JP2548705B2 - Imaging device - Google Patents
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Description
【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は測光機能を有する撮像装置に係り、特に測光
情報を短時間で形成し高速撮影を可能にすることを企図
した撮像装置に関する。Description: BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an imaging device having a photometric function, and more particularly to an imaging device intended to form photometric information in a short time and enable high-speed photography.
[従来技術] 測光機能を有する撮像装置としては、次に示すような
非破壊読出し可能な撮像素子を用いたものが提案されて
いる。[Prior Art] As an image pickup device having a photometric function, a device using a nondestructive readable image pickup device as shown below has been proposed.
第5図(A)は、AGC回路によって出力ゲインの調整
を行う撮像装置の概略的ブロック図、第5図(B)は、
その概略的動作フローを示すフローチャートである。FIG. 5 (A) is a schematic block diagram of an image pickup apparatus for adjusting the output gain by the AGC circuit, and FIG. 5 (B) is
It is a flowchart which shows the schematic operation flow.
両図において、先ずAEセンサ508によって明るさを検
知し(#501)、露出制御手段509によって撮像素子510
への入射光量を決定する(#502)。この露出で撮像を
行い(#503)、続いて撮像素子510から1フィールド分
の画像信号を非破壊で読出し(#504)、初期値に設定
されたAGC回路511を経て積分回路512によって積分され
測光情報が形成される(#505)。この測光情報に基い
て演算回路513がAGC制御量を決定し(#506)、決定さ
れたゲインによって画像信号の再読出しを行う(#50
7)。In both figures, first, the brightness is detected by the AE sensor 508 (# 501), and the image sensor 510 is detected by the exposure control means 509.
The amount of light incident on is determined (# 502). Imaging is performed with this exposure (# 503), then the image signal for one field is read out nondestructively from the image sensor 510 (# 504), and integrated by the integrating circuit 512 via the AGC circuit 511 set to the initial value. Photometric information is formed (# 505). The arithmetic circuit 513 determines the AGC control amount based on this photometric information (# 506), and the image signal is read out again according to the determined gain (# 50).
7).
このような構成によって、ダイナミックレンジの広い
撮像素子510であっても、常に適切な動作点で信号処理
を行うことができ、S/Nが良好で歪の少ない画像信号を
得ることができる。With such a configuration, even with the image pickup device 510 having a wide dynamic range, signal processing can always be performed at an appropriate operating point, and an image signal with good S / N and less distortion can be obtained.
[発明が解決しようとする問題点] しかしながら、上記従来の撮像装置は、測光情報を形
成する際に、画像信号を得るための再読出し時と同様
に、1フィールド分の画像信号の読出し動作を行ってい
る。このために、測光時の読出し動作を再読出し時より
速く行ったとしても、高速化には限界があった。[Problems to be Solved by the Invention] However, the above-described conventional image pickup apparatus performs the read operation of the image signal for one field when forming the photometric information, similarly to the rereading for obtaining the image signal. Is going. For this reason, even if the reading operation during photometry is performed faster than during rereading, there is a limit to the speedup.
[問題点を解決するための手段] 本発明による撮像装置は、 複数のセンサ信号を各々非破壊読み出し可能な蓄積手
段に一旦蓄積した後で読み出す撮像装置において、 前記蓄積手段に蓄積されたセンサ信号を一括加算する
加算手段と各センサ毎に時系列的に読み出す画像信号読
み出し手段とを備え、 前記加算手段の加算出力に基いて測光情報を算出する
演算手段と、 前記演算手段の出力に応じて前記画像信号読み出し手
段の出力を信号処理する信号処理手段と、 を設けたことを特徴とする。[Means for Solving the Problems] An image pickup apparatus according to the present invention is an image pickup apparatus in which a plurality of sensor signals are temporarily stored in nondestructive readable storage means and then read out. And an image signal read-out unit for reading each sensor in time series, and an arithmetic unit that calculates photometric information based on an addition output of the addition unit, and an output unit of the arithmetic unit. Signal processing means for processing the output of the image signal reading means.
[作用] このように複数のセンサ信号(たとえば1水平ライン
の信号)を一括加算して読出し測光情報を算出するため
に、従来のように画素ごと読出し動作および演算処理が
必要ではなく、測光に要する時間が短縮され、全体とし
て高速撮影が可能となる。また同一センサ信号を一括加
算して読出し、その後時系列的な画像信号を信号処理
し、精度の高い信号処理を可能とする。[Operation] In order to calculate the readout photometric information by collectively adding a plurality of sensor signals (for example, signals of one horizontal line) in this way, it is not necessary to perform readout operation and arithmetic processing for each pixel as in the conventional case, and The time required is shortened, and high-speed shooting is possible as a whole. In addition, the same sensor signals are collectively added and read out, and then time-series image signals are subjected to signal processing, which enables highly accurate signal processing.
[実施例] 以下、本発明の実施例を図面に基づいて詳細に説明す
る。Embodiments Embodiments of the present invention will be described in detail below with reference to the drawings.
第1図は、本発明による撮像装置の一実施例における
撮像素子の概略的回路図である。FIG. 1 is a schematic circuit diagram of an image pickup element in an embodiment of an image pickup apparatus according to the present invention.
本実施例では、非破壊読出し可能なセンサ101がm×
n個エリア状に配列され、各センサ101はベース蓄積型
フォトトランジスタとベース電位を制御するためのキャ
パシタとから構成されでいる。センサ101は、ベース電
位をキャパシタを介して制御することで、入射光によっ
て励起されたキャリアをベース領域に蓄積し、その蓄積
電圧をセンサ信号として読出し、また蓄積キャリアを除
去するという動作を行う。In this embodiment, the nondestructive read-out sensor 101 is mx
Each of the sensors 101 is arranged in an area of n, and each sensor 101 includes a base storage type phototransistor and a capacitor for controlling the base potential. By controlling the base potential via a capacitor, the sensor 101 accumulates carriers excited by incident light in the base region, reads the accumulated voltage as a sensor signal, and removes accumulated carriers.
センサ101のキャパシタ電極は行ごとに水平ラインHL1
〜HLnに接続され、読出し又はリフレッシュ用パルスφr
1〜φrnが印加される。The capacitor 101 of the sensor 101 has a horizontal line HL 1 for each row.
~ HLn, read or refresh pulse φr
1 to φrn is applied.
センサ101のエミッタ電極は列ごとに垂直ラインVL1〜
VLnに接続され、各垂直ラインには同一容量である蓄積
用キャパシタC1〜Cnが接続されている。さらに、各垂直
ラインはトランジスタQa1〜Qanを介して出力ライン102
に接続され、出力ライン102はアンプ103に接続されてい
る。トランジスタQa1〜Qanの各ゲート電極には、図示さ
れていない走査回路からパルスφh1〜φhnが印加され、
センサ信号の選択を行う。The emitter electrodes of the sensor 101 have vertical lines VL 1 to
The storage capacitors C 1 to Cn, which are connected to VLn and have the same capacitance, are connected to each vertical line. Further, each vertical line is connected to the output line 102 through the transistors Qa 1 to Qan.
The output line 102 is connected to the amplifier 103. Pulses φh 1 to φhn are applied to the respective gate electrodes of the transistors Qa 1 to Qan from a scanning circuit (not shown),
Select the sensor signal.
さらに、各垂直ラインは、トランジスタQb1〜Qbnを介
して接地されるとともに、トランジスタQc1〜Qcnを介し
て共通ライン104に接続され、共通ライン104はアンプ10
5に接続されている。トランジスタQb1〜Qbnのゲート電
極にはパルスφvcご共通に印加され、トランジスタQc1
〜Qcnのゲート電極にはパルスφtが共通に印加され
る。Further, each vertical line is grounded via the transistors Qb 1 to Qbn and connected to the common line 104 via the transistors Qc 1 to Qcn, and the common line 104 is connected to the amplifier 10 by the amplifier 10.
Connected to 5. The gate electrode of the transistor Qb 1 ~Qbn is applied to the pulse φvc your common, transistor Qc 1
A pulse φt is commonly applied to the gate electrodes of Qcn.
また、出力ライン102はトランジスタQr1を介して、共
通ライン104はトランジスタQr2を介してそれぞれ接地さ
れ、各ゲート電極にはパルスφhcが共通に印加される。The output line 102 is grounded through the transistor Qr 1 and the common line 104 is grounded through the transistor Qr 2 , and a pulse φhc is commonly applied to each gate electrode.
次に、このような構成を有する撮像素子の動作を説明
する。Next, the operation of the image sensor having such a configuration will be described.
第2図は、上記撮像素子の動作を説明するためのタイ
ミングチャートである。FIG. 2 is a timing chart for explaining the operation of the image pickup device.
各センサ101には入射光量に対応したキャリアがベー
スに蓄積されているものとする。It is assumed that carriers corresponding to the amount of incident light are accumulated in the base of each sensor 101.
この状態で測光を行う。先ず、パルスφr1が第1行目
のセンサ101の各キャパシタ電極に印加されることで、
各センサ信号がエミッタ電極から各垂直ラインに読出さ
れ、キャパシタC1〜Cnに蓄積される。Photometry is performed in this state. First, by applying the pulse φr 1 to each capacitor electrode of the sensor 101 in the first row,
Each sensor signal is read out from the emitter electrode to each vertical line and stored in the capacitors C 1 to Cn.
続いて、パルスφtによってトランジスタQc1〜Qcnが
ON状態となり、キャパシタC1〜Cnが共通ライン104を介
して接続された状態となる。これによって共通ライン10
4には、各キャパシタに蓄積されているセンサ信号の平
均値(=加算値/n)が現われる。この平均値がアンプ10
5を通して実質的な加算値Saeとして後述する積分回路へ
出力される。Then, the pulses φt cause the transistors Qc 1 to Qcn to
The ON state is set, and the capacitors C 1 to Cn are connected to each other via the common line 104. This makes the common line 10
At 4, the average value (= added value / n) of the sensor signals stored in each capacitor appears. This average value is amplifier 10
It is output to the integrator circuit, which will be described later, as a substantial addition value Sae through 5.
続いて、パルスφhcおよびφvcによってトランジスタ
Qr2およびQb1〜QbnがON状態となり、共通ライン104およ
びキャパシタC1〜Cnに残留しているキャリアが除去され
る。Then, with the pulses φhc and φvc, the transistor
Qr 2 and Qb 1 to Qbn are turned on, and carriers remaining in the common line 104 and the capacitors C 1 to Cn are removed.
以下同様にして、パルスφr2〜φrnにより第2行〜第
n行の各加算値Saeが出力され、後述するように積分処
理および演算処理によって測光情報が形成される。この
測光情報によって出力ゲインが決定された後、各センサ
101に破壊されずに蓄積されているセンサ信号の再読出
しを行う。Similarly, the added values Sae of the second row to the nth row are output by the pulses φr 2 to φrn, and photometric information is formed by integration processing and arithmetic processing as described later. After the output gain is determined by this photometric information, each sensor
The sensor signal accumulated in 101 without being destroyed is read again.
まず、パルスφr1によって第1行のセンサ信号が読出
されてキャパシタC1〜Cnに蓄積される。続いて、パルス
φh1によってトランジスタQa1がON状態となり、キャパ
シタC1に蓄積されたセンサ信号が出力ライン102に現わ
れ、アンプ103を通して出力信号Soutとして出力され
る。そして、パルスφhcによってトランジスタQr1がON
状態となり、出力ライン102をリセットする。First, the sensor signal of the first row is read by the pulse φr 1 and stored in the capacitors C 1 to Cn. Subsequently, the transistor Qa 1 is turned on by the pulse φh 1 , the sensor signal accumulated in the capacitor C 1 appears on the output line 102, and is output as the output signal Sout through the amplifier 103. Then, the pulse φhc turns on the transistor Qr 1.
And the output line 102 is reset.
以下同様にしてパルスφh2〜φhnによってキャパシタ
C2〜Cnに蓄積された各センサ信号が順次出力ラインに取
り出されアンプ103を通してシリアルに出力される。Similarly, the pulses φh 2 to φhn are used to
The sensor signals accumulated in C 2 to Cn are sequentially taken out to the output line and serially output through the amplifier 103.
こうして第1行のセンサ信号が読出されると、次にパ
ルスφr3によって第3行センサ信号が同様にして出力さ
れる。以下、奇数ラインのセンサ信号が順次出力されて
奇数フィールドの読出しが行われ、続いて偶数フィール
ドの読出しが同様に行われる。When the sensor signal of the first row is read in this manner, the sensor signal of the third row is similarly output by the pulse φr 3 . Thereafter, the sensor signals of the odd lines are sequentially output to read the odd fields, and then the even fields are read in the same manner.
なお、本実施例では非破壊読出しによって測光を行っ
たが、破壊読出しのセンサを用いても全く同様に構成さ
れる。ただし、測光情報を形成した後、再撮像が必要で
ある。In the present embodiment, photometry was performed by non-destructive reading, but a destructive reading sensor can be used in exactly the same manner. However, re-imaging is required after forming the photometric information.
第3図は、本実施例の全体的構成を示す概略的ブロッ
ク図である。FIG. 3 is a schematic block diagram showing the overall configuration of this embodiment.
同図において、撮像素子1は第1図に示すものであ
る。撮像素子1の出力信号SoutはAGC回路2によって出
力ゲイン調整され、信号処理回路12によってNTSC信号等
の標準テレビジョン信号として出力される。In the figure, the image sensor 1 is as shown in FIG. The output signal Sout of the image sensor 1 is output gain adjusted by the AGC circuit 2, and is output as a standard television signal such as an NTSC signal by the signal processing circuit 12.
また、撮像素子1の行ごとの加算値Saeは積分回路5
に入力し、その積分結果を測光情報として演算回路6へ
出力する。演算回路6は測光情報に基いてAGC制御量を
決定し、AGC回路2へ出力する。Further, the added value Sae for each row of the image sensor 1 is calculated by the integration circuit 5
To the arithmetic circuit 6 as the photometric information. The arithmetic circuit 6 determines the AGC control amount based on the photometric information and outputs it to the AGC circuit 2.
撮像素子1を駆動するための各パルスはドライバ回路
3から与えられ、ドライバ回路3はクロック回路4から
のクロックパルスによって動作する。Each pulse for driving the image pickup device 1 is given from the driver circuit 3, and the driver circuit 3 operates by the clock pulse from the clock circuit 4.
また、測光用の受光素子7(以下、AEセンサ7とす
る。)が撮像素子1とは別個に設けられ、そのセンサ出
力によって測光回路8が被写体輝度を算出し、システム
コトローラ9(以下、シスコン9と略す。)へ出力す
る。Further, a light receiving element 7 for photometry (hereinafter referred to as AE sensor 7) is provided separately from the image pickup element 1, and a photometric circuit 8 calculates subject brightness based on the sensor output, and a system controller 9 (hereinafter (Abbreviated as Syscon 9)).
シスコン9はトリガスイッチ10によって動作を開始
し、測光回路8および演算回路6からの入力に基いてク
ロック回路4や露出制御手段11等の制御を行う。露出制
御手段11は絞り、シャッタ等から成り、撮像素子1に入
射する光量を調整する。The syscon 9 starts its operation by the trigger switch 10, and controls the clock circuit 4, the exposure control means 11, etc. based on the inputs from the photometry circuit 8 and the arithmetic circuit 6. The exposure control unit 11 is composed of a diaphragm, a shutter, and the like, and adjusts the amount of light incident on the image sensor 1.
次に、このような構成を有する本実施例の動作を説明
する。Next, the operation of this embodiment having such a configuration will be described.
第4図は、本実施例の概略的な動作を示すフローチャ
ートである。FIG. 4 is a flowchart showing a schematic operation of this embodiment.
先ずトリガスイッチ10がONされると(#400)、測光
回路8はAEセンサ7からの出力に基いて被写体輝度を算
出し(#401)、シスコン9へ出力する。シスコン9は
測光回路8の出力に基き露出制御手段11を制御し、撮像
素子1に入射する光量を制御する(#402)。そして、
撮像素子1の各センサ101に画像信号を蓄積する(#40
3)。First, when the trigger switch 10 is turned on (# 400), the photometric circuit 8 calculates the subject brightness based on the output from the AE sensor 7 (# 401) and outputs it to the syscon 9. The syscon 9 controls the exposure control means 11 based on the output of the photometric circuit 8 to control the amount of light incident on the image sensor 1 (# 402). And
An image signal is stored in each sensor 101 of the image sensor 1 (# 40
3).
撮像が終ると、シスコン9は露出制御手段11を制御し
て撮像素子1を遮光し、前述したように行ごとの加算値
Saeを読出して積分回路5により積分処理を行う(#40
4)。このようにセンサ信号を行ごとに加算した加算値S
aeが入力するために、従来のように各センサを走査して
読出す方式に比べて、読出し動作および積分処理が大幅
に高速化される。積分回路5からの測光情報を入力し
て、演算回路6はAGC制御量を決定し(#405)、AGC回
路2へ出力して出力信号Soutのゲインを設定する。When the image pickup is finished, the syscon 9 controls the exposure control means 11 to shield the image pickup device 1 from the light, and as described above, the added value for each row.
Sae is read out and integration processing is performed by the integration circuit 5 (# 40
Four). In this way, the added value S obtained by adding the sensor signals row by row
Since ae is input, the read operation and the integration process are significantly speeded up as compared with the conventional method of scanning and reading each sensor. The photometric information from the integrating circuit 5 is input, the arithmetic circuit 6 determines the AGC control amount (# 405) and outputs it to the AGC circuit 2 to set the gain of the output signal Sout.
続いて、撮像素子1から各センサ信号を順次読出し
(#406)、AGC回路2によって適正ゲインで増幅して信
号処理回路12へ出力する。Then, the sensor signals are sequentially read from the image sensor 1 (# 406), amplified by the AGC circuit 2 with an appropriate gain, and output to the signal processing circuit 12.
なお、上記実施例では、測光情報によってAGC回路2
を調整したが、これに限定されるものではなく、測光情
報に基いてシスコン9が露出制御手段11を制御して露出
を再決定し、撮像素子1で再撮像を行ってもよい。ただ
し、この場合は撮像素子1が非破壊読出し可能である必
要はない。In the above embodiment, the AGC circuit 2 is determined by the photometric information.
However, the present invention is not limited to this, and the syscon 9 may control the exposure control means 11 to redetermine the exposure based on the photometric information, and the image pickup device 1 may perform reimaging. However, in this case, the image sensor 1 does not need to be nondestructively readable.
また、次のような撮像方式であってもよい。 Further, the following imaging method may be used.
まず、露出制御手段11を開放状態にして撮像素子21で
撮像を行う。First, the exposure control means 11 is opened and the image pickup device 21 picks up an image.
続いて、予め設定されたクロック速度fで各行の加算
値Saeを非破壊で読出し、積分回路5で積分処理して測
光情報v1を形成する。Then, the added value Sae of each row is read nondestructively at a preset clock speed f, and the integration circuit 5 performs integration processing to form photometric information v 1 .
続いて、演算回路6において、測光情報v1を設定値v2
およびv3(ただし、v2<v3)と比較する。v1<v2であれ
ば、シスコン9はクロック回路4を制御して加算値Sae
を読出す時のクロック速度fを遅くして加算値Saeを上
昇させ、v1>v3であれば、クロック速度fを速くしてSa
eを低下させる。Then, in the arithmetic circuit 6, the photometric information v 1 is set to the set value v 2
And v 3 (where v 2 <v 3 ). If v 1 <v 2 , the syscon 9 controls the clock circuit 4 to add the value Sae.
The clock speed f at the time of reading is increased to increase the added value Sae. If v 1 > v 3 , the clock speed f is increased to Sa
lower e.
この動作によってv2≦v1≦v3となると、シスコン9は
測光情報v1とその時のクロック速度fとに基いて露出制
御手段11を制御し、露出を決定する。そして、撮像素子
1によって再撮像を行い、出力信号Soutを信号処理回路
12へ出力する。この場合、適正露出となっているため
に、AGC回路2は不要である。When v 2 ≤v 1 ≤v 3 by this operation, the syscon 9 controls the exposure control means 11 based on the photometric information v 1 and the clock speed f at that time to determine the exposure. Then, re-imaging is performed by the image sensor 1, and the output signal Sout is output to the signal processing circuit.
Output to 12. In this case, the AGC circuit 2 is not necessary because the exposure is proper.
上記各撮像方式のいずれにおいても、撮像素子1の行
ごとに加算値Saeを読出すことによって、測光のための
信号読出しを高速化することができ、さらに積分処理も
簡略化され測光情報を高速で算出することができる。In any of the above-mentioned image pickup methods, by reading the added value Sae for each row of the image pickup device 1, the signal reading for photometry can be speeded up, and the integration process can be simplified to speed up the photometric information. Can be calculated by
[発明の効果] 以上詳細に説明したように、本発明による撮像装置
は、複数のセンサ信号(たとえば1水平ラインの信号)
を一括加算して読出し測光情報を算出するために、従来
のように画素ごとの読出し動作および演算処理が必要で
はなく、測光に要する時間が短縮される。その結果、全
体として高速撮影が可能になるとともに、暗電流の発生
が少なくなるために、測光精度及び信号処理精度が向上
する。[Effects of the Invention] As described in detail above, the image pickup apparatus according to the present invention has a plurality of sensor signals (for example, signals of one horizontal line).
In order to calculate read-out photometric information by adding all together, read-out operation and calculation processing for each pixel are not required unlike the conventional case, and the time required for photometry is shortened. As a result, high-speed shooting is possible as a whole, and since dark current is reduced, photometric accuracy and signal processing accuracy are improved.
第1図は、本発明による撮像装置の一実施例における撮
像素子の概略的回路図、 第2図は、上記撮像素子の動作を説明するためのタイミ
ングチャート、 第3図は、本実施例の全体的構成を示す概略的ブロック
図、 第4図は、本実施例の概略的な動作を示すフローチャー
ト、 第5図(A)は、AGC回路によって出力ゲインの調整を
行う撮像装置の概略的ブロック図、第5図(B)は、そ
の概略的動作フローを示すフローチャートである。 1……撮像装置、2……AGC回路 5……積分回路、6……演算回路 7……AEセンサ、8……測光回路 9……システムコントローラ 10……トリガスイッチ 101……センサ 102……出力ライン 103、105……アンプ 104……共通ライン Sout……出力信号 Sae……加算値FIG. 1 is a schematic circuit diagram of an image pickup device in an embodiment of an image pickup device according to the present invention, FIG. 2 is a timing chart for explaining the operation of the image pickup device, and FIG. FIG. 4 is a schematic block diagram showing the overall configuration, FIG. 4 is a flowchart showing a schematic operation of the present embodiment, and FIG. 5 (A) is a schematic block diagram of an image pickup apparatus for adjusting an output gain by an AGC circuit. FIG. 5 (B) is a flow chart showing its schematic operation flow. 1 ... Imaging device, 2 ... AGC circuit, 5 ... Integration circuit, 6 ... Arithmetic circuit, 7 ... AE sensor, 8 ... Photometric circuit, 9 ... System controller, 10 ... Trigger switch, 101 ... Sensor, 102 ... Output line 103, 105 …… Amplifier 104 …… Common line Sout …… Output signal Sae …… Addition value
Claims (1)
能な蓄積手段に一旦蓄積した後で読み出す撮像装置にお
いて、 前記蓄積手段に蓄積されたセンサ信号を一括加算する加
算手段と各センサ毎に時系列的に読み出す画像信号読み
出し手段とを備え、 前記加算手段の加算出力に基いて測光情報を算出する演
算手段と、 前記演算手段の出力に応じて前記画像信号読み出し手段
の出力を信号処理する信号処理手段と、 を設けたことを特徴とする撮像装置。1. An image pickup apparatus, wherein a plurality of sensor signals are temporarily stored in non-destructive readable storage means and then read out. In an image pickup apparatus, an addition means for collectively adding the sensor signals stored in the storage means and a time for each sensor. An image signal read-out means for reading out serially; a calculation means for calculating photometric information based on the addition output of the addition means; and a signal for signal-processing the output of the image signal read-out means according to the output of the calculation means. An image pickup apparatus comprising: a processing unit;
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Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7283171B2 (en) * | 2002-03-18 | 2007-10-16 | Ricoh Company, Ltd. | Image pickup apparatus with external device |
JP5832153B2 (en) * | 2011-06-15 | 2015-12-16 | キヤノン株式会社 | Imaging apparatus, control method thereof, and program |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS58120379A (en) * | 1982-01-11 | 1983-07-18 | Olympus Optical Co Ltd | Solid-state image pickup device |
JPS6043977A (en) * | 1983-08-22 | 1985-03-08 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Electronic still camera |
-
1986
- 1986-09-19 JP JP61219665A patent/JP2548705B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS6375628A (en) | 1988-04-06 |
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