JP2868721B2 - Substrate processing equipment - Google Patents
Substrate processing equipmentInfo
- Publication number
- JP2868721B2 JP2868721B2 JP8590596A JP8590596A JP2868721B2 JP 2868721 B2 JP2868721 B2 JP 2868721B2 JP 8590596 A JP8590596 A JP 8590596A JP 8590596 A JP8590596 A JP 8590596A JP 2868721 B2 JP2868721 B2 JP 2868721B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- processing
- processing liquid
- substrate
- alarm
- type
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 238000012545 processing Methods 0.000 title claims description 636
- 239000000758 substrate Substances 0.000 title claims description 253
- 239000007788 liquid Substances 0.000 claims description 369
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 130
- 238000003860 storage Methods 0.000 claims description 85
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 24
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 claims description 14
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 claims description 2
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 44
- 238000004528 spin coating Methods 0.000 description 44
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 41
- 238000007781 pre-processing Methods 0.000 description 18
- 238000012805 post-processing Methods 0.000 description 14
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 9
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 9
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 8
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 7
- 238000007599 discharging Methods 0.000 description 7
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 7
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 4
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 229920002120 photoresistant polymer Polymers 0.000 description 4
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 3
- 230000003028 elevating effect Effects 0.000 description 3
- CSCPPACGZOOCGX-UHFFFAOYSA-N Acetone Chemical compound CC(C)=O CSCPPACGZOOCGX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000001174 ascending effect Effects 0.000 description 2
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 2
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 2
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 2
- 238000011084 recovery Methods 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 238000007711 solidification Methods 0.000 description 2
- 230000008023 solidification Effects 0.000 description 2
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 2
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 2
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 description 1
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 description 1
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 239000010408 film Substances 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 1
- 230000013011 mating Effects 0.000 description 1
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 1
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 1
- 229910021642 ultra pure water Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000012498 ultrapure water Substances 0.000 description 1
- 238000011144 upstream manufacturing Methods 0.000 description 1
- 238000005406 washing Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Cleaning By Liquid Or Steam (AREA)
- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
- Cleaning Or Drying Semiconductors (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体ウエハや液
晶パネル用のガラス板といった種々の基板に所要の処理
液を供給し、基板洗浄,フォトレジスト膜等の薄膜形成
や現像等の処理を施す基板処理装置に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention supplies various substrates such as semiconductor wafers and glass plates for liquid crystal panels with required processing liquids, and carries out processes such as substrate cleaning, thin film formation such as a photoresist film and development. The present invention relates to a substrate processing apparatus.
【0002】[0002]
【従来の技術】この種の基板処理装置は、例えば、基板
を回転可能に支持した状態で、フォトレジストや現像液
あるいは超純水等の各種処理液を基板に吐出してこれを
処理することから、基板がセットされる処理機器や基板
に対して処理液を吐出する処理液吐出ノズルを含む処理
液供給系統を備える。また、こうした処理液供給系統の
ほか、使用する処理液の種類,吐出量等の処理条件のデ
ータを含んだ基板処理手順を記憶する記憶機器等を備え
る。2. Description of the Related Art A substrate processing apparatus of this type discharges various processing liquids such as a photoresist, a developing solution or ultrapure water onto a substrate while the substrate is rotatably supported, and processes the substrate. And a processing liquid supply system including a processing liquid discharge nozzle for discharging a processing liquid to the processing equipment on which the substrate is set or the substrate. In addition to such a processing liquid supply system, a storage device or the like for storing a substrate processing procedure including processing condition data such as a type of processing liquid to be used and a discharge amount is provided.
【0003】基板処理に使用する処理液は通常、複数種
用いられるので、前記処理液供給系統は、それに合わせ
て複数系統設けられている。即ち、処理液の種類の数に
相当する数の処理液吐出ノズルを備えており、各処理液
吐出ノズルに対して各処理液を個別に収容する各貯留容
器がそれぞれ接続されている。Since a plurality of types of processing liquids are generally used for substrate processing, a plurality of processing liquid supply systems are provided in accordance with the processing liquids. That is, a plurality of processing liquid discharge nozzles corresponding to the number of types of processing liquid are provided, and each storage container for individually storing each processing liquid is connected to each processing liquid discharge nozzle.
【0004】基板の処理を開始するに当たって、記憶機
器に記憶された基板処理手順が特定されると、その基板
処理手順に規定された種類の処理液がその規定された吐
出量だけ処理液吐出ノズルから吐出されることになる。
この処理液の吐出に際しては、各処理液吐出ノズルと各
貯留容器とをそれぞれ接続する配管における吐出ポンプ
や開閉弁等に制御信号を出力してこれら各機器を駆動制
御する作業が行なわれる。When a substrate processing procedure stored in a storage device is specified when starting processing of a substrate, a processing liquid of the type specified in the substrate processing procedure is discharged by a processing liquid discharge nozzle by the specified discharge amount. Will be ejected.
In discharging the processing liquid, a control signal is output to a discharge pump, an opening / closing valve, and the like in a pipe connecting each processing liquid discharge nozzle and each storage container to drive and control each of these devices.
【0005】ところで、こうした構成の基板処理装置で
は、処理液の残量を検知する手段としての処理液残量セ
ンサを各貯留容器に備えている。この基板処理装置で
は、処理液残量センサにより検出された各貯留容器内の
処理液の残量が所定量以下となると、処理液が不足した
として、警報を外部に発令し、時には、その警報の発令
とともに装置を強制的に停止させていた。Incidentally, in the substrate processing apparatus having such a configuration, each storage container is provided with a processing liquid remaining amount sensor as a means for detecting the remaining amount of the processing liquid. In this substrate processing apparatus, when the remaining amount of the processing liquid in each storage container detected by the processing liquid remaining amount sensor becomes equal to or less than a predetermined amount, an alarm is issued to the outside that the processing liquid is insufficient, and sometimes the alarm is issued. The equipment was forcibly shut down with the announcement.
【0006】なお、こうした基板処理装置では、もとも
と使用するつもりがない処理液の不足に基づく装置停止
を避けるため、各処理液残量センサからの信号を切る警
報中断スイッチを設けた構成のものが提案されていた。
即ち、かかる基板処理装置では、処理液残量センサの個
々に対応する複数の警報中断スイッチが設けられてお
り、任意の警報中断スイッチが押圧されることで、その
警報中断スイッチに対応した処理液残量センサで処理液
の残量不足が検知された場合にも、警報が発令された
り、装置が強制的に停止させられたりすることがなくな
る。Incidentally, in such a substrate processing apparatus, in order to avoid a stoppage of the apparatus due to a shortage of processing liquid which is not originally intended to be used, an alarm interrupt switch for cutting off a signal from each processing liquid remaining amount sensor is provided. Had been proposed.
That is, in such a substrate processing apparatus, a plurality of alarm interrupt switches corresponding to the respective processing liquid remaining amount sensors are provided, and when an arbitrary alarm interrupt switch is pressed, the processing liquid corresponding to the alarm interrupt switch is pressed. Even when the remaining amount of the processing liquid is detected by the remaining amount sensor, an alarm is not issued or the apparatus is not forcibly stopped.
【0007】[0007]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前記従
来の基板処理装置では、警報中断スイッチの操作がオペ
レータ等の人間の手によるものであることから、所望の
ものとは異なる警報中断スイッチを誤って押圧してしま
うことがあった。この結果、基板処理に使用される処理
液に関しても処理液残量センサからの検出信号を切って
しまうといったことが起こり、その処理液の残量が不足
してきた場合に、大量のロット不良が発生した。However, in the above-mentioned conventional substrate processing apparatus, since the operation of the alarm suspending switch is manually performed by an operator or the like, the alarm suspending switch different from the desired one is erroneously operated. There were times when they were pressed. As a result, the detection signal from the processing solution remaining amount sensor may be cut off with respect to the processing solution used for the substrate processing, and when the remaining amount of the processing solution becomes insufficient, a lot of lot defects occur. did.
【0008】本発明の基板処理装置は、こうした問題点
に鑑みてなされたもので、処理液の残量不足を検知する
に際して、もともと使用するつもりがない処理液の特定
を高精度に行なうことで、不良ロットの発生を防止する
ことを目的とする。The substrate processing apparatus of the present invention has been made in view of such a problem, and when detecting the shortage of the remaining amount of the processing liquid, the processing liquid which is not originally intended to be used is specified with high accuracy. And to prevent the occurrence of defective lots.
【0009】[0009]
【課題を解決するための手段およびその作用・効果】こ
のような目的を達成すべく、前記課題を解決するための
手段として、以下に示す構成をとった。Means for Solving the Problems and Their Functions and Effects In order to achieve such an object, the following structure is adopted as means for solving the problems.
【0010】即ち、本発明の基板処理装置は、基板に処
理液を供給する基板処理部と、該基板処理部に対して供
給する複数の処理液を個別に収容する複数の処理液収容
部と、前記処理液収容部に収容された処理液を各処理液
収容部から基板処理部に対して供給する複数の処理液供
給手段と、基板処理部に供給の必要な処理液の種類や供
給量を含む各種処理条件を少なくとも規定する基板処理
手順を記憶する記憶手段と、前記記憶手段に記憶された
基板処理手順に基づき前記複数の処理液供給手段から少
なくとも一つの処理液供給手段を選択的に制御して基板
処理の実行を制御する制御手段とを備える基板処理装置
であって、各処理液収容部内の処理液の量を検出する処
理液量検出手段と、前記処理液量検出手段の検出結果か
ら任意の処理液収容部内の処理液が不足していることを
検知する不足検知手段と、前記不足検知手段で任意の処
理液収容部内の処理液が不足していることが検知された
とき、異常である旨の決定を行なう異常決定手段とを設
け、さらに、前記記憶手段に記憶された基板処理手順内
に、前記不足検知手段で不足していると検知された処理
液の種類が規定されているか否かを判別する処理手順内
判別手段と、前記判別手段により前記処理液の種類が規
定されていないと判別されたとき、前記異常決定手段に
よる異常である旨の決定を解除する異常決定解除手段と
を設けたことを、その要旨としている。That is, a substrate processing apparatus according to the present invention comprises a substrate processing section for supplying a processing liquid to a substrate, and a plurality of processing liquid storage sections for individually storing a plurality of processing liquids to be supplied to the substrate processing section. A plurality of processing liquid supply means for supplying the processing liquid stored in the processing liquid storage section from each processing liquid storage section to the substrate processing section, and the type and supply amount of the processing liquid required to be supplied to the substrate processing section Storage means for storing a substrate processing procedure at least defining various processing conditions including: and selectively selecting at least one processing liquid supply means from the plurality of processing liquid supply means based on the substrate processing procedure stored in the storage means. A substrate processing apparatus comprising: a control unit that controls execution of substrate processing by controlling the amount of processing liquid in each processing liquid storage unit; and detecting the processing liquid amount by the processing liquid amount detection unit. Arbitrary processing solution collection from the results A shortage detection unit that detects that the processing liquid in the unit is short, and a determination that there is an abnormality when the shortage detection unit detects that the processing liquid in any processing liquid storage unit is short. Determining whether or not the type of the processing liquid detected to be insufficient by the shortage detection unit is specified in the substrate processing procedure stored in the storage unit. An in-procedure determining means, and an abnormality determination canceling means for canceling the abnormality determination by the abnormality determining means when it is determined that the type of the processing liquid is not specified by the determining means. That is the gist.
【0011】上記構成の基板処理装置は、処理液収容部
内に収容されている処理液の量を、処理液量検出手段に
より検出し、その検出結果から不足検知手段により処理
液が不足していることが検知されると、異常決定手段に
より異常である旨の決定を行なうが、さらに、記憶手段
に記憶された基板処理手順内に前記不足していると検知
された処理液の種類が規定されていないと、処理手順内
判別手段により判別されたときには、前記異常決定手段
による異常である旨の決定を、異常決定解除手段により
解除する。In the substrate processing apparatus having the above structure, the amount of the processing liquid stored in the processing liquid storage section is detected by the processing liquid amount detecting means, and the shortage detecting means detects the shortage of the processing liquid based on the detection result. When the abnormality is detected, the abnormality determining means determines that the processing liquid is abnormal.Furthermore, the type of the processing liquid detected to be insufficient is defined in the substrate processing procedure stored in the storage means. Otherwise, when it is determined by the in-procedure determination means, the abnormality determination means cancels the determination of the abnormality by the abnormality determination means.
【0012】このため、処理液の残量不足を判定するに
際して、不足している処理液が、現在行おうとしている
処理に使用する処理液の種類に該当するか否かを確実に
判別することができることから、誤操作に基づく不良ロ
ットの発生を防止することができる。For this reason, when judging the shortage of the remaining amount of the processing liquid, it is necessary to reliably determine whether or not the insufficient processing liquid corresponds to the type of the processing liquid used for the processing to be performed at present. Therefore, it is possible to prevent the occurrence of a defective lot due to an erroneous operation.
【0013】さらには、不足する処理液が、基板処理手
順内に規定される処理液の種類に該当しない場合、即
ち、現在行なおうとしている処理に使用する処理液の種
類に該当しない場合に、警報を外部に発令したり装置を
強制的に停止させたりすることがない。従って、現在行
なおうとしている処理に使用する処理液が十分にある場
合に、使用されない処理液の不足が検知されたとして、
警報を外部に発令したり装置を強制的に停止させたりす
ることがないことから、作業効率の向上も図ることがで
きる。Further, when the shortage of the processing liquid does not correspond to the type of the processing liquid specified in the substrate processing procedure, that is, when the processing liquid does not correspond to the type of the processing liquid used for the processing to be performed at present. In addition, no alarm is issued to the outside or the device is forcibly stopped. Therefore, if there is a sufficient amount of processing liquid to be used for the processing to be performed at present, it is determined that a shortage of unused processing liquid is detected.
Since there is no need to issue an alarm to the outside or to forcibly stop the device, it is possible to improve the working efficiency.
【0014】[0014]
【発明の実施の形態】次に、本発明に係る基板処理装置
(回転式基板処理装置)の好適な実施例について、図面
に基づき説明する。まず、本実施例の回転式基板処理装
置の概要について、当該装置の概略斜視図である図1を
用いて簡単に説明する。Next, a preferred embodiment of a substrate processing apparatus (rotary substrate processing apparatus) according to the present invention will be described with reference to the drawings. First, the outline of the rotary substrate processing apparatus of the present embodiment will be briefly described with reference to FIG. 1 which is a schematic perspective view of the apparatus.
【0015】回転式基板処理装置1は、半導体ウエハ等
の基板を回転させ、この基板表面にフォトレジスト等を
回転塗布して熱処理するための装置であり、図1に示す
ように、基板供給部と基板処理部とに大別される。な
お、以下の説明に当たっては、この両者を呼称上明確に
区別するために、前者の基板供給部を基板授受ユニット
2と称し、基板処理部をプロセス処理ユニット3と称す
ることとする。The rotary type substrate processing apparatus 1 is an apparatus for rotating a substrate such as a semiconductor wafer, spin-coating a photoresist or the like on the surface of the substrate and heat-treating the substrate. As shown in FIG. And a substrate processing unit. In the following description, the former substrate supply unit is referred to as a substrate transfer unit 2 and the substrate processing unit is referred to as a process processing unit 3 in order to clearly distinguish the two from each other.
【0016】基板授受ユニット2は、基板Wを多段に収
納したカセットC1ないしC4から基板Wを取り出して
基板受け渡し位置である基板授受位置Pまで移送した
り、この基板授受位置Pから基板Wを移送して基板の収
納が可能ないずれかのカセット内へ基板Wを収納する。
プロセス処理ユニット3は、後述するように基板に所要
の処理液を供給して回転処理を施す回転処理機器を含む
複数の各種処理機器等を備え、これら各処理機器等を駆
動して基板を処理する。The substrate transfer unit 2 takes out the substrates W from the cassettes C1 to C4 in which the substrates W are stored in multiple stages and transfers the substrates W to a substrate transfer position P which is a substrate transfer position, or transfers the substrates W from the substrate transfer position P. Then, the substrate W is stored in one of the cassettes capable of storing the substrate.
The process processing unit 3 includes a plurality of various processing devices including a rotary processing device that supplies a required processing liquid to the substrate and performs a rotation process as described later, and drives each of the processing devices to process the substrate. I do.
【0017】次に、前記各ユニットについて説明する。
基板授受ユニット2は、図1に示すように、カセット設
置台4の上面に、基板Wを多段に収納した2基のカセッ
トC1,C2と基板未収納の2基のカセットC3,C4
を備える。また、各カセットから基板Wを取り出してプ
ロセス処理ユニット3へ供給したり、各カセット内に基
板Wを収納したりするための基板移送機器6を、カセッ
トC1ないしC4の並びに沿った図中矢印D方向に水平
移動自在に備える。Next, each of the units will be described.
As shown in FIG. 1, the substrate transfer unit 2 includes two cassettes C1 and C2 storing the substrates W in multiple stages and two cassettes C3 and C4 not storing the substrates, on the upper surface of the cassette mounting table 4.
Is provided. Further, the substrate transfer device 6 for taking out the substrate W from each cassette and supplying the substrate W to the processing unit 3 and storing the substrate W in each cassette is connected to the cassettes C1 to C4 by arrows D in FIG. To be able to move horizontally in any direction.
【0018】そして、カセット設置台4の前面には、こ
の基板授受ユニット2や後述するプロセス処理ユニット
3に種々の指示を与えるための主操作パネル5が組み込
まれている。この主操作パネル5は、種々の設定や数値
入力を行なうためのキーボード5a(図5参照)と、こ
のキーボード5aからの指示に基づき種々の表示を行な
うディスプレイ5b(図5参照)とを備える。A main operation panel 5 for giving various instructions to the substrate transfer unit 2 and a process unit 3 to be described later is incorporated in the front surface of the cassette mounting table 4. The main operation panel 5 includes a keyboard 5a (see FIG. 5) for performing various settings and numerical inputs, and a display 5b (see FIG. 5) for performing various displays based on instructions from the keyboard 5a.
【0019】基板移送機器6は、図1に示すように、基
板Wをその下面で吸引・吸着する基板吸着アーム7を、
カセットにおける基板Wの積み重ね方向に沿って昇降可
能で、且つ、図示するカセット手前の待機位置とカセッ
ト内に進入した取り出し位置との間に渡って図中矢印E
方向に前後動可能に備える。As shown in FIG. 1, the substrate transfer device 6 includes a substrate suction arm 7 for sucking and sucking the substrate W on its lower surface.
The arrow E in the drawing can move up and down along the stacking direction of the substrates W in the cassette, and extends between a standby position before the illustrated cassette and a take-out position that has entered the cassette.
Prepare to be able to move back and forth in the direction.
【0020】このため、基板移送機器6を図中矢印D方
向に水平移動させて所望のカセットの正面まで移動し、
その後、当該カセットにおける所望段の基板収納溝に対
応する高さまでの基板吸着アーム7の上昇,カセット内
への基板吸着アーム7の進入,基板吸着アーム7の僅か
な再上昇,基板吸着アーム7の後退,基板吸着アーム7
の降下を順次行なえば、カセットからの基板Wの取り出
しが完了する。また、この逆の手順で基板吸着アーム7
を移動させれば、カセット内への基板Wの収納が完了す
る。For this reason, the substrate transfer device 6 is moved horizontally in the direction of arrow D in the figure to the front of the desired cassette,
Thereafter, the substrate suction arm 7 is raised to a height corresponding to the substrate storage groove at a desired stage in the cassette, the substrate suction arm 7 enters the cassette, the substrate suction arm 7 is slightly raised again, and the substrate suction arm 7 is lifted. Retreat, substrate suction arm 7
Are sequentially performed, the removal of the substrate W from the cassette is completed. Also, the substrate suction arm 7 is operated in the reverse order.
Is moved, the storage of the substrate W in the cassette is completed.
【0021】こうして、カセット内から取り出された基
板は、この基板移送機器6により基板授受位置Pに移送
された後、後述するプロセス処理ユニット3付属の基板
搬送機器37に受け渡され、当該ユニットにおける回転
塗布機器等に、順次搬送されて処理される。また、処理
が完了した処理済み基板は、基板搬送機器37により基
板授受位置Pに返却された後、基板移送機器6により所
定のカセット内に収納される。The substrate taken out of the cassette is transferred to the substrate transfer position P by the substrate transfer device 6 and then transferred to a substrate transfer device 37 attached to the processing unit 3 to be described later. It is sequentially conveyed to a spin coating device or the like for processing. The processed substrate that has been processed is returned to the substrate transfer position P by the substrate transfer device 37, and then stored in a predetermined cassette by the substrate transfer device 6.
【0022】基板移送機器6は、前記基板吸着アーム7
のほか、基板吸着アーム7でカセットから取り出した基
板Wを水平に支持するために、図示しない3本の支持ピ
ンをその基台9に昇降自在に備える。また、これら各支
持ピンに支持された基板Wの中心位置合わせを行なうた
めに、基板Wの外径と略同一の曲率となるような配列で
それぞれ突設させた4本の案内ピンを有する位置合わせ
板10を、基台9の両側に水平往復動自在に備える。よ
って、基台9から上昇した各支持ピンにより基板Wが支
持された状態で、各位置合わせ板10を水平往復動させ
ると、各案内ピンが基板Wの外周に当接・離間するた
め、基板Wの中心位置合わせが完了する。The substrate transfer device 6 includes the substrate suction arm 7
In addition, in order to horizontally support the substrate W taken out of the cassette by the substrate suction arm 7, three support pins (not shown) are provided on the base 9 so as to be vertically movable. In order to align the center of the substrate W supported by each of the support pins, a position having four guide pins projecting from each other in an array having a curvature substantially equal to the outer diameter of the substrate W is provided. A mating plate 10 is provided on both sides of the base 9 so as to freely reciprocate horizontally. Therefore, when each alignment plate 10 is reciprocated horizontally while the substrate W is supported by the support pins raised from the base 9, each guide pin comes into contact with and separates from the outer periphery of the substrate W. The center alignment of W is completed.
【0023】また、カセット設置台4上面には、処理す
べき基板を収納したカセットであることや基板処理手順
を特定するのに必要な手順番号数値コードやカセット単
位の処理順序等を入力するためカセットコントロールパ
ネル18(図5参照)が備え付けられている。さらに、
各カセット内に収納されている基板Wの有無を検出する
ための基板検出用の光センサ24(図5参照)が備え付
けられている。この光センサ24は、光センサ昇降機構
25(図5参照)によりカセットに沿って上昇する間に
おいて、カセット内における基板有無をカセットにおけ
る基板収納溝の段数に対応付けて一括して検出する。な
お、基板収納溝の段数との対応付けは、カセットの基板
収納溝と同ピッチのスリットの移動状態に基づいてタイ
ミング検出センサ42(図5参照)が生成するパルスを
用いて行なわれる。Further, on the upper surface of the cassette mounting table 4, a cassette number accommodating a substrate to be processed, a procedure number numerical code required for specifying a substrate processing procedure, a processing order in cassette units, and the like are input. A cassette control panel 18 (see FIG. 5) is provided. further,
A substrate detection optical sensor 24 (see FIG. 5) for detecting the presence or absence of the substrate W stored in each cassette is provided. The optical sensor 24 collectively detects the presence or absence of a substrate in the cassette while ascending along the cassette by the optical sensor elevating mechanism 25 (see FIG. 5) in association with the number of substrate storage grooves in the cassette. Note that the correspondence with the number of steps of the substrate storage groove is performed using a pulse generated by the timing detection sensor 42 (see FIG. 5) based on the moving state of the slit having the same pitch as the substrate storage groove of the cassette.
【0024】前述した基板授受ユニット2から基板を受
け取りこれを処理するプロセス処理ユニット3は、図1
に示すように、回転する基板表面に処理液(薬液)を滴
下して薄膜を形成する回転塗布機器31,32や、回転
塗布機器で処理を行なう前後に基板を熱処理(加熱・冷
却)する熱処理機器33,34,35を備える。さら
に、各回転塗布機器31,32及び熱処理機器33,3
4,35の並びに図中矢印A方向に水平移動自在な基板
搬送機器37を備える。なお、図示するように、各熱処
理機器は、それぞれ上段に加熱用熱処理機器を、下段に
冷却用熱処理機器をそれぞれ備える。A process processing unit 3 which receives a substrate from the substrate transfer unit 2 described above and processes the substrate is shown in FIG.
As shown in (1), spin coating devices 31 and 32 for forming a thin film by dropping a processing liquid (chemical solution) on the surface of a rotating substrate, and heat treatment for heating (heating and cooling) the substrate before and after processing with the spin coating device. The devices 33, 34, and 35 are provided. Further, each of the spin coating devices 31 and 32 and the heat treatment devices 33 and 3
4 and 35 are provided with a substrate transfer device 37 that can move horizontally in the direction of arrow A in the figure. As shown in the figure, each heat treatment device includes a heating heat treatment device in an upper stage and a cooling heat treatment device in a lower stage.
【0025】回転塗布機器31,32は、3本の処理液
吐出ノズルを有するノズル機構41,42を図示する待
機位置から、図中矢印F方向に昇降自在に、且つ、回転
塗布機器中心に渡って図中矢印G方向に旋回自在に備え
る。そして、このノズル機構41,42を後述するよう
に図示する待機位置から所定の吐出位置まで移動させ、
吐出位置にていずれかの処理液吐出ノズルから処理液を
吐出する。また、各回転塗布機器31,32は、その前
面に、処理液吐出量や処理液種類,基板回転数等を指定
するための後述する各種押しボタンと、種々の文字列や
数値等を表示する表示器等を有し、通常はプロセス処理
ユニット3の本体内に収納されている副操作パネル31
A,32Aを備える。また、プロセス処理ユニット3の
本体前面には、複数の残量警報中断押しボタン36(後
述する)を備えた特別操作パネル36Aも備える。The spin coating devices 31 and 32 are vertically movable in the direction of arrow F in the drawing from nozzle positions 41 and 42 having three processing liquid discharge nozzles and extend over the center of the spin coating device. To be rotatable in the direction of arrow G in the figure. Then, as described later, the nozzle mechanisms 41 and 42 are moved from the illustrated standby position to a predetermined discharge position,
The processing liquid is discharged from any of the processing liquid discharge nozzles at the discharge position. Each of the spin coating devices 31 and 32 displays, on the front surface thereof, various push buttons, which will be described later, for specifying a processing liquid discharge amount, a processing liquid type, a substrate rotation speed, and the like, and various character strings and numerical values. A sub-operation panel 31 having a display and the like and usually housed in the main body of the process processing unit 3
A, 32A. In addition, a special operation panel 36A provided with a plurality of remaining amount alarm interruption push buttons 36 (described later) is provided on the front surface of the main body of the process processing unit 3.
【0026】次に、回転塗布機器31,32におけるノ
ズル機構41,42のノズル先端部周辺の構成につい
て、図2を用いて説明する。なお、この両回転塗布機器
は、その構成がほぼ同一なので、回転塗布機器31の説
明にとどめる。図2に示すように、載置された基板Wを
吸着保持しこれをモータ43により回転させる回転体4
4の周囲には、基板Wを包囲するようチャンバー45が
設けられている。このチャンバー45底部には、チャン
バー45内の空気を強制的に排気する排気管46と、チ
ャンバー45底部に溜まった余剰処理液又は使用済み処
理液を排出する排出管47が連通されている。なお、モ
ータ43下部には、その回転数を検出する回転数センサ
43aが設けられており、その検出回転数は後述する回
転塗布機器コントローラ31Bに出力される。Next, the structure around the nozzle tip of the nozzle mechanisms 41 and 42 in the spin coating devices 31 and 32 will be described with reference to FIG. Note that the two spin coating devices have almost the same configuration, and thus only the spin coating device 31 will be described. As shown in FIG. 2, a rotating body 4 that sucks and holds the placed substrate W and rotates it by a motor 43.
A chamber 45 is provided around the substrate 4 so as to surround the substrate W. An exhaust pipe 46 for forcibly exhausting the air in the chamber 45 and a discharge pipe 47 for discharging the surplus processing liquid or the used processing liquid accumulated in the bottom of the chamber 45 are connected to the bottom of the chamber 45. A rotation speed sensor 43a for detecting the rotation speed is provided below the motor 43, and the detected rotation speed is output to a spin coating device controller 31B described later.
【0027】また、排出管47下方に、処理済み処理液
を貯留する貯留容器48を取り出し自在に備えた処理液
回収箱49を備え、排出管47から流出した排出処理液
50を貯留容器48内に貯留する。処理液回収箱49に
は、貯留容器48に貯留された排出処理液50表面から
の処理液蒸気を排気する処理液蒸気排気管51が立設さ
れている。A processing liquid recovery box 49 is provided below the discharge pipe 47 so that a storage container 48 for storing the processed processing liquid can be taken out. The discharged processing liquid 50 flowing out of the discharge pipe 47 is stored in the storage container 48. To be stored. In the processing liquid recovery box 49, a processing liquid vapor exhaust pipe 51 for exhausting the processing liquid vapor from the surface of the discharged processing liquid 50 stored in the storage container 48 is provided upright.
【0028】ノズル機構41の処理液吐出ノズル52
は、後述するエアーシリンダや旋回モータ等からなるノ
ズル駆動機器40(図3,図6参照)によって、回転体
44側方の待機位置から図2中の矢印F方向に上昇し、
所定の吐出位置の上方まで図中矢印G方向に旋回し、そ
の後基板表面近傍の吐出位置まで降下する。そして、処
理液吐出ノズル52への管路を開閉する開閉バルブ54
の動作により、処理液吐出ノズル52からは基板Wに処
理液が吐出され、その際、異なった種類の処理液の交互
供給が可能となる。なお、これらバルブと処理液吐出ノ
ズル52の接続及び各バルブの制御については後述す
る。また、処理液吐出ノズル52は図3に示す様に3本
設けられているが、図2においてはそのうち1本のみを
示し、他は図示を省略してある。Processing liquid discharge nozzle 52 of nozzle mechanism 41
Is raised in a direction indicated by an arrow F in FIG. 2 from a standby position on the side of the rotating body 44 by a nozzle driving device 40 (see FIGS. 3 and 6) including an air cylinder and a swing motor to be described later.
It turns in the direction of arrow G in the figure to a position above a predetermined discharge position, and then descends to a discharge position near the substrate surface. An opening / closing valve 54 for opening and closing a pipe to the processing liquid discharge nozzle 52
The processing liquid is discharged from the processing liquid discharge nozzle 52 onto the substrate W by the above operation, and at this time, alternate supply of different types of processing liquid becomes possible. The connection between these valves and the processing liquid discharge nozzle 52 and the control of each valve will be described later. Although three processing liquid discharge nozzles 52 are provided as shown in FIG. 3, only one of them is shown in FIG. 2, and the others are not shown.
【0029】処理液吐出ノズル52が待機位置に位置す
る場合には、処理液蒸気排気管51の内部を上昇する処
理液蒸気がノズル先端部を湿潤するので、ノズル先端部
における処理液変質や処理液固化は生じにくくなってい
る。また、処理液蒸気排気管51及び切換バルブ53
は、各処理液吐出ノズル毎に設けられている。When the processing liquid discharge nozzle 52 is located at the standby position, the processing liquid vapor rising inside the processing liquid vapor exhaust pipe 51 wets the tip of the nozzle. Liquid solidification is unlikely to occur. Further, the processing liquid vapor exhaust pipe 51 and the switching valve 53
Is provided for each processing liquid discharge nozzle.
【0030】次に、ノズル駆動機器40による処理液吐
出ノズル52の移動の様子について、図3を用いて説明
する。ノズル機構41は、図1及び図3に示すように、
図3に向かって左側の処理液吐出ノズル52a,図3に
向かって右側の処理液吐出ノズル52b,中央の処理液
吐出ノズル52cの3本の処理液吐出ノズルを備える。
そして、これら各処理液吐出ノズルは、ノズルアーム5
5に組み付けられている。また、ノズルアーム55の回
転中心位置に、各処理液吐出ノズルをノズルアーム55
ごと図中矢印G方向に旋回させる旋回モータ56(パル
スモータ)と、この旋回モータ56を処理液吐出ノズル
及びノズルアーム55ごと図3の紙面における表裏方向
(図2における矢印F方向)に昇降させるエアーシリン
ダ57とを備える。つまり、この旋回モータ56とエア
ーシリンダ57とで、既述したノズル駆動機器40を構
成する。Next, how the processing liquid discharge nozzle 52 is moved by the nozzle driving device 40 will be described with reference to FIG. The nozzle mechanism 41, as shown in FIGS. 1 and 3,
It has three processing liquid discharge nozzles: a processing liquid discharge nozzle 52a on the left side in FIG. 3, a processing liquid discharge nozzle 52b on the right side in FIG. 3, and a processing liquid discharge nozzle 52c in the center.
Each of these processing liquid discharge nozzles is connected to the nozzle arm 5.
5 is assembled. Further, each processing liquid discharge nozzle is positioned at the rotation center position of the nozzle arm 55.
Motor 56 (pulse motor) for turning in the direction of arrow G in the figure, and raising and lowering the motor 56 together with the processing liquid discharge nozzle and the nozzle arm 55 in the front and back directions on the paper of FIG. 3 (direction of arrow F in FIG. 2). An air cylinder 57 is provided. That is, the swivel motor 56 and the air cylinder 57 constitute the nozzle driving device 40 described above.
【0031】従って、各処理液吐出ノズル52aないし
52cは、図2おける図中矢印F方向の上昇,図中矢印
G方向に沿った旋回,及び旋回終了位置からの降下をこ
の順で繰り返して、回転体44側方の待機位置H0 から
基板表面近傍の吐出位置へそれぞれ移動する。また、こ
の逆の手順で移動することにより、待機位置H0 に復帰
する。Therefore, each of the processing liquid discharge nozzles 52a to 52c repeats ascending in the direction of arrow F in FIG. 2, turning along the direction of arrow G in FIG. 2, and descending from the turning end position in this order. It moves from the standby position H0 on the side of the rotator 44 to the discharge position near the substrate surface. In addition, by moving in the reverse order, it returns to the standby position H0.
【0032】この吐出位置は、各処理液吐出ノズル52
aないし52cごとに2種類ずつ用意されている。具体
的には、処理液吐出ノズル52aと52cについては、
図示するように基板W中央の吐出位置H1 (中央吐出位
置)と旋回終端側の基板Wの端部近傍の吐出位置H2
(端部吐出位置)とが用意されており、処理液吐出ノズ
ル52bについては、中央吐出位置H1 と待機位置H0
よりの端部吐出位置H3とが用意されている。なお、前
記各処理液吐出ノズル毎の吐出位置は、後述するように
基板処理手順により規定されている。また、前記各端部
吐出位置H2 及びH3 は、処理対象である基板Wの直径
に応じて定められている。This discharge position is set at each processing liquid discharge nozzle 52.
Two types are prepared for each of a to 52c. Specifically, regarding the processing liquid discharge nozzles 52a and 52c,
As shown in the drawing, the discharge position H1 (center discharge position) at the center of the substrate W and the discharge position H2 near the end of the substrate W at the end of rotation.
(End ejection position), and the center ejection position H1 and the standby position H0 for the processing liquid ejection nozzle 52b.
The other end discharge position H3 is prepared. The discharge position for each of the processing liquid discharge nozzles is defined by a substrate processing procedure as described later. The end discharge positions H2 and H3 are determined according to the diameter of the substrate W to be processed.
【0033】次に、各処理液吐出ノズル52aないし5
2cから処理液を吐出するための管路構成について、図
4の概略経路図を用いて説明する。図4に示すように、
処理液L1を貯留する第1の処理液貯留容器101と処
理液吐出ノズル52aとの間には、処理液供給管110
aが設けられている。この処理液供給管110aには、
その上流側から、開閉バルブ54aと、処理液圧送ポン
プ112aと、フィルタ114aとが順に設けられてい
る。これら各バルブ及び処理液圧送ポンプは、回転塗布
機器コントローラ31Bと接続されており、その制御信
号に基づき作動する。Next, the processing liquid discharge nozzles 52a through 52
The configuration of the pipeline for discharging the processing liquid from 2c will be described with reference to the schematic route diagram of FIG. As shown in FIG.
A processing liquid supply pipe 110 is provided between the first processing liquid storage container 101 storing the processing liquid L1 and the processing liquid discharge nozzle 52a.
a is provided. In this processing liquid supply pipe 110a,
From the upstream side, an opening / closing valve 54a, a processing liquid pressure pump 112a, and a filter 114a are sequentially provided. These valves and the processing liquid pressure feed pump are connected to the spin coating device controller 31B, and operate based on the control signals.
【0034】また、処理液L2 を貯留する第2の処理液
貯留容器102と処理液吐出ノズル52bとの間には、
処理液供給管110bが設けられており、この処理液供
給管110bには、処理液供給管110aと同様に、開
閉バルブ54b,処理液圧送ポンプ112bおよびフィ
ルタ114bが設けられている。同様に、処理液L3を
貯留する第3の処理液貯留容器103と処理液吐出ノズ
ル52cとの間に設けられた処理液供給管110cに
は、開閉バルブ54c,処理液圧送ポンプ112c,フ
ィルタ114cが設けられている。Further, between the second processing liquid storage container 102 for storing the processing liquid L2 and the processing liquid discharge nozzle 52b,
A processing liquid supply pipe 110b is provided, and the processing liquid supply pipe 110b is provided with an opening / closing valve 54b, a processing liquid pressure pump 112b, and a filter 114b, similarly to the processing liquid supply pipe 110a. Similarly, a processing liquid supply pipe 110c provided between the third processing liquid storage container 103 storing the processing liquid L3 and the processing liquid discharge nozzle 52c has an opening / closing valve 54c, a processing liquid pressure pump 112c, and a filter 114c. Is provided.
【0035】回転塗布機器コントローラ31Bからの制
御信号に基づいて前記各種バルブおよびポンプを作動さ
せることにより、処理液吐出ノズル52aからは処理液
L1が、処理液吐出ノズル52bからは処理液L2 が、
処理液吐出ノズル52cからは処理液L3 がそれぞれ吐
出される。なお、各処理液貯留容器101,102,1
03の下部には、処理液の残量の不足を検出する残量セ
ンサ115a,115b,115cがそれぞれ設けられ
ており、これら残量センサ115a,115b,115
cからの検出信号は回転塗布機器コントローラ31Bに
入力される。前記残量センサ115a,115b,11
5cは、詳しくは、処理液貯留容器の重量から貯留され
ている処理液の残量を検知し、その残量が所定値以下と
なると、ハイレベル(オン状態)の検出信号を、また、
所定値以下とならない場合には、ロウレベル(オフ状
態)の検出信号を出力するセンサである。By operating the various valves and pumps based on control signals from the spin coating device controller 31B, the processing liquid L1 is discharged from the processing liquid discharge nozzle 52a, and the processing liquid L2 is discharged from the processing liquid discharge nozzle 52b.
The processing liquid L3 is discharged from the processing liquid discharge nozzle 52c. In addition, each processing liquid storage container 101, 102, 1
In the lower part of 03, remaining amount sensors 115a, 115b, 115c for detecting the shortage of the remaining amount of the processing liquid are provided, respectively, and these remaining amount sensors 115a, 115b, 115 are provided.
The detection signal from c is input to the spin coater controller 31B. The remaining amount sensors 115a, 115b, 11
More specifically, 5c detects the remaining amount of the processing liquid stored from the weight of the processing liquid storage container, and when the remaining amount is equal to or less than a predetermined value, outputs a high level (ON state) detection signal.
The sensor outputs a low-level (off-state) detection signal when it does not fall below the predetermined value.
【0036】前述した各回転塗布機器及び熱処理機器
は、後述するメインコントローラ60から、基板処理手
順における処理条件の情報(回転数,温度,使用処理液
種類,吐出量,ノズル位置等)のロードを受ける個別の
後述するコントローラと、回転数センサ,温度センサ等
を備える。そして、各回転塗布機器及び熱処理機器は、
これらセンサの検出信号とロードを受けた後述する基板
処理手順における制御指令値(処理条件)とに基づき、
各処理機器付属のコントローラにより、フィードバック
制御されている。なお、ここでいうところの基板処理手
順は、基板に処理液を塗布したり熱処理をするなど基板
そのものに対して直接作用する処理(以下では、基板回
転処理という)の条件を規定する基板の回転数,使用処
理液種類,吐出量,温度などの情報(基板そのものに直
接作用するこれらの条件の情報を、以下では基板処理レ
シピという)と、基板回転処理動作そのものの直前ある
いは直後に行われる処理前作業あるいは処理後作業を規
定する情報とより成っている。前記処理前作業や処理後
作業は、例えば処理液吐出ノズル52における処理液の
固化や変質を防ぐために行ういわゆるプリディスペンス
やアフターディスペンス、あるいは、多数の基板に対し
て塗布処理を行った後に基板処理部におけるチャンバー
に付着したフォトレジストをアセトン等の溶剤で洗い流
す作業などを指している。これらの作業は、必要に応じ
て行われる。Each of the above-mentioned spin coating apparatus and heat treatment apparatus loads information (processing speed, temperature, type of processing liquid, discharge amount, nozzle position, etc.) of processing conditions in a substrate processing procedure from a main controller 60 described later. The controller includes a controller to be described later and a rotation speed sensor, a temperature sensor, and the like. And each spin coating equipment and heat treatment equipment,
Based on the detection signals of these sensors and a control command value (processing condition) in a substrate processing procedure described below that receives the load,
Feedback control is performed by a controller attached to each processing device. The substrate processing procedure referred to here is a rotation of the substrate that defines conditions for processing that directly acts on the substrate itself (hereinafter, referred to as substrate rotation processing), such as applying a processing liquid to the substrate or performing heat treatment. Information such as the number, type of processing liquid used, discharge amount, and temperature (information on these conditions that directly act on the substrate itself is hereinafter referred to as a substrate processing recipe) and processing performed immediately before or immediately after the substrate rotation processing operation itself It consists of information that specifies pre-work or post-work. The pre-processing operation and the post-processing operation include, for example, a so-called pre-dispense or after-dispense performed to prevent solidification or deterioration of the processing liquid in the processing liquid discharge nozzle 52, or a substrate processing after performing coating processing on a large number of substrates. It refers to the work of washing away the photoresist adhering to the chamber in the section with a solvent such as acetone. These operations are performed as needed.
【0037】図1に示すように、基板搬送機器37は、
図示しない駆動系により図中矢印A方向に水平移動自在
なステージ38上面に図中矢印B方向に旋回自在なヘッ
ド39を備え、このヘッド39には、Uの字状の基板支
持アーム37a,37bを上下2段に備えて構成され
る。また、この各基板支持アーム37a,37bは、ヘ
ッド39から出入り自在に構成されている。As shown in FIG. 1, the substrate transporting device 37
A head 39 is provided on the upper surface of a stage 38 which can be moved horizontally in the direction of arrow A by a drive system (not shown). The head 39 is pivotable in the direction of arrow B in the figure. The head 39 has U-shaped substrate support arms 37a and 37b. Are provided in two upper and lower stages. Each of the substrate support arms 37a and 37b is configured to be able to move in and out of the head 39.
【0038】前記構成のプロセス処理ユニット3は、所
定の基板処理手順における搬送プロセスに基づいて、基
板搬送機器37を駆動制御して、基板授受ユニット2に
おける基板授受位置Pから、前記回転塗布機器といった
複数の処理機器のうちの必要な処理機器に、順次基板を
搬送する。そして、基板が搬送された回転塗布機器等に
て、当該基板処理手順における処理条件に基づいて基板
を処理し、搬送された各処理機器における処理が完了し
た処理済み基板を基板授受位置Pに返却する。The process processing unit 3 having the above configuration drives and controls the substrate transfer device 37 based on the transfer process in a predetermined substrate processing procedure, and moves the substrate transfer device 37 from the substrate transfer position P in the substrate transfer unit 2 to the spin coating device. The substrates are sequentially transferred to necessary processing equipment among the plurality of processing equipment. Then, the substrate is processed based on the processing conditions in the substrate processing procedure by a rotary coating device or the like to which the substrate has been transported, and the processed substrate that has been processed by each transported processing device is returned to the substrate transfer position P I do.
【0039】次に、前述した回転式基板処理装置1にお
ける制御系について、図5,図6に示すブロック図を用
いて説明する。本実施例におけるこの制御系は、図5に
示すように、回転式基板処理装置1の全体を統括制御す
るメインコントローラ60のほか、そのサブコントロー
ラとして、基板授受ユニット2を制御する基板授受ユニ
ットコントローラ70と、プロセス処理ユニット3を構
成する各処理機器ごとのコントローラである基板搬送機
器コントローラ37Aと、各回転塗布機器用の回転塗布
機器コントローラ31B,32Bと、各熱処理機器用の
熱処理機器コントローラ33A,34A,35Aとを備
える。Next, a control system in the rotary substrate processing apparatus 1 will be described with reference to block diagrams shown in FIGS. As shown in FIG. 5, the control system according to the present embodiment includes a main controller 60 that integrally controls the entire rotary type substrate processing apparatus 1 and a substrate transfer unit controller that controls the substrate transfer unit 2 as a sub-controller. 70, a substrate transfer device controller 37A as a controller for each processing device constituting the process processing unit 3, spin coating device controllers 31B and 32B for each spin coating device, and a heat treatment device controller 33A for each heat processing device. 34A and 35A.
【0040】メインコントローラ60は、論理演算を実
行する周知のCPU61,CPU61を制御する種々の
プログラム等を予め記憶するROM62,種々のデータ
を一時的に記憶するRAM63等を中心に論理演算回路
として構成され、データの書き込み及びデータの保持が
随時可能で後述する多量のデータを予め記憶する記憶デ
ィスク64を内蔵している。The main controller 60 is constituted as a logical operation circuit mainly including a well-known CPU 61 for executing a logical operation, a ROM 62 for storing various programs for controlling the CPU 61 in advance, a RAM 63 for temporarily storing various data, and the like. In addition, a storage disk 64 for storing a large amount of data, which will be described later, and capable of writing data and holding data at any time is built in.
【0041】そして、このメインコントローラ60は、
前記CPU等とコモンバス65を介して相互に接続され
た入出力ポート66により、外部との入出力、例えば、
既述した主操作パネル5や、前記基板授受ユニットコン
トローラ70,基板搬送機器コントローラ37A,各処
理機器ごとの各コントローラ31B等との間でデータの
転送を行なう。The main controller 60
By an input / output port 66 connected to the CPU or the like via a common bus 65, input / output with the outside, for example,
Data is transferred between the main operation panel 5, the substrate transfer unit controller 70, the substrate transfer device controller 37A, the controllers 31B for each processing device, and the like.
【0042】基板授受ユニットコントローラ70は、光
センサ24及びタイミング検出センサ42のほか、基板
移送機器6,カセットコントロールパネル18,光セン
サ昇降機構25等と接続されている。そして、これら各
センサやカセットコントロールパネル18からの信号を
始め、当該コントローラで求めた算術演算データをメイ
ンコントローラ60に出力する。なお、カセットコント
ロールパネル18,光センサ24,タイミング検出セン
サ42,光センサ昇降機構25等は、カセット設置台4
の上面における4基のカセットC1ないしC4のそれぞ
れに備えられており、各々基板授受ユニットコントロー
ラ70に接続されている。The substrate transfer unit controller 70 is connected to the substrate transfer device 6, the cassette control panel 18, the optical sensor elevating mechanism 25, and the like, in addition to the optical sensor 24 and the timing detection sensor 42. Then, it outputs signals from these sensors and signals from the cassette control panel 18 and arithmetic operation data obtained by the controller to the main controller 60. The cassette control panel 18, optical sensor 24, timing detection sensor 42, optical sensor elevating mechanism 25, etc.
Are provided in each of the four cassettes C1 to C4 on the upper surface of the substrate, and are connected to the substrate transfer unit controller 70, respectively.
【0043】回転塗布機器31付属の回転塗布機器コン
トローラ31Bは、図6に示すように、前記メインコン
トローラ60と同様、周知のCPU31B1 ,ROM3
1B2 ,RAM31B3 等を中心に論理演算回路として
構成されている。そして、入出力ポート31B6 には、
既述したメインコントローラ60,モータ43,回転数
センサ43a,ノズル駆動機器40,副操作パネル31
A,開閉バルブ54(54a,54b,54c)、およ
び各処理液吐出ノズルに処理液を圧送・供給するノズル
毎の処理液圧送ポンプ112(112a,112b,1
12c)とが接続されている。また、入出力ポート31
B6 には、既述した残量センサ115(115a,11
5b,115c)と残量警報中断押しボタン36(36
a,36b,36c)とが接続されている。As shown in FIG. 6, the spin coater controller 31B attached to the spin coater 31 includes a well-known CPU 31B1 and a ROM 3 similar to the main controller 60.
1B2, a RAM 31B3, etc., as a logical operation circuit. The input / output port 31B6 has
The main controller 60, the motor 43, the rotation speed sensor 43a, the nozzle driving device 40, and the sub operation panel 31 described above.
A, the opening / closing valve 54 (54a, 54b, 54c) and the processing liquid pressure pump 112 (112a, 112b, 1) for each processing liquid discharge nozzle.
12c) are connected. Also, the input / output port 31
B6 includes the remaining amount sensor 115 (115a, 11
5b, 115c) and the remaining amount alarm interrupt push button 36 (36
a, 36b, 36c) are connected.
【0044】本回転式基板処理装置1では、残量センサ
115の検出信号に基づいて各処理液貯留容器101,
102,103に貯留されている処理液の残量不足を検
知して、警報を発令するように構成されている(詳しい
構成については後述する)が、前記残量警報中断押しボ
タン36a,36b,36cとは、所望の貯溜容器に貯
留されている処理液に限っては残量センサ115a,1
15b,115cに基づいて残量不足が検知されても警
報の発令を許可しないように指示するスイッチであり、
第1の処理液貯留容器101の残量不足に対して警報の
発令を許可したくない場合に第1の残量警報中断押しボ
タン36aが、第2の処理液貯留容器102の残量不足
に対して警報の発令を許可したくない場合に第2の残量
警報中断押しボタン36bが、第3の処理液貯留容器1
03の残量不足に対して警報の発令を許可したくない場
合に第3の残量警報中断押しボタン36cがそれぞれオ
ペレータにより押圧される。In the present rotary substrate processing apparatus 1, each processing liquid storage container 101,
It is configured to issue an alarm by detecting a shortage of the remaining amount of the processing liquid stored in the storage units 102 and 103 (the detailed configuration will be described later). 36c is the remaining amount sensor 115a, 1 only for the processing liquid stored in a desired storage container.
A switch for instructing not to issue a warning even if a shortage of remaining amount is detected based on 15b and 115c;
If it is not desired to permit the issuance of an alarm for the insufficient remaining amount of the first processing liquid storage container 101, the first remaining amount alarm interrupting push button 36a is pressed to indicate that the remaining amount of the second processing liquid storage container 102 is insufficient. On the other hand, if the user does not want to permit the issuance of an alarm, the second remaining amount alarm interrupting push button 36b is set to the third processing liquid storage container 1
When it is not desired to permit the issuance of an alarm for the remaining amount 03, the third remaining amount alarm interrupting push button 36c is pressed by the operator.
【0045】熱処理機器コントローラ33Aは、図示し
ない温度センサにより加熱用熱処理機器33a,冷却用
熱処理機器33bにおける処理温度を検出しつつ、その
温度を所望の値に保つように制御を行う。なお、回転塗
布機器32付属の回転塗布機器コントローラ32Bと、
熱処理機器34,35付属の熱処理機器コントローラ3
4A,35Aについては、その構成が同様なのでその説
明を省略する。The heat treatment equipment controller 33A detects the processing temperatures of the heating heat treatment equipment 33a and the cooling heat treatment equipment 33b with a temperature sensor (not shown), and controls the temperature so as to keep the temperature at a desired value. In addition, the spin coating device controller 32B attached to the spin coating device 32,
Heat treatment equipment controller 3 attached to heat treatment equipment 34, 35
4A and 35A have the same configuration, and a description thereof will be omitted.
【0046】次に、前記各処理機器を駆動制御するため
の基板処理手順について説明する。基板処理手順は複数
種類存在し、図7に示すように、その各々が、各基板処
理手順を特定するための手順番号数値コードと各処理機
器における制御指令値等とを対応付けて、予め記憶ディ
スク64に書き込み記憶されている。Next, a description will be given of a substrate processing procedure for controlling the driving of each of the processing equipment. As shown in FIG. 7, there are a plurality of types of substrate processing procedures, each of which stores a procedure number numerical code for specifying each substrate processing procedure in association with a control command value or the like in each processing apparatus, and stores them in advance. It is written and stored on the disk 64.
【0047】基板処理手順をより詳細に説明すると、基
板処理手順のうち、基板処理レシピは図7に示すよう
に、各手順番号数値コードのそれぞれに関して、必要な
処理ステップごとに、各処理ステップにおける工程を表
す工程記号と、その工程を行なう処理機器と、その工程
における処理条件とに関するデータが書き込まれてい
る。The substrate processing procedure will be described in more detail. In the substrate processing procedure, as shown in FIG. 7, the substrate processing recipe includes, as shown in FIG. Data about a process symbol representing a process, a processing device for performing the process, and processing conditions in the process are written.
【0048】つまり、各処理ステップにおける工程記号
の欄の記号は、それぞれの工程名称に相当し、工程記号
ADは処理液塗布前の加熱工程を、ACは処理液塗布前
の冷却工程を、SCは処理液塗布工程を、SBは処理液
塗布後の加熱工程をそれぞれ表す。また、同一の処理ス
テップにおいて複数の処理機器(処理機器1,2…)が
書き込まれている場合(手順番号数値コード01におけ
る処理ステップ1の加熱用熱処理機器33a,34a)
は、いずれかの処理機器で処理すれば良いことを示す。
ただし、処理機器の数値が小さいほど優先的に使用され
る。例えば、手順番号数値コード01の場合には、処理
機器1の欄の加熱用熱処理機器33aが優先して使用さ
れ、この加熱用熱処理機器33aが処理中であるとして
使用できなければ、処理機器2の欄の加熱用熱処理機器
34aが使用される。That is, the symbols in the process symbol columns in the respective process steps correspond to the respective process names. The process symbol AD indicates the heating process before the application of the processing solution, AC indicates the cooling process before the application of the processing solution, and SC indicates the process. Represents a treatment liquid application step, and SB represents a heating step after treatment liquid application. Further, when a plurality of processing devices (processing devices 1, 2,...) Are written in the same processing step (the heat treatment devices 33a, 34a for the processing step 1 in the procedure number numerical code 01).
Indicates that processing may be performed by any of the processing devices.
However, the smaller the numerical value of the processing device, the higher the priority. For example, in the case of the procedure number numerical code 01, the heating heat treatment equipment 33a in the column of the processing equipment 1 is preferentially used, and if the heating heat treatment equipment 33a cannot be used as it is being processed, the processing equipment 2 Is used.
【0049】処理ステップ3以外の処理ステップは、工
程記号AD,AC,SB等から判るように処理液塗布前
後の熱処理工程であり、その処理条件欄に記載されてい
るように、該当する処理機器を制御する際の処理温度や
処理時間等の制御指令値を表す数値データを備える。The processing steps other than the processing step 3 are heat treatment steps before and after the application of the processing liquid as can be seen from the process symbols AD, AC, SB, etc., and as described in the processing condition column, the corresponding processing equipment Is provided with numerical data representing a control command value such as a processing temperature or a processing time when controlling the control.
【0050】各処理ステップのうち処理ステップ3は、
工程記号SCから判るように回転処理機器を用いた処理
液塗布工程であり、処理液塗布を繰り返し行なうことか
ら、当該処理ステップをさらに第1ステップ部分,第2
ステップ部分,…,第iステップ部分等に区分したデー
タを有する。Processing step 3 of each processing step is as follows:
As can be seen from the process symbol SC, this is a processing liquid application step using a rotary processing device. Since the processing liquid application is repeatedly performed, the processing step is further divided into a first step portion and a second step portion.
.., I-th step part, etc.
【0051】つまり、処理液塗布工程である処理ステッ
プ3は、基板を回転させつつ処理液(薬液)を塗布する
ため、使用する複数種類の処理液の指定,処理回転数,
回転加速度,処理液吐出時間(吐出量),基板サイズ
(直径),吐出位置,使用処理液吐出ノズルの区別とい
った数多くの処理条件(制御指令値)に基づき実行され
る上に、異なった処理液を使用する回転処理を繰り返し
行なう。このため、条件データが、他の処理より格段に
多く、以下に説明するようなデータ構成を備えることに
よって、処理条件のデータが、幾種類か記憶できるよう
に配慮されている。なお、基板サイズについては、本実
施例の回転式基板処理装置1の使用時において、処理対
象となる基板に応じて例えば3インチ,5インチ,6イ
ンチ,8インチ等に初期設定される。That is, in the processing step 3, which is a processing liquid application step, the processing liquid (chemical liquid) is applied while rotating the substrate.
It is executed based on a number of processing conditions (control command values) such as rotation acceleration, processing liquid discharge time (discharge amount), substrate size (diameter), discharge position, and distinguishing the processing liquid discharge nozzle to be used. Are repeatedly performed. For this reason, the condition data is much larger than other processes, and by providing a data structure as described below, it is considered that several types of processing condition data can be stored. Note that the substrate size is initially set to, for example, 3 inches, 5 inches, 6 inches, 8 inches, or the like according to the substrate to be processed when using the rotary substrate processing apparatus 1 of the present embodiment.
【0052】図8に示すように、処理ステップ3におけ
る第1ステップ部分から第iステップ部分(同図の左端
欄に示す)ごとに、回転数a1 〜ai と、プロセス時間
と、吐出する処理液(薬液)の種類を規定するためのケ
ミカルデータと、使用処理液吐出ノズル及び吐出位置を
規定するためのノズル位置データ等の処理条件を示すデ
ータが基板処理手順毎にそれぞれ記憶されている。As shown in FIG. 8, the rotation speeds a1 to ai, the process time, the processing liquid to be discharged, Chemical data for defining the type of (chemical solution) and data indicating processing conditions such as nozzle position data for defining the used processing liquid discharge nozzle and discharge position are stored for each substrate processing procedure.
【0053】プロセス時間の欄におけるプロセス1ない
しプロセス4の数値(b1 ,c1 ,d1 ,e1 等)は、
該当する第1ないし第iステップの実行に要する時間や
処理液吐出時間(吐出量)などを規定し、ケミカルデー
タの欄におけるC1 ないしC3 は、使用することのでき
る処理液(薬液)の種類を規定する。また、ノズル位置
データの欄におけるノズル及び吐出位置は、使用する処
理液吐出ノズルとその吐出位置を規定する。さらに、ケ
ミカルデータの欄におけるC1 ないしC3 に記載された
数値は、図4に示した各処理液を特定するための番号
(コード)であり、ノズル位置データの欄におけるノズ
ル及び吐出位置に記載された52a,H1等は、それぞ
れ使用する処理液吐出ノズル及び処理液の吐出位置(図
3参照)を表わす。また、各欄における数値0は、処理
液や処理液吐出ノズルを使用しないとしてこれらの指定
がなされていないことを意味する。The numerical values (b1, c1, d1, e1, etc.) of the processes 1 to 4 in the process time column are as follows.
The time required to execute the corresponding first to i-th steps, the processing liquid discharge time (discharge amount), and the like are defined. C1 to C3 in the column of chemical data indicate the type of the processing liquid (chemical liquid) that can be used. Stipulate. Further, the nozzles and the discharge positions in the column of the nozzle position data define the processing liquid discharge nozzles to be used and the discharge positions thereof. Further, the numerical values described in C1 to C3 in the column of chemical data are numbers (codes) for specifying each processing liquid shown in FIG. 4, and are described in the nozzle and discharge position in the column of nozzle position data. The reference numerals 52a, H1, etc. indicate the processing liquid discharge nozzle and the discharge position of the processing liquid to be used, respectively (see FIG. 3). Further, the numerical value 0 in each column means that these are not specified because the processing liquid and the processing liquid discharge nozzle are not used.
【0054】なお、ノズル位置データに関しては、複数
の処理液吐出ノズル(本実施例では2種類)から所要の
処理液を交互に吐出する場合を想定したデータ構造とな
っている。例えば、第1ステップ部分では、処理液吐出
ノズル52cと52aを使用する。この場合、各ノズル
から吐出される処理液(L1 ,L2 等の記号で規定され
る処理液)の区別及び吐出順序等は、図7における基板
処理手順で特定されている。Note that the nozzle position data has a data structure assuming that a required processing liquid is discharged alternately from a plurality of processing liquid discharge nozzles (two types in this embodiment). For example, in the first step, the processing liquid discharge nozzles 52c and 52a are used. In this case, the distinction between the processing liquids (the processing liquids defined by symbols L1 and L2, etc.) discharged from each nozzle, the discharge order, and the like are specified in the substrate processing procedure in FIG.
【0055】従って、このようなデータから、第1ステ
ップでは、回転数a1 で基板を回転させ、この基板に薬
液番号1,2の処理液L1 ,L2 を吐出する処理を行な
い、第2ステップでは、回転数a2 で基板を回転させ
て、薬液番号3の処理液L3 のみを用いた処理を行なう
ことになる。つまり、これら条件に基づいて使用する処
理液やこれを吐出するノズルの選択並びに吐出量等が決
定されて、各処理液吐出ノズルへの処理液の圧送・供給
が行なわれ、選択された処理液が基板に向けて吐出され
るのである。この際、使用する処理液吐出ノズルは、規
定された吐出位置に移動することは勿論である。また、
基板処理手順のうち、処理前作業,処理後作業を規定す
る情報も、同様に書き込まれている。図7に示す例にお
いて、処理前作業はプリディスペンスであって、処理液
吐出ノズル52a,52cについて、時間f1だけ行う
ことになっている。Therefore, based on such data, in the first step, the substrate is rotated at the rotation speed a1, and the processing of discharging the processing liquids L1, L2 of the chemical liquid numbers 1 and 2 to the substrate is performed. Then, the substrate is rotated at the rotation speed a2, and the processing using only the processing liquid L3 of the chemical number 3 is performed. That is, the selection of the processing liquid to be used and the nozzle for discharging the processing liquid, the discharge amount, and the like are determined based on these conditions, and the processing liquid is pumped and supplied to each processing liquid discharge nozzle. Is discharged toward the substrate. At this time, the processing liquid discharge nozzle to be used naturally moves to the specified discharge position. Also,
Information defining the pre-processing work and the post-processing work in the substrate processing procedure is similarly written. In the example shown in FIG. 7, the pre-processing work is pre-dispensing, and the processing liquid discharge nozzles 52a and 52c are to be performed only for the time f1.
【0056】このように記憶ディスク64には、複数種
類の基板処理手順が、膨大な処理条件のデータを含んで
記録されている。そして、ある手順番号数値コード、例
えば00の数値コードが指定されると、この時の基板処
理手順は、まず処理液塗布前に加熱用熱処理機器33a
にて加熱処理を行ない(処理ステップ1)、次に冷却用
熱処理機器33bにて冷却処理を行ない(処理ステップ
2)、引続いて回転塗布機器32にて処理液塗布処理を
行ない(処理ステップ3)、処理液塗布後の加熱処理を
加熱用熱処理機器35aにて行なう(処理ステップ4)
ことになる。処理ステップ5以下についてもデータが作
成・記憶されていればそれに従って処理されることは勿
論である。また、処理前作業については、処理液吐出ノ
ズル52a,52cについて、プリディスペンスを行う
ことになっている。As described above, a plurality of types of substrate processing procedures are recorded on the storage disk 64, including data of a huge amount of processing conditions. When a certain procedure number numerical code, for example, a numerical code of 00 is designated, the substrate processing procedure at this time is as follows.
Performs a heating process (processing step 1), then performs a cooling process in the cooling heat treatment device 33b (processing step 2), and subsequently performs a processing liquid application process in the spin coating device 32 (processing step 3). ), Heat treatment after application of the treatment liquid is performed by the heat treatment equipment for heating 35a (processing step 4).
Will be. Of course, if the data is created and stored in the processing steps 5 and subsequent steps, the processing is performed according to the data. In the pre-processing work, pre-dispensing is performed for the processing liquid discharge nozzles 52a and 52c.
【0057】このような記憶ディスク64へのデータの
書き込みは、回転式基板処理装置1の操業初期において
は、例えば、主操作パネル5のキーボード5aからのデ
ータ入力や、磁気テープ,フレキシブルディスク等の記
憶媒体にデータの書き込み・記憶を行なう外部記憶装置
80(図5参照)からの入出力ポート66を介したデー
タ転送等により行なわれる。In the initial stage of the operation of the rotary substrate processing apparatus 1, data is written into the storage disk 64 by, for example, inputting data from the keyboard 5 a of the main operation panel 5 or writing data on a magnetic tape, a flexible disk, or the like. This is performed by data transfer or the like from the external storage device 80 (see FIG. 5) for writing and storing data in the storage medium via the input / output port 66.
【0058】さらに、このように記憶された複数の基板
処理手順のうちからの所望の基板処理手順の選択指示
は、カセットコントロールパネル18や主操作パネル5
のキーボード5a等の操作により実行される。なお、所
望の基板処理手順を選択指示するための前記操作は、手
順番号数値コードの数値を入力する操作である。Further, an instruction to select a desired substrate processing procedure from among the plurality of substrate processing procedures stored in this manner is issued to the cassette control panel 18 or the main operation panel 5.
The operation is performed by operating the keyboard 5a or the like. The operation for selecting and instructing a desired substrate processing procedure is an operation of inputting a numerical value of a procedure number numerical code.
【0059】そして、基板処理を開始するに当たって手
順番号数値コードが指定されると、該当する基板処理手
順の各処理ステップにおける処理条件は、メインコント
ローラ60から該当する処理機器付属のコントローラに
ロードされる。例えば00の数値コードが指定される
と、処理ステップ1及び処理ステップ2における処理条
件は加熱用熱処理機器33a,冷却用熱処理機器33b
を有する熱処理機器33付属の熱処理機器コントローラ
33Aにロードされる。同様に、処理ステップ3におけ
る処理条件は回転塗布機器31付属の回転塗布機器コン
トローラ31Bにロードされ、処理ステップ4における
処理条件は加熱用熱処理機器35aを有する熱処理機器
35付属の熱処理機器コントローラ35Aにロードされ
る。When a procedure number numerical code is designated when starting the substrate processing, the processing conditions in each processing step of the relevant substrate processing procedure are loaded from the main controller 60 to the controller attached to the relevant processing equipment. . For example, when a numerical code of 00 is designated, the processing conditions in the processing steps 1 and 2 are as follows: the heating heat treatment equipment 33a and the cooling heat treatment equipment 33b.
Is loaded into the heat treatment equipment controller 33A attached to the heat treatment equipment 33 having Similarly, the processing conditions in the processing step 3 are loaded into the spin coating device controller 31B attached to the spin coating device 31, and the processing conditions in the processing step 4 are loaded into the heat treatment device controller 35A attached to the heat treatment device 35 having the heating heat treatment device 35a. Is done.
【0060】こうして種々のデータのロードを受けた各
コントローラ31B等は、ロードを受けた処理条件であ
る制御指令値とセンサからの検出信号とに基づき、各処
理機器をフィードバック制御しつつ基板処理を行なう。The controllers 31B, etc., which have received various data loads in this way, perform the substrate processing while performing feedback control of the respective processing devices based on the control command values, which are the loaded processing conditions, and the detection signals from the sensors. Do.
【0061】次に、前述した構成を備える本実施例の回
転式基板処理装置1において実行される基板処理(メイ
ン処理)ルーチンについて、図9に示すフローチャート
を用いて説明する。図9に示すメイン処理ルーチンは、
手順番号数値コードが指定され、該当する基板処理手順
の各処理ステップにおける処理条件がメインコントロー
ラ60から該当する処理機器付属のコントローラにロー
ドされた後に、回転塗布機器コントローラ31B,32
BのCPUにて1枚の基板処理ごとに実行される処理を
示すものである。Next, a substrate processing (main processing) routine executed in the rotary substrate processing apparatus 1 of the present embodiment having the above-described configuration will be described with reference to a flowchart shown in FIG. The main processing routine shown in FIG.
After the procedure number numerical code is designated and the processing conditions in each processing step of the corresponding substrate processing procedure are loaded from the main controller 60 to the controller attached to the corresponding processing equipment, the spin coating equipment controllers 31B, 32
4 illustrates processing executed by the CPU B for each processing of one substrate.
【0062】図9に示すように、処理が開始されると、
回転塗布機器コントローラ31BのCPUは、まず、後
述する基板回転処理およびその基板回転処理に先駆けて
実行される処理前作業にて用いられる処理液に関し、そ
の処理液の不足をチェックする前チェック処理を実行す
る(ステップ100)。次いで、メインコントローラ6
0から処理開始指令が入力されたか否かを判定し(ステ
ップ200)、さらに、ステップ100で実行された前
チェック処理で後述する第2種の警報が発令されたか否
かを判定する(ステップ300)。ここで、処理開始指
令とは、メインコントローラ60にて、カセットコント
ロールパネル18や主操作パネル5のキーボード5a等
による手順番号数値コードの数値入力を経て基板処理手
順の設定がなされた後、メインコントローラ60から入
力される指令である。また、前記第2種の警報について
は、前チェック処理の内容とともに後ほど詳しく説明す
る。As shown in FIG. 9, when the process is started,
First, the CPU of the spin coating device controller 31B performs a pre-check process for checking for a shortage of the processing liquid with respect to a processing liquid used in a substrate rotation processing to be described later and a pre-processing work performed prior to the substrate rotation processing. Execute (step 100). Next, the main controller 6
It is determined whether or not a process start command has been input from 0 (step 200), and further, it is determined whether or not a second type alarm described later has been issued in the pre-check process executed in step 100 (step 300). ). Here, the processing start command means that after the main controller 60 has set the substrate processing procedure through numerical input of the procedure number numerical code through the cassette control panel 18 or the keyboard 5a of the main operation panel 5, the main controller 60 This is a command input from 60. The second type alarm will be described later in detail together with the contents of the pre-check processing.
【0063】ステップ200で、処理開始指令が入力さ
れていないと判定されたとき、または、ステップ300
で第2種の警報が発令されたと判定されたとき、処理は
ステップ100に戻り、前チェック処理を繰り返し実行
する。一方、ステップ200で、処理開始指令が入力さ
れていると判定され、かつ、ステップ300で第2種の
警報が発令されていないと判定されたとき、処理はステ
ップ700から400に抜け、いわゆる処理前作業と基
板回転処理を実行する。When it is determined in step 200 that the processing start command has not been input, or in step 300
When it is determined that the second type of alarm has been issued, the process returns to step 100 to repeatedly execute the pre-check process. On the other hand, if it is determined in step 200 that the processing start command has been input, and if it is determined in step 300 that the second type alarm has not been issued, the processing skips from step 700 to 400, and the so-called processing Perform pre-work and substrate rotation processing.
【0064】ステップ400で基板回転処理の実行後、
基板回転処理の後に実行される処理後作業にて用いられ
る処理液に関し、その処理液の不足をチェックする後チ
ェック処理を実行する(ステップ500)。次いで、ス
テップ500で実行された後チェック処理で第2種の警
報が発令されたか否かを判定する(ステップ600)。
ここで、第2種の警報が発令されたと判定されたとき、
処理はステップ500に戻り後チェック処理を繰り返し
実行する。一方、ステップ600で、第2の警報が発令
されていないと判定されたとき、処理はステップ800
に抜けて処理後作業を行ない、その後「エンド」に抜
け、本ルーチンを一旦終了する。After executing the substrate rotation processing in step 400,
As for the processing liquid used in the post-processing work performed after the substrate rotation processing, a post-check processing is performed to check for a shortage of the processing liquid (step 500). Next, it is determined whether or not the second type alarm has been issued in the check processing after being executed in step 500 (step 600).
Here, when it is determined that the second type of alarm has been issued,
After the process returns to step 500, the check process is repeatedly executed. On the other hand, if it is determined in step 600 that the second alarm has not been issued, the process proceeds to step 800.
To perform the post-processing work, and then to “END” to end this routine once.
【0065】次に、ステップ100で実行される前チェ
ック処理について図10を参照して詳述する。この前チ
ェック処理は、第1の処理液貯留容器101に貯留され
ている処理液L1 の不足をチェックする第1前チェック
工程100Aと、第2の処理液貯留容器102に貯留さ
れている処理液L2 の不足をチェックする第2前チェッ
ク工程100Bと、第3の処理液貯留容器103に貯留
されている処理液L3 の不足をチェックする第3前チェ
ック工程100Cとから構成されている。以下、第1前
チェック工程100Aについて詳しく説明するが、第2
前チェック工程100Bおよび第3前チェック工程10
0Cについては、対象とする処理液が異なるだけでその
他は同様であるので説明は省略する。Next, the pre-check processing executed in step 100 will be described in detail with reference to FIG. This pre-check processing includes a first pre-check step 100A for checking the shortage of the processing liquid L1 stored in the first processing liquid storage container 101, and a processing liquid stored in the second processing liquid storage container 102. It comprises a second pre-check step 100B for checking the shortage of L2 and a third pre-check step 100C for checking the shortage of the processing liquid L3 stored in the third processing liquid storage container 103. Hereinafter, the first pre-check process 100A will be described in detail,
Pre-check step 100B and third pre-check step 10
Regarding 0C, only the target processing liquid is different, and the other is the same.
【0066】図10に示すように、処理が開始される
と、まず、第1の処理液貯留容器101に設けられた第
1の残量センサ115aからの検出信号がオン状態であ
るか否かを判定する(ステップ105)。ここで、オン
状態でない、即ち、オフ状態であると判定されると、処
理液L1 は不足しておらず十分にあるということを意味
するので、後述する処理液L1 に関する第1種および第
2種の警報を解除する処理を行ない(ステップ11
0)、その後、第1前チェック工程100Aを一旦終了
して、第2前チェック工程100Bに進む。As shown in FIG. 10, when the processing is started, first, it is determined whether or not the detection signal from the first remaining amount sensor 115a provided in the first processing liquid storage container 101 is on. Is determined (step 105). Here, if it is determined that the processing liquid L1 is not in the on state, that is, it is in the off state, it means that the processing liquid L1 is not insufficient and is sufficient, and therefore, the first type and the second type relating to the processing liquid L1 described later are used. A process for canceling the type of alarm is performed (step 11).
0) After that, the first pre-check step 100A is temporarily ended, and the process proceeds to the second pre-check step 100B.
【0067】ここで言う第1種および第2種の警報と
は、後述するステップで回転塗布機器側のコントローラ
31B,32Bからメインコントローラ60へ出力され
る警戒信号で、両者は緊急度において異なる意味をもつ
警報である。第1種の警報とは、処理液量不足が検知さ
れ処理液補充等の措置が必要ではあるが、実際に処理液
を供給できなくなるまでにはまだ少しの余裕があること
を示している。第2種の警報とは、処理液量不足が現在
処理を行なっている基板に対して即座に悪影響を与える
危険があることを示している。なお、第1種または第2
種の警報を受けたメインコントローラ60は、ディスプ
レイ5bにそれら警報を表示する。The first type and second type alarms referred to here are warning signals output from the controllers 31B and 32B on the spin coating device side to the main controller 60 in the later-described steps, and both have different urgencies. Is an alarm with The first type of alarm indicates that although a shortage of the processing liquid is detected and measures such as replenishment of the processing liquid are required, there is still some margin before the processing liquid cannot be supplied. The second type of alarm indicates that a shortage of the processing solution may have an immediate adverse effect on the substrate currently being processed. In addition, the first type or the second type
The main controller 60 that has received the type of alarm displays the alarm on the display 5b.
【0068】一方、ステップ105で、残量センサ11
5aの検出信号がオン状態であると判定されると、第1
の残量警報中断押しボタン36aがオン状態であるか否
かを判定する(ステップ115)。ここで、オン状態で
ない、即ち、オフ状態であると判定されると、処理液L
1 に関する第1種の警報を発令するとともに、第2種の
警報を解除する処理を行なう(ステップ120)。即
ち、残量センサ115aで処理液L1 の不足が検出さ
れ、しかも、第1の残量警報中断押しボタン36aが押
圧されていない場合(処理液L1 の残量不足に対して警
報の発令の中断の指示がなされていない場合)には、第
1種の警報を発令するとともに、第2種の警報を解除す
る処理を行なう。ステップ120の実行後、第1前チェ
ック工程100Aを終了して、第2前チェック工程10
0Bに進む。On the other hand, at step 105, the remaining amount sensor 11
If it is determined that the detection signal of FIG.
It is determined whether or not the remaining amount warning push button 36a is ON (step 115). Here, when it is determined that the processing liquid L is not in the on state, that is, in the off state, the processing liquid L
At the same time as issuing a first type alarm for 1 and canceling the second type alarm (step 120). In other words, when the shortage of the processing liquid L1 is detected by the remaining amount sensor 115a and the first remaining amount alarm interruption push button 36a is not pressed (the interruption of the alarm issuance for the insufficient remaining amount of the processing liquid L1). Is not issued), the first type of alarm is issued, and the process of releasing the second type of alarm is performed. After the execution of step 120, the first pre-check step 100A is terminated, and the second pre-check step 10A is completed.
Proceed to 0B.
【0069】一方、ステップ115で、第1の残量警報
中断押しボタン36aがオン状態であると判定された場
合には、処理液L1 に関する第1種の警報を解除する処
理を行ない(ステップ125)、その後、メインコント
ローラ60から処理開始指令が入力されたか否かを判定
する(ステップ130)。ステップ130で、処理開始
指令が入力されていないと判定されると、その後、第1
前チェック工程100Aを一旦終了して、第2前チェッ
ク工程100Bに進む。一方、ステップ130で、処理
開始指令が入力されたと判定されると、以下の処理を実
行する。On the other hand, if it is determined in step 115 that the first remaining amount alarm interruption push button 36a is in the ON state, processing for canceling the first type of alarm for the processing liquid L1 is performed (step 125). Then, it is determined whether or not a processing start command has been input from the main controller 60 (step 130). If it is determined in step 130 that the processing start command has not been input, then the first
The pre-check step 100A is temporarily ended, and the process proceeds to the second pre-check step 100B. On the other hand, when it is determined in step 130 that the processing start command has been input, the following processing is executed.
【0070】まず、基板回転処理に先駆けて実行される
べき処理前作業にて処理液L1 を用いた処理液の吐出が
あるか否かを判定する(ステップ135)。ここで、処
理液L1 の吐出があると判定された場合には、処理液L
1 に関して第2種の警報が発令中か否かを判定する(ス
テップ140)。ステップ140で処理液L1 に関して
第2種の警報が発令中でないと判定されると、ここで処
理液L1 に関する第2種の警報を一旦発令し(ステップ
145)、その後、第1前チェック工程100Aを終了
する。First, it is determined whether or not there is a discharge of the processing liquid using the processing liquid L1 in the pre-processing work to be performed prior to the substrate rotation processing (step 135). Here, when it is determined that the processing liquid L1 is discharged, the processing liquid L1 is discharged.
It is determined whether or not a second type alarm is being issued for 1 (step 140). If it is determined in step 140 that the second type of alarm for the processing liquid L1 is not being issued, a second type of alarm for the processing liquid L1 is once issued (step 145), and thereafter, the first pre-check process 100A. To end.
【0071】なお、ステップ145で第2種の警報を発
令した後、後述するステップ200,300を経て再び
ステップ100に戻ってきて、ステップ140で、第2
種の警報が発令中であると判定されると、次いで、処理
液L1 に関して第2種の警報の解除指令がメインコント
ローラ60から入力されたか否かを判定する(ステップ
150)。ここで言う第2種の警報の解除指令とは、処
理前作業にて使用される処理液L1 の不足が以降の基板
回転処理に影響がないとオペレータにより判断された場
合に、オペレータによりキーボード5aから特別に指示
入力されてメインコントローラ60から入力される指令
で、この第2種の警報の解除指令の入力があると判定さ
れた場合、後述するステップ160に進む。一方、ステ
ップ150で、第2種の警報の解除指令の入力がないと
判定された場合、第1前チェック工程100Aを一旦終
了して、第2前チェック工程100Bに進む。After issuing the second type of alarm at step 145, the process returns to step 100 again through steps 200 and 300 described later, and returns to step 100 at step 140.
If it is determined that the type of alarm is being issued, it is then determined whether or not a second type of alarm release command has been input from the main controller 60 for the processing liquid L1 (step 150). Here, the second type of alarm cancel command is a keyboard 5a when the operator determines that the shortage of the processing liquid L1 used in the pre-processing work does not affect the subsequent substrate rotation processing. If it is determined that there is a special instruction input from the main controller 60 and a command input from the main controller 60 to input the second type alarm cancellation command, the process proceeds to step 160 described later. On the other hand, if it is determined in step 150 that there is no input of the second type of alarm cancellation command, the first pre-check process 100A is temporarily terminated, and the process proceeds to the second pre-check process 100B.
【0072】ステップ135で、処理前作業にて処理液
L1 を用いた処理液の吐出がないと判定されると、次い
で、回転塗布機器側のコントローラ31B,32Bにロ
ードされ現在実行されている基板処理手順の内の基板処
理レシピ内に、第1の処理液貯留容器101に貯留され
た処理液L1 を使用する規定があるか否かを判定する
(ステップ160)。ここで、基板処理レシピ内に処理
液L1 の規定があると判定された場合には、処理はステ
ップ145に進み、処理液L1 に関する第2種の警報を
発令し、一方、基板処理レシピ内に処理液L1 の規定が
ないと判定された場合には、処理液L1 に関する第2種
の警報を解除する処理を行なう(ステップ165)。ス
テップ160から165の処理は、ステップ105で処
理液L1 の不足が検知されたとしても、基板処理レシピ
内に処理液L1 の規定がないと判定された場合に、その
不足した処理液L1 は現在行なおうとしている処理に使
用しないことから、警報の発令は不要であると判断し
て、上記第2種の警報の解除を行なおうというものであ
る。If it is determined in step 135 that there is no discharge of the processing liquid using the processing liquid L1 in the pre-processing work, then the substrate is loaded on the controller 31B or 32B of the spin coating device and is currently being executed. It is determined whether or not the substrate processing recipe in the processing procedure includes a rule for using the processing liquid L1 stored in the first processing liquid storage container 101 (step 160). Here, when it is determined that the processing liquid L1 is specified in the substrate processing recipe, the processing proceeds to step 145, and a second type of alarm is issued for the processing liquid L1, while the processing liquid L1 is included in the substrate processing recipe. If it is determined that the treatment liquid L1 is not stipulated, a process for canceling the second type of alarm for the treatment liquid L1 is performed (step 165). In the processing of steps 160 to 165, even if the shortage of the processing liquid L1 is detected in step 105, if it is determined that the processing liquid L1 is not specified in the substrate processing recipe, the shortage of the processing liquid L1 is Since it is not used for the process to be performed, it is determined that the issuance of an alarm is unnecessary, and the second type of alarm is canceled.
【0073】ステップ165の実行後、第1前チェック
工程100Aを終了して、第2前チェック工程100B
に進む。第2前チェック工程100Bでは、第1前チェ
ック工程と比較して、対象とする処理液が第1の処理液
貯留容器101に貯留されている処理液L1 から第2の
処理液貯留容器102に貯留されている処理液L2 に変
わっただけで、同様な処理を実行する。続いて、対象と
する処理液が処理液貯留容器103に貯留されている処
理液L3 に変わった第3前チェック工程100Cを実行
し、その後、処理は「リターン」に抜けて本ルーチンを
一旦終了する。After execution of step 165, the first pre-checking step 100A is terminated, and the second pre-checking step 100B
Proceed to. In the second pre-check step 100B, the target processing liquid is transferred from the processing liquid L1 stored in the first processing liquid storage container 101 to the second processing liquid storage container 102, as compared with the first pre-check step. The same processing is executed only by changing to the stored processing liquid L2. Subsequently, a third pre-check step 100C in which the target processing liquid is changed to the processing liquid L3 stored in the processing liquid storage container 103 is executed, and thereafter, the processing exits to "Return" and the present routine is temporarily terminated. I do.
【0074】即ち、以上のように構成された前チェック
処理によれば、第1の残量センサ115aにより第1の
処理液貯留容器101に貯留される処理液L1 の残量不
足が検知され、且つ、第1の残量警報中断押しボタン3
6aがオン状態であると判定された場合(処理液L1 の
残量不足に対して警報の発令の中断の指示がなされた場
合)に、基板回転処理に先駆けて実行される処理前作業
において、処理液L1の吐出があると、処理液L1 に関
して第2種の警報が発令される。この結果、図9で示し
たメイン処理ルーチンにおいては、ステップ300の判
定により、前チェック処理が再度実行され、処理前作業
である処理液吐出の処理の実行が停止される。なお、こ
の第2種の警報を受けた後、オペレータにより、第1の
処理液貯留容器101への処理液L1 の補充がなされた
り、あるいは主操作パネル5の操作がなされ、第2種の
警報解除指令がメインコントローラ60から出力される
と、第2種の警報は解除され、その結果、ステップ70
0,400へ進み、処理前作業及び基板回転処理の実行
が開始される。That is, according to the pre-check processing configured as described above, the first remaining amount sensor 115a detects that the remaining amount of the processing liquid L1 stored in the first processing liquid storage container 101 is insufficient. And a first remaining amount alarm interrupt push button 3
When it is determined that 6a is in the ON state (when an instruction to interrupt the issuance of an alarm is issued for the insufficient amount of the processing liquid L1), in the pre-processing work executed prior to the substrate rotation processing, When the processing liquid L1 is discharged, a second type of alarm is issued for the processing liquid L1. As a result, in the main processing routine shown in FIG. 9, the pre-check processing is executed again by the determination in step 300, and the execution of the processing liquid discharge processing which is the pre-processing work is stopped. After receiving the second type of alarm, the operator replenishes the first processing liquid storage container 101 with the processing liquid L1 or operates the main operation panel 5 so that the second type of alarm is issued. When the release command is output from the main controller 60, the second type alarm is released, and as a result, step 70 is executed.
The process proceeds to 0,400, where execution of pre-processing work and substrate rotation processing is started.
【0075】また、前チェック処理によれば、第1の残
量センサ115aにより第1の処理液貯留容器101に
貯留される処理液L1 の残量不足が検知され、且つ、第
1の残量警報中断押しボタン36aがオン状態であると
判定された場合に、基板処理レシピ内に処理液L1 の規
定があると、処理液L1 に関する第2種の警報が発令さ
れる。この結果、図9で示したメイン処理ルーチンにお
いては、ステップ300の判定により、前チェック処理
が再度実行され、基板回転処理の実行は停止される。な
お、この第2種の警報を受けた後オペレータにより、第
1の処理液貯留容器101への処理液の補充がなされた
り、あるいは実行させる基板処理レシピの変更により基
板処理レシピ内から処理液L1 の規定が削除されると、
第2種の警報は解除され、ステップ700,400へ進
み、処理前作業及び基板回転処理の実行が開始される。According to the pre-check process, the first remaining amount sensor 115a detects that the remaining amount of the processing liquid L1 stored in the first processing liquid storage container 101 is insufficient. If it is determined that the alarm suspending push button 36a is in the ON state, and if the processing liquid L1 is specified in the substrate processing recipe, a second type of alarm for the processing liquid L1 is issued. As a result, in the main processing routine shown in FIG. 9, the pre-check processing is executed again by the determination in step 300, and the execution of the substrate rotation processing is stopped. After receiving the second type of alarm, the operator replenishes the processing liquid into the first processing liquid storage container 101 or changes the processing liquid to be executed by changing the substrate processing recipe to be executed. Is removed,
The second type of alarm is released, and the process proceeds to steps 700 and 400 to start the pre-processing work and the substrate rotation processing.
【0076】以上のように、前チェック処理における第
2種の警報は、処理液L1 の残量が不足している状態の
中にあって、且つ、処理前作業あるいは基板処理レシピ
の中において処理液L1 の規定があるにもかかわらず、
処理液L1 の残量不足に対して警報の発令の中断を指示
したということ、即ちオペレータの誤操作を意味し、主
としてメインコントローラ60からの処理開始指令入力
時において発令される。かかる第2種の警報は、このま
ま放置すると重大な不都合をまねく虞があることを意味
するので、メインコントローラ60はその時点で装置全
体を即時に停止させてディスプレイ5bにその旨表示
し、回転塗布機器コントローラは、予定された以後の処
理前作業や基板回転処理の作業は行わず、前チェック処
理を繰り返し実行することとする。As described above, the second type of alarm in the pre-check processing is performed when the remaining amount of the processing liquid L1 is insufficient and the processing is performed in the pre-processing work or the substrate processing recipe. Despite the provision of liquid L1,
Instructing the interruption of the alarm issuance in response to the shortage of the remaining amount of the processing liquid L1, that is, an erroneous operation of the operator, is mainly issued when a processing start command is input from the main controller 60. Such a second type of alarm means that if left unattended, serious inconvenience may occur, so that the main controller 60 immediately stops the entire apparatus at that time, displays a message on the display 5b, and displays the fact on the display 5b. The device controller does not perform the scheduled pre-processing work or the board rotation processing work, and repeatedly executes the pre-check processing.
【0077】ただし、かかる第2種の警報が、処理前作
業、例えば前述のプリディスペンスに使用する処理液に
かかるものであって、基板処理レシピにはかからないも
のであるとき、即ち、図10のフローチャートにおい
て、ステップ135から140を通って145に進んで
発令されたものであって、ステップ160から145に
進んだものではないときには、装置メンテナンス直後の
運転のように、プリディスペンスの動作において当該処
理液の不足のために処理液の吐出が行われなくても、そ
の後の基板処理が不都合なく可能な場合もある。この場
合には、オペレータの判断により、前述のようにメイン
コントローラ60から第2種の警報の解除指令をその対
応する回転塗布機器コントローラに与えれば、ステップ
160を経てステップ165で第2種の警報を解除し、
処理液不足のままステップ700の処理前作業を強行す
ることができる。この場合、対応する処理液圧送ポンプ
が動作しても処理液は送られないが、それによる不都合
はない。また、この場合でもステップ160で基板処理
レシピ内に当該処理液が規定されていると判断される
と、第2種の警報は発令された状態のままである。However, when the second type of alarm is related to the pre-processing work, for example, the processing liquid used for the above-mentioned pre-dispensing and is not related to the substrate processing recipe, that is, as shown in FIG. In the flowchart, when the instruction is issued by proceeding to 145 through steps 135 to 140 and not proceeding to step 145, the processing is performed in the operation of the pre-dispense, such as the operation immediately after the maintenance of the apparatus. Even if the processing liquid is not discharged due to a shortage of the liquid, the subsequent substrate processing may be possible without inconvenience. In this case, as described above, if the operator issues a second type alarm cancel command from the main controller 60 to the corresponding spin coating device controller as described above, the second type alarm is issued in step 165 through step 160. And cancel
The pre-processing operation of step 700 can be performed with the processing liquid shortage. In this case, the processing liquid is not sent even if the corresponding processing liquid pressure feed pump operates, but there is no disadvantage. Also, in this case, if it is determined in step 160 that the processing liquid is specified in the substrate processing recipe, the second type alarm remains issued.
【0078】さらに、この前チェック処理によれば、第
1の液量センサ115aにより第1の処理液貯留容器1
01に貯留される処理液L1 の残量不足が検知され、且
つ、第1の残量警報中断押しボタン36aがオン状態で
ないと判定された場合(処理液L1 の残量不足に対して
警報の発令の中断の指示がなされていない場合)に、第
1種の警報が発令される。かかる第1種の警報は、主と
して装置運転中において、処理液が通常に消費されて不
足してきたときに発令される。ここで、第1の処理液貯
留容器101内の処理液L1 の残量が、すでに基板授受
ユニット2からプロセス処理ユニット3の熱処理機器3
3,34,35などへ送られてしまっている全ての基板
を処理可能な量だけの余裕を残している時点で、第1残
量センサ115aが第1の処理液貯留容器101内の処
理液L1 の残量不足を検知するように設定しておくこと
が望ましい。そうすることにより、かかる第1種の警報
の発令に対しては、基板授受ユニット2からの送出を停
止するが熱処理機器33,34,35、回転塗布機器3
1,32の動作は継続させるという対処でもロット不良
の発生を防ぐことができ、即時装置を停止して処理を全
面的に中断してしまう必要はなく、装置運用上の自由度
が高く、作業性に優れている。Further, according to the pre-check processing, the first processing liquid storage container 1 is detected by the first liquid amount sensor 115a.
01 is detected, and it is determined that the first remaining amount alarm suspending push button 36a is not in the ON state (the alarm for the insufficient remaining amount of the processing solution L1 is issued). The first type of alarm is issued when the instruction to interrupt the announcement has not been issued). The first type of alarm is issued mainly when the processing liquid is normally consumed and becomes insufficient during operation of the apparatus. Here, the remaining amount of the processing liquid L1 in the first processing liquid storage container 101 is already changed from the substrate transfer unit 2 to the heat treatment equipment 3 of the process processing unit 3.
At a point in time when there is a margin enough to process all the substrates sent to the processing liquid 3, 34, 35, etc., the first remaining amount sensor 115a detects the processing liquid in the first processing liquid storage container 101. It is desirable to set so as to detect the shortage of the remaining amount of L1. By doing so, in response to the issuance of the first type of alarm, the transmission from the substrate transfer unit 2 is stopped, but the heat treatment devices 33, 34, 35, and the spin coating device 3
It is possible to prevent the occurrence of a lot defect even by taking measures to continue the operations 1 and 32, and there is no need to immediately stop the apparatus and completely interrupt the processing. Excellent in nature.
【0079】従って、メインコントローラ60は、かか
る第1種の警報を受けると、その旨を表示して基板授受
ユニット2からの送出を停止するが、回転塗布機器コン
トローラの制御を停止させることはしない。回転塗布機
器コントローラの制御はステップ700,400に進
み、熱処理機器33,34,35、回転塗布機器31,
32の動作はそのまま継続する。そして、メインコント
ローラ60は、すでに熱処理機器33,34,35、回
転塗布機器31,32に送られている基板すべての処理
が終了した時点で装置の動作を停止させる。Accordingly, when receiving the first type of alarm, the main controller 60 displays a message to that effect and stops the transmission from the substrate transfer unit 2, but does not stop the control of the spin coating device controller. . The control of the spin coating device controller proceeds to steps 700 and 400, and the heat treatment devices 33, 34 and 35, the spin coating device 31,
The operation at 32 continues. Then, the main controller 60 stops the operation of the apparatus when the processing of all the substrates already sent to the heat treatment devices 33, 34, 35 and the spin coating devices 31, 32 is completed.
【0080】なお、ステップ700は、処理前作業がプ
リディスペンスであって、同じ基板処理手順によって複
数枚の基板を連続して処理する場合には、最初の1枚目
の基板処理時において実行されるステップ700でのみ
処理前作業を行い、以後に連続する処理では、基板処理
手順にプリディスペンスの規定があっても無視して実行
しないようになっている。Step 700 is executed at the time of processing the first substrate when the pre-dispensing operation is pre-dispensing and a plurality of substrates are continuously processed by the same substrate processing procedure. The pre-processing work is performed only in step 700, and in subsequent processing, even if there is a pre-dispensing rule in the substrate processing procedure, it is ignored and not executed.
【0081】これらの関係を図示すると、第1の残量セ
ンサ115aにより第1の処理液貯留容器101に貯留
される処理液L1 の残量不足が検知される事象を集合S
1とし、第1の残量警報中断押しボタン36aがオン状
態である事象を集合S2とし、基板回転処理の基板処理
レシピ内に処理液L1 の規定がある事象を集合S3とす
ると、図12に示すように、S1とS2とS3との積
(S1 ∩ S2 ∩ S3)の部分SAに相当すると、処
理液L1 に関する第2種の警報が発令され、S1とS2
とS3の補集合との積(S1 ∩ S2 ∩ <S3>:こ
こで、<S3>はS3の補集合を表す)の部分SBに相
当すると、処理液L1 に関する第2種の警報が解除され
る。また、第1の残量センサ115aにより処理液L1
の残量不足が検知され、且つ、第1の残量警報中断押し
ボタン36aがオン状態でない状態というのは、図12
中のSCの部分に相当し、第1種の警報が発令される。When these relationships are illustrated, an event in which the first remaining amount sensor 115a detects that the remaining amount of the processing liquid L1 stored in the first processing liquid storage container 101 is insufficient is set S.
12, the event in which the first remaining amount alarm interrupt push button 36a is in the ON state is referred to as a set S2, and the event in which the processing liquid L1 is defined in the substrate processing recipe of the substrate rotation processing is referred to as a set S3. As shown, when the product SA of S1, S2, and S3 (S1SS2∩S3) corresponds to the portion SA, a second type of alarm for the processing liquid L1 is issued, and S1 and S2
(S1 ∩ S2 ∩ <S3>: where <S3> represents the complement of S3) corresponds to the portion SB, the second type of alarm for the processing liquid L1 is released. You. Further, the processing liquid L1 is detected by the first remaining amount sensor 115a.
The state in which the remaining amount is insufficient and the first remaining amount alarm interrupt push button 36a is not in the ON state is as shown in FIG.
The first type of alarm is issued, corresponding to the SC portion in the middle.
【0082】次に、ステップ500で実行される後チェ
ック処理について詳述する。この後チェック処理は、第
1の処理液貯留容器101に貯留されている処理液L1
の不足をチェックする第1後チェック工程500Aと、
第2の処理液貯留容器102に貯留されている処理液L
2 の不足をチェックする第2後チェック工程500B
と、第3の処理液貯留容器103に貯留されている処理
液L3 の不足をチェックする第3後チェック工程500
Cとから構成されている。以下、第1後チェック工程5
00Aについて詳しく説明するが、第2後チェック工程
500Bおよび第3後チェック工程500Cについて
は、対象とする処理液が異なるだけでその他は同様であ
るので説明は省略する。Next, the post-check processing executed in step 500 will be described in detail. Thereafter, the check processing is performed on the processing liquid L1 stored in the first processing liquid storage container 101.
A first post-checking process 500A for checking the shortage of
Processing liquid L stored in second processing liquid storage container 102
2nd post-checking process 500B for checking the shortage of 2
And a third post-check step 500 for checking the shortage of the processing liquid L3 stored in the third processing liquid storage container 103.
C. Hereinafter, the first post-check process 5
00A will be described in detail, but the second post-checking step 500B and the third post-checking step 500C are the same except for the treatment liquid to be processed, so that the description is omitted.
【0083】図11に示すように、後チェック処理が開
始されると、まず、第1の処理液貯留容器101に設け
られた第1の残量センサ115aからの検出信号がオン
状態であるか否かを判定する(ステップ505)。ここ
で、オン状態でない、即ち、オフ状態であると判定され
ると、後述する処理液L1 に関する第1種および第2種
の警報を解除する処理を行ない(ステップ510)、そ
の後、第1後チェック工程500Aを一旦終了して、第
2後チェック工程500Bに進む。ここで言う第1種お
よび第2種の警報とは、回転塗布機器側のコントローラ
31B,32Bからメインコントローラ60へ出力され
る警戒信号で、前述した前チェック処理における第1種
および第2種の警報と同じものである。As shown in FIG. 11, when the post-check processing is started, first, it is determined whether the detection signal from the first remaining amount sensor 115a provided in the first processing liquid storage container 101 is on. It is determined whether or not it is (step 505). Here, if it is determined that the processing liquid L1 is not in the on state, that is, it is in the off state, processing for canceling the first and second types of alarms for the processing liquid L1, which will be described later, is performed (step 510). The check step 500A is temporarily terminated, and the process proceeds to the second post-check step 500B. Here, the first and second types of alarms are warning signals output from the controllers 31B and 32B on the spin coating device side to the main controller 60, and are the first and second types of alarms in the pre-check processing described above. It is the same as an alarm.
【0084】一方、ステップ505で、残量センサ11
5aの検出信号がオン状態であると判定されると、第1
の残量警報中断押しボタン36aがオン状態であるか否
かを判定する(ステップ515)。ここで、オン状態で
ない、即ち、オフ状態であると判定されると、処理液L
1 に関する第1種の警報を発令するとともに、第2種の
警報を解除する処理を行なう(ステップ520)。即
ち、残量センサ115aで処理液L1 の不足が検出さ
れ、しかも、第1の残量警報中断押しボタン36aが押
圧されていない場合(処理液L1 の残量不足に対して警
報の発令の中断の指示がなされていない場合)には、第
1種の警報を発令するとともに、第2種の警報を解除す
る処理を行なう。ステップ520の実行後、第1後チェ
ック工程500Aを終了して、第2後チェック工程50
0Bに進む。On the other hand, at step 505, the remaining amount sensor 11
If it is determined that the detection signal of FIG.
It is determined whether the remaining amount warning push button 36a is ON (step 515). Here, when it is determined that the processing liquid L is not in the on state, that is, is in the off state,
At the same time as issuing a first type alarm for 1 and canceling the second type alarm (step 520). In other words, when the shortage of the processing liquid L1 is detected by the remaining amount sensor 115a and the first remaining amount alarm interruption push button 36a is not pressed (the interruption of the alarm issuance for the insufficient remaining amount of the processing liquid L1). Is not issued), the first type of alarm is issued, and the process of releasing the second type of alarm is performed. After the execution of step 520, the first post-checking process 500A is terminated, and the second post-checking process 50A is completed.
Proceed to 0B.
【0085】一方、ステップ515で、第1の残量警報
中断押しボタン36aがオン状態であると判定された場
合には、処理液L1 に関する第1種の警報を解除する処
理を行ない(ステップ525)、その後、以下の処理を
実行する。On the other hand, if it is determined in step 515 that the first remaining amount alarm interrupt push button 36a is in the ON state, processing for canceling the first type of alarm relating to the processing liquid L1 is performed (step 525). Then, the following processing is executed.
【0086】まず、基板回転処理の後に実行される処理
後作業にて処理液L1 を用いた処理液の吐出があるか否
かを判定する(ステップ530)。ここで、処理液L1
の吐出があると判定された場合には、処理液L1 に関し
て第2種の警報が発令中か否かを判定する(ステップ5
35)。ステップ535で処理液L1 に関して第2種の
警報が発令中でないと判定されると、ここで処理液L1
に関する第2種の警報を一旦発令し(ステップ54
0)、その後、第1後チェック工程500Aを終了す
る。First, it is determined whether or not the processing liquid is discharged using the processing liquid L1 in the post-processing operation performed after the substrate rotation processing (step 530). Here, the processing liquid L1
If it is determined that there is a second discharge, it is determined whether or not a second type alarm is being issued for the processing liquid L1 (step 5).
35). If it is determined in step 535 that the second type alarm is not being issued for the processing liquid L1, the processing liquid L1
Is issued once (step 54).
0) Then, the first post-check process 500A ends.
【0087】なお、ステップ540で第2種の警報を発
令した後、後述するステップ600を経て再びステップ
500に戻ってきて、ステップ535で、第2種の警報
が発令中であると判定されると、次いで、処理液L1 に
関して第2種の警報の解除指令がメインコントローラ6
0から入力されたか否かを判定する(ステップ54
5)。ここで言う第2種の警報の解除指令とは、処理後
作業にて使用される処理液L1 の不足が以降の処理に影
響がないとオペレータにより判断された場合に、オペレ
ータによりキーボード5aから特別に指示入力されてメ
インコントローラ60から入力される指令で、この第2
種の警報の解除指令の入力があると判定された場合、処
理液L1 に関する第2種の警報を解除し(ステップ55
0)、その後、第1後チェック工程500Aを一旦終了
する。After issuing the second type alarm at step 540, the process returns to step 500 via step 600 described later, and at step 535, it is determined that the second type alarm is being issued. Then, the cancellation command of the second type alarm for the processing liquid L1 is sent to the main controller 6.
It is determined whether an input has been made from 0 (step 54).
5). Here, the second type of alarm cancellation command is a special instruction from the keyboard 5a by the operator when the operator determines that the shortage of the processing liquid L1 used in the post-processing work does not affect the subsequent processing. Is input from the main controller 60, and the second
If it is determined that an instruction for canceling the type of alarm has been input, the second type of alarm for the processing liquid L1 is canceled (step 55).
0) Then, the first post-checking process 500A is temporarily ended.
【0088】一方、ステップ545で、第2種の警報の
解除指令の入力がないと判定された場合、第1後チェッ
ク工程500Aを一旦終了して、第2後チェック工程5
00Bに進む。なお、ステップ530で、処理後作業に
て処理液L1 を用いた処理液の吐出がないと判定された
場合にも、即座に、第1後チェック工程500Aを一旦
終了して、第2後チェック工程500Bに進む。On the other hand, if it is determined in step 545 that there is no input of the second type alarm cancel command, the first post-check process 500A is temporarily terminated, and the second post-check process 5A is terminated.
Go to 00B. Even if it is determined in step 530 that there is no discharge of the processing liquid using the processing liquid L1 in the post-processing work, the first post-check process 500A is immediately terminated once, and the second post-check Proceed to step 500B.
【0089】第2後チェック工程500Bでは、第1後
チェック工程500Aと比較して、対象とする処理液が
第1の処理液貯留容器101に貯留されている処理液L
1 から第2の処理液貯留容器102に貯留されている処
理液L2 に変わっただけで、同様な処理を実行する。続
いて、対象とする処理液が処理液貯留容器103に貯留
されている処理液L3 に変わった第3後チェック工程5
00Cを実行し、その後、処理は「リターン」に抜けて
本ルーチンを一旦終了する。In the second post-checking step 500B, the processing liquid to be processed is stored in the first processing liquid storage container 101 in comparison with the first post-checking step 500A.
The same processing is executed only by changing from 1 to the processing liquid L2 stored in the second processing liquid storage container 102. Subsequently, the third post-check step 5 in which the target processing liquid is changed to the processing liquid L3 stored in the processing liquid storage container 103
00C, and then the process exits to “Return” to end this routine once.
【0090】即ち、以上のように構成された後チェック
処理によれば、第1の残量センサ115aにより第1の
処理液貯留容器101に貯留される処理液L1 の残量不
足が検知され、且つ、第1の残量警報中断押しボタン3
6aがオン状態であると判定された場合(処理液L1 の
残量不足に対して警報の発令の中断の指示がなされた場
合)に、基板回転処理の後に実行される処理後作業にお
いて、処理液L1 の吐出があると、処理液L1 に関して
第2種の警報が発令される。この結果、図9で示したメ
イン処理ルーチンにおいては、ステップ600の判定に
より後チェック処理が再度実行され、処理後作業である
処理液吐出の処理の実行が停止される。なお、この第2
種の警報を受けた後、オペレータにより、第1の処理液
貯留容器101への処理液L1 の補充がなされたり、あ
るいは主操作パネル5の操作がなされ、第2種の警報解
除指令がメインコントローラ60から出力されると、第
2種の警報は解除され、その結果、処理後作業の実行が
再開される。That is, according to the post-check processing configured as described above, the first remaining amount sensor 115a detects that the remaining amount of the processing liquid L1 stored in the first processing liquid storage container 101 is insufficient. And a first remaining amount alarm interrupt push button 3
When it is determined that the substrate 6a is in the ON state (when an instruction to interrupt the issuance of an alarm is issued for the insufficient remaining amount of the processing liquid L1), in the post-processing work executed after the substrate rotation processing, When the liquid L1 is discharged, a second type of alarm is issued for the processing liquid L1. As a result, in the main processing routine shown in FIG. 9, the post-check processing is executed again by the determination in step 600, and the execution of the processing liquid discharge processing, which is the post-processing work, is stopped. Note that this second
After receiving the type of alarm, the operator replenishes the processing liquid L1 to the first processing liquid storage container 101 or operates the main operation panel 5, and the second type of alarm release command is issued by the main controller. When output from 60, the second type of alarm is released, and as a result, execution of the post-processing work is resumed.
【0091】以上のように、後チェック処理における第
2種の警報も、前チェック処理における第2種の警報と
同様に、オペレータの誤操作を意味するので、メインコ
ントローラ60はその旨をディスプレイ5bに表示し、
その時点で装置を即時に停止させる。また、第1種の警
報も、同様に主として装置運転中において、処理液が通
常に消費されて不足してきたときに発令される。ここ
で、第1の処理液貯留容器101内の処理液L1 の残量
が、処理後作業が可能な量だけの余裕を残している時点
で、第1残量センサ115aが第1の処理液貯留容器1
01内の処理液L1 の残量不足を検知するように設定し
ておくことが望ましい。そうすることにより、かかる第
1種の警報の発令に対しても、即時装置を停止して処理
を全面的に中断してしまう必要はない。メインコントロ
ーラ60は、かかる第1種の警報を受けると、その旨を
表示し、処理後作業が終了した時点で装置の動作を停止
させる。そして、後チェック処理が終了すると、ステッ
プ800に進み、処理後作業が実行される。As described above, the second type of alarm in the post-check process also indicates an erroneous operation by the operator, as in the second type of alarm in the pre-check process. Therefore, the main controller 60 indicates this to the display 5b. Display,
At that point, stop the device immediately. Similarly, the first type alarm is also issued when the processing liquid is normally consumed and becomes insufficient during the operation of the apparatus. Here, when the remaining amount of the processing liquid L1 in the first processing liquid storage container 101 has a margin sufficient for the post-processing work, the first remaining amount sensor 115a detects the first processing liquid. Storage container 1
It is desirable that the setting is made so as to detect the shortage of the remaining amount of the processing liquid L1 in the storage unit 01. By doing so, it is not necessary to immediately stop the apparatus and completely interrupt the processing even when the first type alarm is issued. When receiving the first type of alarm, the main controller 60 displays a message to that effect and stops the operation of the apparatus when the post-processing operation is completed. When the post-check processing ends, the process proceeds to step 800, where the post-processing work is executed.
【0092】以上のように構成された本実施例の基板処
理装置1では、第1ないし第3の残量警報中断押しボタ
ン36aにより、第1ないし第3の処理液貯留容器10
1,102,103の中から特定の処理液貯留容器を指
示することにより、その指示された処理液貯留容器に対
応する残量センサ115a,115b,115cの検出
結果に基づく警報の発令を回避することができる。さら
には、第1ないし第3の残量警報中断押しボタン36a
による指示を、誤った処理液貯留容器に対して行なった
場合にも、その誤った処理液貯留容器に収容される処理
液の種類が、処理しようとする基板処理手順内に規定さ
れていると、その警報の発令の回避を行なわず、警報の
発令を行なう。この結果、異常を知らずに不良ロットが
発生するようなこともなく、装置の信頼性に優れてい
る。In the substrate processing apparatus 1 of the present embodiment configured as described above, the first to third processing solution storage containers 10 are operated by the first to third remaining amount warning interruption push buttons 36a.
By designating a specific processing liquid storage container from among 1, 102, and 103, it is possible to avoid issuing an alarm based on the detection results of remaining amount sensors 115a, 115b, and 115c corresponding to the specified processing liquid storage container. be able to. Further, the first to third remaining amount alarm interrupt push buttons 36a
Is given to the wrong processing liquid storage container, the type of the processing liquid contained in the wrong processing liquid storage container is defined in the substrate processing procedure to be processed. The warning is issued without avoiding the warning. As a result, there is no occurrence of a defective lot without knowing the abnormality, and the apparatus is excellent in reliability.
【0093】また、本実施例の基板処理装置1は、基板
回転処理の際に限らず、処理液吐出ノズル52のプリデ
ィスペンスやアフターディスペンス,回転塗布機器3
1,32のチャンバー45等に対して行なわれる洗浄等
の処理前作業や処理後作業においても、同様な警報の発
令及び回避を行うことができ、より装置の信頼性が高
い。Further, the substrate processing apparatus 1 of the present embodiment is not limited to the case of the substrate rotation processing, but may be a pre-dispensing or an after-dispensing of the processing liquid discharge nozzle 52, and the spin coating device 3.
In the pre-processing and post-processing operations such as cleaning performed on the first and second chambers 45 and the like, similar alarms can be issued and avoided, and the reliability of the apparatus is higher.
【0094】さらに、本実施例の基板処理装置1は、第
1の残量センサ115aにより処理液L1 の残量不足が
検知され、且つ、第1の残量警報中断押しボタン36a
がオン状態でない場合には、装置運転中に処理液が通常
に不足してきた状態であるとして、装置を即時停止させ
ることなしに、第1種の警報だけを発令している。この
ため、処理液補充等に際して、現在処理しているロット
が一区切りつくまで処理を継続することができ、作業性
に優れている。Further, in the substrate processing apparatus 1 of the present embodiment, the first remaining amount sensor 115a detects that the remaining amount of the processing liquid L1 is insufficient, and the first remaining amount alarm interrupt push button 36a
If is not in the ON state, it is determined that the processing liquid is normally insufficient during operation of the apparatus, and only the first type of alarm is issued without immediately stopping the apparatus. Therefore, when replenishing the processing solution or the like, the processing can be continued until the currently processed lot reaches one end, and the workability is excellent.
【0095】以上本発明の一実施例について説明した
が、本発明はこうした実施例に何等、限定されるもので
はなく、例えば、重量から処理液量を検知する残量セン
サ115a,115b,115cに替えて、静電容量か
ら処理液量を検知するものを用いた構成、あるいは、複
数の処理液収容部からの配管を途中で結合することによ
り、単一の処理液吐出ノズルから複数種の処理液を選択
的に吐出可能とした構成等、本発明の要旨を逸脱しない
範囲において種々なる態様で実施し得ることは勿論であ
る。Although the embodiment of the present invention has been described above, the present invention is not limited to such an embodiment. For example, the remaining amount sensors 115a, 115b, and 115c for detecting the amount of the processing liquid from the weight may be used. Alternatively, by using a configuration that detects the amount of the processing liquid from the capacitance, or by connecting pipes from a plurality of processing liquid storage sections in the middle, multiple types of processing liquid can be processed from a single processing liquid discharge nozzle. Needless to say, the present invention can be implemented in various modes without departing from the gist of the present invention, such as a configuration in which the liquid can be selectively discharged.
【図1】実施例の回転式基板処理装置の概略斜視図。FIG. 1 is a schematic perspective view of a rotary substrate processing apparatus according to an embodiment.
【図2】回転塗布機器における処理液吐出ノズル先端部
周辺の概略構成図。FIG. 2 is a schematic configuration diagram of the vicinity of the tip of a processing liquid discharge nozzle in a spin coating device.
【図3】回転塗布機器における処理液吐出ノズルの移動
の様子を説明するための説明図。FIG. 3 is an explanatory diagram for explaining a state of movement of a processing liquid discharge nozzle in a rotary coating device.
【図4】回転塗布機器における処理液吐出ノズルから処
理液を吐出するための管路構成を示す概略経路図。FIG. 4 is a schematic path diagram showing a configuration of a pipeline for discharging a processing liquid from a processing liquid discharge nozzle in a rotary coating apparatus.
【図5】回転式基板処理装置におけるメインコントロー
ラを中心とした制御系のブロック図。FIG. 5 is a block diagram of a control system centering on a main controller in the rotary substrate processing apparatus.
【図6】本実施例の回転塗布機器における回転塗布機器
コントローラを中心とした制御系のブロック図。FIG. 6 is a block diagram of a control system centered on a spin coating device controller in the spin coating device of the present embodiment.
【図7】プロセス処理ユニットにて基板を回転処理する
際の基板処理手順を説明するための説明図。FIG. 7 is an explanatory diagram for explaining a substrate processing procedure when a substrate is rotated by a processing unit.
【図8】図7における処理ステップ3の詳細を説明する
ための説明図。FIG. 8 is an explanatory diagram for explaining details of a processing step 3 in FIG. 7;
【図9】回転塗布機器コントローラにおいて実行される
メイン処理ルーチンを示すフローチャートである。FIG. 9 is a flowchart showing a main processing routine executed in the spin coating device controller.
【図10】そのメイン処理ルーチンにおける前チェック
処理を示すフローチャートである。FIG. 10 is a flowchart showing a pre-check process in the main process routine.
【図11】そのメイン処理ルーチンにおける後チェック
処理を示すフローチャートである。FIG. 11 is a flowchart showing post-check processing in the main processing routine.
【図12】残量センサの状態,残量警報中断押しボタン
の状態,基板処理レシピ内の処理液の規定の状態をそれ
ぞれ示す各事象S1,S2,S3を用いて、本実施例の
基板処理装置の動作を示すグラフである。FIG. 12 illustrates the substrate processing of the present embodiment using the events S1, S2, and S3 respectively indicating the state of the remaining amount sensor, the state of the push button for interrupting the remaining amount alarm, and the prescribed state of the processing liquid in the substrate processing recipe. 6 is a graph showing the operation of the device.
1 回転式基板処理装置 2 基板授受ユニット 3 プロセス処理ユニット 5 主操作パネル 31 回転塗布機器 31A 副操作パネル 31B 回転塗布機器コントローラ 32 回転塗布機器 32A 副操作パネル 32B 回転塗布機器コントローラ 36a,36b,36c 残量警報中断押しボタン 40 ノズル駆動機器 41 ノズル機構 52 処理液吐出ノズル 60 メインコントローラ 61 CPU 62 ROM 63 RAM 70 基板授受ユニットコントローラ 52a,52b,52c 処理液吐出ノズル 54a,54b,54c 開閉バルブ 101 第1の処理液貯留容器 102 第2の処理液貯留容器 103 第3の処理液貯留容器 110a,110b,110c 処理液供給管 112a,112b,112c 処理液圧送ポンプ 115a 第1の残量センサ 115b 第2の残量センサ 115c 第3の残量センサ L1,L2,L3 処理液 REFERENCE SIGNS LIST 1 rotary substrate processing apparatus 2 substrate transfer unit 3 process processing unit 5 main operation panel 31 spin coating device 31A sub operation panel 31B spin coating device controller 32 spin coating device 32A sub operation panel 32B spin coating device controller 36a, 36b, 36c remaining Volume alarm interruption push button 40 Nozzle driving device 41 Nozzle mechanism 52 Processing liquid discharge nozzle 60 Main controller 61 CPU 62 ROM 63 RAM 70 Substrate transfer unit controller 52a, 52b, 52c Processing liquid discharge nozzle 54a, 54b, 54c Open / close valve 101 First Processing liquid storage container 102 second processing liquid storage container 103 third processing liquid storage container 110a, 110b, 110c processing liquid supply pipe 112a, 112b, 112c processing liquid pressure pump 115a first residue Third remaining capacity sensor L1 sensor 115b second level sensor 115c, L2, L3 processing liquid
Claims (1)
容する複数の処理液収容部と、 前記処理液収容部に収容された処理液を各処理液収容部
から基板処理部に対して供給する複数の処理液供給手段
と、 基板処理部に供給の必要な処理液の種類や供給量を含む
各種処理条件を少なくとも規定する基板処理手順を記憶
する記憶手段と、 前記記憶手段に記憶された基板処理手順に基づき前記複
数の処理液供給手段から少なくとも一つの処理液供給手
段を選択的に制御して基板処理の実行を制御する制御手
段とを備える基板処理装置であって、 各処理液収容部内の処理液の量を検出する処理液量検出
手段と、 前記処理液量検出手段の検出結果から任意の処理液収容
部内の処理液が不足していることを検知する不足検知手
段と、 前記不足検知手段で任意の処理液収容部内の処理液が不
足していることが検知されたとき、異常である旨の決定
を行なう異常決定手段とを設け、さらに、 前記記憶手段に記憶された基板処理手順内に、前記不足
検知手段で不足していると検知された処理液の種類が規
定されているか否かを判別する処理手順内判別手段と、 前記判別手段により前記処理液の種類が規定されていな
いと判別されたとき、前記異常決定手段による異常であ
る旨の決定を解除する異常決定解除手段とを設けた基板
処理装置。A substrate processing unit for supplying a processing liquid to the substrate; a plurality of processing liquid storage units for individually storing a plurality of processing liquids to be supplied to the substrate processing unit; A plurality of processing liquid supply means for supplying the processed processing liquid from each processing liquid storage section to the substrate processing section, and at least various processing conditions including the type and amount of processing liquid required to be supplied to the substrate processing section. A storage unit that stores a substrate processing procedure to be performed, and selectively executes at least one processing liquid supply unit from the plurality of processing liquid supply units based on the substrate processing procedure stored in the storage unit. A substrate processing apparatus comprising: a processing liquid amount detection unit configured to detect an amount of the processing liquid in each processing liquid storage unit; and an arbitrary processing liquid storage unit based on a detection result of the processing liquid amount detection unit. Processing solution is insufficient Shortage detecting means for detecting that the processing liquid in any of the processing liquid storage units is insufficient by the shortage detecting means, and abnormality determining means for determining that the processing liquid is abnormal. Further, in the substrate processing procedure stored in the storage means, processing procedure determination means for determining whether or not the type of the processing liquid that is detected to be insufficient by the shortage detection means is defined, A substrate processing apparatus provided with abnormality determination canceling means for canceling the abnormality determination by the abnormality determining means when it is determined that the type of the processing liquid is not specified by the determination means.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8590596A JP2868721B2 (en) | 1996-03-13 | 1996-03-13 | Substrate processing equipment |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8590596A JP2868721B2 (en) | 1996-03-13 | 1996-03-13 | Substrate processing equipment |
Related Parent Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP6913892A Division JP2838175B2 (en) | 1992-02-18 | 1992-02-18 | Substrate processing equipment |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH08316188A JPH08316188A (en) | 1996-11-29 |
JP2868721B2 true JP2868721B2 (en) | 1999-03-10 |
Family
ID=13871865
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP8590596A Expired - Fee Related JP2868721B2 (en) | 1996-03-13 | 1996-03-13 | Substrate processing equipment |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2868721B2 (en) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4940123B2 (en) * | 2007-12-21 | 2012-05-30 | 東京エレクトロン株式会社 | Substrate processing apparatus and substrate processing method |
JP6393661B2 (en) * | 2015-06-24 | 2018-09-19 | 東京エレクトロン株式会社 | Substrate liquid processing equipment |
-
1996
- 1996-03-13 JP JP8590596A patent/JP2868721B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH08316188A (en) | 1996-11-29 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR970006206B1 (en) | Automatic coating system | |
JP5318403B2 (en) | Substrate processing equipment | |
JP4697882B2 (en) | Treatment liquid supply apparatus, treatment liquid supply method, and treatment liquid supply control program | |
WO1999064940A9 (en) | Distributed control system for a semiconductor wafer processing machine | |
JP2009021275A (en) | Substrate treating equipment | |
JP2004087570A (en) | Substrate treating device | |
JP2868722B2 (en) | Substrate processing equipment | |
US20080249648A1 (en) | System for verifying applicability of new operation recipe to substrate processing apparatus | |
JP2838175B2 (en) | Substrate processing equipment | |
JP2868721B2 (en) | Substrate processing equipment | |
JP3620830B2 (en) | Substrate processing apparatus and substrate recovery method in substrate processing apparatus | |
JP4172553B2 (en) | Substrate processing apparatus and substrate processing method | |
JP2523412B2 (en) | Rotary substrate processing equipment | |
JP4252169B2 (en) | Semiconductor manufacturing apparatus and substrate recovery method | |
US7031792B2 (en) | Processing apparatus and information storage apparatus and method | |
JPH04300674A (en) | Rotary apparatus for treating substrate | |
JP3708880B2 (en) | Substrate processing method and substrate processing apparatus | |
JPH05267267A (en) | Substrate treatment apparatus | |
JP2523411B2 (en) | Rotary substrate processing equipment | |
JP2562739B2 (en) | Rotary substrate processing equipment | |
JP2813751B2 (en) | Rotary substrate processing equipment | |
JP2772517B2 (en) | Rotary substrate processing equipment | |
JP2000021703A (en) | Method and device for supplying processing liquid | |
WO2022264675A1 (en) | Substrate processing method, substrate processing device, and program | |
JP2739143B2 (en) | Rotary substrate processing equipment |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Year of fee payment: 9 Free format text: PAYMENT UNTIL: 20071225 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081225 Year of fee payment: 10 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Year of fee payment: 10 Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081225 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091225 Year of fee payment: 11 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091225 Year of fee payment: 11 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091225 Year of fee payment: 11 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Year of fee payment: 12 Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101225 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Year of fee payment: 12 Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101225 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111225 Year of fee payment: 13 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111225 Year of fee payment: 13 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Year of fee payment: 13 Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111225 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |