JP2870874B2 - Method and apparatus for measuring relative delay - Google Patents

Method and apparatus for measuring relative delay

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Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、2つの伝送チャンネルの相対遅延の測定に
関するものであり、詳細には、テレビジョン(TV)アナ
ログ・コンポーネント方式における異なったコンポーネ
ント信号を伝送する2つの伝送チャンネル間の相対遅延
を測定する方法及び装置に関するものである。
Description: FIELD OF THE INVENTION The present invention relates to the measurement of the relative delay of two transmission channels, and in particular to the transmission of different component signals in a television (TV) analog component system. A method and apparatus for measuring the relative delay between two transmission channels.

従来技術 米国特許第4,829,366号(2つの異なった周波数源を
用いて遅延差/ゲイン差を測定する方法及び装置)に
は、コンポーネント・ビデオ・システムにおける2伝送
チャンネル間の相対的な遅延差及びゲイン差を測定する
のに適用できる技法が開示されている。この技法は、試
験信号として、周期的信号から夫々成る2つのバースト
パケットを用いるものである。それらパケットの周期的
信号は、それらの周波数が、試験する伝送チャンネルの
周波数帯域内の代表的な周波数近辺で、ある微少周波数
だけ異なった値にされており(例:500KHzと502KHz)、
しかもパケット内の所定の時間位置で互いに位相が合う
ようにされている。これら試験信号は試験する伝送チャ
ンネルに通し、そしてその伝送結果の周期的信号を減算
的結合することによりビートを生成し、これの波形をオ
シロスコープに表示する。本技法では、2伝送チャンネ
ル間の遅延差は、そのビート波形の最小振幅点の前記所
定時間位置からの時間軸方向のずれ量として、そしてゲ
イン差は、前記最小振幅点の振幅の大きさとして測定で
きるようになっている。
Prior Art U.S. Pat. No. 4,829,366 (method and apparatus for measuring delay / gain differences using two different frequency sources) discloses a relative delay difference and gain between two transmission channels in a component video system. Techniques are disclosed that can be applied to measure differences. This technique uses two burst packets each consisting of a periodic signal as a test signal. The periodic signals in the packets have their frequencies different by some small frequency near the typical frequency in the frequency band of the transmission channel being tested (eg, 500 KHz and 502 KHz),
In addition, the phases match each other at a predetermined time position in the packet. These test signals are passed through the transmission channel to be tested and the resulting periodic signal is subtractively combined to generate a beat, which is displayed on an oscilloscope. In this technique, the delay difference between the two transmission channels is the amount of deviation in the time axis direction from the predetermined time position of the minimum amplitude point of the beat waveform, and the gain difference is the magnitude of the amplitude of the minimum amplitude point. It can be measured.

また、別の技法が、上記米国特許において、1984年9
月に英国、ブリントンで開催された国際放送会議(Inte
rnational Broadcasting Conference)におけるジェー
ムス及びマーシャル氏の“テレビジョン・コンポーネン
ト環境における測定”(Measurements in a Television
Component Environment by A.James and P.J.Marshal
l)と題する論文に示されている、ということが言及さ
れている。この技法は、伝送チャンネル間の遅延差を測
定するため、500KHzの正弦波信号をそれら伝送チャンネ
ルに同時に印加し、その結果の信号をデュアルトレース
・オシロスコープに表示し、それら正弦波出力波形の零
交差点が互いに揃っているかどうかを観る、というもの
である。
Another technique is described in the above-mentioned U.S.
International Broadcasting Conference (Inte
James and Marshall at the National Broadcasting Conference, "Measurements in a Television"
Component Environment by A. James and PJMarshal
l) is mentioned in the paper titled This technique simultaneously applies a 500 KHz sine wave signal to those transmission channels to measure the delay difference between the transmission channels, displays the resulting signal on a dual trace oscilloscope, and zero-crosses the sine wave output waveforms. To see if they are aligned with each other.

解決しようとする課題 知られているように、TVアナログ・コンポーネント・
システムにおける各コンポーネント信号(Y,B−Y,R−
Y、またはR,G,B)は、通常5〜6MHzの帯域幅をもつも
のである。この周波数帯域内の代表的な1点の周波数
(即ち、500KHz)においてのみ、上記の従来の2つの技
法は、各コンポーネント信号の伝送チャンネルの伝送特
性について測定を行うものである。
Challenges to be solved As is known, TV analog components
Each component signal (Y, B−Y, R−
Y, or R, G, B) usually has a bandwidth of 5-6 MHz. Only at a representative point frequency within this frequency band (ie, 500 KHz), the above two conventional techniques measure the transmission characteristics of the transmission channel of each component signal.

しかしながら、各コンポーネント信号は、500KHz以外
の周波数においても様々な遅延を受け、またその遅延量
も上記周波数帯域に渡って大きく変化することがある。
However, each component signal is subjected to various delays even at frequencies other than 500 KHz, and the amount of delay may vary greatly over the frequency band.

その主要な原因は、コンポーネント信号のデジタル処
理のため、伝送チャンネルを成すTV放送局、TVプロダク
ション等で用いられるコンポーネント方式のVTR、スイ
ッチャー、エンコーダ等に設けられた種々の高域フィル
タである。これらフィルタは、デジタル処理に関係した
各種サンプリング周波数による制限のため、それらサン
プリング周波数に関係したある周波数以上をカットする
ようになっている。
The main cause is various high-pass filters provided in component-type VTRs, switchers, encoders, and the like used in TV broadcast stations, TV productions, and the like forming transmission channels for digital processing of component signals. These filters are designed to cut off a certain frequency or more related to the sampling frequency due to the restriction by various sampling frequencies related to the digital processing.

しかしながら、上記の従来の技法では、1回の試験
で、遅延差をその周波数帯域全体に渡って測定すること
はできず、またその周波数帯域に渡る遅延差の変化も簡
単に知ることはできない。
However, in the above-described conventional technique, the delay difference cannot be measured over the entire frequency band in one test, and the change in the delay difference over the frequency band cannot be easily known.

従って、本発明の目的は、2つの伝送チャンネル間に
おける信号の相対遅延について、関心のある周波数帯域
に渡って簡便に知ることができる測定方法及び装置を提
供することである。
Accordingly, an object of the present invention is to provide a measuring method and apparatus capable of easily knowing a relative delay of a signal between two transmission channels over a frequency band of interest.

課題を解決するための手段及び作用 上記の目的を達成するため、本発明においては、2つ
の伝送チャンネルにおける信号の異なった複数の周波数
での相対遅延を測定するため、第1及び第2の伝送チャ
ンネルの各々の一端に夫々第1及び第2の試験信号を同
期して印加する。この第1及び第2の試験信号は各々、
相対遅延の大きさを測定するため、前記の異なった複数
の周波数と等しい周波数の部分を含みかつ所定エンベロ
ープ波形の振幅を有した測定用信号を含んでいる。次
に、前記伝送チャンネルの各々の他端から伝送した結果
の前記第1及び第2の試験信号を受け、これら試験信号
を互いに組み合わせて、前記伝送チャンネルでの伝搬中
に受けた、前記複数の周波数の各々における遅延の差の
大きさに関する情報を表す振幅を有する遅延差信号を形
成するようにする。これにより、複数の周波数におい
て、それら伝送チャンネルの相対遅延を1回の試験で測
定するものである。
Means and Action for Solving the Problems To achieve the above object, according to the present invention, in order to measure relative delays of signals in two transmission channels at a plurality of different frequencies, a first transmission and a second transmission are performed. First and second test signals are synchronously applied to one end of each of the channels, respectively. The first and second test signals are respectively
In order to measure the magnitude of the relative delay, a measurement signal including a portion of a frequency equal to the plurality of different frequencies and having a predetermined envelope waveform amplitude is included. Receiving the first and second test signals as a result of transmission from the other end of each of the transmission channels, combining the test signals with each other, and receiving the plurality of test signals during propagation on the transmission channel; A delay difference signal having an amplitude representative of information about the magnitude of the delay difference at each of the frequencies is formed. Thus, at a plurality of frequencies, the relative delay of the transmission channels is measured in one test.

本発明によれば、更に、前記遅延差信号の波形を表示
することができる。
According to the present invention, it is possible to further display the waveform of the delay difference signal.

また、本発明によれば、前記第1及び第2の試験信号
は、前記遅延差信号の振幅が表す遅延差に関して、その
極性、大きさ、周波数の少なくとも1つに関する基準を
与えるためのマーカを含むようにすることができる。
Further, according to the present invention, the first and second test signals may include a marker for providing a reference regarding at least one of a polarity, a magnitude, and a frequency of a delay difference represented by an amplitude of the delay difference signal. Can be included.

更に、各前記試験信号は、第1、第2、第3及び第4
の信号成分を有するようにすることができる。その第1
の試験信号成分は、1つの所定の長さの区間から成り、
該区間が、前記遅延差の大きさを測定するため、該区間
内の所定の期間部分において、前記の測定用信号とし
て、周波数が所定の周波数範囲で変化する前記所定エン
ベロープ波形の振幅の掃引信号を含むようにすることが
できる。前記第2の試験信号部分は、少なくとも1つの
前記の区間から成り、該1つの区間が、前記遅延差の大
きさに関する目盛りを与えるための遅延マーカを、前記
の区間の所定の期間部分において、含むようにすること
ができる。前記第3の試験信号部分は、1つの前記の区
間から成り、該区間が、前記遅延差が生起している周波
数に関する目盛りを与えるための周波数マーカを、該区
間の前記所定の期間部分において、含むようにすること
ができる。前記第4の試験信号部分は、前記遅延差の極
性を測定するための極性マーカを含んだ1つの区間から
成るようにすることができる。
Further, each of the test signals includes first, second, third and fourth signals.
The following signal components can be provided. The first
Is composed of one predetermined length section,
Since the section measures the magnitude of the delay difference, a sweep signal of the amplitude of the predetermined envelope waveform whose frequency changes in a predetermined frequency range is used as the measurement signal in a predetermined period portion within the section. Can be included. The second test signal portion includes at least one of the sections, and the one section includes a delay marker for giving a scale regarding the magnitude of the delay difference in a predetermined period part of the section. Can be included. The third test signal portion includes one of the sections, and the section includes a frequency marker for giving a scale regarding a frequency at which the delay difference occurs, in the predetermined period portion of the section, Can be included. The fourth test signal portion may include one section including a polarity marker for measuring the polarity of the delay difference.

本発明によれば、前記の表示は、前記第1、第2、第
3、及び第4の試験信号部分を成す各前記区間における
前記遅延差信号の波形を重ねる表示とすることができ
る。
According to the present invention, the display can be a display in which the waveform of the delay difference signal in each of the sections forming the first, second, third, and fourth test signal portions is superimposed.

更に、本発明によれば、前記第1の試験信号部分にお
いては、前記第1及び第2の試験信号は、同一の前記掃
引信号を含むようにできる。前記第2の試験信号部分
は、前記所定の期間部分においては、前記所定の周波数
範囲に渡って同一の1つの遅延時間基準値を示す前記遅
延マーカを含むようにでき、該遅延マーカは、i)前記
第1の試験信号に含まれた所定の第1の波形から成る第
1の遅延マーカ成分と、ii)前記第2の試験信号に含ま
れた第2の遅延マーカ成分であって、前記第1の波形に
対し前記所定の期間部分に渡って所定のレベル差関係を
有する所定の第2の波形を有しており、そのレベル差
が、前記所定の周波数範囲に渡って同一の大きさの遅延
差時間を表すようになっている、前記の第2の遅延マー
カ成分と、から成るものとすることができる。前記第3
の試験信号部分は、前記所定の期間部分内において、前
記所定の周波数範囲内の少なくとも1つの周波数を示す
前記周波数マーカを有するようにでき、該周波数マーカ
は、i)前記第1の試験信号に含まれた、所定の一定レ
ベルの波形から成る第1の周波数マーカ成分と、ii)前
記第2の試験信号に含まれた、インパルスから成る第2
の周波数マーカ成分であって、該インパルスの前記所定
の期間部分内の位置は、前記掃引波形内の対応する周波
数部分の前記所定の期間部分内における位置に一致して
いる、前記の第2の周波数マーカ成分と、から成るもの
とすることができる。前記第4の試験信号部分において
は、前記第1及び第2の試験信号は、前記極性マーカの
第1及び第2の成分として、夫々同一の波形を有するよ
うにできる。
Further, according to the present invention, in the first test signal portion, the first and second test signals can include the same sweep signal. The second test signal portion may include, in the predetermined period portion, the delay marker indicating the same one delay time reference value over the predetermined frequency range, and the delay marker includes i A) a first delay marker component comprising a predetermined first waveform included in the first test signal; and ii) a second delay marker component included in the second test signal. A second waveform having a predetermined level difference relationship over the predetermined period portion with respect to the first waveform, wherein the level difference has the same magnitude over the predetermined frequency range; And the second delay marker component described above, which represents the delay difference time of The third
May have the frequency marker indicating at least one frequency within the predetermined frequency range within the predetermined time period portion, the frequency marker comprising: i) the first test signal A first frequency marker component comprised of a predetermined constant level waveform included; ii) a second frequency impulse included in the second test signal.
The frequency marker component, wherein the position of the impulse within the predetermined period portion is coincident with the position of the corresponding frequency portion within the sweep waveform within the predetermined period portion, And a frequency marker component. In the fourth test signal portion, the first and second test signals may have the same waveform as the first and second components of the polarity marker, respectively.

実施例 次に、本発明を(Y・B−Y・R−Y)アナログ・コ
ンポーネント・システム(ACS)に適用した測定装置の
1実施例について説明する。
Embodiment Next, an embodiment of a measuring apparatus in which the present invention is applied to a (Y-BY-RY) analog component system (ACS) will be described.

第1図には、上記ACS用のY、B−Y、R−Yコンポ
ーネント信号の各々に対する3つの伝送チャンネル1、
2、3を示してあり、これらは、夫々、入力端子4、
5、6及び出力端子7、8、9を備えている。
FIG. 1 shows three transmission channels 1 for each of the Y, BY and RY component signals for ACS,
2, 3, which are respectively input terminals 4,
5, 6 and output terminals 7, 8, 9 are provided.

本測定装置は、信号発生器10と、差検出器12と、波形
表示器14とから成っている。信号発生器10は、PROMを有
しており、CH−1、CH−2出力から、予めプログラムし
たこのメモリから以下に述べる1対の試験信号T1、T2を
発生するものである。図示の例では、試験信号T1、T2
は、Yチャンネル1の入力端子4、B−Yチャンネル2
の入力端子5に夫々与えられる。これら伝送チャンネル
の出力端子7、8から得られる伝送結果の試験信号T1
a、T2aは、差検出器12の2つの入力端子に夫々に与えら
れ、この検出器12は、それら信号間の差、即ち(T1a−T
2a)を演算して、差信号DSを出力に発生する。次の波形
表示器14は、その差信号の波形をスクリーンに表示する
ものである。これら差検出器12と波形表示器14として
は、従来のCH−1とCH−2の差を観測できる機能の付い
たオシロスコープもしくはウェーブフォーム・モニタが
使用できる。
The measuring device includes a signal generator 10, a difference detector 12, and a waveform display 14. The signal generator 10 has a PROM, and generates a pair of test signals T1 and T2 described below from this pre-programmed memory from the CH-1 and CH-2 outputs. In the illustrated example, the test signals T1, T2
Is the input terminal 4 of the Y channel 1, the BY channel 2
, Respectively. The test signal T1 of the transmission result obtained from the output terminals 7 and 8 of these transmission channels
a and T2a are respectively applied to two input terminals of a difference detector 12, and this detector 12 generates a difference between the signals, that is, (T1a-T
2a) is calculated to generate a difference signal DS at the output. The next waveform display 14 displays the waveform of the difference signal on a screen. As the difference detector 12 and the waveform display 14, a conventional oscilloscope or waveform monitor having a function of observing the difference between CH-1 and CH-2 can be used.

次に、第2A図及び第2B図を参照して、試験信号T1及び
T2、並びに差信号DSの詳細について説明する。図示の信
号は、M IIフォーマット用のレベル値を有するものであ
る。尚、それらの図では、信号は、同一時間軸で示して
ある。
Next, referring to FIGS. 2A and 2B, test signals T1 and
Details of T2 and the difference signal DS will be described. The illustrated signal has a level value for the MII format. In these figures, the signals are shown on the same time axis.

試験信号T1、T2は、大きく別けて、4つの試験信号部
分SP1、SP2、SP3、及びSP4から成っており、各信号部分
は、1つまたは複数の水平ライン(H)区間の長さをも
っている。各H区間(63.5マイクロ秒の長さ)は、その
開始時点t0から水平同期パルスを含むt1までの前半の期
間I1(本実施例では、16.8マイクロ秒)と、t1からの残
りの後半期間I2(本実施例では、46.7マイクロ秒)に分
けてある。
The test signals T1, T2 are roughly divided into four test signal parts SP1, SP2, SP3, and SP4, each of which has one or more horizontal line (H) section lengths. . Each H section (length of 63.5 microseconds) includes a first half period I1 (16.8 microseconds in this embodiment) from the start time t0 to t1 including the horizontal synchronization pulse, and a remaining second half period I2 from t1. (46.7 microseconds in this embodiment).

SP1は、1つの区間から成る遅延測定用信号部分であ
る。この部分では、試験信号T1、T2は、共に、期間I2の
内のt1からt2(本実施例では、61.2マイクロ秒時点)の
期間I3に、伝送チャンネルからの遅延を受ける遅延測定
用の信号として掃引信号SS1、SS2を夫々有している。た
だし、本試験信号は、Y・B−Y・R−Yアナログ・コ
ンポーネント・システム用のため、信号T2には水平同期
パルスは含まれていない。これら掃引信号SSは、振幅の
ピーク・ピーク値が0.7ボルトの一定値(即ち、エンベ
ロープEV1、EV2は平ら)であり、その中心レベルが0.35
ボルトの正弦波(注:図では簡略化して示してある)か
らなるパケット(実線で囲んだ方形部分)である。この
掃引正弦波は、周波数がf1(=200KHz)からf2(=5.5M
Hz)まで連続的に、しかも周波数掃引速度が一定のリニ
ア形式で変化する。信号T1及びT2内のそれら掃引正弦波
SS1、SS2は、それらの差を取った時に零となるよう、互
いに振幅並びに位相を完全に一致させてある。
SP1 is a delay measurement signal portion composed of one section. In this part, both the test signals T1 and T2 are used as delay measurement signals that receive a delay from the transmission channel during a period I3 from t1 to t2 (in this embodiment, at a time of 61.2 microseconds) of the period I2. It has sweep signals SS1 and SS2, respectively. However, since this test signal is for the Y-BY-RY analog component system, the signal T2 does not include a horizontal synchronization pulse. These sweep signals SS have a constant amplitude peak-to-peak value of 0.7 volts (ie, the envelopes EV1 and EV2 are flat) and have a center level of 0.35.
This is a packet (square part enclosed by a solid line) consisting of a sine wave of volts (note: simplified in the figure). The frequency of this swept sine wave is f1 (= 200 KHz) to f2 (= 5.5M
Hz), and the frequency sweep speed changes in a constant linear form. Those swept sine waves in signals T1 and T2
The amplitudes and phases of SS1 and SS2 are completely matched to each other so that the difference becomes zero when the difference is taken.

次のSP2〜SP4は、マーカ形成信号部分であり、SP2
は、遅延マーカ形成信号部分であり、SP3は、周波数マ
ーカ形成信号部分であり、そしてSP4は、極性マーカ形
成信号部分である。
The next SP2 to SP4 are marker forming signal portions, and SP2
Is a delay marker forming signal portion, SP3 is a frequency marker forming signal portion, and SP4 is a polarity marker forming signal portion.

初めに、遅延マーカ形成信号部分SP2は、相対遅延量
の大きさの目盛りを与える部分であり、本実施例では、
遅延0nsマーカDM1、遅延20nsマーカDM2、遅延40nsマー
カDM3、及び遅延60nsマーカDM4の4つのマーカを形成す
るため、4つの区間から成っている。各マーカは、試験
信号T1の対応の区間の期間I3にある第1のマーカ成分a
と、試験信号T2の対応の区間の同じ期間I3にある第2の
マーカ成分bと、から形成される。
First, the delay marker forming signal portion SP2 is a portion that gives a scale of the magnitude of the relative delay amount, and in this embodiment,
To form four markers, a delay 0 ns marker DM1, a delay 20ns marker DM2, a delay 40ns marker DM3, and a delay 60ns marker DM4, it is composed of four sections. Each marker is a first marker component a in a period I3 of a corresponding section of the test signal T1.
And the second marker component b in the same period I3 of the corresponding section of the test signal T2.

各マーカの第1の成分DM1a〜DM4aは、試験信号T1で
は、全て0.7ボルトの一定レベルの波形である。一方、
試験信号T2においては、マーカDM1の第2成分DM1bは、D
M1aとの差を取ったときに零となるように、同じく0.7ボ
ルトの一定レベルの波形である。マーカDM2の第2成分D
M2bは、V1ボルト(=0.6912ボルトからV2ボルト(=0.4
629ボルト)まで、DM2aとの差分が後述する正弦波S1の
1部分をなすカーブC1にて変化する波形である。次のマ
ーカDM3の第2成分DM3bは、V3ボルト(=0.6824ボル
ト)からV4ボルト(=0.2538ボルト)まで、DM3aとの差
分が後述する正弦波S2の1部分をなすカーブC2にて変化
する波形であり、そして最後のマーカDM4の第2成分DM4
bは、V5ボルト(=0.6736ボルト)からV6ボルト(=0.0
975ボルト)まで、同じくDM4aとの差分が後述の正弦波S
3の1部分をなすカーブC3にて変化する波形から成って
いる。
The first components DM1a to DM4a of each marker have a constant level of 0.7 volts in the test signal T1. on the other hand,
In the test signal T2, the second component DM1b of the marker DM1 is D
The waveform is also a constant level of 0.7 volt so that it becomes zero when the difference from M1a is taken. Second component D of marker DM2
M2b is V1 volts (= 0.6912 volts to V2 volts (= 0.4
Up to 629 volts), the difference from DM2a changes in a curve C1, which is a part of a sine wave S1 described later. The second component DM3b of the next marker DM3 has a waveform from V3 volts (= 0.6824 volts) to V4 volts (= 0.2538 volts) whose difference from DM3a changes in a curve C2 which forms a part of a sine wave S2 described later. And the second component DM4 of the last marker DM4
b is from V5 volts (= 0.6736 volts) to V6 volts (= 0.0
Up to 975 volts), and the difference from DM4a is
3 is composed of a waveform that changes in a curve C3 which forms a part of FIG.

ここで、第3図を参照して上記の正弦波S1〜S3につい
て説明する。各正弦波は、ほぼ 2Asin(θ/2) (1) で表されるものであり、ここで、Aは掃引正弦波SSの振
幅(=0.35ボルト)である。θは、 θ=2π(td)f (2) で表され、tdは、試験信号T1及びT2間の遅延時間差であ
る。式(1)は、試験信号T1の掃引信号のある1点の周
波数における信号をAsinωtとし、そしてこれから角度
θだけ相対的に遅れた試験信号の掃引信号の同じ1点の
周波数における信号をAsin(ωt−θ)とし、その差を
計算したものである。
Here, the sine waves S1 to S3 will be described with reference to FIG. Each sine wave is approximately represented by 2Asin (θ / 2) (1), where A is the amplitude of the swept sine wave SS (= 0.35 volts). θ is represented by θ = 2π (td) f (2), and td is a delay time difference between the test signals T1 and T2. Equation (1) indicates that a signal at a certain frequency of the sweep signal of the test signal T1 is Asinωt, and a signal at the same frequency of the same sweep signal of the test signal delayed relatively by an angle θ is Asin ( ωt−θ), and the difference is calculated.

従って、正弦波S1、S2、S3は、夫々、tdに20ns、40n
s、60nsを代入して式(1)及び(2)から得られたも
のである。尚、本実施例のアナログ・コンポーネント・
システムに関しては、0.2〜5.5MHzのカーブを用いる。
これらカーブC1、C2、C3は、第2図の下段の差信号DSに
て現れており、これらは、遅延差の大きさに関する目盛
りとして作用する。
Therefore, the sine waves S1, S2, and S3 have td of 20 ns and 40n, respectively.
s and 60 ns are substituted and obtained from equations (1) and (2). In addition, the analog component
For the system, a curve from 0.2 to 5.5 MHz is used.
These curves C1, C2, C3 appear in the difference signal DS in the lower part of FIG. 2, and serve as a scale for the magnitude of the delay difference.

次に、周波数マーカ形成信号部分SP3について説明す
る。周波数マーカFMは、遅延差の周波数に関する目盛り
を与えるものであり、この信号部分を成す1区間の期間
I2において、試験信号T1に含めた第1のマーカ成分FMa
と、試験信号T2に含めた第2のマーカ成分FMbとから成
っている。第1マーカ成分FMaは、高さが次第に大きく
なる6つのインパルスから成っている。これらインパル
スは、本実施例では、0.5、1、2、3、4、5MHzのマ
ーカとするため、それらの期間I3内の時間軸方向の位置
は、掃引正弦波SSの対応の周波数部分の期間I3内におけ
る位置と一致させてある。第2のマーカ成分FMbは、図
示のように一定レベル即ち0ボルトの波形である。
Next, the frequency marker forming signal portion SP3 will be described. The frequency marker FM gives a scale regarding the frequency of the delay difference, and is a period of one section constituting this signal portion.
In I2, the first marker component FMa included in the test signal T1
And the second marker component FMb included in the test signal T2. The first marker component FMa is composed of six impulses whose height gradually increases. In the present embodiment, since these impulses are markers of 0.5, 1, 2, 3, 4, and 5 MHz, their positions in the time axis direction within the period I3 correspond to the periods of the corresponding frequency portion of the swept sine wave SS. It matches the position in I3. The second marker component FMb has a constant level, that is, a waveform of 0 volt as shown in the figure.

最後に、極性マーカ形成信号成分SP4は、1つの区間
から成っており、試験信号T1とT2との間の遅延差の大き
さの正負を示すための極性マーカPMを形成するための部
分である。この部分は、試験信号T1及びT2の前半期間I1
において、t3(例:9.8マイクロ秒)からt4(例:14.8マ
イクロ秒)までの同一の方形パルスからなる第1及び第
2のマーカ成分PMa、PMbとを含んでいる。この方形パル
スは、その立ち上がり及び立ち下がり部分の周波数が、
掃引周波数範囲内の1点の周波数、好ましくは下限周波
数f1に近いことが望ましい。
Finally, the polarity marker forming signal component SP4 is composed of one section, and is a portion for forming a polarity marker PM for indicating the magnitude of the delay difference between the test signals T1 and T2. . This part is the first half period I1 of the test signals T1 and T2.
, Includes first and second marker components PMa and PMb composed of the same rectangular pulse from t3 (eg, 9.8 microseconds) to t4 (eg, 14.8 microseconds). This square pulse has a rising and falling frequency of
It is desirable that the frequency at one point in the sweep frequency range is close to the lower limit frequency f1.

以上に説明した試験信号T1、T2を用いる本測定装置の
動作について、次に説明する。
The operation of the measurement apparatus using the test signals T1 and T2 described above will be described next.

本測定装置が伝送チャンネル1、2にそれら試験信号
を印加する結果として、第2図下段に示すような差信号
DSが、差検出器12の出力に発生される。尚、それら伝送
チャンネル1、2は、既にそれらのゲイン差が零となる
ように調節されているものとする。また、この図示の差
信号では、遅延量は、チャンネル1の方がチャンネル2
よりも小さいと仮定している。
As a result of applying these test signals to the transmission channels 1 and 2 by the measuring apparatus, a difference signal as shown in the lower part of FIG.
DS is generated at the output of difference detector 12. It is assumed that the transmission channels 1 and 2 have already been adjusted so that their gain difference becomes zero. In the difference signal shown in the figure, the delay amount of the channel 1 is larger than that of the channel 2
Is assumed to be smaller than

初めに、差信号DSの第1の区間では、期間I2に、掃引
信号の差(SS1−SS2)である波形SDが現れる。この波形
SDは、その差が零の場合には0ボルトの平らなラインと
なる。一方、図示の例のように相対遅延がある場合に
は、波形SDは、周波数が連続的に上昇するエンベロープ
EV3を持った正弦波となる。このエンベロープEV3の期間
I3内の任意の点における大きさXが、その対応する掃引
周波数fxでの遅延差の大きさに関係している。
First, in the first section of the difference signal DS, a waveform SD that is the difference (SS1-SS2) between the sweep signals appears in the period I2. This waveform
SD is a flat line of 0 volts if the difference is zero. On the other hand, when there is a relative delay as in the example shown in the figure, the waveform SD has an envelope in which the frequency continuously increases.
It becomes a sine wave with EV3. The duration of this envelope EV3
The magnitude X at any point in I3 is related to the magnitude of the delay difference at its corresponding sweep frequency fx.

このエンベロープEV3の大きさXを遅延差時間にスケ
ーリングするのが、次に続く第2〜第5の区間の遅延マ
ーカDM1〜DM4であり、これらが、対応の第1マーカ成分
DM1a〜DM4aと第2マーカ成分DM1b〜DM4bの差から得られ
ることは前述の通りである。尚、それら遅延マーカの第
1成分と第2成分間の相対遅延については、実質上無視
することができる。従って、上記のエンベロープEV3
は、例えば、掃引周波数範囲の全体に渡って遅延差が20
nsの一定値である場合、20nsマーカDM2のカーブC1と一
致することになる。
Scaling the size X of the envelope EV3 to the delay difference time is the delay markers DM1 to DM4 in the second to fifth sections that follow, and these are the corresponding first marker components.
As described above, it is obtained from the difference between DM1a to DM4a and the second marker components DM1b to DM4b. Note that the relative delay between the first component and the second component of the delay markers can be substantially ignored. Therefore, the above envelope EV3
Is, for example, a delay difference of 20 over the entire swept frequency range.
If the value is a constant value of ns, it matches the curve C1 of the 20ns marker DM2.

次の第6区間の周波数マーカFMと、第7区間の極性マ
ーカPMとについても、前述のように、それらの第1成分
FMa、PMaと第2成分FMb、PMbとの差から得られる。極性
マーカPMについては、試験信号T2の遅延の方が大きいと
仮定しているので、正のインパルスが先に立ち、負のイ
ンパルスがこれに続く。T2の遅延の方が小さい場合に
は、これと逆になる。
As described above, the first component of the frequency marker FM in the next sixth section and the polarity marker PM of the seventh section are also described above.
It is obtained from the difference between FMa, PMa and the second components FMb, PMb. For the polarity marker PM, it is assumed that the delay of the test signal T2 is longer, so that a positive impulse precedes and a negative impulse follows. The opposite is true if the delay of T2 is smaller.

以上の差信号DSを波形表示器14で表示した場合の表示
例を第4図に示してある。分かるように、差信号DSの7
つの区間の波形は、互いに重ねて表示されている(注:
判りやすくするため、表示波形の1部は省いてある)。
この表示に基づいて、周波数範囲f1〜f2における相対遅
延の極性及び大きさを知ることができる。この表示結果
に基づいて、伝送チャンネル内に設けた等化器(図示せ
ず)を調節し、伝送チャンネル間の相対遅延を許容範囲
内とすることができる。
FIG. 4 shows a display example when the difference signal DS is displayed on the waveform display 14. As you can see, 7 of the difference signal DS
The waveforms of the two sections are displayed on top of each other (Note:
Some of the displayed waveforms have been omitted for clarity).
Based on this display, the polarity and magnitude of the relative delay in the frequency range f1 to f2 can be known. Based on the display result, an equalizer (not shown) provided in the transmission channel can be adjusted to make the relative delay between the transmission channels within an allowable range.

以上に記述した本発明の実施例に対し、以下のような
変更が可能である。
The following changes can be made to the embodiment of the present invention described above.

第1に、試験信号の信号成分SP2の区間の数は、表示
したい遅延マーカの本数に応じて変更することができ
る。また、各試験信号に要する区間の数を減らすため、
互いに干渉しない例えば極性マーカ、0ns遅延マーカ、
周波数マーカは、1つの区間で形成するようにできる。
First, the number of sections of the signal component SP2 of the test signal can be changed according to the number of delay markers to be displayed. Also, to reduce the number of sections required for each test signal,
For example, a polarity marker that does not interfere with each other, a 0 ns delay marker,
The frequency marker can be formed in one section.

第2に、掃引信号SS1、SS2のエンベロープEV1、EV2
は、第4図の低周波数側での読み取りをし易くするた
め、周波数f1での振幅が最大となり、周波数f2に向けて
振幅が減少するように変更できる。この場合、遅延マー
カにも対応する変更を行って、遅延マーカの傾斜をより
緩やかなものにすればよい。
Second, the envelopes EV1, EV2 of the sweep signals SS1, SS2
Can be changed so that the amplitude at the frequency f1 becomes maximum and the amplitude decreases toward the frequency f2 in order to facilitate reading on the low frequency side in FIG. In this case, a change corresponding to the delay marker may be made to make the inclination of the delay marker gentler.

第3に、掃引正弦波の周波数掃引速度は、対数掃引と
なるように変更できる。この場合にも、遅延マーカ及び
周波数マーカの対応する変更を行えば良い。
Third, the frequency sweep speed of the swept sine wave can be changed to be a logarithmic sweep. Also in this case, the corresponding change of the delay marker and the frequency marker may be performed.

第4に、遅延マーカ形成用の第1成分(DM1a〜DM4a)
及び第2成分(DM1b〜DM4b)の波形は、それらの差分が
夫々、零、カーブC1、C2、C3を形成するものであれば、
任意に変更可能である。
Fourth, first components for forming a delay marker (DM1a to DM4a)
And the waveforms of the second components (DM1b to DM4b) are such that their differences form zero and curves C1, C2 and C3, respectively.
It can be changed arbitrarily.

第5に、掃引信号の掃引形式を連続掃引からステップ
状掃引に変更し、1つの周波数の正弦波を次の周波数の
正弦波に移るまである時間継続するようにできる。遅延
マーカ及び周波数マーカの対応する変更も、当業者には
明らかである。
Fifth, the sweep mode of the sweep signal can be changed from continuous sweep to step sweep, so that a sine wave of one frequency can be continued for a certain period of time until the sine wave of the next frequency is changed. Corresponding changes in delay markers and frequency markers will also be apparent to those skilled in the art.

第6に、試験信号は、第7区間が終了してから第1区
間に戻って反復させることができる。また、別の反復法
として、各区間を次の区間に移る前に多数回繰り返す方
法がある。この場合、例えば、映像信号の各フィールド
において、第1区間を100H(水平ライン)の間繰り返
し、第2〜第5区間の各々を15Hの間、そして第6区間
を41Hの間、第7区間を41Hの間繰り返すようにすること
ができる。
Sixth, the test signal can be repeated by returning to the first section after the seventh section ends. As another repetition method, there is a method of repeating each section many times before moving to the next section. In this case, for example, in each field of the video signal, the first section is repeated for 100H (horizontal line), each of the second to fifth sections is 15H, the sixth section is 41H, and the seventh section is Can be repeated for 41H.

第7に、本測定方法及び装置は、他のR・G・Bアナ
ログ・コンポーネント・システムに対して、また、他の
Betacamビデオ・フォーマットに対しても、わずかな変
更で同様に適用できる。
Seventh, the measurement method and apparatus may be used for other RGB analog component systems,
The same applies to the Betacam video format with minor changes.

効果 以上に詳細に記述した本発明の測定方法及び装置によ
れば、異なった多数の周波数、または関心のある周波数
範囲における相対遅延を1度の測定で知ることができ、
また、この測定結果を用いて伝送チャンネルの特性の細
かな調整を行うことができる。
Advantages According to the measurement method and apparatus of the present invention described in detail above, the relative delay in a number of different frequencies or frequency ranges of interest can be known in one measurement.
Further, the characteristics of the transmission channel can be finely adjusted using the measurement results.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

第1図は、アナログ・コンポーネント・システムの伝送
チャンネル、並びに本発明による測定装置を示したブロ
ック図。 第2A図、第2B図は、合わさって、本発明の測定装置が使
用する1組の試験信号、並びにそれから生じる差信号の
波形を同一時間軸で示した波形図。 第3図は、遅延マーカ用の異なったカーブを得る元とな
る正弦波を示す図。 第4図は、第2A図及び第2B図に示した差信号を波形表示
器に示した表示例を拡大して示す波形図。 (符号説明) 1、2、3:伝送チャンネル、 4、5、6:入力端子、7、8、9:出力端子、 10:信号発生器、12:差検出器、 14:波形表示器、T1、T2:試験信号、 T1a、T2a:伝送結果の試験信号、 DS:差信号、 SP1〜SP4:第1〜第4の試験信号部分、 I1:前半期間、I2:後半期間、I3:所定の期間、 SS1、SS2:掃引信号、SD:掃引信号の差の波形、 EV1、EV2、EV3:エンベロープ、 f1:下限掃引周波数、f2:上限掃引周波数、 DM1〜DM4:遅延マーカ、 DM1a〜DM4a:各遅延マーカの第1成分、 DM1b〜DM4b:各遅延マーカの第2成分、 S1〜S3:正弦波、 C1〜C3:遅延マーカのカーブ、 FM:周波数マーカ、 FMa、FMb:周波数マーカの第1及び第2成分、 PM:極性マーカ、 PMa、PMb:極性マーカの第1及び第2成分
FIG. 1 is a block diagram showing a transmission channel of an analog component system and a measuring device according to the present invention. FIGS. 2A and 2B are combined waveform diagrams showing a waveform of a set of test signals used by the measuring apparatus of the present invention and a difference signal generated from the pair on the same time axis. FIG. 3 is a diagram showing a sine wave from which a different curve for a delay marker is obtained. FIG. 4 is an enlarged waveform diagram showing a display example in which the difference signal shown in FIGS. 2A and 2B is shown on a waveform display. (Explanation of symbols) 1, 2, 3: Transmission channel, 4, 5, 6: Input terminal, 7, 8, 9: Output terminal, 10: Signal generator, 12: Difference detector, 14: Waveform display, T1 , T2: test signal, T1a, T2a: test signal of transmission result, DS: difference signal, SP1 to SP4: first to fourth test signal parts, I1: first half period, I2: second half period, I3: predetermined period , SS1, SS2: Sweep signal, SD: Waveform of difference between sweep signals, EV1, EV2, EV3: Envelope, f1: Lower sweep frequency, f2: Upper sweep frequency, DM1 to DM4: Delay marker, DM1a to DM4a: Each delay First component of marker, DM1b to DM4b: Second component of each delay marker, S1 to S3: Sine wave, C1 to C3: Curve of delay marker, FM: Frequency marker, FMa, FMb: First and second of frequency marker 2 components, PM: polar marker, PMa, PMb: first and second components of polar marker

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) G01R 27/28 G01R 25/00 H04B 3/46 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (58) Field surveyed (Int.Cl. 6 , DB name) G01R 27/28 G01R 25/00 H04B 3/46

Claims (10)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】2つの伝送チャンネルにおける信号の異な
った複数の周波数での相対遅延を測定する測定方法であ
って、 イ) 第1及び第2の伝送チャンネルの各々の一端に夫
々第1及び第2の試験信号を同期して印加する段階であ
って、該第1及び第2の試験信号は各々、相対遅延の大
きさを測定するため、前記の異なった複数の周波数と等
しい周波数の部分を含みかつ所定エンベロープ波形の振
幅を有した測定用信号を含んでいる、前記の段階、 ロ) 前記伝送チャンネルの各々の他端から伝送した結
果の前記第1及び第2の試験信号を受け、これら試験信
号を互いに組み合わせて、前記伝送チャンネルでの伝搬
中に受けた、前記複数の周波数の各々における遅延の差
の大きさに関する情報を表す振幅を有する遅延差信号を
形成する段階と、 を備え、前記遅延差信号を用いて前記第1及び第2のチ
ャンネルの前記複数の周波数における相対遅延を測定す
る相対遅延測定方法において、 各前記試験信号が、第1、第2及び第3の信号部分を有
しており、 i) 前記第1の試験信号部分は、1つの所定の長さの
区間から成っており、該区間は、前記遅延差の大きさを
測定するため、該区間内の所定の期間部分において、前
記の測定用信号として、周波数が所定の周波数範囲で変
化する前記所定エンベロープ波形の振幅の掃引信号を含
んでおり、 ii) 前記第2の試験信号部分は、少なくとも1つの前
記の区間から成っており、該1つの区間は、前記遅延差
の大きさに関する目盛りを与えるための遅延マーカを、
前記の区間の所定の期間部分において、含んでおり、 iii) 前記第3の試験信号成分は、1つの前記の区間
から成っており、該区間が、前記遅延差が生起している
周波数に関する目盛りを与えるための周波数マーカを、
該区間の前記所定の期間部分において、含んでいるこ
と、 を特徴とする相対遅延測定方法。
1. A method for measuring the relative delay of signals in two transmission channels at different frequencies, the method comprising: a) a first and a second transmission channel at one end of each of the first and second transmission channels, respectively. Applying the two test signals in synchronism, wherein the first and second test signals each include a portion of a frequency equal to the different plurality of frequencies to measure the magnitude of the relative delay. And b) receiving the first and second test signals as a result of transmission from the other end of each of the transmission channels, including the measurement signal having a predetermined envelope waveform amplitude. Combining test signals with each other to form a delay difference signal having an amplitude that is received during propagation on the transmission channel and that represents information about the magnitude of the delay difference at each of the plurality of frequencies; A relative delay measuring method for measuring relative delays of the first and second channels at the plurality of frequencies using the delay difference signal, wherein each of the test signals is a first, a second and a third. I) said first test signal portion comprises a section of a predetermined length, said section being within said section for measuring the magnitude of said delay difference. A predetermined period portion includes a sweep signal having an amplitude of the predetermined envelope waveform whose frequency changes in a predetermined frequency range as the measurement signal; and ii) the second test signal portion includes at least one signal. The one section comprises a delay marker for providing a scale for the magnitude of the delay difference,
Iii) the third test signal component is comprised of one of the intervals, wherein the interval is a scale relating to the frequency at which the delay difference occurs. Frequency marker to give
A relative delay measurement method, wherein the time interval is included in the predetermined period portion of the section.
【請求項2】請求項第1項記載の方法において、更に、 前記遅延差信号の波形を表示する段階、 を含むこと、を特徴とする相対遅延測定方法。2. The method according to claim 1, further comprising the step of displaying a waveform of said delay difference signal. 【請求項3】請求項第2項記載の方法において、 各前記試験信号は、第4の信号部分を有しており、該第
4の試験信号部分は、前記遅延差の極性を測定するため
の極性マーカを含んだ1つの区間から成っていること、 を特徴とする相対遅延測定方法。
3. The method of claim 2, wherein each of the test signals has a fourth signal portion, the fourth test signal portion for measuring the polarity of the delay difference. A relative delay measurement method characterized by comprising one section including the polarity marker of (1).
【請求項4】請求項第3項記載の方法において、 前記表示段階は、前記第1、第2、第3、及び第4の試
験信号成分を成す各前記区間における前記遅延差信号の
波形を重ねて表示すること、 を特徴とする相対遅延測定方法。
4. The method according to claim 3, wherein said displaying step includes the step of forming a waveform of said delay difference signal in each of said sections forming said first, second, third, and fourth test signal components. The relative delay measurement method, which is displayed in a superimposed manner.
【請求項5】請求項第4項記載の方法において、 イ) 前記第1の試験信号部分においては、前記第1及
び第2の試験信号は、同一の前記掃引信号を含んでお
り、 ロ) 前記第2の試験信号成分は、前記所定の期間部分
において、前記所定の周波数範囲に渡って同一の1つの
遅延時間基準値を示す前記遅延マーカを含んでおり、該
遅延マーカは、 i) 前記第1の試験信号に含まれた所定の第1の波形
から成る第1の遅延マーカ成分と、 ii) 前記第2の試験信号に含まれた第2の遅延マーカ
成分であって、 前記第1の波形に対し前記所定の期間部分に渡って所定
のレベル差関係を有する所定の第2の波形を有してお
り、そのレベル差が、前記所定の周波数範囲に渡って同
一の大きさの遅延差時間を表すようになっている、前記
第2の遅延マーカ成分と、 から成っており、 ハ) 前記第3の試験信号成分は、前記所定の期間部分
内において、前記所定の周波数範囲内の少なくとも1つ
の周波数を示す前記周波数マーカを有しており、該周波
数マーカは、 i) 前記第1の試験信号に含まれた、所定の一定レベ
ルの波形から成る第1の周波数マーカ成分と、 ii) 前記第2の試験信号に含まれた、インパルスから
成る第2の周波数マーカ成分であって、該インパルスの
前記所定の期間部分内の位置は、前記掃引波形内の対応
する周波数部分の前記所定の期間部分内における位置に
一致している、前記の第2の周波数マーカ成分と、 から成っており、 ニ) 前記第4の試験信号部分においては、前記第1及
び第2の試験信号は、前記極性マーカの第1及び第2の
成分として、夫々同一の波形を有していること、 を特徴とする相対遅延測定方法。
5. The method according to claim 4, wherein a) in the first test signal portion, the first and second test signals include the same sweep signal; The second test signal component includes the delay marker indicating the same one delay time reference value over the predetermined frequency range in the predetermined period portion, wherein the delay marker is: A first delay marker component comprising a predetermined first waveform included in a first test signal; and ii) a second delay marker component included in the second test signal, wherein Has a predetermined second waveform having a predetermined level difference relationship over the predetermined period portion, and the level difference is the same magnitude of delay over the predetermined frequency range. Said second delay marker adapted to represent a time difference. And c) the third test signal component has the frequency marker indicating at least one frequency within the predetermined frequency range within the predetermined period portion, and The frequency marker includes: i) a first frequency marker component including a predetermined constant level waveform included in the first test signal; and ii) a first frequency marker component including an impulse included in the second test signal. The second frequency marker component, wherein a position of the impulse within the predetermined period portion coincides with a position of a corresponding frequency portion within the sweep waveform within the predetermined period portion. D) In the fourth test signal portion, the first and second test signals are the same as the first and second components of the polarity marker, respectively. Waveform Having a relative delay measurement method.
【請求項6】2つの伝送チャンネルにおける信号の異な
った複数の周波数での相対遅延を測定する相対遅延測定
装置であって、 イ) 第1及び第2の伝送チャンネルの各々の一端に夫
々印加する第1及び第2の試験信号を発生する試験信号
発生手段であって、該第1及び第2の試験信号は各々、
相対遅延の大きさを測定するため、前記の異なった複数
の周波数に等しい部分を含みかつ所定エンベロープの振
幅を有した測定用信号を含んでいる、前記の試験信号発
生手段と、 ロ) 前記伝送チャンネルの各々の他端から伝送した結
果の前記第1及び第2の試験信号を受け、これら試験信
号を互いに組み合わせて、前記伝送チャンネルでの伝搬
中に受けた、前記複数の周波数の各々における遅延の差
に関する情報を表す振幅を有する遅延差信号を形成する
信号処理手段と、 を備え、前記遅延差信号を用いて前記第1及び第2のチ
ャンネルの前記複数の周波数における相対遅延を測定す
る相対遅延測定装置において、 各前記試験信号が、第1、第2及び第3の信号部分を有
しており、 i) 前記第1の試験信号部分は、1つの所定の長さの
区間から成っており、該区間は、前記遅延差の大きさを
測定するため、該区間内の所定の期間部分において、前
記の測定用信号として、周波数が所定の周波数範囲で変
化する前記所定エンベロープ波形の振幅の掃引信号を含
んでおり、 ii) 前記第2の試験信号部分は、少なくとも1つの前
記の区間から成っており、該1つの区間は、前記遅延差
の大きさに関する目盛りを与えるための遅延マーカを、
前記の区間の所定の期間部分において、含んでおり、 iii) 前記第3の試験信号成分は、1つの前記の区間
から成っており、該区間が、前記遅延差が生起している
周波数に関する目盛りを与えるための周波数マーカを、
該区間の前記所定の期間部分において、含んでいるこ
と、 を特徴とする相対遅延測定装置。
6. A relative delay measuring device for measuring a relative delay of a signal in two transmission channels at a plurality of different frequencies, a) applying the signal to one end of each of a first and a second transmission channel. Test signal generating means for generating first and second test signals, wherein the first and second test signals are respectively
Said test signal generating means for measuring the magnitude of the relative delay, said test signal generating means including a measuring signal having a portion equal to said plurality of different frequencies and having a predetermined envelope amplitude; Receiving the first and second test signals as a result of transmission from the other end of each of the channels, combining the test signals with each other, and receiving a delay at each of the plurality of frequencies during propagation on the transmission channel; Signal processing means for forming a delay difference signal having an amplitude representing information on a difference between the first and second channels, the relative difference being measured at the plurality of frequencies using the delay difference signal. In the delay measuring apparatus, each of the test signals has a first, a second, and a third signal portion; i) the first test signal portion has a length of one predetermined length; The section comprises the predetermined envelope waveform whose frequency changes in a predetermined frequency range as the measurement signal in a predetermined period portion within the section in order to measure the magnitude of the delay difference. Ii) said second test signal portion comprises at least one said interval, said one interval for providing a scale for the magnitude of said delay difference. The delay marker,
Iii) the third test signal component comprises one of the intervals, wherein the interval is a scale relating to the frequency at which the delay difference occurs. Frequency marker to give
A relative delay measuring device, wherein:
【請求項7】請求項第6項記載の装置において、更に、 前記遅延差信号の波形を表示する表示手段、 を含むこと、を特徴とする相対遅延測定装置。7. The relative delay measuring device according to claim 6, further comprising display means for displaying a waveform of said delay difference signal. 【請求項8】請求項第7項記載の装置において、 各前記試験信号は、第4の信号部分を有しており、該第
4の試験信号部分は、前記遅延差の極性を測定するため
の極性マーカを含んだ1つの区間から成っていること、 を特徴とする相対遅延測定装置。
8. The apparatus of claim 7, wherein each said test signal has a fourth signal portion, said fourth test signal portion for measuring the polarity of said delay difference. A relative delay measuring device, comprising one section including a polarity marker of (1).
【請求項9】請求項第8項記載の装置において、 前記表示手段は、前記第1、第2、第3、及び第4の信
号部分を成す各前記区間における前記遅延差信号の波形
を重ねて表示すること、 を特徴とする相対遅延測定装置。
9. The apparatus according to claim 8, wherein said display means superimposes the waveform of said delay difference signal in each of said sections forming said first, second, third and fourth signal portions. And displaying the relative delay.
【請求項10】請求項第9項記載の装置において、 イ) 前記第1の試験信号部分においては、前記第1及
び第2の試験信号は、同一の前記掃引信号を含んでお
り、 ロ) 前記第2の試験信号成分は、前記所定の期間部分
においては、前記所定の周波数範囲に渡って同一の1つ
の遅延信号基準値を示す前記遅延マーカを含んでおり、
該遅延マーカは、 i) 前記第1の試験信号に含まれた所定の第1の波形
から成る第1の遅延マーカ成分と、 ii) 前記第2の試験信号に含まれた第2の遅延マーカ
成分であって、前記第1の波形に対し前記所定の期間部
分に渡って所定のレベル差関係を有する所定の第2の波
形を有しており、そのレベル差が、前記所定の周波数範
囲に渡って同一の大きさの遅延差時間を表すようになっ
ている、前記第2の遅延マーカ成分と、 から成っており、 ハ) 前記第3の試験信号成分は、前記所定の期間部分
内において、前記所定の周波数範囲内の少なくとも1つ
の周波数を示す前記周波数マーカを有しており、該周波
数マーカは、 i) 前記第1の試験信号に含まれた、所定の一定レベ
ルの波形から成る第1の周波数マーカ成分と、 ii) 前記第2の試験信号に含まれた、インパルスから
成る第2の周波数マーカ成分であって、該インパルスの
前記所定の期間部分内の位置は、前記掃引波形内の対応
する周波数部分の前記所定の期間部分内における位置に
一致している、前記の第2の周波数マーカ成分と、 から成っており、 ニ) 前記第4の試験信号部分においては、前記第1及
び第2の試験信号は、前記極性マーカの第1及び第2の
成分として、夫々同一の波形を有していること、 を特徴とする相対遅延測定装置。
10. The apparatus according to claim 9, wherein: a) in said first test signal portion, said first and second test signals include the same sweep signal; The second test signal component includes, in the predetermined period portion, the delay marker indicating the same one delayed signal reference value over the predetermined frequency range,
The delay marker includes: i) a first delay marker component including a predetermined first waveform included in the first test signal; and ii) a second delay marker included in the second test signal. A predetermined second waveform having a predetermined level difference relationship over the predetermined period portion with respect to the first waveform, and the level difference falls within the predetermined frequency range. And a second delay marker component adapted to represent a delay difference time of the same magnitude across the third test signal component within the predetermined period portion. , Said frequency marker indicating at least one frequency within said predetermined frequency range, said frequency marker comprising: i) a first constant-level waveform included in said first test signal. 1) a frequency marker component, and ii) the second A second frequency marker component comprised of an impulse included in the test signal, wherein a position of the impulse within the predetermined period portion is within a corresponding frequency portion of the sweep waveform within the predetermined period portion. And d) the second frequency marker component is coincident with the position. D) In the fourth test signal portion, the first and second test signals are the second of the polarity markers. The relative delay measuring device, wherein each of the first and second components has the same waveform.
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