JP2689519B2 - Touch panel device - Google Patents

Touch panel device

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JP2689519B2
JP2689519B2 JP23788588A JP23788588A JP2689519B2 JP 2689519 B2 JP2689519 B2 JP 2689519B2 JP 23788588 A JP23788588 A JP 23788588A JP 23788588 A JP23788588 A JP 23788588A JP 2689519 B2 JP2689519 B2 JP 2689519B2
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英司 田丸
秋夫 坂野
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Description

【発明の詳細な説明】 以下の順序でこの発明を説明する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention will be described in the following order.

A 産業上の利用分野 B 発明の概要 C 従来の技術 D 発明が解決しようとする課題 E 課題を解決するための手段(第1図) F 作用 G 実施例 G1概要 G2回路構成(第1図、第2図) G3回路動作(通常動作)(第3図、第4図) G4回路動作(故障診断動作)(第5図、第6図) H 発明の効果 A 産業上の利用分野 この発明は、例えば銀行オンラインシステム、教育シ
ステム、医療管理システム、OAシステム、生産工程管理
システム等のFAシステム、セキュリティシステム等のHA
システム或いは通信システム等に用いて好適なタッチパ
ネル装置に関する。
A Industrial Field B Outline of the Invention C Conventional Technology D Problems to be Solved by the Invention E Means for Solving the Problems (Fig. 1) F Action G Example G 1 Outline G 2 Circuit Configuration (1st (Fig. 2) G 3 circuit operation (normal operation) (Figs. 3 and 4) G 4 circuit operation (fault diagnosis operation) (Figs. 5 and 6) H Effect of the invention A Industrial application Field The present invention relates to HA systems such as bank online systems, education systems, medical management systems, OA systems, FA systems such as production process management systems, and security systems.
The present invention relates to a touch panel device suitable for use in a system or a communication system.

B 発明の概要 受光素子及び発光素子により光ビーム格子を形成する
タッチパネル装置において、受光素子の出力側に第1の
判別レベルとこれより高い第2の判別レベルを有する検
出手段を設け、第2の判別レベルより低く第1の判別レ
ベルより高い検出出力が有限時間以上得られたとき警告
情報を発生するようにすることにより、タッチパネルが
完全に不動作になる以前にメインテナンスの必要を知ら
せるようにしたものである。
B Outline of the Invention In a touch panel device that forms a light beam grating with a light receiving element and a light emitting element, a detection means having a first determination level and a second determination level higher than the first determination level is provided on the output side of the light receiving element, and a second detection level is provided. The warning information is generated when a detection output lower than the discrimination level and higher than the first discrimination level is obtained for a finite time or more, so that the need for maintenance can be notified before the touch panel becomes completely inoperative. It is a thing.

C 従来の技術 キーボードの代わりに、画面上を指でタッチするだけ
で入力できるタッチパネル装置としては従来種々の方式
が提案されており、光学方式はその一例である。
C Conventional Technology As a touch panel device that can be input by simply touching the screen with a finger instead of a keyboard, various systems have been proposed in the related art, and an optical system is one example.

すなわち、光学方式(赤外線センス方式)は、表示画
面の周辺に位置するように下側のプリント回路基板上に
配列された複数個の発光ダイオードが赤外線ビームを発
光し、その反対側の上側のプリント回路基板上に配列さ
れた複数個のフォト・トランジスタが受光し、また、右
側面側のプリント回路基板上に配列された複数個の発光
ダイオードが赤外線ビームを発光し、その反対側の左側
面側のプリント回路基板上に配列された複数個のフォト
・トランジスタが受光して赤外線ビームの格子を作る。
光軸に沿った各光電素子には別個のアドレスを割り付け
てある。アドレスを指定して各発光ダイオードとこれに
対になっているフォト・トランジスタを順次切換えるこ
とにより、どの発光ダイオードが発光し、反対側のどの
フォト・トランジスタがその光を検出することになって
いるかがわかる。指やペンで表示画面に触れると、これ
が赤外線ビームを遮断する。遮断された光ビームのX・
Y座標はホスト・コンピュータに送られ、位置決定され
る。
That is, the optical method (infrared sensing method) is such that a plurality of light emitting diodes, which are arranged on the lower printed circuit board so as to be positioned around the display screen, emit an infrared beam and the upper side of the opposite side is printed. A plurality of phototransistors arranged on the circuit board receives light, and a plurality of light emitting diodes arranged on the printed circuit board on the right side emits an infrared beam, and the left side on the opposite side. A plurality of phototransistors arrayed on the printed circuit board receive light to form a grid of infrared beams.
A separate address is assigned to each photoelectric element along the optical axis. Which light emitting diode emits light and which photo transistor on the opposite side detects the light by sequentially switching each light emitting diode and its corresponding photo transistor by specifying an address I understand. When a finger or pen touches the display screen, it blocks the infrared beam. X of the blocked light beam
The Y coordinate is sent to the host computer for position determination.

ところが上述した従来の光学方式のタッチパネル装置
の場合、センス面(少なくとも垂直方向位置センス面)
が平面であるため、彎曲面を有するCRTと組合せるとCRT
の周縁部においてパララックスが生ずる欠点がある。
However, in the case of the above-mentioned conventional optical touch panel device, the sense surface (at least the vertical position sense surface)
Since it is a flat surface, it is a CRT when combined with a CRT with a curved surface.
There is a drawback that parallax occurs at the peripheral edge of the.

そこで、円筒状に湾曲した方形型映像表示面を備えた
陰極線管に用いられるラッチパネル装置において、映像
表示面に対して斜めに光線が横切るように発光素子及び
受光素子からなる光結合手段を複数設けると共に、光線
の作る包絡面が陰極線管の表示面と平行面を形成するよ
うになし、これにより画面の端でのパララックスを低減
するラッチパネル装置が先に本出願人により提案されて
いる(特開昭63−19383号)。
Therefore, in a latch panel device used in a cathode ray tube having a rectangular image display surface that is curved in a cylindrical shape, a plurality of optical coupling means including a light emitting element and a light receiving element are arranged so that light rays obliquely cross the image display surface. The present applicant has previously proposed a latch panel device which is provided so that the envelope surface formed by light rays forms a plane parallel to the display surface of the cathode ray tube, thereby reducing parallax at the edge of the screen. (JP-A-63-19383).

また、方形型映像面に対して上側に受光素子を下側に
この受光素子に対応する発光素子を配列し、受光素子と
発光素子により左下より右上に形成されるビーム配列さ
れた第1のビーム群(Yビーム)及び受光素子と発光素
子により右下より左上に形成されるビームが配列された
第2のビーム群(Xビーム)を備えたタッチパネル装置
において、第1のビーム群では左より右方向(又は右よ
り左方向)に走査し最初(最後)にビームが遮断された
位置を基準にして確定した座標値を得、第2のビーム群
では右より左方向(左より右方向)に走査し最初(又は
最後)にビームが遮断された位置を基準にして確定した
座標値を得、これ等二つの確定した座標値より確定した
平面座標値を得るタッチパネル装置が先に本出願人によ
り提案された(特願昭63−53186号)。
In addition, a light receiving element is arranged on the upper side with respect to the rectangular image plane, and a light emitting element corresponding to the light receiving element is arranged on the lower side, and the beam is formed by the light receiving element and the light emitting element from the lower left to the upper right. In a touch panel device including a group (Y beam) and a second beam group (X beam) in which beams formed from the lower right to the upper left by the light receiving element and the light emitting element are arranged, in the first beam group, from the left to the right. Direction (or left to right) scan to obtain the coordinate value determined based on the position where the beam is blocked first (finally). In the second beam group, it moves from right to left (from left to right). A touch panel device for obtaining a fixed coordinate value by scanning and first (or last) based on the position where the beam is interrupted, and obtaining a fixed plane coordinate value from these two determined coordinate values was previously developed by the present applicant. Proposed (Japanese Patent Application) No. 63-53186).

D 発明が解決しようとする課題 ところで、このようなタッチパネル装置は多数の発光
素子と受光素子を使用していたため、それだけ故障の発
生の確率が高い。
D Problem to be Solved by the Invention By the way, since such a touch panel device uses a large number of light emitting elements and light receiving elements, the probability of occurrence of failure is high.

故障の原因としては主として素子の劣化と外的要因に
よる劣化が考えられる。例えば素子の劣化としては経年
変化による発光素子の発光量の減少や受光素子の受光感
度の劣化等が考えられる。また、外的要素による劣化と
しては発光素子・受光素子の発光・受光面上への埃の付
着による感度低下等が考えられる。
The main causes of failure are element deterioration and deterioration due to external factors. For example, the deterioration of the element may be a decrease in the amount of light emitted from the light emitting element due to aging, a deterioration in the light receiving sensitivity of the light receiving element, or the like. Further, as the deterioration due to external elements, it is considered that the light emission of the light emitting element / light receiving element and the sensitivity decrease due to the adhesion of dust on the light receiving surface.

これ等の故障・劣化は全て受光素子に対して設けられ
た共通の検出回路に得られる赤外線ビーム検出出力の低
下と云う現象となって現われる。この現象は通常操作の
場合、即ち指による赤外線ビーム遮断の場合のビームが
半分遮断された状態と等価である。
All of these failures and deteriorations appear as a phenomenon called a decrease in the infrared beam detection output obtained by a common detection circuit provided for the light receiving element. This phenomenon is equivalent to the state where the beam is half blocked in the case of normal operation, that is, when the infrared beam is blocked by a finger.

ところが、従来装置の場合、このような感度低下等に
関する対策は特に行われておらず、そのため装置のメン
テナンスが頻繁に行われ、これに要する工数が大きくな
る欠点があった。
However, in the case of the conventional device, no particular measures have been taken against such a decrease in sensitivity, so that there is a drawback that the device is frequently maintained and the man-hour required for this is increased.

また、定期的にメンテナンスが行われない場合、故障
したままで次のメンテナンス時期まで放置されたままと
なり、その間は正しい表示が出来ない欠点があった。
In addition, if the maintenance is not performed regularly, it remains faulty and left as it is until the next maintenance period, during which the correct display cannot be performed.

この発明は斯る点に鑑みてなされたもので、タッチパ
ネルが完全に動作不能になる以前にメンテナンスの必要
性を警告して安心して使用できるようにした信頼性の高
いタッチパネル装置を提供するものである。
The present invention has been made in view of the above circumstances, and provides a highly reliable touch panel device that warns the necessity of maintenance before the touch panel is completely inoperable and can be used with confidence. is there.

E 課題を解決するための手段 この発明によるタッチパネル装置は、受光素子及び発
光素子により光ビーム格子を形成するタッチパネル装置
において、受光素子よりの受光出力を供給して、その受
光出力のレベルが、受光素子が光ビームを受光しないと
きの受光レベルより高い第1の判別レベル及びその第1
の判別レベルより高く、正常受光レベルより低い第2の
判別レベルの間にあるか否を検出する第1の検出手段
と、その第1の検出手段より、受光出力のレベルが第1
及び第2の判別レベルの間にあることを示す第1の検出
出力が得られたとき、その第1の検出出力が所定時間以
上継続して得られるか否かを検出する第2の検出手段と
を有し、その第2の検出手段より、第1の検出出力が所
定時間以上継続して得られることを示す第2の検出出力
が得られたとき、警告情報を発生するようにしたもので
ある。
E Means for Solving the Problem A touch panel device according to the present invention is a touch panel device in which a light beam grating is formed by a light receiving element and a light emitting element, the light receiving output from the light receiving element is supplied, and the level of the light receiving output is The first discrimination level and the first discrimination level higher than the light reception level when the element does not receive the light beam.
Of the first detection means for detecting whether or not the second detection level is higher than the second detection level and lower than the normal light reception level, and the first detection means detects the first light reception output level.
And a second detection output indicating that it is between the second determination level and a second detection level, second detection means for detecting whether or not the first detection output is continuously obtained for a predetermined time or more. And a warning information is generated when a second detection output indicating that the first detection output is continuously obtained for a predetermined time or longer is obtained from the second detection means. Is.

F 作用 この発明によれば、第1の検出手段より、受光出力の
レベルが第1及び第2の判別レベルの間にあることを示
す第1の検出出力が得られたときに、第2の検出手段よ
り、第1の検出出力が所定時間以上継続して得られるこ
とを示す第2の検出出力が得られたとき、警告情報を発
生する。
According to the present invention, when the first detection means obtains the first detection output indicating that the level of the received light output is between the first and second determination levels, the second detection is performed. When the detection unit obtains the second detection output indicating that the first detection output is continuously obtained for the predetermined time or longer, the warning information is generated.

G 実施例 以下、この発明の諸実施例を第1図〜第6図に基づい
て詳しく説明する。
G. Examples Hereinafter, various examples of the present invention will be described in detail with reference to FIGS.

C1概要 先ず、発光素子・受光素子の素子劣化による赤外線ビ
ーム検出出力の低下と、指による赤外線ビーム検出出力
の遮断とを対応して示すと次のようになる。
C 1 Outline First, the decrease in the infrared beam detection output due to the deterioration of the light emitting element and the light receiving element and the interruption of the infrared beam detection output by the finger are shown as follows.

タッチパネルに指を触れ、赤外線ビームを遮断する操
作の途中において、有限の太さ(通常1−3mm程度)を
有する赤外線ビームが半分程度遮断され検出回路に得ら
れる赤外光検出出力の低下を来すことは当然おこり得
る。
During the operation of blocking the infrared beam by touching the touch panel with a finger, about half of the infrared beam having a finite thickness (usually about 1 to 3 mm) is blocked and the infrared detection output obtained by the detection circuit decreases. Of course it can happen.

従ってこれが、素子劣化例えば少なくとも1個の素子
の表面に付着した埃による発光光量は受光光量の減少と
等価な現象となって検出出力の低下となって現れること
は当然起こり得る。しかし埃による感度低下は連続して
生ずるものであり、一方赤外線ビームの半分程度の遮断
(他の全部遮断された赤外線ビームが無い状態ですなわ
ち座標が検出されない状態で)は正常な位置指定操作時
には過渡的にしか生じない。
Therefore, it is naturally possible that this will cause deterioration of the element, for example, the amount of emitted light due to dust adhering to the surface of at least one element will be a phenomenon equivalent to a decrease in the amount of received light and will appear as a decrease in detection output. However, the sensitivity decrease due to dust occurs continuously, while blocking about half of the infrared beam (without any other blocked infrared beam, that is, without detecting coordinates) does not occur during normal position designation operation. It only happens transiently.

従って、少なくとも一本の赤外線ビームが(他の赤外
線ビームの遮断されていない状態で)半分遮断されてい
る状態である有限(例えば10秒)時間、又は有限のスキ
ャン回数(座標サンプル回数)以上連続するか否かで、
本当の埃の付着か否かが判別できる。
Therefore, at least one infrared beam is half blocked (while other infrared beams are not blocked) for a finite (for example, 10 seconds) time, or continuously for a finite number of scans (coordinate sample counts) Whether or not
It is possible to determine whether or not the dust really adheres.

仮に、半透明な物体で赤外線ビームの遮断を行った場
合、上記の有限時間以上その遮断が連続すれば、まず
「いたずらは、お止めください。」等の警告表示(又は
音)を出した後、それでも遮断が連続すれば次の状態
(例えば「メンテナンスの時期です」の表示等)に移行
すれば良い。
If the infrared beam is cut off by a semi-transparent object, if the cutoff continues for the finite time above, first issue a warning message (or sound) such as "Please stop pranks." However, if the interruption continues, the next state (for example, "Maintenance time" is displayed) may be entered.

これらの現象の内、特に第2の現象つまり埃による感
度低下はタッチパネルの使用状態、即ち街頭で使用され
る場合があること、またFA機器とシステム化されて使用
される場合作業環境が埃ぽいこと、さらにビームパス上
にある赤外線フィルタは外環境に直接さらされており、
この部分にも埃又はごみが付着しやすい事等のために充
分注意する必要がある。
Of these phenomena, the second phenomenon, that is, the decrease in sensitivity due to dust, is that the touch panel may be used in some cases, that is, it may be used in the street, and when it is used systematically with FA equipment, the work environment is dusty. In addition, the infrared filter on the beam path is directly exposed to the external environment,
It is necessary to pay sufficient attention because dust or dirt is likely to adhere to this portion as well.

そこで、本実施例では素子劣化による感度低下或いは
埃による劣化を、タッチパネルが動作不能になる以前に
検出し警告を出し、タッチパネルの機能を保証するもの
である。
Therefore, in the present embodiment, the deterioration of sensitivity due to element deterioration or the deterioration due to dust is detected before the touch panel becomes inoperable and a warning is issued to guarantee the function of the touch panel.

G2回路構成 第1図は本実施例の回路構成を示すもので、発光ダイ
オード(11)及びフォト・トランジスタ(12)は上述の
如くCRTの湾曲面に斜め方向の光結合関係に配列されて
いる。
G 2 Circuit Configuration FIG. 1 shows the circuit configuration of this embodiment, in which the light emitting diode (11) and the phototransistor (12) are arranged on the curved surface of the CRT in an oblique optical coupling relation as described above. There is.

(21)はマイクロコンピュータ(=1チップマイコン
等以下、マイコンと云う)、(22)はマイコン(21)か
らのアドレスを指定する制御信号に応じてXビームを形
成するのに関連した発光ダイオード(11)を切換えるた
めの選択器であって、その固定端子(221)〜(225)は
夫々スイッチング用トランジスタ(231)〜(235)を介
して発光ダイオード(1110),(1120),(1135),
(1144),(1153)のカソードに接続され、その可動端
子(22C)は抵抗器(24)を介して正の電源端子+Bに
接続される。また、選択器(22)は解放固定端子(2
2Y)を有する。発光ダイオード(1110),(1120),
(1135),(1144),(1153)のアノードは共通接続さ
れ、抵抗器(25)を介して正の電源端子+Bに接続され
る。
(21) is a microcomputer (= 1-chip microcomputer etc., hereinafter referred to as microcomputer), (22) is a light emitting diode (X) associated with forming an X beam in response to a control signal designating an address from the microcomputer (21) ( 11) a selector for switching, the fixed terminal (22 1) to (22 5) are each a switching transistor (23 1) to (23 5) via a light emitting diode (11 10), (11 20 ), (11 35 ),
It is connected to the cathodes of ( 1144 ) and ( 1153 ), and its movable terminal ( 22C ) is connected to the positive power supply terminal + B via the resistor (24). In addition, the selector (22) has a release fixed terminal (2
2 Y ). Light emitting diodes (11 10 ), (11 20 ),
The anodes of (11 35 ), (11 44 ), and (11 53 ) are commonly connected and connected to the positive power supply terminal + B via the resistor (25).

また、(26)はマイコン(21)からのアドレスを指定
する制御信号(選択器(22)のアドレスデータと同じ)
に対応じてXビームを形成するのに関連した。フォト・
トランジスタ(12)を切換えるための選択器であって、
その固定端子(261)〜(265)は夫々フォト・トランジ
スタ(1213),(1222),(1231),(1240),(1
250)のエミッタに接続され、その可動端子(26C)は接
地される。また、選択器(26)は開放固定端子(26Y
を有する。フォト・トランジスタ(1213),(1222),
(1231),(1240),(1250)のコレクタは共通接続さ
れ、共通負荷抵抗器(27)を介して正の電源素子+Bに
接続されると共に検出回路(28)を介してマイコン(2
1)のポート1に接続される。
Further, (26) is a control signal for designating an address from the microcomputer (21) (same as the address data of the selector (22)).
Associated with forming an X-beam. photo·
A selector for switching the transistor (12),
Its fixed terminal (26 1) to (26 5) are each phototransistor (12 13), (12 22), (12 31), (12 40), (1
2 50 ) and its movable terminal (26 C ) is grounded. The selector (26) has an open fixed terminal (26 Y ).
Having. Phototransistors (12 13 ), (12 22 ),
The collectors of (12 31 ), (1 2 40 ), and (1 2 50 ) are connected in common, are connected to the positive power supply element + B via the common load resistor (27), and are connected via the detection circuit (28) to the microcomputer. (2
Connected to port 1 of 1).

(29)はマイコン(21)からのアドレスを指定する制
御信号に応じてYビームを形成するのに関連した発光ダ
イオード(11)を切り換えるための選択器であって、そ
の固定端子(291)〜(295)は夫々スイッチング用トラ
ンジスタ(301)〜(305)を介して発光ダイオード(11
01),(1102),(1153),(1144),(1135)のカソ
ードに接続され、その可動端子(29C)は抵抗器(31)
を介して正の電源端子+Bに接続される。また、選択器
(29)は解放固定端子(29X)を有する。発光ダイオー
ド(1101),(1102)のアノードは共通接続され、抵抗
器(25)を介して正の電源端子+Bに接続される。
Reference numeral (29) is a selector for switching the light emitting diode (11) associated with forming a Y beam in accordance with a control signal designating an address from the microcomputer (21), and its fixed terminal (29 1 ) ~ (29 5) are each a switching transistor (30 1) to (30 5) via a light emitting diode (11
01 ), (11 02 ), (11 53 ), (11 44 ), (11 35 ), the movable terminal (29 C ) of which is connected to the resistor (31).
Is connected to the positive power supply terminal + B via. The selector (29) also has a release fixing terminal (29 X ). The anodes of the light emitting diodes (11 01 ) and (11 02 ) are commonly connected and connected to the positive power supply terminal + B via the resistor (25).

また、(32)はマイコン(21)からのアドレスを指定
する制御信号(選択器(29)へのアドレスデータと同
じ)に応じてYビームを形成するのに関連したフォト・
トランジスタ(12)を切換えるための選択器であって、
その固定端子(321)〜(325)は夫々フォト・トランジ
スタ(1231),(1222),(1213),(1204),(1
205)のエミッタに接続され、その可動端子(32C)は接
地される。また、選択器(32)は開放固定端子(32Y
を有する。フォト・トランジスタ(1204),(1205)の
コレクタは共通接続され、抵抗器(27)を介して正の電
源端子+Bに接続されると共にバッファ回路(28)を介
してマイコン(21)のポート1に接続される。
Further, (32) is a photo-related element for forming a Y beam in response to a control signal (the same as the address data to the selector (29)) designating an address from the microcomputer (21).
A selector for switching the transistor (12),
The fixed terminals (32 1 ) to (32 5 ) are respectively photo transistors (12 31 ), (12 22 ), (12 13 ), (12 04 ), (1
205 ) and its movable terminal (32 C ) is grounded. Also, the selector (32) is an open fixed terminal (32 Y )
Having. The collectors of the phototransistors (12 04 ) and (12 05 ) are commonly connected, connected to the positive power supply terminal + B via the resistor (27), and connected to the microcomputer (21) via the buffer circuit (28). Connected to port 1.

いま、マイコン(21)のポート2のデータバスからの
制御信号により選択器(29)の可動端子(29C)及び選
択器(32)の可動端子(32C)が夫々開放固定端子(2
9X)及び(32X)に接続されている間選択器(22)で発
光ダイオード(1110),(1120),(1135),(1
144),(1153)が順次駆動され、これと対応して選択
器(26)でフォト・トランジスタ(1213),(1222),
(1231),(1240),(1250)が順次駆動されてXビー
ムが順次形成され、このXビームが指で遮断されるとき
Y座標が検出ささる。
Now, the movable terminal (29 C ) of the selector (29) and the movable terminal (32 C ) of the selector (32) are opened by the control signal from the data bus of the port (2) of the microcomputer (21).
While connected to 9 X ) and (32 X ), the selector (22) allows the light emitting diodes (11 10 ), (11 20 ), (11 35 ), (1
1 44 ), (11 53 ) are driven in sequence, and in response to this, the photo transistor (12 13 ), (12 22 ),
(12 31 ), ( 1240 ) and ( 1250 ) are sequentially driven to sequentially form an X beam, and when the X beam is blocked by a finger, the Y coordinate is detected.

また、マイコン(21)のポート2のデータバスからの
制御信号により選択器(22)の可動端子(22c)及び選
択器(26)の可動端子(26c)が夫々開放固定端子(2
2Y)及び(26Y)に接続されている間選択器(29)で発
光ダイオード(1101),(1102),(1153),(1
144),(1135)が順次駆動され、これに対応して選択
器(32)でフォト・トランジスタ(1231),(1222),
(1213),(1204),(1205)が順次駆動されてYビー
ムが順次形成され、このYビームが指で遮断されるとき
Y座標が検出される。
Further, the movable terminal (22c) of the selector (22) and the movable terminal (26c) of the selector (26) are respectively opened and fixed terminals (2) by the control signal from the data bus of the port 2 of the microcomputer (21).
2 Y ) and (26 Y ) while connected to the selector (29) with the light emitting diodes (11 01 ), (11 02 ), (11 53 ), (1
1 44 ), (11 35 ) are sequentially driven, and the phototransistors (12 31 ), (12 22 ), (12 22 ), are correspondingly driven by the selector (32).
(12 13 ), (12 04 ), and (12 05 ) are sequentially driven to sequentially form the Y beam, and when the Y beam is blocked by the finger, the Y coordinate is detected.

このように表示エリアの下辺部の2方向の赤外線ビー
ムの発光に用いられる発光ダイオード(11)及び上辺部
の2方向の赤外線ビームの受光に用いられるフォト・ト
ランジスタ(12)はXビームとYビームの形成のため時
分割で、また共通して動作するため並列時に駆動され
る。従って、ビームの配列方向に対応して夫々独立して
各素子を配列する場合に比べて素子数が少なくなり低コ
スト化が図れる。
As described above, the light emitting diode (11) used for emitting infrared rays in two directions on the lower side of the display area and the phototransistor (12) used for receiving infrared rays in two directions on the upper side are the X beam and the Y beam. Are driven in a time-division manner, and in common they are driven in parallel. Therefore, the number of elements is reduced and the cost can be reduced as compared with the case where each element is independently arranged corresponding to the beam arrangement direction.

また、模式図時に画かれた第1図より明らかなように
フォト・トランジスタ(12)は総て下辺方向を向いてい
るため外光(太陽光・各種照明光:通常上方向よりく
る)に対する感度は低く、受光指向特性の最大値の方向
(角度0)が対応する発光ダイオード(11)の方向を向
いていなくても光学的なS/N比は良く、問題ない。
Further, as is clear from FIG. 1 drawn in the schematic diagram, since the phototransistors (12) are all directed to the lower side, the sensitivity to external light (sunlight, various types of illumination light: usually comes from above). Is low, and the optical S / N ratio is good even if the direction of the maximum value (angle 0) of the light receiving directivity does not face the direction of the corresponding light emitting diode (11), and there is no problem.

さて本実施例ではフィルタ用コンデンサ(28a)、結
合用コンデンサ(28b)、トランジスタ(28c)及び本来
のビーム遮断を判別する第1のレベル判別器(28d)を
有する検出回路(28)内に第1のレベル判別器(28d)
の判別レベル(スレッショルドレベル)Vth1より高い判
別レベル(スレッショルドレベル)Vth2を有する第2の
レベル判別器(28e)を設ける。そして、この第2のレ
ベル判別器(28e)の出力のみが得られるとき、発光素
子受光素子の感度が低下していることを警告し、動作不
能になる以前にメンテナンスをうながすようにする。そ
のためにレベル判別器(28d)及び(28e)より出力され
た各判別信号D1,D2は少なくとも2つの入力端を有する
マイコン(21)のポート1に供給されるようになされて
いる。
Now, in the present embodiment, a filter circuit (28a), a coupling capacitor (28b), a transistor (28c), and a detection circuit (28) having a first level discriminator (28d) for discriminating the original beam interruption are arranged in a detection circuit (28). 1 level discriminator (28d)
The second level discriminator (28e) having a discrimination level (threshold level) V th2 higher than the discrimination level (threshold level) V th1 of FIG. Then, when only the output of the second level discriminator (28e) is obtained, a warning that the sensitivity of the light emitting element and the light receiving element is lowered is issued, and maintenance is prompted before the operation becomes impossible. Therefore, the discrimination signals D 1 and D 2 output from the level discriminators (28d) and (28e) are supplied to the port 1 of the microcomputer (21) having at least two input terminals.

第2図はトランジスタ(28c)の出力(コレクタ)側
に得られる検出出力波形を示すもので、波形W1は発光素
子及び受光素子が正常に動作している場合、波形W2は素
子の経年変化による劣化又は素子表面に付着した埃によ
り感度低下を来した場合又はビームが半分遮断された状
態を示す。レベルW3は、発光素子から出射して受光素子
に入射するビームが遮断されたときの受光レベルを示
す。Vth1はレベルW3より高く、これに近い第1の判別レ
ベル、Vth2は第1の判別レベルVth1より高く、正常受光
レベルより低い第2の判別レベルである。
Fig. 2 shows the detection output waveform obtained on the output (collector) side of the transistor (28c). Waveform W1 is due to aging of the element when the light emitting element and the light receiving element are operating normally. This indicates a case where the sensitivity is lowered due to deterioration or dust adhering to the element surface, or the beam is half blocked. The level W3 indicates the light receiving level when the beam emitted from the light emitting element and entering the light receiving element is blocked. V th1 is a first discrimination level higher than the level W3 and close thereto , and V th2 is a second discrimination level higher than the first discrimination level V th1 and lower than the normal light reception level.

通常の状態では、赤外線ビームの検出出力の波形W1の
有無がレベル判別器(28d)により判別され、出力波形W
1がある場合は指によるビームの遮断が無く、出力波形W
1がない場合指によるビームの遮断があると判別され
る。
In a normal state, the level discriminator (28d) determines whether or not there is a waveform W1 of the infrared beam detection output, and the output waveform W
If there is 1, there is no interruption of the beam by the finger and the output waveform W
If there is no 1, it is determined that the beam is blocked by the finger.

なお、受光素子の不動作時に蓄積される蓄積キャリア
によるアドレス切換え時の擬似出力波形W4による判別信
号(図示せず)はレベル判別切(28d),(28e)の出力
側に接続される赤外線ビーム検出出力選別回路(図示せ
ず)、又はマイコン(21)に入力された信号の判別時に
行われる時間的選別処理により実効的にビームの遮断の
有無判別に影響を与えないように処理される。
In addition, the discrimination signal (not shown) by the pseudo output waveform W4 at the time of address switching by the accumulated carriers accumulated when the light receiving element is not operating is the infrared beam connected to the output side of the level discrimination (28d) and (28e). The detection output selection circuit (not shown) or the time selection processing performed when the signal input to the microcomputer (21) is determined is processed so as not to affect the determination of the presence or absence of beam interruption.

G3回路動作(通常動作) 次に第1図の通常の回路動作を第3図及び第4図を参
照し乍ら説明する。第3図は1ビーム遮断されたらその
後は走査を中止する場合、第4図は1ビーム遮断されて
もその後の走査を続行して全てのビームに対して走査を
行う場合である。
G 3 Circuit Operation (Normal Operation) Next, the normal circuit operation of FIG. 1 will be described with reference to FIGS. 3 and 4. FIG. 3 shows the case where the scanning is stopped after one beam is blocked, and FIG. 4 shows the case where the scanning is continued and the scanning is performed for all the beams even if the one beam is blocked.

先ず、第3図に関連して説明する。ステップ(41)で
それまで選択器(22)及び(26)を選択したときのXビ
ームが遮断されたことを記憶していたマイコン(21)の
メモリの内容をクリアする。ステップ(42)でマイコン
(21)から選択器(22)及び(26)に対してアドレスデ
ータを供給して対応する発光ダイオード(11)及びフォ
ト・トランジスタ(12)を付勢してXビームを形成す
る。
First, a description will be given with reference to FIG. In step (41), the contents of the memory of the microcomputer (21), which had previously stored that the X beam had been blocked when the selectors (22) and (26) were selected, are cleared. In step (42), the microcomputer (21) supplies address data to the selectors (22) and (26) to activate the corresponding light emitting diode (11) and phototransistor (12) to generate an X beam. Form.

ステップ(43)で指等によりXビームが遮断されたか
否かを判断し、遮断されてなければステップ(44)でX
ビームを形成している発光ダイオード(11)及びフォト
・トランジスタ(12)を切換える選択器(22)及び(2
6)へのアドレスデータは最後か否かを判断し、最後で
なければステップ(45)で選択器(22)及び(26)に対
するアドレスデータを1つだけアップしてステップ(4
2)に戻り、上述の動作を繰り返して、ステップ(44)
で最後であればすなわちXビームの全てにわたって遮断
がなければもう一度ステップ(41)に戻って上述の動作
を繰り返す。
In step (43), it is judged whether or not the X beam is blocked by a finger or the like, and if not blocked, X in step (44).
Selectors (22) and (2) for switching the light emitting diode (11) and the phototransistor (12) forming the beam;
It is determined whether or not the address data to 6) is the last. If not, only one address data for the selectors (22) and (26) is incremented in step (45) and step (4).
Return to 2), repeat the above operation, and go to step (44)
If it is the last, that is, if there is no interruption over the entire X beam, the process returns to step (41) and the above operation is repeated.

ステップ(43)でXビームの遮断があれば、ステップ
(46)でそのXビームを形成している発光ダイオード
(11)及びフォト・トランジスタ(12)を選択している
選択器(22)及び(26)に与えられている対応するアド
レスデータをマイコン(21)のメモリにX座標の情報と
して記憶する。このとき検出したアドレスデータは最初
にビームが遮断された位置を示す。
If the X beam is blocked in step (43), the light emitting diode (11) and the phototransistor (12) forming the X beam in step (46) are selected by selectors (22) and ( The corresponding address data given to 26) is stored in the memory of the microcomputer (21) as X coordinate information. The address data detected at this time indicates the position where the beam is first blocked.

次にステップ(47)に進み、ここでそれまで選択器
(29)及び(32)を選択したときのYビームが遮断され
たことを記憶していたマイコン(21)のメモリの内容を
クリアする。ステップ(48)でマイコン(21)から選択
器(29)及び(32)に対してアドレスデータを供給して
対応する発光ダイオード(11)及びフォト・トランジス
タ(12)を付勢してYビームを形成する。
Next, in step (47), the contents of the memory of the microcomputer (21), which has memorized that the Y beam was blocked when the selectors (29) and (32) were selected so far, are cleared. . In step (48), address data is supplied from the microcomputer (21) to the selectors (29) and (32) to activate the corresponding light emitting diode (11) and phototransistor (12) to generate a Y beam. Form.

ステップ(49)で指等によりYビームが遮断されたか
否かを判断し、遮断されてなければステップ(50)でY
ビームを形成している発光ダイオード(11)及びフォト
・トランジスタ(12)を切換える選択器(29)及び(3
2)へのアドレスデータは最後か否かを判断し、最後で
なければステップ(51)で選択器(29)及び(32)に対
するアドレスデータを1つだけアップしてステップ(4
8)に戻り、上述の動作を繰り返して、ステップ(50)
で最後であればすなわちYビームの全てにわたって遮断
がなければもう一度ステップ(41)に戻って上述の動作
を繰り返す。
In step (49), it is judged whether or not the Y beam is blocked by a finger or the like. If not blocked, the Y beam is checked in step (50).
Selectors (29) and (3) for switching the light emitting diode (11) and the phototransistor (12) forming the beam
It is judged whether the address data to 2) is the last one, and if it is not the last one, the address data for the selectors (29) and (32) is increased by one in step (51) and the step (4)
Return to 8), repeat the above operation, and go to step (50).
If it is the last, that is, if there is no interruption for all of the Y beams, the process returns to step (41) again and the above operation is repeated.

ステップ(49)でYビームの遮断があれば、ステップ
(52)でそのYビームを形成している発光ダイオード
(11)及びフォト・トランジスタ(12)を選択している
選択器(29)及び(32)に与えられている対応するアド
レスデータをマイコン(21)のメモリにY座標の情報と
して記憶する。このとき検出されたアドレスデータは最
初にビームが遮断された位置を示す。
If the Y-beam is blocked in step (49), the light-emitting diode (11) and the phototransistor (12) forming the Y-beam in step (52) are selected by selectors (29) and ( The corresponding address data given to 32) is stored in the memory of the microcomputer (21) as Y coordinate information. The address data detected at this time indicates the position where the beam was first cut off.

そして、ステップ(53)でマイコン(21)のメモリに
記憶された各アドレスデータを読み出してX座標及びY
座標を算出する。
Then, in step (53), each address data stored in the memory of the microcomputer (21) is read out to obtain the X coordinate and the Y coordinate.
Calculate the coordinates.

また、マイコン(21)において検出された座標を直交
座標に変換する。すなわち例えば上述の如く検出された
座標値を素座標値(斜交座標値)(MY,NX)とすると、
これに対応する目的(直交座標)の座標値(Hy,Vx)を
マイコン(21)に内蔵されたROMに用意し、 (MY,NX)→(Hy,Vx) の変換を行えば目的とする真の座標値(Hy,Vx)を求め
ることができる。
Further, the coordinates detected by the microcomputer (21) are converted into Cartesian coordinates. That is, for example, assuming that the coordinate values detected as described above are prime coordinate values (oblique coordinate values) (MY, NX),
The objective (orthogonal coordinates) coordinate values (Hy, Vx) corresponding to this are prepared in the ROM built into the microcomputer (21), and conversion from (MY, NX) to (Hy, Vx) is done. The true coordinate value (Hy, Vx) can be calculated.

次に第4図に関連して説明する。 Next, a description will be given with reference to FIG.

ステップ(41)でそれまで選択器(22)及び(26)を
選択したときのXビームが遮断されたことを記憶してい
たマイコン(21)のメモリの内容をクリアする。ステッ
プ(42)でマイコン(21)から選択器(22)及び(26)
に対してアドレスデータを供給して対応する発光ダイオ
ード(11)及びフォト・トランジスタ(12)を付勢して
Xビームを形成する。
In step (41), the contents of the memory of the microcomputer (21), which had previously stored that the X beam had been blocked when the selectors (22) and (26) were selected, are cleared. In step (42), the selectors (22) and (26) from the microcomputer (21)
Address data is supplied to the corresponding light emitting diodes (11) and phototransistors (12) to form an X beam.

ステップ(43)で指等によりXビームが遮断されたか
否かを判断し、遮断されてなければステップ(44)でX
ビームを形成している発光ダイオード(11)及びフォト
・トランジスタ(12)を切換える選択器(22)及び(2
6)へのアドレスデータは最後か否かを判断し、最後で
なければステップ(45)で選択器(22)及び(26)に対
するアドレスデータを1つだけアップしてステップ(4
2)に戻り、上述の動作を繰り返す。
In step (43), it is judged whether or not the X beam is blocked by a finger or the like, and if not blocked, X in step (44).
Selectors (22) and (2) for switching the light emitting diode (11) and the phototransistor (12) forming the beam;
It is determined whether or not the address data to 6) is the last. If not, only one address data for the selectors (22) and (26) is incremented in step (45) and step (4).
Return to 2) and repeat the above operation.

また、ステップ(43)でXビームの遮断があれば、ス
テップ(46)でそのXビームを形成している発光ダイオ
ード(11)及びフォト・トランジスタ(12)を選択して
いる選択器(22)及び(26)に与えられている対応する
アドレスデータをマイコン(21)のメモリにX座標の情
報として記憶する。そしてステップ(44)に進み、上述
の動作を繰り返す。
If the X beam is blocked in step (43), the selector (22) selecting the light emitting diode (11) and the phototransistor (12) forming the X beam in step (46). And corresponding address data given to (26) are stored in the memory of the microcomputer (21) as X coordinate information. Then, the process proceeds to a step (44), and the above operation is repeated.

ステップ(44)で最後であればすなわちXビームの全
てにわたって遮断があったか否かに拘らずXビームの全
ての走査が終了するとステップ(47)に進み、ここでビ
ームの遮断に対応して検出したアドレスデータは1個か
又は連続しているか或いはそれ以外かを判断し、そうで
なければステップ(41)に戻って上述の動作を繰り返
し、そうであればステップ(48)に進む。
If it is the last in step (44), that is, if all the scanning of the X beam is completed regardless of whether or not the X beam is completely blocked, the process proceeds to step (47), where it is detected that the beam is blocked. It is judged whether the address data is one piece, continuous or other, and if not, the process returns to step (41) to repeat the above operation, and if so, the process proceeds to step (48).

ステップ(48)でそれまで選択器(29)及び(32)を
選択したときのYビームが遮断されたことを記憶してい
たマイコン(21)のメモリの内容をクリアする。ステッ
プ(49)でマイコン(21)から選択器(29)及び(32)
に対してアドレスデータを供給して対応する発光ダイオ
ード(11)及びフォト・トランジスタ(12)を付勢して
Yビームを形成する。
In step (48), the contents of the memory of the microcomputer (21), which has memorized that the Y beam had been blocked when the selectors (29) and (32) were selected so far, are cleared. In step (49), the selectors (29) and (32) from the microcomputer (21)
Address data to activate the corresponding light emitting diode (11) and photo transistor (12) to form a Y beam.

ステップ(50)で指等によりXビームが遮断されたか
否かを判断し、遮断されてなければステップ(51)でY
ビームを形成している発光ダイオード(11)及びフォト
・トランジスタ(12)を切換える選択器(29)及び(3
2)へのアドレスデータは最後か否かを判断し、最後で
なければステップ(52)で選択器(29)及び(32)に対
するアドレスデータを1つだけアップしてステップ(4
9)に戻り、上述の動作を繰り返す。
In step (50), it is judged whether or not the X beam is blocked by a finger or the like, and if not blocked, Y is determined in step (51).
Selectors (29) and (3) for switching the light emitting diode (11) and the phototransistor (12) forming the beam
It is determined whether or not the address data to 2) is the last. If not, only one address data for the selectors (29) and (32) is incremented by one in step (52) and step (4).
Return to 9) and repeat the above operation.

また、ステップ(50)でXビームの遮断があれば、ス
テップ(53)でそのYビームを形成している発光ダイオ
ード(11)及びフォト・トランジスタ(12)を選択して
いる選択器(22)及び(26)に与えられている対応する
アドレスデータをマイコン(21)のメモリにX座標の情
報として記憶する。そしてステップ(51)に進み、上述
の動作を繰り返す。
If the X beam is blocked in step (50), the selector (22) selecting the light emitting diode (11) and the phototransistor (12) forming the Y beam in step (53). And corresponding address data given to (26) are stored in the memory of the microcomputer (21) as X coordinate information. Then, the process proceeds to step (51) to repeat the above operation.

ステップ(51)で最後であればすなわちYビームの全
てにわたって遮断があったか否かに拘らずYビーム全て
の走査が終了するとステップ(54)に進み、ここでビー
ムの遮断に対応して検出したアドレスデータは1個か又
は連続しているか或いはそれ以外かを判断し、そうでな
ければステップ(41)に戻って上述の動作を繰り返し、
そうであればステップ(55)に進む。
If it is the last in step (51), that is, if the scanning of all the Y beams is completed regardless of whether or not all the Y beams have been blocked, the process proceeds to step (54), where the address detected in response to the beam blocking is detected. It is judged whether the data is one piece, continuous, or not, and if not, return to step (41) and repeat the above operation,
If so, proceed to step (55).

ステップ(55)でマイコン(21)のメモリに記憶され
た各アドレスデータを読み出してX座標、Y座標を算出
する。このとき検出したアドレスデータが1個の場合
は、そのまま確定(データを2倍した値)し、検出した
データが複数の場合は、第1、第2のデータの加算した
値より確定する。(すなわち、特願昭63−53186号に対
応して指におおいかぶせる方向にビームをスキャンした
場合、その指先を検出する方法であると共に、2つのビ
ーム(指先の)が遮断された時にその中間の位置を検出
する方法である。) そして、上述同様マイコン(21)において検出された
座標を直交座標に変換する。すなわち例えば上述の如く
検出された座標値を素座標値(斜交座標値)(MY,NX)
とすると、これに対応する目的(直交座標)の座標値
(Hy,Vx)をマイコン(21)に内蔵されたROMに用意し、 (MY,NX)→(Hy,Vx) の変換を行えば目的とする真の座標値(Hy,Vx)を求め
ることができる。
In step (55), each address data stored in the memory of the microcomputer (21) is read out to calculate the X coordinate and the Y coordinate. If the number of the address data detected at this time is one, it is determined as it is (value obtained by doubling the data), and if the number of detected data is plural, it is determined from the value obtained by adding the first and second data. (That is, it corresponds to Japanese Patent Application No. 63-53186, and it is a method of detecting the fingertip when the beam is scanned in the direction in which it is covered by the finger, and when two beams (of the fingertip) are intercepted Then, the coordinates detected by the microcomputer (21) are converted into Cartesian coordinates in the same manner as described above. That is, for example, the coordinate value detected as described above is converted into a prime coordinate value (oblique coordinate value) (MY, NX)
Then, if the coordinate value (Hy, Vx) of the corresponding purpose (orthogonal coordinate) is prepared in the ROM built into the microcomputer (21) and the conversion of (MY, NX) → (Hy, Vx) is performed, The target true coordinate value (Hy, Vx) can be obtained.

G4回路動作(故障診断動作) 次に第1図の回路において、発光素子、受光素子等の
故障を診断する動作を第5図を参照し乍ら説明する。
G 4 Circuit Operation (Fault Diagnosis Operation) Next, the operation of diagnosing a failure of the light emitting element, the light receiving element, etc. in the circuit of FIG. 1 will be described with reference to FIG.

電源オンしてステップ(41)でレベル判別器(28e)
の判別信号D2がローレベル(L)であったか否かを判別
した結果を記憶するマイコン(21)内の判定メモリ(M
2)(図示せず)、つまり赤外線ビームの感度低下の状
態を記憶するメモリをクリアする。ステップ(42)でレ
ベル判別器(28e)の判別信号D2がローレベルである時
にセットされるマイコン(21)内のカウンタ(M2C)
(図示せず)、つまり感度低下素子の有限時間持続判定
用のカウンタをクリアする。このカウンタはXビームス
キャン、Yビームスキャンを含む全面走査で1回D2=L
の状態があればD2=L判定メモリが1回セットされ、そ
れが何回あったかをカウントする。
Turn on the power and in step (41) the level discriminator (28e)
Of the determination signal (M) in the microcomputer (21) that stores the result of determining whether or not the determination signal D2 of is low level (L).
2) (not shown), that is, clear the memory that stores the state of sensitivity reduction of the infrared beam. Counter (M2C) in the microcomputer (21) that is set when the discrimination signal D2 of the level discriminator (28e) is low level in step (42)
(Not shown), that is, the counter for determining the finite time duration of the sensitivity lowering element is cleared. This counter is once for the entire scan including X beam scan and Y beam scan D2 = L
If there is a state of, the D2 = L judgment memory is set once, and the number of times of occurrence is counted.

ステップ(43)でレベル判別器(28d)の判別信号D1
がローレベルであったか否かを判別した結果を記憶する
マイコン(21)内の判定メモリ(M1)(図示せず)、つ
まり遮断されたビームがあった状態を記憶するメモリを
クリアする。ステップ(44)で座標値検出に用いるマイ
コン(21)内のD1=L、Xアドレスメモリ(XAM)(図
示せず)をクリアする。ステップ(45)で座標値検出に
用いるマイコン(21)内のD1=L、Yアドレスメモリ
(YAM)(図示せず)をクリアする。
At the step (43), the discrimination signal D1 of the level discriminator (28d)
Clears the determination memory (M1) (not shown) in the microcomputer (21) that stores the result of determining whether or not the beam was at the low level, that is, the memory that stores the state in which the beam was interrupted. In step (44), D1 = L and X address memory (XAM) (not shown) in the microcomputer (21) used for coordinate value detection are cleared. In step (45), D1 = L, Y address memory (YAM) (not shown) in the microcomputer (21) used for coordinate value detection is cleared.

このようにしてステップ(41)〜(45)において波形
W2の現象を判定するための初期設定がなされる。
Thus, in steps (41) to (45)
Initial settings are made to determine the phenomenon of W2.

ステップ(46)でXアドレスを0セットしてXビーム
スキャンを開始し、ステップ(47)でXアドレスを1カ
ウントアップし、ステップ(48)でレベル判別器(28
e)の判別信号D2がローレベルであるか否かを判別して
感度低下判定の準備を行う。そして、判別信号D2がロー
レベルであれば、ステップ(49)で判別信号D2がローレ
ベルであることを記憶する判定メモリ(M2)をセットす
る。
In step (46), the X address is set to 0, X beam scanning is started, in step (47) the X address is incremented by 1, and in step (48) the level discriminator (28
The determination signal D2 of e) is determined whether or not it is at a low level to prepare for sensitivity determination. Then, if the discrimination signal D2 is at the low level, the discrimination memory (M2) for storing that the discrimination signal D2 is at the low level is set in step (49).

次にステップ(50)でレベル判別器(28d)の判別信
号D1がローレベルであるか否かを判別し、ローレベルで
あればステップ(51)で判別信号D1がローレベルである
ことを記憶する判定メモリ(M1)をセットする。そして
ステップ(52)で判別信号D1がローレベルであることが
即ちXビームの遮断されたアドレスがXアドレスメモリ
(XAM)に記憶され、これにより座標検出がなされる。
そして、ステップ(53)でXアドレスは最後か否かを判
別し、最後でなければステップ(47)に戻って上述の動
作を繰り返し、最後であればステップ(54)に進む。ま
たステップ(48)で判別信号D2がローレベルでないか又
はステップ(50)で判別信号D1がローレベルでなければ
ステップ(53)に進み、ここでXアドレスが最後でなけ
ればステップ(47)に戻って上述の動作を繰り返し、最
後であればステップ(54)に進む。
Next, in step (50), it is determined whether or not the discrimination signal D1 of the level discriminator (28d) is at low level. If it is low level, it is stored in step (51) that the discrimination signal D1 is at low level. Set the judgment memory (M1). Then, in step (52), the discrimination signal D1 is at the low level, that is, the X-beam interrupted address is stored in the X-address memory (XAM), and the coordinates are detected.
Then, in step (53), it is determined whether or not the X address is the last, and if it is not the last, the process returns to step (47) to repeat the above operation, and if it is the last, the process proceeds to step (54). If the discrimination signal D2 is not low level in step (48) or the discrimination signal D1 is not low level in step (50), the process proceeds to step (53). If the X address is not the last one, the process proceeds to step (47). Returning to the above, the above-mentioned operation is repeated.

このようにしてステップ(46)〜(53)においてXビ
ームのスキャンが行われる。
In this way, the X beam is scanned in steps (46) to (53).

ステップ(54)でYアドレスを0セットしてYビーム
スキャンを開始し、ステップ(55)でYアドレスを1カ
ウントアップし、ステップ(56)でレベル判別器(28
e)の判別信号D2がローレベルであるか否かを判別して
感度低下判定の準備を行う。そして、判別信号D2がロー
レベルであれば、ステップ(57)で判別信号D2がローレ
ベルであることを記憶する判定メモリ(M2)をセットす
る。(再びセットされる場合先の状態は変わらない。) 次にステップ(58)でレベル判別器(28d)の判別信
号D1がローレベルであるか否かを判別し、ローレベルで
あればステップ(59)で判別信号D1がローレベルである
ことを記憶する判定メモリ(M1)にセットする。再びセ
ットされる場合先の状態は変わらない。そしてステップ
(60)で判別信号D1がローレベルであることがYアドレ
スメモリ(YAM)に記憶され、これにより座標検出がな
される。そして、ステップ(61)でYアドレスは最後か
否かを判別し、最後でなければステップ(55)に戻って
上述の動作を繰り返し、最後であればステップ(62)に
進む。またステップ(56)で判別信号D2がローレベルで
ないか又はステップ(58)で判別信号D1がローレベルで
なければステップ(61)に進み、ここでYアドレスが最
後でなければステップ(55)に戻って上述の動作を繰り
返し、最後であればステップ(62)に進む。
In step (54), the Y address is set to 0 and Y beam scanning is started, in step (55) the Y address is incremented by 1, and in step (56) the level discriminator (28
The determination signal D2 of e) is determined whether or not it is at a low level to prepare for sensitivity determination. Then, if the determination signal D2 is at the low level, the determination memory (M2) that stores that the determination signal D2 is at the low level is set in step (57). (When it is set again, the previous state does not change.) Next, in step (58), it is judged whether or not the discrimination signal D1 of the level discriminator (28d) is low level, and if it is low level, step (58 In step 59), the determination signal D1 is set in the determination memory (M1) that stores that it is at the low level. When it is set again, the previous state does not change. Then, in step (60), the fact that the discrimination signal D1 is at the low level is stored in the Y address memory (YAM), whereby the coordinates are detected. Then, in step (61), it is determined whether or not the Y address is the last, and if it is not the last, the process returns to step (55) to repeat the above operation, and if it is the last, the process proceeds to step (62). If the discrimination signal D2 is not low level in step (56) or the discrimination signal D1 is not low level in step (58), the process proceeds to step (61). If the Y address is not the last, proceed to step (55). Returning to this, the above-mentioned operation is repeated, and if it is the last, the process proceeds to step (62).

このようにしてステップ(54)〜(61)においてYビ
ームのスキャンが行われる。この結果ステップ(46)〜
(61)において、Xビームスキャン、Yビームスキャン
の全面走査が完了する。
In this way, the Y beam is scanned in steps (54) to (61). As a result, step (46) ~
At (61), the entire surface scanning of the X beam scan and the Y beam scan is completed.

次にステップ(62)〜(69)において感度低下の判
定、つまり遮断されたビームが無い状態で、有限時間以
上持続する感度の低下した素子(ビーム)の有無を判定
する。すなわち、ステップ(62)でレベル判別器(28
e)の判別信号D2がローレベルであったか否か判定した
結果を記憶する判定メモリ(M2)がセットされているか
否かを判別し、セットされていれば、つまり波形W2又は
W3の現象であればステップ(63)でレベル判別器(28
d)の判別信号D1がローレベルであったか否かを判定し
た結果を記憶する判定メモリ(M1)がセットされている
か否かを判別し、セットされてなければ、つまり波形W2
の現象であればステップ(64)に進む。
Next, in steps (62) to (69), it is determined whether or not there is a desensitized element, that is, whether or not there is a desensitized element (beam) that lasts for a finite time or longer in the state where no beam is blocked. That is, in step (62), the level discriminator (28
e) It is determined whether or not the determination memory (M2) that stores the determination result of whether the determination signal D2 is at the low level is set, and if it is set, that is, the waveform W2 or
If it is a phenomenon of W3, in step (63) the level discriminator (28
It is determined whether or not the determination memory (M1) that stores the result of determining whether or not the determination signal D1 in d) is at the low level is set. If not set, that is, the waveform W2
If so, go to step (64).

そして、ステップ(64)でレベル判別器(28e)の判
別信号D2がローレベルである場合、セットされ、判別メ
モリ(M2)のセット状態をカウントするカウンタ(M2
C)を1回カウントアップする。ステップ(65)でレベ
ル判別器(28e)の判別信号D2がローレベルである場合
セットされ、判別メモリ(M2)の状態をカウントするカ
ウンタ(M2C)のカウント値がN以上であるか否か、つ
まり感度低下持続時間の判定を行う。ここでNは有限時
間以上か否かを判別するために或る値に設定されてい
る。すなわち、1回の全面走査でD2=Lの判定メモリ
(M2)は1回セットされる(ステップ62)。判定メモリ
(M2)1回のセットでD2=Lが何回あるかを見るカウン
タ(M2C)は1回カウントアップする(ステップ64)。
従って、(1サンプルレート)×(N)はある有限時間
を有することになる。ステップ(65)でカウンタのカウ
ント値がN以上であればステップ(66)で感度低下素子
ありとして警告を発生する。但し、座標測定は行える。
Then, in step (64), when the discrimination signal D2 of the level discriminator (28e) is at the low level, the counter (M2) that is set and counts the set state of the discrimination memory (M2)
Count up C) once. It is set in step (65) when the discrimination signal D2 of the level discriminator (28e) is at a low level, and whether or not the count value of the counter (M2C) for counting the state of the discrimination memory (M2) is N or more, That is, the sensitivity decrease duration is determined. Here, N is set to a certain value in order to determine whether it is a finite time or longer. That is, the determination memory (M2) with D2 = L is set once by one full-scan (step 62). The counter (M2C) for checking how many times D2 = L is set in the determination memory (M2) once is incremented once (step 64).
Therefore, (1 sample rate) × (N) has a finite time. If the count value of the counter is equal to or greater than N in step (65), a warning is issued in step (66) because there is a sensitivity lowering element. However, coordinate measurement can be performed.

そして、ステップ(67)でレベル判別器(28e)の判
別信号D2がローレベルであったか否かを判定した結果を
記憶する判定メモリ(M2)をリセットし次の測定(即ち
Xビーム、Yビームのスキャン)に備え、ステップ(4
6)に戻って上述の動作を繰り返す。ステップ(65)で
カウンタ(M2C)のカウント値がN以上でなければステ
ップ(67)に進んで上述の動作を行う。
Then, in step (67), the determination memory (M2) that stores the result of determining whether the determination signal D2 of the level discriminator (28e) is at the low level is reset and the next measurement (that is, X beam, Y beam In preparation for scanning, step (4
Return to 6) and repeat the above operation. If the count value of the counter (M2C) is not N or more in step (65), the process proceeds to step (67) to perform the above operation.

ステップ(62)でD2=Lの判定メモリ(M2)がセット
されていなければ、すなわち波形W1の現象の場合は、ス
テップ(68)でレベル判別器(28e)の判別信号D2がハ
イレベルであることによりカウンタ(M2C)をリセット
し、ステップ(46)に戻って上述の動作を繰り返す。即
ちビームの半分の遮断状態が連続していない場合ビーム
の半分の遮断状態のカウントを中止し、リセットするこ
とになる。
If the decision memory (M2) of D2 = L is not set in step (62), that is, if the phenomenon of waveform W1 is present, the decision signal D2 of the level discriminator (28e) is high level in step (68). This resets the counter (M2C) and returns to step (46) to repeat the above operation. That is, if the half-blocking state of the beam is not continuous, the counting of the half-blocking state of the beam is stopped and reset.

ステップ(63)でD1=Lの判定メモリ(M1)がセット
されていれば、すなわち波形W3の現象の場合はステップ
(69)でレベル判別器(28a)の判別信号D1がローレベ
ルであることにより、D2=L判定メモリ(M2)のセット
状態を毎走査ごとにカウントするカウンタ(M2c)をリ
セットする。つまり、遮断されたビームが有るのでビー
ムの半分遮断状態のカウントを中止リッセトし、ステッ
プ(70)に進んで座標測定に入る。この事も上記同様ビ
ームの半分の遮断状態が連続しない場合ビームの半分の
遮断状態のカウントを中止しリセットすることになる。
If the decision memory (M1) with D1 = L is set in step (63), that is, if the phenomenon of waveform W3 is present, the decision signal D1 of the level discriminator (28a) is in the low level in step (69). This resets a counter (M2c) that counts the set state of D 2 = L determination memory (M2) for each scan. That is, since there is a beam that has been blocked, the counting of the half-blocked state of the beam is stopped and reset, and the process proceeds to step (70) to start coordinate measurement. As in the above case, if the half-blocking state of the beam is not continuous, the counting of the half-blocking state of the beam is stopped and reset.

ステップ(70)でD2=Lの判定メモリ(M2)をリセッ
トし、ステップ(71)でD1=Lの判定メモリ(M1)をリ
セットし次の測定に備えると共に、ステップ(72)で座
標の測定を行い、座標を処理する。そして、ステップ
(73)でその求めた座標が有効エリア(第1図の表示エ
リア)内であるか否かを判別し、有効エリア内であれば
ステップ(74)で座標を送出し、ステップ(46)に戻っ
て上述と同様の動作を繰り返す。ステップ(73)で有効
エリア内でなければステップ(46)に戻て上述と同様の
動作を繰り返す。
Prepare the next measurement by resetting the decision memory (M2) for D2 = L in step (70), resetting the decision memory (M1) for D1 = L in step (71), and measuring the coordinates in step (72). And process the coordinates. Then, in step (73), it is determined whether or not the obtained coordinates are within the effective area (display area in FIG. 1). If the coordinates are within the effective area, the coordinates are sent out in step (74), and the step ( Return to 46) and repeat the same operation as above. If it is not within the effective area in step (73), the process returns to step (46) and the same operation as described above is repeated.

第6図は上述した各波形W1,W2及びW3の現象と、これ
に対応する事象及びその判定条件を整理したものであ
る。
FIG. 6 summarizes the phenomena of the above-mentioned waveforms W1, W2, and W3, the events corresponding to them, and the determination conditions thereof.

なお、上述の実施例では検出回路(28)の検出出力を
アナログ信号の状態で第1及び第2の判別レベルと比較
して出力する場合であるが、上記検出出力をA/D変換し
て出力するものでもよい。
In the above embodiment, the detection output of the detection circuit (28) is compared with the first and second discrimination levels in the state of the analog signal and is output. However, the detection output is A / D converted. It may be output.

H 発明の効果 上述の如くこの発明によれば、受光素子及び発光素子
により光ビーム格子を形成するタッチパネル装置におい
て、受光素子よりの受光出力を供給して、その受光出力
のレベルが、受光素子が光ビームを受光しないときの受
光レベルより高い第1の判別レベル及びその第1の判別
レベルより高く、正常受光レベルより低い第2の判別レ
ベルの間にあるか否を検出する第1の検出手段と、その
第1の検出手段より、受光出力のレベルが第1及び第2
の判別レベルの間にあることを示す第1の検出出力が得
られたとき、その第1の検出出力が所定時間以上継続し
て得られるか否かを検出する第2の検出手段とを有し、
その第2の検出手段より、第1の検出出力が所定時間以
上継続して得られることを示す第2の検出出力が得られ
たとき、警告情報を発生するようにしたので、タッチパ
ネルが完全に不動作になる以前にメンテナンスの必要を
知らせることができ、もってメンテナンスに要する工数
が低減され、しかも常に正しい表示が可能で安定して使
用でき、装置の信頼性を向上できる。
H As described above, according to the present invention, in the touch panel device in which the light beam grating is formed by the light receiving element and the light emitting element, the light receiving output from the light receiving element is supplied, and the level of the light receiving output is First detection means for detecting whether or not there is a first determination level higher than the light receiving level when the light beam is not received and a second determination level higher than the first determination level and lower than the normal light receiving level. And the level of the received light output from the first detecting means is
And a second detection means for detecting whether or not the first detection output indicating that the first detection output is obtained is continuously obtained for a predetermined time or longer. Then
When the second detection means obtains the second detection output indicating that the first detection output is continuously obtained for a predetermined time or more, the warning information is generated, so that the touch panel is completely The need for maintenance can be notified before it becomes inoperable, and thus the number of man-hours required for maintenance can be reduced, and moreover, correct display is always possible and stable use can be achieved, and the reliability of the device can be improved.

又、本発明では、第1の検出手段によって、受光素子
よりの受光出力を供給して、受光出力のレベルが、受光
素子が光ビームを受光しないときの受光レベルより高い
第1の判別レベル及び第1の判別レベルより高く、正常
受光レベルより低い第2の判別レベルの間にあることを
示す第1の検出出力を得ただけでは、タッチパネルに指
が触れて、発光素子から受光素子に入射する光ビームを
一部遮断した場合と区別ができないので、第1の検出手
段より、受光出力のレベルが第1及び第2の判別レベル
の間にあることを示す第1の検出出力が得られたとき、
第1の検出出力が所定時間以上継続して得られるか否か
を検出する第2の検出手段をも設けたので、タッチパネ
ルの能力低下を確実に検出できるものである。
Further, according to the present invention, the first detection means supplies the light receiving output from the light receiving element, and the level of the light receiving output is higher than the light receiving level when the light receiving element does not receive the light beam. If only the first detection output indicating that it is between the second determination level higher than the first determination level and lower than the normal light reception level is obtained, the touch panel is touched by the finger and the light emitting element enters the light receiving element. Since it is indistinguishable from the case where a part of the light beam to be blocked is indistinguishable, the first detection means obtains the first detection output indicating that the level of the light reception output is between the first and second determination levels. When
Since the second detection means for detecting whether or not the first detection output is continuously obtained for a predetermined time or more is also provided, it is possible to reliably detect the deterioration of the touch panel performance.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

第1図はこの発明の一実施例を示す回路構成図、第2図
はこの発明の説明に供するための図、第3図〜第5図は
第1図の動作説明に供するためのフローチャート、第6
図はこの発明による故障診断の説明図である。 (11)は発光ダイオード、(12)はフォト・ダイオー
ド、(28)は検出回路、(28d)は第1のレベル判別
器、(28e)は第2のレベル判別器、Vth1は第1の判別
レベル、Vth2は第2の判別レベルである。
FIG. 1 is a circuit configuration diagram showing an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a diagram for explaining the present invention, and FIGS. 3 to 5 are flowcharts for explaining the operation of FIG. Sixth
The figure is an explanatory view of the failure diagnosis according to the present invention. (11) is a light emitting diode, (12) is a photo diode, (28) is a detection circuit, (28d) is a first level discriminator, (28e) is a second level discriminator, and V th1 is a first level discriminator. The discrimination level, V th2, is the second discrimination level.

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】受光素子及び発光素子により光ビーム格子
を形成するタッチパネル装置において、 上記受光素子よりの受光出力を供給して、該受光出力の
レベルが、上記受光素子が光ビームを受光しないときの
受光レベルより高い第1の判別レベル及び該第1の判別
レベルより高く、正常受光レベルより低い第2の判別レ
ベルの間にあるか否を検出する第1の検出手段と、 該第1の検出手段より、上記受光出力のレベルが上記第
1及び第2の判別レベルの間にあることを示す第1の検
出出力が得られたとき、該第1の検出出力が所定時間以
上継続して得られるか否かを検出する第2の検出手段と
を有し、 該第2の検出手段より、上記第1の検出出力が上記所定
時間以上継続して得られることを示す第2の検出出力が
得られたとき、警告情報を発生するようにしたことを特
徴とするタッチパネル装置。
1. A touch panel device having a light-receiving element and a light-beam grating to form a light beam grating, when a light-receiving output from the light-receiving element is supplied and the level of the light-receiving output is such that the light-receiving element does not receive a light beam. A first detection level that is higher than the light receiving level of the second light source and a second detection level that is higher than the first light receiving level and lower than the normal light receiving level, and the first detection means. When the detection means obtains the first detection output indicating that the level of the received light output is between the first and second determination levels, the first detection output continues for a predetermined time or more. Second detection output for detecting whether or not the second detection output is obtained, the second detection output indicating that the first detection output is continuously obtained by the second detection means for the predetermined time or more. Warning information when The touch panel device is characterized in that so as to live.
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