JP2698543B2 - Gas multi-branch unit - Google Patents

Gas multi-branch unit

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JP2698543B2
JP2698543B2 JP5300405A JP30040593A JP2698543B2 JP 2698543 B2 JP2698543 B2 JP 2698543B2 JP 5300405 A JP5300405 A JP 5300405A JP 30040593 A JP30040593 A JP 30040593A JP 2698543 B2 JP2698543 B2 JP 2698543B2
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洋一 菅野
昌之 都田
優 梅田
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株式会社本山製作所
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、例えば半導体デバイス
製造工程において、制御用ガスの気流を用いてウェハを
搬送空間にて位置制御を行う場合、その位置制御のため
に使用されるガスの分配を図るためのガス多分岐ユニッ
トに関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a process for distributing a gas used for position control, for example, in the case of controlling the position of a wafer in a transfer space using an air flow of a control gas in a semiconductor device manufacturing process. The present invention relates to a gas multi-branch unit for achieving the following.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来より、例えば図5に示すように、ウ
ェハ位置制御ユニット50と制御用ガスの供給配管ユニ
ット51との間に配設されされるガス多分岐ユニット5
2が知られており、かかる構成においては、前記ウェハ
位置制御ユニット50を構成する気密状態のハウジング
50A内にて、ガス多分岐ユニット52に接続されたウ
ェハ位置制御ユニット50の所定の制御孔50a……か
らの吹き出しガスによりウェハ53が浮上状態で各種の
位置制御(進行、停止、方向転換等)が行われるように
なっている。なお、54は供給配管ユニット51におけ
る制御用ガス(典型的には窒素ガス)の供給源である。
2. Description of the Related Art Conventionally, as shown in FIG. 5, for example, a gas multi-branch unit 5 disposed between a wafer position control unit 50 and a control gas supply piping unit 51 is provided.
2 is known, and in such a configuration, a predetermined control hole 50a of the wafer position control unit 50 connected to the gas multi-branch unit 52 is provided in an airtight housing 50A constituting the wafer position control unit 50. Various position controls (progress, stop, direction change, etc.) are performed while the wafer 53 is in a floating state by blowing gas from. Reference numeral 54 denotes a supply source of a control gas (typically, nitrogen gas) in the supply piping unit 51.

【0003】この場合、前記ガス多分岐ユニット52
は、例えば図6に示すように、第1〜第4の配管構成部
分52A〜52Dを有し、各配管構成部分52A〜52
Dを構成する夫々の幹管52AO〜52DOには、所定
間隔を置いて分岐された吹き出し管たるポート52Aa
〜52Ah、52Ba〜52Bd、52Ca〜52C
d、52Da〜52Ddが設けられている一方、各幹管
52AO〜52DOの末端には夫々供給ガス導入管52
AI〜52DIが設けられた構成となっている。
In this case, the gas multi-branch unit 52
Has, for example, as shown in FIG. 6, first to fourth piping components 52A to 52D, and each of the piping components 52A to 52D.
Each of the trunk pipes 52AO to 52DO constituting D is provided with a port 52Aa as a blow-off pipe branched at a predetermined interval.
~ 52Ah, 52Ba ~ 52Bd, 52Ca ~ 52C
d, 52Da to 52Dd, while the supply gas introduction pipe 52 is provided at the end of each of the main pipes 52AO to 52DO.
AI to 52DI are provided.

【0004】ここで、各供給ガス導入管52AI〜52
DIには、前記制御用ガスの供給源54が接続されてい
る一方、各配管構成部分52A〜52Dにおける各幹管
とポート等は図示省略の継手を介して接続されており、
各ポート52Aa〜52Ah、52Ba〜52Bd、5
2Ca〜52Cd、52Da〜52Ddは、必要に応じ
中継管、バルブ等を介して位置制御ユニット50の制御
孔53aに接続されている。
Here, each supply gas introduction pipe 52AI-52
The DI is connected to the control gas supply source 54, while the main pipes, ports, and the like in each of the piping components 52A to 52D are connected via joints (not shown).
Each port 52Aa-52Ah, 52Ba-52Bd, 5
2Ca to 52Cd and 52Da to 52Dd are connected to control holes 53a of the position control unit 50 via relay pipes, valves, and the like as necessary.

【0005】各配管構成部分52A〜52Dは、夫々が
ウェハの位置制御の種類に応じた制御機能、例えば第1
の配管構成部分52Aはウェハ全体の中心方向位置設定
制御用、第2の配管構成部分52Bはウェハの周辺部の
中心方向位置設定制御用、第3の配管構成部分52Cは
ウェハの周縁外部の中心位置設定制御用、第4の配管構
成部分52Dはウェハの前進又は後退方向制御用として
割り当てられるようになっている。
Each of the piping components 52A to 52D has a control function corresponding to the type of wafer position control, for example, the first
The second piping component 52B is for central position setting control of the peripheral portion of the wafer, and the third piping component 52C is for the central position outside the peripheral edge of the wafer. The fourth piping component 52D for position setting control is assigned for controlling the forward or backward direction of the wafer.

【0006】かかるウェハ位置制御ユニット50、供給
配管ユニット51、ガス多分岐ユニット52等は、通
常、他の既設装置の設置スペースとの関係から限定され
た設置スペースに設置されるようになっており、従っ
て、例えば各配管構成部分52A〜52Dの相互間は挟
小であり、接続に必要な継手等は、その接続位置によっ
ては錯綜してほとんど隠蔽状態となるのが普通である。
The wafer position control unit 50, the supply piping unit 51, the multi-branch unit 52 and the like are usually installed in a limited installation space in relation to the installation space of other existing equipment. Therefore, for example, the space between each of the piping components 52A to 52D is small, and joints and the like necessary for connection are usually complicated and almost concealed depending on the connection position.

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来技術の構成では、特に供給されるべき制御用ガスの分
流、分配の主体をなすガス多分岐ユニット52は、管体
を適宜に接合、組み合わせて成るものであるので、設置
スペースの縮小化に制約がある一方、配管構成部分や継
手相互間が挟小でかつこれらが錯綜状態であるので、組
み付けの段取りや工数が増大したり、例えば仕様変更
や、修理の必要が生じたような場合、例えば作業者が適
宜の工具を用いて作業を行うに十分な作業スペースを確
保することができず、場合によってはメインテナンスが
不能になるという事態を生じさせる。
However, in the configuration of the above-mentioned prior art, the gas multi-branch unit 52, which mainly performs the distribution and distribution of the control gas to be supplied, is formed by appropriately joining and combining pipes. Therefore, the installation space is limited, while the piping components and the joints are small and intricate, which increases the setup and man-hours for assembling, and changes in specifications, for example. Or when repairs are required, for example, it is not possible for the worker to secure sufficient work space to perform work using appropriate tools, and in some cases, maintenance may not be possible. Let it.

【0008】本発明は、上記従来技術の課題を解決する
べくなされたものであり、可及的な集約型に構成され、
設置スペースを縮小することができ、組み付け作業が容
易であって、メインテナンスも容易に行うことができる
等としたガス多分岐ユニットを提供することを目的とす
る。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above-mentioned problems of the prior art, and is configured to be as intensive as possible.
It is an object of the present invention to provide a gas multi-branch unit capable of reducing an installation space, facilitating an assembling operation, and easily performing maintenance.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】上記従来技術の課題を解
決するべく、本発明の主たる構成は、複数の所定形状の
ブロック体を積層して成り、そのうちの一のブロック体
には厚み方向に貫通する複数の導入孔を設け、該一のブ
ロック体上に積層される他の各ブロック体の夫々には、
内方の所定箇所から外周側に向かって放射状に延びる適
数条の流路を設ける一方、当該ブロック体の夫々の前記
所定箇所と当該所定箇所に対応する前記一のブロック体
のいずれかの導入孔とを直接的に連通、又は該一のブロ
ック体と当該ブロック体との間に介在する他のブロック
体を貫通するように形成された中継導入孔を介して連通
させ、前記複数の導入孔には、夫々に対応する所定箇所
とのみ連通するように制御用ガスのガス供給管を接続
し、前記一のブロック体とは反対側に位置する他の一の
ブロック体には、当該ブロック体の夫々の流路と直接的
に又は該他の一のブロック体と当該ブロック体との間に
介在する他のブロック体を貫通するように形成された中
継吹き出し孔を介して連通する複数の吹き出し口を設け
たことを特徴とする。
Means for Solving the Problems In order to solve the above-mentioned problems of the prior art, a main structure of the present invention is constituted by laminating a plurality of blocks of a predetermined shape, one of which has a thickness direction. A plurality of penetrating holes are provided, and each of the other block bodies laminated on the one block body includes:
An appropriate number of flow paths extending radially from an inner predetermined location toward the outer circumference are provided, and each of the predetermined locations of the block body and one of the one block bodies corresponding to the predetermined location are introduced. The holes are directly communicated with each other, or are communicated through a relay introduction hole formed so as to penetrate another block body interposed between the one block body and the block body, and the plurality of introduction holes are provided. Are connected to gas supply pipes for control gas so as to communicate only with predetermined portions corresponding to the respective blocks, and the other block located on the opposite side to the one block includes the block A plurality of blowouts that communicate with each flow path directly or through a relay blowout hole formed to penetrate another block body interposed between the other block body and the block body. Characterized by a mouth

【0010】[0010]

【作用】一のブロック体の各導入孔にガス供給管を接続
し、該一のブロック体とは反対側に位置する他の一のブ
ロック体を、制御ユニットに面接触状態で接続してお
き、各ガス供給管のいずれかに所定のガスを圧送する
と、該圧送されたガスは、当該ブロック体の流路を介し
て該他の一のブロック体における各吹き出し口から吹き
出される。該吹き出された圧送ガスを所定の態様で(例
えば制御ユニットにおいて、所定の方向に配列された多
数の制御孔を介して)吹き出させることにより、例えば
ウェハのような被移送物体の位置制御を行うことができ
る。
A gas supply pipe is connected to each introduction hole of one block body, and another block body located on the opposite side to the one block body is connected to the control unit in surface contact. When a predetermined gas is pressure-fed to one of the gas supply pipes, the pressure-fed gas is blown out from each blowout port of the other block through the flow path of the block. The position of an object to be transferred, such as a wafer, is controlled by blowing out the blown compressed gas in a predetermined manner (for example, through a large number of control holes arranged in a predetermined direction in a control unit). be able to.

【0011】[0011]

【実施例】図1は、本発明の一実施例を示すものであ
る。本実施例に係るガス多分岐ユニットの本体部は、第
1のブロック体たる円板体1と第2〜第5のブロック体
たる円板体2〜5を有し、前記第1の円板体1を最端位
置として、前記第2〜第5の円板体2〜5がその順序で
積層されており、全体として円柱状を呈している。各円
板体1〜5は、典型的にはアルミニュームから成るが、
その材料としてはニッケル、ステンレス鋼、又はニッケ
ルモリブデン合金でもよい。
FIG. 1 shows an embodiment of the present invention. The main body of the gas multi-branch unit according to the present embodiment has a disc 1 serving as a first block and discs 2 to 5 serving as second to fifth blocks, and the first disc is provided. The second to fifth disk bodies 2 to 5 are laminated in that order with the body 1 being the end position, and have a columnar shape as a whole. Each of the discs 1 to 5 is typically made of aluminum,
The material may be nickel, stainless steel, or a nickel-molybdenum alloy.

【0012】本体部を構成する第1の円板体1の一面か
らは、4本のガス供給管6〜9が突出するように設けら
れており、該第1の円板体1の反対側に位置する第5の
円板体5には、吹き出し口5Pa〜5Ph、5Qa〜5
Qd、5Ra〜5Rd、5Sa〜5Sd(図2に示され
ているが、図形の投影方向の関係上、全てが図示されて
いるわけではない)が、後記制御ユニットの制御孔に臨
まされるように設けられている。
Four gas supply pipes 6 to 9 are provided so as to protrude from one surface of the first disk 1 constituting the main body, and are provided on the opposite side of the first disk 1. In the fifth disk body 5 located at the position 5, the outlets 5 Pa to 5 Ph and 5 Qa to 5
Qd, 5Ra to 5Rd, and 5Sa to 5Sd (shown in FIG. 2 but not all shown due to the projection direction of the graphic) face the control holes of the control unit described later. It is provided in.

【0013】図2は、図1に示す本体部の細部を示すも
のであり、第1の円板体1には内方側に導入孔1a〜1
dが形成され、各導入孔1a〜1dの夫々に前記ガス供
給管6〜9が接続されるようになっている。一方、第2
〜第5の円板体2〜5上の所定箇所には夫々座ぐり穴状
に形成された集散穴2A〜5Aが形成されており、その
うち、集散穴2Aは第1の円板体1に形成された導入孔
1aと板厚方向で連通し、他の集散穴3A〜5Aと夫々
に対応する導入孔1b〜1dとは、中間に介在する円板
体2〜4に形成された中継導入孔2Ab、2Ac及び3
Ac、2Ad〜4Adを介して夫々板厚方向で連通する
ようになっている。
FIG. 2 shows the details of the main body shown in FIG. 1, and the first disc 1 has inwardly provided introduction holes 1a to 1a.
d is formed, and the gas supply pipes 6 to 9 are connected to the respective introduction holes 1a to 1d. On the other hand, the second
At the predetermined positions on the fifth to fifth discs 2 to 5, there are formed dispersing holes 2A to 5A formed in a counterbore shape, of which the dispersing holes 2A are formed in the first disc 1 respectively. The other introduction holes 3a to 5A communicate with the formed introduction holes 1a in the plate thickness direction, and the other introduction holes 1b to 1d respectively correspond to the relay introduction holes formed in the intermediate disk bodies 2 to 4. Holes 2Ab, 2Ac and 3
Ac, 2Ad to 4Ad communicate with each other in the thickness direction.

【0014】なお、隣接する円板体の接触面は、例えば
表面粗さがRmax 1μm以下である鏡面仕上げ状態とな
っており、所定の連通箇所以外でのガスのリークが防止
されるようになっている。なお、この場合、気密状態を
達成する手段として、隣接する円板体の接触面間に、テ
フロン等の材料から成るパッキン材を介在させるように
構成してもよい。
The contact surfaces of the adjacent discs are mirror-finished, for example, having a surface roughness of Rmax 1 μm or less, so that gas leakage can be prevented at locations other than the predetermined communication locations. Has become. In this case, as a means for achieving the airtight state, a packing material made of a material such as Teflon may be interposed between the contact surfaces of the adjacent disk bodies.

【0015】一方、前記第2〜第5の円板体2〜5の夫
々の一面側には各集散穴2A〜5Aを夫々起点として放
射状に適数条の流路たる案内溝2Ba〜2Bh、3Ba
〜3Bd、4Ba〜4Bd、5Ba〜5Bdが形成され
ている。すなわち、集散穴2Aは8条の案内溝2Ba〜
2Bhと、集散穴3Aは4条の案内溝3Ba〜3Bd
と、集散穴4Aは4条の案内溝4Ba〜2Bdと、集散
穴5Aは4条の案内溝5Ba〜5Bdと夫々連通するよ
うになっている。この場合、各案内溝2Ba〜2Bh、
3Ba〜3Bd、4Ba〜4Bd、5Ba〜5Bdは、
各集散穴2A〜5Aを含めて夫々の内面が、例えば表面
粗さが少なくともRmax 1μm以下である鏡面仕上げ状
態となっている。
On the other hand, on one surface side of each of the second to fifth disc bodies 2 to 5, guide grooves 2Ba to 2Bh serving as a suitable number of flow paths are formed radially starting from each of the scatter holes 2A to 5A. 3Ba
To 3Bd, 4Ba to 4Bd, and 5Ba to 5Bd. That is, the collection hole 2A has eight guide grooves 2Ba-
2Bh and the dispersion hole 3A are four guide grooves 3Ba to 3Bd.
The collection hole 4A communicates with the four guide grooves 4Ba to 2Bd, and the collection hole 5A communicates with the four guide grooves 5Ba to 5Bd. In this case, each of the guide grooves 2Ba to 2Bh,
3Ba-3Bd, 4Ba-4Bd, 5Ba-5Bd are
The inner surface of each, including the collection and distribution holes 2A~5A is, for example, the surface roughness is in the mirror-finished state is less than at least R max 1 [mu] m.

【0016】ここで、前記第2の円板体2は、例えばウ
ェハ全体の中心方向位置設定制御用、第3の円板体3
は、ウェハの周辺部の中心方向位置設定制御用、第4の
円板体4は、ウェハの周縁外部の中心位置設定制御用、
第5の円板体5はウェハの前進又は後退方向制御用とし
て設けられている。
Here, the second disk 2 is used, for example, for controlling the position of the entire wafer in the center direction, and the third disk 3
Is for central position setting control of the peripheral portion of the wafer, and the fourth disk body 4 is for central position setting control outside the peripheral edge of the wafer.
The fifth disk 5 is provided for controlling the forward or backward direction of the wafer.

【0017】前記第2〜第5の円板体2〜5における各
案内溝2Ba〜2Bh、3Ba〜3Bd、4Ba〜4B
d、5Ba〜5Bdの末端部には、末端開口穴2ba〜
2bh、3ba〜3bd、4ba〜4bd、5ba〜5
bd(図形の投影方向の関係上、全てが図示されている
わけではない。なお、末端開口穴5ba〜5bdは、前
記吹き出し口5Sa〜5Sdでもある。)が形成されて
おり、各末端開口穴2ba〜2bh、3ba〜3bd、
4ba〜4bdは、夫々に対応する吹き出し口5Pa〜
5Ph、5Qa〜5Qd、5Ra〜5Rdに臨まされる
ようになっている。
Each of the guide grooves 2Ba to 2Bh, 3Ba to 3Bd, 4Ba to 4B in the second to fifth disc bodies 2 to 5
d, 5Ba to 5Bd, the terminal opening holes 2ba to
2bh, 3ba-3bd, 4ba-4bd, 5ba-5
bd (all are not shown in view of the projection direction of the figure. The end openings 5ba to 5bd are also the outlets 5Sa to 5Sd), and each end opening is formed. 2ba-2bh, 3ba-3bd,
4ba to 4bd are corresponding outlets 5Pa to
5Ph, 5Qa to 5Qd, and 5Ra to 5Rd.

【0018】なお、例えば第2の円板体2に形成された
末端開口穴2ba〜2bhは、他の第3〜第5の円板体
3〜5において板厚方向に貫通するよう形成された中継
吹き出し孔3Pa〜3Ph、4Pa〜4Phと夫々連通
し、かつ、吹き出し口5Pa〜5Phと夫々連通してい
る。他の末端開口穴3ba〜3bd、4ba〜4bdに
ついても同様であり、末端開口穴3ba〜2bdは、中
継吹き出し孔4Qa〜4Qdと夫々連通し、かつ、吹き
出し口5Qa〜5Qhと連通していると共に、末端開口
穴4ba〜4bdは直接的に吹き出し口5Ra〜5Rd
と夫々連通している。
Note that, for example, the end opening holes 2ba to 2bh formed in the second disc body 2 are formed so as to penetrate the other third to fifth disc bodies 3 to 5 in the thickness direction. The relay outlets 3Pa to 3Ph communicate with the 4Pa to 4Ph, respectively, and communicate with the outlets 5Pa to 5Ph, respectively. The same applies to the other end opening holes 3ba to 3bd, 4ba to 4bd. The end opening holes 3ba to 2bd communicate with the relay outlet holes 4Qa to 4Qd, respectively, and communicate with the outlets 5Qa to 5Qh. , End opening holes 4ba to 4bd are directly blown out ports 5Ra to 5Rd.
And communicate with each other.

【0019】なお、第1〜第5の円板体1〜5には、夫
々が板厚方向に貫通し、かつ、各案内溝2Ba〜2B
h、3Ba〜3Bd、4Ba〜4Bd、5Ba〜5Bd
を避けた状態で、挿通孔1ha〜1hd、2ha〜2h
d、3ha〜3hd、4ha〜4hd、5ha〜5hd
が形成されており、各共通の挿通孔1ha〜5ha、1
hb〜5hb、1hc〜5hc、1hd〜5hdには、
図3に示すように、夫々締結ボルト30a〜30dが挿
通され、各ボルト30a〜30dの先端側はウェハ位置
制御ユニットの制御基板に形成された雌ネジ孔(図示省
略)に夫々螺着されるようになっている。
Each of the first to fifth disk bodies 1 to 5 penetrates in the plate thickness direction and has a corresponding one of the guide grooves 2Ba to 2B.
h, 3Ba-3Bd, 4Ba-4Bd, 5Ba-5Bd
And the insertion holes 1ha to 1hd, 2ha to 2h
d, 3ha-3hd, 4ha-4hd, 5ha-5hd
Are formed, and each of the common insertion holes 1ha to 5ha, 1
In hb-5hb, 1hc-5hc, 1hd-5hd,
As shown in FIG. 3, the fastening bolts 30a to 30d are respectively inserted, and the distal ends of the bolts 30a to 30d are respectively screwed into female screw holes (not shown) formed in the control board of the wafer position control unit. It has become.

【0020】図3から理解できるように、本実施例の本
体部は、全体として扁平な円柱形状を呈している一方、
前記4本のガス供給管6〜9は、夫々の集散穴2A〜5
Aの位置に対応して長さが調製されており、末端開口穴
4bcはそれに対応する案内溝4Bcと連通している
(他の末端開口穴も同様である)。
As can be understood from FIG. 3, the main body of this embodiment has a flat cylindrical shape as a whole,
The four gas supply pipes 6 to 9 are provided with respective collection holes 2A to 5A.
The length is adjusted corresponding to the position of A, and the terminal opening hole 4bc communicates with the corresponding guide groove 4Bc (the same applies to other terminal opening holes).

【0021】図4(a)、(b)、及び(c)は、ウェ
ハ位置制御ユニットと本実施例に係るガス多分岐ユニッ
トとの関係の一部を示すものであり、具体的には、ウェ
ハ35の一方向(X方向)の夫々の前進又は後退の制御
用として設けられる第5の円板体5に対応する部分を示
している。同図において、ウェハ位置制御ユニットを構
成する制御基板32は、アルミニューム板33とこれを
一面側に重ね合わせた石英板34とから成り、該石英板
34には、その一領域に、例えば制御孔34a、及び3
4bがその板厚方向を貫通するように、かつ、適宜方向
に(前進又は後退する方向に)沿って縦列するように設
けられており、さらに、各制御孔34a、34bに対応
して前記アルミニューム板33の一面側には吹き出し溝
33a、33bが設けられている。
FIGS. 4A, 4B and 4C show a part of the relationship between the wafer position control unit and the gas multi-branch unit according to this embodiment. A portion corresponding to the fifth disk 5 provided for controlling the forward or backward movement of the wafer 35 in one direction (X direction) is shown. In the figure, a control board 32 constituting a wafer position control unit is composed of an aluminum plate 33 and a quartz plate 34 in which this is overlaid on one surface side. Holes 34a and 3
4b are provided so as to penetrate the plate thickness direction and to be tandemly arranged in an appropriate direction (in a forward or backward direction). Further, the aluminum is provided in correspondence with each of the control holes 34a and 34b. Outlet grooves 33a, 33b are provided on one surface side of the pneumatic plate 33.

【0022】ここで、前記制御孔34aは、石英板34
の板面と所定の角度をなすように、例えばウェハ35の
一方向への進行(前進)用として、また、制御孔34b
は、前記制御孔34aの貫通方向とは略直角をなす方向
をなすように形成され、ウェハ35の反対方向への進行
(後退)用として設けられている。
Here, the control hole 34a is
For example, for making the wafer 35 advance (advance) in one direction so as to form a predetermined angle with the plate surface of the control hole 34b.
Are formed so as to be substantially perpendicular to the direction in which the control hole 34a penetrates, and are provided for advancing (retreating) the wafer 35 in the opposite direction.

【0023】他方、前記アルミューム板33は、例えば
吹き出し口5Saが吹き出し溝33aと連通するよう
に、また、吹き出し口5Scは吹き出し溝33bと連通
するように位置決めされている。なお、上記したよう
に、吹き出し口5Saの上流端は、第5の円板体5の案
内溝5Baと、吹き出し口5Scの上流端は、案内溝5
Bcと連通している。なお、各吹き出し口と吹き出し溝
との接続部には、夫々専用の制御バルブ(図示省略)が
設けられており、各制御態様に応じて適宜開閉できるよ
うに構成されている。
On the other hand, the armum plate 33 is positioned such that the outlet 5Sa communicates with the outlet groove 33a, and the outlet 5Sc communicates with the outlet groove 33b. As described above, the upstream end of the outlet 5Sa is the guide groove 5Ba of the fifth disk body 5, and the upstream end of the outlet 5Sc is the guide groove 5Ba.
It communicates with Bc. In addition, a dedicated control valve (not shown) is provided at a connection portion between each outlet and the outlet groove, and is configured to be able to be appropriately opened and closed according to each control mode.

【0024】他の吹き出し口に対応する制御基板の領域
についても、位置制御の態様に応じた制御孔や吹き出し
溝を形成する等の考慮をすることにより、上記と同様に
説明することができる。
The region of the control substrate corresponding to the other outlets can be explained in the same manner as described above by taking into consideration the formation of control holes and outlet grooves according to the position control mode.

【0025】本実施例は、上記のように構成されている
ので、例えばガス供給管9に窒素ガスが供給されると、
該窒素ガスは第5の円板体5の集散穴5Aに到達し、該
集散穴5Aに連通する各案内溝5Ba〜5Bd内に流入
し、夫々末端開口穴5ba〜5bdを介して吹き出し口
5Sa〜5Sdから吹き出すことができる。
Since the present embodiment is configured as described above, for example, when nitrogen gas is supplied to the gas supply pipe 9,
The nitrogen gas reaches the collecting hole 5A of the fifth disk body 5, flows into each of the guide grooves 5Ba to 5Bd communicating with the collecting hole 5A, and flows out through the outlet holes 5Sa through the end opening holes 5ba to 5bd, respectively. ~ 5Sd can be blown out.

【0026】この場合、例えば吹き出し口5Saのみに
ついてその下流端から圧送された窒素ガスを吹き出し得
るようにバルブが制御されているものとすれば、図4
(b)に示すように、該圧送された窒素ガスは、吹き出
し溝33aを介して吹き出し出し孔34aから吹き出さ
れ、ウェハ35を同図のXR方向に移送することができ
る。これに対し、吹き出し口5Scのみについてバルブ
が制御されているものとすれば、図4(c)に示すよう
に、該圧送された窒素ガスは、吹き出し溝33bを介し
て制御孔34bから吹き出され、ウェハ35を同図のX
L方向に移送することができる
In this case, if it is assumed that the valve is controlled so that only the outlet 5Sa can blow out the nitrogen gas pumped from the downstream end thereof, as shown in FIG.
As shown in (b), the pressure-fed nitrogen gas is blown out from the blowout hole 34a through the blowout groove 33a, and the wafer 35 can be transferred in the XR direction in FIG. On the other hand, assuming that the valve is controlled only for the outlet 5Sc, as shown in FIG. 4C, the pressure-fed nitrogen gas is blown out of the control hole 34b through the outlet groove 33b. , And the wafer 35 with X in FIG.
Can be transported in the L direction

【0027】本実施例では、少なくとも本体部は,全体
として円柱状を呈しており、単純な形状であることか
ら、取扱いが容易で占有スペースも小さく、その組み付
け作業や、メインテナンスも容易に行うことができる。
なお、各吹き出し口5Pa〜5Ph、5Qa〜5Qd、
5Ra〜5Rd、5Sa〜5Sdについては、ガス供給
管6〜9の突出方向とは反対方向に開口され、本実施例
の場合、第5の円板体5の周縁部近傍でかつ円周方向に
沿って形成されているが、特にこれに限定されるもので
はなく、吹き出し口が流路たる案内溝と連通していれば
良いので、例えば内方側に散点状に配されるように形成
してもよい。
In this embodiment, at least the main body has a columnar shape as a whole and has a simple shape, so that it is easy to handle and occupies a small space, and its assembling work and maintenance are easy. Can be.
In addition, each outlet 5Pa-5Ph, 5Qa-5Qd,
5Ra to 5Rd and 5Sa to 5Sd are opened in the direction opposite to the direction in which the gas supply pipes 6 to 9 protrude, and in the case of the present embodiment, near the periphery of the fifth disk 5 and in the circumferential direction. It is formed along, but is not particularly limited to this, it is only necessary that the outlet communicates with the guide groove serving as a flow path, so that it is formed, for example, so as to be arranged in a scattered point on the inner side. May be.

【0028】さらに、本実施例においては、各流路の内
面が鏡面状態に仕上げられているので、超高純度の窒素
ガスの使用が可能となり、該窒素ガスを用いる被処理体
たるウェハ35を高純度雰囲気下で行うことができる。
Further, in this embodiment, since the inner surface of each flow path is finished in a mirror state, it becomes possible to use ultra-high purity nitrogen gas, and the wafer 35 to be processed using the nitrogen gas can be used. It can be performed in a high purity atmosphere.

【0029】[0029]

【発明の効果】請求項1の発明によれば、複数の所定形
状のブロック体を積層して成り、そのうちの一のブロッ
ク体には厚み方向に貫通する複数の導入孔を設け、該一
のブロック体上に積層される他の各ブロック体の夫々に
は、内方の所定箇所から外周側に向かって放射状に延び
る適数条の流路を設ける一方、当該ブロック体の夫々の
前記所定箇所と当該所定箇所に対応する前記一のブロッ
ク体のいずれかの導入孔とを直接的に連通、又は該一の
ブロック体と当該ブロック体との間に介在する他のブロ
ック体を貫通するように形成された中継導入孔を介して
連通させ、前記複数の導入孔には、夫々に対応する所定
箇所とのみ連通するように制御用ガスのガス供給管を接
続し、前記一のブロック体とは反対側に位置する他の一
のブロック体には、当該ブロック体の夫々の流路と直接
的に又は該他の一のブロック体と当該ブロック体との間
に介在する他のブロック体を貫通するように形成された
中継吹き出し孔を介して連通する複数の吹き出し口を設
けたことを特徴とするので、少なくともガスの分流、分
配の中核的機能をなす本体部を可及的な集約型に構成す
ることができ、設置スペースを縮小することができる。
また、該本体部はブロック体の簡単な積層構造から成る
ものであるので、組み付け作業が容易であり、さらに
は、吹き出し口を、例えば被移送体の制御ユニットに直
接接触させることができ、流路抵抗の削減やメインテナ
ンス作業の簡略化に貢献できる。
According to the first aspect of the present invention, a plurality of blocks having a predetermined shape are laminated, and one of the blocks is provided with a plurality of introduction holes penetrating in the thickness direction. Each of the other blocks stacked on the block is provided with an appropriate number of flow passages extending radially from a predetermined inner location toward the outer periphery, while each of the predetermined locations of the block is provided. And any one of the introduction holes of the one block corresponding to the predetermined portion, or penetrate another block interposed between the one block and the block. The plurality of introduction holes are connected to a gas supply pipe of a control gas so as to communicate only with a predetermined portion corresponding to each of the plurality of introduction holes. The other block on the other side has It communicates directly with each flow path of the block body or via a relay blowing hole formed to penetrate another block body interposed between the other block body and the block body. Since a plurality of outlets are provided, at least the main body, which functions as a core function of dividing and distributing gas, can be configured as intensively as possible, and the installation space can be reduced. .
Further, since the main body has a simple laminated structure of the block body, the assembling work is easy, and further, the outlet can be brought into direct contact with, for example, the control unit of the transferred body, so that the flow is prevented. This can contribute to reducing road resistance and simplifying maintenance work.

【0030】請求項2の発明によれば、請求項1の発明
において、ブロック体は、円板体であることを特徴とす
るので、ブロック体の加工が容易となる。
According to the second aspect of the present invention, in the first aspect of the present invention, since the block is a disc, the processing of the block is easy.

【0031】請求項3の発明によれば、請求項1又は請
求項2の発明において、制御用ガスは、不活性ガスの供
給管であることを特徴とするので、吹き出し口からの制
御用ガスに晒される被処理体を化学的に安定なものとす
ることができる。
According to a third aspect of the present invention, in the first or second aspect of the present invention, the control gas is a supply pipe of an inert gas. The object to be exposed to the gas can be made chemically stable.

【0032】請求項4の発明によれば、請求項1から請
求項3までのいずれか1項の発明において、他の一のブ
ロック体は、被移送物体の位置を制御するための制御ユ
ニットに面接触状態で接続されることを特徴とするの
で、吹き出し口からの制御用ガスにより被移送物体を浮
上状態で移送するのに適用して有用であり、また、制御
ユニットとの間隔が無くなることにより省スペース化に
貢献できる。
According to a fourth aspect of the present invention, in any one of the first to third aspects of the present invention, the other block is provided with a control unit for controlling the position of the object to be transferred. It is characterized in that it is connected in a surface contact state, so it is useful to apply to transfer the transferred object in a floating state by the control gas from the outlet, and eliminates the gap with the control unit. Can contribute to space saving.

【0033】請求項5の発明によれば、請求項3又は請
求項4の発明において、被移送物体は、半導体ウェハで
あることを特徴とするので、半導体装置の製造プロセス
に適用して有用である。
According to a fifth aspect of the present invention, in the third or fourth aspect of the present invention, the object to be transferred is a semiconductor wafer, and is useful when applied to a semiconductor device manufacturing process. is there.

【0034】請求項6の発明によれば、請求項2から請
求項5までのいずれか1項の発明において、円板体は、
隣接する円板体との接触面が鏡面状態に形成されている
ことを特徴とするので、本体部の気密状態を十分な高精
度で実現することができ、この場合、請求項7の発明の
ように、鏡面状態の表面粗さをRmax 1μm以下とすれ
ば、有効な気密状態を実現できる。
According to a sixth aspect of the present invention, in any one of the second to fifth aspects of the present invention, the disk body is
Since the contact surface with the adjacent disk body is formed in a mirror surface state, the airtight state of the main body can be realized with a sufficiently high accuracy. As described above, when the surface roughness in the mirror state is set to Rmax 1 μm or less, an effective airtight state can be realized.

【0035】請求項8の発明によれば、請求項2から請
求項7までのいずれか1項の発明において、適数条の流
路は、夫々の内面が鏡面状態に形成されていることを特
徴とするので、超高純度の窒素ガスの使用が可能とな
り、該窒素ガスを用いる被処理体を高純度雰囲気下で行
うことができ、製品の高品質化に寄与でき、この場合、
請求項9の発明のように、前記鏡面状態の表面粗さがR
max 1μm以下とすれば、有効な高純度雰囲気を実現で
きる。
According to the eighth aspect of the present invention, in any one of the second to seventh aspects of the present invention, each of the appropriate number of flow paths has an inner surface formed in a mirror state. Because of the feature, it is possible to use ultra-high purity nitrogen gas, the object to be processed using the nitrogen gas can be performed in a high-purity atmosphere, and it can contribute to high quality of the product. In this case,
According to the ninth aspect of the present invention, the surface roughness of the mirror surface state is R
When the thickness is max 1 μm or less, an effective high-purity atmosphere can be realized.

【0036】請求項10の発明によれば、請求項2から
請求項5までのいずれか1項の発明において、円板体
は、隣接する円板体との間に気密手段を介在させている
ことを特徴とするので、安価かつ容易に気密状態を実現
でき、この場合、請求項11の発明のように、気密手段
は、普遍的に得られる高分子材料たるテフロン等の材料
から成るパッキン材で構成すれば、より具体的に実現で
きる。
According to a tenth aspect of the present invention, in any one of the second to fifth aspects of the present invention, the disk body has airtight means interposed between adjacent disk bodies. In this case, the hermetic state can be easily realized at a low cost and easily. In this case, as in the invention of claim 11, the hermetic means is a packing material made of a material such as Teflon, which is a universally available polymer material. If it comprises, it can implement | achieve more concretely.

【0037】請求項12の発明によれば、請求項2から
請求項11までのいずれか1項の発明において、円板体
は、金属材料から成るので、加工が容易であり、この場
合、請求項13の発明のように、金属材料を、アルミニ
ューム、ニッケル、ステンレス鋼、又はニッケルモリブ
デン合金とすれば、広汎に用いられるものであるので入
手性に優れる。
According to the twelfth aspect of the present invention, in any one of the second to eleventh aspects of the present invention, since the disk body is made of a metal material, processing is easy. If the metal material is aluminum, nickel, stainless steel, or a nickel-molybdenum alloy as in the invention of Item 13, the metal material is widely used, so that the availability is excellent.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明に係るガス多分岐ユニットの全体構成を
示す斜視図である。
FIG. 1 is a perspective view showing the overall configuration of a gas multi-branch unit according to the present invention.

【図2】図1に示すガス多分岐ユニットの本体部の分解
斜視図である。
FIG. 2 is an exploded perspective view of a main body of the multi-branch gas unit shown in FIG.

【図3】ガス多分岐ユニットの本体部の側面図である。FIG. 3 is a side view of a main body of the multi-branch unit.

【図4】ガス多分岐ユニットが接続されるウェハ位置制
御ユニットの構成を示すものであり、同図(a)はその
一部平面図、同図(b)は同図(a)のx1―x1に沿
う断面図、同図(c)は同図(a)のx2―x2に沿う
断面図である。
4A and 4B show a configuration of a wafer position control unit to which a gas multi-branching unit is connected, wherein FIG. 4A is a partial plan view, and FIG. FIG. 2C is a cross-sectional view taken along line x2-x2 of FIG. 2A.

【図5】従来のガス多分岐ユニットの構成を示す斜視図
である。
FIG. 5 is a perspective view showing a configuration of a conventional gas multi-branch unit.

【図6】ガス多分岐ユニットと供給配管ユニット及びウ
ェハ位置制御ユニットとの関係を説明する概略構成図で
ある。
FIG. 6 is a schematic configuration diagram illustrating a relationship between a gas multi-branch unit, a supply piping unit, and a wafer position control unit.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 第1の円板体(一のブロック体)、 2 第2の円板体(他のブロック体)、 3 第3の円板体(他のブロック体)、 4 第4の円板体(他のブロック体)、 5 第5の円板体(他の一のブロック体)、 6〜9 ガス供給管、 1a〜1d 導入孔、 2Ab〜2Ad、3Ac、3Ad、4Ad 中継導入孔
、 3Pa〜3Ph、4Pa〜4Ph、3Qa〜3Qd、4
Qa〜4Qd 中継吹き出し孔、 5Pa〜5Ph、5Qa〜5Qd、5Ra〜5Rd、5
Sa〜5Sd 吹き出し口、 2A〜5A 集散穴(所定箇所)、 2Ba〜5Bd 案内溝(流路) 2ba〜2bh、3ba〜3bd、4ba〜4bd、5
ba〜5bd 末端開口穴(流路)。
1 first disc (one block), 2 second disc (other block), 3 third disc (other block), 4 fourth disc ( 5th disk (other one block), 6-9 gas supply pipe, 1a-1d introduction hole, 2Ab-2Ad, 3Ac, 3Ad, 4Ad relay introduction hole, 3Pa- 3Ph, 4Pa-4Ph, 3Qa-3Qd, 4
Qa-4Qd Relay blowout hole, 5Pa-5Ph, 5Qa-5Qd, 5Ra-5Rd, 5
Sa to 5Sd outlet, 2A to 5A scattering hole (predetermined location), 2Ba to 5Bd guide groove (flow path) 2ba to 2bh, 3ba to 3bd, 4ba to 4bd, 5
ba-5bd Terminal open hole (flow path).

Claims (13)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 複数の所定形状のブロック体を積層して
成り、そのうちの一のブロック体には厚み方向に貫通す
る複数の導入孔を設け、該一のブロック体上に積層され
る他の各ブロック体の夫々には、内方の所定箇所から外
周側に向かって放射状に延びる適数条の流路を設ける一
方、当該ブロック体の夫々の前記所定箇所と当該所定箇
所に対応する前記一のブロック体のいずれかの導入孔と
を直接的に連通、又は該一のブロック体と当該ブロック
体との間に介在する他のブロック体を貫通するように形
成された中継導入孔を介して連通させ、前記複数の導入
孔には、夫々に対応する所定箇所とのみ連通するように
制御用ガスのガス供給管を接続し、前記一のブロック体
とは反対側に位置する他の一のブロック体には、当該ブ
ロック体の夫々の流路と直接的に又は該他の一のブロッ
ク体と当該ブロック体との間に介在する他のブロック体
を貫通するように形成された中継吹き出し孔を介して連
通する複数の吹き出し口を設けたことを特徴とするガス
多分岐ユニット。
1. A plurality of blocks having a predetermined shape are laminated, and one of the blocks is provided with a plurality of introduction holes penetrating in a thickness direction, and another block laminated on the one block is formed. Each of the block bodies is provided with an appropriate number of flow paths extending radially from an inner predetermined location toward the outer periphery, while each of the predetermined locations of the block body and the one corresponding to the predetermined location are provided. Directly through any of the introduction holes of the block body, or through a relay introduction hole formed to penetrate another block body interposed between the one block body and the block body. The plurality of introduction holes are connected to a gas supply pipe of a control gas so as to communicate only with a predetermined location corresponding to each of the plurality of introduction holes. Each block body has its own flow. A plurality of outlets are provided which communicate with the road directly or via a relay outlet formed to penetrate another block interposed between the other block and the block. A multi-branch gas unit, characterized in that:
【請求項2】 前記ブロック体は、円板体であることを
特徴とする請求項1に記載のガス多分岐ユニット。
2. The gas multi-branch unit according to claim 1, wherein the block body is a disk body.
【請求項3】 前記制御用ガスは、不活性ガスであるこ
とを特徴とする請求項1又は請求項2に記載のガス多分
岐ユニット。
3. The gas multi-branch unit according to claim 1, wherein the control gas is an inert gas.
【請求項4】 前記他の一のブロック体は、被移送物体
の位置を制御するための制御ユニットに面接触状態で接
続されることを特徴とする請求項1から請求項3までの
いずれか1項に記載のガス多分岐ユニット。
4. The other block body is connected to a control unit for controlling a position of an object to be transferred in a surface contact state. 2. The gas multi-branch unit according to claim 1.
【請求項5】 前記被移送物体は、半導体ウェハである
ことを特徴とする請求項3又は請求項4に記載のガス多
分岐ユニット。
5. The multi-branch gas unit according to claim 3, wherein the object to be transferred is a semiconductor wafer.
【請求項6】 前記円板体は、隣接する円板体との接触
面が鏡面状態に形成されていることを特徴とする請求項
2から請求項5までのいずれか1項に記載のガス多分岐
ユニット。
6. The gas according to claim 2, wherein a contact surface of the disk body with an adjacent disk body is formed in a mirror surface state. Multi-branch unit.
【請求項7】 前記鏡面状態は、表面粗さが少なくとも
max 1μm以下に研磨された状態であることを特徴と
する請求項6に記載のガス多分岐ユニット。
7. The gas multi-branch unit according to claim 6, wherein the mirror surface state is a state in which the surface roughness is polished to at least Rmax 1 μm or less.
【請求項8】 前記適数条の流路は、夫々の内面が鏡面
状態に形成されていることを特徴とする請求項2から請
求項7までのいずれか1項に記載のガス多分岐ユニッ
ト。
8. The multi-branch gas unit according to claim 2, wherein each of the appropriate number of channels has a mirror-finished inner surface. .
【請求項9】 前記鏡面状態は、表面粗さがRmax1μ
m以下に研磨された状態であることを特徴とする請求項
8に記載のガス多分岐ユニット。
9. The mirror surface condition is such that the surface roughness is R max 1 μm.
The multi-branch gas unit according to claim 8, wherein the multi-branch gas unit is polished to a value equal to or less than m.
【請求項10】 前記円板体は、隣接する円板体との間
に気密手段を介在させていることを特徴とする請求項2
から請求項5までのいずれか1項に記載のガス多分岐ユ
ニット。
10. The disk body according to claim 2, wherein airtight means is interposed between adjacent disk bodies.
The gas multi-branch unit according to any one of claims 1 to 5.
【請求項11】 前記気密手段は、高分子材料から成る
パッキン材であることを特徴とする請求項10に記載の
ガス多分岐ユニット。
11. The gas multi-branch unit according to claim 10, wherein said airtight means is a packing material made of a polymer material.
【請求項12】 前記円板体は、金属材料から成ること
を請求項2から請求項11までのいずれか1項に記載の
ガス多分岐ユニット。
12. The multi-branch gas unit according to claim 2, wherein the disc body is made of a metal material.
【請求項13】 前記金属材料は、アルミニューム、ニ
ッケル、ステンレス鋼、又はニッケルモリブデン合金で
あることを特徴とする請求項12に記載のガス多分岐ユ
ニット。
13. The multi-branch gas unit according to claim 12, wherein the metal material is aluminum, nickel, stainless steel, or a nickel-molybdenum alloy.
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