント配線基板の各層でのプ
リント配線を利用してループプローブを構成したため、
容易に小型のループプローブを構成でき、容易に簡単な
構成で分解能が高い装置を形成できる。
Further, since the loop probe is constituted by using the printed wiring in each layer of the laminated printed wiring board,
A small loop probe can be easily configured, and a device with high resolution can be formed with a simple configuration.

【0052】さらに、積層プリント配線基板に磁界を遮
断するシールド層を設けたため、信号により発生する電
磁界などが磁界を検出するループプローブへ与える影響
を防止でき、より高分解能が得られる。
Further, since the shield layer for shielding the magnetic field is provided on the laminated printed wiring board, it is possible to prevent an electromagnetic field or the like generated by a signal from affecting the loop probe for detecting the magnetic field, thereby obtaining higher resolution.

【0053】そして、小型で高分解能の磁界検出装置を
用いて磁界分布測定装置を構成したため、高分解能が容
易に得られ、小型の装置が得られる。
Since the magnetic field distribution measuring device is constituted by using a small and high-resolution magnetic field detecting device, high resolution can be easily obtained and a small device can be obtained.

【図面の簡単な読明】[Brief reading of drawings]

【図1】本発明の一実施の形態の磁界検出装置の構成を
示す斜視透視図である。
FIG. 1 is a perspective perspective view showing a configuration of a magnetic field detection device according to an embodiment of the present invention.

【図2】同上平面透視図である。FIG. 2 is a plan perspective view of the same.

【図3】同上のX軸プローブの構成を示す断面図であ
る。
FIG. 3 is a cross-sectional view showing a configuration of an X-axis probe according to the first embodiment.

【図4】同上のY軸プローブの構成を示す断面図であ
る。
FIG. 4 is a sectional view showing a configuration of a Y-axis probe according to the first embodiment.

【図5】同上のZ軸プローブの構成を示す断面図であ
る。
FIG. 5 is a cross-sectional view showing a configuration of a Z-axis probe of the above.

【図6】同上のループマトリックスを示す平面透視図で
ある。
FIG. 6 is a perspective plan view showing a loop matrix of the above.

【図7】同上磁界分布測定装置の回路構成を示すブロッ
ク図である。
FIG. 7 is a block diagram showing a circuit configuration of the magnetic field distribution measuring device.

【図8】同上LSI近傍の断面図である。FIG. 8 is a cross-sectional view of the vicinity of the above LSI.

【図9】同上バイパスコンデンサが適正配置された電子
機器の構成を示す平面図である。
FIG. 9 is a plan view showing a configuration of the electronic device in which the bypass capacitor is appropriately arranged.

【図10】同上の測定結果の磁界分布を示す分布図であ
る。
FIG. 10 is a distribution diagram showing a magnetic field distribution obtained as a result of the measurement.

【図11】同上バイパスコンデンサが適正配置されてい
ない被測定物であるプリント配線基板の構成を示す平面
図である。
FIG. 11 is a plan view showing a configuration of a printed wiring board which is a device under test in which bypass capacitors are not properly arranged.

【図12】同上の測定結果の磁界分布を示す分布図であ
る。
FIG. 12 is a distribution diagram showing a magnetic field distribution as a result of the measurement.

【図13】同上磁界強度のベクトル和を説明するグラフ
である。
FIG. 13 is a graph illustrating the vector sum of the magnetic field strength.

【図14】同上電流方向を示す分布図である。FIG. 14 is a distribution diagram showing a current direction in the first embodiment.

【図15】同上測定するプリント配線基板の発生磁界を
示す断面図である。
FIG. 15 is a cross-sectional view showing a magnetic field generated by the printed wiring board to be measured.

【図16】同上の垂直方向の発生磁界を示す平面図であ
る。
FIG. 16 is a plan view showing a generated magnetic field in the vertical direction in the above.

【図17】本発明の他の実施の形態を示すループプロー
ブの斜視図である。
FIG. 17 is a perspective view of a loop probe showing another embodiment of the present invention.

【図18】従来例の磁界分布測定装置の磁界検出装置を
示す平面図である。
FIG. 18 is a plan view showing a magnetic field detection device of a conventional magnetic field distribution measuring device.

【図19】同上のループアンテナを示す側面図である。FIG. 19 is a side view showing the above loop antenna.

【図20】同上磁界分布の測定状況を示す斜視図であ
る。
FIG. 20 is a perspective view showing a measurement state of a magnetic field distribution according to the third embodiment.

【図21】同上の磁界分布の測定結果を示す分布図であ
る。
FIG. 21 is a distribution diagram showing measurement results of a magnetic field distribution according to the embodiment.

【図22】従来の他の例の磁界分布測定装置を示すブロ
ック図である。
FIG. 22 is a block diagram showing another conventional magnetic field distribution measuring device.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 Y軸プローブ 2 X軸プローブ 3 Z軸プローブ 4 ブラインドビアホール 5 X軸プローブ構成層A 6 Y軸プローブ構成層A 7 Z軸プローブ構成層 8 X軸プローブ構成層B8 9 Y軸プローブ構成層B 10 シールド層 11,12 配線層 13 ループアンテナ 14 プローブマトリックス 15 セレクタ 16 RFアンプ 17 RFレシーバ 18 コンピュータ 19 CRTモニタ 20 プリンタ 21,24 LSI 22 回路基板 23 アンテナマトリックス 25 電源ピン 26 バイパスコンデンサ 27 グランドピン 28 磁界検出装置 29 ノイズ電圧 30 プリント配線基板 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Y-axis probe 2 X-axis probe 3 Z-axis probe 4 Blind via hole 5 X-axis probe constituent layer A 6 Y-axis probe constituent layer A 7 Z-axis probe constituent layer 8 X-axis probe constituent layer B8 9 Y-axis probe constituent layer B 10 Shield layer 11,12 wiring layer 13 loop antenna 14 probe matrix 15 selector 16 RF amplifier 17 RF receiver 18 computer 19 CRT monitor 20 printer 21,24 LSI 22 circuit board 23 antenna matrix 25 power supply pin 26 bypass capacitor 27 ground pin 28 magnetic field detection Device 29 Noise voltage 30 Printed wiring board

Claims (11)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 プリント配線が積層形成された積層プリ
ント配線基板と、この積層プリント配線基板に設けら
れ、この積層プリント配線基板の平面に対して略平行な
一対の平行アンテナ片および前記積層プリント配線基板
の平面に対して略垂直な一対の垂直アンテナ片を有し、
前記一対の平行アンテナ片および前記一対の垂直アンテ
ナ片がそれぞれ接続されて前記積層プリント配線基板の
平面に対して略垂直な面を有する環状のループプローブ
を具備したことを特徴とする磁界検出装置。
1. A and multilayer printed circuit board printed wiring is laminated, is provided on the multilayer printed wiring board, the plane to be substantially parallel to a pair of parallel antenna strips and the laminated printed wiring of the multilayer printed circuit board has a substantially vertical pair of vertical antenna piece to the plane of the substrate,
A magnetic field detection device, comprising: an annular loop probe connected to the pair of parallel antenna pieces and the pair of vertical antenna pieces, respectively, and having a surface substantially perpendicular to a plane of the multilayer printed circuit board.
【請求項2】 ループプローブは、積層プリント配線基
板にマトリックス状に設けられたことを特徴とする請求
項1記載の磁界検出装置。
2. The magnetic field detecting device according to claim 1, wherein the loop probes are provided in a matrix on the laminated printed wiring board.
【請求項3】 ループプローブは、平行アンテナ片およ
び垂直アンテナ片をそれぞれ複数対有し、多重環状に形
成されたことを特徴とする請求項1または2記載の磁界
検出装置。
3. The magnetic field detecting device according to claim 1, wherein the loop probe has a plurality of pairs of parallel antenna pieces and vertical antenna pieces, and is formed in a multiple ring shape.
【請求項4】 積層プリント配線基板に設けられ、この
積層プリント配線基板の平面に対して略平行な一対の平
行アンテナ片および前記積層プリント配線基板の平面に
対して略垂直な一対の垂直アンテナ片を有し、前記一対
の平行アンテナ片および前記一対の垂直アンテナ片がそ
れぞれ接続されて前記積層プリント配線基板の平面に対
して略垂直な面を有する環状のループプローブと、積層
プリント配線基板に設けられ、この積層プリント配線基
板の平面に対して略平行な一対の平行アンテナ片、およ
び、前記積層プリント配線基板の平面に対して略垂直な
一対の垂直アンテナ片を有し、前記一対の平行アンテナ
片および前記一対の垂直アンテナ片がそれぞれ接続され
て前記積層プリント配線基板の平面に対して略垂直でか
前記ループプローブにて構成される面に対して略垂直
な面を有する環状の第2のループプローブを具備したこ
とを特徴とする請求項1ないし3のいずれか一に記載の
磁界検出装置。
4. A laminated printed wiring board,
A pair of flat planes substantially parallel to the plane of the multilayer printed circuit board
Row antenna piece and the plane of the laminated printed wiring board
A pair of vertical antenna pieces that are substantially perpendicular to the
The parallel antenna piece and the pair of vertical antenna pieces are
Each of them is connected to the plane of the multilayer printed circuit board.
An annular loop probe having a surface substantially perpendicular to, provided in the laminated printed circuit board, substantially parallel pair of parallel antenna strips and the plane of the multilayer printed wiring board, and the plane of the multilayer printed wiring board has a substantially vertical pair of vertical antenna piece relative, substantially vertical in and said loop probe with respect to the plane of the multilayer printed wiring board wherein a pair of parallel antenna strips and the pair of vertical antenna element is connected magnetic field detecting device according to any one of claims 1 to 3, characterized by comprising a ring-shaped second loop probe having a surface substantially perpendicular relative to the plane formed by.
【請求項5】 第2のループプローブは、平行アンテナ
片および垂直アンテナ片をそれぞれ複数対有し、多重環
状に形成されたことを特徴とする請求項4記載の磁界検
出装置。
5. The magnetic field detection device according to claim 4, wherein the second loop probe has a plurality of pairs of parallel antenna pieces and vertical antenna pieces, and is formed in a multiple annular shape.
【請求項6】 積層検出装置は、ブラインドビアホール
を有し、 垂直アンテナ片は、前記ブラインドビアホールに設けら
れたことを特徴とする請求項1ないし5のいずれか一に
記載の磁界検出装置。
6. The magnetic field detection device according to claim 1, wherein the stacked detection device has a blind via hole, and a vertical antenna piece is provided in the blind via hole.
【請求項7】 積層プリント配線基板に設けられ、この
積層プリント配線基板の平面に対して略平行でかつ互い
に略直行する二対の平行アンテナ片がそれぞれ接続され
前記積層プリント配線基板の平面に対して略平行な面を
有する環状の第3のループプローブを具備したことを特
徴とする請求項1ないし6のいずれか一に記載の磁界検
出装置。
7. A pair of parallel antennas provided on the laminated printed wiring board and substantially parallel to the plane of the laminated printed wiring board and substantially perpendicular to each other are connected to the plane of the laminated printed wiring board. 7. The magnetic field detecting device according to claim 1, further comprising an annular third loop probe having substantially parallel surfaces.
【請求項8】 第3のループプローブは、複数対の平行
アンテナ片がそれぞれ接続されて多重環状に形成された
ことを特徴とする請求項7記載の磁界検出装置。
8. The magnetic field detection device according to claim 7, wherein the third loop probe is formed by connecting a plurality of pairs of parallel antenna pieces to each other to form a multiple ring.
【請求項9】 平行アンテナ片は、プリント配線により
形成されたことを特徴とする請求項1ないし8のいずれ
か一に記載の磁界検出装置。
9. The magnetic field detecting device according to claim 1, wherein the parallel antenna pieces are formed by printed wiring.
【請求項10】 積層プリント配線基板は、磁界を遮断
するシールド層を備えたことを特徴とする請求項1ない
し9のいずれか一に記載の磁界検出装置。
10. The magnetic field detection device according to claim 1, wherein the multilayer printed wiring board includes a shield layer that blocks a magnetic field.
【請求項11】 請求項1ないし10のいずれか一に記
載の磁界検出装置と、 この磁界検出装置に接続され磁界を検出して出力するル
ーププローブを選択するセレクタと、 前記磁界検出装置に接続され前記ループプローブから出
力された電圧が入力されるレシーバと、 前記セレクタおよび前記レシーバに接続され、前記レシ
ーバを制御して特定の周波数の磁界強度を測定させて所
定の信号を出力させる制御部とを具備したことを特徴と
する磁界分布測定装置。
11. A magnetic field detecting device according to claim 1, a selector connected to the magnetic field detecting device for selecting a loop probe for detecting and outputting a magnetic field, and connected to the magnetic field detecting device. And a receiver to which a voltage output from the loop probe is input, and a control unit connected to the selector and the receiver, for controlling the receiver to measure a magnetic field strength of a specific frequency and output a predetermined signal. A magnetic field distribution measuring device comprising:
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