JP2798425B2 - Mass spectrometer - Google Patents

Mass spectrometer

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JP2798425B2 JP1167347A JP16734789A JP2798425B2 JP 2798425 B2 JP2798425 B2 JP 2798425B2 JP 1167347 A JP1167347 A JP 1167347A JP 16734789 A JP16734789 A JP 16734789A JP 2798425 B2 JP2798425 B2 JP 2798425B2
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【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、粒子の荷電対質量の比に基づいて物質を特
定するのに適した分析装置に関する。
Description: TECHNICAL FIELD The present invention relates to an analyzer suitable for specifying a substance based on a charge-to-mass ratio of particles.

(従来技術) 例えば、ガスクロマトグラフにより分離された成分を
分析する質量分析計にあっては、カラム排出口に接近さ
せて粒子イオン化手段を設け、これの排出側に四重極を
配置することにより、排出された成分を質量と電荷量の
比により分離し、これを粒子検出器により検出すること
が行われている。
(Prior art) For example, in a mass spectrometer for analyzing components separated by gas chromatography, a particle ionization means is provided close to a column outlet, and a quadrupole is disposed on the discharge side of the means. The discharged components are separated by the ratio of the mass to the charge amount, and the separated components are detected by a particle detector.

ところで、このような分析装置にあっては、粒子を電
荷E対質量Mの比E/Mに基づいて分離する関係上、単位
時間に検出器に入射する粒子の数が少なくなるため、検
出器出力が小さくなって信号対雑音比が低くなるばかり
でなく、四重極の製造に当っては高い加工精度を要求さ
れるという問題がある。
By the way, in such an analyzer, the number of particles incident on the detector per unit time is reduced due to the separation of the particles based on the ratio E / M of the charge E to the mass M. Not only does the output become smaller and the signal-to-noise ratio becomes lower, but also there is a problem that high processing accuracy is required in the production of the quadrupole.

本発明は、このような問題に鑑みてなされたものであ
って、その目的とするところは、構造の簡素化を図りつ
つ信号対雑音比の高い粒子分析装置を提供することにあ
る。
The present invention has been made in view of such a problem, and an object of the present invention is to provide a particle analyzer having a high signal-to-noise ratio while simplifying the structure.

(問題を解決するための手段) このような問題を解決するために本発明においては、
粒子をイオン化させる粒子イオン化手段と、該手段から
排出された荷電粒子の移動方向に一定距離を隔て配設さ
れた第1、第2グリッド電極と、前記電荷粒子を加速す
る加速電極と、第2グリッド電極の外側に配設された粒
子検出手段と、第1、及び第2グリッド電極にデューテ
ィ比を一定に保ちながら繰返し周波数fが変化する正電
位のパルス電圧を供給するパルス電圧発生手段と、前記
パルス電圧発生手段からのパルス電圧の周波数fに基づ
いて、前記粒子検出手段からの検出信号をスペクトル分
析する測定信号解析手段とを備えた。
(Means for Solving the Problem) In order to solve such a problem, in the present invention,
A particle ionizing means for ionizing particles, first and second grid electrodes arranged at a fixed distance in a moving direction of charged particles discharged from the means, an accelerating electrode for accelerating the charged particles, and a second Particle detection means disposed outside the grid electrode; pulse voltage generation means for supplying a positive potential pulse voltage whose repetition frequency f changes while maintaining a constant duty ratio to the first and second grid electrodes; A measuring signal analyzing means for spectrum-analyzing a detection signal from the particle detecting means based on a frequency f of the pulse voltage from the pulse voltage generating means.

(作用) 一定の加速電圧により粒子を加速して、粒子を電荷量
E対質量Mの比E/Mに依存する速度にふるい分け、第
1、及び第2グリッド電極に印加されているパルス電圧
の繰り返し周波数と粒子検出手段からの出力レベルの変
化に基づいて粒子の速度、つまり電荷量E対質量Mの比
E/Mとその数を検出する。
(Function) The particles are accelerated by a constant acceleration voltage, and the particles are sieved at a speed depending on the ratio E / M of the charge amount E to the mass M, and the pulse voltage applied to the first and second grid electrodes is reduced. Based on the change in the repetition frequency and the output level from the particle detection means, the velocity of the particles, that is, the ratio of the charge amount E to the mass M
Detect E / M and its number.

(実施例) そこで、以下に本発明の詳細を図示した実施例に基づ
いて説明する。
(Embodiment) Therefore, the details of the present invention will be described below based on an illustrated embodiment.

第1図は、本発明の一実施例を示すものであって、図
中符号1は、被分析粒子が排出されてくる位置に配設さ
れた粒子イオン化装置で、粒子の通過経路Rに電子を照
射するフィラメント等の電子照射手段2を配設するとと
もに、粒子入射方向から順番に電子リペラ3、グリッド
電極4、粒子引出電極5を配設して構成されている。
FIG. 1 shows an embodiment of the present invention. In FIG. 1, reference numeral 1 denotes a particle ionization device disposed at a position where particles to be analyzed are discharged. An electron irradiator 3, a grid electrode 4, and a particle extraction electrode 5 are arranged in this order from the particle incident direction, in addition to an electron irradiating means 2 such as a filament for irradiating the particles.

10は、本発明が特徴とする質量分析計で、粒子の移動
方向に開口が形成された導電性材料からなる筒状体の両
端開口のそれぞれにグリッド状電極11、12を設けて飛行
管13を形成するとともに、飛行管13の入射側上流には静
電シャッタをなす第1グリッド電極14を、また排出側下
流には静電シャッタをなす第2グリッド電極15を、さら
にはこれらグリッド電極14、15の外側にはグリッド状の
第1シールド電極16と、第2シールド電極17を配設して
構成され、第2シールド電極17の下流側の粒子通過経路
R上に粒子検出器18が配設されている。これにより、第
1グリッド電極14と第2グリッド電極15間の距離Lを、
外部電界に影響を受けることのない飛行空間として確保
することができる。
Reference numeral 10 denotes a mass spectrometer characterized by the present invention, in which grid-like electrodes 11 and 12 are provided at both ends of a cylindrical body made of a conductive material having openings formed in the moving direction of particles, and a flight tube 13 is provided. And a first grid electrode 14 serving as an electrostatic shutter upstream of the flight tube 13 on the incident side, a second grid electrode 15 serving as an electrostatic shutter downstream of the discharge side, and further, these grid electrodes 14. , 15 are provided with a grid-shaped first shield electrode 16 and a second shield electrode 17, and a particle detector 18 is disposed on a particle passage R downstream of the second shield electrode 17. Has been established. Thereby, the distance L between the first grid electrode 14 and the second grid electrode 15 is
The flight space can be secured without being affected by the external electric field.

20は飛行管13またはグリッド状電極11、12に粒子加速
電圧を供給する加速電圧発生装置で、粒子イオン化装置
1でのエネルギのばらつきを無視し得る程度の速度まで
粒子を加速できる負の一定電位(例えばマイナス500及
至マイナス200ボルト)を発生するように構成されてい
る。
Numeral 20 denotes an accelerating voltage generator for supplying a particle accelerating voltage to the flight tube 13 or the grid-shaped electrodes 11, 12, and a negative constant potential capable of accelerating the particles to a speed at which the variation in energy in the particle ionizer 1 can be ignored. (For example, minus 500 to minus 200 volts).

21は、第1及び第2グリッド電極14、15に粒子阻止用
の正電位を供給するパルス電圧発生回路で、粒子イオン
化装置1から排出された電荷粒子を第1グリッド電極14
に阻止するとともに、筒状体13を飛行してきた荷電粒子
を第2グリッド電極15により阻止できる程度の正電位
(例えば、10乃至15ボルト)のパルスを一定デューティ
比、例えば1対1で出力するとともに、その繰返し周波
数fを第2図に示したように一定時間(例えば1ミリ
秒)保持しながら連続的に、例えば最大10Mヘルツ迄変
化させるように構成されている。
Reference numeral 21 denotes a pulse voltage generation circuit for supplying a positive potential for blocking particles to the first and second grid electrodes 14 and 15. The pulse voltage generation circuit 21 discharges the charged particles from the particle ionization apparatus 1 to the first grid electrode 14.
And outputs a pulse of a positive potential (for example, 10 to 15 volts) at a constant duty ratio, for example, one-to-one, which can prevent charged particles flying in the cylindrical body 13 by the second grid electrode 15. At the same time, as shown in FIG. 2, the repetition frequency f is configured to be changed continuously, for example, up to 10 MHz while maintaining a fixed time (for example, 1 millisecond).

22は、測定信号解析回路で、粒子検出器18とパルス電
圧発生回路21からの信号を受け、パルス電圧の周波数f
に基づいて粒子検出器18からの検出信号を、粒子の飛行
時間、もしくは飛行速度別にスペクトル分析、例えばコ
サインフーリエ変換するように構成されている。
Reference numeral 22 denotes a measurement signal analysis circuit which receives signals from the particle detector 18 and the pulse voltage generation circuit 21 and receives a pulse voltage frequency f
Is configured to perform spectral analysis, for example, cosine Fourier transform, on the detection signal from the particle detector 18 according to the flight time or flight speed of the particle based on the following equation.

なお、図中符号19は、粒子イオン化装置1とシールド
電極16との間に配設された粒子収束用の静電レンズを、
また23は、粒子イオン化装置1、分析計10、及び粒子検
出器18を収容する真空容器をそれぞれ示す。
Reference numeral 19 in the figure denotes an electrostatic lens for converging particles, which is disposed between the particle ionization apparatus 1 and the shield electrode 16.
Reference numeral 23 denotes a vacuum container for accommodating the particle ionizer 1, the analyzer 10, and the particle detector 18, respectively.

次に、このように構成した装置の動作について説明す
る。
Next, the operation of the thus configured device will be described.

図示しない粒子発生源、例えばガスクロマトグラフか
ら排出された粒子を粒子イオン化装置1に導くと、粒子
は電子発生手段2からの電子の衝撃を受けてインオ化さ
れる。イオン化された粒子は、引出電極6の電位に引か
れて分析計10の方向に排出され、飛行管13の加速電位に
引かれて続いて静電レンズ19に入射し、ここで収束され
てから第1グリッド電極14に向けて移動する。
When particles emitted from a particle generation source (not shown), for example, a gas chromatograph, are guided to the particle ionization apparatus 1, the particles are ionized by the impact of electrons from the electron generation means 2. The ionized particles are pulled by the potential of the extraction electrode 6 and discharged in the direction of the analyzer 10, are drawn by the acceleration potential of the flight tube 13 and subsequently enter the electrostatic lens 19, where they are converged. It moves toward the first grid electrode 14.

このとき、第1、及び第2グリッド電極14、15に正電
位のパルス電圧が印加されていると、荷電粒子は第1グ
リッド電極14により静電的に反発されて飛行管13への進
入が阻止される。
At this time, if a positive potential pulse voltage is applied to the first and second grid electrodes 14 and 15, the charged particles are repelled electrostatically by the first grid electrode 14 and enter the flight tube 13. Will be blocked.

今、説明の簡素化を図るために電荷量E対質量Mの比
E/Mが一定、つまり一定の速度Vaで移動する粒子だけに
ついてまず考えることにする。
Now, in order to simplify the explanation, the ratio of the charge amount E to the mass M will be described.
Let us first consider only particles with a constant E / M, that is, at a constant velocity Va.

パルス電圧の繰り返し周波数fが十分に小さい、つま
り第1グリッド電極14から第2グリッド電極15までイオ
ンの移動する時間(t=L/Va但しLは第1グリッド電極
14と第2グリッド電極15との間の距離を表す)が繰り返
し周波数fの逆数1/fに比較して十分に小さい場合に
は、第3図Iに示したように第1グリッド電極14を通過
したイオンNf1は、その大部分Nf1′が第2グリッド電極
15を通過することになる。パルス電圧の繰り返し周波数
fが大きくなるにつれて第2グリッド電極15を通過する
ことのできるイオンの比率Nf2′/Nf2、Nf3′/Nf3が少な
くなる(II、III)。そして繰り返し周波数fの逆数1/f
がイオンの飛行時間t=L/Vaの1/2に一致すると、イオ
ンは第2グリッド電極15を通過することができなくなる
(IV)。しかしながら、この状態からさらにパルス電圧
の繰り返し周波数fが高くなると、再び第2グリッド電
極15を通過することが可能となって、その割合Nf5′/Nf
5が増加し、繰り返し周波数の逆数1/fがイオンの移動す
る時間t=L/Vaに一致時点で最大となる。以下、粒子検
出器18からの出力は、パルス電圧の繰り返し周波数fが
(Va/L)×(n+1/2)(但し、n=0、1、2…)に
一致したときに最低に、また(Va/L)×nに一致したと
きに最高となるように第3図に示したように三角波状に
変化する。
The repetition frequency f of the pulse voltage is sufficiently small, that is, the time during which the ions move from the first grid electrode 14 to the second grid electrode 15 (t = L / Va, where L is the first grid electrode).
When the distance between the first grid electrode 14 and the second grid electrode 15) is sufficiently smaller than the reciprocal 1 / f of the repetition frequency f, the first grid electrode 14 is moved as shown in FIG. Most of the passed ions Nf 1 are Nf 1 ′ in the second grid electrode
You will pass 15. As the repetition frequency f of the pulse voltage increases, the ratio of ions Nf 2 ′ / Nf 2 and Nf 3 ′ / Nf 3 that can pass through the second grid electrode 15 decreases (II, III). And the reciprocal 1 / f of the repetition frequency f
Is equal to 1/2 of the flight time t = L / Va of the ions, the ions cannot pass through the second grid electrode 15 (IV). However, when the repetition frequency f of the pulse voltage further increases from this state, the pulse voltage can pass through the second grid electrode 15 again, and the ratio Nf 5 ′ / Nf
5, and the reciprocal 1 / f of the repetition frequency becomes maximum when the ion movement time t = L / Va coincides. Hereinafter, the output from the particle detector 18 becomes the lowest when the repetition frequency f of the pulse voltage matches (Va / L) × (n + 1/2) (where n = 0, 1, 2,...) It changes in a triangular wave shape as shown in FIG. 3 so that it becomes the highest when it matches (Va / L) × n.

したがって、電荷量E対質量Mの比E/Mが異なる粒子
A、B、Cについて観測すると、それぞれ各粒子による
粒子検出器18の出力は、第3図I、II、IIIに示すよう
な三角波状の信号となる(なお、この例においては、イ
オンA、B、及びCの粒子数を2:1:1にとっている。) すなわち、粒子A、B、Cの速度をそれぞれVa、Vb、
Vcとすると、パルス電圧の周波数fが(Va/L)×(n+
1/2)、(Vb/L)×(n+1/2)、(Vc/L)×(n+1/
2)の時に最低となり、また(Va/L)×n、(Vb/L)×
n、(Vc/L)×nの時に最高となる三角波状の信号を粒
子検出器18が出力することになる。
Therefore, when observing particles A, B, and C having different ratios E / M of the charge amount E to the mass M, the output of the particle detector 18 for each particle is represented by a triangle as shown in FIGS. 3, I, II, and III. In this example, the number of particles of the ions A, B, and C is set to 2: 1: 1. That is, the velocities of the particles A, B, and C are Va, Vb, and Vb, respectively.
Vc, the frequency f of the pulse voltage is (Va / L) × (n +
1/2), (Vb / L) × (n + 1/2), (Vc / L) × (n + 1 /
It becomes the lowest when 2), and (Va / L) × n, (Vb / L) ×
The triangular wave signal which becomes the maximum when n, (Vc / L) × n is output from the particle detector 18.

したがって、これら三種類の粒子を含むイオンを対象
として分析した場合には、粒子検出器18からの信号は、
これら各粒子単独の信号を加算した第4図IVに示した波
形を周期的に繰り返すことになるから、コサインフーリ
エ変換等の直交変換を実施することにより、電荷量E対
質量Mの比E/Mに分離してその数を検出することができ
る。なお、このような直交変換の過程において1/f=L/V
i(但しViは各粒子の飛行速度を表す)の奇数倍3×L/V
i、5×L/Vi、7×L/Vi…の偽ピークを発生することに
なるが、これらは数学的な処理に寄り除去できるので実
用上問題とはならない。
Therefore, when analysis is performed on ions containing these three types of particles, the signal from the particle detector 18 is
Since the waveform shown in FIG. 4 obtained by adding the signal of each particle alone is periodically repeated, the ratio E / M of the charge E to the mass M is obtained by performing an orthogonal transformation such as a cosine Fourier transformation. It can be separated into M and its number can be detected. In the process of such orthogonal transformation, 1 / f = L / V
an odd multiple of i (where Vi represents the flight speed of each particle) 3 x L / V
False peaks of i.times.5.times.L / Vi, 7.times.L / Vi... are generated, but these can be removed by mathematical processing, so that there is no practical problem.

なお、この実施例においては、筒状の飛行管を用いて
粒子が飛行する領域の電場の安定化を図るようにしてい
るが、外部から電場の影響を受けない場合には加速用の
グリッド状電極(第1図における11、12)を設けても同
様の作用を奏することは明らかである。
In this embodiment, a cylindrical flight tube is used to stabilize the electric field in the region where the particles fly, but when the electric field is not affected from the outside, a grid shape for acceleration is used. Obviously, the same operation is achieved even if the electrodes (11 and 12 in FIG. 1) are provided.

(発明の効果) 以上、説明したように本発明においては、粒子をイオ
ン化させる粒子イオン化手段と、該手段から排出された
荷電粒子の移動方向に一定距離を隔て配設された第1、
及び第2グリッド電極と、前記荷電粒子を加速する加速
電極と、第2グリッド電極の外側に配設された粒子検出
手段と、第1、及び第2グリッド電極にデューティ比を
一定に保ちながら繰返し周波数が変化する正電位のパル
ス電圧を供給するパルス電圧発生手段と、前記粒子検出
器からの信号レベルと前記周波数との相関を検出する手
段を備えたので、イオン化手段に入射した粒子の全てを
検出対象としているために信号対雑音比を大きくするこ
とができて信頼性の高い分析を可能ならしめるばかりで
なく、粒子阻止用の2つのグリッド電極と加速電極によ
り構成できるため、四重極のような高精度の加工を不要
として製造コストの低減を図ることができ、複数の分析
を同時に実行するマルチ型粒子分析装置を工業的に実用
化することが可能となる。
(Effects of the Invention) As described above, in the present invention, the particle ionization means for ionizing particles, and the first ionization means disposed at a fixed distance in the moving direction of the charged particles discharged from the means.
And a second grid electrode; an accelerating electrode for accelerating the charged particles; a particle detecting means disposed outside the second grid electrode; and a first and a second grid electrode repeatedly maintaining a constant duty ratio. Pulse voltage generating means for supplying a positive potential pulse voltage whose frequency changes, and means for detecting the correlation between the signal level from the particle detector and the frequency are provided, so that all of the particles incident on the ionization means Since it is targeted for detection, the signal-to-noise ratio can be increased and reliable analysis can be performed. In addition, since it can be composed of two grid electrodes and an accelerating electrode for blocking particles, a quadrupole This eliminates the need for such high-precision processing, reduces manufacturing costs, and enables the industrial use of a multi-type particle analyzer that performs multiple analyzes simultaneously. It made.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

第1図は本発明の一実施例を示す装置の構成図、第2図
は同上装置におけるパルス電圧発生回路からの出力電圧
を示す波形図、第3図(I)及至(V)は、それぞれ同
上装置の動作を示す説明図、第4図(I)乃至(IV)
は、それぞれ同上装置における粒子検出器からの信号を
示す波形図である。 1……粒子イオン化装置 10……分析計 11、12……グリッド状電極 13……飛行管 14、15……静電シャッタ用第1、第2グリッド電極 18……粒子検出器
FIG. 1 is a block diagram of a device showing an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a waveform diagram showing an output voltage from a pulse voltage generating circuit in the above device, and FIGS. Explanatory diagram showing the operation of the above device, FIGS. 4 (I) to (IV)
4 is a waveform chart showing a signal from a particle detector in the same device. DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Particle ionization apparatus 10 ... Analyzer 11, 12 ... Grid electrode 13 ... Flight tube 14, 15 ... 1st and 2nd grid electrode for electrostatic shutters 18 ... Particle detector

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】粒子をイオン化させるイオン化手段と、 該手段から排出された荷電粒子の移動方向に一定距離を
隔て配設された第1、及び第2グリッド電極と、 前記荷電粒子を加速する加速電極と、 第2グリッド電極の外側に配設された粒子検出手段と、 第1、及び第2グリッド電極にデューティ比を一定に保
ちながら繰返し周波数fが変化する正電位のパルス電圧
を供給するパルス電圧発生手段と、 前記パルス電圧発生手段からのパルス電圧の周波数fに
基づいて、 前記粒子検出手段からの検出信号をスペクトル分析する
測定信号解析手段とを備えてなる質量分析装置。
An ionizing means for ionizing particles, first and second grid electrodes arranged at a fixed distance in a moving direction of charged particles discharged from the means, and an acceleration for accelerating the charged particles An electrode; a particle detecting means disposed outside the second grid electrode; and a pulse supplying a positive potential pulse voltage whose repetition frequency f changes while maintaining a constant duty ratio to the first and second grid electrodes. A mass spectrometer comprising: a voltage generator; and a measurement signal analyzer that performs a spectrum analysis of a detection signal from the particle detector based on a frequency f of the pulse voltage from the pulse voltage generator.
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