JP2503071B2 - Method for manufacturing core for magnetic head - Google Patents

Method for manufacturing core for magnetic head

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JP2503071B2
JP2503071B2 JP1072797A JP7279789A JP2503071B2 JP 2503071 B2 JP2503071 B2 JP 2503071B2 JP 1072797 A JP1072797 A JP 1072797A JP 7279789 A JP7279789 A JP 7279789A JP 2503071 B2 JP2503071 B2 JP 2503071B2
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etching
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【発明の詳細な説明】 (技術分野) 本発明は、磁気ヘッド用コアの製造方法に係り、特に
記録媒体との摺動面に設けられるトラック等の凸部の幅
精度を高めた磁気ヘッド用コアの製造方法に関するもの
である。
Description: TECHNICAL FIELD The present invention relates to a method for manufacturing a magnetic head core, and particularly for a magnetic head in which the width accuracy of a convex portion such as a track provided on a sliding surface with a recording medium is improved. The present invention relates to a core manufacturing method.

(背景技術) 近年、ビデオテープレコーダ装置(VTR)を初め、フ
ロッピーディスク装置(FDD)、固定磁気ディスク装置
(RDD)等における磁気記録密度の向上に伴って、それ
ら装置に用いられている磁気ヘッド用コアの浮上量と磁
気特性に対する要求が厳しくなり、かかる磁気ヘッド用
コアの記録媒体との摺動面に形成されるトラックには高
い幅精度が要求されるようになってきており、例えばRD
Dでは、±1μm以下の寸法精度を有するトラック幅の
トラックを設けることが要請されている。また、このト
ラックと同様に、磁気ヘッド用コアの記録媒体との摺動
面に所定高さで突出形成される一対の空気浮上面等にあ
っても、同様な寸法精度が要請されている。
(Background Art) In recent years, magnetic tapes used in video tape recorders (VTRs), floppy disk drives (FDDs), fixed magnetic disk drives (RDDs), etc. have improved magnetic recording density. The requirements for the flying height and magnetic characteristics of the magnetic core have become strict, and the track formed on the sliding surface of the magnetic head core with the recording medium is required to have high width accuracy.
In D, it is required to provide a track having a track width with a dimensional accuracy of ± 1 μm or less. Similar to this track, similar dimensional accuracy is required even for a pair of air bearing surfaces that are formed to project at a predetermined height on the sliding surface of the magnetic head core with respect to the recording medium.

ところで、このような磁気ヘッド用コアを製造するに
際しては、一般に、多数個のコアを製作し得るように、
コイル巻線孔と所定間隙の磁気ギャップを有する、環状
の磁路が形成された、長尺状の所謂ギャップバーが用い
られ、そしてこのギャップバーの記録媒体との摺動面と
なる表面に対して、所定の幅及び高さを有するトラッ
ク、空気浮上面等の凸部が、製作し得るコア数に対応す
るように形成される。
By the way, when manufacturing such a core for a magnetic head, generally, in order to manufacture a large number of cores,
A long so-called gap bar having an annular magnetic path, which has a coil winding hole and a magnetic gap of a predetermined gap, is used, and the gap bar is used as a sliding surface for a recording medium. Thus, protrusions such as a track having a predetermined width and height, an air bearing surface, etc. are formed so as to correspond to the number of manufacturable cores.

そして、従来では、かかる凸部の形成に機械加工が採
用されていたが、その加工時にチッピングやクラック等
の問題が惹起される他、加工誤差が大きく、寸法精度を
充分に高められ得ないところから、例えば特開昭62−40
605号公報には、機械加工にイオンエッチングによる仕
上げ加工を組み合わせて、トラック幅の精度を高める手
法が明らかにされ、また特開昭56−22217号公報には、
レーザー加工による補助溝入れ加工(前加工)を施し、
更にその後、イオンエッチング加工にて仕上げることに
より、トラック幅の加工精度を高める手法が明らかにさ
れている。
And, in the past, machining was adopted for the formation of the convex portion, but problems such as chipping and cracks were caused during the machining, and a machining error was large, and dimensional accuracy could not be sufficiently improved. From, for example, JP-A-62-40
Japanese Patent Laid-Open No. SHO 56-22217 discloses a technique for improving the track width accuracy by combining machining with finishing by ion etching.
Auxiliary grooving processing (preprocessing) by laser processing is applied,
After that, a method for improving the processing accuracy of the track width by finishing with ion etching processing has been clarified.

しかしながら、これら従来の手法において採用される
イオンエッチング加工にあっては、そのエッチング速度
が遅く、コア材料(ギャップバー)とマスク材とのエッ
チング速度の比を大きく採ることが出来ないために、エ
ッチング深さを深くすることが出来ず、そのためにトラ
ックの両側に磁気ギャップが残存し、擬似トラックを形
成して、ノイズの原因となる問題を内在している。尤
も、レーザー加工によれば、かかる擬似トラックは除去
され得るものの、熱加工であるために、トラックに熱的
ダメージが加わり、また熱応力によるクラック等が発生
して、磁気特性が劣化する等の問題を内在している。
However, in the ion etching process adopted in these conventional methods, the etching rate is slow, and the ratio of the etching rates of the core material (gap bar) and the mask material cannot be made large. Since the depth cannot be increased, a magnetic gap remains on both sides of the track, forming a pseudo track, which causes a problem of noise. Of course, according to the laser processing, although such a pseudo track can be removed, thermal processing causes thermal damage to the track, and cracks due to thermal stress occur to deteriorate magnetic characteristics. The problem is inherent.

一方、磁気ヘッド用コアをフォトリソグラフィーとエ
ッチング工程により製造する手法が、特開昭62−234214
号公報等に開示されている。この手法によれば、ギャッ
プバーの記録媒体との摺動面となる表面に対して、適当
なレジストを用いて所定のマスクパターンが付与され、
そしてそのマスクパターンの形成されたギャップバーが
化学エッチングせしめられることにより、該マスクパタ
ーンに対応した凹凸パターンがギャップバーの表面に形
成され、以てそこにトラックや空気浮上面が生ぜしめら
れるのである。
On the other hand, a method of manufacturing a core for a magnetic head by photolithography and an etching process is disclosed in JP-A-62-234214.
It is disclosed in Japanese Patent Publication No. According to this method, a predetermined mask pattern is applied to the surface of the gap bar, which is the sliding surface with the recording medium, using an appropriate resist,
Then, by chemically etching the gap bar on which the mask pattern is formed, a concave-convex pattern corresponding to the mask pattern is formed on the surface of the gap bar, so that a track and an air-bearing surface are generated there. .

ところで、このような手法によって、ギャップバーの
所定の表面に、トラックや空気浮上面等の凸部をその幅
寸法精度高く形成せしめるに際しては、そのサイドエッ
チング量やエッチングエッジ部の直線性をより一層寸法
精度よく安定して得る必要が生じるが、この化学エッチ
ング処理によるエッチング深さが深くなると、そのサイ
ドエッチング量も大きくなり、それに従って寸法精度が
悪化し、また直線性も悪くなる等の問題が内在してい
る。例えば、30μm程度の深さに化学エッチングするこ
とにより、トラックを形成した場合において、トラック
幅精度は±1.5μm程度と悪くなるのである。
By the way, when a convex portion such as a track or an air-bearing surface is formed on the predetermined surface of the gap bar with high width dimension accuracy by such a method, the side etching amount and the linearity of the etching edge portion should be further improved. It is necessary to obtain stable dimensional accuracy, but when the etching depth by this chemical etching process becomes deep, the side etching amount also becomes large, and accordingly, dimensional accuracy deteriorates and linearity also deteriorates. It is inherent. For example, when a track is formed by performing chemical etching to a depth of about 30 μm, the track width accuracy deteriorates to about ± 1.5 μm.

(解決課題) ここにおいて、本発明は、かかる事情を背景にして為
されたものであって、その解決すべき課題とするところ
は、磁気ヘッド用コアを製造するために、ギャップバー
の所定の表面に対してトラック等の凸部を化学エッチン
グ処理にて形成するに際して、その幅精度を高め、以て
高密度記録に適した磁気ヘッド用コアを得ることにあ
る。
(Problem to be Solved) Here, the present invention has been made in view of such circumstances, and the problem to be solved is to provide a predetermined gap bar in order to manufacture a magnetic head core. The purpose is to obtain a magnetic head core suitable for high-density recording by increasing the width accuracy when forming convex portions such as tracks on the surface by chemical etching.

(解決手段) そして、本発明にあっては、かかる課題解決のため
に、コイル巻線孔と磁気ギャップを備えた、フェライト
からなるギャップバーを用い、その記録媒体との摺動面
となる表面に対して、化学エッチング処理を施すことに
より、所定の幅及び高さを有するトラック等の凸部を形
成する工程を有する磁気ヘッド用コアの製造方法におい
て、前記ギャップバーの被エッチング表面に対して第一
のマスクを付与して、第一の化学エッチング処理を施す
ことにより、前記凸部の幅に一致する幅を有する一次凸
部を形成する工程と、該一次凸部を覆うに充分な大きさ
の第二のマスクを用い、該一次凸部の中心線と該第二の
マスクの中心線とを一致させて、該第二のマスクを前記
ギャップバーの第一の化学エッチング処理面に対して付
与した後、第二の化学エッチング処理を施すことによ
り、前記凸部の高さに一致した高さを有する、該凸部に
相当する二次凸部を形成する工程とを、含むことを特徴
とするものである。
(Solution) In the present invention, in order to solve the problem, a gap bar made of ferrite having a coil winding hole and a magnetic gap is used, and a surface serving as a sliding surface with respect to a recording medium is used. In the method of manufacturing a magnetic head core having a step of forming a convex portion such as a track having a predetermined width and height by performing a chemical etching process on the surface to be etched of the gap bar. A step of forming a primary convex portion having a width matching the width of the convex portion by applying a first mask and performing a first chemical etching process, and a size sufficient to cover the primary convex portion. Using a second mask, the center line of the primary protrusion and the center line of the second mask are aligned, and the second mask is attached to the first chemical etching surface of the gap bar. After granting And forming a secondary convex portion having a height corresponding to the height of the convex portion by performing a second chemical etching treatment, the secondary convex portion corresponding to the convex portion being formed. Is.

(具体的構成) 要するに、本発明は、ギャップバーの記録媒体との摺
動面となる表面に対して、目的とするトラック等の凸部
に対応する所定パターンの第一のマスクを形成して、第
一の化学エッチング処理を行なうことにより、先ず、ギ
ャップバー表面を浅くエッチングして、寸法精度の高い
一次凸部を形成した後、この一次凸部を覆うように、そ
の上に第二のマスクを形成して、第二の化学エッチング
処理を実施することにより、かかる一次凸部の周りをエ
ッチングして、目的とする凸部の高さに一致した高さの
二次凸部を形成せしめるようにしたものであり、これに
よって、かかる二次凸部にて与えられる、トラック等の
目的とする凸部の寸法精度、特にその幅寸法精度が著し
く高められ得ることとなったのである。
(Concrete Configuration) In short, the present invention forms a first mask having a predetermined pattern corresponding to a target convex portion of a track or the like on the surface of the gap bar that is a sliding surface of the recording medium. First, the gap bar surface is first shallowly etched by performing the first chemical etching process to form a primary convex portion with high dimensional accuracy, and then a second convex portion is formed on the primary convex portion so as to cover the primary convex portion. By forming a mask and performing a second chemical etching process, the area around the primary convex portion is etched to form a secondary convex portion having a height corresponding to the height of the target convex portion. By doing so, it is possible to significantly improve the dimensional accuracy of the target convex portion of the track or the like, particularly the width dimensional accuracy thereof, which is given by the secondary convex portion.

すなわち、本発明に従う二段の化学エッチング処理工
程が、第1図に概略的に示されているように、本発明で
は、先ず、第1図(a)の如く、第一のマスク2が付与
されたギャップバー4の記録媒体との摺動面となる表面
6に対して、第一の化学エッチング処理が施されること
により、第1図(b)に示される如く、第一のマスク2
に対応した一次凸部8がギャップバー4の被エッチング
面に所定高さ(h1)で形成される。この一次凸部8は、
目的とするトラック等の最終凸部の幅、より具体的に
は、そのような凸部の頂部の幅に一致する幅:wを有する
ように形成され、またその高さ(h1)は、第一の化学エ
ッチング処理のエッチング深さ:h1に相当するものであ
る。本発明では、このエッチング深さ:h1を浅くするこ
とにより、一次凸部8の寸法精度、特にその幅:wの寸法
精度を高めようとするものであり、従ってこのエッチン
グ深さ:h1が浅くなる程、一次凸部8の寸法精度は向上
することとなるが、この一次エッチング深さ:h1は、一
次凸部8に要請される寸法精度に応じて定められること
となる。例えば、一次凸部8の幅寸法:wに対して±1μ
m以内の寸法精度が求められる場合には、かかるエッチ
ング深さ:h1は、20μm程度以内とされることとなる。
また、後述のように、最終的な凸部形状となる二次凸部
12が、第1図(g)の如く段付形状となる場合には、か
かるエッチング深さ:h1は、一般に10μm以上とされ、
擬似トラックの形成に基づくノイズの影響等からの回避
が図られることとなる。
That is, as the two-step chemical etching process according to the present invention is schematically shown in FIG. 1, in the present invention, first, the first mask 2 is applied as shown in FIG. The first chemical etching treatment is applied to the surface 6 of the gap bar 4 which is to be slid with the recording medium, so that the first mask 2 as shown in FIG.
The primary convex portion 8 corresponding to is formed on the surface to be etched of the gap bar 4 with a predetermined height (h 1 ). This primary convex portion 8 is
The width of the final convex portion of the target track or the like, more specifically, the width (w) corresponding to the width of the top portion of such convex portion is formed, and its height (h 1 ) is This corresponds to the etching depth of the first chemical etching process: h 1 . In the present invention, by making the etching depth: h 1 shallow, it is intended to improve the dimensional accuracy of the primary convex portion 8, particularly the dimensional accuracy of its width: w, and therefore the etching depth: h 1 As the depth becomes shallower, the dimensional accuracy of the primary projection 8 is improved, but the primary etching depth: h 1 is determined according to the dimensional accuracy required for the primary projection 8. For example, the width of the primary convex portion 8: ± 1μ with respect to w
When the dimensional accuracy within m is required, the etching depth: h 1 is within about 20 μm.
Also, as will be described later, the secondary convex portion that becomes the final convex shape
When 12 has a stepped shape as shown in FIG. 1 (g), the etching depth: h 1 is generally 10 μm or more,
It is possible to avoid the influence of noise due to the formation of the pseudo track.

そして、このようにして一次凸部8が形成された後、
第一のマスク2は除去され、そしてその後に、第1図
(c)に示される如く、第二のマスク10が一次凸部8を
覆うようにして形成されるのである。なお、この第二の
マスク10は、その中心線と一次凸部8の中心線とが実質
的に一致せしめられた状態下において、該一次凸部8の
全面と、この一次凸部8の幅方向における被エッチング
面の所定範囲を覆うように、前記中心線に関して対称的
な形態において設けられることとなる。また、この第二
のマスク10の大きさは、第1図(d)及び(e)や第1
図(f)及び(g)に示される如く、第二のエッチング
深さ:h2、換言すれば二次凸部12の高さに応じて定めら
れることとなる。
Then, after the primary convex portion 8 is formed in this way,
The first mask 2 is removed, and thereafter, the second mask 10 is formed so as to cover the primary convex portion 8 as shown in FIG. 1 (c). The second mask 10 has the entire surface of the primary convex portion 8 and the width of the primary convex portion 8 under the condition that the center line of the second mask 10 and the center line of the primary convex portion 8 are substantially aligned with each other. It is provided in a symmetrical form with respect to the center line so as to cover a predetermined range of the surface to be etched in the direction. The size of the second mask 10 is the same as that in FIGS. 1 (d) and 1 (e).
As shown in FIGS. (F) and (g), it is determined according to the second etching depth: h 2 , in other words, the height of the secondary convex portion 12.

次いで、このように、第二のマスク10が付与されたギ
ャップバー4の被エッチング面には、更に第二の化学エ
ッチング処理が施され、それによって、図示の如き2種
の形状の二次凸部12が形成されるのである。即ち、第二
の化学エッチング処理によって、ギャップバー4の被エ
ッチング面(第一の化学エッチング処理面)は順次エッ
チングされて、所定エッチング深さ:h2において除去せ
しめられることとなるが、この第二の化学エッチング処
理の終点を、前記第一の化学エッチング処理にて形成さ
れた一次凸部8の傾斜壁面8a内に位置するようにする
と、第1図(d)及び(e)にて示される如き形状の二
次凸部12が形成されるのである。一方、第二の化学エッ
チング処理の終点14が一次凸部8の傾斜壁面8a内に到達
しない場合には、第1図(f)及び(g)に示される如
く、段付形状の二次凸部12が形成されることとなるので
ある。
Next, in this way, the etched surface of the gap bar 4 provided with the second mask 10 is further subjected to the second chemical etching treatment, whereby the secondary convexities of the two kinds of shapes shown in the figure are formed. The part 12 is formed. That is, the surface to be etched (first chemical etching surface) of the gap bar 4 is sequentially etched by the second chemical etching process, and is removed at a predetermined etching depth: h 2 . When the end point of the second chemical etching process is positioned within the inclined wall surface 8a of the primary convex portion 8 formed by the first chemical etching process, it is shown in FIGS. 1 (d) and 1 (e). The secondary convex portion 12 having the shape as described above is formed. On the other hand, when the end point 14 of the second chemical etching process does not reach the inside of the inclined wall surface 8a of the primary convex portion 8, as shown in FIGS. The part 12 is to be formed.

なお、何れにしても、かかる第二の化学エッチング処
理の終点14は、一次凸部8の傾斜壁面8aを越えて、その
頂面8bには達しないようにされ、これによって形成され
る二次凸部12の幅方向の寸法精度が高く維持され得るの
であり、以てかかる二次凸部12を目的とするトラック、
空気浮上面の如き凸部として利用し得るのである。ま
た、この二次凸部12の高さは、第二の化学エッチング処
理によるエッチング深さ:h2以上ではあるが、第一の化
学エッチング処理によるエッチング深さ:h1に、第二の
化学エッチング処理によるエッチング深さ:h2を加えた
高さ(h1+h2)以下となり、目的とするトラック等の凸
部の高さに一致せしめられる。
In any case, the end point 14 of the second chemical etching process is set so as not to reach the top surface 8b of the primary projection 8 beyond the inclined wall surface 8a of the primary projection 8. Since the dimensional accuracy in the width direction of the convex portion 12 can be maintained at a high level, a track for the purpose of the secondary convex portion 12 thus obtained,
It can be used as a convex portion such as an air bearing surface. Further, the height of this secondary convex portion 12 is the etching depth by the second chemical etching treatment: h 2 or more, but the etching depth by the first chemical etching treatment: h 1 , the second chemical etching treatment. Etching depth due to etching treatment: The height is equal to or less than the height (h 1 + h 2 ) obtained by adding h 2 , and is equal to the height of the target convex portion of the track or the like.

ところで、このような本発明に従う磁気ヘッド用コア
の製造方法に係る更に具体的な工程の一例が、第2図
(a)〜(g)に示されている。
By the way, an example of a more specific process relating to the method of manufacturing a magnetic head core according to the present invention is shown in FIGS. 2 (a) to 2 (g).

すなわち、かかる第2図は、モノリシック型RDD用磁
気ヘッド用コアを製造する例を明らかにするものであっ
て、先ず、(a)に示されるように、所定間隙の磁気ギ
ャップ16を有し、またコイル巻線孔18の存在によって環
状の磁路が形成された、長尺状のギャップバー20が、公
知の手法に従って、フェライト単結晶等のフェライト材
料を用いて作製される。次いで、このギャップバー20の
記録媒体との摺動面となる表面22に対して、第一のマス
ク24が、目的とするトラックや空気浮上面を与えるよう
に、所定のパターンにて付与せしめられた後
〔(b)〕、第一の化学エッチング処理が実施されるこ
とにより、一次凸部26が形成される〔(c)〕。
That is, FIG. 2 clarifies an example of manufacturing a magnetic head core for a monolithic RDD magnetic head. First, as shown in (a), a magnetic gap 16 having a predetermined gap is provided. Further, the elongated gap bar 20 in which an annular magnetic path is formed due to the existence of the coil winding hole 18 is manufactured using a ferrite material such as a ferrite single crystal according to a known method. Next, the first mask 24 is applied in a predetermined pattern to the surface 22 that is the sliding surface of the gap bar 20 with the recording medium so as to provide a target track or air floating surface. After that, [(b)] is subjected to the first chemical etching process to form the primary convex portions 26 [(c)].

さらに、この一次凸部26の形成されたギャップバー20
に対して、(d)に示される如く、その一次凸部26を覆
うように第二のマスク32が付与される。なお、第一のマ
スク24のパターンと第二のマスク32のパターンの位置合
わせは、前記第一の化学エッチング処理によって被エッ
チング面上に形成されたアライメントマーク30等を基準
にして、正確に行なわれる。また、(b)における28
は、かかるアライメントマーク30を形成するためのマス
クである。そして、この第二のマスク32の付与されたギ
ャップバー20の被エッチング面(第一の化学エッチング
処理面)に対して、第二の化学エッチング処理が被され
ることにより、(e)に示される如く、トラックや空気
浮上面に相当する二次凸部34が形成されるのである。
Further, the gap bar 20 having the primary convex portion 26 is formed.
On the other hand, as shown in (d), the second mask 32 is applied so as to cover the primary convex portion 26. The alignment of the pattern of the first mask 24 and the pattern of the second mask 32 is accurately performed with reference to the alignment mark 30 or the like formed on the surface to be etched by the first chemical etching process. Be done. Also, 28 in (b)
Is a mask for forming the alignment mark 30. Then, the surface to be etched (first chemical etching processing surface) of the gap bar 20 provided with the second mask 32 is subjected to the second chemical etching processing, and as shown in (e). As described above, the secondary convex portion 34 corresponding to the track or the air bearing surface is formed.

そして、その後、この二次凸部34の形成されたギャッ
プバー20に対して、常法に従って、磁気ヘッド用コアの
長さを決める切断加工やリーディングランプ加工、更に
はヨーク部の形成加工等の加工が施された後
〔(f)〕、個々の磁気ヘッド用コア36が切り出される
のである〔(g)〕。なお、このように切り出された磁
気ヘッド用コア36において、左右一対の空気浮上面38,3
8やトラック40は、前述の如く、所定パターンに形成さ
れた二次凸部34によって形成されているのである。
Then, after that, with respect to the gap bar 20 on which the secondary convex portion 34 is formed, according to a conventional method, cutting processing for determining the length of the magnetic head core, leading lamp processing, further forming processing of the yoke portion, etc. After being processed [(f)], the individual magnetic head cores 36 are cut out [(g)]. In the magnetic head core 36 thus cut out, a pair of left and right air-bearing surfaces 38, 3
The 8 and the track 40 are formed by the secondary convex portions 34 formed in a predetermined pattern as described above.

ところで、かかる本発明において用いられる、フェラ
イトからなるギャップバーは、従来と同様に、Mn−Znフ
ェライト、Ni−Znフェライト等の各種の磁性材料が適宜
に採用されて構成されることとなるが、特に本発明にあ
っては、ギャップバーのエッチング処理される表面部位
は単結晶にて構成されていることが望ましい。尤も、そ
れらギャップバーを与えるフェライト材料全体が単結晶
体にて構成されたものである必要はなく、少なくともマ
スクパターンが形成され、化学エッチング処理によって
凸部が形成される面のみがフェライト単結晶であるよう
に構成された単結晶−多結晶複合材も使用することが可
能である。そして、かかるギャップバーは、公知の如
く、所定幅の磁気ギャップ及びコイル巻線孔を有してお
り、このコイル巻線孔の存在によって環状の磁路が形成
された構造となっているのである。
By the way, the gap bar made of ferrite used in the present invention will be configured by appropriately adopting various magnetic materials such as Mn-Zn ferrite and Ni-Zn ferrite as in the conventional case. Particularly in the present invention, it is desirable that the surface portion of the gap bar to be etched is composed of a single crystal. However, it is not necessary that the entire ferrite material that gives the gap bars be composed of a single crystal body, and at least only the surface where the mask pattern is formed and the convex portion is formed by the chemical etching treatment is a ferrite single crystal. It is also possible to use a single crystal-polycrystalline composite material that is configured in some way. As is well known, the gap bar has a magnetic gap of a predetermined width and a coil winding hole, and an annular magnetic path is formed by the existence of the coil winding hole. .

また、このようにギャップバーの少なくとも記録媒体
との摺動面となる表面をフェライト単結晶にて構成する
場合において、その被エッチング単結晶面としては、先
の特願昭62−171666号に明らかにした如く、(100),
(110),(311),(332),(611),(331)の各結
晶方位が有利に利用されることとなる。そして、エッチ
ングにより形成されるエッチング稜部の直線性を±5μ
m以内に維持し、且つ断面形状を線対称にするために
は、被エッチング面の結晶方位が上記の中から選択さ
れ、且つマスクパターンの境界線が単結晶の(100)或
いは(110)面内に含まれるように設定されるのであ
る。従って、例えば被エッチング面として(100)面を
選択した場合において、マスクパターンは〈100〉若し
くは〈110〉軸方向に延びるように形成されることとな
り、また(311)面を選択した場合には、マスクパター
ンは〈332〉軸方向に延びるように形成されるのであ
る。
Further, when at least the surface of the gap bar, which is the sliding surface with respect to the recording medium, is made of ferrite single crystal, the single crystal surface to be etched is disclosed in Japanese Patent Application No. 62-171666. (100),
The crystal orientations of (110), (311), (332), (611), and (331) are advantageously used. And, the linearity of the etching ridge formed by etching is ± 5 μm.
The crystal orientation of the etched surface is selected from the above, and the boundary of the mask pattern is a single crystal (100) or (110) plane in order to maintain the cross-sectional shape to be line symmetric within the range of m. It is set to be included in. Therefore, for example, when the (100) plane is selected as the surface to be etched, the mask pattern is formed so as to extend in the <100> or <110> axis direction, and when the (311) plane is selected, , The mask pattern is formed so as to extend in the <332> axis direction.

その他、同様の理由により、適当な結晶方位とマスク
パターンの境界線の延びる方向との組合せは、それぞ
れ、(110)と〈100〉,(110)と〈110〉,(332)と
〈311〉,(611)と〈331〉,(331)と〈611〉の何れ
かの組合せが好適に選択されることとなる。
For other similar reasons, the combination of the appropriate crystal orientation and the direction in which the boundary line of the mask pattern extends is (110) and <100>, (110) and <110>, (332) and <311>, respectively. , (611) and <331>, and (331) and <611> are suitably selected.

そして、このようなギャップバーのエッチングされる
べき表面には、その面粗さがエッチング後の寸法精度に
影響するところから、常法に従って、ダイヤモンド砥粒
等による鏡面研磨操作が施され、予め平滑な被処理面と
されていることが望ましい。また、かかる被エッチング
面には、そこに、本発明に従う二段の化学エッチング処
理が施されるに先立って、アルカノールアミンの如きア
ミン化合物の濃度50%以下の水溶液による表面処理や、
リン酸水溶液等の酸溶液による少なくとも10Å以上の深
さのエッチング処理、更にはN2等の不活性ガス中でのア
ニール処理(200〜600℃程度)の何れか、若しくはそれ
らを組み合わせた処理が好適に施され、これによって被
エッチング面のマスク材料に対する密着性が安定化せし
められる。なお、この密着性は、エッチングによって形
成されるトラックや浮上面等の(二次)凸部の幅の寸法
精度、更にはその傾斜壁面の角度に影響することとな
る。
The surface to be etched of such a gap bar has a surface roughness that affects the dimensional accuracy after etching. It is desirable that the surface be treated. Further, the surface to be etched, prior to being subjected to the two-step chemical etching treatment according to the present invention, a surface treatment with an aqueous solution of an amine compound such as an alkanolamine at a concentration of 50% or less,
Either an etching treatment with an acid solution such as a phosphoric acid aqueous solution to a depth of at least 10 Å or more, and an annealing treatment in an inert gas such as N 2 (about 200 to 600 ° C), or a combination of them. It is preferably applied to stabilize the adhesion of the surface to be etched to the mask material. Note that this adhesiveness affects the dimensional accuracy of the width of the (secondary) convex portion such as the track or the air bearing surface formed by etching, and further the angle of the inclined wall surface.

また、この前処理の施されたギャップバーの被エッチ
ング面(摺動面)には、本発明に従う第一及び第二の化
学エッチング処理を施すために、所定のパターンにおい
て第一及び第二のマスクが順次形成されることとなる
が、それにはスクリーン印刷等の公知の手法が必要精度
と経済性の点から適宜に選択され、なかでもパターン精
度と工程の簡便さから、フォトレジストを用いたフォト
リソグラフィーによる方法が採用される。なお、マスク
には、ポジ型或いはネガ型のフォトレジストや真空蒸
着、スパッタリング若しくはCVD法等によって形成され
たSiO若しくはSiO2等の各種のマスクを使用することが
可能であり、操作性、経済性と併わせて、マスクのフェ
ライト表面への密着性等の点から適宜に選択されること
となるが、上記のように、工程の簡便さを考慮して、フ
ォトレジストが有利に用いられるのである。
In addition, in order to perform the first and second chemical etching treatments according to the present invention on the etched surface (sliding surface) of the gap bar that has been subjected to this pretreatment, in the predetermined pattern, the first and second chemical etching treatments are performed. The masks are sequentially formed. For this purpose, a known method such as screen printing is appropriately selected from the viewpoint of required accuracy and economical efficiency. Above all, a photoresist is used because of the pattern accuracy and the process simplicity. A method by photolithography is adopted. As the mask, it is possible to use various types of masks such as positive type or negative type photoresist, SiO or SiO 2 formed by vacuum deposition, sputtering or CVD method, etc. Along with this, it will be appropriately selected from the viewpoint of the adhesion to the ferrite surface of the mask, etc., but as described above, the photoresist is advantageously used in consideration of the simplicity of the process. .

さらに、本発明に従う第一及び第二の化学エッチング
処理は、上記の如く、所定のパターンにおいて第一及び
第二のマスクの付与されたギャップバーの被エッチング
面に対して順次実施されるものであるが、一般にエッチ
ング液としては、リン酸主体酸水溶液が用いられ、この
リン酸主体酸水溶液中にギャップバーを浸漬して、目的
とする化学エッチングが行なわれる。なお、その際のリ
ン酸主体酸水溶液の濃度とエッチング速度、及び液温と
エッチング速度には、例えば第3図及び第4図にそれぞ
れ示されるような関係が存在し、本発明では、そのよう
な関係に基づいて、第一及び第二の化学エッチング処理
においてそれぞれ目標とされるエッチング深さ:h1,h2
応じて、各エッチング条件が適宜に選定されることとな
るのである。
Furthermore, the first and second chemical etching treatments according to the present invention are sequentially performed on the etched surface of the gap bar provided with the first and second masks in the predetermined pattern as described above. However, as the etching liquid, a phosphoric acid-based acid aqueous solution is generally used, and the intended chemical etching is performed by immersing the gap bar in the phosphoric acid-based acid aqueous solution. The concentration of the phosphoric acid-based acid aqueous solution and the etching rate, and the solution temperature and the etching rate at that time have the relationships shown in FIGS. 3 and 4, respectively. Based on this relationship, each etching condition can be appropriately selected according to the target etching depths: h 1 and h 2 in the first and second chemical etching processes, respectively.

なお、マスク材であるフォトレジスト等の樹脂は、水
溶液中に長時間浸漬しておくと膨潤して密着力が低下す
るようになるため、エッチング時間は短い程望ましい。
このため、リン酸主体酸水溶液の濃度及び液温は、それ
ぞれの化学エッチング処理におけるエッチング深さによ
って適宜に選択されることとなるが、その濃度が10重量
%未満ではエッチング速度が遅くなり過ぎ、逆に85重量
%を越えるようになると、エッチング速度は早いが粘度
が高くなって、エッチングを高精度に行なうことが困難
となるところから、濃度は10〜85重量%の範囲が望まし
い。また、液温は90℃を越えると、水分の蒸発が激し
く、濃度変化が大きい上に、液温の管理が困難となり、
一方40℃未満ではエッチング速度が遅いところから、通
常、40〜90℃の範囲の液温を採用することが望ましい。
A resin such as a photoresist, which is a mask material, swells when it is dipped in an aqueous solution for a long time and its adhesive strength is reduced.
Therefore, the concentration and liquid temperature of the phosphoric acid-based acid aqueous solution will be appropriately selected depending on the etching depth in each chemical etching treatment, but if the concentration is less than 10% by weight, the etching rate becomes too slow, On the other hand, if it exceeds 85% by weight, the etching rate is high but the viscosity becomes high, making it difficult to perform etching with high precision. Therefore, the concentration is preferably in the range of 10 to 85% by weight. Also, when the liquid temperature exceeds 90 ° C, evaporation of water is severe, the concentration changes greatly, and it becomes difficult to control the liquid temperature.
On the other hand, if the temperature is lower than 40 ° C., the etching rate is slow, so it is usually desirable to use a liquid temperature in the range of 40 to 90 ° C.

また、ここで用いたリン酸主体酸水溶液とは、リン酸
のみからなる水溶液だけを意味するものではなく、リン
酸に少量の硫酸等の他の酸を含有する水溶液も意味する
ものである。そして、リン酸主体とは、リン酸が酸全体
に対して80%以上含有されていることを意味している。
The phosphoric acid-based acid aqueous solution used here does not mean only an aqueous solution consisting of phosphoric acid alone, but also an aqueous solution containing a small amount of another acid such as sulfuric acid in phosphoric acid. And, phosphoric acid-based means that phosphoric acid is contained in an amount of 80% or more based on the whole acid.

なお、本発明は、以上の具体的説明並びに好ましい実
施態様のみに限定されるものでは決してなく、本発明の
趣旨を逸脱しない限りにおいて、当業者の知識に基づい
て種々なる変更、修正、改良等を加えた形態において実
施されるものであり、本発明が、またそのような実施形
態のものをも含むものであることが、理解されるべきで
ある。
The present invention is by no means limited to the above specific description and preferred embodiments, and various changes, modifications, improvements and the like based on the knowledge of those skilled in the art without departing from the spirit of the present invention. It is to be understood that the present invention is also embodied in addition to the above, and the present invention also includes those embodiments.

例えば、上記の具体的説明では、主としてRDD用の磁
気ヘッド用コアに基づいて記述されているが、本発明
は、それに限定されるものでは決してなく、FDD用磁気
ヘッド用コアやVTR用磁気ヘッド用コアの製造にも有利
に適用され、以てそれら磁気ヘッド用コアの摺動面に形
成される記録再生トラック等の凸部が、高い寸法精度を
もって形成されることとなる。
For example, in the above specific description, the description is based mainly on the magnetic head core for RDD, but the present invention is by no means limited to this, and the magnetic head core for FDD or the magnetic head for VTR is not limited thereto. The present invention is advantageously applied to the manufacture of magnetic cores, so that the convex portions of the recording / reproducing tracks and the like formed on the sliding surfaces of the magnetic head cores are formed with high dimensional accuracy.

(実施例) 以下、本発明を更に具体的に明らかにするために、本
発明の幾つかの実施例を示すが、本発明が、またそのよ
うな実施例の記載によって、何等制限的に解釈されるも
のでないことは、言うまでもないところである。
(Examples) Hereinafter, some examples of the present invention will be shown in order to more specifically clarify the present invention. However, the present invention is not limited to the description by the description of the examples. It goes without saying that this is not what is done.

実施例1 (100),(110)及び(110)面で構成されたMn−Zn
フェライト単結晶の板材を用い、その(110)面を、常
法により、粒径:1/4μmのダイヤモンド砥粒にて、その
表面粗さがRmax:0.02μm以下となるように、鏡面研磨
した後、50℃に加熱した(1+10)H3PO4水溶液中に15
分間浸漬することにより、その表面を1000Åエッチング
し、更にN2雰囲気(O2濃度<30ppm)中において、400℃
で30分間のアニール処理を施した。
Example 1 Mn-Zn composed of (100), (110) and (110) planes
Using a ferrite single crystal plate material, its (110) surface is mirror-polished by a conventional method with diamond abrasive grains with a grain size of 1/4 μm so that the surface roughness is R max : 0.02 μm or less. And then heated to 50 ° C. in (1 + 10) H 3 PO 4 aqueous solution.
The surface is etched by 1000Å by immersing for 4 minutes, and then 400 ℃ in N 2 atmosphere (O 2 concentration <30ppm).
And annealed for 30 minutes.

次いで、この前処理されたMn−Znフェライト単結晶板
の鏡面研磨面(被エッチング面)である(110)面上
に、(100)面と直角方向に長手方向に延びる長方形の
レジストパターンを、下記第1表に示されるフォトリソ
グラフィー条件にて形成した。
Then, on the mirror-polished surface (surface to be etched) of the pretreated Mn-Zn ferrite single crystal plate (110) surface, a rectangular resist pattern extending in the longitudinal direction in the direction perpendicular to the (100) surface, It was formed under the photolithography conditions shown in Table 1 below.

そして、この得られたレジストパターン(マスク)の
付与されたMn−Znフェライト単結晶板に対して、H3PO4
濃度が77.8重量%、液温が80℃のリン酸水溶液中にて、
エッチング時間を種々異ならしめて化学エッチング処理
を施し、各種エッチング深さのフェライト単結晶板を得
た。
Then, with respect to the obtained Mn-Zn ferrite single crystal plate to which the resist pattern (mask) was applied, H 3 PO 4
In a phosphoric acid aqueous solution with a concentration of 77.8% by weight and a liquid temperature of 80 ° C,
Chemical etching treatment was performed with different etching times to obtain ferrite single crystal plates with various etching depths.

このようにして化学エッチングされたフェライト単結
晶板のエッチング深さとそこに形成された長方形パター
ンの短手方向の幅の寸法精度を測定し、その結果を下記
第2表に示すが、その結果から明らかなように、エッチ
ング深さが浅い場合には、形成される凸部パターンの幅
寸法精度は著しく高くなるのであり、それ故にそのよう
な浅いエッチング深さを与える化学エッチング処理によ
って、トラック等の凸部を与える一次凸部を形成した
後、更に第二の化学エッチング処理を実施することによ
って、かかる一次凸部の周りをエッチングせしめること
により、最終的なトラック等の凸部を寸法精度よく形成
し得ることが理解されるのである。
The dimensional accuracy of the etching depth of the ferrite single crystal plate chemically etched in this way and the width in the lateral direction of the rectangular pattern formed therein was measured, and the results are shown in Table 2 below. As is apparent, when the etching depth is shallow, the width dimension accuracy of the convex pattern to be formed is extremely high. After forming the primary projections that give the projections, the second chemical etching process is further performed to etch around the primary projections to form final projections such as tracks with high dimensional accuracy. It is understood that it is possible.

実施例2 第2図に示される工程に従って、モノリシック型RDD
用磁気ヘッド用コアを製造した。
Example 2 According to the process shown in FIG. 2, a monolithic RDD
A magnetic head core was manufactured.

先ず、そこでは、ギャップ対向面が(100)面、摺動
面が(110)面となるように組み合わせられたMn−Znフ
ェライト単結晶により、所定間隔の磁気ギャップ16及び
コイル巻線孔18を有し、環状の磁路が形成された所謂ギ
ャップバー20を作製した後、その摺動面となる表面22を
磁気ギャップ16の深さが10μmになるように、粒径:1/4
μmのダイヤモンド砥粒により鏡面研磨した。その後、
このギャップバー20をN2雰囲気中において400℃で30分
間アニール処理した後、20%のエタノールアミン水溶液
中で25℃×30分間超音波洗浄を施し、更にその後、前記
第1表に示すフォトリソグラフィー条件にて、第一のマ
スク24を形成し、次いでH3PO4濃度:77.8重量%、液温:8
0℃のリン酸水溶液中にて30分間攪拌処理することによ
り第一の化学エッチングを行ない、深さが10μmの一次
凸部26を形成した。
First, there, the magnetic gap 16 and the coil winding hole 18 at predetermined intervals are formed by the Mn-Zn ferrite single crystal combined so that the gap facing surface becomes the (100) surface and the sliding surface becomes the (110) surface. After manufacturing a so-called gap bar 20 having an annular magnetic path, the surface 22 which is a sliding surface of the so-called gap bar 20 has a particle size of 1/4 so that the depth of the magnetic gap 16 becomes 10 μm.
It was mirror-polished with diamond abrasive grains of μm. afterwards,
The gap bar 20 was annealed at 400 ° C. for 30 minutes in an N 2 atmosphere, then ultrasonically cleaned in a 20% ethanolamine aqueous solution at 25 ° C. for 30 minutes, and thereafter, photolithography shown in Table 1 above. Under the conditions, the first mask 24 is formed, then H 3 PO 4 concentration: 77.8% by weight, liquid temperature: 8
The first chemical etching was performed by stirring in an aqueous phosphoric acid solution at 0 ° C. for 30 minutes to form primary protrusions 26 having a depth of 10 μm.

更に、その後、第一のマスク24を剥離除去せしめ、次
いで下記第3表に示されるフォトリソグラフィー条件に
て、上記第一の化学エッチング処理にて形成された一次
凸部26上にそれを覆うように第二のマスク32を形成せし
めた。なお、一次凸部26と第二のマスク32とのパターン
の位置合わせは、第一の化学エッチング処理によって被
エッチング面22に形成されたアライメントマーク30を、
第二のマスク32を露光する際に、フォトマスク上に形成
したアライメントマークと合わせることによって±2μ
m以内で行なうことが出来た。
Further, after that, the first mask 24 is removed by peeling, and then the primary projection 26 formed by the first chemical etching process is covered with the photolithography conditions shown in Table 3 below. The second mask 32 was formed on the. The alignment of the pattern of the primary convex portion 26 and the second mask 32, the alignment mark 30 formed on the etched surface 22 by the first chemical etching process,
± 2μ by aligning with the alignment mark formed on the photomask when exposing the second mask 32
It could be done within m.

更にその後、かかる第二のマスク32の付与されたギャ
ップバー20を、H3PO4濃度:77.8重量%、液温:80℃のリ
ン酸水溶液中にて60分間攪拌することにより、エッチン
グ深さが20μmの第二の化学エッチング処理を行なっ
た。この第二の化学エッチング処理の終了時のサイドエ
ッチングの終点は、図示の如く一次凸部26の傾斜壁面の
中で終了しており、そのため、形成された二次凸部34に
よって与えられる空気浮上面38やトラック40の幅精度
は、それらの高さ(合計エッチング深さ)が略30μmで
あるにも拘わらず、第一の化学エッチング処理で定まる
±0.7μmの寸法精度において得られた。
Further, after that, the gap bar 20 provided with the second mask 32 is stirred for 60 minutes in a phosphoric acid aqueous solution having a H 3 PO 4 concentration of 77.8 wt% and a liquid temperature of 80 ° C. to thereby obtain an etching depth. Was subjected to a second chemical etching treatment of 20 μm. The end point of the side etching at the end of this second chemical etching process ends in the inclined wall surface of the primary convex portion 26 as shown in the figure, and therefore, the air floating provided by the formed secondary convex portion 34. The width accuracy of the surface 38 and the track 40 was obtained with a dimensional accuracy of ± 0.7 μm determined by the first chemical etching process, even though their height (total etching depth) was about 30 μm.

なお、このような寸法精度を得るためには、第二の化
学エッチング処理の終了時に、そのサイドエッチングの
終点(14)が先に形成された一次凸部26の上面(頂面)
まで到達しないようにする必要があるが、このサイドエ
ッチングの終点を決めるのは、第二のマスク32の位置合
わせ精度と第二の化学エッチング処理時のサイドエッチ
ングの精度であり、前者は±2μm、後者は±1μmで
あると共に、第一の化学エッチング処理時のサイドエッ
チング量が10μmであるところから、第二の化学エッチ
ング処理におけるサイドエッチングの終点を一次凸部26
の傾斜面内に入れることは充分可能となるのである。
In order to obtain such dimensional accuracy, at the end of the second chemical etching process, the end point (14) of the side etching is the upper surface (top surface) of the primary convex portion 26 previously formed.
It is necessary not to reach the end of the side etching, but the end point of this side etching is determined by the alignment accuracy of the second mask 32 and the side etching accuracy during the second chemical etching process, and the former is ± 2 μm. Since the latter is ± 1 μm and the side etching amount in the first chemical etching process is 10 μm, the end point of the side etching in the second chemical etching process is the primary convex portion 26.
It is possible to put it in the inclined plane of.

(発明の効果) 以上の説明から明らかなように、本発明に従う磁気ヘ
ッド用コアの製造方法においては、その摺動面に形成さ
れる、所定の幅及び高さを有するトラック等の凸部を、
二段の化学エッチング処理手法によって、先ずその幅を
規定する化学エッチング処理をおこない、その後その高
さを与える第二の化学エッチング処理を行なうことによ
って、実現せしめるものであるところから、その形成さ
れる凸部の寸法精度を効果的に高め得て、例えばそのよ
うな凸部の幅精度を±1.0μm以内にすることが可能と
なったのである。
(Effects of the Invention) As is apparent from the above description, in the method of manufacturing a magnetic head core according to the present invention, a protrusion such as a track having a predetermined width and height formed on the sliding surface thereof is provided. ,
It is formed by the two-step chemical etching treatment method by first performing the chemical etching treatment that defines the width and then performing the second chemical etching treatment that gives the height. The dimensional accuracy of the convex portions can be effectively increased, and the width accuracy of such convex portions can be controlled within ± 1.0 μm.

また、本発明手法に従って、トラックを形成するに際
しては、従来のイオンエッチング加工手法によればトラ
ックの両側に形成される、擬似トラックを全くなくすこ
とが可能であり、或いはそのような擬似トラックに対応
する如き段付部が形成されても、それによってノズルと
して作用しないように、トラック表面から効果的に遠ざ
けることが出来るのである。
Further, when forming a track according to the method of the present invention, it is possible to eliminate the pseudo track formed on both sides of the track by the conventional ion etching processing method, or to cope with such a pseudo track. Even if such a stepped portion is formed, it can be effectively moved away from the track surface so that it does not act as a nozzle.

さらに、本発明手法によれば、エッチング速度が早
く、従来のイオンエッチング手法によるエッチング速
度:0.03μm/minに比べて、10倍程度の速度にてエッチン
グ加工することが出来、以てその生産性を著しく向上す
ることが出来る等の利点も有しているのである。
Furthermore, according to the method of the present invention, the etching rate is fast, and etching can be performed at a speed of about 10 times compared with the etching rate by the conventional ion etching method: 0.03 μm / min, and thus the productivity is improved. It also has the advantage of being able to improve significantly.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

第1図(a)〜(g)は、それぞれ、本発明に従う二段
の化学エッチング処理工程の概略を示す説明図であり、
第2図(a)〜(g)は、それぞれ、本発明に従ってRD
D用磁気ヘッド用コアを製造する方法の一例を示す工程
説明図であり、第3図は、リン酸水溶液の濃度とエッチ
ング速度との関係を示すグラフであり、第4図は、リン
酸水溶液の温度とエッチング速度との関係を示すグラフ
である。 2,24:第一のマスク 4,20:ギャップバー 8,26:一次凸部 10,32:第二のマスク 12,34:二次凸部 16:磁気ギャップ、18:コイル巻線孔 36:磁気ヘッド用コア 38:空気浮上面、40:トラック
1 (a) to 1 (g) are explanatory views each showing an outline of a two-step chemical etching treatment step according to the present invention,
Figures 2 (a)-(g) are respectively RD according to the present invention.
FIG. 3 is a process explanatory view showing an example of a method for producing a D magnetic head core, FIG. 3 is a graph showing the relationship between the concentration of a phosphoric acid aqueous solution and an etching rate, and FIG. 4 is a phosphoric acid aqueous solution. 5 is a graph showing the relationship between the temperature of P and the etching rate. 2,24: First mask 4,20: Gap bar 8,26: Primary convex portion 10,32: Second mask 12,34: Secondary convex portion 16: Magnetic gap, 18: Coil winding hole 36: Magnetic head core 38: Air bearing surface, 40: Track

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】コイル巻線孔と磁気ギャップを備えた、フ
ェライトからなるギャップバーを用い、その記録媒体と
の摺動面となる表面に対して、化学エッチング処理を施
すことにより、所定の幅及び高さを有する凸部を形成す
る工程を有する磁気ヘッド用コアの製造方法において、 前記ギャップバーの被エッチング表面に対して第一のマ
スクを付与して、第一の化学エッチング処理を施すこと
により、前記凸部の幅に一致する幅を有する一次凸部を
形成する工程と、 該一次凸部を覆うに充分な大きさの第二のマスクを用
い、該一次凸部の中心線と該第二のマスクの中心線とを
一致させて、該第二のマスクを前記ギャップバーの第一
の化学エッチング処理面に対して付与した後、第二の化
学エッチング処理を施すことにより、前記凸部の高さに
一致した高さを有する、該凸部に相当する二次凸部を形
成する工程とを、 含むことを特徴とする磁気ヘッド用コアの製造方法。
1. A gap bar made of ferrite having a coil winding hole and a magnetic gap is used, and a surface to be a sliding surface with respect to the recording medium is subjected to a chemical etching treatment to obtain a predetermined width. And a method of manufacturing a magnetic head core having a step of forming a convex portion having a height, wherein a first mask is applied to the etched surface of the gap bar, and a first chemical etching treatment is performed. The step of forming a primary convex portion having a width that matches the width of the convex portion, and using a second mask having a size sufficient to cover the primary convex portion, the center line of the primary convex portion and the The second mask is applied to the first chemical etching treatment surface of the gap bar while being aligned with the center line of the second mask, and then the second chemical etching treatment is performed to form the projections. To the height of the department Having a height match, and forming a secondary convex portion corresponding to the convex portion, a manufacturing method of a core for a magnetic head, which comprises.
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