JP2941079B2 - Film forming apparatus with sediment recovery device - Google Patents

Film forming apparatus with sediment recovery device

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JP2941079B2
JP2941079B2 JP7778691A JP7778691A JP2941079B2 JP 2941079 B2 JP2941079 B2 JP 2941079B2 JP 7778691 A JP7778691 A JP 7778691A JP 7778691 A JP7778691 A JP 7778691A JP 2941079 B2 JP2941079 B2 JP 2941079B2
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、極めて高純度の金属ま
たはその化合物の膜あるいは板状体を得ることのできる
金属フッ化物を原料としたCVD法による成膜装置にお
いて、目的物以外のCVD装置内の堆積物をフッ素ガス
(以下、F2ガスと略記する。)またはClF3ガスによりク
リーニングし、さらに前記反応により得られたフッ化物
ガスを回収し、再度原料ガスとして使用する方法に関す
る。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a film forming apparatus by a CVD method using a metal fluoride as a raw material capable of obtaining a film or a plate of an extremely high-purity metal or a compound thereof. The present invention relates to a method of cleaning deposits in an apparatus by using a fluorine gas (hereinafter, abbreviated as F 2 gas) or a ClF 3 gas, further collecting a fluoride gas obtained by the above reaction, and using the gas again as a source gas.

【0002】[0002]

【従来技術とその問題点】従来、タングステン(W) 、モ
リブデン(Mo)、レニウム(Re)、イリジウム(Ir)等のフッ
化物をCVD法に還元熱分解することにより金属または
その化合物膜や金属板状体を得る方法(特開昭59-12376
5 号等)は、高純度の金属膜を得る方法として極めて有
用であり、IC等の導電線の作成や耐食耐磨耗性材料の
製造等に広く使用されている。
2. Description of the Related Art Conventionally, fluorides such as tungsten (W), molybdenum (Mo), rhenium (Re), and iridium (Ir) are reduced and thermally decomposed by a CVD method to obtain a metal or a compound film or metal. Method for obtaining plate-like body (JP-A-59-12376)
No. 5) is extremely useful as a method for obtaining a high-purity metal film, and is widely used for producing conductive wires such as ICs and for producing corrosion-resistant and abrasion-resistant materials.

【0003】また、炭化水素、窒化物等のガスと反応さ
せることにより炭化物、窒化物を製造する方法も知られ
ている(特開昭61-84375号、特開昭61-157681 号等) 。
しかし、目的の場所以外に析出した前記の金属またはそ
の化合物をCVD装置より取り出すためには装置を分解
せねばならず、生産の効率からいっても問題である。ま
た前記金属でも、特にRe、Ir等は高価であるため、その
まま廃棄するのは経済的でない。
[0003] A method of producing carbides and nitrides by reacting with gases such as hydrocarbons and nitrides is also known (JP-A-61-84375, JP-A-61-157681, etc.).
However, in order to remove the metal or its compound deposited at a place other than the intended place from the CVD apparatus, the apparatus must be disassembled, which is a problem in terms of production efficiency. Also, even with the above metals, Re, Ir and the like are particularly expensive, and it is not economical to dispose them as they are.

【0004】[0004]

【問題点を解決するための手段】本発明者らはかかる問
題点に鑑み、鋭意検討した結果、CVD装置内に析出し
た金属またはその化合物を、もう一度F2ガスまたはClF3
ガスと接触させることによりフッ化物に変換し、冷却装
置で容器内に回収した後、これを原料ガスとして再度使
用するようにした装置を完成し、本発明に到達したもの
である。
[Means for Solving the Problems] In view of such problems, the present inventors have conducted intensive studies and as a result, have found that a metal or a compound thereof deposited in a CVD apparatus is again subjected to F 2 gas or ClF 3 gas.
The device was converted into fluoride by contact with a gas, collected in a container by a cooling device, and then used again as a raw material gas.

【0005】すなわち本発明は、金属フッ化物を原料と
するCVD法による金属またはその化合物の成膜装置に
おいて、原料ガス供給装置、CVD装置、排ガス除害装
置を備え、さらにCVD装置と接続した配管を有するク
リーニングガス供給装置およびフッ化物回収供給装置を
具備したことを特徴とする堆積物回収装置を備えた成膜
装置を提供するものである。
That is, the present invention relates to a film forming apparatus for forming a metal or a compound thereof by a CVD method using a metal fluoride as a raw material, comprising a raw material gas supply apparatus, a CVD apparatus, and an exhaust gas abatement apparatus, and further comprising a pipe connected to the CVD apparatus. The present invention provides a film forming apparatus provided with a deposit recovery device, which is provided with a cleaning gas supply device and a fluoride recovery supply device having the following.

【0006】本発明の装置の概念図の一例を図1に示
す。まず、本発明の装置で使用する原料ガスとしては、
WF6,MoF6, ReF6, IrF6等であり、前記ガスに水素、炭化
水素、アンモニア、アミン化合物等を添加、混合してC
VD装置内で加熱し、前記フッ化物に対応する金属やそ
の炭化物、窒化物の膜または板状体を析出させる。
FIG. 1 shows an example of a conceptual diagram of the apparatus of the present invention. First, as a raw material gas used in the apparatus of the present invention,
WF 6, MoF 6, a ReF 6, IRF 6 and the like, hydrogen to the gas, hydrocarbons, ammonia, adding an amine compound or the like, C and mixed
Heating is performed in a VD apparatus to deposit a metal or a carbide or nitride film or plate corresponding to the fluoride.

【0007】CVD装置としては、その加熱方式として
抵抗加熱式、高周波誘導加熱式、赤外線ランプ加熱式等
があり、上記加熱方式に対してそれぞれホットプレート
型、炉心型のものがあるが、装置自体が完全に密閉され
た系のものであればいずれも本発明で使用できる。
As the CVD system, there are a heating system such as a resistance heating system, a high-frequency induction heating system, and an infrared lamp heating system. There are a hot plate system and a core system for the above-mentioned heating systems, respectively. Can be used in the present invention as long as they are completely closed systems.

【0008】上記の装置では目的とする場所以外にも、
装置内の色々な場所や配管等に膜状物や粉状物が堆積
し、これらを取り除くためには装置を解体してクリーニ
ングの作業を行わなければならず、操業が中断されるだ
けでなく、完全に除去することが難しく、不純物混入の
原因になったりする。また、Re,Ir のように高価な金属
は、そのまま廃棄すれば金属の利用率が低くなるため、
製造原価上昇の大きな原因となる。
In the above device, besides the intended place,
Films and powders accumulate in various places and pipes in the equipment, and to remove them, the equipment must be dismantled and cleaning performed, which not only interrupts the operation, but also Is difficult to completely remove, which may cause impurity contamination. In addition, expensive metals such as Re and Ir can be discarded as they are and the utilization rate of metals will be low.
This is a major cause of increased manufacturing costs.

【0009】本発明では、これらの装置に付着した金属
またはそれらの化合物を、装置を解体することなくF2
スまたはClF3ガス等のクリーニングガスによりクリーニ
ング処理し、さらにクリーニング処理により得られたフ
ッ化物を冷却することにより他のガスと分離して凝縮さ
せ、再度このガスをCVDの原料ガスとして使用するも
のである。
In the present invention, a metal or a compound thereof adhering to these devices is cleaned by a cleaning gas such as F 2 gas or ClF 3 gas without disassembling the device, and further, the fluorine obtained by the cleaning process is removed. By cooling the compound, it is separated from other gas and condensed, and this gas is used again as a source gas for CVD.

【0010】従って、本発明の原料供給装置は、前記し
たWF6,MoF6, ReF6, IrF6等のガスを貯蔵したボンベとこ
のガスを供給するための流量制御装置、および前記ガス
に混合する水素やメタン、エタン、プロパン、ベンゼン
等の炭化水素あるいはアンモニア、ジメチルアミン等の
窒素化合物のボンベとこのガスを供給するための流量制
御装置からなる。これらのガスはCVD装置に導入され
る前に配管中で混合するか、場合によっては別々にCV
D装置に導入され装置の中で混合される。
Accordingly, the raw material supply apparatus of the present invention is mixed, the flow control device for supplying said the WF 6, MoF 6, ReF 6 , IrF 6 gas such as a pooled cylinder with the gas, and the gas It comprises a cylinder of hydrogen or a hydrocarbon such as methane, ethane, propane or benzene or a nitrogen compound such as ammonia or dimethylamine, and a flow control device for supplying this gas. These gases may be mixed in the piping before being introduced into the CVD equipment, or may be separated separately in some cases.
It is introduced into the D apparatus and mixed in the apparatus.

【0011】これらの混合ガスは、CVD装置内で加熱
され、それぞれの反応に従ってW,Mo,Re,Irの金属やその
炭化物、窒化物等の膜または板状体が生成する。その
際、CVD装置内やその後の配管にも、その部分の温度
や雰囲気により、前記金属やその炭化物、窒化物等の膜
や粉末が堆積する。
[0011] These mixed gases are heated in a CVD apparatus, and a film or a plate of a metal such as W, Mo, Re, Ir or a carbide or nitride thereof is formed according to each reaction. At this time, a film or a powder of the metal, its carbide, nitride, or the like is deposited on the inside of the CVD apparatus or on the subsequent piping depending on the temperature and atmosphere of the portion.

【0012】CVD装置を出た排ガスは、排ガス除害装
置によりフッ化物、塩化物等は吸収され、その他のガス
は排出される。排ガス除害装置は、ナトリウム、カリウ
ム、カルシウム、マグネシウム等のアルカリ金属または
アルカリ土類金属の酸化物または水酸化物の溶液層およ
び/または固体状物の充填層を通すことにより、吸収、
固定化される。
Exhaust gas that has exited the CVD apparatus is absorbed by the exhaust gas abatement apparatus, such as fluoride and chloride, and the other gases are exhausted. The exhaust gas abatement system absorbs, by passing through a solution layer of an oxide or hydroxide of an alkali metal or an alkaline earth metal such as sodium, potassium, calcium, magnesium and / or a packed layer of a solid material.
Be fixed.

【0013】必要によっては、活性炭、ゼオライト等の
吸収剤を前記層の後に設けると、場合によっては前記層
を通過する微量のフッ化物や塩化物を完全に取り除くこ
とができる。
If necessary, if an absorbent such as activated carbon or zeolite is provided after the layer, trace amounts of fluoride and chloride passing through the layer can be completely removed in some cases.

【0014】次に、堆積物をクリーニングするためのガ
スを供給するクリーニンングガス供給装置であるが、こ
の装置も原料ガス供給装置と同じくクリーニングガスで
あるF2ガスおよびClF3ガスを貯蔵するボンベと流量制御
装置からなる。
[0014] Next, the cylinder is a deposit which is Cleaning emissions ing gas supply device for supplying a gas for cleaning, this device is also for storing the F 2 gas and ClF 3 gas, which is also the cleaning gas and the material gas supplying device And a flow control device.

【0015】クリーニングガス供給装置よりでた配管
は、CVD装置に接続されており、これによりクリーニ
ングガスがCVD装置または排ガス除害装置に通ずる配
管に挿入され、クリーニング処理が行われる。
The piping from the cleaning gas supply device is connected to the CVD device, whereby the cleaning gas is inserted into the piping leading to the CVD device or the exhaust gas abatement device, and the cleaning process is performed.

【0016】クリーニング処理を行うためには、いずれ
の堆積物に対しても100 〜400 ℃の温度に加熱する必要
がある。CVD装置では、CVDを行うため当然温度制
御装置の付いた加熱装置が必要であり、この加熱装置に
よりクリーニングを行う際、上記した温度に設定すれば
よい。また、排ガス除害装置に通ずる配管も、堆積物が
付着した場合を考え、加熱装置を設けておくのが好まし
い。
In order to perform the cleaning process, it is necessary to heat any of the deposits to a temperature of 100 to 400 ° C. In the CVD apparatus, a heating device equipped with a temperature control device is naturally required for performing the CVD, and the temperature may be set to the above-described temperature when cleaning is performed by the heating device. In addition, it is preferable to provide a heating device also in the pipe leading to the exhaust gas abatement apparatus in consideration of the case where the deposits are attached.

【0017】CVD装置や加熱する配管は、CVDの原
料ガスやクリーニングガスが加熱された状態で接触する
ので、Ni, モネル等の耐腐食性材料を使用するのが好ま
しい。
Since the CVD apparatus and the piping to be heated come into contact with the raw material gas and the cleaning gas of the CVD while being heated, it is preferable to use a corrosion-resistant material such as Ni or Monel.

【0018】CVD装置では、前記した各金属はクリー
ニングガスによりフッ化物に変換されてフッ化物回収供
給装置に導入される。フッ化物回収供給装置では、導入
されたフッ化物ガスを冷媒により冷却、凝集させること
により、ボンベ中に貯蔵する。この場合、一旦トラップ
によりトラップ中に凝集、固化させ、雰囲気ガスを一旦
排気した後、貯蔵用のボンベに再度凝集、貯蔵される。
トラップの際の温度は、WF6 の場合は0℃以下、MoF6
ReF6,IrF6の場合は0℃に冷却すれば充分である。
In the CVD apparatus, each of the above-mentioned metals is converted into a fluoride by a cleaning gas and introduced into a fluoride recovery and supply device. In the fluoride collection and supply device, the introduced fluoride gas is cooled and agglomerated by a refrigerant, and stored in a cylinder. In this case, the gas is once coagulated and solidified in the trap by the trap, and once the atmosphere gas is exhausted, the gas is coagulated and stored again in the storage cylinder.
Temperature in the trap, if the WF 6 0 ° C. or less, MoF 6,
In the case of ReF 6 and IrF 6 , cooling to 0 ° C. is sufficient.

【0019】次に堆積物が炭化物、窒化物の場合である
が、この場合は各金属のフッ化物と同時にフッ化炭素、
フッ化窒素も生成するので、前記フッ化炭素またはフッ
化窒素を各金属のフッ化物と分離する必要がある。しか
し、フッ化炭素、フッ化窒素は上記した金属フッ化物に
比較して沸点が低いので、0〜 -30℃程度の温度で冷却
すれば、金属フッ化物のみをトラップできる。その後の
操作は、金属フッ化物のみを凝集させる場合と同様であ
る。また、トラップを通過したフッ化炭素、フッ化窒素
は排ガス除害装置により除害される。
Next, the case where the deposit is carbide or nitride is used. In this case, carbon fluoride, carbon fluoride,
Since nitrogen fluoride is also generated, it is necessary to separate the carbon fluoride or nitrogen fluoride from the fluoride of each metal. However, since carbon fluoride and nitrogen fluoride have a lower boiling point than the above-mentioned metal fluorides, only metal fluorides can be trapped by cooling at a temperature of about 0 to -30 ° C. The subsequent operation is the same as the case where only the metal fluoride is aggregated. In addition, the fluorocarbon and nitrogen fluoride that have passed through the trap are removed by the exhaust gas removal device.

【0020】このようにして貯蔵されたフッ化物は、原
料ガス供給装置と同様の装置によりフッ化物ガスを供給
し、他の水素、炭化水素、窒化物ガス等は原料ガス供給
装置より供給、前記ガスと混合することにより所望の膜
または板状体を作成することができる。
The fluoride thus stored is supplied with a fluoride gas by the same device as the source gas supply device, and other hydrogen, hydrocarbons, nitride gases, etc. are supplied from the source gas supply device. A desired film or plate can be formed by mixing with a gas.

【0021】上述したような本発明の装置を使用するこ
とにより、CVD装置や排ガス除害装置に接続された配
管中に堆積した不要な堆積物をクリーニングすることが
でき、得られたフッ化物を再度原料ガスとして使用する
ことができるため、極めて経済的、効率的にCVDの作
業を行うことができるものである。
By using the apparatus of the present invention as described above, unnecessary deposits deposited in a pipe connected to a CVD apparatus or an exhaust gas abatement apparatus can be cleaned, and the obtained fluoride can be removed. Since it can be used again as a source gas, the CVD operation can be performed extremely economically and efficiently.

【0022】[0022]

【実施例】以下、本発明を実施例により具体的に説明す
るが、本発明はかかる実施例により限定されるものでは
ない。
EXAMPLES Hereinafter, the present invention will be described specifically with reference to examples, but the present invention is not limited to these examples.

【0023】実施例1 原料ガスとしてWF6 を使用し、このガスに水素ガスをWF
6 :H2(モル比)= 1:7になるように混合し、CVD
装置に導入した。
Example 1 WF 6 was used as a source gas, and hydrogen gas was
6 : H 2 (molar ratio) = 1: 7
Introduced into the device.

【0024】CVD装置は、50mmφ×300mm L のニッケ
ル製管状炉に温度制御装置付きのヒーターを備え、炉の
中心に30×30×2 mmのNi製の基板を置いたものである。
全流量は1.2L/min、炉の温度を450 ℃に設定し、圧力76
0Torr で3時間反応を行い、30×30×0.6mm のW の板状
体を得た。
The CVD apparatus is a 50 mmφ × 300 mm L nickel tube furnace equipped with a heater with a temperature controller, and a 30 × 30 × 2 mm Ni substrate is placed at the center of the furnace.
The total flow rate was 1.2 L / min, the furnace temperature was set at 450 ° C, and the pressure was 76
The reaction was carried out at 0 Torr for 3 hours to obtain a 30 × 30 × 0.6 mm W plate.

【0025】板状体を取り出す際、管状炉の内部を観察
したところ、表面に膜状物や粉状物が堆積していること
がわかった。板状体を取り出し、管状炉を再び密閉した
後真空排気し、さらに窒素ガスにより系内を置換、排気
した後、フッ素ガス(400cc/min) および窒素ガス(1.6L/
min)を混合ガスとして導入し、250 ℃でクリーニング処
理を行った。
When the plate-like body was taken out, the inside of the tubular furnace was observed, and it was found that a film-like substance or a powdery substance had accumulated on the surface. The plate was taken out, the tube furnace was closed again, the chamber was evacuated, the inside of the system was replaced with nitrogen gas, and the system was evacuated.
min) as a mixed gas, and a cleaning treatment was performed at 250 ° C.

【0026】クリーンニング処理したガスは、フッ化物
回収装置に導入し、-20 ℃の冷媒を充填したトラップに
よりWF6 を凝集、固化させた。次に、雰囲気ガスを真空
排気した後、同様に貯蔵用のボンベを-70 ℃に冷却し、
反対にトラップ層を20℃に加熱することにより、貯蔵用
ボンベに凝集させた。この時に得られたWF6 は、280gで
あった。
The gas subjected to the cleaning treatment was introduced into a fluoride recovery apparatus, and WF 6 was coagulated and solidified by a trap filled with a refrigerant at -20 ° C. Next, after the atmosphere gas was evacuated, the storage cylinder was similarly cooled to -70 ° C,
Conversely, by heating the trap layer to 20 ° C., it was aggregated in the storage cylinder. WF 6 obtained at this time, was 280g.

【0027】成膜工程を経た排ガスまたはクリーニング
処理後にトラップを出た排ガスは、内径400 mm、高さ90
0 mmの固定床反応器とその後段に内径50mm、高さ50mmの
吸着剤充填層を有する排ガス除害装置に導入された。固
定床反応器にはソーダライム75Kgを充填し、吸着剤とし
ては活性炭200gを充填した。
The exhaust gas that has passed through the film forming process or the exhaust gas that has exited the trap after the cleaning process has an inner diameter of 400 mm and a height of 90 mm.
The reactor was introduced into an exhaust gas abatement system having a fixed bed reactor of 0 mm and an adsorbent packed bed having an inner diameter of 50 mm and a height of 50 mm at the subsequent stage. The fixed-bed reactor was filled with 75 kg of soda lime, and 200 g of activated carbon as an adsorbent.

【0028】前記した装置での処理により、ハロゲンガ
ス、ハロゲン化ガスは吸収、固定され、除害処理され
た。実施例2 原料ガスとしてMoF6を使用し、このガスに水素ガスをMo
F6:H2(モル比)= 1:7になるように混合し、CVD
装置に導入した。
The halogen gas and the halogenated gas were absorbed and fixed by the treatment in the above-mentioned apparatus, and were subjected to the detoxification treatment. Example 2 MoF 6 was used as a source gas, and hydrogen gas was used as the source gas.
F 6 : H 2 (molar ratio) = 1: 7
Introduced into the device.

【0029】CVD装置は、実施例1と同じものであ
る。全流量は1.2L/min、炉の温度を550 ℃に設定し、圧
力760Torr で3時間反応を行い、30×30×0.6mm のMoの
板状体を得た。
The CVD apparatus is the same as in the first embodiment. The reaction was carried out at a pressure of 760 Torr for 3 hours at a total flow rate of 1.2 L / min, a furnace temperature of 550 ° C., and a 30 × 30 × 0.6 mm Mo plate was obtained.

【0030】板状体を取り出す際、管状炉の内部を観察
したところ、表面に膜状物や粉状物が堆積していること
がわかった。板状体を取り出し、管状炉を再び密閉した
後真空排気し、さらに窒素ガスにより系内を置換、排気
した後、ClF3ガス(400cc/min) および窒素ガス(1.6L/mi
n)を混合ガスとして導入し、300 ℃でクリーニング処理
を行った。
When the plate was taken out, the inside of the tubular furnace was observed. As a result, it was found that a film or a powder had accumulated on the surface. The plate was taken out, the tubular furnace was sealed again, evacuated, the system was replaced with nitrogen gas, and evacuated.ClF 3 gas (400 cc / min) and nitrogen gas (1.6 L / mi
n) was introduced as a mixed gas, and a cleaning treatment was performed at 300 ° C.

【0031】クリーンニング処理したガスは、フッ化物
回収装置に導入され、0 ℃の冷媒を充填したトラップに
よりMoF6を凝集、固化させた。次に、雰囲気ガスを真空
排気した後、同様に貯蔵用のボンベを-70 ℃に冷却し、
反対にトラップ層を50℃に加熱することにより、貯蔵ボ
ンベに凝集させた。この時に得られたMoF6は、180gであ
った。
The gas subjected to the cleaning treatment was introduced into a fluoride recovery apparatus, and MoF 6 was coagulated and solidified by a trap filled with a 0 ° C. refrigerant. Next, after the atmosphere gas was evacuated, the storage cylinder was similarly cooled to -70 ° C,
Conversely, the trap layer was heated to 50 ° C. to cause aggregation in the storage cylinder. MoF 6 obtained at this time was 180 g.

【0032】成膜工程を経た排ガスまたはクリーニング
処理後にトラップを出た排ガスは、実施例1と同様の方
法で除害した。 実施例3 原料ガスとしてReF6を使用し、このガスに水素ガスをRe
F6:H2(モル比)= 1:7になるように混合し、CVD
装置に導入した。
Exhaust gas that passed through the film forming process or exhaust gas that exited the trap after the cleaning process was harmed in the same manner as in Example 1. Example 3 ReF 6 was used as a raw material gas, and hydrogen gas was used for this gas.
F 6 : H 2 (molar ratio) = 1: 7
Introduced into the device.

【0033】CVD装置は、黒鉛基板を使用した他は実
施例1と同じものである。全流量は1L/min 、炉の温度
を500 ℃に設定し、圧力20Torrで3時間反応を行い、30
×30×0.3mm のReの板状体を得た。
The CVD apparatus is the same as the first embodiment except that a graphite substrate is used. The total flow rate was set at 1 L / min, the furnace temperature was set at 500 ° C, and the reaction was performed at a pressure of 20 Torr for 3 hours.
A 30 × 0.3 mm Re plate was obtained.

【0034】板状体を取り出す際、管状炉の内部を観察
したところ、表面に膜状物や粉状物が堆積していること
がわかった。板状体を取り出し、管状炉を再び密閉した
後真空排気し、さらに窒素ガスにより系内を置換、排気
した後、フッ素ガス(400cc/min) および窒素ガス(1.6L/
min)を混合ガスとして導入し、300 ℃でクリーニング処
理を行った。
When the plate-like body was taken out, the inside of the tubular furnace was observed, and it was found that a film-like substance or a powdery substance had accumulated on the surface. The plate was taken out, the tube furnace was closed again, the chamber was evacuated, the inside of the system was replaced with nitrogen gas, and the system was evacuated.
min) as a mixed gas, and a cleaning treatment was performed at 300 ° C.

【0035】クリーニング処理したガスは、フッ化物回
収装置に導入され、0 ℃の冷媒を充填したトラップによ
りReF6を凝集、固化させた。次に、雰囲気ガスを真空排
気した後、同様に貯蔵用のボンベを-70 ℃に冷却し、反
対にトラップ層を70℃に加熱することにより、貯蔵ボン
ベに凝集させた。この時に得られたReF6は、220gであっ
た。
The gas subjected to the cleaning treatment was introduced into a fluoride recovery apparatus, and ReF 6 was coagulated and solidified by a trap filled with a 0 ° C. refrigerant. Next, after the atmosphere gas was evacuated, the storage cylinder was similarly cooled to -70 ° C, and the trap layer was heated to 70 ° C to condense the storage cylinder. ReF 6 obtained at this time was 220 g.

【0036】成膜工程を経た排ガスまたはクリーニング
処理後にトラップを出た排ガスは、実施例1と同様の方
法で除害した。 実施例4 原料ガスとしてWF6 を使用し、このガスにベンゼンおよ
び水素を加え、そのモル比ををWF6 :ベンゼン:水素=
2:1:30になるように混合し、CVD装置に導入し
た。
Exhaust gas that had passed through the film-forming step or exhaust gas that had exited the trap after the cleaning process was removed in the same manner as in Example 1. Example 4 WF 6 was used as a raw material gas, and benzene and hydrogen were added to this gas, and the molar ratio was WF 6 : benzene: hydrogen =
The mixture was mixed at a ratio of 2: 1: 30, and introduced into a CVD apparatus.

【0037】CVD装置は、実施例1と同じものであ
る。全流量は 2.5L/min 、炉の温度を500 ℃に設定し、
3時間反応を行い、ニッケル基板上に0.6mm のWC膜を得
た。
The CVD apparatus is the same as in the first embodiment. The total flow rate was set to 2.5L / min, the furnace temperature was set to 500 ° C,
The reaction was performed for 3 hours to obtain a 0.6 mm WC film on the nickel substrate.

【0038】基板を取り出す際、管状炉の内部を観察し
たところ、表面に膜状物や粉状物が堆積していることが
わかった。板状体を取り出し、管状炉を再び密閉した後
真空排気し、さらに窒素ガスにより系内を置換、排気し
た後、フッ素ガス(400cc/min) および窒素ガス(1.6L/mi
n)を混合ガスとして導入し、300 ℃でクリーニング処理
を行った。
When the substrate was taken out, the inside of the tubular furnace was observed. As a result, it was found that a film or a powder had accumulated on the surface. The plate was taken out, the tubular furnace was sealed again, evacuated, and the system was replaced with nitrogen gas and evacuated.Then, fluorine gas (400 cc / min) and nitrogen gas (1.6 L / mi
n) was introduced as a mixed gas, and a cleaning treatment was performed at 300 ° C.

【0039】クリーンニング処理したガスは、フッ化物
回収装置に導入され、0 ℃の冷媒を充填したトラップに
よりWF6 を凝集、固化させた。次に、雰囲気ガスを真空
排気した後、同様に貯蔵用のボンベを-70 ℃に冷却し、
反対にトラップ層を70℃に加熱することにより、貯蔵ボ
ンベに凝集させた。この時に得られたWF6 は、280gであ
った。
The clean hardening treatment gas is introduced into the fluoride recovery system, aggregating the WF 6 by a trap filled with 0 ℃ coolant to solidify. Next, after the atmosphere gas was evacuated, the storage cylinder was similarly cooled to -70 ° C,
Conversely, by heating the trap layer to 70 ° C., it was aggregated in the storage cylinder. WF 6 obtained at this time, was 280g.

【0040】成膜工程を経た排ガスまたはクリーニング
処理後にトラップを出た排ガスは、実施例1と同様の方
法で除害した。
Exhaust gas that had passed through the film forming process or exhaust gas that had exited the trap after the cleaning process was removed in the same manner as in Example 1.

【0041】[0041]

【発明の効果】本発明の装置を使用することにより、C
VD装置や排ガス除害装置接続された配管中に堆積した
不要な堆積物をクリーニングすることができ、得られた
フッ化物を再度原料ガスとして使用することができるた
め、極めて経済的、効率的にCVDの作業を行うことが
できるものである。
By using the device of the present invention, C
Unnecessary deposits deposited in the pipes connected to the VD device and the exhaust gas abatement device can be cleaned, and the obtained fluoride can be used again as a raw material gas, so that it is extremely economical and efficient. It can perform the operation of CVD.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の堆積物回収装置を備えた成膜装置の一
例の概念図を示す。
FIG. 1 shows a conceptual diagram of an example of a film forming apparatus provided with a deposit collecting apparatus of the present invention.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 毛利 勇 山口県宇部市大字沖宇部5253番地 セン トラル硝子株式会社宇部研究所内 (56)参考文献 特開 昭62−20875(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) C23C 16/00 - 16/58 B01J 19/00 - 19/32 H01L 21/205 ────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (72) Inventor Isamu Mouri 5253 Oki Ube, Oji, Ube City, Yamaguchi Prefecture Inside Ube Laboratory, Central Glass Co., Ltd. (56) References JP-A-62-20875 (JP, A) (58) Surveyed field (Int.Cl. 6 , DB name) C23C 16/00-16/58 B01J 19/00-19/32 H01L 21/205

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 金属フッ化物を原料とするCVD法によ
る金属またはその化合物の成膜装置において、原料ガス
供給装置、CVD装置、排ガス除害装置を備え、さらに
CVD装置と接続した配管を有するクリーニングガス供
給装置およびフッ化物回収供給装置を具備したことを特
徴とする堆積物回収装置を備えた成膜装置
An apparatus for forming a film of a metal or a compound thereof by a CVD method using a metal fluoride as a raw material, comprising a raw material gas supply device, a CVD device, and an exhaust gas abatement device, and further comprising a pipe connected to the CVD device. A film forming apparatus provided with a deposit recovery device, comprising a gas supply device and a fluoride recovery supply device.
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