JP2722306B2 - Clean transfer method and device - Google Patents

Clean transfer method and device

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JP2722306B2
JP2722306B2 JP2499293A JP2499293A JP2722306B2 JP 2722306 B2 JP2722306 B2 JP 2722306B2 JP 2499293 A JP2499293 A JP 2499293A JP 2499293 A JP2499293 A JP 2499293A JP 2722306 B2 JP2722306 B2 JP 2722306B2
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closing
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、半導体関連製品、光デ
ィスク等の加工、組み立てに必要な被搬送物を汚染物質
のないクリーンな真空状態で移送することが可能なクリ
ーン搬送方法及び装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a clean transfer method and apparatus capable of transferring conveyed objects necessary for processing and assembling semiconductor-related products, optical disks and the like in a clean vacuum state free of pollutants.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、真空クリーン室を有するとともに
該真空クリーン室内の被搬送物を移送するための移送手
段を内蔵したクリーン搬送車を用いて成膜装置等の各種
処理装置間の被搬送物の移送を行うことが本出願人から
提案されている。
2. Description of the Related Art Conventionally, a conveyed object between various processing apparatuses such as a film forming apparatus has been used by using a clean conveyer vehicle having a vacuum clean chamber and incorporating a transfer means for transferring the conveyed object in the vacuum clean chamber. It has been proposed by the applicant to carry out the transfer.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】ところで、被搬送物を
収納する真空クリーン室及び被搬送物を移送するための
移送手段を具備したクリーン搬送車を用いる従来の搬送
方法は、以下に述べる問題点がある。 相手の各種処理装置に合体する際の位置決めが面倒
である。 一旦合体するとクリーン搬送車も静止状態のままに
なり、クリーン搬送車の稼働率が悪くなる(クリーン搬
送車として無人搬送車を用いる場合、無人搬送車を他の
作業に転用できない。)。 クリーン搬送車の真空クリーン室内に移送手段(ロ
ボット)を入れることにより真空クリーン室が必要以上
に大きくなり、各種処理装置と合体したときの真空排気
に時間がかかり、各種処理装置から切り離した後の真空
維持時間が短くなる。 さらに、被搬送物を保管するとき、真空ストッカー
のような大きな真空装置が必要になる。
However, the conventional transfer method using a clean transfer vehicle equipped with a vacuum clean chamber for storing the transfer object and a transfer means for transferring the transfer object has the following problems. There is. Positioning at the time of merging with various processing apparatuses of the other party is troublesome. Once merged, the clean transport vehicle also remains stationary, and the operating rate of the clean transport vehicle deteriorates. (If an unmanned transport vehicle is used as the clean transport vehicle, the unmanned transport vehicle cannot be diverted to other work.) Putting the transfer means (robot) in the vacuum clean room of the clean transfer vehicle makes the vacuum clean room larger than necessary, and it takes time to evacuate when it is combined with various processing equipment, and it takes time after disconnecting from various processing equipment. The vacuum maintenance time is shortened. Further, when storing the transferred object, a large vacuum device such as a vacuum stocker is required.

【0004】本発明は、上記の点に鑑み、真空排気手段
及び移送手段を持たず、真空に保つ空間を必要最小限と
した真空クリーンボックスを用いて被搬送物を収納、保
管、もしくは移送する構成として、各種処理装置への合
体を容易とし、真空維持時間を長くでき、取り扱いが簡
便なクリーン搬送方法及び装置を提供することを目的と
する。
[0004] In view of the above, the present invention stores, transports, or transports a conveyed object using a vacuum clean box having no vacuum evacuation means and transfer means and having a minimum required space for maintaining a vacuum. It is an object of the present invention to provide a clean transfer method and apparatus which can be easily combined with various processing apparatuses, can maintain a vacuum for a long time, and are easy to handle.

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明のクリーン搬送方法は、シャッターで開閉自
在な開閉口を有し、該シャッター閉成時に真空状態を維
持できる気密性を有していて真空排気手段及び移送手段
を持たない真空クリーンボックスと、シャッターで開閉
自在な開閉口を有する真空装置とを、各シャッターの閉
成状態にて気密に結合して、各開閉口が面する密閉空間
を形成した後、前記真空クリーンボックス及び前記真空
装置の各開閉口を閉じていた各シャッターをそれぞれ開
けて、前記真空クリーンボックスと前記真空装置の内部
空間同士を連続させるようにしている。
In order to achieve the above-mentioned object, the present invention provides a clean transfer method having an opening and closing opening which can be opened and closed by a shutter, and having a hermeticity capable of maintaining a vacuum state when the shutter is closed. A vacuum clean box that does not have a vacuum exhaust means and a transfer means, and a vacuum device having an opening and closing opening that can be opened and closed by a shutter are hermetically connected in a closed state of each shutter, and each opening and closing is a surface. After the closed space is formed, the shutters closing the opening and closing ports of the vacuum clean box and the vacuum device are opened, respectively, so that the vacuum clean box and the internal space of the vacuum device are connected to each other. .

【0006】また、本発明のクリーン搬送装置は、シャ
ッターで開閉自在な開閉口を有し、該シャッター閉成時
に真空状態を維持できる気密性を有していて真空排気手
段及び移送手段を持たない真空クリーンボックスと、シ
ャッターで開閉自在な開閉口を有する真空装置とを具備
し、前記真空クリーンボックスと真空装置の両方のシャ
ッターを開閉する開閉手段は前記真空装置側に設けられ
ており、前記真空クリーンボックスと前記真空装置とは
結合時にそれぞれの開閉口が面する気密な密閉空間を構
成し、前記真空クリーンボックス及び前記真空装置の各
開閉口を閉じていた各シャッターをそれぞれ開けたとき
に前記真空クリーンボックスと前記真空装置の内部空間
同士が連続する如く構成している。
Further, the clean transfer device of the present invention has an opening and closing opening which can be opened and closed by a shutter, has airtightness capable of maintaining a vacuum state when the shutter is closed, and has no vacuum exhaust means and transfer means. A vacuum clean box, comprising a vacuum device having an opening and closing opening that can be opened and closed by a shutter, opening and closing means for opening and closing both shutters of the vacuum clean box and the vacuum device is provided on the vacuum device side, the vacuum The clean box and the vacuum device constitute an airtight closed space where the respective opening / closing openings face when combined, and when opening the respective shutters that closed the respective opening / closing openings of the vacuum clean box and the vacuum device, It is configured such that the vacuum clean box and the internal space of the vacuum device are continuous with each other.

【0007】[0007]

【作用】本発明においては、真空装置としての各種処理
装置に真空クリーンボックスを合体させるための位置決
めは、真空クリーンボックスが真空排気手段及び移送手
段を持たない軽量コンパクトなものであるため極めて容
易であり、人手でも市販のロボット(クリーン対応でな
くともよい)でも実行できる。また、真空クリーンボッ
クスの搬送に無人搬送車を用いる場合でも、真空クリー
ンボックス合体後、無人搬送車は別の所に移動でき、無
人搬送車の稼働率を良好に保つことができる。また、真
空クリーンボックスは真空排気手段及び移送手段を持た
ない必要最小限の空間であり、充分な気密性を保持する
ことで真空維持時間を長くすることができる。さらに、
被搬送物の保管は、真空クリーンボックス内に収納した
まましばらく放置しておくことも可能であり、取り扱い
が簡便な利点もある。
In the present invention, positioning for integrating a vacuum clean box into various processing apparatuses as a vacuum apparatus is extremely easy because the vacuum clean box is light and compact without vacuum evacuation means and transfer means. Yes, it can be executed manually or by a commercially available robot (not necessarily clean). Further, even when an unmanned transport vehicle is used for transporting the vacuum clean box, the unmanned transport vehicle can be moved to another place after the vacuum clean box is combined, and the operation rate of the unmanned transport vehicle can be kept good. Further, the vacuum clean box is a minimum necessary space having no evacuation means and transfer means, and can maintain a sufficient airtightness to extend the vacuum maintenance time. further,
The transported object can be stored in a vacuum clean box and left for a while, which has an advantage of easy handling.

【0008】[0008]

【実施例】以下、本発明に係るクリーン搬送方法及び装
置の実施例を図面に従って説明する。
BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS FIG. 1 is a perspective view showing an embodiment of a clean transfer method and apparatus according to the present invention.

【0009】図1は本発明の第1実施例を示す。この図
において、1は真空クリーンボックスであり、被搬送物
でかつ被成膜物となる基板2が内部に固定的に配置され
ている。3は真空クリーンボックス1の移送用開閉口4
を開閉するシャッターである。
FIG. 1 shows a first embodiment of the present invention. In this figure, reference numeral 1 denotes a vacuum clean box, in which a substrate 2 which is an object to be conveyed and which is a film-forming object is fixedly disposed inside. 3 is a transfer opening / closing opening 4 of the vacuum clean box 1
It is a shutter that opens and closes.

【0010】一方、真空装置としてのスパッタ装置5
は、開閉口6を有する気密容器19内にスパッタ粒子を
放出するターゲット18を設置したものであり、さらに
スパッタ装置5の開閉口6を開閉するシャッター7及び
真空クリーンボックス1の開閉口4を開閉するシャッタ
ー3及びこれを駆動する流体圧シリンダ8等からなる2
重ゲート弁10がスパッタ装置5に連結されている。こ
の2重ゲート弁10は前記スパッタ装置5の気密容器1
9に気密に連結された2重ゲート弁用気密容器11を有
している。前記流体圧シリンダ8のピストンロッド12
の先端には前記真空クリーンボックス側のシャッター3
の係合ピン(係合凸部)13と係合自在な係合部材14
が固定され、該係合部材14にスパッタ装置側のシャッ
ター7が連動して上下するように取り付けられている。
On the other hand, a sputtering device 5 as a vacuum device
Is provided with a target 18 for discharging sputtered particles in an airtight container 19 having an opening / closing port 6, and further opens / closes a shutter 7 for opening / closing the opening / closing port 6 of the sputtering apparatus 5 and an opening / closing port 4 of the vacuum clean box 1. Shutter 2 and a hydraulic cylinder 8 for driving the shutter 3
The heavy gate valve 10 is connected to the sputtering device 5. This double gate valve 10 is connected to the airtight container 1 of the sputtering apparatus 5.
9 has an airtight container 11 for a double gate valve which is airtightly connected to the airtight container 9. The piston rod 12 of the hydraulic cylinder 8
At the end of the shutter 3 on the vacuum clean box side
Engaging member 14 capable of engaging with the engaging pin (engaging convex portion) 13
Is fixed, and the shutter 7 on the sputtering apparatus side is attached to the engaging member 14 so as to move up and down in conjunction therewith.

【0011】なお、スパッタ装置5から真空クリーンボ
ックス1が分離されたときには、前記シャッター3は真
空クリーンボックス1の開閉口4を閉成した状態で2重
ゲート弁10から外れるようになっている。すなわち、
シャッター3の係合ピン13と係合部材14は2重ゲー
ト弁10の気密容器11の開口15に真空クリーンボッ
クス1を装着した際に係合し、開口15から真空クリー
ンボックス1を外した際に係合解除となるように設定さ
れている。また、シャッター3,7の開閉口4,6周縁
への当接部分には気密シール材16が、真空クリーンボ
ックス1が当接する気密容器11の開口縁部分にも気密
シール材17が設けられている。
When the vacuum clean box 1 is separated from the sputtering apparatus 5, the shutter 3 is detached from the double gate valve 10 with the opening 4 of the vacuum clean box 1 closed. That is,
The engaging pin 13 and the engaging member 14 of the shutter 3 are engaged when the vacuum clean box 1 is mounted on the opening 15 of the airtight container 11 of the double gate valve 10 and when the vacuum clean box 1 is removed from the opening 15. Is set to be disengaged. Further, an airtight sealing material 16 is provided at a portion where the shutters 3 and 7 contact the opening and closing openings 4 and 6, and an airtight sealing material 17 is provided at an opening edge portion of the airtight container 11 where the vacuum clean box 1 contacts. I have.

【0012】以上の第1実施例において、真空クリーン
ボックス1は予め別の真空チェンジャーにより内部が真
空状態(例えば、粉塵を大幅に少なくするために真空度
0.1Torr以下が好ましい)にされシャッター3で内部が
密閉されて搬送される(図1の仮想線状態)。このよう
に真空クリーンボックス1とスパッタ装置5とが分離し
ているとき、真空クリーンボックス1内部の高真空と、
外部の大気圧との圧力差によりシャッター3が開閉口4
側に押されて開閉口4を確実に気密シールでき、シャッ
ター3が動いてしまうこともない。同様に、仮想線状態
のシャッター7も開閉口6側に押されて開閉口6を気密
シールしている。シャッター7が仮想線状態では流体圧
シリンダ8のピストンロッド12は伸動状態であり、係
合部材14も仮想線状態で待機している。
In the above-described first embodiment, the vacuum clean box 1 is previously evacuated to a vacuum state (for example, preferably at a vacuum of 0.1 Torr or less to greatly reduce dust) by another vacuum changer, and the shutter 3 Is conveyed with the inside sealed (in the phantom line state in FIG. 1). When the vacuum clean box 1 and the sputtering device 5 are separated from each other, the high vacuum inside the vacuum clean box 1
Shutter 3 opens and closes 4 due to pressure difference from outside atmospheric pressure
The opening 4 can be reliably hermetically sealed by being pushed to the side, and the shutter 3 does not move. Similarly, the shutter 7 in the imaginary line state is also pushed toward the opening 6 to hermetically seal the opening 6. When the shutter 7 is in the imaginary line state, the piston rod 12 of the hydraulic cylinder 8 is in the extended state, and the engaging member 14 is also waiting in the imaginary line state.

【0013】そして、閉じた状態の真空クリーンボック
ス1を2重ゲート弁10の開口15に気密に装着すれ
ば、真空クリーンボックス側のシャッター3の係合ピン
13が仮想線位置の係合部材14の溝に嵌まり込む、そ
の状態にて図示しない真空排気手段(スパッタ装置5に
付属のもの)で2重ゲート弁10の気密容器11内を真
空排気する(例えば、真空度0.1Torr以下)。その後、
流体圧シリンダ8を縮動させることで図1実線位置に各
シャッター3,7を下降させて各開閉口4,6を開いて
スパッタ装置5内の空間と真空クリーンボックス1内の
空間とを連続させることができる。このとき、スパッタ
装置5のターゲット18に真空クリーンボックス1内の
基板2が対向する。したがって、ターゲット18から所
要のスパッタ粒子を放出させることにより基板2にスパ
ッタ膜を直接成膜することができる。成膜終了後、2重
ゲート弁10を閉じることで、真空クリーンボックス1
の開閉口4はシャッター3で、スパッタ装置5の開閉口
6はシャッター7で閉成され、真空クリーンボックス1
を図1の仮想線の如くスパッタ装置5から切り離すこと
ができる。
When the vacuum clean box 1 in the closed state is airtightly mounted on the opening 15 of the double gate valve 10, the engaging pin 13 of the shutter 3 on the vacuum clean box side is engaged with the engaging member 14 at the imaginary line position. In this state, the inside of the hermetic container 11 of the double gate valve 10 is evacuated by vacuum evacuation means (attached to the sputtering apparatus 5) (not shown) (for example, the degree of vacuum is 0.1 Torr or less). . afterwards,
By contracting the fluid pressure cylinder 8, the shutters 3 and 7 are lowered to the positions indicated by the solid lines in FIG. 1 and the opening and closing ports 4 and 6 are opened to connect the space in the sputtering apparatus 5 and the space in the vacuum clean box 1 continuously. Can be done. At this time, the substrate 2 in the vacuum clean box 1 faces the target 18 of the sputtering device 5. Therefore, a sputtered film can be directly formed on the substrate 2 by discharging required sputtered particles from the target 18. After the film formation, the double gate valve 10 is closed so that the vacuum clean box 1 is closed.
The opening / closing opening 4 of the sputtering device 5 is closed by a shutter 3 and the opening / closing opening 6 of the sputtering device 5 is closed by a shutter 7.
Can be separated from the sputtering apparatus 5 as shown by the phantom line in FIG.

【0014】上記第1実施例の構成は、基板2を真空中
で移送する機構がなく、粉塵の飛散する恐れがない。ま
た、構造が簡単であり、研究開発用として手軽に利用で
き、装置価格も安価に実現できる。
In the structure of the first embodiment, there is no mechanism for transferring the substrate 2 in a vacuum, and there is no danger of dust scattering. Further, the structure is simple, it can be easily used for research and development, and the apparatus can be realized at low cost.

【0015】さらに、図1の構成を数種のスパッタ粒子
に対応させて設置しておき、真空クリーンボックス1を
各スパッタ装置に対し順次装着して行けば、複数種のス
パッタ膜を基板上に積層することができる。その際、真
空クリーンボックス1を装着して行くスパッタ装置の順
番は自由に変更でき、一部のスパッタ装置はスキップし
たりすることもでき、基板上のスパッタ膜の積層順序や
積層数は任意に設定でき、仕様変更に対してフレキシブ
ルに対応できる。このことは、複数のスパッタユニット
を直列に接続して基板を順次搬送していくインラインス
パッタ装置にない利点である(インラインスパッタ装置
では成膜順序は予め定まってしまう。)。
Further, if the structure shown in FIG. 1 is set in correspondence with several types of sputtered particles, and the vacuum clean box 1 is sequentially mounted on each sputtering apparatus, a plurality of types of sputtered films can be formed on the substrate. Can be laminated. At this time, the order of the sputtering devices to which the vacuum clean box 1 is mounted can be freely changed, and some of the sputtering devices can be skipped. Can be set and can flexibly respond to specification changes. This is an advantage which is not found in an in-line sputtering apparatus in which a plurality of sputtering units are connected in series and a substrate is sequentially transferred (the order of film formation is determined in advance in an in-line sputtering apparatus).

【0016】図2乃至図5は本発明の第2実施例を示
す。これらの図において、真空クリーンボックス31は
光ミニディスク30を多数等間隔で平行に配列した状態
で収納できる構造となっている。すなわち、真空クリー
ンボックス31は図2のように内面に固定された多数の
仕切り板32を有し、該仕切り板32で仕切られた各区
画に光ミニディクス30が挿入されている。真空クリー
ンボックス31の移送用開閉口34はシャッター33で
開閉自在であり、該シャッター33の内面には光ミニデ
ィクス30の動きを防止するための樹脂製バー35が固
定されている。また、シャッター33の上下端には係合
ピン39及びシャッター33の開閉を円滑に実行するた
めのローラー36が枢着されている。さらに、シャッタ
ー33の開閉口34周縁部への当接部分には気密シール
材37が設けられている。
FIGS. 2 to 5 show a second embodiment of the present invention. In these figures, the vacuum clean box 31 has a structure in which a plurality of optical minidisks 30 can be stored in parallel and arranged at equal intervals. That is, the vacuum clean box 31 has a large number of partition plates 32 fixed to the inner surface as shown in FIG. 2, and the optical minidiscs 30 are inserted into each section partitioned by the partition plates 32. The transfer opening / closing port 34 of the vacuum clean box 31 can be freely opened / closed by a shutter 33, and a resin bar 35 for preventing movement of the optical minidisk 30 is fixed to the inner surface of the shutter 33. An engagement pin 39 and a roller 36 for smoothly opening and closing the shutter 33 are pivotally mounted on upper and lower ends of the shutter 33. Further, an airtight sealing material 37 is provided at a portion where the shutter 33 comes into contact with the peripheral edge of the opening / closing opening 34.

【0017】図4の真空チェンジャー50及び図5の成
膜装置60がそれぞれ有する2重ゲート弁70は前述の
第1実施例の2重ゲート弁と実質的に同じ構造であり、
図2の仮想線に示すように、装置側容器に一体化された
2重ゲート弁容器部71、流体圧シリンダ78、及び該
流体圧シリンダ78の先端に固定された係合部材74を
具備している。該係合部材74の溝は2重ゲート弁70
の開口に真空クリーンボックス31が装着されたとき
に、真空クリーンボックス側の係合ピン39及び装置側
の開閉口76を開閉するシャッター77の係合ピン79
に係合し、両方のシャッター33,77を同時に開閉駆
動できる。なお、真空クリーンボックス31には位置決
めピン38が固定され、2重ゲート弁70側にこれと嵌
合する位置決め穴が形成されている。また、光ミニディ
クス30を押えるための樹脂製バー35が開閉の妨げに
ならないように、図示しない機構によりシャッター33
は図2の矢印Pのように真空クリーンボックス31の開
閉口34から離間しながらスライドするようになってい
る。
The double gate valve 70 of each of the vacuum changer 50 of FIG. 4 and the film forming apparatus 60 of FIG. 5 has substantially the same structure as the double gate valve of the first embodiment.
As shown by the phantom line in FIG. 2, a double gate valve container unit 71 integrated with the apparatus side container, a hydraulic cylinder 78, and an engaging member 74 fixed to the tip of the hydraulic cylinder 78 are provided. ing. The groove of the engaging member 74 is a double gate valve 70.
When the vacuum clean box 31 is attached to the opening of the device, the engagement pin 39 of the vacuum clean box and the engagement pin 79 of the shutter 77 that opens and closes the opening / closing opening 76 on the device side.
, And both shutters 33 and 77 can be driven to open and close simultaneously. A positioning pin 38 is fixed to the vacuum clean box 31, and a positioning hole that fits the positioning pin 38 is formed on the double gate valve 70 side. A shutter (not shown) is provided by a mechanism (not shown) so that a resin bar 35 for holding the optical mini-discs 30 does not hinder opening and closing.
2 slides while being separated from the opening / closing port 34 of the vacuum clean box 31 as indicated by an arrow P in FIG.

【0018】図4は大気中での光ミニディクス30(但
し、成膜前のベースディスク)の射出成型の工程を示す
もので、フィルタ51を有するクリーンルーム52内に
射出成型機53が設置され、該射出成型機53に隣接し
て真空チェンジャー50が配置されている。真空チェン
ジャー50は真空ポンプ54等の真空排気手段と移送手
段としてのロボットアーム55とを備えており、内部の
真空室56を真空排気することで真空状態を維持できる
ものである。この真空チェンジャー50とクリーンルー
ム52間にはシャッター58が設けられ、真空チェンジ
ャー50の光ミニディクス30排出側には2重ゲート弁
70が設けられている。
FIG. 4 shows an injection molding process of the optical mini-disk 30 (the base disk before film formation) in the atmosphere. An injection molding machine 53 is installed in a clean room 52 having a filter 51. A vacuum changer 50 is arranged adjacent to the injection molding machine 53. The vacuum changer 50 is provided with a vacuum pump 54 and other vacuum evacuation means and a robot arm 55 as a transfer means, and can maintain a vacuum state by evacuating the vacuum chamber 56 inside. A shutter 58 is provided between the vacuum changer 50 and the clean room 52, and a double gate valve 70 is provided on the discharge side of the optical minidisk 30 of the vacuum changer 50.

【0019】図5は真空中での光ミニディクス30の成
膜工程を示すもので、スパッタ装置等の成膜装置60
は、内部に所要の成膜手段と移送手段としてのロボット
アーム61を備えるとともに、真空クリーンボックス3
1を装着するための複数の2重ゲート弁70を有してい
る。
FIG. 5 shows a film forming process of the optical mini-disk 30 in a vacuum.
Is provided with a required film forming means and a robot arm 61 as a transfer means inside, and a vacuum clean box 3
1 is provided with a plurality of double gate valves 70.

【0020】以上の第2実施例の構成において、図4の
大気中のクリーンルーム52内で射出成型機53で射出
成型された光ミニディクス30(ベースディスク)は開
放式の収納ボックス57に多数収納され、該光ミニディ
クス30を多数保持した収納ボックス57は真空チェン
ジャー50のロボットアーム55にてシャッター58が
開いているときに真空室56内に移送される。その後、
シャッター58及び2重ゲート弁70を閉じて真空室5
6内を真空排気する。真空室56が真空に排気された
後、2重ゲート弁70に図2及び図3に示す真空クリー
ンボックス31(但し内部は空のもの)を装着する。こ
の装着作業は、図4のように、無人搬送車80に搭載さ
れたロボット81で行うことができる。すなわち、ロボ
ット81は真空クリーンボックス31を保持して2重ゲ
ート弁70に対向する位置に移動し、ロボット81のカ
メラ、レーザー光等による位置認識手段で正確な位置を
認識し、真空クリーンボックス31の位置決めピン38
を利用して位置合わせしながら2重ゲート弁70に気密
に装着する。装着完了後、2重ゲート弁70内を真空排
気し、真空クリーンボックス31と真空チェンジャー5
0間の連絡通路となる2重ゲート弁容器部71が0.1T
orr以下になった後に2重ゲート弁70を開く(装置側
シャッターと真空クリーンボックス側のシャッター33
を開く。)。そして、ロボットアーム55にて光ミニデ
ィクス30(ベースディスク)を真空クリーンボックス
31側に移し変える。
In the configuration of the second embodiment, a large number of optical minidisks 30 (base disks) injection-molded by an injection molding machine 53 in a clean room 52 in the atmosphere shown in FIG. The storage box 57 holding many optical minidisks 30 is transferred into the vacuum chamber 56 when the shutter 58 is opened by the robot arm 55 of the vacuum changer 50. afterwards,
The shutter 58 and the double gate valve 70 are closed and the vacuum chamber 5 is closed.
The inside of 6 is evacuated. After the vacuum chamber 56 is evacuated to a vacuum, the vacuum cleaner box 31 shown in FIGS. 2 and 3 (the inside of which is empty) is mounted on the double gate valve 70. This mounting operation can be performed by a robot 81 mounted on an automatic guided vehicle 80 as shown in FIG. That is, the robot 81 holds the vacuum clean box 31 and moves to a position facing the double gate valve 70, recognizes an accurate position by a position recognition means using a camera, laser light or the like of the robot 81, and Positioning pin 38
Is mounted on the double gate valve 70 in an airtight manner while performing alignment using the above. After the mounting is completed, the inside of the double gate valve 70 is evacuated, and the vacuum clean box 31 and the vacuum changer 5 are evacuated.
The double gate valve container 71, which is a communication passage between 0, is 0.1T
After reaching orr or less, the double gate valve 70 is opened (the shutter on the device side and the shutter 33 on the vacuum clean box side).
open. ). Then, the optical minidisk 30 (base disk) is moved to the vacuum clean box 31 side by the robot arm 55.

【0021】前記無人搬送車80は図5の成膜装置60
の正面に移動し、ロボット81により成膜装置側の2重
ゲート弁70に対して真空クリーンボックス31の位置
合わせを同様に行って真空クリーンボックス31の装着
を実行する。その後、2重ゲート弁70内の真空排気が
0.1Torr以下になるまで実行され、開いた2重ゲート
弁70を通してロボットアーム61により光ミニディク
ス30を所定の成膜位置に1枚毎に移送する。図5で
は、例えば、上側の真空クリーンボックス31が成膜前
の光ミニディクス30を収納するもの、下側の真空クリ
ーンボックス31が成膜後の光ミニディクス30を収納
するものであり、下側の真空クリーンボックス31は当
初は空きである。したがって、上側の真空クリーンボッ
クス31からロボットアーム61で成膜位置に送られた
光ミニディクス30は、成膜処理後ロボットアーム61
で下側の真空クリーンボックス31に移される。
The automatic guided vehicle 80 is a film forming apparatus 60 shown in FIG.
The vacuum clean box 31 is mounted by the robot 81 in the same manner as the double gate valve 70 on the film forming apparatus side by the robot 81, and the vacuum clean box 31 is mounted. Thereafter, the evacuation in the double gate valve 70 is performed until the pressure becomes 0.1 Torr or less, and the optical minidisks 30 are transferred one by one to a predetermined film forming position by the robot arm 61 through the opened double gate valve 70. . In FIG. 5, for example, the upper vacuum clean box 31 stores the optical mini-discs 30 before film formation, the lower vacuum clean box 31 stores the optical mini-discs 30 after film formation, and the lower vacuum clean box 31 stores, for example. The vacuum clean box 31 is initially empty. Therefore, the optical minidiscs 30 sent from the upper vacuum clean box 31 to the film forming position by the robot arm 61 are removed from the robot arm 61 after the film forming process.
Is transferred to the lower vacuum clean box 31.

【0022】上記第2実施例によれば、光ミニディクス
30の射出成型から成膜処理に至るクリーン搬送を効率
的かつ簡便に実行することができる。
According to the second embodiment, the clean transfer from the injection molding of the optical minidisk 30 to the film forming process can be performed efficiently and easily.

【0023】図6乃至図9で本発明の第3実施例を説明
する。図6は光ミニディクスのスパッタ装置を示すもの
であり、成膜前の光ミニディクス30の供給及び成膜後
の光ミニディクス30の取り出しのために図2及び図3
に示す真空クリーンボックス31が使用されている。図
6の第1容器部90内には真空ロボット91が設置さ
れ、また第1容器部90に複数個の2重ゲート弁70が
設けられている。各2重ゲート弁70にはそれぞれ真空
クリーンボックス31が装着できるようになっている。
前記真空ロボット91は回転昇降駆動部92に伸縮腕9
3を取り付けたものである。第1容器部90の内部は光
ミニディクス30の供給、取り出しのためのストッカー
室を構成している。
A third embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. FIG. 6 shows an optical minidisk sputtering apparatus, which is used to supply the optical minidisk 30 before film formation and take out the optical minidisk 30 after film formation.
The vacuum clean box 31 shown in FIG. A vacuum robot 91 is installed in the first container section 90 of FIG. 6, and a plurality of double gate valves 70 are provided in the first container section 90. A vacuum clean box 31 can be attached to each double gate valve 70.
The vacuum robot 91 includes a telescopic arm 9
3 is attached. The inside of the first container part 90 constitutes a stocker room for supplying and taking out the optical mini-discs 30.

【0024】第1容器部90に気密に連結された第2容
器部100内には光ミニディクス30を水平状態から垂
直状態に姿勢を変換するための姿勢変換装置101が配
置されている。この姿勢変換装置101は図7乃至図9
に示すように、光ミニディクス30の周縁部を保持する
1対の挟持部材102と、光ミニディクス30に予め装
着されている磁性体の内周マスク103を吸着する電磁
石104を先端に設けた回動アーム105とを備えてい
る。
An attitude conversion device 101 for converting the attitude of the optical minidisk 30 from a horizontal state to a vertical state is disposed in the second container part 100 airtightly connected to the first container part 90. This posture conversion device 101 is shown in FIGS.
As shown in FIG. 2, a pair of holding members 102 for holding the peripheral portion of the optical mini-disc 30 and an electromagnet 104 for adsorbing an inner peripheral mask 103 of a magnetic material previously mounted on the optical mini-disc 30 are provided at a tip thereof. And an arm 105.

【0025】第2容器部100に気密に連結された第3
容器部110の内部には360度を7等分した角度毎に
間欠回転するインデックステーブル111が設置され、
該インデックステーブル111に流体圧等で伸縮駆動さ
れる7本の伸縮アーム112が360度を7等分した角
度毎に取り付けられている。伸縮アーム112の先端部
は図8及び図9のように内周マスク103の突起に嵌合
する凹部113及び該凹部底部に固定配置された永久磁
石114を有するディスク保持部115となっている。
前記第3容器部110の外側には6個の第1乃至第6ス
パッタユニットS1乃至S6が設けられている。各スパ
ッタユニットS1乃至S6は第3容器部内部と連続する
スパッタ室116を有し、該スパッタ室116内に所要
のスパッタ粒子を放出するためのターゲット117が配
置されている。ここでは、第1スパッタユニットS1,
S2,S3がSiNのスパッタを実行するためのもの
で、これらのスパッタ室内にはSiNを放出するターゲ
ットが配置されている。第4スパッタユニットS4はT
bFeCoのスパッタを実行するためのもので、これらの
スパッタ室内にはTbFeCoを放出するターゲットが配
置されている。第5スパッタユニットS5はLaSiON
のスパッタを実行するためのもので、これらのスパッタ
室内にはLaSiONを放出するターゲットが配置されて
いる。第6スパッタユニットS6はAlNiのスパッタを
実行するためのもので、これらのスパッタ室内にはAl
Niを放出するターゲットが配置されている。
The third container hermetically connected to the second container 100
An index table 111 that rotates intermittently at an angle obtained by dividing 360 degrees into seven equal parts is installed inside the container part 110,
Seven extendable arms 112 that are driven to expand and contract by fluid pressure or the like are attached to the index table 111 at an angle obtained by dividing 360 degrees into seven equal parts. As shown in FIGS. 8 and 9, the distal end of the telescopic arm 112 is a disc holding portion 115 having a concave portion 113 fitted to the projection of the inner peripheral mask 103 and a permanent magnet 114 fixedly arranged at the bottom of the concave portion.
Six first to sixth sputtering units S1 to S6 are provided outside the third container part 110. Each of the sputter units S1 to S6 has a sputter chamber 116 which is continuous with the inside of the third container part, and a target 117 for discharging required sputter particles is arranged in the sputter chamber 116. Here, the first sputtering unit S1,
S2 and S3 are for executing the sputtering of SiN, and a target for releasing SiN is arranged in these sputtering chambers. The fourth sputter unit S4 is T
A target for emitting TbFeCo is disposed in these sputtering chambers for performing bFeCo sputtering. The fifth sputter unit S5 is LaSiON
In these sputtering chambers, a target for releasing LaSiON is arranged. The sixth sputter unit S6 is for performing the sputtering of AlNi.
A target that emits Ni is disposed.

【0026】以上の第3実施例の構成において、位置Q
の真空クリーンボックス31が光ミニディクス30(成
膜前のベースディスク)の供給用、位置Rの真空クリー
ンボックス31が成膜後の光ミニディクス30の取り出
し用、位置Tの真空クリーンボックス31が予備である
とする。真空クリーンボックス31が気密に装着された
位置Q,R,Tの2重ゲート弁70内を真空排気し(好
ましくはストッカー室と同程度の0.1Torr以下の真空
度とする)、その後各2重ゲート弁70を開く。すなわ
ち、真空クリーンボックス側のシャッター33及び装置
側シャッター77を流体圧シリンダ78で開く。
In the configuration of the third embodiment, the position Q
The vacuum clean box 31 is for supplying the optical mini-discs 30 (base disk before film formation), the vacuum clean box 31 at the position R is for taking out the optical mini-discs 30 after the film formation, and the vacuum clean box 31 at the position T is spare. Suppose there is. The inside of the double gate valve 70 at the positions Q, R, and T where the vacuum clean box 31 is hermetically mounted is evacuated (preferably to a degree of vacuum of 0.1 Torr or less, which is about the same as that of the stocker chamber). The heavy gate valve 70 is opened. That is, the shutter 33 on the vacuum clean box side and the apparatus side shutter 77 are opened by the fluid pressure cylinder 78.

【0027】それから、真空ロボット91の回転昇降用
駆動部92の回転、昇降及び伸縮腕93の伸縮動作によ
り、伸縮腕93の先端で位置Qの真空クリーンボックス
31内の光ミニディクス30を保持し、図7の水平状態
で待機している姿勢変換装置101に移し変える。この
とき、回動アーム105の電磁石104は励磁状態であ
り、光ミニディクス30の中心穴に予め嵌着された磁性
体の内周マスク103を吸着する。また、1対の挟持部
材102は光ミニディクス30の受け入れ時は開いてい
るが、光ミニディクス30が載置されると閉じて光ミニ
ディクス30の周縁部を挟持する。
Then, the optical minidisk 30 in the vacuum clean box 31 at the position Q is held by the tip of the telescopic arm 93 by the rotation, the vertical movement of the rotary vertical drive unit 92 of the vacuum robot 91 and the telescopic operation of the telescopic arm 93. The position is changed to the posture conversion device 101 which is standing by in the horizontal state in FIG. At this time, the electromagnet 104 of the rotating arm 105 is in an excited state, and attracts the inner peripheral mask 103 made of a magnetic material previously fitted to the center hole of the optical mini-disk 30. The pair of holding members 102 are open when the optical mini-disk 30 is received, but close when the optical mini-disk 30 is placed, and hold the periphery of the optical mini-disk 30.

【0028】姿勢変換装置101は図7から図8の状態
に90度回動し、光ミニディクス30を伸縮アーム11
2先端部のディスク保持部115に対向した垂直姿勢に
変換する。このとき回動アーム105の電磁石104の
励磁は継続されている。その後、伸縮アーム112が前
進して光ミニディクス30を受け、同時に回動アーム側
の電磁石104の励磁がオフとなる。この結果、図9の
ように光ミニディクス30側の内周マスク103の突起
が凹部113に嵌合しかつ永久磁石114が内周マスク
103の突起を吸着することで、光ミニディクス30は
姿勢変換装置101から離れてディスク保持部115で
保持される。
The posture changing device 101 is rotated 90 degrees from the state shown in FIG. 7 to the state shown in FIG.
(2) Convert to a vertical position facing the disk holding unit 115 at the end. At this time, the excitation of the electromagnet 104 of the rotating arm 105 is continued. Thereafter, the telescopic arm 112 moves forward to receive the optical mini-discs 30, and at the same time, the excitation of the electromagnet 104 on the rotating arm side is turned off. As a result, as shown in FIG. 9, the projection of the inner peripheral mask 103 on the side of the optical minidisk 30 is fitted into the concave portion 113 and the permanent magnet 114 attracts the projection of the inner peripheral mask 103. The disk is held by the disk holding unit 115 away from the disk 101.

【0029】7本の伸縮アーム112は同期して伸縮を
繰り返すものであり、縮動時にインデックステーブル1
11の間欠回転に伴って360度の1/7だけ回転す
る。したがって、姿勢変換装置101からディスク保持
部115に移された光ミニディクス30は、インデック
ステーブル111の間欠回転に伴い第1スパッタユニッ
トS1に対向する位置に移動する。そして、伸縮アーム
112の伸長により光ミニディクス30はスパッタユニ
ットS1内のスパッタ室に入り、該スパッタ室内のター
ゲットに対向してSiNのスパッタ処理が実行される。
次に、伸縮アーム112が縮動してまたインデックステ
ーブル111が360度の1/7だけ回転し、光ミニデ
ィクス30は第2スパッタユニットS2に対向する位置
に移動する。このようにして、光ミニディクス30は第
1スパッタユニットS1でのSiNのスパッタ処理の
後、第2スパッタユニットS2でSiN、第3スパッタ
ユニットS3でSiN、第4スパッタユニットS4でTb
FeCo、第5スパッタユニットS5でLaSiON、及び
第6スパッタユニットS6でAlNiのスパッタ処理が順
次行われる。
The seven telescopic arms 112 repeatedly extend and retract in synchronization with each other.
It rotates by 1/7 of 360 degrees with 11 intermittent rotations. Therefore, the optical minidisk 30 moved from the attitude conversion device 101 to the disk holding unit 115 moves to a position facing the first sputtering unit S1 with the intermittent rotation of the index table 111. Then, the optical minidisk 30 enters the sputtering chamber in the sputtering unit S1 due to the extension of the telescopic arm 112, and the SiN sputtering process is executed facing the target in the sputtering chamber.
Next, the telescopic arm 112 contracts and the index table 111 rotates by 1/7 of 360 degrees, and the optical minidisk 30 moves to a position facing the second sputter unit S2. In this manner, the optical mini-discs 30 performs the sputtering process of SiN in the first sputtering unit S1, the SiN in the second sputtering unit S2, the SiN in the third sputtering unit S3, and the Tb in the fourth sputtering unit S4.
The sputtering process of FeCo, LaSiON in the fifth sputtering unit S5, and the sputtering process of AlNi in the sixth sputtering unit S6 are sequentially performed.

【0030】各スパッタユニットS1乃至S6での処理
が終了した成膜済みの光ミニディクス30は再び姿勢変
換装置101に戻され、垂直から水平に姿勢変換され、
さらに真空ロボット91で位置Rの真空クリーンボック
ス31に移送される。このような処理が各光ミニディク
ス30に対して順次実行される。
The optical minidiscs 30 on which the processing in each of the sputter units S1 to S6 has been completed are returned to the posture changing device 101 again, and the posture is changed from vertical to horizontal.
Further, the wafer is transferred to the vacuum clean box 31 at the position R by the vacuum robot 91. Such processing is sequentially performed on each optical mini-disc 30.

【0031】上記第3実施例によれば、光ミニディクス
30の多層スパッタ処理を極めて能率的に実行でき、ま
たスパッタ装置への光ミニディクス30の供給、取り出
しをクリーン状態を維持しつつ簡便に実行できる。
According to the third embodiment, multi-layer sputtering of the optical mini-discs 30 can be performed extremely efficiently, and supply and removal of the optical mini-discs 30 to and from the sputtering apparatus can be easily performed while maintaining a clean state. .

【0032】図10乃至図12で本発明の第4実施例を
説明する。この第4実施例は半導体ウエハーに対して真
空雰囲気中でのPVD処理後、窒素雰囲気中でエッチン
グ等の処理を実行する工程を示している。図10は共通
真空室120に対してPVDユニット121を5個設け
たPVD装置を示すものであり、共通真空室120内に
真空ロボット122が設置されている。また共通真空室
120には2重ゲート弁130が設けられている。2重
ゲート弁130に装着する真空クリーンボックス131
は図11のように1枚の半導体ウエハー132を1枚収
納するもので、移送用開閉口を開閉するシャッター13
3を有している。図12は窒素雰囲気の共通室140に
対してレジスト塗布ユニット141、ベーキングユニッ
ト142、現像ユニット143、洗浄ユニット144、
エッチングユニット145及び露光ユニット146が設
けられた処理装置であり、共通室140内にロボット1
47が設置されている。また、共通室140に開閉弁1
49を介し真空チェンジャー148が連結され、さらに
真空チェンジャー148の真空クリーンボックス131
装着部分に2重ゲート弁130Aが設けられている。
A fourth embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. This fourth embodiment shows a process of performing a process such as etching in a nitrogen atmosphere after performing a PVD process in a vacuum atmosphere on a semiconductor wafer. FIG. 10 shows a PVD apparatus in which five PVD units 121 are provided for a common vacuum chamber 120, and a vacuum robot 122 is installed in the common vacuum chamber 120. Further, a double gate valve 130 is provided in the common vacuum chamber 120. Vacuum clean box 131 attached to double gate valve 130
A shutter 13 for storing one semiconductor wafer 132 as shown in FIG. 11 and opening and closing a transfer opening and closing port.
Three. FIG. 12 shows a resist coating unit 141, a baking unit 142, a developing unit 143, a cleaning unit 144,
This is a processing apparatus provided with an etching unit 145 and an exposure unit 146.
47 are installed. Also, the on-off valve 1 is provided in the common chamber 140.
The vacuum changer 148 is connected to the vacuum changer 148 via the vacuum cleaner 49.
A double gate valve 130A is provided at the mounting portion.

【0033】この第4実施例の場合、真空クリーンボッ
クス131を搬送ロボット150で保持して図10のP
VD装置の2重ゲート弁130に装着すると、2重ゲー
ト弁130の真空排気後に当該2重ゲート弁130が開
き、真空チェンジャー148で真空から窒素雰囲気に変
換後開閉弁149を開き前述の各実施例と同様に真空ロ
ボット122で真空クリーンボックス内の半導体ウエハ
ー132を順次各PVDユニット121に移送して所定
のPVD処理を実行する。その後、半導体ウエハー13
2は真空クリーンボックス131に戻される。PVD処
理後の半導体ウエハー132を収納した真空クリーンボ
ックス131は、搬送ロボット150により図12の処
理装置の2重ゲート弁130Aに移送されて装着され、
真空チェンジャー148で真空から窒素雰囲気に変換さ
れた後、ロボット147でレジスト塗布ユニット14
1、ベーキングユニット142、現像ユニット143、
洗浄ユニット144、エッチングユニット145、露光
ユニット146の順に移送され、所定の処理を受ける。
処理後の半導体ウエハー132は再び真空チェンジャー
148を介し真空クリーンボックス131に戻される。
In the case of the fourth embodiment, the vacuum clean box 131 is held by the transfer robot 150 and the P in FIG.
When mounted on the double gate valve 130 of the VD apparatus, the double gate valve 130 is opened after the double gate valve 130 is evacuated, and the on-off valve 149 is opened after the vacuum changer 148 converts the vacuum to a nitrogen atmosphere and the above-described respective operations are performed. As in the example, the semiconductor wafer 132 in the vacuum clean box is sequentially transferred to each PVD unit 121 by the vacuum robot 122 to execute a predetermined PVD process. Then, the semiconductor wafer 13
2 is returned to the vacuum clean box 131. The vacuum clean box 131 containing the semiconductor wafer 132 after the PVD processing is transferred to the double gate valve 130A of the processing apparatus of FIG.
After the vacuum is changed from a vacuum to a nitrogen atmosphere by the vacuum changer 148, the resist coating unit 14 is changed by the robot 147.
1, baking unit 142, developing unit 143,
The cleaning unit 144, the etching unit 145, and the exposure unit 146 are transported in this order, and undergo predetermined processing.
The processed semiconductor wafer 132 is returned to the vacuum clean box 131 via the vacuum changer 148 again.

【0034】上記第4実施例によれば、半導体ウエハー
132の真空及び窒素雰囲気中での各種処理を能率的に
実行でき、処理装置への半導体ウエハーの供給、取り出
しを真空クリーンボックス131を用いて簡便に実行で
きる。
According to the fourth embodiment, various processes of the semiconductor wafer 132 in a vacuum and nitrogen atmosphere can be efficiently performed, and the semiconductor wafer is supplied to and removed from the processing apparatus by using the vacuum clean box 131. It can be easily executed.

【0035】なお、上記実施例では真空雰囲気中での処
理装置としてスパッタ装置やPVD装置を例示したが、
蒸着やイオンプレーティング等の成膜処理を実行する装
置にも適用できる。
In the above embodiment, a sputtering apparatus or a PVD apparatus is exemplified as a processing apparatus in a vacuum atmosphere.
The present invention can also be applied to an apparatus that performs a film forming process such as vapor deposition or ion plating.

【0036】[0036]

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
真空クリーンボックスは真空排気手段や移送手段を持た
ないため、軽量コンパクトに構成でき、真空装置として
の各種処理装置に真空クリーンボックスを合体させるた
めの位置決めを、極めて容易に実行できる。また、各種
処理装置への装着は、人手でも市販のロボット(クリー
ン対応でなくともよい)でも容易に実行できる。また、
真空クリーンボックスの搬送に無人搬送車を用いる場合
でも、真空クリーンボックス合体後、無人搬送車は別の
所に移動でき、無人搬送車の稼働率を良好に保つことが
できる。また、真空クリーンボックスは真空排気手段及
び移送手段を持たない必要最小限の空間であり、充分な
気密性を保持することで真空維持時間を長くすることが
できる。さらに、被搬送物の保管は、真空クリーンボッ
クス内に収納したまましばらく放置しておくことも可能
であり、取り扱いが簡便な利点もある。
As described above, according to the present invention,
Since the vacuum clean box does not have a vacuum exhaust unit or a transfer unit, the vacuum clean box can be configured to be lightweight and compact, and positioning for integrating the vacuum clean box with various processing apparatuses as a vacuum device can be performed extremely easily. Further, the attachment to various kinds of processing apparatuses can be easily performed manually or by a commercially available robot (not necessarily clean). Also,
Even when an unmanned transport vehicle is used for transporting the vacuum clean box, the unmanned transport vehicle can be moved to another place after the vacuum clean box is combined, and the operation rate of the unmanned transport vehicle can be kept good. Further, the vacuum clean box is a minimum necessary space having no evacuation means and transfer means, and can maintain a sufficient airtightness to extend the vacuum maintenance time. Further, it is possible to store the transferred object in a vacuum clean box and leave it for a while, and there is an advantage that the handling is simple.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明に係るクリーン搬送方法及び装置の第1
実施例を示す正断面図である。
FIG. 1 shows a first embodiment of a clean transfer method and apparatus according to the present invention.
It is a front sectional view showing an example.

【図2】本発明の第2実施例において使用する真空クリ
ーンボックスを示す一部を断面とした平面図である。
FIG. 2 is a partially sectional plan view showing a vacuum clean box used in a second embodiment of the present invention.

【図3】同正断面図である。FIG. 3 is a front sectional view of the same.

【図4】第2実施例における光ミニディクスの射出成型
工程を説明する構成図である。
FIG. 4 is a configuration diagram illustrating an optical mini-disc injection molding process in a second embodiment.

【図5】第2実施例における光ミニディクスの成膜処理
工程を説明する構成図である。
FIG. 5 is a configuration diagram illustrating a film forming process of an optical minidisk in a second embodiment.

【図6】本発明の第3実施例を示す平断面図である。FIG. 6 is a plan sectional view showing a third embodiment of the present invention.

【図7】第3実施例で用いた姿勢変換装置が水平状態の
ときの説明図である。
FIG. 7 is an explanatory diagram when the attitude conversion device used in the third embodiment is in a horizontal state.

【図8】第3実施例で用いた姿勢変換装置が垂直状態の
ときの説明図である。
FIG. 8 is an explanatory diagram when the attitude conversion device used in the third embodiment is in a vertical state.

【図9】第3実施例において光ミニディクスの姿勢変換
装置からディスク保持部への移し変え動作を示す説明図
である。
FIG. 9 is an explanatory diagram showing an operation of transferring the optical minidisk from the attitude conversion device to the disk holding unit in the third embodiment.

【図10】本発明の第4実施例で用いるPVD装置を示
す平断面図である。
FIG. 10 is a plan sectional view showing a PVD apparatus used in a fourth embodiment of the present invention.

【図11】第4実施例で用いる真空クリーンボックスを
示す斜視図である。
FIG. 11 is a perspective view showing a vacuum clean box used in the fourth embodiment.

【図12】第4実施例で用いる窒素雰囲気中での処理装
置である。
FIG. 12 shows a processing apparatus in a nitrogen atmosphere used in the fourth embodiment.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1,31,131 真空クリーンボックス 3,7,33,58,77,133 シャッター 4,6,34,76 開閉口 5 スパッタ装置 10,70,130,130A 2重ゲート弁 18,117 ターゲット 30 光ミニディクス 50,148 真空チェンジャー 53 射出成型機 60 成膜装置 61 ロボットアーム 91,122,147 ロボット 101 姿勢変換装置 111 インデックステーブル 112 伸縮アーム 116 スパッタ室 121 PVDユニット 132 半導体ウエハー 141 レジスト塗布ユニット 142 ベーキングユニット 143 現像ユニット 144 洗浄ユニット 145 エッチングユニット 146 露光ユニット S1乃至S6 スパッタユニット 1,31,131 Vacuum clean box 3,7,33,58,77,133 Shutter 4,6,34,76 Opening / closing port 5 Sputtering apparatus 10,70,130,130A Double gate valve 18,117 Target 30 Optical minidiscs 50,148 Vacuum changer 53 Injection molding machine 60 Film forming device 61 Robot arm 91,122,147 Robot 101 Attitude conversion device 111 Index table 112 Telescopic arm 116 Sputter chamber 121 PVD unit 132 Semiconductor wafer 141 Resist coating unit 142 Baking unit 143 Development Unit 144 Cleaning unit 145 Etching unit 146 Exposure unit S1 to S6 Sputtering unit

Claims (4)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 シャッターで開閉自在な開閉口を有し、
該シャッター閉成時に真空状態を維持できる気密性を有
していて真空排気手段及び移送手段を持たない真空クリ
ーンボックスと、シャッターで開閉自在な開閉口を有す
る真空装置とを、各シャッターの閉成状態にて気密に結
合して、各開閉口が面する密閉空間を形成した後、前記
真空クリーンボックス及び前記真空装置の各開閉口を閉
じていた各シャッターをそれぞれ開けて、前記真空クリ
ーンボックスと前記真空装置の内部空間同士を連続させ
ることを特徴とするクリーン搬送方法。
1. An opening and closing opening which can be opened and closed by a shutter,
A vacuum clean box having airtightness capable of maintaining a vacuum state when the shutter is closed and having no evacuation means and transfer means, and a vacuum device having an opening and closing opening which can be opened and closed by a shutter, each of which is closed. After airtightly coupled in the state, to form a closed space facing each opening and closing opening each shutter which closed each opening and closing opening of the vacuum clean box and the vacuum device, respectively, the vacuum clean box and A clean transfer method, wherein the internal spaces of the vacuum device are connected to each other.
【請求項2】 シャッターで開閉自在な開閉口を有し、
該シャッター閉成時に真空状態を維持できる気密性を有
していて真空排気手段及び移送手段を持たない真空クリ
ーンボックスと、シャッターで開閉自在な開閉口を有す
る真空装置とを具備し、前記真空クリーンボックスと真
空装置の両方のシャッターを開閉する開閉手段は前記真
空装置側に設けられており、前記真空クリーンボックス
と前記真空装置とは結合時にそれぞれの開閉口が面する
気密な密閉空間を構成し、前記真空クリーンボックス及
び前記真空装置の各開閉口を閉じていた各シャッターを
それぞれ開けたときに前記真空クリーンボックスと前記
真空装置の内部空間同士が連続する如く構成したことを
特徴とするクリーン搬送装置。
2. An opening and closing opening which can be opened and closed by a shutter,
A vacuum clean box having airtightness capable of maintaining a vacuum state when the shutter is closed and having no vacuum evacuation means and transfer means, and a vacuum device having an opening and closing opening which can be opened and closed by a shutter; Opening / closing means for opening and closing the shutters of both the box and the vacuum device are provided on the vacuum device side, and the vacuum clean box and the vacuum device constitute an airtight closed space facing the respective opening / closing ports when combined. Wherein the vacuum clean box and the vacuum apparatus are configured such that the internal spaces of the vacuum apparatus are continuous with each other when the respective shutters closing the respective opening / closing ports of the vacuum apparatus are opened. apparatus.
【請求項3】 前記真空装置内に成膜用粒子発生源が配
設され、前記真空クリーンボックス内に被成膜物が配置
されている請求項2記載のクリーン搬送装置。
3. The clean transfer device according to claim 2, wherein a film-forming particle generation source is provided in the vacuum device, and a film-forming object is provided in the vacuum clean box.
【請求項4】 前記真空装置に真空排気手段及び被搬送
物の移送手段が設けられている請求項2記載のクリーン
搬送装置。
4. The clean transfer device according to claim 2, wherein the vacuum device is provided with a vacuum exhaust unit and a transfer unit for transferring the transferred object.
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