JP2663466B2 - Optical disk inspection method - Google Patents

Optical disk inspection method

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JP2663466B2 JP30190487A JP30190487A JP2663466B2 JP 2663466 B2 JP2663466 B2 JP 2663466B2 JP 30190487 A JP30190487 A JP 30190487A JP 30190487 A JP30190487 A JP 30190487A JP 2663466 B2 JP2663466 B2 JP 2663466B2
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【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、例えば光磁気ディスクの変調度等を検査す
るのに適用して好適な光ディスクの検査方法に関する。 〔発明の概要〕 本発明は、光源からの出射光を光ディスクに照射し、
この光ディスクからの戻り光をディテクタで受光し、こ
のディテクタの出力信号をオシロスコープで観測するよ
うにした光ディスクの検査方法において、光源からの出
射光を間欠的に所定時間停止させ、オシロスコープに光
量ゼロレベルを表示させて観測を行なうようにしたこと
により、RFランプ系をACカップルのアンプで容易に構成
でき、またピンホールの見分けも容易となるようにした
ものである。 〔従来の技術〕 光ディスクの検査の項目として、アドレスやグループ
の変調度,反射率,同相除去比(光磁気ディスクの場
合),反射光量のレベル,ピンホール,ディフェクト等
がある。従来これらの検査は、光ディスクプレーヤと同
様の構成の検査装置を用いて行なわれている。 〔発明が解決しようとする問題点〕 変調度,反射率等の検査は、光量ゼロレベルからの絶
対値比較が必要なため、RFアンプ系をDCカップルのアン
プで構成する必要があった。しかし、例えばグルーブ変
調度を正確に観測するため、RFアンプ系を広帯域としな
ければならないが、このような広帯域のものはACカップ
ルの方が構成し易く、DCカップルのものはその構成が困
難であった。 本発明はこのような点を考慮し、上述不都合を除去す
ることを目的とするものである。 〔問題点を解決するための手段〕 本発明は、光源(4)からの出射光を光ディスク
(9)に照射し、この光ディスク(9)からの戻り光を
ディテクタ(13A)(13B)(20)で受光し、このディテ
クタ(13A)(13B)(20)の出力信号をオシロスコープ
(18)で観測するようにした光ディスクの検査方法にお
いて、光源(4)からの出射光を間欠的に所定時間停止
させることにより、オシロスコープ(18)上での基準レ
ベルを設定するようにしたものである。 〔作用〕 上述したように、光源からの出射光を間欠的に所定時
間停止させることにより、オシロスコープ(18)に光量
ゼロレベルが表示される。そのため、RFアンプ系をACカ
ップルのアンプで構成しても光量ゼロレベルを得ること
ができる。また、反射光レベルが光量ゼロレベルと略同
レベルとなるピンホールの見分けも容易となる。 〔実施例〕 以下、図面を参照しながら本発明の一実施例について
説明する。第1図は本例に使用される光ディスクの検査
装置を示すものである。 同図において、(1)は発振器であり、この発振器
(1)からは、例えば80MHzの周波数信号が発生され
る。この場合、この周波数信号は、ユーザーの操作によ
って間欠的にオフとされる。例えば12.5msecの周期で3
μsecだけオフとされる。即ち、このオフ期間はサーボ
系に影響を与えない程度とされ、オンオフの周期は十分
な周波数特性をもって再生できるオーダーとされる。こ
の発振器(1)からの周波数信号はパルス発生器(2)
で波形整形されたのち駆動回路(3)を介してレーザー
ダイオード(4)に供給され、このレーザーダイオード
(4)はパルス駆動される。この場合、発振器(1)か
らの周波数信号が間欠的にオフとされるときには、この
レーザーダイオード(4)より発生されるレーザー光も
間欠的に所定時間だけオフとされる。 このレーザーダイオード(4)からのレーザー光は、
コリメータレンズ(5)で平行光とされたのち、ビーム
スプリッタ(6),(7)及び対物レンズ(8)を介し
て光磁気ディスク(9)の記録面(9a)に照射される。 また、この光磁気ディスク(9)からの反射光は、対
物レンズ(8)を介してビームスプリッタ(7)に入射
され、このビームスプリッタ(7)で光軸方向が変えら
れたレーザー光は1/2波長板(10)で偏光面が45度回転
させられて偏光ビームスプリッタ(11)に入射され、互
いに直交する偏光面を持つ偏光成分に分離される。この
偏光ビームスプリッタ(11)で光軸方向が変えられる一
の偏光面を持つ偏光成分は、受光レンズ(12A)を介し
て例えばPINフォトダイオードで構成されるヘォトディ
テクタ(13A)に照射される。一方、偏光ビームスプリ
ッタ(11)を光軸方向の変化を生じることなく通過した
他の偏光面を持つ偏光成分は、ミラー(14)で光軸方向
が変えられたのち受光レンズ(12B)を介して例えばPIN
フォトダイオードで構成されるフォトディテクタ(13
B)に照射される。 また、フォトディテクタ(13A)の出力信号はアンプ
(15A)を介して加算器(16)及び減算器(17)に供給
されると共に、フォトディテクタ(13B)の出力信号は
アンプ(15B)を介して加算器(16)及び減算器(17)
に供給される。そして、加算器(16)及び減算器(17)
の出力信号は、夫々オシロスコープ(18)の入力端子に
供給される。 また、ビームスプリッタ(7)を光軸方向の変化を生
じることなく通過したレーザー光はビームスプリッタ
(6)に入射され、このビームスプリッタ(6)で光軸
方向が変えられたレーザー光は集光レンズ(25)及びシ
リンドリカルレンズ(19)を介してサーボ信号を得るた
めの4分割のフォトディテクタ(20)に供給される。4
分割の各ディテクタ部の出力信号よりプッシュプル法に
よるトラッキングエラー信号が形成されると共に、非点
収差法によるフォーカスエラー信号が形成される。 このフォトディテクタ(20)より得られるプッシュプ
ル法によるトラッキングエラー信号を得るための第1及
び第2の検出信号Sa及びSbは、夫々アンプ(21a)及び
(21b)を介して、加算器(22)及び減算器(23)に供
給される。そして、加算器(22)の出力信号及び減算器
(23)の出力信号(プッシュプル法によるトラッキング
エラー信号)は、夫々オシロスコープ(18)の入力端子
に供給される。 なお、(24)はスピンドルモータ、(30)は光ピック
アップを示している。 この第1図例において、光磁気ディスク(9)には、
第2図に示すようにトラックTがスパイラル状に形成さ
れ、このトラックTに沿ってデータが記録される。ま
た、各トラックTは複数のセクターSに分割され、この
セクターSごとにデータが記録される。ここで、各トラ
ックTは、第3図に示すように、溝状のグルーブ(31)
で分離され、2本のグルーブ(31)の間はランド(32)
とされ、各セクターSにおいて、このランド(32)の最
初の部分には、セクターマーク(33)及びアドレス(3
4)がピット状に形成される。また、グルーブ(31)の
ない部分はミラー面(35)と呼ばれる。 以上の構成において、フォーカス,トラッキング,ス
ライドのサーボをオンとして、スチル状態(トラックT
の1周ごとにトラックジャンプをさせて再生する状態)
とし、また発振器(1)からの周波数信号が間欠的にオ
フとされ、レーザーダイオード(4)より発生されるレ
ーザー光も間欠的にオフとされる状態とし、加算器(1
6)の出力信号をオシロスコープ(18)で観察すると、
オシロスコープ(18)には、第4図に示すような波形が
表示される。第5図はその一部を拡大して示したもので
ある。上述していないが、実際にはアドレスの前に第5
図に示すように最短ピットを示すVFO信号が記録されて
いる。このVFO信号によりクロックが形成され、このク
ロックによりアドレスやデータが再生されことになる。 この波形より全光量IOは、ミラー面(35)における光
量を測定することにより求められる。即ち全光量IOは、
光量ゼロレベルとミラー面レベルとのレベル差で求めら
れる。 また、ランド(32)に対応する反射光量ITOPは、光量
ゼロレベルとランドレベルとのレベル差で求められる。 また、フォーカスサーボのみをオンとし、トラッキン
グサーボをオフの状態として、加算器(16)の出力信号
をオシロスコープ(18)で観察すると、オシロスコープ
(18)には、第6図に示すような波形が表示される。こ
の波形よりグルーブ(31)における反射光量IGRは、光
量ゼロレベルとグルーブレベルとのレベル差で求められ
る。そして、以上のIO,ITOP及びIGRより、グルーブ変調
度(ITOP−IGR)/IOが求められる。 また、第5図の波形より、セクターマーク(33)に対
応する振幅ISMが求められ、ISM及びIOより、セクターマ
ーク変調度ISM/IOが求められる。 また、第5図の波形より、VFO信号に対応する振幅I
VFOが求められ、IVFO及びIOより、VFO信号の変調度IVFO
/IOが求められる。 また、フォーカス,トラッキング,スライドのサーボ
をオンとして、スチル状態とし、またレーザーダイオー
ド(4)より発生されるレーザー光も間欠的にオフとさ
れる状態とし、加算器(22)の出力信号をオシロスコー
プ(18)で観察すると、オシロスコープ(18)には、第
7図に示すような波形が表示される。この場合、第4図
例と異なりレベルが小さくなるので、ミラー面レベルが
読み取れなくなる。そのため、ランド(32)に対応する
反射光量ITOP′を求めることで全光量IO′を求める。こ
の場合、ランド(32)に対応する反射光量ITOP′は、光
量ゼロレベルとランドレベルとのレベル差で求められ
る。そして、ITOP′,ITOP及びIOより、IO′=ITOP′・I
O/ITOPが求められる。 また、同様の状態で減算器(23)の出力信号、従って
プッシュプル法によるトラッキングエラー信号をオシロ
スコープ(18)で観察すると、オシロスコープ(18)に
は、第8図に示すような波形が表示される。この波形よ
りプッシュプル量IP-Pが求められる。そして、IP-P及び
IO′よりIP-P/IO′が求められる。 また、フォーカス,トラッキング,スライドのサーボ
をオンとして、スチル状態とし、またレーザーダイオー
ド(4)より発生されるレーザー光も間欠的にオフとさ
れる状態とし、減算器(17)の出力信号をオシロスコー
プ(18)で観察すると、オシロスコープ(18)には、第
9図に示すような波形が表示される。この波形より差信
号と光量ゼロレベルとのレベル差ΔBFが求められる。そ
して、同相除去比CMRRは、 CMRR=−20log|ΔBF/IO| と求められる。 また、第4図例のように表示させて、同一トラック内
のミラー面の反射光量の変動を観察することで反射率ム
ラ等が求められる。この場合、反射光量が第10図に示す
ように変動するものであるとき、その最大値がIMAX,最
小値がIMINであるとき、反射率ムラΔRは、 と求められる。また、反射光量の平均値Rは、 =(IMAX+IMIN)/2 と求められる。 また、フォーカス,トラッキング,スライドのサーボ
をオンとして、スチル状態とし、またレーザーダイオー
ド(4)より発生させるレーザー光を連続として、加算
器(16)の出力信号をオシロスコープ(18)で観察する
と、オシロスコープ(18)には第11図に示すような波形
が表示される。この波形より、P点及びQ点には基板の
表面に傷やゴミ等のディフェクトが存在することが観測
され、また、R点にはピンホールが存在することが観測
される。この場合,ピンホールは略光量ゼロレベルとな
るので、レーザーダイオード(4)より発生されるレー
ザー光が間欠的にオフとされる状態として第11図に破線
図示するように光量ゼロレベルを表示させて確認するこ
とができる。 なお、詳細説明は省略するが、上述の他に加算器(1
6)の出力信号よりドロップアウトの検査,減算器(1
7)の出力信号より偏光ディフェクトの検査も行なうこ
とができる。 このように本例によれば、レーザーダイオード(4)
からのレーザー光を間欠的にオフとさせて、オシロスコ
ープ(18)に光量ゼロレベルを表示させて光磁気ディス
クの検査を行なうものであり、RFアンプ系をACカップル
のアンプで簡単に構成することができる。また、オシロ
スコープ(18)に光量ゼロレベルを表示させて光磁気デ
ィスク(9)の検査を行なうものであり、ピンホールを
見分けることが容易となる。 また、その他に基準レベルを必要とする同相除去比等
の検査を正確に行なうことができる。 なお、上述実施例においては、光磁気ディスク(9)
の検査例を示したが、その他の光ディスクの検査も同様
にして行なうことができる。 また、上述実施例によれば、発振器(1)からは、例
えば80MHzの周波数信号が間欠的にオフとされるものが
出力されるが、周波数信号でなく、直流信号が間欠的に
オフとされるものが出力されるようにしてもよい。 〔発明の効果〕 以上述べた本発明によれば、光源からの出射光を間欠
的に所定時間停止させ、オシロスコープに光量ゼロレベ
ルを表示させて観測が行なわれるので、RFアンプ系をAC
カップルのアンプで簡単に構成することができ、またピ
ンホールの見分けも容易となる利益がある。さらに、基
準レベルを必要とする検査を正確に行なうことができ
る。
Description: BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for inspecting an optical disk which is suitably applied to, for example, a modulation degree of a magneto-optical disk. [Summary of the Invention] The present invention irradiates an optical disc with light emitted from a light source,
In a method of inspecting an optical disk in which a return light from the optical disk is received by a detector and an output signal of the detector is observed by an oscilloscope, the light emitted from the light source is intermittently stopped for a predetermined time, and the oscilloscope outputs a zero light level. The RF lamp system can be easily configured with an AC-coupled amplifier, and pinholes can be easily identified by displaying. [Prior Art] Items of inspection of an optical disk include a modulation degree of an address or a group, a reflectance, a common mode rejection ratio (in the case of a magneto-optical disk), a level of a reflected light amount, a pinhole, a defect, and the like. Conventionally, these inspections are performed using an inspection device having the same configuration as that of the optical disk player. [Problems to be Solved by the Invention] In the inspection of the degree of modulation, the reflectance and the like, it is necessary to compare the absolute values from the zero light level, so that the RF amplifier system needs to be constituted by a DC-coupled amplifier. However, for example, in order to accurately observe the degree of groove modulation, the RF amplifier system must have a wide band.However, such a wide band type is easily configured by an AC couple, and a DC couple is difficult to configure. there were. An object of the present invention is to eliminate the above-mentioned inconvenience in consideration of such points. [Means for Solving the Problems] The present invention irradiates the optical disc (9) with light emitted from the light source (4), and returns the returned light from the optical disc (9) to the detectors (13A) (13B) (20). ), The output signals of the detectors (13A), (13B), and (20) are observed by an oscilloscope (18). By stopping, the reference level on the oscilloscope (18) is set. [Operation] As described above, by intermittently stopping the light emitted from the light source for a predetermined time, a zero light level is displayed on the oscilloscope (18). Therefore, even if the RF amplifier system is configured by an AC-coupled amplifier, a zero light level can be obtained. Further, it is easy to identify a pinhole whose reflected light level is substantially the same as the zero light level. Hereinafter, an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 shows an optical disk inspection apparatus used in this embodiment. In the figure, (1) is an oscillator, and a frequency signal of, for example, 80 MHz is generated from the oscillator (1). In this case, this frequency signal is intermittently turned off by a user operation. For example, 3 at 12.5 msec cycle
It is turned off for μsec. That is, the off period is set to such an extent that the servo system is not affected, and the on / off period is set to an order that can be reproduced with sufficient frequency characteristics. The frequency signal from the oscillator (1) is supplied to a pulse generator (2)
Is supplied to a laser diode (4) via a drive circuit (3), and the laser diode (4) is pulse-driven. In this case, when the frequency signal from the oscillator (1) is intermittently turned off, the laser light generated from the laser diode (4) is also intermittently turned off for a predetermined time. The laser light from this laser diode (4)
After being collimated by the collimator lens (5), the light is emitted to the recording surface (9a) of the magneto-optical disk (9) via the beam splitters (6) and (7) and the objective lens (8). The reflected light from the magneto-optical disk (9) is incident on a beam splitter (7) via an objective lens (8), and the laser beam whose optical axis direction has been changed by the beam splitter (7) is one beam. The polarization plane is rotated by 45 degrees by the half-wave plate (10), is incident on the polarization beam splitter (11), and is separated into polarization components having polarization planes orthogonal to each other. The polarization component having one polarization plane whose optical axis direction can be changed by the polarization beam splitter (11) is irradiated to a photodetector (13A) constituted by, for example, a PIN photodiode via a light receiving lens (12A). On the other hand, the polarization component having another polarization plane that has passed through the polarization beam splitter (11) without changing the optical axis direction passes through the light receiving lens (12B) after the optical axis direction is changed by the mirror (14). For example PIN
Photodetector composed of photodiodes (13
B) is irradiated. The output signal of the photodetector (13A) is supplied to an adder (16) and a subtractor (17) via an amplifier (15A), and the output signal of the photodetector (13B) is added via an amplifier (15B). Unit (16) and subtractor (17)
Supplied to And an adder (16) and a subtractor (17)
Are supplied to the input terminals of the oscilloscope (18). The laser light that has passed through the beam splitter (7) without changing the optical axis direction is incident on the beam splitter (6), and the laser light whose optical axis direction has been changed by the beam splitter (6) is condensed. The signal is supplied to a four-divided photodetector (20) for obtaining a servo signal via a lens (25) and a cylindrical lens (19). 4
A tracking error signal is formed by the push-pull method from an output signal of each of the divided detector units, and a focus error signal is formed by the astigmatism method. The first and second detection signals Sa and Sb for obtaining a tracking error signal by the push-pull method obtained from the photodetector (20) are added to an adder (22) via amplifiers (21a) and (21b), respectively. And a subtractor (23). The output signal of the adder (22) and the output signal of the subtractor (23) (tracking error signal by the push-pull method) are supplied to the input terminals of the oscilloscope (18), respectively. (24) indicates a spindle motor, and (30) indicates an optical pickup. In the example of FIG. 1, the magneto-optical disk (9) includes:
As shown in FIG. 2, a track T is formed in a spiral shape, and data is recorded along the track T. Each track T is divided into a plurality of sectors S, and data is recorded for each sector S. Here, as shown in FIG. 3, each track T has a groove-like groove (31).
And a land (32) between two grooves (31)
In each sector S, the first part of the land (32) includes a sector mark (33) and an address (3).
4) is formed in a pit shape. The portion without the groove (31) is called a mirror surface (35). In the above configuration, the focus, tracking, and slide servos are turned on and the still state (track T
A state in which a track jump is made for each lap to play.
The frequency signal from the oscillator (1) is intermittently turned off, and the laser light generated by the laser diode (4) is also intermittently turned off.
Observing the output signal of 6) with an oscilloscope (18),
The oscilloscope (18) displays a waveform as shown in FIG. FIG. 5 is a partially enlarged view. Although not described above, actually the fifth
As shown in the figure, a VFO signal indicating the shortest pit is recorded. A clock is formed by the VFO signal, and the address and data are reproduced by the clock. From this waveform, the total light amount IO is obtained by measuring the light amount on the mirror surface (35). That is, the total light amount I O is
It is obtained from the level difference between the zero light level and the mirror surface level. Further, the reflected light amount I TOP corresponding to the land (32) is obtained from the level difference between the zero light amount level and the land level. When only the focus servo is turned on and the tracking servo is turned off and the output signal of the adder (16) is observed with an oscilloscope (18), the oscilloscope (18) has a waveform as shown in FIG. Is displayed. From this waveform, the amount of reflected light I GR in the groove (31) can be obtained from the level difference between the zero light amount level and the groove level. Then, from the above I O , I TOP and I GR , the degree of groove modulation (I TOP −I GR ) / I O is obtained. Further, the amplitude I SM corresponding to the sector mark (33) is obtained from the waveform of FIG. 5, and the sector mark modulation degree I SM / I O is obtained from I SM and I O. From the waveform of FIG. 5, the amplitude I corresponding to the VFO signal
VFO is determined, from the I VFO and I O, the VFO signal modulation I VFO
/ IO is required. Further, the focus, tracking, and slide servos are turned on to set a still state, and the laser light generated by the laser diode (4) is set to be turned off intermittently. When observed in (18), a waveform as shown in FIG. 7 is displayed on the oscilloscope (18). In this case, unlike the example in FIG. 4, the level becomes small, so that the mirror surface level cannot be read. Therefore, the total light quantity I O 'is obtained by obtaining the reflected light quantity I TOP ' corresponding to the land (32). In this case, the reflected light amount I TOP 'corresponding to the land (32) is obtained from the level difference between the zero light amount level and the land level. Then, from I TOP ′, I TOP and I O , I O ′ = I TOP ′ · I
O / I TOP is required. When the output signal of the subtracter (23), that is, the tracking error signal by the push-pull method is observed by the oscilloscope (18) in the same state, a waveform as shown in FIG. 8 is displayed on the oscilloscope (18). You. The push-pull amount IPP is obtained from this waveform. And I PP and
I O 'than I PP / I O' is obtained. Also, the focus, tracking, and slide servos are turned on to set a still state, and the laser light generated by the laser diode (4) is set to be turned off intermittently. When observed in (18), a waveform as shown in FIG. 9 is displayed on the oscilloscope (18). From this waveform, the level difference ΔBF between the difference signal and the zero light level is obtained. Then, the common-mode rejection ratio CMRR is obtained as CMRR = −20 log | ΔBF / I O |. In addition, by displaying the display as shown in FIG. 4 and observing a change in the amount of reflected light on the mirror surface in the same track, the reflectance unevenness and the like can be obtained. In this case, when the amount of reflected light fluctuates as shown in FIG. 10, when the maximum value is I MAX and the minimum value is I MIN , the reflectance unevenness ΔR is Is required. Further, the average value R of the reflected light amount is obtained as follows: = (I MAX + I MIN ) / 2 When the focus, tracking, and slide servos are turned on to set a still state, and the laser beam generated by the laser diode (4) is made continuous, the output signal of the adder (16) is observed with an oscilloscope (18). In (18), a waveform as shown in FIG. 11 is displayed. From this waveform, it is observed that defects such as scratches and dust are present on the surface of the substrate at points P and Q, and that a pinhole is present at point R. In this case, since the pinhole has a substantially zero light level, the laser light generated by the laser diode (4) is intermittently turned off and the zero light level is displayed as shown by the broken line in FIG. Can be confirmed. Although detailed description is omitted, an adder (1
6) Check for dropout from output signal, subtractor (1
Inspection of polarization defect can be performed from the output signal of 7). Thus, according to this example, the laser diode (4)
The intermittently turning off the laser light from the camera and displaying the zero light level on the oscilloscope (18) to inspect the magneto-optical disk. The RF amplifier system can be easily configured with an AC-coupled amplifier. Can be. In addition, since the light amount zero level is displayed on the oscilloscope (18) to inspect the magneto-optical disk (9), it is easy to identify the pinhole. In addition, an inspection such as a common-mode rejection ratio requiring a reference level can be accurately performed. In the above embodiment, the magneto-optical disk (9)
Although the inspection example described above is shown, inspection of other optical disks can be performed in the same manner. According to the above-described embodiment, the oscillator (1) outputs, for example, a signal in which a frequency signal of 80 MHz is intermittently turned off, but a DC signal, not a frequency signal, is intermittently turned off. May be output. [Effects of the Invention] According to the present invention described above, the light emitted from the light source is intermittently stopped for a predetermined time, and the oscilloscope is displayed with the zero light level for observation.
It has the advantage that it can be easily configured with a couple of amplifiers, and the pinhole can be easily identified. Further, an inspection requiring a reference level can be performed accurately.

【図面の簡単な説明】 第1図は一実施例に使用される検査装置の一例を示す構
成図、第2図及び第3図は光磁気ディスクの説明のため
の図、第4図〜第11図はオシロスコープの表示波形を示
す図である。 (1)は発振器、(4)はレーザーダイオード、(9)
は光磁気ディスク、(13A)(13B)及び(20)はフォト
ディテクタ、(18)はオシロスコープである。
BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS FIG. 1 is a block diagram showing an example of an inspection apparatus used in one embodiment, FIGS. 2 and 3 are diagrams for explaining a magneto-optical disk, and FIGS. FIG. 11 is a diagram showing a display waveform of the oscilloscope. (1) is an oscillator, (4) is a laser diode, (9)
Is a magneto-optical disk, (13A), (13B) and (20) are photodetectors, and (18) is an oscilloscope.

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】 1.光源からの出射光を光ディスクに照射し、この光デ
ィスクからの戻り光をディテクタで受光し、このディテ
クタの出力信号をオシロスコープで観測すようにした光
ディスクの検査方法において、 上記光源からの出射光を間欠的に所定時間停止させるこ
とにより、上記オシロスコープ上での基準レベルを設定
するようにしたことを特徴とする光ディスクの検査方
法。
(57) [Claims] In an optical disk inspection method, light emitted from a light source is irradiated onto an optical disk, return light from the optical disk is received by a detector, and an output signal of the detector is observed by an oscilloscope. A method for inspecting an optical disk, wherein a reference level on the oscilloscope is set by stopping the optical disk for a predetermined time.
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