JP2673912B2 - ガスクロマトグラフ - Google Patents

ガスクロマトグラフ

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JP2673912B2
JP2673912B2 JP3042220A JP4222091A JP2673912B2 JP 2673912 B2 JP2673912 B2 JP 2673912B2 JP 3042220 A JP3042220 A JP 3042220A JP 4222091 A JP4222091 A JP 4222091A JP 2673912 B2 JP2673912 B2 JP 2673912B2
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、カラム内に固定相とし
て充填した充填剤と測定ガスとの吸着性の差を利用して
ガス分析を行なうガスクロマトグラフに関するものであ
る。
【0002】
【従来の技術】石油化学プロセスや鉄鋼プロセスなどに
おいて、プロセスガスの成分分析を行うこの種のプロセ
ス用ガスクロマトグラフは、プロセスラインから分取し
たサンプルガスをサンプルコンディショナ装置によって
分析に必要な最適条件に整え、このサンプルガスをアナ
ライザ装置に供給して各ガス成分を分離、検出し、その
測定結果に基づいてプロセスエ程を監視したり、各種制
御を行うようにしている。図9はこのようなガスクロマ
トグラフの従来例を示すもので、1A、1Bはプロセス
ライン、2はサンプルコンディショナ装置、3はアナラ
イザ装置で、これらによってガスクロマトグラフを構成
している。サンプルコンディショナ装置2としては、サ
ンプルガスSG中の重成分を完全に気化しその凝縮を防
止するベーパライザ(図示せず)、サンプルガスSG中
のダストを除去するフィルタ(図示せず)、サンプルガ
スSGおよび標準ガスHGの流量を測定するロータメー
タ(図示せず)、標準ガスHGとサンプルガスSGの流
量を調整するニードル弁(図示せず)、流路を切り替え
る切換スイッチ(図示せず)等で構成され、これらをハ
ウジング4内に組み込み配管で接続している。一方、ア
ナライザ装置3は直列接続された第1、第2のカラム
5、6、サンプルバルブ7、バックフラッシュバルブ
8、検出器9、減圧弁(図示せず)、電気機器部10、
恒温槽11、加熱器12等を備えている。恒温槽11
は、前記第1、第2のカラム5、6、サンプルバルブ
7、バックフラッシュバルブ8、検出器9等を収納し、
加熱器12によって加熱された空気の循環によって内部
がサンプルガスSGの分離分析に最適な温度に保持され
る。第1のカラム5は、内径1mm〜4mm、長さ0.
5〜3m程度で内部に固定相を充填したパックドカラム
からなり、炭素(C)の少ない低沸点成分を高速で効率
よく分離する。一方、第2のカラム6は、内径0.1m
m〜4mm、長さ0.5〜3m程度で内壁に液相を塗布
したキャピラリカラムからなり、Cの少ない低沸点成分
に対しては分離が困難であるが、Cの多い高沸点成分に
対しては高速で効率よく分離することができる特徴を有
している。分析に際しては、サンプルガスSG中のCの
多い重質成分(高沸点成分)は分析周期の短縮、カラム
劣化の保護のためにバックフラッシュバルブ8によって
排出して測定せず、Cの少ない低沸点成分のみを第1の
カラム5によって高速で分離し、第2のカラム6はCの
多い範囲を測定する時、その範囲内でCの少ないガス成
分(軽い成分)を分離する。そして、第1、第2のカラ
ム5、6によって分離された各ガス成分は検出器9によ
って電気信号に変換され、この電気信号は各ガス成分の
濃度に比例している。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな構成からなる従来のガスクロマトグラフにあって
は、サンプルガスSG、キャリアガスCGの吹き出し口
の数や、構成部品の配置構成等によって恒温槽11内部
の温度分布を完全には均一にすることができず、また温
度の変動も生じるという問題があった。このため、カラ
ム5、6等の構成部品を最適温度条件に保持することが
できず、成分濃度が本来のサンプル濃度と一致せず、正
確な測定が困難になる。例えば、液化し易いサンプルガ
スSGの場合、サンプルバルブ7、バックフラッシュバ
ルブ8は高い温度に保持することが望ましく、また第2
のカラム6は分離能を向上させるために温度の変動がな
いことが望ましい。また、上記の従来装置は、サンプル
コンディショナ装置2とアナライザ装置3間のサンプル
導入部を配管13によって接続すると共に、この部分で
の温度低下を防止するため配管13を二重管構造とし、
スチーム等で加熱、保温しているが、その構造が複雑で
部品点数が増加し、サンプルコンディショナ装置2とア
ナライザ装置3の距離が近すぎると配管作業が困難とな
り、反対に離れ過ぎていると、熱の損失が大きくなると
いう問題があった。また、電気部品を有する増幅器や温
度制御装置からなる電気機器部10は恒温槽11の上部
に配置されているので、恒温槽11や加熱器12による
熱的影響が大きく、装置の信頼性が低下する。さらに、
恒温槽11内部においてサンプルバルブ7、カラム5、
6、検出器9等が配管、継手等によって接続されて配設
されているため、これらのメインテナンスが容易でない
など、多くの問題があった。
【0004】したがって、本発明は上記したような従来
の問題点に鑑みてなされたもので、その目的とするとこ
ろは、温度変動を防止しサンプルガスの加熱保温を確実
に行うことができ、また装置の小型化およびメインテナ
ンスの容易化を図ると共に、加熱器や恒温槽による増幅
器や温度制御装置の電気部品への熱的影響を減少させ得
るようにしたガスクロマトグラフを提供することにあ
る。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明は上記目的を達成
するため、サンプルコンディショナ装置(2)とアナラ
イザ装置(3)を備え、前記サンプルコンディショナ装
置(2)は、外装ケースとしてのハウジング(30)の
内部に外部から導入する標準ガス(HG)、サンプルガ
ス(SG)、キャリアガス(CG)の各ガスを計量し、
キャリアガス(CG)とともに所定温度に昇温させる手
段を有し、前記アナライザ装置(3)は、楕円球状体の
アナライザケース(70)を前記ハウジング(30)の
頂部に配するとともに内部略中央に恒温槽(74)を設
置し、この恒温槽(74)の内部にはその底部を貫通し
て前記サンプルコンディショナ装置(2)から前記各ガ
スを導入するとともにこれらガスを計量、分離、検出す
る各手段を内設し、さらに恒温槽(74)の外側には、
トランス(77)等の熱源部品と熱影響から遠ざけるべ
き各種電気機器を恒温槽を挟んで両側に配置したことを
特徴とする。また、本発明は、恒温槽(74)内の計
量、分離、検出手段は、各ガスを計量するサンプルバル
ブ(73)と、この切換弁内に組み込まれたヒータ(9
0)お よび成分ガスの濃度ないし通過時間を検出する検
出器(80)と、前記サンプルバルブ(73)から導か
れた各ガスを送給され前記サンプルバルブの外周を巻回
するカラム(87,88)とからなり、これらをユニッ
ト化したことを特徴とする。 また、本発明は、アナライ
ザケース(70)の上部に比較的大きな円形開口部(9
6)を設け、この開口部には蓋体(97)を覆い、この
蓋体を開くことによりアナライザケース内の全体を見通
すことができることを特徴とする。 また、本発明は、ア
ナライザケース(70)の水平方向外側にケース(10
0)を突設し、このケース内に各種電気機器を収納して
電気機器部(21)としたことを特徴とする。さらに
本発明は、スタンション(22)にブラケット(24)
を介してボルト締めしたことを特徴とする。
【0006】
【作用】本発明において、本発明において、楕円球状体
からなるアナライザケースは表面積が小さく、外気温と
の隔絶効果が大きい。したがって、恒温槽内部の温度変
動が少なく、分離性能を向上させる。電気機器部は、ア
ナライザケースの水平方向外側に突設されたケース内に
各種電気機器を収納して構成されているので、恒温槽の
電気機器部への熱的影響は少ない。また、電気機器部
は、トランス等の熱源部品と恒温槽を挟んで反対側に設
けられているので、熱影響が一層少ない。また、トラン
スから遠ざけて設けられているので、電源ノイズを受け
ない。アナライザケースの上面開口部は、アナライザケ
ース内への部材、部品の組込み、部品交換、メインテナ
ンス等を容易にする。トランス等の熱源部品はアナライ
ザケースの内底部に配置されているため、恒温槽による
熱的影響が少ない。ヒータはサンプルバルブを内側から
加熱する。計量、分離、検出手段は、各ガスを計量する
サンプルバルブと、この切換弁内に組み込まれたヒータ
および成分ガスの濃度ないし通過時間を検出する検出器
と、前記サンプルバルブから導かれた各ガスを送給され
前記サンプルバルブの外周を巻回するカラムとからな
り、これらをユニット化しているので、アナライザケー
ス内への組込み作業が容易であり、また相互 調整が不要
である。
【0007】
【実施例】以下、本発明を図面に示す実施例に基づいて
詳細に説明する。図1は本発明に係るガスクロマトグラ
フを示す断面図、図2はガスクロマトグラフをスタンシ
ョンに取り付けた状態を示す外観斜視図、図3はサンプ
ルコンディショナ装置の内部構造を示す斜視図、図4は
ハウジングブロックの外観斜視図、図5は図4のV−V
線断面図、図6は図4のVI−VI線断面図、図7はマ
ニホールドの底面図、図8は図1のVIII−VIII
線断面図である。
【0008】図1および図2において、全体を符号20
で示すガスクロマトグラフは、サンプルコンディショナ
装置2と、このサンプルコンディショナ装置2上に設置
されたアナライザ装置3と、このアナライザ装置3の前
面に接続固定された電気機器部21とで構成され、スタ
ンション22に複数個のボルト23によりブラケット2
4を介して固定されている。
【0009】前記サンプルコンディショナ装置2の構成
等を図3〜図6に基づいて詳述する。このコンディショ
ナ装置2は、上面中央部が開放する箱型のハウジング3
0を備え、このハウジング30内にはステンレス等の金
属からなるハウジングブロック31が配設されている。
【0010】前記ハウジングブロック31は、上下に対
向する略水平な上部および下部ブロック31A、31B
と、これら両ブロック31A、31Bを連結する略垂直
な連結部31Cとで構成され、上部ブロック31Aの上
面には、キャリアガス送出口32、サンプルガスまたは
標準ガス送出口33、サンプルガス導入口34および複
数個のねじ孔35を有する小ブロック36が止めねじ2
7により固定され、且つカバー25(図1参照)によっ
て覆われている。また、上部ブロック31Aの前面には
2つのニードル弁調整用孔37a、37bが開口され、
左側面にはキャリアガス供給口38が開口され、右側面
にはバイパスベント口39およびサンプルベント口40
がそれぞれ開口している。そして、ハウジングブロック
31の内部には、前記キャリアガス送出口32とキャリ
アガス供給口38を連通するキャリアガス用流路41,
前記サンプルガスまたは標準ガス送出口33、サンプル
ガス供給口42又は標準ガス供給口43を接続するサン
プルガスまたは標準ガス用流路44、前記バイパスベン
ト口39とサンプルガスまたは標準ガス用流路44の途
中を接続するバイパスベント流路45、サンプルガス導
入口34とサンプルベント口40を接続するサンプルベ
ント流路46、標準ガス供給口43と切換スイッチ47
を接続する標準ガス流路48およびスチーム流路49が
形成されている。なお、図4において、28は後述する
マニホールド72を固定するボルト65が下方から挿入
されるボルト取付用孔、29はマニホールド72を位置
決めするための位置決めピンである。
【0011】前記サンプルガスまたは標準ガス用流路4
4とバイパスベント流路45の途中には、ニードル弁5
0、51がそれぞれ配設されている。ニードル弁50、
51は前記ニードル弁調整用孔37a、37b内にそれ
ぞれ配置され、外部より調整されるように構成されてい
る。前記キャリアガス供給口38にはキャリアガスCG
が送給され、キャリアガス用流路41を通ってアナライ
ザ装置3に送り込まれる。サンプルガス導入口34には
アナライザ装置3によって分離分析された測定後のサン
プルガスSGが導かれ、サンプルベント流路46を通っ
てサンプルベント口40より廃棄される。
【0012】前記下部ブロック31Bの前面には、フィ
ルタ52、53をそれぞれ収納する2つのフィルタ取付
用孔54a、54bと、ベーパライザ55を収納するベ
ーパライザ取付用孔56が設けられ、下面には前記サン
プルガス供給口42、標準ガス供給口43、スチーム入
口57およびスチーム出口58が設けられ、内部には前
記フィルタ52、53およびベーパライザ55に加えて
切換スイッチ47が組み込まれている。前記サンプルガ
スまたは標準ガス用流路44の途中には、前記ニードル
弁50、フィルタ52、53、ベーパライザ55、切換
スイッチ47および第2のロータメータ60が組み込ま
れている。前記バイパスベント流路45には、前記ニー
ドル弁51に加えて第1のロータメータ59が組み込ま
れている。ベーパライザ55は、サンプルガス供給口4
2とフィルタ52間の流路中に設けられている。標準ガ
ス供給口43には標準ガスHGが導かれる。
【0013】前記第1、第2のロータメータ59、60
はそれぞれテーパ管とフロートを有し、第1のロータメ
ータ59でサンプルガスSGのバイパス流量を測定し、
第2のロータメータ60でアナライザ入力流量を測定す
るもので、前記上部ブロック31Aと下部ブロック31
B間に上下端を着脱自在に保持されて配設されている。
また、上部ブロック31Aと下部ブロック31B間に
は、ハウジングブロック31の温度を測定する温度計6
2(図4)が両ロータメータ59、60間に位置して配
設されている。第1のロータメータ59は、フィルタ5
2とニードル弁51との間に設けられ、第2のロータメ
ータ60はフィルタ53とニードル弁50との間に介在
されている。
【0014】前記切換スイッチ47は、下部ブロック3
1Bの右側面に設けられた切替つまみ63を制御部から
の信号によって駆動するモータ等の駆動手段(もしくは
手動操作)によって回すことにより切り替えられるもの
で、標準ガスによる校正時にサンプルガスまたは標準ガ
ス用流路44を標準ガス流路48に接続し、サンプルガ
ス供給口42と切換スイッチ47間の流路64を閉止す
るように構成されている。したがって、標準ガスによる
校正時において、サンプルガス供給口42より導かれる
サンプルガスSGは、ベーパライザ55−第1のロータ
メータ59−ニードル弁51−バイパスベント流路45
を通ってバイパスベント口39より廃棄され、標準ガス
供給口43より供給される標準ガスHGは、切換スイッ
チ47−フィルタ53−第2のロータメータ60−ニー
ドル弁50−を経てアナライザ装置3に導かれる。この
時、前記流路64は切換スイッチ47によって閉止され
ている。
【0015】一方、測定時(サンプルガス供給時)にお
いては、標準ガスHGの代わりにサンプルガスSGがベ
ーパライザ55−フィルタ52−切換スイッチ47−フ
ィルタ53−第2のロータメータ60−ニードル弁50
を経てアナライザ装置3に導かれ、サンプルガスSGの
分取が終わると、切換スイッチ47が再び標準ガスHG
による校正状態に切り替わり標準ガスHGの供給が再開
されるように構成されている。
【0016】なお、ベーパライザ55、フィルタ52、
53、ロータメータ59、60、切換スイッチ47につ
いては従来周知のものであるため、その詳細な構成等に
ついては説明を省略する。
【0017】前記上、下部ブロック31A、31Bを連
結する連結部31Cの内部には前記スチーム流路49の
残り部分が形成されており、これにスチームSTを供給
することで前記ハウジングブロック31が熱交換器を形
成し、サンプルガスSGを所定温度(120°C〜15
0°C程度)に加熱保温するようにしている。スチーム
STの温度は150°C程度、圧力は10Kgf/cm
以下である。
【0018】次に前記アナライザ装置3の詳細を図1及
び図7に基づいて詳細に説明する。アナライザ装置3
は、長軸方向を水平方向に向けて前記サンプルコンディ
ショナ装置2の小ブロック36上にマニホールド72を
介して設置される耐圧防爆構造の楕円球状体からなるア
ルミダイキャスト製のアナライザケース70を備えてい
る。このアナライザケース70の下面開口部71には、
前記ハウジングブロック31の小ブロック36上に前記
ピン29(図4)によって位置決めされて設置され、小
ブロック36の下方側よりボルト65によって固定され
る前記マニホールド72が配設されている。マニホール
ド72の上面にはサンプルバルブ73と、これを取り囲
む恒温槽74が配設され、さらにケース内底部には恒温
槽74の外側に位置して電気部品を搭載したアナライザ
ボード75、キャリアガスCGの圧力を所定圧に減圧す
る減圧弁76、トランス77等が配設されている。
【0019】前記サンプルバルブ73は、内部に形成さ
れた流体通路78を切替え、測定時にサンプルガスSG
を検出器80へ導き、非測定時およびバックフラッシュ
時にはキャリアガスCGを検出器80へ導くもので、例
えば周知の空気圧駆動式ダイヤフラム・バルブが使用さ
れることにより、センタープレート81と、センタープ
レート81の表裏面にそれぞれダイヤフラム82、83
を介して上下に対向して配置された複数個のプランジャ
84と、上下のプランジャ84を交互に動作させる上、
下ピストン85、86等で構成され、サンプルガスSG
とキャリアガスCGのガス圧によってダイヤフラム8
2、83を交互に弾性変形させ、上下のプランジャ84
をピストン85、86によって動作させてダイヤフラム
82、83に交互に押し付けることにより、流体通路7
8の上側ルートと下側ルートを交互に切り替えるように
構成されている。サンプルバルブ73の周囲には、サン
プルガスSGを各ガス成分に分離する第1、第2のカラ
ム87、88が、第2のカラム88を内側にして巻装さ
れている。第1のカラム87は前述したパックドカラ
ム、第2のカラム88はキャピラリカラムとされる。そ
して、サンプルバルブ73の内部上方側には前記検出器
80が組み込まれ、内部下方側にはヒータ90が組み込
まれており、このヒータ90によってサンプルバルブ7
3および第1、第2のカラム87、88が所定温度に加
熱される。なお、サンプルバルブ73自体は、検出器8
0およびヒータ90を内部に組み込んだ点を除いて従来
周知の空気圧駆動式ダイヤフラム・バルブと同様に構成
されるものであるため、これ以上の説明を省略する。
【0020】前記マニホールド72の下面には図7に示
すようにキャリアガス導入口91、サンプルガスまたは
標準ガス導入口92およびサンプルガス送出口93が、
前記小ブロック36(図4)の上面に開口するキャリア
ガス送出口32、サンプルガスまたは標準ガス送出口3
3、サンプルガス導入口34にそれぞれ接続するように
形成されている。また、これらのキャリアガス導入口9
1、サンプルガスまたは標準ガス導入口92およびサン
プルガス送出口93はマニホールド72内に形成された
流路95(図1)を介して前記サンプルバルブ73の流
体通路78に連通されている。なお、アナライザケース
70は上面開口部96に蓋体97が螺合され、後述する
円筒状ケース100と共に耐圧防爆ケースを形成してい
る。前記上面開口部96は大きく形成され、恒温槽74
の組込み、メインテナンス等を容易にしている。図7に
おいて、98は前記ボルト65(図1)がねじ込まれる
ねじ孔、99は前記した構造のサンプルコンディショナ
装置2を用いないで使用するときに利用するために設け
られたブラケット取付用ねじ孔である。
【0021】図1および図8において、前記電気機器部
21は、前記アナライザケース70の前面に突設された
前記円筒状ケース100を備えている。円筒状ケース1
00はアルミダイキャスト製で、アナライザケース70
との連結部が頚部100aを形成し、これによりアナラ
イザケース70からの熱伝導を少なくしている。円筒状
ケース100の内部にはガスクロマトグラフ20を駆動
制御するための恒温槽温度制御回路等が形成されたプリ
ント基板101、プリント基板101を保持する基板固
定ブラケット102、103、化粧板104、接地金具
105、コネクタ106、107等が収納されている。
ケース側コネクタ107とアナライザ装置3は、コード
108によって電気的に接続されている。また、円筒状
ケース100の内周面上下部分には、軸線方向に長い回
り止め兼ガイド溝110、111が前記各基板固定ブラ
ケット102、103に対応して形成されている。前記
各基板固定ブラケット102、103の奥端には、前記
各回り止め兼ガイド溝110、111に挿入される突起
112、113がそれぞれ突設されている。なお、12
1は、蓋体120の開口部122を塞ぐガラス、123
は銘板である。
【0022】このような構成からなる電気機器部21に
おいて、プリント基板101を円筒状ケース100へ装
着するには、各突起112、113を各回り止め兼ガイ
ド溝110、111に挿入してプリント基板101を基
板固定ブラケット102、103と共に円筒状ケース1
00内へ挿入する。すると、基板側コネクタ106はケ
ース側コネクタ107と対応一致して差し込み接続さ
れ、完全に接続されると、突起112、113が回り止
め兼ガイド溝110、111の奥壁に当接してそれ以上
の挿入が阻止される。次いで、蓋体120を円筒状ケー
ス100の前面側開口端部に螺合することにより、プリ
ント基板101および蓋体120の取付け作業を完了す
る。この蓋体120を円筒状ケース100に螺合する
と、接地金具105との間の摩擦力によりプリント基板
101および基板固定ブラケット102、103に回転
モーメントが作用するが、回り止め兼ガイド溝110、
111と突起112、113によってブラケット10
2、103の回転を防止しているため、プリント基板1
01、ブラケット102、103、コネクタ106、1
07等が捻れたり、破損することがない。
【0023】このような構造からなるガスクロマトグラ
フ20によれば、アナライザケース70の下端開口部7
1を塞ぐマニホールド72にキャリアガス導入口91、
サンプルガスまたは標準ガス導入口92およびサンプル
ガス送出口93を設け、これらをサンプルコンディショ
ナ装置2の小ブロック36(図4)の上面に開口するキ
ャリアガス送出口32、サンプルガスまたは標準ガス送
出口33、サンプルガス導入口34にそれぞれ直接接続
しているので、配管を必要とせず、サンプルガスSGの
温度低下を防止することができ、また配管を必要としな
ければ構造が簡単で継手等の部品さらには組立作業工数
を削減することができる。また、アナライザケース70
は長軸方向が水平方向の楕円球状体に形成されているの
で表面積が小さく、外気温に対する隔絶効果が大きい。
したがって、恒温槽内部の温度変動が少なく、カラムに
よる分離性能を向上させる。また、電気機器部21は、
アナライザケース70の水平方向外側に突設された円筒
状ケース100内に各種電気機器を収納して構成されて
いるので、恒温槽74の電気機器部21への熱的影響は
少ない。また、電気機器部21は、トランス77等の熱
源部品と恒温槽74を挟んで反対側に設けられているの
で、熱影響が一層少ない。また、トランス77から遠ざ
けて設けられているので、電源ノイズを受けない。
た、アナライザボード75、減圧弁76、トランス77
等はアナライザケース70の内底部に配設されているた
め、恒温槽74による熱的影響が少ない。さらに、蓋体
97を取り外すと、アナライザケース70の上面開口部
からサンプルバルブ73、恒温槽74、減圧弁76等を
組み込んだり、取り外したりすることができるので、取
付、取外作業、メインテナンス等が容易である。また、
円筒状ケース100をアナライザケース70の前面に突
設し、その基部を小径化して頚部100aとしているの
で、アナライザケース70からの熱伝導が少なく、した
がって内部のプリント基板101、コネクタ106、1
07等に対する熱的影響を少なくすることができる。さ
らに、サンプルバルブ73を恒温槽74の内部に配設
し、サンプルバルブ73内に検出器80とヒータ90を
組込み、外周に第1、第2のカラム87、88を配設し
てこれらをユニット化しているので、アナライザケース
70への組込み作業を容易にする。加えて、ヒータ90
はサンプルバルブ73の内部下方に組み込まれているの
で、サンプルバルブ73およびカラム87、88を良好
に加熱することができる。
【0024】
【発明の効果】以上説明したように本発明に係るガスク
ロマトグラフによれば、アナライザケースが楕円球状体
で球状体に近いので、その表面積が小さく、外気温によ
る影響を少なくする。したがって、内部の温度変動を軽
減防止することができ、分離性能を向上させることがで
きる。また、また、電気機器部は、アナライザケースの
水平方向外側に突設された円筒状ケース内に各種電気機
器を収納して構成されているので、恒温槽の電気機器部
への熱的影響は少ない。また、電気機器部は、トランス
77等の熱源部品と恒温槽を挟んで反対側に設けられて
いるので、熱影響が一層少なく、しかもノイズを受けな
い。また、アナライザケースの上面に開口部を設け、こ
の開口部を蓋体によって覆い、サンプルバルブの内部に
検出器とヒータを組み込んでこれらをユニット化してい
るので、これらの取付、取外し作業、メインテナンス
が容易で相互調整が不要である上、バルブおよび検出器
を効果的に加熱保温することができる。また、カラムを
サンプルバルブの外周に巻装しているので、カラムの加
熱保温も良好で、分離能を向上させることができる。加
えて、また、電気機器部は、トランス等の熱源部品と恒
温槽を挟んで反対側に設けられているので、熱影響が一
層少ない。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明に係るガスクロマトグラフを示す断面
図である。
【図2】 ガスクロマトグラフをスタンションに取り付
けた状態を示す外観斜視図である。
【図3】 サンプルコンディショナ装置の内部構造を示
す斜視図である。
【図4】 ハウジングブロックの外観斜視図である。
【図5】 図4のV−V線断面図である。
【図6】 図4のVI−VI線断面図である。
【図7】 マニホールドの底面図である。
【図8】 図1のVIII−VIII線断面図である。
【図9】 ガスクロマトグラフの従来例を示す正面図で
ある。
【符号の説明】
2…サンプルコンディショナ装置、3…アナライザ装
置、20…ガスクロマトグラフ、70…アナライザケー
ス、72…マニホールド、73…サンプルバルブ、74
…恒温槽、75…アナライザボード、76…減圧弁、7
7…トランス、80…検出器、87…第1のカラム、8
8…第2のカラム、90…ヒータ、91…キャリアガス
導入口、92…サンプルガスまたは標準ガス導入口、9
3…サンプルガス送出口、100…円筒状ケース、10
1…プリント基板、106、107…コネクタ。

Claims (5)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 サンプルコンディショナ装置(2)とア
    ナライザ装置(3)を備え、 前記サンプルコンディショナ装置(2)は、外装ケース
    としてのハウジング(30)の内部に外部から導入する
    標準ガス(HG)、サンプルガス(SG)、キャリアガ
    ス(CG)の各ガスを計量し、キャリアガス(CG)と
    ともに所定温度に昇温させる手段を有し、 前記アナライザ装置(3)は、楕円球状体のアナライザ
    ケース(70)を前記ハウジング(30)の頂部に配す
    るとともに内部略中央に恒温槽(74)を設置し、この
    恒温槽(74)の内部にはその底部を貫通して前記サン
    プルコンディショナ装置(2)から前記各ガスを導入す
    るとともにこれらガスを計量、分離、検出する各手段を
    内設し、さらに恒温槽(74)の外側には、トランス
    (77)等の熱源部品と熱影響から遠ざけるべき各種電
    気機器を恒温槽を挟んで両側に配置した ことを特徴とす
    ガスクロマトグラフ。
  2. 【請求項2】 請求項1記載のガスクロマトグラフにお
    いて、 恒温槽(74)内の計量、分離、検出手段は、各ガスを
    計量するサンプルバルブ(73)と、この サンプルバル
    内に組み込まれたヒータ(90)および成分ガスの濃
    度ないし通過時間を検出する検出器(80)と、前記サ
    ンプルバルブ(73)から導かれた各ガスを送給され前
    記サンプルバルブの外周を巻回するカラム(87,8
    8)とからなり、これらをユニット化したことを特徴と
    するガスクロマトグラフ。
  3. 【請求項3】 請求項1記載のガスクロマトグラフにお
    いて、 アナライザケース(70)の上部に比較的大きな円形開
    口部(96)を設け、この開口部には蓋体(97)を覆
    い、この蓋体を開くことによりアナライザケース内の全
    体を見通すことができることを特徴とするガスクロマト
    グラフ。
  4. 【請求項4】 請求項1記載のガスクロマトグラフにお
    いて、 アナライザケース(70)の水平方向外側にケース(1
    00)を突設し、この ケース内に各種電気機器を収納し
    て電気機器部(21)としたことを特徴とするガスクロ
    マトグラフ。
  5. 【請求項5】 請求項1記載のガスクロマトグラフにお
    いて、 スタンション(22)にブラケット(24)を介してボ
    ルト締めしたことを特徴とするガスクロマトグラフ。
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