JP2828492B2 - Application LAN test circuit - Google Patents
Application LAN test circuitInfo
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Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、LAN（ローカルエリアネットワーク）上
のアプリケーション開発においてアプリケーション回路
の機能に無影響で動作するアプリケーション−LAN間試
験回路に関するものである。Description: TECHNICAL FIELD The present invention relates to an application-LAN test circuit that operates without affecting the function of an application circuit in application development on a LAN (local area network).
従来、この種の試験技術を開示したものとして、例え
ば特開昭62−216448号及び特開平２−2785号公報に示す
ものがある。第３図はネットワーク上のアプリケーショ
ン回路開発において、テストアプリケーション回路によ
ってLAN上のデータやネットワーク機能の試験を行う構
成を示し、また、第４図はラインモニタによりLAN上の
データやネットワーク機能の試験を行う構成を示してい
る。Conventionally, this type of test technique is disclosed in, for example, JP-A-62-216448 and JP-A-2-2785. FIG. 3 shows a configuration for testing data and network functions on a LAN using a test application circuit in the development of an application circuit on a network, and FIG. 4 shows a test for testing data and network functions on a LAN using a line monitor. The configuration to be performed is shown.
すなわち、第３図のシステムは、アプリケーション回
路（１）により作成したデータをデバイス制御回路
（２）を通してデバイス（４）上のLAN（５）に送り、
通信相手のデバイス（６）でデータを受信し、デバイス
制御回路（８）を通してアプリケーション回路（９）に
データを送るシステムである。That is, the system of FIG. 3 sends the data created by the application circuit (1) to the LAN (5) on the device (4) through the device control circuit (2),
This is a system in which data is received by a communication partner device (6), and data is transmitted to an application circuit (9) through a device control circuit (8).
また、第４図のシステムは、アプリケーション回路
（１）により作成したデータを、デバイス制御回路
（２）を通してデバイス（４）上のLAN（５）に送り、
送られたデータを、LAN上のラインモニタ装置（10）に
表示し、さらに送られたデータを通信相手のデバイス
（６）で受信し、デバイス制御回路（８）を通してアプ
リケーション回路（９）にデータを送るシステムであ
る。なお、（３），（７）はパーソナルコンピュータ装
置である。4 sends the data created by the application circuit (1) to the LAN (5) on the device (4) through the device control circuit (2).
The transmitted data is displayed on the line monitor device (10) on the LAN, and the transmitted data is received by the communication partner device (6), and is transmitted to the application circuit (9) through the device control circuit (8). Is a system that sends Note that (3) and (7) are personal computer devices.
従来の試験システムは以上のように構成されているの
で、アプリケーション回路（１）によりデバイス（４）
との通信データを解析するか、デバイスとデバイスの間
に、ラインモニタ（10）を設置して、データを解析しな
ければならなく、これでは本来試験を行いたいアプリケ
ーション回路で試験を行えないという問題点があった。Since the conventional test system is configured as described above, the device (4) is configured by the application circuit (1).
It is necessary to analyze the communication data with the device or install a line monitor (10) between the devices to analyze the data, which makes it impossible to perform the test with the application circuit that you originally want to test There was a problem.
この発明は上記のような問題点を解消するためになさ
れたもので、本来試験を行いたいアプリケーション回路
の処理に無影響で試験を行えるアプリケーション−LAN
間試験回路を提供することを目的としている。SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above-described problems, and has been made in consideration of the above-described circumstances.
It is intended to provide an inter-circuit test circuit.
この発明に係るアプリケーション−LAN間試験回路
は、アプリケーション回路とデバイス制御回路を有し、
ローカルエリアネットワーク上で動作するパーソナルコ
ンピュータにおいて、上記アプリケーション回路とデバ
イス制御回路がともに参照する共通データ領域の通信デ
ータを参照及び変更する試験回路として、 上記共通データ領域を参照して通信データ中制御情報
の画面表示を行い、かつ、制御情報変更回路の起動を行
わせることが可能なデバイス制御情報表示回路、 上記デバイス制御情報表示回路からの起動指示により
起動し、デバイス制御情報表示回路の表示画面とは別の
画面で制御情報を表示し、当該制御情報を変更可能とす
るデバイス制御情報変更回路、 上記共通データ領域を参照して通信データ中アプリケ
ーション送信データの画面表示を行い、かつ、アプリケ
ーション送信データ変更回路の起動を行わせることが可
能なアプリケーション送信データ表示回路、 上記共通データ領域を参照して通信データ中アプリケ
ーション受信データの画面表示を行い、かつ、アプリケ
ーション送信データ変更回路の起動を行わせることが可
能なアプリケーション受信データ表示回路、 上記アプリケーション送信データ表示回路からの起動
指示により起動し、アプリケーション送信データ表示回
路の表示画面とは別の画面で送信データを表示し、当該
データを変更可能とするアプリケーション送信データ変
更回路、 上記アプリケーション受信データ表示回路からの起動
指示により起動し、アプリケーション受信データ表示回
路の表示画面とは別の画面で受信データを表示し、当該
データを変更可能とするアプリケーション受信データ変
更回路 を有する試験回路を、上記アプリケーション回路とデバ
イス制御回路とは独立して設け、共通データ領域の通信
データを参照、変更することにより、上記アプリケーシ
ョン回路とデバイスの試験を行うことを特徴とするもの
である。An application-LAN test circuit according to the present invention has an application circuit and a device control circuit,
In a personal computer operating on a local area network, as a test circuit for referencing and changing communication data in a common data area that is referred to by both the application circuit and the device control circuit, control information in the communication data is referred to by referring to the common data area. A device control information display circuit capable of performing a screen display of the device control information change circuit, and starting by a start instruction from the device control information display circuit, and displaying a display screen of the device control information display circuit. Is a device control information change circuit that displays control information on a separate screen and allows the control information to be changed; a screen display of application transmission data in communication data with reference to the common data area; An application that can activate the change circuit Application reception data display circuit, an application reception data display circuit capable of displaying a screen of application reception data in communication data with reference to the common data area and activating an application transmission data change circuit, the application An application transmission data change circuit that is activated by a start instruction from the transmission data display circuit, displays transmission data on a screen different from the display screen of the application transmission data display circuit, and allows the data to be changed, and the application reception data display. A test circuit having an application reception data change circuit that is started by a start instruction from the circuit, displays the reception data on a screen different from the display screen of the application reception data display circuit, and enables the data to be changed, Provided independently of the down circuit and the device control circuit, see the communication data of the common data area by changing, it is characterized in that for testing the application circuit and the device.
この発明における試験回路においては、アプリケーシ
ョン回路とデバイス制御回路とは独立して設けられた試
験回路により、共通データ領域のデータを参照、変更す
ることにより、上記アプリケーション回路とデバイスの
試験を行う。In the test circuit according to the present invention, the application circuit and the device are tested by referring to and changing data in the common data area by a test circuit provided independently of the application circuit and the device control circuit.
以下、この発明における一実施例を図について説明す
る。第１図はこの発明の一実施例を示すもので、パーソ
ナルコンピュータ装置（３）に、アプリケーション回路
（１）とデバイス制御回路（２）がともに参照する共通
データ領域（11）の通信データを参照及び変更する試験
回路（12）を、上記アプリケーション回路（１）とデバ
イス制御回路（２）とは独立して設け、共通データ領域
（11）のデータを参照、変更することにより、上記アプ
リケーション回路（１）とデバイス（４）の試験、及び
デバイス制御回路（２）を通して複数の別装置の操作及
び試験が可能になるようになされている。An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 shows an embodiment of the present invention, in which a personal computer device (3) refers to communication data in a common data area (11) that is referred to by both an application circuit (1) and a device control circuit (2). And a test circuit (12) to be changed is provided independently of the application circuit (1) and the device control circuit (2), and by referring to and changing data in the common data area (11), 1) and testing of the device (4), and operation and testing of a plurality of different apparatuses through the device control circuit (2) are enabled.
なお、（13）は上記パーソナルコンピュータ装置
（３）に接続されてアプリケーション編集画面に試験回
路編集画面（13a）を表示するようになされたディスプ
レイ装置を示す。Reference numeral (13) denotes a display device connected to the personal computer (3) to display a test circuit editing screen (13a) on an application editing screen.
次に、上記構成における試験回路（12）の詳細回路構
成及び動作を第２図に示すHCPチャートを参照して説明
する。本回路は回路内でさらに６つの回路から構成され
ている。以下に各回路の機能を記述する。Next, the detailed circuit configuration and operation of the test circuit (12) in the above configuration will be described with reference to the HCP chart shown in FIG. This circuit is further composed of six circuits. The function of each circuit is described below.
第２図（ａ）に示す回路はデバイスの制御情報を参照
するための回路及びその他の回路に動作指示を与えるた
めの回路、すなわち、図示の如く、共通データ領域を参
照して通信データ中制御情報の画面表示を行い、後述の
制御情報変更回路の起動を行わせることが可能なデバイ
ス制御情報表示回路、また、同図（ｂ）に示す回路は特
定もしくは複数の装置（自身も可）を制御するための回
路、すなわち、デバイス制御情報表示回路からの起動指
示により起動しデバイス制御情報表示回路の表示画面と
は別の画面で制御情報を表示し、図示の如く、当該制御
情報を変更可能とするデバイス制御情報変更回路、同図
（ｃ）に示す回路はアプリケーション回路が特定もしく
は複数の装置（自身でも可）へデータを渡すための通信
データ（送信データ）を参照するためのアプリケーショ
ン送信データ表示回路、及び他の特定もしくは複数の装
置内（自身でも可）からのアプリケーション回路へのデ
ータ（受信データ）を参照するためのアプリケーション
受信データ表示回路で、これら両データ表示回路は、図
示の如く、上記制御情報表示回路と同様に、後述の対応
データ変更回路の起動を行わせることが可能に構成され
ている。同図（ｄ）に示す回路は、上記各アプリケーシ
ョン送信及び受信データ表示回路からの起動指示により
起動し、それぞれ送信及び受信データ表示回路の表示画
面とは別の画面で送信及び受信データを表示し、図示の
如く、当該データを変更可能とするアプリケーション送
信データ変更回路及びアプリケーション受信データ表示
回路をそれぞれ示す。なお、第２図（ｃ）、（ｄ）に示
す回路は、送信及び受信毎に同一構成の回路を備える。The circuit shown in FIG. 2A is a circuit for referring to control information of the device and a circuit for giving an operation instruction to other circuits, that is, as shown in FIG. A device control information display circuit capable of displaying information on a screen and starting a control information change circuit, which will be described later, and a circuit shown in FIG. A circuit for controlling, that is, activated by an activation instruction from the device control information display circuit, displays control information on a screen different from the display screen of the device control information display circuit, and can change the control information as shown in the figure. The device control information change circuit described above, and the circuit shown in FIG. 4C are communication data (transmission data) for the application circuit to pass data to a specific device or to a plurality of devices (or the device itself). And an application reception data display circuit for referring to data (reception data) from another inside or a plurality of devices (or itself) to the application circuit. As shown in the drawing, the data display circuit is configured to be able to activate a corresponding data change circuit described later, similarly to the control information display circuit. The circuit shown in FIG. 3D is activated by a start instruction from the application transmission and reception data display circuit, and displays transmission and reception data on a screen different from the display screen of the transmission and reception data display circuit, respectively. As shown in the figure, an application transmission data change circuit and an application reception data display circuit which enable the data to be changed are shown. The circuits shown in FIGS. 2 (c) and 2 (d) have the same configuration for each transmission and reception.
上記のようにこの試験回路（12）は各種のデータに対
して独立して回路を持ち、かつ、それぞれが独立したマ
ルチウィンドウの編集画面を持つため各種の試験を各種
のパターンで独立して行うことができる。As described above, this test circuit (12) has independent circuits for various data, and each has an independent multi-window edit screen, so that various tests are independently performed in various patterns. be able to.
また、この試験回路（12）は、予め設定しておくこと
により障害データ受信時に他の回路動作をホールドさせ
てデータ解析を行うことが可能である（ホールドさせる
機能は別回路により実現されている）。Further, the test circuit (12) can perform data analysis by holding other circuit operations at the time of failure data reception by setting in advance (the function of holding is realized by another circuit). ).
なお、上記実施例における試験回路（12）は、実施例
の如くデータ参照インタフェース形式をとるならば、他
の装置やアプリケーション回路にも利用できる。Note that the test circuit (12) in the above embodiment can also be used for other devices and application circuits if it takes a data reference interface format as in the embodiment.
以上のように、この発明によれば、他のテストアプリ
ケーション回路を開発することなく、また他の装置を使
用することなく、本来試験を行いたいアプリケーション
回路の処理に無影響でアプリケーションとデバイスの試
験を、共通データ領域を参照して制御情報及び制御情報
とともに送受信するアプリケーションデータを表示及び
変更可能にすることで、安価で容易かつ正確に試験を行
える。As described above, according to the present invention, application and device testing can be performed without developing other test application circuits and without using other devices, without affecting the processing of the application circuit to be originally tested. By making it possible to display and change the control information and the application data to be transmitted and received together with the control information with reference to the common data area, the test can be performed easily and accurately at low cost.
第１図はこの発明の一実施例による構成図、第２図
（ａ）〜（ｄ）は試験回路（12）の構成を示すHCPチャ
ート、第３図と第４図は従来の試験方法についての構成
図である。 （１）……アプリケーション回路、 （２）……デバイス制御回路、 （３）……パーソナルコンピュータ装置、 （４）……デバイス、 （11）……共通データ領域、 （12）……試験回路。 なお、各図中、同一符号は同一または相当部分を示す。FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of the present invention, FIGS. 2 (a) to 2 (d) are HCP charts showing a configuration of a test circuit (12), and FIGS. 3 and 4 are diagrams showing a conventional test method. FIG. (1) Application circuit, (2) Device control circuit, (3) Personal computer device, (4) Device, (11) Common data area, (12) Test circuit. In the drawings, the same reference numerals indicate the same or corresponding parts.
フロントページの続き (56)参考文献 特開 平４−334231（ＪＰ，Ａ) 特開 平１−113851（ＪＰ，Ａ) 特開 昭62−52643（ＪＰ，Ａ) 特公 平７−56636（ＪＰ，Ｂ２) 第12回システムシンポジウム講演論文 集，（1986．Ｊｕｎｅ５−７）ｐａｇｅ ｓ．243−248「自律分散ループ伝送系に おける故障診断」, (58)調査した分野(Int.Cl.6，ＤＢ名) H04L 12/28 G06F 11/28,13/00 ＪＩＣＳＴファイル（ＪＯＩＳ)Continuation of the front page (56) References JP-A-4-334231 (JP, A) JP-A-1-1133851 (JP, A) JP-A-62-252643 (JP, A) JP-A-7-56636 (JP, A) , B2) Proceedings of the 12th System Symposium, (1986. June 5-7) page s. 243-248 “Fault Diagnosis in Autonomous Decentralized Loop Transmission System”, (58) Fields investigated (Int. Cl. 6 , DB name) H04L 12/28 G06F 11 / 28,13 / 00 JICST file (JOIS)
Claims (1)
を有し、ローカルエリアネットワーク上で動作するパー
ソナルコンピュータにおいて、上記アプリケーション回
路とデバイス制御回路がともに参照する共通データ領域
の通信データを参照及び変更する試験回路として、 上記共通データ領域を参照して通信データ中制御情報の
画面表示を行い、かつ、制御情報変更回路の起動を行わ
せることが可能なデバイス制御情報表示回路、 上記デバイス制御情報表示回路からの起動指示により起
動し、デバイス制御情報表示回路の表示画面とは別の画
面で制御情報を表示し、当該制御情報を変更可能とする
デバイス制御情報変更回路、 上記共通データ領域を参照して通信データ中アプリケー
ション送信データの画面表示を行い、かつ、アプリケー
ション送信データ変更回路の起動を行わせることが可能
なアプリケーション送信データ表示回路、 上記共通データ領域を参照して通信データ中アプリケー
ション受信データの画面表示を行い、かつ、アプリケー
ション送信データ変更回路の起動を行わせることが可能
なアプリケーション受信データ表示回路、 上記アプリケーション送信データ表示回路からの起動指
示により起動し、アプリケーション送信データ表示回路
の表示画面とは別の画面で送信データを表示し、当該デ
ータを変更可能とするアプリケーション送信データ変更
回路、 上記アプリケーション受信データ表示回路からの起動指
示により起動し、アプリケーション受信データ表示回路
の表示画面とは別の画面で受信データを表示し、当該デ
ータを変更可能とするアプリケーション受信データ変更
回路 を有する試験回路を、上記アプリケーション回路とデバ
イス制御回路とは独立して設け、共通データ領域の通信
データを参照、変更することにより、上記アプリケーシ
ョン回路とデバイスの試験を行うことを特徴とするアプ
リケーション−LAN間試験回路。1. A personal computer having an application circuit and a device control circuit and operating on a local area network, a test circuit for referring to and changing communication data in a common data area to which both the application circuit and the device control circuit refer. A device control information display circuit that displays a screen of control information in communication data with reference to the common data area, and that can start a control information change circuit. A device control information change circuit that is started by a start instruction, displays control information on a screen different from the display screen of the device control information display circuit, and allows the control information to be changed, and communication data with reference to the common data area. The screen display of the middle application transmission data and the application Application transmission data display circuit capable of activating an application transmission data change circuit; displaying a screen of application reception data in communication data with reference to the common data area; and activating the application transmission data change circuit An application reception data display circuit capable of performing the following operations. The application reception data display circuit is activated by a start instruction from the application transmission data display circuit, displays transmission data on a screen different from the display screen of the application transmission data display circuit, and displays the data. An application transmission data change circuit that can be changed, is activated by a start instruction from the application reception data display circuit, displays reception data on a screen different from the display screen of the application reception data display circuit, and changes the data. Application A test circuit having a receiving data change circuit is provided independently of the application circuit and the device control circuit, and the application circuit and the device are tested by referring to and changing communication data in the common data area. Characteristic application-LAN test circuit.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2218666A JP2828492B2 (en) | 1990-08-20 | 1990-08-20 | Application LAN test circuit |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2218666A JP2828492B2 (en) | 1990-08-20 | 1990-08-20 | Application LAN test circuit |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04135338A JPH04135338A (en) | 1992-05-08 |
| JP2828492B2 true JP2828492B2 (en) | 1998-11-25 |
Family
ID=16723522
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2218666A Expired - Lifetime JP2828492B2 (en) | 1990-08-20 | 1990-08-20 | Application LAN test circuit |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2828492B2 (en) |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01113851A (en) * | 1987-10-28 | 1989-05-02 | Hitachi Ltd | Start-up test system for program |
-
1990
- 1990-08-20 JP JP2218666A patent/JP2828492B2/en not_active Expired - Lifetime
Non-Patent Citations (1)
| Title |
|---|
| 第１２回システムシンポジウム講演論文集，（１９８６．Ｊｕｎｅ５−７）ｐａｇｅｓ．２４３−２４８「自律分散ループ伝送系における故障診断」， |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH04135338A (en) | 1992-05-08 |
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