JP2576504B2 - Optical information processing device - Google Patents

Optical information processing device

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JP2576504B2
JP2576504B2 JP62123387A JP12338787A JP2576504B2 JP 2576504 B2 JP2576504 B2 JP 2576504B2 JP 62123387 A JP62123387 A JP 62123387A JP 12338787 A JP12338787 A JP 12338787A JP 2576504 B2 JP2576504 B2 JP 2576504B2
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【発明の詳細な説明】 A 産業上の利用分野 本発明は光情報処理装置に関し、特に記録媒体の走行
方向を横切るように光スポットを走査することにより光
記録媒体上に光情報を記録し、又は再生し得るようにし
たものに適用して好適なものである。
The present invention relates to an optical information processing apparatus, and in particular, records optical information on an optical recording medium by scanning a light spot across a running direction of the recording medium, Alternatively, it is suitable for application to one that can be reproduced.

B 発明の概要 本発明は、偏向入射ビームを偏向素子によつて回折し
て0次光ビーム及び1次光ビームに分割した後偏光ビー
ムスプリツタによつて光強度検出用マルチ光ビームを得
るようにしたことにより、簡易な構成でかつ光エネルギ
ーの利用効率が一段と高い複数の光源素子のAPC(autom
atic power control)制御を実現し得る。
B. Summary of the Invention The present invention is directed to obtaining a multi-beam for light intensity detection by a polarizing beam splitter after diffracting a deflected incident beam by a deflecting element into a zero-order light beam and a first-order light beam. APC (automated power management) of multiple light source elements with a simpler configuration and higher light energy utilization efficiency
atic power control) control.

C 従来の技術 従来光情報処理装置として、第4図に示すように、例
えばテープ状の光記録媒体1上に、その走行方向aを横
切る走査方向bの方向に例えばレーザ光束によつて形成
された書込み用又は読取り用の光スポツト2を走査させ
ることにより、記録トラツクTRに光情報を書き込み又は
読み取るようにしたものが考えられている。
C Prior Art As shown in FIG. 4, a conventional optical information processing apparatus is formed on a tape-shaped optical recording medium 1 by a laser beam in a scanning direction b across a running direction a. An optical information writing / reading device for a recording track TR by scanning a writing or reading optical spot 2 has been proposed.

ここで光スポツト2の直径は、例えば1〔μm〕程度
にまで収束させることができる(例えば波長780〔nm〕
のレーザ光を用いた場合)。従つて多数の記録トラツク
TRを例えばガードバンドGBを挟んで形成すると共に、各
記録トラツクTRから光記録情報を再生することができれ
ば、一段と高密度に光情報を記録再生することができ
る。
Here, the diameter of the optical spot 2 can be converged to, for example, about 1 [μm] (for example, a wavelength of 780 [nm]).
When using the laser light of the above). Therefore a large number of recording tracks
If, for example, the TR is formed so as to sandwich the guard band GB and the optically recorded information can be reproduced from each recording track TR, the optical information can be recorded and reproduced at a higher density.

特に光記録媒体1上の記録トラツクTRに光情報を記録
し又は再生する際に、第5図に示すように複数例えば4
つの光スポツト2A〜2Dを所定の間隔を保つように走査方
向bの方向に走査させるようにできれば、光記録媒体1
へ記録又は再生する際の光情報処理速度を一段と大きく
し得る。
In particular, when recording or reproducing optical information on the recording track TR on the optical recording medium 1, as shown in FIG.
If the two optical spots 2A to 2D can be scanned in the scanning direction b so as to keep a predetermined interval, the optical recording medium 1
The optical information processing speed at the time of recording or reproducing data to or from the optical disk can be further increased.

D 発明が解決しようとする問題点 ところで実際上第4図の走査用の光スポツト2を得る
構成として第6図に示すように、レーザダイオード3か
ら前方に射出される主レーザ光LA1を音響光学偏向素子
(AOD)(図示せず)によつて偏向し得るようにした光
源4を用いる。
D Problems to be Solved by the Invention By the way, as shown in FIG. 6, the main laser beam LA1 emitted forward from the laser diode 3 is actually acousto-optically configured to obtain the scanning light spot 2 shown in FIG. A light source 4 that can be deflected by a deflection element (AOD) (not shown) is used.

しかしレーザダイオード3は、温度特性、発光特性、
入力電流特性等のばらつきがあり、これを補償して主レ
ーザ光LA1の光強度が所定の大きさになるように、いわ
ゆる自動出力制御(APC制御)をするため、レーザダイ
オード3から後方に射出される副レーザ光LA2を基板5
上に設けられたモニタ用ホトダイオード6に照射し、そ
の光強度検出信号S1を自動出力制御回路(APC回路)7
に与えることにより、レーザダイオード3に印加する駆
動電圧S2を所定の電圧に制御する。
However, the laser diode 3 has temperature characteristics, emission characteristics,
There is a variation in input current characteristics, etc., and so-called automatic output control (APC control) is performed so that the light intensity of the main laser beam LA1 becomes a predetermined value by compensating for this. The sub laser beam LA2 to be
An automatic output control circuit (APC circuit) 7 irradiates the monitor photodiode 6 provided above and emits the light intensity detection signal S1.
The driving voltage S2 applied to the laser diode 3 is controlled to a predetermined voltage.

第6図のように構成すれば、主レーザ光LA1の光強度
は、副レーザLA2を介してホトダイオード6によつて検
出され、その光強度検出信号S1によつてAPC回路7がレ
ーザダイオード3の駆動電圧S2を変更制御することによ
り、主レーザ光LA1の光強度を常に所定の基準値に制御
し得る。
6, the light intensity of the main laser light LA1 is detected by the photodiode 6 via the sub-laser LA2, and the APC circuit 7 detects the light intensity of the laser diode 3 by the light intensity detection signal S1. By changing and controlling the drive voltage S2, the light intensity of the main laser beam LA1 can always be controlled to a predetermined reference value.

これに対して第5図について上述したように、複数の
光スポツト2A〜2Dを一斉に走査させる場合の光源4Aとし
ては、第7図に示すように、光スポツト2A、2B、2C、2D
を得るための主レーザ光LA1A、LA1B、LA1C、LA1Dを、対
応するレーザダイオード3A、3B、3C、3Dから射出させる
ようにする。
On the other hand, as described above with reference to FIG. 5, as shown in FIG. 7, the light spots 2A, 2B, 2C, and 2D are used as the light source 4A for simultaneously scanning the plurality of light spots 2A to 2D.
The main laser beams LA1A, LA1B, LA1C, LA1D for obtaining the laser beam are emitted from the corresponding laser diodes 3A, 3B, 3C, 3D.

ここでレーザダイオード3A、3B、3C、3Dは互いに重積
するように所定の間隔を保つて配列され、副レーザ光LA
2A、LA2B、LA2C、LA2Dを基板5A上にレーザダイオード3
A、3B、3C、3Dに対向するように設けられたホトダイオ
ード6A、6B、6C、6Dに照射する。
Here, the laser diodes 3A, 3B, 3C, and 3D are arranged at predetermined intervals so as to overlap each other, and the sub-laser light LA
2A, LA2B, LA2C, LA2D on the substrate 5A with laser diode 3
Irradiate the photodiodes 6A, 6B, 6C, 6D provided to face A, 3B, 3C, 3D.

かかる構成の光源4Aを用い、しかも各レーザダイオー
ド3A、3B、3C、3Dを対応するホトダイオード6A、6B、6
C、6Dから得られる光強度検出信号S1A、S1B、S1C、S1D
に基づいてそれぞれ独立してAPC制御するようにAPC回路
(図示せず)を設ければ、主レーザ光LA1A、LA1B、LA1
C、LAIDの光強度をそれぞれ特性のばらつきに適用する
ように補償して所定の値に制御することができる。
The light source 4A having such a configuration is used, and the laser diodes 3A, 3B, 3C, and 3D correspond to the corresponding photodiodes 6A, 6B, and 6D.
Light intensity detection signals S1A, S1B, S1C, S1D obtained from C and 6D
If the APC circuit (not shown) is provided so as to independently control the APC based on the laser beam, the main laser beams LA1A, LA1B, LA1
The light intensity of C and LAID can be controlled to a predetermined value by compensating so as to be applied to the variation in characteristics.

ところが複数の光スポツトを得るために第7図のよう
な構成を用いると、隣合うレーザダイオードから発生さ
れる副レーザ光が互いに重なり合うように重複しながら
ホトダイオード6A、6B、6C、6Dに入射し、かくして各ホ
トダイオード6A、6B、6C、6Dの光強度検出信号に対して
隣接するレーザダイオードから射出された副レーザ光の
光強度情報がクロストークすることを避け得ない。
However, if a configuration as shown in FIG. 7 is used to obtain a plurality of light spots, the sub-laser light beams emitted from adjacent laser diodes enter the photodiodes 6A, 6B, 6C and 6D while overlapping so as to overlap each other. Thus, it is unavoidable that the light intensity information of the sub-laser light emitted from the adjacent laser diode cross-talks with the light intensity detection signals of the photodiodes 6A, 6B, 6C, 6D.

因にレーザダイオード3A、3B、3C、3Dから射出される
副レーザ光LA2A、LA2B、LA2C、LA2Dは実際上かなり大き
な拡がり角をもつており、従つて隣接するレーザダイオ
ードから射出された副レーザ光の照射範囲が基板5Aの位
置で隣合うホトダイオードを照射する程度に拡がること
を避け得ない。
Incidentally, the sub-laser beams LA2A, LA2B, LA2C, LA2D emitted from the laser diodes 3A, 3B, 3C, 3D actually have a considerably large divergence angle, and accordingly, the sub-laser beams emitted from the adjacent laser diodes. Cannot be avoided to such an extent that the irradiation range of the above-mentioned area irradiates the adjacent photodiode at the position of the substrate 5A.

本発明は以上の点を考慮してなされたもので、クロス
トークが生じるおそれを有効に回避しながら簡易な構成
によつて光強度検出信号を得ることができるようにした
光情報処理装置を提案しようとするものである。
The present invention has been made in view of the above points, and proposes an optical information processing apparatus capable of obtaining a light intensity detection signal with a simple configuration while effectively avoiding the possibility of occurrence of crosstalk. What you want to do.

E 問題点を解決するための手段 かかる問題点を解決するため本発明においては、複数
の光源素子13A〜13Dと、この複数の光源素子13A〜13Dか
ら射出された複数の光ビームLA11に基づいて得られる偏
向入射ビームLA12を回折することにより0次光ビームLA
13及び1次光ビームLA14でなる回折光ビームLA15を形成
すると共に、上記1次光ビームの偏光方向をほぼ90度回
転させ、さらに1次光ビームLA14を走査方向に偏向させ
る偏向素子16と、回折光ビームLA15を0次光ビームLA13
及び1次光ビームLA14に分割してそれぞれ光強度検出用
マルチ光ビームLA18及び走査用マルチ光ビームLA16とし
て射出する偏光ビームスプリツタ17と、光強度検出用マ
ルチ光ビームLA18に基づいて複数の光源素子13A〜13Dの
光強度をそれぞれ所定値に制御するための複数の光強度
検出信号S11A〜S11Dを送出する光検出器19とを具え、走
査用マルチ光ビームLA16によつて光記録媒体を走査する
ようにする。
E Means for Solving the Problems In order to solve such problems, in the present invention, based on a plurality of light source elements 13A to 13D and a plurality of light beams LA11 emitted from the plurality of light source elements 13A to 13D. The zero-order light beam LA is obtained by diffracting the obtained deflected incident beam LA12.
A deflecting element 16 for forming a diffracted light beam LA15 composed of the primary light beam LA14 and the primary light beam LA14, rotating the polarization direction of the primary light beam substantially 90 degrees, and further deflecting the primary light beam LA14 in the scanning direction; The diffracted light beam LA15 is converted to the zero-order light beam LA13.
And a plurality of light sources based on the multi-light beam LA18 for light intensity detection, and a polarization beam splitter 17 for splitting into a multi-light beam LA18 for light intensity detection and a multi-light beam LA16 for scanning, respectively. A plurality of light intensity detection signals S11A to S11D for controlling the light intensities of the elements 13A to 13D to predetermined values, respectively, and the optical recording medium is scanned by a scanning multi-light beam LA16. To do it.

F 作用 偏向素子16が偏向入射ビームLA12を回折することによ
り、0次光ビームLA13及び1次光ビームLA14を形成して
偏光ビームスプリツタ17において分割するようにしたこ
とにより、0次光ビームを有効に利用して1次光ビーム
に基づいて得られる走査マルチ光ビームの光強度に対応
する複数の光強度検出信号を容易に得ることができる。
F action The deflecting element 16 diffracts the deflected incident beam LA12 to form the zero-order light beam LA13 and the primary light beam LA14, and splits the same at the polarizing beam splitter 17, thereby converting the zero-order light beam. A plurality of light intensity detection signals corresponding to the light intensity of the scanning multi-light beam obtained based on the primary light beam can be easily obtained by effectively using the light beam.

かくするにつき、走査用マルチ光ビームLA16を形成す
る光学系を利用した簡易な構成によつて、0次光ビーム
は走査用光ビームとしては利用し得ないのに対してこれ
を光強度検出用に有効に利用し得ることにより、光エネ
ルギーの利用効率を一段と高めることができる。
In this case, the zero-order light beam cannot be used as a scanning light beam, but is used as a light intensity detection light beam by a simple configuration using an optical system for forming a scanning multi-light beam LA16. In this case, the light energy can be used more effectively, so that the light energy use efficiency can be further enhanced.

G 実施例 以下図面について、本発明の一実施例を詳述する。G Example Hereinafter, an example of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.

第1図及び第2図において、11はマルチビーム光源
で、第3図に示すように、基板12のX−Y平面上にY軸
方向に所定の間隔を保つて光源素子として複数例えば4
つのレーザダイオード13A、13B、13C、13Dでなるレーザ
ダイオードアレイ14が設けられている。
1 and 2, reference numeral 11 denotes a multi-beam light source. As shown in FIG. 3, a plurality of light source elements such as four light source elements are arranged on the XY plane of the substrate 12 at predetermined intervals in the Y-axis direction.
A laser diode array 14 including one laser diode 13A, 13B, 13C, and 13D is provided.

レーザダイオード13A〜13Dの射出光束はX軸の方向に
直線偏光されたレーザ光束でなり、これら4本の直線偏
光光束でなるレーザビームLA11が補正用光学系15を通じ
て偏向入射ビームLA12として偏向素子16に入射される。
The luminous flux emitted from the laser diodes 13A to 13D is a laser luminous flux linearly polarized in the X-axis direction. Is incident on.

ここで補正用光学系15は、レーザビームLA11の各レー
ザ光束を平行光束に変換するコリメータレンズ系と、当
該平行光束をX方向に長軸を有する断面楕円形状の光ビ
ームに整形するエキスパンダとで構成され、この楕円形
状の光ビームを偏向入射ビームLA12として射出する。
Here, the correction optical system 15 includes a collimator lens system that converts each laser light beam of the laser beam LA11 into a parallel light beam, and an expander that shapes the parallel light beam into a light beam having an elliptical cross-section having a long axis in the X direction. And emits this elliptical light beam as a deflected incident beam LA12.

偏向素子16は異方性ブラツグ回折音響光学偏向素子16
Aを有し、トランスジユーサ16Bに供給された電気的駆動
信号によつて異方性ブラツグ回折音響光学偏向素子16A
の内部に吸収部材16Cに向かう方向すなわち走査方向d
の方向に進行する格子状振動パターンを形成する。
The deflection element 16 is an anisotropic Bragg diffraction acousto-optic deflection element 16
A, and an anisotropic Bragg diffraction acousto-optic deflecting element 16A provided by an electric drive signal supplied to a transducer 16B.
In the direction toward the absorbing member 16C, that is, the scanning direction d.
Is formed in a lattice-like vibration pattern that travels in the direction of.

かくして偏向素子16に入射した偏向入射ビームLA12は
偏向素子16によつて回折され、偏向素子16をそのまま通
過した0次光ビームLA13と、偏向された1次光ビームLA
14とでなる回折光ビームLA15が偏向ビームスプリツタ17
に入射される。
Thus, the deflected incident beam LA12 that has entered the deflecting element 16 is diffracted by the deflecting element 16, and the zero-order light beam LA13 that passes through the deflecting element 16 as it is and the deflected primary light beam LA12
The diffracted light beam LA15 consisting of 14 is deflected by the beam splitter 17
Is incident on.

ところで、偏向素子16のこのような回折作用によつて
1次光ビームLA14の偏向面は0次光ビームLA13の偏光面
に対して90°回転し、かくして偏光ビームスプリツタ17
は、回折光ビームLA15のうち偏光面が回転した1次光ビ
ームLA14をそのまま通過させて走査用マルチ光ビームLA
16として射出すると共に、0次光ビームLA13を反射させ
て反射光ビームLA17として補正用光学系18に入射する。
By the way, the deflecting surface of the first-order light beam LA14 is rotated by 90 ° with respect to the polarization plane of the zero-order light beam LA13 due to such a diffractive action of the deflecting element 16, and thus the polarizing beam splitter 17 is rotated.
Is a multi-beam scanning laser beam LA15 which allows the primary light beam LA14 of which the polarization plane has been rotated out of the diffracted light beam LA15 to pass through as it is.
At the same time, the light exits as 16 and reflects the zero-order light beam LA13 to enter the correction optical system 18 as a reflected light beam LA17.

かくして補正用光学系18を介して光強度検出用マルチ
光ビームLA18が光検出器19に入射される。
Thus, the multi-light beam LA18 for light intensity detection is incident on the photodetector 19 via the correction optical system 18.

ここで補正用光学系18は、上述の補正用光学系15とは
逆の補正作用をするように構成され、これにより楕円形
状の反射光ビームLA17を円形平行光束に戻した後光検出
器19上に集光させる。
Here, the correcting optical system 18 is configured to perform a correcting action opposite to that of the above-described correcting optical system 15, thereby returning the elliptical reflected light beam LA17 to a circular parallel light beam, and then the photodetector 19. Focus on top.

光検出器19はレーザダイオード13A、13B、13C、13Dに
対応するホトダイオード構成の光検出素子20A、20B、20
C、20Dでなる光検出素子アレイ22を配列してなり、各光
検出素子20A、20B、20C、20Dから送出される光強度検出
信号S11A、S11B、S11C、S11Dをレーザダイオード13A、1
3B、13C、13Dに対する自動出力制御回路(図示せず)に
供給するようになされている。
The photodetector 19 has photodetectors 20A, 20B, 20 of a photodiode configuration corresponding to the laser diodes 13A, 13B, 13C, 13D.
C, 20D arranged light detection element array 22, the light intensity detection signals S11A, S11B, S11C, S11D sent from each light detection element 20A, 20B, 20C, 20D laser diode 13A, 1
An automatic output control circuit (not shown) for 3B, 13C, and 13D is supplied.

以上の構成において、マルチビーム光源11から射出さ
れた光ビームLA11は、偏向素子16において、走査用マル
チ光ビームLA16と同じ偏光面を有する1次光ビームLA14
と、光強度検出用マルチ光ビームLA18と同じ偏光面を有
する0次光ビームLA13とに分離され、1次光ビームLA14
は偏向素子16の内部に形成される格子状振動波パターン
が走査方向dに進行するとこれに応じて当該走査方向d
の方向に移動して行き、かくして走査用マルチ光ビーム
LA16が走査方向eの方向に走査して行く。
In the above configuration, the light beam LA11 emitted from the multi-beam light source 11 is converted by the deflecting element 16 into a primary light beam LA14 having the same polarization plane as the scanning multi-light beam LA16.
And a zero-order light beam LA13 having the same polarization plane as the light intensity detection multi-light beam LA18.
When the lattice vibration wave pattern formed inside the deflecting element 16 advances in the scanning direction d,
In the direction of, thus scanning multiple light beams
LA16 scans in the scanning direction e.

ここで1次光ビームLA14を構成する4本の光ビームが
偏向素子16から受ける偏向量は、互いにほぼ等しいか
ら、結局走査用マルチ光ビームLA16を構成する4本の光
ビームは互いに所定の間隔を維持しながら第2図におい
て矢印eで示す方向に走査して行く。
Here, since the four light beams constituting the primary light beam LA14 receive substantially the same amount of deflection from the deflecting element 16, the four light beams constituting the scanning multi-light beam LA16 eventually have a predetermined distance from each other. While scanning in the direction indicated by arrow e in FIG.

これに対して偏向素子16から射出される0次光ビーム
LA13は、1次光ビームLA14に対して偏光面が90°回転し
ていることにより、偏光ビームスプリツタ17によつて1
次光ビームLA14とは確実に分割される。
On the other hand, the zero-order light beam emitted from the deflection element 16
LA13 is rotated by 90 ° with respect to the primary light beam LA14, so that the polarization beam splitter 17 causes the polarization beam splitter 17.
It is surely split from the next light beam LA14.

因にレーザダイオード13A〜13Dから射出された光ビー
ムは、第1図において記号F1で示すように、紙面に対し
て垂直な方向(X方向)の偏光面をもつており、従つて
補正用光学系15から射出される偏向入射ビームLA12も記
号F2で示すように同じ方向の偏光面をもつている。この
偏向入射ビームLA12に対して偏向素子16から射出される
0次光ビームLA13は記号F3で示すように偏向素子16にお
いては回転されず、従つて紙面に垂直な方向の偏向面を
もつている。これに対して偏向素子16において偏向され
る1次光ビームLA14は、記号F4で示すように、紙面に沿
う方向(Y方向)に90°だけ回転された偏光面をもつて
いる。
Incidentally, the light beams emitted from the laser diodes 13A to 13D have a polarization plane in a direction (X direction) perpendicular to the paper surface as shown by a symbol F1 in FIG. The deflected incident beam LA12 emitted from the system 15 also has a plane of polarization in the same direction as indicated by the symbol F2. The zero-order light beam LA13 emitted from the deflecting element 16 with respect to the deflected incident beam LA12 is not rotated in the deflecting element 16 as indicated by the symbol F3, and thus has a deflecting surface in a direction perpendicular to the paper surface. . On the other hand, the primary light beam LA14 deflected by the deflecting element 16 has a polarization plane rotated by 90 ° in a direction (Y direction) along the plane of the paper, as indicated by a symbol F4.

かくしてY軸方向の偏光面をもつ1次光ビームLA14だ
けが偏光ビームスプリツタ17を透過して記号F5で示すよ
うに紙面に沿う方向の偏光面を有する走査用マルチ光ビ
ームLA16として送出される。
Thus, only the primary light beam LA14 having a plane of polarization in the Y-axis direction passes through the polarizing beam splitter 17 and is transmitted as a scanning multi-beam LA16 having a plane of polarization along the plane of the paper as indicated by the symbol F5. .

これに対して第1図において紙面と垂直な偏光面を有
する0次光ビームLA13は偏光ビームスプリツタ17におい
て反射され、従つて記号F6で示すように紙面と垂直な反
射光LA17が得られ、これが記号F7で示すように紙面と垂
直な偏光面を有する光強度検出用マルチ光ビームLA18と
して光検出器19に送出される。
On the other hand, in FIG. 1, the zero-order light beam LA13 having a plane of polarization perpendicular to the plane of the paper is reflected by the polarizing beam splitter 17, and as a result, reflected light LA17 perpendicular to the plane of the paper is obtained as indicated by the symbol F6. This is transmitted to the photodetector 19 as a light intensity detecting multi-light beam LA18 having a polarization plane perpendicular to the paper surface as indicated by a symbol F7.

このようにすれば、偏向素子16の回折作用によつて偏
向される1次光ビームLA14の偏光面に対して0次光ビー
ムLA13の偏光面が90°回転していることを利用して、光
検出器19に光強度検出用マルチ光ビームLA18を得ること
ができる。かくするにつき、この光強度検出用マルチ光
ビームLA18は、走査用マルチ光ビームLA16の光強度と対
応する光強度を有することにより、光強度検出信号S11A
〜S11DによつてAPC制御されるレーザダイオード13A〜13
Dから射出される光ビームLA11の光強度従つて走査用マ
ルチ光ビームLA16の光強度は、所定の一定値に維持され
る。
With this configuration, the fact that the polarization plane of the zero-order light beam LA13 is rotated by 90 ° with respect to the polarization plane of the first-order light beam LA14 deflected by the diffraction action of the deflection element 16 is used. The light detector 19 can obtain a multi-light beam LA18 for light intensity detection. Thus, the light intensity detection multi-light beam LA18 has a light intensity corresponding to the light intensity of the scanning multi-light beam LA16, so that the light intensity detection signal S11A
Laser diodes 13A to 13 APC controlled by S11D
The light intensity of the light beam LA11 emitted from D and the light intensity of the scanning multi-light beam LA16 are maintained at a predetermined constant value.

以上の構成によれば、偏向素子16の射出側に偏光ビー
ムスプリツタ17を設けて光強度検出用マルチ光ビームLA
18を取り出すような簡易な構成を設けるだけで、互いに
クロストークが生じるおそれがなく光検出素子20A〜20D
から4つの光強度検出信号S11A〜S11Dを得ることができ
る。
According to the above configuration, the polarization beam splitter 17 is provided on the emission side of the deflection element 16 so that the multi-beam
By simply providing a simple configuration for taking out 18, there is no possibility that crosstalk will occur between the photodetectors 20A to 20D.
, Four light intensity detection signals S11A to S11D can be obtained.

因に偏向素子16を通過する0次光ビームLA13は、偏向
素子16の回折作用によつて偏向されることはなくそのま
ま直進するので、本来走査用光ビームとしては利用し得
ないものであり、通常吸収材に無駄に吸収する方法が採
用されている。
The zero-order light beam LA13 passing through the deflecting element 16 travels straight without being deflected by the diffractive action of the deflecting element 16, and cannot be used as a scanning light beam. Usually, a method of wastefully absorbing into an absorbing material is adopted.

これに対して上述の実施例のように構成すれば、当該
無駄だと考えられていた0次光ビームLA13を有効に利用
して、各光ビームの光強度検出信号S11A〜S11Dを得るこ
とができる。かくして全体としてマルチビーム光源11か
ら射出される光ビームの光エネルギーを有効に利用しな
がらクロストークのない光強度検出信号S11A〜S11Dを得
ることができる。
On the other hand, according to the configuration of the above-described embodiment, it is possible to obtain the light intensity detection signals S11A to S11D of the respective light beams by effectively using the 0th-order light beam LA13 considered to be wasteful. it can. Thus, the light intensity detection signals S11A to S11D without crosstalk can be obtained while effectively using the light energy of the light beam emitted from the multi-beam light source 11 as a whole.

なお上述の実施例においては偏向素子16として音響光
学偏向素子を用いた実施例について述べたが、これに限
らず強度変調型(AOM)セルや、ドツプラーセル等他の
構成のセルを用いても上述の場合と同様の効果を得るこ
とができる。
In the above-described embodiment, the embodiment using the acousto-optic deflecting element as the deflecting element 16 has been described. However, the present invention is not limited to this. The same effect as in the case of can be obtained.

また上述の実施例においては偏向素子16として透過型
偏向素子を用いた実施例について述べたが、これに代え
反射型偏向素子を用いても良い。
Further, in the above embodiment, the embodiment using the transmission type deflection element as the deflection element 16 has been described. However, a reflection type deflection element may be used instead.

また上述においては、偏光ビームスプリツタ17とし
て、1次光ビームLA14を通過させるような向きに設定し
たが、これに代え、1次光ビームLA14を反射させるよう
な向きに設定しても上述の場合と同様の効果を得ること
ができる。
In the above description, the polarization beam splitter 17 is set so as to allow the primary light beam LA14 to pass therethrough. Alternatively, the polarization beam splitter 17 may be set so as to reflect the primary light beam LA14. The same effect as in the case can be obtained.

H 発明の効果 上述のように本発明によれば、マルチビーム光源を構
成する各光源素子から得られる光強度情報を、クロスト
ークが生じるおそれを有効に回避しながら検出し得るこ
とにより、走査用マルチ光ビームの各光源素子を確実に
APC制御することができ、かくするにつきマルチビーム
光源から発生される光エネルギーの利用効率を一段と向
上し得る光情報処理装置を容易に実現し得る。
H As described above, according to the present invention, light intensity information obtained from each light source element constituting a multi-beam light source can be detected while effectively avoiding the possibility of crosstalk, thereby enabling scanning. Ensure each light source element of multi light beam
It is possible to easily realize an optical information processing device that can perform APC control and can further improve the use efficiency of light energy generated from a multi-beam light source.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

第1図及び第2図は本発明による光情報処理装置の一実
施例を示す略線的平面図及び側面図、第3図はそのマル
チビーム光源の構成を示す斜視図、第4図及び第5図は
光記録媒体上の光スポツトの走査の説明に供する略線
図、第6図は1つのレーザダイオードに対するAPC制御
の説明に供する略線的接続図、第7図はマルチ光ビーム
を発生する光源の問題点の説明に供する略線的側面図で
ある。 11……マルチビーム光源、12……基板、13A〜13D……レ
ーザダイオード、15、18……補正用光学系、16……偏向
素子、17……偏光ビームスプリツタ、19……光検出器、
20A〜20D……光検出素子。
1 and 2 are a schematic plan view and a side view showing one embodiment of an optical information processing apparatus according to the present invention, FIG. 3 is a perspective view showing the configuration of the multi-beam light source, and FIGS. 5 is a schematic diagram illustrating the scanning of the optical spot on the optical recording medium, FIG. 6 is a schematic connection diagram illustrating the APC control for one laser diode, and FIG. 7 generates a multi-beam. FIG. 4 is a schematic side view for explaining a problem of a light source to be used. 11: Multi-beam light source, 12: Substrate, 13A to 13D: Laser diode, 15, 18: Correction optical system, 16: Deflection element, 17: Polarized beam splitter, 19: Photodetector ,
20A to 20D: Photodetector.

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】複数の光源素子と、 上記複数の光源素子から射出された複数の光ビームに基
づいて得られる偏向入射ビームを回折することにより0
次光ビーム及び一次光ビームでなる回折光ビームを形成
すると共に、上記1次光ビームの偏光方向をほぼ90度回
転させ、さらに上記1次光ビームを走査方向に偏向させ
る偏向素子と、 上記回折光ビームを0次光ビーム及び1次光ビームに分
割してそれぞれ光強度検出用マルチ光ビーム及び走査用
マルチ光ビームとして射出する偏光ビームスプリツタ
と、 上記光強度検出用マルチ光ビームに基づいて上記複数の
光源素子の光強度をそれぞれ所定値に制御するための複
数の光強度検出信号を送出する光検出器と を具え、上記走査用マルチ光ビームによつて光記録媒体
を走査することを特徴とする光情報処理装置。
1. A light source device comprising: a plurality of light source elements; and a plurality of light beams emitted from the plurality of light source elements.
A deflecting element for forming a diffracted light beam comprising a primary light beam and a primary light beam, rotating the polarization direction of the primary light beam by approximately 90 degrees, and further deflecting the primary light beam in a scanning direction; A polarizing beam splitter that splits the light beam into a zero-order light beam and a primary light beam and emits them as a multi-light beam for detecting light intensity and a multi-light beam for scanning, respectively, based on the multi-light beam for detecting light intensity. A light detector for transmitting a plurality of light intensity detection signals for controlling the light intensities of the plurality of light source elements to predetermined values, respectively, and scanning the optical recording medium with the scanning multiple light beams. Optical information processing device characterized by the following.
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