JP2541868B2 - MOS transistor circuit - Google Patents

MOS transistor circuit

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JP2541868B2 JP2253291A JP25329190A JP2541868B2 JP 2541868 B2 JP2541868 B2 JP 2541868B2 JP 2253291 A JP2253291 A JP 2253291A JP 25329190 A JP25329190 A JP 25329190A JP 2541868 B2 JP2541868 B2 JP 2541868B2
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Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明はMOSトランジスタ回路に関するものである。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Industrial application] The present invention relates to a MOS transistor circuit.

[従来の技術] MOSトランジスタは飽和領域で二乗特性を示すため、
リニアな伝達特性が得られるように、従来より種々の回
路構成が提案されている。
[Prior Art] Since a MOS transistor exhibits a square characteristic in a saturation region,
Various circuit configurations have been conventionally proposed so as to obtain a linear transfer characteristic.

[解決しようとする課題] しかしながら、従来の回路構成では高精度の増幅動作
を行うことが難しかった。
[Problems to be Solved] However, it is difficult to perform a highly accurate amplification operation with the conventional circuit configuration.

本発明の目的は、簡単な回路構成でしかも高精度の増
幅動作が可能なMOSトランジスタ回路を提供することで
ある。
An object of the present invention is to provide a MOS transistor circuit having a simple circuit configuration and capable of highly accurate amplification operation.

[課題を解決するための手段] 本発明におけるMOSトランジスタ回路は、同一の半導
体基板に第1〜第4のMOSトランジスタを設け、第1お
よび第2のMOSトランジスタのソース同志を接続し(第
1の接続点)、第3および第4のMOSトランジスタのソ
ース同志を接続し(第2の接続点)、第1の接続点に流
れる電流と第2の接続点に流れる電流との差を一定に保
つ電流制御回路と、第1のMOSトランジスタおよび第3
のMOSトランジスタの各ゲート間の電圧を一定に保ち、
かつ第2のMOSトランジスタおよび第4のMOSトランジス
タの各ゲート間の電圧を一定に保ち、かつ第1の接続点
と第2の接続点との間の電圧を一定に保つ電圧制御回路
とを設けたものである。
[Means for Solving the Problems] In a MOS transistor circuit according to the present invention, first to fourth MOS transistors are provided on the same semiconductor substrate, and sources of the first and second MOS transistors are connected to each other (first Connection point), the sources of the third and fourth MOS transistors are connected (second connection point), and the difference between the current flowing through the first connection point and the current flowing through the second connection point is made constant. Holding current control circuit, first MOS transistor and third
Keep the voltage between each gate of the MOS transistor of
And a voltage control circuit that keeps the voltage between the gates of the second MOS transistor and the fourth MOS transistor constant and keeps the voltage between the first connection point and the second connection point constant. It is a thing.

[実施例] 以下、添附図面を参照して本発明の実施例の説明をす
る。
Embodiments Embodiments of the present invention will be described below with reference to the accompanying drawings.

第2図はトランスコンダクタセルを示したものであ
り、これを用いて本発明の基本概念の説明をする。
FIG. 2 shows a transconductor cell, which will be used to explain the basic concept of the present invention.

トランスコンダクタセルは、2組のMOSトランジスタ
の差動ペアからなる。第1のMOSトランジスタM1および
第2のMOSトランジスタM2により第1の差動ペアが構成
され、第3のMOSトランジスタM3および第4のMOSトラン
ジスタM4により第2の差動ペアが構成される。これら第
1〜第4のMOSトランジスタM1〜M4は、同一のシリコン
基板に互いに近接して形成されており、均一な特性を有
するものである。各MOSトランジスタM1〜M4は飽和領域
で動作し、その電流電圧特性は以下の式で表される。
The transconductor cell consists of a differential pair of two MOS transistors. The first MOS transistor M1 and the second MOS transistor M2 form a first differential pair, and the third MOS transistor M3 and the fourth MOS transistor M4 form a second differential pair. These first to fourth MOS transistors M1 to M4 are formed close to each other on the same silicon substrate and have uniform characteristics. Each of the MOS transistors M1 to M4 operates in the saturation region, and its current-voltage characteristic is represented by the following equation.

Id=K(Vgs−Vt)2 …(1) ただし Id…ドレイン電流 Vgs…ゲート・ソース間の電圧 Vt…スレッショルド電圧 SN1は第1の接続点であり、MOSトランジスタM1および
M2の共通なソースノードとなるものである。SN2は第2
の接続点であり、MOSトランジスタM3およびM4の共通な
ソースノードとなるものである。
Id = K (Vgs-Vt) 2 (1) However, Id ... Drain current Vgs ... Gate-source voltage Vt ... Threshold voltage SN1 is the first connection point, and MOS transistor M1 and
It is a common source node for M2. SN2 is second
And a common source node for the MOS transistors M3 and M4.

VL1およびVL2は理想的な電圧源であり、MOSトランジ
スタM1、M3の各ゲートノード間、およびMOSトランジス
タM2、M4の各ゲートノード間を、いずれも一定電圧“Vc
1"に保持するものである。
VL1 and VL2 are ideal voltage sources, and a constant voltage “Vc” is applied between the gate nodes of MOS transistors M1 and M3 and between the gate nodes of MOS transistors M2 and M4.
One that holds at 1 ".

以上述べたトランスコンダクタセルでは、ノードSN1
とノードSN2との間の電位差が一定値“Vc2"に保持さ
れ、ノードSN1に流れる電流“Is1"とノードSN2に流れる
電流“Is2"との差が一定値“Ic"に保持されている。
In the transconductor cell described above, node SN1
The potential difference between the node SN2 and the node SN2 is held at a constant value "Vc2", and the difference between the current "Is1" flowing at the node SN1 and the current "Is2" flowing at the node SN2 is held at a constant value "Ic".

上記の条件から以下の式が得られる。 The following equation is obtained from the above conditions.

Is1−Is2=i1+i2−(i3+i4) =Ic=constant …(2) Vc1+Vc2=Vc=constant …(3) なお、電圧“Vc1"と“Vc2"との加算値は通常ゼロであっ
てはならないが、“Vc1"と“Vc2"のいずれか一方の値は
ゼロとすることができる。特に電圧“Vc2"がゼロのとき
には、ノードSN1とノードSN2との間は仮想的に短絡され
ていることになる。
Is1−Is2 = i1 + i2− (i3 + i4) = Ic = constant (2) Vc1 + Vc2 = Vc = constant (3) Although the added value of the voltages “Vc1” and “Vc2” should not normally be zero, The value of either "Vc1" or "Vc2" can be zero. In particular, when the voltage "Vc2" is zero, the nodes SN1 and SN2 are virtually short-circuited.

上記(1)式、(2)式および(3)式を用いると、
差動出力電流“Io1"および“Io2"は以下のようになる。
Using the above equations (1), (2) and (3),
The differential output currents “Io1” and “Io2” are as follows.

Io1=i1−i2 =Vin・K{(Ic/2KVc)+Vc} =Vin・gm1 …(4) Io2=i3−i4 =Vin・K{(Ic/2KVc)−Vc} =Vin・gm2 …(5) ただし Vin=Vgs1−Vgs2=Vgs3−Vgs4 ただし Vgs1…MOSトランジスタM1のゲート・ソース間の電圧 Vgs2…MOSトランジスタM2のゲート・ソース間の電圧 Vgs3…MOSトランジスタM3のゲート・ソース間の電圧 Vgs4…MOSトランジスタM4のゲート・ソース間の電圧 上記(4)式および(5)式は第2図に示したトラン
スコンダクタセルのリニアな伝達特性を示しているが、
“Vc"、“Ic"および“K"の値がいずれも一定なので、非
常に高いリニアリティが得られる。
Io1 = i1-i2 = Vin.K {(Ic / 2KVc) + Vc} = Vin.gm1 (4) Io2 = i3-i4 = Vin.K {(Ic / 2KVc) -Vc} = Vin.gm2 ... (5) ) However, Vin = Vgs1−Vgs2 = Vgs3−Vgs4 However, Vgs1… Gate-source voltage of MOS transistor M1 Vgs2… Gate-source voltage of MOS transistor M2 Vgs3… Gate-source voltage of MOS transistor M3 Vgs4… The voltage between the gate and the source of the MOS transistor M4 The equations (4) and (5) show the linear transfer characteristics of the transconductor cell shown in FIG.
Since the values of "Vc", "Ic" and "K" are all constant, very high linearity can be obtained.

第2図に示したノード“N1"、“N2"、“N3"および“N
4"をパラレル結合(N1−N2間およびN3−N4間をそれぞれ
短絡)およびクロス結合(N1−N3間およびN2−N4間をそ
れぞれ短絡)すると、以下に示す差動出力電流がそれぞ
れ得られる。
The nodes "N1", "N2", "N3" and "N" shown in FIG.
Parallel coupling (short-circuiting between N1-N2 and N3-N4 respectively) and cross-coupling (short-circuiting between N1-N3 and N2-N4 respectively) of 4 "results in the differential output currents shown below, respectively.

Io3=(i1+i3)−(i2+i4) =Vin(Ic/Vc) =Vin・gm3 …(6) Io4=(i1+i4)−(i2+i3) =Vin・2KVc =Vin・gm4 …(7) ところで、第2図に示したバイアス電流“Is1"および
“Is2"は以下の式で表される。
Io3 = (i1 + i3)-(i2 + i4) = Vin (Ic / Vc) = Vin.gm3 (6) Io4 = (i1 + i4)-(i2 + i3) = Vin.2KVc = Vin.gm4 (7) By the way, FIG. 2 The bias currents “Is1” and “Is2” shown in are expressed by the following equations.

Is1=i1+i2 =(K/2)[{(Ic/2KVc)+Vc}2+Vin2] …
(8) Is2=i3+i4 =(K/2)[{(Ic/2KVc)−Vc}2+Vin2] …
(9) ここで、最大リニア出力電流レンジ“Io1max"および
“Io2max"は以下の式で表される。
Is1 = i1 + i2 = (K / 2) [{(Ic / 2KVc) + Vc} 2 + Vin 2] ...
(8) Is2 = i3 + i4 = (K / 2) [{(Ic / 2KVc) -Vc} 2 + Vin 2] ...
(9) Here, the maximum linear output current ranges “Io1max” and “Io2max” are expressed by the following equations.

Io1max=Is1o+Is2o …(10) Io2max=2Is2o …(11) ただし Is1o…“Is1"のゼロシグナル(Vin=0)値 Is2o…“Is2"のゼロシグナル(Vin=0)値 このように、第2図に示した回路はAB級の動作であ
り、出力電流“Io1"および“Io2"は静止電流“Iso1"お
よび“Iso2"よりも大きなものとなる。
Io1max = Is1o + Is2o… (10) Io2max = 2Is2o… (11) However, Is1o… Is1 "zero signal (Vin = 0) value Is2o…" Is2 "zero signal (Vin = 0) value As shown in Fig. 2 The circuit shown in is a class AB operation, and the output currents "Io1" and "Io2" are larger than the quiescent currents "Iso1" and "Iso2".

仮に“電流“Is1"が電流“Is2"よりも大きいとすれ
ば、最大リニア入力電圧レンジは差動ペアとなるMOSト
ランジスタM3およびM4によって制限を受けることにな
る。上記(5)式および(9)式を用いると(例えば、
Io2(Vinmax)=Is2(Vinmax))、最大リニア入力電圧
レンジ“Vinmax"は以下のようになる。
If the "current" Is1 "is larger than the current" Is2 ", the maximum linear input voltage range is limited by the MOS transistors M3 and M4 forming a differential pair. ) Equation (for example,
Io2 (Vinmax) = Is2 (Vinmax)), the maximum linear input voltage range "Vinmax" is as follows.

Vinmax=(Ic/2KVc)−Vc …(12) なお、詳細な解析によると、“Ic"および“Vc"は以下
の条件を満足する必要がある。
Vinmax = (Ic / 2KVc) −Vc (12) According to detailed analysis, “Ic” and “Vc” need to satisfy the following conditions.

Ic>2KVc2 …(13) しかしながら、この条件は本発明の一般性に影響を与え
るものではない。
Ic> 2KVc 2 (13) However, this condition does not affect the generality of the present invention.

ところで、上記(6)式から明らかなように、出力ノ
ードN1〜N4をパラレル接続したときには、トランスコン
ダクタンスの値“gm3=Ic/Vc"は、外部パラメータによ
って完全にコントロールすることができる。すなわち、
“gm3"がパラメータ“K"を含んでいないため、伝達特性
がプロセスパラメータや幾何学パラメータあるいは動作
温度といった要因に左右されることがない。したがっ
て、高精度のオンチップ型のオートマチックチューニン
グ回路が構成でき、そのためにはチップ内における各MO
Sトランジスタのマッチングにのみ留意すればよい。し
かしながら、通常はトランスコンダクタセルの各MOSト
ランジスタは互いに近接して形成されるので、各MOSト
ランジスタ間のマッチングは極めて良好なものとなる。
By the way, as is clear from the equation (6), when the output nodes N1 to N4 are connected in parallel, the transconductance value "gm3 = Ic / Vc" can be completely controlled by an external parameter. That is,
Since "gm3" does not include the parameter "K", the transfer characteristics are independent of factors such as process parameters, geometrical parameters or operating temperature. Therefore, a highly accurate on-chip automatic tuning circuit can be constructed.
It is only necessary to pay attention to the matching of S transistors. However, since the MOS transistors of the transconductor cell are usually formed close to each other, the matching between the MOS transistors is extremely good.

なお、上記(7)式で示されるように出力ノードN1〜
N4をクロス接続したときには、トランスコンダクタンス
“gm4"がパラメータ“K"を含んでいるが、この場合にも
高精度のAB級動作が達成できる。
In addition, as shown in the above equation (7), the output nodes N1 to
When N4 is cross-connected, the transconductance "gm4" includes the parameter "K", but even in this case, highly accurate class AB operation can be achieved.

つぎに、第1図を用いて本発明の具体的な回路例を説
明する。なお、第1図と第2図の符号は互いに対応した
ものとなっている。
Next, a specific circuit example of the present invention will be described with reference to FIG. The reference numerals in FIG. 1 and FIG. 2 correspond to each other.

M5〜M10はMOSトランジスタであり、MOSトランジスタM
1〜M4と同一のシリコン基板に形成されている。CRは一
定電流“Ic"を供給する理想的な電流源であり、VLは一
定電圧“Vc"を保持する理想的な電圧源である。ZLは負
荷である。NICはネガティブインピーダンスコンバータ
であり、ノードSN1およびノードSN2間を仮想的に短絡す
るものである。ネガティブインピーダンスコンバータNI
Cの各出力電流は等しいため、電流“Is1"と“Is2"との
差は電流源CRの電流値“Ic"に等しくなる。このネガテ
ィブインピーダンスコンバータNICは、例えば「The CMO
S Negative Impedance Converter」(R.L.Brennan,T.R.
Viswanathan,J.V.Hanson,IEEE J.Solid−State Cire.,V
o123,Oct.1988.,pp.1272−1275)あるいは「Analysis a
nd design of snalog integrated circuits」(J.Wiley
& Sons,New York,1984,2nd edition,p.734)に記載さ
れている技術を用いて構成することができる。ALはアク
ティブロードであり、p−チャネルのカレントミラーに
より構成され、ノードN1〜N4に電流を供給するものであ
る。上記ネガティブインピーダンスコンバータNIC、MOS
トランジスタM9およびM10により電流制御回路が構成さ
れ、また上記ネガティブインピーダンスコンバータNI
C、MOSトランジスタM5、M6、M7およびM8により電圧制御
回路が構成される。
M5 to M10 are MOS transistors, and MOS transistors M
It is formed on the same silicon substrate as 1 to M4. CR is an ideal current source that supplies a constant current “Ic”, and VL is an ideal voltage source that holds a constant voltage “Vc”. ZL is the load. The NIC is a negative impedance converter, which virtually short-circuits the nodes SN1 and SN2. Negative impedance converter NI
Since the output currents of C are equal, the difference between the currents "Is1" and "Is2" is equal to the current value "Ic" of the current source CR. This negative impedance converter NIC is, for example, "The CMO
S Negative Impedance Converter "(RLBrennan, TR
Viswanathan, JV Hanson, IEEE J. Solid-State Cire., V
o123, Oct.1988., pp.1272-1275) or `` Analysis a
nd design of snalog integrated circuits "(J. Wiley
& Sons, New York, 1984, 2nd edition, p.734). AL is an active load, is composed of a p-channel current mirror, and supplies current to the nodes N1 to N4. Negative impedance converter NIC, MOS above
The transistors M9 and M10 form a current control circuit, and the above-mentioned negative impedance converter NI
A voltage control circuit is constituted by C, MOS transistors M5, M6, M7 and M8.

つぎに、第2図に示した回路例の計算機シミュレーシ
ョンについて述べる。
Next, a computer simulation of the circuit example shown in FIG. 2 will be described.

シミュレーションに用いたMOSトランジスタM1〜M4の
素子サイズは、チャネル幅W=6マイクロメータ、チャ
ネル長L=24マイクロメータであり、各ソースは基板に
接続されている。また、トランスコンダクタンスgm1〜g
m4の値は、それぞれ34、26、60、8マイクロジーメンス
である。
The element sizes of the MOS transistors M1 to M4 used in the simulation are a channel width W = 6 micrometers and a channel length L = 24 micrometers, and each source is connected to a substrate. Also, the transconductance gm1 to g
The values of m4 are 34, 26, 60 and 8 microsiemens, respectively.

上記パラメータを用いて計算機シミュレーションの結
果、負荷ZLを介して得られる出力電流Io1、Io2、Io3お
よびIo4のトータルの高調波歪(以下“THD"という。)
は、以下のようになった。ピークトウピークが1ボルト
および2ボルトのシングルエンド入力に対しては、THD
はそれぞれ0.1%以下および0.25%以下であった。ま
た、ピークトウピークが1ボルト、2ボルトおよび4ボ
ルトのバランス入力に対しては、THDはそれぞれ0.015%
以下、0.04%以下および0.17%以下であった。このよう
に、本実施例におけるトランスコンダクタセルは非常に
優れた特性を有していることがわかる。
As a result of computer simulation using the above parameters, total harmonic distortion of output currents Io1, Io2, Io3, and Io4 obtained via the load ZL (hereinafter referred to as "THD").
Became as follows. THD for single-ended inputs with 1 to 2 peak and 2 volt peak to peak.
Were less than 0.1% and less than 0.25%, respectively. In addition, THD is 0.015% each for balanced input with peak to peak of 1 volt, 2 volt and 4 volt.
Below, it was below 0.04% and below 0.17%. Thus, it can be seen that the transconductor cell of this example has very excellent characteristics.

[効果] 本発明に係わるMOSトランジスタ回路は、簡単な回路
構成でしかも高精度の動作が達成できるものである。
[Effect] The MOS transistor circuit according to the present invention can achieve highly accurate operation with a simple circuit configuration.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

第1図は本発明の実施例を示した電気回路図、第2図は
本発明の基本概念を示した電気回路図である。 M1…第1のMOSトランジスタ M2…第2のMOSトランジスタ M3…第3のMOSトランジスタ M4…第4のMOSトランジスタ SN1…第1の接続点 SN2…第2の接続点 NIC…ネガティブインピーダンスコンバータ M4〜M10…MOSトランジスタ
FIG. 1 is an electric circuit diagram showing an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is an electric circuit diagram showing the basic concept of the present invention. M1 ... First MOS transistor M2 ... Second MOS transistor M3 ... Third MOS transistor M4 ... Fourth MOS transistor SN1 ... First connection point SN2 ... Second connection point NIC ... Negative impedance converter M4 to M10 … MOS transistors

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】同一の半導体基板に形成された第1のMOS
トランジスタ、第2のMOSトランジスタ、第3のMOSトラ
ンジスタおよび第4のMOSトランジスタと、 上記第1のMOSトランジスタと上記第2のMOSトランジス
タのソース同志が接続された第1の接続点と、 上記第3のMOSトランジスタと上記第4のMOSトランジス
タのソース同志が接続された第2の接続点と、 上記第1の接続点に流れる電流と上記第2の接続点に流
れる電流との差を一定に保つ電流制御回路と、 上記第1のMOSトランジスタおよび上記第3のMOSトラン
ジスタの各ゲート間の電圧を一定に保ち、かつ上記第2
のMOSトランジスタおよび上記第4のMOSトランジスタの
各ゲート間の電圧を一定に保ち、かつ上記第1の接続点
と上記第2の接続点との間の電圧を一定に保つ電圧制御
回路と からなるMOSトランジスタ回路。
1. A first MOS formed on the same semiconductor substrate.
A transistor, a second MOS transistor, a third MOS transistor, and a fourth MOS transistor; a first connection point to which the sources of the first MOS transistor and the second MOS transistor are connected; A second connection point where the sources of the third MOS transistor and the fourth MOS transistor are connected to each other, and a constant difference between the current flowing through the first connection point and the current flowing through the second connection point. A current control circuit for maintaining the voltage between the gates of the first MOS transistor and the third MOS transistor constant, and
And a voltage control circuit that keeps the voltage between the gates of the MOS transistor and the fourth MOS transistor constant and keeps the voltage between the first connection point and the second connection point constant. MOS transistor circuit.
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