JP2788234B2 - Electron emission device - Google Patents

Electron emission device

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【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は電子放出装置に係り、特に冷陰極型電子放出
素子(以下、冷陰極型電子放出素子を電子放出素子とい
う。)を安定に動作することの可能な電子放出装置に関
する。 [従来の技術] 従来の電子放出装置で使用される電子放出素子として
は、PN接合のなだれ降伏を用いたもの、PN接合に順バイ
アスをかけてP層を電子を注入する方式のもの、薄い絶
縁層を金属で挟んだ構造を有するもの(MIM型)、その
他に表面伝導型の素子等が提案されている。 第5図(A)は、PN接合に順方向バイアスをかけてP
層に電子を注入する方式の電子放出素子の模式的説明図
であり、第5図(B)は、その概略的な電流−電圧特性
を示すグラフである。 同図(A)において、PN接合に順方向のバイアス電圧
Vを印加すると、同図(B)に示すような順方向電流I
が流れ、N層からP層に注入された電子がP層表面から
真空中へ放出される。このP層表面には、仕事関数を下
げて電子放出量を増加させるためにセシウムCs等が塗布
されている。 第6図はMIM型電子放出素子の概略的構成図、第7図
は表面伝導型電子放出素子の概略的構成図である。 MIM型電子放出素子は、金属電極1、絶縁層2および
薄い金属電極3が積層された構造を有し、電極1および
3間に電圧を印加することで薄い電極3側から電子が放
出される。 また、表面伝導型電子放出素子は、絶縁基板4上に電
極5および6が形成され、その間に粗い高抵抗薄膜7が
形成されている。そして、電圧を電極5および6間に印
加することで、高抵抗薄膜7の表面から電子が放出され
る。 [発明が解決しようとする問題点] このような電子放出素子を用いた電子放出装置では、
電子放出素子に印加する駆動電圧又は加速電極に印加す
る加速電圧によって電子放出の制御、特にON/OFF制御を
行うことができる。 しかしながら、従来の電子放出装置は外部温度等の影
響によって、電子放出素子に流れる電流が変動してしま
う問題点があった。 本発明の目的は、上記従来技術の問題点に鑑み、電子
放出素子を安定して駆動することの可能な電子放出装置
を提供することにある。 [問題点を解決するための手段] 上記の問題点は、駆動電流を流して電子放出素子を駆
動し、該電子放出素子から真空中へ電子を放出させて放
出電子による電流を流す電子放出装置において、前記駆
動電流を一定に保持する電流保持手段を有する本発明の
電子放出装置によって解決される。 [作 用] 本発明は、電子放出素子を駆動する回路に電流保持手
段を設けることによって、電子放出素子に流れる電流を
一定に保持して定電流駆動を行い、外部温度等による電
流変動を防ぎ、電子放出素子の安定駆動を行うものであ
る。 なお、本発明の電子放出装置に電子放出素子に流れる
電流を外部信号により制御する電流制御手段を設けれ
ば、外部信号によって電流制御ができ、電子放出素子の
電子放出量を制御することが可能となる。 [実施例] 以下、本発明の実施例について図面を用いて詳細に説
明する。 第1図は本発明の電子放出装置の第1実施例の回路図
である。 本実施例は同図に示すように、抵抗R1,R2により分圧
を行って、トランジスタQのベースに印加することによ
って、バイアスをかけて定電流化を行なう電子放出装置
である。この場合電子放出素子(図中MEB)の駆動電流I
0は抵抗R1,R2,R3、印加電圧V1及びトランジスタQのベ
ース電圧VBE等によって設定され、次式に示される関係
がある。 この場合トランジスタQと抵抗R3を一体化して作製す
ることによって温度係数等による影響を軽減することが
できる。なお、本実施例において、電流保持手段は抵抗
R1,R2,R3及びトランジスタQである。 第2図は本発明の電子放出装置の第2実施例の回路図
である。 本実施例は電流ミラー形定電流回路を用いた電子放出
装置であり、前記第1実施例の温度係数を改善したもの
である。 同図に示すように、トランジスタQ2のベースにベース
とコレクタを短絡したトランジスタQ1のコレクタを接続
し、且つトランジスタQ1のエミッタとトランジスタQ2
エミッタとを接続して、トランジスタQ1のベース・エミ
ッタ間順方向降下電圧をトランジスタQ2に印加すること
によってバイアスをかける。 抵抗Rを通して電流Iを流すと、トランジスタQ1のベ
ースとコレクタに分流され、コレクタ電流IDがほぼ電流
Iに等しくなるようにバイアスされて、ベース電圧VBE
が生ずる。このベース電圧VBEがトランジスタQ2のベー
スに引加されて、バイアスされ定電流化が行われる。す
なわち電子放出素子(図中MEB)を流れる電流I0は次式
で示される関係がある。 この時V1≫VBEとすれば、VBEの温度変化を軽減し、I0
を安定化できる。なお、本実施例において、電流保持手
段は抵抗R、トランジスタQ1,Q2である。 以上説明した電子放出装置は、電子放出素子の定電流
動作を行うものであるが、この定電流動作を外部信号に
よって制御することも可能である。 第3図は外部信号により制御される本発明の電子放出
装置の一実施例を示す回路図であり、第4図はその伝達
特性を示す特性図である。 第3図に示すように、本実施例においては左右対称に
トランジスタQ3,Q4が設けられており、トランジスタQ3
に流れるコレクタ電流IC1と電子放出素子(図中MEB)に
流れる駆動電流I0とは外部信号電圧VB1及びVB2によって
制御され、トランジスタQ3及びQ4から流出する電流は定
電流回路によって一定の電流値(I1=I0+IC1)に保持さ
れている。本実施例の電子放出装置は差動増幅器の構成
をとり、外部信号電圧VB1,VB2とトランジスタQ3,Q4のコ
レクタ電流IC1,IC2との間には、次式に示す関係があ
る。 k:ボルツマン定数、T:絶対温度、 q:電子の電荷 この時IC1=αIE1,IC2=αIE2である。 (IE1,IE2:トランジスタQ3,Q4のエミッタ電流) 上式の関係を図示すると、第4図に示すような特性図
となる。同図に示されるように、差動入力電圧比(VB1
−VB2)が (約100mV、T:絶対温度、q:電子の電荷)を越えると、
即ち とすると、コレクタ電流IC1またはIC2が一定となる関係
がある。すなわち、第3図に示した本実施例の電子放出
装置は(VB1−VB2)<−4kT/qとしておく限りは電子放
出素子の定電流駆動ができる。このときの電流は定電流
源I1によってのみ決定され、Q3,Q4の温度変化の影響を
うけない。 −4kT/q<(VB1−VB2)<4Tk/qの場合には外部信号電
圧差VB1−VB2の値により電子放出素子の駆動電流I0を制
御することができる。(VB1−VB2)>4/qの場合は電子
放出素子の駆動電流I0を遮断することができる。なお、
本実施例において、電流供給手段は電圧V+を与える電
源、第1の電流制御手段はトランジスタQ4、第2の電流
制御手段はトランジスタQ3、定電流源は電流I1を一定に
保持する定電流回路を意味する。また、第1の電流制御
手段たるトランジスタQ4と第2の電流制御手段たるトラ
ンジスタQ3は、電子放出素子に流れる電流を外部信号に
より制御する電流制御手段となる。 [発明の効果] 以上詳細に説明したように、本発明の電子放出装置に
よれば、外部温度等による電流変動を防ぎ、電子放出素
子を安定して駆動できるので、電子放出量を安定化さ
せ、また周辺回路を保護することが可能となり、電子放
出装置の信頼性を大幅に向上させることができる。 なお、本発明の電子放出装置に、電子放出素子に流れ
る電流を外部信号により制御する電流制御手段を設けれ
ば、外部信号によって電流制御ができ、電子放出素子の
電子放出量を制御することが可能となる。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Industrial Application Field] The present invention relates to an electron-emitting device, and more particularly, to a stable operation of a cold-cathode-type electron-emitting device (hereinafter, a cold-cathode-type electron-emitting device is referred to as an electron-emitting device). The present invention relates to an electron emission device capable of performing the following. [Prior Art] Conventional electron-emitting devices include those using avalanche breakdown of a PN junction, those that inject electrons into a P layer by applying a forward bias to the PN junction, and those that are thin. A device having a structure in which an insulating layer is sandwiched between metals (MIM type), and a surface conduction type device and the like have been proposed. FIG. 5 (A) shows a case where a forward bias is applied to the PN junction and P
FIG. 5B is a schematic explanatory view of an electron-emitting device in which electrons are injected into a layer, and FIG. 5B is a graph showing a schematic current-voltage characteristic. In FIG. 7A, when a forward bias voltage V is applied to the PN junction, a forward current I as shown in FIG.
Flows, and electrons injected from the N layer into the P layer are emitted from the surface of the P layer into a vacuum. Cesium Cs or the like is applied to the surface of the P layer to lower the work function and increase the amount of emitted electrons. FIG. 6 is a schematic configuration diagram of a MIM type electron-emitting device, and FIG. 7 is a schematic configuration diagram of a surface conduction electron-emitting device. The MIM type electron-emitting device has a structure in which a metal electrode 1, an insulating layer 2, and a thin metal electrode 3 are stacked, and electrons are emitted from the thin electrode 3 side by applying a voltage between the electrodes 1 and 3. . In the surface conduction electron-emitting device, electrodes 5 and 6 are formed on an insulating substrate 4, and a rough high-resistance thin film 7 is formed between them. Then, by applying a voltage between the electrodes 5 and 6, electrons are emitted from the surface of the high-resistance thin film 7. [Problems to be Solved by the Invention] In an electron-emitting device using such an electron-emitting device,
Electron emission control, particularly ON / OFF control, can be performed by a driving voltage applied to the electron-emitting device or an acceleration voltage applied to the acceleration electrode. However, the conventional electron-emitting device has a problem that the current flowing through the electron-emitting device fluctuates due to the influence of external temperature or the like. An object of the present invention is to provide an electron emission device capable of stably driving an electron emission element in view of the above-mentioned problems of the related art. [Means for Solving the Problems] The above-mentioned problem is caused by an electron-emitting device in which a driving current is applied to drive an electron-emitting device, electrons are emitted from the electron-emitting device into a vacuum, and a current is generated by the emitted electrons. According to the present invention, there is provided an electron emission device having a current holding means for holding the driving current constant. [Operation] According to the present invention, by providing current holding means in a circuit for driving an electron-emitting device, the current flowing through the electron-emitting device is kept constant to perform constant current driving, thereby preventing current fluctuation due to external temperature or the like. , For stably driving the electron-emitting device. If the electron emission device of the present invention is provided with current control means for controlling the current flowing through the electron emission element by an external signal, the current can be controlled by the external signal, and the electron emission amount of the electron emission element can be controlled. Becomes Examples Hereinafter, examples of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. FIG. 1 is a circuit diagram of a first embodiment of the electron emission device of the present invention. As shown in the figure, the present embodiment is an electron emission device that performs voltage division by resistors R 1 and R 2 and applies a bias to a constant current by applying the voltage to the base of a transistor Q. In this case, the driving current I of the electron-emitting device (MEB in the figure)
0 is set by the resistors R 1 , R 2 , R 3 , the applied voltage V 1 , the base voltage V BE of the transistor Q, and the like, and has the relationship shown in the following equation. In this case it is possible to reduce the effect of the temperature coefficient, etc. by making integral with the transistor Q a resistor R 3. In this embodiment, the current holding means is a resistor.
R 1 , R 2 , R 3 and the transistor Q. FIG. 2 is a circuit diagram of a second embodiment of the electron-emitting device according to the present invention. This embodiment is an electron emission device using a current mirror type constant current circuit, which is an improvement of the temperature coefficient of the first embodiment. As shown in the drawing, connecting the collector of the transistor Q 1 which is short-circuited base and collector to the base of the transistor Q 2, and connects the emitter of the transistor Q 1, the transistor Q 2 emitter of the transistor Q 1 biased by applying a base-emitter forward voltage drop in the transistor Q 2. When a current I through the resistor R, is diverted to the base and collector of the transistor Q 1, is biased to the collector current I D is approximately equal to the current I, the base voltage V BE
Occurs. The base voltage V BE is引加to the base of the transistor Q 2, biased constant current is performed. That current I 0 flowing through the electron-emitting devices (in the drawing MEB) is related represented by the following formula. If V 1 ≫V BE at this time, the temperature change of V BE is reduced, and I 0
Can be stabilized. In this embodiment, the current holding means is a resistor R and transistors Q 1 and Q 2 . The above-described electron-emitting device performs a constant-current operation of the electron-emitting device. However, the constant-current operation can be controlled by an external signal. FIG. 3 is a circuit diagram showing an embodiment of the electron emission device of the present invention controlled by an external signal, and FIG. 4 is a characteristic diagram showing its transfer characteristics. As shown in FIG. 3, and the transistors Q 3, Q 4 are provided symmetrically in the present embodiment, the transistor Q 3
The collector current I C1 flowing through and the drive current I 0 flowing through the electron-emitting device (MEB in the figure) are controlled by external signal voltages V B1 and V B2 , and the current flowing out of the transistors Q 3 and Q 4 is controlled by a constant current circuit. It is kept at a constant current value (I 1 = I 0 + I C1 ). The electron emission device of the present embodiment has a configuration of a differential amplifier, and has a relationship expressed by the following equation between the external signal voltages V B1 and V B2 and the collector currents I C1 and I C2 of the transistors Q 3 and Q 4. There is. k: Boltzmann constant, T: absolute temperature, q: electron charge At this time, I C1 = αI E1 and I C2 = αI E2 . (I E1 , I E2 : Emitter Currents of Transistors Q 3 and Q 4 ) When the relationship of the above equations is illustrated, a characteristic diagram as shown in FIG. 4 is obtained. As shown in the figure, the differential input voltage ratio (V B1
−V B2 ) (About 100mV, T: absolute temperature, q: electron charge)
That is Then, there is a relation that the collector current I C1 or I C2 is constant. That is, the electron-emitting device of the present embodiment shown in FIG. 3 is (V B1 -V B2) <- unless keep the 4kT / q can constant current driving of the electron-emitting device. Current at this time is determined only by the constant current source I 1, not affected by the temperature change of the Q 3, Q 4. When −4 kT / q <(V B1 −V B2 ) <4 Tk / q, the drive current I 0 of the electron-emitting device can be controlled by the value of the external signal voltage difference V B1 −V B2 . When (V B1 −V B2 )> 4 / q, the drive current I 0 of the electron-emitting device can be cut off. In addition,
In this embodiment, the power source current supply means for providing a voltage V +, the first current control means transistors Q4, the second current control means transistors Q3, the constant current source is a constant current which holds the current I 1 at a constant Means a circuit. Further, the transistor Q4 as the first current control means and the transistor Q3 as the second current control means become current control means for controlling the current flowing through the electron-emitting device by an external signal. [Effects of the Invention] As described above in detail, according to the electron emission device of the present invention, current fluctuation due to external temperature or the like can be prevented, and the electron emission element can be driven stably. In addition, the peripheral circuits can be protected, and the reliability of the electron emission device can be greatly improved. If the electron emission device of the present invention is provided with current control means for controlling the current flowing through the electron emission element by an external signal, the current can be controlled by the external signal, and the electron emission amount of the electron emission element can be controlled. It becomes possible.

【図面の簡単な説明】 第1図は本発明の電子放出装置の第1実施例の回路図で
ある。 第2図は本発明の電子放出装置の第2実施例の回路図で
ある。 第3図は外部信号により制御される本発明の電子放出装
置の一実施例を示す回路図である。 第4図は上記電子放出装置の伝達特性を示す特性図であ
る。 第5図(A)は、PN接合に順方向バイアスをかけてP層
に電子を注入する方式の電子放出素子の模式的説明図で
あり、第5図(B)は、その概略的な電流−電圧特性を
示すグラフである。 第6図はMIM型電子放出素子の概略的構成図、 第7図は表面伝導型電子放出素子の概略的構成図であ
る。 V1,V2,V+,V-……印加電圧 Ic,Ic1,Ic2……コレクタ電流 I0……駆動電流 R,R1,R2,R3……抵抗 VB1,VB2……外部信号電圧 Q,Q1,Q2……トランジスタ
BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS FIG. 1 is a circuit diagram of a first embodiment of the electron-emitting device according to the present invention. FIG. 2 is a circuit diagram of a second embodiment of the electron-emitting device according to the present invention. FIG. 3 is a circuit diagram showing one embodiment of the electron emission device of the present invention controlled by an external signal. FIG. 4 is a characteristic diagram showing a transfer characteristic of the electron emission device. FIG. 5A is a schematic explanatory view of an electron-emitting device in which a forward bias is applied to the PN junction to inject electrons into the P layer, and FIG. -It is a graph which shows a voltage characteristic. FIG. 6 is a schematic configuration diagram of a MIM type electron-emitting device, and FIG. 7 is a schematic configuration diagram of a surface conduction electron-emitting device. V 1, V 2, V + , V - ...... applied voltage I c, I c1, I c2 ...... collector current I 0 ...... drive current R, R 1, R 2, R 3 ...... resistor V B1, V B2 ...... external signal voltage Q, Q 1, Q 2 ...... transistor

フロントページの続き (72)発明者 鈴木 彰 東京都大田区下丸子3丁目30番2号 キ ヤノン株式会社内 (72)発明者 菅田 正夫 東京都大田区下丸子3丁目30番2号 キ ヤノン株式会社内 (72)発明者 奥貫 昌彦 東京都大田区下丸子3丁目30番2号 キ ヤノン株式会社内 (56)参考文献 特開 昭51−42464(JP,A) 実公 昭50−13014(JP,Y1) (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) H01J 1/30,9/02Continuing on the front page (72) Inventor Akira Suzuki 3-30-2 Shimomaruko, Ota-ku, Tokyo Canon Inc. (72) Inventor Masao Suga 3-30-2 Shimomaruko, Ota-ku, Tokyo Inside Canon Inc. (72) Inventor Masahiko Okunuki 3-30-2 Shimomaruko, Ota-ku, Tokyo Inside Canon Inc. (56) References JP-A-51-242464 (JP, A) Jiko 50-501414 (JP, Y1) (58) Field surveyed (Int. Cl. 6 , DB name) H01J 1/30, 9/02

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】 1.駆動電流を流して冷陰極型電子放出素子を駆動し、
該冷陰極型電子放出素子から真空中へ電子を放出させて
放出電子による電流を流す電子放出装置において、 前記駆動電流を一定に保持する電流保持手段を有するこ
とを特徴とする電子放出装置。 2.前記冷陰極型電子放出素子はPN接合型の冷陰極型電
子放出素子であることを特徴とする特許請求の範囲第1
項記載の電子放出装置。 3.前記冷陰極型電子放出素子はMIM型の冷陰極型電子
放出素子であることを特徴とする特許請求の範囲第1項
記載の電子放出装置。 4.前記冷陰極型電子放出素子は表面伝導型の冷陰極型
電子放出素子であることを特徴とする特許請求の範囲第
1項記載の電子放出装置。
(57) [Claims] Driving a driving current to drive the cold cathode type electron-emitting device,
An electron emission device in which electrons are emitted from the cold cathode type electron emission device into a vacuum to flow a current due to the emitted electrons, wherein the electron emission device has current holding means for holding the driving current constant. 2. 2. The cold cathode type electron emitting device according to claim 1, wherein said cold cathode type electron emitting device is a PN junction type cold cathode type electron emitting device.
Item 3. The electron emission device according to Item 1. 3. 2. The electron emission device according to claim 1, wherein said cold cathode type electron emitting device is a MIM type cold cathode type electron emitting device. 4. 2. The electron-emitting device according to claim 1, wherein the cold-cathode electron-emitting device is a surface-conduction-type cold-cathode electron-emitting device.
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