JP2725971B2 - X-ray source - Google Patents

X-ray source

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JP2725971B2 JP786493A JP786493A JP2725971B2 JP 2725971 B2 JP2725971 B2 JP 2725971B2 JP 786493 A JP786493 A JP 786493A JP 786493 A JP786493 A JP 786493A JP 2725971 B2 JP2725971 B2 JP 2725971B2
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は微小構造体の拡大透視を
可能とする顕微鏡等に用いるX線源に関するものであ
る。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an X-ray source used for a microscope or the like which enables a magnified fluoroscopic view of a microstructure.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、鋼線入りの強化ベルト、ファイバ
ースリーブ、線びきダイス、電子部品など、不透明な材
質のために微小な内部構造が外部より透視できない微小
な部品では検査に通常の光学顕微鏡計測を用いることが
できず、また、微小であるために形状測定機などを使用
することもできなかった。このため、完成した部品のサ
ンプルを切断して光学検査するなどしてロットの製品検
査を行っていたが、手間が掛かり、また、破壊試験であ
るため原理的に全数検査は不可能であった。
2. Description of the Related Art Conventionally, a conventional optical microscope is used for inspection of minute parts whose minute internal structure cannot be seen through the outside due to opaque materials, such as reinforcing belts containing steel wires, fiber sleeves, wire dies, and electronic parts. The measurement could not be used, and the shape was too small to use a shape measuring instrument or the like. For this reason, product inspection of lots was performed by cutting samples of completed parts and optically inspecting them, but it was troublesome, and because it was a destructive test, 100% inspection was impossible in principle .

【0003】不透明物の可視化検査用として古くよりマ
イクロラジオグラフィを用いれば可能であることが知ら
れており、微小な焦点をもつX線源の広がりを利用して
投影法によって透視像を拡大するX線顕微鏡が電子部品
の半田付けの検査などに用いられている。
It has been known for a long time that microradiography can be used for visual inspection of opaque objects, and a fluoroscopic image is enlarged by a projection method using the spread of an X-ray source having a minute focus. X-ray microscopes are used for inspection of soldering of electronic components and the like.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】しかし、微小なX線源
を得るためには高電圧に加速した電子ビームを微小に絞
ってターゲットにぶつける必要があり、このための電子
レンズが大がかりになる欠点があった。さらに、微小な
X線源とするため、不用なX線の放射を抑制するために
所定の方向以外にはX線を透過しないよう重金属ででき
たピンホールを用いるから、所用X線強度を得るために
必要な電力が大きくなった。これにともない、ターゲッ
トで消費される電力が大きくなるため、ターゲットを回
転方式にし、かつその冷却系など付随する設備が膨大と
なる欠点があった。
However, in order to obtain a minute X-ray source, it is necessary to squeeze the electron beam accelerated to a high voltage minutely and hit the target, which disadvantageously increases the size of the electron lens. was there. Furthermore, since a small X-ray source is used, a pinhole made of a heavy metal is used so as to prevent transmission of X-rays in a direction other than a predetermined direction in order to suppress unnecessary X-ray radiation. The power required for it has increased. Accordingly, the power consumed by the target is increased, so that there is a disadvantage that the target is of a rotary type and the accompanying equipment such as its cooling system is enormous.

【0005】本発明は従来のX線顕微鏡の欠点である点
X線源を得る装置の巨大化を避けるため、X線発生源を
最初から点光源となるようにし、装置を根本的に小さく
したX線源を提供することを目的とする。
According to the present invention, in order to avoid an increase in the size of a device for obtaining a point X-ray source, which is a drawback of the conventional X-ray microscope, the X-ray source is a point light source from the beginning and the device is fundamentally reduced in size. It is intended to provide an X-ray source.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】本発明は上記課題を解決
するために、球面状のアルマイト膜のピンホールに金属
を充填し、かつその上に金属を皮膜して成るターゲット
面に電子を衝突せしめることを特徴とするものである。
In order to solve the above-mentioned problems, the present invention fills a pinhole of a spherical alumite film with metal and impinges electrons on a target surface formed by coating metal on the pinhole. It is characterized by the following.

【0007】また、真空管中の電子線源と相対する面に
上記球面状のターゲット面を配し、外気との遮断を成す
ことを特徴とするものである。
Further, the spherical target surface is disposed on a surface of the vacuum tube opposite to the electron beam source, so as to shut off the outside air.

【0008】[0008]

【作用】上記手段により、ピンホールを用い無くとも少
ない電力でその焦点を非常に小さくできるから、これを
用いて小形のX線顕微鏡が実現でき、不可視物の検査が
便利になる。このように、従来のX線顕微鏡の欠点であ
る点X線源を得る装置の巨大化を避け、X線発生源を最
初から点光源となるようにし、装置を根本的に小さくし
たものである。
By the above means, the focal point can be made very small with a small amount of power without using a pinhole, so that a small-sized X-ray microscope can be realized by using this, and inspection of invisible objects becomes convenient. As described above, the apparatus for obtaining a point X-ray source, which is a drawback of the conventional X-ray microscope, is avoided from being enlarged, the X-ray generation source is a point light source from the beginning, and the apparatus is fundamentally reduced in size. .

【0009】[0009]

【実施例】以下図面を参照して本発明の実施例を詳細に
説明する。
Embodiments of the present invention will be described below in detail with reference to the drawings.

【0010】図1(a)は本発明によるX線源(X線発
生管)の一実施例を示す構造図であり、図1(b)は図
1(a)のターゲットを示す一部拡大断面図である。図
1(a),(b)において、1はカソード、2は管ステ
ム、3はアパーチャ、5は管壁、6は球面状のターゲッ
ト、7は第1の直流電源、8は第2の直流電源、11は
ターゲット膜、12は電極、13は絶縁シム、14は球
面状の多孔膜、23は基板である。管壁5とカソード1
を含む管ステム2、ターゲット6、電極12で囲まれた
空間は真空管と同様に高真空に保たれている。図2は多
孔膜14を含むターゲット6の構造を模式的に示したも
ので、21は陽極酸化アルマイト、22は金属ピラー、
23は基板、11がターゲット膜でピラー22は直径数
十nmの円柱状、ピラー22の間隔は数十〜数百nmで
ある。
FIG. 1A is a structural view showing an embodiment of an X-ray source (X-ray generating tube) according to the present invention, and FIG. 1B is a partially enlarged view showing the target of FIG. 1A. It is sectional drawing. 1 (a) and 1 (b), 1 is a cathode, 2 is a tube stem, 3 is an aperture, 5 is a tube wall, 6 is a spherical target, 7 is a first DC power supply, and 8 is a second DC A power supply, 11 is a target film, 12 is an electrode, 13 is an insulating shim, 14 is a spherical porous film, and 23 is a substrate. Tube wall 5 and cathode 1
The space surrounded by the tube stem 2, the target 6, and the electrode 12 is maintained at a high vacuum like the vacuum tube. FIG. 2 schematically shows the structure of the target 6 including the porous film 14, in which 21 is an anodized alumite, 22 is a metal pillar,
Reference numeral 23 denotes a substrate, reference numeral 11 denotes a target film, pillars 22 each have a columnar shape with a diameter of several tens of nm, and an interval between the pillars 22 is several tens to several hundreds of nm.

【0011】ターゲット6はカソード1の方向に凸とな
った球面状であり、真空側はタングステンなどの金属膜
よりなるターゲット膜11が形成され、逆側は陽極酸化
アルマイト21及び金属ピラー22よりなる多孔膜14
が形成された薄膜で構成される。このターゲット6はタ
ーゲット部分が穴となっている電極12に固着されてい
る。
The target 6 has a spherical shape protruding in the direction of the cathode 1, a target film 11 made of a metal film such as tungsten is formed on the vacuum side, and an anodized alumite 21 and a metal pillar 22 are formed on the opposite side. Porous membrane 14
Is formed of a thin film on which is formed. The target 6 is fixed to an electrode 12 having a hole in the target portion.

【0012】本実施例の特徴である多孔膜14はアルミ
ニウムを片側から陽極酸化した後、エッチングにより孔
を拡大し、さらに該孔に金属を付着せしめて封孔処理し
たものである。
The porous film 14, which is a feature of this embodiment, is obtained by anodizing aluminum from one side, expanding the hole by etching, and attaching a metal to the hole to perform a sealing process.

【0013】図1に沿って本実施例の動作を説明する
と、カソード1と電極12の間には第1の直流電源7に
より数十kVの高電界が印加されており、高電界のため
にカソード1から直接電子が真空中に引き出される。電
界引出し電極12側より見ると、該ターゲット6以外は
絶縁シム13で覆われているため、電界引出し電極12
より引き出された電子e- はターゲットに流入する。カ
ソード1より引き出された電子e- はターゲット6に流
入するが、この際、電子e- が高電界により高速に加速
されているため、ターゲット原子の内核に進入し、運動
エネルギーの一部が原子の特性X線としてターゲット6
から放出される。X線の発生波長、効率は電子e- の加
速電圧とターゲット6の原子番号に比例するから、ター
ゲット6を薄い金属とすることにより電子線の運動方向
に沿って効率よくX線の発生ができる。
The operation of this embodiment will be described with reference to FIG. 1. A high electric field of several tens of kV is applied between the cathode 1 and the electrode 12 by the first DC power supply 7, and Electrons are extracted directly from the cathode 1 into a vacuum. When viewed from the electric field extraction electrode 12 side, since the portions other than the target 6 are covered with the insulating shim 13, the electric field extraction electrode 12
More drawn-out electronic e - flows into the target. The electrons e drawn from the cathode 1 flow into the target 6. At this time, since the electrons e are accelerated at a high speed by a high electric field, the electrons e enter the inner nucleus of the target atom, and a part of the kinetic energy is changed to the atom. Target 6 as the characteristic X-ray
Released from Since the generation wavelength and efficiency of X-rays are proportional to the acceleration voltage of the electron e and the atomic number of the target 6, X-rays can be efficiently generated along the direction of movement of the electron beam by using the target 6 as a thin metal. .

【0014】X線はターゲット6を加速された電子e-
がぶつかることによって発生し、ターゲット6を突き抜
けてほぼ等方的に放射される。すなわち、X線発生源と
しては電子e- のぶつかる領域の広さを有する。しか
し、ターゲット膜11と表裏をなす多孔膜14を突き抜
けるとき、ターゲット膜11面より出たX線は膜面に垂
直な成分はアルマイト21部分のみを通過するが、膜面
法線方向からずれたX線は金属ピラー22を通過するた
め吸収されてしまい、結果として法線方向成分のX線の
みがターゲット6から出て球面の中心を焦点としたX線
が球面状に放出される。つまり、焦点位置では点光源と
見なせる。
[0014] X-rays are electrons e accelerated the target 6 -
And radiates almost isotropically through the target 6. In other words, the X-ray source has a size of a region where the electron e hits. However, when penetrating through the porous film 14 on the front and back of the target film 11, the component perpendicular to the film surface of the X-ray emitted from the target film 11 passes only through the alumite 21 portion, but deviates from the normal direction of the film surface. The X-rays are absorbed because they pass through the metal pillars 22. As a result, only the X-rays in the normal direction component exit from the target 6 and the X-rays having the focal point at the center of the spherical surface are emitted in a spherical shape. That is, it can be regarded as a point light source at the focal position.

【0015】また、図1の例ではターゲット6が電子を
加速するため真空とする必要のある内部と外部との仕切
りを兼ねており、X線の放射方向にはX線を吸収する可
能性のある物質がないから効率よくX線を取り出すこと
ができる。基板23はその上にアルミニウムを付着して
陽極酸化し、その後の金属メッキを行うときの土台とし
ての役割を果たせば良いから、球面への加工が簡単でX
線吸収の低い材料であれば良く、たとえばグラファイト
や、表面をメタライズしたポリイミドのようなプラスチ
ックでも良い。また、本実施例の説明では薄い基板23
を用いている例を示しているが、アルミニウムを用いて
所定の厚さに陽極酸化後、逆側からエッチングして除去
してももちろん良い。
In the example shown in FIG. 1, the target 6 also serves as a partition between the inside and the outside, which need to be evacuated in order to accelerate electrons. Since there is no substance, X-rays can be efficiently extracted. Since the substrate 23 may serve as a base for performing anodization by attaching aluminum thereon and performing metal plating thereafter, processing into a spherical surface is easy, and
Any material may be used as long as it has low linear absorption, and for example, a plastic such as graphite or polyimide whose surface is metallized may be used. In the description of the present embodiment, the thin substrate 23 is used.
Although an example is shown in which anodization is used, it is of course possible to remove the layer by anodizing it to a predetermined thickness using aluminum and then etching it from the opposite side.

【0016】ターゲット6には電子が集中して衝突する
と発熱するが、ターゲット6に接続している電極12が
電流の通路となると同時に、発生する熱の放熱路を兼ね
る。さらに本実施例ではターゲット6の大きさに関係な
くX線の焦点は極端に小さくできるから、ターゲット6
に衝突する電子密度を小さくでき、発熱の影響を避ける
ことができる。
When the electrons are concentrated and collide with the target 6, heat is generated. However, the electrode 12 connected to the target 6 serves as a current path and also serves as a heat radiation path for generated heat. Further, in this embodiment, the focal point of the X-ray can be extremely small regardless of the size of the target 6, so that the target 6
The density of electrons colliding with the surface can be reduced, and the influence of heat generation can be avoided.

【0017】また、従来のクーリッジ管構造などで微小
焦点のX線源を得るためには電子線を小さい領域に集中
してターゲット6に衝突せしめることがX線の焦点を小
さくするために肝要であるが、電極12をコーン状とし
て電子を集中させようとしても該構造では電子線を積極
的に収束するための電子レンズを用いなければ電子線は
どうしても電位分布にしたがって広がり、電子の管壁へ
の衝突などを生じて電子線の運動量が直線状の分布から
外れる。これを避けるために管を大きくすると真空度の
維持や機械的な安定性が悪くなる。そこで本実施例では
X線発生管全体を極端に小さく構成する。具体的には目
的とするμmオーダーのターゲット領域に対してターゲ
ット6−カソード1の間隔を数十μm以内とすると、カ
ソード1より引き出された電子を極端に拡散することな
くターゲット6にぶつけられる。管ステム2の大きさを
その数十倍程度とすることにより実用的に問題の無い発
生管を作製することができる。
In order to obtain a microfocus X-ray source with a conventional Coolidge tube structure or the like, it is important to focus the electron beam on a small area and collide with the target 6 in order to reduce the X-ray focus. However, even if the electrode 12 is formed into a cone shape to concentrate electrons, the electron beam inevitably spreads according to the potential distribution unless an electron lens for actively converging the electron beam is used in this structure, and the electron beam spreads on the electron tube wall. And the momentum of the electron beam deviates from the linear distribution. If the tube is enlarged to avoid this, maintenance of vacuum degree and mechanical stability deteriorate. Therefore, in this embodiment, the entire X-ray generation tube is configured to be extremely small. Specifically, if the interval between the target 6 and the cathode 1 is set within several tens of μm with respect to the target target region of μm order, the electrons extracted from the cathode 1 are hit against the target 6 without extremely diffusing. By setting the size of the tube stem 2 to about several tens of times, a practically problem-free generating tube can be manufactured.

【0018】ターゲット膜11の材質とピラー22の材
質は適宜選択することにより効率の良いX線発生ができ
ることも周知である。たとえば、1.5オングストロー
ム程度のX線顕微鏡を作るにはターゲット膜11に銅
を、ピラー22に鉄を用いれば良く、より短いX線源を
得たい場合にはターゲット膜11にタングステンを、ピ
ラー22に銀などを用いれば良い。
It is well known that efficient selection of X-rays can be achieved by appropriately selecting the material of the target film 11 and the material of the pillars 22. For example, to make an X-ray microscope of about 1.5 angstroms, copper may be used for the target film 11 and iron may be used for the pillar 22. To obtain a shorter X-ray source, tungsten may be used for the target film 11, Silver or the like may be used for 22.

【0019】上記実施例によるX線源よりなるX線発生
管30を用い、図3に示すように試料31を焦点位置か
らd1離して置き、さらにd2離れた位置に蛍光板32
を配置すると蛍光板32には(d1+d2)/d1倍の
試料の透過像が得られる。この蛍光板32上の像をCC
Dカメラ33などで撮像し、表示/解析装置34に表示
することにより簡単なX線顕微鏡として用いることが出
来ることはいうまでもない。35はX線発生管30の制
御回路、36は対物レンズである。
Using the X-ray generating tube 30 composed of the X-ray source according to the above embodiment, the sample 31 is placed at a distance d1 from the focal position as shown in FIG.
Is arranged, a transmission image of the sample of (d1 + d2) / d1 times is obtained on the fluorescent plate 32. The image on the fluorescent screen 32 is
It is needless to say that an image can be taken by the D camera 33 or the like and displayed on the display / analysis device 34 to be used as a simple X-ray microscope. Reference numeral 35 denotes a control circuit for the X-ray generation tube 30, and reference numeral 36 denotes an objective lens.

【0020】上記説明から明らかなように、陽極酸化し
たアルマイトの空孔に金属を充填することにより簡単な
X線コリメーターが実現できることは容易に類推でき
る。従って、球面状の金属重点アルマイト膜と従来のX
線源を組み合わせて点光源を実現することももちろん本
発明の範疇にあるといえる。さらに、充填すべき金属を
はぶき、アルマイトのピンホールをX線通過路とするこ
とも容易に考えられ、たとえば非常に長いX線(数十〜
数百オングストローム)を対象とする場合には充分実用
になることも当然である。
As is apparent from the above description, it can be easily analogized that a simple X-ray collimator can be realized by filling the pores of anodized alumite with metal. Therefore, the spherical metal-weighted alumite film and the conventional X
It is of course within the scope of the present invention to realize a point light source by combining radiation sources. Further, it is also conceivable that the metal to be filled is peeled off and the pinhole of alumite is used as an X-ray passage, for example, a very long X-ray (several tens to
Naturally, when the target is several hundred angstroms), it is sufficiently practical.

【0021】[0021]

【発明の効果】以上述べたように、本発明に依ればピン
ホールを用い無くとも少ない電力でその焦点を非常に小
さくできるから、これを用いて小形のX線顕微鏡が実現
でき、不可視物の検査が便利になる利点がある。
As described above, according to the present invention, the focal point can be made very small with a small amount of power without using a pinhole, so that a small X-ray microscope can be realized by using this, and an invisible object can be realized. There is an advantage that the inspection becomes convenient.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】(a)は本発明の一実施例に係るX線発生管の
構造図であり、(b)は(a)のターゲットを示す一部
拡大断面図である。
FIG. 1A is a structural view of an X-ray generating tube according to one embodiment of the present invention, and FIG. 1B is a partially enlarged cross-sectional view showing a target of FIG.

【図2】本発明に係る多孔膜を含むターゲットの一例を
示す模式的構造図である。
FIG. 2 is a schematic structural view showing an example of a target including a porous film according to the present invention.

【図3】本発明を応用したX線顕微鏡の一例を示す構成
図である。
FIG. 3 is a configuration diagram illustrating an example of an X-ray microscope to which the present invention is applied.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…カソード、2…管ステム、3…アパーチャ、5…管
壁、6…球面状のターゲット、7…第1の直流電源、8
…第2の直流電源、11…ターゲット膜、12…電極、
13…絶縁シム、14…多孔膜、21…陽極酸化アルマ
イト、22…金属ピラー、23…基板、30…X線発生
管、31…試料、32…蛍光板、33…CCDカメラ、
34…表示/解析装置、35…制御回路、36…対物レ
ンズ。
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Cathode, 2 ... Tube stem, 3 ... Aperture, 5 ... Tube wall, 6 ... Spherical target, 7 ... First DC power supply, 8
... second DC power supply, 11 ... target film, 12 ... electrodes,
13: insulating shim, 14: porous film, 21: anodized alumite, 22: metal pillar, 23: substrate, 30: X-ray generating tube, 31: sample, 32: fluorescent plate, 33: CCD camera,
34: display / analysis device, 35: control circuit, 36: objective lens.

Claims (2)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 球面状のアルマイト膜のピンホールに金
属を充填し、かつその上に金属を皮膜して成るターゲッ
ト面に電子を衝突せしめることを特徴とするX線源。
An X-ray source characterized in that a pinhole of a spherical alumite film is filled with a metal and electrons are made to collide with a target surface formed by coating the metal on the pinhole.
【請求項2】 真空管中の電子線源と相対する面に上記
球面状のターゲット面を配し、外気との遮断を成すこと
を特徴とする請求項1記載のX線源。
2. The X-ray source according to claim 1, wherein the spherical target surface is arranged on a surface of the vacuum tube facing the electron beam source to block the outside air.
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