JP2691124B2 - Optical gas analyzer - Google Patents

Optical gas analyzer

Info

Publication number
JP2691124B2
JP2691124B2 JP17427293A JP17427293A JP2691124B2 JP 2691124 B2 JP2691124 B2 JP 2691124B2 JP 17427293 A JP17427293 A JP 17427293A JP 17427293 A JP17427293 A JP 17427293A JP 2691124 B2 JP2691124 B2 JP 2691124B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
optical
light
gas
light absorption
optical frequency
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP17427293A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPH0727701A (en
Inventor
裕明 五十嵐
清則 奥野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Japan Radio Co Ltd
Original Assignee
Japan Radio Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Japan Radio Co Ltd filed Critical Japan Radio Co Ltd
Priority to JP17427293A priority Critical patent/JP2691124B2/en
Publication of JPH0727701A publication Critical patent/JPH0727701A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP2691124B2 publication Critical patent/JP2691124B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、レーザ光を用いて光吸
収強度を検出することにより、被測定ガスの濃度を測定
する光学式ガス分析装置に関し、一層詳細には、レーザ
光の光周波数を掃引して得られる複数の特定周波数に対
する光吸収強度を平均化することで、レーザ光の光干渉
雑音による測定精度の低下を防止した光学式ガス分析装
置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an optical gas analyzer for measuring the concentration of a gas to be measured by detecting the light absorption intensity using laser light, and more particularly to the optical frequency of laser light. The present invention relates to an optical gas analyzer that prevents deterioration of measurement accuracy due to optical interference noise of laser light by averaging light absorption intensities for a plurality of specific frequencies obtained by sweeping.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、ガス濃度を測定するガス分析装置
には、ガスクロマトグラフィ、質量分析装置、赤外分光
分析装置などいくつかの装置が知られている。これらの
ガス分析装置のうち、ガス濃度の測定、分析の現場で
は、構造が大規模でなく、簡単で且つ比較的安価であ
り、取り扱いや保守が容易で、実時間測定に適した装置
として、赤外分光分析装置が広く使用されてきた。
2. Description of the Related Art Conventionally, as a gas analyzer for measuring a gas concentration, several devices such as a gas chromatography, a mass spectrometer and an infrared spectroscopic analyzer are known. Of these gas analyzers, at the site of gas concentration measurement and analysis, the structure is not large-scale, simple and relatively inexpensive, easy to handle and maintain, and suitable for real-time measurement. Infrared spectroscopy analyzers have been widely used.

【0003】ここで、図2Aおよび図2Bに示す光吸収
スペクトルの一例を用いて、ガス濃度を測定する場合に
ついて説明する。図2Aは試料ガスaに対する光吸収ス
ペクトル、図2Bは他の試料ガスbに対する光吸収スペ
クトルを示し、横軸は光周波数、縦軸は光吸収強度を示
す。なお、図2Aおよび図2Bは、試料ガスa、bの光
吸収スペクトル線が光周波数軸上で非常に接近している
場合を例示している。
Here, the case of measuring the gas concentration will be described using an example of the light absorption spectrum shown in FIGS. 2A and 2B. 2A shows a light absorption spectrum for the sample gas a, and FIG. 2B shows a light absorption spectrum for another sample gas b. The horizontal axis shows the optical frequency and the vertical axis shows the light absorption intensity. 2A and 2B exemplify a case where the light absorption spectrum lines of the sample gases a and b are very close to each other on the optical frequency axis.

【0004】単一種類の試料ガスに対して、分子の振動
・回転エネルギー遷移に伴いそれぞれ図2A、図2Bの
実線イ、ロで示した光吸収スペクトルが発生するとした
場合、複数のガスの混合体からなる試料ガスに対して
は、例えば、当該試料ガスが前記試料ガスaとbとの混
合体であるとすると、図2A、図2Bの実線イ、ロが重
畳した光吸収スペクトルが発生することになる。
For a single type of sample gas, if the optical absorption spectra shown by the solid lines a and b in FIGS. 2A and 2B are generated due to the vibrational and rotational energy transitions of the molecules, respectively, a mixture of a plurality of gases is obtained. For a sample gas composed of a body, for example, if the sample gas is a mixture of the sample gases a and b, a light absorption spectrum in which solid lines a and b of FIGS. 2A and 2B are superposed occurs. It will be.

【0005】光吸収スペクトルの検出に当たって、赤外
分光分析装置の光周波数分解能が十分に高い場合には、
図2A、図2Bに実線イ、ロで示す通りの光吸収スペク
トルが検出可能であり、各スペクトル線も一本ずつ分離
して検出することができるが、光周波数分解能が低い場
合には、図2A、図2Bの破線ハ、ニで示すような検出
結果となり、単一種類の試料ガスに対する個々の光吸収
スペクトル線も検出することができなくなってしまう。
このため、光吸収スペクトル線が、光周波数軸上で極め
て接近しているような場合は、各々のガスに対する光吸
収強度の検出、分離が困難になる。特に、試料ガス中に
おける存在比率の低いガスの測定を行う場合、この影響
は顕著になる。
In detecting the optical absorption spectrum, if the optical frequency resolution of the infrared spectroscopic analyzer is sufficiently high,
2A and 2B, it is possible to detect the light absorption spectra as shown by the solid lines a and b, and it is possible to detect each spectral line separately, but when the optical frequency resolution is low, 2A, the detection results shown by the broken lines C and D in FIG. 2B are obtained, and it becomes impossible to detect individual light absorption spectrum lines for a single type of sample gas.
Therefore, when the light absorption spectrum lines are extremely close to each other on the optical frequency axis, it becomes difficult to detect and separate the light absorption intensity for each gas. In particular, this effect becomes remarkable when measuring a gas having a low abundance ratio in the sample gas.

【0006】従来の光学式ガス分析装置の代表的一例で
ある赤外分光分析装置は、光周波数弁別器として使用さ
れる回折格子の光周波数分解能が低く、混合ガスを試料
ガスとした場合において、特に重畳した光吸収スペクト
ル線の分離検出性能は十分なものではなかった。
An infrared spectroscopic analyzer, which is a typical example of a conventional optical gas analyzer, has a low optical frequency resolution of a diffraction grating used as an optical frequency discriminator, and when a mixed gas is used as a sample gas, In particular, the performance of separating and detecting the superposed light absorption spectral lines was not sufficient.

【0007】一方、前記赤外分光分析装置と同等の操作
性を有する光学式ガス分析装置として、レーザ分光分析
装置がある。このレーザ分光分析装置は、図3に示すよ
うに、レーザ光源2、検出器4、制御回路6、処理回路
8および変換回路10とからなり、レーザ光源2と検出
器4との間に試料ガスを導入した試料セル12をおき、
レーザ光源2から出射されるレーザ光14を試料セル1
2に照射し、試料セル12を透過した透過光15を検出
器4で検出するように構成されている。
On the other hand, there is a laser spectroscopic analyzer as an optical gas analyzer having the same operability as the infrared spectroscopic analyzer. As shown in FIG. 3, this laser spectroscopic analyzer comprises a laser light source 2, a detector 4, a control circuit 6, a processing circuit 8 and a conversion circuit 10, and a sample gas is provided between the laser light source 2 and the detector 4. Place the sample cell 12 into which
The laser light 14 emitted from the laser light source 2 is supplied to the sample cell 1
It is configured such that the detector 4 detects the transmitted light 15 that irradiates 2 and is transmitted through the sample cell 12.

【0008】図3において、レーザ光源2は、光スペク
トル幅の非常に狭いレーザ光14を出射するものであ
り、このレーザ光14の光周波数は、制御回路6により
試料ガスの特定の光周波数の範囲内で掃引される。レー
ザ光14は試料セル12に照射され、試料ガスによる吸
収を受けた後、透過光15として試料セル12を透過
し、検出器4によってその光強度が検出される。
In FIG. 3, a laser light source 2 emits a laser beam 14 having a very narrow optical spectrum width, and the optical frequency of the laser beam 14 is controlled by the control circuit 6 to be a specific optical frequency of the sample gas. Swept within range. The laser light 14 is applied to the sample cell 12, absorbed by the sample gas, and then transmitted through the sample cell 12 as transmitted light 15, and the light intensity is detected by the detector 4.

【0009】ここで、処理回路8は、制御回路6から出
力されるレーザ光14に係る光周波数情報16と、この
光周波数のレーザ光14に対して検出器4が出力する光
強度信号18とから、試料ガスに含まれるガスの特定光
周波数における光吸収強度を求め、これを変換回路10
において濃度データに変換する。
Here, the processing circuit 8 receives the optical frequency information 16 regarding the laser beam 14 output from the control circuit 6 and the optical intensity signal 18 output from the detector 4 for the laser beam 14 of this optical frequency. From this, the light absorption intensity of the gas contained in the sample gas at a specific optical frequency is obtained, and this is obtained.
Convert to concentration data at.

【0010】図3のレーザ分光分析装置においては、レ
ーザ光源2として光スペクトルの幅が極めて狭いレーザ
光14を出射する光源を用いているため、光周波数分解
能が十分に高く、図2に示した例のように、試料ガス中
に光周波数軸上で極めて接近した光吸収スペクトル線を
有する複数のガスが存在している場合でも、各々の光吸
収スペクトル線を分離して検出することが可能である。
In the laser spectroscopic analyzer of FIG. 3, since the light source for emitting the laser light 14 having an extremely narrow optical spectrum width is used as the laser light source 2, the optical frequency resolution is sufficiently high and is shown in FIG. As shown in the example, even if there are multiple gases in the sample gas that have very close absorption lines on the optical frequency axis, each absorption line can be detected separately. is there.

【0011】[0011]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、図3に
示す従来のレーザ分光分析装置等において使用されてい
るレーザ光は、光スペクトル幅が極めて狭いため、可干
渉性が高く、光路上に光共振器が存在すると、干渉によ
って光強度に変動が生じるという不都合がある。
However, since the laser beam used in the conventional laser spectroscopic analyzer shown in FIG. 3 has an extremely narrow optical spectrum width, it has a high coherence and an optical resonance on the optical path. The presence of the lamp has the disadvantage that the light intensity varies due to interference.

【0012】すなわち、図3のレーザ分光分析装置にお
いて、試料セル12、検出器4等の光学素子の入出射面
に理想的な透過性を期待することは不可能であり、現実
には微少な反射を生じるため、結果的に前記光学素子が
光共振器を構成することになる。一方、レーザ光源2か
ら出射されるレーザ光14の光周波数は、試料ガスの特
定の光周波数に対応して選択されている。従って、検出
器4に入射する光強度は、試料ガスによる吸収の他、光
周波数fの変化量Δf(=c/2nL)を周期として変
動する光干渉雑音を含んでいる。なお、cは光速、nは
屈折率、Lは光共振器長である。
That is, in the laser spectroscopic analysis device of FIG. 3, it is impossible to expect ideal transmissivity for the entrance / exit surfaces of the optical elements such as the sample cell 12 and the detector 4, and in reality it is very small. As a result of reflection, the optical element eventually constitutes an optical resonator. On the other hand, the optical frequency of the laser light 14 emitted from the laser light source 2 is selected according to the specific optical frequency of the sample gas. Therefore, the intensity of light incident on the detector 4 includes not only absorption by the sample gas but also optical interference noise that fluctuates with the variation Δf (= c / 2nL) of the optical frequency f as a cycle. Note that c is the speed of light, n is the refractive index, and L is the optical resonator length.

【0013】試料ガスの濃度測定においては、光吸収に
伴う光強度の微少変化を、高精度に検出することが要求
されるが、前記のように、光強度の周期的変動が光干渉
雑音として光吸収スペクトルの検出信号に重畳するた
め、測定精度向上の障害となっていた。しかも、前記の
光干渉雑音によって生じる測定精度の低下は、他の光雑
音、電気雑音と比較して極めて大きく、ガス濃度の検出
感度を決定づける大きな要因となっていた。
In measuring the concentration of the sample gas, it is required to detect a minute change in the light intensity due to light absorption with high accuracy. However, as described above, the periodic fluctuation of the light intensity causes an optical interference noise. Since it is superimposed on the detection signal of the light absorption spectrum, it has been an obstacle to improving the measurement accuracy. Moreover, the decrease in measurement accuracy caused by the optical interference noise is extremely large as compared with other optical noises and electrical noises, and has been a major factor in determining the gas concentration detection sensitivity.

【0014】そこで、本発明では、上記の問題を解消
し、光周波数軸上で光吸収スペクトル線の接近した複数
のガスが被測定ガス中に存在しても、高い分解能で、相
互の光吸収スペクトルの影響を受けることなく且つレー
ザ光の光干渉雑音を低減して各々のガス濃度の高精度な
測定を容易に実現することのできる光学式ガス分析装置
を提供することを目的とする。
Therefore, in the present invention, the above problems are solved, and even if a plurality of gases having optical absorption spectral lines close to each other on the optical frequency axis are present in the gas to be measured, they have high resolution and mutually absorb the optical absorption. An object of the present invention is to provide an optical gas analyzer which can easily realize highly accurate measurement of each gas concentration without being affected by the spectrum and reducing optical interference noise of laser light.

【0015】[0015]

【課題を解決するための手段】前記の目的を達成するた
めに、本発明は、被測定ガスの光吸収スペクトル線幅お
よび光吸収スペクトル線間隔に対して十分に狭い光スペ
クトル幅を有するレーザ光を発生するレーザ光源と、前
記被測定ガスの複数の光吸収スペクトル線の光周波数情
報を選択する選択回路と、前記レーザ光源を制御し、前
記光周波数情報の範囲でレーザ光の光周波数を掃引する
制御回路と、前記被測定ガスを透過したレーザ光の光強
度を検出する検出器と、前記検出器により検出された光
強度から前記被測定ガスの複数の光吸収スペクトル線の
光周波数に対する光吸収強度を抽出する処理回路と、前
記処理回路により抽出された複数の光吸収スペクトル線
に対する光吸収強度を平均化する平均化回路とを備える
ことを特徴とする。
In order to achieve the above object, the present invention provides a laser beam having an optical spectrum width sufficiently narrow with respect to the optical absorption spectrum line width of the gas to be measured and the optical absorption spectrum line interval. Generating a laser light source, a selection circuit for selecting optical frequency information of a plurality of optical absorption spectral lines of the gas to be measured, and controlling the laser light source, sweep the optical frequency of the laser light in the range of the optical frequency information A control circuit, a detector for detecting the light intensity of the laser light transmitted through the gas to be measured, a light for the optical frequency of a plurality of light absorption spectral lines of the gas to be measured from the light intensity detected by the detector It is characterized by comprising a processing circuit for extracting the absorption intensity and an averaging circuit for averaging the light absorption intensities with respect to the plurality of light absorption spectral lines extracted by the processing circuit.

【0016】[0016]

【作用】本発明の光学式ガス分析装置では、被測定ガス
が有する複数の光吸収スペクトル線の光周波数情報を選
択し、これに基づいてレーザ光を前記被測定ガスに照射
し、その透過光を検出する。次いで、検出された複数の
光強度データを平均化してレーザ光の光干渉雑音を平滑
化し、これから濃度を求める。
In the optical gas analyzer of the present invention, the optical frequency information of a plurality of optical absorption spectral lines of the gas to be measured is selected, laser light is irradiated to the gas to be measured based on the information, and the transmitted light is transmitted. To detect. Next, the detected plural light intensity data are averaged to smooth the optical interference noise of the laser light, and the density is obtained from this.

【0017】[0017]

【実施例】本発明に係る光学式ガス分析装置について、
実施例を挙げ、添付の図面を参照しながら以下詳細に説
明する。図1は本発明に係る光学式ガス分析装置の一実
施例の構成を示す図である。図1において、参照符号2
はレーザ光源、4は検出器、6は制御回路、8は処理回
路、10は変換回路、12は試料ガスを導入した試料セ
ル、28は選択回路、30は平均化回路である。
EXAMPLES Regarding an optical gas analyzer according to the present invention,
Embodiments will be described in detail below with reference to the accompanying drawings. FIG. 1 is a diagram showing the configuration of an embodiment of the optical gas analyzer according to the present invention. In FIG. 1, reference numeral 2
Is a laser light source, 4 is a detector, 6 is a control circuit, 8 is a processing circuit, 10 is a conversion circuit, 12 is a sample cell into which a sample gas is introduced, 28 is a selection circuit, and 30 is an averaging circuit.

【0018】レーザ光源2は、試料ガスの光吸収スペク
トル線幅および光吸収スペクトル線の間隔に対して十分
に狭い光スペクトル幅を有するレーザ光14を発生す
る。検出器4は、試料セル12を透過したレーザ光14
の光強度を検出する。
The laser light source 2 generates a laser beam 14 having a light spectrum width sufficiently narrow with respect to the light absorption spectrum line width of the sample gas and the interval between the light absorption spectrum lines. The detector 4 uses the laser light 14 transmitted through the sample cell 12.
Detect the light intensity of.

【0019】選択回路28には、測定対象となる各種ガ
スに対して、それぞれ複数の光吸収スペクトル線の光周
波数情報が予め登録されており、試料ガスの全ての光吸
収スペクトル線の光周波数情報16を選択して制御回路
6に出力し、当該光周波数の掃引範囲の設定を行う。ま
た、前記選択回路28は、特定の試料ガスに係る光周波
数情報37を平均化回路30に出力する。制御回路6
は、前記掃引範囲内でレーザ光源2の光周波数を掃引す
るとともに、出力中の光周波数情報16を処理回路8に
供給する。処理回路8は、検出器4で検出された光強度
から前記光周波数情報16に対応した光吸収強度を抽出
する。平均化回路30は、処理回路8から供給される特
定の試料ガスに係る光吸収強度の平均化処理を行う。変
換回路10は、前記平均化されたそれぞれの光吸収強度
を濃度データに変換する。
Optical frequency information of a plurality of optical absorption spectrum lines is registered in advance in the selection circuit 28 for each gas to be measured, and optical frequency information of all optical absorption spectrum lines of the sample gas is registered. 16 is selected and output to the control circuit 6, and the sweep range of the optical frequency is set. Further, the selection circuit 28 outputs the optical frequency information 37 relating to the specific sample gas to the averaging circuit 30. Control circuit 6
Sweeps the optical frequency of the laser light source 2 within the sweep range and supplies the optical frequency information 16 being output to the processing circuit 8. The processing circuit 8 extracts the light absorption intensity corresponding to the optical frequency information 16 from the light intensity detected by the detector 4. The averaging circuit 30 performs an averaging process of the light absorption intensity of the specific sample gas supplied from the processing circuit 8. The conversion circuit 10 converts the averaged light absorption intensities into density data.

【0020】次に、本実施例の光学式ガス分析装置の動
作について説明する。
Next, the operation of the optical gas analyzer of this embodiment will be described.

【0021】先ず、試料セル12に導入される試料ガス
が特定されると、当該試料ガスに係る光周波数情報16
が選択回路28において選択され、これが制御回路6に
転送される。制御回路6は、前記光周波数情報16の範
囲でレーザ光源2を制御し、レーザ光14を出力させ
る。
First, when the sample gas to be introduced into the sample cell 12 is specified, the optical frequency information 16 relating to the sample gas is specified.
Is selected by the selection circuit 28 and transferred to the control circuit 6. The control circuit 6 controls the laser light source 2 within the range of the optical frequency information 16 and outputs the laser light 14.

【0022】レーザ光源2から出力され、試料ガスを導
入した試料セル12に照射されたレーザ光14は、試料
セル12の内部の試料ガスで吸収を受けた後、透過光1
5として検出器4に入射する。検出器4は透過光15の
光強度を検出し、光強度信号18を処理回路8に出力す
る。処理回路8では、制御回路6からの光周波数情報1
6と、検出器4が出力する光強度信号18とから、複数
の特定光周波数において、それぞれの光吸収スペクトル
線に対応した光吸収強度を求める。
The laser light 14 emitted from the laser light source 2 and applied to the sample cell 12 into which the sample gas is introduced is absorbed by the sample gas inside the sample cell 12 and then transmitted light 1
It enters the detector 4 as 5. The detector 4 detects the light intensity of the transmitted light 15 and outputs a light intensity signal 18 to the processing circuit 8. In the processing circuit 8, the optical frequency information 1 from the control circuit 6
6 and the light intensity signal 18 output from the detector 4, the light absorption intensity corresponding to each light absorption spectrum line is obtained at a plurality of specific optical frequencies.

【0023】平均化回路30では、処理回路8で得られ
た光吸収強度から、さらに、選択回路28で選択した特
定の試料ガスに対する光周波数情報37に対応した光吸
収信号を抽出し、これらを平均化する。次いで、前記平
均化された光吸収強度が変換回路10において濃度デー
タに変換される。この場合、スペクトル線の間隔と、レ
ーザ光の光干渉雑音周期との間には一般に相関がなく、
光干渉雑音を含む光吸収強度が平均化されるため、以上
のような構成によって、光干渉雑音を低減したガス濃度
の高精度測定が実現される。なお、選択回路28および
平均化回路30は、マイクロコンピュータやアナログ演
算回路等、従来から広く使用されている周知の素子を用
いて容易に構成することができる。
The averaging circuit 30 further extracts a light absorption signal corresponding to the light frequency information 37 for the specific sample gas selected by the selection circuit 28 from the light absorption intensity obtained by the processing circuit 8 and extracts these signals. Average out. Then, the averaged light absorption intensity is converted into density data in the conversion circuit 10. In this case, there is generally no correlation between the spacing of the spectral lines and the optical interference noise period of the laser light,
Since the light absorption intensities including the optical interference noise are averaged, the above-described configuration enables highly accurate measurement of the gas concentration with reduced optical interference noise. The selection circuit 28 and the averaging circuit 30 can be easily configured by using well-known elements that have been widely used in the past, such as a microcomputer and an analog operation circuit.

【0024】[0024]

【発明の効果】本発明に係る光学式ガス分析装置によれ
ば、以下の効果が得られる。すなわち、被測定ガスが複
数のガスの混合体で、仮に、これらのガスの光吸収スペ
クトル線が光周波数軸上で非常に接近している場合で
も、高い分解能によって各々の光吸収強度を分離して検
出することが可能であり、また、その高い測定精度か
ら、極微量なガス濃度測定も可能である。この場合、レ
ーザ光の干渉によって生じる雑音は、各光吸収スペクト
ル線に対する光吸収強度を平均化することで除去できる
ため、極めて高い精度での濃度測定が実現される。
According to the optical gas analyzer of the present invention, the following effects can be obtained. That is, even if the gas to be measured is a mixture of a plurality of gases and even if the light absorption spectral lines of these gases are very close to each other on the optical frequency axis, the light absorption intensities are separated by the high resolution. It is also possible to measure the gas concentration in a very small amount because of its high measurement accuracy. In this case, the noise caused by the interference of the laser light can be removed by averaging the light absorption intensities for the respective light absorption spectrum lines, so that the concentration measurement with extremely high accuracy can be realized.

【0025】なお、代謝機能検査や環境測定に広く用い
られている同位体ガスの分析においては、同位体ガス同
士の光吸収スペクトル線が光周波数軸上で非常に接近し
ている点や、通常一方の同位体ガスの存在比が極微量で
ある点から、本発明に係る光学式ガス分析装置を使用す
る場合の効果は極めて大きい。
In the analysis of isotope gases widely used for metabolic function tests and environmental measurements, the light absorption spectral lines of the isotope gases are very close to each other on the optical frequency axis, and Since the abundance ratio of one isotope gas is extremely small, the effect of using the optical gas analyzer according to the present invention is extremely large.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明に係る光学式ガス分析装置の構成ブロッ
ク図である。
FIG. 1 is a configuration block diagram of an optical gas analyzer according to the present invention.

【図2】図2Aおよび図2Bは、試料ガスに対する光吸
収スペクトルの特性図である。
FIG. 2A and FIG. 2B are characteristic diagrams of a light absorption spectrum with respect to a sample gas.

【図3】従来のレーザ分光分析装置の構成ブロック図で
ある。
FIG. 3 is a configuration block diagram of a conventional laser spectroscopic analysis device.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

2…レーザ光源 4…検出器 6…制御回路 8…処理回路 12…試料セル 28…選択回路 30…平均化回路 2 ... Laser light source 4 ... Detector 6 ... Control circuit 8 ... Processing circuit 12 ... Sample cell 28 ... Selection circuit 30 ... Averaging circuit

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】被測定ガスの光吸収スペクトル線幅および
光吸収スペクトル線間隔に対して十分に狭い光スペクト
ル幅を有するレーザ光を発生するレーザ光源と、 前記被測定ガスの複数の光吸収スペクトル線の光周波数
情報を選択する選択回路と、 前記レーザ光源を制御し、前記光周波数情報の範囲でレ
ーザ光の光周波数を掃引する制御回路と、 前記被測定ガスを透過したレーザ光の光強度を検出する
検出器と、 前記検出器により検出された光強度から前記被測定ガス
の複数の光吸収スペクトル線の光周波数に対する光吸収
強度を抽出する処理回路と、 前記処理回路により抽出された複数の光吸収スペクトル
線に対する光吸収強度を平均化する平均化回路とを備え
ることを特徴とする光学式ガス分析装置。
1. A laser light source for generating a laser beam having a light spectrum width sufficiently narrow with respect to the light absorption spectrum line width of the measurement gas and the light absorption spectrum line spacing, and a plurality of light absorption spectra of the measurement gas. A selection circuit that selects optical frequency information of a line, a control circuit that controls the laser light source and sweeps the optical frequency of the laser light within the range of the optical frequency information, and the light intensity of the laser light that has passed through the gas to be measured. A detector for detecting, a processing circuit for extracting the light absorption intensity with respect to the optical frequency of the plurality of light absorption spectral lines of the gas to be measured from the light intensity detected by the detector, and a plurality of extracted by the processing circuit And an averaging circuit for averaging the light absorption intensity with respect to the light absorption spectrum line of the optical gas analyzer.
JP17427293A 1993-07-14 1993-07-14 Optical gas analyzer Expired - Lifetime JP2691124B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP17427293A JP2691124B2 (en) 1993-07-14 1993-07-14 Optical gas analyzer

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP17427293A JP2691124B2 (en) 1993-07-14 1993-07-14 Optical gas analyzer

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH0727701A JPH0727701A (en) 1995-01-31
JP2691124B2 true JP2691124B2 (en) 1997-12-17

Family

ID=15975759

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP17427293A Expired - Lifetime JP2691124B2 (en) 1993-07-14 1993-07-14 Optical gas analyzer

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2691124B2 (en)

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0727701A (en) 1995-01-31

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4081215A (en) Stable two-channel, single-filter spectrometer
US7903252B2 (en) Noise cancellation in fourier transform spectrophotometry
US4822169A (en) Measuring assembly for analyzing electromagnetic radiation
WO1986007455A1 (en) Method and apparatus for determining parameters of gaseous substances
US3032654A (en) Emission spectrometer
US4225233A (en) Rapid scan spectrophotometer
US3897155A (en) Atomic fluorescence spectrometer
CN212321419U (en) High-resolution photoacoustic spectroscopy gas detection system based on optical frequency comb frequency calibration
JP2008522171A (en) Spectrophotometer
WO2000058712A1 (en) Isopotomer absorption spectral analyzer and its method
US3924950A (en) Atomic absorption spectroscopy with background correction
JPH08178870A (en) Spectroscopic method and device for measuring minute absorbing amount or reflecting amount of material sample
US4377342A (en) Zeeman atomic absorption spectrophotometer
US4577105A (en) Method of determining masses of absorbing components of a sample in a test volume and a device for implementation of this method
JP2691124B2 (en) Optical gas analyzer
Reid et al. Measurement of the transition strength of the 00o2 9.4 μm sequence band in CO2 using a tunable diode laser
JPH11173982A (en) Method and apparatus for measuring concentration of protein in serum
JPH0414298B2 (en)
Lam A new era in affordable Raman spectroscopy
JPH02102425A (en) Optical path difference zero point detecting device and optical interference signal averaging processor using same
US4171912A (en) Element analyzer exploiting a magneto-optic effect
JP4863595B2 (en) Method for analyzing mixtures
CN114384059B (en) Gas detection device and method
US20230375468A1 (en) Multi-monochromatic light source system for slope spectroscopy
RU2453826C2 (en) Method of comparing abundance of 12co2 and 13co2 isotopomers in samples of gas mixtures and apparatus for comparing abundance of 12co2 and 13co2 isotopomers in samples of gas mixtures