JP2638054B2 - Optical pickup device - Google Patents
Optical pickup deviceInfo
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Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、例えば光ディスク再生装置に使用して好適
な光ピックアップ装置に関する。Description: TECHNICAL FIELD The present invention relates to an optical pickup device suitable for use in, for example, an optical disk reproducing device.
本発明は、分割ディテクタを使用して差分処理でエラ
ー信号を取り出すピックアップ装置において、分割ディ
テクタの各分割部に入射する不要光の光量が略等しくな
るようにしたことにより、不要光の影響のない良好なエ
ラー信号を得ることができるようにしたものである。According to the present invention, in a pickup device for extracting an error signal by differential processing using a divided detector, the amount of unnecessary light incident on each divided portion of the divided detector is made substantially equal, so that there is no influence of unnecessary light. A good error signal can be obtained.
コンパクトディスク（CD）等の光ディスク再生装置に
使用される光ピックアップ装置として、第５図〜第７図
に示すような構成のものが提案されている。2. Description of the Related Art As an optical pickup device used in an optical disk reproducing device such as a compact disk (CD), a device having a configuration as shown in FIGS. 5 to 7 has been proposed.
第５図および第６図において、（１）はシリコン（S
i）等からなる半導体基板であり、この半導体基板
（１）上には、ディスクからの戻りレーザー光を検出す
る３分割の分割ディテクタ（２）および（３）が半導体
製造技術で形成される。この分割ディテクタ（２）およ
び（３）は、トラッキングエラー信号、フォーカスエラ
ー信号およびRF信号を検出するために用いられる。In FIGS. 5 and 6, (1) indicates a silicon (S
i) and the like, and on this semiconductor substrate (1), three-divided detectors (2) and (3) for detecting a return laser beam from a disk are formed by a semiconductor manufacturing technique. The split detectors (2) and (3) are used for detecting a tracking error signal, a focus error signal, and an RF signal.
また、（４）は半導体レーザー素子であり、半導体基
板（１）上で分割ディテクタ（２）側に配設される。Reference numeral (4) denotes a semiconductor laser element, which is provided on the semiconductor substrate (1) on the side of the split detector (2).
また、分割ディテクタ（２）および（３）を覆うよう
に断面台形状のプリズム（５）が半導体基板（１）上に
接着剤（６）をもって固着される。そして、このプリズ
ム（５）の半導体レーザー素子（４）側の面には、半透
過反射膜（７）が形成されると共に、その上面には、反
射膜（８）が形成される。Further, a prism (5) having a trapezoidal cross section is fixed on the semiconductor substrate (1) with an adhesive (6) so as to cover the divided detectors (2) and (3). A semi-transmissive reflective film (7) is formed on the surface of the prism (5) on the semiconductor laser element (4) side, and a reflective film (8) is formed on the upper surface thereof.
以上の構成において、半導体レーザー素子（４）から
のレーザー光は、プリズム（５）の半透過反射膜（７）
によって反射され、対物レンズ（９）を介して光ディス
ク（10）に照射される。そして、この光ディスク（10）
のピットまたはランドで反射されるレーザー光は、対物
レンズ（９）を介してプリズム（５）の半透過反射膜
（７）に入射される。このレーザー光はプリズム（５）
内を透過して分割ディテクタ（２）に照射される。ま
た、図示せずも、プリズム（５）の底面に形成された半
透過反射膜で反射されたレーザー光は、プリズム（５）
の上面に形成された反射膜（８）によって反射されて、
分割ディテクタ（３）に照射される。なお、第６図には
図面の簡単のため、対物レンズ（９）および光ディスク
（10）は図示していない。In the above configuration, the laser light from the semiconductor laser element (4) is applied to the semi-transmissive reflection film (7) of the prism (5).
And irradiates the optical disk (10) via the objective lens (9). And this optical disk (10)
The laser light reflected by the pits or lands is incident on the semi-transmissive reflection film (7) of the prism (5) via the objective lens (9). This laser beam is prism (5)
The light passes through the inside and is irradiated on the split detector (2). Although not shown, the laser light reflected by the transflective film formed on the bottom surface of the prism (5) is reflected by the prism (5).
Reflected by the reflective film (8) formed on the upper surface of
Irradiate the split detector (3). In FIG. 6, the objective lens (9) and the optical disk (10) are not shown for simplification of the drawing.
また、第７図は、分割ディテクタ（２）および（３）
よりトラッキングエラー信号、フォーカスエラー信号お
よびRF信号を検出するための回路である。同図におい
て、（2A），（2B）および（2C）は、それぞれ分割ディ
テクタ（２）の分割部を示しており、また（3A），（3
B）および（3C）は、それぞれ分割ディテクタ（３）の
分割部を示している。これら分割部（2A）〜（2C），
（3A）〜（3C）の出力信号は、それぞれオペアンプで構
成される電流電圧変換回路（12A）〜（12C），（13A）
〜（13C）に供給される。そして、これら電流電圧変換
回路（12A）〜（12C），（13A）〜（13C）の出力信号
は、それぞれオペアンプで構成される加算器（14）で加
算され、この加算器（14）の出力側より導出される出力
端子（15）には、RF信号SRFが得られる。また、オペア
ンプで構成される減算器（16）で、電流電圧変換回路
（12B），（13A）および（13C）の出力信号の加算信号
より電流電圧変換回路（12A），（12C）および（13B）
の出力信号の加算信号が減算され、この減算器（16）の
出力側より導出される出力端子（17）には、フォーカス
エラー信号SFが得られる。また、オペアンプで構成され
る減算器（18）で、電流電圧変換回路（12A）および（1
3A）の出力信号の加算信号より電流電圧変換回路（12
C）および（13C）の出力信号の加算信号が減算され、こ
の減算器（18）の出力側より導出される出力端子（19）
には、トラッキングエラー信号STが得られる。FIG. 7 shows the divided detectors (2) and (3).
This is a circuit for detecting a tracking error signal, a focus error signal, and an RF signal. In the same figure, (2A), (2B) and (2C) show the division parts of the division detector (2), respectively, and (3A), (3C)
(B) and (3C) show the division part of the division detector (3), respectively. These divisions (2A) to (2C),
The output signals of (3A) to (3C) are current-to-voltage conversion circuits (12A) to (12C) and (13A) each composed of an operational amplifier.
~ (13C). The output signals of the current-voltage conversion circuits (12A) to (12C) and (13A) to (13C) are added by an adder (14) composed of an operational amplifier, and the output of the adder (14) An RF signal SRF is obtained at an output terminal (15) derived from the side. Further, a subtractor (16) composed of an operational amplifier obtains the current-voltage conversion circuits (12A), (12C), and (13B) from the sum signal of the output signals of the current-voltage conversion circuits (12B), (13A), and (13C). )
Is subtracted, and a focus error signal SF is obtained at an output terminal (17) derived from the output side of the subtracter (16). The current-voltage conversion circuit (12A) and (1)
The current-to-voltage conversion circuit (12
An output terminal (19) derived from the output side of the subtracter (18) is obtained by subtracting the addition signal of the output signals of (C) and (13C).
, A tracking error signal ST is obtained.
このような光ピックアップ装置によれば、半導体レー
ザー素子（４）からのレーザー光の一部が、プリズム
（５）の半透過反射膜（７）を通してプリズム（５）内
に直接入射し、第５図に破線で示すように不要光となっ
て分割ディテクタ（２）および（３）に照射され、RF信
号SRF、エラー信号SF,STにオフセットを生じさせてしま
うおそれがあった。According to such an optical pickup device, a part of the laser light from the semiconductor laser element (4) directly enters the prism (5) through the semi-transmissive reflection film (7) of the prism (5), and the fifth irradiates the split detector becomes unnecessary light (2) and (3) as indicated by broken lines in FIG., RF signal S RF, error signal S F, there is a fear that causes an offset to S T.
従来このような不要光が分割ディテクタ（２）および
（３）に供給されるのを防止するため、例えば特開昭62
−250528号公報に記載されるように、入射角の大きい不
要光（迷光）を全反射させることで分割ディテクタ
（２）および（３）に到達しないようにすること等が提
案されているが、不要光の影響を完全に無視できるまで
にはいたっていない。Conventionally, in order to prevent such unnecessary light from being supplied to the split detectors (2) and (3), for example, Japanese Unexamined Patent Publication No.
As described in -250528, it has been proposed that unnecessary light (stray light) having a large incident angle is totally reflected so as not to reach the split detectors (2) and (3). The effects of unwanted light have not yet been completely ignored.
本発明は、このような点を考慮し、特に不要光の影響
のない良好なエラー信号を得ることができるようにする
ことを目的とするものである。The present invention has been made in view of the above circumstances, and has as its object to obtain a good error signal which is not particularly affected by unnecessary light.
本発明は、少なくとも２分割の分割ディテクタを使用
して差分処理でエラー信号を取り出すピックアップ装置
であって、分割ディテクタの各分割部に入射する不要光
の光量が略等しくなるように分割ディテクタが形成され
るものである。The present invention relates to a pickup device for extracting an error signal by differential processing using at least two divided detectors, wherein the divided detectors are formed such that the amounts of unnecessary light incident on the respective divided portions of the divided detectors are substantially equal. Is what is done.
上述構成においては、分割ディテクタの各分割部に入
射する不要光の光量が略等しくなるように分割ディテク
タが形成されるので、差分処理でエラー信号を取り出す
際不要光による信号成分は相殺されて除去される。した
がって、不要光の影響のない良好なエラー信号を得るこ
とが可能となる。In the above configuration, since the divided detectors are formed so that the amounts of unnecessary light incident on the respective divided portions of the divided detector are substantially equal, when extracting an error signal by the differential processing, signal components due to the unnecessary light are canceled out and removed. Is done. Therefore, it is possible to obtain a good error signal free from the influence of unnecessary light.
以下、図面を参照しながら本発明の一実施例について
説明する。Hereinafter, an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.
本例においては、分割ディテクタ（２）および（３）
は、第１図に示すように、半導体レーザー素子（４）の
発光点Ｐを中心とする扇形に形成される。そしてこの場
合、分割ディテクタ（２），（３）の各分割部（2A）〜
（2C），（3A）〜（3C）に入射する不要光の光量が略等
しくなるように、各分割部（2A）〜（2C），（3A）〜
（3C）の面積が決定される。In this example, the split detectors (2) and (3)
As shown in FIG. 1, is formed in a fan shape centering on the light emitting point P of the semiconductor laser element (4). In this case, each of the division units (2A) to (2A) of the division detectors (2) and (3)
Each of the divisions (2A) to (2C), (3A) to (2C), (3A) to (3C), so that the amount of unnecessary light incident on
The area of (3C) is determined.
ところで、不要光の大部分は、第２図に示すように半
導体レーザー素子（４）からのレーザー光の一部がプリ
ズム（５）の半透過反射膜（７）を通してプリズム
（５）内に直接入射するものである。Most of the unnecessary light is, as shown in FIG. 2, a part of the laser light from the semiconductor laser element (4) passing directly into the prism (5) through the transflective film (7) of the prism (5). It is incident.
この場合、分割ディテクタ（２）および（３）が形成
される半導体基板（１）の面において、半導体レーザー
素子（４）の発光点Ｐを中心とする同心円上は、半導体
レーザー素子（４）の活性層と垂直な平面での発光点Ｐ
の発光角θ⊥の等強度線となると共に、半導体レーザー
素子（４）の発光点Ｐを中心とする半径上は、半導体レ
ーザー素子（４）の活性層と水平な平面での発光点Ｐの
発光角θ の等強度線となる。また、発光点Ｐの発光角
θ⊥およびθ に対する光量分布は、それぞれ第 図曲
線ａおよびｂに示すように、ｅ−αθ２で表わされる分
布となることが知られている。 In this case, the split detectors (2) and (3) form
Semiconductor laser on the surface of the semiconductor substrate (1)
On a concentric circle centered on the light emitting point P of the element (4), a semiconductor
Light emitting point P on a plane perpendicular to the active layer of laser element (4)
Emission angle θ⊥And the semiconductor laser
On the radius centered on the light emitting point P of the element (4), the semiconductor laser
Of the light emitting point P on a plane horizontal to the active layer of the laser element (4)
Emission angle θ Is obtained. Also, the light emission angle of the light emitting point P
θ⊥And θ The light intensity distribution for
As shown in lines a and b, e-Αθ2Minutes represented by
It is known to be cloth.
したがって、以上の光量分布等の情報より、分割ディ
テクタ（２），（３）の各分割部（2A）〜（2C），（3
A）〜（3C）に、半導体レーザー素子（４）の発光点Ｐ
から直接供給されるレーザー光の光量を積分演算し、そ
れぞれの値が等しくなるように、分割ディテクタ
（２），（３）の各分割部（2A）〜（2C），（3A）〜
（3C）の面積が決定される。Therefore, based on the information such as the light amount distribution described above, each of the division units (2A) to (2C), (3) of the division detectors (2) and (3)
A) to (3C) show the emission point P of the semiconductor laser element (4).
Calculates the amount of laser light directly supplied from the detectors, and calculates the divisions (2A) to (2C), (3A) to (3A) of the division detectors (2) and (3) so that the respective values become equal.
The area of (3C) is determined.
また本例においては、分割ディテクタ（２），（３）
の外形は、レーザー光のスポット形状SPに対して、従来
よりも小さくされる。因みに、第４図は、従来の分割デ
ィテクタ（２），（３）の外形を示したものである。Further, in this example, the divided detectors (2) and (3)
Is made smaller than the spot shape SP of the laser beam as compared with the related art. FIG. 4 shows the external shape of the conventional split detectors (2) and (3).
本例は以上のように構成され、その他は第５図〜第７
図に示す例と同様に構成される。This example is configured as described above, and the others are shown in FIGS.
The configuration is the same as the example shown in the figure.
このように本例においては、分割ディテクタ（２），
（３）の各分割部（2A）〜（2C），（3A）〜（3C）に入
射する不要光の光量が略等しくなるように、各分割部
（2A）〜（2C），（3A）〜（3C）の面積が決定される。
したがって、第７図に示すようにフォーカスエラー信号
SFおよびトラッキングエラー信号STは、各分割ディテク
タ（２），（３）の各分割部（2A）〜（2C），（3A）〜
（3C）の出力信号の差分処理で取り出されるものである
が、各分割部（2A）〜（2C），（3A）〜（3C）の出力信
号に含まれる不要光による信号成分は略等しくなる。そ
のため、差分処理でフォーカスエラー信号SFおよびトラ
ッキングエラー信号STを取り出す際に、不要光による信
号成分は相殺されて除去される。したがって、本例によ
れば不要光の影響のない良好なフォーカスエラー信号SF
およびトラッキングエラー信号STを得ることができる。Thus, in this example, the split detector (2),
Each of the divisions (2A) to (2C), (3A) such that the amount of unnecessary light incident on each of the divisions (2A) to (2C) and (3A) to (3C) in (3) becomes substantially equal. ~ (3C) area is determined.
Therefore, as shown in FIG.
S F and the tracking error signal S T, each split detector (2), each of the divided portions of (3) (2A) ~ ( 2C), (3A) ~
Although it is extracted by the difference processing of the output signal of (3C), the signal components due to the unnecessary light included in the output signals of the respective division units (2A) to (2C) and (3A) to (3C) become substantially equal. . Therefore, when taking out a focus error signal S F and the tracking error signal S T by the difference process, the signal component due to unnecessary light is removed is canceled. Therefore, according to this example, a good focus error signal S F without the influence of unnecessary light
And it is possible to obtain a tracking error signal S T.
また本例によれば、分割ディテクタ（２），（３）の
外形を従来よりも小さくしたので、RF信号SRFに含まれ
るオフセットのレベルを小さく抑えることができる。Further, according to this example, since the outer shape of each of the divided detectors (2) and (3) is smaller than that of the related art, the level of the offset included in the RF signal SRF can be suppressed to a low level.
なお、上述実施例においては、分割ディテクタ
（２），（３）の形状を扇形状としたものであるが、形
状はこれに限定されるものでなく、要は、分割ディテク
タ（２），（３）の各分割部に入射する不要光の光量が
略等しくなるようになされてあればよい。また、上述実
施例においては、３分割の２個の分割ディテクタ
（２），（３）を用いたものであるが、本発明は、１個
または数個の少なくとも２分割の分割ディテクタを使用
して差分処理でエラー信号を取り出すピックアップ装置
に同様に適用することができる。In the above-described embodiment, the shape of each of the divided detectors (2) and (3) is a fan shape. However, the shape is not limited to this, and the point is that the divided detectors (2) and (3) It suffices that the light amount of the unnecessary light incident on each of the divided portions in 3) is made substantially equal. In the above embodiment, two divided detectors (2) and (3) are used. However, the present invention uses one or several divided detectors of at least two divisions. Thus, the present invention can be similarly applied to a pickup device that extracts an error signal by differential processing.
以上述べた本発明によれば、分割ディテクタの各分割
部に入射する不要光の光量が略等しくなるようにしたの
で、不要光の影響のない良好なエラー信号を得ることが
できる。According to the present invention described above, since the amounts of unnecessary light incident on the respective divided portions of the divided detector are made substantially equal, a good error signal free from the influence of the unnecessary light can be obtained.
第１図は本発明の一実施例の要部を示す構成図、第２図
および第３図はその説明のための図、第４図〜第７図は
従来例の説明のための図である。 （２）および（３）は分割ディテクタ、（４）は半導体
レーザー素子、（５）はプリズムである。FIG. 1 is a block diagram showing a main part of one embodiment of the present invention, FIGS. 2 and 3 are diagrams for explaining the embodiment, and FIGS. 4 to 7 are diagrams for explaining a conventional example. is there. (2) and (3) are split detectors, (4) is a semiconductor laser device, and (5) is a prism.
Claims (1)
して差分処理でエラー信号を取り出す光ピックアップ装
置において、 上記分割ディテクタの各分割部に入射する不要光の光量
が略等しくなるように上記分割ディテクタが形成される
ことを特徴とする光ピックアップ装置。1. An optical pickup device for extracting an error signal by differential processing using at least two split detectors, wherein the split detectors are arranged such that the amounts of unnecessary light incident on respective split portions of the split detector become substantially equal. An optical pickup device comprising:
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8645988A JP2638054B2 (en) | 1988-04-08 | 1988-04-08 | Optical pickup device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8645988A JP2638054B2 (en) | 1988-04-08 | 1988-04-08 | Optical pickup device |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01258238A JPH01258238A (en) | 1989-10-16 |
| JP2638054B2 true JP2638054B2 (en) | 1997-08-06 |
Family
ID=13887535
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8645988A Expired - Fee Related JP2638054B2 (en) | 1988-04-08 | 1988-04-08 | Optical pickup device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2638054B2 (en) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3631446B2 (en) | 2001-06-29 | 2005-03-23 | シャープ株式会社 | Optical pickup device |
-
1988
- 1988-04-08 JP JP8645988A patent/JP2638054B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH01258238A (en) | 1989-10-16 |
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