JP2505084Y2 - Bending tester - Google Patents
Bending testerInfo
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Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】本考案は、試験片に曲げ荷重を与
えて試験片変形量を検出することができる曲げ試験機に
関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a bending tester capable of detecting a deformation amount of a test piece by applying a bending load to the test piece.
【0002】[0002]
【従来の技術】この種の曲げ試験機は、例えば図5に示
すように、下部試験治具を構成する一対の受け具61上
に試験片TPの両端部を載置し、上部試験治具62で試
験片TPの表面を押圧して試験片TPに曲げ荷重を与
え、この曲げ荷重による試験片TPの変形量を変位計6
3で検出するものである。変位計63のスピンドル(検
出子)63aは、試験片TPの変形に応じて収縮するよ
う構成され、その収縮量が試験片変形量として出力され
る。2. Description of the Related Art In a bending tester of this type, for example, as shown in FIG. 5, both ends of a test piece TP are placed on a pair of receivers 61 constituting a lower test jig, and an upper test jig is placed. The surface of the test piece TP is pressed by 62 to apply a bending load to the test piece TP, and the deformation amount of the deformation of the test piece TP due to the bending load is measured by the displacement meter 6
This is detected in 3. The spindle (detector) 63a of the displacement meter 63 is configured to contract according to the deformation of the test piece TP, and the contraction amount is output as the test piece deformation amount.
【0003】[0003]
【考案が解決しようとする課題】しかしながら、上記試
験片変形量の測定にあっては、通常、変形した試験片T
Pの最大変位量(上部試験治具での押圧部分の変位量)
dを測定するものであり、したがって図5のように上部
試験治具62とスピンドル63aの軸が一致していれば
問題はないが、例えば図6のように両者の軸がずれてい
る場合には、スピンドル63aの収縮量は図示d1だけ
最大変位量よりも小さくなり、正確な変位量が測定でき
ない。However, in measuring the deformation amount of the test piece, the deformed test piece T is usually used.
Maximum displacement of P (displacement of the pressing part in the upper test jig)
d is measured. Therefore, there is no problem if the upper test jig 62 and the spindle 63a have the same axis as shown in FIG. 5, but when the axes of both are deviated as shown in FIG. 6, for example. However, the contraction amount of the spindle 63a becomes smaller than the maximum displacement amount by d1 shown in the figure, and an accurate displacement amount cannot be measured.
【0004】本考案の目的は、上部試験治具と変位計の
検出子の軸が多少ずれていても正確な変位量を測定可能
な曲げ試験機を提供することにある。An object of the present invention is to provide a bending tester capable of accurately measuring the amount of displacement even if the axes of the upper test jig and the detector of the displacement gauge are slightly deviated.
【0005】[0005]
【課題を解決するための手段】本考案は、試験片に曲げ
荷重を与え、試験片の変形に追動する検出子の変位量か
ら試験片の曲げ変位量を検出するようにした曲げ試験機
に適用される。そして、試験片の裏面と検出子との間に
挟圧される検出板と、この検出板の試験片接触面が負荷
軸と直交する状態で検出板が負荷軸方向に変位するよう
に案内する案内機構とを具備し、これにより上記問題点
を解決する。SUMMARY OF THE INVENTION The present invention provides a bending tester for applying a bending load to a test piece and detecting the bending displacement of the test piece from the displacement of a detector that follows the deformation of the test piece. Applied to. Then, the detection plate clamped between the back surface of the test piece and the detector, and the detection plate is guided so as to be displaced in the load axis direction with the test piece contact surface of the detection plate orthogonal to the load axis. A guide mechanism is provided to solve the above problems.
【0006】[0006]
【作用】検出板は、曲げ荷重による試験片の変形に追従
して負荷軸方向に変位する。その際、検出板の試験片接
触面が負荷軸と直交する状態に維持されるから、検出板
の検出子当接面の移動量は、全面に渡って試験片の最大
変位量と等しくなる。したがって、検出子が検出板に当
接してさえいれば、上部試験治具の軸と検出子の軸がず
れていても、検出子の変位量は試験片の最大変位量とな
る。The detecting plate is displaced in the load axis direction following the deformation of the test piece due to the bending load. At that time, since the test piece contact surface of the detection plate is maintained in a state orthogonal to the load axis, the movement amount of the detector contact surface of the detection plate becomes equal to the maximum displacement amount of the test piece over the entire surface. Therefore, as long as the detector is in contact with the detection plate, the displacement of the detector becomes the maximum displacement of the test piece even if the axis of the upper test jig and the axis of the detector are deviated.
【0007】[0007]
【実施例】図1〜図4により本考案の一実施例を説明す
る。図1は本発明に係る曲げ試験機の試験治具を示す正
面図である。符号10は、材料試験機本体のテーブル5
1上に固定される基台11と、基台11に立設された一
対の試験片受け具12L,12Rとから成る下部試験治
具であり、一対の受け具12L,12Rに試験片TPの
裏面両端が載置され支持される。40は、試験機本体の
クロスヘッド(不図示)に固着される上部試験治具であ
り、クロスヘッドの下降に伴って上部試験治具40が試
験片TPの表面を押圧し、試験片TPに曲げ荷重を与え
る。1 to 4 show an embodiment of the present invention. FIG. 1 is a front view showing a test jig of a bending tester according to the present invention. Reference numeral 10 is the table 5 of the material testing machine body.
1 is a lower test jig consisting of a base 11 fixed on 1 and a pair of test piece receivers 12L and 12R provided upright on the base 11. Both ends of the back surface are placed and supported. Reference numeral 40 denotes an upper test jig that is fixed to a crosshead (not shown) of the tester body. Apply a bending load.
【0008】上記一対の受け具12L,12Rの間には
試験片TPの変形量を検出する変位測定機構20が設け
られている。図2は変位測定機構20の拡大図であり、
基台11上に固着されたプレート21には一対の支柱2
2が立設され、この支柱22にコイルばね23を介して
ブラケット24の両端部が上下に摺動可能に貫通され
る。ブラケット24には一対のガイド軸25が立設され
るとともに、支柱22の上端に横架されたブラケット2
6には一対のリニアベアリング27が固着され、これら
のリニアベアリング27にガイド軸25が上下に摺動可
能に貫通される。A displacement measuring mechanism 20 for detecting the amount of deformation of the test piece TP is provided between the pair of receiving members 12L, 12R. FIG. 2 is an enlarged view of the displacement measuring mechanism 20,
The plate 21 fixed on the base 11 has a pair of columns 2
2 is erected, and both ends of the bracket 24 are vertically slidably penetrated through the column 22 via a coil spring 23. A pair of guide shafts 25 are erected on the bracket 24, and the bracket 2 mounted horizontally on the upper end of the support column 22.
A pair of linear bearings 27 are fixed to 6 and the guide shaft 25 is vertically slidably passed through these linear bearings 27.
【0009】各ガイド軸25の上端部には円形の検出板
28の両端部がそれぞれ固着される。この検出板28
は、一対のガイド軸25およびブラケット24を介して
ばね23により上方に付勢されており、その上面が試験
片TPの裏面に当接する。検出板28が下方に押圧され
ると、検出板28が一対のガイド軸25およびブラケッ
ト24と一体にばね23のばね力に抗して下降する。こ
こで、検出板28は、図3に示すように試験片TPより
も幅広とされる。Both ends of a circular detection plate 28 are fixed to the upper end of each guide shaft 25. This detection plate 28
Is urged upward by a spring 23 via a pair of guide shafts 25 and a bracket 24, and its upper surface abuts the rear surface of the test piece TP. When the detection plate 28 is pressed downward, the detection plate 28 is lowered integrally with the pair of guide shafts 25 and the bracket 24 against the spring force of the spring 23. Here, the detection plate 28 is wider than the test piece TP as shown in FIG.
【0010】また一方の支柱22には、上下ブラケット
24,26の間の部分にクランプ材29を介して例えば
差動トランス式の変位計30が取付けられている。変位
計30は、本体30aと、本体30aに対して上下に伸
縮可能なスピンドル(検出子)30bとから成り、本体
30aの周面に突設された取付部30cが上記支柱22
に固着されたクランプ材29に把持されて支持される。
スピンドル30bは、不図示のばねにより伸長方向に付
勢されるとともに、その先端が上記検出板28の凹部下
面に当接され、このスピンドル30bの収縮量に応じた
電気信号が本体30aから出力される。A displacement gauge 30 of, for example, a differential transformer is attached to one of the columns 22 via a clamp member 29 between the upper and lower brackets 24 and 26. The displacement meter 30 is composed of a main body 30a and a spindle (detector) 30b which is vertically expandable and contractable with respect to the main body 30a, and an attaching portion 30c protruding from the peripheral surface of the main body 30a has the above-mentioned support 22
It is gripped and supported by the clamp material 29 fixed to the.
The spindle 30b is urged in the extension direction by a spring (not shown), and its tip is brought into contact with the lower surface of the recess of the detection plate 28, and an electric signal corresponding to the contraction amount of the spindle 30b is output from the main body 30a. It
【0011】次に、図4も参照して実施例の動作を説明
する。試験片TPの曲げ試験を行うにあたり、まず一対
の受け具12L,12R上に試験片TPを載置し、試験
片TPの裏面を検出板28の上面に当接させる。変位計
30のスピンドル30bが検出板28の下面に当接した
状態で変位計30のゼロ点調節を行い、次いでクロスヘ
ッドを介して上部試験治具40を下降させる。これによ
り上部試験治具40が試験片TPを下方に押圧し、試験
片TPに曲げ荷重が与えられる。この曲げ荷重によって
試験片TPは図4のように変形し、その際、試験片TP
の裏面が検出板28を下方に押圧する。その押圧力によ
って検出板28,ガイド軸25およびブラケット24が
ばね23の付勢力に抗して一体に下降する(負荷軸方向
に変位する)。Next, the operation of the embodiment will be described with reference to FIG. In performing the bending test of the test piece TP, first, the test piece TP is placed on the pair of receivers 12L and 12R, and the back surface of the test piece TP is brought into contact with the upper surface of the detection plate 28. The zero point adjustment of the displacement meter 30 is performed with the spindle 30b of the displacement meter 30 in contact with the lower surface of the detection plate 28, and then the upper test jig 40 is lowered via the crosshead. As a result, the upper test jig 40 presses the test piece TP downward, and a bending load is applied to the test piece TP. This bending load deforms the test piece TP as shown in FIG.
The back surface of the presses the detection plate 28 downward. The pressing force causes the detection plate 28, the guide shaft 25, and the bracket 24 to integrally move downward (displace in the load axis direction) against the biasing force of the spring 23.
【0012】ここで、検出板28はばね23により上方
に付勢されているので、試験片TPの変形に追従して試
験片裏面と常に当接したまま下降する。また、一対のガ
イド軸25がリニアベアリング27内を摺動することに
より検出板28の下降が案内されるから、検出板28は
傾くことなく常に水平状態(負荷軸と直交する状態)を
維持する。したがって検出板28の下面の変位量は、全
面に渡って試験片TPの最大変位量、すなわち上部試験
治具40での押圧部分の変位量に等しくなる。Here, since the detection plate 28 is biased upward by the spring 23, it follows the deformation of the test piece TP and descends while always contacting the back surface of the test piece. Further, since the pair of guide shafts 25 slide in the linear bearing 27 to guide the lowering of the detection plate 28, the detection plate 28 always maintains a horizontal state (a state orthogonal to the load axis) without tilting. . Therefore, the displacement amount of the lower surface of the detection plate 28 becomes equal to the maximum displacement amount of the test piece TP over the entire surface, that is, the displacement amount of the pressing portion of the upper test jig 40.
【0013】検出板28が下降すると、その下面に当接
するスピンドル30bが検出板28と同量だけ変位計本
体30aに対して収縮し、その収縮量に応じた信号が試
験片変形量として出力される。上述したように、検出板
28の下面の変位量は全面に渡って試験片TPの最大変
位量に等しいから、例えば図4のように上部試験治具4
0とスピンドル30bの軸がずれていても、すなわちス
ピンドル30bが検出板下面のいずれの箇所に当接して
いても、スピンドル30bの変位量は常に試験片TPの
最大変位量となり、正確な試験片変形量を検出できる。When the detection plate 28 descends, the spindle 30b, which abuts the lower surface of the detection plate 28, contracts with respect to the displacement meter main body 30a by the same amount as the detection plate 28, and a signal corresponding to the contraction amount is output as the deformation amount of the test piece. It As described above, since the displacement amount of the lower surface of the detection plate 28 is equal to the maximum displacement amount of the test piece TP over the entire surface, for example, as shown in FIG.
0 and the axis of the spindle 30b are deviated, that is, regardless of where the spindle 30b is in contact with the lower surface of the detection plate, the displacement amount of the spindle 30b is always the maximum displacement amount of the test piece TP, and the accurate test piece The amount of deformation can be detected.
【0014】試験終了後、試験片TPを取り外して上部
試験治具40を上昇させると、ばね23の付勢力により
ブラケット24,ガイド軸25および検出板28が一体
に初期の位置まで上昇し、これに伴って変位計30のス
ピンドル30bも不図示のばねにより伸長して図1の状
態に復帰する。After the test is completed, when the test piece TP is removed and the upper test jig 40 is raised, the urging force of the spring 23 causes the bracket 24, the guide shaft 25, and the detection plate 28 to rise integrally to the initial position. Accordingly, the spindle 30b of the displacement gauge 30 is also expanded by a spring (not shown) and returns to the state of FIG.
【0015】以上の実施例の構成において、ガイド軸2
5およびリニアベアリング27が案内機構を構成する。In the configuration of the above embodiment, the guide shaft 2
5 and the linear bearing 27 constitute a guide mechanism.
【0016】なお以上では、差動トランス式の変位計を
用いた例を示したが、検出子の変位量を検出する構成の
ものであれば他のタイプの変位計を用いてもよい。ま
た、検出板を同一姿勢のまま変位させるものであればガ
イド機構の構成も実施例に限定されない。例えば、特に
ばね23を設けず、スピンドル30bの上方への付勢力
によって検出板を試験片とスピンドルとの間に挟圧する
ようにしてもよい。また、上部試験治具と検出板との間
にばねおよび案内機構を設け、このばねの付勢力により
検出板の上面を試験片の裏面に当接させるとともに、上
記案内機構を介して検出板を負荷軸と直交する状態で負
荷軸方向に案内するようにしてもよい。Although an example using a differential transformer type displacement meter has been shown above, another type of displacement meter may be used as long as it has a structure for detecting the displacement amount of the detector. Further, the configuration of the guide mechanism is not limited to that of the embodiment as long as it displaces the detection plate in the same posture. For example, the spring 23 may not be provided, and the detection plate may be clamped between the test piece and the spindle by the upward biasing force of the spindle 30b. In addition, a spring and a guide mechanism are provided between the upper test jig and the detection plate, the upper surface of the detection plate is brought into contact with the back surface of the test piece by the urging force of the spring, and the detection plate is moved through the guide mechanism. You may make it guide to a load axis direction in the state orthogonal to a load axis.
【0017】さらに検出検の形状も円形に限定されな
い。さらにまた、上部試験機治具を下降させて試験片を
負荷する例を示したが、下部試験機治具と変位測定装置
とを一体に上昇させて試験片を負荷してもよい。また3
点曲げ試験機について説明したが、試験片表面の2点を
押圧する4点曲げ試験機にも本考案を適用できる。さら
に、試験片を縦方向に負荷する試験機について説明した
が、横方向に負荷するものでもよい。Further, the shape of the detection test is not limited to the circular shape. Furthermore, although the example in which the upper tester jig is lowered to load the test piece is shown, the lower tester jig and the displacement measuring device may be integrally raised to load the test piece. Again 3
Although the point bending tester has been described, the present invention can be applied to a four point bending tester that presses two points on the surface of the test piece. Furthermore, although the tester in which the test piece is loaded in the vertical direction has been described, it may be loaded in the horizontal direction.
【0018】[0018]
【考案の効果】本考案によれば、試験片の裏面と検出子
との間に挟圧される検出板を設け、この検出板の試験片
接触面が負荷軸と直交する状態で検出板が負荷軸方向に
変位するようにしたので、検出板の検出子当接面の変位
量は全面に渡って試験片の最大変位量となり、上部試験
治具の軸と検出子の軸がずれていても、正確な試験片変
形量を測定することが可能となる。EFFECTS OF THE INVENTION According to the present invention, a detection plate is provided between the back surface of the test piece and the detector, and the detection plate is placed in a state where the test piece contact surface of the detection plate is orthogonal to the load axis. Since it is designed to displace in the load axis direction, the displacement of the detector contact surface of the detection plate is the maximum displacement of the test piece over the entire surface, and the axis of the upper test jig and the detector axis are not aligned. Also, it becomes possible to accurately measure the deformation amount of the test piece.
【図1】本考案の一実施例に係る曲げ試験機の要部を示
す正面図である。FIG. 1 is a front view showing a main part of a bending tester according to an embodiment of the present invention.
【図2】変位検出機構の拡大図である。FIG. 2 is an enlarged view of a displacement detection mechanism.
【図3】試験片と検出板とを示す上面図である。FIG. 3 is a top view showing a test piece and a detection plate.
【図4】実施例の動作を説明する図である。FIG. 4 is a diagram for explaining the operation of the embodiment.
【図5】従来の曲げ試験方法を説明する図である。FIG. 5 is a diagram illustrating a conventional bending test method.
【図6】従来の問題点を説明する図である。FIG. 6 is a diagram illustrating a conventional problem.
10 下部試験機治具 12L,12R 試験片受け具 20 変位測定機構 23 コイルばね 25 ガイド軸 27 リニアベアリング 28 検出板 30 変位計 30b スピンドル 51 テーブル 40 上部試験機治具 TP 試験片 10 Lower Tester Jig 12L, 12R Test Specimen Receptor 20 Displacement Measuring Mechanism 23 Coil Spring 25 Guide Axis 27 Linear Bearing 28 Detecting Plate 30 Displacement Gauge 30b Spindle 51 Table 40 Upper Tester Jig TP Test Specimen
Claims (1)
に追動する検出子の変位量から試験片の曲げ変位量を検
出するようにした曲げ試験機において、試験片の裏面と
検出子との間に挟圧される検出板と、この検出板の試験
片接触面が負荷軸と直交する状態で検出板が負荷軸方向
に変位するように案内する案内機構とを具備することを
特徴とする曲げ試験機。1. A bending tester that applies a bending load to a test piece and detects the bending displacement of the test piece from the displacement of a detector that follows the deformation of the test piece. And a guide mechanism for guiding the detection plate so as to be displaced in the load axis direction in a state where the test piece contact surface of the detection plate is orthogonal to the load axis. Characteristic bending tester.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7609792U JP2505084Y2 (en) | 1992-11-04 | 1992-11-04 | Bending tester |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7609792U JP2505084Y2 (en) | 1992-11-04 | 1992-11-04 | Bending tester |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0640840U JPH0640840U (en) | 1994-05-31 |
JP2505084Y2 true JP2505084Y2 (en) | 1996-07-24 |
Family
ID=13595359
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP7609792U Expired - Lifetime JP2505084Y2 (en) | 1992-11-04 | 1992-11-04 | Bending tester |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2505084Y2 (en) |
-
1992
- 1992-11-04 JP JP7609792U patent/JP2505084Y2/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0640840U (en) | 1994-05-31 |
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