JP2538806Y2 - Probe pin for electrical inspection - Google Patents
Probe pin for electrical inspectionInfo
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- JP2538806Y2 JP2538806Y2 JP6340291U JP6340291U JP2538806Y2 JP 2538806 Y2 JP2538806 Y2 JP 2538806Y2 JP 6340291 U JP6340291 U JP 6340291U JP 6340291 U JP6340291 U JP 6340291U JP 2538806 Y2 JP2538806 Y2 JP 2538806Y2
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- electrical inspection
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- shaft
- head
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Description
【０００１】[0001]
【産業上の利用分野】本考案は、電気検査用プローブピ
ン、特に電子回路基板の電気検査に用いるプローブピン
に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a probe pin for electrical inspection, and more particularly to a probe pin used for electrical inspection of an electronic circuit board.
【０００２】[0002]
【従来の技術】従来、この種の電気検査用プローブピン
８は図３に示すように、一本の丸棒状金属材（被電気検
査体に接触することから一般的に軟質金属材）から切削
加工により、ヘッド部，シャフト部が一体のものとして
製作されていた。2. Description of the Related Art Conventionally, as shown in FIG. 3, a probe pin 8 of this type is cut from a single round bar-shaped metal material (generally a soft metal material because it comes into contact with an object to be inspected). By processing, the head portion and the shaft portion have been manufactured as an integral unit.
【０００３】[0003]
【考案が解決しようとする課題】しかし、前述の従来型
電気検査用プローブピンでは、ヘッド部，シャフト部が
一体のものとして製作され、かつシャフト部がヘッド部
と同じく軟質金属材であり、細径品の場合、シャフト部
が使用中に曲がってしまい、長期の使用ができない。However, in the above-mentioned conventional probe pin for electrical inspection, the head and the shaft are manufactured as one piece, and the shaft is made of a soft metal material like the head. In the case of a large-diameter product, the shaft portion is bent during use and cannot be used for a long time.
【０００４】また、ヘッド部，シャフト部を一体のもの
として切削加工するため、多大な工数が必要であり、コ
スト高になる。Further, since the head portion and the shaft portion are cut as a single body, a large number of man-hours are required and the cost is increased.
【０００５】本考案の目的は前記課題を解決した電気検
査用プローブピンを提供することにある。It is an object of the present invention to provide an electrical inspection probe pin which solves the above problems.
【０００６】[0006]
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するた
め、本考案に係る電気検査用プローブピンにおいては、
ヘッド部とシャフト部とを一体に組合せてなる電気検査
用プローブピンであって、前記ヘッド部は、軟質金属材
からなり、先端に被電気検査体に接触する円錐状の突起
を有するものであり、前記シャフト部は、高剛性金属材
からなり、先端部に前記ヘッド部を一体に結合保持した
ものである。In order to achieve the above object, in the probe pin for electrical inspection according to the present invention,
What is claimed is: 1. A probe pin for electrical inspection, comprising a head part and a shaft part integrally combined, wherein said head part is made of a soft metal material, and has a conical protrusion at its tip that comes into contact with an electrical inspection object. The shaft portion is made of a high-rigidity metal material, and the head portion is integrally connected and held at a distal end portion.
【０００７】[0007]
【作用】本考案では、ヘッド部とシャフト部とを分割構
造とし、それぞれの機能に応じた特性を具備させて一体
に組合せたものである。In the present invention, the head section and the shaft section are of a divided structure, are provided with characteristics according to their respective functions, and are integrally combined.
【０００８】[0008]
【実施例】以下、本考案の一実施例を図により説明す
る。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS One embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings.
【０００９】図１は、本考案の一実施例を示す一部断面
した正面図である。FIG. 1 is a partially sectional front view showing an embodiment of the present invention.
【００１０】図１において、本実施例に係る電気検査用
プローブピンにおいては、ヘッド部１とシャフト部２と
が分割構造として構成してある。In FIG. 1, in the probe pin for electrical inspection according to the present embodiment, a head portion 1 and a shaft portion 2 are configured as a divided structure.
【００１１】ヘッド部１は、軟質金属材からなり、先端
に被電気検査体に接触する円錐状の突起１ａを有してい
る。ここに、円錐状突起１ａは軟質金属材から構成して
あるため、被電気検査体に接触した場合に被電気検査体
を損傷させることがない。The head portion 1 is made of a soft metal material, and has a conical protrusion 1a at the tip which comes into contact with the electric test object. Here, since the conical projection 1a is made of a soft metal material, it does not damage the electric test object when it comes into contact with the electric test object.
【００１２】また、ヘッド部１には、円錐状突起１ａと
反対側の端面にシャフト部２の先端部が嵌合する嵌合穴
１ｂが設けてある。The head 1 has a fitting hole 1b on the end face opposite to the conical projection 1a, into which the tip of the shaft 2 is fitted.
【００１３】シャフト部２は、高剛性金属材からなり、
曲げ等に対する耐性を備えており、その先端がヘッド部
１の嵌合穴１ｂ内に圧入結合されヘッド部１を一体に結
合保持している。The shaft 2 is made of a highly rigid metal material.
It has resistance to bending and the like, and its tip is press-fitted into the fitting hole 1b of the head portion 1 to integrally connect and hold the head portion 1.
【００１４】ヘッド部１とシャフト部２とは、別々に加
工された後に一体に結合，組合せることによりプローブ
ピンとして完成する。The head portion 1 and the shaft portion 2 are separately processed and then integrally joined and combined to complete a probe pin.
【００１５】次に使用状態について説明する。図２は、
本考案の一使用例を示す正面図である。Next, the use state will be described. FIG.
FIG. 4 is a front view showing an example of use of the present invention.
【００１６】図２に示すように本考案に係る電気検査用
プローブピンは、シャフト部２が平行に配列したピンボ
ード３及びサポートボード４並びにユニバーサルボード
５に摺動可能に装着され、ヘッド部１がピンボード３よ
り前方に張り出しており、さらにユニバーサルボード５
に保持されたシャフト部２の後端に格子状配列導通ピン
６が接触している。この格子状配列導通ピン６は検査回
路に接続されている。As shown in FIG. 2, the probe pin for electrical inspection according to the present invention is slidably mounted on a pin board 3, a support board 4, and a universal board 5 in which shaft portions 2 are arranged in parallel. Is protruding forward from the pin board 3 and the universal board 5
The grid-shaped conductive pins 6 are in contact with the rear end of the shaft portion 2 held at the rear end. The grid-shaped conductive pins 6 are connected to an inspection circuit.
【００１７】図２に示すように、ヘッド部１の位置は、
被電気検査体７の回路にあわせて決められており、シャ
フト部２の後端の位置は、格子状配列導通ピン６にあわ
せて決められている。As shown in FIG. 2, the position of the head 1 is
The position of the rear end of the shaft portion 2 is determined according to the circuit of the device under test 7, and the position of the rear end of the shaft portion 2 is determined according to the grid-shaped conductive pins 6.
【００１８】また、通常は、被電気検査体７とヘッド部
１の突起１ａとの導通及びシャフト部２と格子状配列導
通ピン６との導通をよくするために、上下いずれかの方
向から加圧状態で電気検査を実施する。Normally, in order to improve the continuity between the DUT 7 and the projections 1a of the head portion 1 and the continuity between the shaft portion 2 and the grid-shaped arranging conductive pins 6, a voltage is applied from either the upper or lower direction. Conduct an electrical test under pressure.
【００１９】上記の理由により、シャフト部２には、ス
ラストラジアル両方向の負荷がかかるため、高剛性が必
要となり、ヘッド部１は被電気検査体７に接触キズを発
生させないために、軟質性が必要となる。For the above-mentioned reason, a high rigidity is required because a load is applied to the shaft portion 2 in both directions of the thrust radial direction. Required.
【００２０】ここに、本実施例によれば、ヘッド部１と
シャフト部２とが分割構造であるため、ヘッド部１とシ
ャフト部２とにそれぞれ機能に応じた前記特性を具備さ
せることが可能となる。According to the present embodiment, since the head 1 and the shaft 2 have a divided structure, the head 1 and the shaft 2 can be provided with the above-mentioned characteristics according to the respective functions. Becomes
【００２１】[0021]
【考案の効果】以上説明したように本考案によれば、ヘ
ッド部とシャフト部とが分割構造として製作できるた
め、ヘッド部は軟質金属材、シャフト部は高剛性金属材
でそれぞれ形成することができ、細径品の場合でも、シ
ャフト部が使用中に曲がることなく長期の使用が可能と
なる。As described above, according to the present invention, the head portion and the shaft portion can be manufactured as a divided structure, so that the head portion can be made of a soft metal material and the shaft portion can be made of a highly rigid metal material. Even if it is a small-diameter product, the shaft can be used for a long time without bending during use.
【００２２】さらに、ヘッド部，シャフト部を別々に加
工できるため、材料のムダがなく、且つ加工工数も低減
できることから、コストを安くできる。Further, since the head portion and the shaft portion can be processed separately, there is no waste of material and the number of processing steps can be reduced, so that the cost can be reduced.
【図１】本考案の一実施例を示す一部断面した正面図で
ある。FIG. 1 is a partially sectional front view showing an embodiment of the present invention.
【図２】本考案の一使用例を示す正面図である。FIG. 2 is a front view showing an example of use of the present invention.
【図３】従来例を示す正面図である。FIG. 3 is a front view showing a conventional example.
１ ヘッド部 １ａ 円錐状突起 １ｂ 嵌合穴 ２ シャフト部 ３ ピンボード ４ サポートボード ５ ユニバーサルボード ６ 格子状配列導通ピン ７ 被電気検査体 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Head part 1a Conical protrusion 1b Fitting hole 2 Shaft part 3 Pin board 4 Support board 5 Universal board 6 Lattice arrangement conduction pin 7 Electric test object
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)考案者 高森 寛 富山県下新川郡入善町入膳560番地 富 山日本電気株式会社内 (56)参考文献 実開 平２−17671（ＪＰ，Ｕ) 実開 昭63−163470（ＪＰ，Ｕ) 実開 昭61−190867（ＪＰ，Ｕ) ──────────────────────────────────────────────────続 き Continuing from the front page (72) Inventor Hiroshi Takamori 560 Irizen-cho, Iriyoshi-cho, Shimoshinagawa-gun, Toyama Prefecture Toyama NEC Corporation (56) References Japanese Utility Model 2-17677 (JP, U) Japanese Utility Model Sho 63 −163470 (JP, U)
Claims (1)
てなる電気検査用プローブピンであって、 前記ヘッド部は、軟質金属材からなり、先端に被電気検
査体に接触する円錐状の突起を有するものであり、 前記シャフト部は、高剛性金属材からなり、先端部に前
記ヘッド部を一体に結合保持したものであることを特徴
とする電気検査用プローブピン。1. An electrical inspection probe pin comprising a head part and a shaft part integrally combined, wherein said head part is made of a soft metal material, and has a conical projection at its tip which comes into contact with an electrical inspection object. A probe pin for electrical inspection, wherein the shaft portion is made of a high-rigidity metal material, and the head portion is integrally connected and held at a distal end portion.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6340291U JP2538806Y2 (en) | 1991-07-16 | 1991-07-16 | Probe pin for electrical inspection |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6340291U JP2538806Y2 (en) | 1991-07-16 | 1991-07-16 | Probe pin for electrical inspection |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH058466U JPH058466U (en) | 1993-02-05 |
| JP2538806Y2 true JP2538806Y2 (en) | 1997-06-18 |
Family
ID=13228279
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6340291U Expired - Lifetime JP2538806Y2 (en) | 1991-07-16 | 1991-07-16 | Probe pin for electrical inspection |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2538806Y2 (en) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| HUP1700051A2 (en) * | 2017-02-02 | 2018-08-28 | Equip Test Kft | Contact device and headunit, and method of contact device and headunit production |
-
1991
- 1991-07-16 JP JP6340291U patent/JP2538806Y2/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH058466U (en) | 1993-02-05 |
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