JP2595679Y2 - Attenuator frequency characteristic correction circuit - Google Patents

Attenuator frequency characteristic correction circuit

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JP2595679Y2 JP1993004342U JP434293U JP2595679Y2 JP 2595679 Y2 JP2595679 Y2 JP 2595679Y2 JP 1993004342 U JP1993004342 U JP 1993004342U JP 434293 U JP434293 U JP 434293U JP 2595679 Y2 JP2595679 Y2 JP 2595679Y2
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Description

【考案の詳細な説明】[Detailed description of the invention]

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】この考案は、交流電圧測定器のア
ッテネ−タ回路に関する。より具体的にはアッテネ−タ
の周波数特性補正回路に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an attenuator circuit for an AC voltage measuring instrument. More specifically, the present invention relates to an attenuator frequency characteristic correction circuit.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来のアッテネ−タ例を図2に示して説
明すると、分圧抵抗R11,R12〜R1n と周波数
特性の補正用コンデンサC11, C12〜C1n と、
レンジ切替えリレ−S11, S12〜S1n と、バッ
ファアンプ11の構成からなる。
2. Description of the Related Art An example of a conventional attenuator will be described with reference to FIG. 2. The voltage dividing resistors R11, R12 to R1n and the capacitors C11, C12 to C1n for correcting frequency characteristics are shown in FIG.
It comprises a range switching relay S11, S12 to S1n and a buffer amplifier 11.

【0003】アッテネータ回路の周波数特性をフラット
にするには、抵抗成分の減衰量と容量成分の減衰量とを
一致させれば良いことが、一般に知られている。抵抗減
衰比とは、アッテネ−タにより分圧された抵抗成分のみ
のインピ−ダンス比のことであり、容量減衰比とは、ア
ッテネ−タにより分圧された容量成分のみのインピ−ダ
ンス減衰比のことである。
It is generally known that the flattening of the frequency characteristics of an attenuator circuit can be achieved by making the attenuation of the resistance component equal to that of the capacitance component. The resistance attenuation ratio is the impedance ratio of only the resistance component divided by the attenuator, and the capacitance attenuation ratio is the impedance attenuation ratio of only the capacitance component divided by the attenuator. That is.

【0004】アッテネータ回路を高域周波数までフラッ
トに調整する為には、アッテネータ回路に含まれるリレ
−接点容量、配線ストレ−容量、バッファアンプ11入
力容量よりなるストレ−容量Cs1を含んだ容量減衰比
と、抵抗減衰比とを、同じになるように調整する必要が
あり、この為には、既知の低周波及び高周波信号源を印
加して、C12,C13〜C1nの補正用コンデンサ、
例えばトリマコンデンサ等を回して調整していた。
In order to adjust the attenuator circuit flat to a high frequency range, a capacitance attenuation ratio including a relay contact capacitance, a wiring storage capacitance, and a storage capacitance Cs1 composed of an input capacitance of the buffer amplifier 11 included in the attenuator circuit. And the resistance attenuation ratio need to be adjusted to be the same. For this purpose, a known low-frequency and high-frequency signal source is applied to correct the C12, C13 to C1n correction capacitors,
For example, adjustment was made by turning a trimmer capacitor or the like.

【0005】従来の問題点は、各レンジの周波数特性補
正の設定を精度良く設定(例えば誤差0.01%未満)
するのに、従来の回路手段では、調整に多くの時間がか
かる欠点がある。その原因は、複数のトリマコンデンサ
が直列に接続された回路になっている為で、一箇所でも
調節すると、既に調整済の他のレンジの容量設定値がく
ずれてしまう。この為、全レンジの調整を複数回、繰り
返し行い、徐々に目的精度に収束させるていく必要があ
った。
The conventional problem is that the setting of the frequency characteristic correction for each range is set with high accuracy (for example, an error of less than 0.01%).
However, the conventional circuit means has a disadvantage that the adjustment takes a lot of time. The cause is a circuit in which a plurality of trimmer capacitors are connected in series. Therefore, if adjustment is made even at one point, the capacitance set value of another range already adjusted is lost. Therefore, it is necessary to repeatedly adjust the entire range a plurality of times to gradually converge to the target accuracy.

【0006】[0006]

【考案が解決しようとする課題】この考案が解決しよう
とする課題は、アッテネータの減衰量の周波数特性補正
の調整を容易化する為、他のレンジの設定に影響を与え
ないで、独立に周波数特性の補正を実現することを目的
とする。
[Problem to be solved by the invention] The problem to be solved by the invention is to make it easy to adjust the frequency characteristic correction of the attenuation of the attenuator without affecting the setting of other ranges. An object of the present invention is to realize correction of characteristics.

【0007】[0007]

【課題を解決する為の手段】本考案では、上記課題の解
決を、次の手段によって解決する。交流電圧入力をアッ
テネーションする複数の減衰抵抗 R11〜R1n と、
複数の周波数特性補正用コンデンサC11 〜C1n
と、複数のレンジ切替えリレ−S11〜S1nよりなる
アッテネ−タと、バッファアンプ11と、交流電圧測定
部12において、次の構成とする。
According to the present invention, the above-mentioned problems are solved by the following means. A plurality of attenuation resistors R11 to R1n for attenuating the AC voltage input;
A plurality of frequency characteristic correcting capacitors C11 to C1n
And an attenuator including a plurality of range switching relays S11 to S1n, a buffer amplifier 11, and an AC voltage measuring unit 12, have the following configuration.

【0008】可変アンプ13と、補正抵抗Raと、補正
値メモリ15と、制御部14から構成していて、バッフ
ァアンプ11の入力にアッテネ−タの出力と、補正抵抗
Raの一端が接続され、バッファアンプ11の出力を可
変アンプ13の入力に接続し、可変アンプ13の出力を
補正抵抗Raの他端に接続し、補正値メモリ15の内容
を制御部14を経由して可変アンプ13に接続する。補
正値メモリ15は、測定レンジ毎に可変アンプ13に設
定する設定値デ−タを保存する。このようにした、周波
数特性補正手段を具備していることを特徴とするアッテ
ネ−タの周波数特性補正回路。
The control circuit comprises a variable amplifier 13, a correction resistor Ra, a correction value memory 15, and a control unit 14. The input of the buffer amplifier 11 is connected to the output of the attenuator and one end of the correction resistor Ra. The output of the buffer amplifier 11 is connected to the input of the variable amplifier 13, the output of the variable amplifier 13 is connected to the other end of the correction resistor Ra, and the content of the correction value memory 15 is connected to the variable amplifier 13 via the control unit 14. I do. The correction value memory 15 stores set value data set in the variable amplifier 13 for each measurement range. A frequency characteristic correction circuit for an attenuator comprising the frequency characteristic correction means as described above.

【0009】上記構成手段において、図3の可変アンプ
13の内部構成として、可変コンダクタンスアンプ13
Cと補正値メモリ15から読み出した補正デ−タをD/
Aコンバータ13aに設定し、定電流変換13bして可
変コンダクタンスアンプ13cにより増幅度を可変にす
る手段を具備することを特徴とするアッテネ−タの周波
数特性補正回路。
In the above configuration, the variable conductance amplifier 13 shown in FIG.
C and the correction data read from the correction value memory 15 are D /
A frequency characteristic correction circuit for an attenuator, comprising means for setting an A converter 13a, performing constant current conversion 13b, and varying an amplification degree by a variable conductance amplifier 13c.

【0010】上記構成手段において、図4のように、可
変アンプ13の入力を、バッファアンプ11の入力側に
接続変更して同じ機能を実現した事を特徴とするアッテ
ネ−タの周波数特性補正回路。
A frequency characteristic correction circuit for an attenuator, wherein the same function is realized by changing the input of the variable amplifier 13 to the input side of the buffer amplifier 11 as shown in FIG. .

【0011】[0011]

【作用】補正抵抗Raと可変アンプ13によって、可変
抵抗機能の働きを有する。すなわち可変アンプ13の増
幅度を変えると、補正抵抗Ra両端の電位差が変わり、
補正抵抗Raに流れる電流が増幅度に応じて変わる。こ
の等価可変抵抗が、アッテネ−タの抵抗値と合成され
て、実際のアッテネータの抵抗減衰比となる。そして、
この抵抗減衰比を容量減衰比に一致させる様に設定制御
することで、周波数特性補正が実現される。
The variable resistor has a function of a variable resistor. That is, when the amplification degree of the variable amplifier 13 is changed, the potential difference between both ends of the correction resistor Ra changes,
The current flowing through the correction resistor Ra changes according to the amplification degree. This equivalent variable resistance is combined with the resistance value of the attenuator, and becomes the actual resistance attenuation ratio of the attenuator. And
By setting and controlling the resistance attenuation ratio to match the capacitance attenuation ratio, frequency characteristic correction is realized.

【0012】補正値メモリ15は、各レンジ毎の周波数
特性補正デ−タを保存する働きをする。各レンジ毎の周
波数特性補正は、各レンジ毎に上記の可変抵抗機能を利
用して、周波数特性補正データを求めて補正値メモリ1
5に保存しておく。使用する時には、補正値メモリ15
から補正データを取り出して、可変アンプ13にこの補
正データを設定することで、そのレンジにおける周波数
特性補正をする。
The correction value memory 15 serves to store frequency characteristic correction data for each range. The frequency characteristic correction for each range is performed by using the above-described variable resistance function for each range, obtaining frequency characteristic correction data, and obtaining a correction value memory 1.
Save it in 5. When using, the correction value memory 15
Then, the correction data is taken out of the variable amplifier 13, and the correction data is set in the variable amplifier 13, thereby correcting the frequency characteristic in the range.

【0013】[0013]

【実施例】図1と図3に、可変アンプ13の内部構成の
実施概要を示す。ここで、使用する交流増幅器のバッフ
ァアンプ11、可変コンダクタンスアンプ13c、出力
アンプ13eは使用する上限周波数より十分高い、例え
ば数十倍以上の遮断周波数特性の素子を使う。また、レ
ンジ切替えリレ−には、例えばリ−ドリレ−や、半導体
アナログスイッチ等を使う。
1 and 3 show an outline of the internal configuration of a variable amplifier 13. FIG. Here, the buffer amplifier 11, the variable conductance amplifier 13c, and the output amplifier 13e of the AC amplifier to be used use elements having cutoff frequency characteristics sufficiently higher than the upper limit frequency to be used, for example, several tens times or more. For the range switching relay, for example, a lead relay or a semiconductor analog switch is used.

【0014】可変アンプ13の内部構成は、D/Aコン
バータ13a、定電流変換13b、可変コンダクタンス
アンプ13c、I−V変換抵抗13d、出力アンプ13
eからなり、制御部14からデ−タを任意の値を設定す
ることにより、可変アンプを実現している。ここで可変
コンダクタンスアンプとは、アンプのバイアス電流によ
りgm(伝達係数)が変わるアンプである。
The internal configuration of the variable amplifier 13 includes a D / A converter 13a, a constant current converter 13b, a variable conductance amplifier 13c, an IV conversion resistor 13d, an output amplifier 13
The variable amplifier is realized by setting an arbitrary value for data from the control unit 14. Here, the variable conductance amplifier is an amplifier whose gm (transfer coefficient) changes depending on the bias current of the amplifier.

【0015】図5のフロ−チャ−トにより校正時の手順
を説明すると、レンジは、始めにいずれかのレンジに切
替えておく。アッテネ−タのCR時定数による周波数よ
り、十分低い周波数(校正精度に影響しない程度に)の
基準電圧を入力して、交流電圧測定部12で読み取る。
The procedure at the time of calibration will be described with reference to the flowchart of FIG. 5. The range is first switched to one of the ranges. A reference voltage having a frequency sufficiently lower than the frequency determined by the CR time constant of the attenuator (to such an extent that does not affect the calibration accuracy) is input and read by the AC voltage measuring unit 12.

【0016】次に、アッテネ−タのCR時定数による周
波数より、十分に高い周波数(バッファアンプと、可変
アンプが周波数に依存しない周波数程度)の基準電圧を
入力して、交流電圧測定部12で読み取る。
Next, a reference voltage having a frequency sufficiently higher than the frequency based on the CR time constant of the attenuator (about the frequency at which the buffer amplifier and the variable amplifier do not depend on the frequency) is input. read.

【0017】上記2つの測定電圧の差が目標とする精度
誤差範囲を外れていれば、差分の値から修正値を計算し
て可変アンプ13に設定し再度測定を行う。こうして上
記2つの測定電圧の差が目標とする精度誤差範囲内にな
れば、この設定データを当該レンジの周波数特性補正デ
−タとして、補正値メモリ15に保存する。これら一連
の動作は、制御部14が自動的に処理実行する。
If the difference between the two measured voltages is outside the target accuracy error range, a correction value is calculated from the difference value, set in the variable amplifier 13, and measured again. When the difference between the two measured voltages falls within the target accuracy error range, the set data is stored in the correction value memory 15 as frequency characteristic correction data of the range. The control unit 14 automatically performs a series of these operations.

【0018】同様の動作で、その他のレンジも、校正処
理を行い、補正値メモリ15に保存する。ここで、各レ
ンジの減衰量の値もこの補正値メモリに保存するが、周
波数特性補正とは直接関係ないので、説明を省略する。
With the same operation, the other ranges are also calibrated and stored in the correction value memory 15. Here, the value of the attenuation in each range is also stored in the correction value memory, but the description is omitted because it is not directly related to the frequency characteristic correction.

【0019】[0019]

【考案の効果】以上説明した様に、本考案は、周波数特
性補正する調整機能部分がレンジ切替えリレ−後に接続
されているため、各レンジ毎に独立した調整ができるこ
ととなり、他のレンジの調整に影響を与えない。また、
各レンジ毎に一度調整すれば良く、従来の様な繰り返し
調整しながら所定の精度に追い込む作業がなくなり、調
整時間の短縮ができる。また、所定の設定精度も容易に
実現できる。
As described above, according to the present invention, since the adjustment function for correcting the frequency characteristics is connected after the range switching relay, independent adjustment can be performed for each range, and adjustment of other ranges can be performed. Does not affect Also,
The adjustment only needs to be performed once for each range. This eliminates the task of adjusting to a predetermined accuracy while repeatedly performing the conventional adjustment, and the adjustment time can be reduced. Also, a predetermined setting accuracy can be easily realized.

【0020】[0020]

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本考案のブロック図である。FIG. 1 is a block diagram of the present invention.

【図2】従来のブロック図である。FIG. 2 is a conventional block diagram.

【図3】実施例のブロック図である。FIG. 3 is a block diagram of an embodiment.

【図4】可変アンプの接続形態図である。FIG. 4 is a connection form diagram of a variable amplifier.

【図5】校正手順のフロ−チャ−ト図である。FIG. 5 is a flowchart of a calibration procedure.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

C11 〜C1n 補正コンデンサ R11 〜R1n 分圧抵抗 S11 〜S1n レンジ切替えリレ− 11 バッファアンプ 12 交流電圧測定部 13 可変アンプ 14 制御部 15 補正値メモリ Ra 補正抵抗 13a D/Aコンバータ 13b 定電流変換 13c 可変コンダクタンスアンプ 13d I−V変換抵抗 13e 出力アンプ C11 to C1n Correction capacitor R11 to R1n Voltage dividing resistor S11 to S1n Range switching relay 11 Buffer amplifier 12 AC voltage measurement unit 13 Variable amplifier 14 Control unit 15 Correction value memory Ra Correction resistance 13a D / A converter 13b Constant current conversion 13c Variable Conductance amplifier 13d IV conversion resistor 13e Output amplifier

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) H03G 5/02 G01R 19/00 H03F 1/34 H03H 11/46 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (58) Field surveyed (Int.Cl. 6 , DB name) H03G 5/02 G01R 19/00 H03F 1/34 H03H 11/46

Claims (2)

(57)【実用新案登録請求の範囲】(57) [Scope of request for utility model registration] 【請求項1】 交流電圧入力を減衰する複数の分圧抵抗
と、複数の補正コンデンサと、複数のレンジ切替えリレ
ーよりなるアッテネータと、当該アッテネータの出力信
号が印加されるバッファアンプと、当該バッファアンプ
の出力信号を測定する交流電圧測定部(12)を有する
回路において、 可変アンプ(13)と、補正抵抗(Ra)と、補正値メ
モリ(15)と、制御部(14)から構成していて、バ
ッファアンプ(11)の入力にアッテネータの出力と、
補正抵抗(Ra)の一端が接続され、バッファアンプ
(11)の出力を可変アンプ(13)の入力に接続し、
可変アンプ(13)の出力を補正抵抗(Ra)の他端に
接続し、交流電圧測定部(12)の出力信号に基づいて
レンジ毎の周波数補正データを制御部(14)を経由し
て予め格納した補正値メモリ(15)を制御部(14)
を経由して可変アンプ(13)に接続した、周波数特性
補正手段を具備していることを特徴とするアッテネータ
の周波数特性補正回路。
An attenuator comprising a plurality of voltage dividing resistors for attenuating an AC voltage input, a plurality of correction capacitors, a plurality of range switching relays, and an output signal of the attenuator.
Buffer amplifier to which a signal is applied, and the buffer amplifier
AC voltage measuring unit (12) for measuring the output signal of
The circuit includes a variable amplifier (13), a correction resistor (Ra), a correction value memory (15), and a control unit (14). The input of the buffer amplifier (11) has an output of an attenuator.
One end of the correction resistor (Ra) is connected, the output of the buffer amplifier (11) is connected to the input of the variable amplifier (13),
The output of the variable amplifier (13) is connected to the other end of the correction resistor (Ra), and based on the output signal of the AC voltage measurement unit (12)
The frequency correction data for each range is transmitted via the control unit (14).
The correction value memory (15) stored in advance by the control unit (14)
A frequency characteristic correction circuit for an attenuator, comprising frequency characteristic correction means connected to the variable amplifier (13) via the circuit.
【請求項2】 上記請求項1で、当該可変アンプの内部
構成として、交流電圧測定部(12)の出力信号に基づいてレンジ毎
の周波数補正データを予め格納した 補正値メモリ(1
5)から読み出した補正データをアナログ信号に変換す
D/Aコンバータ(13a)と、当該D/Aコンバータ(13a)の出力信号により伝達
係数が変化する 可変コンダクタンスアンプ(13c)
と、 を具備することを特徴とするアッテネータの周波数特性
補正回路。
2. The variable amplifier according to claim 1, wherein the variable amplifier has an internal configuration for each range based on an output signal of the AC voltage measurement unit.
Correction value memory (1 ) in which the frequency correction data of
Convert the correction data read from 5) to an analog signal
Transmitting a D / A converter (13a), the output signal of the D / A converter (13a) that
Variable conductance amplifier with variable coefficient (13c)
A frequency characteristic correction circuit for an attenuator, comprising:
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