JP2940010B2 - Broadband power meter - Google Patents

Broadband power meter

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JP2940010B2 JP23000489A JP23000489A JP2940010B2 JP 2940010 B2 JP2940010 B2 JP 2940010B2 JP 23000489 A JP23000489 A JP 23000489A JP 23000489 A JP23000489 A JP 23000489A JP 2940010 B2 JP2940010 B2 JP 2940010B2
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  • Measuring Frequencies, Analyzing Spectra (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、被測定信号の周波数が広帯域であって、デ
ィジタル演算処理を行う電力計に関する。
Description: BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a power meter that performs digital arithmetic processing when the frequency of a signal under measurement is wide.

〔概要〕〔Overview〕

本発明は、被測定信号の電圧信号および電流信号を入
力としてディジタル演算により電力を得る広帯域電力計
において、 被測定信号の周波数を測定し、その結果に応じて繰り
返しサンプリングの回数Mを決定することにより、 簡単な回路で所定の測定精度が得られ、しかも測定時
間を短くするものである。
The present invention relates to a wideband wattmeter that obtains power by digital operation by inputting a voltage signal and a current signal of a signal under measurement as input, measuring the frequency of the signal under measurement, and determining the number M of repetitive samplings according to the result. Thus, a predetermined measurement accuracy can be obtained with a simple circuit, and the measurement time is shortened.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

従来から、被測定信号の電圧信号および電流信号をそ
れぞれ入力とする二つのディジタル・アナログ変換回路
を備え、時間の経過にしたがってその各出力を被測定信
号の周期より短い周期で繰り返しサンプリングおよび乗
算を実行し、その結果の平均値演算を行うマイクロ・プ
ロセッサを用いたデータ処理回路を備えた広帯域電力計
が知られている。このような装置では、ディジタル・ア
ナログ変換回路のサンプリング周波数が被測定信号の周
波数の整数倍でないと、第2図に示すように、被測定信
号の各周期毎にサンプリング周期との間に端数が発生し
てしまう。これは測定誤差の原因になる。
Conventionally, it has two digital-to-analog converters that receive the voltage signal and the current signal of the signal under test, respectively, and repeatedly samples and multiplies each output over time with a period shorter than the period of the signal under test. 2. Description of the Related Art A wideband power meter is known which includes a data processing circuit using a microprocessor which executes and averages the result. In such a device, unless the sampling frequency of the digital-to-analog conversion circuit is an integer multiple of the frequency of the signal under test, as shown in FIG. Will occur. This causes a measurement error.

このため従来装置では、 サンプリング周波数を被測定信号の周波数の整数倍
になるように追従させる、 サンプリング周波数を被測定信号の周波数に比べて
きわめて高く設定し端数の影響を小さくする、 ディジタル・アナログ変換回路によるサンプリング
を被測定信号の多数の周期にわたり繰り返して行い、こ
れを記憶してその平均化処理を実行し端数の影響を小さ
くする、 などの技術がある。
For this reason, in the conventional equipment, the digital-to-analog conversion that sets the sampling frequency to follow an integer multiple of the frequency of the signal under test, sets the sampling frequency extremely higher than the frequency of the signal under test, and reduces the effect of the fraction, There is a technique in which sampling by a circuit is repeatedly performed over a large number of cycles of a signal to be measured, the result is stored, and an averaging process is executed to reduce the influence of a fraction.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problems to be solved by the invention]

上記〜に示す従来技術では、それぞれ測定精度を
向上することができるが、 上記については、測定器内で発生するサンプリング
周波数を被測定信号の周波数に追従させるために位相同
期発振器が必要であり、しかもその位相同期発振器は広
い周波数範囲にわたり追従動作する高級なものでなけれ
ばならない、 上記については、サンプリング周波数を高く設定す
ると高速のアナログ・ディジタル変換回路が必要にな
る、 上記については、サンプリングの繰り返しを多数回
行うので測定に要する時間が長くなる、 などの欠点がある。
In the prior arts described above, the measurement accuracy can be improved, but in the above, a phase-locked oscillator is required to make the sampling frequency generated in the measuring instrument follow the frequency of the signal under measurement, In addition, the phase-locked oscillator must be a high-grade one that can operate over a wide frequency range. For the above, setting a high sampling frequency requires a high-speed analog-to-digital conversion circuit. Since the measurement is performed many times, the time required for measurement becomes longer, and the like.

本発明は、上記従来技術のおよびについては、基
本的に回路が高価になるのでこれを避け、上記につい
ての改良を行うものである。すなわち本発明は、サンプ
リング用のクロック信号周波数が可変追従する必要がな
く、高速のアナログ・ディジタル変換回路を不要とし、
簡単な回路を用いて、測定に要する時間を短縮すること
ができる広帯域電力計を提供することを目的とする。
The present invention is to improve the above-mentioned prior arts and the above-mentioned ones, since the circuit is basically expensive, which is avoided. That is, according to the present invention, the clock signal frequency for sampling does not need to variably follow, eliminating the need for a high-speed analog-to-digital conversion circuit.
An object of the present invention is to provide a wideband power meter that can reduce the time required for measurement using a simple circuit.

〔課題を解決するための手段〕[Means for solving the problem]

本発明は、測定精度を設定すると、その測定精度を得
るために繰り返すべき被測定信号の周期の数が一定にな
ることに着目したものである。すなわち、本発明は、被
測定信号の周波数を測定し、それに合わせて繰り返しの
回数Mを設定することを特徴とする。
The present invention focuses on the fact that when the measurement accuracy is set, the number of periods of the signal under measurement to be repeated to obtain the measurement accuracy becomes constant. That is, the present invention is characterized in that the frequency of the signal under measurement is measured, and the number of repetitions M is set in accordance with the measured frequency.

本発明は、被測定信号の周波数を測定する手段と、そ
の測定された周波数にしたがってサンプリングの繰り返
し回数Mを決定する手段とを含むことを特徴とする。
The present invention is characterized in that it includes means for measuring the frequency of the signal under measurement, and means for determining the number of repetitions M of sampling according to the measured frequency.

本発明の装置では、測定装置内で発生するサンプリン
グ周波数は原則的に、発振器を安価に製作できる周波数
に固定する。しかし測定精度を可変にする場合には、そ
の測定精度にしたがって少数の固定周波数について切換
えるように構成できる。
In the device according to the invention, the sampling frequency generated in the measuring device is in principle fixed at a frequency at which the oscillator can be manufactured inexpensively. However, when the measurement accuracy is made variable, it can be configured to switch over a small number of fixed frequencies according to the measurement accuracy.

〔作用〕[Action]

本発明では、回路を簡単化するためにクロック信号周
波数を少なくともその測定については(例えば1M Hz
に)固定する。一方、測定精度をある値(例えば±1
%)に設定すると、サンプリング周波数が被測定信号の
周波数の数倍以上であれば、測定回数を重ねる毎に真値
に漸進してゆくから、その測定精度を得るためにサンプ
リングおよび乗算を繰り返すべき被測定信号の周期の数
が一定の値(例えば20周期)に定まる。したがって必要
なサンプリングの繰り返し回数は被測定信号の周波数に
反比例することになる。
In the present invention, in order to simplify the circuit, the clock signal frequency must be at least measured (eg, 1 MHz) for its measurement.
To). On the other hand, the measurement accuracy is set to a certain value (for example, ± 1
%), If the sampling frequency is more than several times the frequency of the signal under measurement, the value gradually progresses to the true value each time the number of measurements is repeated. Therefore, sampling and multiplication should be repeated to obtain the measurement accuracy. The number of periods of the signal under measurement is determined to be a fixed value (for example, 20 periods). Therefore, the required number of sampling repetitions is inversely proportional to the frequency of the signal under measurement.

本発明の装置は、測定のはじめに自動的に被測定信号
の周波数を測定し、その周波数に合わせてサンプリング
の繰り返し回数Mを設定する。したがって、設定された
測定精度を得るために必要な最短の時間でサンプリング
および演算を終えることができる。
The apparatus of the present invention automatically measures the frequency of the signal under measurement at the beginning of the measurement, and sets the number of repetitions M of sampling in accordance with the frequency. Therefore, sampling and calculation can be completed in the shortest time required to obtain the set measurement accuracy.

〔実施例〕〔Example〕

第1図は本発明実施例装置のブロック構成図である。
この装置は、周波数が広範囲にわたる被測定信号が入力
する電圧入力端子11および電流入力端子21と、この電圧
入力端子11の信号および電流入力端子21の信号をそれぞ
れ入力とし、それぞれアナログ処理を行う二つの入力回
路13および23と、この入力回路13および23の各出力をそ
れぞれ入力とする二つのアナログ・ディジタル変換回路
15および25と、この二つのアナログ・ディジタル変換回
路15および25の各サンプリング出力を乗算する乗算手段
を含むデータ処理回路31と、このデータ処理回路31の出
力を表示する表示回路35および印字その他の外部出力端
子37とを備える。
FIG. 1 is a block diagram of the apparatus according to the embodiment of the present invention.
This apparatus has a voltage input terminal 11 and a current input terminal 21 to which a signal to be measured having a wide range of frequencies is input, and a signal of the voltage input terminal 11 and a signal of the current input terminal 21 which are respectively input to perform analog processing. Input circuits 13 and 23, and two analog-to-digital conversion circuits each receiving the output of each of the input circuits 13 and 23 as an input.
15 and 25, a data processing circuit 31 including multiplication means for multiplying each sampling output of the two analog / digital conversion circuits 15 and 25, a display circuit 35 for displaying the output of the data processing circuit 31, An external output terminal 37 is provided.

前記データ処理回路31は、プログラム処理を実行する
マイクロ・プロセッサ(第1図には特に図示せず)を含
み、このマイクロ・プロセッサは、前記乗算手段を含
み、この乗算手段に時間の経過とともに変化する二つの
アナログ・ディジタル変換回路のサンプリング出力を複
数M回にわたり繰り返し乗算させる手段と、そのM回の
乗算結果を記憶する手段と、その記憶する手段に記憶さ
れたM回の乗算結果の平均値を演算する手段とを含む。
The data processing circuit 31 includes a microprocessor (not specifically shown in FIG. 1) for executing program processing, the microprocessor including the multiplication means, and the multiplication means changing over time. Means for repeatedly multiplying the sampling outputs of the two analog-to-digital conversion circuits by a plurality of M times, means for storing the results of the M times, and an average value of the results of the M times stored in the means for storing Means for calculating

ここで本発明の特徴として、このデータ処理回路に
は、二つのアナログ・ディジタル変換回路15または25の
いずれかの出力信号から被測定信号の周波数を測定する
手段と、その測定された周波数にしたがって前記回数M
を決定する手段とを含む。
Here, as a feature of the present invention, this data processing circuit includes means for measuring the frequency of the signal to be measured from the output signals of either of the two analog-to-digital conversion circuits 15 or 25, and according to the measured frequency. The number of times M
Means for determining

二つのアナログ・ディジタル変換回路15および25、デ
ータ処理回路31に供給されるクロック信号は、クロック
信号発生回路33より供給され、その周波数はそれぞれ固
定に設定されている。この実施例では1M Hzである。
The clock signals supplied to the two analog / digital conversion circuits 15 and 25 and the data processing circuit 31 are supplied from a clock signal generation circuit 33, and their frequencies are set to be fixed. In this embodiment, it is 1 MHz.

第3図にデータ処理回路31に内蔵されるマイクロ・プ
ロセッサの要部動作をフローチャートで示す。すなわ
ち、この装置は測定を開始するとその始めの段階で被測
定信号の周波数を測定する。この測定結果にしたがっ
て、必要なサンプリング回数Mを決定する。これは、周
波数の範囲毎に回数Mを対応させたテーブルを内蔵して
おき、周波数の測定結果を得るとこのテーブルを参照し
て回数Mを決定するように構成する。
FIG. 3 is a flowchart showing the operation of the main part of the microprocessor incorporated in the data processing circuit 31. That is, when the apparatus starts measurement, it measures the frequency of the signal under measurement at the beginning. The required number of samplings M is determined according to the measurement result. This is configured such that a table in which the number of times M is made to correspond to each frequency range is built in, and when the measurement result of the frequency is obtained, the number of times M is determined with reference to this table.

回数Mが決定されると、逐次入力する二つのアナログ
・ディジタル変換回路15および25からの電圧サンプリン
グ値Vmおよび電流サンプリング値Amを乗算しこれを記憶
する。この動作を時間の経過にしたがって変化するサン
プリング値についてM回実行する。M回の乗算を終える
と、記憶した乗算結果から平均値を演算し、これを測定
結果として表示する。
When the number of times M is determined, a voltage sampling value Vm and a current sampling value Am from two analog-to-digital conversion circuits 15 and 25 that are sequentially input are multiplied and stored. This operation is executed M times for a sampling value that changes with the passage of time. When M multiplications are completed, an average value is calculated from the stored multiplication results, and this is displayed as a measurement result.

つぎにこの繰り返し回数Mについて説明する。 Next, the number of repetitions M will be described.

いま、広帯域電力計の仕様を汎用性を考慮して、周波
数範囲10Hz〜100kHzと設定する。一方クロック信号発生
回路33の発振器の周波数として、安価にかつ安定な動作
が期待できる周波数として1M Hzを選定する。そうする
と、最高周波数100kHzでも被測定信号の1周期に10回の
サンプリングを行うことができる。この条件で被測定信
号の周波数を変化させ、サンプリング周波数が被測定信
号の周波数の整数倍でないとき、すなわち第2図に示す
ように端数が生じるときに、何回の繰り返しサンプリン
グを行って平均演算を行うと、端数の影響をどの程度小
さくすることができるかを調べた。いま、広帯域電力計
の仕様を測定精度±1%と設定してシミュレーションを
行うと、被測定信号のほぼ20周期についてサンプリング
および平均演算を実行するとその仕様の精度を満足する
ことがわかる。すなわち仕様を満足するサンプリングお
よび平均演算の実行回数は、ほぼ一定となることがわか
る。上記20周期は、被測定信号の周波数が最低周波数
(10Hz)近傍であれば20周期は約2秒に相当し、最高周
波数(100kHz)近傍では約0.2ミリ秒に相当する。
Now, the specification of the wideband power meter is set to a frequency range of 10 Hz to 100 kHz in consideration of versatility. On the other hand, as the frequency of the oscillator of the clock signal generation circuit 33, 1 MHz is selected as a frequency at which stable operation can be expected at low cost. Then, even at the maximum frequency of 100 kHz, sampling can be performed ten times in one cycle of the signal under measurement. Under this condition, the frequency of the signal under measurement is changed, and when the sampling frequency is not an integral multiple of the frequency of the signal under measurement, that is, when a fraction occurs as shown in FIG. It was investigated to what extent the effect of the fraction could be reduced by performing. Now, when a simulation is performed with the specification of the wideband power meter set to a measurement accuracy of ± 1%, it is understood that the accuracy of the specification is satisfied when sampling and averaging are performed for approximately 20 cycles of the signal under measurement. That is, it can be seen that the number of executions of the sampling and the averaging operation satisfying the specifications is substantially constant. The 20 periods correspond to about 2 seconds when the frequency of the signal under measurement is near the lowest frequency (10 Hz), and correspond to about 0.2 millisecond when the frequency of the signal to be measured is near the highest frequency (100 kHz).

したがって、被測定信号の周波数が低いときには測定
を行うために2秒程度の時間を要することになるが、被
測定信号の周波数が高いときにはこの時間を待つ必要が
なく、短い時間で結果を表示しても十分に精度を満足す
ることになる。
Therefore, when the frequency of the signal under measurement is low, it takes about 2 seconds to perform the measurement, but when the frequency of the signal under measurement is high, there is no need to wait for this time, and the result is displayed in a short time. However, the accuracy is sufficiently satisfied.

本発明の装置は、測定のはじめに被測定信号の周波数
を測定し、その測定結果に応じて繰り返し回数Mを設定
し、その回数Mまでサンプリングを繰り返す。測定され
た被測定周波数と回数Mの関係は一例として次表のよう
に設定し、あらかじめROMにテーブルとして作成してお
き、周波数測定のつどこれを参照して回数Mを決定す
る。この表でMは繰り返しサンプリングを行う回数であ
り、Tはこの繰り返しサンプリングを行うに要する時間
である。したがって測定を開始してから結果が表示され
るまでには、この時間Tと、周波数を測定するためのわ
ずかな時間との和の時間を要することになる。
The apparatus of the present invention measures the frequency of the signal under measurement at the beginning of the measurement, sets the number of repetitions M according to the measurement result, and repeats sampling up to the number M. The relationship between the measured frequency to be measured and the number of times M is set, for example, as shown in the following table, and is prepared in advance as a table in the ROM, and the number of times M is determined with reference to each frequency measurement. In this table, M is the number of times of repeated sampling, and T is the time required for performing this repeated sampling. Therefore, from the start of the measurement to the time when the result is displayed, it takes a sum of the time T and a slight time for measuring the frequency.

このようにして本発明の装置では、被測定信号の周波
数に応じて必要とする最短の時間で測定結果を得ること
ができる。
In this way, the apparatus of the present invention can obtain a measurement result in the shortest time required according to the frequency of the signal under measurement.

上記表に例示した周波数範囲の区分は、特に低い周波
数範囲でその区分をさらに細かくすることにより、実用
的にさらに合理化できる。
The division of the frequency range exemplified in the above table can be further practically rationalized by further refining the division particularly in a low frequency range.

また、上記実施例ではクロック信号の周波数を固定と
したが、クロック信号の周波数を2つあるいは3つなど
少数設けておき、これを切換えて使用するように構成す
ることができる。その場合には測定精度を可変とする装
置を実現することができる。一つの例として上記のクロ
ック信号周波数1M Hzのほかに2M Hzのクロック信号周波
数を設けておきこれを利用者が切換えて使用するように
構成する。この構成により、2M Hzを選択したときには
測定精度をほぼ±0.5%まで向上することができる。選
択できるクロック信号周波数の数をあまり多くしても実
用的な意味がなく装置が高価になってしまう。
In the above embodiment, the frequency of the clock signal is fixed. However, a small number of clock signals such as two or three may be provided, and the frequency may be switched and used. In that case, a device that makes the measurement accuracy variable can be realized. As an example, a clock signal frequency of 2 MHz is provided in addition to the above-mentioned clock signal frequency of 1 MHz, and the user can switch and use the clock signal frequency. With this configuration, when 2 MHz is selected, the measurement accuracy can be improved to approximately ± 0.5%. If the number of clock signal frequencies that can be selected is too large, there is no practical meaning and the device becomes expensive.

〔発明の効果〕 以上説明したように、本発明によれば、可変周波数の
発振器を利用することなく、また高速のアナログ・ディ
ジタル変換器を利用することなく、安価の回路素子を用
いて、精度の高い広帯域電力計を実現することができ
る。本発明の装置では、時間の経過にしたがって被測定
信号の繰り返しサンプリングを実行するが、測定に要す
る時間は測定精度毎に被測定周波数により合理的に定ま
り、必要最低限の時間に設定することができるから、測
定に要する時間を全体として短縮することができる。
[Effects of the Invention] As described above, according to the present invention, the accuracy can be improved by using inexpensive circuit elements without using a variable frequency oscillator and without using a high-speed analog-to-digital converter. High-bandwidth wattmeter can be realized. In the apparatus of the present invention, the signal to be measured is repeatedly sampled as time elapses, but the time required for measurement is determined rationally by the frequency to be measured for each measurement accuracy, and can be set to the minimum required time. Therefore, the time required for the measurement can be reduced as a whole.

【図面の簡単な説明】 第1図は本発明実施例装置のブロック構成図。 第2図は被測定信号とサンプリング周期の関係を説明す
る図。 第3図は本発明実施例装置のデータ処理回路の要部動作
を示すフローチャート。 11……電圧入力端子、13……入力回路、15……アナログ
・ディジタル変換回路、21……電流入力端子、23……入
力回路、25……アナログ・ディジタル変換回路、31……
データ処理回路、33……クロック信号発生回路、35……
表示回路、37……出力端子。
BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS FIG. 1 is a block diagram of an apparatus according to an embodiment of the present invention. FIG. 2 is a diagram for explaining a relationship between a signal under measurement and a sampling period. FIG. 3 is a flowchart showing the operation of the main part of the data processing circuit of the device according to the embodiment of the present invention. 11 ... voltage input terminal, 13 ... input circuit, 15 ... analog-digital conversion circuit, 21 ... current input terminal, 23 ... input circuit, 25 ... analog-digital conversion circuit, 31 ...
Data processing circuit, 33 ... Clock signal generation circuit, 35 ...
Display circuit, 37 Output terminal.

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】周波数が不定の被測定信号が入力する電圧
入力端子および電流入力端子と、この電圧入力端子の信
号および電流入力端子の信号をそれぞれ入力とする二つ
のアナログ・ディジタル変換回路と、この二つのアナロ
グ・ディジタル変換回路の各サンプリング出力を乗算す
る乗算手段を含むデータ処理回路とを備え、 前記データ処理回路は、前記乗算手段に時間の経過とと
もに前記二つのアナログ・ディジタル変換回路のサンプ
リング出力を複数M回にわたり繰り返し乗算させる手段
と、そのM回の乗算結果を記憶する手段と、その記憶す
る手段に記憶されたM回の乗算結果の平均値を演算する
手段とを含む 広帯域電力計において、 前記データ処理回路には、前記被測定信号の周波数を測
定する手段と、その測定された周波数に基づき被測定信
号の周波数に対応する前記Mの値が記憶されているテー
ブルを参照して前記回数Mを決定する手段とを含み、 前記二つのアナログ・ディジタル変換回路および前記デ
ータ処理回路に供給されるクロック信号の周波数はそれ
ぞれ複数の周波数が選択切換可能に設定された ことを特徴とする広帯域電力計。
1. A voltage input terminal and a current input terminal to which a signal to be measured having an indefinite frequency is inputted, two analog / digital conversion circuits each receiving the signal of the voltage input terminal and the signal of the current input terminal, respectively; A data processing circuit including a multiplying means for multiplying each sampling output of the two analog-to-digital conversion circuits, wherein the data processing circuit controls the multiplication means to sample the two analog-to-digital conversion circuits over time. A wide-band power meter including: means for repeatedly multiplying the output a plurality of times M; means for storing the result of the M multiplications; In the data processing circuit, means for measuring the frequency of the signal under measurement, and Means for determining the number of times M by referring to a table in which the value of the M corresponding to the frequency of the signal under test is stored, and supplied to the two analog-digital conversion circuits and the data processing circuit. A wide-band power meter, wherein a plurality of frequencies of a clock signal are set to be selectively switchable.
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