JP2940090B2 - Ion source having mass spectrometer - Google Patents

Ion source having mass spectrometer

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JP2940090B2
JP2940090B2 JP17997190A JP17997190A JP2940090B2 JP 2940090 B2 JP2940090 B2 JP 2940090B2 JP 17997190 A JP17997190 A JP 17997190A JP 17997190 A JP17997190 A JP 17997190A JP 2940090 B2 JP2940090 B2 JP 2940090B2
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秀樹 藤田
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【産業上の利用分野】 この発明はある定まった質量数のイオンのみを含む大
面積のイオンビームを生成することのできるイオン源に
関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an ion source capable of generating a large-area ion beam containing only ions having a certain mass number.

【従来の技術】[Prior art]

イオンを細いビームにして試料に当て局所的な試料の
物性を調べる(例えばSIMS)場合など、特定のイオンだ
けを選ばなければならないので質量分析装置が設けられ
る。1次イオンが試料に当たって、2次イオンが放出さ
れるのであるが、1次イオンの種類、質量数が一定して
いないと、2次イオンのエネルギー分析により試料の物
性が分からないからである。 このような場合は、電磁石が作る静磁界の中をイオン
が通過するようにする。イオン源から出たイオンは加速
エネルギーが同じであるが質量数が違うので、同一の磁
界の中で描く円弧のラーモア半径が異なる。軌道の半径
が異なると、磁界で偏向した後、イオンの軌道が異なる
のでこれらを分離することができる。 このように細いイオンビームを偏向磁界で質量分析す
る装置はよく知られている。ビーム径が小さいので、磁
石の断面積が比較的小さい。 ところがこれとは反対に大面積のイオンビームを必要
とする場合がある。半導体ウエハの上にイオンを打ち込
む場合、シート材の表面改質のためにイオンを照射する
場合などなんらかの表面処理を広い面積にわたって行う
場合である。表面処理を目的とするので、イオンビーム
は大きく拡がっている方が効率的である。 このような大面積のイオンビームを作る装置は既に存
在する。しかし、これらの装置は質量分析のための機構
を備えていない。大面積のイオンビームを質量分析しよ
うとすると、これらのビームの断面積の何倍もの断面積
を有する電磁石が必要である。大面積のイオンビームに
対して、このような電磁石は巨大なものとなるので、実
際には使用されていない。磁界を生ずる部分が大きい
と、コイルを巻く部分も大きく全体として極めて大きい
電磁石となり非現実的である。 大面積のイオンビームを作らず細い直径のイオンビー
ムを作って、これを質量分離し、この後ビームを拡げて
大面積の平行ビームにするという事も考えられる。
In a case where ions are applied to a sample with a thin beam and the physical properties of the sample are examined (for example, SIMS), only a specific ion must be selected, so a mass spectrometer is provided. When the primary ions hit the sample, the secondary ions are emitted. If the type and mass number of the primary ions are not constant, the physical properties of the sample cannot be determined by the energy analysis of the secondary ions. In such a case, ions pass through the static magnetic field created by the electromagnet. The ions emitted from the ion source have the same acceleration energy but different mass numbers, so the arcs drawn in the same magnetic field have different Larmor radii. If the trajectory has a different radius, the ions can be separated after deflecting by the magnetic field because the trajectory of the ion is different. An apparatus for mass-analyzing such a thin ion beam with a deflection magnetic field is well known. Since the beam diameter is small, the cross-sectional area of the magnet is relatively small. However, on the contrary, a large area ion beam may be required. This is a case where some surface treatment is performed over a wide area, such as when ions are implanted on a semiconductor wafer or when ions are irradiated for surface modification of a sheet material. For the purpose of surface treatment, it is more efficient that the ion beam is spread widely. An apparatus for producing such a large-area ion beam already exists. However, these devices do not have a mechanism for mass spectrometry. For mass spectrometry of large area ion beams, electromagnets having a cross section many times the cross section of these beams are required. For a large area ion beam, such an electromagnet is not used because it is huge. If the portion that generates the magnetic field is large, the portion around which the coil is wound is large and the whole becomes an extremely large electromagnet. It is also conceivable that an ion beam having a small diameter is produced without producing a large-area ion beam, mass-separated from the ion beam, and then the beam is expanded into a large-area parallel beam.

【発明が解決しようとする課題】[Problems to be solved by the invention]

細いイオンビームを質量分析するために偏向電磁石を
用いることは公知である。しかし、大面積イオンビーム
に対して同様の手段を用いることはできない。もしもそ
うしようとすれば巨大な電磁石が必要でイオン源全体の
殆ど全てを電磁石やその架台、冷却水系、電源によって
占められることになろう。これは非現実であり、大面積
イオンビームを質量分析する装置は現在のところ存在し
ない。 ビームを細く絞れば偏向磁石によって質量分析できる
はずである。しかしこのためにはビームを絞るための距
離が必要になる。また質量分析後の細いビームを拡げる
ために距離が必要になる。 また偏向磁石による方法はイオンを「ヘ」の字型の軌
道に曲げるので装置全体が大きくならざるを得ない。 またイオン源を出たイオンは数10keV〜数100keV程度
の高いエネルギーを持ち磁石で曲げようとすると長手方
向に磁石が大きいものでなければならない。結局現在の
ところ大面積ビームを生ずるイオン源で質量分析装置を
備えたものは存在しない。 本発明は大面積イオンビームを生ずるイオン源に於い
て、大面積性を損なうことなく質量分析できるようにし
たものを提供することを目的とする。
It is known to use a bending electromagnet to mass analyze a thin ion beam. However, the same means cannot be used for a large-area ion beam. If this were to be done, a huge electromagnet would be required, and almost all of the ion source would be occupied by the electromagnet, its mount, cooling water system, and power supply. This is unrealistic and there is currently no mass spectrometer for large area ion beams. If the beam is narrowed down, it should be possible to perform mass analysis with a deflection magnet. However, this requires a distance to narrow the beam. In addition, a distance is required to spread a narrow beam after mass analysis. In addition, since the method using the bending magnet bends the ions into a ヘ -shaped trajectory, the entire apparatus must be large. In addition, the ions that have exited the ion source have a high energy of about several tens keV to several hundred keV, and the magnet must be large in the longitudinal direction in order to bend with a magnet. After all, there is currently no ion source with a mass spectrometer that produces a large area beam. SUMMARY OF THE INVENTION It is an object of the present invention to provide an ion source that generates a large-area ion beam that can perform mass analysis without impairing large-area characteristics.

【課題を解決するための手段】[Means for Solving the Problems]

イオン源に於いては、例えばアーク放電によってガス
をプラズマ化する。引き出し電極と呼ぶ多数の穴を穿っ
た電極板が、アーク放電を行うチャンバの出口に設けら
れる。これに高電位にされたチャンバに対して負の電圧
を加えて正イオンを引き出す。さらに引き出し電極の前
方に加速電極があって、ここでさらに引き出し電極に対
して負の電圧を加えてイオンを加速する。 引き出し電極を出たイオンのエネルギーは低い。数10
0eV〜数keV程度である。また加速電極では所望の高いエ
ネルギーに加速される。数10keV〜数100keV程度であ
る。 電極板に多数の穴が縦横にあるので、イオンは多数の
穴を通過することができ全体として大面積のイオンビー
ムとなる。 大面積用のイオン源は公知である。 本発明に於いては、さらに引き出し電極と加速電極と
の間に、或は加速電極の後段に引き出し電極、加速電極
の穴と合致した縦横の通し穴を有する2枚の導体に取り
付けられた絶縁板と、これらの絶縁板の間に通し穴と同
じピッチで各穴の回りに4つずつ並ぶ多数の柱状電極と
よりなる多数の電気四重極を設け、ビームの大面積性を
損なうことなく直線的な通路を直進させることによって
ある定まった質量数のイオンのみを取り出すことができ
るようにしている。
In the ion source, the gas is turned into plasma by, for example, arc discharge. An electrode plate with a large number of holes, called an extraction electrode, is provided at the outlet of the chamber for performing arc discharge. A negative voltage is applied to the high-potential chamber to extract positive ions. Further, an acceleration electrode is provided in front of the extraction electrode, where a negative voltage is further applied to the extraction electrode to accelerate ions. The energy of the ions exiting the extraction electrode is low. Number 10
It is about 0 eV to several keV. The acceleration electrode accelerates to a desired high energy. It is about several tens keV to several hundred keV. Since a large number of holes are provided in the electrode plate in the vertical and horizontal directions, ions can pass through the large number of holes and become an ion beam having a large area as a whole. Ion sources for large areas are known. In the present invention, furthermore, an insulation attached to two conductors having vertical and horizontal through holes matching the holes of the extraction electrode and the acceleration electrode between the extraction electrode and the acceleration electrode or at the subsequent stage of the acceleration electrode. A large number of electric quadrupoles consisting of a plate and a number of columnar electrodes arranged in a row around each hole at the same pitch as the through-holes between these insulating plates are provided, and linearly arranged without impairing the large area of the beam. By moving straight through the passage, only ions having a certain mass number can be extracted.

【作 用】[Operation]

引き出し電極、2枚の絶縁板、加速電極はほぼ同じ大
きさの多孔板で、穴が合致するように縦横に穿たれてい
る。イオンビームは電極板の法線方向に直進するから、
引き出し電極を通過したイオンはほとんど全て、絶縁
板、加速電極の穴をそのまま通り抜けることができる。 これは絶縁板の中間にある電気四重極をなす電極の間
に電圧をかけない場合である。 本発明に於いては、穴の回りに4つずつ、しかも穴の
ピッチと同じピッチで存在する柱状電極を、任意の穴を
中心として右下がりの対角線方向に並ぶ電極の組と、左
下がりの対角線方向に並ぶ電極の組とを作り、この間に
直流が重畳された交流電圧を印加する。つまり柱状電極
は2組に分けられ、これらの間に U0=U+Vcosωt (1) というような電圧を印加するのである。 すると絶縁体の穴から他の絶縁体の穴に至る通路に於
いて、イオンは通路と直角な方向に(1)のような電圧
でできる電界の作用を受けるので、通路と直角な方向に
振動する。ある特定の質量数とエネルギーを持ったイオ
ンだけが安定な振動をする。その他のイオンは直角な方
向に発散する振動をする。従って、ある特定の質量数と
エネルギーを持ったイオンだけが2番目の絶縁体の穴を
通り抜ける事ができる。その他のイオンはこの穴を通り
抜けることができない。 こうして多数の通し穴を有する2枚の絶縁体と多数の
柱状電極と電源とは電気四重極分析器を構成することに
なる。2枚の絶縁体の前後の通し穴を通過できるのはあ
る特定のエネルギー質量数のイオンだけだからである。 通し穴は縦横に数多くあり、通し穴の数だけ電気四重
極があるので、全ての穴に於いて質量分析作用がある。
このため、イオンビームはそのままの面積を保ったまま
質量分析されることになる。 つまりイオンビームの大面積が毫も損なわれることが
ない。単一の電気四重極で質量分析するというのは周知
である。しかし、多数の四重極分析器を縦横に並べて大
面積のイオンビームをそのまま質量分析するものはこれ
まで存在しなかった。このようにすると、1本の柱状電
極が4つの穴に対して電極として作用するので、4倍の
機能を果たすことになる。 ひとつの電極の役割が4倍になるという事は、空間の
節約にもなるわけで電極のために必要な空間が1/4に減
少していることになる。 引き出し電極、2枚の絶縁板、加速電極の縦横の穴は
軸方向(板の法線の方向)に合致するように、寸法、配
列が同一になっている。このため本発明の質量分析器を
挿入したため、所望の質量数のイオンビーム強度が低減
するという事はない。つまりイオンビームの挿入損失が
ない。 電気四重極の分解能は柱状電極の長さに比例して大き
くなる。分解能を高めるためには柱状電極を長くし分析
のための空間を長くしなければならない。測定装置に使
われる細いビームを質量分析するものは同位体分離など
が要求される。つまり質量数がひとつちがうものが分離
されなければならない。 しかし大面積イオン源の場合は、同位体分離など要求
されない。もっと粗い質量分離であって差し支えない。 例えばPH3 +とP+というようにかなり質量数の異なるも
のが分離できれば良い。従って本発明の質量分析装置の
長さL(2枚の絶縁板の間隔)はあまり大きくない。 この多数の電気四重極からなる質量分析器を複合電気
四重極分析器という事にする。これは引き出し電極と加
速電極の間に設けることもできるし、加速電極の後段に
設けることもできる。 ただし、引き出し電極と加速電極の間の方が質量分析
の分解能は良い。ここではイオンのエネルギーが低いか
らである。加速電極の後段ということになると、エネル
ギーが高いので分解能が低くなる。
The extraction electrode, the two insulating plates, and the accelerating electrode are perforated plates having substantially the same size, and are perforated vertically and horizontally so that the holes match. Since the ion beam goes straight in the normal direction of the electrode plate,
Almost all the ions that have passed through the extraction electrode can pass through the holes of the insulating plate and the acceleration electrode as they are. This is the case where no voltage is applied between the electrodes forming the electric quadrupole in the middle of the insulating plate. In the present invention, a set of electrodes arranged four diagonally around the hole, each of which is present at a pitch equal to the pitch of the hole, and a set of electrodes arranged diagonally downward to the right with respect to an arbitrary hole, A pair of electrodes arranged in a diagonal direction is formed, and an AC voltage on which a DC is superimposed is applied therebetween. That is, the columnar electrodes are divided into two sets, and a voltage such as U 0 = U + Vcosωt (1) is applied between them. Then, in the path from the hole in the insulator to the hole in the other insulator, the ions are subjected to the action of the electric field generated by the voltage as shown in (1) in the direction perpendicular to the path, so that the ions vibrate in the direction perpendicular to the path. I do. Only ions with a certain mass and energy oscillate stably. Other ions oscillate diverging in a right angle direction. Therefore, only ions having a specific mass number and energy can pass through the hole of the second insulator. No other ions can pass through this hole. Thus, the two insulators having many through holes, the many columnar electrodes, and the power supply constitute an electric quadrupole analyzer. This is because only ions having a specific energy mass number can pass through the through holes before and after the two insulators. There are many through holes vertically and horizontally, and there are electric quadrupoles as many as the number of through holes, so that all holes have a mass analysis effect.
For this reason, the ion beam is subjected to mass analysis while maintaining the same area. That is, the large area of the ion beam does not impair the writing. It is well known to perform mass spectrometry with a single electric quadrupole. However, there has been no one that arranges a large number of quadrupole analyzers vertically and horizontally and mass-analyzes a large-area ion beam as it is. In this case, one columnar electrode functions as an electrode for the four holes, so that a fourfold function is achieved. The quadrupling of the role of one electrode also saves space, meaning that the space required for the electrodes is reduced by a factor of four. The vertical and horizontal holes of the extraction electrode, the two insulating plates, and the acceleration electrode have the same dimensions and arrangement so as to match the axial direction (the direction of the normal to the plate). Therefore, since the mass analyzer of the present invention is inserted, the intensity of the ion beam having a desired mass number does not decrease. That is, there is no insertion loss of the ion beam. The resolution of the electric quadrupole increases in proportion to the length of the columnar electrode. In order to increase the resolution, the columnar electrodes must be long and the space for analysis must be long. A mass spectrometer for a thin beam used in a measuring device requires isotope separation and the like. That is, those having different mass numbers must be separated. However, in the case of a large area ion source, isotope separation is not required. A coarser mass separation can be used. For example, it is only necessary to separate substances having considerably different mass numbers such as PH 3 + and P + . Therefore, the length L (the distance between two insulating plates) of the mass spectrometer of the present invention is not so large. The mass analyzer composed of a large number of electric quadrupoles is referred to as a composite electric quadrupole analyzer. This can be provided between the extraction electrode and the acceleration electrode, or can be provided after the acceleration electrode. However, the resolution of mass analysis is better between the extraction electrode and the acceleration electrode. This is because the ion energy is low here. In the latter stage of the accelerating electrode, the resolution is low because the energy is high.

【実 施 例】【Example】

第1図は本発明の実施例に係るイオン源の概略断面図
である。これはアーク放電によって導入されたガスをプ
ラズマとし、多孔電極板によってイオンを引き出し加速
してイオンビームとするものである。 フィラメント1はアークチャンバ2の中にあって加熱
されて熱電子を放出する。アークチャンバ2とフィラメ
ント1の間にはアーク電圧VARCが印加されている。これ
は数10V〜100V程度である。 ガス導入口21からガスが導入されこれが、アークチャ
ンバ2とフィラメント1の間に生ずるアーク放電によっ
てプラズマ化される。 アークチャンバ2の周囲には壁面近くにカスプ磁場を
形成するための多数の永久磁石があるが、ここでは図示
を略している。 フィラメント1は絶縁物22を通る電流導入端子によっ
てフィラメント電源23につながっている。フィラメント
1とアークチャンバ2の間にアーク電源24がありこれが
アーク電圧VARCを生じている。 アークチャンバ2は真空に引くことのできる広い空間
であるが、この一方が開口になっており、開口には幾つ
かの多孔電極板が設けられる。 絶縁物3によって、多数の縦横の穴を有する引き出し
電極4、導入電極5が支持されている。これらの穴は軸
方向に合致している。 引き出し電極4には、アーク電源24によって、アーク
チャンバ2に対して負の電圧VARCが印加されている。正
のイオンはこの電圧によって引き出し電極4に引き寄せ
られる。そして引き出し電極4の穴を通過して、アーク
チャンバ2の外へ出る。 次の導入電極5は導入電源25によりさらに負の電圧Ve
がかかっている。ここを通るイオンはさらにqVeの運動
エネルギーを得る。qはイオンの電荷である。Veは1kV
〜数kV程度である。 この実施例では、導入電極5に次いで質量分析部6が
設置されている。 質量分析部6は前後に、多孔電極板である第1スリッ
ト板7、第2スリット板8を有し、これらによって挟ま
れた空間に絶縁板や柱状電極選別空間を備えている。 質量分析部6に続いて、絶縁体3によって支持され多
孔板である、加速電極9、減速電極10、接地電極11が設
けられる。 これらの電極4、5、7、8、9、10、11は全て多孔
の電極板であるが穴は寸法、位置、配列などが軸方向に
合致している。面に垂直に進むイオンは最初の引き出し
電極4を通過できれば他の電極も通過できるようになっ
ている。 導入電極5と第1スリット板7の間には補償電源26に
よりViの正電圧がかかっている。これはイオンを減速す
る作用があり、Vi<Veとすることにより、第1スリット
板7の直前でのイオンの速さを極めて小さくすることが
できる。そうすると質量分析部6に入射するイオンエネ
ルギーが低くこれが通過する時間が長くなるので質量分
解能が良くなる。 第1スリット板7と第2スリット板8は加速電極9よ
り高電位にある。加速電極9は、大地に対し加速電源27
によりVaの高電圧に保たれている。 q(Ve+Va)が最終的にイオンが得る運動エネルギー
になる。目的によってこの値は適当に設定される。例え
ば数10kV〜数100kVである。 減速電極10には減速電源28によって、大地に対して−
Vsの電圧が印加される。引き出し電極4と減速電極10の
間に加わる電圧は(Ve+Va+Vs)であり、減速電極を通
ることによりVsだけ電位が上がるので、結局加速エネル
ギーはq(Ve+Va)ということになる。 質量分析部6について説明する。これは導体である第
1スリット板7、第2スリット板8によって、第1絶縁
体12、第2絶縁体13を挟み、第1、第2絶縁体12、13に
よって、多数の柱状電極14、15の両端を挟んだような形
状になっている。 柱状電極14、15の両端を支持するために、絶縁体12、
13の内面には、円形の凹部を設けておき、これに電極1
4、15を差し込むようにすれば便利である。そうではな
くて、柱状電極14、15を中間部で支持するための第3の
絶縁体板を用いてもよい。 絶縁体12、13及び中間の絶縁体があればこれも含め
て、第1スリット板7、第2スリット板8の縦横の穴を
合致するような通し穴17、18が穿孔されている。結局、
全ての電極4、5、7、8、9、10、11の穴と絶縁体1
2、13の通し穴は軸方向に全て合致するような寸法、配
列、個数になるようになっている。 柱状電極14、15は、絶縁体12、13の通し穴17、18と同
じ縦横のピッチで設けられるが、1/2ピッチずつ縦横に
ずれている。このため、ひとつの通し穴17、18の中心軸
から見ると、4方に柱状電極が存在する。またひとつの
柱状電極から見ると、4方に通し穴が存在するように見
える。 第2図は質量分析部の横断平面図である。 柱状電極、通し穴の方向をz軸とし、これに直角なxy
平面に、これら電極や通し穴が均等に分布しているもの
とする。 通し穴、柱状電極の縦横のピッチを2pとする。中心座
標をO点とし、ここにひとつの通し穴の中心が重なって
いるものとする。通し穴は±2pずつx、y方向に配列し
ているので、その座標は Qmn=(2mp、2np) (2) というように表現できる。ただしm、nは正負の整数で
ある。 柱状電極はこれに±pを加えたものとして表現するこ
とができる。しかし、柱状電極には2種類ある。正負の
電極とするためである。任意の通し穴17、18の中心線か
ら見て、ある対角線方向には正の電極が、他の対角線方
向には負の電極が並ぶものとする。 つまり柱状電極に着目すれば、ひとつおきに同じ極性
の電極が並ぶという事である。 正の柱状電極Rの座標は というように表現できるし、負の柱状電極Sの座標は というように表現できる。正柱状電極はx、y軸に対し
45゜の方向に並ぶ。負柱状電極も同様である。 こうして正、負の柱状電極が区別できる。ひとつの穴
から見れば、45゜の4方向にかならず柱状電極がある。
正柱状電極14はそのx、y座標の和が4の倍数でない、
負柱状電極15はx、y座標の和が4の倍数である、とい
う事によって区別できる。 そうでなくて、正柱状電極14はx、y座標の差が4の
倍数で、負柱状電極15はx、y座標の差が4の倍数でな
いという事によって定義することもできる。 正柱状電極14は全て同一の電位を与えるために連結さ
れる。負柱状電極15も全て同一の電位を与えるために連
結される。 正柱状電極14と負柱状電極15の間には、四重電極電源
16により直流を重畳した交流電圧U0が印加される。 Uo=U+Vcosωt (5) 第3図は簡略化した四重極の電源との接続図である。
四重極電源16の中には直流電源Vbと、交流電源Vrfがあ
り、それぞれ直流電圧U、交流電圧Vを発生している。 四重極の中心では電界は0である。また正電極、負電
極を結ぶ線上(x、y軸と45゜をなす方向)でも電界は
0である。また電界の強さは、原点の中心近傍では原点
からの距離に比例して電界が増加する。 そこで元のx、y軸から45゜回転した座標系を考え
る。つまり、新しいX軸上に負電極があり、新しいY軸
上に正電極があるものとする。第3図はそのような座標
系で書いている。 この座標系でX、Y軸で電界は軸に沿う成分しかもた
ない。これは対称性のためである。また、X軸上で電界
は反対称である。Y軸上でも反対称である。また、任意
の点で位置ベクトル(X、Y)と電界ベクトル(Ex
Ey)とは直交する。このようなことから、(X、Y)点
での電界は Ex=kUoX (6) Ey=−kUoY (7) と書くことができる。ただしkは定数である。柱状電極
のピッチが2pであり、柱状電極の半径をbとすると原点
から電極までの距離は(p−b)ということになる。こ
れをroとして、Exを積分して であるから(原点と電極の電位差Uはo/2だから) kro 2/2=1/2 (9) となってkが求まる。 この座標系では変数分離の微分方程式になり、イオン
の運動方程式は、 M=q(U+Vcosωt)X/r0 2 (10) M=−q(U+Vcosωt)Y/r0 2 (11) M=0 (12) ということになる。qはイオンの電荷、Mはイオンの質
量である。 ξ=ωt/2 (13) という変換を行うと、マシューの微分方程式の標準形
となる。 これは発散する解と安定な解を持つ。安定な解を持つ
a、bの領域は既によく知られている。 もしもb=0だとすると、これは、単純な定数係数2
階線型微分方程式になる。a>0なら(17)は安定な振
動解、(16)は発散解である。a<0ならその逆とな
る。つまりb=0であれば(16)、(17)がもとに安定
な振動解を持つことはない。 反対にa=0であれば、b≠0で全て発散解となる。
2つの式が共に安定な振動解を持つには、a、b共に0
であってはならない。 (17)がマシューの微分方程式の標準形である。これ
は、a>0の領域でバンド状の安定解の範囲を持つ。a
<0の領域では僅かな安定解の範囲を持つ。(16)、
(17)共に安定解を持つという事は、a>0の領域とa
<0の領域の安定解を重ね合わせたものになり、これは
僅かな範囲である。a、bが最も0に近い部分で、安定
解を持つ範囲を第4図に示す。2重斜線の部分がその範
囲である。 パラメータa、bは直流分U、交流分Vを含むパラメ
ータで、イオンの質量などは同じ形で含まれている。イ
オン質量M、電荷qが違うとa、bは変化するが比の値
a/bは変わらない。 2重斜線の部分は、下に凸のOKL曲線と、LN、NOで囲
まれる略三角形状である。 直線OLの傾きa/bは0.33である。そこで、a/b=kが、
0.33より小さい値になるようにU、Vの値を 設定すれば、この傾きの直線は2点R1、R2で安定領域曲
線に変わる。 どのようなイオンに対しても、a/bの比は一定である
が、a、bがO R1の間、R2より外側にある場合、発散解
を持つことになる。a、bが線分R1R2の間にあるときだ
け安定解を持つ。 R1R2のときのbの値をb1、b2として、b1<b<b2とな
るbの値を持つような質量数Mのイオンは安定な振動を
するので、これは2つの通し穴17、18を通過することが
できる。 これらは電気四重極質量分析器の原理として既によく
知られていることである。この話は電極の長さが無限大
としての話である。実際に測定器のイオンビームに対し
て使用する場合は同位体も除く必要があるので、長い電
極を用いる。 しかし本発明の場合、多様で接近した質量数のイオン
がプラズマ中に含まれているという事は少ないし、同位
体を区別する必要もないので、分解能はあまり高くなく
てもよい。このため質量分析器の長さ(柱状電極の長
さ)Lは短くて良い。 入射イオンのエネルギーをEoとすると、これが長さL
を飛行する時間が2π/ωより長ければ良いと考えられ
る。 また質量分析器の長さLが短いから、第4図で、R1R2
から少しずれた所の(a、b)に対してもイオンが通し
穴17、18を通過することもある。従って、a/bの値を0.3
3に近付けても、所望の質量のイオンを通すことは十分
に可能である。a/bを0.33に近付けると、Lが短くても
分析作用が高くなる。
FIG. 1 is a schematic sectional view of an ion source according to an embodiment of the present invention. In this method, gas introduced by arc discharge is converted into plasma, and ions are extracted and accelerated by a porous electrode plate to form an ion beam. The filament 1 is heated in the arc chamber 2 and emits thermoelectrons. An arc voltage V ARC is applied between the arc chamber 2 and the filament 1. This is on the order of tens of volts to 100 volts. Gas is introduced from the gas inlet 21 and is turned into plasma by arc discharge generated between the arc chamber 2 and the filament 1. Around the arc chamber 2, there are a number of permanent magnets for forming a cusp magnetic field near the wall surface, but are not shown here. The filament 1 is connected to a filament power supply 23 by a current introduction terminal passing through an insulator 22. There is an arc power supply 24 between the filament 1 and the arc chamber 2, which produces the arc voltage V ARC . The arc chamber 2 is a large space that can be evacuated, but one of the openings is an opening, and several openings are provided in the opening. The insulator 3 supports the extraction electrode 4 and the introduction electrode 5 having a large number of vertical and horizontal holes. These holes are axially aligned. A negative voltage V ARC is applied to the extraction electrode 4 with respect to the arc chamber 2 by an arc power supply 24. Positive ions are attracted to the extraction electrode 4 by this voltage. Then, it passes through the hole of the extraction electrode 4 and goes out of the arc chamber 2. The next introduction electrode 5 is supplied with a further negative voltage V e by the introduction power supply 25.
Is hanging. Ions gains kinetic energy further qV e through here. q is the charge of the ion. V e is 1 kV
About several kV. In this embodiment, a mass analyzer 6 is provided next to the introduction electrode 5. The mass spectrometry section 6 has a first slit plate 7 and a second slit plate 8 which are porous electrode plates at the front and back, and a space sandwiched between them has an insulating plate and a columnar electrode sorting space. Subsequent to the mass spectrometer 6, an acceleration electrode 9, a deceleration electrode 10, and a ground electrode 11, which are porous plates supported by the insulator 3, are provided. These electrodes 4, 5, 7, 8, 9, 10, 11 are all porous electrode plates, but the holes have the same size, position, arrangement and the like in the axial direction. If the ions traveling perpendicular to the surface can pass through the first extraction electrode 4, they can pass through other electrodes. It is under positive voltage V i by the compensation power supply 26 between the input electrode 5 and the first slit plate 7. This has the effect of decelerating ions, and by setting V i <V e , the speed of ions immediately before the first slit plate 7 can be extremely reduced. Then, the ion energy incident on the mass spectrometry unit 6 is low, and the time required for the ion energy to pass therethrough is long, so that the mass resolution improves. The first slit plate 7 and the second slit plate 8 are at a higher potential than the acceleration electrode 9. The accelerating electrode 9 is connected to the ground by an accelerating power supply 27.
To maintain a high voltage of Va. q (Ve + Va) becomes the kinetic energy finally obtained by the ions. This value is set appropriately according to the purpose. For example, it is several tens kV to several hundreds kV. The deceleration electrode 10 is connected to the ground by
A voltage of V s is applied. The voltage applied between the extraction electrode 4 and the deceleration electrode 10 is (Ve + Va + V s ), and the potential increases by V s by passing through the deceleration electrode, so that the acceleration energy is q (Ve + Va). The mass analyzer 6 will be described. This is because a first insulator 12 and a second insulator 13 are sandwiched between a first slit plate 7 and a second slit plate 8 which are conductors, and a number of columnar electrodes 14 are sandwiched between the first and second insulators 12 and 13. It has a shape that sandwiches both ends of 15. In order to support both ends of the columnar electrodes 14, 15, the insulator 12,
A circular recess is provided on the inner surface of the
It is convenient to insert 4 and 15. Instead, a third insulator plate for supporting the columnar electrodes 14 and 15 at an intermediate portion may be used. Through holes 17 and 18 are formed to match the vertical and horizontal holes of the first slit plate 7 and the second slit plate 8, including the insulators 12 and 13 and the intermediate insulator, if any. After all,
Holes for all electrodes 4, 5, 7, 8, 9, 10, 11 and insulator 1
The through holes 2 and 13 are dimensioned, arranged and numbered so that they all match in the axial direction. The columnar electrodes 14 and 15 are provided at the same vertical and horizontal pitches as the through holes 17 and 18 of the insulators 12 and 13, but are shifted vertically and horizontally by 1/2 pitch. For this reason, when viewed from the central axis of one through hole 17, 18, there is a columnar electrode in four directions. Also, when viewed from one columnar electrode, it seems that there are through holes in four directions. FIG. 2 is a cross-sectional plan view of the mass spectrometer. The direction of the columnar electrode and through hole is the z-axis, and xy
It is assumed that these electrodes and through holes are evenly distributed on a plane. The vertical and horizontal pitch of the through hole and the columnar electrode is 2p. The center coordinate is point O, and the center of one through hole is assumed to overlap here. Since the through holes are arranged in the x and y directions by ± 2p, their coordinates can be expressed as Q mn = (2mp, 2np) (2). Here, m and n are positive and negative integers. The columnar electrode can be expressed as a value obtained by adding ± p to this. However, there are two types of columnar electrodes. This is for making the electrodes positive and negative. As viewed from the center lines of the arbitrary through holes 17 and 18, positive electrodes are arranged in one diagonal direction, and negative electrodes are arranged in the other diagonal directions. In other words, if attention is paid to the columnar electrodes, every other electrode having the same polarity is arranged. The coordinates of the positive columnar electrode R are And the coordinates of the negative columnar electrode S are It can be expressed as follows. The columnar electrode is with respect to the x and y axes.
Lined up in a 45 ゜ direction. The same applies to the negative columnar electrode. Thus, the positive and negative columnar electrodes can be distinguished. Seen from one hole, there are always columnar electrodes in four directions of 45 °.
The columnar electrode 14 has a sum of its x and y coordinates that is not a multiple of 4,
The negative columnar electrode 15 can be distinguished by the fact that the sum of the x and y coordinates is a multiple of four. Rather, the positive columnar electrode 14 can be defined by the x, y coordinate difference being a multiple of four, and the negative columnar electrode 15 being the x, y coordinate difference not being a multiple of four. The columnar electrodes 14 are all connected to give the same potential. The negative columnar electrodes 15 are all connected to give the same potential. A quad electrode power supply is provided between the positive column electrode 14 and the negative column electrode 15.
16 AC voltage U 0 obtained by superimposing a direct current by is applied. U o = U + Vcosωt (5) FIG. 3 is a simplified connection diagram with a quadrupole power supply.
The quadrupole power supply 16 includes a DC power supply Vb and an AC power supply Vrf , and generates a DC voltage U and an AC voltage V, respectively. The electric field is zero at the center of the quadrupole. The electric field is also zero on a line connecting the positive electrode and the negative electrode (in a direction forming 45 ° with the x and y axes). The electric field strength increases near the center of the origin in proportion to the distance from the origin. Therefore, consider a coordinate system rotated 45 ° from the original x and y axes. That is, it is assumed that there is a negative electrode on the new X axis and a positive electrode on the new Y axis. FIG. 3 is written in such a coordinate system. In this coordinate system, the electric field has only components along the X and Y axes. This is due to symmetry. The electric field is anti-symmetric on the X axis. It is also antisymmetric on the Y axis. At any point, the position vector (X, Y) and the electric field vector ( Ex ,
E y ) is orthogonal. For this reason, it can be written as (X, Y) electric field at point E x = kU o X (6 ) E y = -kU o Y (7). Here, k is a constant. If the pitch of the columnar electrodes is 2p and the radius of the columnar electrodes is b, the distance from the origin to the electrode is (p−b). This as a r o, by integrating the E x Since it is (potential U of the origin and the electrode o / 2 So) k is obtained becomes kr o 2/2 = 1/ 2 (9). In this coordinate system becomes a differential equation of variable separation, the equation of motion of the ions, M = q (U + Vcosωt ) X / r 0 2 (10) M = -q (U + Vcosωt) Y / r 0 2 (11) M = 0 (12) q is the charge of the ion and M is the mass of the ion. ξ = ωt / 2 (13) Is the standard form of Matthew's differential equation. It has divergent and stable solutions. The regions a and b having stable solutions are already well known. If b = 0, this is a simple constant factor 2
It becomes a linear differential equation. If a> 0, (17) is a stable oscillatory solution, and (16) is a divergent solution. If a <0, the opposite is true. That is, if b = 0, there is no stable vibration solution based on (16) and (17). On the contrary, if a = 0, all divergent solutions are obtained when b ≠ 0.
In order for both equations to have stable oscillation solutions, both a and b must be 0.
Should not be. (17) is the standard form of Matthew's differential equation. This has a band-like stable solution range in the region of a> 0. a
The region of <0 has a slight stable solution range. (16),
(17) Having both stable solutions means that a> 0 and a
This is a superposition of stable solutions in the region of <0, which is a small range. FIG. 4 shows a range where a and b are closest to 0 and have a stable solution. The area with double oblique lines is the range. Parameters a and b are parameters including a DC component U and an AC component V, and the ion mass and the like are included in the same form. If the ion mass M and charge q are different, a and b change, but the value of the ratio
a / b does not change. The portion indicated by the double oblique line has a downwardly convex OKL curve and a substantially triangular shape surrounded by LN and NO. The slope a / b of the straight line OL is 0.33. Then, a / b = k becomes
Change the values of U and V so that they are smaller than 0.33 If set, the straight line of this slope changes to a stable area curve at two points R 1 and R 2 . For any such ions, the ratio of a / b is constant, a, b is between OR 1, if there from R 2 to the outside, will have a divergent solution. It has a stable solution only when a and b are between line segments R 1 and R 2 . Assuming that the value of b at the time of R 1 R 2 is b 1 and b 2 , ions of mass number M having a value of b satisfying b 1 <b <b 2 oscillate stably. Through the two through holes 17,18. These are already well known as principles of an electric quadrupole mass spectrometer. This story is based on the assumption that the electrode length is infinite. When actually used for an ion beam of a measuring instrument, a long electrode is used because it is necessary to remove isotopes. However, in the case of the present invention, it is rare that ions having various and close masses are contained in the plasma, and it is not necessary to distinguish isotopes, so that the resolution does not need to be very high. Therefore, the length (length of the columnar electrode) L of the mass analyzer may be short. If the energy of the incident ion is E o , this is the length L
It is considered that the time to fly over is longer than 2π / ω. Also because there is a short length L of the mass analyzer, in Figure 4, R 1 R 2
The ions may pass through the through holes 17 and 18 even at a position (a, b) slightly deviated from the above. Therefore, the value of a / b is 0.3
Even close to 3, it is quite possible to pass ions of the desired mass. When a / b approaches 0.33, the analytical effect increases even if L is short.

【発明の効果】【The invention's effect】

大面積イオンビームを作るイオン源に於いて、初めて
質量分析器を設けたものである。イオン源から多種類の
イオンが引き出されたとしても、単一の質量数を持つイ
オンのみが質量分析器を通過することができる。 磁場を用いてビームを彎曲させるのではなく、直進さ
せることによって特定の質量数のイオンのみを選択す
る。磁場を用いる場合は、巨大な磁石が必要になり、大
面積ビームに対しては実現的でない。また「ヘ」の字型
にビームを曲げるから、大きな空間を必要とする。一旦
細いビームに絞ってから磁場で偏向し再びビームを拡大
するというのとは違う。大面積ビームのまま多くの通し
穴を通し、ここに設けた四重極質量分析器によってそれ
ぞれの穴で質量分析する。生成されたイオンビームの大
面積性を損なうことがない。 電圧を用いて質量分析するので、強磁性体コアも嵩高
い巻線も不必要である。電極があればよいだけであるの
で、空間の利用効率が良い。またひとつの電極が4つの
質量分析器の電極を兼ねており電極材料及び空間の有効
利用をはかることができる。 なお、この発明によればイオン源は大面積のビームを
生ずるから、高精度の均一性を必要としない場合には、
被照射物の回転を省略することも可能である。
This is the first mass spectrometer installed in an ion source for producing a large-area ion beam. Even if many types of ions are extracted from the ion source, only ions having a single mass number can pass through the mass analyzer. Rather than using a magnetic field to bend the beam, we select only ions of a particular mass number by going straight. When a magnetic field is used, a huge magnet is required, which is not practical for a large-area beam. In addition, since the beam is bent in the shape of "", a large space is required. This is different from narrowing down the beam once, deflecting it with a magnetic field, and expanding the beam again. A large area beam is passed through many through holes, and mass analysis is performed in each hole by a quadrupole mass analyzer provided here. The large area of the generated ion beam is not impaired. Since mass analysis is performed using voltage, neither a ferromagnetic core nor a bulky winding is required. Since only electrodes are required, space utilization efficiency is high. In addition, one electrode also serves as an electrode of the four mass analyzers, so that the electrode material and space can be effectively used. According to the present invention, since the ion source produces a large-area beam, if high-precision uniformity is not required,
The rotation of the irradiation target can be omitted.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

第1図は本発明の実施例に係るイオン源の概略縦断面
図。 第2図は第1図の装置のうち質量分析部の横断平面図。 第3図は質量分析部の柱状電極に、直流、交流、電圧を
印加するための配線図。 第4図はマシューの微分方程式のパラメータa、bに対
する安定解の存在領域を示すグラフ。 1……フィラメント 2……アークチャンバ 3……絶縁物 4……引き出し電極 5……導入電極 6……質量分析部 7……第1スリット板 8……第2スリット板 9……加速電極 10……減速電極 11……接地電極 12……第1絶縁体 13……第2絶縁体 14……正柱状電極 15……負柱状電極 16……四重極電源 17……通し穴 18……通し穴 21……ガス導入口 22……絶縁体 23……フィラメント電源 24……アーク電源 25……導入電源 26……補償電源 27……加速電源 28……減速電源
FIG. 1 is a schematic longitudinal sectional view of an ion source according to an embodiment of the present invention. FIG. 2 is a cross-sectional plan view of the mass spectrometer in the apparatus of FIG. FIG. 3 is a wiring diagram for applying a direct current, an alternating current, and a voltage to the columnar electrode of the mass spectrometry unit. FIG. 4 is a graph showing areas where stable solutions exist for parameters a and b of Matthew's differential equation. DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Filament 2 ... Arc chamber 3 ... Insulator 4 ... Extraction electrode 5 ... Introducing electrode 6 ... Mass spectrometer 7 ... 1st slit plate 8 ... 2nd slit plate 9 ... Acceleration electrode 10 … Decelerating electrode 11… Ground electrode 12… First insulator 13… Second insulator 14… Positive columnar electrode 15… Negative columnar electrode 16… Quadrupole power supply 17… Through hole 18… Through hole 21 Gas inlet 22 Insulator 23 Filament power supply 24 Arc power supply 25 Introduction power supply 26 Compensation power supply 27 Acceleration power supply 28 Deceleration power supply

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) H01J 27/00 - 27/26 H01J 37/08 H01J 37/05 H01J 37/317 H01J 49/42 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continuation of the front page (58) Field surveyed (Int. Cl. 6 , DB name) H01J 27/00-27/26 H01J 37/08 H01J 37/05 H01J 37/317 H01J 49/42

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】フィラメントと容器との間にアーク放電を
起こさせて導入されたガスをプラズマ化するアークチャ
ンバと、縦横に多数の穴を有する多孔板であって電圧を
印加することによりプラズマからイオンを引き出す引き
出し電極と、引き出し電極の穴と合致した通し穴を有し
引き出し電極の下流側に設けられ引き出し電極との間で
正イオンを加速する導入電極と、導入電極の下流側に設
けられた質量分析器と、引き出し電極、導入電極、質量
分析器の穴と合致する穴を有する多孔板であって高電圧
を印加することによって質量分析器から出たイオンを加
速する加速電極とよりなり、質量分析器は引き出し電
極、加速電極の穴と合致した通し穴を有する前後2枚の
絶縁体の板と、引き出し電極、加速電極の穴と合致した
通し穴を有し前後の絶縁体板の外側に固着された前後の
金属スリット板と、前後の絶縁体の板の間に設けられ絶
縁体によって支持され穴の縦横のピッチに等しいピッチ
で穴のまわりに4つずつ並ぶ柱状の電極と、柱状の電極
のうち穴の対角線方向に並ぶ2つを1組とし、他の対角
線方向に並ぶ2つを他の1組とするように、柱状電極を
2つの組に分け、これらの2組の柱状電極間に直流電圧
と交流電圧とを重畳して印加しある定まったエネルギー
に対してある定まった質量のイオンのみが前後の通し穴
を通過できるようにしてあり、前後のスリット板は接続
されて同電位であり、前後スリット板と導入電極間には
補償電源が接続され前スリット板と導入電極間でイオン
が減速されるようにしたことを特徴とする質量分析装置
を有するイオン源。
An arc chamber for generating an arc discharge between a filament and a container to convert the introduced gas into a plasma, and a perforated plate having a large number of holes in the vertical and horizontal directions. An extraction electrode for extracting ions, an introduction electrode that has a through hole that matches the hole of the extraction electrode, is provided on the downstream side of the extraction electrode and accelerates positive ions between the extraction electrode, and is provided on the downstream side of the introduction electrode. Mass spectrometer, and an extraction electrode, an introduction electrode, a perforated plate having holes that match the holes of the mass spectrometer, and an accelerating electrode that accelerates ions coming out of the mass spectrometer by applying a high voltage. The mass spectrometer has two front and rear insulating plates having through holes corresponding to the holes of the extraction electrode and the acceleration electrode, and front and rear holes having the through holes matching the holes of the extraction electrode and the acceleration electrode. A front and rear metal slit plate fixed to the outside of the edge plate, and a columnar electrode provided between the front and rear insulator plates and supported by the insulator and arranged four by four around the hole at a pitch equal to the vertical and horizontal pitch of the hole. The columnar electrodes are divided into two sets such that two of the columnar electrodes arranged in the diagonal direction of the hole constitute one set, and two of the columnar electrodes arranged in the other diagonal direction constitute another set. The DC voltage and the AC voltage are superimposed between the set of columnar electrodes so that only ions of a certain mass with respect to a certain energy applied are allowed to pass through the front and rear through holes, and the front and rear slit plates are An ion source having a mass spectrometer, wherein a compensating power source is connected between the front and rear slit plates and the introducing electrode so that ions are decelerated between the front slit plate and the introducing electrode. .
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